JP2001147178A - 液晶ディスプレイパネルの検査方法及び検査装置 - Google Patents

液晶ディスプレイパネルの検査方法及び検査装置

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JP2001147178A
JP2001147178A JP33225099A JP33225099A JP2001147178A JP 2001147178 A JP2001147178 A JP 2001147178A JP 33225099 A JP33225099 A JP 33225099A JP 33225099 A JP33225099 A JP 33225099A JP 2001147178 A JP2001147178 A JP 2001147178A
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Japan
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liquid crystal
display panel
crystal display
defective portion
mark
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JP33225099A
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English (en)
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Yoshitaka Nakamura
吉孝 中村
Tetsuo Yoshimura
哲夫 吉村
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Sharp Corp
Original Assignee
Sharp Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 迅速かつ正確に液晶ディスプレイパネルの
欠陥部分を検出してその位置を特定できる液晶ディスプ
レイパネルの検査装置を低コストで提供する。 【解決手段】 検査台4上の所定位置に液晶ディスプレ
イパネル10をセットして、光源3により下方から光を
照射するとともに、信号発生器7を駆動してプローブ6
x及び6yに信号を与えると、液晶ディスプレイパネル
10の全面が点灯するので、目視により点灯してない欠
陥部分(画素)の検出を行う。欠陥部分fが検出された
ときは、投影装置5から液晶ディスプレイパネル10上
に投影されるポインタPをマウス9により移動させて前
記欠陥部分fに一致させて指定する。この指定されたポ
インタPの位置情報に基づき制御装置8によって欠陥部
分fの位置が特定される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、液晶ディスプレイ
パネルの欠陥部分の検査方法及び検査装置に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、パーソナルコンピュータ(パソコ
ン)等の表示装置として液晶ディスプレイパネルの需要
が拡大している。その一方、液晶ディスプレイパネルの
製造工程では、例えば、画素不良、走査線及び信号線の
断線やショート、表示ムラなどの欠陥部分の存否を目視
により検査し、欠陥部分がある場合には、レーザー照射
などによりその欠陥部分の修正を行っている。従って、
欠陥部分が検出された場合、その欠陥部分の修正の作業
性を向上させるため、欠陥部分の位置を特定する必要が
ある。
【0003】このような液晶ディスプレイパネルの検査
装置の一例が特開平10−325780号公報に開示さ
れている。この従来の装置による検査方法について図3
を参照して説明する。まず、液晶ディスプレイパネル1
01を検査台102上の所定位置にセットする。これに
より、液晶ディスプレイパネル101のX軸端辺に形成
されたX軸信号端子、Y軸端辺に形成されたY軸信号端
子に、それぞれX軸点灯用プローブ103x、Y軸点灯
用プローブ103yが接続される。
【0004】この状態で信号発生器104を作動させる
と、液晶ディスプレイパネル101の画面の全画素が点
灯するので、目視により欠陥部分fの検出を行う。そし
て、マウス105により検出された欠陥部分fを囲む位
置にリング状のポインタPを移動させて欠陥部分存在領
域を指定する。このとき、指定された欠陥部分存在領域
の位置情報はコンピュータ106に入力される。次い
で、液晶ディスプレイパネル101を位置特定台107
上に移載して所定位置にセットすることにより、液晶デ
ィスプレイパネル101の前記マウス105によって指
定された欠陥部分存在領域の位置情報が駆動制御装置1
08に入力され、駆動制御装置108はこの位置情報に
基づく位置制御信号をプローブ移動ユニット109とX
Yロボット110とに出力する。
【0005】前記位置制御信号によりX軸領域点灯用プ
ローブ111xとY軸領域点灯用プローブ111yとが
プローブ移動ユニット109によって前記欠陥部分存在
領域に該当する接続位置にそれぞれ移動して液晶ディス
プレイパネル101の信号端子に接続されるとともに、
XYロボット110によりカメラ112が前記欠陥部分
存在領域を撮像できる位置に移動する。
【0006】この状態でコンピュータ106の制御によ
り信号発生器113が動作すると、液晶ディスプレイパ
ネル101のX軸領域点灯用プローブ111xとY軸領
域点灯用プローブ111yとが接続された欠陥部分存在
領域のみが点灯する。この点灯した欠陥部分存在領域は
カメラ112により撮像され、画像信号は画像処理装置
114に入力される。カメラ112が撮像した欠陥部分
存在領域はマウス105によって指定された欠陥部分f
が存在する位置を含む領域なので、画像処理装置114
は撮像画像から欠陥部分fを検出して、その画像上の位
置を特定してコンピュータ106に入力する。コンピュ
ータ106は、その特定された欠陥部分fの位置を液晶
ディスプレイパネル101の修理のための情報として記
録する。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】このような従来の液晶
ディスプレイパネルの検査装置では、検査対象品種の変
更による液晶点灯用プローブの変更や調整が不要である
ものの、液晶ディスプレイパネルの縦横の全ての信号端
子に対応して液晶点灯用プローブをその数だけ設けなけ
ればならず、精細で複雑な構成の装置となり、製造コス
トの削減が困難であった。また、液晶ディスプレイパネ
ルの欠陥部分の存在領域を予め大まかに指定しておき、
その後更に正確な欠陥部分の位置を特定する方法のた
め、操作性の面で手間が掛かるとう問題もあった。
【0008】本発明は、迅速かつ正確に液晶ディスプレ
イパネルの欠陥部分を検出してその位置を特定できる液
晶ディスプレイパネルの検査方法及びそのための装置を
低コストで提供することを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明による液晶ディスプレイパネルの検査方法
は、二次元的に画素を配列した液晶ディスプレイパネル
の検査方法において、二次元的に移動自在な位置指定用
マークを制御手段により投影手段を介して液晶ディスプ
レイパネル上に投影するとともに、全ての画素を点灯し
た状態で欠陥部分を目視により検出し、前記制御手段に
接続された操作部材によって前記位置指定用マークを前
記欠陥部分に移動させることにより、その位置指定用マ
ークの位置情報に基づき前記制御手段により前記欠陥部
分の位置を特定することに特徴を有する。
【0010】この方法によると、全ての画素を点灯させ
た状態で、目視により予め欠陥部分を検出しておいた液
晶ディスプレイパネルの表面上に制御手段により投影手
段を介して移動自在な位置指定用マークが投影される。
そして、前記制御手段に接続された操作部材によって前
記位置指定用マークを移動させて前記欠陥部分を指定す
ると、この指定した位置に基づき前記制御手段により迅
速かつ正確に前記欠陥部分の位置が特定される。
【0011】また、本発明による液晶ディスプレイパネ
ルの検査装置は、二次元的に画素を配列した液晶ディス
プレイパネルの検査装置において、二次元的に移動自在
な位置指定用マークを液晶ディスプレイパネル上に投影
する投影手段と、所定位置に配置された前記液晶ディス
プレイパネルの前記欠陥部分を目視により検出できるよ
うに前記液晶ディスプレイパネルの全ての画素を点灯さ
せる点灯手段と、前記液晶ディスプレイパネル上で前記
位置指定用マークを前記欠陥部分に移動させるマーク移
動用の操作手段と、前記投影手段を制御するとともに前
記位置指定用マークの位置情報に基づき前記欠陥部分の
位置を特定する制御手段とを具備することに特徴を有す
る。
【0012】この構成によると、点灯手段によって全て
の画素を点灯させた状態で、目視により予め欠陥部分を
検出しておいた液晶ディスプレイパネルの表面上に制御
手段により投影手段を介して移動自在な位置指定用マー
クが投影される。そして、マーク移動用の操作手段によ
って前記位置指定用マークを移動させて前記欠陥部分を
指定すると、この指定した位置に基づき前記制御手段に
より迅速かつ正確に前記欠陥部分の位置が特定される。
【0013】尚、前記マーク移動用の操作手段として
は、マウスを好適に用いることができる。これによる
と、ポインティングデバイスであるマウスの操作により
前記位置指定用マークを液晶ディスプレイパネル上で自
在に移動させることができる。
【0014】また、前記投影手段とは別途に設けられた
光源により裏側から前記液晶ディスプレイパネルに光を
照射すれば、目視による欠陥部分の検出が容易になる。
【0015】一方、光源を備えた前記投影手段により裏
側から前記液晶ディスプレイパネル上に前記位置指定用
マークを投影するとともに光を照射するようにすれば、
光源を別途に設ける必要がなくなり、その分、装置の小
型化及びコストダウンが図られる。
【0016】
【発明の実施の形態】<第1の実施形態>本発明の第1
の実施形態について図面を参照して説明する。図1は、
本実施形態に係る液晶ディスプレイパネルの検査装置の
一例の構成図である。この図に基づき液晶ディスプレイ
パネルの検査装置1の構成を説明する。2は、上面に略
長方形の開口部2aを有するマザーボードである。この
マザーボード2の内部には、光源3と、その上方に重な
る検査台4とが設けられている。尚、検査台4には、光
源3から照射される光を上方へ透過できるように上下に
貫通する略長方形の開口部(図示せず)が形成されてい
る。また、マザーボード2の上方には、プロジェクタ等
の投影装置5が設けられており、該投影装置5は制御装
置8に接続されている。
【0017】上記構成において、検査対象とする液晶デ
ィスプレイパネル10をマザーボード2の開口部2aか
ら検査台4上の所定位置にセットすると、液晶ディスプ
レイパネル10のX軸端辺に形成されたX軸信号端子の
全部に所定の電圧を印加するためのX軸側プローブ6x
が接続され、またY軸端辺に形成されたY軸信号端子の
全部に所定の電圧を印加するためのY軸側プローブ6y
が接続される。
【0018】この状態で、信号発生器7を動作させると
ともに光源3により下方から光を照射すると、液晶ディ
スプレイパネル10の全面(全画素)が点灯するので、
目視により点灯していない欠陥部分(画素)fの検出を
行う。一方、前記制御装置8のコントロールに基づいて
前記投影装置5から液晶ディスプレイパネル10上に該
パネル10のサイズに合致した画面が投影される。尚、
この画面には、後述する十字状画像(ポインタP)が含
まれている。
【0019】前記制御装置8には、ポインティングデバ
イスとしてのマウス9が接続されており、このマウス9
により液晶ディスプレイパネル10上に投影された画面
(欠陥部分位置特定用画面)内の十字状のポインタPを
自在に移動させることができる。従って、作業者が欠陥
部分fを検出したときには、前記マウス9を操作してポ
インタPの十字の交点を欠陥部分fに一致させるように
ポインタPを移動させてマウス9のボタンをクリックす
る。これにより、前記制御装置8は、ポインタPの位置
情報に基づき液晶ディスプレイパネル10の欠陥部分f
の位置を特定し、修正のための情報として記録する。
【0020】<第2の実施形態>本発明の第2の実施形
態について図面を参照して説明する。図2は本実施形態
に係る液晶ディスプレイパネルの検査装置の一例の構成
図である。尚、図2において上記第1の実施形態に係る
検査装置と共通の部材には同一の符号を付し、その詳細
な説明を省略する。本実施形態に係る液晶ディスプレイ
パネルの検査装置1’の特徴的な構成は、光源(図示せ
ず)を備えた投影装置5’をマザーボード2の下方に設
け、液晶ディスプレイパネル10の裏側から欠陥部分位
置特定用画面を投影するとともに光を照射するようにし
たことである。
【0021】従って、本実施形態では、投影装置5’が
液晶ディスプレイパネル10の光源としての役割もする
ため、上記第1の実施形態のように光源3を別途設ける
必要がなく、その分、装置の小型化及びコストダウンが
図られる。その他、この装置1’による液晶ディスプレ
イパネル10の検査方法については上記第1の実施形態
に準ずるので、ここでは省略する。
【0022】
【発明の効果】以上説明したように本発明によると、液
晶ディスプレイパネルの画素数に対応して各画素を点灯
させるための手段を多数設けていた従来の液晶ディスプ
レイパネルの検査装置の構成に比し、縦横1対の点灯手
段により全ての画素を一括して点灯させることができる
ため、検査装置の構成が簡略化され、大幅なコストダウ
ンが図られる。
【0023】また、制御手段により投影手段を介して二
次元的に移動自在な位置指定用マークを液晶ディスプレ
イパネル上に投影し、前記点灯手段により点灯させた液
晶ディスプレイを目視して検出された欠陥部分(画素)
に前記位置指定用マークを移動して指定することによ
り、この指定した位置に基づき前記制御手段によって迅
速かつ正確に前記欠陥部分の位置を特定できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の第1の実施形態に係る液晶ディス
プレイパネルの検査装置の一例の構成図である。
【図2】 本発明の第2の実施形態に係る液晶ディス
プレイパネルの検査装置の一例の構成図である。
【図3】 従来の液晶ディスプレイパネルの検査装置
の構成図である。
【符号の説明】
1,1’ 液晶ディスプレイパネルの検査装置 2 マザーボード 3 光源 4 検査台 5、5’ 投影装置 6x X軸側プローブ 6y Y軸側プローブ 7 信号発生器 8 制御装置 9 マウス 10 液晶ディスプレイパネル f 欠陥部分 P ポインタ

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 二次元的に画素を配列した液晶ディスプ
    レイパネルの検査方法において、 二次元的に移動自在な位置指定用マークを制御手段によ
    り投影手段を介して液晶ディスプレイパネル上に投影す
    るとともに、全ての画素を点灯した状態で欠陥部分を目
    視により検出し、前記制御手段に接続された操作部材に
    よって前記位置指定用マークを前記欠陥部分に移動させ
    ることにより、その位置指定用マークの位置情報に基づ
    き前記制御手段により前記欠陥部分の位置を特定するこ
    とを特徴とする液晶ディスプレイパネルの検査方法。
  2. 【請求項2】 二次元的に画素を配列した液晶ディスプ
    レイパネルの検査装置において、 二次元的に移動自在な位置指定用マークを液晶ディスプ
    レイパネル上に投影する投影手段と、所定位置に配置さ
    れた前記液晶ディスプレイパネルの前記欠陥部分を目視
    により検出できるように前記液晶ディスプレイパネルの
    全ての画素を点灯させる点灯手段と、前記液晶ディスプ
    レイパネル上で前記位置指定用マークを前記欠陥部分に
    移動させるマーク移動用の操作手段と、前記投影手段を
    制御するとともに前記位置指定用マークの位置情報に基
    づき前記欠陥部分の位置を特定する制御手段とを具備す
    ることを特徴とする液晶ディスプレイパネルの検査装
    置。
  3. 【請求項3】 前記マーク移動用の操作手段がマウスで
    あることを特徴とする請求項2に記載の液晶ディスプレ
    イパネルの検査装置。
  4. 【請求項4】 前記投影手段とは別途に設けられた光源
    により裏側から前記液晶ディスプレイパネルに光を照射
    することを特徴とする請求項2又は請求項3に記載の液
    晶ディスプレイパネルの検査装置。
  5. 【請求項5】 光源を備えた前記投影手段により裏側か
    ら前記液晶ディスプレイパネル上に前記位置指定用マー
    クを投影するとともに光を照射することを特徴とする請
    求項2又は請求項3に記載の液晶ディスプレイパネルの
    検査装置。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007042498A (ja) * 2005-08-04 2007-02-15 Aitesu:Kk 有機elレーザリペア方法及びレーザリペア装置
JP2008014701A (ja) * 2006-07-04 2008-01-24 Olympus Corp 基板検査装置

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