CN108932920A - 显示设备以及用于检测该显示设备的缺陷的方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开一种显示设备以及用于检测该显示设备的缺陷的方法。显示设备包括具有显示区域以及外围区域的显示面板。显示设备包括具有比较器的电路以及设置在外围区域中并连接到电路的第一感测导线和第二感测导线。比较器对从第一感测导线输出的第一输出信号和从第二感测导线输出的第二输出信号进行比较，以生成比较结果。电路基于比较结果来确定显示设备中是否存在缺陷。

Description

显示设备以及用于检测该显示设备的缺陷的方法

相关申请的交叉引用

本申请要求2017年5月16日提交至韩国知识产权局的第10-2017-0060474号韩国专利申请的优先权及权益，该申请的公开通过引用合并于此。

技术领域

本公开涉及一种显示设备以及用于检测显示设备的缺陷的方法。

背景技术

诸如液晶显示器(LCD)或有机发光二极管(OLED)显示器的显示设备包括具有用于对图像进行显示的多个像素的显示面板、以及多条信号线。每个像素包括接收数据信号的像素电极，并且像素电极可以通过与至少一个晶体管相连接来接收数据信号。显示面板可以包括被堆叠在基板上的多个层。

当冲击被施加到显示面板时，在基板或层中可能出现裂纹。裂纹可以随着时间的流逝而增长或蔓延到其他层或其他区域，以致发生显示面板缺陷。例如，裂纹可以出现在诸如数据线或扫描线的信号线中，这导致信号线的短路或信号线的电阻增加。此外，裂纹可以允许水分渗透到显示面板中。因此，裂纹能够导致显示设备内的元件劣化。这种劣化可以阻止像素发光或者导致像素错误地发光。

具有柔性显示器的显示设备特别容易受到这些裂纹的伤害。例如，即使在基板或显示面板的层中的一个层中出现微小的裂纹，但是由于显示面板的翘曲或弯曲，该裂纹也可以随着时间的推移而增长得非常大。

发明内容

本发明的至少一个实施例致力于提供一种能够更容易地检测诸如裂纹的缺陷的显示设备以及一种用于检测缺陷的方法。

根据本发明的示例性实施例的显示设备包括显示面板，该显示面板具有对图像进行显示的显示区域、以及设置在显示区域外侧的外围区域。显示设备包括：电路，具有比较器；第一感测导线和第二感测导线，设置在外围区域中并连接到电路，其中比较器对从第一感测导线输出的第一输出信号和从第二感测导线输出的第二输出信号进行比较，以生成比较结果，并且电路基于比较结果确定显示设备中是否存在缺陷。

第二感测导线可以包括与第一感测导线相平行地延伸的部分，并且第二感测导线在外围区域中可以被设置在第一感测导线与显示区域之间。

第二感测导线的长度可以短于第一感测导线的长度。

第一感测导线和第二感测导线中的至少一条感测导线的两端可以连接到电路，并且第一感测导线和第二感测导线中的每条感测导线均可以包括在外围区域中来回至少一次地延伸的导线。

在实施例中，在第二感测导线中包括的曲折结构的曲折路径的数量可以小于在第一感测导线中包括的曲折结构的曲折路径的数量。

电路可以被配置为应用权重值，以对第一感测导线的电阻与第二感测导线的电阻之间的差异进行补偿。

第一感测导线和第二感测导线中的每条感测导线的两端可以连接到电路的不同侧，并且第一感测导线和第二感测导线中的每条感测导线均可以包括沿着显示区域的至少三条边延伸的部分。

第一感测导线的两端可以连接到电路的同侧，并且第二感测导线的两端可以连接到电路的同侧。

第一感测导线可以包括两个部分，该两个部分相对于显示区域被彼此对称地设置且同时被彼此间隔开。

第一感测导线和第二感测导线在剖视图中可以设置在同一层上。

显示面板可以进一步包括：第三感测导线，设置在外围区域中并连接到电路，第一感测导线和第二感测导线可以设置在显示区域的相同第一侧上的外围区域中，第三感测导线可以设置在显示区域的与所述第一侧相对的第二侧上的外围区域中，并且比较器可以包括对第一感测导线的电阻和第二感测导线的电阻进行比较的第一比较器、以及对第一感测导线的电阻和第三感测导线的电阻进行比较的第二比较器。

第一感测导线和第二感测导线可以设置在显示区域的相对侧。

根据本发明的示例性实施例，一种显示设备包括显示面板，该显示面板具有对图像进行显示的显示区域、以及设置在显示区域外侧的外围区域。显示设备包括：电路，具有电阻检测器；以及感测导线，包括连接到电路的第一侧并且位于外围区域的第一侧的第一部分、连接到第一部分并且位于外围区域的顶侧上的第二部分、以及连接到第二部分和电路的第二侧的第三部分，其中第三部分位于外围区域的与第一侧相对的第二侧上。电路向第一部分施加输入信号。电阻检测器响应于输入信号基于通过第三部分接收到的输出信号，来对感测导线的电阻进行检测。当电阻在预定阈值之外时，电路确定显示设备中存在缺陷。

在实施例中，第一部分和第三部分沿着第一方向延伸，第二部分沿着第二方向延伸，并且第一方向垂直于第二方向。

在实施例中，电阻检测器包括模数转换器，该模数转换器用于将检测到的电阻转换成数字值。

根据本发明的示例性实施例，提供了一种用于检测显示设备中的缺陷的方法。该显示设备包括显示面板，该显示面板包括显示区域以及设置在显示区域外侧的外围区域，该显示设备包括电路、设置在外围区域中并连接到电路的第一感测导线、以及设置在外围区域中并连接到电路的第二感测导线。该方法包括：电路向第一感测导线施加第一输入信号；电路向第二感测导线施加第二输入信号；电路响应于第一输入信号使用由第一感测导线生成的第一输出信号，来对第一感测导线的第一电阻进行测量；电路响应于第二输入信号使用由第二感测导线生成的第二输出信号，来对第二感测导线的第二电阻进行测量；并且电路基于对第一电阻和第二电阻进行相互比较来确定显示设备是否具有缺陷。

确定缺陷可以包括：确定第一电阻和第二电阻两者是否均包括在第一预定范围内。

确定缺陷可以进一步包括：确定第一电阻与第二电阻之间的差异是否包括在第二预定范围内。

第二预定范围可以是相对于中间值在约±15％内的范围。

该方法可以进一步包括：当感测导线的长度彼此不同时，在确定差异之前，将权重值应用在第一电阻和第二电阻中的一个电阻上。

根据本公开的示例性实施例，能够增加对显示面板中的诸如裂纹的缺陷进行检测的准确度，以防止对缺陷错误的检测，并且能够获取与裂纹进展有关的详细信息。特别地，在无需考虑由于制造工艺中的工艺分布而导致的导线宽度偏差的情况下，能够准确地检测出显示面板中的诸如裂纹的缺陷。

附图说明

图1是根据本发明构思的示例性实施例的显示设备的布局图。

图2是图1的显示设备的部分A的放大图。

图3是沿着线III-IIIa截取的图1的显示设备的剖视图。

图4是根据本发明构思的示例性实施例的显示设备的像素的布局图。

图5是沿着线V-Va截取的图4的显示设备的剖视图。

图6是根据本发明构思的示例性实施例的用于检测显示设备中的诸如裂纹的缺陷的方法的流程图。

图7和图8是根据本发明构思的示例性实施例的显示设备的布局图。

图9是图8的显示设备中的部分B的放大图。

图10是根据示例性实施例的显示设备的布局图。

图11是图10的显示设备中的部分C的放大图。

图12是根据本发明构思的示例性实施例的用于检测显示设备中的诸如裂纹的缺陷的方法的流程图。

图13是根据本发明构思的示例性实施例的显示设备的布局图。

图14是图13的显示设备的部分D的放大图。

具体实施方式

在下文中将参考在其中示出了本发明的示例性实施例的附图来更全面地描述本发明。如本领域技术人员将认识到的，可以以各种不同的方式来对所描述的实施例进行修改，所有这些修改均不脱离本发明的精神或范围。

在整个说明书中相同的附图标记指代相同的元件。应该理解，当诸如层、膜、区或基板的元件被称为在另一元件“上”时，该元件可以直接在其他元件上，或者也可以存在中间元件。

现在将参考图1至图5来描述根据本发明构思的示例性实施例的显示设备。

将参考图1和图2来描述显示设备的平面结构，将参考图3来描述显示设备的剖面结构，并且将参考图4和图5来描述像素的详细结构的示例。

参考图1和图2，根据本发明构思的示例性实施例的显示设备包括显示面板1000以及电路部分750，显示面板1000包括显示区域DA以及外围区域PA。

显示区域DA包括布置在包括x方向和y方向的平面上的多个像素PX以及多条信号线。在本公开中，在与x方向和y方向垂直的方向上观察到的结构将被称为平面结构，并且在与x方向和y方向垂直的方向上截取到的结构将被称为剖面结构。

信号线包括对栅极信号进行传输的多条栅极线121以及对数据信号进行传输的多条数据线171。栅极线121可以大致在x方向上延伸，并且数据线171可以大致在y方向上延伸并因此与栅极线121相交叉。

每个像素PX可以包括至少一个开关以及连接到开关的像素电极。在实施例中，开关是诸如与显示面板1000集成在一起的晶体管的三端元件，并且开关可以被连接到至少一条栅极线121和至少一条数据线171。开关根据由栅极线121传输的栅极信号而导通或截止，以选择性地将数据信号传输给像素电极。

每个像素PX可以显示特定颜色中的一种颜色以实现彩色显示，并且图像或所期望的颜色可以通过特定颜色的图像的组合来辨认出。由多个像素PX显示的特定颜色可以包括例如红色、绿色和蓝色的三原色，黄色、青色和品红色的三原色，或者可以进一步包括至少一种不同的颜色，诸如除了三原色之外的白色。

显示面板1000包括基板110，像素PX和信号线在基板110上形成。基板110可以包括玻璃或塑料。在实施例中，基板110由柔性材料制成。例如，基板110可以包括诸如聚对苯二甲酸乙二醇酯(PET)、聚碳酸酯(PC)、多芳基化合物(PAR)、聚醚酰亚胺(PEI)、聚醚砜(PES)、聚酰亚胺(PI)的各种塑料、金属薄膜、或超薄玻璃。

外围区域PA是设置在显示区域DA外侧的区域，并且可以围绕显示区域DA的外围。

外围区域PA包括多条感测导线M1、M2、M3和M4。提供多条感测导线M1、M2、M3和M4以通过导线电阻检测来对在显示面板1000的外围区域PA中发生的诸如裂纹或起皱的缺陷进行感测。图1示例性地示出了一对感测导线M1和M2设置在相对于显示区域DA的左侧，并且一对感测导线M3和M4设置在相对于显示区域DA的右侧。

感测导线M1、M2、M3和M4中的每条感测导线可以是仅设置在一层上的导线、或者可以是通过设置在不同层中的电连接部分而形成的导线。

感测导线M1、M2、M3和M4中的每条感测导线的两端连接到电路部分750。感测导线M1、M2、M3和M4中的每条感测导线的两端可以连接到电路部分750的相同侧。感测导线M1、M2、M3和M4中的每条感测导线可以具有如下结构(或曲折形状)，其中每条感测导线的一端沿着显示区域DA的左侧或右侧延伸，然后弯曲以返回到起点。一个曲折结构中的曲折路径的数量可以是一个或多个。另外，多条感测导线M1、M2、M3和M4中的至少一条感测导线可以具有多个曲折结构。

如图1所示，感测导线M1、M2、M3和M4中的每条感测导线可以包括沿着显示区域DA的左侧或右侧延伸的部分、以及沿着显示区域DA的顶部边缘延伸的部分。也就是说，感测导线M1、M2、M3和M4中的每条感测导线可以大致沿着显示区域DA的左侧边缘或右侧边缘在y方向上延伸(导线可以在该区域中沿着y方向来回多次地延伸)，并且在显示面板1000的拐角附近改变方向，然后大致沿着显示区域DA的顶部边缘在x方向上延伸(导线可以在该区域中沿着x方向来回多次地延伸)，并且在显示区域DA的顶部边缘上的中央部分处改变方向以返回到起点。在替代实施例中，感测导线M1、M2、M3和M4中的每条感测导线仅包括沿着显示区域DA的左侧边缘或右侧边缘延伸的部分，并且不在显示区域DA的顶部边缘上延伸。

在相对于显示区域DA的一侧上的外围区域PA中设置的一对感测导线M1和M2或者M3和M4可以包括在外围区域PA中彼此平行地延伸的部分。一条感测导线(M2和M4中的一个)可以设置在另一条感测导线(M1和M3中的一个)与显示区域DA之间。在相对于显示区域DA的一侧上的外围区域PA中设置的一对感测导线M1和M2或者M3和M4的两端可以连接到电路部分750的相同侧。这里，电路部分750的相同侧可以意指如图中所示的沿着恒定方向延伸的一个边缘，或者可以意指面对恒定方向的一个边缘(当电路部分750的边缘按边缘所面对的方向被划分时)。

感测导线M1、M2、M3和M4可以具有不同或相似的电阻。例如，被设置为更靠近显示区域DA的感测导线M2和M4的电阻可以小于或者等于被设置为更靠近显示面板1000的边缘的感测导线M1和M3的电阻。

多条感测导线M1、M2、M3和M4中的至少一条感测导线中包括的曲折结构的数量和/或曲折路径的数量可以等于或不同于在其他感测导线M1、M2、M3和M4中包括的曲折结构的数量和/或曲折路径的数量。在示例性实施例中，在相对于显示区域DA的更外侧设置的感测导线M1和M3中所包括的曲折结构的数量和/或曲折路径的数量小于在更内侧设置的感测导线M2和M4中所包括的曲折结构的数量和/或曲折路径的数量。因此，可以至少部分地减小感测导线M2和M4所占据的区域，使得显示面板1000的边框尺寸能够通过减小外围区域PA的尺寸而被减小，并且感测导线M1、M2、M3和M4的位置导致的导线长度偏差可以得到补偿。

多条感测导线M1、M2、M3和M4在剖视图中可以被设置在同一层上，并且可以包括相同的材料，并且可以通过在同一制造工艺中同时地被图案化来形成。在这种情况下，多条感测导线M1、M2、M3和M4可以受到相同或等同工艺分布的影响，使得多条感测导线M1、M2、M3和M4可以具有相似的导线宽度偏差。

当感测导线M1、M2、M3和M4具有较大电阻差异时，可以进一步包括匹配电阻，以对具有较大电阻差异的感测导线M1、M2、M3和M4中的电阻偏差进行补偿。

对诸如裂纹的缺陷进行检测的检测工艺可以使用多条感测导线M1、M2、M3和M4中的至少一条感测导线的电阻来作为参考电阻。例如，该工艺可以通过将感测导线M1、M2、M3和M4中的其它感测导线的电阻与参考电阻进行比较来检测缺陷。

在实施例中，栅极驱动器(例如，栅极驱动电路)与多条栅极线连接以施加栅极信号，并且栅极驱动器位于外围区域PA中。

外围区域PA可以进一步包括弯曲区域，显示面板1000在该弯曲区域中被弯曲或可弯曲。在这种情况下，当显示面板1000的弯曲状态被释放并因此展开至平坦时，弯曲区域可以设置在显示区域DA与电路部分750之间。

如图所示，电路部分750可以设置在与显示面板1000的外围区域PA相连接的印刷电路膜700中。可替代地，电路部分750可以直接安装在显示面板1000的外围区域PA上，或者可以与诸如像素PX的晶体管的组成元件一起直接形成在基板110上。在示例性实施例中，产生用于对像素PX进行驱动的数据信号的数据驱动器(例如，数据驱动电路)和时序控制器(例如，时序控制器电路)中的至少一个设置在印刷电路膜700中。电路部分750可以以集成电路(IC)芯片的形式被提供。

电路部分750可以包括多个焊盘部分，该多个焊盘部分与相应的感测导线M1、M2、M3和M4的端部电接合、或者与连接到相应的感测导线M1、M2、M3和M4的端部的焊盘部分电接合。焊盘部分可以设置在图2中感测导线M1、M2、M3和M4与电路部分750相会合的位置处。

当电路部分750设置在印刷电路膜700中时，感测导线M1、M2、M3和M4可以延伸到印刷电路膜700。在这种情况下，感测导线M1、M2、M3和M4可以包括设置在显示面板1000中的导线、以及设置在印刷电路膜700中并且与设置在显示面板1000中的导线相连接的导线。

参考图2，在电路部分750中，作为裂纹缺陷检测信号的输入信号In_M1、In_M2、In_M3和In_M4分别被输入到相应的感测导线M1、M2、M3和M4的一端，并且输出信号Out_M1、Out_M2、Out_M3和Out_M4可以分别从相应的感测导线M1、M2、M3和M4的另一端中输出。

电路部分750包括至少一个比较器(例如，比较器电路、运算放大器(Op-amp)的比较器等)。尽管图2示出了电路部分750包括三个比较器751、752和753，但是本发明的实施例不限于此。例如，电路部分750可以包括一个或两个比较器。第一比较器751可以对来自感测导线M1的输出信号Out_M1和来自感测导线M2的输出信号Out_M2进行比较并输出比较结果。第二比较器752可以对来自感测导线M3的输出信号Out_M3和来自感测导线M4的输出信号Out_M4进行比较并输出比较结果。第三比较器753可以通过对来自感测导线M1或M2(设置在相对于显示区域DA的一侧(例如，左侧)上的外围区域PA中)的输出信号Out_M1或Out_M2与来自感测导线M3或M4(设置在另一侧(例如，右侧))的输出信号Out_M3或Out_M4进行比较来输出确定结果。例如，第三比较器753可以对输出信号Out_M1与输出信号Out_M3进行比较、对输出信号Out_M1与输出信号Out_M4进行比较、对输出信号Out_M2与输出信号Out_M3进行比较、或者对输出信号Out_M2与输出信号Out_M4进行比较。

在实施例中，电路部分750包括至少一个用于将输出信号Out_M1、Out_M2、Out_M3和Out_M4转换为数字值的模数转换器(ADC)。至少一个ADC可以设置在电路部分750的焊盘部分之间，与感测导线M1、M2、M3和M4以及比较器751、752和753相连接。ADC可以包括在比较器751、752和753中的每个比较器之中。

根据示例性实施例，仅有一条感测导线被设置于在相对于显示区域DA的一侧上设置的外围区域PA中。也就是说，可以省略图1和图2中示出的感测导线M1和M2中的一个，或者可以省略感测导线M1和M2中的一个以及感测导线M3和M4中的一个。在这种情况下，可以省略两个比较器751和752中的至少一个。

根据示例性实施例，在图1的示例性实施例中，感测导线可以仅设置在相对于显示区域DA的一侧上。也就是说，在图1中，感测导线M1和M2这两者都可以被省略，或者感测导线M3和M4这两者都可以被省略。在这种情况下，两个比较器751和752中的一个可以被省略。

现在将参考图3并与图1和图2一起，对根据本发明的示例性实施例的显示设备的剖面结构进行描述。

参考图3，阻挡层120设置在基板110上。如图所示，阻挡层120可以包括多层，或者阻挡层120可以被提供为单层。

有源图案设置在阻挡层120上。有源图案包括设置在显示区域DA中的有源图案130、以及设置在外围区域PA中的有源图案130d。有源图案130和130d可以分别包括源极区、漏极区、以及沟道区。有源图案可以包括非晶硅、多晶硅、或氧化物半导体。

第一绝缘层141设置在有源图案130和130d上，并且第一导电层可以设置在第一绝缘层141上。第一导电层可以包括与设置在显示区域DA中的有源图案130重叠的导体155、与设置在外围区域PA中的有源图案130d重叠的导体150d、以及上述的多条栅极线121。

有源图案130和与有源图案130重叠的导体155形成晶体管TRa，并且有源图案130d和与有源图案130d重叠的导体150d形成晶体管TRd。晶体管TRa可以用作在设置于显示区域DA中的每个像素PX中包括的开关，并且晶体管TRd可以用作在栅极驱动器中包括的开关。

第二绝缘层142设置在第一导电层和第一绝缘层141上，并且第二导电层设置在第二绝缘层142上。第二导电层可以包括感测导线M1、M2、M3和M4中的至少一条，但是本发明构思不限于此。感测导线M1、M2、M3和M4中的至少一条可以设置在除了第二导电层之外的导电层中。

第三绝缘层160设置在第二导电层和第二绝缘层142上。

第一绝缘层141、第二绝缘层142和第三绝缘层160中的至少一个可以包括诸如氮化硅(SiN_x)、氧化硅(SiO_x)的无机绝缘材料和/或有机绝缘材料。

第一绝缘层141、第二绝缘层142和第三绝缘层160可以包括接触孔165，该接触孔165形成在晶体管TRa和TRd的源极区和/或漏极区上。

第三导电层设置在第三绝缘层160上。第三导电层可以包括通过接触孔165与晶体管TRa和TRd的源极区或漏极区相连接的导体170、电压传输线177、以及上述的数据线171。电压传输线177设置在外围区域PA中。在实施例中，电压传输线177对诸如公共电压ELVSS的恒定电压进行传输。

第一导电层、第二导电层和第三导电层中的至少一个可以包括导电材料，诸如铜(Cu)、铝(Al)、钼(Mo)、钛(Ti)、钽(Ta)、以及它们中的至少两种的合金等。

钝化层180设置在第三导电层和第三绝缘层160上。钝化层180可以包括无机绝缘材料和/或诸如聚丙烯酸树脂或聚酰亚胺树脂的有机绝缘材料。在实施例中，钝化层180具有大致平坦或完全平坦的顶表面。钝化层180可以包括接触孔(未示出)，该接触孔设置于形成在外围区域PA中的电压传输线177上。

像素电极层设置在钝化层180上。像素电极层可以包括与显示区域DA的每个像素PX相对应的像素电极191、以及设置在外围区域PA中的电压传输电极197。在实施例中，电压传输电极197通过钝化层180的接触孔与电压传输线177物理地以及电地连接，并且接收公共电压ELVSS。

像素电极层可以包括半渗透性导电材料或反射性导电材料。

像素限定层350设置在钝化层180和像素电极层上。像素限定层350包括设置在像素电极191上的开口351，并且可以进一步包括设置在外围区域PA中的至少一个堰部350d。堰部350d可以与基板110的边缘相平行地延伸。间隔件360d可以进一步设置在堰部350d上。

尽管图3示出了感测导线M1、M2、M3和M4中的至少一条感测导线设置在相对于堰部350的外侧中，但是本发明构思不限于此。也就是说，感测导线M1、M2、M3和M4中的至少一条感测导线可以设置在相对于堰部350d的内侧中。

电压传输电极197包括不被像素限定层350覆盖的部分。

像素限定层350可以包括诸如聚丙烯酸树脂或聚酰亚胺树脂的感光材料。

发射层370设置在像素电极191上。发射层370可以包括设置在像素限定层350的开口351中的部分。发射层370可以进一步包括设置在外围区域PA中并且放置在像素限定层350上的至少一个虚拟发射层370d。发射层370可以包括有机发光材料或无机发光材料。

公共电极270设置在发射层370上。公共电极270也可以设置在像素限定层350上，并因此可以在多个像素PX上连续地形成。公共电极270与外围区域PA中的电压传输电极197物理地以及电地连接，并因此对公共电压ELVSS进行接收。在实施例中，公共电极270包括导电的透明材料。

每个像素PX的像素电极191、发射层370和公共电极270形成发射二极管ED。像素电极191和公共电极270中的一个是发射二极管ED的阴极，并且另一个是发射二极管ED的阳极。

通过对发射二极管ED进行封装来保护发射二极管ED的封装部分380可以设置在公共电极270上。封装部分380包括无机层381和383中的至少一个以及至少一个有机层382，并且无机层381和383中的至少一个与至少一个有机层382可以被交替地堆叠。有机层382包括有机材料，并且可以具有平坦化特性。无机层381和383可以包括诸如氧化铝(AlO_x)、氧化硅(SiO_x)或氮化硅(SiN_x)的无机材料。

由于有机层382的平面区域宽于无机层381和383的平面区域，所以两个无机层381和383可以在外围区域PA中彼此接触。两个无机层381和383之中最下面的无机层381可以与第三绝缘层160的顶表面相接触，但是本发明构思不限于此。

包括在封装部分380中的有机层382的边缘可以设置在堰部350d与显示区域DA之间。当形成封装部分380的有机层382时，堰部350d可被用于防止有机材料流向外侧。

包括无机绝缘材料或/和有机绝缘材料的缓冲层389可以设置在封装部分380上。在实施例中，缓冲层389被省略。

第四导电层可以设置在缓冲层389上。第四导电层可以包括第一触摸导体TEa。第一触摸绝缘层391设置在第四导电层上，并且第五导电层可以设置在第一触摸绝缘层391上。第五导电层可以包括第二触摸导体TEb。第二触摸绝缘层392可以设置在第五导电层上。第一触摸导体TEa和第二触摸导体TEb可以形成电容式触摸传感器，并因此当外部物体触摸该电容式触摸传感器时，可以通过使用该电容式触摸传感器来对诸如电容式触摸传感器是否被触摸或者触摸位置等触摸信息进行感测。

接下来，将参考图4和图5并与上述的图1至图3一起，对根据本发明的示例性实施例的显示设备中所包括的像素PX的详细结构的示例进行描述。

根据本示例性实施例的显示设备包括多条扫描线151、152和154，以及对发光控制信号进行传输的控制线153。多条扫描线151、152和154以及控制线153可以包括在上述的栅极线121中，并且在剖视图中可以包括在上述的第一导电层中。

根据本示例性实施例的显示设备可以进一步包括存储线156和初始化电压线159，并且存储线156和初始化电压线159在剖视图中可以包括在上述的第二导电层中。存储线156可以包括设置在每个像素PX中的扩展部分157。初始化电压线159可以对初始化电压进行传输。

根据本示例性实施例的显示设备可以进一步包括数据线171和驱动电压线172，并且数据线171和驱动电压线172在剖视图中可以包括在上述的第三导电层中。数据线171和驱动电压线172可以与多条扫描线151、152和154相交叉。存储线156的扩展部分157通过接触孔68与驱动电压线172相连接，并且对驱动电压ELVDD进行接收。

每个像素PX可以包括与扫描线151、152和154、控制线153、数据线171以及驱动电压线172相连接的多个晶体管T1、T2、T3_1、T3_2、T4_1、T4_2、T5、T6和T7，电容器Cst和发射二极管ED。多个晶体管T1、T2、T3_1、T3_2、T4_1、T4_2、T5、T6和T7可以包括在上述的晶体管TRa中。多个晶体管T1、T2、T3_1、T3_2、T4_1、T4_2、T5、T6和T7中的每个晶体管的沟道可以形成在上述的有源图案130中。有源图案130包括导电区以及沟道区131a、131b、131c_1、131c_2、131d_1、131d_2、131e、131f和131g，在沟道区131a、131b、131c_1、131c_2、131d_1、131d_2、131e、131f和131g中形成有晶体管T1、T2、T3_1、T3_2、T4_1、T4_2、T5、T6和T7的相应沟道。有源图案130的导电区设置在沟道区131a、131b、131c_1、131c_2、131d_1、131d_2、131e、131f和131g中的每个沟道区的相对侧，并且具有比沟道区131a、131b、131c_1、131c_2、131d_1、131d_2、131e、131f和131g更高的载流子浓度。设置在各个晶体管T1、T2、T3_1、T3_2、T4_1、T4_2、T5、T6和T7的沟道区131a、131b、131c_1、131c_2、131d_1、131d_2、131e、131f和131g中的每个沟道区的相对侧的一对导电区可以分别为对应的晶体管T1、T2、T3_1、T3_2、T4_1、T4_2、T5、T6和T7的源极区和漏极区，并因此被用作源电极和漏电极。

第一晶体管T1包括沟道区131a、源极区136a、漏极区137a、以及在平面上与沟道区131a重叠的驱动栅电极155a。驱动栅电极155a可以包括在上述的第一导电层中，并且可以通过接触孔61与连接构件174相连接。连接构件174在剖视图中可以包括在上述的第三导电层中。接触孔61可以设置于包括在扩展部分157中的接触孔51中。

第二晶体管T2包括沟道区131b、源极区136b、漏极区137b、以及作为在平面上与沟道区131b重叠的扫描线151的一部分的栅电极155d。源极区136b通过接触孔62与数据线171相连接，并且漏极区137b与第一晶体管T1的源极区136a相连接。

第三晶体管T3_1和T3_2包括彼此连接的顶部第三晶体管T3_1和底部第三晶体管T3_2。顶部第三晶体管T3_1包括沟道区131c_1、源极区136c_1、漏极区137c_1、以及作为与沟道区131c_1重叠的扫描线151的一部分的栅电极155c_1。漏极区137c_1通过接触孔63与连接部件174连接。底部第三晶体管T3_2包括沟道区131c_2、源极区136c_2、漏极区137c_2、以及作为与沟道区131c_2重叠的扫描线151的一部分的栅电极155c_2。

第四晶体管T4_1和T4_2包括彼此连接的左侧第四晶体管T4_1和右侧第四晶体管T4_2。左侧第四晶体管T4_1包括沟道区131d_1、源极区136d_1、漏极区137d_1、以及作为与沟道区131d_1重叠的扫描线152的一部分的栅电极155d_1。漏极区137d_1与顶部第三晶体管T3_1的漏极区137c_1相连接，并且通过接触孔63与连接部件174相连接。右侧第四晶体管T4_2包括沟道区131d_2、源极区136d_2、漏极区137d_2、以及作为与沟道区131d_2重叠的扫描线152的一部分的栅电极155d_2。漏极区137d_2与左侧第四晶体管T4_1的源极区136d_1相连接，并且源极区136d_2通过接触孔65与连接构件175相连接。

连接构件175在剖视图中可以包括在第二导电层或第三导电层中。当连接构件175包括在第三导电层中时，连接构件175可以通过接触孔64与初始化电压线159电连接。

第五晶体管T5包括沟道区131e、源极区136e、漏极区137e、以及作为与沟道区131e重叠的控制线153的一部分的栅电极155e。源极区136e通过接触孔67与驱动电压线172相连接，并且漏极区137e与第一晶体管T1的源极区136a相连接。

第六晶体管T6包括沟道区131f、源极区136f、漏极区137f、以及作为与沟道区131f重叠的控制线153的一部分的栅电极155f。源极区136f与第一晶体管T1的漏极区137a相连接，并且漏极区137f通过接触孔69与连接部件179相连接。连接构件179在剖视图中可以包括在上述的第三导电层中。

第七晶体管T7包括沟道区131g、源极区136g、漏极区137g、以及作为与沟道区131g重叠的扫描线154的一部分的栅电极155g。源极区136g与第六晶体管T6的漏极区137f相连接，并且漏极区137g可以通过接触孔65与连接构件175相连接并因此对初始化电压进行接收。

电容器Cst可以包括彼此重叠的驱动栅电极155a以及存储线156的扩展部分157，来作为两个端子，在驱动栅电极155a以及存储线156的扩展部分157之间插入有第二绝缘层142。

上述的像素电极层可以包括像素电极191和像素导电图案192。像素电极191通过接触孔89与连接构件179相连接，并因此可以对数据电压进行接收。像素导电图案192可以沿着像素电极191的边缘弯曲。像素导电图案192可以对初始化电压进行传输。

接下来，参考图6并与上述的附图一起，对根据本发明的示例性实施例的用于检测显示设备中的诸如裂纹的缺陷的方法进行描述。

首先，电路部分750分别将输入信号In_M1、In_M2、In_M3和In_M4输入到多条感测导线M1、M2、M3和M4，并且响应于输入信号In_M1、In_M2、In_M3和In_M4接收输出信号Out_M1、Out_M2、Out_M3和Out_M4。电路部分750基于输出信号Out_M1、Out_M2、Out_M3和Out_M4对相应的感测导线M1、M2、M3和M4的导线电阻进行检测，以确定检测到的电阻是否包括在第一预定范围内(S61)。第一预定范围可以被设定为相对于电阻的中间值(例如，约500kΩ、600kΩ、700kΩ、等等)高15％(+15％)和低15％(-15％)的范围，但是本发明的实施例不限于此。当感测导线M1、M2、M3和M4中的每条感测导线的导线电阻被确定为包括在第一预定范围内时，每条导线被确定为在工艺分布范围内处于正常导线状态，并因此将该导线确定为良好。当感测导线M1、M2、M3和M4中的一条感测导线的导线电阻被确定为在第一预定范围之外时，对应的感测导线被确定为具有缺陷。

接下来，当所有感测导线M1、M2、M3和M4的导线电阻均被确定为包括在第一预定范围内时，电路部分750的比较器751、752和753对检测到的感测导线M1、M2、M3和M4的导线电阻进行比较，并且确定结果(即，电阻之间的差异或比率)是否包括在第二预定范围内(S62)。当感测导线M1、M2、M3和M4中的一条感测导线的导线电阻被设置为参考电阻时，第二预定范围可以被设置为相对于该参考电阻的电阻比较值的比率范围(例如，15％之内)。当电阻比较值包括在第二预定范围内时，相应的感测导线被确定为良好，否则被确定为具有缺陷。通过调整第二预定范围可以控制检测程度。在示例性实施例中，如果感测导线M1、M2、M3和M4中的一条感测导线的电阻与其他感测导线大不相同，则该条感测导线被确定为具有缺陷。例如，如果第二感测导线和第三感测导线的电阻与第一感测导线的电阻相差小于100kΩ，并且第四感测导线的电阻与第一感测导线的电阻相差大于100kΩ，则可以得出第四感测导线具有缺陷的结论。

第二预定范围可以具有多个不同范围，以确定裂纹进展的程度。例如，第二预定范围可以具有被划分为诸如3、5、7、9、12、15、20、25、30和40(％)的多个级别的多个范围。可以确定电阻比较值(差异或比率)在多个范围中的哪个范围内，以获得与裂纹的进展有关的详细信息。特别地，通过确定电阻比较值包括在相对较小范围(例如，低于15％)的哪个范围内，可以检测出一定程度的微小裂纹。当前计算出的针对给定感测导线的裂纹进展的程度可以被存储，并且与新计算出的针对给定感测导线的裂纹进展的程度进行比较，以预测该裂纹将在何时从较小裂纹发展到较大裂纹。

当通过同一制造工艺同时地形成感测导线M1、M2、M3和M4时，感测导线M1、M2、M3和M4可能会因为受到同一工艺分布的影响而具有相等的导线宽度变化，并且因此感测导线M1、M2、M3和M4可以是针对彼此的参考导线，以用于对导线电阻上的变化进行比较。

在示例性实施例中，通过使用在相对于显示区域DA的左侧中设置的感测导线M1和感测导线M2之间的电阻比较值，来对显示区域DA左侧的外围区域PA中的裂纹的发生进行检测。在示例性实施例中，通过使用在相对于显示区域DA的右侧中设置的感测导线M3和感测导线M4之间的电阻比较值，来对显示区域DA右侧的外围区域PA中的裂纹的发生进行检测。由于裂纹通常起始于基板110的外侧，因此被设置为靠近显示区域DA的感测导线M2和M4相比于被设置为靠近显示面板1000的边缘的感测导线M1和M3具有更高的电阻的这种可能性较低。因此，即使在外围区域PA中出现裂纹，两条感测导线中的裂纹的外观或程度也可以有所不同。因此，当在显示面板1000中发生诸如裂纹的缺陷时，可以通过使用在相对于显示区域DA的相同侧中设置的感测导线(M1和M2或M3和M4)的导线电阻之间的差异，来对裂纹的发生进行检测。

然而，当在相对于显示区域DA的一侧中设置的外围区域PA的较大区域中出现裂纹时，可能会难以对被设置在外围区域PA的相同侧上并且彼此相邻的两条感测导线M1和M2或M3和M4之间的导线电阻差异进行检测。在这种情况下，在本示例性实施例中，对在相对于显示区域DA的外围区域PA的不同侧上设置的一条感测导线(即，M1和M2中的一个)的电阻与一条感测导线(即，M3和M4中的一个)的电阻进行比较，以准确地对在外围区域PA中的诸如裂纹的缺陷的发生进行确定。

根据本发明的至少一个实施例，可以通过电路部分750以数字方式来确定在显示面板1000中的裂纹的发生，使得能够容易地检测到诸如裂纹的缺陷。此外，当经历了同一工艺分布的多条感测导线M1、M2、M3和M4被用作相对于彼此的参考时，可以防止由于工艺分布而导致的错误检测，由此提高缺陷检测的精度。

此外，通过对电阻比较值在第二预定范围内处于多个范围中的哪个范围进行确定，可以获取与裂纹的进展有关的详细信息。

另外，能够容易地对诸如裂纹的缺陷的发生的检测灵敏度进行调整。此外，第一预定范围和第二预定范围可以被自由调整。

在示例性实施例中，省略了用于确定感测导线M1、M2、M3、M4的电阻是否包括在第一预定范围内的图6的步骤(S61)，并且仅执行了用于对检测到的电阻进行比较的图6的步骤(S62)。

根据本发明的示例性实施例，电路部分750进一步包括比较器，该比较器对在相对于显示区域DA的相同侧上设置的两条感测导线的电阻比较结果与在相对于显示区域DA的相对侧上设置的两条感测导线的电阻比较结果进行比较。在这种情况下，电路部分750可以确定在显示区域DA的哪一侧产生了裂纹或者在显示区域DA的哪一侧产生了更多的裂纹。例如，当在相对于显示区域DA的相同侧(例如，第一侧)上设置的两条感测导线M1和M2或M3和M4之间的电阻差异大于在相对于显示区域DA的相对侧中设置的两条感测导线(即，M1和M2中的一个与M3和M4中的一个)之间的电阻差异时，可以确定在第一侧的外围区域PA中产生了裂纹或更多的裂纹，而在相反的情况下，可以确定在与第一侧相对的一侧的外围区域PA中产生了裂纹或更多的裂纹。

根据示例性实施例，当在相对于显示区域DA的一侧中的外围区域PA中仅设置有一条感测导线时，通过比较器753对在相对于显示区域DA的相对侧中设置的两条感测导线的电阻进行比较，以确定诸如裂纹的缺陷的发生。

根据示例性实施例，在相对于显示区域DA的相同侧上的外围区域PA中设置的两条感测导线M1和M2或M3和M4沿不同的方向延伸。在这种情况下，在两条感测导线的双方中不会同时出现裂纹的这种可能性很高。因此，通过两条感测导线M1和M2或M3和M4的电阻比较，可以准确地确定在显示面板1000中是否产生了诸如裂纹的缺陷。

可以通过各种其他方法来执行用于对显示面板1000中的诸如裂纹的缺陷进行检测的感测导线M1、M2、M3和M4之间的导线电阻比较。

接下来，将参考图7并与上述的附图一起，对根据本发明示例性实施例的显示设备进行描述。在下文中，相同的附图标记将指代与上述实施例中的那些组成元件相同的组成元件，并因此省略了相同的描述。

参考图7，根据本示例性实施例的显示设备与上述示例性实施例的显示设备相似，除了感测导线M1、M2、M3和M4中的至少一条感测导线具有多个曲折结构U1和U2。具体而言，图7示出了其中作为多条感测导线M1、M2、M3和M4中的一部分的感测导线M1和M3具有多个曲折结构U1和U2的示例。具有多个曲折结构U1和U2的多条感测导线M1、M2、M3和M4中的至少一条感测导线可以通过在相对于显示区域DA的左侧或右侧的外围区域PA中在y方向上来回多次地延伸来形成曲折结构U1，并且通过在显示区域DA的顶部的外围区域PA中在x方向上来回多次地延伸来形成曲折结构U2，然后返回到与电路部分750相连接的起点。

在实施例中，第一感测导线M1包括在x方向上向左延伸的第一区段和连接到第一区段的第一分叉部分，其中第一分叉部分包括彼此间隔开并且在y方向上向上延伸的第二区段和第三区段。第一感测导线M1可以进一步包括连接到第三区段的第二分叉部分，其中第二分叉部分包括彼此间隔开并且在x方向上向右延伸的第四区段和第五区段。在该实施例中，第三感测导线M3包括在x方向上向右延伸的第一区段和连接到第一区段的第一分叉部分，其中第一分叉部分包括彼此间隔开并且在y方向上向上延伸的第二区段和第三区段。第三感测导线M3可以进一步包括连接到第三区段的第二分叉部分，其中第二分叉部分包括彼此间隔开并且在x方向上向左延伸的第四区段和第五区段。在该实施例中，第一感测导线M1的第二分叉部分的各区段与第三感测导线M3的第二分叉部分的各区段朝向彼此延伸，但彼此互不接触(即，第一感测导线M1的第二分叉部分的各区段与第三感测导线M3的第二分叉部分的各区段彼此间隔开)。

尽管图7示出了感测导线M2和M4不包括曲折结构(例如，分叉部分)，在示例性实施例中，感测导线M2和M4包括与感测导线M1和M3类似的多个曲折结构。

根据图7的示例性实施例，感测导线M2和M4的整个导线长度短于具有多个曲折结构U1和U2的感测导线M1和M3的整个导线长度，并且因此，由感测导线M2和M4所占据的部分的区域小于由感测导线M1和M3所占据的部分的区域。为了减小显示设备的边框区域，可以减小由感测导线M1、M2、M3和M4所占据的区域。例如，为了减小这些区域中的一个或多个，可以使感测导线M2和M4的一部分的曲折结构的曲折路径的数量最小化，或者可以使导线长度最小化。

当一个或多个区域被减小时，在用于对诸如裂纹的缺陷进行检测的方法中，电路部分750可以附加地执行用于对感测导线M2和M4相对于感测导线M1和M3的导线电阻差异进行补偿的步骤。例如，为了对感测导线M2和M4相对于感测导线M1和M3之间的电阻差异进行补偿，对检测到的感测导线M2和M4的电阻应用(例如，乘以)权重值，以对由于感测导线M1和M3与感测导线M2和M4之间的导线长度差异而导致的电阻差异进行补偿。具体而言，电路部分750确定感测导线M2和M4的导线电阻包括在感测导线M1和M3的导线电阻的20％、40％、60％、80％和100％中的哪个级别中，然后应用相应的权重值，从而对导线电阻偏差进行补偿。

即使没有产生裂纹，由于诸如取决于位置的长度差异等各种其他因素，感测导线M1、M2、M3和M4也可以具有电阻差异，并且在这种情况下，电路部分750可以按照上述方式对检测到的电阻应用权重值，以对电阻差异进行补偿。

接下来，将参考图8和图9并与上述的附图一起，对根据本发明的示例性实施例的显示设备进行描述。

参照图8和图9，根据本示例性实施例的显示设备类似于上述的示例性实施例的显示设备，除了在整个外围区域PA中仅提供有一对感测导线M5和M6，使得可以减小由外围区域PA中的感测导线所占据的区域并且可以减少电路部分750的焊盘部分的数量。

感测导线M5的一端连接到电路部分750的一侧，并且另一端连接到电路部分750的另一侧(例如，相对侧)。在实施例中，感测导线M5沿着包括显示区域DA的左侧、顶侧和右侧在内的至少三个边缘从一端延伸到另一端。沿着显示区域DA的周围延伸的感测导线M5可以部分地具有来回多次地延伸的至少一个曲折结构(或曲折形状)。多个曲折结构可以由一条连续导线来形成。

感测导线M6的一端连接到电路部分750的一端，并且另一端连接到电路部分750的另一端。感测导线M6的结构可以与感测导线M5的结构类似。

两条感测导线M5和M6可以具有相似或不同的导线电阻。例如，感测导线M6的导线电阻可以低于感测导线M5的导线电阻，并且在这种情况下，包括在感测导线M6中的曲折结构的数量和/或曲折路径的数量可以小于包括在感测导线M5中的曲折结构的数量和/或曲折路径的数量。

尽管图8示出了感测导线M6被设置在感测导线M5与显示区域DA之间，但是本发明的实施例不限于此。例如，图8所示的感测导线M5的位置和感测导线M6的位置可以相互切换。

参考图9，电路部分750包括比较器754。电路部分750可以将作为裂纹缺陷检测信号的输入信号In_M5和In_M6输入到相应的感测导线M5和M6的一端，并且可以响应于输入信号In_M5和In_M6从相应的感测导线M5和M6的另一端接收输出信号Out_M5和Out_M6。在实施例中，比较器754对来自感测导线M5的输出信号Out_M5和来自感测导线M6的输出信号Out_M6进行比较，以生成比较结果。感测导线M5的第一电阻可以根据输出信号Out_M5来确定，并且感测导线M6的第二电阻可以根据输出信号Out_M6来确定。如果第一电阻和第二电阻中的一个或多个在特定的第一电阻范围之外，则可以确定存在裂纹。如果两个电阻都在第一电阻范围内，但电阻彼此相差很大，则可以确定存在裂纹。当两个电阻之间的差异大于某个阈值时，可以确定电阻彼此相差很大。电路部分750的其他操作与上述检测方法中的那些操作相同，并因此省略相同的描述。

接下来，将参考图10至图12并与上述的附图一起，对根据示例性实施例的显示设备进行描述。

参考图10和图11，根据本示例性实施例的显示设备类似于上述示例性实施例的显示设备，除了上述的感测导线M2和M4被省略并且在相对于显示区域DA的一侧上的外围区域PA中仅设置有一条感测导线(即，M1和M3中的一个)。

电路部分750包括电阻检测器755和756中的至少一个。图11示出了其中电路部分750包括与一对感测导线M1和M3相对应的一对电阻检测器755和756的示例。电阻检测器755可以基于来自感测导线M1的输出信号Out_M1对感测导线M1的电阻进行检测，并且电阻检测器756可以基于来自感测导线M3的输出信号Out_M3对感测导线M3的电阻进行检测。电阻检测器755和756中的每个都可以包括至少一个模数转换器(ADC)。

将参考图12并与图10和图11一起，对根据本示例性实施例的用于对诸如裂纹的缺陷进行检测的方法进行描述。首先，电路部分750将输入信号In_M1和In_M3输入到感测导线M1和M3，并且响应于输入信号In_M1和In_M3接收输出信号Out_M1和Out_M3。电路部分750确定基于输出信号Out_M1和Out_M3检测到的、相应感测导线M1和M3的电阻是否包括在第一预定范围内(S121)。第一预定范围可以被设定为相对于电阻的中间值(例如，大约500kΩ、600kΩ、700kΩ、等等)诸如在约±(3％、6％、9％、12％、15％、20％、30％)内的范围，但是该范围不限于此。当确定感测导线M1和M3的电阻包括在第一预定范围内时，每条导线被确定为在工艺分布范围内处于正常导线状态，并且因此，该导线可以被确定为良好。当感测导线M1和M3的电阻中的一个感测导线被确定为在第一预定范围之外时，对应的感测导线被确定为具有缺陷。

由电阻检测器755和756检测到的感测导线M1和M3的电阻可以被存储在电路部分750的存储器中，然后可以被输出到外部(S122)。

根据本示例性实施例，感测导线M1和M3的电阻权重值被应用，以使用电路部分750以数字方式来检测裂纹的发生。此外，裂纹的程度可以通过获取与裂纹的进展有关的信息而被检测。

尽管图12未示出用于通过比较感测导线M1和M3彼此的电阻来检测电阻比较值的图6的附加步骤，但是在替代实施例中，可以修改图12的方法以添加该附加步骤。

接下来，将参考图13和图14并与上述的附图一起，对根据示例性实施例的显示设备进行描述。

参考图13和图14，根据本示例性实施例的显示设备类似于图8和图9的示例性实施例的显示设备，除了感测导线M6被省略并且仅包括沿着整个外围区域PA延伸的感测导线M5。

电路部分750包括电阻检测器757。电阻检测器757可以基于来自感测导线M5的输出信号Out_M5，对感测导线M5的电阻进行检测。电阻检测器757可以包括至少一个模数转换器(ADC)。ADC可被用于将检测到的模拟电阻转换为数字值，以便将该数字值存储在存储器中。感测导线M5可以包括在外围区域PA的右侧上沿着y方向延伸的第一部分、沿着外围区域PA的顶侧沿着x方向延伸的与第一部分相连接的第二部分、以及在外围区域PA的左侧上沿着y方向延伸的与第二部分相连接的第三部分。

根据本示例性实施例的用于对诸如裂纹的缺陷进行检测的方法可以包括：将输入信号In_M5输入到感测导线M5；响应于输入信号In_M5接收输出信号Out_M5；并且基于输出信号Out_M5检测感测导线M5的电阻，以确定检测到的电阻是否包括在第一预定范围内。第一预定范围可以被设定为在相对于电阻的中间值(例如，约500kΩ、600kΩ、700kΩ、等等)诸如在约±(3％、6％、9％、12％、15％、20％、30％)内的范围，但不限于此。当确定感测导线M5的电阻包括在第一预定范围内时，感测导线M5被确定为在工艺分布范围内处于正常导线状态，并且因此，感测导线M5可以被确定为良好。如果感测导线M5的电阻被确定为在第一预定范围之外，则感测导线M5被确定为具有缺陷。

由电阻检测器757检测到的感测导线M5的电阻可以被存储在电路部分750的存储器中，然后可以被输出到外部。

根据示例性实施例的显示设备可以是各种显示设备，诸如液晶显示器(LCD)或有机/无机发光显示设备。

虽然已经结合目前被认为是实际的示例实施例来对本发明进行了描述，但是应当理解，本发明不限于所公开的实施例，而是相反，本发明旨在覆盖包括在本公开的精神和范围内的各种修改及等同布置。

Claims (10)

1.一种显示设备，包括显示面板，所述显示面板包括对图像进行显示的显示区域、以及设置在所述显示区域外侧的外围区域，所述显示设备包括：

电路，包括比较器；以及

第一感测导线和第二感测导线，设置在所述外围区域中并连接到所述电路，

其中所述比较器对从所述第一感测导线输出的第一输出信号和从所述第二感测导线输出的第二输出信号进行比较，以生成比较结果，并且

其中所述电路基于所述比较结果确定所述显示设备中是否存在缺陷。

2.根据权利要求1所述的显示设备，其中，

所述第二感测导线包括与所述第一感测导线相平行地延伸的部分，并且所述第二感测导线在所述外围区域中被设置在所述第一感测导线与所述显示区域之间。

3.根据权利要求1所述的显示设备，其中，

所述第一感测导线和所述第二感测导线中的至少一条感测导线的两端连接到所述电路，并且所述第一感测导线和所述第二感测导线中的每条感测导线均包括在所述外围区域中来回至少一次地延伸的导线。

4.根据权利要求3所述的显示设备，其中，

在所述第二感测导线中包括的曲折结构的曲折路径的数量小于在所述第一感测导线中包括的曲折结构的曲折路径的数量，并且

其中，所述电路被配置为应用权重值，以对所述第一感测导线的电阻与所述第二感测导线的电阻之间的差异进行补偿。

5.根据权利要求1所述的显示设备，其中，

所述第一感测导线和所述第二感测导线中的每条感测导线的两端连接到所述电路的不同侧，并且所述第一感测导线和所述第二感测导线中的每条感测导线均包括沿着所述显示区域的至少三条边延伸的部分。

6.根据权利要求1所述的显示设备，其中，

所述第一感测导线的两端连接到所述电路的同侧，并且所述第二感测导线的两端连接到所述电路的同侧。

7.根据权利要求6所述的显示设备，其中，

所述第一感测导线包括两个部分，所述两个部分相对于所述显示区域被彼此对称地设置且同时被彼此间隔开。

8.根据权利要求1所述的显示设备，其中，所述显示面板进一步包括：第三感测导线，设置在所述外围区域中并连接到所述电路，

所述第一感测导线和所述第二感测导线设置在所述显示区域的相同第一侧上的所述外围区域中，

所述第三感测导线设置在所述显示区域的与所述第一侧相对的第二侧上的所述外围区域中，

所述比较器包括对所述第一感测导线的电阻和所述第二感测导线的电阻进行比较的第一比较器、以及对所述第一感测导线的电阻和所述第三感测导线的电阻进行比较的第二比较器。

9.根据权利要求1所述的显示设备，其中，

所述第一感测导线和所述第二感测导线设置在所述显示区域的相对侧。

10.一种用于检测显示设备中的缺陷的方法，所述显示设备包括显示面板，所述显示面板包括显示区域以及设置在所述显示区域外侧的外围区域，所述显示设备包括电路、设置在所述外围区域中并连接到所述电路的第一感测导线、以及设置在所述外围区域中并连接到所述电路的第二感测导线，所述方法包括：

由所述电路，向所述第一感测导线施加第一输入信号；

由所述电路，向所述第二感测导线施加第二输入信号；

由所述电路，响应于所述第一输入信号，使用由所述第一感测导线生成的第一输出信号，来对所述第一感测导线的第一电阻进行测量；

由所述电路，响应于所述第二输入信号，使用由所述第二感测导线生成的第二输出信号，来对所述第二感测导线的第二电阻进行测量；并且

由所述电路，基于对所述第一电阻和所述第二电阻进行相互比较来确定所述显示设备是否具有缺陷。