CN105938698A - 显示面板及测试该显示面板的方法 - Google Patents

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Abstract

公开了显示面板及测试该显示面板的方法。该显示面板包括：显示器，包括电连接至数据线的像素列；非显示区域，邻近显示器；测试电路，配置为接收经过非显示区域的至少一部分的点亮测试信号，并响应于测试控制信号将点亮测试信号传送至数据线；以及开关，配置为从外部部件接收数据信号，并响应于开关信号将数据信号传送至数据线。

Description

显示面板及测试该显示面板的方法
技术领域
本发明的示例实施例涉及显示设备和/或显示面板及测试该显示设备和/或显示面板的方法。
背景技术
通常，有机发光显示设备包括显示图像的显示面板、向显示面板提供扫描信号的扫描驱动器、向显示面板提供数据信号的数据驱动器，以及向显示面板提供发射控制信号的发射控制驱动器。
显示面板通常通过复杂的半导体制造工艺制造。在制造期间，在诸如刻蚀工艺、切割工艺等制造工艺步骤期间，在各种部件、布线和基板中可能出现裂痕(或缺陷)。
裂痕可能导致诸如面板驱动故障、面板收缩等问题。例如，在可折叠显示面板或可卷曲显示面板的情况下，随着显示面板被折叠/展开或卷曲/铺开，可能出现(或显现)因外力而导致的严重裂痕。
可利用点亮测试(lighting test)来检测在显示面板的制造过程期间出现的显示面板的内部裂痕(或内部缺陷)(例如，检测包括在显示面板中的布线的损坏)。然而，对于检测微小裂痕，点亮测试具有局限性。另外，点亮测试可能在驱动集成电路被安装在显示面板之前执行，从而点亮测试可能无法检测驱动集成电路被安装在显示面板之后出现的裂痕。
发明内容
本发明示例实施例涉及显示设备。例如，本发明实施例涉及检测内部裂痕(或内部缺陷)的显示面板以及测试该显示面板的方法。
一些示例实施例提供一种显示面板，其中内部裂痕(或内部缺陷)可被检测，同时结构和/制造该显示面板的过程的变化得以最小化。
一些示例实施例提供一种测试显示面板的方法，所述方法能够在驱动集成电路被安装在显示面板中之后以及在驱动集成电路被安装在显示面板中之前检测显示面板的内部裂痕。
根据示例实施例，一种显示面板包括：显示器，包括电连接至数据线的像素列；非显示区域，邻近所述显示器；测试电路，配置为接收经过所述非显示区域的至少一部分的点亮测试信号，并响应于测试控制信号将所述点亮测试信号传送至数据线；以及开关，配置为从外部部件接收数据信号，并响应于开关信号将所述数据信号传送至数据线。
显示面板可进一步包括驱动集成电路，该驱动集成电路可配置为生成所述测试控制信号和所述开关信号，并将参考信号供应至所述开关。
驱动集成电路可配置为生成所述测试控制信号和所述开关信号，以将所述点亮测试信号和所述参考信号交替供应至所述数据线。
所述测试电路可包括点亮测试线，该点亮测试线经由所述非显示区域的所述至少一部分延伸，并经由所述数据线电连接至所述显示器的最外侧处的一个像素列。
所述显示器可包括：第一像素列，其中发射第一颜色的光的第一像素和发射第二颜色的光的第二像素交替排布；第二像素列，其中所述第一像素和所述第二像素以与所述第一像素列相反的顺序交替排布；以及第三像素列，其中排布有发射第三颜色的光的第三像素，其中所述点亮测试线电连接至所述第三像素列。
显示器可进一步包括第四像素列，在所述第四像素列中排布有所述第三像素，所述第四像素列经由电阻器电连接至所述测试电路，所述电阻器的电阻等于所述点亮测试线的电阻。
所述测试电路可进一步包括测试晶体管，该测试晶体管配置为响应于所述测试控制信号将所述点亮测试线与数据线电连接。
所述开关可包括配置为选择性地将所述数据信号供应至所述像素列的数据分配电路。
所述开关可包括配置为响应于所述开关信号将所述数据信号传送至所述数据线的开关晶体管。
所述开关可在驱动集成电路中实现。
所述显示面板可进一步包括预测试电路，该预测试电路并联电连接至所述开关，并配置为响应于预测试控制信号将预点亮测试信号供应至所述数据线。
所述预测试电路可包括经由所述非显示区域的所述至少一部分延伸的预点亮测试线。
所述数据线可在第一时段期间通过所述点亮测试信号被初始化，并且所述预点亮测试信号可在不同于所述第一时段的第二时段期间被写入到所述数据线中。
根据本发明的一些示例实施例，显示面板包括显示器和非显示区域，该显示器包括电连接至数据线的像素列，非显示区域邻近显示器；第一测试电路，配置为接收经过所述非显示区域的至少一部分的第一点亮测试信号，并且响应于第一测试控制信号将所述第一点亮测试信号传送至所述数据线；开关，配置为从外部部件接收数据信号，并且响应于开关信号将所述数据信号传送至所述数据线；第二测试电路，并联电连接至所述开关，并配置为响应于第二测试控制信号将第二点亮测试信号供应至所述数据线；以及驱动集成电路，配置为生成所述第一测试控制信号、所述第二测试控制信号和所述开关信号。
所述驱动集成电路可配置为使用所述第二点亮测试信号将所述第二测试电路控制在关断状态，所述驱动集成电路可配置为使用所述第一测试控制信号控制所述第一测试电路在第一时段期间将所述第一点亮测试信号供应至所述数据线，并且所述驱动集成电路可配置为使用所述开关信号控制所述开关在不同于所述第一时段的第二时段期间将参考信号供应至所述数据线。
所述显示面板可进一步包括：扫描驱动器，配置为控制所述像素列在第二时段期间从所述数据线接收所述参考信号。
所述第二测试电路可包括经由所述非显示区域的所述至少一部分延伸的第二点亮测试线。
根据本发明的一些示例实施例，在测试显示面板的方法中，所述显示面板包括显示器和非显示区域，该显示器包括电连接至数据线的像素列，该非显示区域邻近该显示器，该方法包括：将经过非显示部分的至少一部分的第一点亮测试信号供应至向数据线传送第一点亮测试信号的第一测试电路；使用开关将从驱动集成电路供应的参考信号传送至所述数据线；以及使用所述第一测试电路将所述第一点亮测试信号传送至数据线。
给所述第一测试电路供应所述第一点亮测试信号可包括：将第二测试电路控制在关断状态，并且所述第二测试电路可并联电连接至所述开关，并给所述数据线供应经过所述非显示区域的所述至少一部分的第二点亮测试信号。
传送所述第一点亮测试信号可包括：将第一测试控制信号供应至所述第一测试电路；以及响应于所述第一测试控制信号将所述第一点亮测试信号传送至所述数据线。
因此，根据示例实施例的显示面板通过包括排布在所述显示面板的外部区域中的点亮测试线，可相对容易地检测显示面板的内部裂痕，同时使得结构和/或制造显示面板的过程的改变得以最小化或减少，其中所述显示面板的点亮状态响应于点亮测试线的电阻变化而改变。
另外，根据示例实施例的测试显示面板的方法通过使用测试电路部分和开关部分给所述显示面板供应点亮测试信号，可在驱动集成电路被安装在显示面板中之后以及在驱动集成电路被安装在显示面板中之前检测显示面板的内部裂痕。
附图说明
从以下结合附图进行的详细描述，例示性、非限制性示例实施例将得以更清楚地理解。
图1是例示根据示例实施例的显示面板的框图。
图2是例示图1的显示面板的示例的电路图。
图3是例示图2的显示面板的点亮测试结果的波形图。
图4A是例示图1的显示面板的示例的电路图。
图4B是例示图1的显示面板的示例的电路图。
图5是例示图4B的显示面板的点亮测试结果的波形图。
图6是例示图1的显示面板的示例的电路图。
图7是例示图6的显示面板的点亮测试结果的波形图。
图8是例示图1的显示面板的示例的电路图。
图9是例示测试图1的显示面板的方法的流程图。
具体实施方式
下文中，将参照附图更详细地解释本发明示例实施例的方面，附图中同样的附图标记始终指代同样的元件。然而，本发明可以多种不同形式体现，而不应当解释为仅限于本文所例示的实施例。相反，提供这些实施例作为示例以使本公开将是透彻和完整的，并将向本领域技术人员充分地传达本发明的方面和特征。相应地，可不描述对本领域技术人员完整理解本发明的方面和特征而言非必需的过程、元件和技术。除非另有指示，否则同样的附图标记在附图和书面描述中始终指代同样的元件，因此，将不再重复其描述。在附图中，为了清楚起见，可放大元件、层和区域的相对尺寸。
应当理解，尽管本文中可使用术语“第一”、“第二”、“第三”等来描述各种元件，部件、区域、层和/或部分，但这些元件、部件、区域、层和/或部分不应受到这些术语的限制。这些术语用于区分一个元件、部件、区域、层或部分与另一元件、部件、区域、层或部分。因此，在不脱离本发明的精神和范围的情况下，下面描述的第一元件、部件、区域、层或部分可被称为第二元件、部件、区域、层或部分。
为了便于解释，本文可使用诸如“在…下方”、“在…下面”、“较低的”、“在…之下”、“在…上面”、“较高的”等的空间上相关的术语来描述附图中所例示的一个元件或特征与另外的元件或特征的关系。将理解，除在附图中描绘的方位之外，空间上相关的术语意在还涵盖使用中或操作中的设备的不同的方位。例如，如果附图中的设备被翻转，则描述为在另一元件或特征“下面”或“下方”或“之下”的元件或特征将随之定向为在另一元件或特征“上面”。因此，示例术语“在…下面”和“之下”可涵盖上面和下面两种方位。器件可被另外定向(例如，旋转90度或以其它方位)，并且本文使用的空间上相关的描述词应被相应地解释。
将理解，当提及一元件或层在另一元件或层“上”、“连接至”或“联接至”另一元件或层时，该元件或层可直接在另一元件或层上、连接至或联接至另一元件或层，或者也可以存在一个或多个中间元件或层。此外，还应当理解，当提及一元件或层在两个元件或层“之间”时，其可以是两个元件或层之间仅有的元件或层，或也可以存在一个或多个中间元件或层。
本文使用的术语仅用于描述特定实施例的目的而不意在限制本发明。用于本文时，除非上下文清楚地另有指示，否则单数形式意在也包括复数形式，。将进一步理解，当在本发明书中使用时，术语“包括”和“包含”指明存在所叙述特征、整体、步骤、操作、元件和/或部件，但不排除存在或附加有一个或多个其它特征、整体、步骤、操作、元件、部件和/或其组。用于本文时，术语“和/或”包括相关联的所列项的一个或多个的任意和所有组合。诸如“......中的至少一个”之类的表述在一系列元件之后时，修饰的是整个元件系列而非修饰系列中的独立元件。
用于本文时，术语“基本”、“大约”及类似术语用作近似术语而非程度术语，并且意在对由本领域技术人员将认识到的测量值或计算值的固有偏差做出解释。进一步，当描述本发明的实施例时使用的“可”、“可以”、“可能”指“本发明的一个或多个实施例”。用于本文时，术语“使用”可被认为与“利用”同义。而且，术语“示例性”意在指示例或例示。
除非另有定义，否则本文使用的所有术语(包括技术和科学术语)具有与本发明所属领域的技术人员通常理解的含义相同的含义。将进一步理解，诸如在常用的词典中定义的术语之类的术语应当解释为具有与其在相关技术领域和/或本说明书的语境中的含义一致的含义，而不应以理想的或过于形式的意义来解释，除非本文中表述为如此定义。
通常，点亮测试是指在驱动集成电路被安装在显示面板中之前检测显示面板中的缺陷像素、电路损坏等的方法。然而，根据示例实施例的点亮测试包括模块裂痕检测(MCD)测试，该MCD测试用于在驱动集成电路被安装在显示部分之后检测显示面板的非显示部分中的裂痕。
图1是例示根据示例实施例的显示面板的框图。
参照图1，显示面板100可包括显示部分(或显示器)110、第一测试电路部分(或第一测试电路)120、开关部分(或开关)130、第二测试电路部分(或第二测试电路)140、焊盘部分(或焊盘)150和扫描驱动部分(或扫描驱动器)160。根据一些示例实施例，显示面板100可以是有机发光二极管显示面板。
显示部分110可包括扫描线S1、S2和Sn、数据线D1、D2、D3、D3m-2、D3m-1和D3m以及像素111。像素111可排布在扫描线S1、S2和Sn与数据线D1、D2、D3、D3m-2、D3m-1和D3m的交叉处。当扫描信号经由扫描线S1、S2和Sn供应时，像素111可存储经由数据线D1、D2、D3、D3m-2、D3m-1和D3m供应的数据信号，并可基于数据信号发光。
显示部分110可包括平行于数据线D1、D2、D3、D3m-2、D3m-1和D3m排布的像素列。
显示面板100的除显示部分110外的区域(例如，显示部分110所占区域之外的区域)可以是非显示部分(或非显示区域)。非显示部分可以是邻近显示部分110排布的空间。在示例中，非显示部分可以是排布有第一测试电路部分(或第一测试电路)120的空间。
第一测试电路部分120可响应于第一测试控制信号将点亮测试信号传送至数据线D1、D2、D3、D3m-2、D3m-1和D3m。这里，第一测试控制信号可以是用以控制第一测试电路部分120的信号，并且点亮测试信号可以是用于点亮测试的测试电压。第一测试电路部分120可电连接在数据线D1、D2、D3、D3m-2、D3m-1和D3m与焊盘部分150之间。第一测试电路部分120可响应于第一测试控制信号将第一点亮测试信号传送至数据线D1、D2、D3、D3m-2、D3m-1和D3m。这里，第一点亮测试信号可经由第一点亮测试线121传送，并且第一测试控制信号可经由第一测试控制线122传送。
在一些示例实施例中，第一测试电路部分120可包括第一点亮测试线，第一点亮测试线电连接至排布在显示部分110的最外侧区域中(或排布在显示部分110的外围或所占区域之外)的像素列。这里，第一点亮测试线可经由非显示部分的至少一部分被布置。将参照图2更详细地描述第一点亮测试线。
开关部分130可响应于开关信号将从外部部件施加的数据信号传送至数据线D1、D2、D3、D3m-2、D3m-1和D3m。开关部分130可电连接在第二测试电路部分140与数据线D1、D2、D3、D3m-2、D3m-1和D3m之间。开关部分130可将从第二测试电路部分140(或焊盘部分150)提供的数据信号(或第二点亮测试信号)传送至数据线D1、D2、D3、D3m-2、D3m-1和D3m。例如，开关部分130可以是选择性地向像素列供应数据信号的数据分配电路(例如，解复用器)。
第二测试电路部分140可响应于第二测试控制信号将第二点亮测试信号传送至数据线D1、D2、D3、D3m-2、D3m-1和D3m。第二测试电路部分140可电连接在开关部分130与焊盘部分150之间。第二测试电路部分140可响应于第二测试控制信号将第二点亮测试信号传送至开关部分130。
进一步，在驱动集成电路被安装在显示面板100中之后，第二测试电路部分140可由从焊盘部分150提供的偏置信号来关断。由于第二测试电路部分140仅在驱动集成电路被安装在显示面板100之前被使用，因此第二测试电路部分140可被称作预测试电路部分(或预测试电路)。同样，第二点亮测试信号和第二测试控制信号可分别称作预点亮测试信号和预测试控制信号。
焊盘部分150可包括多个焊盘P，以将从外部部件施加的各种驱动电力和各种驱动信号传送至显示面板100。
扫描驱动部分160可响应于扫描驱动控制信号生成扫描信号，并可顺序将扫描信号供应至扫描线。这里，扫描驱动控制信号可包括开始脉冲和时钟信号，并且扫描驱动部分160可包括移位寄存器，移位寄存器响应于开始信号和时钟信号顺序地生成扫描信号。
将参照图2和图3更详地描述用于在驱动集成电路未被安装在显示面板100中的情况下的点亮测试的显示面板100的配置。将参照图4A和图5更详地描述用于在驱动集成电路被安装在显示面板100中的情况下的点亮测试的显示面板100的配置。
图2是例示图1的显示面板的示例的电路图。
参照图1和图2，显示面板100可包括显示部分110、第一测试电路部分120，以及第二测试电路部分140。
显示部分110可包括第一像素列、第二像素列和第三像素列。第一像素列可包括发射红色光的第一像素R。第二像素列可包括发射绿色光的第二像素G。第三像素列可包括发射蓝色光的第三像素B。通常，子像素可显示从红色、绿色和蓝色选出的一种，并且像素可包括多个子像素。然而，第一像素、第二像素和第三像素可以是这种子像素或这种像素。
尽管在图2中例示显示部分110包括沿右方顺序排布的第一像素列、第二像素列和第三像素列，但显示部分110不限于此。例如，显示部分110可包括沿右方顺序排布的第一像素列、第三像素列和第二像素列。例如，显示部分110可包括布置为波形瓦(Pentile)矩阵的像素。将参照图4A更详细的描述排布为Pentile矩阵的像素。
第一测试电路部分120可响应于第一测试控制信号将电源布线连接至数据线。第一测试电路部分120可包括第一晶体管、第二晶体管、第三晶体管和第一测试控制线。第一晶体管可连接在第一像素列与传送第一电压DC_R的第一布线之间。第二晶体管可连接在第二像素列与传送第二电压DC_G的第二布线之间。第三晶体管可连接在第三像素列与传送第三电压DC_B的第三布线之间。第一测试控制线可传送测试控制信号DC_GATE以导通第一至第三晶体管。
在图2中，第一至第三晶体管中的每一个被示出为p沟道金属氧化物半导体(PMOS)晶体管。然而，晶体管不限于此。例如，第一至第三晶体管中的每一个可以是n沟道金属氧化物半导体(NMOS)晶体管。例如，第一至第三晶体管中的至少两个的类型可彼此不同。
在示例实施例中，第一测试电路部分120可包括点亮测试线，点亮测试线电连接至排布在显示部分110的最外侧上的像素列。这里，点亮测试线可经由非显示部分的至少一部分延伸(或被布置)。
如图2中所示，第一测试电路部分120可包括第一点亮测试线221和第二点亮测试线222。第一点亮测试线221可电连接在第二布线与位于显示部分110的左侧的第二晶体管之间。这里，第一点亮测试线221可经由非显示部分的至少一部分延伸(或被布置)。第一点亮测试线221可具有电阻，并且第一点亮测试线221的电阻可由该部分中出现的裂痕(即损坏)而被改变。因此，显示面板100可基于第一点亮测试线的电阻的变化来检测显示面板100(尤其是，非显示部分)中的损坏。
类似地，第二点亮测试线222可电连接在第二布线与排布在显示部分110的右侧的第二晶体管之间。这里，第二点亮测试线222可经由非显示部分的右部延伸(或被布置)。
在图2中，点亮测试线221和222示出为电连接至第二像素列(例如，G像素列)。然而，点亮测试线221和222不限于此。例如，点亮测试线221和222可电连接至第一像素列(例如，R像素列)或第三像素列(例如，B像素列)。例如，点亮测试线221和222可电连接至不同的像素列。
在示例实施例中，点亮测试线可电连接至排布在显示部分110的最外侧的绿像素列。红像素R、绿像素G和蓝像素B中的每一个可具有不同的发光特性，并且绿像素G的亮度可高于红像素R和蓝像素B的亮度。因此，第一点亮测试线221可电连接至排布有绿像素G的第二像素列，从而可使用绿像素G的可视性更容易地检测显示面板的内部损坏。
在示例实施例中，显示部分110可包括：经由电阻器电连接至第一测试电路部分120的绿像素列，其中，电阻器的电阻等于点亮测试线的电阻。即，未连接至点亮测试线的绿像素列可经由电阻器电连接至第二布线。这里，电阻器的电阻可等于点亮测试线的电阻。
第二测试电路部分140可包括第四电阻器，其中，第四电阻器响应于第二测试控制信号TEST_GATE将第二点亮测试信号TEST_DATA传送至数据线。
如上所述，显示设备100可包括：经由非显示部分的至少一部分延伸(或被布置)的点亮测试线，并且，点亮测试线的电阻可由非显示部分中出现的裂痕(即，损坏)而被改变。因此，可基于电连接至点亮测试线的像素列的点亮状态来检测损坏。
图3是例示图2的显示面板的点亮测试结果的波形图。在图3中，假定裂痕在图2的显示面板100的右侧非显示部分(即，布置有第二点亮测试线222的区域)中出现。
参照图2和图3，第一点亮测试信号DC_R/G/B、第一测试控制信号DC_GATE、第二测试控制信号TEST_GATE、第二点亮测试信号TEST_DATA以及扫描信号SCAN[n](其中n为正整数)中的每一个可以是供应至显示面板100用于点亮测试的信号。
第一点亮测试信号DC_R/G/B可以具有0V。第一点亮测试信号DC_R/G/B可以是从图2中所示第一至第三电压DC_R、DC_G和DC_B中选出的至少一个。第二点亮测试信号TEST_DATA可以具有6.3V(DC)。可选择地，第一点亮测试信号DC_R/G/B和第二点亮测试信号TEST_DATA可依据点亮测试条件而具有不同的电压。例如，第一点亮测试信号DC_R/G/B可具有3V，并且第二点亮测试信号TEST_DATA可具有6V。
第一测试控制信号DC_GATE可在第一时段t1期间具有低电平，并可在其它时段具有高电平。因此，第一测试电路部分120可响应于第一测试控制信号DC_GATE在第一时段t1期间将第一点亮测试信号DC_R/G/B传送至数据线。例如，第一测试电路部分120中的第一至第三晶体管可响应于第一测试控制信号DC_GATE在第一时段t1期间被导通，以便第一至第三布线可分别电连接至数据线。因此，第一测试电路部分120可在第一时段t1期间初始化数据线。
第二测试控制信号TEST_GATE可在第二时段t2期间具有低电平，并可在其它时段具有高电平。因此，第二测试电路部分140可响应于第二测试控制信号TEST_GATE在第二时段t2期间将第二点亮测试信号TEST_DATA传送至数据线。
这里，第一时段t1可不同于第二时段t2。即，第一时段t1和第二时段t2可彼此不重叠。第一时段t1和第二时段t2可基于像素列的数量、扫描线的数量、数据存储的速度等来设置。
如上所述，显示面板100可在第一时段t1期间响应于第一点亮测试信号DC_R/G/B对写入数据线的数据信号进行初始化，并可在不同于第一时段t1的第二时段t2期间将第二点亮测试信号TEST_DATA写入数据线。
扫描信号SCAN[n]可以是供应至第n条扫描线的扫描信号，并且扫描信号SCAN[n]可在第三时段t3期间具有高电平。像素可基于响应于扫描信号SCAN[n]写入到数据线的数据信号来发光。
测得的信号VDATA#1和VDATA#3可以是在分别电连接到第一点亮测试线221和第二点亮测试线222的数据线上测得的信号。
第一测得信号VDATA#1可在第一时段t1期间由第一测试电路部分120初始化。第一测得信号VDATA#1可保持初始状态直至第二时段t2开始。第一测得信号VDATA#1可从第二时段t2的开始点朝着第二点亮测试信号(例如，6.3V)升高。第一测得信号VDATA#1可保持6.3V直至第二时段t2结束。这里，根据数据线延迟效应，第一测得信号VDATA#1可具有抛物线形状。
第二测得信号VDATA#3可在第一时段t1期间由第一测试电路部分120初始化。第二测得信号VDATA#3可保持初始状态直至第二时段t2开始。第二测得信号VDATA#3可升高。然而，第二测得信号VDATA#3可低于第二点亮测试信号(例如，6.3V)。由于第二点亮测试线222的因非显示部分中出现的裂痕而导致的增大的电阻使得依据第二点亮测试线的数据线延迟效应增强，因此直至第二时段t2结束，第二测得信号VDATA#3可达不到目标数据电压6.3V。
因此，第二测得信号VDATA#3可在数据信号被供应至像素的点处(或在t3的开始点处)与第一测得信号VDATA#1具有电压差ΔV_SCREEN。电连接至第二点亮测试线222的像素列可发射与电连接至第一点亮测试线221的另外的像素列的光不同颜色的光。
如上所述，由于点亮测试线的增大的电阻可使得数据线延迟效应增强，并且依据增强的数据线延迟效应，电连接至点亮测试线的像素列可发射与其它像素列不同颜色的光。因此，显示面板能够基于电连接至点亮测试线的像素列的点亮状态来检测显示面板100的内部裂痕。
图4A是例示图1的显示面板的示例的电路图，并且图4B是例示图1的显示面板的示例的电路图。
参照图1、图4A和图4B，显示面板100可包括显示部分110、第一测试电路部分120、开关部分130、第二测试电路部分140，以及驱动集成电路。
显示部分110可包括布置为Pentile矩阵的像素列。显示部分110可包括第四像素列、第五像素列和第六像素列。第四像素列可包括交替排布的第一像素R和第三像素B。第五像素列可包括以与第四像素列相反的顺序交替排布的第一像素R和第三像素B。第六像素列可包括第二像素G。
第一测试电路部分120可与参照图2描述的第一测试电路部分基本类似或相同。然而，图4A中所示第一测试电路部分120可根据Pentile矩阵选择性地将第一电压DC_R和第三电压DC_B供应至第四像素列(即，第一像素R和第三像素B交替排布的像素列)。第一测试电路部分120可包括三条子测试控制线以传送第一测试控制信号DC_GATE_R、DC_GATE_G和DC_GATE_B。
参照图4A，第一至第三电压DC_R、DC_G和DC_B(或第一点亮测试信号)，以及第一测试控制信号DC_GATE_R、DC_GATE_G和DC_GATE_B可由从外部部件施加的高电平信号(例如充入到C中的电压)来偏置。因此，第一测试电路部分120可被关断。
第二测试电路部分140可与参照图2描述的第二测试电路部分140基本类似或相同。第二点亮测试信号TEST_DATA和第二测试控制信号TEST_GATE可由高电平信号来偏置。因此，第二测试电路部分140可被关断。
开关部分130可响应于从驱动集成电路(或第二测试电路部分)供应的开关信号CLA和CLB选择性地将从驱动集成电路供应的信号传送至数据线。
驱动集成电路可给开关部分130提供数据信号和开关信号CLA和CLB。驱动集成电路可作为柔性印刷电路上的芯片(COF)被安装在显示面板100中。
当第二点亮测试信号TEST_DATA由第二测试电路部分140供应至数据线用于图4A的显示面板100的点亮测试时，第二点亮测试信号TEST_DATA可与从驱动集成电路供应的数据信号冲突。因此，图4A的显示面板的点亮测试是不可行的。
参照图4B，除驱动集成电路的第三端子LTPS SIG#3以外，显示面板100可与图4A的显示面板100相同或基本相似。
第三端子LTPS SIG#3可输出第三子测试控制信号DC_GATE_G并可经由第三子点亮测试线电连接至第二像素列(例如，G像素列)。第一测试电路部分120可响应于第三子测试控制信号DC_GATE_G将第三电压DC_G供应至第二像素列(例如，G像素列)。
图4B的显示面板100可具有布线，用于得到从驱动集成电路供应的第一测试控制信号，使得显示面板100可使用第一测试电路部分120和开关部分130生成点亮测试信号。虽然图2和图4A中所示的显示面板可使用第一测试电路部分120和第二测试电路部分140来生成点亮测试信号，但图4B的显示面板可使用第一测试电路部分120和开关部分130来生成点亮测试信号。因此，图4B的安装有驱动集成电路的显示面板100的点亮测试可以是可行的。
进一步，可使用排布在显示部分110的左侧的第一像素列(即，第一像素R和第三像素B交替排布的像素列)来执行点亮测试。然而，考虑第一像素列的AC特性(或供应至第一像素列的信号)的影响，可使用排布有一种类型的像素的第二像素列(例如，绿像素列)来执行点亮测试。
下文中，将参照图5对执行点亮测试(或模块裂痕检测测试)的测试图4B的显示面板的方法进行描述。
图5是例示图4B的显示面板的点亮测试结果的波形图。在图5中，假定裂痕在图4B的显示面板100的右侧非显示部分中出现。
参照图4B和图5，第一点亮测试信号DC_R/G/B可具有0V。第一点亮测试信号DC_R/G/B可以是从图4B中所示的第一至第三电压DC_R、DC_G和DC_B中选出的至少一个。尽管图4B中未示出，但从驱动集成电路供应至开关部分130的参考信号可具有0V。参考信号可用作第二点亮测试信号。
开关控制信号CLB可在第一时段t1期间具有低电平，并可在其它时段具有高电平。因此，开关部分130可响应于开关控制信号CLB在第一时段t1期间将参考信号传送至数据线。例如，开关部分中的开关晶体管可响应于开关控制信号在第一时段t1期间被导通，从而驱动集成电路中的源放大器的输出端子可电连接至数据线。因此，开关部分130可在第一时段t1期间将写入到数据线的数据信号初始化。
第三子测试控制信号DC_GATE_G(或第一测试控制信号)可在第二时段t2期间具有低电平，并可在其它时段期间具有高电平。因此，第一测试电路部分120可响应于第三子测试控制信号DC_GATE_G(或第一测试控制信号)在第二时段t2内将第二电压DC_G(或第一点亮测试信号)传送至数据线。
扫描信号SCAN[n](其中，n为正整数)可在第三时段t3期间具有高电平。像素可基于响应于扫描信号SCAN[n]写入到数据线的数据信号发光。
第一测得信号VDATA#1可以是在电连接至经由没有出现裂痕(即，没有损坏)的非显示部分延伸(或被布置)的点亮测试线的数据线处测得的信号。第二测得信号VDATA#3可以是在电连接至经由出现裂痕(即，损坏)的非显示部分延伸(或被布置)的点亮测试线的数据线处测得的信号。
与参照图3描述的测得的信号VDATA#1和VDATA#3类似，第一测得信号VDATA#1可在第二时段t2期间被充入到6.4V。第二测得信号VDATA#3可在第二时段t2的开始点处升高，但由于增强的数据线延迟效应，直至第二时段结束，第二测得信号VDATA#3可达不到目标数据电压6.4V。因此，第二测得信号VDATA#3可在数据信号被供应至像素的点(即，t3的开始点)处与第一测得信号VDATA#1可具有电压差ΔV_SCREEN。
如上所述，测试显示面板100的方法可使用第一测试电路部分120和开关部分130给数据线供应第一点亮测试信号和参考信号。因此，安装有驱动集成电路的显示面板100的点亮测试可以是可行的。
如参照图2至图5所描述的，根据示例实施例的显示面板100不仅能够在驱动集成电路未被安装在显示面板100中的情况下执行点亮测试，而且能够在驱动集成电路被安装在显示面板100中的情况下执行点亮测试。例如，安装有驱动集成电路的显示面板100能够使用第一测试电路部分120和开关部分130执行点亮测试。因此，根据示例实施例的显示面板100不仅能够在驱动集成电路未被安装的情况下使显示面板中的裂痕被检测到，而且能够在驱动集成电路被安装的情况下使显示面板中的裂痕被检测到。
图6是例示图1的显示面板的示例的电路图。
参照图1和图6，显示面板100可包括显示部分110、第一测试电路部分120、第二测试电路部分140，以及驱动集成电路。
显示面板100可与图4B的显示面板相同或基本相似。然而，图6的显示面板可不包括开关部分130。
参照图6，驱动集成电路可具有与图4B中所示开关部分基本类似地开关功能。例如，驱动集成电路可通过改变源放大器SOURCE AMP#1、SOURCE AMP#2、SOURCE AMP#3和SOURCE AMP#4的输出端子的阻抗来执行开关操作。即，驱动集成电路可响应于源放大器SOURCE AMP#1、SOURCE AMP#2、SOURCEAMP#3和SOURCE AMP#4的输出端子的高阻抗(即，Hi-Z)与数据线电断开。
例如，驱动集成电路可在源放大器SOURCE AMP#1、SOURCE AMP#2、SOURCE AMP#3和SOURCE AMP#4的输出端子处包括附加的开关。
如上所述，尽管显示面板100可不包括开关部分，但显示面板100能够使用驱动集成电路的开关功能在驱动集成电路被安装的情况下执行点亮测试。
下文中，可参照图7对执行点亮测试(或模块裂痕检测测试)的测试图6的显示面板100的方法进行描述。
图7是例示图6的显示面板的点亮测试结果的波形图。在图7中，假定裂痕在图6的显示面板100的右侧非显示部分中出现。
参照图7，第一点亮测试信号DC_R/G/B、第三子测试控制信号DC_GATE_G(或第一测试控制信号)和扫描信号SCAN[n]可与图5中所示基本相同。由于已参照图5对第一点亮测试信号DC_R/G/B、第三子测试控制信号DC_GATE_G和扫描信号SCAN[n]进行了描述，因此将不再重复重复的描述。
源放大器的输出阻抗SOURCE AMP在第一时段t1期间可以是低的(例如，白)，并且在其它时段期间可以是高的(例如，Hi-Z)。根据源放大器的阻抗SOURCEAMP，驱动集成电路可在第一时段t1期间将参考信号传送至数据线。因此，驱动集成电路可利用输出阻抗的变化在第一时段t1期间将写入到数据线的数据信号初始化。
如上所述，第一测得信号VDATA#1可以是在电连接至经由没有出现裂痕(即，没有损坏)的非显示部分延伸(或被布置)的点亮测试线的数据线处测得的信号。第二测得信号VDATA#3可以是在电连接至经由出现裂痕(即，损坏)的非显示部分延伸(或被布置)的点亮测试线的数据线处测得的信号。
第一测得信号VDATA#1可在第二时段t2期间朝着6.4V增大。第二测得信号VDATA#3可在第二时段t2的开始点处升高。然而，由于增大的数据线延迟，直至第二时段结束，第二测得信号VDATA#3可达不到6.4V的目标电压。因此，在数据被供应至像素的点(或t3的开始点)处，第二测得信号VDATA#3可与第一测得信号VDATA#1具有电压差ΔV_SCREEN。
如上所述，当显示面板可不包括开关部分(例如，解复用器)时，测试显示面板的方法可利用对驱动集成电路的输出阻抗的控制使得第一点亮测试信号和参考信号可被供应至数据线。因此，该方法可执行对安装有驱动集成电路的显示面板(例如，显示模块)的点亮测试。
类似地，测试显示面板的方法可通过控制第二电路部分并控制驱动集成电路的输出阻抗来给数据线选择性地供应第二点亮测试信号和参考信号。因此，该方法可执行对安装有驱动集成电路的显示面板(例如，显示模块)的点亮测试。
图8是例示图1的显示面板的示例的电路图。
参照图1和图8，显示面板100可包括显示部分110、第一测试电路部分120、第二测试电路部分140和焊盘部分150。
显示部分110可包括布置为Pentile矩阵的像素列。
第一测试电路部分120可经由第一至第三布线得到从焊盘部分供应的第一点亮测试信号DC_R、DC_G和DC_B。第一测试电路部分120可包括响应于第一测试控制信号DC_GATE将第一至第三布线与像素列电连接的测试晶体管。
第二测试电路部分140可包括响应于第二测试控制信号TEST_GATE将第二点亮测试信号TEST_DATA1和TEST_DATA2从焊盘部分150传送至数据线的晶体管。
在示例实施例中，第二测试电路部分140可包括经由非显示部分的至少一部分延伸(或被布置)的点亮测试线。
例如，第二测试电路部分140可包括经由非显示部分的左侧部分和非显示部分的左上角延伸(或被布置)的第一点亮测试线。这里，依照在显示部分110的左侧的第一像素列(例如，R/B像素列)，第一点亮测试线可电连接至数据线。例如，第二测试电路部分140可包括经由非显示部分的右侧部分和非显示部分的右上角延伸(或被布置)的第二点亮测试线。这里，依照在显示部分110的右侧的第二像素列(例如，G像素列)，第一点亮测试线可电连接至数据线。在一些示例实施例中，第一点亮测试线和第二点亮测试线可接收不同的点亮测试信号(例如TEST_DATA1和TEST_DATA2)。
在图8的显示面板中，在驱动集成电路未被安装在显示面板100中的情况下，对显示面板100的点亮测试可使用第一测试电路部分120和第二测试电路部分140来执行。在驱动集成电路被安装在显示面板100中的情况下，对显示面板100的点亮测试可使用第一测试电路部分120和驱动集成电路执行。即，在驱动集成电路被安装在显示面板100中的情况下，点亮测试可使用从驱动集成电路供应的参考信号和通过第一测试电路120供应的点亮测试信号来执行。
根据一些实施例，用于检测裂痕的测试显示面板的方法可在包括显示部分和非显示部分的显示面板中执行，其中显示部分包括电连接至数据线的像素列，非显示部分邻近显示部分布置。测试显示面板的方法可包括：将经过非显示部分的至少一部分的第一点亮测试信号供应至向数据线传送第一点亮测试信号的第一测试电路部分；使用开关部分将从驱动集成电路供应的参考信号传送至数据线；以及使用第一测试电路部分将第一点亮测试信号传送至数据线。
图9是例示测试图1的显示面板的方法的流程图。
参照图1和图9，测试显示面板100的方法可包括：将经过非显示部分的至少一部分的第一点亮测试信号供应至向数据线传送第一点亮测试信号的第一测试电路部分(操作S910)；使用开关部分将从驱动集成电路供应的参考信号传送至数据线(操作S920)；以及使用第一测试电路部分将第一点亮测试信号传送至数据线(操作S930)。
在示例实施例中，给第一测试电路部分供应第一点亮测试信号可包括将第二测试电路部分控制在关断状态。第二测试电路部分并联电连接至开关部分，并被配置为给数据线供应经过非显示部分的至少一部分的第二点亮测试信号。
在示例实施例中，传送第一点亮测试信号可包括给第一测试电路部分供应第一测试控制信号；以及响应于第一测试控制信号将第一点亮测试信号传送至数据线。
本实施例可应用于具有显示面板的任意显示设备。例如，本发明可应用于有机发光显示设备和液晶显示设备，或本发明可应用于电视机、计算机监视器、台式机、数字摄像机、蜂窝手机、智能手机、个人数字助理(PDA)、便携式多媒体播放器(PMP)、MP3播放器、导航系统、视频电话等。
以上为示例实施例的例示而不解释为对限制进行限制。尽管已经描述了若干示例实施例，但本领域技术人员将容易地想到，在不明显地偏离示例实施例的新颖教导和方面的情况下，在示例实施例中很多修改是可行的。相应地，所有的这样的修改意在包括在如权利要求书中限定的示例实施例的范围内。在权利要求书中，装置加功能(means-plus-function)句式意在覆盖本文描述的结构作为执行所叙述功能，不仅意在覆盖结构等同物，而且意在覆盖等同的结构。因此，将会理解，上述为示例实施例的例示而不被解释为限于所公开的特定实施例，并且对所公开示例实施例的修改，以及其它示例实施例意在也包括在所附权利要求的范围内。本发明由所附权利要求限定，权利要求的等同也包括在其中。

Claims (10)

1.一种显示面板，包括：
显示器，包括电连接至数据线的像素列；
非显示区域，邻近所述显示器；
测试电路，配置为接收经过所述非显示区域的至少一部分的点亮测试信号，并响应于测试控制信号将所述点亮测试信号传送至所述数据线；以及
开关，配置为从外部部件接收数据信号，并响应于开关信号将所述数据信号传送至所述数据线。
2.如权利要求1所述的显示面板，进一步包括：
驱动集成电路，配置为生成所述测试控制信号和所述开关信号，并向所述开关供应参考信号，
其中所述驱动集成电路配置为生成所述测试控制信号和所述开关信号，以将所述点亮测试信号和所述参考信号交替供应至所述数据线。
3.如权利要求1所述的显示面板，其中所述测试电路包括：
点亮测试线，经由所述非显示区域的所述至少一部分延伸，并经由所述数据线电连接至所述显示器的最外侧处的一个像素列。
4.如权利要求3所述的显示面板，其中所述显示器包括：
第一像素列，在所述第一像素列中，发射第一颜色的光的第一像素和发射第二颜色的光的第二像素交替排布；
第二像素列，在所述第二像素列中，所述第一像素和所述第二像素以与所述第一像素列相反的顺序交替排布；以及
第三像素列，在所述第三像素列中，排布有发射第三颜色的光的第三像素，
其中所述点亮测试线电连接至所述第三像素列。
5.如权利要求1所述的显示面板，进一步包括：
预测试电路，并联电连接至所述开关，并配置为响应于预测试控制信号将预点亮测试信号供应至所述数据线。
6.如权利要求5所述的显示面板，其中所述预测试电路包括经由所述非显示区域的所述至少一部分延伸的预点亮测试线。
7.如权利要求5所述的显示面板，其中所述数据线在第一时段期间通过所述点亮测试信号被初始化，并且所述预点亮测试信号在不同于所述第一时段的第二时段期间被写入到所述数据线中。
8.一种显示面板，包括：
显示器，包括电连接至数据线的像素列；
非显示区域，邻近所述显示器；
第一测试电路，配置为接收经过所述非显示区域的至少一部分的第一点亮测试信号，并响应于第一测试控制信号将所述第一点亮测试信号传送至所述数据线；
开关，配置为从外部部件接收数据信号，并响应于开关信号将所述数据信号传送至所述数据线；
第二测试电路，并联电连接至所述开关，并配置为响应于第二测试控制信号将第二点亮测试信号供应至所述数据线；以及
驱动集成电路，配置为生成所述第一测试控制信号、所述第二测试控制信号和所述开关信号。
9.如权利要求8所述的显示面板，其中所述驱动集成电路配置为使用所述第二点亮测试信号将所述第二测试电路控制在关断状态，所述驱动集成电路配置为使用所述第一测试控制信号，控制所述第一测试电路在第一时段期间将所述第一点亮测试信号供应至所述数据线，并且所述驱动集成电路配置为使用所述开关信号，控制所述开关在不同于所述第一时段的第二时段期间将参考信号供应至所述数据线。
10.一种测试显示面板的方法，所述显示面板包括显示器和非显示区域，所述显示器包括电连接至数据线的像素列，所述非显示区域邻近所述显示器，所述方法包括：
将经过所述非显示区域的至少一部分的第一点亮测试信号供应至向所述数据线传送所述第一点亮测试信号的第一测试电路；
使用开关将从驱动集成电路供给的参考信号传送至所述数据线；以及
使用所述第一测试电路将所述第一点亮测试信号传送至所述数据线。
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