CN111508369B - 显示面板和显示装置 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种显示面板和显示装置。所述显示面板包括位于非显示区的测试电路，所述测试电路包括多个开关晶体管，所述开关晶体管的第一端与所述显示面板中的数据线电连接，第二端用于输入测试数据信号；所述测试电路还包括沿第一方向延伸的数据开关线，所述数据开关线与所述开关晶体管的源漏极层同层设置，所述数据开关线用于控制所述开关晶体管导通或关断。本发明实施例能够降低显示面板中数据开关线短路的风险，进而提高显示效果。

Description

显示面板和显示装置
技术领域
本发明实施例涉及显示技术，尤其涉及一种显示面板和显示装置。
背景技术
随着显示技术的发展，显示面板的应用也越来越广泛，相应地对显示面板的要求也越来越高。
显示面板中通常包括测试电路，现有的测试电路中的数据开关线存在较大的短路风险，从而造成显示面板出现显示不良的问题，严重影响显示效果。
发明内容
本发明提供一种显示面板和显示装置，以降低显示面板中数据开关线短路的风险，进而提高显示效果。
第一方面，本发明实施例提供了一种显示面板，所述显示面板包括位于非显示区的测试电路，所述测试电路包括多个开关晶体管，所述开关晶体管的第一端与所述显示面板中的数据线电连接，第二端用于输入测试数据信号；所述测试电路还包括沿第一方向延伸的数据开关线，所述数据开关线与所述开关晶体管的源漏极层同层设置，所述数据开关线用于控制所述开关晶体管导通或关断。
可选地，所述数据开关线在所述开关晶体管的有源层所在平面上的垂直投影与所述开关晶体管的有源层不交叠。
可选地，所述显示面板还包括与所述开关晶体管一一对应的多条分支线；每条所述分支线的一端与所述数据开关线电连接，另一端与所述开关晶体管的栅极电极电连接。
可选地，所述分支线包括电连接的第一金属走线和第二金属走线，所述第一金属走线沿所述第一方向延伸并与所述开关晶体管的栅极电极电连接；所述第二金属走线沿第二方向延伸并与所述数据开关线电连接；其中，所述第一方向与所述第二方向垂直。
可选地，所述分支线与所述开关晶体管的栅极电极同层设置。
可选地，所述数据开关线在所述开关晶体管的有源层所在平面上的垂直投影与所述开关晶体管的有源层交叠；所述显示面板还包括与所述有源层连接的过孔，所述数据开关线与所述过孔沿第二方向的距离大于4微米；其中，所述第二方向与所述第一方向垂直。
可选地，所述数据开关线与所述过孔沿第二方向的距离小于16微米。
可选地，所述测试电路还包括测试焊盘，所述数据开关线与所述测试焊盘电连接。
可选地，所述数据开关线的材料为Ti/Al/Ti。
第二方面，本发明实施例还提供了一种显示装置，包括第一方面所述的显示面板。
本发明采用的显示面板包括包括位于非显示区的测试电路，测试电路包括多个开关晶体管，开关晶体管的第一端与显示面板中的数据线电连接，第二端用于输入测试数据信号；测试电路还包括沿第一方向延伸的数据开关线，数据开关线与开关晶体管的源漏极层同层设置，数据开关线用于控制开关晶体管导通或关断。通过将数据开关线与源漏电极同层设置，而不是与显示区的薄膜晶体管的栅极同层设置，可降低数据开关线以及后续膜层在黄光及干刻工艺过程中与ROLLOR(滚轴)、STADGE(台阶)、PAD(焊盘)或PIN(引脚)接触从而产生的电荷的风险，同时还能够减少累加工艺，也即数据开关线所在膜层后续的导电膜层较少，从而减少在数据开关线上积累的电荷，降低数据开关线因电荷释放造成栅极绝缘层击穿而导致数据开关线短路的风险，避免显示面板显示不良，保证显示面板具有较好的显示效果。
附图说明
图1为本发明实施例提供的一种显示面板的结构示意图；
图2为本发明实施例提供的一种显示面板的膜层结构示意图；
图3为图2沿A1-A2方向的剖面图；
图4为图2沿A3-A4方向的剖面图；
图5为本发明实施例提供的又一种显示面板的膜层结构示意图；
图6为图5沿A5-A6方向的剖面图；
图7为图5沿A7-A8方向的剖面图；
图8为本发明实施例提供的又一种显示面板的膜层结构示意图；
图9为本发明实施例提供的一种显示装置的结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本发明作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本发明，而非对本发明的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本发明相关的部分而非全部结构。
正如背景技术中提到的现有的显示面板中数据开关线存在短路风险较大的问题，发明人经过仔细研究发现，产生此技术问题的原因在于，现有的显示面板中的数据开关线与显示面板薄膜晶体管的栅极电极同层设置，在数据开关线制作过程中，黄光和干刻工艺会造成严重的电荷积累，电荷释放时会造成栅极绝缘层击穿，从而导致数据开关线短路，造成显示面板显示不良，严重影响显示效果。
基于上述技术问题，本发明提出如下解决方案：
图1为本发明实施例提供的一种显示面板的结构示意图，参考图1，显示面板包括位于非显示区NAA的测试电路，测试电路包括多个开关晶体管101，开关晶体管101的第一端与显示面板中的数据线111电连接，第二端用于输入测试数据信号；测试电路还包括沿第一方向X延伸的数据开关线102，数据开关线102与开关晶体管101的源漏极层同层设置，数据开关线102用于控制开关晶体管101导通或关断。
具体地，显示面板可包括位于显示区AA中的多条横纵交错的数据线111和扫描线112，数据线111和扫描线112交错形成多个像素区域，每个像素区域中均可包括像素驱动电路113，扫描线112和数据线111分别为像素驱动电路113提供扫描信号和数据信号，像素驱动电路113的具体电路结构及工作方法为本领域技术人员所熟知，在此不再赘述。显示面板在制作完成后，需要进行一系列的测试，如CT测试等，以确定显示面板是否完好，测试电路即可用于对显示面板进行测试，多个开关晶体管101可与显示面板中的多条数据线111一一对应电连接，通过向开关晶体管101的第二端输入测试数据信号，且开关晶体管101在数据开关线102上控制信号的作用下导通，使得测试数据信号传输至数据线111，进而传输至相应的像素驱动电路113，驱动相应的发光结构发光，以完成测试；需要说明的是，图1中仅示例性地示出了四行四列的像素区域，以及四个开关晶体管，本领域技术人员应当清楚像素区域以及开关晶体管的数量并不局限于此，且在图1中开关晶体管101的第二端电连接在了同一测试焊盘上，在其他一些实施方式中，不同开关晶体管101的第二端也可连接在不同的测试焊盘上，只要能够输入测试数据信号即可。
图2为本发明实施例提供的一种显示面板的膜层结构示意图，图3为图2沿A1-A2方向的剖面图，图4为图2沿A3-A4方向的剖面图，结合图1-图4，显示面板可包括基底1011、栅极绝缘层1012，有源层，栅极层，源漏电极层以及栅极层与源漏电极层之间的层间绝缘层等，在其他一些实施方式中，还可包括电容电极层以及电容电极层与源漏电极层之间的层间绝缘层。具体的，有源层可包括重掺杂区1016和位于重掺杂区1016两侧的轻掺杂区，即第一轻掺杂区1015和第二轻掺杂区1017，第一轻掺杂区1015通过第一过孔1019与第一电极1013电连接，第一电极1013可为开关晶体管101的源极，第二轻掺杂区1017通过第二过孔1010与开关晶体管101的第二电极1014电连接，第二电极1014可为开关晶体管101的漏极；在开关数据线102上控制信号的作用下，第一轻掺杂区1015和第二轻掺杂区1017导通，从而使得第一晶体管101的第一端与第二端之间导通，需要说明的是，开关晶体管101可以是P型晶体管，也可以是N型晶体管。在本实施例中，通过将数据开关线102与源漏电极同层设置，而不是与显示区的薄膜晶体管的栅极同层设置，可降低数据开关线102以及后续膜层在黄光及干刻工艺过程中与ROLLOR(滚轴)、STADGE(台阶)、PAD(焊盘)或PIN(引脚)接触从而产生的电荷的风险，同时还能够减少累加工艺，也即数据开关线102所在膜层后续的导电膜层较少，从而减少在数据开关线102上积累的电荷，降低数据开关线102因电荷释放造成栅极绝缘层1021击穿而导致数据开关线102短路的风险，避免显示面板显示不良，保证显示面板具有较好的显示效果。在本实施例中，如非特别说明，则开关晶体管101的有源层、栅极层、栅极绝缘层及源漏极层分别与显示面板显示区中晶体管的有源层、栅极层、栅极绝缘层及源漏极层同层。
本实施例的技术方案，采用的显示面板包括位于非显示区的测试电路，测试电路包括多个开关晶体管，开关晶体管的第一端与显示面板中的数据线电连接，第二端用于输入测试数据信号；测试电路还包括沿第一方向延伸的数据开关线，数据开关线与开关晶体管的源漏极层同层设置，数据开关线用于控制开关晶体管导通或关断。通过将数据开关线与源漏电极同层设置，而不是与显示区的薄膜晶体管的栅极同层设置，可降低数据开关线以及后续膜层在黄光及干刻工艺过程中与ROLLOR、STADGE、PAD或PIN接触从而产生电荷的风险，同时还能够减少累加工艺，也即数据开关线所在膜层后续的导电膜层较少，从而减少在数据开关线上积累的电荷，降低数据开关线因电荷释放造成栅极绝缘层击穿而导致数据开关线短路的风险，避免显示面板显示不良，保证显示面板具有较好的显示效果。
需要说明的是，当数据开关线102在有源层所在平面上的垂直投影与重掺杂区1016交叠时，数据开关线102上交叠的部分可作为开关晶体管101的栅极电极；在其它一些实施方式中，为了提高数据开关线102对重掺杂区1016的控制能力，可设置第三过孔1018，第三过孔1018一端与数据开关线102电连接，另一端与栅极绝缘层1012靠近数据开关线102的一侧相接。
可选地，图5为本发明实施例提供的又一种显示面板的膜层结构示意图，图，参考图5，数据开关线102在开关晶体管101的有源层所在平面上的垂直投影与开关晶体管101的有源层不交叠。
具体地，在本实施例中，通过设置数据开关线102在开关晶体管101的有源层所在平面上的垂直投影与开关晶体管的有源层不交叠，即使数据开关线102上的电荷释放，也不会导致数据开关线102与数据线111短路，进一步降低显示面板显示不良的风险，保证显示面板具有较高的显示效果。
可选地，继续参考图5，显示面板还包括与开关晶体管101一一对应的多条分支线201，每条分支线201的一端与数据开关线102电连接，另一端与开关晶体管101的栅极电极202电连接。
具体地，通过设置分支线201，使得数据开关线102的控制信号能够传输至开关晶体管101的栅极电极202，进而控制开关晶体管101的第一端与第二端之间导通，使得测试数据信号写入显示面板的数据线111，进而完成测试功能。
可选地，分支线201包括第一金属走线2011和第二金属走线2012，第一金属走线2011沿第一方向X延伸并与开关晶体管101的栅极电极202电连接；第二金属走线2012与第一金属走线2011电连接，第二金属走线2012沿第二方向Y延伸并与数据开关线102电连接；其中，第一方向X与第二方向Y垂直。
具体地，开关晶体管101的栅极电极202可沿第一方向X延伸，分支线201与栅极电极202可构成“L”字型结构，在多个开关晶体管101有源层所在的区域，多个栅极电极202等效于分成了多个小段，相对于栅极电极202为沿第一方向X贯通的金属走线的情况，能够减少长走线电荷的累积风险。同时，第二金属走线2012沿第二方向Y延伸，其在工艺制程中为垂直于基板运送的方向，可进一步降低工艺累积的电荷在第二金属走线2012上累积的风险，从而进一步防止数据开关线102与数据线111发生短路的风险，因数据开关线短路而造成显示面板显示区中数据线不良的不良率，相比现有的显示面板降低了99.5％以上，避免显示不良。
可选地，图6为图5沿A5-A6方向的剖面图，图7为图5沿A7-A8方向的剖面图，结合图5至图7，分支线201与开关晶体管101的栅极电极202同层设置。
具体地，这样设置，可降低分支线201与栅极电极202的连接难度，分支线201和栅极电极202可为同一金属走线，在本实施例中，开关晶体管101的栅极电极202与显示区AA中薄膜晶体管的栅极电极位于同一层，如图7中所示，可通过设置第四过孔2013实现第二金属走线2012与数据开关线102的电连接。
可选地，图8为本发明实施例提供的又一种显示面板的膜层结构示意图，参考图8，数据开关线102在开关晶体管101的有源层所在平面上的垂直投影与开关晶体管101的有源层交叠；显示面板还包括与有源层连接的过孔301，数据开关线102与过孔301沿第二方向Y的距离d大于4微米；其中，第二方向Y与第一方向X垂直。
具体地，过孔301可为开关晶体管101的有源层与其源极或漏极连接的过孔；数据开关线102上的电荷需要有高低电位差才能够释放，黄光及干刻工艺制程中在数据开关线102上产生的电荷与该过孔301制作工艺中的剥离工艺形成高低电位，从而释放出电荷；通过设置距离d大于4微米，从而降低电荷释放的风险，进而降低数据开关线102与数据线111短路的风险，降低显示面板显示不良的风险，因数据开关线短路而造成显示面板显示区中数据线不良的不良率，相比现有的显示面板降低了99.0％以上，提升显示效果。需要说明的是，在本实施例中，数据开关线102也可与显示区中薄膜晶体管的栅极电极同层设置，具体可根据实际情况进行设置，在此不做具体的限定。
可选地，数据开关线102与过孔301沿第二方向Y的距离d可以大于等于13微米，通过将距离d设置在此范围内，能够进一步降低电荷释放的风险，使得数据开关线短路的风险降低，因数据开关线短路而造成显示面板显示区中数据线不良的不良率，相比现有的显示面板降低了99.3％以上，提高了显示面板的显示效果。
另外，数据开关线102与过孔301沿第二方向Y的距离d可以小于16微米，若所述的距离d过大，相应的开关晶体管101对应地有源层的面积也较大，由于开关二极管101设置于非显示区NAA，这样将会增加非显示区NAA的宽度，进而导致显示面板的边框增加；而通过设置所述的距离d小于16微米，有利于显示面板实现窄边框。
可选地，继续参考图1，测试电路还包括测试焊盘401，数据开关线102与测试焊盘401电连接。
具体地，在显示面板需要进行测试时，可将测试设备与测试焊盘401电连接，进而向数据开关线102上输入控制信号，以控制相应的开关晶体管导通或关断，方便后续将测试数据信号通过开关晶体管101写入到数据线111中。
可选地，数据开关线102的材料为Ti/Al/Ti(钛铝钛)。Ti/Al/Ti合金上电荷积累的风险较小，这样设置，可进一步降低数据开关线102上电荷积累的风险，降低显示面板显示不良的风险，提升显示效果。
采用本发明的技术方案，数据开关线短路的风险降低，因数据开关线短路而造成显示面板显示区中数据线不良的不良率，相比现有的显示面板降低了99％以上，从而极大地提升了显示效果。
图9为本发明实施例提供的一种显示装置的结构示意图，参考图9，本发明实施例提供的显示装置包括本发明任意实施例提供的显示面板，因此也具有相同的有益效果，在此不再赘述。显示装置可为手机、平板、显示器、智能手表、MP3、MP4或者其他可穿戴设备等。
注意，上述仅为本发明的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本发明不限于这里所述的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本发明的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本发明进行了较为详细的说明，但是本发明不仅仅限于以上实施例，在不脱离本发明构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，而本发明的范围由所附的权利要求范围决定。

Claims (7)

1.一种显示面板，其特征在于，所述显示面板包括位于非显示区的测试电路，所述测试电路包括多个开关晶体管，所述开关晶体管的第一端与所述显示面板中的数据线电连接，第二端用于输入测试数据信号；
所述测试电路还包括沿第一方向延伸的数据开关线，所述数据开关线与所述开关晶体管的源漏极层同层设置，所述数据开关线用于控制所述开关晶体管导通或关断；
所述数据开关线在所述开关晶体管的有源层所在平面上的垂直投影与所述开关晶体管的有源层不交叠；
所述显示面板还包括与所述开关晶体管一一对应的多条分支线，所述分支线包括电连接的第一金属走线和第二金属走线，所述第一金属走线沿所述第一方向延伸并与所述开关晶体管的栅极电极电连接；
所述第二金属走线沿第二方向延伸并与所述数据开关线电连接；其中，所述第一方向与所述第二方向垂直。
2.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述分支线与所述开关晶体管的栅极电极同层设置。
3.一种显示面板，其特征在于，所述显示面板包括位于非显示区的测试电路，所述测试电路包括多个开关晶体管，所述开关晶体管的第一端与所述显示面板中的数据线电连接，第二端用于输入测试数据信号；
所述测试电路还包括沿第一方向延伸的数据开关线，所述数据开关线与所述开关晶体管的源漏极层同层设置，所述数据开关线用于控制所述开关晶体管导通或关断；
所述数据开关线在所述开关晶体管的有源层所在平面上的垂直投影与所述开关晶体管的有源层交叠；
所述显示面板还包括与所述有源层连接的过孔，所述数据开关线与所述过孔沿第二方向的距离大于4微米；其中，所述第二方向与所述第一方向垂直。
4.根据权利要求3所述的显示面板，其特征在于，所述数据开关线与所述过孔沿第二方向的距离小于16微米。
5.根据权利要求1或3所述的显示面板，其特征在于，所述测试电路还包括测试焊盘，所述数据开关线与所述测试焊盘电连接。
6.根据权利要求1或3所述的显示面板，其特征在于，所述数据开关线的材料为Ti/Al/Ti。
7.一种显示装置，其特征在于，包括权利要求1-6任一项所述的显示面板。
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