KR102270632B1 - 표시 패널, 표시 장치 및 표시 패널의 구동 방법 - Google Patents

표시 패널, 표시 장치 및 표시 패널의 구동 방법 Download PDF

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Abstract

표시 패널은 데이터선과 연결된 화소열을 포함하는 표시부, 상기 표시부와 이웃한 비표시부, 상기 비표시부의 적어도 일부 영역을 경유하는 점등검사신호를 검사제어신호를 기초로 상기 데이터선에 전송하는 검사회로부 및 외부로부터 인가되는 데이터를 스위칭 신호를 기초로 상기 제1 데이터선에 전송하는 스위칭부를 포함한다. 표시 패널은 표시 패널 외곽에 배선된 점등검사신호선을 포함하므로, 점등검사신호선의 저항성 변화에 의한 표시 패널의 점등 상태를 기초로 표시 패널 내부의 손상을 검출할 수 있다. 또한, 표시 패널의 구동 방법은 상기 검사회로부와 스위칭부를 통해 점등검사신호를 표시 패널에 인가하므로, 구동 집적회로가 결합된 표시 모듈 상태에서 표시 패널 내부의 손상을 검출할 수 있다.

Description

표시 패널, 표시 장치 및 표시 패널의 구동 방법{DISPLAY PANEL, DISPLAY DEVICE AND MTEHOD FOR DRIVING DISPLAY PANEL}
본 발명은 전자 기기에 관한 것으로, 보다 상세하게는 내부 손상을 검출할 수 있는 표시 패널 및 표시 패널의 구동 방법에 관한 것이다.
일반적으로 유기발광 표시장치는 영상을 표시하는 복수의 화소들을 포함하는 표시 패널, 화소들에 주사 신호들을 순차적으로 공급하는 주사 구동부, 화소들에 데이터 전압들을 공급하는 데이터 구동부 및 화소들에 발광 제어 신호들을 공급하는 발광 제어 구동부를 포함한다.
화소들은 주사신호들에 응답하여 데이터 전압들을 공급받는다. 화소들은 데이터 전압들에 대응하는 소정 휘도의 빛을 생성함으로써 소정의 영상을 표시한다. 화소들의 발광시간은 발광 제어 신호들에 의해 제어된다.
최근 플렉서블한 재질의 기판(예를 들어 플라스틱 기판)을 사용하여 플렉서블한 특징을 갖는 표시 패널들이 개발되고 있다. 유기발광 표시장치는 플렉서블한 특징을 갖는 표시 패널을 포함할 수 있다. 플렉서블한 특징을 갖는 표시 패널의 경우, 표시 패널이 휘어질 때 표시 패널에 크랙(crack)과 같은 결합이 발생 될 수 있다.
이러한 패널 내 크랙은 향후 진행성으로, 패널의 구동 불량 또는 패널의 수축(shrinkage) 등과 같은 문제점을 유발할 수 있으며, 특히, 표시 패널이 접을 수 있거나(foldable), 또는 말아질 수 있는(rollable) 형태의 경우에는, 외력에 의해 진행성 크랙의 영향이 더욱 심각하게 나타날 수 있다.
표시 패널의 제조 공정 단계에서 점등 검사(Lighting Test)를 통해 표시 패널 내 배선의 손상을 검출하는 방법이 존재하나, 미세 크랙에 대한 검출 능력은 미흡한 실정이다.
본 발명의 일 목적은 표시 패널의 구조와 공정의 변화를 최소화하면서 표시 패널 내부의 손상을 검출할 수 있는 표시 패널을 제공하는 것이다.
본 발명의 일 목적은 구동 집적회로(Driving Integrated Circuit, 구동 IC)가 결합된 표시 모듈 상태에서 표시 패널 내부의 손상을 검출할 수 있는 표시 패널 및 표시 패널의 구동방법을 제공하는 것이다.
다만, 본 발명의 목적은 상기 목적들로 한정되는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위에서 다양하게 확장될 수 있을 것이다.
본 발명의 일 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치는 데이터선(Data Line)과 연결된 화소열(Pixel Column)을 포함하는 표시부(Display Part), 상기 표시부와 이웃한 비표시부(Non-display Part), 상기 비표시부의 적어도 일부 영역을 경유하는 점등검사신호(Lighting Test Signal)를 검사제어신호를 기초로 상기 데이터선에 전송하는 검사회로부(Test Circuit Part) 및 외부로부터 인가되는 데이터를 스위칭 신호(Switching Signal)를 기초로 상기 제1 데이터선에 전송하는 스위칭부(Switching Part)를 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 표시 패널은 상기 검사제어신호 및 상기 스위칭 신호를 생성하고, 상기 스위칭부에 기준 신호를 인가하는 구동 집적회로(Driving Integrated Circuit, 구동 IC)를 더 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 구동 집적회로는 상기 점등검사신호와 상기 기준 신호를 상기 데이터선에 교번하여 인가하도록 상기 검사제어신호와 상기 스위칭 신호를 생성할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 검사회로부는 상기 비표시부의 적어도 일부 영역을 경유하고, 표시부의 가장 외곽에 배치된 화소열에 대응하는 데이터선과 연결되는 점등검사신호선(Lighting Test Line)을 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 표시부는 제1 색을 표시하는 제1 화소와 제2 색을 표시하는 제2 화소가 교대로 배열되는 제1 화소열, 상기 제1 화소와 상기 제2 화소가 상기 제1 화소열과 반대 순서로 배열되는 제2 화소열 및 제3 색을 표시하는 제3 화소가 배열되는 제3 화소열을 포함하고, 상기 점등검사신호선은 상기 표시부의 외곽에 배치된 제3 화소열에 대응하는 데이터선과 연결될 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 표시부는 상기 제3 화소가 배열되고, 상기 점등검사신호선의 저항과 동일한 크기의 저항을 통해 상기 검사회로부와 연결되는 제4 화소열을 더 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 검사회로부는 상기 검사제어신호에 따라 상기 점등검사신호선을 상기 데이터선에 전기적으로 연결하는 검사 트랜지스터를 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 스위칭부는 외부로부터 인가되는 상기 데이터를 상기 화소열에 선택적으로 분배하는 데이터 분배회로(Demux)로 구현될 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 스위칭부는 외부로부터 인가되는 상기 데이터를 스위칭 신호에 따라 상기 데이터선에 전송하는 스위칭 트랜지스터를 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 스위칭부는 구동 집적회로 내부에 구현될 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 표시 패널은 상기 스위칭부와 병렬로 연결되고, 사전점등검사신호(Pre Lighting Test Signal)를 사전검사제어신호를 기초로 상기 데이터선에 공급하는 사전검사회로부를 더 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 사전검사회로부는 상기 비표시부의 적어도 일부 영역을 경유하는 사전점등검사신호선을 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 표시 패널은 제1 구간 동안 상기 데이터선에 전송된 상기 점등검사신호를 기초로 상기 데이터선의 데이터를 초기화하고, 상기 제1 구간과 중첩되지 않은 제2 구간 동안 상기 데이터선에 전송된 사전점등검사신호를 데이터선에 기록할 수 있다.
본 발명의 다른 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치는 데이터선(Data Line)과 연결된 화소열(Pixel Column)을 포함하는 표시부(Display Part), 상기 표시부와 이웃한 비표시부(Non-display Part), 상기 비표시부의 적어도 일부 영역을 경유하는 제1 점등검사신호를 제1 검사제어신호를 기초로 상기 데이터선에 전송하는 제1 검사회로부, 외부로부터 인가되는 데이터를 스위칭 신호를 기초로 상기 데이터선에 전송하는 스위칭부, 상기 스위칭부와 병렬로 연결되어, 제2 점등검사신호를 제2 검사제어신호를 기초로 상기 데이터선에 공급하는 제2 검사회로부 및 상기 제1 검사제어신호, 제2 검사제어신호 및 상기 스위칭 신호를 생성하여 상기 데이터선에 기록되는 점등검사신호를 제어하는 구동 집적회로(Driving Integrated Circuit, 구동 IC)를 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 구동 IC는, 상기 제2 검사제어신호를 통해 제2 검사회로부를 오프 상태로 유지하고, 상기 제1 검사제어신호를 통해 상기 제1 검사회로부로 하여금 제1 구간 동안 상기 데이터선에 제1 점등검사신호를 공급하도록 하고, 상기 스위칭 신호를 통해 상기 제1 구간과 중첩되지 않은 제2 구간 동안 상기 데이터선에 기준 전압을 공급할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 표시 장치는 상기 제2 구간 내 특정 구간 동안 상기 점등검사신호가 상기 화소열에 인가되도록 상기 화소열을 제어하는 주사 구동부를 더 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 제2 검사회로부는 상기 비표시부의 적어도 일부 영역을 경유하는 제2 점등검사신호를 포함할 수 있다.
본 발명의 다른 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 실시예들에 따른 표시 패널의 구동 방법은, 데이터선과 연결된 화소열(Pixel Column)을 포함하는 표시부(Display Part)와, 상기 표시부와 이웃한 비표시부(Non-display Part)를 포함하는 표시 패널에서, 상기 비표시부의 적어도 일부 영역을 경유하는 제1 점등검사신호를 상기 데이터선에 전송하는 제1 검사회로부에 상기 제1 점등검사신호를 인가하는 단계; 스위칭부를 통해 상기 데이터선에 구동 집적회로(Driving Integrated Circuit, 구동 IC)로부터 공급되는 기준 신호를 전송하는 단계; 및 상기 제1 검사회로부를 통해 상기 데이터선에 상기 제1 점등검사신호를 전송하는 단계를 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 제1 검사회로부에 상기 제1 점등검사신호를 인가하는 단계는, 상기 스위칭부와 병렬로 연결되어, 상기 비표시부의 적어도 일부 영역을 경유하는 제2 점등검사신호를 상기 데이터선에 인가하는 제2 검사회로부를 턴오프 상태로 유지시키는 단계를 더 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 제1 검사회로부를 통해 상기 제1 점등검사신호를 전송하는 단계는 상기 제1 검사회로부에 제1 검사제어신호를 인가하는 단계; 및 상기 제1 검사제어신호를 기초로 상기 제1 점등검사신호를 상기 데이터선에 전송하는 단계를 포함할 수 있다.
본 발명의 실시예들에 따른 표시 패널은 표시 패널 외곽에 배선된 점등검사신호선을 포함하므로, 점등검사신호선의 저항성 변화에 의한 표시 패널의 점등 상태를 기초로 표시 패널 내부의 손상을 검출할 수 있다.
본 발명의 실시예들에 따른 표시 패널의 구동 방법은 검사회로부와 스위칭부를 통해 점등검사신호를 표시 패널에 인가하므로, 구동 집적회로가 결합된 표시 모듈 상태에서 표시 패널 내부의 손상을 검출할 수 있다.
다만, 본 발명의 효과는 상기 효과들로 한정되는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위에서 다양하게 확장될 수 있을 것이다.
도 1은 본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치를 나타내는 블록도이다.
도 2는 도 1의 표시부, 제1 검사회로부 및 제2 검사회로부의 일 예를 나타내는 블록도이다.
도 3은 도 2를 포함하는 표시 패널에 대한 점등검사 결과를 나타내는 파형도이다.
도 4는 도 2에 있는 표시 패널에 구동 IC가 실장된 표시 모듈을 나타내는 블록도이다.
도 5는 도 4의 표시 모듈에 대한 점등검사 결과를 나타내는 파형도이다.
도 6은 도 2에 있는 표시 패널에 구동 IC가 실장된 다른 표시 모듈을 나타내는 블록도이다.
도 7은 도 6의 표시 모듈에 대한 점등검사 결과를 나타내는 파형도이다.
도 8은 도 2에 도시된 표시 패널의 다른 실시예이다.
이하, 첨부한 도면들을 참조하여, 본 발명의 바람직한 실시예를 보다 상세하게 설명하고자 한다. 도면상의 동일한 구성요소에 대해서는 동일한 참조부호를 사용하고 동일한 구성요소에 대해서 중복된 설명은 생략한다.
본 발명의 실시예들을 설명하기에 앞서 관련 용어를 아래와 같이 정의한다.
원장검사(One Sheet Test, 또는 Sheet Unit Test)는 표시 장치의 모기판(Mother Substrate)에서 원장단위(Sheet Unit)로 점등검사(Lighting Test), 누설전류 검사, 에이징 검사 등을 수행하는 검사 방법에 해당한다.
점등검사(Lighting Test)는 표시 패널의 통상적인 화소 불량, 회로 손상 등을 검출하는 검사에 해당하나, 본 발명의 점등검사는 표시 패널(100), 특히, 비표시부에서 발생된 손상을 검출할 수 있는 모듈손상검출(Module Crack Detection) 검사를 포함한다.
도 1은 본 발명의 실시예들에 따른 표시 패널을 도시한 평면도이다.
도 1을 참조하면, 표시 패널(100)은 표시 패널 상에 형성된 표시부(110), 제1 검사회로부(120), 스위칭부(130), 제2 검사회로부(140), 패드부(150) 및 주사 구동부(160)를 포함한다. 여기에서, 표시 패널(100)은 유기전계발광 표시장치(Organic Light Emitting Diode Display Device)에 해당할 수 있다.
표시부(Display Part, 110)는 주사선들(S1, S2, Sn) 및 데이터선들(D1, D2, D3, D3m-2, D3m-1, D3m)의 교차부에 위치된 다수의 화소들을 구비한다. 화소들은 주사선들(S1, S2, Sn)로부터 주사신호가 공급될 때 데이터선들(D1, D2, D3, D3m-2, D3m-1, D3m)로부터 공급되는 데이터 신호를 저장하고, 이에 대응하는 휘도(luminance)로 발광한다.
표시부(110)는 데이터선들(D1, D2, D3, D3m-2, D3m-1, D3m)과 평행하게 배열되고, 각 데이터선들에 연결된 화소열(Pixel Column)을 포함한다.
비표시부(Non-Display Part)는 표시부와 이웃하여, 제1 검사회로부(120) 등이 배치되는 공간으로, 표시 패널(100)에서 표시부(100)를 제외한 영역에 해당한다.
제1 검사회로부(1st Lighting Test Part, 120)는 데이터선들(D1, D2, D3, D3m-2, D3m-1, D3m)과 패드부(150) 사이에 접속되어, 표시 패널(100) 내부로 공급되는 제1 점등검사신호(1st Lighting Test Signal)를 제1 검사제어신호(1st Test Control Signal)에 따라 데이터선들(D1, D2, D3, D3m-2, D3m-1, D3m)로 전달한다. 특히, 제1 검사회로부(120)는 표시 패널(100)의 원장검사(One Sheet Test) 단계에서 제1 점등검사신호를 데이터선들로 전달할 수 있다. 여기에서, 제1 점등검사신호는 제1 점등검사신호선(121)을 통해 전송되고, 제1 검사제어신호는 제1 검사제어신호선(122)을 통해 전송된다.
한편, 표시 패널(100)이 다른 장치들(예를 들어, 구동 드라이버 등)과 결합하여 표시 장치를 이루는 경우, 제1 검사회로부(120)는 데이터선들(D1, D2, D3, D3m-2, D3m-1, D3m)에 소정의 기간동안 프리차지 전압(Pre-charge Voltage)을 인가할 수 있다. 여기에서, 프리차지 전압은 데이터선들을 데이터 신호의 전압으로 빠르게 충전하기 위해, 외부로부터의 데이터가 입력되지 않는 동안 인가되는 전압에 해당한다.
스위칭부(Switching Part, 130)는 제2 검사회로부(140)와 데이터선들(D1, D2, D3, D3m-2, D3m-1, D3m) 사이에 접속되어, 제2 검사회로부(140) 또는 패드부(150)로부터 공급되는 신호(점등검사신호 또는 데이터)를 각 화소열에 대응하는 데이터선들(D1, D2, D3, D3m-2, D3m-1, D3m)로 분배하여 출력한다. 일반적으로, 스위칭부(130)는 역다중화기(Demux, 또는 데이터 분배회로)에 해당한다.
제2 검사회로부(2nd Lighting Test Part, 140)는 패드부(150)를 통해 제2 검사제어신호 및 제2 점등검사신호를 공급받고, 제2 검사제어신호에 대응하여 점등검사신호를 출력한다. 보다 구체적으로, 제2 검사회로부(140)는 점등검사신호가 입력되는 입력라인과 데이터선들 사이에 접속된 다수의 트랜지스터들(미도시)을 구비한다. 제2 검사회로부(140)로부터 출력된 점등검사신호는 스위칭부(130)를 경유하여 데이터선들로 공급된다.
한편, 제2 검사회로부(140)는 점등검사가 완료된 이후의 실제 구동기간동안, 또는 구동 집적회로(Driving Integrated Circuit, 구동 IC)가 표시 패널(100) 상에 실장된 이후에는 패드부(150)로부터 공급되는 바이어스 신호에 의하여 오프 상태를 유지한다. 제2 검사회로부(140)는 표시 패널의 실제 구동기간 이전에만 사용된다는 점에서, 제2 검사회로부(140)는 사전검사회로부(Pre-Test Part)로 호칭될 수 있고, 이와 마찬가지로, 제2 점등검사신호 및 제2 검사제어신호 각각은 사전점등검사신호(Pre Lighting Test Signal) 및 사전검사제어신호(Pre-Test Control Signal)로 호칭될 수 있다.
패드부(Pad Part, 150)는 외부로부터 공급되는 각종 구동전원들 및 구동신호들을 패널 내부로 전달하기 위한 다수의 패드(P)들을 구비한다. 여기에서, 각종 구동전원들 및 구동신호들은 각각 점등검사신호, 검사제어신호 등을 포함할 수 있다.
주사 구동부(Scan Driving Part, 160)는 패드부(150)를 통해 주사 구동제어신호(Scan Driving control Signal)를 공급받아 주사신호(Scan Signal)를 생성하고, 생성된 주사신호를 주사선들(S1, S2, Sn)로 순차적으로 공급한다. 여기에서, 주사 구동제어신호에는 스타트 펄스(Start Pulse) 및 클럭신호(Clock Signal)들이 포함될 수 있으며, 주사 구동부는 스타트 펄스 및 클럭신호들에 대응하여 순차적으로 주사신호를 생성하는 시프트 레지스터(Shift Register)를 포함하여 구성될 수 있다.
도 2는 도 1의 표시부, 제1 검사회로부 및 제2 검사회로부의 일 예를 나타내는 블록도이다.
도 1 및 도 2를 참조하면, 표시부(110)는 적색을 표시하기 위한 제1 화소(R)가 데이터선들과 평행하게 배열된 제1 화소열, 녹색을 표시하기 위한 제2 화소(G)가 배열된 제2 화소열 및 청색을 표시하기 위한 제3 화소(B)가 배열된 제3 화소열을 포함한다. 참고로, 적색, 녹색, 적색 등을 각각 표시하는 서브 화소들(sub pixel)이 그룹을 이루어 하나의 화소를 이루는 것이 일반적이나, 설명의 편의상, 본 발명에서는 적색, 녹색, 적색 등을 표시하는 서브 화소들 각각을 화소라 하고, 이들이 배열된 라인을 화소열이라 한다.
본 발명의 실시 예에서는, 좌측에서 우측 방향으로, 제1 화소열, 제2 화소열 및 제3 화소열이 순서대로 배열된 것으로 도시되어 있으나, 본 발명은 이에 국한되는 것은 아니며, 제1 화소열, 제3 화소열 및 제2 화소열이 순서 등으로 배열될 수 있음은 통상의 기술자에게 자명하다 할 것이다.
도 2에는 도시되지 않았으나, 일 실시예에서, 표시부(110)는 펜타일(pentile) 방식으로 나열된 화소들을 포함할 수 있다. 여기에서, 펜타일(pentile) 방식은 화소들을 나열하는 방식으로, 예를 들어, 제1 화소와 제2 화소가 교대로 배열되는 제4 화소열, 제1 화소와 제2 화소가 제4 화소열과는 반대 방향으로 배열되는 제 5화소열, 제3 화소가 배열되는 제3 화소열이 나열된 방식에 해당할 수 있다.
제1 검사회로부(120)는 제1 화소열(R 화소열)에 대응하는 제1 전압(DC_R)이 공급되는 제1 배선과 제1 화소열 사이에 위치하는 제1 트랜지스터, 제2 화소열(G 화소열)에 대응하는 제2 전압(DC_G)이 공급되는 제2 배선과 제2 화소열 사이에 위치하는 제2 트랜지스터, 제3 화소열(B 화소열)에 대응하는 제3 전압(DC_B)이 공급되는 제3 배선과 제3 화소열 사이에 위치하는 제3 트랜지스터와, 제1 내지 제3 트랜지스터를 턴-온(Turn On)시키기 위한 제어신호(DC_GATE)가 인가되는 제1 검사제어신호선을 포함한다.
여기에서, 제1 내지 제3 트랜지스터는 POMS 타입의 트랜지스터인 것으로 도시하고 있으나, 제1 내지 제3 트랜지스터는 모두 NMOS 타입의 트랜지스터 또는 서로 상이한 전도 타입의 트랜지스터에 해당할 수 있다.
제1 전압 내지 제3 전압(DC_R/G/B)은 상기 제1 화소열 내지 제3 화소열의 점등 검사를 위한 점등 검사 전압에 해당할 수 있다. 예를 들어, 표시 패널의 원장 검사 단계에서, 제1 전압 내지 제3 전압은 OV에 해당할 수 있고, 후술할 모듈 검사 단계 표시 패널에 구동 IC가 실장된 상태에서 수행되는 점등검사 에서, 제1 전압 내지 제3 전압은 6.4V에 해당할 수 있다.
일 실시예에서, 제1 검사회로부(120)는 표시부(110)와 이웃한 비표시부의 적어도 일부를 경유하는 점등검사신호선(Lighting Test Line, 221, 222)을 포함할 수 있다.
일 실시예에서, 점등검사신호선은 표시부(110)의 가장 외곽에 배치된 화소열에 대응하는 데이터선과 연결될 수 있다.
제1 점등검사신호선(221)은 제2 배선과 가장 좌측의 제2 트랜지스터 사이에 연결되고, 표시부(110)와 이웃한 비표시부의 적어도 일부 영역을 경유하도록 배선된다. 제1 점등검사신호선(221)은 저항 성분을 가지고 있고, 제1 점등검사신호선(221)의 저항 값은 해당 영역에서 발생한 손상(예를 들어, crack)에 의해 변동(또는 증가)될 수 있다. 즉, 손상으로 인한 제1 점등검사신호선(221)의 저항성 변화를 기초로 표시 패널(100, 특히, 비표시부)의 손상 여부를 검출할 수 있다.
이와 마찬가지로, 제2 점등검사신호선(222)은 제2 배선과 가장 우측의 제2 트랜지스터 사이에 연결되고, 표시부와 이웃한 비표시부의 우측 영역을 경유하도록 배선된다.
도 2에서, 제1 점등검사신호선(221)은 제2 화소열(G 화소열)과 연결된 것으로 도시되어 있으나, 제1 화소열(R 화소열) 또는 제3 화소열(B 화소열)에 연결될 수 있다. 또한, 제1 검사회로부(120)가 상호 상이한 화소열에 연결된 점등검사신호선을 포함할 수 있다.
일 실시예에서, 점등검사신호선은 표시부(110)와 가장 인접한 녹색 화소열에 대응하는 데이터선과 연결될 수 있다.
적색, 녹색 및 청색 화소(R, G, B)는 각각 상이한 발광 특성을 가질 수 있고, 휘도가 상대적으로 높은 녹색 화소(G)가 배치된 제2 화소열과 대응하는 데이터선에 제1 점등검사신호선이 연결될 수 있다. 녹색 화소의 시인성을 통해, 표시 패널의 손상은 보다 용이하게 검출될 수 있다.
점등검사신호선과 연결되지 않은 제2 배선과 제2 트랜지스터 사이에는 저항이 배치될 수 있으며, 해당 저항의 크기는 점등검사신호선의 저항 값과 동일할 수 있다.
앞서 설명한 바와 같이, 점등검사가 종료된 이후, 즉, 표시 패널(100)이 표시 장치 내부에서 정상 구동되는 경우, 제1 전압 내지 제3 전압(DC_R/G/B)은 각 화소(R, G, B)의 구동을 위한 프리 차지 전압(Pre-Charge Voltage)에 해당할 수 있고, 이들의 크기는 동일하거나 또는 화소의 발광 특성에 따라 상호 상이할 수 있다.
제2 검사회로부(140)는 제2 점등검사신호(또는 사전점등검사신호)가 입력되는 제2 점등검사신호선(또는 사전점등검사신호선)과 데이터선들 사이에 접속된 다수의 제4 트랜지스터들을 포함한다.
이하, 도 3을 참조하여 도 2에 도시된 구성을 포함하는 표시 패널(100)을 통해 비표시부에 발생한 손상(crack)을 검출하는 방법에 대하여 설명한다.
도 3은 도 2를 포함하는 표시 패널에 대한 점등검사 결과를 나타내는 파형도이다. 한편, 도 3에서는 도 2의 표시 패널의 우측에 배치된 비표시부 상에 손상(crack)이 존재하는 것을 전제한다.
도 3을 참조하면, 파형도의 y축은 각 신호의 크기를 나타내고, x축은 시간을 나타낸다. x축 상에서 점선을 통해 나누어지는 각 시간은 화소열 상의 화소 각각에 배정되는 시간에 해당한다.
외부로부터 제1 검사회로부(120)에 공급되는 제1 점등검사신호(DC_R/G/B)는 각각 0[V](DC)에 해당하고, 제2 검사회로부(130)에 공급되는 제2 점등검사신호(Test_Data)는 6.3[V](DC)에 해당한다. 제1 점등검사신호(DC_R/G/B)와 제2 점등검사신호(Test_Data)는 점등검사조건과 관련하여 다른 크기를 가질 수 있고, 예를 들어, 제1 점등검사신호(DC_R/G/B)와 제2 점등검사신호(Test_Data)는 각각 3[V], 6[V]에 해당할 수 있다.
제1 검사제어신호(DC_GATE)는 제1 구간(t1)에서 로우 레벨(Low Level)에 해당하고, 이외의 구간에서는 하이 레벨(High Level)에 해당한다. 따라서, 제1 검사회로부(120)는 제1 검사제어신호(DC_GATE)에 따라 제1 구간(t1) 동안 제1 점등검사신호(DC_R/G/B)를 데이터선에 전송한다. 보다 구체적으로, 제1 검사회로부(120) 내부의 제1 내지 제3 검사 트랜지스터는 제1 검사제어신호(DC_GATE)에 따라 제1 구간(t1)동안 턴온(turn on)되어, 제1 내지 제3 배선을 각각 데이터선에 전기적으로 연결한다. 즉, 제1 검사회로부(120)는 제1 구간(t1)동안 데이터선의 데이터를 초기화(initial)할 수 있다.
제2 검사제어신호(TEST_GATE)는 제2 구간(t2)에서 로우 레벨에 해당하고, 이외의 구간에서는 하이 레벨에 해당한다. 따라서, 제2 검사회로부(140)는 제2 검사제어신호(TEST_GATE)에 따라 제2 구간(t2) 동안 제2 점등검사신호(Test_Data)를 데이터선에 전송한다.
여기에서, 제1 구간(t1)과 제2 구간(t2)은 서로 중첩되지 않는 구간에 해당하고, 제1 구간(t1)과 제2 구간(t2)은 표시부(110)에 포함된 화소열의 수, 주사선 수, 데이터 저장 속도 등을 기초로 설정될 수 있다.
주사신호(Scan[n], n은 자연수)은 n번째 주사선에 인가되는 주사신호에 해당하고, 로우 레벨 상태를 유지하면서, 해당 주사선에 따라 n번째 시간 내에서 제 3구간 동안 하이 레벨에 해당할 수 있다. 한편, 화소는 주사신호(Scan[n])에 따라 데이터선의 데이터를 저장하여 발광한다.
데이터선에서 측정된 데이터들(Vdata #1, Vdata #3)은 각각 제1 점등검사신호선(221)과 제2점등검사신호(222)선과 연결 가능한 데이터선에 인가되는 데이터에 해당한다.
제1 측정 데이터(Vdata #1)은 제1 구간(t1)동안 제1 검사회로부(120)에 의해 초기화되고, 제2 구간(t2)이 시작하기 전까지 초기화 상태를 유지하며, 제2 구간(t2)이 시작하는 시점부터 제2 검사회로부(140)에 의해 포물선을 그리며 제2 점등검사신호(6.3[V])로 충전되고, 제2 구간(t2)이 종료될 때까지 6.3[V]를 유지한다. 즉, 데이터선들의 지연을 고려하여, 제1 측정 데이터(Vdata #1)은 OV와 6.3V 값을 나타낸다.
이와 마찬가지로, 제2 측정 데이터(Vdata #3)는 제1 구간(t1)동안 제1 검사회로부(120)에 의해 초기화되고, 제2 구간(t2)이 시작하기 전까지 초기화 상태를 유지한다. 다만, 제2 측정 데이터(Vdata #3)는 제2 구간(t2)이 시작하는 시점부터 제2 검사회로부(140)에 의해 충전되나, 제2 점등검사신호(6.3[V])보다 낮은 전압을 가진다. 이는, 제2 점등검사신호선(222)이 경유하는 비표시부에 발생한 손상이 제2 점등검사신호선(222)의 저항 성분을 증가시키고, 해당 데이터선의 지연을 증가시킨 것이 원인이다. 따라서, 제2 측정 데이터(Vdat #3)는 제2 구간(t2)이 종료될 때까지 목표 데이터 전압(Target Data Volate)인 6.3에 도달하지 못한다. 그 결과, 제2 측정 데이터(Vdata #3)는 화소에 데이터가 인가되는 시점(t3 구간의 시작 시점)에 제1 측정 데이터(Vdata #1)와 전압 차이(ΔV_screen)를 가지게 되고, 제2 점등검사신호선(222)과 연결된 화소(또는 화소열)는 흑색이 아닌 다른 색으로 발광한다.
결과적으로, 제2 점등검사신호선(222)과 연결된 화소열의 발광 상태를 기초로 표시 패널의 손상 여부를 검출할 수 있다.
도 4는 도 2에 있는 표시 패널에 구동 IC가 실장된 표시 모듈을 나타내는 블록도이다.
도 4의 a)는 표시 패널과 구동 IC의 일반적인 결선 상태를 나타나고, 도 4의 b)는 표시 모듈 상태에서 표시 모듈의 손상 검사를 위한 표시 패널과 구동 IC의 결선 상태를 나타낸다.
도 4의 a)를 참조하면, 표시 모듈(100)은 표시부(110), 제1 검사회로부(120), 스위칭부(130), 제2 검사회로부(140) 및 구동 IC를 포함한다.
표시부(110)는 펜타일(pentile) 방식으로 배열된 화소열을 포함하고, 제1 검사회로부(120)는 제1 검사제어신호(DC_GATE_R/G/B)를 전송하는 3개의 서브검사제어신호선들을 포함한다.
제1 점등검사신호(DC_R/G/B)와 제1 검사제어신호(DC_GATE_R/G/B)는 외부로부터 공급된 하이 레벨 신호(예를 들어, C에 충전된 전압)로 바이어스 되고, 제1 검사회로부는 턴 오프 상태를 유지한다. 이와 마찬가지로, 제2 점등검사신호(Test_Date)와 제2 검사제어신호(Test_GATE)는 하이 레벨 신호로 바이어스 되고, 제2 검사회로부는 턴 오프 상태를 유지한다.
스위칭부(130)는 구동 IC로부터(또는 제2 검사회로부로부터) 제공되는 신호를, 구동 IC의 스위칭 신호(CLA, CLB)에 따라 데이터선에 분배하여 전송한다.
구동 IC는 스위칭부(130)에 데이터 및 스위칭 신호(CLA, CLB)를 공급하며, COF(Chip On Flexible Printed Circuit) 방식으로 실장될 수 있다.
도 4의 a)에 도시된 표시 모듈에 대한 점등검사를 수행하기 위해, 제2 검사회로부(140)를 통해 제2 점등검사신호(Test_Data)를 인가하는 경우, 제2 점등검사신호(Test_Data)는 구동 IC로부터 인가되는 데이터와 충돌할 수 있다.
반면, 도 4의 b)에 도시된 표시 모듈에서, 제3 서브점등검사신호선은 구동 IC의 LPTS SIG#3가 출력되는 단자에 연결되고, 제2 화소열(녹색 화소열)은 구동 IC로부터 제공되는 제3 서브점등검사신호(DC_GATE_G)에 따라 구동될 수 있다. 여기에서, 제2 화소열(녹색 화소열)은 점등검사신호선과 연결되어 비표시부의 손상 발생 여부를 검출하는데 이용되는 화소열에 해당한다.
가장 좌측에 배열된 제1 화소열(적색 화소와 청색 화소가 교대로 배열된 화소열)을 통해 점등검사를 수행하고자 하는 경우, 구동 IC의 LTPS SIG#3은 제1 서브검사제어신호(DC_GATE_R) 또는 제2 서브검사제어신호(DC_GATE_B)로서 제1 검사회로부에 공급될 수 있다. 제1 화소열의 교류 특성에 의한 점등 검사에 대한 영향성을 고려할 때, 점등 검사는 하나의 화소로 배열된 제2 화소열(녹색 화소열)을 통해 수행되는 것이 바람직하다.
구동 IC가 실장되기 이전의 표시 패널에서, 점등 검사는 제1 검사회로부(110)와 제2 검사회로부(120)를 통해 수행되는 반면, 구동 IC가 실장된 이후의 표시 패널, 즉, 표시 모듈 상태에서, 제1 검사회로부(110)와 스위칭부(130)를 통해 수행될 수 있다.
즉, 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치는, 점등 검사와 연관된 제1 검사제어신호를 구동 IC로부터 공급받을 수 있도록 결선되고, 제1 검사회로부(110)와 스위칭부(130)를 통해 데이터선에 기록되는 점등검사신호를 생성하여, 표시 모듈 상태에서 점등 검사가 가능하도록 할 수 있다.
이하, 도 5을 참조하여, 표시 모듈 상태에서 점등 검사(또는 모듈 손상 검출 검사)를 수행하기 위한 표시 패널의 구동 방법에 대하여 설명한다.
도 5는 도 4의 표시 모듈에 대한 점등검사 결과를 나타내는 파형도이다. 한편, 도 5에서는, 도 3과 마찬가지로, 도 4의 표시 패널의 우측에 배치된 비표시부 상에 손상이 존재하는 것을 전제한다.
도 5을 참조하면, 파형도의 y축은 각 신호의 크기를 나타내고, x축은 시간을 나타낸다. x축 상에서 점선은 주사선 상의 화소에 배정되는 시간에 해당한다.
외부로부터 제1 검사회로부(120)에 공급되는 제1 점등검사신호(DC_R/G/B)는 각각 6.4[V](DC)에 해당하고, 도시되지 않았으나, 구동 IC를 통해 스위칭부(130)로 인가되는 기준 신호는 O[V]에 해당한다.
스위칭 신호(CLB)는 제1 구간(t1)에서 로우 레벨(Low Level)에 해당하고, 이외의 구간에서는 하이 레벨(High Level)에 해당한다. 따라서, 스위칭부(140)는 스위칭 신호(CLB)에 따라 제1 구간(t1) 동안 기준 신호를 데이터선에 전송한다. 보다 구체적으로, 스위칭부(130) 내부의 스위칭 트랜지스터는 스위칭 신호(CLB)에 따라 제1 구간(t1)동안 턴온(turn on)되어, 구동 IC의 소스 증폭기(Source Amplifier) 출력단을 각각 데이터선에 전기적으로 연결한다. 즉, 스위칭부(130)는 제1 구간(t1)동안 데이터선의 데이터를 초기화(initial)할 수 있다.
제1 검사제어신호(또는 제3 서브검사제어신호, DC_GATE_G)는 제2 구간(t2)에서 로우 레벨에 해당하고, 이외의 구간에서는 하이 레벨에 해당한다. 따라서, 제1 검사회로부(120)는 제1 검사제어신호(DC_GATE_G)에 따라 제2 구간(t2) 동안 제1 점등검사신호(DC_G)를 데이터선에 전송한다.
주사신호(Scan[n], n은 자연수)는 로우 레벨 상태를 유지하면서, 해당 주사선에 따라 n번째 시간 내에서 제 3구간 동안 하이 레벨에 해당하고, 화소는 주사신호(Scan[n])에 따라 데이터선의 데이터를 저장하여 발광한다.
제1 측정 데이터(Vdata #1)는 정상적인 비표시부를 경유하는 점등검사신호선과 연결된 데이터선에서 측정된 신호에 해당하고, 제2 측정 데이터(Vdata #3)는 손상된 비표시부를 경유하는 점등검사신호선과 연결된 데이터선에서 측정된 신호에 해당한다.
도 3에서 설명한 바와 마찬가지로, 제1 측정 데이터(Vdata #1)는 제2 구간(t2)에서 6.4[V]로 충전된다. 반면, 제2 측정 데이터(Vdata #3)는 제2 구간(t2)이 시작하는 시점부터 상승하나, 증가된 데이터선 지연(Data Line Delay)에 따라 제2구간이 종료되기 전까지 목표 데이터 전압인 6.4V에 도달하지 못한다. 그 결과, 제2 측정 데이터(Vdata #3)는 화소에 데이터가 인가되는 시점(t3 구간의 시작 시점)에 제1 측정 데이터(Vdata #1)와 전압 차이(ΔV_screen)를 가지게 된다.
즉, 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 패널 구동 방법은, 제1 검사회로부와 스위칭부를 이용하여, 제1 점등검사신호와 기준 신호를 데이터선에 인가하고, 표시 모듈 상태에서 점등 검사가 가능하도록 할 수 있다.
도 6은 도 2에 있는 표시 패널에 구동 IC가 실장된 다른 표시 모듈을 나타내는 블록도이다.
도 6을 참조하면, 표시 모듈(100)은 표시부(110), 제1 검사회로부(120), 제2 검사회로부(140) 및 구동 IC를 포함한다.
도 4에 도시된 표시 모듈과 비교하여, 도 6에 도시된 표시 모듈(100)은 표시부(110)와 제2 검사회로부(140)에 배치된 스위칭부(130)를 포함하지 않고, 도 6에 도시된 표시 모듈(100)의 구동 IC가 스위칭 기능을 포함한다. 즉, 표시 패널이 역다중화기(Demux)를 포함하지 아니한 경우, 스위칭부(130) 대신 구동 IC의 출력 스위칭 기능을 통해, 모듈 상태에서의 점등 검사가 가능하도록 할 수 있다.
구동 IC의 출력 스위칭 기능은 소스 증폭기(Source AMP #1/#2/#3/#4) 출력단의 임피던스 변화를 통해 이루어지며, 별도의 스위치를 통해 수행될 수 있다. 즉, 소스 증폭기(Source AMP #1/#2/#3/#4) 출력단의 하이 임피던스 상태(Hi-Z)를 통해, 구동 IC는 데이터선과의 연결을 전기적으로 차단할 수 있다.
이하, 도 7을 참조하여, 도 6에 도시된 표시 모듈 상태에서 점등 검사(또는 모듈 손상 검출 검사)를 수행하기 위한 표시 패널의 구동 방법에 대하여 설명한다.
도 7는 도 6의 표시 모듈에 대한 점등검사 결과를 나타내는 파형도이다. 한편, 도 7에서는, 도 3 및 도 5과 마찬가지로, 도 6의 표시 패널의 우측에 배치된 비표시부 상에 손상이 존재하는 것을 전제한다.
도 7을 참조하면, 제1 점등검사신호(DC_R/G/B), 제1 검사제어신호(또는 제3 서브검사제어신호, DC_GATE_G) 및 주사 신호(Scan[n]) 각각은, 제 5에 도시된 해당 파형도와 동일하므로, 이에 대한 설명은 생략한다.
소스 증폭기(Source AMP)의 출력단 임피던스는 제1 구간(t1)에서 저임피던스(White)에 해당하고, 이외의 구간에서는 고 임피던스(Hi-Z)에 해당한다. 따라서, 구동 IC는 소스 증폭기의 출력단 임피던스 상태에 따라, 제1 구간(t1) 동안 기준 신호를 데이터선에 전송한다. 즉, 구동 IC는 출력단 임피던스 변화를 통해 제1 구간(t1)동안 데이터선의 데이터를 초기화(initial)할 수 있다.
도 5에서 설명한 바와 마찬가지로, 제1 측정 데이터(Vdata #1)는 제2 구간(t2)에서 6.4[V]로 충전되는 반면, 제2 측정 데이터(Vdata #3)는 제2 구간(t2)이 시작하는 시점부터 상승하나, 증가된 데이터선 지연(Data Line Delay)에 따라 화소에 데이터가 인가되는 시점(t3 구간의 시작 시점)에 제1 측정 데이터(Vdata #1)와 전압 차이(ΔV_screen)를 가지게 된다.
즉, 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 패널 구동 방법은, 표시 패널이 스위칭부(130, 예를 들어, Demux)를 포함하지 않는 경우, 제1 검사회로부와 구동 IC(소스 증폭기) 출력단의 임피던스 제어를 통해, 제1 점등검사신호와 기준 신호를 데이터선에 인가하고, 표시 모듈 상태에서 점등 검사가 가능하도록 할 수 있다.
또 다른 실시예에 따라, 제2 검사회로부와 구동 IC 출력단의 임피던스 제어를 통해, 제2 점등검사신호와 기준 신호를 데이터선에 인가하고, 표시 모듈 상태에서 점등 검사가 가능하도록 할 수 있다.
도 8은 도 2에 도시된 표시 패널의 다른 실시예이다.
도 8을 참조하면, 표시 패널(100)은 표시부(110), 제1 검사회로부(120), 제2 검사회로부(140) 및 패드부(150)를 포함한다.
표시부(110)는 펜타일 방식으로 배열된 화소열을 포함한다.
제1 검사회로부(120)는 패드부로부터 제1 점등검사신호(DC_R/G/B)를 공급받고, 제1 검사제어신호(DC_GATE_R/G/B)를 기초로 제1 내지 제3 배선을 화소열에 전기적으로 연결하는 검사 트랜지스터를 포함한다.
제2 검사회로부(140)는 패드부로부터 인가되는 제2 점등검사신호(Test_Data1, Test_Data2)를 제2 검사제어신호(Test_GATE)에 따라 데이터선에 전기적으로 연결하는 트랜지스터를 포함한다.
일 실시예에서, 제2 검사회로부(140)는 비표시부의 적어도 일부 영역을 경유하는 점등검사신호선을 포함할 수 있다.
제2 검사회로부(140)는 비표시부의 좌측 및 좌측 상단 영역을 경유하는 제1 점등검사신호선을 포함하고, 제1 점등검사신호선은 표시부의 가장 좌측의 제1 화소열(R/B 화소열)에 대응하는 데이터선에 연결된다. 이와 마찬가지로, 제2 검사회로부(140)는 비표시부의 우측/우측 상단 영역을 경유하는 제2 점등검사신호선을 포함하고, 제2 점등검사신호선은 표시부의 가장 우측의 제2 화소열(G 화소열)에 대응하는 데이터선에 연결된다. 제1 점등검사신호선과 제2 점등검사신호선에는 상호 다른 점등검사신호(Test_Data1, Test Data2)가 인가 될 수 있다.
표시 패널 상태에서, 표시 패널의 손상 검출은 제1 검사회로부(120)와 제2 검사회로부(140)을 통해 수행될 수 있고, 구동 IC가 실장된 표시 모듈 상태에서, 표시 모듈의 손상 검출은 제1 검사회로부(120)와 구동 IC를 통해 수행될 수 있다. 보다 구체적으로, 표시 모듈의 손상 검출은 특정 패드(SRC PAD)을 통해 인가되는 기준 신호와, 제1 점등검사회로부(120)를 통해 인가되는 점등검사신호(DC_R/G/B)를 제어하여 수행될 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따른 모듈 상태에서 표시 패널의 손상 여부를 검사하기 위한 표시 패널 구동 방법은, 데이터선과 연결된 화소열(Pixel Column)을 포함하는 표시부(Display Part)와, 상기 표시부와 이웃한 비표시부(Non-display Part)를 포함하는 표시 패널에서, 상기 비표시부의 적어도 일부 영역을 경유하는 제1 점등검사신호를 상기 데이터선에 전송하는 제1 검사회로부에 상기 제1 점등검사신호를 인가하는 단계; 스위칭부를 통해 상기 데이터선에 구동 집적회로(Driving Integrated Circuit, 구동 IC)로부터 공급되는 기준 신호를 전송하는 단계; 및 상기 제1 검사회로부를 통해 상기 데이터선에 상기 제1 점등검사신호를 전송하는 단계를 포함할 수 있다.
일 실시예에서, 상기 제1 검사회로부에 상기 제1 점등검사신호를 인가하는 단계는, 상기 스위칭부와 병렬로 연결되어, 상기 비표시부의 적어도 일부 영역을 경유하는 제2 점등검사신호를 상기 데이터선에 인가하는 제2 검사회로부를 턴오프 상태로 유지시키는 단계를 더 포함할 수 있다.
다른 일 실시예에서, 상기 제1 검사회로부를 통해 상기 제1 점등검사신호를 전송하는 단계는 상기 제1 검사회로부에 제1 검사제어신호를 인가하는 단계; 및 상기 제1 검사제어신호를 기초로 상기 제1 점등검사신호를 상기 데이터선에 전송하는 단계를 포함할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따른 모듈 상태에서 표시 패널의 손상 여부를 검사하기 위한 표시 패널 구동 방법은, 도 5 또는 도 7을 참조하여 설명한 방법과 실질적으로 동일하므로, 이에 대한 설명은 생략한다.
이상, 본 발명의 실시예들에 따른 표시 패널, 표시 장치 및 표시 패널의 구동 방법에 대하여 도면을 참조하여 설명하였지만, 상기 설명은 예시적인 것으로서 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위에서 해당 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의하여 수정 및 변경될 수 있을 것이다. 예를 들어, 상기에서는 표시 모듈에서의 점등검사신호는 6.4V에 해당하는 것으로 설명하였으나, 전압 레벨의 크기는 이에 한정되는 것이 아니다.
본 발명은 표시 장치를 구비한 전자 기기에 다양하게 적용될 수 있다. 예를 들어, 본 발명은 컴퓨터, 노트북, 디지털 카메라, 비디오 캠코더, 휴대폰, 스마트폰, 스마트패드, 피엠피(PMP), 피디에이(PDA), MP3 플레이어, 차량용 네비게이션, 비디오폰, 감시 시스템, 추적 시스템, 동작 감지 시스템, 이미지 안정화 시스템 등에 적용될 수 있다.
이상에서는 본 발명의 실시예들을 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야의 숙련된 당업자는 하기의 특허 청구의 범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.
100 : 표시 패널
110 : 표시부
120 : 제1 검사회로부
121 : 제1 점등검사신호선
122 : 제2 검사제어신호선
130 : 스위칭부
140 : 제2 검사회로부
150 : 패드부
160 : 주사 구동부
221 : 제1 점등검사신호선
222 : 제2 점등검사신호선

Claims (20)

  1. 데이터선(Data Line)과 연결된 화소열(Pixel Column)을 포함하는 표시부(Display Part);
    상기 표시부와 이웃한 비표시부(Non-display Part);
    상기 비표시부의 적어도 일부 영역을 경유하는 점등검사신호(Lighting Test Signal)를 검사제어신호를 기초로 상기 데이터선에 전송하는 검사회로부(Test Circuit Part); 및
    외부로부터 인가되는 데이터를 스위칭 신호(Switching Signal)를 기초로 상기 제1 데이터선에 전송하는 스위칭부(Switching Part)를 포함하고,
    상기 검사회로부는 상기 비표시부의 적어도 일부 영역을 경유하는 점등검사신호선(Lighting Test Line)을 포함하는 표시 패널.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 검사제어신호 및 상기 스위칭 신호를 생성하고, 상기 스위칭부에 기준 신호를 인가하는 구동 집적회로(Driving Integrated Circuit, 구동 IC)를 더 포함하는 표시 패널.
  3. 제2항에 있어서, 상기 구동 집적회로는 상기 점등검사신호와 상기 기준 신호를 상기 데이터선에 교번하여 인가하도록 상기 검사제어신호와 상기 스위칭 신호를 생성하는 표시 패널.
  4. 제1항에 있어서, 상기 점등 검사 신호선은
    표시부의 가장 외곽에 배치된 화소열에 대응하는 상기 데이터선과 연결되는 표시 패널.
  5. 제4항에 있어서, 상기 표시부는,
    제1 색을 표시하는 제1 화소와 제2 색을 표시하는 제2 화소가 교대로 배열되는 제1 화소열;
    상기 제1 화소와 상기 제2 화소가 상기 제1 화소열과 반대 순서로 배열되는 제2 화소열; 및
    제3 색을 표시하는 제3 화소가 배열되는 제3 화소열을 포함하고,
    상기 점등검사신호선은 상기 표시부의 외곽에 배치된 제3 화소열에 대응하는 데이터선과 연결되는 표시 패널.
  6. 제5항에 있어서, 상기 표시부는,
    상기 제3 화소가 배열되고, 상기 점등검사신호선의 저항과 동일한 크기의 저항을 통해 상기 검사회로부와 연결되는 제4 화소열을 더 포함하는 표시 패널.
  7. 제4항에 있어서, 상기 검사회로부는 상기 검사제어신호에 따라 상기 점등검사신호선을 상기 데이터선에 전기적으로 연결하는 검사 트랜지스터를 포함하는 표시 패널.
  8. 제1항에 있어서, 상기 스위칭부는 외부로부터 인가되는 상기 데이터를 상기 화소열에 선택적으로 분배하는 데이터 분배회로(Demux)로 구현되는 표시 패널.
  9. 제1항에 있어서, 상기 스위칭부는 외부로부터 인가되는 상기 데이터를 스위칭 신호에 따라 상기 데이터선에 전송하는 스위칭 트랜지스터를 포함하는 표시 패널.
  10. 제1항에 있어서, 상기 스위칭부는 구동 집적회로 내부에 구현되는 것을 특징으로 하는 표시 패널.
  11. 제1항에 있어서,
    상기 스위칭부와 병렬로 연결되고, 사전점등검사신호(Pre Lighting Test Signal)를 사전검사제어신호를 기초로 상기 데이터선에 공급하는 사전검사회로부를 더 포함하는 표시 패널.
  12. 제11항에 있어서, 상기 사전검사회로부는, 상기 비표시부의 적어도 일부 영역을 경유하는 사전점등검사신호선을 포함하는 표시 패널.
  13. 제11항에 있어서, 제1 구간 동안 상기 데이터선에 전송된 상기 점등검사신호를 기초로 상기 데이터선의 데이터를 초기화하고, 상기 제1 구간과 중첩되지 않은 제2 구간 동안 상기 데이터선에 전송된 사전점등검사신호를 데이터선에 기록하는 표시 패널.
  14. 데이터선(Data Line)과 연결된 화소열(Pixel Column)을 포함하는 표시부(Display Part);
    상기 표시부와 이웃한 비표시부(Non-display Part);
    상기 비표시부의 적어도 일부 영역을 경유하는 제1 점등검사신호를 제1 검사제어신호를 기초로 상기 데이터선에 전송하는 제1 검사회로부;
    외부로부터 인가되는 데이터를 스위칭 신호를 기초로 상기 데이터선에 전송하는 스위칭부;
    상기 스위칭부와 병렬로 연결되어, 제2 점등검사신호를 제2 검사제어신호를 기초로 상기 데이터선에 공급하는 제2 검사회로부; 및
    상기 제1 검사제어신호, 제2 검사제어신호 및 상기 스위칭 신호를 생성하여 상기 데이터선에 기록(저장, 인가)되는 점등검사신호를 제어하는 구동 집적회로(Driving Integrated Circuit, 구동 IC)를 포함하고,
    상기 제2 검사회로부는 상기 비표시부의 적어도 일부 영역을 경유하는 제2 점등검사신호선을 포함하는 표시 장치.
  15. 제14항에 있어서, 상기 구동 IC는, 상기 제2 검사제어신호를 통해 제2 검사회로부를 오프 상태로 유지하고, 상기 제1 검사제어신호를 통해 상기 제1 검사회로부로 하여금 제1 구간 동안 상기 데이터선에 제1 점등검사신호를 공급하도록 하고, 상기 스위칭 신호를 통해 상기 제1 구간과 중첩되지 않은 제2 구간 동안 상기 데이터선에 기준 전압을 공급하도록 하는 표시 장치.
  16. 제15항에 있어서,
    상기 제2 구간 내 특정 구간 동안 상기 점등검사신호가 상기 화소열에 인가되도록 상기 화소열을 제어하는 주사 구동부를 더 포함하는 표시 장치.
  17. 삭제
  18. 데이터선과 연결된 화소열(Pixel Column)을 포함하는 표시부(Display Part)와, 상기 표시부와 이웃한 비표시부(Non-display Part)를 포함하는 표시 패널에서,
    상기 비표시부의 적어도 일부 영역을 경유하는 제1 점등검사신호를 상기 데이터선에 전송하는 제1 검사회로부에 상기 제1 점등검사신호를 인가하는 단계;
    스위칭부를 통해 상기 데이터선에 구동 집적회로(Driving Integrated Circuit, 구동 IC)로부터 공급되는 기준 신호를 전송하는 단계; 및
    상기 제1 검사회로부를 통해 상기 데이터선에 상기 제1 점등검사신호를 전송하는 단계를 포함하고,
    상기 제1 검사회로부는 상기 비표시부의 적어도 일부 영역을 경유하는 제1 점등검사신호선을 포함하는 표시 패널 구동 방법.
  19. 제18항에 있어서, 상기 제1 검사회로부에 상기 제1 점등검사신호를 인가하는 단계는,
    상기 스위칭부와 병렬로 연결되어, 상기 비표시부의 적어도 일부 영역을 경유하는 제2 점등검사신호를 상기 데이터선에 인가하는 제2 검사회로부를 턴오프 상태로 유지시키는 단계를 더 포함하는 표시 패널 구동 방법.
  20. 제18항에 있어서, 상기 제1 검사회로부를 통해 상기 제1 점등검사신호를 전송하는 단계는,
    상기 제1 검사회로부에 제1 검사제어신호를 인가하는 단계; 및
    상기 제1 검사제어신호를 기초로 상기 제1 점등검사신호를 상기 데이터선에 전송하는 단계를 포함하는 표시 패널 구동 방법.
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