KR102470210B1 - 검사 시스템 및 이를 이용한 표시 셀의 검사 방법 - Google Patents

검사 시스템 및 이를 이용한 표시 셀의 검사 방법 Download PDF

Info

Publication number
KR102470210B1
KR102470210B1 KR1020180087548A KR20180087548A KR102470210B1 KR 102470210 B1 KR102470210 B1 KR 102470210B1 KR 1020180087548 A KR1020180087548 A KR 1020180087548A KR 20180087548 A KR20180087548 A KR 20180087548A KR 102470210 B1 KR102470210 B1 KR 102470210B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
array
lighting
data
control signal
test
Prior art date
Application number
KR1020180087548A
Other languages
English (en)
Other versions
KR20200013187A (ko
Inventor
조대연
김현호
김효중
노영주
박종우
이주희
채진우
최영태
Original Assignee
삼성디스플레이 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 삼성디스플레이 주식회사 filed Critical 삼성디스플레이 주식회사
Priority to KR1020180087548A priority Critical patent/KR102470210B1/ko
Priority to US16/522,279 priority patent/US11087653B2/en
Priority to CN201910680604.8A priority patent/CN110853555B/zh
Publication of KR20200013187A publication Critical patent/KR20200013187A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR102470210B1 publication Critical patent/KR102470210B1/ko

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/26—Testing of individual semiconductor devices
    • G01R31/2601—Apparatus or methods therefor
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/26—Testing of individual semiconductor devices
    • G01R31/2607—Circuits therefor
    • G01R31/2632—Circuits therefor for testing diodes
    • G01R31/2635—Testing light-emitting diodes, laser diodes or photodiodes
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/20—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters
    • G09G3/2007—Display of intermediate tones
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/20—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters
    • G09G3/22—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources
    • G09G3/30—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels
    • G09G3/32—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED]
    • G09G3/3208—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED] organic, e.g. using organic light-emitting diodes [OLED]
    • G09G3/3225—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED] organic, e.g. using organic light-emitting diodes [OLED] using an active matrix
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/20—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters
    • G09G3/22—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources
    • G09G3/30—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels
    • G09G3/32—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED]
    • G09G3/3208—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED] organic, e.g. using organic light-emitting diodes [OLED]
    • G09G3/3275—Details of drivers for data electrodes
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2300/00—Aspects of the constitution of display devices
    • G09G2300/04—Structural and physical details of display devices
    • G09G2300/0439—Pixel structures
    • G09G2300/0452—Details of colour pixel setup, e.g. pixel composed of a red, a blue and two green components
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2320/00—Control of display operating conditions
    • G09G2320/02—Improving the quality of display appearance
    • G09G2320/0242—Compensation of deficiencies in the appearance of colours
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2320/00—Control of display operating conditions
    • G09G2320/02—Improving the quality of display appearance
    • G09G2320/0257—Reduction of after-image effects
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2320/00—Control of display operating conditions
    • G09G2320/04—Maintaining the quality of display appearance
    • G09G2320/043—Preventing or counteracting the effects of ageing
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2330/00—Aspects of power supply; Aspects of display protection and defect management
    • G09G2330/02—Details of power systems and of start or stop of display operation
    • G09G2330/028—Generation of voltages supplied to electrode drivers in a matrix display other than LCD
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2330/00—Aspects of power supply; Aspects of display protection and defect management
    • G09G2330/04—Display protection
    • G09G2330/045—Protection against panel overheating

Abstract

검사 시스템은 제1 화소부 및 상기 제1 화소부와 인접한 제2 화소부, 상기 제1 및 제2 화소부들과 연결된 복수의 데이터 라인들을 포함하는 표시부, 상기 표시부를 둘러싸는 주변 영역에 배치되고 어레이 제어 신호에 기초하여 어레이 데이터 신호를 상기 복수의 데이터 라인들에 제공하는 어레이 검사부, 및 상기 주변 영역에 배치되고 점등 제어 신호에 기초하여 점등 데이터 신호를 상기 복수의 데이터 라인들에 제공하는 점등 검사부를 포함하는 표시 셀 및 블랙 영상 및 화이트 영상을 포함하는 검사 영상을 표시하는 구동 신뢰성 검사 모드에서, 상기 화이트 영상이 표시되는 구간에 상기 어레이 데이터 신호가 상기 복수의 데이터 라인들에 인가되는 것을 차단하는 어레이 제어 신호를 상기 어레이 검사부에 제공하고, 상기 블랙 영상이 표시되는 구간에 상기 점등 데이터 신호가 상기 복수의 데이터 라인들에 인가되는 것을 차단하는 점등 제어 신호를 상기 점등 검사부에 제공하는 검사 장치를 포함한다.

Description

검사 시스템 및 이를 이용한 표시 셀의 검사 방법{INSPECTION SYSTEM AND METHOD OF INSPECTING A DISPLAY CELL USING THE SAME}
본 발명은 검사 시스템 및 이를 이용한 표시 셀의 검사 방법에 관한 것으로, 보다 상세하게는 표시 셀 상태에서 구동 신뢰성 검사를 수행하기 위한 검사 시스템 및 이를 이용한 표시 셀의 검사 방법에 관한 것이다.
최근, 음극선관(Cathode Ray Tube)의 단점인 무게와 부피를 줄일 수 있는 각종 평판 표시 장치들이 개발되고 있다. 평판 표시 장치로는 액정 표시 장치(Liquid Crystal Display: LCD), 전계 방출 표시 장치(Field Emission Display FED), 플라즈마 표시 장치(Plasma Display Panel: PDP) 및 유기 발광 표시 장치(Organic Light Emitting Display: OLED) 등이 있다.
평판 표시 장치 중 유기 발광 표시 장치(OLED)는 전자와 정공의 재결합에 의하여 발광하는 유기 발광 다이오드(Organic Light Emitting Display: OLED)를 이용하여 영상을 표시한다. 이러한 유기 발광 표시 장치는 빠른 응답 속도를 가짐과 동시에 낮은 소비 전력으로 구동되기 때문에 차세대 디스플레이로 이용된다.
상기 유기 발광 표시 장치는 유기 발광 표시 패널을 포함하고, 상기 유기 발광 표시 패널은 모듈 공정 전의 표시 셀 상태에서 전기적 결함을 검사하는 어레이 검사 및 점등 결함을 검사하는 점등 검사를 수행한다.
상기 어레이 검사 및 점등 검사 이후, 모듈 공정이 수행된다. 상기 모듈 공정은 상기 유기 발광 표시 패널에 편광판, 보호 필름 및 구동 칩이 실장된 연성회로기판 등을 부착한다.
상기 모듈 공정 이후, 유기 발광 표시 장치는 화소 별 데이터 전압 제어가 가능하므로 신뢰성 평가를 위한 특정 신뢰성 검사 영상을 표시하고, 이를 이용하여 고온 평가, 수명 평가 및 잔상 평가와 같은 다양한 구동 신뢰성 평가를 수행한다.
본 발명의 일 목적은 표시 셀 상태에서 구동 신뢰성 검사를 수행하기 위한 검사 시스템을 제공하는 것이다.
본 발명의 다른 목적은 상기 검사 시스템을 이용한 표시 셀의 검사 방법을 제공하는 것이다.
상기 일 목적을 달성하기 위해, 본 발명의 실시예들에 따른 검사 시스템은 제1 화소부 및 상기 제1 화소부와 인접한 제2 화소부, 상기 제1 및 제2 화소부들과 연결된 복수의 데이터 라인들을 포함하는 표시부, 상기 표시부를 둘러싸는 주변 영역에 배치되고 어레이 제어 신호에 기초하여 어레이 데이터 신호를 상기 복수의 데이터 라인들에 제공하는 어레이 검사부, 및 상기 주변 영역에 배치되고 점등 제어 신호에 기초하여 점등 데이터 신호를 상기 복수의 데이터 라인들에 제공하는 점등 검사부를 포함하는 표시 셀 및 블랙 영상 및 화이트 영상을 포함하는 검사 영상을 표시하는 구동 신뢰성 검사 모드에서, 상기 화이트 영상이 표시되는 구간에 상기 어레이 데이터 신호가 상기 복수의 데이터 라인들에 인가되는 것을 차단하는 어레이 제어 신호를 상기 어레이 검사부에 제공하고, 상기 블랙 영상이 표시되는 구간에 상기 점등 데이터 신호가 상기 복수의 데이터 라인들에 인가되는 것을 차단하는 점등 제어 신호를 상기 점등 검사부에 제공하는 검사 장치를 포함한다.
일 실시예에 의하면, 상기 제1 화소부 및 상기 제2 화소부 각각은 제1 서브 화소, 제2 서브 화소, 제3 서브 화소 및 제4 서브 화소를 포함하고, 상기 제1 화소부의 제1 및 제2 서브 화소들은 제1 데이터 라인에 연결되고, 상기 제1 화소부의 제3 및 제4 서브 화소들은 제2 데이터 라인에 연결되고, 상기 제2 화소부의 제1 및 제2 서브 화소들은 제3 데이터 라인에 연결되고, 상기 제2 화소부의 제3 및 제4 서브 화소들은 제4 데이터 라인에 연결된다.
일 실시예에 의하면, 상기 어레이 검사부는 어레이 제어 신호를 전달하는 어레이 제어 라인, 제1 어레이 데이터 신호를 전달하는 제1 어레이 검사 라인, 제2 어레이 데이터 신호를 전달하는 제2 어레이 검사 라인, 상기 어레이 제어 신호에 응답하여 상기 제1 및 제2 데이터 라인들에 상기 제1 어레이 데이터 신호를 전달하는 제1 및 제2 어레이 트랜지스터들 및 상기 어레이 제어 신호에 응답하여 상기 제3 및 제4 데이터 라인들에 상기 제2 어레이 데이터 신호를 전달하는 제3 및 제4 어레이 트랜지스터들을 포함한다.
일 실시예에 의하면, 상기 제1 및 제2 서브 화소들은 서로 다른 컬러 광을 발광하고, 상기 제3 및 제4 서브 화소들은 서로 같은 컬러 광을 발광한다.
일 실시예에 의하면, 상기 점등 검사부는 제1 점등 제어 신호를 전달하는 제1 점등 제어 라인, 제2 점등 제어 신호를 전달하는 제2 점등 제어 라인, 제3 점등 제어 신호를 전달하는 제3 점등 제어 라인, 제1 점등 데이터 신호를 전달하는 제1 점등 검사 라인, 제2 점등 데이터 신호를 전달하는 제2 점등 검사 라인, 제3 점등 데이터 신호를 전달하는 제3 점등 검사 라인, 상기 제1 점등 제어 신호에 응답하여 상기 제1 점등 데이터 신호를 상기 제1 데이터 라인에 전달하는 제1 점등 트랜지스터, 상기 제2 점등 제어 신호에 응답하여 상기 제2 점등 데이터 신호를 상기 제1 데이터 라인에 전달하는 제2 점등 트랜지스터, 및 상기 제3 점등 제어 신호에 응답하여 상기 제3 점등 데이터 신호를 상기 제2 데이터 라인에 전달하는 제3 점등 트랜지스터를 포함한다.
일 실시예에 의하면, 상기 화이트 영상을 표시하는 구간에서 상기 어레이 제어 신호는 상기 어레이 트랜지스터들을 턴-오프 하는 오프 전압을 유지하고, 상기 제1 점등 제어 신호는 점등 트랜지스터를 턴-온 하는 온 전압과 턴-오프 하는 오프 전압을 교대로 반복하고, 상기 제2 점등 제어 신호는 상기 제1 점등 제어 신호와 반대로 온 전압과 오프 전압을 교대로 반복하고, 상기 제3 점등 제어 신호는 온 전압을 유지한다.
일 실시예에 의하면, 상기 블랙 영상을 표시하는 구간에서 상기 어레이 제어 신호는 어레이 트랜지스터를 턴-온 하는 온 전압을 유지하고, 상기 제1, 제2 및 제3 점등 제어 신호들은 점등 트랜지스터를 턴-오프 하는 오프 전압을 유지한다.
일 실시예에 의하면, 상기 어레이 데이터 신호는 블랙 계조의 블랙 데이터 전압이고, 상기 제1, 제2 및 제3 점등 데이터 신호는 화이트 계조의 서로 다른 컬러 데이터 전압이다.
일 실시예에 의하면, 상기 표시 셀의 주변 영역에 배치되고 상기 어레이 검사부와 상기 점등 검사부 사이에 배치되고, 복수의 데이터 라인들과 연결된 복수의 데이터 패드들을 포함하는 팬 아웃부 및 상기 팬 아웃부와 상기 점등 검사부 사이에 배치된 선택 제어부를 더 포함한다.
일 실시예에 의하면, 상기 선택 제어부는 상기 검사 장치로부터 제1 선택 제어 신호를 수신하는 제1 선택 제어 라인, 상기 검사 장치로부터 제2 선택 제어 신호를 수신하는 제2 선택 제어 라인, 상기 제1 선택 제어 신호에 응답하여 데이터 패드와 홀수 번째 데이터 라인을 연결하는 제1 선택 트랜지스터, 및 상기 제2 선택 제어 신호에 응답하여 상기 데이터 패드와 짝수 번째 데이터 라인을 연결하는 제2 선택 트랜지스터를 포함한다.
일 실시예에 의하면, 상기 화이트 영상을 표시하는 구간에서 상기 제1 및 제2 선택 제어 신호들은 선택 트랜지스터를 턴-오프 하는 오프 전압을 유지한다.
일 실시예에 의하면, 상기 블랙 영상을 표시하는 구간에서 상기 제1 및 제2 선택 제어 신호들은 선택 트랜지스터를 턴-온 하는 온 전압을 유지한다.
일 실시예에 의하면, 상기 어레이 제어 신호, 제1 어레이 검사 신호 및 제2 어레이 검사 신호를 수신하는 어레이 검사 패드부, 상기 제1, 제2 및 제3 점등 제어 신호들 및 상기 제1, 제2 및 제3 점등 데이터 신호들을 수신하는 점등 검사 패드부 및 상기 어레이 검사부와 상기 어레이 검사 패드부 사이에 배치되고, 상기 점등 검사부와 상기 점등 검사 패드부 사이에 배치되는 절단부를 더 포함한다.
상기 다른 목적을 달성하기 위해, 본 발명의 실시예들에 따른 제1 화소부 및 상기 제1 화소부와 인접한 제2 화소부, 상기 제1 및 제2 화소부들과 연결된 복수의 데이터 라인들을 포함하는 표시부, 상기 표시부를 둘러싸는 주변 영역에 배치되고 어레이 제어 신호에 기초하여 어레이 데이터 신호를 상기 복수의 데이터 라인들에 제공하는 어레이 검사부, 및 상기 주변 영역에 배치되고 점등 제어 신호에 기초하여 점등 데이터 신호를 상기 복수의 데이터 라인들에 제공하는 점등 검사부를 포함하는 표시 셀의 검사 방법은 블랙 영상 및 화이트 영상을 포함하는 검사 영상을 표시하는 구동 신뢰성 검사 모드시, 상기 화이트 영상이 표시되는 구간에 상기 어레이 데이터 신호가 상기 복수의 데이터 라인들에 인가되는 것을 차단하는 어레이 제어 신호를 상기 어레이 검사부에 제공하는 단계 및 상기 구동 신뢰성 검사 모드시, 상기 블랙 영상이 표시되는 구간에 상기 점등 데이터 신호가 상기 복수의 데이터 라인들에 인가되는 것을 차단하는 점등 제어 신호를 상기 점등 검사부에 제공하는 단계를 포함한다.
일 실시예에 의하면, 상기 화이트 영상이 표시되는 구간에 상기 점등 데이터 신호를 상기 복수의 데이터 라인들에 인가하는 단계 및 상기 블랙 영상이 표시되는 구간에 상기 어레이 데이터 신호를 상기 복수의 데이터 라인들에 인가하는 단계를 더 포함한다.
일 실시예에 의하면, 상기 어레이 검사부는 어레이 제어 신호를 전달하는 어레이 제어 라인, 제1 어레이 데이터 신호를 전달하는 제1 어레이 검사 라인, 제2 어레이 데이터 신호를 전달하는 제2 어레이 검사 라인, 상기 어레이 제어 신호에 응답하여 상기 제1 및 제2 데이터 라인들에 상기 제1 어레이 데이터 신호를 전달하는 제1 및 제2 어레이 트랜지스터들 및 상기 어레이 제어 신호에 응답하여 상기 제3 및 제4 데이터 라인들에 상기 제2 어레이 데이터 신호를 전달하는 제3 및 제4 어레이 트랜지스터들을 포함하고, 상기 화이트 영상을 표시하는 구간에서 상기 어레이 제어 신호는 상기 어레이 트랜지스터들을 턴-오프 하는 오프 전압을 유지하고, 상기 블랙 영상을 표시하는 구간에서 상기 어레이 제어 신호는 상기 어레이 트랜지스터들을 턴-온 하는 온 전압을 유지한다.
일 실시예에 의하면, 상기 제1 및 제2 서브 화소들은 서로 다른 컬러 광을 발광하고, 상기 제3 및 제4 서브 화소들은 서로 같은 컬러 광을 발광한다.
일 실시예에 의하면, 상기 점등 검사부는 제1 점등 제어 신호를 전달하는 제1 점등 제어 라인, 제2 점등 제어 신호를 전달하는 제2 점등 제어 라인, 제3 점등 제어 신호를 전달하는 제3 점등 제어 라인, 제1 점등 데이터 신호를 전달하는 제1 점등 검사 라인, 제2 점등 데이터 신호를 전달하는 제2 점등 검사 라인, 제3 점등 데이터 신호를 전달하는 제3 점등 검사 라인, 상기 제1 점등 제어 신호에 응답하여 상기 제1 점등 데이터 신호를 상기 제1 데이터 라인에 전달하는 제1 점등 트랜지스터, 상기 제2 점등 제어 신호에 응답하여 상기 제2 점등 데이터 신호를 상기 제1 데이터 라인에 전달하는 제2 점등 트랜지스터, 및 상기 제3 점등 제어 신호에 응답하여 상기 제3 점등 데이터 신호를 상기 제2 데이터 라인에 전달하는 제3 점등 트랜지스터를 포함하고, 상기 화이트 영상을 표시하는 구간에서 상기 제1 점등 제어 신호는 점등 트랜지스터를 턴-온 하는 온 전압과 턴-오프 하는 오프 전압을 교대로 반복하고, 상기 제2 점등 제어 신호는 상기 제1 점등 제어 신호와 반대로 온 전압과 오프 전압을 교대로 반복하고, 상기 제3 점등 제어 신호는 온 전압을 유지하고, 상기 블랙 영상을 표시하는 구간에서 상기 제1, 제2 및 제3 점등 제어 신호들은 점등 트랜지스터를 턴-오프 하는 오프 전압을 유지한다.
일 실시예에 의하면, 어레이 검사 모드에서, 상기 어레이 제어 신호는 상기 어레이 트랜지스터들을 턴-온 하는 온 전압을 유지하고, 턴-온 된 상기 어레이 트랜지스터들에 의해 상기 복수의 데이터 라인들은 상기 제1 및 제2 어레이 데이터 신호들을 수신한다.
일 실시예에 의하면, 점등 검사 모드에서, 상기 제1 점등 제어 신호는 점등 트랜지스터를 턴-온 하는 온 전압과 턴-오프 하는 오프 전압을 교대로 반복하고, 상기 제2 점등 제어 신호는 상기 제1 점등 제어 신호와 반전된 온 전압과 오프 전압을 교대로 반복하고, 상기 제3 점등 제어 신호는 온 전압을 유지하고, 턴-온 된 제1, 제2 및 제3 점등 트랜지스터들에 의해 복수의 데이터 라인들은 상기 제1, 제2 및 제3 점등 데이터 신호들을 수신한다.
상기와 같은 본 발명의 실시예들에 따른 검사 시스템 및 이를 이용한 표시 셀의 검사 방법에 따르면, 표시 셀 상태에서, 어레이 검사 신호 및 점등 검사 신호를 이용하여 구동 신뢰성 검사를 수행함으로써 검사 공정을 간단화 할 수 있고, 제조 비용을 절감할 수 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 검사 시스템을 설명하기 위한 개념도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 셀의 개념도이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 구동 신뢰성 검사를 위한 신뢰성 검사 영상을 설명하기 위한 개념도이다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 셀의 구동 신뢰성 검사 방법을 설명하기 위한 검사 신호들의 파형도이다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 셀의 개념도이다.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 셀의 구동 신뢰성 검사 방법을 설명하기 위한 검사 신호들의 파형도이다.
도 7은 본 발명의 일 실시예에 따른 유기 발광 표시 장치의 제조 방법을 설명하기 위한 흐름도이다.
도 8은 도 7에 도시된 모듈 공정 후의 유기 발광 표시 장치의 사시도이다.
이하, 첨부한 도면들을 참조하여, 본 발명의 실시예를 보다 상세하게 설명하고자 한다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 셀의 검사 장치를 설명하기 위한 개념도이다.
도 1을 참조하면, 검사 시스템은 표시 셀(100) 및 검사 장치(200)를 포함한다.
상기 표시 셀(100)은 표시부(DA) 및 상기 표시부(DA)를 둘러싸는 복수의 주변 영역들을 포함한다.
상기 표시부(DA)는 복수의 데이터 라인들(DL) 및 복수의 스캔 라인들(SL) 및 복수의 서브 화소들(SP)을 포함한다.
상기 복수의 데이터 라인들(DL)은 제1 방향(D1)으로 배열되고, 각 데이터 라인(DL)은 상기 제1 방향(D1)과 교차하는 제2 방향(D2)으로 연장된다.
상기 복수의 스캔 라인들(SL)은 상기 제2 방향(D2)으로 배열되고, 각 스캔 라인(SL)은 상기 제1 방향(D1)으로 연장된다.
상기 복수의 서브 화소들(SP)은 복수의 화소 행들 및 복수의 화소 열들을 포함하는 매트릭스 형태로 배열되고, 각 서브 화소(SP)는 유기 발광 다이오드(OLED) 및 상기 유기 발광 다이오드(OLED)를 구동하기 위한 구동 소자들을 포함한다. 예를 들면, 상기 서브 화소(SP)는 유기 발광 다이오드(OLED), 구동 트랜지스터(T1), 스위칭 트랜지스터(T2) 및 저장 커패시터(CST)를 포함한다.
상기 유기 발광 다이오드(OLED)는 구동 트랜지스터(T1)에 연결된 애노드 전극과 제2 전원 전압(ELVSS)을 수신하는 캐소드 전극을 포함한다.
상기 구동 트랜지스터(T1)는 스위칭 트랜지스터(T2)와 연결된 제어 전극, 제1 전원 전압(ELVDD)을 수신하는 제1 전극 및 상기 애노드 전극과 연결된 제2 전극을 포함한다.
스위칭 트랜지스터(T2)는 스캔 라인(SL)에 연결된 제어 전극, 데이터 라인에 연결된 제1 전극 및 구동 트랜지스터(T1)의 제어 전극에 연결된 제2 전극을 포함한다.
상기 복수의 주변 영역들은 제1 주변 영역(PA1), 제2 주변 영역(PA2), 및 제3 주변 영역(PA3)을 포함한다.
상기 제1 주변 영역(PA1)은 상기 데이터 라인(DL)의 제1 단부와 인접한 영역에 정의될 수 있다. 상기 제1 주변 영역(PA1)에는 팬 아웃부(110), 어레이 검사부(120), 제1 절단부(130) 및 어레이 검사 패드부(140)를 포함한다.
상기 팬 아웃부(110)는 모듈 공정에서 구동 칩을 포함하는 연성회로기판과 연결되는 복수의 데이터 패드들(PD1, PD2, PD3, PD4)을 포함한다.
상기 어레이 검사부(120)는 상기 검사 장치(200)로부터 제공된 어레이 제어 신호에 기초하여 어레이 데이터 신호를 상기 복수의 데이터 라인들(DL)에 제공한다.
상기 제1 절단부(130)는 상기 모듈 공정 전에 절단 공정을 통해 절단되는 영역이다. 상기 제1 절단부(130)는 상기 절단 공정을 통해 상기 어레이 검사 패드부(140)와 상기 어레이 검사부(120)를 전기적으로 절연된다.
상기 어레이 검사 패드부(140)는 상기 어레이 검사부(120)와 연결되고, 상기 검사 장치(200)로부터 제공된 어레이 제어 신호 및 어레이 데이터 신호를 수신한다.
상기 제2 주변 영역(PA2)은 상기 데이터 라인(DL)의 제1 단부와 마주하는 제2 단부와 인접한 영역에 정의될 수 있다. 상기 제2 주변 영역(PA2)에는 점등 검사부(150), 제2 절단부(160) 및 점등 검사 패드부(170)를 포함한다.
상기 점등 검사부(150)는 상기 검사 장치(200)로부터 제공된 점등 제어 신호에 기초하여 점등 데이터 신호를 상기 복수의 데이터 라인들(DL)에 제공한다.
상기 제2 절단부(160)는 상기 모듈 공정 전에 절단 공정을 통해 절단되는 영역이다. 상기 제2 절단부(160)는 절단 공정을 통해 상기 점등 검사 패드부(170)와 상기 점등 검사부(150)를 전기적으로 절연된다.
상기 점등 검사 패드부(170)는 상기 점등 검사부(150)와 연결되고, 상기 검사 장치(200)로부터 제공된 점등 제어 신호 및 점등 데이터 신호를 수신한다.
상기 검사 장치(200)는 검사 제어부(210), 검사 신호 생성부(230), 제1 검사 신호 출력부(240) 및 제2 검사 신호 출력부(270)를 포함한다.
상기 검사 제어부(210)는 복수의 검사 모드들에 대응하는 검사 신호를 생성하도록 상기 검사 신호 생성부(230)를 제어한다.
상기 검사 신호 생성부(230)는 검사 모드에 대응하는 검사 신호를 생성한다.
예를 들면, 상기 검사 신호 생성부(230)는 어레이 검사를 위해 어레이 검사 신호를 생성한다. 상기 어레이 검사 신호는 어레이 데이터 신호 및 상기 어레이 검사부(120)에 포함된 복수의 어레이 트랜지스터들의 턴-온 및 턴-오프를 제어하는 어레이 제어 신호를 포함한다. 상기 어레이 데이터 신호는 서브 화소에 포함된 트랜지스터가 P형 트랜지스터인 점을 고려하여 높은 전압 레벨을 갖는 블랙 계조의 블랙 데이터 전압일 수 있다.
예를 들면, 상기 검사 신호 생성부(230)는 점등 검사를 위해 점등 검사 신호를 생성한다. 상기 점등 검사 신호는 유기 발광 다이오드(OLED)를 발광하기 위한 특정 계조의 점등 데이터 신호 및 상기 점등 검사부(150)에 포함된 복수의 점등 트랜지스터들의 턴-온 및 턴-오프를 제어하는 점등 제어 신호를 포함한다. 상기 점등 데이터 신호는 화이트 계조의 컬러 데이터 전압일 수 있다.
예를 들면, 상기 검사 신호 생성부(230)는 상기 어레이 데이터 신호 및 상기 점등 데이터 신호를 생성하고, 구동 신뢰성 검사를 위한 신뢰성 검사 영상에 대응하는 상기 신뢰성 검사용 어레이 제어 신호 및 신뢰성 검사용 점등 제어 신호를 생성한다.
상기 구동 신뢰성 검사를 위해서 상기 표시 셀(100)의 표시부(DA)는 신뢰성 검사 영상을 표시한다. 상기 신뢰성 검사 영상은 화이트 영상과 블랙 영상을 포함한다.
따라서, 상기 신뢰성 검사용 어레이 제어 신호는 상기 신뢰성 검사 영상을 표시하는 프레임 구간 중 화이트 영상이 표시되는 구간에 상기 어레이 데이터 신호가 상기 복수의 데이터 라인들에 인가되는 것을 차단한다. 상기 신뢰성 검사용 점등 제어 신호는 상기 신뢰성 검사 영상을 표시하는 프레임 구간 중 블랙 영상이 표시되는 구간에 상기 점등 데이터 신호가 상기 복수의 데이터 라인들에 인가되는 것을 차단한다.
상기 제3 주변 영역(PA3)은 상기 스캔 라인(SL)의 단부와 인접한 영역에 정의될 수 있다. 상기 제3 주변 영역(PA3)에는 상기 복수의 스캔 라인들(SL)에 제공되는 복수의 스캔 신호들을 생성하는 스캔 구동 회로가 집적될 수 있다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 셀의 개념도이다.
도 1 및 도 2를 참조하면, 상기 표시 셀(100)은 표시부(DA), 팬 아웃부(110), 어레이 검사부(120), 어레이 검사 패드부(140), 점등 검사부(150) 및 점등 검사 패드부(170)를 포함한다.
상기 표시부(DA)는 복수의 화소부들(PU1, PU2)을 포함한다.
예를 들면, 상기 표시부(DA)는 상기 제1 화소부(PU1)와 상기 제1 화소부(PU1)와 스캔 라인 방향으로 인접한 제2 화소부(PU2)를 포함한다.
제1 화소부(PU1)는 제1 서브 화소(SP1), 블루 화소(SP2), 제3 서브 화소(SP3) 및 제4 서브 화소(SP4)를 포함하는 펜타일(Pentile) 구조를 갖는다.
상기 제1 화소부(PU1)의 제1 서브 화소(SP1)는 제1 데이터 라인(DL1)과 제1 스캔 라인(SL1)에 연결되고, 레드 광을 발생하는 레드 화소일 수 있다.
상기 제1 화소부(PU1)의 제2 서브 화소(SP2)는 제1 데이터 라인(DL1)과 제2 스캔 라인(SL2)에 연결되고, 블루 광을 발생하는 블루 화소일 수 있다.
상기 제1 화소부(PU1)의 제3 서브 화소(SP3)는 제2 데이터 라인(DL2)과 제1 스캔 라인(SL1)에 연결되고, 그린 광을 발생하는 제1 그린 화소일 수 있다.
상기 제1 화소부(PU1)의 제4 서브 화소(SP4)는 제2 데이터 라인(DL2)과 제2 스캔 라인(SL2)에 연결되고, 그린 광을 발생하는 제2 그린 화소일 수 있다.
제2 화소부(PU2)는 제1 서브 화소(SP1), 블루 화소(SP2), 제3 서브 화소(SP3) 및 제4 서브 화소(SP4)를 포함하는 펜타일(Pentile) 구조를 갖는다.
상기 제2 화소부(PU2)의 제1 서브 화소(SP1)는 제3 데이터 라인(DL3)과 제1 스캔 라인(SL1)과 연결되고, 레드 광을 발생하는 레드 화소일 수 있다.
상기 제2 화소부(PU2)의 제2 서브 화소(SP2)는 제3 데이터 라인(DL3)과 제2 스캔 라인(SL2)과 연결되고, 블루 광을 발생하는 블루 화소일 수 있다.
상기 제2 화소부(PU2)의 제3 서브 화소(SP3)는 제4 데이터 라인(DL4)과 제1 스캔 라인(SL1)에 연결되고, 그린 광을 발생하는 제1 그린 화소일 수 있다.
상기 제2 화소부(PU2)의 제4 서브 화소(SP4)는 제4 데이터 라인(DL2)과 제2 스캔 라인(SL2)에 연결되고, 그린 광을 발생하는 제2 그린 화소일 수 있다.
상기 팬 아웃부(110)는 상기 복수의 데이터 라인들(DL1, DL2, DL3, DL4)과 각각 연결된 복수의 데이터 패드들(PD1, PD2, PD3, PD4)을 포함한다.
상기 어레이 검사부(120)는 제1 어레이 검사 라인(121), 제2 어레이 검사 라인(122), 어레이 제어 라인(123) 및 복수의 어레이 트랜지스터들(AT1, AT2, AT3, AT4)을 포함한다.
상기 제1 어레이 검사 라인(121)은 홀수 번째 화소부(PU1)와 연결된 제1 및 제2 데이터 라인들(DL1, DL2)에 제1 어레이 데이터 신호(TEST_DATA1)를 전달한다.
상기 제2 어레이 검사 라인(122)은 짝수 번째 화소부(PU2)와 연결된 제3 및 제4 데이터 라인들(DL3, DL4)에 제2 어레이 데이터 신호(TEST_DATA2)를 전달한다.
상기 어레이 제어 라인(123)은 상기 복수의 어레이 트랜지스터들(AT1, AT2, AT3, AT4)을 턴-온 하는 온 전압 및 턴-오프 하는 오프 전압을 포함하는 어레이 제어 신호(TEST_GATE_OS)를 전달한다.
제1 어레이 트랜지스터(AT1)는 상기 어레이 제어 라인(123)에 연결된 제어 전극, 제1 어레이 검사 라인(121)과 연결된 제1 전극 및 제1 데이터 패드(PD1)에 연결된 제2 전극을 포함한다.
제2 어레이 트랜지스터(AT2)는 상기 어레이 제어 라인(123)에 연결된 제어 전극, 제1 어레이 검사 라인(121)과 연결된 제1 전극 및 제2 데이터 패드(PD2)에 연결된 제2 전극을 포함한다.
제3 어레이 트랜지스터(AT3)는 상기 어레이 제어 라인(123)에 연결된제어 전극, 제2 어레이 검사 라인(122)과 연결된 제1 전극 및 제3 데이터 패드(PD3)에 연결된 제2 전극을 포함한다.
제4 어레이 트랜지스터(AT4)는 상기 어레이 제어 라인(123)에 연결된제어 전극, 제2 어레이 검사 라인(122)과 연결된 제1 전극 및 제4 데이터 패드(PD4)에 연결된 제2 전극을 포함한다.
상기 어레이 검사 패드부(140)는 제1 어레이 테스트 패드(141), 제2 어레이 테스트 패드(142) 및 어레이 제어 패드(143)를 포함하고, 제1 검사 신호 출력부(240)와 연결되어 어레이 검사 신호를 수신한다.
상기 제1 어레이 테스트 패드(141)는 제1 어레이 데이터 신호(TEST_DATA1)를 수신한다. 상기 제1 어레이 데이터 신호(TEST_DATA1)는 블랙 계조의 블랙 데이터 전압일 수 있다.
상기 제2 어레이 테스트 패드(142)는 제2 어레이 데이터 신호(TEST_DATA2)를 수신한다. 상기 제2 어레이 데이터 신호(TEST_DATA2)는 블랙 계조의 블랙 데이터 전압일 수 있다.
상기 어레이 제어 패드(143)는 어레이 제어 신호(TEST_GATE_OS)를 수신한다. 상기 어레이 제어 신호(TEST_GATE_OS)는 어레이 검사 모드 및 구동 신뢰성 모드에서 서로 다르게 설정될 수 있다.
예를 들면, 어레이 검사 모드에서, 상기 어레이 제어 신호(TEST_GATE_OS)는 상기 복수의 어레이 트랜지스터들(AT1, AT2, AT3, AT4)에 턴-온하기 위한 온 전압을 유지하는 직류 신호일 수 있다.
화이트 영상과 블랙 영상을 포함하는 신뢰성 검사 영상을 표시하는 구동 신뢰성 검사 모드에서, 상기 어레이 제어 신호(TEST_GATE_OS)는 상기 화이트 영상을 표시하는 구간에서는 상기 복수의 어레이 트랜지스터들(AT1, AT2, AT3, AT4)을 턴-오프 하는 오프 전압을 유지하는 직류 신호를 갖고, 상기 블랙 영상에 표시하는 구간에서는 상기 복수의 어레이 트랜지스터들(AT1, AT2, AT3, AT4)을 턴-온 하는 온 전압을 유지하는 직류 신호를 갖는다.
상기 점등 검사부(150)는 제1 점등 검사 라인(151), 제2 점등 검사 라인(152), 제3 점등 검사 라인(153), 제1 점등 제어 라인(154), 제2 점등 제어 라인(155), 제6 점등 제어 라인(156) 및 복수의 점등 트랜지스터들(ET1, ET2, ET3, ET4, ET5, ET6)을 포함한다.
상기 제1 점등 검사 라인(151)은 복수의 데이터 라인들 중 홀수 번째 데이터 라인(DL1, DL3)에 제1 점등 데이터 신호(DC_R)를 전달한다.
상기 제2 점등 검사 라인(152)은 복수의 데이터 라인들 중 홀수 번째 데이터 라인(DL1, DL3)에 제2 점등 데이터 신호(DC_B)를 전달한다.
상기 제3 점등 검사 라인(153)은 복수의 데이터 라인들 중 짝수 번째 데이터 라인(DL2, DL4)에 제3 점등 데이터 신호(DC_G)를 전달한다.
상기 제1 점등 제어 라인(154)은 상기 복수의 점등 트랜지스터들(ET1, ET2, ET3, ET4, ET5, ET6) 중 제3k-2 점등 트랜지스터(ET1, ET4)에 턴-온 및 턴-오프를 제어하는 제1 점등 제어 신호(TEST_GATE_R)를 전달한다(여기서, k는 1, 2, 3..와 같은 자연수).
상기 제2 점등 제어 라인(155)은 상기 복수의 점등 트랜지스터들(ET1, ET2, ET3, ET4, ET5, ET6) 중 제3k-1 점등 트랜지스터(ET2, ET5)에 턴-온 및 턴-오프를 제어하는 제2 점등 제어 신호(TEST_GATE_B)를 전달한다.
상기 제6 점등 제어 라인(156)은 상기 복수의 점등 트랜지스터들(ET1, ET2, ET3, ET4, ET5, ET6) 중 제3k 점등 트랜지스터(ET3, ET6)에 턴-온 및 턴-오프를 제어하는 제3 점등 제어 신호(TEST_GATE_G)를 전달한다.
제1 점등 트랜지스터(ET1)는 제1 점등 제어 라인(154)에 연결된 제어 전극, 제1 점등 검사 라인(151)에 연결된 제1 전극 및 제1 데이터 라인(DL1)에 연결된 제2 전극을 포함한다.
제2 점등 트랜지스터(ET2)는 제2 점등 제어 라인(155)에 연결된 제어 전극, 제2 점등 검사 라인(152)에 연결된 제1 전극 및 제1 데이터 라인(DL1)에 연결된 제2 전극을 포함한다.
제3 점등 트랜지스터(ET3)는 제3 점등 제어 라인(153)에 연결된 제어 전극, 제3 점등 검사 라인(153)에 연결된 제1 전극 및 제2 데이터 라인(DL2)에 연결된 제2 전극을 포함한다.
제4 점등 트랜지스터(ET4)는 제1 점등 제어 라인(154)에 연결된 제어 전극, 제1 점등 검사 라인(151)에 연결된 제1 전극 및 제3 데이터 라인(DL3)에 연결된 제2 전극을 포함한다.
제5 점등 트랜지스터(ET5)는 제2 점등 제어 라인(155)에 연결된 제어 전극, 제2 점등 검사 라인(152)에 연결된 제1 전극 및 제3 데이터 라인(DL3)에 연결된 제2 전극을 포함한다.
제6 점등 트랜지스터(ET6)는 제3 점등 제어 라인(153)에 연결된 제어 전극, 제3 점등 검사 라인(153)에 연결된 제1 전극 및 제4 데이터 라인(DL4)에 연결된 제2 전극을 포함한다.
상기 점등 검사 패드부(170)는 제1 점등 테스트 패드(171), 제2 점등 테스트 패드(172), 제3 점등 테스트 패드(173), 제1 점등 제어 패드(174), 제2 점등 제어 패드(175) 및 제3 점등 제어 패드(176)를 포함한다.
상기 제1 점등 테스트 패드(171)는 제1 점등 데이터 신호(DC_R)를 수신한다. 상기 제1 점등 데이터 신호(DC_R)는 화이트 계조의 레드 데이터 전압일 수 있다.
상기 제2 점등 테스트 패드(172)는 제2 점등 데이터 신호(DC_B)를 수신한다. 상기 제2 점등 데이터 신호(DC_B)는 화이트 계조의 블루 데이터 전압일 수 있다.
상기 제3 점등 테스트 패드(173)는 제3 점등 데이터 신호(DC_G)를 수신한다. 상기 제3 점등 데이터 신호(DC_G)는 화이트 계조의 그린 데이터 전압일 수 있다.
상기 제1 점등 제어 패드(174)는 제3k-2 점등 트랜지스터(ET1, ET4)를 턴-온 하는 온 전압 및 턴-오프 하는 오프 전압을 포함하는 제1 점등 제어 신호(TEST_GATE_R)를 수신할 수 있다.
점등 검사 모드에서, 상기 제1 점등 제어 신호(TEST_GATE_R)는 온 전압 및 오프 전압이 교대로 반복되는 교류 신호를 갖는다.
화이트 영상과 블랙 영상을 포함하는 신뢰성 검사 영상을 표시하는 구동 신뢰성 검사 모드에서, 상기 제1 점등 제어 신호(TEST_GATE_R)는 상기 화이트 영상을 표시하는 구간에서는 온 전압 및 오프 전압이 교대로 반복되는 교류 신호를 갖고, 상기 블랙 영상을 표시하는 구간에서는 오프 전압이 유지되는 직류 신호를 갖는다.
상기 제2 점등 제어 패드(175)는 제3k-1 점등 트랜지스터(ET2, ET5)를 턴-온 하는 온 전압 및 턴-오프 하는 오프 전압을 포함하는 제2 점등 제어 신호(TEST_GATE_B)를 수신한다.
점등 검사 모드에서, 상기 제2 점등 제어 신호(TEST_GATE_B)는 온 전압 및 오프 전압이 교대로 반복되고, 상기 제1 점등 제어 신호(TEST_GATE_R)에 대해서 반전된다.
화이트 영상과 블랙 영상을 포함하는 신뢰성 검사 영상을 표시하는 구동 신뢰성 검사 모드에서, 상기 제2 점등 제어 신호(TEST_GATE_B)는 상기 화이트 영상을 표시하는 구간에서는 온 전압 및 오프 전압이 교대로 반복되는 교류 신호를 갖고 상기 제1 점등 제어 신호(TEST_GATE_R)와 반전된다. 상기 블랙 영상을 표시하는 구간에서는 제3k-1 점등 트랜지스터(ET2, ET5)를 턴-오프 하는 오프 전압을 갖는다.
상기 제3 점등 제어 패드(176)는 제3k 점등 트랜지스터(ET3, ET6)를 턴-온 하는 온 전압 및 턴-오프 하는 오프 전압을 포함하는 제3 점등 제어 신호(TEST_GATE_G)를 수신한다.
점등 검사 모드에서, 상기 제3 점등 제어 신호(TEST_GATE_G)는 온 전압이 유지되는 직류 신호를 갖는다.
화이트 영상과 블랙 영상을 포함하는 신뢰성 검사 영상을 표시하는 구동 신뢰성 검사 모드에서, 상기 제3 점등 제어 신호(TEST_GATE_G)는 상기 화이트 영상을 표시하는 구간에서는 온 전압이 유지되는 직류 신호를 갖고, 상기 블랙 영상을 표시하는 블랙 구간에서는 오프 전압을 유지하는 직류 신호를 갖는다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 구동 신뢰성 검사를 위한 신뢰성 검사 영상을 설명하기 위한 개념도이다.
도 1 및 도 3을 참조하면, 구동 신뢰성 검사 모드에서, 표시부(DA)에 신뢰성 검사 영상을 표시한다.
신뢰성 검사 영상은 고온 구동 신뢰성 평가를 위한 제1 신뢰성 검사 영상(TEST_I1), 휘도 수명 평가를 위한 제2 신뢰성 검사 영상(TEST_I2) 및 잔상 평가를 위한 제3 신뢰성 검사 영상(TEST_I2)을 포함할 수 있다.
상기 제1 신뢰성 검사 영상(TEST_I1)은 화이트 화면에 블랙 가로 줄이 표시되는 영상이고, 상기 제2 신뢰성 검사 영상(TEST_I2)은 상부에 제1 블랙 영상(BI1), 중앙에 화이트 영상(WI) 및 하부에 제2 블랙 영상(BI2)이 표시되는 영상이고, 상기 제3 신뢰성 검사 영상(TEST_I3)은 상부에 블랙 영상(BI)을 하부에 화이트 영상(WI)이 표시되는 영상이다.
이와 같이, 신뢰성 검사 영상은 블랙 영상 및 화이트 영상을 포함할 수 있다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 셀의 구동 신뢰성 검사 방법을 설명하기 위한 검사 신호들의 파형도이다.
도 2 및 도 4를 참조하면, 검사 제어부(210)는 구동 신뢰성 검사를 위해 신뢰성 검사 영상을 표시하기 위해 검사 신호를 생성하도록 상기 검사 신호 생성부(230)를 제어한다.
예를 들어, 검사 제어부(210)는 도 3에 도시된 고온 구동 신뢰성 검사를 위해 표시 셀에 제1 신뢰성 검사 영상(TEST_I1)을 표시하기 위한 검사 신호를 생성하도록 상기 검사 신호 생성부(230)를 제어한다.
상기 검사 신호 생성부(230)는 상기 제1 신뢰성 검사 영상(TEST_I1)에 대응하는 복수의 어레이 데이터 신호들(TEST_DATA1, TEST_DATA2) 및 어레이 제어 신호(TEST_GATE_OS)를 생성하여 제1 검사 신호 출력부(240)에 제공한다.
상기 복수의 어레이 데이터 신호들(TEST_DATA1, TEST_DATA2)은 블랙 계조에 대응하는 블랙 데이터 전압(V_black)을 유지하는 직류 신호이다. 상기 어레이 제어 신호(TEST_GATE_OS)는 도 4에 도시된 파형도를 참조하여 후술한다.
상기 검사 신호 생성부(230)는 상기 제1 신뢰성 검사 영상(TEST_I1)에 대응하는 복수의 점등 데이터 신호들(DC_R, DC_B, DC_G) 및 복수의 점등 제어 신호들(TEST_GATE_R, TEST_GATE_B, TEST_GATE_G)를 생성하여 제2 검사 신호 출력부(270)에 제공한다.
도시되지 않았으나, 상기 검사 신호 생성부(230)는 상기 표시 셀(100)의 스캔 구동부(190)를 구동하기 위한 스캔 구동 신호, 예컨대, 개시펄스 및 복수의 클럭 신호들을 생성할 수 있다. 상기 스캔 구동 신호는 상기 제2 검사 신호 출력부(270)에 제공될 수 있다.
상기 복수의 점등 데이터 신호들(DC_R, DC_B, DC_G)은 화이트 계조에 대응하는 레드, 블루 및 그린 데이터 전압들(R_Vwhite, B_Vwhite, G_Vwhite)을 각각 유지하는 직류 신호들이다.
상기 복수의 점등 제어 신호들(TEST_GATE_R, TEST_GATE_B, TEST_GATE_G)은 도 4에 도시된 파형도를 참조하여 후술한다.
표시 셀(100)의 어레이 검사 패드부(140)는 상기 제1 검사 신호 출력부(240)를 통해 상기 복수의 어레이 데이터 신호들(TEST_DATA1, TEST_DATA2) 및 어레이 제어 신호(TEST_GATE_OS)를 수신한다.
표시 셀(100)의 점등 검사 패드부(170)는 상기 제2 검사 신호 출력부(270)를 통해 복수의 점등 데이터 신호들(DC_R, DC_B, DC_G) 및 복수의 점등 제어 신호들(TEST_GATE_R, TEST_GATE_B, TEST_GATE_G)을 수신한다.
도시되지 않았으나, 상기 점등 검사 패드부(170)는 상기 스캔 구동 신호를 수신할 수 있다. 상기 스캔 구동 신호는 상기 스캔 구동부(190)에 제공되고, 이에 따라서 상기 스캔 구동부(190)는 복수의 스캔 라인들에 제공되는 복수의 스캔 신호들을 생성할 수 있다.
도 3에 도시된 제1 신뢰성 검사 영상(TEST_I1)은 상부 영역에 표시되는 제1 화이트 영상(WI1)과 하부 영역에 표시되는 제2 화이트 영상(WI2) 및 상기 제1 및 제2 화이트영상들(WI1, WI2) 사이에 표시되는 블랙 가로 줄에 대응하는 블랙 영상(BI)을 포함한다.
상기 제1 신뢰성 검사 영상(TEST_I1)을 표시하는 프레임 구간은 제1 화이트 영상(WI1)을 표시하는 제1 구간(T_WI1), 블랙 영상(BI)을 표시하는 제2 구간(T_BI) 및 제2 신뢰성 검사 영상(TEST_I2)을 표시하는 제3 구간(T_WI2)으로 구분된다.
상기 제1 화이트 영상(WI1)을 표시하는 제1 구간(T_WI1)을 참조하면, 제1 및 제2 어레이 데이터 신호들(TEST_DATA1, TEST_DATA2)로서, 블랙 계조의 블랙 데이터 전압(V_black)이 제1 및 제2 어레이 검사 라인들(121, 122)에 각각 인가된다.
오프 전압인 하이 전압을 갖는 어레이 제어 신호(TEST_GATE_OS)는 상기 어레이 제어 라인(123)에 인가된다.
따라서, 상기 복수의 어레이 트랜지스터들(AT1, AT2, AT3, AT4)은 하이 전압에 응답하여 턴-오프 되고, 상기 블랙 계조의 블랙 데이터 전압(V_black)이 상기 복수의 데이터 라인들(DL1, DL2, DL3, DL4)에 인가되는 것이 차단된다.
한편, 제1, 제2 및 제3 점등 데이터 신호들(DC_R, DC_B, DC_G)로서, 화이트 계조의 레드, 블루 및 그린 데이터 전압들(R_Vwhite, B_Vwhite, G_Vwhite)이 제1, 제2 및 제3 점등 검사 라인들(151, 152, 153)에 각각 인가된다. 상기 레드, 블루 및 그린 데이터 전압들(R_Vwhite, B_Vwhite, G_Vwhite)은 서로 다른 레벨을 가지거나 같은 레벨을 가질 수 있다.
상기 제1 구간(T_WI1)의 제1 수평 주기(H1)를 참조하면, 로우 전압을 갖는 제1 점등 제어 신호(TEST_GATE_R)는 제1 점등 제어 라인(154)에 인가되고, 하이 전압을 갖는 제2 점등 제어 신호(TEST_GATE_B)는 제2 점등 제어 라인(155)에 인가되고, 로우 전압을 갖는 제3 점등 제어 신호(TEST_GATE_G)는 제3 점등 제어 라인(156)에 인가된다.
따라서, 제1 점등 제어 라인(154)에 연결된 제3k-2 점등 트랜지스터(ET1, ET4)는 상기 로우 전압에 응답하여 턴-온 되고, 상기 화이트 계조의 레드 데이터 전압(R_Vwhite)은 제1 데이터 라인(DL1) 및 제3 데이터 라인(DL3)에 인가된다.
또한, 제2 점등 제어 라인(155)에 연결된 제3k-1 점등 트랜지스터(ET2, ET5)는 상기 하이 전압에 응답하여 턴-오프 되고, 상기 제2 점등 데이터 신호인 화이트 계조의 블루 데이터 전압(B_Vwhite)은 제1 데이터 라인(DL1) 및 제3 데이터 라인(DL3)에 인가되는 것이 차단된다.
또한, 제3 점등 제어 라인(156)에 연결된 제3k 점등 트랜지스터(ET3, ET6)는 상기 로우 전압에 응답하여 턴-온 되고, 상기 제3 점등 데이터 신호인 화이트 계조의 그린 데이터 전압(G_Vwhite)은 제2 데이터 라인(DL2) 및 제4 데이터 라인(DL4)에 인가된다.
상기 제1 수평 주기(H1)에서, 스캔 구동부로부터 서브 화소에 포함된 스위칭 트랜지스터를 턴-온 하는 온 전압인 로우 전압을 갖는 제1 스캔 신호(S1)가 제1 스캔 라인(SL1)에 인가된다.
따라서, 제1 스캔 라인(SL1)과 연결된 서브 화소들, 예컨대, 제1 화소부(PU1)의 레드 화소(SP1) 및 제1 그린 화소(SP3)와, 제2 화소부(PU2)의 레드 화소(SP1) 및 제1 그린 화소(SP3)는 화이트 계조의 레드 및 그린 데이터 전압이 인가될 수 있다.
상기 제1 구간(T_WI1)의 제2 수평 주기(H2)를 참조하면, 하이 전압을 갖는 제1 점등 제어 신호(TEST_GATE_R)는 제1 점등 제어 라인(154)에 인가되고, 로우 전압을 갖는 제2 점등 제어 신호(TEST_GATE_B)는 제2 점등 제어 라인(155)에 인가되고, 로우 전압을 갖는 제3 점등 제어 신호(TEST_GATE_G)는 제3 점등 제어 라인(156)에 인가된다.
따라서, 제1 점등 제어 라인(154)에 연결된 제3k-2 점등 트랜지스터(ET1, ET4)는 상기 하이 전압에 응답하여 턴-오프 되고, 상기 제1 점등 데이터 신호인 화이트 계조의 레드 데이터 전압(R_Vwhite)은 제1 데이터 라인(DL1) 및 제3 데이터 라인(DL3)에 인가되는 것이 차단된다.
또한, 제2 점등 제어 라인(155)에 연결된 제3k-1 점등 트랜지스터(ET2, ET5)는 상기 로우 전압에 응답하여 턴-온 되고, 상기 제2 점등 데이터 신호인 화이트 계조의 블루 데이터 전압(B_Vwhite)은 제1 데이터 라인(DL1) 및 제3 데이터 라인(DL3)에 인가된다.
또한, 제3 점등 제어 라인(156)에 연결된 제3k 점등 트랜지스터(ET3, ET6)는 상기 로우 전압에 응답하여 턴-온 되고, 상기 제3 점등 데이터 신호인 화이트 계조의 그린 데이터 전압(G_Vwhite)은 제2 데이터 라인(DL2) 및 제4 데이터 라인(DL4)에 인가된다.
상기 제2 수평 주기(H2)에서, 스캔 구동부로부터 로우 전압을 갖는 제2 스캔 신호(S2)가 제2 스캔 라인(SL2)에 인가된다.
따라서, 제2 스캔 라인(SL2)과 연결된 서브 화소들, 예컨대, 제1 화소부(PU1)의 블루 화소(SP2) 및 제2 그린 화소(SP4)와, 제2 화소부(PU2)의 블루 화소(SP2) 및 제2 그린 화소(SP4)는 화이트 계조의 블루 및 그린 데이터 전압이 인가될 수 있다.
이와 같은 방식으로, 상기 제1 구간(T_WI1) 동안 상기 표시 셀의 표시부(DA)에 제1 화이트 영상(WI1)을 표시할 수 있다.
블랙 영상(BI)을 표시하는 제2 구간(T_BI)을 참조하면, 하이 전압을 갖는 제1, 제2, 제3 점등 제어 신호(TEST_GATE_R, TEST_GATE_B, TEST_GATE_G)는 제1, 제2 및 제3 점등 제어 라인들(154, 155, 156)에 인가된다.
따라서, 복수의 점등 트랜지스터들(ET1, ET2, ET3, ET4, ET5, ET6)은 하이 전압에 응답하여 턴-오프 되고, 상기 제1, 제2 및 제3 점등 제어 라인들(154, 155, 156)에 인가된 화이트 계조의 레드, 블루 및 그린 데이터 전압들(R_Vwhite, B_Vwhite, G_Vwhite)은 상기 제1, 제2, 제3 및 제4 데이터 라인들(DL1, DL2, DL3, DL4)에 인가되는 것이 차단된다.
한편, 제1 및 제2 어레이 데이터 신호들(TEST_DATA1, TEST_DATA2)로서, 블랙 계조에 대응하는 블랙 데이터 전압(V_black)이 제1 및 제2 어레이 검사 라인들(121, 122)에 각각 인가된다.
로우 전압의 어레이 제어 신호(TEST_GATE_OS)가 상기 어레이 제어 라인(123)에 인가된다.
따라서, 상기 복수의 어레이 트랜지스터들(AT1, AT2, AT3, AT4)은 로우 전압에 응답하여 턴-온 되고, 상기 블랙 계조에 대응하는 블랙 데이터 전압(V_black)은 상기 복수의 데이터 라인들(DL1, DL2, DL3, DL4)에 인가된다.
상기 제2 구간(T_BI)의 제n 수평 주기(Hn)를 참조하면, 스캔 구동부로부터 로우 전압을 갖는 제n 스캔 신호(Sn)가 제n 스캔 라인에 인가된다. 따라서, 제n 스캔 라인과 연결된 서브 화소들, 예컨대, 레드 화소(SP1) 및 제1 그린 화소(SP3)는 블랙 계조의 블랙 데이터 전압(V_black)이 인가될 수 있다.
상기 제2 구간(T_BI)의 제n+1 수평 주기(Hn+1)를 참조하면, 스캔 구동부로부터 로우 전압을 갖는 제n+1 스캔 신호(Sn+1)가 제n+1 스캔 라인에 인가된다. 따라서, 제n+1 스캔 라인과 연결된 서브 화소들, 예컨대, 블루 화소(SP2) 및 제2 그린 화소(SP4)는 블랙 계조의 블랙 데이터 전압(V_black)이 인가될 수 있다.
이와 같은 방식으로, 블랙 영상을 표시하는 상기 제2 구간(T_BI) 동안 상기 복수의 점등 제어 신호들(TEST_GATE_R, TEST_GATE_B, TEST_GATE_R)을 오프 전압으로 유지시키고, 상기 어레이 제어 신호(TEST_GATE_OS)만 온 전압으로 유지시킴으로써 상기 복수의 데이터 라인들에 블랙 계조의 블랙 데이터 전압만 인가할 수 있다.
상기 제2 구간(T_BI) 동안 상기 표시 셀의 표시부(DA)에 블랙 영상(BI)을 표시할 수 있다.
제3 구간(T_WI2)을 참조하면, 블랙 계조의 블랙 데이터 전압(V_black)이 제1 및 제2 어레이 검사 라인들(121, 122)에 각각 인가된다.
오프 전압인 하이 전압을 갖는 상기 어레이 제어 신호(TEST_GATE_OS)가 상기 어레이 제어 라인(123)에 인가된다.
따라서, 상기 복수의 어레이 트랜지스터들(AT1, AT2, AT3, AT4)은 하이 전압에 응답하여 턴-오프 되고, 상기 블랙 계조에 대응하는 블랙 데이터 전압(V_black)은 상기 복수의 데이터 라인들(DL1, DL2, DL3, DL4)에 인가되는 것이 차단된다.
한편, 화이트 계조의 레드, 블루 및 그린 데이터 전압들(R_Vwhite, B_Vwhite, G_Vwhite)이 제1, 제2 및 제3 점등 검사 라인들(151, 152, 153)에 각각 인가된다.
상기 제3 구간(T_WI2)의 제m 수평 주기(Hm)를 참조하면, 로우 전압을 갖는 제1 점등 제어 신호(TEST_GATE_R)는 제1 점등 제어 라인(154)에 인가되고, 하이 전압을 갖는 제2 점등 제어 신호(TEST_GATE_B)는 제2 점등 제어 라인(155)에 인가되고, 로우 전압을 갖는 제3 점등 제어 신호(TEST_GATE_G)는 제3 점등 제어 라인(156)에 인가된다.
따라서, 제1 점등 제어 라인(154)에 연결된 제3k-2 점등 트랜지스터(ET1, ET4)는 상기 로우 전압에 응답하여 턴-온 되고, 상기 화이트 계조의 레드 데이터 전압(R_Vwhite)은 제1 데이터 라인(DL1) 및 제3 데이터 라인(DL3)에 인가된다.
또한, 제2 점등 제어 라인(155)에 연결된 제3k-1 점등 트랜지스터(ET2, ET5)는 상기 하이 전압에 응답하여 턴-오프 되고, 상기 제2 점등 데이터 신호인 화이트 계조의 블루 데이터 전압(B_Vwhite)은 제1 데이터 라인(DL1) 및 제3 데이터 라인(DL3)에 인가되는 것이 차단된다.
또한, 제3 점등 제어 라인(156)에 연결된 제3k 점등 트랜지스터(ET3, ET6)는 상기 로우 전압에 응답하여 턴-온 되고, 상기 제3 점등 데이터 신호인 화이트 계조의 그린 데이터 전압(G_Vwhite)은 제2 데이터 라인(DL2) 및 제4 데이터 라인(DL4)에 인가된다.
제m 수평 주기(Hm)에서, 스캔 구동부로부터 로우 전압을 갖는 제m 스캔 신호(Sm)가 제m 스캔 라인에 인가된다.
따라서, 제m 스캔 라인과 연결된 서브 화소들, 예컨대, 레드 화소(SP1) 및 제1 그린 화소(SP3)는 화이트 계조의 레드 및 그린 데이터 전압이 인가될 수 있다.
상기 제3 구간(T_WI2)의 제m+1 수평 주기(Hm+1)를 참조하면, 하이 전압을 갖는 제1 점등 제어 신호(TEST_GATE_R)는 제1 점등 제어 라인(154)에 인가되고, 로우 전압을 갖는 제2 점등 제어 신호(TEST_GATE_B)는 제2 점등 제어 라인(155)에 인가되고, 로우 전압을 갖는 제3 점등 제어 신호(TEST_GATE_G)는 제3 점등 제어 라인(156)에 인가된다.
따라서, 제1 점등 제어 라인(154)에 연결된 제3k-2 점등 트랜지스터(ET1, ET4)는 상기 하이 전압에 응답하여 턴-오프 되고, 상기 제1 점등 데이터 신호인 화이트 계조의 레드 데이터 전압(R_Vwhite)은 제1 데이터 라인(DL1) 및 제3 데이터 라인(DL3)에 인가되는 것이 차단된다.
또한, 제2 점등 제어 라인(155)에 연결된 제3k-1 점등 트랜지스터(ET2, ET5)는 상기 로우 전압에 응답하여 턴-온 되고, 상기 제2 점등 데이터 신호인 화이트 계조의 블루 데이터 전압(B_Vwhite)은 제1 데이터 라인(DL1) 및 제3 데이터 라인(DL3)에 인가된다.
또한, 제3 점등 제어 라인(156)에 연결된 제3k 점등 트랜지스터(ET3, ET6)는 상기 로우 전압에 응답하여 턴-온 되고, 상기 제3 점등 데이터 신호인 화이트 계조의 그린 데이터 전압(G_Vwhite)은 제2 데이터 라인(DL2) 및 제4 데이터 라인(DL4)에 인가된다.
제m+1 수평 주기(Hm+1)에서, 스캔 구동부로부터 로우 전압을 갖는 제m+1 스캔 신호(Sm+1)가 제m+1 스캔 라인에 인가된다.
따라서, 제m+1 스캔 라인(SLm+1)과 연결된 서브 화소들, 예컨대, 블루 화소(SP2) 및 제2 그린 화소(SP4)는 화이트 계조의 블루 및 그린 데이터 전압이 인가될 수 있다.
이와 같은 방식으로, 상기 제3 구간(T_WI) 동안 상기 표시 셀의 표시부(DA)에 제2 화이트 영상(WI2)을 표시할 수 있다.
이상에서 설명된 바와 같이, 표시 셀 상태에서, 신뢰성 검사 영상에 대응하여 어레이 제어 신호(TEST_GATE_OS) 및 점등 제어 신호(TEST_GATE_R, TEST_GATE_B, TEST_GATE_G)를 제어하여 상기 표시 셀에 상기 신뢰성 검사 영상을 표시함으로써 구동 신뢰성 검사를 수행할 수 있다.
이하에서는 동일한 도면 부호는 동일한 도면 부호를 부여하고 반복되는 설명은 생략한다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 셀의 개념도이다.
도 5를 참조하면, 상기 표시 셀(100A)은 표시부(DA), 팬 아웃부(110A), 어레이 검사부(120), 어레이 검사 패드부(140), 점등 검사부(150), 점등 검사 패드부(170A) 및 선택 제어부(180)를 포함한다.
본 실시예에 따르면, 상기 팬 아웃부(110A), 어레이 검사부(120), 어레이 검사 패드부(140), 점등 검사부(150), 점등 검사 패드부(170A) 및 선택 제어부(180)는 도 1에 도시된 표시 셀(100)의 제1 주변 영역(PA1)에 배치된다.
상기 점등 검사부(150)는 상기 표시부(DA)와 인접하게 배치되고, 상기 선택 제어부(180)는 상기 점등 검사부(150)와 인접하게 배치되고, 팬 아웃부(110A)는 상기 선택 제어부(180)와 인접하게 배치되고, 상기 어레이 검사부(120)는 상기 팬 아웃부(110A)와 인접하게 배치된다.
상기 점등 검사 패드부(170A) 및 상기 어레이 검사 패드부(140)는 상기 어레이 검사부(120)와 인접하게 배치된다.
상기 어레이 검사부(120)와 상기 점등 검사 패드부(170A) 사이 및 상기 어레이 검사부(120)와 상기 어레이 검사 패드부(140) 사이에는 절단부가 배치될 수 있다.
상기 표시부(DA)는 복수의 화소부들(PU1, PU2)을 포함한다.
상기 표시부(DA)는 상기 제1 화소부(PU1)와 상기 제1 화소부(PU1)와 스캔 라인 방향으로 인접한 제2 화소부(PU2)를 포함한다.
상기 팬 아웃부(110A)는 상기 어레이 검사부(120)와 상기 점등 검사부(150) 사이에 배치된다. 상기 팬 아웃부(110A)는 상기 복수의 데이터 라인들(DL1, DL2, DL3, DL4)에 대해 인접한 두 개의 데이터 라인들에 각각 연결된 복수의 데이터 패드들(PD1, PD2)을 포함한다.
예를 들면, 제1 데이터 패드(PD1)는 제1 데이터 라인(DL1)과 제2 데이터 라인(DL2)에 연결되고, 제2 데이터 패드(PD2)는 제3 데이터 라인(DL3)과 제4 데이터 라인(DL4)에 연결된다.
상기 어레이 검사부(120)는 제1 어레이 검사 라인(121), 제2 어레이 검사 라인(122), 어레이 제어 라인(123) 및 복수의 어레이 트랜지스터들(AT1, AT2)을 포함한다.
상기 제2 어레이 검사 라인(122)은 짝수 번째 화소부(PU2)와 연결된 제3 및 제4 데이터 라인들(DL3, DL4)에 제2 어레이 데이터 신호(TEST_DATA2)를 전달한다.
상기 어레이 제어 라인(123)은 상기 복수의 어레이 트랜지스터들(AT1, AT2, AT3, AT4)을 턴-온 하는 온 전압 및 턴-오프 하는 오프 전압을 포함하는 어레이 제어 신호(TEST_GATE_OS)를 전달한다.
제1 어레이 트랜지스터(AT1)는 상기 어레이 제어 라인(123)에 연결된제어 전극, 제1 어레이 검사 라인(121)과 연결된 제1 전극 및 제1 데이터 패드(PD1)에 연결된 제2 전극을 포함한다.
제2 어레이 트랜지스터(AT2)는 상기 어레이 제어 라인(123)에 연결된제어 전극, 제1 어레이 검사 라인(121)과 연결된 제1 전극 및 제2 데이터 패드(PD2)에 연결된 제2 전극을 포함한다.
상기 어레이 검사 패드부(140)는 제1 어레이 테스트 패드(141), 제2 어레이 테스트 패드(142) 및 어레이 제어 패드(143)를 포함하고, 제1 검사 신호 출력부(240)와 연결되어 어레이 검사 신호를 수신한다.
상기 점등 검사부(150)는 제1 점등 검사 라인(151), 제2 점등 검사 라인(152), 제3 점등 검사 라인(153), 제1 점등 제어 라인(154), 제2 점등 제어 라인(155), 제6 점등 제어 라인(156) 및 복수의 점등 트랜지스터들(ET1, ET2, ET3, ET4, ET5, ET6)을 포함한다.
상기 선택 제어부(180)는 복수의 선택 트랜지스터들(MT1, MT2), 제1 선택 제어 라인(181) 및 제2 선택 제어 라인(182)을 포함한다.
제1 선택 트랜지스터(MT1)는 제1 선택 제어 라인(181)과 연결된 제어 전극, 제1 데이터 패드(PD1)와 연결된 제1 전극, 홀수 번째 데이터 라인(DL1)과 연결된 제2 전극을 포함한다.
제2 선택 트랜지스터(MT2)는 제2 선택 제어 라인(182)과 연결된 제어 전극, 제2 데이터 패드(PD2)와 연결된 제1 전극, 짝수 번째 데이터 라인(DL2)과 연결된 제2 전극을 포함한다.
상기 제1 선택 제어 라인(181)은 상기 제1 선택 트랜지스터(MT1)를 턴-온 하는 온 전압 및 턴-오프 하는 오프 전압을 포함하는 제1 선택 제어 신호(CLA)를 전달한다.
상기 제2 선택 제어 라인(182)은 상기 제2 선택 트랜지스터(MT2)를 턴-온 하는 온 전압 및 턴-오프 하는 오프 전압을 포함하는 제2 선택 제어 신호(CLB)를 전달한다.
상기 점등 검사 패드부(170A)는 제1 점등 테스트 패드(171), 제2 점등 테스트 패드(172), 제3 점등 테스트 패드(173), 제1 점등 제어 패드(174), 제2 점등 제어 패드(175), 제3 점등 제어 패드(176), 제1 선택 제어패드(178) 및 제2 선택 제어 패드(179)를 포함한다.
상기 제1 선택 제어 패드(178)는 상기 제1 선택 제어 신호(CLA)를 수신한다. 상기 제1 선택 제어 신호(CLA)는 어레이 검사 모드 및 구동 신뢰성 모드에서 서로 다르게 설정될 수 있다.
상기 제2 선택 제어 패드(179)는 상기 제2 선택 제어 신호(CLB)를 수신한다. 상기 제2 선택 제어 신호(CLB)는 어레이 검사 모드 및 구동 신뢰성 모드에서 서로 다르게 설정될 수 있다.
예를 들면, 어레이 검사 모드에서, 상기 제1 및 제2 선택 제어 신호들(CLA, CLB)은 온 전압인 로우 전압을 유지하는 직류 신호일 수 있다.
상기 제1 및 제2 선택 제어 신호들(CLA, CLB)의 온 전압에 응답하여 상기 제1 및 제2 선택 트랜지스터들(MT1, MT2)이 턴-온 되고, 상기 어레이 검사 패드부(140)로부터 수신된 어레이 제어 신호(TEST_GATE_OS)에 응답하여 어레이 데이터 신호들(TEST_DATA1, TEST_DATA2)은 상기 복수의 데이터 라인들(DL1, DL2, DL3, DL4)에 인가될 수 있다.
점등 검사 모드에서, 상기 제1 및 제2 선택 제어 신호들(CLA, CLB)은 오프 전압인 하이 전압을 유지하는 직류 신호일 수 있다.
상기 제1 및 제2 선택 제어 신호들(CLA, CLB)의 오프 전압에 응답하여 상기 제1 및 제2 선택 트랜지스터들(MT1, MT2)이 턴-오프 되고, 상기 어레이 검사 패드부(140)로부터 수신된 어레이 데이터 신호들(TEST_DATA1, TEST_DATA2)이 상기 복수의 데이터 라인들(DL1, DL2, DL3, DL4)에 인가되는 것이 차단된다.
또한, 점등 검사 패드부(170)로부터 수신된 점등 제어 신호들(DC_R, DC_B, DC_G)에 응답하여 점등 데이터 신호들(TEST_GATE_R, TEST_GATE_B, TEST_GATE_G)은 상기 복수의 데이터 라인들(DL1, DL2, DL3, DL4)에 인가될 수 있다.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 셀의 구동 신뢰성 검사 방법을 설명하기 위한 검사 신호들의 파형도이다.
도 5 및 도 6을 참조하면, 본 실시예에 따른 표시 셀의 구동 신뢰성 검사 방법과 도 4에 설명된 표시 셀의 구동 신뢰성 검사 방법과 비교하면 제1 및 제2 선택 제어 신호들(CLA, CLB)을 제외하고는 나머지 검사 신호들은 실질적으로 동일하므로 이하에서는 반복되는 설명은 생략한다.
상기 제1 신뢰성 검사 영상(TEST_I1)을 표시하는 프레임 구간은 제1 화이트 영상(WI1)을 표시하는 제1 구간(T_WI1), 블랙 영상(BI)을 표시하는 제2 구간(T_BI) 및 제2 신뢰성 검사 영상(TEST_I2)을 표시하는 제3 구간(T_WI2)을 포함한다.
상기 제1 화이트 영상(WI1)을 표시하는 제1 구간(T_WI1) 및 제3 구간(T_WI2)을 참조하면, 상기 제1 및 제2 선택 제어 신호들(CLA, CLB)은 오프 전압인 하이 전압을 유지하는 직류 신호를 갖는다.
상기 제1 및 제2 선택 제어 신호들(CLA, CLB)의 오프 전압에 응답하여 상기 제1 및 제2 선택 트랜지스터들(MT1, MT2)이 턴-오프 되고, 어레이 데이터 신호들(TEST_DATA1, TEST_DATA2)이 상기 복수의 데이터 라인들(DL1, DL2, DL3, DL4)에 인가되는 것이 차단된다.
한편, 점등 검사 패드부(170)로부터 수신된 점등 제어 신호들(DC_R, DC_B, DC_G)에 응답하여 점등 데이터 신호들(TEST_GATE_R, TEST_GATE_B, TEST_GATE_G)인, 화이트 계조의 레드, 블루 및 그린 데이터 전압들(R_Vwhite, B_Vwhite, G_Vwhite)은 상기 복수의 데이터 라인들(DL1, DL2, DL3, DL4)에 인가될 수 있다.
화소부의 레드 화소, 블루 화소, 제1 그린 화소 및 제2 그린 화소들은 스캔 구동부로부터 로우 전압을 갖는 스캔 신호들에 응답하여 화이트 계조의 레드, 블루 및 그린 데이터 전압들(R_Vwhite, B_Vwhite, G_Vwhite)이 인가될 수 있다.
이와 같은 방식으로, 상기 제1 구간(T_WI1) 및 제3 구간(T_WI2) 동안 상기 표시 셀의 표시부(DA)에 제1 화이트 영상(WI1) 및 제2 화이트 영상(WI2)을 표시할 수 있다.
상기 블랙 영상(BI)을 표시하는 제2 구간(T_BI)을 참조하면, 상기 제1 및 제2 선택 제어 신호들(CLA, CLB)은 온 전압인 로우 전압을 유지하는 직류 신호를 갖는다.
상기 제1 및 제2 선택 제어 신호들(CLA, CLB)의 온 전압에 응답하여 상기 제1 및 제2 선택 트랜지스터들(MT1, MT2)이 턴-온 되고, 어레이 제어 신호(TEST_GATE_OS)의 로우 전압에 응답하여 어레이 데이터 신호들(TEST_DATA1, TEST_DATA2)인 블랙 계조의 블랙 데이터 전압(V_black)은 상기 복수의 데이터 라인들(DL1, DL2, DL3, DL4)에 인가될 수 있다.
화소부의 레드 화소, 블루 화소, 제1 그린 화소 및 제2 그린 화소들은 스캔 구동부로부터 로우 전압을 갖는 스캔 신호들에 응답하여 블랙 계조의 블랙 데이터 전압(V_black)이 인가될 수 있다.
한편, 하이 전압을 갖는 제1, 제2, 제3 점등 제어 신호(TEST_GATE_R, TEST_GATE_B, TEST_GATE_G)에 응답하여 복수의 점등 트랜지스터들(ET1, ET2, ET3, ET4, ET5, ET6)은 턴-오프 되고, 화이트 계조의 레드, 블루 및 그린 데이터 전압들(R_Vwhite, B_Vwhite, G_Vwhite)은 상기 제1, 제2, 제3 및 제4 데이터 라인들(DL1, DL2, DL3, DL4)에 인가되지 않는다.
이와 같은 방식으로, 블랙 영상을 표시하는 상기 제2 구간(T_BI) 동안 상기 복수의 점등 제어 신호들(TEST_GATE_R, TEST_GATE_B, TEST_GATE_R)을 오프 전압으로 유지시키고, 상기 어레이 제어 신호(TEST_GATE_OS) 및 선택 제어 신호들(CLA, CLB)만 온 전압으로 유지시킴으로써 상기 복수의 데이터 라인들에 블랙 계조의 블랙 데이터 전압만 인가할 수 있다. 상기 제2 구간(T_BI) 동안 상기 표시 셀의 표시부(DA)에 블랙 영상(BI)을 표시할 수 있다.
도 7은 본 발명의 일 실시예에 따른 유기 발광 표시 장치의 제조 방법을 설명하기 위한 흐름도이다. 도 8은 도 7에 도시된 모듈 공정 후의 유기 발광 표시 장치의 사시도이다.
도 1 및 도 7을 참조하면, 도 1에 도시된 표시 셀(100)이 완성되면 (단계 S110) 검사 장치(200)를 통해 상기 표시 셀(100)의 검사 공정을 진행한다.
예를 들면, 어레이 검사 공정을 진행한다(단계 S120).
상기 어레이 검사 공정을 위해 검사 장치(200)는 제1 검사 신호 출력부(240)를 통해 어레이 데이터 신호 및 어레이 제어 신호를 상기 표시 셀(100)의 어레이 검사 패드부(140)에 인가한다. 이때, 검사 장치(200)의 제2 검사 신호 출력부(270)는 점등 데이터 신호 및 점등 제어 신호는 출력하지 않는다.
상기 어레이 검사 공정을 통해 상기 표시부(DA)의 복수의 데이터 라인들 및 복수의 게이트 라인들과 같은 신호 라인들의 전기적 결함을 검사한다.
이어, 점등 검사 공정을 진행한다(단계 S130).
상기 점등 검사 공정을 위해 검사 장치(200)는 제2 검사 신호 출력부(270)를 통해 점등 데이터 신호 및 점등 제어 신호를 상기 표시 셀(100)의 점등 검사 패드부(140)에 인가한다. 이때, 검사 장치(200)의 제1 검사 신호 출력부(240)에는 어레이 데이터 신호 및 어레이 제어 신호는 출력하지 않는다.
상기 점등 검사 공정은 풀 화이트 계조의 데이터 전압을 인가하고, 화소부가 풀 화이트로 발광하는지에 대한 점등 결함을 검사한다.
이어, 구동 신뢰성 검사 공정을 진행한다(단계 S140).
상기 구동 신뢰성 검사 공정을 위해 검사 장치(200)는 설정된 신뢰성 검사 영상에 대응하는 어레이 데이터 신호, 어레이 제어 신호, 점등 데이터 신호 및 점등 제어 신호를 생성한다. 상기 검사 장치(200)는 제1 검사 신호 출력부(240)를 통해 어레이 데이터 신호 및 어레이 제어 신호를 상기 표시 셀(100)의 어레이 검사 패드부(140)에 인가하고, 제2 검사 신호 출력부(140)를 통해 점등 데이터 신호 및 점등 제어 신호를 상기 표시 셀(100)의 점등 검사 패드부(170)에 인가한다.
상기 구동 신뢰성 검사 방법은 도 4를 참조하여 설명된 바와 같이, 설정된 신뢰성 검사 영상에 대응하여 화이트 영상이 표시되는 구간에서 상기 어레이 검사 패드부(140)에는 오프 전압을 유지하는 직류 신호인 어레이 제어 신호가 인가되고, 상기 점등 검사 패드부(170)에는 온 전압과 오프 전압을 교대로 반복하는 교류 신호인 제1 및 제2 점등 제어 신호들 및 온 전압을 유지하는 직류 신호인 제3 점등 제어 신호가 인가된다.
또한, 설정된 신뢰성 검사 영상에 대응하여 블랙 영상이 표시되는 구간에서는 상기 어레이 검사 패드부(140)에는 온 전압을 유지하는 직류 신호인 어레이 제어 신호가 인가되고, 상기 점등 검사 패드부(170)에는 오프 전압을 유지하는 직류 신호인 상기 제1, 제2 및 제3 점등 제어 신호들이 인가된다.
따라서, 표시 셀(100)의 표시부(DA)에 설정된 신뢰성 검사 영상을 표시함으로써 구동 신뢰성 검사를 수행할 수 있다.
이와 같이, 상기 표시 셀 상태에서 어레이 검사, 점등 검사 및 구동신뢰성 검사를 모두 수행할 수 있다.
상기 어레이 검사, 점등 검사 및 구동 신뢰성 검사를 모두 수행한 후, 상기 표시 셀(100)의 절단부, 예컨대, 도 1에 도시된 제1 및 제2 절단부들(130, 160)을 따라서 상기 어레이 검사부(120)와 상기 어레이 검사 패드부(140) 사이 및 상기 점등 검사부(150)와 상기 점등 검사 패드부(170) 사이를 전기적 또는 물리적으로 분리하는 절단 공정을 수행한다(단계S150).
도 8을 참조하면, 상기 절단 공정 후, 표시 패널(1000)에 적어도 하나의 편광판(410, 420), 보호 필름(500) 및 구동 칩(610)이 실장된 연성회로기판(600) 등을 부착하는 모듈 공정을 수행한다(단계 S160).
이상의 실시예들에 따르면, 표시 셀 상태에서, 어레이 검사 신호 및 점등 검사 신호를 이용하여 구동 신뢰성 검사를 수행함으로써 검사 공정을 간단화 할 수 있고, 제조 비용을 절감할 수 있다.
본 발명은 표시 장치 및 이를 포함하는 다양한 장치 및 시스템에 적용될 수 있다. 따라서 본 발명은 휴대폰, 스마트 폰, PDA, PMP, 디지털 카메라, 캠코더, PC, 서버 컴퓨터, 워크스테이션, 노트북, 디지털 TV, 셋-탑 박스, 음악 재생기, 휴대용 게임 콘솔, 네비게이션 시스템, 스마트 카드, 프린터 등과 같은 다양한 전자 기기에 유용하게 이용될 수 있다.
상기에서는 본 발명의 바람직한 실시예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술분야의 숙련된 당업자는 하기의 특허청구범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 것이다.

Claims (20)

  1. 제1 화소부 및 상기 제1 화소부와 인접한 제2 화소부, 상기 제1 및 제2 화소부들과 연결된 복수의 데이터 라인들을 포함하는 표시부, 상기 표시부를 둘러싸는 주변 영역에 배치되고 어레이 제어 신호에 기초하여 어레이 데이터 신호를 상기 복수의 데이터 라인들에 제공하는 어레이 검사부, 및 상기 주변 영역에 배치되고 점등 제어 신호에 기초하여 점등 데이터 신호를 상기 복수의 데이터 라인들에 제공하는 점등 검사부를 포함하는 표시 셀; 및
    블랙 영상 및 화이트 영상을 포함하는 검사 영상을 표시하는 구동 신뢰성 검사 모드에서, 상기 화이트 영상이 표시되는 구간에 상기 어레이 데이터 신호가 상기 복수의 데이터 라인들에 인가되는 것을 차단하는 어레이 제어 신호를 상기 어레이 검사부에 제공하고, 상기 블랙 영상이 표시되는 구간에 상기 점등 데이터 신호가 상기 복수의 데이터 라인들에 인가되는 것을 차단하는 점등 제어 신호를 상기 점등 검사부에 제공하는 검사 장치를 포함하는 검사 시스템.
  2. 제1항에 있어서, 상기 제1 화소부 및 상기 제2 화소부 각각은 제1 서브 화소, 제2 서브 화소, 제3 서브 화소 및 제4 서브 화소를 포함하고,
    상기 제1 화소부의 제1 및 제2 서브 화소들은 제1 데이터 라인에 연결되고, 상기 제1 화소부의 제3 및 제4 서브 화소들은 제2 데이터 라인에 연결되고,
    상기 제2 화소부의 제1 및 제2 서브 화소들은 제3 데이터 라인에 연결되고, 상기 제2 화소부의 제3 및 제4 서브 화소들은 제4 데이터 라인에 연결된 것을 특징으로 하는 검사 시스템.
  3. 제2항에 있어서, 상기 어레이 검사부는
    어레이 제어 신호를 전달하는 어레이 제어 라인;
    제1 어레이 데이터 신호를 전달하는 제1 어레이 검사 라인;
    제2 어레이 데이터 신호를 전달하는 제2 어레이 검사 라인;
    상기 어레이 제어 신호에 응답하여 상기 제1 및 제2 데이터 라인들에 상기 제1 어레이 데이터 신호를 전달하는 제1 및 제2 어레이 트랜지스터들; 및
    상기 어레이 제어 신호에 응답하여 상기 제3 및 제4 데이터 라인들에 상기 제2 어레이 데이터 신호를 전달하는 제3 및 제4 어레이 트랜지스터들을 포함하는 검사 시스템.
  4. 제3항에 있어서, 상기 제1 및 제2 서브 화소들은 서로 다른 컬러 광을 발광하고,
    상기 제3 및 제4 서브 화소들은 서로 같은 컬러 광을 발광하는 것을 특징으로 하는 검사 시스템.
  5. 제3항에 있어서, 상기 점등 검사부는
    제1 점등 제어 신호를 전달하는 제1 점등 제어 라인;
    제2 점등 제어 신호를 전달하는 제2 점등 제어 라인;
    제3 점등 제어 신호를 전달하는 제3 점등 제어 라인;
    제1 점등 데이터 신호를 전달하는 제1 점등 검사 라인;
    제2 점등 데이터 신호를 전달하는 제2 점등 검사 라인;
    제3 점등 데이터 신호를 전달하는 제3 점등 검사 라인;
    상기 제1 점등 제어 신호에 응답하여 상기 제1 점등 데이터 신호를 상기 제1 데이터 라인에 전달하는 제1 점등 트랜지스터;
    상기 제2 점등 제어 신호에 응답하여 상기 제2 점등 데이터 신호를 상기 제1 데이터 라인에 전달하는 제2 점등 트랜지스터; 및
    상기 제3 점등 제어 신호에 응답하여 상기 제3 점등 데이터 신호를 상기 제2 데이터 라인에 전달하는 제3 점등 트랜지스터를 포함하는 검사 시스템.
  6. 제5항에 있어서, 상기 화이트 영상을 표시하는 구간에서
    상기 어레이 제어 신호는 상기 어레이 트랜지스터들을 턴-오프 하는 오프 전압을 유지하고,
    상기 제1 점등 제어 신호는 점등 트랜지스터를 턴-온 하는 온 전압과 턴-오프 하는 오프 전압을 교대로 반복하고,
    상기 제2 점등 제어 신호는 상기 제1 점등 제어 신호와 반대로 온 전압과 오프 전압을 교대로 반복하고,
    상기 제3 점등 제어 신호는 온 전압을 유지하는 것을 특징으로 하는 검사 시스템.
  7. 제6항에 있어서, 상기 블랙 영상을 표시하는 구간에서
    상기 어레이 제어 신호는 어레이 트랜지스터를 턴-온 하는 온 전압을 유지하고,
    상기 제1, 제2 및 제3 점등 제어 신호들은 점등 트랜지스터를 턴-오프 하는 오프 전압을 유지하는 것을 특징으로 하는 검사 시스템.
  8. 제6항에 있어서, 상기 어레이 데이터 신호는 블랙 계조의 블랙 데이터 전압이고,
    상기 제1, 제2 및 제3 점등 데이터 신호는 화이트 계조의 서로 다른 컬러 데이터 전압인 것을 특징으로 하는 검사 시스템.
  9. 제6항에 있어서, 상기 표시 셀의 주변 영역에 배치되고 상기 어레이 검사부와 상기 점등 검사부 사이에 배치되고, 복수의 데이터 라인들과 연결된 복수의 데이터 패드들을 포함하는 팬 아웃부; 및
    상기 팬 아웃부와 상기 점등 검사부 사이에 배치된 선택 제어부를 더 포함하는 검사 시스템.
  10. 제9항에 있어서, 상기 선택 제어부는
    상기 검사 장치로부터 제1 선택 제어 신호를 수신하는 제1 선택 제어 라인;
    상기 검사 장치로부터 제2 선택 제어 신호를 수신하는 제2 선택 제어 라인;
    상기 제1 선택 제어 신호에 응답하여 데이터 패드와 홀수 번째 데이터 라인을 연결하는 제1 선택 트랜지스터; 및
    상기 제2 선택 제어 신호에 응답하여 상기 데이터 패드와 짝수 번째 데이터 라인을 연결하는 제2 선택 트랜지스터를 포함하는 검사 시스템.
  11. 제10항에 있어서, 상기 화이트 영상을 표시하는 구간에서
    상기 제1 및 제2 선택 제어 신호들은 선택 트랜지스터를 턴-오프 하는 오프 전압을 유지하는 것을 특징으로 하는 검사 시스템.
  12. 제11항에 있어서, 상기 블랙 영상을 표시하는 구간에서
    상기 제1 및 제2 선택 제어 신호들은 선택 트랜지스터를 턴-온 하는 온 전압을 유지하는 것을 특징으로 하는 검사 시스템.
  13. 제6항에 있어서, 상기 어레이 제어 신호, 제1 어레이 검사 신호 및 제2 어레이 검사 신호를 수신하는 어레이 검사 패드부;
    상기 제1, 제2 및 제3 점등 제어 신호들 및 상기 제1, 제2 및 제3 점등 데이터 신호들을 수신하는 점등 검사 패드부; 및
    상기 어레이 검사부와 상기 어레이 검사 패드부 사이에 배치되고, 상기 점등 검사부와 상기 점등 검사 패드부 사이에 배치되는 절단부를 더 포함하는 검사 시스템.
  14. 제1 화소부 및 상기 제1 화소부와 인접한 제2 화소부, 상기 제1 및 제2 화소부들과 연결된 복수의 데이터 라인들을 포함하는 표시부, 상기 표시부를 둘러싸는 주변 영역에 배치되고 어레이 제어 신호에 기초하여 어레이 데이터 신호를 상기 복수의 데이터 라인들에 제공하는 어레이 검사부, 및 상기 주변 영역에 배치되고 점등 제어 신호에 기초하여 점등 데이터 신호를 상기 복수의 데이터 라인들에 제공하는 점등 검사부를 포함하는 표시 셀의 검사 방법에서,
    블랙 영상 및 화이트 영상을 포함하는 검사 영상을 표시하는 구동 신뢰성 검사 모드시, 상기 화이트 영상이 표시되는 구간에 상기 어레이 데이터 신호가 상기 복수의 데이터 라인들에 인가되는 것을 차단하는 어레이 제어 신호를 상기 어레이 검사부에 제공하는 단계; 및
    상기 구동 신뢰성 검사 모드시, 상기 블랙 영상이 표시되는 구간에 상기 점등 데이터 신호가 상기 복수의 데이터 라인들에 인가되는 것을 차단하는 점등 제어 신호를 상기 점등 검사부에 제공하는 단계를 포함하는 표시 셀의 검사 방법.
  15. 제14항에 있어서, 상기 화이트 영상이 표시되는 구간에 상기 점등 데이터 신호를 상기 복수의 데이터 라인들에 인가하는 단계; 및
    상기 블랙 영상이 표시되는 구간에 상기 어레이 데이터 신호를 상기 복수의 데이터 라인들에 인가하는 단계를 더 포함하는 표시 셀의 검사 방법.
  16. 제14항에 있어서, 상기 어레이 검사부는 어레이 제어 신호를 전달하는 어레이 제어 라인, 제1 어레이 데이터 신호를 전달하는 제1 어레이 검사 라인, 제2 어레이 데이터 신호를 전달하는 제2 어레이 검사 라인, 상기 어레이 제어 신호에 응답하여 제1 및 제2 데이터 라인들에 상기 제1 어레이 데이터 신호를 전달하는 제1 및 제2 어레이 트랜지스터들 및 상기 어레이 제어 신호에 응답하여 제3 및 제4 데이터 라인들에 상기 제2 어레이 데이터 신호를 전달하는 제3 및 제4 어레이 트랜지스터들을 포함하고,
    상기 화이트 영상을 표시하는 구간에서 상기 어레이 제어 신호는 상기 어레이 트랜지스터들을 턴-오프 하는 오프 전압을 유지하고,
    상기 블랙 영상을 표시하는 구간에서 상기 어레이 제어 신호는 상기 어레이 트랜지스터들을 턴-온 하는 온 전압을 유지하는 것을 특징으로 하는 표시 셀의 검사 방법.
  17. 제16항에 있어서, 상기 제1 및 제2 서브 화소들은 서로 다른 컬러 광을 발광하고,
    상기 제3 및 제4 서브 화소들은 서로 같은 컬러 광을 발광하는 것을 특징으로 하는 표시 셀의 검사 방법.
  18. 제17항에 있어서, 상기 점등 검사부는 제1 점등 제어 신호를 전달하는 제1 점등 제어 라인, 제2 점등 제어 신호를 전달하는 제2 점등 제어 라인, 제3 점등 제어 신호를 전달하는 제3 점등 제어 라인, 제1 점등 데이터 신호를 전달하는 제1 점등 검사 라인, 제2 점등 데이터 신호를 전달하는 제2 점등 검사 라인, 제3 점등 데이터 신호를 전달하는 제3 점등 검사 라인, 상기 제1 점등 제어 신호에 응답하여 상기 제1 점등 데이터 신호를 상기 제1 데이터 라인에 전달하는 제1 점등 트랜지스터, 상기 제2 점등 제어 신호에 응답하여 상기 제2 점등 데이터 신호를 상기 제1 데이터 라인에 전달하는 제2 점등 트랜지스터, 및 상기 제3 점등 제어 신호에 응답하여 상기 제3 점등 데이터 신호를 상기 제2 데이터 라인에 전달하는 제3 점등 트랜지스터를 포함하고,
    상기 화이트 영상을 표시하는 구간에서
    상기 제1 점등 제어 신호는 점등 트랜지스터를 턴-온 하는 온 전압과 턴-오프 하는 오프 전압을 교대로 반복하고, 상기 제2 점등 제어 신호는 상기 제1 점등 제어 신호와 반대로 온 전압과 오프 전압을 교대로 반복하고, 상기 제3 점등 제어 신호는 온 전압을 유지하고,
    상기 블랙 영상을 표시하는 구간에서 상기 제1, 제2 및 제3 점등 제어 신호들은 점등 트랜지스터를 턴-오프 하는 오프 전압을 유지하는 것을 특징으로 하는 표시 셀의 검사 방법.
  19. 제16항에 있어서, 어레이 검사 모드에서,
    상기 어레이 제어 신호는 상기 어레이 트랜지스터들을 턴-온 하는 온 전압을 유지하고,
    턴-온 된 상기 어레이 트랜지스터들에 의해 상기 복수의 데이터 라인들은 상기 제1 및 제2 어레이 데이터 신호들을 수신하는 것을 특징으로 하는 표시 셀의 검사 방법.
  20. 제16항에 있어서, 점등 검사 모드에서,
    제1 점등 제어 신호는 점등 트랜지스터를 턴-온 하는 온 전압과 턴-오프 하는 오프 전압을 교대로 반복하고, 제2 점등 제어 신호는 상기 제1 점등 제어 신호와 반전된 온 전압과 오프 전압을 교대로 반복하고, 제3 점등 제어 신호는 온 전압을 유지하고,
    턴-온 된 제1, 제2 및 제3 점등 트랜지스터들에 의해 복수의 데이터 라인들은 상기 제1, 제2 및 제3 점등 데이터 신호들을 수신하는 것을 특징으로 하는 표시 셀의 검사 방법.
KR1020180087548A 2018-07-27 2018-07-27 검사 시스템 및 이를 이용한 표시 셀의 검사 방법 KR102470210B1 (ko)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020180087548A KR102470210B1 (ko) 2018-07-27 2018-07-27 검사 시스템 및 이를 이용한 표시 셀의 검사 방법
US16/522,279 US11087653B2 (en) 2018-07-27 2019-07-25 Inspection system and method of inspecting a display cell using the same
CN201910680604.8A CN110853555B (zh) 2018-07-27 2019-07-26 检测系统及使用该检测系统检测显示单元的方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020180087548A KR102470210B1 (ko) 2018-07-27 2018-07-27 검사 시스템 및 이를 이용한 표시 셀의 검사 방법

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20200013187A KR20200013187A (ko) 2020-02-06
KR102470210B1 true KR102470210B1 (ko) 2022-11-24

Family

ID=69178233

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020180087548A KR102470210B1 (ko) 2018-07-27 2018-07-27 검사 시스템 및 이를 이용한 표시 셀의 검사 방법

Country Status (3)

Country Link
US (1) US11087653B2 (ko)
KR (1) KR102470210B1 (ko)
CN (1) CN110853555B (ko)

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111128063B (zh) * 2020-01-20 2021-03-23 云谷（固安）科技有限公司 显示面板的测试电路、方法及显示面板
KR102417201B1 (ko) * 2020-10-08 2022-07-06 고려대학교 산학협력단 열화 화소 셀의 실시간 검사 기능을 갖는 표시 패널의 검사 방법 및 표시 패널의 검사 장치
CN113109955B (zh) * 2021-04-14 2023-03-31 京东方科技集团股份有限公司 一种显示基板及显示装置、检测方法
CN115219580B (zh) * 2021-04-15 2024-04-02 川奇光电科技（扬州）有限公司 电泳显示层的检测方法
CN113327529B (zh) * 2021-05-26 2023-11-28 京东方科技集团股份有限公司 一种显示面板、像素检测方法和显示装置
CN113487989B (zh) * 2021-06-30 2022-08-23 长春希达电子技术有限公司 一种led显示模组检测方法及其检测系统
KR20230044067A (ko) * 2021-09-24 2023-04-03 삼성디스플레이 주식회사 표시 기판 및 표시 기판용 모기판
KR102594822B1 (ko) 2021-10-14 2023-10-30 (주)베러셀 장거리 신호 전송이 가능한 다중 셀 점등 신호기
CN114170949B (zh) * 2021-12-17 2023-09-05 合肥维信诺科技有限公司 显示模组及其驱动方法、显示装置

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20080054798A1 (en) 2006-08-30 2008-03-06 Jin-Tae Jeong Organic light emitting display device and mother substrate of the same
US20090201042A1 (en) 2006-07-17 2009-08-13 Scanimetrics Inc. Thin film transistor array having test circuitry

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4103544B2 (ja) 2002-10-28 2008-06-18 セイコーエプソン株式会社 有機ｅｌ装置
KR100708837B1 (ko) * 2004-05-24 2007-04-17 삼성에스디아이 주식회사 발광 표시 패널 어레이의 화소 검사 방법 및 그 구동장치
KR100648669B1 (ko) * 2004-05-25 2006-11-23 삼성에스디아이 주식회사 발광 표시 패널 어레이의 화소 검사 방법
KR20070077282A (ko) * 2006-01-23 2007-07-26 삼성전자주식회사 표시 장치, 액정 표시판 조립체, 및 표시 장치의 검사 방법
KR100749467B1 (ko) 2006-08-09 2007-08-14 삼성에스디아이 주식회사 유기발광표시장치 및 유기발광표시장치의 검사회로구동방법
KR101215513B1 (ko) * 2006-10-17 2013-01-09 삼성디스플레이 주식회사 게이트 온 전압/발광 다이오드 구동전압 발생부와, 이를포함하는 직류/직류 컨버터 및 이를 갖는 액정표시장치와,액정표시장치의 에이징 테스트 장치
KR101015312B1 (ko) * 2009-08-20 2011-02-15 삼성모바일디스플레이주식회사 유기전계발광 표시장치 및 그의 모기판
KR101064403B1 (ko) * 2009-10-07 2011-09-14 삼성모바일디스플레이주식회사 원장검사가 가능한 유기전계발광 표시장치의 모기판 및 그의 원장검사방법
KR102047005B1 (ko) * 2013-05-31 2019-11-21 삼성디스플레이 주식회사 유기 발광 표시 패널
KR102054849B1 (ko) * 2013-06-03 2019-12-12 삼성디스플레이 주식회사 유기 발광 표시 패널
KR102270083B1 (ko) * 2014-10-13 2021-06-29 삼성디스플레이 주식회사 유기 발광 표시 패널 및 테스트 방법
KR20160102644A (ko) * 2015-02-23 2016-08-31 삼성전자주식회사 불량 검출 방법과 이를 운용하는 디스플레이 모듈 및 전자 장치
KR102270632B1 (ko) * 2015-03-04 2021-06-30 삼성디스플레이 주식회사 표시 패널, 표시 장치 및 표시 패널의 구동 방법
KR102343803B1 (ko) * 2015-06-16 2021-12-29 삼성디스플레이 주식회사 표시장치 및 그의 검사방법

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20090201042A1 (en) 2006-07-17 2009-08-13 Scanimetrics Inc. Thin film transistor array having test circuitry
US20080054798A1 (en) 2006-08-30 2008-03-06 Jin-Tae Jeong Organic light emitting display device and mother substrate of the same

Also Published As

Publication number Publication date
CN110853555A (zh) 2020-02-28
CN110853555B (zh) 2024-02-02
US11087653B2 (en) 2021-08-10
KR20200013187A (ko) 2020-02-06
US20200035136A1 (en) 2020-01-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR102470210B1 (ko) 검사 시스템 및 이를 이용한 표시 셀의 검사 방법
KR102559087B1 (ko) 유기 발광 다이오드 디스플레이 장치
JP5787431B2 (ja) 有機電界発光表示装置及びその駆動方法
JP4537356B2 (ja) 有機電界発光表示装置及びその検査方法
US11514842B2 (en) LED based display panel including common LED driving circuit and display apparatus including the same
KR101812215B1 (ko) 표시 장치
KR102286393B1 (ko) 표시 장치
US9767732B2 (en) Display device
US8395609B2 (en) Organic light emitting display device and mother substrate for performing sheet unit test and testing method thereof
US11276339B2 (en) Display device and method of inspecting the same
KR20160108639A (ko) 표시 패널, 표시 장치 및 표시 패널의 구동 방법
KR20140133189A (ko) 유기 발광 표시 장치의 화소 및 유기 발광 표시 장치
JP2004325886A (ja) 電気光学装置、電気光学装置の駆動方法および電子機器
KR102322710B1 (ko) 표시 장치와 그의 본딩 저항 센싱 방법
EP2116990A1 (en) Organic light emitting display and method for driving the same
JP2012047894A (ja) 表示装置
KR20080060967A (ko) 유기전계발광표시장치 및 그 구동방법
CN113284463A (zh) 显示设备
KR20150078559A (ko) 표시장치
JP2002287683A (ja) 表示パネルとその駆動方法
CN110634441A (zh) Oled显示面板
KR20200049104A (ko) 유기발광 표시패널 및 이를 이용한 유기발광 표시장치
KR102652558B1 (ko) 표시장치
KR100612280B1 (ko) 표시 패널의 검사 장치
KR100599800B1 (ko) 표시 패널 및 그 검사 장치

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E701 Decision to grant or registration of patent right