CN109166504B - 测试电路及显示装置 - Google Patents

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Abstract

本申请公开一种测试电路及显示装置，测试电路包括N个第一测试衬垫、第二测试衬垫、测试模块、开关电路和控制模块，测试模块用于输出多个测试信号至N个第一测试衬垫和N个第二测试衬垫；开关电路，包括N个第一开关单元和N个第二开关单元；控制模块，用于控制N个第一开关单元单独导通或者控制N个第二开关单元单独导通以使多个所述数据信号输出至所述显示面板对应的数据线上进行显示面板测试，并根据所述显示面板点亮状态判断N个所述第一数据线或者N个所述第二数据线是否正常工作。本申请技术方案解决了在数据信号写入有问题时，无法得知是上端数据线异常还是下端数据线异常的问题。

Description

测试电路及显示装置
技术领域
本申请涉及液晶面板技术领域，特别涉及一种测试电路及显示装置。
背景技术
显示屏的工艺架构，以门极驱动设计来分，可以分为SOC(System on chip)和GOA(Gate driver on array)两种，GOA电路在面板设计上是一项重要技术，GOA电路是指直接制备在阵列基板上的扫描线驱动电路，GOA电路包括多级依次连接的移位寄存器，每个移位寄存器驱动一条扫描线，并为下一级移位寄存器提供开启信号，从而GOA电路整体上可实现使扫描线逐行开启的目的。GOA技术相比传统工艺，不仅节省了成本，同时由于可以省去栅极方向上的绑定工艺，对提升产能极为有利，并提高了显示面板的集成度。
对于大尺寸面板，一般采用双边GOA电路驱动，即在阵列基板两侧均设有GOA电路，一起驱动面板上的各行扫描线。当GOA电路的某个位置存在短接、断开等故障时，会将导致故障位置之后的各级移位寄存器不能正常工作，进而导致显示异常。在阵列基板生产过程中，当阵列基板上的功能模块存在缺陷时，显示过程中会出现各种与阵列基板有关的不良。例如，扫描线或数据线断线引起的显示不良，栅极驱动电路或源极驱动电路缺陷引起的显示不良，因此，阵列基板制成后需要对面板上的所有像素统一充电，即进行阵列综合检测(Array Test AT)，阵列综合检测可实现对信号线等导电线路进行检测，传统的阵列检测在待检测面板外设置多个测试衬垫，同时双边进行数据信号的写入，然后通过传感器感知面板上的像素强度，检测出像素的电学性不良，从而提高生产良率。
但是，因为检测信号是同时双端写入显示面板的，如果因为一边的数据信号写入有问题，可能无法得知是上端数据线出问题或是下端数据线有问题，因此可能出现误判。
申请内容
本申请的主要目的是提供一种测试电路，旨在解决在数据信号写入有问题时，无法得知是上端数据线异常还是下端数据线异常的问题。
为实现上述目的，本申请提出的一种测试电路，用于测试显示面板，所述显示面板具有N个第一数据线及和N个第二数据线，所述测试电路包括：
N个第一测试衬垫，设置为连接对应的N个所述第一数据线；
N个第二测试衬垫，设置为连接对应的N个所述第二数据线；
测试模块，用于输出测试显示面板的多个数据信号至N个所述第一测试衬垫和N个所述第二测试衬垫；
开关电路，包括N个第一开关单元和N个第二开关单元，N个所述第一开关单元一对一的设置于N个所述第一数据线上；N个所述第二开关单元一对一的设置于N个所述第二数据线上；
控制模块，用于控制N个所述第一开关单元单独导通或者控制N个所述第二开关单元单独导通，以使多个所述数据信号输出至显示面板对应的数据线上进行显示面板测试，并根据所述显示面板点亮状态判断N个所述第一数据线或者N个所述第二数据线是否正常工作。
可选地，所述测试电路还包括像素检测模块，所述像素检测模块设置在所述显示面板上，所述像素检测模块设置为检测N个所述第一开关单元单独导通或者N个所述第二开关单元单独导通时显示面板上的像素的电场强度或者像素亮度，并输出反馈信号至所述控制模块，以供所述控制模块判断N个所述第一数据线或者N个所述第二数据线是否正常工作。
可选地，所述控制模块具体用于：在所述测试模块输出数据信号时，输出第一使能信号至N个所述第一开关单元以使其导通以及输出第二使能信号至N个所述第二开关单元以使其关断，并接收所述像素检测模块输出的反馈信号与预设电场强度至或者预设像素亮度值比较，在所述反馈信号小于预设电场强度至或者预设像素亮度值时，判断N个所述第一数据线异常；以及，
输出第一使能信号至N个所述第二开关单元以使其导通以及输出第二使能信号至N个所述第一开关单元以使其关断，并接收所述像素检测模块输出的反馈信号与预设电场强度至或者预设像素亮度值比较，在所述反馈信号小于预设电场强度至或者预设像素亮度值时，判断N个所述第二数据线异常。
可选地，还包括第三测试衬垫和第四测试衬垫，N个所述第一开关单元的受控端与所述第三测试衬垫的信号输出端互连，N个所述第二开关单元的受控端与所述第四测试衬垫的信号输出端互连。
可选地，N个所述第一测试衬垫、N个所述第二测试衬垫、所述第三测试衬垫及所述第四测试衬垫并排且与所述显示面板平行设置。
可选地，所述控制模块与所述测试模块集成在电路板上。
可选地，所述控制模块包括电平输出单元及控制单元，所述电平输出单元的第一信号输出端与N个所述第一开关单元的受控端连接，所述电平输出单元的第二信号输出端与N个所述第二开关单元的受控端连接，所述电平输出单元的受控端与所述控制单元的控制端连接，所述控制单元的信号输入端与所述像素检测模块的信号输出端连接。
可选地，所述控制模块还与终端设备连接，所述控制模块将所述第一数据线的工作状态以及所述第二数据线的工作状态反馈至所述终端设备。
本发明还提出一种测试电路，用于测试显示面板，所述显示面板具有N个第一数据线及和N个第二数据线，所述测试电路包括：
N个第一测试衬垫，设置为连接对应的N个所述第一数据线；
N个第二测试衬垫，设置为连接对应的N个所述第二数据线；
测试模块，用于输出测试显示面板的多个数据信号至N个所述第一测试衬垫和N个所述第二测试衬垫；
开关电路，包括N个第一开关单元和N个第二开关单元，N个所述第一开关单元一对一的设置于N个所述第一数据线上；N个所述第二开关单元一对一的设置于N个所述第二数据线上；
控制模块，用于控制N个所述第一开关单元单独导通或者控制N个所述第二开关单元单独导通；
第三测试衬垫，用于供所述控制模块输出第一控制信号至N个所述第一开关单元以控制N个所述第一开关单元导通或者关断；
第四测试衬垫，用于供所述控制模块输出第二控制信号至N个所述第一开关单元以控制N个所述第二开关单元导通或者关断；
像素检测模块，设置为检测N个所述第一开关单元单独导通或者N个所述第二开关单元单独导通时显示面板上的像素的电场强度或者像素亮度，并输出反馈信号至所述控制模块，以供所述控制模块判断N个所述第一数据线或者N个所述第二数据线是否正常工作。
本发明还提出一种显示装置，该显示面板测试装置包括显示面板；
驱动电路；
其中，所述驱动电路包括如上所述的测试电路。
本申请技术方案通过采用N个第一测试衬垫、N个第二测试衬垫、测试模块、开关电路以及控制模块组成测试电路，测试模块通过N个第一测试衬垫输出数据信号至显示面板的N个第一数据线上以及通过N个第二测试衬垫输出数据信号至显示面板的N个第二数据线，以对显示面板像素进行充电。
开关电路包括对应设置于N个所述第一数据线上的N个所述第一开关单元以及设置于N个所述第二数据线上的N个所述第二开关单元，控制模块通过输出控制信号至开关电路使N个第一开关单元单独同时导通或者控制N个第二开关单元单独同时导通，从而实现对显示面板单边测试，并根据显示面板亮度判断N个第一数据线或者N个第二数据线的工作状态，从而解决了在数据信号写入有问题时，无法得知是上端数据线异常还是下端数据线异常的问题，并且在判断出第一数据线以及第二数据线的工作状态后，可对应进行修补，从而提高显示面板的良品率。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。
图1为本申请测试电路一实施例的功能模块示意图；
图2为本申请测试电路另一实施例的功能模块示意图；
图3为本申请显示装置一实施例的功能模块示意图。
本申请目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
具体实施方式
下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
需要说明，在本申请中涉及“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，全文中出现的“和/或”的含义为：包括三个并列的方案，以“A/B”为例，包括A方案，或B方案，或A和B同时满足的方案，另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本申请要求的保护范围之内。
本申请提出的一种测试电路，用于测试显示面板200，所述显示面板200具有N个第一数据线L1及和N个第二数据线L2。
如图1所示，图1为本申请测试电路一实施例的功能模块示意图，所述测试电路包括：
N个第一测试衬垫P1，设置为连接对应的N个所述第一数据线L1；
N个第二测试衬垫P2，设置为连接对应的N个所述第二数据线L2；
测试模块10，用于输出测试显示面板200的多个数据信号至N个所述第一测试衬垫P1和N个所述第二测试衬垫P2；
开关电路(图未示出)，包括N个第一开关单元21和N个第二开关单元22，N个所述第一开关单元21一对一的设置于N个所述第一数据线L1上；N个所述第二开关单元22一对一的设置于N个所述第二数据线L2上；
控制模块30，用于控制N个所述第一开关单元21单独导通或者控制N个所述第二开关单元22单独导通，以使多个所述数据信号输出至显示面板200对应的数据线上进行显示面板测试，并根据所述显示面板200像素点亮状态判断N个所述第一数据线L1或者N个所述第二数据线L2是否正常工作。
阵列基板制成后需要对显示面板200上的所有像素统一充电，即进行阵列综合检测(Array Test AT)，阵列综合检测可实现对信号线等导电线路进行检测，传统的阵列检测在待检测面板外设置多个测试衬垫，同时双边进行数据信号的写入，本实施例中，N个第一数据线L1及N个第二数据线L2分别从测试模块10接收数据信号对所有像素进行充电，第一数据线L1或者第二数据线L2为测试衬垫至显示面板200外边缘的数据线以及显示面板200内部的数据线总长，开关电路中的多个开关单元设置在测试衬垫以及显示面板200之间的数据线上，测试衬垫设置在显示面板200的尺寸之外，并在进行面板测试完毕后进行切割。
根据面板驱动架构的不同，第一测试衬垫P1及第二测试衬垫P2可以分布在显示面板200的四周、呈品子型或者分布在显示面板200的一边，具体可根据实际情况进行设计。
测试模块10用于在显示面板200进行阵列测试时输入数据信号对显示面板200上的像素进行充电，测试模块10通过探针与第一测试衬垫P1以及第二测试衬垫P2进行连接，需要说明的是，显示面板200在进行阵列综合检测时，为了减少测试板的体积，控制模块30可以与测试模块10集成在同一电路板上。
需要说明的是，开关电路中的N个第一开关单元21接收控制模块30输出的控制信号闭合时，N个第二开关单元22则需要保持断开，第一开关单元21与第二开关单元22的状态必须保持相反，从而对第一数据线L1及第二数据线L2进行单独测试，开关电路中的第一开关单元21及第二开关单元22均可采用具有关断能力的开关元器件或者开关电路，具体可根据实际情况进行设计。
测试电路工作时，栅极驱动电路即均处于正常工作状态，即GOA单元正常接收驱动信号，控制模块30控制N个第一开关单元21导通以及控制N个第二开关单元22断开，测试模块10通过N个第一测试衬垫P1输入数据信号至N个第一数据线L1内，并对与N个第一数据线L1连接的像素进行充电，由于第二数据线L2被关断，与第二数据线L2连接的像素均不工作，因此，当发现显示面板200没有点亮或者亮度较暗，则表示N个第一数据线L1出现异常，如果显示面板200正常点亮时，则表示N个第一数据线L1正常；
同理，控制模块30控制N个第二开关单元22导通以及控制N个第一开关单元21断开，测试模块10通过N个第二测试衬垫P2输入数据信号至N个第二数据线L2内，并对与N个第二数据线L2连接的像素进行充电，由于第一数据线L1被关断，与第一数据线L1连接的像素均不工作，因此，当发现显示面板200没有点亮或者亮度较暗，则表示N个第二数据线L2出现异常，如果显示面板200正常点亮时，则表示N个第二数据线L2正常。根据对N个第一开关单元21以及N个第二开关单元22单独关断或者导通，从而可对N个第一数据线L1以及N个第二数据线L2的工作状态进行判断，即可能存在的四种情况为：
(1)N个第一数据线L1与N个第二数据线L2均处于正常状态；(2)N个第一数据线L1处于正常状态，N个第二数据线L2处于异常状态；(3)N个第二数据线L2处于正常状态，N个第一数据线L1处于异常状态；(4)N个第一数据线L1与N个第二数据线L2均处于异常状态。
在判断出显示面板200的N个第一数据线L1以及N个第二数据线L2的工作状态后，即可对应进行阵列不良修复，通常采用激光加工的方式，从而提高显示面板200的良品率。
本申请技术方案通过采用N个第一测试衬垫P1、N个第二测试衬垫P2、测试模块10、开关电路以及控制模块30组成测试电路，测试模块10通过N个第一测试衬垫P1输出数据信号至显示面板200的N个第一数据线L1上以及通过N个第二测试衬垫P2输出数据信号至显示面板200的N个第二数据线L2，以对显示面板200像素进行充电。
开关电路包括对应设置于N个所述第一数据线L1上的N个所述第一开关单元21以及设置于N个所述第二数据线L2上的N个所述第二开关单元22，控制模块30通过输出控制信号至开关电路使N个第一开关单元21单独同时导通或者控制N个第二开关单元22单独同时导通，从而实现对显示面板200单边测试，并根据显示面板200亮度判断N个第一数据线L1或者N个第二数据线L2的工作状态，从而解决了在数据信号写入有问题时，无法得知是上端数据线异常还是下端数据线异常的问题，并且在判断出第一数据线L1以及第二数据线L2的工作状态后，可对应进行修补，从而提高显示面板200的良品率。
在一可选实施例中，所述测试电路还包括像素检测模块，所述像素检测模块设置在所述显示面板上，所述像素检测模块设置为检测N个所述第一开关单元单独导通或者N个所述第二开关单元单独导通时显示面板上的像素的电场强度或者像素亮度，并输出反馈信号至所述控制模块，以供所述控制模块判断N个所述第一数据线或者N个所述第二数据线是否正常工作。
像素检测模块40放置在显示面板200上，像素检测模块40可采用传感器感知显示面板200的像素的表面电场强度，或者采用采光盒等设备采集显示面板200表面亮度，可根据实际情况进行灵活选择，在此不做具体限制。
测试电路工作时，栅极驱动电路即均处于正常工作状态，即GOA单元正常接收驱动信号，控制模块30控制N个第一开关单元21导通以及控制N个第二开关单元22断开，测试模块10通过N个第一测试衬垫P1输入数据信号至N个第一数据线L1内，并对与N个第一数据线L1连接的像素进行充电，此时像素检测模块40检测像素的电场强度或者亮度，由于第二数据线L2被关断，与第二数据线L2连接的像素均不工作，因此，当像素检测模块40输出的反馈信号小于预设值时，则表示N个第一数据线L1出现异常，如果反馈信号大于预设值时，则表示N个第一数据线L1正常；
同理，控制模块30控制N个第二开关单元22导通以及控制N个第一开关单元21断开，测试模块10通过N个第二测试衬垫P2输入数据信号至N个第二数据线L2内，并对与N个第二数据线L2连接的像素进行充电，此时像素检测模块40检测像素的电场强度或者亮度，由于第一数据线L1被关断，与第一数据线L1连接的像素均不工作，因此，当像素检测模块40输出的反馈信号小于预设值时，则表示N个第二数据线L2出现异常，如果反馈信号大于预设值时，则表示N个第二数据线L2正常。
在一可选实施例中，所述控制模块30具体用于：
在所述测试模块10输出数据信号时，输出第一使能信号至N个所述第一开关单元21以使其导通以及输出第二使能信号至N个所述第二开关单元22以使其关断，并接收所述像素检测模块40输出的反馈信号与预设电场强度至或者预设像素亮度值比较，在所述反馈信号小于预设电场强度至或者预设像素亮度值时，判断N个所述第一数据线L1异常；以及，
输出第一使能信号至N个所述第二开关单元22以使其导通以及输出第二使能信号至N个所述第一开关单元21以使其关断，并接收所述像素检测模块40输出的反馈信号与预设电场强度至或者预设像素亮度值比较，在所述反馈信号小于预设电场强度至或者预设像素亮度值时，判断N个所述第二数据线L2异常。
本实施例中，控制模块30通常分两个步骤对N个第一开关单元21及N个第二开关单元22进行分别导通，并对连接的数据线进行分别测试，第一开关单元21可设置在显示面板200的上端或者下端，同理，第二开关单元22可设置在显示面板200的下端或者上端，第一使能信号可为高电平或者低电平，第二使能信号可为低电平或者高电平，测试电路工作时，栅极驱动电路均处于正常工作状态，控制模块30输出第一使能信号控制N个第一开关单元21导通以及输出第二使能信号控制N个第二开关单元22断开，假设此时第一使能信号为高电平，第二使能信号为低电平，测试模块10通过N个第一测试衬垫P1输入数据信号至N个第一数据线L1内，并对与N个第一数据线L1连接的像素进行充电，此时像素检测模块40检测像素的电场强度或者亮度，由于第二数据线L2被关断，与第二数据线L2连接的像素均不工作，因此，如果此时像素检测模块40输出的反馈信号小于预设值电场强度或者预设像素亮度值时，则表示N个第一数据线L1出现异常，如果反馈信号大于或者等于预设值电场强度或者预设像素亮度值时，则表示N个第一数据线L1正常；
在对N个第一测试线判定完毕后，控制模块30输出第二使能信号控制N个第一开关单元21关断以及输出第一使能信号控制N个第二开关单元22导通，测试模块10通过N个第二测试衬垫P2输入数据信号至N个第二数据线L2内，并对与N个第二数据线L2连接的像素进行充电，此时像素检测模块40检测像素的电场强度或者亮度，由于第一数据线L1被关断，与第一数据线L1连接的像素均不工作，因此，如果此时像素检测模块40输出的反馈信号小于预设值时，则表示N个第二数据线L2出现异常，如果反馈信号大于或者等于预设值电场强度或者预设像素亮度值时，则表示N个第二数据线L2正常。
在一可选实施例中，还包括第三测试衬垫P3和第四测试衬垫P4，N个所述第一开关单元21的受控端与所述第三测试衬垫P3的信号输出端互连，N个所述第二开关单元22的受控端与所述第四测试衬垫P4的信号输出端互连。
本实施例中，为了减少控制模块30的输出端口以及避免线路杂乱，在控制模块30分别通过第三测试衬垫P3以及第四测试衬垫P4输出控制信号至对应的第一开关单元21以及第二开关单元22，并且，N个第一开关单元21的受控端并联后与第三测试衬垫P3互连，N个第二开关单元22的受控端并联后与第四测试衬垫P4互连，从而达到简化线路结构以及降低设计成本的目的。
在一可选实施例中，N个所述第一测试衬垫P1、N个所述第二测试衬垫P2、所述第三测试衬垫P3及所述第四测试衬垫P4并排且与所述显示面板200平行设置。
本实施例中，多个测试衬垫均呈一排设置，并且设置在显示面板200的尺寸在外且平行与显示面板200，因此，控制模块30与第三测试衬垫P3及第四测试衬垫P4之间的连接线可设计为更简短，从而达到简化线路结构以及降低设计成本的目的。
在一可选实施例中，所述第一开关单元21及所述第二开关单元22均为MOS管。
本实施例中，各MOS管的栅极分别对应与第三测试衬垫P3及第四测试衬垫P4连接，测试衬垫输出高低电平以控制MOS管导通或者关断，各MOS管的漏极或者源极用于接收数据信号，并从各MOS管的源极或者漏极输出至显示面板200的各个像素中，进而为显示面板200的各像素进行同侧单独充电，MOS管的类型可以选择NMOS管或者PMOS管，可根据具体情况进行选择。
在一可选实施例中，所述开关单元为NMOS管。
本实施例中，各MOS管的栅极分别对应与第三测试衬垫P3及第四测试衬垫P4连接，测试衬垫输出高电平以控制MOS管导通，输出低电平控制MOS管关断，各MOS管的漏极或者用于接收数据信号，并从各MOS管的源极输出数据信号至显示面板200的各个像素中，进而为显示面板200的各像素进行同侧单独充电，各NOS管根据接收到的不同控制信号分别进行单侧导通或者关断，进而实现对数据线的单独检测。
如图2所示，图2为本申请测试电路另一实施例的功能模块示意图，在一可选实施例中，所述控制模块30包括电平输出单元31及控制单元32，所述电平输出单元31的第一信号输出端与N个所述第一开关单元21的受控端连接，所述电平输出单元31的第二信号输出端与N个所述第二开关单元22的受控端连接，所述电平输出单元31的受控端与所述控制单元32的控制端连接，所述控制单元32的信号输入端与所述像素检测模块40的信号输出端连接。
本实施例中，电平输出单元31受控于控制单元32输出的控制信号，电平输出单元31包括第一电平输出端及第二电平输出端，第一电平输出端通过第三测试衬垫P3与N个第一开关单元21的受控端连接，第二电平输出端通过第四测试衬垫P4与N个第二开关单元22的受控端连接，控制单元32用于接收像素检测模块40输出的反馈信号并与预设电场强度或者预设亮度值进行比较，控制单元32通过控制电平输出单元31输出不同的高低电平以控制第一开关单元21或者第二开关单元22单独导通或者关断，进而对第一数据线L1及第二数据线L2的工作状态进行判断，电平输出单元31可采用信号发生器、电平转换器或者其他电路或者元器件，控制单元32可采用微处理器、可编程控制器等。
进一步地，控制模块30还可与测试模块10集成在同一电路板上，或者集成在同一芯片内，从而可进一步简化测试电路的结构。
在一可选实施例中，所述控制模块30还与终端设备(图未示出)连接，所述控制模块30将所述第一数据线L1的工作状态以及所述第二数据线L2的工作状态反馈至所述终端设备。
本实施例中，在控制模块30通过分别驱动第一数据线L1对应的像素以及第二数据线L2对应的像素后，根据像素检测模块40输出的反馈信号判断出第一数据线L1以及第二数据线L2的工作状态后，控制模块30将第一数据线L1以及第二数据线L2的工作状态以1和0表示或以文字表示，例如当使用1和0表示时，1表示数据线正常，0表示数据线异常，并可输出对应的表格至终端设备，以使终端设备通过显示器显示，第一数据线L1与第二数据线L2根据不同状态控制模块30可输出1和1，1和0，0和1，0和0，测试人员根据数值即可判断哪一端的数据线出现异常，进而进行对应的修补，从而提高显示面板200的良品率。
本发明还提出一种测试电路，用于测试显示面板200，所述显示面板200具有N个第一数据线L1及和N个第二数据线L2，所述测试电路包括：
一种测试电路，用于测试显示面板200，所述显示面板200具有N个第一数据线L1及和N个第二数据线L2，其特征在于，所述测试电路包括：
N个第一测试衬垫P1，设置为连接对应的N个所述第一数据线L1；
N个第二测试衬垫P2，设置为连接对应的N个所述第二数据线L2；
测试模块10，用于输出测试显示面板200的多个数据信号至N个所述第一测试衬垫P1和N个所述第二测试衬垫P2；
开关电路，包括N个第一开关单元21和N个第二开关单元22，N个所述第一开关单元21一对一的设置于N个所述第一数据线L1上；N个所述第二开关单元22一对一的设置于N个所述第二数据线L2上；
控制模块30，用于控制N个所述第一开关单元21单独导通或者控制N个所述第二开关单元22单独导通；
第三测试衬垫P3，用于供所述控制模块30输出第一控制信号至N个所述第一开关单元21以控制N个所述第一开关单元21导通或者关断；
第四测试衬垫P4，用于供所述控制模块30输出第二控制信号至N个所述第一开关单元21以控制N个所述第二开关单元22导通或者关断；
像素检测模块40，设置为检测N个所述第一开关单元21单独导通或者N个所述第二开关单元22单独导通时显示面板200上的像素的电场强度或者像素亮度，并输出反馈信号至所述控制模块30，以供所述控制模块30判断N个所述第一数据线L1或者N个所述第二数据线L2是否正常工作。
如图3所示，图3为本申请显示装置一实施例的功能模块示意图，本申请还提出一种显示装置1000，该显示装置1000包括显示面板200和驱动电路300，其中，所述驱动电路300包括如上所述的测试电路，该测试电路的具体结构参照上述实施例，由于本驱动电路300采用了上述所有实施例的全部技术方案，因此至少具有上述实施例的技术方案所带来的所有有益效果，在此不再一一赘述。
驱动电路300输出驱动信号至显示面板200以对面板进行驱动，并可实现对显示面板200的N个第一数据线L1及和N个第二数据线L2进行检测，从而在判断出第一数据线L1以及第二数据线L2的工作状态后，可对应进行修补，从而提高显示面板200的良品率。
以上所述仅为本申请的优选实施例，并非因此限制本申请的专利范围，凡是在本申请的申请构思下，利用本申请说明书及附图内容所作的等效结构变换，或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本申请的专利保护范围内。

Claims (8)

1.一种测试电路，用于测试显示面板，所述显示面板具有N个第一数据线和N个第二数据线，其特征在于，所述测试电路包括：
N个第一测试衬垫，设置为连接对应的N个所述第一数据线；
N个第二测试衬垫，设置为连接对应的N个所述第二数据线；
测试模块，用于输出测试显示面板的多个数据信号至N个所述第一测试衬垫和N个所述第二测试衬垫；
开关电路，包括N个第一开关单元和N个第二开关单元，N个所述第一开关单元一对一的设置于N个所述第一数据线上；N个所述第二开关单元一对一的设置于N个所述第二数据线上；
控制模块，用于控制N个所述第一开关单元单独导通或者控制N个所述第二开关单元单独导通，以使多个所述数据信号输出至所述显示面板对应的数据线上进行显示面板测试，并根据所述显示面板点亮状态判断N个所述第一数据线或者N个所述第二数据线是否正常工作；
所述测试电路还包括像素检测模块，所述像素检测模块设置在所述显示面板上，所述像素检测模块设置为检测N个所述第一开关单元单独导通或者N个所述第二开关单元单独导通时显示面板上的像素的电场强度或者像素亮度，并输出反馈信号至所述控制模块，以供所述控制模块判断N个所述第一数据线或者N个所述第二数据线是否正常工作；
所述控制模块分别通过第三测试衬垫以及第四测试衬垫输出控制信号至对应的所述第一开关单元以及所述第二开关单元，并且，N个第一开关单元的受控端并联后与第三测试衬垫互连，N个第二开关单元的受控端并联后与第四测试衬垫互连；
所述控制模块通过分别驱动第一数据线对应的像素以及第二数据线对应的像素后，根据像素检测模块输出的反馈信号判断出第一数据线以及第二数据线的工作状态后，所述控制模块将第一数据线以及第二数据线的工作状态以1和0表示或以文字表示，并可输出对应的表格至终端设备，以使终端设备通过显示器显示。
2.如权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所述控制模块具体用于：
在所述测试模块输出数据信号时，输出第一使能信号至N个所述第一开关单元以使其导通以及输出第二使能信号至N个所述第二开关单元以使其关断，并接收所述像素检测模块输出的反馈信号与预设电场强度至或者预设像素亮度值比较，在所述反馈信号小于预设电场强度至或者预设像素亮度值时，判断N个所述第一数据线异常；以及，
输出第一使能信号至N个所述第二开关单元以使其导通以及输出第二使能信号至N个所述第一开关单元以使其关断，并接收所述像素检测模块输出的反馈信号与预设电场强度至或者预设像素亮度值比较，在所述反馈信号小于预设电场强度至或者预设像素亮度值时，判断N个所述第二数据线异常。
3.如权利要求1所述的测试电路，其特征在于，还包括第三测试衬垫和第四测试衬垫，N个所述第一开关单元的受控端与所述第三测试衬垫的信号输出端互连，N个所述第二开关单元的受控端与所述第四测试衬垫的信号输出端互连。
4.如权利要求2所述的测试电路，其特征在于，N个所述第一测试衬垫、N个所述第二测试衬垫、所述第三测试衬垫及所述第四测试衬垫并排且与所述显示面板平行设置。
5.如权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所述控制模块与所述测试模块集成在电路板上。
6.如权利要求1-5任意一项所述的测试电路，其特征在于，所述控制模块包括电平输出单元及控制单元，所述电平输出单元的第一信号输出端与N个所述第一开关单元的受控端连接，所述电平输出单元的第二信号输出端与N个所述第二开关单元的受控端连接，所述电平输出单元的受控端与所述控制单元的控制端连接，所述控制单元的信号输入端与所述像素检测模块的信号输出端连接。
7.如权利要求1-5任意一项所述的测试电路，其特征在于，所述控制模块还与终端设备连接，所述控制模块将所述第一数据线的工作状态以及所述第二数据线的工作状态反馈至所述终端设备。
8.一种显示装置，其特征在于，包括:
显示面板；
驱动电路；
其中，所述驱动电路包括如权利要求1-7任意一项所述的测试电路。
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