KR102059936B1 - 유기 발광 표시 장치 - Google Patents

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Abstract

유기 발광 표시 장치는 복수의 스캔 라인들 및 복수의 데이터 라인들에 연결된 복수의 픽셀들을 포함하는 표시부, 원장 검사 시 테스트 데이터 전압이 인가되는 테스트 데이터 라인, 원장 검사 시 제1 전압이 인가되고, 정상 구동 시 제2 전압이 인가되는 테스트 게이트 라인, 테스트 게이트 라인에 인가되는 제1 전압 또는 제2 전압에 응답하여 테스트 데이터 라인을 복수의 데이터 라인들에 선택적으로 연결하는 복수의 테스트 트랜지스터들, 제2 전압이 인가되는 내부 전압 라인, 및 정상 구동 시 테스트 게이트 라인에 손상이 발생하더라도 테스트 게이트 라인이 제2 전압을 유지하도록 내부 전압 라인을 테스트 게이트 라인에 연결하는 적어도 하나의 전압 유지 트랜지스터를 포함한다. 이에 따라, 테스트 게이트 라인에 손상이 발생하더라도 비정상적 화면을 표시하는 현상이 방지될 수 있다.

Description

유기 발광 표시 장치{ORGANIC LIGHT EMITTING DISPLAY DEVICE}
본 발명은 디스플레이 장치에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 원장 검사가 수행되는 유기 발광 표시 장치에 관한 것이다.
대량의 유기 발광 표시 장치를 보다 효율적으로 생산하기 위해, 다수의 유기 발광 표시 장치들의 패널들을 하나의 모기판 상에서 형성한 후 이를 개별적인 패널들로 절단(Scribing)하는 이른바, “원장 단위(Sheet Unit)”의 생산 방식이 도입되었다.
이와 같이 개별적으로 분리된 유기 발광 표시 장치들의 패널들에 대한 검사는 패널 단위의 검사 장비에서 각 패널마다 개별적으로 수행된다. 하지만 이 경우, 각각의 패널들을 따로 검사해야 하기 때문에 검사의 효율성이 떨어지게 된다. 이러한 검사 효율성의 악화의 문제를 해결하도록, 각각의 패널들이 모기판으로부터 분리되기 이전에 모기판 상태에서 다수의 유기 발광 표시 장치들의 패널들을 동시에 검사하는 이른바, “원장 검사” 방식이 도입되었다. 이러한 원장 검사는 모기판 상에 배치된 다수의 원장 배선들을 통하여 복수의 패널들로 전원들 및/또는 신호들을 공급함으로써 수행될 수 있다. 원장 검사는 검사 효율성을 향상시킬 수 있으나, 원장 검사를 위하여 배치된 테스트 라인들에 손상이 발생하는 경우, 유기 발광 표시 장치가 비정상적 화면을 표시하는 현상이 발생되는 문제가 있다.
본 발명의 일 목적은 원장 검사를 위한 테스트 라인들에 손상이 발생하더라도 비정상적 화면을 표시하는 현상을 방지할 수 있는 유기 발광 표시 장치를 제공하는 것이다.
다만, 본 발명의 해결하고자 하는 과제는 상기 언급된 과제에 한정되는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위에서 다양하게 확장될 수 있을 것이다.
본 발명의 일 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 실시예들에 따른 유기 발광 표시 장치는 복수의 스캔 라인들 및 복수의 데이터 라인들에 연결된 복수의 픽셀들을 포함하는 표시부, 원장 검사 시 테스트 데이터 전압이 인가되는 테스트 데이터 라인, 상기 원장 검사 시 제1 전압이 인가되고, 정상 구동 시 제2 전압이 인가되는 테스트 게이트 라인, 상기 테스트 게이트 라인에 인가되는 상기 제1 전압 또는 상기 제2 전압에 응답하여 상기 테스트 데이터 라인을 상기 복수의 데이터 라인들에 선택적으로 연결하는 복수의 테스트 트랜지스터들, 상기 제2 전압이 인가되는 내부 전압 라인, 및 상기 정상 구동 시 상기 테스트 게이트 라인에 손상이 발생하더라도 상기 테스트 게이트 라인이 상기 제2 전압을 유지하도록 상기 내부 전압 라인을 상기 테스트 게이트 라인에 연결하는 적어도 하나의 전압 유지 트랜지스터를 포함한다.
일 실시예에 의하면, 상기 적어도 하나의 전압 유지 트랜지스터는, 상기 원장 검사 시 상기 내부 전압 라인과 상기 테스트 게이트 라인의 연결을 차단하도록 턴-오프되고, 상기 정상 구동 시 상기 내부 전압 라인을 상기 테스트 게이트 라인에 연결하도록 턴-온될 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 유기 발광 표시 장치는, 상기 적어도 하나의 전압 유지 트랜지스터에 연결되고, 상기 원장 검사 시 상기 제2 전압이 인가되고, 상기 정상 구동 시 상기 제1 전압이 인가되는 제어 전압 라인을 더 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 적어도 하나의 전압 유지 트랜지스터는, 상기 제어 전압 라인에 연결된 게이트 단자, 상기 내부 전압 라인에 연결된 소스 단자, 및 상기 테스트 게이트 라인에 연결된 드레인 단자를 가질 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 적어도 하나의 전압 유지 트랜지스터는, 각각이 상기 제어 전압 라인에 연결된 게이트 단자, 상기 내부 전압 라인에 연결된 소스 단자, 및 상기 테스트 게이트 라인에 연결된 드레인 단자를 가지는 복수의 전압 유지 트랜지스터들을 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 적어도 하나의 전압 유지 트랜지스터는, 상기 제어 전압 라인에 연결된 게이트 단자, 상기 내부 전압 라인에 연결된 소스 단자, 및 상기 테스트 게이트 라인에 연결된 드레인 단자를 가지고, 상기 표시부로부터 제1 방향에 배치된 제1 전압 유지 트랜지스터, 및 상기 제어 전압 라인에 연결된 게이트 단자, 상기 내부 전압 라인에 연결된 소스 단자, 및 상기 테스트 게이트 라인에 연결된 드레인 단자를 가지고, 상기 표시부로부터 상기 제1 방향에 반대인 제2 방향에 배치된 제2 전압 유지 트랜지스터를 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 복수의 테스트 트랜지스터들은, 상기 원장 검사 시 상기 테스트 게이트 라인을 통하여 인가되는 상기 제1 전압에 응답하여 상기 테스트 데이터 라인을 상기 복수의 데이터 라인들에 연결하고, 상기 정상 구동 시 상기 테스트 게이트 라인을 통하여 인가되는 상기 제2 전압에 응답하여 상기 테스트 데이터 라인과 상기 복수의 데이터 라인들의 연결을 차단할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 복수의 테스트 트랜지스터들 및 상기 적어도 하나의 전압 유지 트랜지스터는 PMOS 트랜지스터들로 구현될 수 있다. 이 경우, 상기 제1 전압은 로우 게이트 전압이고, 상기 제2 전압은 하이 게이트 전압일 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 복수의 테스트 트랜지스터들 및 상기 적어도 하나의 전압 유지 트랜지스터는 NMOS 트랜지스터들로 구현될 수 있다. 이 경우, 상기 제1 전압은 하이 게이트 전압이고, 상기 제2 전압은 로우 게이트 전압일 수 있다.
본 발명의 일 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 실시예들에 따른 유기 발광 표시 장치는 복수의 스캔 라인들 및 복수의 데이터 라인들에 연결된 복수의 픽셀들을 포함하는 표시부, 원장 검사 시 테스트 데이터 전압이 인가되는 테스트 데이터 라인, 상기 원장 검사 시 제1 전압이 인가되고, 정상 구동 시 제2 전압이 인가되는 제1 테스트 게이트 라인, 상기 제1 테스트 게이트 라인에 인가되는 상기 제1 전압 또는 상기 제2 전압에 응답하여 상기 테스트 데이터 라인을 복수의 노드들에 선택적으로 연결하는 복수의 제1 테스트 트랜지스터들, 상기 원장 검사 시 상기 제1 전압이 인가되고, 상기 정상 구동 시 상기 제2 전압이 인가되는 제2 테스트 게이트 라인, 및 각각이 상기 복수의 제1 테스트 트랜지스터들 중 상응하는 하나와 직렬로 연결되고, 상기 제2 테스트 게이트 라인에 인가되는 상기 제1 전압 또는 상기 제2 전압에 응답하여 상기 복수의 노드들을 상기 복수의 데이터 라인들에 선택적으로 연결하는 복수의 제2 테스트 트랜지스터들을 포함한다.
일 실시예에 의하면, 상기 제1 테스트 게이트 라인은 상기 표시부로부터 제1 방향에 배치되고, 상기 제2 테스트 게이트 라인은 상기 표시부로부터 상기 제1 방향에 반대인 제2 방향에 배치될 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 복수의 제1 테스트 트랜지스터들은 상기 원장 검사 시 상기 제1 테스트 게이트 라인을 통하여 인가되는 상기 제1 전압에 응답하여 상기 테스트 데이터 라인을 상기 복수의 노드들에 연결하고, 상기 복수의 제2 테스트 트랜지스터들은 상기 원장 검사 시 상기 제2 테스트 게이트 라인을 통하여 인가되는 상기 제1 전압에 응답하여 상기 복수의 노드들을 상기 복수의 데이터 라인들에 연결할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 정상 구동 시 상기 제1 테스트 게이트 라인에 손상이 발생하더라도, 상기 복수의 제2 테스트 트랜지스터들이 상기 제2 테스트 게이트 라인을 통하여 인가되는 상기 제2 전압에 응답하여 상기 테스트 데이터 라인과 상기 복수의 데이터 라인들의 연결을 차단할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 복수의 제1 테스트 트랜지스터들 각각은 상기 제1 테스트 게이트 라인에 연결된 게이트 단자, 상기 테스트 데이터 라인에 연결된 소스 단자, 및 상기 복수의 노드들 중 상응하는 하나에 연결된 드레인 단자를 가지고, 상기 복수의 제2 테스트 트랜지스터들 각각은 상기 제2 테스트 게이트 라인에 연결된 게이트 단자, 상기 복수의 노드들 중 상응하는 하나에 연결된 소스 단자, 및 상기 복수의 데이터 라인들 중 상응하는 하나에 연결된 드레인 단자를 가질 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 복수의 제1 테스트 트랜지스터들 및 상기 복수의 제2 테스트 트랜지스터들은 PMOS 트랜지스터들로 구현될 수 있다. 이 경우, 상기 제1 전압은 로우 게이트 전압이고, 상기 제2 전압은 하이 게이트 전압일 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 복수의 제1 테스트 트랜지스터들 및 상기 복수의 제2 테스트 트랜지스터들은 NMOS 트랜지스터들로 구현될 수 있다. 이 경우, 상기 제1 전압은 하이 게이트 전압이고, 상기 제2 전압은 로우 게이트 전압일 수 있다.
본 발명의 실시예들에 따른 유기 발광 표시 장치는 원장 검사를 위한 테스트 라인들에 손상이 발생하더라도 비정상적 화면을 표시하는 현상을 방지할 수 있다.
다만, 본 발명의 효과는 상기 언급한 효과에 한정되는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위에서 다양하게 확장될 수 있을 것이다.
도 1은 본 발명의 실시예들에 따른 유기 발광 표시 장치의 모기판을 나타내는 도면이다.
도 2a는 모기판으로부터 절단되기 전의 원장 검사 시의 본 발명의 일 실시예에 따른 유기 발광 표시 장치를 나타내는 도면이고, 도 2b는 모기판으로부터 절단된 후의 정상 구동 시의 본 발명의 일 실시예에 따른 유기 발광 표시 장치를 나타내는 도면이다.
도 3은 본 발명의 다른 실시예에 따른 유기 발광 표시 장치를 나타내는 도면이다.
도 4는 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 유기 발광 표시 장치를 나타내는 도면이다.
도 5는 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 유기 발광 표시 장치를 나타내는 도면이다.
도 6은 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 유기 발광 표시 장치를 나타내는 도면이다.
도 7은 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 유기 발광 표시 장치를 나타내는 도면이다.
도 8은 본 발명의 실시예들에 따른 유기 발광 표시 장치를 포함하는 전자 기기를 나타내는 블록도이다.
본문에 개시되어 있는 본 발명의 실시예들에 대해서, 특정한 구조적 내지 기능적 설명들은 단지 본 발명의 실시예를 설명하기 위한 목적으로 예시된 것으로, 본 발명의 실시예들은 다양한 형태로 실시될 수 있으며 본문에 설명된 실시예들에 한정되는 것으로 해석되어서는 아니 된다.
본 발명은 다양한 변경을 가할 수 있고 여러 가지 형태를 가질 수 있는바, 특정 실시예들을 도면에 예시하고 본문에 상세하게 설명하고자 한다. 그러나 이는 본 발명을 특정한 개시 형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변경, 균등물 내지 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다.
제 1, 제 2 등의 용어는 다양한 구성요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 상기 구성요소들은 상기 용어들에 의해 한정되어서는 안 된다. 상기 용어들은 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로 사용될 수 있다. 예를 들어, 본 발명의 권리 범위로부터 이탈되지 않은 채 제 1 구성요소는 제 2 구성요소로 명명될 수 있고, 유사하게 제 2 구성요소도 제 1 구성요소로 명명될 수 있다.
어떤 구성요소가 다른 구성요소에 "연결되어" 있다거나 "접속되어" 있다고 언급된 때에는, 그 다른 구성요소에 직접적으로 연결되어 있거나 또는 접속되어 있을 수도 있지만, 중간에 다른 구성요소가 존재할 수도 있다고 이해되어야 할 것이다. 반면에, 어떤 구성요소가 다른 구성요소에 "직접 연결되어" 있다거나 "직접 접속되어" 있다고 언급된 때에는, 중간에 다른 구성요소가 존재하지 않는 것으로 이해되어야 할 것이다. 구성요소들 간의 관계를 설명하는 다른 표현들, 즉 "~사이에"와 "바로 ~사이에" 또는 "~에 이웃하는"과 "~에 직접 이웃하는" 등도 마찬가지로 해석되어야 한다.
본 출원에서 사용한 용어는 단지 특정한 실시예를 설명하기 위해 사용된 것으로, 본 발명을 한정하려는 의도가 아니다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다. 본 출원에서, "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 설시된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.
다르게 정의되지 않는 한, 기술적이거나 과학적인 용어를 포함해서 여기서 사용되는 모든 용어들은 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 일반적으로 이해되는 것과 동일한 의미이다. 일반적으로 사용되는 사전에 정의되어 있는 것과 같은 용어들은 관련 기술의 문맥상 가지는 의미와 일치하는 의미인 것으로 해석되어야 하며, 본 출원에서 명백하게 정의하지 않는 한, 이상적이거나 과도하게 형식적인 의미로 해석되지 않는다.
이하, 첨부한 도면들을 참조하여, 본 발명의 바람직한 실시예를 보다 상세하게 설명하고자 한다. 도면상의 동일한 구성요소에 대해서는 동일한 참조부호를 사용하고 동일한 구성요소에 대해서 중복된 설명은 생략한다.
도 1은 본 발명의 실시예들에 따른 유기 발광 표시 장치의 모기판을 나타내는 도면이다.
도 1을 참조하면, 유기 발광 표시 장치의 모기판(100)은 매트릭스 형태로 배치되는 다수의 유기 발광 표시 장치들(200) 및 유기 발광 표시 장치들(200)의 외곽 영역들에 배치된 원장 배선들(121, 122, 131, 132)을 포함한다.
각 유기 발광 표시 장치(200)는 표시부(210), 스캔 드라이버(230), 집적 회로(Integrated Circuit; IC) 실장 영역(250) 및 테스트 회로(270)를 포함한다. 표시부(210)는 복수의 스캔 라인들 및 복수의 데이터 라인들에 연결된 복수의 픽셀들을 포함한다. 일 실시예에서, 표시부(210)에 포함된 각 픽셀은 적색 광, 녹색 광 및 청색 광을 발광하는 적색, 녹색 및 청색 유기 발광 다이오드들을 각각 포함하는 적색, 녹색 및 청색 서브-픽셀들을 가질 수 있다. 다른 실시예에서, 표시부(210)에 포함된 각 픽셀은 백색 광을 발광하는 백색 유기 발광 다이오드들 및 적색, 녹색 및 청색 컬러 필터들을 각각 포함하는 적색, 녹색 및 청색 서브-픽셀들을 가질 수 있다. 또 다른 실시예에서, 표시부(210)에 포함된 각 픽셀은 백색 광을 발광하는 백색 유기 발광 다이오드들 및 적색, 녹색 및 청색 컬러 필터들을 각각 포함하는 적색, 녹색 및 청색 서브-픽셀들, 및 컬러 필터 없이 백색 유기 발광 다이오드를 포함하는 백색 서브-픽셀을 가질 수 있다.
스캔 드라이버(230)는 상기 복수의 스캔 라인들에 연결된다. 스캔 드라이버(230)는 스캔 구동 전원 전압 및 스캔 제어 신호에 기초하여 스캔 신호를 생성하고, 상기 복수의 스캔 라인들에 상기 스캔 신호를 순차적으로 인가할 수 있다. IC 실장 영역(250)은 상기 복수의 데이터 라인들의 일단에 연결되고, 테스트 회로(270)는 상기 복수의 데이터 라인들의 타단에 연결될 수 있다. 다수의 유기 발광 표시 장치들(200)이 개별적인 패널들로 절단(Scribing)된 후, IC 실장 영역(250)에는 데이터 드라이버 및/또는 타이밍 컨트롤러를 포함하는 구동 IC가 실장될 수 있다. 테스트 회로(270)는, 원장 검사 시, 테스트 제어 전압에 응답하여 상기 복수의 데이터 라인들에 테스트 데이터 전압을 인가할 수 있다.
모기판(100)으로부터 다수의 유기 발광 표시 장치들(200)이 분리되지 않은 원장 상태에서 다수의 유기 발광 표시 장치들(200)을 동시에 검사하는 원장 검사가 수행된다. 상기 원장 검사는 점등 검사(lighting test)를 포함할 수 있다. 또한, 실시예에 따라, 상기 원장 검사는 누설 전류 검사(leakage current test) 및/또는 에이징 검사(aging process test)를 더 포함할 수 있다.
상기 원장 검사는 테스트 패드(TP)를 통하여 유기 발광 표시 장치들(200)의 외곽 영역에 배치된 원장 배선들(121, 122, 131, 132)에 소정의 신호들을 인가함으로써 수행될 수 있다. 원장 배선들(121, 122, 131, 132) 각각은 행 방향으로 연장되어 상응하는 행에 배치된 유기 발광 표시 장치들(200)에 상기 신호들을 동시에 전달하거나, 열 방향으로 연장되어 상응하는 열에 배치된 유기 발광 표시 장치들(200)에 상기 신호들을 동시에 전달할 수 있다.
예를 들어, 상기 원장 검사를 수행하도록, 하나 이상의 테스트 패드(TP)를 통하여 하나 이상의 제1 원장 배선(132)에 상기 테스트 제어 전압 및 상기 테스트 데이터 전압이 인가되면, 테스트 회로(270)는 제1 원장 배선(132)을 통하여 상기 테스트 제어 전압 및 상기 테스트 데이터 전압을 수신하고, 상기 테스트 제어 전압에 응답하여 상기 복수의 데이터 라인들에 상기 테스트 데이터 전압을 인가할 수 있다. 또한, 하나 이상의 테스트 패드(TP)를 통하여 하나 이상의 제2 원장 배선(121)에 상기 스캔 구동 전원 전압 및 상기 스캔 제어 신호가 인가될 수 있고, 스캔 드라이버(230)는 제2 원장 배선(121)을 통하여 상기 스캔 구동 전원 전압 및 상기 스캔 제어 신호를 수신할 수 있다. 예를 들어, 상기 스캔 구동 전원 전압은 하이 스캔 구동 전원 전압 및 로우 스캔 구동 전원 전압을 포함할 수 있고, 상기 스캔 제어 신호는 스타트 펄스, 스캔 클록 신호 및 출력 인에이블 신호를 포함할 수 있다. 스캔 드라이버(230)는 상기 스캔 구동 전원 전압 및 상기 스캔 제어 신호에 기초하여 상기 복수의 스캔 라인들에 상기 스캔 신호를 순차적으로 인가할 수 있고, 이에 따라, 테스트 회로(270)를 통하여 인가되는 상기 테스트 데이터 전압이 표시부(210)에 포함된 상기 복수의 픽셀들에 행 단위로 순차적으로 인가될 수 있다. 한편, 상기 원장 검사가 수행되는 동안, 테스트 패드(TP)를 통하여 제3 원장 배선(122)에 제1 픽셀 전원 전압(예를 들어, 하이 픽셀 전원 전압(ELVDD))이 인가되고, 테스트 패드(TP)를 통하여 제4 원장 배선(131)에 제2 픽셀 전원 전압(예를 들어, 로우 픽셀 전원 전압(ELVSS))이 인가되며, 표시부(210)는 제3 및 제4 원장 배선들(122, 131)을 통하여 상기 제1 및 제2 픽셀 전원 전압들을 수신할 수 있다.
이와 같이, 다수의 유기 발광 표시 장치들(200)이 모기판(100)으로부터 절단(Scribing)되기 전 원장 상태에서 상기 원장 검사가 수행됨으로써, 검사 시간이 단축되고 검사 비용이 감소되는 등 검사의 효율성이 향상될 수 있다.
상기 원장 검사가 완료되면, 유기 발광 표시 장치들(200)은 절단 라인(101)을 따라 모기판(100)으로부터 절단되어, 개개의 유기 발광 표시 장치들(200)로 분리된다. 한편, 원장 배선들(121, 122, 131, 132)과 각 유기 발광 표시 장치(200)의 구성 요소들(210, 230, 270) 사이의 전기적 접속점들은 상응하는 유기 발광 표시 장치(200)의 절단 라인(101) 외부에 위치할 수 있다. 이에 따라, 각각의 유기 발광 표시 장치들(200)이 모기판(100)으로부터 분리된 이후, 원장 배선들(121, 122, 131, 132)은 유기 발광 표시 장치(200)의 구성 요소들, 예를 들어 표시부(210), 스캔 드라이버(230), 테스트 회로(270) 등과 전기적으로 절연되어 유기 발광 표시 장치(200)의 정상 구동에 영향을 미치지 않을 수 있다.
도 2a는 모기판으로부터 절단되기 전의 원장 검사 시의 본 발명의 일 실시예에 따른 유기 발광 표시 장치를 나타내는 도면이고, 도 2b는 모기판으로부터 절단된 후의 정상 구동 시의 본 발명의 일 실시예에 따른 유기 발광 표시 장치를 나타내는 도면이다.
도 2a 및 도 2b를 참조하면, 도 1의 모기판(100)에 형성된 유기 발광 표시 장치(200a)는 표시부(210), 스캔 드라이버(230), IC 실장 영역(250), 테스트 회로(270), 테스트 데이터 라인(280), 테스트 게이트 라인(285), 전압 유지 트랜지스터(290), 제어 전압 라인(293) 및 내부 전압 라인(295)를 포함할 수 있다. 유기 발광 표시 장치(200a)가 도 1의 모기판(100)으로부터 절단된 후, 유기 발광 표시 장치(200b)는 IC 실장 영역(250) 상에 실장된 구동 IC를 더 포함할 수 있다. 일 실시예에서, 상기 구동 IC는, 이에 한정되지 않으나, 칩-온-글래스(Chip-On-Glass; COG) 방식으로 실장될 수 있고, 데이터 드라이버(260) 및/또는 타이밍 컨트롤러를 포함할 수 있다.
표시부(210)는 복수의 스캔 라인들(SL1, SL2, SL3) 및 복수의 데이터 라인들(DL1, DL2, DL3, DL4, DL5, DL6, DL7, DL8, DL9)에 연결된 복수의 픽셀들(PX)을 포함한다. 각 픽셀(PX)은 적색 서브-픽셀(R), 녹색 서브-픽셀(G) 및 청색 서브-픽셀(B)을 포함할 수 있다. 실시예에 따라, 각 픽셀(PX)은 백색 서브-픽셀을 더 포함할 수 있다.
스캔 드라이버(230)는 복수의 스캔 라인들(SL1, SL2, SL3)에 연결된다. 스캔 드라이버(230)는 스캔 구동 전원 전압 및 스캔 제어 신호에 기초하여 스캔 신호를 생성하고, 복수의 스캔 라인들(SL1, SL2, SL3)에 상기 스캔 신호를 순차적으로 인가할 수 있다. 일 실시예에서, 스캔 드라이버(230)는, 원장 검사 시 도 1의 원장 배선(121)을 통하여 상기 스캔 구동 전원 전압 및 상기 스캔 제어 신호를 수신하고, 정상 구동 시 데이터 드라이버(260)로부터 상기 스캔 구동 전원 전압 및 상기 스캔 제어 신호를 수신할 수 있다. 또한, 상기 스캔 구동 전원 전압은 하이 게이트 전압(VGH)을 포함하고, 스캔 드라이버(230)는 상기 원장 검사 시 도 1의 원장 배선(121)으로부터 또는 상기 정상 구동 시 데이터 드라이버(260)로부터 유기 발광 표시 장치(200a, 200b)의 내부에 형성된 내부 전압 라인(295)을 통하여 하이 게이트 전압(VGH)을 수신할 수 있다. 즉, 내부 전압 라인(295)은 표시부(210)의 외곽에 형성되고, 상기 원장 검사 시 및 상기 정상 구동 시 하이 게이트 전압(VGH)이 인가되며, 하이 게이트 전압(VGH)은 내부 전압 라인(295)을 통하여 스캔 드라이버(230) 및/또는 발광 드라이버에 인가될 수 있다. 한편, 도 2a 및 도 2b에는 유기 발광 표시 장치(200a, 200b)의 좌측 하단 및 우측 하단에서 내부 전압 라인(295)에 하이 게이트 전압(VGH)이 인가되는 예가 도시되어 있으나, 실시예에 따라, 유기 발광 표시 장치(200a, 200b)의 좌측 하단 또는 우측 하단 중 어느 하나에서 내부 전압 라인(295)에 하이 게이트 전압(VGH)이 인가될 수 있다. 또한, 실시예에 따라, 유기 발광 표시 장치(200a, 200b)는 표시부(210)의 외곽에 형성되고, 로우 게이트 전압(VGL)이 인가되는 다른 내부 전압 라인을 더 포함할 수 있다.
IC 실장 영역(250)은 복수의 데이터 라인들(DL1, DL2, DL3, DL4, DL5, DL6, DL7, DL8, DL9)의 일단에 연결되고, 테스트 회로(270)는 복수의 데이터 라인들(DL1, DL2, DL3, DL4, DL5, DL6, DL7, DL8, DL9)의 타단에 연결될 수 있다. 상기 원장 검사 시, 복수의 데이터 라인들(DL1, DL2, DL3, DL4, DL5, DL6, DL7, DL8, DL9)에는 테스트 데이터 라인(280) 및 테스트 회로(270)를 통하여 테스트 데이터 전압(TD_R, TD_G, TD_B)이 인가될 수 있다. 또한, 유기 발광 표시 장치(200a)가 도 1의 모기판(100)으로부터 절단된 후, IC 실장 영역(250) 상에 데이터 드라이버(260)가 실장될 수 있다. 데이터 드라이버(260)가 실장된 후 유기 발광 표시 장치(200b)의 상기 정상 구동 시, 복수의 데이터 라인들(DL1, DL2, DL3, DL4, DL5, DL6, DL7, DL8, DL9)에는 데이터 드라이버(260)로부터 표시부(210)에서 표시될 이미지에 상응하는 데이터 전압이 인가될 수 있다. 실시예에 따라, 유기 발광 표시 장치(200a, 200b)는 데이터 드라이버(260)와 표시부(210) 사이에 배치된 스위치부를 더 포함할 수 있고, 상기 스위치부는 적색 서브-픽셀들(R), 녹색 서브-픽셀들(G), 청색 서브-픽셀들(B)의 순서로 데이터 드라이버(260)에서 출력된 상기 데이터 전압을 복수의 데이터 라인들(DL1, DL2, DL3, DL4, DL5, DL6, DL7, DL8, DL9)에 순차적으로 인가할 수 있다.
테스트 회로(270)는 테스트 데이터 라인(280)과 복수의 데이터 라인들(DL1, DL2, DL3, DL4, DL5, DL6, DL7, DL8, DL9) 사이에 연결된 복수의 테스트 트랜지스터들(TT1, TT2, TT3, TT4, TT5, TT6, TT7, TT8, TT9)을 포함할 수 있다. 각 테스트 트랜지스터(TT1, TT2, TT3, TT4, TT5, TT6, TT7, TT8, TT9)는 테스트 게이트 라인(285)에 연결된 게이트 단자, 테스트 데이터 라인(280)에 연결된 소스 단자, 및 복수의 데이터 라인들(DL1, DL2, DL3, DL4, DL5, DL6, DL7, DL8, DL9) 중 상응하는 하나에 연결된 드레인 단자를 포함할 수 있다. 테스트 데이터 라인(280)은 적색 테스트 데이터 전압(TD_R)이 인가되는 제1 테스트 데이터 라인(281), 녹색 테스트 데이터 전압(TD_G)이 인가되는 제2 테스트 데이터 라인(282) 및 청색 테스트 데이터 전압(TD_B)이 인가되는 제3 테스트 데이터 라인(283)을 포함할 수 있다. 표시부(210)의 각 픽셀(PX)이 백색 서브-픽셀을 더 포함하는 경우, 테스트 데이터 라인(280)은 백색 테스트 데이터 전압이 인가되는 제4 테스트 데이터 라인을 더 포함할 수 있다.
전압 유지 트랜지스터(290)는 제어 전압 라인(293)에 연결된 게이트 단자, 내부 전압 라인(295)에 연결된 소스 단자, 및 테스트 게이트 라인(285)에 연결된 드레인 단자를 포함할 수 있다.
도 1의 모기판(100)으로부터 다수의 유기 발광 표시 장치들(200a)이 분리되지 않은 원장 상태에서 다수의 유기 발광 표시 장치들(200a)을 동시에 검사하는 원장 검사가 수행된다. 예를 들어, 상기 원장 검사 시, 도 1의 원장 배선(132)을 통하여, 제1 테스트 데이터 라인(281)에는 적색 테스트 데이터 전압(TD_R)이 인가되고, 제2 테스트 데이터 라인(282)에는 녹색 테스트 데이터 전압(TD_G)이 인가되며, 제3 테스트 데이터 라인(283)에는 청색 테스트 데이터 전압(TD_B)이 인가되고, 테스트 게이트 라인(285)에는 제1 전압, 예를 들어 로우 게이트 전압(VGL)이 인가될 수 있다. 이에 따라, 복수의 테스트 트랜지스터들(TT1, TT2, TT3, TT4, TT5, TT6, TT7, TT8, TT9)이 테스트 게이트 라인(285)을 통하여 인가된 로우 게이트 전압(VGL)에 응답하여 턴-온되고, 제1 내지 제3 테스트 데이터 라인들(281, 282, 283)을 통하여 인가된 적색, 녹색 및 청색 테스트 데이터 전압들(TD_R, TD_G, TD_B)이 복수의 데이터 라인들(DL1, DL2, DL3, DL4, DL5, DL6, DL7, DL8, DL9)에 인가될 수 있다.
또한, 상기 원장 검사 시, 스캔 드라이버(230)는 도 1의 원장 배선(121)을 통하여 상기 스캔 구동 전원 전압 및 상기 스캔 제어 신호를 수신하여 복수의 스캔 라인들(SL1, SL2, SL3)에 상기 스캔 신호를 순차적으로 인가할 수 있다. 이에 따라, 복수의 데이터 라인들(DL1, DL2, DL3, DL4, DL5, DL6, DL7, DL8, DL9)에 인가된 적색, 녹색 및 청색 테스트 데이터 전압들(TD_R, TD_G, TD_B)이 표시부(210)에 포함된 복수의 픽셀들(PX)에 행 단위로 순차적으로 인가될 수 있고, 이에 따라, 상기 원장 검사, 예를 들어 복수의 픽셀들(PX)에 대한 점등 검사가 수행될 수 있다. 실시예에 따라, 적색, 녹색 및 청색 테스트 데이터 전압들(TD_R, TD_G, TD_B)이 순차적으로 로직 하이 레벨을 가짐으로써 적색, 녹색 및 청색 서브-픽셀들(R, G, B)에 대한 점등 검사가 순차적으로 수행되거나, 적색, 녹색 및 청색 테스트 데이터 전압들(TD_R, TD_G, TD_B)이 동시에 로직 하이 레벨을 가짐으로써, 적색, 녹색 및 청색 서브-픽셀들(R, G, B)에 대한 점등 검사가 동시에 수행될 수 있다.
한편, 상기 원장 검사가 수행되는 동안, 제어 전압 라인(293)에는 제2 전압, 예를 들어 하이 게이트 전압(VGH))이 인가되고, 전압 유지 트랜지스터(290)는 제어 전압 라인(293)을 통하여 인가된 하이 게이트 전압(VGH)에 응답하여 턴-오프될 수 있다. 이에 따라, 상기 원장 검사 시, 전압 유지 트랜지스터(290)는 내부 전압 라인(295)과 테스트 게이트 라인(285)의 연결을 차단할 수 있다.
상기 원장 검사가 수행된 후, 유기 발광 표시 장치(200a)는 도 1의 모기판(100)으로부터 절단되고, IC 실장 영역(250) 상에 데이터 드라이버(260)가 실장되며, 모기판(100)으로부터 절단된 유기 발광 표시 장치(200b)는 외부로부터 인가되는 이미지 데이터에 기초하여 이미지를 표시하는 상기 정상 구동을 수행할 수 있다. 상기 정상 구동 시, 데이터 드라이버(260)는 상기 이미지 데이터에 상응하는 상기 데이터 전압을 복수의 데이터 라인들(DL1, DL2, DL3, DL4, DL5, DL6, DL7, DL8, DL9)에 인가하고, 스캔 드라이버(230)는 상기 스캔 신호를 복수의 스캔 라인들(SL1, SL2, SL3)에 순차적으로 인가할 수 있다. 이에 따라, 표시부(210)는 상기 데이터 전압 및 상기 스캔 신호에 기초하여 상기 이미지 데이터에 상응하는 이미지를 표시할 수 있다.
한편, 유기 발광 표시 장치(200b)의 상기 정상 구동 시, 테스트 게이트 라인(285)에는 상기 제2 전압, 예를 들어 하이 게이트 전압(VGH)이 인가되고, 복수의 테스트 트랜지스터들(TT1, TT2, TT3, TT4, TT5, TT6, TT7, TT8, TT9)은 테스트 게이트 라인(285)에 인가된 하이 게이트 전압(VGH)에 응답하여 턴-오프된다. 이에 따라, 복수의 테스트 트랜지스터들(TT1, TT2, TT3, TT4, TT5, TT6, TT7, TT8, TT9)은 제1 내지 제3 테스트 데이터 라인들(281, 282, 283)과 복수의 데이터 라인들(DL1, DL2, DL3, DL4, DL5, DL6, DL7, DL8, DL9)의 연결을 차단할 수 있다. 그러나, 테스트 게이트 라인(285)에 손상, 예를 들어, 크랙(Crack)에 의한 손상, 스크래치(Scratch)에 의한 손상, 정전기 방전(Electrostatic Discharge; ESD)에 의한 손상 등이 발생하면, 테스트 게이트 라인(285)이 절단(Cut-off)되어 복수의 테스트 트랜지스터들(TT1, TT2, TT3, TT4, TT5, TT6, TT7, TT8, TT9)의 게이트 단자들에 복수의 테스트 트랜지스터들(TT1, TT2, TT3, TT4, TT5, TT6, TT7, TT8, TT9)을 턴-오프시키기 위한 하이 게이트 전압(VGH)이 인가되지 않을 수 있다. 특히, 하이 게이트 전압(VGH)이 인가되는 테스트 게이트 라인(285)의 패드 부근이 손상에 취약할 수 있다.
종래의 유기 발광 표시 장치에서는, 테스트 게이트 라인(285)에 손상이 발생하는 경우, 복수의 테스트 트랜지스터들(TT1, TT2, TT3, TT4, TT5, TT6, TT7, TT8, TT9)이 충분히 턴-오프되지 못하여 복수의 데이터 라인들(DL1, DL2, DL3, DL4, DL5, DL6, DL7, DL8, DL9)이 제1 내지 제3 테스트 데이터 라인들(281, 282, 283)을 통하여 서로 연결될 수 있고, 데이터 드라이버(260)로부터 복수의 데이터 라인들(DL1, DL2, DL3, DL4, DL5, DL6, DL7, DL8, DL9)에 인가된 상기 데이터 전압이 복수의 데이터 라인들(DL1, DL2, DL3, DL4, DL5, DL6, DL7, DL8, DL9) 사이에서 공유될 수 있다. 예를 들어, 적색 서브-픽셀들(R)에 상응하는 데이터 라인들(DL1, DL4, DL7)에 인가된 상기 데이터 전압이 제1 테스트 데이터 라인(281)을 통하여 데이터 라인들(DL1, DL4, DL7) 사이에서 공유될 수 있고, 녹색 서브-픽셀들(G)에 상응하는 데이터 라인들(DL2, DL5, DL8)에 인가된 상기 데이터 전압이 제2 테스트 데이터 라인(282)을 통하여 데이터 라인들(DL2, DL5, DL8) 사이에서 공유될 수 있으며, 청색 서브-픽셀들(B)에 상응하는 데이터 라인들(DL3, DL6, DL9)에 인가된 상기 데이터 전압이 제3 테스트 데이터 라인(283)을 통하여 데이터 라인들(DL3, DL6, DL9) 사이에서 공유될 수 있다. 상기 데이터 전압이 복수의 데이터 라인들(DL1, DL2, DL3, DL4, DL5, DL6, DL7, DL8, DL9) 사이에서 공유되면, 각 서브-픽셀(R, G, B)에 원하는 데이터 전압이 인가되지 않음으로써, 표시부(210)는 비정상적 화면을 표시할 수 있다. 테스트 게이트 라인(285)에 손상이 발생한 종래의 유기 발광 표시 장치는 불량품으로서 폐기되어야 하고, 이에 따라, 종래에는 유기 발광 표시 장치의 수율이 감소되었다.
그러나, 본 발명의 일 실시예에 따른 유기 발광 표시 장치(200b)에서는, 상기 정상 구동 시 테스트 게이트 라인(285)에 손상이 발생하더라도 테스트 게이트 라인(285)이 상기 제2 전압, 예를 들어 하이 게이트 전압(VGH)을 유지하도록, 전압 유지 트랜지스터(290)가 내부 전압 라인(295)을 테스트 게이트 라인(285)에 연결할 수 있다. 예를 들어, 상기 정상 구동 시, 전압 유지 트랜지스터(290)는 제어 전압 라인(293)에 인가된 로우 게이트 전압(VGL)에 응답하여 턴-온되어 유기 발광 표시 장치(200b)의 구성 요소들, 예를 들어, 스캔 드라이버(230) 또는 발광 드라이버에 하이 게이트 전압(VGH)을 제공하기 위한 내부 전압 라인(295)을 테스트 게이트 라인(285)에 연결할 수 있다. 일 실시예에서, 제어 전압 라인(293)에 로우 게이트 전압(VGL)이 인가되는 패드는 하나 이상 형성될 수 있다. 예를 들어, 제어 전압 라인(293)의 패드들은 유기 발광 표시 장치(200b)의 좌측 하단 및 우측 하단에 위치한 제어 전압 라인(293)의 양단에 형성될 수 있다. 이 경우, 테스트 게이트 라인(285)뿐만 아니라 제어 전압 라인(293)의 일단의 패드 부근에서 손상이 발생하더라도, 제어 전압 라인(293)은 타단의 패드에서 로우 게이트 전압(VGL)을 수신할 수 있고, 전압 유지 트랜지스터(290)이 턴-온되어 테스트 게이트 라인(285)에 하이 게이트 전압(VGH)이 인가될 수 있다.
이와 같이, 테스트 게이트 라인(285)의 패드 부근에 손상이 발생되어 상기 패드를 통하여 테스트 게이트 라인(285)에 하이 게이트 전압(VGH)이 인가되지 못하더라도, 내부 전압 라인(295)으로부터 전압 유지 트랜지스터(290)를 통하여 테스트 게이트 라인(285)에 하이 게이트 전압(VGH)이 인가될 수 있다. 이에 따라, 본 발명의 일 실시예에 따른 유기 발광 표시 장치(200b)에서, 테스트 게이트 라인(285)에 손상이 발생하더라도 테스트 게이트 라인(285)에 하이 게이트 전압(VGH)이 인가될 수 있고, 복수의 테스트 트랜지스터들(TT1, TT2, TT3, TT4, TT5, TT6, TT7, TT8, TT9)이 턴-오프됨으로써 제1 내지 제3 테스트 데이터 라인들(281, 282, 283)과 복수의 데이터 라인들(DL1, DL2, DL3, DL4, DL5, DL6, DL7, DL8, DL9)의 연결이 차단될 수 있다. 따라서, 본 발명의 일 실시예에 따른 유기 발광 표시 장치(200b)는 테스트 게이트 라인(285)에 손상이 발생하더라도 정상적인 화면을 표시할 수 있다.
도 3은 본 발명의 다른 실시예에 따른 유기 발광 표시 장치를 나타내는 도면이다.
도 3을 참조하면, 유기 발광 표시 장치(300)는 표시부(310), 스캔 드라이버(330), 데이터 드라이버(360), 테스트 회로(370), 테스트 데이터 라인(380), 테스트 게이트 라인(385), 전압 유지 트랜지스터(390), 제어 전압 라인(393) 및 내부 전압 라인(395)를 포함할 수 있다. 도 3의 유기 발광 표시 장치(300)에 포함된 트랜지스터들, 예를 들어, 복수의 테스트 트랜지스터들(TT1, TT2, TT3, TT4, TT5, TT6, TT7, TT8, TT9) 및 전압 유지 트랜지스터(390)은, PMOS 트랜지스터들로 구현된 도 2b의 유기 발광 표시 장치(200b)의 트랜지스터들과는 달리, NMOS 트랜지스터들로 구현된 것을 제외하고, 도 3의 유기 발광 표시 장치(300)는 도 2b의 유기 발광 표시 장치(200b)와 유사한 구조를 가질 수 있다.
표시부(310)는 복수의 스캔 라인들(SL1, SL2, SL3) 및 복수의 데이터 라인들(DL1, DL2, DL3, DL4, DL5, DL6, DL7, DL8, DL9)에 연결된 복수의 픽셀들(PX)을 포함한다.
원장 검사 시 테스트 데이터 라인(380)에는 테스트 데이터 전압이 인가되고, 정상 검사 시 테스트 데이터 라인(380)에는 소정의 전압이 인가되거나 테스트 데이터 라인(380)이 플로팅될 수 있다. 일 실시예에서, 테스트 데이터 라인(380)은 적색, 녹색 및 청색 서브-픽셀들에 각각 상응하는 제1, 제2 및 제3 테스트 데이터 라인들(381, 382, 383)을 포함할 수 있다. 상기 원장 검사 시 테스트 게이트 라인(385)에는 제1 전압, 예를 들어 하이 게이트 전압(VGH)이 인가되고, 상기 정상 구동 시 테스트 게이트 라인(385)에는 제2 전압, 예를 들어 로우 게이트 전압(VGL)이 인가될 수 있다.
테스트 회로(370)는 제1, 제2 및 제3 테스트 데이터 라인들(381, 382, 383)과 복수의 데이터 라인들(DL1, DL2, DL3, DL4, DL5, DL6, DL7, DL8, DL9) 사이에 연결된 복수의 테스트 트랜지스터들(TT1, TT2, TT3, TT4, TT5, TT6, TT7, TT8, TT9)을 포함할 수 있다. 복수의 테스트 트랜지스터들(TT1, TT2, TT3, TT4, TT5, TT6, TT7, TT8, TT9)은 테스트 게이트 라인(385)에 인가되는 상기 제1 전압 또는 상기 제2 전압에 응답하여 제1, 제2 및 제3 테스트 데이터 라인들(381, 382, 383)을 복수의 데이터 라인들(DL1, DL2, DL3, DL4, DL5, DL6, DL7, DL8, DL9)에 선택적으로 연결할 수 있다. 예를 들어, 복수의 테스트 트랜지스터들(TT1, TT2, TT3, TT4, TT5, TT6, TT7, TT8, TT9)은, 상기 원장 검사 시 테스트 게이트 라인(385)을 통하여 인가되는 하이 게이트 전압(VGH)에 응답하여 제1, 제2 및 제3 테스트 데이터 라인들(381, 382, 383)을 복수의 데이터 라인들(DL1, DL2, DL3, DL4, DL5, DL6, DL7, DL8, DL9)에 연결하고, 상기 정상 구동 시 테스트 게이트 라인(385)을 통하여 인가되는 로우 게이트 전압(VGL)에 응답하여 제1, 제2 및 제3 테스트 데이터 라인들(381, 382, 383)과 복수의 데이터 라인들(DL1, DL2, DL3, DL4, DL5, DL6, DL7, DL8, DL9)의 연결을 차단할 수 있다.
내부 전압 라인(395)은 상기 원장 검사 시 도 1의 원장 배선(121)으로부터 로우 게이트 전압(VGL)을 수신하고, 상기 정상 구동 시 데이터 드라이버(360)로부터 로우 게이트 전압(VGL)을 수신할 수 있다. 내부 전압 라인(395)에 인가된 로우 게이트 전압(VGL)은 스캔 드라이버(330) 및/또는 발광 드라이버에 제공될 수 있다.
전압 유지 트랜지스터(390)는, 상기 정상 구동 시 테스트 게이트 라인(385)에 손상이 발생하더라도 테스트 게이트 라인(385)이 로우 게이트 전압(VGL)을 유지하도록, 내부 전압 라인(395)을 테스트 게이트 라인(385)에 연결할 수 있다. 예를 들어, 전압 유지 트랜지스터(390)는 상기 원장 검사 시 내부 전압 라인(395)과 테스트 게이트 라인(385)의 연결을 차단하도록 제어 전압 라인(393)에 인가된 로우 게이트 전압(VGL)에 응답하여 턴-오프되고, 상기 정상 구동 시 내부 전압 라인(395)을 테스트 게이트 라인(385)에 연결하도록 제어 전압 라인(393)에 인가된 하이 게이트 전압(VGH)에 응답하여 턴-온될 수 있다.
한편, 유기 발광 표시 장치(300)가 모기판으로부터 절단되고 데이터 드라이버(360)가 실장된 후 유기 발광 표시 장치(300)의 상기 정상 구동 시, 테스트 게이트 라인(385)에 손상이 발생하더라도, 테스트 게이트 라인(385)에는 내부 전압 라인(395) 및 전압 유지 트랜지스터(390)를 통하여 로우 게이트 전압(VGL)이 인가될 수 있다. 이에 따라, 복수의 테스트 트랜지스터들(TT1, TT2, TT3, TT4, TT5, TT6, TT7, TT8, TT9)이 테스트 게이트 라인(385)에 인가된 로우 게이트 전압(VGL)에 응답하여 턴-오프됨으로써 제1 내지 제3 테스트 데이터 라인들(381, 382, 383)과 복수의 데이터 라인들(DL1, DL2, DL3, DL4, DL5, DL6, DL7, DL8, DL9)의 연결이 차단될 수 있다. 따라서, 본 발명의 다른 실시예에 따른 유기 발광 표시 장치(300)는 테스트 게이트 라인(385)에 손상이 발생하더라도 정상적인 화면을 표시할 수 있다.
도 4는 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 유기 발광 표시 장치를 나타내는 도면이다.
도 4를 참조하면, 유기 발광 표시 장치(400)는 표시부(410), 스캔 드라이버(430), 데이터 드라이버(460), 테스트 회로(470), 테스트 데이터 라인(480), 테스트 게이트 라인(485), 복수의 전압 유지 트랜지스터들(490, 491), 제어 전압 라인(493) 및 내부 전압 라인(495)를 포함할 수 있다. 도 4의 유기 발광 표시 장치(400)는, 도 2b의 유기 발광 표시 장치(200b)와 비교하여, 적어도 하나의 전압 유지 트랜지스터(491)를 더 포함할 수 있다.
복수의 전압 유지 트랜지스터들(490, 491) 각각은 제어 전압 라인(493)에 연결된 게이트 단자, 내부 전압 라인(495)에 연결된 소스 단자, 및 테스트 게이트 라인(485)에 연결된 드레인 단자를 가질 수 있다. 유기 발광 표시 장치(400)가 복수의 전압 유지 트랜지스터들(490, 491)을 포함함으로써, 유기 발광 표시 장치(400)의 정상 구동 시 테스트 게이트 라인(485)에 하이 게이트 전압(VGH)이 더욱 안정적으로 인가될 수 있다. 예를 들어, 테스트 게이트 라인(485)의 패드 부근에서 손상이 발생할 뿐만 아니라, 제1 전압 유지 트랜지스터(490)의 상단 부근에서 손상이 발생하더라도, 제2 전압 유지 트랜지스터(491)에 의해 내부 전압 라인(495)이 테스트 게이트 라인(485)에 연결됨으로써 테스트 게이트 라인(485)에 하이 게이트 전압(VGH)이 인가될 수 있다.
상술한 바와 같이, 유기 발광 표시 장치(400)의 상기 정상 구동 시, 복수의 전압 유지 트랜지스터들(490, 491)이 내부 전압 라인(495)을 테스트 게이트 라인(485)에 연결함으로써, 테스트 게이트 라인(485)에 손상이 발생하더라도, 테스트 게이트 라인(485)에 하이 게이트 전압(VGH)이 인가될 수 있다. 이에 따라, 복수의 테스트 트랜지스터들(TT1, TT2, TT3, TT4, TT5, TT6, TT7, TT8, TT9)이 테스트 게이트 라인(485)에 인가된 하이 게이트 전압(VGH)에 응답하여 턴-오프됨으로써 제1 내지 제3 테스트 데이터 라인들(481, 482, 483)과 복수의 데이터 라인들(DL1, DL2, DL3, DL4, DL5, DL6, DL7, DL8, DL9)의 연결이 차단될 수 있다. 따라서, 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 유기 발광 표시 장치(400)는 테스트 게이트 라인(485)에 손상이 발생하더라도 정상적인 화면을 표시할 수 있다.
도 5는 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 유기 발광 표시 장치를 나타내는 도면이다.
도 5를 참조하면, 유기 발광 표시 장치(500)는 표시부(510), 스캔 드라이버(530), 데이터 드라이버(560), 테스트 회로(570), 테스트 데이터 라인(580), 테스트 게이트 라인(585), 복수의 전압 유지 트랜지스터들(590, 592), 제어 전압 라인(593) 및 내부 전압 라인(595)를 포함할 수 있다. 도 5의 유기 발광 표시 장치(500)는, 도 2b의 유기 발광 표시 장치(200b)와 비교하여, 표시부(510)로부터 제1 방향에 배치된 제1 전압 유지 트랜지스터(590)뿐만 아니라 표시부(510)로부터 상기 제1 방향에 반대인 제2 방향에 배치된 제2 전압 유지 트랜지스터(592)를 더 포함할 수 있다.
제1 및 제2 전압 유지 트랜지스터들(590, 592) 각각은 제어 전압 라인(593)에 연결된 게이트 단자, 내부 전압 라인(595)에 연결된 소스 단자, 및 테스트 게이트 라인(585)에 연결된 드레인 단자를 가질 수 있다. 제1 전압 유지 트랜지스터(590)는 표시부(510)로부터 상기 제1 방향, 예를 들어 우측 방향에 배치되고, 제2 전압 유지 트랜지스터(592)는 표시부(510)로부터 상기 제2 방향, 예를 들어 좌측 방향에 배치될 수 있다. 유기 발광 표시 장치(500)가 표시부(510)로부터 좌측 및 우측에 배치된 제1 및 제2 전압 유지 트랜지스터들(590, 592)을 포함함으로써, 유기 발광 표시 장치(500)의 정상 구동 시 테스트 게이트 라인(585)에 하이 게이트 전압(VGH)이 더욱 안정적으로 인가될 수 있다. 예를 들어, 표시부(510)의 우측 부근에서 테스트 게이트 라인(585)에 손상이 발생하는 경우, 표시부(510)의 좌측에 배치된 제2 전압 유지 트랜지스터(592)에 의해 내부 전압 라인(595)이 테스트 게이트 라인(585)에 연결됨으로써 테스트 게이트 라인(585)에 하이 게이트 전압(VGH)이 인가될 수 있다. 또한, 표시부(510)의 좌측 부근에서 테스트 게이트 라인(585)에 손상이 발생하는 경우, 표시부(510)의 우측에 배치된 제1 전압 유지 트랜지스터(590)에 의해 내부 전압 라인(595)이 테스트 게이트 라인(585)에 연결됨으로써 테스트 게이트 라인(585)에 하이 게이트 전압(VGH)이 인가될 수 있다.
상술한 바와 같이, 유기 발광 표시 장치(500)의 상기 정상 구동 시, 표시부(510)의 좌측 및 우측에 배치된 복수의 전압 유지 트랜지스터들(590, 592)이 내부 전압 라인(595)을 테스트 게이트 라인(585)에 연결함으로써, 테스트 게이트 라인(585)에 손상이 발생하더라도, 테스트 게이트 라인(585)에 하이 게이트 전압(VGH)이 인가될 수 있다. 이에 따라, 복수의 테스트 트랜지스터들(TT1, TT2, TT3, TT4, TT5, TT6, TT7, TT8, TT9)이 테스트 게이트 라인(585)에 인가된 하이 게이트 전압(VGH)에 응답하여 턴-오프됨으로써 제1 내지 제3 테스트 데이터 라인들(581, 582, 583)과 복수의 데이터 라인들(DL1, DL2, DL3, DL4, DL5, DL6, DL7, DL8, DL9)의 연결이 차단될 수 있다. 따라서, 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 유기 발광 표시 장치(500)는 테스트 게이트 라인(585)에 손상이 발생하더라도 정상적인 화면을 표시할 수 있다.
도 6은 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 유기 발광 표시 장치를 나타내는 도면이다.
도 6을 참조하면, 유기 발광 표시 장치(600)는 표시부(610), 스캔 드라이버(630), 데이터 드라이버(660), 테스트 회로(670), 테스트 데이터 라인(680), 제1 테스트 게이트 라인(685) 및 제2 테스트 게이트 라인(686)을 포함할 수 있다.
표시부(610)는 복수의 스캔 라인들(SL1, SL2, SL3) 및 복수의 데이터 라인들(DL1, DL2, DL3, DL4, DL5, DL6, DL7, DL8, DL9)에 연결된 복수의 픽셀들(PX)을 포함한다.
테스트 회로(670)는 제1 테스트 게이트 라인(685)에 인가되는 전압에 응답하여 테스트 데이터 라인(680)을 복수의 노드들(N1, N2, N3, N4, N5, N6, N7, N8, N9)에 선택적으로 연결하는 복수의 제1 테스트 트랜지스터들(TT11, TT12, TT13, TT14, TT15, TT16, TT17, TT18, TT19), 및 제2 테스트 게이트 라인(686)에 인가되는 전압에 응답하여 복수의 노드들(N1, N2, N3, N4, N5, N6, N7, N8, N9)을 복수의 데이터 라인들(DL1, DL2, DL3, DL4, DL5, DL6, DL7, DL8, DL9)에 선택적으로 연결하는 복수의 제2 테스트 트랜지스터들(TT21, TT22, TT23, TT24, TT25, TT26, TT27, TT28, TT29)을 포함할 수 있다. 복수의 제1 테스트 트랜지스터들(TT11, TT12, TT13, TT14, TT15, TT16, TT17, TT18, TT19) 각각은 복수의 제2 테스트 트랜지스터들(TT21, TT22, TT23, TT24, TT25, TT26, TT27, TT28, TT29) 중 상응하는 하나와 직렬로 연결될 수 있다. 예를 들어, 복수의 제1 테스트 트랜지스터들(TT11, TT12, TT13, TT14, TT15, TT16, TT17, TT18, TT19) 각각은 제1 테스트 게이트 라인(685)에 연결된 게이트 단자, 테스트 데이터 라인(680)에 연결된 소스 단자, 및 복수의 노드들(N1, N2, N3, N4, N5, N6, N7, N8, N9) 중 상응하는 하나에 연결된 드레인 단자를 가지고, 복수의 제2 테스트 트랜지스터들(TT21, TT22, TT23, TT24, TT25, TT26, TT27, TT28, TT29) 각각은 제2 테스트 게이트 라인(686)에 연결된 게이트 단자, 복수의 노드들(N1, N2, N3, N4, N5, N6, N7, N8, N9) 중 상응하는 하나에 연결된 소스 단자, 및 복수의 데이터 라인들(DL1, DL2, DL3, DL4, DL5, DL6, DL7, DL8, DL9) 중 상응하는 하나에 연결된 드레인 단자를 가질 수 있다.
유기 발광 표시 장치(600)가 모기판으로부터 절단되기 전 상기 모기판에 형성된 다수의 유기 발광 표시 장치들에 대한 원장 검사가 수행된다. 상기 원장 검사 시, 테스트 데이터 라인(680)에 테스트 데이터 전압이 인가되고, 제1 테스트 게이트 라인(685) 및 제2 테스트 게이트 라인(686)에 로우 게이트 전압(VGL)이 인가될 수 있다. 상기 원장 검사 시, 복수의 제1 테스트 트랜지스터들(TT11, TT12, TT13, TT14, TT15, TT16, TT17, TT18, TT19)은 제1 테스트 게이트 라인(685)을 통하여 인가되는 로우 게이트 전압(VGL)에 응답하여 테스트 데이터 라인(680)을 복수의 노드들(N1, N2, N3, N4, N5, N6, N7, N8, N9)에 연결하고, 복수의 제2 테스트 트랜지스터들(TT21, TT22, TT23, TT24, TT25, TT26, TT27, TT28, TT29)은 제2 테스트 게이트 라인(686)을 통하여 인가되는 로우 게이트 전압(VGL)에 응답하여 복수의 노드들(N1, N2, N3, N4, N5, N6, N7, N8, N9)을 복수의 데이터 라인들(DL1, DL2, DL3, DL4, DL5, DL6, DL7, DL8, DL9)에 연결할 수 있다. 이에 따라, 상기 원장 검사 시, 복수의 제1 테스트 트랜지스터들(TT11, TT12, TT13, TT14, TT15, TT16, TT17, TT18, TT19) 및 복수의 제2 테스트 트랜지스터들(TT21, TT22, TT23, TT24, TT25, TT26, TT27, TT28, TT29)을 통하여 테스트 데이터 라인(680)이 복수의 데이터 라인들(DL1, DL2, DL3, DL4, DL5, DL6, DL7, DL8, DL9)에 연결되고, 테스트 데이터 라인(680)에 인가된 상기 테스트 데이터 전압이 복수의 데이터 라인들(DL1, DL2, DL3, DL4, DL5, DL6, DL7, DL8, DL9)에 제공될 수 있다.
유기 발광 표시 장치(600)가 모기판으로부터 절단되고 데이터 드라이버(660)가 실장된 후 유기 발광 표시 장치(600)의 상기 정상 구동 시, 제1 테스트 게이트 라인(685) 및 제2 테스트 게이트 라인(686)에는 하이 게이트 전압(VGH)이 인가된다. 이에 따라, 복수의 제1 테스트 트랜지스터들(TT11, TT12, TT13, TT14, TT15, TT16, TT17, TT18, TT19) 및 복수의 제2 테스트 트랜지스터들(TT21, TT22, TT23, TT24, TT25, TT26, TT27, TT28, TT29)이 턴-오프됨으로써, 테스트 데이터 라인(680)과 복수의 데이터 라인들(DL1, DL2, DL3, DL4, DL5, DL6, DL7, DL8, DL9)의 연결이 차단될 수 있다. 한편, 제1 테스트 게이트 라인(685) 또는 제2 테스트 게이트 라인(686) 중 어느 하나에 손상이 발생하더라도, 제1 테스트 게이트 라인(685) 또는 제2 테스트 게이트 라인(686) 중 다른 하나에 의해 테스트 데이터 라인(680)과 복수의 데이터 라인들(DL1, DL2, DL3, DL4, DL5, DL6, DL7, DL8, DL9)의 연결이 차단될 수 있다. 예를 들어, 상기 정상 구동 시 제1 테스트 게이트 라인(685)에 손상이 발생하더라도, 복수의 제2 테스트 트랜지스터들(TT21, TT22, TT23, TT24, TT25, TT26, TT27, TT28, TT29)이 제2 테스트 게이트 라인(686)을 통하여 인가되는 하이 게이트 전압(VGH)에 응답하여 턴-오프됨으로써, 테스트 데이터 라인(680)과 복수의 데이터 라인들(DL1, DL2, DL3, DL4, DL5, DL6, DL7, DL8, DL9)의 연결이 차단될 수 있다.
일 실시예에서, 제1 테스트 게이트 라인(685)의 적어도 일부(예를 들어, 제1 테스트 게이트 라인(685)의 패드 부분)은 표시부(670)로부터 제1 방향(예를 들어, 우측 방향)에 배치되고, 제2 테스트 게이트 라인(686)의 적어도 일부(예를 들어, 제2 테스트 게이트 라인(686)의 패드 부분)은 표시부(670)로부터 상기 제1 방향에 반대인 제2 방향(예를 들어, 좌측 방향)에 배치될 수 있다. 이에 따라, 유기 발광 표시 장치(600)의 우측 또는 우측 하단에 손상이 발생하여 제1 테스트 게이트 라인(685)이 절단(Cut-off)되더라도, 제2 테스트 게이트 라인(686)에 연결된 복수의 제2 테스트 트랜지스터들(TT21, TT22, TT23, TT24, TT25, TT26, TT27, TT28, TT29)에 의해 테스트 데이터 라인(680)과 복수의 데이터 라인들(DL1, DL2, DL3, DL4, DL5, DL6, DL7, DL8, DL9)의 연결이 차단될 수 있다. 또한, 유기 발광 표시 장치(600)의 좌측 또는 좌측 하단에 손상이 발생하여 제2 테스트 게이트 라인(686)이 절단(Cut-off)되더라도, 제1 테스트 게이트 라인(685)에 연결된 복수의 제1 테스트 트랜지스터들(TT11, TT12, TT13, TT14, TT15, TT16, TT17, TT18, TT19)에 의해 테스트 데이터 라인(680)과 복수의 데이터 라인들(DL1, DL2, DL3, DL4, DL5, DL6, DL7, DL8, DL9)의 연결이 차단될 수 있다.
상술한 바와 같이, 유기 발광 표시 장치(600)의 상기 정상 구동 시, 제1 테스트 게이트 라인(685)에 연결된 복수의 제1 테스트 트랜지스터들(TT11, TT12, TT13, TT14, TT15, TT16, TT17, TT18, TT19) 및 제2 테스트 게이트 라인(686)에 연결된 복수의 제2 테스트 트랜지스터들(TT21, TT22, TT23, TT24, TT25, TT26, TT27, TT28, TT29)에 의해 제1 내지 제3 테스트 데이터 라인들(681, 682, 683)과 복수의 데이터 라인들(DL1, DL2, DL3, DL4, DL5, DL6, DL7, DL8, DL9)의 연결이 차단됨으로써, 제1 테스트 게이트 라인(685) 또는 제2 테스트 게이트 라인(686)에 손상이 발생하더라도, 제1 내지 제3 테스트 데이터 라인들(681, 682, 683)과 복수의 데이터 라인들(DL1, DL2, DL3, DL4, DL5, DL6, DL7, DL8, DL9)의 연결이 차단될 수 있다. 따라서, 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 유기 발광 표시 장치(600)는 제1 테스트 게이트 라인(685) 또는 제2 테스트 게이트 라인(686)에 손상이 발생하더라도 정상적인 화면을 표시할 수 있다.
도 7은 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 유기 발광 표시 장치를 나타내는 도면이다.
도 7을 참조하면, 유기 발광 표시 장치(700)는 표시부(710), 스캔 드라이버(730), 데이터 드라이버(760), 테스트 회로(770), 테스트 데이터 라인(780), 제1 테스트 게이트 라인(785) 및 제2 테스트 게이트 라인(786)을 포함할 수 있다. 도 7의 유기 발광 표시 장치(700)에 포함된 트랜지스터들, 예를 들어, 복수의 제1 테스트 트랜지스터들(TT11, TT12, TT13, TT14, TT15, TT16, TT17, TT18, TT19) 및 복수의 제2 테스트 트랜지스터들(TT21, TT22, TT23, TT24, TT25, TT26, TT27, TT28, TT29)은, PMOS 트랜지스터들로 구현된 도 6의 유기 발광 표시 장치(600)의 트랜지스터들과는 달리, NMOS 트랜지스터들로 구현된 것을 제외하고, 도 7의 유기 발광 표시 장치(700)는 도 6의 유기 발광 표시 장치(600)와 유사한 구조를 가질 수 있다.
유기 발광 표시 장치(700)가 모기판으로부터 절단되고 데이터 드라이버(760)가 실장된 후 유기 발광 표시 장치(700)의 상기 정상 구동 시, 제1 테스트 게이트 라인(785) 및 제2 테스트 게이트 라인(786)에는 로우 게이트 전압(VGL)이 인가된다. 이에 따라, 복수의 제1 테스트 트랜지스터들(TT11, TT12, TT13, TT14, TT15, TT16, TT17, TT18, TT19) 및 복수의 제2 테스트 트랜지스터들(TT21, TT22, TT23, TT24, TT25, TT26, TT27, TT28, TT29)이 턴-오프됨으로써, 테스트 데이터 라인(780)과 복수의 데이터 라인들(DL1, DL2, DL3, DL4, DL5, DL6, DL7, DL8, DL9)의 연결이 차단될 수 있다.
한편, 제1 테스트 게이트 라인(785) 또는 제2 테스트 게이트 라인(786) 중 어느 하나에 손상이 발생하더라도, 제1 테스트 게이트 라인(785) 또는 제2 테스트 게이트 라인(786) 중 다른 하나에 연결된 복수의 테스트 트랜지스터들에 의해 테스트 데이터 라인(780)과 복수의 데이터 라인들(DL1, DL2, DL3, DL4, DL5, DL6, DL7, DL8, DL9)의 연결이 차단될 수 있다
상술한 바와 같이, 유기 발광 표시 장치(700)의 상기 정상 구동 시, 제1 테스트 게이트 라인(785)에 연결된 복수의 제1 테스트 트랜지스터들(TT11, TT12, TT13, TT14, TT15, TT16, TT17, TT18, TT19) 및 제2 테스트 게이트 라인(786)에 연결된 복수의 제2 테스트 트랜지스터들(TT21, TT22, TT23, TT24, TT25, TT26, TT27, TT28, TT29)에 의해 제1 내지 제3 테스트 데이터 라인(781, 782, 783)과 복수의 데이터 라인들(DL1, DL2, DL3, DL4, DL5, DL6, DL7, DL8, DL9)의 연결이 차단됨으로써, 제1 테스트 게이트 라인(785) 또는 제2 테스트 게이트 라인(786)에 손상이 발생하더라도, 제1 내지 제3 테스트 데이터 라인(781, 782, 783)과 복수의 데이터 라인들(DL1, DL2, DL3, DL4, DL5, DL6, DL7, DL8, DL9)의 연결이 차단될 수 있다. 따라서, 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 유기 발광 표시 장치(700)는 제1 테스트 게이트 라인(785) 또는 제2 테스트 게이트 라인(786)에 손상이 발생하더라도 정상적인 화면을 표시할 수 있다.
도 8은 본 발명의 실시예들에 따른 유기 발광 표시 장치를 포함하는 전자 기기를 나타내는 블록도이다.
도 8을 참조하면, 전자 기기(1000)는 프로세서(1010), 메모리 장치(1020), 저장 장치(1030), 입출력 장치(1040), 파워 서플라이(1050) 및 유기 발광 표시 장치(1060)를 포함할 수 있다. 전자 기기(1000)는 비디오 카드, 사운드 카드, 메모리 카드, USB 장치 등과 통신하거나, 또는 다른 시스템들과 통신할 수 있는 여러 포트(port)들을 더 포함할 수 있다.
프로세서(1010)는 특정 계산들 또는 태스크(task)들을 수행할 수 있다. 실시예에 따라, 프로세서(1010)는 마이크로프로세서(microprocessor), 중앙 처리 장치(CPU) 등일 수 있다. 프로세서(1010)는 어드레스 버스(address bus), 제어 버스(control bus) 및 데이터 버스(data bus) 등을 통하여 다른 구성 요소들에 연결될 수 있다. 실시예에 따라서, 프로세서(1010)는 주변 구성요소 상호연결(Peripheral Component Interconnect; PCI) 버스와 같은 확장 버스에도 연결될 수 있다.
메모리 장치(1020)는 전자 기기(1000)의 동작에 필요한 데이터들을 저장할 수 있다. 예를 들어, 메모리 장치(1020)는 EPROM(Erasable Programmable Read-Only Memory), EEPROM(Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory), 플래시 메모리(Flash Memory), PRAM(Phase Change Random Access Memory), RRAM(Resistance Random Access Memory), NFGM(Nano Floating Gate Memory), PoRAM(Polymer Random Access Memory), MRAM(Magnetic Random Access Memory), FRAM(Ferroelectric Random Access Memory) 등과 같은 비휘발성 메모리 장치 및/또는 DRAM(Dynamic Random Access Memory), SRAM(Static Random Access Memory), 모바일 DRAM 등과 같은 휘발성 메모리 장치를 포함할 수 있다.
저장 장치(1030)는 솔리드 스테이트 드라이브(Solid State Drive; SSD), 하드 디스크 드라이브(Hard Disk Drive; HDD), 씨디롬(CD-ROM) 등을 포함할 수 있다. 입출력 장치(1040)는 키보드, 키패드, 터치패드, 터치스크린, 마우스 등과 같은 입력 수단, 및 스피커, 프린터 등과 같은 출력 수단을 포함할 수 있다. 파워 서플라이(1050)는 전자 기기(1000)의 동작에 필요한 파워를 공급할 수 있다. 유기 발광 표시 장치(1060)는 상기 버스들 또는 다른 통신 링크를 통해서 다른 구성 요소들에 연결될 수 있다.
유기 발광 표시 장치(1060)는 도 2b 내지 도 7의 유기 발광 표시 장치들(200b, 300, 400, 500, 600, 700)일 수 있다. 유기 발광 표시 장치(1060)는, 테스트 게이트 라인에 손상이 발생하더라도, 추가적으로 형성된 전압 유지 트랜지스터 또는 일반적인 테스트 트랜지스터들에 직렬로 형성된 테스트 트랜지스터들을 이용하여 정상 구동 시 테스트 전압 라인과 표시부의 연결을 차단할 수 있다.
실시예에 따라, 전자 기기(1000)는 디지털 TV(Digital Television), 3D TV, 개인용 컴퓨터(Personal Computer; PC), 가정용 전자기기, 노트북 컴퓨터(Laptop Computer), 태블릿 컴퓨터(Table Computer), 휴대폰(Mobile Phone), 스마트 폰(Smart Phone), 개인 정보 단말기(personal digital assistant; PDA), 휴대형 멀티미디어 플레이어(portable multimedia player; PMP), 디지털 카메라(Digital Camera), 음악 재생기(Music Player), 휴대용 게임 콘솔(portable game console), 네비게이션(Navigation) 등과 같은 유기 발광 표시 장치(1060)를 포함하는 임의의 전자 기기일 수 있다.
본 발명은 임의의 유기 발광 표시 장치 및 이를 포함하는 전자 기기에 적용될 수 있다. 예를 들어, 본 발명은 TV, 디지털 TV, 3D TV, PC, 가정용 전자기기, 노트북 컴퓨터, 태블릿 컴퓨터, 휴대폰, 스마트 폰, PDA, PM), 디지털 카메라, 음악 재생기, 휴대용 게임 콘솔, 네비게이션 등에 적용될 수 있다.
이상에서는 본 발명의 실시예들을 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야의 숙련된 당업자는 하기의 특허 청구의 범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.
200, 200a, 200b, 300, 400, 500, 600, 700: 유기 발광 표시 장치
210, 310, 410, 510, 610, 710: 표시부
270, 370, 470, 570, 670, 770: 테스트 회로
280, 380, 480, 580, 680, 780: 테스트 데이터 라인
285, 385, 485, 585, 685, 686, 785, 786: 테스트 게이트 라인
290, 390, 490, 491, 590, 592: 전압 유지 트랜지스터
295, 395, 495, 595: 내부 전압 라인

Claims (20)

  1. 복수의 스캔 라인들 및 복수의 데이터 라인들에 연결된 복수의 픽셀들을 포함하는 표시부;
    원장 검사 시 테스트 데이터 전압이 인가되는 테스트 데이터 라인;
    상기 원장 검사 시 제1 전압이 인가되고, 정상 구동 시 제2 전압이 인가되는 테스트 게이트 라인;
    상기 테스트 게이트 라인에 인가되는 상기 제1 전압 또는 상기 제2 전압에 응답하여 상기 테스트 데이터 라인을 상기 복수의 데이터 라인들에 선택적으로 연결하는 복수의 테스트 트랜지스터들;
    상기 제2 전압이 인가되는 내부 전압 라인; 및
    상기 정상 구동 시 상기 테스트 게이트 라인에 손상이 발생하더라도 상기 테스트 게이트 라인이 상기 제2 전압을 유지하도록 상기 내부 전압 라인을 상기 테스트 게이트 라인에 연결하는 적어도 하나의 전압 유지 트랜지스터를 포함하고,
    상기 적어도 하나의 전압 유지 트랜지스터는, 상기 원장 검사 시 상기 내부 전압 라인과 상기 테스트 게이트 라인의 연결을 차단하도록 턴-오프되고, 상기 정상 구동 시 상기 내부 전압 라인을 상기 테스트 게이트 라인에 연결하도록 턴-온되는 것을 특징으로 하는 유기 발광 표시 장치.
  2. 삭제
  3. 복수의 스캔 라인들 및 복수의 데이터 라인들에 연결된 복수의 픽셀들을 포함하는 표시부;
    원장 검사 시 테스트 데이터 전압이 인가되는 테스트 데이터 라인;
    상기 원장 검사 시 제1 전압이 인가되고, 정상 구동 시 제2 전압이 인가되는 테스트 게이트 라인;
    상기 테스트 게이트 라인에 인가되는 상기 제1 전압 또는 상기 제2 전압에 응답하여 상기 테스트 데이터 라인을 상기 복수의 데이터 라인들에 선택적으로 연결하는 복수의 테스트 트랜지스터들;
    상기 제2 전압이 인가되는 내부 전압 라인;
    상기 정상 구동 시 상기 테스트 게이트 라인에 손상이 발생하더라도 상기 테스트 게이트 라인이 상기 제2 전압을 유지하도록 상기 내부 전압 라인을 상기 테스트 게이트 라인에 연결하는 적어도 하나의 전압 유지 트랜지스터; 및
    상기 적어도 하나의 전압 유지 트랜지스터에 연결되고, 상기 원장 검사 시 상기 제2 전압이 인가되고, 상기 정상 구동 시 상기 제1 전압이 인가되는 제어 전압 라인을 포함하는 유기 발광 표시 장치.
  4. 제3 항에 있어서, 상기 적어도 하나의 전압 유지 트랜지스터는, 상기 제어 전압 라인에 연결된 게이트 단자, 상기 내부 전압 라인에 연결된 소스 단자, 및 상기 테스트 게이트 라인에 연결된 드레인 단자를 가지는 것을 특징으로 하는 유기 발광 표시 장치.
  5. 제3 항에 있어서, 상기 적어도 하나의 전압 유지 트랜지스터는,
    각각이 상기 제어 전압 라인에 연결된 게이트 단자, 상기 내부 전압 라인에 연결된 소스 단자, 및 상기 테스트 게이트 라인에 연결된 드레인 단자를 가지는 복수의 전압 유지 트랜지스터들을 포함하는 것을 특징으로 하는 유기 발광 표시 장치.
  6. 제3 항에 있어서, 상기 적어도 하나의 전압 유지 트랜지스터는,
    상기 제어 전압 라인에 연결된 게이트 단자, 상기 내부 전압 라인에 연결된 소스 단자, 및 상기 테스트 게이트 라인에 연결된 드레인 단자를 가지고, 상기 표시부로부터 제1 방향에 배치된 제1 전압 유지 트랜지스터; 및
    상기 제어 전압 라인에 연결된 게이트 단자, 상기 내부 전압 라인에 연결된 소스 단자, 및 상기 테스트 게이트 라인에 연결된 드레인 단자를 가지고, 상기 표시부로부터 상기 제1 방향에 반대인 제2 방향에 배치된 제2 전압 유지 트랜지스터를 포함하는 것을 특징으로 하는 유기 발광 표시 장치.
  7. 제1 항에 있어서, 상기 복수의 테스트 트랜지스터들은, 상기 원장 검사 시 상기 테스트 게이트 라인을 통하여 인가되는 상기 제1 전압에 응답하여 상기 테스트 데이터 라인을 상기 복수의 데이터 라인들에 연결하고, 상기 정상 구동 시 상기 테스트 게이트 라인을 통하여 인가되는 상기 제2 전압에 응답하여 상기 테스트 데이터 라인과 상기 복수의 데이터 라인들의 연결을 차단하는 것을 특징으로 하는 유기 발광 표시 장치.
  8. 제1 항에 있어서, 상기 복수의 테스트 트랜지스터들 및 상기 적어도 하나의 전압 유지 트랜지스터는 PMOS 트랜지스터들로 구현된 것을 특징으로 하는 유기 발광 표시 장치.
  9. 제8 항에 있어서, 상기 제1 전압은 로우 게이트 전압이고, 상기 제2 전압은 하이 게이트 전압인 것을 특징으로 하는 유기 발광 표시 장치.
  10. 제1 항에 있어서, 상기 복수의 테스트 트랜지스터들 및 상기 적어도 하나의 전압 유지 트랜지스터는 NMOS 트랜지스터들로 구현된 것을 특징으로 하는 유기 발광 표시 장치.
  11. 제10 항에 있어서, 상기 제1 전압은 하이 게이트 전압이고, 상기 제2 전압은 로우 게이트 전압인 것을 특징으로 하는 유기 발광 표시 장치.
  12. 복수의 스캔 라인들 및 복수의 데이터 라인들에 연결된 복수의 픽셀들을 포함하는 표시부;
    원장 검사 시 테스트 데이터 전압이 인가되는 테스트 데이터 라인;
    상기 원장 검사 시 제1 전압이 인가되고, 정상 구동 시 제2 전압이 인가되는 제1 테스트 게이트 라인;
    상기 제1 테스트 게이트 라인에 인가되는 상기 제1 전압 또는 상기 제2 전압에 응답하여 상기 테스트 데이터 라인을 복수의 노드들에 선택적으로 연결하는 복수의 제1 테스트 트랜지스터들;
    상기 원장 검사 시 상기 제1 전압이 인가되고, 상기 정상 구동 시 상기 제2 전압이 인가되는 제2 테스트 게이트 라인; 및
    각각이 상기 복수의 제1 테스트 트랜지스터들 중 상응하는 하나와 직렬로 연결되고, 상기 제2 테스트 게이트 라인에 인가되는 상기 제1 전압 또는 상기 제2 전압에 응답하여 상기 복수의 노드들을 상기 복수의 데이터 라인들에 선택적으로 연결하는 복수의 제2 테스트 트랜지스터들을 포함하는 유기 발광 표시 장치.
  13. 제12 항에 있어서, 상기 제1 테스트 게이트 라인은 상기 표시부로부터 제1 방향에 배치되고, 상기 제2 테스트 게이트 라인은 상기 표시부로부터 상기 제1 방향에 반대인 제2 방향에 배치된 것을 특징으로 하는 유기 발광 표시 장치.
  14. 제12 항에 있어서, 상기 복수의 제1 테스트 트랜지스터들은 상기 원장 검사 시 상기 제1 테스트 게이트 라인을 통하여 인가되는 상기 제1 전압에 응답하여 상기 테스트 데이터 라인을 상기 복수의 노드들에 연결하고,
    상기 복수의 제2 테스트 트랜지스터들은 상기 원장 검사 시 상기 제2 테스트 게이트 라인을 통하여 인가되는 상기 제1 전압에 응답하여 상기 복수의 노드들을 상기 복수의 데이터 라인들에 연결하는 것을 특징으로 하는 유기 발광 표시 장치.
  15. 제12 항에 있어서, 상기 정상 구동 시 상기 제1 테스트 게이트 라인에 손상이 발생하더라도, 상기 복수의 제2 테스트 트랜지스터들이 상기 제2 테스트 게이트 라인을 통하여 인가되는 상기 제2 전압에 응답하여 상기 테스트 데이터 라인과 상기 복수의 데이터 라인들의 연결을 차단하는 것을 특징으로 하는 유기 발광 표시 장치.
  16. 제12 항에 있어서, 상기 복수의 제1 테스트 트랜지스터들 각각은 상기 제1 테스트 게이트 라인에 연결된 게이트 단자, 상기 테스트 데이터 라인에 연결된 소스 단자, 및 상기 복수의 노드들 중 상응하는 하나에 연결된 드레인 단자를 가지고,
    상기 복수의 제2 테스트 트랜지스터들 각각은 상기 제2 테스트 게이트 라인에 연결된 게이트 단자, 상기 복수의 노드들 중 상응하는 하나에 연결된 소스 단자, 및 상기 복수의 데이터 라인들 중 상응하는 하나에 연결된 드레인 단자를 가지는 것을 특징으로 하는 유기 발광 표시 장치.
  17. 제12 항에 있어서, 상기 복수의 제1 테스트 트랜지스터들 및 상기 복수의 제2 테스트 트랜지스터들은 PMOS 트랜지스터들로 구현된 것을 특징으로 하는 유기 발광 표시 장치.
  18. 제17 항에 있어서, 상기 제1 전압은 로우 게이트 전압이고, 상기 제2 전압은 하이 게이트 전압인 것을 특징으로 하는 유기 발광 표시 장치.
  19. 제12 항에 있어서, 상기 복수의 제1 테스트 트랜지스터들 및 상기 복수의 제2 테스트 트랜지스터들은 NMOS 트랜지스터들로 구현된 것을 특징으로 하는 유기 발광 표시 장치.
  20. 제19 항에 있어서, 상기 제1 전압은 하이 게이트 전압이고, 상기 제2 전압은 로우 게이트 전압인 것을 특징으로 하는 유기 발광 표시 장치.
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