KR20110040479A - 원장 검사 장치 및 그 검사 방법 - Google Patents

원장 검사 장치 및 그 검사 방법 Download PDF

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Abstract

본 발명은 원장 검사 장치 및 그 검사 방법에 관한 것으로, 원장 기판 상에 형성되는 패널의 수에 관계없이 원장 검사를 수행할 수 있는 기술을 개시한다. 이를 위해, 본 발명은 복수의 패널이 형성된 원장 기판과, 복수의 패널을 검사하기 위한 복수의 신호 그룹 및 복수의 더미 신호를 생성하는 신호 공급부 및 복수의 신호 그룹 중 하나의 신호 그룹을 복수의 패널 중 대응하는 하나에 전달하고, 복수의 패널의 수가 복수의 신호 그룹의 수보다 많으면, 복수의 신호 그룹 중 적어도 하나의 신호 그룹의 복수의 신호를 복수의 패널 중 적어도 두 개의 패널에 전달하는 연결 보드를 포함한다.
원장 기판, 연결 보드

Description

원장 검사 장치 및 그 검사 방법{ONE SHEET TEST DEVICE AND TEST METHOD}
본 발명은 원장 검사 장치 및 그 검사 방법에 관한 기술이다.
일반적으로, 다수의 유기 발광표시장치(Organic Light Emitting Display)의 패널들은 하나의 기판(이하, 원장 기판) 상에서 형성된 후 스크라이빙(scribing)되어 개개의 패널들로 분리된다. 이러한 패널들은 원장기판에서 절단, 분리되기 전에, 원장기판 상태에서 패널 단위의 점등이나 패널 단위의 검사공정 또는 에이징(aging) 공정 등을 진행한다. 위와 같은 공정에서 각각의 패널을 구동시키기 위하여 원장기판의 측면에서 공통배선을 사용하여 원장기판으로 신호를 공급한다.
그런데, 제품 개발 모델이 다양화됨에 따라 원장기판 상에 형성되는 패널들의 크기 및 수가 변화된다. 기존의 원장검사 장비는 한정된 크기 및 수의 패널들을 검사할 수 있도록 설계되어 있기 때문에, 패널들의 크기 및 수가 변화되면 원장 검사가 불가능한 문제점이 있다. 이를 해결하기 위해서는 장비를 개조하거나, 새로 설계해야 하므로 비용이 증가한다.
본 발명은 상기한 문제점을 해결하기 위한 것으로, 원장 기판 상에 형성되는 패널의 수에 관계없이 원장 검사를 수행할 수 있는 원장 검사 장치 및 그 검사 방법을 제공하는데 그 목적이 있다.
본 발명에 따른 원장 검사 장치는, 복수의 패널이 형성된 원장 기판; 상기 복수의 패널을 검사하기 위한 복수의 신호 그룹 및 복수의 더미 신호를 생성하는 신호 공급부; 및 상기 복수의 신호 그룹 중 하나의 신호 그룹을 상기 복수의 패널 중 대응하는 하나에 전달하고, 상기 복수의 패널의 수가 상기 복수의 신호 그룹의 수보다 많으면, 상기 복수의 신호 그룹 중 적어도 하나의 신호 그룹의 복수의 신호를 상기 복수의 패널 중 적어도 두 개의 패널에 전달하는 연결 보드를 포함한다. 여기서, 상기 복수의 신호 그룹 각각은 적색, 녹색 및 청색 데이터 신호, 게이트 신호, 전원 신호를 포함한다. 상기 적어도 하나의 신호 그룹은 상기 적어도 두 개의 패널 중 하나의 패널에 전달되는 복수의 더미 신호 및 상기 적어도 두 개의 패널 중 다른 하나에 전달되는 적색, 녹색, 청색 데이터 신호, 게이트 신호, 전원 신호를 포함하고, 상기 복수의 더미 신호 각각은 상기 적색, 녹색, 청색 데이터 신호 및 게이트 신호에 대응한다. 상기 연결 보드는, 상기 복수의 패널의 수가 상기 복수의 신호 그룹의 수보다 적은 경우 상기 복수의 신호 그룹 중 상기 복수의 패널에 대응하는 신호 그룹만 출력한다.
그리고, 본 발명에 따른 원장 검사 장치의 검사 방법은, 원장 기판을 구성하는 복수의 패널을 검사하기 위한 복수의 신호 그룹 및 복수의 더미 신호를 생성하 는 단계; 상기 복수의 신호 그룹 중 하나의 신호 그룹을 상기 복수의 패널 중 대응하는 하나에 전달하는 단계; 및 상기 복수의 패널의 수가 상기 복수의 신호 그룹의 수보다 많으면, 상기 복수의 신호 그룹 중 적어도 하나의 신호 그룹의 복수의 신호를 상기 복수의 패널 중 적어도 두 개의 패널에 전달하는 단계를 포함한다. 여기서, 상기 복수의 신호 그룹 각각은 적색, 녹색 및 청색 데이터 신호, 게이트 신호, 전원 신호를 포함한다. 상기 복수의 더미 신호를 상기 적색, 녹색, 청색 데이터 신호 및 게이트 신호에 대응하는 레벨로 생성하는 단계를 더 포함한다. 상기 적어도 하나의 신호 그룹을 상기 복수의 패널 중 적어도 두 개의 패널에 전달하는 단계는, 상기 복수의 더미 신호를 상기 적어도 두 개의 패널 중 하나에 전달하는 단계; 상기 적어도 두 개의 패널 중 다른 하나에 상기 적색, 녹색, 청색 데이터 신호 및 게이트 신호를 전달하는 단계; 및 상기 적어도 두 개의 패널에 상기 적어도 하나의 신호 그룹의 전원 신호를 전달하는 단계를 포함한다. 상기 복수의 패널의 수가 상기 복수의 신호 그룹의 수보다 적은 경우 상기 복수의 신호 그룹 중 상기 복수의 패널에 대응하는 신호 그룹만 출력하는 단계를 더 포함한다.
이상에서 설명한 바와 같이 본 발명의 특징에 따르면, 원장 기판 상에 형성되는 패널의 수에 관계없이 원장 검사를 수행할 수 있는 효과를 제공한다.
아래에서는 첨부한 도면을 참고로 하여 본 발명의 실시 예에 대하여 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 상 세히 설명한다. 그러나 본 발명은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며 여기에서 설명하는 실시 예에 한정되지 않는다. 그리고 도면에서 본 발명을 명확하게 설명하기 위해서 설명과 관계없는 부분은 생략하였으며, 명세서 전체를 통하여 유사한 부분에 대해서는 유사한 도면 부호를 붙였다.
명세서 전체에서, 어떤 부분이 다른 부분과 "연결"되어 있다고 할 때, 이는 "직접적으로 연결"되어 있는 경우뿐 아니라, 그 중간에 다른 소자를 사이에 두고 "전기적으로 연결"되어 있는 경우도 포함한다. 또한 어떤 부분이 어떤 구성요소를 "포함"한다고 할 때, 이는 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성요소를 더 포함할 수 있는 것을 의미한다.
도 1은 본 발명의 실시 예에 따른 원장 검사 장치를 도시한 도면이다.
도 1을 참조하면, 본 발명의 원장 검사 장치는 신호 공급부(100), 연결 보드(200), 원장 기판(300) 및 연결 제어부(400)를 포함한다. 신호 공급부(100)는 원장 기판(300)을 구성하는 복수의 셀을 검사하기 위한 복수의 테스트 신호를 생성한다. 신호 공급부(100)의 출력 핀 수는 신호 공급부(100)의 설계 단계에서 정해진다. 신호 공급부(100)의 각 출력 핀에서는 하나의 신호가 출력되며, 본 발명의 실시 예에서는 28개의 출력 핀을 가지는 신호 공급부(100)를 도시하였으나, 이는 설명의 편의를 위한 것으로 본 발명은 이에 한정되지 않는다. 신호 공급부(100)는 복수의 데이터 신호(VR1~VR4, VG1~VG4, VB1~VB4), 제1 전원 신호(ELVDD) 및 복수의 제2 전원 신호(ELVSS1~ELVSS4) 및 복수의 게이트 신호(VGATE1~VGATE4)를 생성한다. 원장 검사 시, 제1 전원 신호(ELVDD)는 원장 기판(300) 복수의 셀 중 하나에 선택 적으로 공급된다. 제1 전원 신호(ELVDD)이 전달되는 라인 전류를 감지하여 제1 전원 신호(ELVDD)가 공급되는 셀의 이상 여부를 판단할 수 있다.
복수의 데이터 신호(VR1~VR4, VG1~VG4, VB1~VB4) 각각은 원장 기판(300)을 구성하는 복수의 셀 중 대응하는 셀의 복수의 적색 부 화소에 공급되는 적색 데이터 신호(VR1~VR4), 원장 기판(300)을 구성하는 복수의 셀 중 대응하는 셀의 복수의 녹색 부 화소에 공급되는 녹색 데이터 신호(VG1~VG4) 및 원장 기판(300)을 구성하는 복수의 셀 중 대응하는 셀의 복수의 청색 부 화소에 공급되는 청색 데이터 신호(VB1~VB4)를 포함한다. 복수의 제2 전원 신호(ELVSS1~ELVSS4) 각각은 원장 기판(300)을 구성하는 복수의 셀 중 대응하는 셀의 복수의 화소를 구동하기 위한 신호이다. 복수의 게이트 신호(VGATE1~VGATE4)는 원장 기판(300)을 구성하는 복수의 셀 중 대응하는 셀의 복수의 화소에 해당 데이터 신호를 전달하기 위한 신호이다.
신호 공급부(100)는 복수의 더미 신호(VDM1~VDM4)를 더 출력할 수 있다. 본 발명의 실시 예에서는 이러한 복수의 더미 신호(VDM1~VDM4)를 사용하여 신호 공급부(100)에서 출력되는 테스트 신호의 그룹보다 더 많은 수의 셀을 포함하는 원장 기판(300)을 검사할 수 있다. 이하에서는, 신호 공급부(100)로부터 출력되는 복수의 테스트 신호 중 하나의 셀(이하, 패널이라 한다.)을 검사하기 위한 복수의 테스트 신호를 하나의 신호 그룹으로 정의하여 설명한다. 예를 들어, 제1 신호 그룹은 적색, 녹색 및 청색 데이터 신호(VR1, VG1, VB1), 제2 전원 신호(ELVSS1) 및 게이트 신호(VGATE1)를 포함하며, 제2 신호 그룹은 적색, 녹색 및 청색 데이터 신호(VR2, VG2, VB2), 제2 전원 신호(ELVSS2) 및 게이트 신호(VGATE2)를 포함한다. 즉, 본 발명의 실시 예에 따른 신호 공급부(100)는 4개의 신호 그룹 및 4개의 더미 신호(VDM1~VDM4)를 생성한다.
연결 보드(200)는 연결 제어부(400)에 의해 제어되어 복수의 신호 그룹을 원장 기판(300)을 구성하는 복수의 패널 중 대응하는 하나에 전달한다. 연결 제어부(400)는 복수의 신호 그룹의 수와 원장 기판(300)을 구성하는 복수의 패널의 수에 따라 연결 보드(200)로부터 출력되는 신호 그룹을 결정한다. 이에 대한 구체적인 설명은 도 2 내지 도 5를 참조하여 설명한다.
도 2 내지 도 5는 본 발명의 실시 예에 따른 원장 검사 장치의 검사 방법을 설명하기 위한 도면이다. 여기서, 도 2는 원장 기판(300) 상에 4개의 패널이 형성된 경우 연결 보드(200)와 원장 기판(300) 간의 연결 관계를 설명하기 위해 개략적으로 도시한 것이고, 도 3은 도 2에 도시된 제1 패널(300_1)에 포함된 적색 부 화소의 등가 회로도이다. 도 4는 원장 기판(300) 상에 3개의 패널이 형성된 경우를 도시한 것이고, 도 5는 원장 기판(300) 상에 5개의 패널이 형성된 경우를 도시한 것이다. 도 2 내지 도 5에 도시된 패널은 설명상의 편의를 위해 하나의 열만 도시하였으나, 본 발명은 이에 한정되지 않고 복수의 열을 포함할 수 있다.
먼저, 도 2를 참조하면, 원장 기판(300) 상에 제1 내지 제4 패널(300_1~300_4) 및 제1 내지 제4 패널(300_1~300_4) 각각에 신호를 전달하기 위한 복수의 패드가 형성되어 있다. 제1 내지 제4 패널(300_1~300_4) 각각은 복수의 화소(PX)를 포함한다. 각 화소(PX)는 3개의 부 화소, 즉 적색 부 화소(PX_R), 녹색 부 화소(PX_G) 및 청색 부 화소(PX_B)로 구성된다.
각 화소(PX), 예를 들어 제1 패널(300_1)에 포함된 적색 부 화소(PX_R)는 도 3에 도시된 바와 같이, 유기 발광 소자(organic light emitting element)(OLED), 구동 트랜지스터(M1), 커패시터(Cst), 스위칭 트랜지스터(M2) 및 발광 제어 트랜지스터(M3)를 포함한다. 구동 트랜지스터(M1)는 소스 단자로 제1 전원 신호(ELVDD1)를 입력 받고, 드레인 단자는 유기 발광 소자(OLED)의 애노드 단자와 연결되어 있다. 구동 트랜지스터(M1)의 게이트 단자는 스위칭 트랜지스터(M2)의 드레인 단자와 연결되어 있다. 구동 트랜지스터(M1)는 게이트 단자와 드레인 단자 사이에 걸리는 전압에 따라 크기가 달라지는 전류(IOLED)를 유기 발광 소자(OLED)로 흘린다.
스위칭 트랜지스터(M2)는 게이트 단자로 제1 게이트 신호(VGATE1)를 입력받고, 소스 단자로 제1 적색 데이터 신호(VR1)를 입력받는다. 스위칭 트랜지스터(M2)는 제1 게이트 신호(VGATE1)에 응답하여 스위칭 동작하며, 스위칭 트랜지스터(M2)가 턴 온 되면 제1 적색 데이터 신호(VR1)에 대응하는 전압이 구동 트랜지스터(M1)의 게이트 단자에 전달된다. 커패시터(Cst)는 구동 트랜지스터(M1)의 소스 단자와 게이트 단자 사이에 연결되어 있다. 커패시터(Cst)는 구동 트랜지스터(M1)의 게이트 단자에 인가되는 데이터 전압을 충전하고 스위칭 트랜지스터(M2)가 턴 오프된 뒤에도 이를 유지한다. 유기 발광 소자(OLED)는 유기 발광 다이오드(organic light emitting diode)로 구현할 수 있다. 유기 발광 소자(OLED)는 캐소드 단자로 제2 전원 신호(ELVSS1)를 입력 받는다. 유기 발광 소자(OLED)는 구동 트랜지스터(M1)가 공급하는 전류(IOLED)에 따라 세기를 달리하여 발광한다.
연결 제어부(400)는 도 2에 도시된 바와 같이, 원장 기판(300)을 구성하는 패널의 수가 신호 그룹의 수와 1:1로 대응되는 경우, 제1 내지 제4 신호 그룹이 모두 출력되도록 연결 보드(200)를 제어한다. 구체적으로, 연결 제어부(400)는 연결 보드(200)로부터 제1 신호 그룹, 즉 적색, 녹색 및 청색 데이터 신호(VR1, VG1, VB1), 제2 전원 신호(ELVSS1) 및 게이트 신호(VGATE1)가 제1 패널(300_1)과 연결된 복수의 패드(P1~P5)에 전달되도록, 연결 보드(200)를 제어한다. 이와 같은 방식으로, 연결 제어부(400)는 제2 내지 제4 신호 그룹 각각의 신호가 대응하는 제2 내지 제4 패널(300_2~300_4)과 연결된 복수의 패드 각각에 전달되도록 연결 보드(200)을 제어한다. 이때, 연결 제어부(400)는 복수의 더미 신호(VDM1~VDM4)가 어느 패드에도 전달되지 않도록 연결 보드(200)를 제어한다.
반면, 도 4에 도시된 바와 같이, 원장 기판(300)의 패널 수가 신호 그룹의 수보다 적은 경우, 연결 제어부(400)는 패널 수에 대응하는 신호 그룹만 출력되도록 연결 보드(200)를 제어한다. 구체적으로, 연결 제어부(400)는 연결 보드(200)로부터 제1 신호 그룹 각각의 신호가 제1 패널(300_1)과 연결된 복수의 패드(P11~P15)에 전달되도록 연결 보드(200)를 제어한다. 그리고, 연결 제어부(400)는 제2 및 제3 신호 그룹 각각의 신호가 대응하는 제2 및 제3 패널(300_2~300_3)의 복수의 패드 각각에 전달되도록 연결 보드(200)를 제어한다. 이때, 연결 제어부(400)는 제4 신호 그룹 및 복수의 더미 신호(VDM1~VDM4)가 어느 패드에도 전달되지 않도록 연결 보드(200)를 제어한다.
반면, 도 5에 도시된 바와 같이, 원장 기판(300)의 패널 수가 신호 그룹의 수보다 많은 경우, 연결 제어부(400)는 제1 내지 제4 신호 그룹이 원장 기판(300)의 각 패널에 전달되도록 연결 보드(200)를 제어한다. 이 때, 제1 내지 제4 신호 그룹 중 어느 하나는 복수의 더미 신호(VDM1~VDM4)를 포함하여 적어도 두 개의 패널에 전달된다. 구체적으로, 연결 제어부(400)는 제1 신호 그룹 각각의 신호가 제1 패널(300_1)에 연결된 복수의 패드(P21~P25)에 전달되도록 연결 보드(200)를 제어한다. 마찬가지로, 연결 제어부(400)는 제2 및 제3 신호 그룹 각각의 신호가 대응하는 제2 및 제3 패널(300_2, 300_3)에 연결된 복수의 패드 각각에 전달되도록 연결 보드(200)를 제어한다.
그리고, 연결 제어부(400)는 제4 신호 그룹이 제4 및 제5 패널(300_4, 300_5)에 전달되도록 연결 보드(200)를 제어한다. 여기서, 제4 신호 그룹은 제4 패널(300_4)에 연결된 복수의 패드 각각에 전달되는 적색, 녹색 및 청색 데이터 신호(VR4, VG4, VB4) 및 게이트 신호(VGATE4)뿐만 아니라, 제5 패널(300_5)에 연결된 복수의 패드 각각에 전달되는 복수의 더미 신호(VDM1~VDM4)를 포함한다. 이 때, 복수의 더미 신호(VDM1~VDM4) 각각은 적색, 녹색 및 청색 데이터 신호(VR5, VG5, VB5) 및 게이트 신호(VGATE5) 레벨로 생성된다. 그리고, 제4 신호 그룹의 제2 전원 신호(ELVSS4)는 제4 및 제5 패널(300_4, 300_5)에 연결된 복수의 패드 각각에 공통으로 전달된다. 따라서, 본 발명은 원장 기판(300) 상에 형성되는 패널의 수에 따라 신호 생성부(100) 및 연결 보드(200)의 출력 핀의 수를 증감시킬 필요 없이 다양한 수의 패널에 대한 원장 검사를 실시할 수 있다.
이상에서 본 발명의 실시예에 대하여 상세하게 설명하였지만 본 발명의 권리 범위는 이에 한정되는 것은 아니고 다음의 청구범위에서 정의하고 있는 본 발명의 기본 개념을 이용한 당업자의 여러 변형 및 개량 형태 또한 본 발명의 권리범위에 속하는 것이다.
도 1은 본 발명의 실시 예에 따른 원장 검사 장치를 도시한 도면.
도 2 내지 도 5는 본 발명의 실시 예에 따른 원장 검사 장치의 검사 방법을 설명하기 위한 도면.

Claims (9)

  1. 복수의 패널이 형성된 원장 기판;
    상기 복수의 패널을 검사하기 위한 복수의 신호 그룹 및 복수의 더미 신호를 생성하는 신호 공급부; 및
    상기 복수의 신호 그룹 중 하나의 신호 그룹을 상기 복수의 패널 중 대응하는 하나에 전달하고, 상기 복수의 패널의 수가 상기 복수의 신호 그룹의 수보다 많으면, 상기 복수의 신호 그룹 중 적어도 하나의 신호 그룹의 복수의 신호를 상기 복수의 패널 중 적어도 두 개의 패널에 전달하는 연결 보드
    를 포함하는 원장 검사 장치.
  2. 제1 항에 있어서, 상기 복수의 신호 그룹 각각은 적색, 녹색 및 청색 데이터 신호, 게이트 신호, 전원 신호를 포함하는 원장 검사 장치.
  3. 제2 항에 있어서,
    상기 적어도 하나의 신호 그룹은 상기 적어도 두 개의 패널 중 하나의 패널에 전달되는 복수의 더미 신호 및 상기 적어도 두 개의 패널 중 다른 하나에 전달되는 적색, 녹색, 청색 데이터 신호, 게이트 신호, 전원 신호를 포함하고,
    상기 복수의 더미 신호 각각은 상기 적색, 녹색, 청색 데이터 신호 및 게이트 신호에 대응하는 원장 검사 장치.
  4. 제1 항에 있어서, 상기 연결 보드는,
    상기 복수의 패널의 수가 상기 복수의 신호 그룹의 수보다 적은 경우 상기 복수의 신호 그룹 중 상기 복수의 패널에 대응하는 신호 그룹만 출력하는 원장 검사 장치.
  5. 원장 기판을 구성하는 복수의 패널을 검사하기 위한 복수의 신호 그룹 및 복수의 더미 신호를 생성하는 단계;
    상기 복수의 신호 그룹 중 하나의 신호 그룹을 상기 복수의 패널 중 대응하는 하나에 전달하는 단계; 및
    상기 복수의 패널의 수가 상기 복수의 신호 그룹의 수보다 많으면, 상기 복수의 신호 그룹 중 적어도 하나의 신호 그룹의 복수의 신호를 상기 복수의 패널 중 적어도 두 개의 패널에 전달하는 단계
    를 포함하는 원장 검사 장치의 검사 방법.
  6. 제5 항에 있어서,
    상기 복수의 신호 그룹 각각은 적색, 녹색 및 청색 데이터 신호, 게이트 신호, 전원 신호를 포함하는 원장 검사 장치의 검사 방법.
  7. 제6 항에 있어서,
    상기 복수의 더미 신호를 상기 적색, 녹색, 청색 데이터 신호 및 게이트 신호에 대응하는 레벨로 생성하는 단계를 더 포함하는 원장 검사 장치의 검사 방법.
  8. 제7 항에 있어서, 상기 적어도 하나의 신호 그룹을 상기 복수의 패널 중 적어도 두 개의 패널에 전달하는 단계는,
    상기 복수의 더미 신호를 상기 적어도 두 개의 패널 중 하나에 전달하는 단계;
    상기 적어도 두 개의 패널 중 다른 하나에 상기 적색, 녹색, 청색 데이터 신호 및 게이트 신호를 전달하는 단계; 및
    상기 적어도 두 개의 패널에 상기 적어도 하나의 신호 그룹의 전원 신호를 전달하는 단계를 포함하는 원장 검사 장치의 검사 방법.
  9. 제5 항에 있어서,
    상기 복수의 패널의 수가 상기 복수의 신호 그룹의 수보다 적은 경우 상기 복수의 신호 그룹 중 상기 복수의 패널에 대응하는 신호 그룹만 출력하는 단계
    를 더 포함하는 원장 검사 장치의 검사 방법.
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