TWI491895B - 單片測試裝置及其測試方法 - Google Patents

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Description

單片測試裝置及其測試方法
本發明之觀點關於一種單片測試裝置及其一種測試方法。
大體上,在複數個有機發光顯示器之面板被形成於一基板(此後稱之為一“單片基板”)上後,該些面板被劃線以分割成個別面板。在自該單片基板中切割出或分開出該些面板前,先對該片結構執行例如該面板單元之發光、一測試程序、該面板單元之老化程序或雷同者之診斷。在上述程序中,在該單片基板面上使用一共同接線以將一訊號提供至該單片基板以驅動每一個面板。
然而,在產品發展模組改變時,在該單片基板上所形成之面板尺寸及數量也隨之改變。既然已知單片測試裝置被設計以測試具有限定尺寸及數量之面板之單片基板,當該些面板之尺寸及數量改變時,測試該些單片基板可能會非常困難。進一步,藉由修改或重新設計該測試裝置來解決問題會增加製造成本。
在本先前技術段落所示於上之資訊僅是用於增強對本發明背景之了解,因而它也許內含不形成本國熟知此項技術之人士已知之習知技術之資訊。
本發明實施例提供一種單片測試裝置及其一種測試方法,該測試方法可測試一單片基板而不管該單片基板上所形成之面板數量。
根據本發明一實施例,一單片測試裝置被提供。該單片測試裝置被架構以測試一包含複數個面板之單片基板。該單片測試裝置包含一訊號供應器及一連接板。該訊號供應器係用於產生複數個訊號群組及複數個虛擬訊號以測試該複數個面板。該連接板係用於傳送該複數個訊號群組中之第一訊號群組至該複數個面板中對應至該第一訊號群組之第一面板,且在該複數個面板數量大於該複數個訊號群組數量時傳送該複數個訊號群組中至少一訊號群組之訊號至該複數個面板中至少其中二面板。
該複數個訊號群組中之每一個可包含紅色、綠色和藍色資料訊號、一閘極訊號、及一電源訊號。
該複數個虛擬訊號可對應至該紅色、綠色和藍色資料訊號、及該閘極訊號。
該連接板可進一步用於傳送該複數個虛擬訊號至該至少二面板中之一者、用於傳送該至少一訊號群組之紅色、綠色和藍色資料訊號與閘極訊號至該至少二面板中之另一者、並用於傳送該至少一訊號群組之電源訊號至該至少二面板中之該者與該另一者。
該連接板可在該複數個面板數量未大於該複數個訊號群組數量時只輸出該複數個訊號群組中對應至該複數個面板之訊號群組。
根據本發明另一實施例,一種單片測試裝置之測試方法被提供。該測試方法包含產生複數個訊號群組及複數個虛擬訊號以測試一包含複數個面板之單片基板;傳送該複數個訊號群組中之第一訊號群組至該複數個面板中對應至該第一訊號群組之第一面板;以及在該複數個面板數量大於該複數個訊號群組數量時傳送該複數個訊號群組中至少一訊號群組之訊號至該複數個面板中至少其中二面板。
該複數個訊號群組中之每一個可包含紅色、綠色和藍色資料訊號、一閘極訊號、及一電源訊號。
該測試方法可進一步包含於對應至該紅色、綠色和藍色資料訊號及該閘極訊號之位準下產生該複數個虛擬訊號。
傳送該至少一訊號群組之訊號至該複數個面板中之至少二面板可包含傳送該複數個虛擬訊號至該至少二面板中之一者;傳送該至少一訊號群組之紅色、綠色和藍色資料訊號與閘極訊號至該至少二面板中之另一者;及傳送該至少一訊號群組之電源訊號至該至少二面板中之該者與該另一者。
該測試方法可進一步包含在該複數個面板數量未大於該複數個訊號群組數量時只輸出該複數個訊號群組中對應至該複數個面板之訊號群組。
根據本發明又一實施例,一單片測試裝置被提供。該單片測試裝置被架構以測試一包含複數個面板之單片基板。該單片測試裝置包含一訊號供應器、一連接板及一連接控制器。該訊號供應器係用於產生複數個訊號群組及複數個虛擬訊號以測試該複數個面 板。該連接板係用於傳送該複數個訊號群組及該複數個虛擬訊號至該複數個面板。該連接控制器係用於控制該連接板。該連接控制器被架構以控制該連接板將該複數個訊號群組中之第一訊號群組傳送至該複數個面板中對應至該第一訊號群組之第一面板、並在該複數個面板數量大於該複數個訊號群組數量時傳送該複數個訊號群組中至少一訊號群組之訊號至該複數個面板中至少其中二面板。
該複數個訊號群組中之每一個可包含紅色、綠色和藍色資料訊號、一閘極訊號、及一電源訊號。
該複數個虛擬訊號可對應至該紅色、綠色和藍色資料訊號、及該閘極訊號。
該連接控制器可進一步被架構以控制該連接板將該複數個虛擬訊號傳送至該至少二面板中之一者、將該至少一訊號群組之紅色、綠色和藍色資料訊號與閘極訊號傳送至該至少二面板中之另一者、並將該至少一訊號群組之電源訊號傳送至該至少二面板中之該者與該另一者。
該連接控制器可進一步被架構以控制該連接板在該複數個面板數量未大於該複數個訊號群組數量時只輸出該複數個訊號群組中對應至該複數個面板之訊號群組。
如上所述,根據本發明實施例,測試一單片基板而不管該單片基板上所形成之面板數量係可行的。
100‧‧‧訊號供應器
200‧‧‧連接板
300‧‧‧單片基板
300’‧‧‧單片基板
300”‧‧‧單片基板
300_1‧‧‧面板
300_2‧‧‧面板
300_3‧‧‧面板
300_4‧‧‧面板
300_5‧‧‧面板
400‧‧‧連接控制器
Cst‧‧‧電容器
ELVDD‧‧‧第一電源訊號
ELVSS1-ELVSS4‧‧‧第二電源訊號
IOLED‧‧‧電流
M1‧‧‧驅動電晶體
M2‧‧‧開關電晶體
OLED‧‧‧有機發光二極體
P1-P5‧‧‧墊片
P11-P15‧‧‧墊片
P21-P25‧‧‧墊片
PX‧‧‧像素
PX_B‧‧‧藍色像素
PX_G‧‧‧綠色像素
PX_R‧‧‧紅色像素
VB1-VB4‧‧‧藍色資料訊號
VDM1-VDM4‧‧‧虛擬訊號
VG1-VG4‧‧‧綠色資料訊號
VGATE1-VGATE4‧‧‧閘極訊號
VR1-VR4‧‧‧紅色資料訊號
附圖連同說明書說明本發明示範性實施例,並連同該說明用於說明本發明原理。
圖1係根據本發明一實施例顯示一單片測試裝置圖。
圖2至圖5係根據本發明一實施例說明一單片測試裝置之測試方法圖。
在下列說明中,某些本發明示範性實施例係參考至只是說明用之附圖來顯示並說明。如那些熟知此項技術之人士會理解,所述實施例可以各種不同方式進行修改,而全部不偏離本發明精神或範圍。因此,圖式及說明自然地被視為說明而非限制。遍及該說明書中之相同參考號標示相同構件。
在本說明書及之後申請專利範圍,當描述一構件係“耦接”至另一構件時,該構件可能是“直接耦接”至另一構件或透過一第三構件來“電性耦接”至另一構件。此外,除非明確地描述為相反一面,否則該字“包括”及例如“comprises”或“comprising”之變化型會被理解為暗示著包含所述構件但不包含任何其它構件。
圖1係根據本發明一實施例顯示一單片測試裝置圖。
參考至圖1,根據本發明一實施例之單片測試裝置包含一訊號供應器100、一連接板200及一連接控制器400來測試一單片基板300。該訊號供應器100產生複數個測試訊號來測試構成該單片基板 300之複數個細胞(面板)。該訊號供應器100之輸出接腳數量係在該訊號供應器100設計階段時決定。自該訊號供應器100之每一個輸出接腳輸出一訊號,且在本發明一實施例中,為了方便說明起見,具有28支輸出接腳之訊號供應器100被顯示,但本發明並不限於此。
該訊號供應器100產生複數個資料訊號。在一實施例中,該訊號供應器100係用於測試彩色顯示面板,且該些訊號包含複數個資料訊號VR1至VR4、VG1至VG4和VB1至VB4、一第一電源訊號ELVDD、複數個第二電源訊號ELVSS1至ELVSS4、及複數個閘極訊號VGATE1至VGATE4。當一單片基板被測試時,該第一電源訊號ELVDD被選擇性地供應至該單片基板300之複數個細胞中其中之一。可藉由感測線路電流來決定該第一電源訊號ELVDD所供應之細胞是否不正確,其中,該第一電源訊號ELVDD被傳送至該線路電流。
該複數個資料訊號VR1至VR4、VG1至VG4和VB1至VB4包含供應至構成該單片基板300之複數個細胞中一相對應細胞之複數個紅色子像素之紅色資料訊號VR1至VR4、供應至構成該單片基板300之複數個細胞中一相對應細胞之複數個綠色子像素之綠色資料訊號VG1至VG4、及供應至構成該單片基板300之複數個細胞中一相對應細胞之複數個藍色子像素之藍色資料訊號VB1至VB4。該複數個第二電源訊號ELVSS1至ELVSS4係用於驅動構成該單片基板300之複數個細胞中該些相對應細胞之複數個像素之訊號。該複數個閘極訊號VGATE1至VGATE4係用於傳送該相對應資料訊號至構成該單片基板300之複數個細胞中該相對應細胞之複數個像素之訊號。
該訊號供應器100進一步可輸出例如圖1之虛擬訊號VDM1至VDM4之複數個虛擬訊號。在本發明一實施例中,使用該複數個虛擬訊號VDM1至VDM4來測試包含較該訊號供應器100所輸出之測試訊號群組數量多之細胞之單片基板300係可行。此後,用於測試在該訊號供應器100所輸出之複數個測試訊號中之一細胞(此後稱之為一“面板”)之複數個測試訊號被定義為一訊號群組來描述之。例如,一第一訊號群組包含紅色、綠色和藍色資料訊號VR1、VG1和VB1、第二電源訊號ELVSS1、及閘極訊號VGATE1,而一第二訊號群組包含紅色、綠色和藍色資料訊號VR2、VG2和VB2、第二電源訊號ELVSS2、及閘極訊號VGATE2。也就是,根據本發明一實施例之訊號供應器100產生四訊號群組(例如,該第一訊號群組包含紅色資料訊號VR1、綠色資料訊號VG1和藍色資料訊號VB1、第二電源訊號ELVSS1、及閘極訊號VGATE1,且該第二、第三和第四訊號群組各自包含相對應類似訊號)及四虛擬訊號VDM1至VDM4。
該連接板200係受該連接控制器400所控制以傳送該複數個訊號群組至構成該單片基板300之複數個面板中相對應之面板。該連接控制器400依據該複數個訊號群組數量及構成該單片基板300之複數個面板數量來決定自該連接板200輸出之訊號群組。其詳細說明會參考圖2至圖5而給予之。
圖2至圖5係根據本發明一實施例說明一單片測試裝置之測試方法圖,在本例中,測試包含採色顯示面板之單片。在此,圖2係說明在四面板形成於該單片基板300時介於該連接板200及該單片基板300間之連接關係之示意圖,且圖3係圖2所示第一面板300_1所內含之紅色子像素之之等效電路圖。圖4顯示三面板形成於該 單片基板300’上之例子,且圖5顯示五面板形成於該單片基板300”上之例子。為了方便說明起見只顯示圖2至圖5所示面板中之一陣列(例如,行),但本發明並不限於此而可包含複數個陣列(例如,多行)。
首先,參考至圖2,第一至第四面板300_1至300_4及用以傳送訊號至該第一至第四面板300_1至300_4之複數個墊片係形成於該單片基板300上。該第一至第四面板300_1至300_4每一個包含複數個像素PX。該些像素PX中之每一個包含3子像素,也就是,一紅色子像素PX_R、一綠色子像素PX_G及一藍色子像素PX_B。
像素PX之每一個子像素,例如,該第一面板300_1中所包含之紅色子像素PX_R,如圖3所示地包含一有機發光二極體(OLED)、一驅動電晶體M1、一電容器Cst、及一開關電晶體M2。該子像素也可包含介於該驅動電晶體M1及該有機發光二極體間之一發光控制電晶體。該驅動電晶體M1以其源極端接收一第一電源訊號ELVDD並以其汲極端連接至該有機發光二極體之陽極端。該驅動電晶體M1係以其閘極端連接至該開關電晶體M2之汲極端。該驅動電晶體M1允許電流(其大小隨該閘極端及該源極端間所施加之電壓而變)流至該有機發光二極體。
該開關電晶體M2以其閘極端接收一第一閘極訊號VGATE1並以其源極端接收一第一紅色資料訊號VR1。該開關電晶體M2執行一開關操作以回應該第一閘極訊號VGATE1。當該開關電晶體M2導通時,對應至該第一紅色資料訊號VR1之電壓被傳送至該驅動電晶體M1之閘極端。
該電容器Cst係連接於該驅動電晶體M1之源極端及閘極端之間。該電容器Cst充電施加至該驅動電晶體M1之閘極端之資料電壓並維持該資料電壓,即使該開關電晶體M2被關閉亦然。該有機發光二極體以其陰極端接收一第二電源訊號ELVSS1。該有機發光二極體射出之光強度隨該驅動電晶體供應之電流IOLED而變。
該連接控制器400(示於圖1)控制該連接板200以在構成該單片基板300之面板數量如圖2所示地對應至訊號群組數量時輸出該第一至第四訊號群組。更特別地,該連接控制器400控制該連接板200以便將該第一訊號群組,也就是該紅色、綠色和藍色資料訊號VR1、VG1和VB1、該第二電源訊號ELVSS1及該閘極訊號VGATE1,傳送至連接該連接板200至該第一面板300_1之複數個墊片P1至P5。藉由本架構,該連接控制器400控制該連接板200以便傳送該第二至第四訊號群組至分別對應至該第二至第四訊號群組之第二至第四面板300_2至300_4所連接之複數個墊片。在圖2中,該連接控制器400(示於圖1)控制該連接板200不要傳送該複數個虛擬訊號VDM1至VDM4至任何墊片。
在圖4中,該單片基板300’之面板數量係小於訊號群組數量。因此,該連接控制器400(示於圖1)控制該連接板200只輸出對應至面板數量之訊號群組。更特別地,該連接控制器400控制該連接板200將該第一訊號群組之每一個訊號傳送至連接該連接板200至該第一面板300_1之複數個墊片P11至P15。此外,該連接控制器400控制該連接板200以便傳送該第二及第三訊號群組之訊號至分別對應至該第二及第三訊號群組之第二及第三面板300_2和300_3之複數個墊片。在此,該連接控制器400(示於圖1)控制該 連接板200不要傳送該第四訊號群組及該複數個虛擬訊號VDM1至VDM4至任何墊片。
在圖5中,該單片基板300”之面板數量係大於訊號群組數量。也就是,在圖5實施例中具有五個面板300_1至300_5。因此,該連接控制器400控制該連接板200以便傳送該第一至第四訊號群組至該單片基板300”中各自之面板300_1至300_4中之每一個。此外,該第一至第四訊號群組中至少其中之一(本例中,該第四訊號群組)之一或更多訊號及該複數個虛擬訊號VDM1至VDM4被傳送至至少二面板(本例中,面板300_4和300_5)。更特別地,該連接控制器400控制該連接板200以便傳送該第一訊號群組之每一個訊號至連接至該第一面板300_1之複數個墊片P21至P25。同樣地,該連接控制器400控制該連接板200以便傳送該第二及第三訊號群組之訊號至分別對應至該第二及第三訊號群組之第二及第三面板300_2和300_3之複數個墊片。
此外,該連接控制器400控制該連接板200以便傳送該第四訊號群組之第二電源訊號ELVSS4至第四及第五面板300_4和300_5。在此,該第四訊號群組包含紅色、綠色和藍色資料訊號VR4、VG4和VB4、該第二電源訊號ELVSS1、及分別傳送至連接該第四面板300_4之複數個墊片和複數個虛擬訊號VDM1至VDM4之閘極訊號VGATE4,該些虛擬訊號被傳送至連接該第五面板300_5之複數個墊片。在圖5中,該複數個虛擬訊號VDM1至VDM4係分別產生於紅色、綠色和藍色資料訊號VR5、VG5和VB5、及閘極訊號VGATE5之位準下。此外,該第四訊號群組之第二電源訊號ELVSS4係一起傳送至連接該第四及第五面板300_4和300_5之複數個墊片。
有鑑於此,根據本發明實施例,針對各種面板數量執行一單片測試而不依據一單片基板300上所形成之面板數量來增加或減少一訊號產生器100之輸出接腳數量或一連接板200之輸入接腳數量係可行。
雖然本發明觀點已結合現在視為實用性示範實施例來進行說明,但要了解到本發明不受限於所示實施例,反之,意欲涵蓋所附申請專利範圍之精神及範圍與其等效例所含之各種修改與等效安排。
100‧‧‧訊號供應器
200‧‧‧連接板
300‧‧‧單片基板
400‧‧‧連接控制器
ELVSS1-ELVSS4‧‧‧第二電源訊號
VB1-VB4‧‧‧藍色資料訊號
VDM1-VDM4‧‧‧虛擬訊號
VG1-VG4‧‧‧綠色資料訊號
VGATE1-VGATE4‧‧‧閘極訊號
VR1-VR4‧‧‧紅色資料訊號

Claims (12)

  1. 一種被架構以測試一包括複數個面板之單片基板之單片測試裝置,該單片測試裝置包括:一訊號供應器,用於產生複數個訊號群組及複數個虛擬訊號以測試該複數個面板;以及一連接板,用於:傳送該複數個訊號群組中之第一訊號群組至該複數個面板中對應至該第一訊號群組之第一面板,且當該複數個面板數量係大於該複數個訊號群組數量時,傳送該複數個訊號群組中至少一訊號群組的一訊號至該複數個面板中至少其中二面板,其中,該複數個訊號群組中之每一個包含紅色、綠色和藍色資料訊號、一閘極訊號及一電源訊號。
  2. 如申請專利範圍第1項之單片測試裝置,其中,該複數個虛擬訊號對應至該紅色、綠色和藍色資料訊號及該閘極訊號。
  3. 如申請專利範圍第2項之單片測試裝置,其中,該連接板係進一步用於:傳送該複數個虛擬訊號至該至少二面板中之一者;傳送該至少一訊號群組之紅色、綠色和藍色資料訊號與閘極訊號至該至少二面板中之另一者;及傳送該至少一訊號群組之電源訊號至該至少二面板中之一者與另一者。
  4. 如申請專利範圍第1項之單片測試裝置,其中該連接板在該複數個面板數量未大於該複數個訊號群組數量時只輸出該複數個訊號群組中對應至該複數個面板之訊號群組。
  5. 一種單片測試裝置之測試方法,包括:產生複數個訊號群組及複數個虛擬訊號以測試一包含複數個面板之單片基板;傳送該複數個訊號群組中之第一訊號群組至該複數個面板中對應至該第一訊號群組之第一面板;以及當該複數個面板數量係大於該複數個訊號群組數量時,傳送該複數個訊號群組中至少一訊號群組的一訊號至該複數個面板中至少其中二面板,其中,該複數個訊號群組中之每一個包含紅色、綠色和藍色資料訊號、一閘極訊號、及一電源訊號。
  6. 如申請專利範圍第5項之測試方法,進一步包括在對應至該紅色、綠色和藍色資料訊號及該閘極訊號之位準下產生該複數個虛擬訊號。
  7. 如申請專利範圍第6項之測試方法,其中,傳送該至少一訊號群組的訊號至該複數個面板中之至少二面板包括:傳送該複數個虛擬訊號至該至少二面板中之一者;傳送該至少一訊號群組之紅色、綠色和藍色資料訊號與閘極訊號至該至少二面板中之另一者;及傳送該至少一訊號群組之電源訊號至該至少二面板中之一者與另一者。
  8. 如申請專利範圍第5項之測試方法,進一步包括當該複數個面板數量未大於該複數個訊號群組數量時,只輸出該複數個訊號群組 中對應至該複數個面板之訊號群組。
  9. 一種被架構以測試一包括複數個面板之單片基板之單片測試裝置,該單片測試裝置包括:一訊號供應器,用於產生複數個訊號群組及複數個虛擬訊號以測試該複數個面板;一連接板,用於傳送該複數個訊號群組及該複數個虛擬訊號至該複數個面板;以及一連接控制器,用於控制該連接板,其中,該連接控制器被架構以控制該連接板,藉以:將該複數個訊號群組中之第一訊號群組傳送至該複數個面板中對應至該第一訊號群組之第一面板;及當該複數個面板數量係大於該複數個訊號群組數量時,傳送該複數個訊號群組中至少一訊號群組的一訊號至該複數個面板中至少其中二面板,其中,該複數個訊號群組中之每一個包含紅色、綠色和藍色資料訊號、一閘極訊號、及一電源訊號。
  10. 如申請專利範圍第9項之單片測試裝置,其中,該複數個虛擬訊號對應至該紅色、綠色和藍色資料訊號及該閘極訊號。
  11. 如申請專利範圍第10項之單片測試裝置,其中,該連接控制器進一步被架構以控制該連接板,藉以:將該複數個虛擬訊號傳送至該至少二面板中之一者,將該至少一訊號群組之紅色、綠色和藍色資料訊號與閘極訊號傳送至該至少二面板中之另一者,且將該至少一訊號群組之電源訊號傳送至該至少二面板中之一者與另一者。
  12. 如申請專利範圍第9項之單片測試裝置,其中,該連接控制器進一步被架構以控制該連接板在該複數個面板數量未大於該複數個訊號群組數量時只輸出該複數個訊號群組中對應至該複數個面板之訊號群組。
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Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105788501B (zh) * 2016-05-20 2019-12-10 京东方科技集团股份有限公司 有机电致发光显示面板、老化测试装置、方法及显示装置
CN106959381A (zh) * 2017-03-22 2017-07-18 京东方科技集团股份有限公司 一种面板测试装置
KR102411706B1 (ko) * 2017-09-11 2022-06-23 삼성디스플레이 주식회사 에이징 시스템 및 이의 동작방법
CN109994042B (zh) * 2019-04-11 2024-05-03 武汉华星光电技术有限公司 驱动芯片及显示面板
CN111724723B (zh) * 2020-07-23 2022-09-16 武汉天马微电子有限公司 老化装置

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6281701B1 (en) * 1999-06-04 2001-08-28 Chi Mei Optoelectronics Corporation Apparatus for testing flat panel display
TW200510742A (en) * 2003-06-04 2005-03-16 Toshiba Matsushita Display Tec Method of inspecting array substrate
US20070001711A1 (en) * 2005-06-29 2007-01-04 Kwak Won K Organic light emitting display array substrate and method of performing test using the same
US7355418B2 (en) * 2004-02-12 2008-04-08 Applied Materials, Inc. Configurable prober for TFT LCD array test
US20090115772A1 (en) * 2006-04-19 2009-05-07 Makoto Shiomi Liquid Crystal Display Device and Driving Method Thereof, Television Receiver, Liquid Crystal Display Program, Computer-Readable Storage Medium Storing the Liquid Crystal Display Program, and Drive Circuit

Family Cites Families (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0933874A (ja) * 1995-07-14 1997-02-07 Sharp Corp 液晶表示装置およびその製造方法
US6246250B1 (en) * 1998-05-11 2001-06-12 Micron Technology, Inc. Probe card having on-board multiplex circuitry for expanding tester resources
JP3481465B2 (ja) * 1998-07-14 2003-12-22 シャープ株式会社 アクティブマトリクス基板の集合基板
JP2004301658A (ja) * 2003-03-31 2004-10-28 Shimadzu Corp 基板検査装置
KR100671640B1 (ko) * 2004-06-24 2007-01-18 삼성에스디아이 주식회사 박막 트랜지스터 어레이 기판과 이를 이용한 표시장치와그의 제조방법
TWI244553B (en) * 2004-08-04 2005-12-01 Chunghwa Picture Tubes Ltd Testing method for LCD panel
WO2007013210A1 (ja) * 2005-07-29 2007-02-01 Sharp Kabushiki Kaisha 表示装置
KR100636502B1 (ko) * 2005-08-31 2006-10-18 삼성에스디아이 주식회사 원장단위 검사가 가능한 유기 전계발광표시장치 및 그검사방법
KR100721954B1 (ko) 2005-09-16 2007-05-25 삼성에스디아이 주식회사 원장 단위 검사가 가능한 유기 이엘 어레이 기판
JP4748392B2 (ja) * 2006-03-31 2011-08-17 株式会社島津製作所 Tftアレイ基板検査装置
US7602199B2 (en) * 2006-05-31 2009-10-13 Applied Materials, Inc. Mini-prober for TFT-LCD testing
KR100766946B1 (ko) 2006-07-14 2007-10-17 삼성에스디아이 주식회사 유기 발광셀의 검사장치 및 그 방법
KR100812023B1 (ko) 2006-08-23 2008-03-10 삼성에스디아이 주식회사 유기전계발광 표시장치 및 그 모기판
JP2008122362A (ja) * 2006-10-20 2008-05-29 Matsushita Electric Ind Co Ltd 半導体検査装置および半導体検査手法
KR100833755B1 (ko) * 2007-01-15 2008-05-29 삼성에스디아이 주식회사 원장검사 장치 및 방법
KR101068364B1 (ko) * 2007-07-11 2011-09-28 엘지디스플레이 주식회사 액정표시장치 검사장비 및 그 검사방법
KR100858610B1 (ko) 2007-08-28 2008-09-17 삼성에스디아이 주식회사 유기전계발광 표시장치 및 모기판과 그의 제조방법
TWI379116B (en) * 2008-05-30 2012-12-11 Chimei Innolux Corp Liquid crystal display high-voltage testing circuit and method of testing liquid crystal display
CN101359024B (zh) * 2008-09-23 2012-05-30 友达光电(苏州)有限公司 电子装置显示面板的测试电路和显示面板

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6281701B1 (en) * 1999-06-04 2001-08-28 Chi Mei Optoelectronics Corporation Apparatus for testing flat panel display
TW200510742A (en) * 2003-06-04 2005-03-16 Toshiba Matsushita Display Tec Method of inspecting array substrate
US7355418B2 (en) * 2004-02-12 2008-04-08 Applied Materials, Inc. Configurable prober for TFT LCD array test
US20070001711A1 (en) * 2005-06-29 2007-01-04 Kwak Won K Organic light emitting display array substrate and method of performing test using the same
US20090115772A1 (en) * 2006-04-19 2009-05-07 Makoto Shiomi Liquid Crystal Display Device and Driving Method Thereof, Television Receiver, Liquid Crystal Display Program, Computer-Readable Storage Medium Storing the Liquid Crystal Display Program, and Drive Circuit

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