JP4748392B2 - Tftアレイ基板検査装置 - Google Patents
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- TFTアレイ基板を駆動し、当該TFTアレイ基板への電子ビーム照射により得られる2次電子信号強度によって基板の欠陥を検出するTFTアレイ検査装置において、
TFTアレイ検査用の検査信号を生成する検査信号生成部と、
生成した検査信号をTFTアレイ基板に印加するプローバと、
TFTアレイ基板の電圧状態を検出するための、電子線源、2次電子検出器、および信号処理部とを備え、
前記検査信号生成部は、前記TFTアレイ基板が備えるパネルを所定の検査信号パターンで駆動する複数の駆動回路と制御部とを備え、
前記複数の駆動回路は、それぞれ異なる検査信号パターンの検査信号を出力し、
前記制御部は、欠陥内容に応じた検査信号パターンの検査信号を出力する駆動回路を選択し、選択した駆動回路の検査信号パターンを有する検査信号をTFTアレイ基板のパネルに出力することを特徴とする、TFT基板の検査装置。 - 前記各パネルが有する各ラインの端子間の短絡状態を検出するショート検出回路を備え、
前記ショート検出回路は、ショート欠陥を有するパネルを検出し、
前記制御部は、前記ショート検出回路の検出出力に基づいて、欠陥内容に応じた検査信号パターンの検査信号を出力する各駆動回路を選択し、ショート欠陥を有するパネルに検査信号を出力することを特徴とする、請求項1に記載のTFTアレイ基板検査装置。 - 前記ショート検出回路は、ラインの端子間の抵抗値を検出してショート欠陥を有するパネルを検出することを特徴とする、請求項2に記載のTFTアレイ基板検査装置。
- 前記制御部は、前記TFTアレイ基板上に形成されるパネルの種類に基づいて検査信号パターンを選択して駆動回路を制御し、
前記駆動回路は、パネルの種類毎に選択した検査信号パターンの検査信号を出力することを特徴とする、請求項1に記載のTFTアレイ基板検査装置。
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