TWI546792B - 能夠片單元測試的有機發光顯示器之母基板及片單元測試之方法 - Google Patents

能夠片單元測試的有機發光顯示器之母基板及片單元測試之方法 Download PDF

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Description

能夠片單元測試的有機發光顯示器之母基板及片單元測 試之方法 相關申請案之交互參考
本申請案主張2009年10月7日於韓國智慧財產局所提申之韓國專利申請案第10-2009-0095165號之優先權優勢，在此將其全部內容一併整合參考之。
本發明觀點關於一種有機發光顯示器之母基板及一種用於這類母基板之片單元測試。
基於例如製造及測試效率這類理由，複數個有機發光顯示器之面板被形成於母基板上，並於稍後被劃線分成獨立面板。為了有效地製造大量有機發光顯示器，使用一“片單元”製造方法，其中，該複數個有機發光顯示器之面板被形成於一母基板上，並接著被劃線分成獨立面板。
對於該些有機發光顯示器之分割面板之測試可藉由一面板單元測試設備對每一個面板進行之。然而，在本例中，既然該些面板必須分別被測試，該測試效率下降。
一種對付本效率下降之方法係在將該些面板與該母基板分開前，先以片為單位進行測試。為了完成這個，用於供應電源及/或訊號以對該複數個面板進行該片單元測試之複數個片單元接線被設計於該母基板上。該些片單元接線可將一外部測試設備所供應之片單元測試訊號透過片單元測試墊片傳送至該些面板內部。
據此，本發明實施例提供所設計之一種有機發光顯示器之母基板以使一片單元測試可被執行，其能夠阻止或降低在包含具有一簡單結構之像素電路之有機發光顯示器之片單元測試期間之亮度變化，以及提供一種測試該片單元之方法。
根據本發明一實施例，一母基板被提供。該母基板包含安排成一矩陣之複數個有機發光顯示面板、第一和第二接線群阻、及一補償單元。該第一接線群組包含位在該些面板四周並延伸於一第一方向以傳送外部測試電源或訊號中至少其中之一至該些面板之複數個第一接線。該第二接線群組包含位在該些面板四周並延伸於與該第一方向相交之第二方向以傳送外部測試電源或訊號中至少其中之一至該些面板之複數個第二接線。該補償單元係耦接至一耦合線，該耦合線耦接來自於該第一和第二接線群組中用於將一片單元測試訊號傳送至該些面板之接線。該補償單元被架構以在傳送該片單元測試訊號至該些面 板前，先將包含於該些面板中與一像素之驅動電晶體臨界電壓相對應之電壓自該片單元測試訊號中減去。
該補償單元可包含與一電容器在一起之第一和第二電晶體。該第一電晶體係耦接於傳送該片單元測試訊號之接線及該些面板之墊片間，並被架構以接收該片單元測試訊號。該第二電晶體係耦接於該第一電晶體之閘極及該第一電晶體之汲極間以在傳送該片單元測試訊號之所在週期內根據一第一開關訊號來二極體式耦接該第一電晶體。
該補償單元可進一步包含耦接於該第一電晶體之汲極及一重置電壓源間之第三電晶體。該第三電晶體係用於在傳送該片單元測試訊號之所在週期前之重置週期內根據一第二開關訊號來初始化該第一電晶體之汲極電壓。
該補償單元可置於透過該補償單元來接收該片單元測試訊號之面板中其中之一之劃線另一側上。
該些面板中每一個可包含一墊片單元、一顯示單元、一掃描驅動器、第一和第二測試單元、及一資料分佈單元。該墊片單元包含用於傳送電源及訊號至該些面板之複數個墊片。該顯示單元包含置於資料線和掃描線相交區域之複數個像素。該掃描驅動器係用於供應掃描訊號至該些掃描線。該第一測試單元包含耦接於該些資料線之一末端及該墊片單元間以將透過該墊片單元所供應之陣列測試訊號或重置電壓供應至該些資料線之複數個第一測試電晶體。該資料分佈單元係耦接於該第一測試單元及該些資料線之間以將供應自該些第一測試電晶體之陣列測試訊號或重置電壓分佈並輸出至該些資料線。該第二測試單元包含耦接於該些資料線中之另一末端及該補償單元間以將供應自該補償單元之片單元測試訊號傳送至該些資料線之複數個第二測試電晶體。
該第一測試單元及該資料分佈單元可進一步被架構以在透過一片單元測試週期內之第二測試單元來傳送該片單元測試訊號之所在週期前之重置週期內導通以將供應自該墊片單元之重置電壓傳送至該些資料線。
該些面板中之每一個可包含對應至紅光之射出光之紅色像素、對應至綠光之射出光之綠色像素及對應至藍光之射出光之藍色像素。傳送該片單元測試訊號之接線可包含分別傳送紅色片單元測試訊號、綠色片單元測試訊號及藍色片單元測試訊號至該些紅色像素、該些綠色像素及該些藍色像素之至少三接線。該補償單元可包含耦接至該至少三接線之補償電路。
該片單元測試訊號可以是一發光測試訊號或一老化訊號。
該些面板可包含用於顯示一影像之複數個像素。該些像素中之每一個包含耦接於一第一像素電源和一第二像素電源間之有機發光二極體(OLED)、耦接於該第一像素電源和該有機發光二極體間之驅動電晶體、耦接於該驅動電晶體之閘極和該驅動電晶體之源極間之儲存電容器、及耦接於該驅動電晶體之閘極和一資料線間並具有耦接至一掃描線之閘極之開關電晶體。
根據本發明另一實施例，一種測試有機發光顯示器之母基板之片單元測試方法被提供。該母基板包含複數個面板。該些面板中之每一個包含置於掃描線和資料線相交區域之複數個像素、及位在該複數個面板四周以供應測試電源或訊號至該複數個面板之複數個接線。該方法包含使用該些接線中其中一些來供應片單元測試訊號至該複數個面板中之資料線、及在傳送該些片單元測試訊號至該些面板前，先將包含於該些像素中與驅動電晶體臨界電壓相對應之電壓自該些片單元測試訊號中減去。
該些片單元測試訊號可透過二極體式耦接至該些接線中之上述一些接線之電晶體來供應至該些面板。
該方法可進一步包含在供應該些片單元測試訊號前先使用該些接線中其餘接線來供應一重置電壓至該複數個面板中之資料線。
如上所述，根據本發明，該些片單元接線被設計於該母基板上以使該片單元測試可被執行。用於補償該些驅動電晶體之臨界電壓之補償單元被耦接至該些片單元測試訊號之輸入線以阻止或降低在具有一簡單結構之像素電路之有機發光顯示器之片單元測試期間之亮度變化並有效地執行老化測試。
10‧‧‧像素
12‧‧‧像素電路
100‧‧‧母基板
110‧‧‧面板
120‧‧‧第一接線群組
121‧‧‧第一片單元接線
122‧‧‧第二片單元接線
130‧‧‧第二接線群組
131‧‧‧第三片單元接線
132‧‧‧第四片單元接線
133‧‧‧第五片單元接線
140‧‧‧掃描驅動器
150‧‧‧顯示單元
152‧‧‧像素
160‧‧‧第一測試單元
170‧‧‧資料分佈單元
180‧‧‧第二測試單元
190‧‧‧墊片單元
200、200’‧‧‧第V個補償單元
210、210’‧‧‧第一補償電路
220、220’‧‧‧第二補償電路
230、230’‧‧‧第三補償電路
該些附圖與該說明書一起說明本發明示範性實施例並與上面說明一起用來說明本發明原理。
第1圖係根據本發明一實施例說明一有機發光顯示器中一像素之電路圖。
第2圖係根據本發明一實施例大略說明有機發光顯示器之母基板之平面圖。
第3圖係一顯示面板之平面圖，其說明第2圖之第一測試單元和第二測試單元之詳細結構和操作。
第4圖係說明第3圖之第V個補償單元範例之電路圖。
第5圖係說明驅動第4圖之第V個補償單元之方法之波形圖。
第6圖係說明第3圖之第V個補償單元之另一範例之電路圖。
此後，根據本發明之某些示範性實施例將會參考該些附圖來說明之。在此，當一第一構件被描述為耦接至一第二構件時，該第一構件可為直接耦接至該第二構件或透過一第三構件而間接耦接至該第二構件。進一步，對完全了解本發明係不重要構件中之其中一些基於簡潔起見而被省略。此外，類似參考號從頭到尾參考至類似構件。
在包含具有未將用以補償驅動電晶體臨界電壓之補償電路形成於一像素中之簡單結構之像素電路之有機發光顯示器例子中，亮度變化(或偏差)可能會在該片單元測試期間產生於該些像素及/或該些面板之間，使得該測試校正效果降低。此外，在本例中，當以片為單位執行老化測試時，可能無法均勻地施加老化作用。
第1圖係根據本發明一實施例說明一有機發光顯示器中一像素之電路圖。為了方便起見，在第1圖中，耦接至第n條掃描線Sn和第m條資料線Dm之像素被顯示。
參考至第1圖，一像素10包含一有機發光二極體(OLED)及一像素電路12以控制流至該有機發光二極體之驅動電流。該有機發光二極體之陽極係透過該像素電路12來耦接至一第一像素電源ELVDD，且該有機發光二極體之陰極係耦接至一第二像素電源ELVSS。在此，該第一像素電源ELVDD可被設定為一高電位像素電源，且該第二像素電源ELVSS可被設定為一低電位像素電源。該有機發光二極體射出具有與該像素電路12所供應之驅動電流相對應之亮度之光。
該像素電路12包含一開關電晶體ST、一驅動電晶體DT及一儲存電容器Cst。
該開關電晶體ST之第一電極係耦接至該資料線Dm，且該開關電晶體ST之第二電極係耦接至一第一節點N1。在此，該第一電極和該第二電極係為不同電極。例如，該第一電極可為一源極而該第二電極可為一汲極。該開關電晶體ST之閘極係耦接至該掃描線Sn。該開關電晶體ST在一掃描訊號(例如，一低位準訊號)被供應至該掃描線Sn以供應一資料訊號(來自該資料線Dm)至該第一節點N1時被導通。該驅動電晶體DT之第一電極係耦接至該第一像素電源ELVDD，且該驅動電晶體DT之第二電極係耦接至該有機發光二極體之陽極。該驅動電晶體DT之閘極係耦接至該第一節點N1。該驅動電晶體DT根據供應至該驅動電晶體DT之閘極電壓來控制自該第一像素電源ELVDD流至該有機發光二極體之陽極之驅動電流。
該儲存電容器Cst之一電極係耦接至該第一節點N1，且該儲存電容器Cst之另一電極係耦接至該第一像素電源ELVDD及該驅動電晶體DT之第一電極(例如，一源極)。該儲存電容器Cst在該掃描訊號被供應至該掃描線Sn時儲存與供應至該第一節點N1之資料訊號相對應之電壓並於一圖框期間維持該儲存電壓。
現在將詳述該像素10之操作程序。首先，當該掃描訊號被供應至該掃描線Sn時，該開關電晶體ST導通。當該開關電晶體ST導通時，供應至該資料線Dm之資料訊號係透過該開關電晶體ST來供應至該第一節點N1。當該資料訊號被供應至該第一節點N1時，在該儲存電容器Cst中與該資料訊號相對應之電壓被改變。接著，該驅動電晶體DT根據該驅動電晶體DT之閘極和源極間之電壓Vgs(例如，對應至該資料訊號之電壓)來控制自該第一像素電源ELVDD流至該有 機發光二極體之驅動電流。因此，該有機發光二極體射出具有與該資料訊號相對應之亮度之光以顯示一影像。
在該像素電路12被設計以具有上述簡單結構之像素10中，該驅動電晶體DT將與自該驅動電晶體DT之閘極和源極間之電壓中減去一臨界電壓Vth所得電壓相對應之驅動電流供應至該有機發光二極體。
然而，該驅動電晶體之臨界電壓值之變化(或偏差)可能因製程改變而產生於每一個面板或像素中。像素間或面板間之亮度變化可藉由該臨界電壓變化來產生之。
為了阻止或降低該亮度變化之產生，用於補償該臨界電壓之額外構件可被形成於該像素電路12。另一選項為自該像素10外部來供應一資料訊號以補償該臨界電壓。在稍後例子中，該像素10之結構被簡化。然而，在一母基板上所執行之片單元測試可能未被有效地執行。
更詳細地，在該母基板上之片單元測試係在一資料驅動器未安裝在每一個面板上時執行之。該些片單元測試係由一外部測試設備供應至片單元測試墊片，使得該些片單元測試訊號係透過片單元接線來供應至該些面板。
在本例中，未產生可能的臨界電壓變化之片單元測試訊號被供應至該些面板，且該亮度變化係根據該整個母基板內之驅動電晶體之臨界電壓來產生於面板或像素之間。結果，該測試校正效果降低。此外，一老化訊號被供應當做一片單元測試訊號以執行老化測試。在本例中，該臨界電壓變化未被補償而使該老化訊號未被均勻地施加。
因此，根據本發明實施例，提供所設計之一種有機發光顯示器之母基板以使一片單元測試可被執行，其能夠阻止或降低在該有機發光顯示器之 片單元測試期間之亮度變化，以及提供一種測試該片單元之方法。上面之詳細說明將參考第2圖至第6圖來說明之。
第2圖係根據本發明一實施例大略說明有機發光顯示器之母基板之平面圖。第3圖係一顯示面板之平面圖，其說明第2圖之第一測試單元和第二測試單元之詳細結構和操作。
參考至第2圖和第3圖，根據本發明一實施例之有機發光顯示器之母基板100包含安排成一矩陣之有機發光顯示器之面板110、及位在該些面板110四周之第一接線群組120和第二接線群組130。該些面板110中之每一個包含一掃描驅動器140、一顯示單元150、一第一測試單元160、一資料分佈單元170、一第二測試單元180及一墊片單元190。
該掃描驅動器140產生掃描訊號以對應至由外部透過該墊片單元190所供應之第一和第二掃描驅動電源及掃描控制訊號SCS並接著供應該些掃描訊號至掃描線S1至Sn。
該顯示單元150包含位在資料線D1至D3m和掃描線S1至Sn相交區域之複數個像素152。在此，該些像素152中之每一個可具有如第1圖所示之簡單結構。
該第一測試單元160係透過該資料分佈單元170來電性耦接至該些資料線D1至D3m之一末端以供應一陣列測試訊號TD1(例如，用於陣列測試)或一重置電壓Vreset至該些資料線D1至D3m(例如，有可能使用於片單元測試期間)。
現在更詳細地參考至第3圖，該第一測試單元160包含耦接於該些資料線D1至D3m(透過該資料分佈單元170)中每一個之一末端和該墊片單元190 間之複數個第一測試電晶體至M11至M1m以供應透過該墊片單元190供應至該些資料線D1至D3m之陣列測試訊號TD1或重置電壓Vreset。在此，該些第一測試電晶體至M11至M1m之源極係共同耦接至包含於該墊片單元190中之第一墊片P1，且該些第一測試電晶體至M11至M1m之汲極係透過該資料分佈單元170來耦接至該些資料線D1至D3m。該些第一測試電晶體至M11至M1m之閘極係共同耦接至包含於該墊片單元190中之第二墊片P2。
該些第一測試電晶體至M11至M1m係根據供應自該第二墊片P2之陣列測試控制訊號TD2來同時(例如，同時間地)導通以於一陣列測試正在執行時輸出自該第一墊片P1供應至該資料分佈單元170之陣列測試訊號TD1。接著，輸出至該資料分佈單元170之陣列測試訊號TD1係經由該資料分佈單元170來傳送至該些資料線D1至D3m。
此外，在該陣列測試完成後，該些第一測試電晶體M11至M1m係共同且持續地關閉。例如，在使用該第二測試單元180來執行該片單元測試時，該些第一測試電晶體M11至M1m可被持續地關閉。
當根據本發明實施例之第V個補償單元200未包含一驅動構件以初始化該些資料線D1至D3m時，該些第一測試電晶體M11至M1m係於一片單元測試週期期間經由於一重置週期內自該第二墊片P1所供應之閘極低位準VGL來導通之，用以供應自該墊片P1供應至該些資料線D1至D3m之重置電壓Vreset，其稍後將參考第6圖來說明之。
在完成該些面板110之測試並自該母基板100中劃分該些面板110後，該第一測試單元160係持續地關閉。例如，可根據實際驅動該些面板110之 週期中供應自該墊片單元190之偏壓訊號來穩定持續地關閉該第一測試單元160。
該資料分佈單元170係耦接於該第一測試單元160及該些資料線D1至D3m之間以透過該些第一測試電晶體M11至M1m將供應至輸出線O1至Om之陣列測試訊號TD1或該重置電壓Vreset分佈並輸出至該些資料線D1至D3m。在此，該資料分佈單元170可具有那些熟知此項技術之人士所知道之解多工器(DEMUX)結構。據此，該資料分佈單元170之電路結構之詳細說明被省略。
該資料分佈單元170在執行該陣列測試時透過該墊片單元190所包含之第三至第五墊片P2、P3和P5來接收紅色、綠色和藍色時脈訊號CLK_RGB並在根據該紅色、綠色和藍色時脈訊號CLK_RGB進行驅動時將該陣列測試訊號TD1分佈及輸出至該些資料線D1和D3m。
此外，在一些實施例中，在執行該陣列測試時，該資料分佈單元170係持續地關閉。在其它實施例中，該資料分佈單元170係根據片單元接線所供應之開關訊號SW來導通，以將由該第一測試單元160所供應之重置電壓Vreset輸出至該些資料線D1至D3m。
在完成該些面板110之測試且自該母基板100中劃分該些面板110後，該資料分佈單元170將由該資料驅動器(未顯示)之輸出線所供應之資料訊號分佈並輸出至該些資料線D1至D3m。該資料驅動器可以積體電路(IC)形式被安裝在該已劃線面板110上而與該第一測試單元160重疊。
現在將詳述使用該第一測試單元160和該資料分佈單元170來進行陣列測試程序。首先，該陣列測試訊號TD1、該陣列測試控制訊號TD2及該紅 色、綠色和藍色時脈訊號CLK_RGB係使用一陣列測試設備來供應至該第一至第五墊片P1至P5。
接著，該些第一測試電晶體M11至M1m係根據該陣列測試控制訊號TD2來導通。這個導致該第一墊片P1所供應至陣列測試訊號TD1被輸出至該些輸出線O1至Om。
接著，該資料分佈單元170根據該紅色、綠色和藍色時脈訊號CLK_RGB，將由該第一測試單元160之輸出線O1至Om所供應之陣列測試訊號TD1分佈並輸出至紅色、綠色和藍色像素之資料線D1至D3m。如此，該些面板110之陣列測試可被執行。
此外，用於該陣列測試之訊號被供應至該掃描驅動器140所包含之電晶體(未顯示)、掃描訊號(S1至Sn)及/或像素電源線以測試該些電晶體(未顯示)、該些掃描訊號(S1至Sn)及/或該些像素電源線之耦接狀態。
現在將說明片單元測試。該第二測試單元180係耦接於該些資料線D1至D3m(在該第二測試單元180處)之其它末端及該第V個補償單元200間以透過該第V個補償單元200將自該些片單元接線供應至該面板110之紅色、綠色和藍色片單元測試訊號TD2_R、TD2_G和TD2_B傳送至該些資料線D。該紅色、綠色和藍色片單元測試訊號TD2_R、TD2_G和TD2_B可被設定為例如光測試訊號或老化訊號。
該第二測試單元180包含輸入該紅色、綠色和藍色片單元測試訊號TD2_R、TD2_G和TD2_B之輸入線及耦接於該些資料線D1至D3m間之複數個第二測試電晶體M1至M3m。此外，該些第二測試電晶體M1至M3m之閘極係共 同耦接至一輸入線以透過一第三片單元接線131來輸入片單元測試控制訊號TG2至該輸入線。
該些第二測試電晶體M1至M3m係根據一片單元測試週期內所供應之片單元測試控制訊號TG2來同時(例如，同時間地)導通以將透過該第V個補償單元200所供應之片單元測試訊號TD2_R、TD2_G和TD2_B傳送至該些資料線D1至D3m。
現在將詳細說明使用該第二測試單元180來執行該片單元測試之步驟。首先，當該第三片單元接線131供應該片單元測試控制訊號TG2時，該些第二測試電晶體M1至M3m被導通。因此，由一第四片單元接線132所供應之片單元測試訊號TD2_R、TD2_G和TD2_B係透過該第V個補償單元200及該第二測試單元180供應至該些資料線D1至D3m。
該第一掃描驅動電源、該第二掃描驅動電源和該些掃描控制訊號SCS係自該第一接線群組120之第二片單元接線122(其可包含多個接線)供應至該掃描驅動器140。接著，該掃描驅動器140依序產生掃描訊號以將所產生之掃描訊號供應至該顯示單元150。因此，收到該些掃描訊號及該些片單元測試訊號TD2_R、TD2_G和TD2_B之像素152射出光以顯示一影像，如此例如一發光測試之片單元測試被執行。
當使用第一和第二接線群組120和130之片單元測試未執行時，該第二測試單元180係持續地關閉。例如，在使用該第一測試單元160及該資料分佈單元170進行陣列測試(例如，於不同時間供應該陣列測試訊號TD1及該些片單元測試訊號TD2_R、TD2_G和TD2_B)期間，或自該母基板100中劃分該些面板110後，該第二測試單元180可根據由該墊片單元190所供應之偏壓訊號來持續地導 通。也就是說，該第二測試單元180並未被使用於驅動該面板110，而是在劃線後仍維持為一電晶體群組。
現在參考至第2圖，該墊片單元190包含複數個墊片以將外部所供應之電源及/或訊號傳送至該面板110。該第一接線群組120包含位在例如該些面板110間之界面上之面板110四周之複數個片單元接線以延伸於一第一方向(例如，一垂直方向)以透過該些片單元墊片(TP)將外部所供應之測試電源及/或訊號傳送至該些面板110。
例如，該第一接線群組120可包含用於傳送該第一像素電源ELVDD之第一片單元接線121及用於傳送該掃描驅動電源與該些掃描控制訊號SCS之第二片單元接線122。在此，所示第二片單元接線122為一接線，然而，該第二片單元接線122實際上可包含複數個接線。例如，該第二片單元接線122可包含五接線以接收一第一掃描驅動電源VDD、一第二掃描驅動電源VSS、一起始脈衝SP、一掃描時脈訊號CLK及一輸出致能訊號OE。第二片單元接線數量可根據該掃描驅動器140之電路結構來改變。
該第一接線群組120係共同耦接至安排在同一行內之面板110以在該片單元測試期間將供應至該第一接線群組120之測試電源及/或訊號傳送至耦接至該第一接線群組120之面板110。
該第二接線群組130包含位在例如該些面板110間之界面上之面板110四周之複數個其它片單元接線以延伸於與該第一方向交叉(或相交)之第二方向(例如，一水平方向)以透過該些片單元墊片TP將外部所供應之測試電源及/或訊號傳送至該些面板110。
例如，該第二接線群組130可包含用於傳送該片單元測試控制訊號TG2之第三片單元接線131、用於傳送該些片單元測試訊號TD2_R、TD2_G和TD2_B之第四片單元接線132及用於傳送該第二像素電源ELVSS之第五片單元接線133。在此，所示第四片單元接線132為一接線，然而，該第四片單元接線132實際上可包含複數個接線。例如，該第四片單元接線132可包含三接線以傳送該紅色片單元測試訊號TD2_R、該綠色片單元測試訊號TD2_G和該藍色片單元測試訊號TD2_B。
該第二接線群組130係共同耦接至安排在同一列內之面板110以在該片單元測試期間將供應至該第二接線群組130之測試電源及/或訊號傳送至耦接至該第二接線群組130之面板110。
根據示範性實施例，對於上述有機發光顯示器之母基板100而言，對該些面板110進行一失敗測試可於該些面板110未被劃線之片單元狀態下執行之。
該些面板110之測試可被區分為一陣列測試及一片單元測試。用於測試包含於該些面板110內之電晶體及/或接線耦接狀態之陣列測試係於該些有機發光顯示器形成之前執行之，也就是說，介於該些電晶體形成步驟及該些有機發光顯示器形成步驟之間。
該陣列測試係以面板為單位來執行之，藉以先偵測該面板110，其中，例如一接線之耦接狀態係有缺陷，且若有需要則修復該故障以使例如該有機發光顯示器形成步驟之後續步驟可被執行。也就是說，該陣列測試可藉由使用一外部陣列測試設備(未顯示)並以該些面板110為單位將用於該陣列測試之訊號及/或電源供應至該墊片單元190或露出之訊號線和電源線及/或電極、及藉 由偵測流過該些接線及/或該些電晶體之電流或施加於該些接線及/或該些電晶體之電壓而被執行。
尤其，在該陣列測試期間，該陣列測試訊行TD1係透過該墊片單元190來供應至該第一測試單元160，且供應至該第一測試單元160之陣列測試訊行TD1係透過該資料分佈單元170來傳送至該些資料線D1至D3m。
如上所述，陣列測試訊號被供應至該些面板110以檢查位在該些面板110內之接線及/或電晶體之耦接狀態(例如，是否產生開放故障或短路故障)。用於位在該母基板上之面板110執行該發光測試及/或老化測試之片單元測試係在完成該有機發光顯示器形成步驟之後執行之。
上述片單元測試係對已完成該陣列測試之母基板110所在處之複數個面板110執行之，用以改善該測試效率。為了以片為單位來對該些面板110執行該測試，用於耦接該複數個面板110之片單元接線(例如該第一及第二接線群組120及130)被執行，且用於透過該些片單元接線來對該複數個面板110執行測試之訊號及/或電源被供應。
在此，當該第一測試單元160和該資料分佈單元170係開放電路時，該片單元測試可藉由供應該些片單元測試訊號至該第二測試單元180而被執行。也就是說，該些片單元測試訊號TD2_R、TD2_G和TD2_B及該陣列測試訊號TD1係未同時供應。
因此，在執行該片單元測試時將電性耦接至該第一測試單元160和該資料分佈單元170以供應該偏壓訊號至該第一測試單元160之至少一接線(未顯示)可進一步被包含於該第一及/或第二接線群組120及130。
該至少一接線可被納入，用以阻止因為透過該第一及第二接線群組120及130來同時供應該電源和該些訊號至該複數個面板110之步驟中所產生之訊號延遲所導致該些面板110中至少一部分之錯誤操作。
詳細地，自該片單元測試墊片TP至將用於該片單元測試之電源及/或訊號供應至置於該母基板100中心之面板110處之距離隨著該面板110更接近該母基板100中心處而增加。據此，一訊號延遲在通過該第一和第二接線群組120和130時會變得嚴重，使得接收該延遲電源及/或訊號之這類中心面板11會錯誤地操作。
尤其，當供應至該資料分佈單元170之紅色、綠色和藍色時脈訊號CLK_RGB產生延遲時，該像素電路可能沒有足夠時間來充電一資料電壓而未顯示一正確影像，或是難以同步該片單元測試控制訊號TG2及該些時脈訊號CLK_RGB。
因此，在透過該第一和第二接線群組120和130進行該片單元測試期間，並未透過該資料分佈單元170來供應該些片單元測試訊號TD2_R、TD2_G和TD2_B。替代性地，該第二測試單元180被提供以供應該些片單元測試訊號TD2_R、TD2_G和TD2_B，使得該面板110之錯誤操作被阻止。也就是說，該資料分佈單元170所執行之陣列測試係針對該些面板110進行該陣列測試，且在該片單元測試被執行時，該資料分佈單元170被關閉。
該第二測試單元180包含由相同之片單元測試控制訊號TG2同時(例如，同時間)導通以供應該些片單元測試訊號TD2_R、TD2_G和TD2_B至該些資料線D1至D3m之複數個第二測試電晶體M1至M3m。據此，可在該延遲訊號被 輸入至該資料分佈單元170時防止同步化難以進行，並防止錯誤操作產生。因此，例如該發光測試之片單元測試可被有效地執行。
根據稍後所述之本發明另一實施例，為了在該片單元測試期間初始化該些資料線，該第一測試單元160及該資料分佈單元170可於一重置週期內導通。然而，在本例中，輸入該資料分佈單元170之時脈訊號CLK_RGB之輸入線係共同耦接至一片單元接線(未顯示)並利用一開關訊號SW來操作，使得同步化相關問題不會產生。
如上所述，對於根據本發明一實施例之有機發光顯示器之母基板100而言，位在該母基板100上之面板110進行該片單元測試可被執行，且該複數個面板110之測試電源及/或訊號係透過該第一和第二接線群組120和130來供應而使該測試可以片為單位來執行之。
因此，可降低測試時間及測試成本，使得測試效率被改進。更進一步，即使構成該面板110之電路接線有變或該面板110之尺寸有變，若該第一和第二接線群組120和130之電路接線及該母基板100之尺寸未改變，該測試可被執行而不改變一測試設備或一測試架。
根據本發明實施例，該第V個補償單元200係耦接至一耦合接線CL以耦接該第四片單元接線132來將包含於該第一和第二接線群組120和130內之片單元接線之中之片單元測試訊號TD2_R、TD2_G和TD2_B傳送至該些面板110。該第V個補償單元200將對應至包含於該些面板110之像素中之驅動電晶體之臨界電壓之該些電壓自該些片單元測試訊號TD2_R、TD2_G和TD2_B中減去並供應該些相減結果至該些面板110。
當該些面板110包含射出紅光(或對應至紅光之光)之紅色像素、射出綠光(或對應至綠光之光)之綠色像素及射出藍光(或對應至藍光之光)之藍色像素，且用於傳送該些片單元測試訊號TD2_R、TD2_G和TD2_B之第四片單元接線132包含至少三接線以傳送該紅色片單元測試訊號TD2_R、該綠色片單元測試訊號TD2_G和該藍色片單元測試訊號TD2_B時，該第V個補償單元200可被耦接至該至少三接線。
也就是說，根據本發明實施例，該些片單元測試訊號TD2_R、TD2_G和TD2_B係使用該些片單元接線中其中一些片單元接線來供應至該複數個面板110之資料線D1至D3m，且將對應至包含該些像素內之驅動電晶體之臨界電壓之電壓自該些片單元測試訊號TD2_R、TD2_G和TD2_B中減去而使該些相減結果被供應至該些面板110。
因此，在供應該些片單元測試訊號TD2_R、TD2_G和TD2_B之週期中二極體式耦接之電晶體且具有與包含於該些像素152內之驅動電晶體類似或相同臨界電壓被提供於該第V個補償單元200。此外，該些片單元測試訊號TD2_R、TD2_G和TD2_B係在該些電晶體為二極體式耦接時透過該些電晶體來供應至該些面板110。
如上所述，根據本發明實施例，該些片單元接線被設計於該母基板100上以使該片單元測試可被執行，且用於補償該些驅動電晶體臨界電壓之第V個補償單元200係耦接至該些輸入線，以透過該些輸入線將該些片單元測試訊號TD2_R、TD2_G和TD2_B輸入至該面板110。因此，儘管一有機發光顯示器包含具有一簡單結構之像素電路之像素，但是在該片單元測試期間由臨界電壓變化所引起之亮度變化被阻止或降低，且老化測試可被有效地執行。
該第V個補償單元200係置於該面板110劃線之另一側以透過該第V個補償單元200來接收該些片單元測試訊號TD2_R、TD2_G和TD2_B。因此，該第V個補償單元200在劃線後係電性絕緣於該面板110之其它構件而使該第V個補償單元200不影響到該面板110之驅動。
第4圖係說明第3圖之第V個補償單元範例之電路圖。第5圖係驅動說明第4圖之第V個補償單元之方法之波形圖。
首先，參考至第4圖，該第V個補償單元200包含耦接至該些片單元接線之第一至第三補償電路210、220和230以分別傳送該紅色、綠色和藍色片單元測試訊號TD2_R、TD2_G和TD2_B。既然該第一至第三補償電路210、220和230每一個包含第一至第三電晶體T1至T3及一電容器C並具有相同結構，此後，該第V個補償單元200之結構將主要參考該些補償電路中其中之一來說明之。
該第V個補償單元200包含一第一電晶體T1、一第二電晶體T2、一第三電晶體T3及一電容器C。該第一電晶體係耦接於傳送該些片單元測試訊號TD2_R、TD2_G和TD2_B之片單元接線及接收該些片單元測試訊號TD2_R、TD2_G和TD2_B之面板墊片P之間。該第二電晶體T2係耦接於該第一電晶體T1之閘極及該第一電晶體T1之汲極間，用於在傳送該些片單元測試訊號TD2_R、TD2_G和TD2_B之所在週期內根據第一開關訊號TW1來二極體式耦接該第一電晶體T1。該第三電晶體T3係耦接於該第一電晶體T1之汲極及該第一電晶體T1之重置電壓源間，用於在供應該些片單元測試訊號TD2_R、TD2_G和TD2_B之前之重置週期內根據第二開關訊號TW2來初始化該第一電晶體T1之汲極電壓。該電容器C係耦接於該第一電晶體T1之閘極及一閘極高位準電壓源VGH之間。
一種驅動該第V個補償單元之方法將參考第5圖波形圖來說明。首先，於該重置週期內供應一高位準之第一開關訊號SW1及一低位準之第二開關訊號SW2。因此，該第二電晶體T2導通且該第三電晶體T3關閉。
當該第三電晶體T3導通時，利用該重置電壓源Vreset之電壓來初始化該第一電晶體T1之汲極電壓。該重置電壓源Vreset之電壓被設定為低位準，使得從輸入該些片單元測試訊號TD2_R、TD2_G和TD2_B之片單元接線至該墊片P之方向在接下來之補償及測試訊號應用週期內會使該第一電晶體變成一順向二極體式耦接方向。接著，既然該面板之資料線可透過該第二測試單元來耦接至該第一電晶體之汲極，該些資料線也可被初始化。
在該重置週期中，該第一電晶體T1係藉由該電容器C受到該閘極高位準電壓源VGH之影響而持續關閉。接著，在該補償及測試訊號應用週期內，一低位準之第一開關訊號SW1及一高位準之第二開關訊號SW2被供應。因此，該第三電晶體T3關閉且該第二電晶體T2導通。
當該第二電晶體T2導通時，該第一電晶體T1係二極體式耦接。因此，該些片單元測試訊號TD2_R、TD2_G和TD2_B每一個減去該第一電晶體T1之臨界電壓並透過該第一電晶體T1來輸入至該墊片P。輸入至該墊片P之片單元測試訊號TD2_R、TD2_G和TD2_B係由該第二測試單元來供應至該資料線。
該第一電晶體T1之臨界電壓被設計以對應包含於該些像素之驅動電晶體之臨界電壓。例如，該第一電晶體T1之臨界電壓可被設計以具有與該些驅動電晶體之臨界電壓類似之值或相同之值。
因此，既然該像素接收將該些臨界電壓先減去之片單元測試訊號TD2_R、TD2_G和TD2_B，由該些驅動電晶體供應至該有機發光顯示器之驅動 電流中之臨界電壓效應被補償，因而阻止或降低該些面板及該些像素之亮度變化之產生。
第6圖係說明第3圖之第V個補償單元之另一範例之電路圖。基於便利之故，在第6圖中，將省略與第4圖相同構件之詳細說明。
參考至第6圖，一第V個補償單元200’未包含第4圖之第三電晶體T3。因此，該重置電壓源之電壓未供應至該些資料線。
在本例中，在減去該第一和第二電晶體T1和T2之臨界電壓之片單元測試訊號TD2_R、TD2_G和TD2_B被供應之前之重置週期內，可使用第3圖之第一測試單元160和資料分佈單元170來供應該重置電壓Vreset。
也就是說，當用於初始化該第V個補償單元200’之構件被省略時，在該片單元測試週期內供應該些片單元測試訊號TD2_R、TD2_G和TD2_B至該些面板之前，可使用該第一測試單元160和該資料分佈單元170來供應該重置電壓Vreset至該些資料線D1至D3m。詳細地，當該開關訊號SW和該閘極低位準電壓VGL分別供應至該資料分佈單元170和該第一測試單元160而使該開關訊號SW和該閘極低位準電壓VGL導通時，該重置電壓Vreset被供應至該些第一測試電晶體M11至M1m之源極而使該重置電壓Vreset被供應至該些資料線D1至D3m。
因此，在該第一或第二接線群組中，用於供應該低位準電壓VGL和該重置電壓Vreset至該第一測試單元160之片單元接線及用於供應該開關訊號SW至該資料分佈單元170之片單元接線可被另外提供。接著，用於供應該紅色、綠色和藍色時脈訊號CLK_RGB至該資料分佈單元170之輸入接線可被共同耦接至一片單元接線。
當上述第V個補償單元200’被使用時，相較於第4圖之第V個補償單元200，該第三電晶體T3可被省略。因此，該第V個補償單元200’變得更簡單，使得設計變得更容易，因而該第一電晶體T1可被設計的更大。因而可改善臨界電壓補償能力。
此外，既然該第一測試單元160及該資料分佈單元170係於該片單元測試期間進行驅動，該資料分佈單元170於該片單元測試期間是否正常驅動可被決定。
在本發明觀點已結合某些示範性實施例來說明時，要了解到本發明並不受所示實施例限制，反之，係要涵蓋所附申請專利範圍之精神及範圍所包含之各種修改及等效安排與其等效例。
140‧‧‧掃描驅動器
150‧‧‧顯示單元
152‧‧‧像素
160‧‧‧第一測試單元
170‧‧‧資料分佈單元
180‧‧‧第二測試單元
190‧‧‧墊片單元
200‧‧‧第V個補償單元

Claims (12)

  1. 一種母基板，包括：複數個有機發光顯示面板，安排成一矩陣；一第一接線群組，包含位在該些面板四周並延伸於一第一方向以傳送外部測試電源或訊號中至少其中之一至該些面板之複數個第一接線；一第二接線群組，包含位在該些面板四周並延伸於與該第一方向相交之第二方向以傳送外部測試電源或訊號中至少其中之一至該些面板之複數個第二接線；及一補償單元，係耦接至一耦合接線，該耦合接線耦接來自於該第一和第二接線群組中的一片單元接線至該些面板之一，該片單元接線係被架構以將一片單元測試訊號傳送至該些面板之至少兩個，該補償單元被架構以在傳送該片單元測試訊號至該些面板之一的像素之前，先將包含於該些面板之一的該像素中之驅動電晶體臨界電壓相對應之電壓自該片單元測試訊號中減去。
  2. 如申請專利範圍第1項之母基板，其中，該補償單元包括：一第一電晶體，係耦接於該耦合接線及該些面板之墊片之間並被架構以接收該片單元測試訊號，該耦合接線被架構以傳送該片單元測試訊號；一第二電晶體，耦接於該第一電晶體之閘極及該第一電晶體之汲極間，用於在傳送該片單元測試訊號之所在的一片單元測試週期內根據一第一開關訊號來二極體式耦接該第一電晶體；及 一電容器，耦接於該第一電晶體之閘極及一閘極高位準電壓源間。
  3. 如申請專利範圍第2項之母基板，其中，該補償單元進一步包含一第三電晶體，耦接於該第一電晶體之汲極及一重置電壓源間，用於在該片單元測試週期前之重置週期內根據一第二開關訊號來初始化該第一電晶體之汲極電壓。
  4. 如申請專利範圍第1項之母基板，其中，該補償單元係置於遠離透過該補償單元來接收該片單元測試訊號之該面板之一的劃線的另一側上。
  5. 如申請專利範圍第1項之母基板，其中該補償單元包含複數個補償單元，且，該些面板之每一個面板包括：一墊片單元，包括用於傳送電源及訊號至該面板之複數個墊片；一顯示單元，包括置於資料線和掃描線相交區域之複數個像素；一掃描驅動器，用於供應掃描訊號至該些掃描線；一第一測試單元，包括耦接於該些資料線之一末端及該墊片單元間以將透過該墊片單元所供應之陣列測試訊號或重置電壓供應至該些資料線之複數個第一測試電晶體；一資料分佈單元，耦接於該第一測試單元及該些資料線之間以將供應自該些第一測試電晶體中每一個之陣列測試訊號或重置電壓加以分佈並輸出至該些資料線；及 一第二測試單元，包括耦接於該些資料線中之另一末端及該些補償單元之相對應的一個之間以將供應自該些補償單元之一的該片單元測試訊號傳送至該些資料線之複數個第二測試電晶體。
  6. 如申請專利範圍第5項之母基板，其中，該第一測試單元及該資料分佈單元被架構以在該片單元測試週期之前於一重置週期內導通以將傳送自該墊片單元之重置電壓供應至該些資料線，在該片單元測試週期中是透過該第二測試單元來傳送該片單元測試訊號。
  7. 如申請專利範圍第1項之母基板，其中，該些面板中之每一個包括對應至紅光之射出光之紅色像素、對應至綠光之射出光之綠色像素及對應至藍光之射出光之藍色像素，其中，該片單元接線包括至少三接線以分別傳送紅色片單元測試訊號、綠色片單元測試訊號及藍色片單元測試訊號至該面板之一的該些紅色像素、該些綠色像素及該些藍色像素，及其中，該補償單元包括耦接至該至少三接線之補償電路。
  8. 如申請專利範圍第1項之母基板，其中，該片單元測試訊號係一發光測試訊號或一老化訊號。
  9. 如申請專利範圍第1項之母基板，其中，該些面板包括用於顯示一影像之複數個像素，且其中該些像素中之每一個包括： 一有機發光二極體(OLED)，耦接於一第一像素電源和一第二像素電源間；一驅動電晶體，耦接於該第一像素電源和該有機發光二極體之間；一儲存電容器，耦接於該驅動電晶體之閘極和該驅動電晶體之源極之間；及一開關電晶體，耦接於該驅動電晶體之閘極和一資料線之間並具有耦接至一掃描線之閘極。
  10. 一種測試有機發光顯示器之母基板之片單元測試方法，該母基板包括複數個面板，該些面板中之每一個包括置於掃描線和資料線相交區域之複數個像素，以及位在該複數個面板四周以透過複數個耦合接線供應測試電源或訊號至該複數個面板之複數個片單元接線，該方法包括：使用該些耦合接線中之其中一些來供應複數個片單元測試訊號至該複數個面板中之資料線；及在傳送該些片單元測試訊號至該些面板中之資料線前，先將包含於該些像素中與驅動電晶體臨界電壓相對應之電壓自該些片單元測試訊號中減去。
  11. 如申請專利範圍第10項之方法，其中，該些片單元測試訊號係透過二極體式耦接至該些耦合接線中之一些耦合接線之電晶體來供應至該些面板中之資料線。
  12. 如申請專利範圍第10項之方法，進一步包括在供應該些片單元測試訊號前先使用該些耦合接線中之其餘耦合接線來供應一重置電壓至該複數個面板中之資料線。
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