KR102495832B1 - 표시장치 및 이의 검사방법 - Google Patents

표시장치 및 이의 검사방법 Download PDF

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Abstract

다수의 링크라인에 대한 불량 검출을 용이하게 수행할 수 있는 표시장치가 제공된다. 표시장치는, 표시패널의 본딩영역에 링크라인 검사회로를 구성하여 표시패널의 링크영역의 다수의 링크라인에 대한 오픈 및 쇼트 불량을 검사함으로써, 칩 온 필름 구조에서 다수의 링크라인의 불량을 용이하게 검출할 수 있다.

Description

표시장치 및 이의 검사방법{Display device and inspection method thereof}
본 발명은 표시장치에 관한 것으로, 특히 칩 온 필름(Chip On Film; COF) 구조의 표시장치에서 링크라인의 불량을 용이하게 검출할 수 있는 표시장치 및 이의 검사방법에 관한 것이다.
평판표시장치로서 현재까지는 액정표시장치(Liquid Crystal Display device; LCD)가 널리 이용되었지만, 액정표시장치는 별도의 광원으로 백라이트가 필요하고, 밝기, 명암비 및 시야각 등에서 기술적 한계가 있다. 이에, 자체발광이 가능하여 별도의 광원이 필요하지 않고, 밝기, 명암비 및 시야각 등에서 상대적으로 우수한 유기발광표시장치(Organic Light Emitting diode Display device; OLED)에 대한 관심이 증대되고 있다.
유기발광표시장치는 전자(electron)를 주입하는 음극(cathode)과 정공(hole)을 주입하는 양극(anode) 사이에 발광층이 형성된 발광소자, 즉 유기발광소자를 구비한다. 유기발광표시장치는 유기발광소자의 음극에서 발생된 전자 및 양극에서 발생된 정공이 발광층 내부로 주입되면 주입된 전자 및 정공이 결합하여 발광을 일으킴으로써 화상을 표시하는 표시장치이다.
도 1은 종래의 유기발광표시장치를 개략적으로 나타내는 도면이다.
도 1에 도시된 바와 같이, 종래의 유기발광표시장치(10)는 표시패널(11), 게이트구동회로(13), 데이터구동회로(15) 및 연성회로기판(12)을 포함하여 구성된다.
표시패널(11)은 검사영역(T/A), 표시영역(A/A), 링크영역(L/A) 및 본딩영역(B/A)을 포함한다. 표시패널(11)의 표시영역(A/A)을 제외한 나머지 영역은 비표시영역으로, 베젤(bezel) 등에 의해 가려진다.
표시패널(11)의 표시영역(A/A)에는 다수의 게이트라인(미도시) 및 다수의 데이터라인(미도시)에 연결된 다수의 화소(P)가 형성되고, 각 화소(P)는 유기발광소자(미도시)를 포함한다.
게이트구동회로(13)는 표시영역(A/A)의 양측에 게이트 인 패널(Gate In Panel; GIP) 형태로 구성된다. 게이트구동회로(13)는 표시영역(A/A)의 다수의 게이트라인에 게이트신호를 출력한다.
데이터구동회로(15)는 칩(chip) 형태로 구성되어 연성회로기판(12) 상에 칩 온 필름의 형태로 구성된다. 데이터구동회로(15)는 연성회로기판(12)의 다수의 전송라인(미도시) 및 링크영역(L/A)의 다수의 링크라인(LL)을 통해 표시영역(A/A)의 다수의 데이터라인에 데이터전압을 출력한다.
연성회로기판(12)은 표시패널(11)의 본딩영역(B/A)에 부착되며, 다수의 전송라인이 형성되어 외부회로(미도시)와 연결된다. 연성회로기판(12)은 외부회로에서 제공된 제어신호를 다수의 전송라인을 통해 데이터구동회로(15)에 전달한다. 또, 연성회로기판(12)은 링크영역(L/A)의 다수의 링크라인(LL)을 통해 게이트구동회로(13)에 제어신호를 전달한다.
표시패널(11)의 검사영역(T/A)에는 표시영역(A/A)의 동작 상태를 검사하기 위한 검사회로(14)가 구성된다. 검사회로(14)는 외부장치(미도시)로부터 인가된 검사신호를 다수의 검사라인(TL)을 통해 게이트구동회로(13) 및 표시영역(A/A)의 다수의 화소(P)에 각각 제공한다. 검사회로(14)는 검사신호에 의해 발광되는 표시영역(A/A)의 각 화소(P)의 성능을 검사한다. 검사신호는 게이트구동회로(13)를 동작시키는 제어신호 및 각 화소(P)에 제공되는 데이터전압을 포함한다.
이러한 종래의 유기발광표시장치(10)에서는 표시패널(11)의 링크영역(L/A)을 벤딩(bending)시켜 하부 비표시영역의 폭을 줄임으로써 내로우베젤을 구현한다. 이를 위하여, 표시패널(11)의 링크영역(L/A)에서는 무기막 등의 보호층의 두께가 감소되며, 이로 인해 링크영역(L/A)의 벤딩에 따른 곡률반경이 유지된다. 이때, 링크영역(L/A)에 형성된 다수의 링크라인(LL)은 두께가 감소된 보호층에 의해 외부 충격에 오픈(open)되거나 또는 쇼트(short)되는 불량이 발생된다. 이에 따라, 다수의 링크라인(LL)의 오픈 및 쇼트에 따른 불량여부 검사가 필요하다.
그러나, 상술한 유기발광표시장치(10)의 검사회로(14)는 검사영역(T/A), 즉 표시패널(11)의 표시영역(A/A)과 표시패널(11)의 상단 사이의 영역에 배치되므로, 링크영역(L/A)의 다수의 링크라인(LL)의 불량 검사가 불가능하다.
즉, 종래의 유기발광표시장치(10)의 검사회로(14)는, 외부장치에서 인가된 검사신호를 게이트구동회로(13) 및 표시영역(A/A)의 다수의 화소(P)로 출력한다. 따라서, 검사회로(14)로부터 출력되는 검사신호는 링크영역(L/A)의 다수의 링크라인(LL)에 전달되지 않으며, 이로 인해 종래의 유기발광표시장치(10)는 다수의 링크라인(LL)의 오픈 또는 쇼트 불량을 검출하지 못한다.
본 발명은 다수의 링크라인에 대한 불량 검출을 용이하게 수행할 수 있는 표시장치 및 이의 검사방법을 제공하고자 하는 데 있다.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 표시장치는, 표시영역, 본딩영역 및 링크영역을 포함하는 표시패널과, 상기 표시패널의 링크영역에서 링크라인의 불량을 검출하는 링크라인 검사회로를 포함한다.
표시패널의 표시영역에는 다수의 화소가 구성되고, 본딩영역에는 다수의 패드가 구성되며, 링크영역에는 다수의 링크라인이 구성된다.
링크라인 검사회로는 표시패널의 본딩영역에 배치되며, 다수의 패드 중 적어도 하나의 패드를 통해 제공된 테스트신호를 다수의 링크라인으로 출력하여 링크라인의 불량을 검출한다.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 표시장치의 검사방법은, 표시패널의 다수의 링크라인의 오픈 불량을 검출하는 단계 및 표시패널의 다수의 링크라인의 쇼트 불량을 검출하는 단계를 포함한다.
다수의 링크라인의 오픈 불량을 검출하는 단계는, 검사장치로부터 제공된 테스트신호를 표시패널의 다수의 링크라인으로 동시에 출력하여 이루어진다.
다수의 링크라인의 쇼트 불량을 검출하는 단계는, 검사장치로부터 제공된 테스트신호를 표시패널의 다수의 링크라인에 번갈아 출력하여 이루어진다.
본 발명의 표시장치는, 표시패널의 본딩영역에 링크라인 검사회로를 구성하여 표시패널의 링크영역의 다수의 링크라인에 대한 오픈 및 쇼트 불량을 검사함으로써, 칩 온 필름 구조의 표시장치에서 다수의 링크라인의 불량을 용이하게 검출할 수 있다.
또한, 표시장치는 링크라인 검사회로를 이용한 링크라인의 오픈 및 쇼트 불량 검사가 종료된 후, 본딩영역에 부착되는 연성회로기판을 이용하여 링크라인 검사회로의 동작을 중단시킴으로써, 표시장치의 제조 공정에서 링크라인 검사회로의 컷팅 공정을 생략할 수 있다. 이에 따라, 표시장치의 제조비용 감소 및 제조공정을 간소화할 수 있다.
도 1은 종래의 유기발광표시장치를 개략적으로 나타내는 도면이다.
도 2는 본 발명에 따른 유기발광표시장치를 나타내는 도면이다.
도 3은 도 2의 하나의 화소에 대한 회로도를 나타내는 도면이다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 제2검사회로를 나타내는 도면이다.
도 5는 도 4의 제2검사회로의 동작에 따른 신호 파형을 나타내는 도면이다.
도 6은 본 발명의 다른 실시예에 따른 제2검사회로를 나타내는 도면이다.
도 7a 및 도 7b는 도 6의 제2검사회로의 동작에 따른 신호 파형을 나타내는 도면들이다.
도 8은 본 발명의 일 실시예에 따른 제1검사회로를 나타내는 도면이다.
도 9는 본 발명의 유기발광표시장치의 검사동작에 따른 제1검사회로와 제2검사회로의 신호 파형을 나타내는 도면이다.
이하, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명에 따른 표시장치에 대해 상세히 설명한다.
도 2는 본 발명에 따른 유기발광표시장치를 나타내는 도면이고, 도 3은 도 2의 하나의 화소에 대한 회로도를 나타내는 도면이다.
도 2 및 도 3을 참조하면, 본 실시예의 유기발광표시장치(100)는 표시패널(110), 이를 구동하는 다수의 구동회로들 및 표시패널(110)을 검사하는 다수의 검사회로들을 포함할 수 있다.
표시패널(110)은 검사영역(T/A), 표시영역(A/A), 링크영역(L/A) 및 본딩영역(B/A)을 포함할 수 있다.
표시패널(110)의 검사영역(T/A)에는 제1검사회로(130)가 배치될 수 있다. 제1검사회로(130)는 표시패널(110)의 각 화소(P)의 동작 상태를 검사할 수 있는 화소성능 검사회로이다. 제1검사회로(130)는 검사장치(미도시)로부터 제공된 테스트신호를 다수의 제1검사라인(TL1)을 통해 게이트구동회로(120) 및 표시패널(110)의 각 화소(P)에 인가한다. 제1검사회로(130)는 테스트신호에 따라 표시패널(110)의 각 화소(P)의 동작성능, 예컨대 화소(P)의 발광휘도를 검사할 수 있다. 이러한 제1검사회로(130)의 구성 및 동작은 후에 도면을 참조하여 상세히 설명한다.
표시패널(110)의 표시영역(A/A)에는 다수의 화소(P)가 매트릭스 형태로 배치된다. 다수의 화소(P) 각각은 다수의 게이트라인(GL) 및 다수의 데이터라인(DL)의 교차영역마다 배치될 수 있다. 또한, 표시영역(A/A)에는 다수의 화소(P) 각각에 구동전압(VDD) 및 기저전압(VSS)을 공급하기 위한 전원라인(미도시)이 더 형성될 수 있다.
다수의 화소(P) 각각은 스위칭TFT(ST), 구동TFT(DT), 스토리지커패시터(C) 및 유기발광소자(OLED)를 포함할 수 있다.
스위칭TFT(ST)는 게이트라인(GL)에 접속되고, 게이트라인(GL)을 통해 인가되는 게이트신호에 따라 스위칭 동작된다. 스위칭TFT(ST)의 게이트전극은 게이트라인(GL)에 접속되고, 드레인전극은 데이터라인(DL)에 접속되며, 소스전극은 구동TFT(DT)의 게이트전극에 접속된다. 스위칭TFT(ST)는 게이트라인(GL)을 통해 인가되는 게이트신호에 따라 턴-온되며, 데이터라인(DL)을 통해 인가되는 데이터전압을 구동TFT(DT)에 제공할 수 있다.
구동TFT(DT)는 스위칭TFT(ST)로부터 제공된 데이터전압에 따라 스위칭 동작된다. 구동TFT(DT)는 게이트-소스전압(Vgs)에 따라 구동전압(VDD)으로부터 유기발광소자(OLED)에 흐르는 전류, 즉 구동전류(Id)의 크기를 제어할 수 있다. 구동TFT(DT)의 게이트전극은 스위칭TFT(ST)에 접속되고, 드레인전극에는 전원라인을 통해 구동전압(VDD)이 인가되며, 소스전극은 유기발광소자(OLED)의 애노드전극에 접속된다.
스토리지커패시터(C)는 스위칭TFT(ST)로부터 구동TFT(DT)로 인가되는 데이터전압을 표시패널(110)의 1프레임 동안 일정하게 유지시킨다.
유기발광소자(OLED)는 구동TFT(DT)에 접속되며, 구동TFT(DT)로부터 인가되는 구동전류에 따라 소정 휘도를 갖는 광을 발생시킨다. 유기발광소자(OLED)의 애노드전극은 구동TFT(DT)에 접속되고, 캐소드전극에는 전원라인을 통해 기저전압(VSS)이 인가된다.
표시패널(110)의 링크영역(L/A)에는 다수의 링크라인(LL)이 형성될 수 있다. 다수의 링크라인(LL)은 표시패널(110)의 표시영역(A/A)과 본딩영역(B/A) 사이에 형성될 수 있다. 다수의 링크라인(LL)은 게이트링크라인(GLL) 및 데이터링크라인(DLL)을 포함할 수 있다.
게이트링크라인(GLL)은 연성회로기판(200)의 다수의 전송라인(미도시)과 게이트구동회로(120) 사이에 형성될 수 있다. 게이트링크라인(GLL)은 연성회로기판(200)으로부터 제공되는 게이트제어신호를 게이트구동회로(120)로 전달할 수 있다.
데이터링크라인(DLL)은 연성회로기판(200)의 다수의 전송라인과 표시패널(110)의 다수의 데이터라인(DL) 사이에 형성될 수 있다. 데이터링크라인(DLL)은 연성회로기판(200)의 데이터구동회로(250)로부터 제공되는 데이터전압을 다수의 데이터라인(DL)으로 전달할 수 있다.
또한, 다수의 링크라인(LL)은 게이트구동회로(120) 및 표시영역(A/A)의 각 화소(P)에 각종 전압들을 전달하기 위한 전원링크라인(미도시)을 더 포함할 수 있다.
표시패널(110)의 본딩영역(B/A)에는 연성회로기판(200)이 부착되는 다수의 패드(미도시)가 구성될 수 있다. 다수의 패드에는 연성회로기판(200)의 다수의 전송라인(미도시) 각각의 일단이 대응되어 부착된다. 다수의 패드는 링크영역(L/A)에 형성된 다수의 링크라인(LL) 각각과 대응되어 연결될 수 있다.
한편, 표시패널(110)의 링크영역(L/A)은 표시패널(110)의 배면 방향으로 벤딩(bending)된다. 이에, 벤딩 시 곡률반경의 유지를 위하여 링크영역(L/A)에서는 다수의 링크라인(LL) 상에 형성되는 보호층(미도시)의 두께가 타 영역보다 감소된다. 이로 인해, 외부 충격 등으로 인한 다수의 링크라인(LL)의 오픈(open) 또는 쇼트(short) 불량이 발생될 수 있다.
이에, 본 실시예의 유기발광표시장치(100)는 표시패널(110)의 본딩영역(B/A)에 제2검사회로(140)가 추가로 구성될 수 있다. 제2검사회로(140)는 표시패널(110)의 다수의 링크라인(LL)의 불량여부를 검사할 수 있는 링크라인 검사회로이다.
제2검사회로(140)는 다수의 제2검사라인(미도시)을 통해 본딩영역(B/A)의 다수의 패드 중 하나 이상의 패드에 접속될 수 있다. 그리고, 접속된 하나 이상의 패드를 통해 링크영역(L/A)의 하나 이상의 링크라인(LL)에 연결될 수 있다. 제2검사회로(140)는 검사장치로부터 제공된 테스트신호를 다수의 제2검사라인(미도시) 및 이에 접속된 패드를 통해 다수의 링크라인(LL)으로 출력할 수 있다. 이러한 제2검사회로(140)의 구성 및 동작은 후에 도면을 참조하여 상세히 설명한다.
다수의 구동회로들은 게이트구동회로(120) 및 데이터구동회로(250)를 포함할 수 있다.
게이트구동회로(120)는 표시영역(A/A)의 적어도 일측에 게이트 인 패널(Gate In Panel; GIP)의 형태로 구성될 수 있다. 게이트구동회로(120)는 연성회로기판(200)의 다수의 전송라인 및 링크영역(L/A)의 다수의 게이트링크라인(GLL)을 통해 제공되는 게이트제어신호에 따라 게이트신호를 생성할 수 있다. 게이트구동회로(120)는 게이트신호를 표시영역(A/A)의 다수의 게이트라인(GL)에 순차적으로 출력할 수 있다.
데이터구동회로(250)는 연성회로기판(200) 상에 칩 온 필름(Chip On Film; COF)의 형태로 구성될 수 있다. 데이터구동회로(250)는 연성회로기판(200)의 다수의 전송라인을 통해 제공되는 데이터제어신호에 따라 데이터전압을 생성할 수 있다. 데이터구동회로(250)는 데이터전압을 다수의 데이터링크라인(DLL)을 통해 표시영역(A/A)의 다수의 데이터라인(DL)에 출력할 수 있다.
연성회로기판(200)은 일측이 표시패널(110)의 본딩영역(B/A)에 본딩되고, 타측이 외부시스템에 연결된다. 연성회로기판(200)에는 다수의 전송라인이 형성될 수 있다. 연성회로기판(200)은 외부시스템으로부터 다수의 전송라인을 통해 제공되는 제어신호, 예컨대 게이트제어신호 및 데이터제어신호를 각각 게이트구동회로(120) 및 데이터구동회로(250)로 전달할 수 있다. 또한, 연성회로기판(200)은 데이터구동회로(250)로부터 출력된 데이터전압을 다수의 전송라인을 통해 본딩영역(B/A)으로 전달할 수 있다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 제2검사회로를 나타내는 도면이고, 도 5는 도 4의 제2검사회로의 동작에 따른 신호 파형을 나타내는 도면이다.
도 2 및 도 4를 참조하면, 표시패널(110)의 본딩영역(B/A)에는 패드부(150) 및 제2검사회로(140)가 각각 배치될 수 있다.
패드부(150)는 연성회로기판(200)의 각 전송라인의 일단이 부착되는 다수의 패드, 예컨대 다수의 전원패드(VP1, VP2), 다수의 데이터패드(DP1~DP4) 및 다수의 테스트패드(TP1, TP2)를 포함할 수 있다.
다수의 전원패드(VP1, VP2)는 링크영역(L/A)의 다수의 링크라인(LL) 중 하나 이상의 전원링크라인(VLL)에 접속된다. 다수의 전원패드(VP1, VP2)는 연성회로기판(200)의 전원전송라인을 통해 제공된 전원신호, 예컨대 기저전압(VSS) 및 게이트로우전압(VGL)을 전원링크라인(VLL)으로 출력할 수 있다. 기저전압(VSS)은 제1전원패드(VP1) 및 전원링크라인(VLL)을 통해 표시영역(A/A)의 전원라인에 제공된다. 게이트로우전압(VGL)은 제2전원패드(VP2) 및 전원링크라인(VLL)을 통해 게이트구동회로(120)에 제공된다.
다수의 데이터패드(DP1~DP4)는 링크영역(L/A)의 다수의 링크라인(LL) 중 하나 이상의 데이터링크라인(DLL)에 접속된다. 다수의 데이터패드(DP1~DP4)는 연성회로기판(200)의 데이터전송라인을 통해 제공된 데이터전압을 데이터링크라인(DLL)으로 출력할 수 있다. 데이터전압은 다수의 데이터패드(DP1~DP4) 및 데이터링크라인(DLL)을 통해 표시영역(A/A)의 다수의 데이터라인(DL)에 제공된다.
다수의 테스트패드(TP1, TP2)는 다수의 제2검사라인(TL2)을 통해 제2검사회로(140)에 접속된다. 다수의 테스트패드(TP1, TP2)는 검사장치로부터 인가된 테스트신호를 다수의 제2검사라인(TL2)을 통해 제2검사회로(140)로 출력할 수 있다. 다수의 테스트패드(TP1, TP2)는 제2-1검사라인(TL2-1)을 통해 제2검사회로(140)에 접속된 제1테스트패드(TP1) 및 제2-2검사라인(TL2-2)을 통해 제2검사회로(140)에 접속된 제2테스트패드(TP2)를 포함할 수 있다.
제2검사회로(140)는 검사장치로부터 다수의 테스트패드 (TP1, TP2)를 통해 인가되는 신호에 의해 스위칭 동작되는 제1TFT(T1) 내지 제4TFT(T4)를 포함할 수 있다. 본 실시예는 제2검사회로(140)가 제1데이터패드(DP1) 내지 제4데이터패드(DP4)와 대응되어 연결된 제1TFT(T1) 내지 제4TFT(T4)를 포함하는 구성을 예로 도시하고 설명한다. 그러나, 제2검사회로(140)는 다수의 데이터패드(DP1~DP4) 각각에 대응되어 연결된 다수의 스위칭소자를 포함할 수 있다.
제2검사회로(140)의 제1TFT(T1) 내지 제4TFT(T4)는 제1데이터패드(DP1) 내지 제4데이터패드(DP4)에 각각 대응되어 연결되고, 스위칭 동작에 따라 소정의 테스트신호를 다수의 데이터패드(DP1~DP4)로 출력할 수 있다.
제1TFT(T1)는 게이트전극이 제2-2검사라인(TL2-2)을 통해 제2테스트패드(TP2)에 접속되고, 소스전극이 제2-1검사라인(TL2-1)을 통해 제1테스트패드(TP1)에 접속되며, 드레인전극이 제1데이터패드(DP1)에 접속된다. 제1TFT(T1)는 제2테스트패드(TP2)를 통해 제공된 인에이블신호에 의해 턴-온되고, 제1테스트패드(TP1)를 통해 제공된 테스트신호를 제1데이터패드(DP1)로 출력한다.
제2TFT(T2)는 게이트전극이 제2-2검사라인(TL2-2)을 통해 제2테스트패드(TP2)에 접속되고, 소스전극이 제2-1검사라인(TL2-1)을 통해 제1테스트패드(TP1)에 접속되며, 드레인전극이 제1데이터패드(DP1)에 접속된다. 제2TFT(T2)는 제2테스트패드(TP2)를 통해 제공된 인에이블신호에 의해 턴-온되고, 제1테스트패드(TP1)를 통해 제공된 테스트신호를 제2데이터패드(DP2)로 출력한다.
제3TFT(T3)는 게이트전극이 제2-2검사라인(TL2-2)을 통해 제2테스트패드(TP2)에 접속되고, 소스전극이 제2-1검사라인(TL2-1)을 통해 제1테스트패드(TP1)에 접속되며, 드레인전극이 제1데이터패드(DP1)에 접속된다. 제3TFT(T3)는 제2테스트패드(TP2)를 통해 제공된 인에이블신호에 의해 턴-온되고, 제1테스트패드(TP1)를 통해 제공된 테스트신호를 제3데이터패드(DP3)로 출력한다.
제4TFT(T4)는 게이트전극이 제2-2검사라인(TL2-2)을 통해 제2테스트패드(TP2)에 접속되고, 소스전극이 제2-1검사라인(TL2-1)을 통해 제1테스트패드(TP1)에 접속되며, 드레인전극이 제1데이터패드(DP1)에 접속된다. 제4TFT(T4)는 제2테스트패드(TP2)를 통해 제공된 인에이블신호에 의해 턴-온되고, 제1테스트패드(TP1)를 통해 제공된 테스트신호를 제4데이터패드(DP4)로 출력한다.
이와 같이, 제2검사회로(140)의 제1TFT(T1) 내지 제4TFT(T4)는 각각의 게이트전극이 제2-2검사라인(TL2-2)을 통해 제2테스트패드(TP2)에 공통으로 접속된다. 이에 따라, 제1TFT(T1) 내지 제4TFT(T4)는 각 게이트전극에 인가되는 인에이블신호에 의한 턴-온되고, 제1테스트패드(TP1)로부터 제공된 테스트신호를 제1데이터패드(DP1) 내지 제4데이터패드(DP4)에 동시에 출력할 수 있다.
제2검사회로(140)에서 출력된 테스트신호는 제1데이터패드(DP1) 내지 제4데이터패드(DP4)를 통해 이에 연결된 다수의 링크라인, 예컨대 제1데이터링크라인(DLL1) 내지 제4데이터링크라인(DLL4)에 동시에 인가된다. 이때, 제2검사회로(140)는 제1데이터패드(DP1) 내지 제4데이터패드(DP4)에 표시패널(110)의 적어도 1프레임 동안 테스트신호를 출력할 수 있다.
도 5를 참조하면, 표시패널(110)의 1프레임 동안, 게이트구동회로(120)는 제1검사회로(130)에 의해 동작되어 다수의 게이트신호(GS)를 표시영역(A/A)의 다수의 게이트라인(GL)에 순차적으로 출력한다.
또한, 검사장치는 하이레벨의 인에이블신호(DATA_EN) 및 하이레벨의 테스트신호(DATA_T)를 표시패널(110)의 1프레임 동안 제1테스트패드(TP1) 및 제2테스트패드(TP2)에 인가한다.
이에 따라, 제2검사회로(140)의 제1TFT(T1) 내지 제4TFT(T4)는 하이레벨의 인에이블신호(DATA_EN)에 의해 동시에 턴-온되고, 하이레벨의 테스트신호(DATA_T)를 제1데이터패드(DP1) 내지 제4데이터패드(DP4)로 동시에 출력한다.
제2검사회로(140)로부터 출력된 테스트신호(DATA_T)는 제1데이터패드(DP1) 내지 제4데이터패드(DP4)를 통해 제1데이터링크라인(DLL1) 내지 제4데이터링크라인(DLL4)에 출력된다. 또한, 테스트신호(DATA_T)는 제1데이터링크라인(DLL1) 내지 제4데이터링크라인(DLL4)을 통해 표시영역(A/A)의 제1데이터라인(DL1) 내지 제4데이터라인(DL4)에 출력될 수 있다.
상술한 제2검사회로(140)의 동작에 의해, 표시패널(110)의 표시영역(A/A)의 다수의 화소(P)는 발광된다. 이때, 제1데이터링크라인(DLL1) 내지 제4데이터링크라인(DLL4) 중 적어도 하나의 링크라인에서 오픈 불량이 발생되면, 해당 링크라인 및 데이터라인에 연결된 화소(P)는 발광되지 않는다. 따라서, 제2검사회로(140)는 제1데이터링크라인(DLL1) 내지 제4데이터링크라인(DLL4) 중 오픈 불량이 발생된 적어도 하나의 링크라인을 검출할 수 있다.
한편, 제2검사회로(140)는 다수의 링크라인(LL)의 오픈 불량을 검사하는 동안에만 동작된다. 이에, 본 실시예의 제2검사회로(140)는 링크라인의 불량검사가 종료된 후, 패드부(150)에 부착되는 연성회로기판(200)에 의해 검사동작을 중단할 수 있다.
좀 더 구체적으로 설명하면, 제2검사회로(140)에 의한 링크라인 검사가 종료되면, 패드부(150)의 다수의 패드에는 연성회로기판(200)의 다수의 전송라인의 일단이 대응되어 부착된다. 이때, 패드부(150)의 제1테스트패드(TP1)는 인접된 제1전원패드(VP1)와 함께 연성회로기판(200)의 제1전원전송라인의 일단에 부착될 수 있다. 또한, 제2테스트패드(TP2)는 인접된 제2전원패드(VP2)와 함께 연성회로기판(200)의 제2전원전송라인의 일단에 부착될 수 있다. 이에 따라, 제1테스트패드(TP1)에는 제1전원전송라인을 통해 기저전압(VSS)이 인가되고, 제2테스트패드(TP2)에는 제2전원전송라인을 통해 게이트로우전압(VGL)이 인가된다. 따라서, 제2검사회로(140)의 제1TFT(T1) 내지 제4TFT(T4)는 각 게이트전극에 인가되는 게이트로우전압(VGL)에 의해 턴-오프 되므로, 제2검사회로(140)는 동작되지 않게 된다.
이와 같이, 본 실시예의 제2검사회로(140)는 링크라인의 오픈 불량 검사가 종료된 후, 패드부(150)에 연성회로기판(200)이 부착됨으로써 검사동작이 중단된다. 따라서, 본 발명의 유기발광표시장치(100)는 링크라인의 불량 검사 후, 제2검사회로(140)의 연결을 컷팅(cutting)하는 레이저 트리밍(Trimming) 등의 추가 공정을 생략될 수 있다.
상술한 바와 같이, 본 실시예의 유기발광표시장치(100)는 표시패널(110)의 본딩영역(B/A)에 다수의 패드와 연결되는 제2검사회로(140)를 추가로 구성함으로써, 칩 온 필름 구조의 유기발광표시장치(100)에서 표시패널(110)의 다수의 링크라인(LL)의 오픈 불량을 용이하게 검출할 수 있다.
또한, 유기발광표시장치(100)는 제2검사회로(140)를 이용한 링크라인 오픈 불량 검사가 종료된 후, 다수의 패드에 부착되는 연성회로기판(200)을 이용하여 제2검사회로(140)의 동작을 중단시킴으로써, 추가적인 컷팅 공정을 생략되어 제조비용 감소 및 제조공정을 간소화할 수 있다.
도 6은 본 발명의 다른 실시예에 따른 제2검사회로를 나타내는 도면이고, 도 7a 및 도 7b는 도 6의 제2검사회로의 동작에 따른 신호 파형을 나타내는 도면들이다.
이하에서는, 표시패널(110)의 다수의 링크라인(LL)의 오픈 불량 및 쇼트 불량을 모두 검출할 수 있는 제2검사회로(141)에 대해 상세히 설명한다. 도 6에 도시된 제2검사회로(141)는 앞서 도 4에서 설명된 제2검사회로(140)와 대비하여 패드부(151)에 구성된 3개의 테스트패드(TP1~TP3)를 통해 테스트신호가 제공되는 것을 제외하고, 실질적으로 유사한 구성을 갖는다. 이에 따라, 동일부재에 대한 상세한 설명은 생략한다.
도 2 및 도 6을 참조하면, 표시패널(110)의 본딩영역(B/A)에는 패드부(151) 및 제2검사회로(141)가 배치될 수 있다.
패드부(151)는 연성회로기판(200)이 부착되는 다수의 전원패드(VP1, VP2), 다수의 데이터패드(DP1~DP4) 및 다수의 테스트패드(TP1, TP2)를 포함할 수 있다.
다수의 전원패드(VP1, VP2)는 다수의 전원링크라인(VLL)에 접속된다. 다수의 전원패드(VP1, VP2)는 연성회로기판(200)의 전원전송라인을 통해 제공된 기저전압(VSS) 및 게이트로우전압(VGL)을 전원링크라인(VLL)으로 출력할 수 있다.
다수의 데이터패드(DP1~DP4)는 다수의 데이터링크라인(DLL)에 접속된다. 다수의 데이터패드(DP1~DP4)는 연성회로기판(200)의 데이터전송라인을 통해 제공된 데이터전압을 데이터링크라인(DLL)으로 출력할 수 있다.
다수의 테스트패드(TP1~TP3)는 다수의 제2검사라인(TL2)을 통해 제2검사회로(141)에 접속된다. 다수의 테스트패드(TP1~TP3)는 검사장치로부터 인가된 테스트신호를 다수의 제2검사라인(TL2)을 통해 제2검사회로(141)로 출력할 수 있다. 다수의 테스트패드(TP1~TP3)는 제2-1검사라인(TL2-1)을 통해 제2검사회로(141)에 접속된 제1테스트패드(TP1), 제2-2검사라인(TL2-2)을 통해 제2검사회로(141)에 접속된 제2테스트패드(TP2) 및 제2-3검사라인(TL2-3)을 통해 제2검사회로(141)에 접속된 제3테스트패드(TP3)를 포함할 수 있다.
제2검사회로(141)는 검사장치로부터 다수의 테스트패드(TP1~TP3)를 통해 인가되는 인에이블신호에 의해 스위칭 동작되는 다수의 스위칭소자, 예컨대 제1TFT(T1) 내지 제4TFT(T4)를 포함할 수 있다. 제1TFT(T1) 내지 제4TFT(T4)는 일 전극이 다수의 데이터패드(DP1~DP4)에 각각 대응되어 연결되고, 스위칭 동작에 따라 소정의 테스트신호를 다수의 데이터패드(DP1~DP4)로 출력할 수 있다.
제1TFT(T1) 내지 제4TFT(T4) 각각의 게이트전극은 제2-3검사라인(TL2-3)을 통해 제3테스트패드(TP3)에 공통으로 접속된다. 제1TFT(T1) 내지 제4TFT(T4) 각각의 드레인전극은 대응되는 데이터패드, 즉 제1데이터패드(DP1) 내지 제4데이터패드(DP4) 각각에 접속된다.
여기서, 제1TFT(T1) 내지 제4TFT(T4) 중 기수 TFT, 즉 제1TFT(T1) 및 제3TFT(T3) 각각의 소스전극은 제2-1검사라인(TL2-1)을 통해 제1테스트패드(TP1)에 공통으로 접속된다. 또한, 제1TFT(T1) 내지 제4TFT(T4) 중 우수 TFT, 즉 제2TFT(T2) 및 제4TFT(T4) 각각의 소스전극은 제2-2검사라인(TL2-2)을 통해 제2테스트패드(TP2)에 공통으로 접속된다.
제1TFT(T1) 내지 제4TFT(T4)는 제3테스트패드(TP3)로부터 제2-3검사라인(TL2-3)을 통해 제공되는 인에이블신호에 의해 동시에 턴-온된다.
제1TFT(T1) 및 제3TFT(T3)는 제1테스트패드(TP1)로부터 제2-1검사라인(TL2-1)을 통해 제공되는 제1테스트신호를 제1데이터패드(DP1) 및 제3데이터패드(DP3)에 각각 출력한다. 또, 제2TFT(T2) 및 제4TFT(T4)는 제2테스트패드(TP2)로부터 제2-2검사라인(TL2-2)을 통해 제공되는 제2테스트신호를 제2데이터패드(DP2) 및 제4데이터패드(DP4)에 각각 출력한다. 여기서, 검사장치는 표시패널(110)의 1프레임 동안 제3테스트패드(TP3)에 인에이블신호를 인가할 수 있다.
도 7a를 참조하면, 표시패널(110)의 1프레임 동안, 제1검사회로(130)에 의해 게이트구동회로(120)가 동작되어 다수의 게이트신호(GS)가 표시영역(A/A)의 다수의 게이트라인(GL)에 출력된다.
또한, 표시패널(110)의 1프레임 동안, 검사장치는 하이레벨의 인에이블신호(DATA_EN)를 제3테스트패드(TP3)에 인가한다. 그리고, 하이레벨의 인에이블신호(DATA_EN)와 함께 하이레벨의 제1테스트신호(DATA_T1) 및 제2테스트신호(DATA_T2)를 각각 제1테스트패드(TP1) 및 제2테스트패드(TP2)에 인가한다.
제2검사회로(141)의 제1TFT(T1) 내지 제4TFT(T4)는 하이레벨의 인에이블신호(DATA_EN)에 의해 동시에 턴-온된다. 이어, 제1TFT(T1) 및 제3TFT(T3)는 하이레벨의 제1테스트신호(DATA_T1)를 제1데이터패드(DP1) 및 제3데이터패드(DP3)로 동시에 출력한다. 또한, 우수 TFT, 즉 제2TFT(T2) 및 제4TFT(T4)는 하이레벨의 제2테스트신호(DATA_T2)를 제2데이터패드(DP2) 및 제4데이터패드(DP4)로 동시에 출력한다.
제2검사회로(141)로부터 출력된 제1테스트신호(DATA_T1) 및 제2테스트신호(DATA_T2)는 제1데이터패드(DP1) 내지 제4데이터패드(DP4)를 통해 제1데이터링크라인(DLL1) 내지 제4데이터링크라인(DLL4)에 동시에 출력된다. 또한, 제1테스트신호(DATA_T1) 및 제2테스트신호(DATA_T2)는 제1데이터링크라인(DLL1) 내지 제4데이터링크라인(DLL4)을 통해 표시영역(A/A)의 제1데이터라인(DL) 내지 제4데이터라인(DL)에 동시에 출력될 수 있다.
상술한 제2검사회로(141)의 동작에 의해, 표시패널(110)의 표시영역(A/A)의 다수의 화소(P)는 발광된다. 이때, 제1데이터링크라인(DLL1) 내지 제4데이터링크라인(DLL4) 중 적어도 하나의 링크라인에서 오픈 불량이 발생되면, 해당 링크라인 및 데이터라인에 연결된 화소(P)는 발광되지 않는다. 따라서, 제2검사회로(141)는 제1데이터링크라인(DLL1) 내지 제4데이터링크라인(DLL4) 중 오픈 불량이 발생된 적어도 하나의 링크라인을 검출할 수 있다.
또한, 도 7b를 참조하면, 표시패널(110)의 1프레임 동안, 제1검사회로(130)에 의해 게이트구동회로(120)가 동작되어 다수의 게이트신호(GS)가 표시영역(A/A)의 다수의 게이트라인(GL)에 출력된다.
검사장치는 표시패널(110)의 1프레임 동안, 하이레벨의 인에이블신호(DATA_EN)를 제3테스트패드(TP3)에 인가한다. 또한, 검사장치는 하이레벨의 제1테스트신호(DATA_T1) 및 하이레벨의 제2테스트신호(DATA_T2)를 각각 표시패널(110)의 1/2프레임마다 번갈아 제1테스트패드(TP1) 및 제2테스트패드(TP2)에 인가한다.
제2검사회로(141)의 제1TFT(T1) 내지 제4TFT(T4)는 하이레벨의 인에이블신호(DATA_EN)에 의해 1프레임 동안 동시에 턴-온된다.
이때, 제1TFT(T1) 내지 제4TFT(T4) 중 기수 TFT, 즉 제1TFT(T1) 및 제3TFT(T3)는 하이레벨의 제1테스트신호(DATA_T1)를 하나의 1/2프레임 동안 제1데이터패드(DP1) 및 제3데이터패드(DP3)로 출력한다. 또한, 제1TFT(T1) 내지 제4TFT(T4) 중 우수 TFT, 즉 제2TFT(T2) 및 제4TFT(T4)는 하이레벨의 제2테스트신호(DATA_T2)를 다른 하나의 1/2프레임 동안 제2데이터패드(DP2) 및 제4데이터패드(DP4)로 출력한다.
기수 TFT로부터 출력된 제1테스트신호(DATA_T1)는 제1데이터패드(DP1) 및 제3데이터패드(DP3)를 통해 다수의 데이터링크라인(DLL) 중 기수 데이터링크라인, 즉 제1데이터링크라인(DLL1) 및 제3데이터링크라인(DLL3)에 출력된다. 제1테스트신호(DATA_T1)는 기수 데이터링크라인을 통해 표시영역(A/A)의 제1데이터라인(DL1) 및 제3데이터라인(DL3)에 출력된다.
또한, 우수 TFT로부터 출력된 제2테스트신호(DATA_T2)는 제2데이터패드(DP2) 및 제4데이터패드(DP4)를 통해 다수의 데이터링크라인(DLL) 중 우수 데이터링크라인, 즉 제2데이터링크라인(DLL2) 및 제4데이터링크라인(DLL4)에 출력된다. 제2테스트신호(DATA_T2)는 우수 데이터링크라인을 통해 표시영역(A/A)의 제2데이터라인(DL2) 및 제4데이터라인(DL4)에 출력된다.
이에 따라, 제2검사회로(141)는 제1데이터링크라인(DLL1) 내지 제4데이터링크라인(DLL4) 중 적어도 하나에서 쇼트 불량이 발생된 것을 검출할 수 있다.
좀 더 구체적으로, 제1데이터링크라인(DLL1) 및 이에 인접된 제2데이터링크라인(DLL2) 사이에서 쇼트 불량이 발생되면, 제2검사회로(141)로부터 제1데이터링크라인(DLL1)에 인가되는 하이레벨의 제1테스트신호(DATA_T1)가 제2데이터링크라인(DLL2)에도 인가된다. 이로 인해, 표시패널(110)의 하나의 1/2프레임 동안, 제1데이터라인(DL1)에 접속된 화소(P)와 제2데이터라인(DL2)에 접속된 화소(P)는 동시에 발광된다. 또한, 제2데이터링크라인(DLL2) 및 이에 인접된 제3데이터링크라인(DLL3) 사이에서 쇼트 불량이 발생되면, 제2검사회로(141)로부터 제2데이터링크라인(DLL2)에 인가되는 하이레벨의 제2테스트신호(DATA_T2)가 제3데이터링크라인(DLL3)에도 인가된다. 이로 인해, 표시패널(110)의 다른 하나의 1/2프레임 동안, 제2데이터라인(DL2)에 접속된 화소(P)와 제3데이터라인(DL3)에 접속된 화소(P)는 동시에 발광된다. 따라서, 제2검사회로(141)는 상술한 동작에 의해 제1데이터링크라인(DLL1) 내지 제4데이터링크라인(DLL4) 중 쇼트 불량이 발생된 적어도 한 쌍의 링크라인을 검출할 수 있다.
앞서 설명한 바와 같이, 제2검사회로(141)는 다수의 링크라인의 불량 검사가 종료된 후, 연성회로기판(200)에 의해 동작이 중단된다. 즉, 패드부(150)의 제1테스트패드(TP1) 및 제2테스트패드(TP2)는 인접된 제1전원패드(VP1)와 함께 연성회로기판(200)의 제1전원전송라인의 일단에 부착된다. 따라서, 제1테스트패드(TP1) 및 제2테스트패드(TP2)에는 제1전원전송라인을 통해 기저전압(VSS)이 인가된다. 또한, 패드부(150)의 제3테스트패드(TP3)는 인접된 제2전원패드(VP2)와 함께 연성회로기판(200)의 제2전원전송라인의 일단에 부착된다. 따라서, 제3테스트패드(TP3)에는 제2전원전송라인을 통해 게이트로우전압(VGL)이 인가된다.
이와 같이, 제1테스트패드(TP1) 내지 제3테스트패드(TP3)에는 연성회로기판(200)에 의해 기저전압(VSS) 및 게이트로우전압(VGL)이 인가되므로, 제1테스트패드(TP1) 내지 제3테스트패드(TP3)에 연결된 제2검사회로(141)는 동작이 중단된다. 따라서, 본 발명의 유기발광표시장치(100)는 링크라인의 오픈 및 쇼트 불량 검사 후, 제2검사회로(141)와 이에 연결된 다수의 데이터패드(DP1~DP4) 사이를 컷팅하는 추가 공정을 생략할 수 있다.
상술한 바와 같이, 본 실시예의 유기발광표시장치(100)는 표시패널(110)의 본딩영역(B/A)에 다수의 패드와 연결되는 제2검사회로(141)를 추가로 구성함으로써, 칩 온 필름 구조의 유기발광표시장치(100)에서 표시패널(110)의 다수의 링크라인(LL)의 오픈 및 쇼트 불량을 용이하게 검출할 수 있다.
또한, 유기발광표시장치(100)는 제2검사회로(141)를 이용한 링크라인 오픈 및 쇼트 불량 검사가 종료된 후, 다수의 패드에 부착되는 연성회로기판(200)을 이용하여 제2검사회로(141)의 동작을 중단시킴으로써, 추가적인 컷팅 공정을 생략되어 제조비용 감소 및 제조공정을 간소화할 수 있다.
도 8은 본 발명의 일 실시예에 따른 제1검사회로를 나타내는 도면이다.
도 2 및 도 8을 참조하면, 표시패널(110)의 검사영역(T/A)에는 제1검사회로(130)가 배치될 수 있다. 제1검사회로(130)는 검사장치로부터 각종 신호가 인가되는 다수의 패드(131) 및 다수의 제1검사라인(TL1)을 통해 다수의 패드(131) 각각에 대응되어 연결되는 다수의 스위칭소자(133)를 포함할 수 있다. 다수의 패드(131)는 제1패드(GP) 내지 제5패드(BP)를 포함한다. 다수의 스위칭소자(131)는 다수의 RTFT(RT), 다수의 GTFT(GT) 및 다수의 BTFT(BT)를 포함한다.
제1패드(GP)는 제1-1검사라인(TL1-1)을 통해 게이트구동회로(120)와 연결된다. 제1패드(GP)는 검사장치로부터 인가되는 게이트제어신호를 제1-1검사라인(TL1-1)을 통해 게이트구동회로(120)로 출력한다. 게이트구동회로(120)는 게이트제어신호에 따라 게이트신호를 생성하고, 이를 표시영역(A/A)의 다수의 게이트라인(GL)에 순차적으로 출력할 수 있다.
제2패드(EP)는 제1-2검사라인(TL1-2)을 통해 다수의 스위칭소자(133) 각각의 게이트전극에 공통으로 연결된다. 제2패드(EP)는 검사장치로부터 인가된 인에이블신호를 제1-2검사라인(TL1-2)을 통해 다수의 스위칭소자(133) 각각의 게이트전극에 출력한다. 다수의 스위칭소자(133)는 인에이블신호에 따라 스위칭 동작된다.
제3패드(RP)는 제1-3검사라인(TL1-3)을 통해 다수의 RTFT(RT)의 드레인전극에 공통으로 연결된다. 제3패드(RP)는 검사장치로부터 인가된 제1테스트신호, 예컨대 R데이터신호를 제1-3검사라인(TL1-3)을 통해 다수의 RTFT(RT)의 드레인전극에 출력한다. 다수의 RTFT(RT)는 인에이블신호에 의해 턴-온된 기간 동안, R데이터신호를 표시영역(A/A)의 다수의 데이터라인(DL) 중 해당되는 데이터라인에 출력할 수 있다.
제4패드(GP)는 제1-4검사라인(TL1-4)을 통해 다수의 GTFT(GT)의 드레인전극에 공통으로 연결된다. 제4패드(GP)는 검사장치로부터 인가된 제2테스트신호, 예컨대 G데이터신호를 제1-4검사라인(TL1-4)을 통해 다수의 GTFT(GT)의 드레인전극에 출력한다. 다수의 GTFT(GT)는 인에이블신호에 의해 턴-온된 기간 동안, G데이터신호를 표시영역(A/A)의 다수의 데이터라인(DL) 중 해당되는 데이터라인에 출력할 수 있다.
제5패드(BP)는 제1-5검사라인(TL1-5)을 통해 다수의 BTFT(BT)의 드레인전극에 공통으로 연결된다. 제5패드(BP)는 검사장치로부터 인가된 제3테스트신호, 예컨대 B데이터신호를 제1-5검사라인(TL1-5)을 통해 다수의 BTFT(BT)의 드레인전극에 출력한다. 다수의 BTFT(BT)는 인에이블신호에 의해 턴-온된 기간 동안, B데이터신호를 표시영역(A/A)의 다수의 데이터라인(DL) 중 해당되는 데이터라인에 출력할 수 있다.
도 9는 본 발명의 유기발광표시장치의 검사동작에 따른 제1검사회로와 제2검사회로의 신호 파형을 나타내는 도면이다. 이하에서는, 설명의 편의를 위하여, 도 4 및 도 8에 각각 도시된 제1검사회로(130) 및 제2검사회로(140)의 동작을 예로 든다.
도 9를 참조하면, 본 실시예의 유기발광표시장치(100)는 제1검사회로(130)를 이용한 화소 성능검사 및 제2검사회로(140)를 이용한 링크라인 불량검사를 각각 1프레임 동안 수행할 수 있다. 그러나, 본 발명은 이에 제한되지는 않으며, 유기발광표시장치(100)는 1프레임 동안 화소 성능검사 및 링크라인 불량검사를 모두 수행할 수도 있다.
먼저, 유기발광표시장치(100)의 제1프레임 동안, 검사장치로부터 제1검사회로(130)의 제1패드(GP)에 게이트제어신호가 인가된다. 게이트구동회로(120)는 제1패드(GP) 및 제1-1검사라인(TL1-1)을 통해 제공된 게이트제어신호에 따라 게이트신호(GS)를 생성하고, 이를 표시영역(A/A)의 다수의 게이트라인(GL)에 순차적으로 출력할 수 있다.
이와 동시에, 검사장치로부터 본딩영역(B/A)의 다수의 패드 중 제1테스트패드(TP1)에 하이레벨의 제1인에이블신호(DATA_EN)가 인가되고, 제2테스트패드(TP2)에 하이레벨의 테스트신호(DATA_T)가 인가된다. 하이레벨의 제1인에이블신호(DATA_EN) 및 테스트신호(DATA_T)는 표시패널(110)의 1프레임 동안 인가된다.
제2검사회로(140)의 제1TFT(T1) 내지 제4TFT(T4)는 하이레벨의 제1인에이블신호(DATA_EN)에 의해 동시에 턴-온된다. 그리고, 턴-온된 제1TFT(T1) 내지 제4TFT(T4)는 하이레벨의 테스트신호(DATA_T)를 제1데이터패드(DP1) 내지 제4데이터패드(DP4)를 통해 제1데이터링크라인(DLL1) 내지 제4데이터링크라인(DLL4)으로 출력한다. 이때, 제1검사회로(130)의 제2패드(EP) 내지 제5패드(BP)에는 검사장치로부터 신호들이 인가되지 않는다.
이에 따라, 유기발광표시장치(100)는 제2검사회로(140)를 이용하여 표시패널(110)의 다수의 링크라인(LL)에 대한 오픈 불량 검사를 수행하게 된다. 즉, 본 실시예의 유기발광표시장치(100)는 1프레임 동작 동안, 제1검사회로(130)를 이용하여 게이트구동회로(120)를 동작시켜 표시영역(A/A)의 다수의 게이트라인(GL)에 게이트신호를 출력한다. 이와 동시에, 제2검사회로(140)로부터 다수의 데이터링크라인(DLL)으로 테스트신호(DATA_T)를 동시에 출력하여 다수의 데이터링크라인(DLL) 중 적어도 하나의 링크라인에서 발생된 오픈 불량을 검출할 수 있다.
이어, 유기발광표시장치(100)의 제2프레임 동안, 검사장치로부터 제1검사회로(130)의 제1패드(GP)에 게이트제어신호가 인가된다. 게이트구동회로(120)는 제1패드(GP) 및 제1-1검사라인(TL1-1)을 통해 제공된 게이트제어신호에 따라 게이트신호(GS)를 생성하고, 이를 표시영역(A/A)의 다수의 게이트라인(GL)에 순차적으로 출력할 수 있다.
이와 동시에, 검사장치는 제1검사회로(130)의 제2패드(EP)에 하이레벨의 제2인에이블신호(DATA_EN)를 인가하고, 제3패드(RP) 내지 제5패드(BP) 각각에 1/3프레임 동안 하이레벨을 갖는 데이터신호를 순차적으로 인가한다.
예컨대, 검사장치는 첫번째 1/3프레임 동안 제3패드(RP)에 하이레벨의 R데이터신호(DATA_R)를 인가하고, 두번째 1/3프레임 동안 제4패드(GP)에 하이레벨의 G데이터신호(DATA_G)를 인가하고, 세번째 1/3프레임 동안 제5패드(BP)에 하이레벨의 B데이터신호(DATA_B)를 인가한다. 여기서, 하이레벨의 제2인에이블신호(DATA_EN)는 제2패드(EP)에 1프레임 동안 인가된다. 한편, 검사장치로부터 제1검사회로(130)의 모든 패드에 신호가 인가되는 동안에, 제2검사회로(140)는 동작되지 않는다.
제1검사회로(130)의 RTFT(RT), GTFT(GT) 및 BTFT(BT)는 하이레벨의 제2인에이블신호(DATA_EN)에 의해 동시에 턴-온된다. 턴-온된 RTFT(RT)는 첫번째 1/3프레임 동안 R데이터신호(DATA_R)를 표시영역(A/A)의 데이터라인(DL)에 출력할 수 있다. 이어, 턴-온된 GTFT(GT)는 두번째 1/3프레임 동안 G데이터신호(DATA_G)를 표시영역(A/A)의 데이터라인(DL)에 출력할 수 있다. 마지막으로, 턴-온된 BTFT(BT)는 세번째 1/3프레임 동안 B데이터신호(DATA_B)를 표시영역(A/A)의 데이터라인(DL)에 출력할 수 있다.
여기서, R데이터신호(DATA_R), G데이터신호(DATA_G) 및 B데이터신호(DATA_B)는 소정의 계조레벨을 갖는 데이터일 수 있다. 따라서, 표시영역(A/A)의 각 화소(P)는 데이터라인(DL)을 통해 인가되는 R데이터신호(DATA_R), G데이터신호(DATA_G) 및 B데이터신호(DATA_B)에 의해 소정 휘도로 발광될 수 있다. 이에 따라, 제1검사회로(130)는 표시패널(110)의 각 화소(P)에 대한 동작 성능을 검사할 수 있다.
전술한 설명에 많은 사항이 구체적으로 기재되어 있으나 이것은 발명의 범위를 한정하는 것이라기보다 바람직한 실시예의 예시로서 해석되어야 한다. 따라서 발명은 설명된 실시예에 의하여 정할 것이 아니고 특허청구범위와 특허청구범위에 균등한 것에 의하여 정하여져야 한다.
100: 유기발광표시장치 110: 표시패널
120: 게이트구동회로 130: 제1검사회로
140, 141: 제2검사회로 150, 151: 패드부
200: 연성회로기판 250: 데이터구동부

Claims (15)

  1. 외부에서 인가하는 게이트제어신호를 게이트구동회로에 인가하는 검사영역의 제1검사회로, 표시영역의 다수의 화소, 본딩영역의 다수의 패드 및 링크영역의 다수의 링크라인이 구성된 표시패널; 및
    상기 본딩영역에 배치되고, 상기 다수의 패드 중 적어도 하나의 패드를 통해 제공된 테스트신호를 상기 다수의 링크라인으로 출력하여 상기 게이트구동회로에서 생성한 게이트신호에 응답하여 동작하는 상기 화소의 동작 여부로 상기 다수의 링크라인의 불량을 검출하는 링크라인 검사회로;를
    포함하는 표시장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 다수의 패드는 제1테스트패드, 제2테스트패드 및 다수의 데이터패드를 포함하고,
    상기 링크라인 검사회로는,
    각각의 게이트전극이 상기 제2테스트패드에 공통으로 접속되고, 각각의 소스전극이 상기 제1테스트패드에 공통으로 접속되며, 각각의 드레인전극이 상기 다수의 데이터패드 각각에 대응되어 접속된 다수의 TFT를 포함하는 표시장치.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 다수의 TFT는, 상기 제2테스트패드를 통해 제공된 인에이블신호에 따라 턴-온되어 상기 테스트신호를 상기 다수의 데이터패드에 동시에 출력하는 표시장치.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 다수의 패드는 제1테스트패드, 제2테스트패드, 제3테스트패드 및 다수의 데이터패드를 포함하고,
    상기 링크라인 검사회로는,
    각각의 게이트전극이 상기 제3테스트패드에 공통으로 접속되고, 각각의 드레인전극이 상기 다수의 데이터패드 각각에 대응되어 접속된 다수의 TFT를 포함하고,
    상기 다수의 TFT는, 각각의 소스전극이 상기 제1테스트패드에 공통으로 접속된 기수TFT 및 각각의 소스전극이 상기 제2테스트패드에 공통으로 접속된 우수TFT를 포함하는 표시장치.
  5. 제4항에 있어서,
    상기 기수TFT 및 상기 우수TFT는 상기 제3테스트패드를 통해 제공된 인에이블신호에 따라 턴-온되고, 상기 테스트신호를 상기 다수의 링크라인에 번갈아 출력하는 표시장치.
  6. 제5항에 있어서,
    상기 기수TFT 및 상기 우수TFT 각각은 상기 표시패널의 1/2프레임마다 상기 테스트신호를 번갈아 출력하는 표시장치.
  7. 제1항에 있어서,
    상기 다수의 패드에 부착되는 연성회로기판을 더 포함하고,
    상기 링크라인 검사회로는 상기 연성회로기판에 의해 동작이 중단되는 표시장치.
  8. 제1항에 있어서,
    상기 표시영역의 적어도 일측에 배치된 게이트구동회로; 및
    상기 표시영역 상부의 검사영역에 배치되어 상기 다수의 화소 각각의 동작성능을 검사하는 화소성능 검사회로를 더 포함하고,
    상기 화소성능 검사회로는 상기 링크라인 검사회로의 불량 검출동작 동안 상기 게이트구동회로를 동작시키는 표시장치.
  9. 제8항에 있어서,
    상기 화소성능 검사회로는 상기 다수의 화소 각각에 R데이터신호, G데이터신호 및 B데이터신호를 번갈아 출력하는 다수의 스위칭소자를 포함하는 표시장치.
  10. 제9항에 있어서,
    상기 다수의 스위칭소자는 상기 R데이터신호, G데이터신호 및 B데이터신호를 상기 표시패널의 1/3프레임마다 번갈아 출력하는 표시장치.
  11. 청구항 제1항에 기재된 표시장치의 검사방법에 관한 것으로,
    검사장치로부터 제공된 테스트신호를 상기 표시패널의 다수의 링크라인으로 동시에 출력하여 상기 다수의 링크라인의 오픈 불량을 검출하는 단계; 및
    상기 테스트신호를 상기 다수의 링크라인에 번갈아 출력하여 상기 다수의 링크라인의 쇼트 불량을 검출하는 단계를 포함하는 표시장치의 검사방법.
  12. 제11항에 있어서,
    상기 다수의 링크라인의 오픈 불량을 검출하는 단계는,
    상기 테스트신호에 의해 상기 표시패널의 다수의 화소 각각의 발광여부를 검출하는 단계인 표시장치의 검사방법.
  13. 제11항에 있어서,
    상기 다수의 링크라인의 쇼트 불량을 검출하는 단계는,
    하나의 1/2프레임 동안 기수 링크라인으로 출력되는 상기 테스트신호에 의해 상기 표시패널의 우수 링크라인에 대응되는 화소의 발광여부를 검출하는 단계; 및
    다른 하나의 1/2프레임 동안 상기 우수 링크라인으로 출력되는 상기 테스트신호에 의해 상기 표시패널의 상기 기수 링크라인에 대응되는 화소의 발광여부를 검출하는 단계를 포함하는 표시장치의 검사방법.
  14. 제11항에 있어서,
    상기 검사장치로부터 제공된 R데이터신호, G데이터신호 및 B데이터신호를 상기 표시패널의 1/3프레임마다 다수의 화소에 번갈아 출력하여 상기 다수의 화소의 동작성능을 검사하는 단계를 더 포함하는 표시장치의 검사방법.
  15. 제11항에 있어서,
    상기 다수의 링크라인의 오픈 불량 및 쇼트 불량 검출이 완료된 후,
    상기 표시패널의 상기 다수의 패드에 연성회로기판을 부착하여 상기 링크라인 검사회로의 동작을 중단시키는 단계를 더 포함하는 표시장치의 검사방법.
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