KR20160043616A - 유기 발광 표시 패널 및 테스트 방법 - Google Patents

유기 발광 표시 패널 및 테스트 방법 Download PDF

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Abstract

본 발명의 실시예는 유기 발광 표시 패널 및 그의 테스트 방법을 개시한다.
본 발명의 유기 발광 표시 패널은, 주사선들 및 데이터선들의 교차부에 위치되어 서로 다른 색을 표시하는 다수의 화소들이 형성된 화소부; 및 상기 데이터선들의 일 단에 연결된 링크선들로 상기 화소들의 불량 검출을 위한 화소 테스트 신호 및 상기 링크선들의 쇼트 및 오픈 검출을 위한 링크선 테스트 신호를 선택적으로 인가하는 테스트부;를 포함한다.

Description

유기 발광 표시 패널 및 테스트 방법{Organic Light Emitting Display Panel and Test Method}
본 발명은 유기 발광 표시 패널 및 그의 테스트 방법에 관한 것이다.
유기 발광 표시 장치는 자발광소자인 유기 발광 다이오드를 이용하여 영상을 표시하는 것으로, 휘도 및 색순도가 뛰어나 차세대 표시장치로 주목받고 있다.
종래의 유기 발광 표시 장치는 주사 신호 및 데이터 신호 등을 생성하여 화소에 인가하는 구동회로가 집적된 고밀도 집적회로를 제작하여 TAB(Tape automated bonding) 등과 같은 방법으로 화소가 배열된 어레이 기판에 연결하였다. 그러나 이와 같이 구동회로와 화소 어레이 기판이 TAB로 연결된 유기 발광 표시 장치는 어레이 기판과 구동회로를 연결하기 위한 다수의 리드(lead)가 필요하게 되어 제조 공정상 어려움이 있을 뿐만 아니라 표시장치의 신뢰성 및 수율을 저하시킬 수도 있다. 또한, 일반적으로 고밀도 집적회로의 가격이 높기 때문에 유기 발광 표시장치의 가격 상승의 요인이 되기도 한다.
이러한 문제점을 해결하기 위하여, 화소 회로가 배치된 화소 회로 어레이 기판에 구동회로를 직접 집적하여 제작하는 COG(Chip On Glass) 또는 SOP(System On Panel) 방식의 유기 발광 표시 장치가 사용되고 있다. 이와 같이 COG 또는 SOP 방식의 유기 발광 표시 장치는 구동회로와 화소 회로 어레이 기판을 연결하는 별도의 과정이 불필요하게 되어 제품의 신뢰성 및 수율을 높일 수 있다.
본 발명은 간소화된 테스트 회로를 이용하여 비표시 영역(Dead Space)을 축소하면서 패널 테스트를 수행할 수 있는 표시 패널을 제공하고자 한다.
본 발명의 바람직한 일 실시예에 따른 유기 발광 표시 패널은, 주사선들 및 데이터선들의 교차부에 위치되어 서로 다른 색을 표시하는 다수의 화소들이 형성된 화소부; 및 상기 데이터선들의 일 단에 연결된 링크선들로 상기 화소들의 불량 검출을 위한 화소 테스트 신호 및 상기 링크선들의 쇼트 및 오픈 검출을 위한 링크선 테스트 신호를 선택적으로 인가하는 테스트부;를 포함한다.
상기 복수의 링크선들 중 홀수번째 링크선들과 짝수번째 링크선들은 적어도 하나의 절연막을 사이에 두고 서로 다른 레이어에 배치될 수 있다.
상기 화소부는, 제1 열 및 제3 열에 교대로 배열된 제1 화소들 및 제2 화소들; 및 상기 제1 열과 상기 제3 열 사이의 제2 열 및 상기 제3 열에 이웃한 제4 열에 배열된 제3 화소들;을 포함하고, 상기 제3 열에는 상기 제1 열과 반대 순서로 상기 제1 화소들 및 제2 화소들이 교대로 배열될 수 있다.
상기 테스트부는 다수의 테스트 스위치들을 포함하고, 각 테스트 스위치는, 게이트가 테스트 제어신호를 공급하는 다수의 제어 신호선들 중 하나에 연결되고, 제1 단자가 상기 링크선들을 통해 상기 데이터선들 중 하나에 연결되고, 제2 단자가 상기 화소 테스트 신호 또는 상기 링크선 테스트 신호를 공급하는 다수의 테스트 신호선들 중 하나에 연결될 수 있다.
상기 다수의 테스트 스위치들은, 게이트가 제1 제어 신호선에 연결되고, 제1 단자가 상기 제1 열의 데이터선에 연결되고, 제2 단자가 제1 테스트 신호선에 연결된 제1 테스트 스위치; 게이트가 제2 제어 신호선에 연결되고, 제1 단자가 상기 제1 제1 열의 데이터선에 연결되고, 제2 단자가 제2 테스트 신호선에 연결된 제2 테스트 스위치; 게이트가 제3 제어 신호선에 연결되고, 제1 단자가 상기 제2 열의 데이터선에 연결되고, 제2 단자가 제3 테스트 신호선에 연결된 제3 테스트 스위치; 게이트가 상기 제1 제어 신호선에 연결되고, 제1 단자가 상기 제3 열의 데이터선에 연결되고, 제2 단자가 상기 제2 테스트 신호선에 연결된 제4 테스트 스위치; 게이트가 상기 제2 제어 신호선에 연결되고, 제1 단자가 상기 제3 열의 데이터선에 연결되고, 제2 단자가 상기 제1 테스트 신호선에 연결된 제5 테스트 스위치; 게이트가 상기 제3 제어 신호선에 연결되고, 제1 단자가 상기 제4 열의 데이터선에 연결된 제6 테스트 스위치; 게이트가 제4 제어 신호선에 연결되고, 제1 단자가 상기 제5 테스트 스위치의 제2 단자에 연결되고, 제2 단자가 상기 제3 테스트 신호선에 연결된 제7 테스트 스위치; 및 게이트가 제5 제어 신호선에 연결되고, 제1 단자가 상기 제5 테스트 스위치의 제2 단자에 연결되고, 제2 단자가 상기 제2 테스트 신호선에 연결된 제8 테스트 스위치;를 포함할 수 있다.
점등 테스트 동안, 상기 제3 제어 신호선과 상기 제4 제어 신호선으로 게이트 온 신호가 인가되고, 상기 제5 제어 신호선으로 게이트 오프 신호가 인가되고, 상기 제1 제어 신호선과 상기 제2 제어 신호선으로 게이트 온 신호가 교대로 인가될 수 있다.
상기 점등 테스트 동안, 상기 제1 테스트 신호선으로 제1 화소 테스트 신호가 인가되고, 상기 제2 테스트 신호선으로 제2 화소 테스트 신호가 인가되고, 상기 제3 테스트 신호선으로 제3 화소 테스트 신호가 인가될 수 있다.
링크선 테스트 동안, 상기 제3 제어 신호선과 상기 제5 제어 신호선으로 게이트 온 신호가 인가되고, 상기 제4 제어 신호선으로 게이트 오프 신호가 인가되고, 상기 제1 제어 신호선과 상기 제2 제어 신호선으로 게이트 온 신호가 교대로 인가될 수 있다.
상기 링크선 테스트 동안, 상기 제1 테스트 신호선으로 제1 링크선 테스트 신호가 인가되고, 상기 제2 테스트 신호선으로 제2 링크선 테스트 신호가 인가되고, 상기 제3 테스트 신호선으로 제3 링크선 테스트 신호가 인가될 수 있다.
상기 링크선 테스트 동안, 상기 제1 제어 신호선으로 게이트 온 신호가 인가될 때, 상기 제1 링크선 테스트 신호 및 상기 제3 링크선 테스트 신호는 제1 계조 신호이고, 상기 제2 링크선 테스트 신호는 제2 계조 신호이고, 상기 제2 제어 신호선으로 게이트 온 신호가 인가될 때, 상기 제1 링크선 테스트 신호 및 상기 제3 링크선 테스트 신호는 상기 제2 계조 신호이고, 상기 제2 링크선 테스트 신호는 상기 제1 계조 신호일 수 있다.
상기 화소 테스트 신호 및 상기 링크선 테스트 신호는 직류 신호일 수 있다.
상기 패널은, 상기 데이터선들을 상기 링크선들과 연결하는 다수의 데이터 패드들;을 더 포함할 수 있다.
본 발명의 바람직한 일 실시예에 따른 유기 발광 표시 패널은, 주사선들 및 데이터선들의 교차부에 위치되어 서로 다른 색을 표시하는 다수의 화소들 및 상기 데이터선들의 일 단과 연결된 링크선들에 연결되어 상기 데이터선들 중 하나에 연결된 다수의 테스트 스위치들을 포함하고, 상기 유기 발광 표시 패널의 테스트 방법은, 상기 링크선들로 상기 화소들의 점등 불량 검출을 위한 화소 테스트 신호를 인가하는 단계; 및 상기 링크선들로 상기 링크선들의 쇼트 및 오픈 검출을 위한 링크선 테스트 신호를 인가하는 단계;를 포함한다.
상기 복수의 링크선들 중 홀수번째 링크선들과 짝수번째 링크선들은 적어도 하나의 절연막을 사이에 두고 서로 다른 레이어에 배치될 수 있다.
상기 화소들은, 제1 열 및 제3 열에 교대로 배열된 제1 화소들 및 제2 화소들; 및 상기 제1 열과 상기 제3 열 사이의 제2 열 및 상기 제3 열에 이웃한 제4 열에 배열된 제3 화소들;을 포함하고, 상기 제3 열에는 상기 제1 열과 반대 순서로 상기 제1 화소들 및 제2 화소들이 교대로 배열될 수 있다.
상기 다수의 테스트 스위치들은, 게이트가 제1 제어 신호선에 연결되고, 제1 단자가 상기 제1 열의 데이터선에 연결되고, 제2 단자가 제1 테스트 신호선에 연결된 제1 테스트 스위치; 게이트가 제2 제어 신호선에 연결되고, 제1 단자가 상기 제1 열의 데이터선에 연결되고, 제2 단자가 제2 테스트 신호선에 연결된 제2 테스트 스위치; 게이트가 제3 제어 신호선에 연결되고, 제1 단자가 상기 제2 열의 데이터선에 연결되고, 제2 단자가 제3 테스트 신호선에 연결된 제3 테스트 스위치; 게이트가 상기 제1 제어 신호선에 연결되고, 제1 단자가 상기 제3 열의 데이터선에 연결되고, 제2 단자가 상기 제2 테스트 신호선에 연결된 제4 테스트 스위치; 게이트가 상기 제2 제어 신호선에 연결되고, 제1 단자가 상기 제3 열의 데이터선에 연결되고, 제2 단자가 상기 제1 테스트 신호선에 연결된 제5 테스트 스위치; 게이트가 상기 제3 제어 신호선에 연결되고, 제1 단자가 상기 제4 열의 데이터선에 연결된 제6 테스트 스위치; 게이트가 제4 제어 신호선에 연결되고, 제1 단자가 상기 제5 테스트 스위치의 제2 단자에 연결되고, 제2 단자가 상기 제3 테스트 신호선에 연결된 제7 테스트 스위치; 및 게이트가 제5 제어 신호선에 연결되고, 제1 단자가 상기 제5 테스트 스위치의 제2 단자에 연결되고, 제2 단자가 상기 제2 테스트 신호선에 연결된 제8 테스트 스위치;를 포함할 수 있다.
상기 화소 테스트 신호 인가 단계는, 상기 제3 제어 신호선과 상기 제4 제어 신호선으로 게이트 온 신호를 인가하고, 상기 제5 제어 신호선으로 게이트 오프 신호를 인가하는 동안, 상기 제1 제어 신호선과 상기 제2 제어 신호선으로 게이트 온 신호를 교대로 인가하고, 상기 제1 내지 제3 테스트 신호선 각각으로 제1 내지 제3 화소 테스트 신호가 인가하는 단계;를 포함할 수 있다.
상기 링크선 테스트 신호 인가 단계는, 상기 제3 제어 신호선과 상기 제5 제어 신호선으로 게이트 온 신호를 인가하고, 상기 제4 제어 신호선으로 게이트 오프 신호를 인가하는 동안, 상기 제1 제어 신호선과 상기 제2 제어 신호선으로 게이트 온 신호를 교대로 인가하고, 상기 제1 내지 제3 테스트 신호선 각각으로 제1 내지 제3 링크선 테스트 신호가 인가하는 단계;를 포함할 수 있다.
상기 링크선 테스트 신호 인가 단계는, 상기 제1 제어 신호선으로 게이트 온 신호가 인가될 때, 상기 제1 링크선 테스트 신호 및 상기 제3 링크선 테스트 신호는 제1 계조 신호이고, 상기 제2 링크선 테스트 신호는 제2 계조 신호이고, 상기 제2 제어 신호선으로 게이트 온 신호가 인가될 때, 상기 제1 링크선 테스트 신호 및 상기 제3 링크선 테스트 신호는 상기 제2 계조 신호이고, 상기 제2 링크선 테스트 신호는 상기 제1 계조 신호일 수 있다.
본 발명은 COG 실장 영역 하부 공간에 점등 테스트 및 링크선 테스트를 공용할 수 있는 복합 회로부를 형성함으로써, 다수의 테스트를 용이하게 선택적으로 수행하여 패널의 불량을 검출할 수 있고, 비표시 영역을 축소하여 슬림한 패널을 제공할 수 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 유기 발광 표시 장치의 제조 방법을 설명하기 위한 흐름도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 의한 유기 발광 표시 패널을 개략적으로 도시한 평면도이다.
도 3은 도 2에 도시된 유기 발광 표시 패널의 일례를 도시한 평면도이다.
도 4는 도 3에 도시된 유기 발광 표시 패널의 점등 테스트를 설명하기 위한 타이밍도이다.
도 5는 도 3에 도시된 유기 발광 표시 패널의 링크선 테스트를 설명하기 위한 타이밍도이다.
본 발명은 다양한 변환을 가할 수 있고 여러 가지 실시예를 가질 수 있는 바, 특정 실시예들을 도면에 예시하고 상세한 설명에 상세하게 설명하고자 한다. 본 발명의 효과 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시예들을 참조하면 명확해질 것이다. 그러나 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예들에 한정되는 것이 아니라 다양한 형태로 구현될 수 있다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예들을 상세히 설명하기로 하며, 도면을 참조하여 설명할 때 동일하거나 대응하는 구성 요소는 동일한 도면부호를 부여하고 이에 대한 중복되는 설명은 생략하기로 한다.
이하의 실시예에서, 제1, 제2 등의 용어는 한정적인 의미가 아니라 하나의 구성 요소를 다른 구성 요소와 구별하는 목적으로 사용되었다. 또한 이하의 실시예에서, 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다.
이하의 실시예에서, 포함하다 또는 가지다 등의 용어는 명세서상에 기재된 특징, 또는 구성요소가 존재함을 의미하는 것이고, 하나 이상의 다른 특징들 또는 구성요소가 부가될 가능성을 미리 배제하는 것은 아니다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 유기 발광 표시 장치의 제조 방법을 설명하기 위한 흐름도이다.
먼저 기판 상에 화소 회로 어레이를 형성하는 어레이 공정(S1)을 실시한다. 각 화소 회로는 둘 이상의 박막 트랜지스터와 하나 이상의 커패시터로 구성될 수 있다. 이어서, 화소 회로 어레이의 불량 여부를 검출하는 어레이 테스트(S2)를 실시한다. 어레이 테스트(S2)에서 박막 트랜지스터의 정상 동작 여부를 테스트한다. 어레이 테스트(S2)에서 불량품이라고 판단되는 화소 회로는 리페어(repair) 공정(S21)을 거치거나 리페어 불능일 경우에는 다음 공정으로 이행되지 않고 종료 처리된다.
양품이라고 판단되거나 리페어가 완료된 화소 어레이에 대해서는 애노드 전극, 유기 발광층 및 캐소드 전극을 형성하여 유기 발광 소자(OLED)를 완성하는 셀(패널) 공정(S3)을 거쳐 셀 테스트(S4)로 이행한다. 셀 테스트(S4)는 패널에 대한 점등테스트, 링크선 테스트, 누설전류테스트 및/또는 에이징 등을 포함할 수 있다. 마찬가지로 셀 테스트(S4)에서 불량품이라고 판단되는 패널은 리페어 공정(S41)을 거치거나 리페어 불능일 경우에는 다음 공정으로 이행되지 않고 종료 처리된다.
양품이라고 판단되거나 리페어가 완료된 패널에 대해서는 모듈 공정(S5)을 거쳐 최종 테스트(S6)를 실시하여 최종 완성품과 불량을 선별한다. 최종 테스트(S6)에서 불량품이라고 판단되는 모듈은 리페어 공정(S61)을 거치거나 리페어 불능일 경우에는 종료 처리된다. 양품이라고 판단되거나 리페어가 완료된 패널은 최종 완성품으로 처리된다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 의한 유기 발광 표시 패널을 개략적으로 도시한 평면도이다.
도 2를 참조하면, 본 발명의 실시예에 의한 유기 발광 표시 패널(100)은, 화소부(110), 주사 구동부(120), IC 실장 영역(130), 테스트부(140) 및 패드부(180)를 포함한다.
화소부(110)는 데이터선들(D1 내지 Dm) 및 주사선들(S1 내지 Sn)의 교차부에 위치되어 서로 다른 색의 빛을 방출하는 복수의 화소들을 포함한다. 데이터선들(D1 내지 Dm)은 제1방향으로 연장되고, 주사선들(S1 내지 Sn)은 제2방향으로 연장된다.
주사 구동부(120)는 외부로부터 공급되는 주사구동전원(VDD, VSS) 및 주사제어신호(SCS)에 대응하여 주사신호를 생성하고, 이를 주사선들(S1 내지 Sn)로 순차적으로 공급한다.
IC 실장 영역(130)에는 화소부(110)의 데이터선들(D1 내지 Dm)의 일 단에 연결된 다수의 데이터 패드(DP)들이 배치된다. 데이터 구동부(미도시)는 COG(chip on glass) 방식으로 데이터 패드(DP)들과 본딩되어 IC 실장 영역(130)에 실장될 수 있다. 데이터 구동부는 표시 데이터(DATA) 및 데이터 제어신호(DCS)에 대응하여 데이터 신호를 생성하고, 이를 데이터선들(D1 내지 Dm)로 공급한다.
테스트부(140)는 팬아웃부(200)에 배치된 링크선들(L1 내지 Lm), 즉 화소부(110)의 데이터선들(D1 내지 Dm)로부터 IC 실장 영역(140)까지 연장된 선들로 화소 테스트 신호 및 링크선 테스트 신호를 선택적으로 인가한다. 링크선들(L1 내지 Lm)을 통해 데이터선들(D1 내지 Dm)로 화소 테스트 신호 및 링크선 테스트 신호가 선택적으로 인가된다.
복수의 링크선들(L1 내지 Lm) 중 홀수번째 링크선들(L1, L3, ..., Lm-1)과 짝수번째 링크선들(L2, L4, ..., Lm)은 적어도 하나의 절연막을 사이에 두고 서로 다른 레이어에 배치된다.
테스트부(140)는 화소의 불량 여부를 테스트하는 점등 테스트를 수행한다. 테스트부(140)는 점등 테스트를 위한 화소 테스트 신호 및 제어신호를 공급받고, 제어신호에 대응하여 화소 테스트 신호를 링크선들(L1 내지 Lm)로 공급한다.
또한, 테스트부(140)는 링크선들(L1 내지 Lm)의 쇼트(short) 및 오픈(open)을 검출하는 링크선 테스트를 수행한다. 테스트부(140)는 링크선 테스트를 위한 링크선 테스트 신호 및 제어신호를 공급받고, 제어신호에 대응하여 링크선 테스트 신호를 링크선들(L1 내지 Lm)로 공급한다.
링크선들(L1 내지 Lm)로 공급된 화소 테스트 신호 및 링크선 테스트 신호는 데이터선들(D1 내지 Dm)로 공급된다.
테스트부(140)는 다수의 제어신호에 따라 점등 테스트 및 링크선 테스트를 선택적으로 수행할 수 있다.
패드부(180)는 외부로부터 공급되는 전원들 및/또는 신호들을 패널(100) 내부로 전달하기 위한 다수의 패드(P)들을 구비한다. 도 1에서 패드부(180)와 패널 (100) 내의 각 구성부를 연결하는 라인의 위치와 수는 편의상 도시된 것으로, 다수의 라인들이 다른 위치에 배치될 수 있다. 예를 들어, 패드부(180)로부터 주사 구동부(120)로 신호를 공급하는 라인은 주사구동전원(VDD/VSS), 주사제어신호(SCS)로서 스타트 펄스(SP), 주사 클럭신호(CLK) 및 출력 인에이블 신호(OE)를 공급받는 다섯 개의 라인들로 구성될 수 있다.
한편, 도시되지 않았으나, 본 발명의 실시예에 따른 유기 발광 표시 패널(100)은 셀 테스트(S4) 시, 화소들에 충분한 테스트 신호가 인가되도록 화소부(110)에 발광제어신호를 인가하기 위한 발광제어부를 더 포함할 수 있다.
도 3은 도 2에 도시된 유기 발광 표시 패널의 일례를 도시한 평면도이다.
도 3을 참조하면, 화소부(110A)는 서로 다른 색의 빛을 방출하는 제1화소들, 제2화소들 및 제3화소들을 포함하되, 제1화소 및 제2화소가 동일한 열에 교대로 배열되고, 제3화소가 제1화소 및 제2화소가 배열된 열의 인접한 열에 일렬로 배치되는 구조를 갖는다.
제1화소는 적색의 빛을 방출하는 적색 화소(R)로 설정되고, 제2화소는 청색의 빛을 방출하는 청색 화소(B)로 설정되며, 제3화소는 녹색의 빛을 방출하는 녹색 화소(G)로 설정될 수 있다.
적색 화소(R)와 청색 화소(B)는 동일한 열에 교대로 배열되고, 녹색 화소(G)는 적색 화소(R)와 청색 화소(B)가 배열된 열의 인접한 열에 일렬로 배치된다.
이때, 적색 화소(R)와 청색 화소(B)는 녹색 화소(G)가 배열된 열을 중심으로, 적색 화소(R)들끼리, 그리고 청색 화소(B)들끼리 대각선 방향에 위치되어 체크보더 형태로 배열된다. 즉, 적색 화소(R) 및 청색 화소(B) 각각은 서로 이웃하는 두 행에서 동일한 열에 반복적으로 배치되지 않도록 교호적으로 배치된다. 각 열에는 데이터 라인(D1 내지 Dm)이 배치된다.
예를 들어, 제1 열에는 적색 화소(R)와 청색 화소(B)가 교대로 배열되고, 제2 열에는 녹색 화소(G)가 배열되고, 제3 열에는 제1 열과 반대 순서로 적색 화소(R)와 청색 화소(B)가 교대로 배열되고, 제4 열에는 녹색 화소(G)가 배열될 수 있다. 화소부(110)에는 제1 열 내지 제4 열이 반복적으로 배치될 수 있다.
본 발명의 실시예에서는 화소부(110A)가 적색 화소(R), 청색 화소(B), 녹색 화소(G)로 구성되는 것으로 설명하고 있으나, 화소부(110)는 적색, 녹색 및 청색 이외의 색을 디스플레이하기 위한 화소(미도시)를 더 포함할 수도 있다.
IC 실장 영역(130)에는 데이터선들(D1 내지 Dm)로부터 연장된 링크선들(L1 내지 Lm)에 연결된 다수의 데이터 패드(DP)들이 배치된다.
테스트부(140)는 다수의 테스트 스위치들(SW1 내지 SW8)을 포함하고, 각 테스트 스위치(SW1 내지 SW8)는, 게이트가 테스트 제어신호를 공급하는 다수의 제어 신호선들(141 내지 145) 중 하나에 연결되고, 제1 단자가 링크선들(L1 내지 Lm) 중 하나에 연결되고, 제2 단자가 화소 테스트 신호 또는 링크선 테스트 신호를 공급하는 다수의 테스트 신호선들(146 내지 148) 중 하나에 연결될 수 있다.
제1 테스트 스위치(SW1)의 게이트는 제1 제어신호(TEST_GATE_R)를 공급하는 제1 제어 신호선(141)에 연결되고, 제1 단자가 제1 열의 데이터선(D1, D5, ...)에 연결되고, 제2 단자가 제1 테스트 신호(DC_R)를 공급하는 제1 테스트 신호선(146)에 연결된다. 제1 테스트 신호(DC_R)는 제1 화소 테스트 신호 또는 제1 링크선 테스트 신호일 수 있다.
제2 테스트 스위치(SW2)의 게이트는 제2 제어신호(TEST_GATE_B)를 공급하는 제2 제어 신호선(143)에 연결되고, 제1 단자가 제1 열의 데이터선(D1, D5, ...)에 연결되고, 제2 단자가 제2 테스트 신호(DC_B)를 공급하는 제2 테스트 신호선(148)에 연결된다. 제2 테스트 신호(DC_B)는 제2 화소 테스트 신호 또는 제2 링크선 테스트 신호일 수 있다.
제3 테스트 스위치(SW3)의 게이트는 제3 제어신호(TEST_GATE_G)를 공급하는 제3 제어 신호선(142)에 연결되고, 제1 단자가 제2 열의 데이터선(D2, D6, ...)에 연결되고, 제2 단자가 제3 테스트 신호(DC_G)를 공급하는 제3 테스트 신호선(147)에 연결된다. 제3 테스트 신호(DC_G)는 제3 화소 테스트 신호 또는 제3 링크선 테스트 신호일 수 있다.
제4 테스트 스위치(SW4)의 게이트는 제1 제어신호(TEST_GATE_R)를 공급하는 제1 제어 신호선(141)에 연결되고, 제1 단자가 제3 열의 데이터선(D3, D7, ...)에 연결되고, 제2 단자가 제2 테스트 신호(DC_B)를 공급하는 제2 테스트 신호선(148)에 연결된다.
제5 테스트 스위치(SW5)의 게이트는 제2 제어신호(TEST_GATE_B)를 공급하는 제2 제어 신호선(143)에 연결되고, 제1 단자가 제3 열의 데이터선(D3, D7, ...)에 연결되고, 제2 단자가 제1 테스트 신호(DC_R)를 공급하는 제1 테스트 신호선(146)에 연결된다.
제6 테스트 스위치(SW6)의 게이트는 제3 제어신호(TEST_GATE_G)를 공급하는 제3 제어 신호선(142)에 연결되고, 제1 단자가 제4 열의 데이터선(D4, D8, ...)에 연결되고, 제2 단자가 제7 테스트 스위치(SW7)의 제1 단자 및 제8 테스트 스위치(SW8)의 제1 단자와 연결된다.
제7 테스트 스위치(SW7)의 게이트는 제4 제어신호(TEST_GATE_G1)를 공급하는 제4 제어 신호선(144)에 연결되고, 제1 단자가 제6 테스트 스위치(SW6)의 제2 단자에 연결되고, 제2 단자가 제3 테스트 신호(DC_G)를 공급하는 제3 테스트 신호선(147)에 연결된다. 제7 테스트 스위치(SW7)는 점등 테스트 동안 턴 온 상태이고, 링크선 테스트일 동안 턴 오프 상태이다.
제8 테스트 스위치(SW8)의 게이트는 제5 제어신호(TEST_GATE_G2)를 공급하는 제5 제어 신호선(145)에 연결되고, 제6 테스트 스위치(SW6)의 제2 단자에 연결되고, 제2 단자가 제2 테스트 신호(DC_B)를 공급하는 제2 테스트 신호선(148)에 연결된다. 제8 테스트 스위치(SW8)는 점등 테스트 동안 턴 오프 상태이고, 링크선 테스트일 동안 턴 온 상태이다.
제7 테스트 스위치(SW7)와 제8 테스트 스위치(SW8)가 점등 테스트와 링크선 테스트에서 선택적으로 턴 온되어, 해당 테스트 신호를 인가할 수 있다.
제1 내지 제5 제어 신호선(141 내지 145)은 각각 점등 테스트 및 링크선 테스트가 진행되는 동안 패드부(180)로부터 게이트 온 레벨 또는 게이트 오프 레벨의 제어신호(TEST_GATE_R, TEST_GATE_B, TEST_GATE_G, TEST_GATE_G1, TEST_GATE_G2)를 공급받고, 제1 내지 제8스위치(SW1 내지 SW8)의 턴 온 및 턴 오프를 제어한다. 게이트 온 레벨 신호 및 게이트 오프 레벨 신호는 테스트 스위치의 타입(P형 또는 N형)에 따라 달라질 수 있다. 테스트 스위치가 P형인 경우, 게이트 온 레벨 신호는 하이 레벨 신호이고, 게이트 오프 레벨은 로우 레벨 신호이다. 테스트 스위치가 N형인 경우, 게이트 온 레벨 신호는 로우 레벨 신호이고, 게이트 오프 레벨은 하이 레벨 신호이다.
제1 내지 제3 테스트 신호선(146 내지 148)은 패드부(180)로부터 점등 테스트가 진행되는 동안 제1 내지 제3 화소 테스트 신호를 공급받고, 링크선 테스트가 진행되는 동안 제1 내지 제3 링크선 테스트 신호를 공급받는다.
도 4는 도 3에 도시된 유기 발광 표시 패널의 점등 테스트를 설명하기 위한 타이밍도이다.
점등 테스트 동안, 로우 레벨의 제4 제어신호(TEST_GATE_G1)가 제7 테스트 스위치(SW7)들의 게이트로 인가되어 제7 테스트 스위치(SW7)들은 턴 온 상태가 된다. 하이 레벨의 제5 제어신호(TEST_GATE_G2)가 제8 테스트 스위치(SW8)들의 게이트로 인가되어 제8 테스트 스위치(SW8)들은 턴 오프 상태가 된다. 이에 따라 제7 테스트 스위치(SW7)들이 제6 테스트 스위치(SW6)에 연결된다.
로우 레벨의 제3 제어신호(TEST_GATE_G)가 제3 테스트 스위치(SW3)들과 제6 테스트 스위치(SW6)들의 게이트로 인가되어 제3 테스트 스위치(SW3)들과 제6 테스트 스위치(SW6)들은 턴 온 상태가 된다.
제1 제어신호(TEST_GATE_R)는 로우 레벨과 하이 레벨을 교대로 제1 테스트 스위치(SW1)들과 제4 테스트 스위치(SW4)들로 인가되어, 제1 테스트 스위치(SW1)들과 제4 테스트 스위치(SW4)들은 교대로 턴 온 상태 및 턴 오프 상태가 된다.
제2 제어신호(TEST_GATE_B)는 하이 레벨과 로우 레벨을 교대로 제2 테스트 스위치(SW2)들과 제5 테스트 스위치(SW5)들로 인가되어 제2 테스트 스위치(SW2)들과 제5 테스트 스위치(SW5)들은 교대로 턴 오프 상태 및 턴 온 상태가 된다.
이때, 제1 테스트 신호선(146)으로 제1 화소 테스트 신호(DC_R)가 인가되고, 제2 테스트 신호선(148)으로 제2 화소 테스트 신호(DC_B)가 인가되고, 제3 테스트 신호선(147)으로 제3 화소 테스트 신호(DC_G)가 인가된다.
제1 구간에서, 제1 제어 신호선(141)으로 게이트 온 레벨의 제1 제어신호(TEST_GATE_R)가 인가되어, 제1 테스트 스위치(SW1)와 제4 테스트 스위치(SW4)가 턴 온된다. 제2 제어 신호선(143)으로 게이트 오프 레벨의 제2 제어신호(TEST_GATE_B)가 인가되어, 제2 테스트 스위치(SW2)와 제5 테스트 스위치(SW5)가 턴 오프된다. 제3 제어 신호선(142)으로 게이트 온 레벨의 제3 제어신호(TEST_GATE_G)가 인가되어, 제3 테스트 스위치(SW3)와 제6 테스트 스위치(SW6)가 턴 온된다. 제4 제어 신호선(144)으로 게이트 온 레벨의 제4 제어신호(TEST_GATE_G1)가 인가되어, 제7 테스트 스위치(SW7)가 턴 온된다. 제5 제어 신호선(145)으로 게이트 오프 레벨의 제5 제어신호(TEST_GATE_G2)가 인가되어, 제8 테스트 스위치(SW8)가 턴 오프된다. 이에 따라, 제1 열의 데이터선과 연결된 제1 링크선(L1)에는 제1 화소 테스트 신호(DC_R)가 인가되고, 제2 열의 데이터선과 연결된 제2 링크선(L2)에는 제3 화소 테스트 신호(DC_G)가 인가되고, 제3 열의 데이터선과 연결된 제3 링크선(L3)에는 제2 화소 테스트 신호(DC_B)가 인가되고, 제4 열의 데이터선과 연결된 제4 링크선(L4)에는 제3 화소 테스트 신호(DC_G)가 인가된다.
유사하게, 제2 구간에서, 제1 제어 신호선(141)으로 게이트 오프 레벨의 제1 제어신호(TEST_GATE_R)가 인가되어, 제1 테스트 스위치(SW1)와 제4 테스트 스위치(SW4)가 턴 오프된다. 제2 제어 신호선(143)으로 게이트 온 레벨의 제2 제어신호(TEST_GATE_B)가 인가되어, 제2 테스트 스위치(SW2)와 제5 테스트 스위치(SW5)가 턴 온된다. 제3 제어 신호선(142)으로 게이트 온 레벨의 제3 제어신호(TEST_GATE_G)가 인가되어, 제3 테스트 스위치(SW3)와 제6 테스트 스위치(SW6)가 턴 온된다. 제4 제어 신호선(144)으로 게이트 온 레벨의 제4 제어신호(TEST_GATE_G1)가 인가되어, 제7 테스트 스위치(SW7)가 턴 온된다. 제5 제어 신호선(145)으로 게이트 오프 레벨의 제5 제어신호(TEST_GATE_G2)가 인가되어, 제8 테스트 스위치(SW8)가 턴 오프된다. 이에 따라, 제1 열의 데이터선과 연결된 제1 링크선(L1)에는 제2 화소 테스트 신호(DC_B)가 인가되고, 제2 열의 데이터선과 연결된 제2 링크선(L2)에는 제3 화소 테스트 신호(DC_G)가 인가되고, 제3 열의 데이터선과 연결된 제3 링크선(L3)에는 제1 화소 테스트 신호(DC_R)가 인가되고, 제4 열의 데이터선과 연결된 제4 링크선(L4)에는 제3 화소 테스트 신호(DC_G)가 인가된다.
도 5는 도 3에 도시된 유기 발광 표시 패널의 링크선 테스트를 설명하기 위한 타이밍도이다.
링크선 테스트 동안, 로우 레벨의 제5 제어신호(TEST_GATE_G2)가 제8 테스트 스위치(SW8)들의 게이트로 인가되어 제8 테스트 스위치(SW8)들은 턴 온 상태가 된다.
로우 레벨의 제3 제어신호(TEST_GATE_G)가 제3 테스트 스위치(SW3)들과 제6 테스트 스위치(SW6)들의 게이트로 인가되어 제3 테스트 스위치(SW3)들과 제6 테스트 스위치(SW6)들은 턴 온 상태가 된다.
하이 레벨의 제4 제어신호(TEST_GATE_G1)가 제7 테스트 스위치(SW7)들의 게이트로 인가되어 제7 테스트 스위치(SW7)들은 턴 오프 상태가 된다.
제1 제어신호(TEST_GATE_R)는 로우 레벨과 하이 레벨을 교대로 제1 테스트 스위치(SW1)들과 제4 테스트 스위치(SW4)들로 인가되어 제1 테스트 스위치(SW1)들과 제4 테스트 스위치(SW4)들은 교대로 턴 온 상태 및 턴 오프 상태가 된다.
제2 제어신호(TEST_GATE_B)는 하이 레벨과 로우 레벨을 교대로 제2 테스트 스위치(SW2)들과 제5 테스트 스위치(SW5)들로 인가되어 제2 테스트 스위치(SW2)들과 제5 테스트 스위치(SW5)들은 교대로 턴 오프 상태 및 턴 온 상태가 된다.
이때, 제1 테스트 신호선(146)으로 제1 링크선 테스트 신호(DC_R)가 인가되고, 제2 테스트 신호선(148)으로 제2 링크선 테스트 신호(DC_B)가 인가되고, 제3 테스트 신호선(147)으로 제3 링크선 테스트 신호(DC_G)가 인가된다. 제1 링크선 테스트 신호(DC_R), 제2 링크선 테스트 신호(DC_B) 및 제3 링크선 테스트 신호(DC_G)는 화이트 계조의 제1 계조 데이터 또는 블랙 계조의 제2 계조 데이터일 수 있다.
팬아웃부(200)의 링크선들(L1 내지 Lm)을 동일 레이어에 배치하는 경우 라인 간 간격이 좁아 쇼트 위험이 크다. 본 발명의 실시예에서는 링크선들 간의 쇼트 위험을 줄이기 위해 홀수 링크선들(L1, L3, ..., Lm-1)은 제1 도전층으로 기판 상의 소정 레이어에 일정 간격으로 형성하고, 짝수 링크선들(L2, L4, ..., Lm)은 제2 도전층으로 홀수 링크선들(L1, L3, ..., Lm-1)과 다른 레이어에 일정 간격으로 형성한다.
테스트부(140)는 동일 레이어의 인접 링크선들 간의 쇼트 및 오픈을 검출하기 위해 동일 레이어의 인접 링크선들에 서로 다른 계조의 링크선 테스트 신호를 인가하도록 한다.
제1 제어신호(TEST_GATE_R)에 의해 홀수 링크선들(L1, L3, ..., Lm-1)에 동시에 연결되는 제1 테스트 스위치(SW1)들과 제4 테스트 스위치(SW4)들에는 서로 다른 계조의 링크선 테스트 신호가 인가되고, 제2 제어신호(TEST_GATE_B)에 의해 홀수 링크선들(L1, L3, ..., Lm-1)에 동시에 연결되는 제2 테스트 스위치(SW2)들과 제5 테스트 스위치(SW5)들에는 서로 다른 계조의 링크선 테스트 신호가 인가된다.
제3 제어신호(TEST_GATE_G)에 의해 짝수 링크선들(L2, L4, ..., Lm)에 동시에 연결되는 제3 테스트 스위치(SW3)들과 제6 테스트 스위치(SW6)들에는 서로 다른 계조의 링크선 테스트 신호가 인가된다.
예를 들어, 제1 구간에서, 제1 제어 신호선(141)으로 게이트 온 레벨의 제1 제어신호(TEST_GATE_R)가 인가되어, 제1 테스트 스위치(SW1)와 제4 테스트 스위치(SW4)가 턴 온된다. 제2 제어 신호선(143)으로 게이트 오프 레벨의 제2 제어신호(TEST_GATE_B)가 인가되어, 제2 테스트 스위치(SW2)와 제5 테스트 스위치(SW5)가 턴 오프된다. 제3 제어 신호선(142)으로 게이트 온 레벨의 제3 제어신호(TEST_GATE_G)가 인가되어, 제3 테스트 스위치(SW3)와 제6 테스트 스위치(SW6)가 턴 온된다. 제4 제어 신호선(144)으로 게이트 오프 레벨의 제4 제어신호(TEST_GATE_G1)가 인가되어, 제7 테스트 스위치(SW7)가 턴 오프된다. 제5 제어 신호선(145)으로 게이트온 레벨의 제5 제어신호(TEST_GATE_G2)가 인가되어, 제8 테스트 스위치(SW8)가 턴 온된다. 이때 제1 링크선 테스트 신호(DC_R)는 화이트 계조 신호이고, 제2 링크선 테스트 신호(DC_B)는 블랙 계조 신호이고, 제3 링크선 테스트 신호(DC_G)는 화이트 계조 신호이다. 이에 따라, 제1 열의 데이터선과 연결된 제1 링크선(L1)에는 화이트 계조 신호가 인가되고, 제2 열의 데이터선과 연결된 제2 링크선(L2)에는 화이트 계조 신호가 인가되고, 제3 열의 데이터선과 연결된 제3 링크선(L3)에는 블랙 계조 신호가 인가되고, 제4 열의 데이터선과 연결된 제4 링크선(L4)에는 블랙 계조 신호가 인가된다. 서로 다른 레이어의 한 쌍의 인접한 제1 링크선(L1)과 제2 링크선(L2)에는 동일한 화이트 계조 신호가 인가된다. 서로 다른 레이어의 한 쌍의 인접한 제3 링크선(L3)과 제4 링크선(L4)에는 동일한 블랙 계조 신호가 인가된다. 동일 레이어의 한 쌍의 인접한 제1 링크선(L1)과 제3 링크선(L3)에는 각각 서로 다른 화이트 계조 신호와 블랙 계조 신호가 인가된다. 마찬가지로 동일 레이어의 한 쌍의 인접한 제2 링크선(L2)과 제4 링크선(L4)에는 각각 서로 다른 화이트 계조 신호와 블랙 계조 신호가 인가된다. 즉, 동일 레이어에 인접한 링크선들로 서로 다른 계조 신호가 인가되어 링크선 테스트 신호가 수행될 수 있다.
유사하게, 제2 구간에서, 제1 제어 신호선(141)으로 게이트 오프 레벨의 제1 제어신호(TEST_GATE_R)가 인가되어, 제1 테스트 스위치(SW1)와 제4 테스트 스위치(SW4)가 턴 오프된다. 제2 제어 신호선(143)으로 게이트 온 레벨의 제2 제어신호(TEST_GATE_B)가 인가되어, 제2 테스트 스위치(SW2)와 제5 테스트 스위치(SW5)가 턴 온된다. 제3 제어 신호선(142)으로 게이트 온 레벨의 제3 제어신호(TEST_GATE_G)가 인가되어, 제3 테스트 스위치(SW3)와 제6 테스트 스위치(SW6)가 턴 온된다. 제4 제어 신호선(144)으로 게이트 오프 레벨의 제4 제어신호(TEST_GATE_G1)가 인가되어, 제7 테스트 스위치(SW7)가 턴 오프된다. 제5 제어 신호선(145)으로 게이트온 레벨의 제5 제어신호(TEST_GATE_G2)가 인가되어, 제8 테스트 스위치(SW8)가 턴 온된다. 이때 제1 링크선 테스트 신호(DC_R)는 블랙 계조 신호이고, 제2 링크선 테스트 신호(DC_B)는 화이트 계조 신호이고, 제3 링크선 테스트 신호(DC_G)는 블랙 계조 신호이다. 이에 따라, 제1 열의 데이터선과 연결된 제1 링크선(L1)에는 화이트 계조 신호가 인가되고, 제2 열의 데이터선과 연결된 제2 링크선(L2)에는 블랙 계조 신호가 인가되고, 제3 열의 데이터선과 연결된 제3 링크선(L3)에는 블랙 계조 신호가 인가되고, 제4 열의 데이터선과 연결된 제4 링크선(L4)에는 화이트 계조 신호가 인가된다. 서로 다른 레이어의 한 쌍의 인접한 제1 링크선(L1)과 제2 링크선(L2)에는 서로 다른 화이트 계조 신호와 블랙 계조 신호가 인가된다. 서로 다른 레이어의 한 쌍의 인접한 제3 링크선(L3)과 제4 링크선(L4)에는 서로 다른 블랙 계조 신호와 화이트 계조 신호가 인가된다. 동일 레이어의 한 쌍의 인접한 제1 링크선(L1)과 제3 링크선(L3)에는 각각 서로 다른 화이트 계조 신호와 블랙 계조 신호가 인가된다. 마찬가지로 동일 레이어의 한 쌍의 인접한 제2 링크선(L2)과 제4 링크선(L4)에는 각각 서로 다른 블랙 계조 신호와 화이트 계조 신호가 인가된다. 즉, 동일 레이어에 인접한 링크선들로 서로 다른 계조 신호가 인가되어 링크선 테스트 신호가 수행될 수 있다.
또한, 본 발명의 실시예에 따른 유기 발광 표시 패널(100)은 점등 테스트와 링크선 테스트를 선택적으로 수행할 수 있는 공용 테스트 회로부를 구비함으로써 점등 테스트와 링크선 테스트를 용이하게 수행할 수 있고, 각각 별개로 테스트 회로를 구성할 필요가 없어 비표시 영역을 최소화할 수 있다.
또한 상이한 테스트를 하나의 테스트 회로부를 이용하여 수행함으로써 필요한 신호 수 및 신호를 공급하는 패드의 수를 줄일 수 있다.
본 발명의 실시예에서는 스위치들(SW1 내지 SW8)이 모두 PMOS 타입의 트랜지스터인 것으로 도시하고 있으나, 본 발명은 이에 한정되지 않고, 모두 NMOS 타입의 트랜지스터 또는 서로 상이한 전도 타입의 트랜지스터일 수 있고, 그에 상응하여 트랜지스터를 온/오프하는 신호 레벨이 달라질 수 있다.
본 명세서에서는 본 발명을 한정된 실시예를 중심으로 설명하였으나, 본 발명의 범위 내에서 다양한 실시예가 가능하다. 또한 설명되지는 않았으나, 균등한 수단도 또한 본 발명에 그대로 결합되는 것이라 할 것이다. 따라서 본 발명의 진정한 보호범위는 아래의 특허청구범위에 의하여 정해져야 할 것이다.
110; 화소부
120; 주사구동부
130; IC 실장 영역
140; 테스트부
180; 패드부

Claims (19)

  1. 주사선들 및 데이터선들의 교차부에 위치되어 서로 다른 색을 표시하는 다수의 화소들이 형성된 화소부; 및
    상기 데이터선들의 일 단에 연결된 링크선들로 상기 화소들의 불량 검출을 위한 화소 테스트 신호 및 상기 링크선들의 쇼트 및 오픈 검출을 위한 링크선 테스트 신호를 선택적으로 인가하는 테스트부;를 포함하는 유기 발광 표시 패널.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 복수의 링크선들 중 홀수번째 링크선들과 짝수번째 링크선들은 적어도 하나의 절연막을 사이에 두고 서로 다른 레이어에 배치된, 유기 발광 표시 패널.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 화소부는,
    제1 열 및 제3 열에 교대로 배열된 제1 화소들 및 제2 화소들; 및
    상기 제1 열과 상기 제3 열 사이의 제2 열 및 상기 제3 열에 이웃한 제4 열에 배열된 제3 화소들;을 포함하고,
    상기 제3 열에는 상기 제1 열과 반대 순서로 상기 제1 화소들 및 제2 화소들이 교대로 배열된, 유기 발광 표시 패널.
  4. 제3항에 있어서,
    상기 테스트부는 다수의 테스트 스위치들을 포함하고,
    각 테스트 스위치는,
    게이트가 테스트 제어신호를 공급하는 다수의 제어 신호선들 중 하나에 연결되고, 제1 단자가 상기 링크선들을 통해 상기 데이터선들 중 하나에 연결되고, 제2 단자가 상기 화소 테스트 신호 또는 상기 링크선 테스트 신호를 공급하는 다수의 테스트 신호선들 중 하나에 연결된, 유기 발광 표시 패널.
  5. 제4항에 있어서,
    상기 다수의 테스트 스위치들은,
    게이트가 제1 제어 신호선에 연결되고, 제1 단자가 상기 제1 열의 데이터선에 연결되고, 제2 단자가 제1 테스트 신호선에 연결된 제1 테스트 스위치;
    게이트가 제2 제어 신호선에 연결되고, 제1 단자가 상기 제1 제1 열의 데이터선에 연결되고, 제2 단자가 제2 테스트 신호선에 연결된 제2 테스트 스위치;
    게이트가 제3 제어 신호선에 연결되고, 제1 단자가 상기 제2 열의 데이터선에 연결되고, 제2 단자가 제3 테스트 신호선에 연결된 제3 테스트 스위치;
    게이트가 상기 제1 제어 신호선에 연결되고, 제1 단자가 상기 제3 열의 데이터선에 연결되고, 제2 단자가 상기 제2 테스트 신호선에 연결된 제4 테스트 스위치;
    게이트가 상기 제2 제어 신호선에 연결되고, 제1 단자가 상기 제3 열의 데이터선에 연결되고, 제2 단자가 상기 제1 테스트 신호선에 연결된 제5 테스트 스위치;
    게이트가 상기 제3 제어 신호선에 연결되고, 제1 단자가 상기 제4 열의 데이터선에 연결된 제6 테스트 스위치;
    게이트가 제4 제어 신호선에 연결되고, 제1 단자가 상기 제5 테스트 스위치의 제2 단자에 연결되고, 제2 단자가 상기 제3 테스트 신호선에 연결된 제7 테스트 스위치; 및
    게이트가 제5 제어 신호선에 연결되고, 제1 단자가 상기 제5 테스트 스위치의 제2 단자에 연결되고, 제2 단자가 상기 제2 테스트 신호선에 연결된 제8 테스트 스위치;를 포함하는 유기 발광 표시 패널.
  6. 제5항에 있어서,
    상기 제3 제어 신호선과 상기 제4 제어 신호선으로 게이트 온 신호가 인가되고, 상기 제5 제어 신호선으로 게이트 오프 신호가 인가되는 동안,
    상기 제1 제어 신호선과 상기 제2 제어 신호선으로 게이트 온 신호가 교대로 인가되는, 유기 발광 표시 패널.
  7. 제6항에 있어서,
    상기 제1 테스트 신호선으로 제1 화소 테스트 신호가 인가되고,
    상기 제2 테스트 신호선으로 제2 화소 테스트 신호가 인가되고,
    상기 제3 테스트 신호선으로 제3 화소 테스트 신호가 인가되는, 유기 발광 표시 패널.
  8. 제5항에 있어서,
    상기 제3 제어 신호선과 상기 제5 제어 신호선으로 게이트 온 신호가 인가되고, 상기 제4 제어 신호선으로 게이트 오프 신호가 인가되는 동안,
    상기 제1 제어 신호선과 상기 제2 제어 신호선으로 게이트 온 신호가 교대로 인가되는, 유기 발광 표시 패널.
  9. 제8항에 있어서,
    상기 제1 테스트 신호선으로 제1 링크선 테스트 신호가 인가되고,
    상기 제2 테스트 신호선으로 제2 링크선 테스트 신호가 인가되고,
    상기 제3 테스트 신호선으로 제3 링크선 테스트 신호가 인가되는, 유기 발광 표시 패널.
  10. 제9항에 있어서,
    상기 제1 제어 신호선으로 게이트 온 신호가 인가될 때,
    상기 제1 링크선 테스트 신호 및 상기 제3 링크선 테스트 신호는 제1 계조 신호이고, 상기 제2 링크선 테스트 신호는 제2 계조 신호이고,
    상기 제2 제어 신호선으로 게이트 온 신호가 인가될 때,
    상기 제1 링크선 테스트 신호 및 상기 제3 링크선 테스트 신호는 상기 제2 계조 신호이고, 상기 제2 링크선 테스트 신호는 상기 제1 계조 신호인, 유기발광 표시 패널.
  11. 제8항에 있어서,
    상기 화소 테스트 신호 및 상기 링크선 테스트 신호는 직류 신호인, 유기발광 표시 패널.
  12. 제1항에 있어서,
    상기 데이터선들을 상기 링크선들과 연결하는 다수의 데이터 패드들;을 더 포함하는 유기 발광 표시 패널.
  13. 주사선들 및 데이터선들의 교차부에 위치되어 서로 다른 색을 표시하는 다수의 화소들 및 상기 데이터선들의 일 단과 연결된 링크선들에 연결되어 상기 데이터선들 중 하나에 연결된 다수의 테스트 스위치들을 포함하는 유기 발광 표시 패널의 테스트 방법에 있어서,
    상기 링크선들로 상기 화소들의 점등 불량 검출을 위한 화소 테스트 신호를 인가하는 단계; 및
    상기 링크선들로 상기 링크선들의 쇼트 및 오픈 검출을 위한 링크선 테스트 신호를 인가하는 단계;를 포함하는 유기 발광 표시 패널의 테스트 방법.
  14. 제13항에 있어서,
    상기 복수의 링크선들 중 홀수번째 링크선들과 짝수번째 링크선들은 적어도 하나의 절연막을 사이에 두고 서로 다른 레이어에 배치된, 유기 발광 표시 패널의 테스트 방법.
  15. 제13항에 있어서,
    상기 화소들은,
    제1 열 및 제3 열에 교대로 배열된 제1 화소들 및 제2 화소들; 및
    상기 제1 열과 상기 제3 열 사이의 제2 열 및 상기 제3 열에 이웃한 제4 열에 배열된 제3 화소들;을 포함하고,
    상기 제3 열에는 상기 제1 열과 반대 순서로 상기 제1 화소들 및 제2 화소들이 교대로 배열된, 유기 발광 표시 패널의 테스트 방법.
  16. 제15항에 있어서,
    상기 다수의 테스트 스위치들은,
    게이트가 제1 제어 신호선에 연결되고, 제1 단자가 상기 제1 열의 데이터선에 연결되고, 제2 단자가 제1 테스트 신호선에 연결된 제1 테스트 스위치;
    게이트가 제2 제어 신호선에 연결되고, 제1 단자가 상기 제1 열의 데이터선에 연결되고, 제2 단자가 제2 테스트 신호선에 연결된 제2 테스트 스위치;
    게이트가 제3 제어 신호선에 연결되고, 제1 단자가 상기 제2 열의 데이터선에 연결되고, 제2 단자가 제3 테스트 신호선에 연결된 제3 테스트 스위치;
    게이트가 상기 제1 제어 신호선에 연결되고, 제1 단자가 상기 제3 열의 데이터선에 연결되고, 제2 단자가 상기 제2 테스트 신호선에 연결된 제4 테스트 스위치;
    게이트가 상기 제2 제어 신호선에 연결되고, 제1 단자가 상기 제3 열의 데이터선에 연결되고, 제2 단자가 상기 제1 테스트 신호선에 연결된 제5 테스트 스위치;
    게이트가 상기 제3 제어 신호선에 연결되고, 제1 단자가 상기 제4 열의 데이터선에 연결된 제6 테스트 스위치;
    게이트가 제4 제어 신호선에 연결되고, 제1 단자가 상기 제5 테스트 스위치의 제2 단자에 연결되고, 제2 단자가 상기 제3 테스트 신호선에 연결된 제7 테스트 스위치; 및
    게이트가 제5 제어 신호선에 연결되고, 제1 단자가 상기 제5 테스트 스위치의 제2 단자에 연결되고, 제2 단자가 상기 제2 테스트 신호선에 연결된 제8 테스트 스위치;를 포함하는 유기 발광 표시 패널의 테스트 방법.
  17. 제16항에 있어서,
    상기 화소 테스트 신호 인가 단계는,
    상기 제3 제어 신호선과 상기 제4 제어 신호선으로 게이트 온 신호를 인가하고, 상기 제5 제어 신호선으로 게이트 오프 신호를 인가하는 동안,
    상기 제1 제어 신호선과 상기 제2 제어 신호선으로 게이트 온 신호를 교대로 인가하고,
    상기 제1 내지 제3 테스트 신호선 각각으로 제1 내지 제3 화소 테스트 신호가 인가하는 단계;를 포함하는 유기 발광 표시 패널의 테스트 방법.
  18. 제16항에 있어서,
    상기 링크선 테스트 신호 인가 단계는,
    상기 제3 제어 신호선과 상기 제5 제어 신호선으로 게이트 온 신호를 인가하고, 상기 제4 제어 신호선으로 게이트 오프 신호를 인가하는 동안,
    상기 제1 제어 신호선과 상기 제2 제어 신호선으로 게이트 온 신호를 교대로 인가하고,
    상기 제1 내지 제3 테스트 신호선 각각으로 제1 내지 제3 링크선 테스트 신호가 인가하는 단계;를 포함하는 유기 발광 표시 패널의 테스트 방법.
  19. 제18항에 있어서,
    상기 제1 제어 신호선으로 게이트 온 신호가 인가될 때,
    상기 제1 링크선 테스트 신호 및 상기 제3 링크선 테스트 신호는 제1 계조 신호이고, 상기 제2 링크선 테스트 신호는 제2 계조 신호이고,
    상기 제2 제어 신호선으로 게이트 온 신호가 인가될 때,
    상기 제1 링크선 테스트 신호 및 상기 제3 링크선 테스트 신호는 상기 제2 계조 신호이고, 상기 제2 링크선 테스트 신호는 상기 제1 계조 신호인, 유기 발광 표시 패널의 테스트 방법.

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