CN111627367B - 显示面板的检测电路、方法及显示面板 - Google Patents

Abstract

本申请提供了一种显示面板的检测电路、方法及显示面板，涉及显示技术领域。该检测电路包括多个开关单元组和控制信号线组；每个开关单元组对应一个子像素组，开关单元组包括多个开关单元，每个开关单元的控制端与控制信号线组连接，同一个开关单元组中的开关单元的第一端被配置为与开关单元组对应的子像素组的数据线连接，同一个开关单元组中的开关单元的第二端短接。利用本申请的技术方案能够实现显示面板的窄边框设计。

Description

显示面板的检测电路、方法及显示面板

技术领域

本申请属于显示技术领域，尤其涉及一种显示面板的检测电路、方法及显示面板。

背景技术

随着显示技术的不断发展，用户对屏占比的要求越来越高。窄边框设计成为了显示面板设计的一大发展方向。

在显示面板的非显示区中需要设置扇区(即Fanout)走线、半切区、分路(即Demux)电路、检测电路、柔性电路板等。显示面板的上述结构需要占据较大的空间，从而导致边框较宽，无法实现显示面板的窄边框设计。

发明内容

本申请实施例提供了一种显示面板的检测电路、方法及显示面板，能够实现显示面板的窄边框设计。

第一方面，本申请实施例提供一种显示面板的检测电路，显示面板具有多个子像素组和多条数据线；检测电路包括多个开关单元组和控制信号线组；每个开关单元组对应一个子像素组，开关单元组包括多个开关单元，每个开关单元的控制端与控制信号线组连接，同一个开关单元组中的开关单元的第一端被配置为与开关单元组对应的子像素组的数据线连接，同一个开关单元组中的开关单元的第二端短接。

第二方面，本申请实施例提供一种显示面板的检测方法，应用于第一方面的技术方案中的检测电路，检测电路还包括与每个开关单元组中的开关单元的第二端电连接的检测信号线组；检测方法包括：在检测阶段，将控制信号线组提供的第一控制信号输入开关单元的控制端，将检测信号线组提供的检测信号输入开关单元的第二端，根据控制信号和检测信号，控制子像素组中的子像素发光以进行检测；在图像显示阶段，将控制信号线组提供的第二控制信号输入开关单元的控制端，将图像显示信号输入开关单元的第二端，根据第二控制信号和图像显示信号，控制子像素中的子像素发光以显示图像。

第三方面，本申请实施例提供一种显示面板，包括多个子像素组、多条数据线，以及第一方面的技术方案中的检测电路。

本申请实施例提供一种显示面板的检测电路、方法及显示面板，检测电路包括多个开关单元组和控制信号线组。开关单元组中每个开关单元的控制端与控制信号线组连接，同一个开关单元组中开关单元的第一端与数据线连接，同一个开关单元组中开关单元的第二端短接。通过检测电路的每个开关单元组中开关单元的导通和关断，即可控制子像素组中子像素发光，既能够实现检测，又能够实现图像显示。与需要设置demux电路、检测信号线以及demux电路与检测信号线之间的测试开关管才能够实现检测功能和图像显示功能的技术方案相比，本申请实施例在能够实现检测功能和图像显示功能的基础上，简化了显示面板内的结构，减小了显示面板的非显示区中结构占据的空间，使得显示面板的窄边框设计能够实现。

附图说明

从下面结合附图对本申请的具体实施方式的描述中可以更好地理解本申请。其中，相同或相似的附图标记表示相同或相似的特征。

图1为本申请实施例提供的显示面板的示意图；

图2为本申请实施例提供的显示面板中子像素排列方式的一示例的示意图；

图3为本申请实施例提供的显示面板中子像素排列方式的另一示例的示意图；

图4为现有技术中的一种显示面板的结构示意图；

图5为本申请一实施例提供的显示面板的检测电路的结构示意图；

图6为本申请另一实施例提供的显示面板的检测电路的结构示意图；

图7为本申请实施例提供的显示面板的检测电路的一示例的结构示意图；

图8为图7所示的检测电路在检测阶段各信号一示例的信号时序图；

图9为本申请实施例提供的显示面板的检测电路的另一示例的结构示意图；

图10为图9所示的检测电路在检测阶段各信号一示例的信号时序图；

图11为本申请实施例提供的显示面板的检测电路的又一示例的结构示意图；

图12为图11所示的检测电路在检测阶段各信号一示例的信号时序图；

图13为本申请一实施例提供的显示面板的检测方法的流程图；

图14为本申请另一实施例提供的显示面板的检测方法的流程图；

图15为本申请实施例提供的制作过程中的显示面板的一示例的结构示意图；

图16为本申请实施例提供的显示面板的制作方法的流程图。

具体实施方式

下面将详细描述本申请的各个方面的特征和示例性实施例，为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及具体实施例，对本申请进行进一步详细描述。应理解，此处所描述的具体实施例仅被配置为解释本申请，并不被配置为限定本申请。对于本领域技术人员来说，本申请可以在不需要这些具体细节中的一些细节的情况下实施。下面对实施例的描述仅仅是为了通过示出本申请的示例来提供对本申请更好的理解。

应当理解，在描述部件的结构时，当将一层、一个区域称为位于另一层、另一个区域“上面”或“上方”时，可以指直接位于另一层、另一个区域上面，或者在其与另一层、另一个区域之间还包含其它的层或区域。并且，如果将部件翻转，该一层、一个区域将位于另一层、另一个区域“下面”或“下方”

显示面板具有显示区和非显示区。显示区用于显示。非显示区用于设置电路以及走线等。图1为本申请实施例提供的显示面板的示意图。如图1所示，显示面板包括显示区AA和非显示区NA。

显示面板上显示区AA具有多个子像素组和多条数据线。每个子像素组可包括两列以上的子像素列。一个子像素列共用一条数据线。一个子像素列中可包括颜色相同的子像素，也可包括颜色不同的子像素，在此并不限定。例如，图2为本申请实施例提供的显示面板中子像素排列方式的一示例的示意图。如图2所示，在相邻的两列子像素中，一列子像素包括交替排列的红色子像素(用R表示)和蓝色子像素(用B表示)，具体排列可表示为RBRBRB……，或者具体排列可表示为BRBRBR……；另一列子像素包括绿色子像素(用G表示)，具体排列可表示为GGGGGG……。一列子像素即为一个子像素列P11，相邻的两个子像素列P11可作为一个子像素组P1。又例如，图3为本申请实施例提供的显示面板中子像素排列方式的另一示例的示意图。相邻的三列子像素中，第一列子像素包括红色子像素，具体排列可表示为RRRRRR……；第二列子像素包括蓝色子像素，具体排列可表示为BBBBBB……；第三列子像素包括绿色子像素，具体排列可表示为GGGGGG……。一列子像素即为一个子像素列P11。相邻的三个子像素列P11可作为一个子像素组P10。

非显示区NA中可设置扇区走线、半切区、分路电路、检测电路和绑定(即bonding)的柔性电路板(即Flexible Printed Circuit，FPC)等。例如，图4为现有技术中一种显示面板的结构示意图。图4中省略了扇区走线、半切区和FPC等结构。如图4所示，该显示面板的非显示区NA中设置的demux电路包括开关管组X1和分路信号线组。每个开关管组X1包括三个开关管。分路信号线组包括分路信号线demux_1、分路信号线demux_2和分路信号线demux_3。检测电路包括检测信号线组和检测开关管X2。检测信号线组包括检测信号线VT、检测信号线DO和检测信号线DE。上述结构需占据较大的空间，从而导致显示面板的边框较宽，无法适应显示面板的窄边框发展趋势，即无法实现显示面板的窄边框设计。

本申请实施例提供一种显示面板的检测电路、方法及显示面板。其中，检测电路不仅可对显示区AA中的子像素进行是否能够发光的检测，还可实现显示面板的图像显示功能。与如图4所示的需要设置demux电路、检测信号线以及demux电路与检测信号线之间的开关管才能够实现检测功能和图像显示功能的电路结构相比，本申请实施例在能够实现检测功能和图像显示功能的基础上，简化了显示面板内的电路结构，减少了非显示区NA中的结构，对应减小了非显示区NA中的结构占据的空间，使得显示面板的窄边框设计可以实现。

图5为本申请一实施例提供的显示面板的检测电路的结构示意图。如图5所示，检测电路10包括多个开关单元组11和控制信号线组12。每个开关单元组11对应一个子像素组P1。

开关单元组11包括多个开关单元111。每个开关单元111的控制端与控制信号线组连接。同一个开关单元组11中的开关单元111的第一端被配置为与该开关单元组11对应的子像素组P1的数据线连接。同一个开关单元组11中的开关单元111的第二端短接。开关单元111的第二端用于在检测阶段接收检测信号，以及，用于在图像显示阶段接收图像显示信号。

一个开关单元组11可与n条数据线20连接，n为正整数。每条数据线20对应一个子像素列P11。一个开关单元组11中开关单元111的数量可根据与该开关单元组11连接的数据线20所对应的子像素组P1中子像素列P11的数量以及子像素列P11中子像素排列方式设定，在此并不限定。开关单元具体可为薄膜晶体管(Thin Film Transistor，TFT)、金属-氧化物半导体场效应晶体管(Metal-Oxide-Semiconductor，MOS)、结型场效应管(JunctionField-Effect Transistor，JFET)等，在此并不限定。

控制信号线组12可用于为开关单元111提供控制信号。控制信号用于控制开关单元111导通或断开。

控制信号线组12可包括m条控制信号线，m为正整数。控制信号线的数量可根据每个开关单元组11中的开关单元111的数量设定，在此并不限定。一条控制信号线能够为每个开关单元组11中的一个开关单元111提供控制信号。

在本申请实施例中，检测电路包括多个开关单元组和控制信号线组。开关单元组中每个开关单元的控制端与控制信号线组连接，同一个开关单元组中开关单元的第一端与数据线连接，同一个开关单元组中开关单元的第二端短接。通过检测电路的每个开关单元组中开关单元的导通和关断，可控制子像素组中子像素发光既能够实现检测，又能够实现图像显示。与图4所示的显示面板中非显示区中的结构相比，本申请实施例在能够实现检测功能和图像显示功能的基础上，可省去专为检测设置的检测开关管，简化了显示面板的非显示区内的结构，减小了显示面板的非显示区中结构占据的空间，使得显示面板的窄边框设计能够实现。

图6为本申请另一实施例提供的显示面板的检测电路的结构示意图。图6与图5的不同之处在于，图6所示的检测电路10还可包括检测信号线组13。

检测信号线组13与每个开关单元组11中的开关单元的第二端电连接。检测信号线组13用于为开关单元组11中的开关单元111提供检测信号。检测信号与控制信号可共同用于控制子像素组中子像素发光，从而实现对显示面板的子像素发光的检测。具体地，检测信号线组13包括s条检测信号线，s为正整数。每条检测信号线可提供检测信号。同一个开关单元组11中的开关单元111的第二端电连接同一条检测信号线。

在检测阶段，检测信号线组13为开关单元组11提供检测信号，已完成对显示面板的子像素的发光检测。检测阶段结束后，则可将检测信号线组从检测电路切除，进行后续的绑定流程。例如，如图6所示，可沿点划线即切割线L1进行切割，将检测信号线组从检测电路中切除。因此，最终显示面板的成品中可不包括检测信号线组，从而进一步减小显示面板的非显示区中结构占据的空间，更容易实现显示面板的窄边框设计。

在一些示例中，检测电路还可包括驱动芯片14。如图6所示，每个开关单元组11中开关单元111的第二端与驱动芯片14的图像显示信号输出端连接。驱动芯片14的图像显示信号输出端可输出图像显示信号，图像显示信号可通过开关单元组11输入至数据线中，从而实现显示面板的图像显示。

下面结合附图以几个示例对本申请实施例中的显示面板的检测电路进行具体说明，但需要说明的是，本申请显示面板的检测电路的具体结构包括但不限于下面几个示例中的具体结构。

图7为本申请实施例提供的显示面板的检测电路的一示例的结构示意图。子像素组包括第一子像素列、第二子像素列和第三子像素列。第一子像素列包括颜色相同的第一子像素。第二子像素列包括颜色相同的第二子像素。第三子像素列包括颜色相同的第三子像素。第一子像素、第二子像素、第三子像素的颜色不同。例如，子像素组中子像素列的排列方式如图3所示。第一子像素为红色子像素，第二子像素为蓝色子像素，第三子像素为绿色子像素。图7中对子像素组结构进行了简化示意，用“R”表示子像素列中子像素的排列方式RRRRRR……，用“B”表示子像素列中子像素的排列方式BBBBBB……，用“G”表示子像素列中子像素的排列方式GGGGGG……。

以开关单元为TFT为例，如图7所示，开关单元组11包括第一开关单元T1、第二开关单元T2和第三开关单元T3。第一开关单元T1的第一端与第一子像素列的数据线21连接。第二开关单元T2的第一端与第二子像素列的数据线22连接。第三开关单元T3的第一端与第三子像素列的数据线23连接。

控制信号线组包括第一控制信号线SW1、第二控制信号线SW2和第三控制信号线SW3。第一控制信号线SW1与第一开关单元T1的控制端连接，第二控制信号线SW2与第二开关单元T2的控制端连接，第三控制信号线SW3与第三开关单元T3的控制端连接。

检测信号线组13包括第一检测信号线ODD和第二检测信号线EVEN。多个开关单元组11与第一检测信号线ODD和第二检测信号线EVEN交替连接。即在多个开关单元组中，奇数位的开关单元组11与第一检测信号线ODD连接，偶数位的开关单元组11与第二检测信号线EVEN连接。如图7所示，第一个开关单元组11和第三个开关单元组11与第一检测信号线ODD连接，第二个开关单元组11和第四个开关单元组11与第二检测信号线EVEN连接。

图8为图7所示的检测电路在检测阶段各信号一示例的信号时序图。为了便于说明，各个信号的标识与各个信号线的标识一致，例如，第一控制信号线提供的控制信号的标识也为“SW1”。假设开关单元控制端接收到低电平信号，开关单元导通；开关单元控制端接收到高电平信号，开关单元关断。数据线上传输的信号为高电平，数据线对应的子像素列中被扫描的子像素发光。

在t1阶段对红色子像素进行发光检测，控制信号SW1为低电平，控制信号SW2和控制信号SW3为高电平，第一开关单元T1导通，第二开关单元T2和第三开关单元T3关断。检测信号ODD为高电平，检测信号EVEN为高电平。各子像素组中第一子像素列中红色子像素发光。

在t2阶段对蓝色子像素进行发光检测，控制信号SW2为低电平，控制信号SW1和控制信号SW3为高电平，第二开关单元T2导通，第一开关单元T1和第三开关单元T3关断。检测信号ODD为高电平，检测信号EVEN为高电平。各子像素组中第二子像素列中蓝色子像素发光。

在t3阶段对绿色子像素进行发光检测，控制信号SW3为低电平，控制信号SW1和控制信号SW2为高电平，第三开关单元T3导通，第一开关单元T1和第二开关单元T2关断。检测信号ODD为高电平，检测信号EVEN为高电平。各子像素组中第三子像素列中绿色子像素发光。

在图像显示阶段，开关单元组和控制信号线组形成了demux电路结构，能够实现图像显示的功能。第一控制信号线SW1、第二控制信号线SW2和第三控制信号线SW3提供的控制信号与驱动芯片的图像显示信号输出端输出的图像显示信号，以及各子像素接收到的扫描信号共同作用，即可实现显示面板的图像显示。由于显示面板显示的图像较为复杂，驱动芯片的图像显示信号输出端输出的图像显示信号也较为复杂，在此简单对图像显示阶段中第一控制信号线SW1、第二控制信号线SW2和第三控制信号线SW3提供的控制信号进行说明。在显示的图像需要红色子像素发光的情况下，控制信号SW1为低电平，第一开关单元T1导通。在显示的图像需要蓝色子像素发光的情况下，控制信号SW2为低电平，第二开关单元T2导通。在显示的图像需要绿色子像素发光的情况下，控制信号SW3为低电平，第三开关单元T3导通。

图9为本申请实施例提供的显示面板的检测电路的另一示例的结构示意图。子像素组包括第四子像素列和第五子像素列。第四子像素列包括不同颜色的第一子像素和第二子像素。第五子像素列包括颜色相同的第三子像素。第一子像素、第二子像素、第三子像素的颜色不同。例如，子像素组中子像素列的排列方式如图2所示。第一子像素为红色子像素，第二子像素为蓝色子像素，第三子像素为绿色子像素。图9中对子像素组结构进行了简化示意，用“R/B”表示子像素列中子像素的排列方式RBRBRB……，用“B/R”表示子像素列中子像素的排列方式BRBRBR……，用“G”表示子像素列中子像素的排列方式GGGGGG……。其中，“R/B”和“B/R”均可作为第四子像素列。

以开关单元为TFT为例，如图9所示，开关单元组包括第四开关单元T4、第五开关单元T5和第六开关单元T6。第四开关单元T4的第一端与第四子像素列的数据线24连接。第五开关单元T5的第一端与第四子像素列的数据线24连接。第六开关单元T6的第一端与第五子像素列的数据线25连接。

控制信号线组包括第四控制信号线SW4、第五控制信号线SW5和第六控制信号线SW6。第四控制信号线SW4与第四开关单元T4的控制端连接，第五控制信号线SW5与第五开关单元T5的控制端连接，第六控制信号线SW6与第六开关单元T6的控制端连接。

检测信号线组13包括第一检测信号线ODD和第二检测信号线EVEN。多个开关单元组11与第一检测信号线ODD和第二检测信号线EVEN交替连接。即在多个开关单元组11中，奇数位的开关单元组11与第一检测信号线ODD连接，偶数位的开关单元组11与第二检测信号线EVEN连接。如图8所示，第一个开关单元组11和第三个开关单元组11与第一检测信号线ODD连接，第二个开关单元组11和第四个开关单元组11与第二检测信号线EVEN连接。

图10为图9所示的检测电路在检测阶段各信号一示例的信号时序图。为了便于说明，各个信号的标识与各个信号线的标识一致，例如，第四控制信号线提供的控制信号的标识也为“SW4”。假设开关单元控制端接收到低电平信号，开关单元导通；开关单元控制端接收到高电平信号，开关单元关断。数据线上传输的信号为高电平，数据线对应的子像素列中被扫描的子像素发光。

在t1阶段对红色子像素进行发光检测，控制信号SW4为低电平，控制信号SW5和控制信号SW6为高电平，第四开关单元T4导通，第五开关单元T5和第六开关单元T6关断。检测信号ODD为高电平，检测信号EVEN为高电平。各子像素组中第四子像素列中红色子像素发光。

在t2阶段对蓝色子像素进行发光检测，控制信号SW5为低电平，控制信号SW4和控制信号SW6为高电平，第五开关单元T5导通，第四开关单元T4和第六开关单元T6关断。检测信号ODD为高电平，检测信号EVEN为高电平。各子像素组中第四子像素列中蓝色子像素发光。

在t3阶段对绿色子像素进行发光检测，控制信号SW6为低电平，控制信号SW4和控制信号SW5为高电平，第六开关单元T6导通，第四开关单元T4和第五开关单元T5关断。检测信号ODD为高电平，检测信号EVEN为高电平。各子像素组中第五子像素列中绿色子像素发光。

在图像显示阶段，开关单元组和控制信号线组形成了demux电路结构，能够实现图像显示的功能。第四控制信号线SW4、第五控制信号线SW5和第六控制信号线SW6提供的控制信号与驱动芯片的图像显示信号输出端输出的图像显示信号，以及各子像素接收到的扫描信号共同作用，即可实现显示面板的图像显示。由于显示面板显示的图像较为复杂，驱动芯片的图像显示信号输出端输出的图像显示信号也较为复杂，在此简单对图像显示阶段中第四控制信号线SW4、第五控制信号线SW5和第六控制信号线SW6提供的控制信号进行说明。在显示的图像需要红色子像素发光的情况下，控制信号SW4为低电平，第四开关单元T4导通。在显示的图像需要蓝色子像素发光的情况下，控制信号SW5为低电平，第五开关单元T5导通。在显示的图像需要绿色子像素发光的情况下，控制信号SW6为低电平，第六开关单元T6导通。

图11为本申请实施例提供的显示面板的检测电路的又一示例的结构示意图。子像素组包括第第六子像素列和第七子像素列。第六子像素列包括不同颜色的第一子像素和第二子像素。第七子像素列包括颜色相同的第三子像素。第一子像素、第二子像素、第三子像素的颜色不同。例如，子像素组中子像素列的排列方式如图2所示。第一子像素为红色子像素，第二子像素为蓝色子像素，第三子像素为绿色子像素。图11中对子像素组结构进行了简化示意，用“R/B”表示子像素列中子像素的排列方式RBRBRB……，用“B/R”表示子像素列中子像素的排列方式BRBRBR……，用“G”表示子像素列中子像素的排列方式GGGGGG……。其中，“R/B”和“B/R”均可作为第六子像素列。

以开关单元为TFT为例，如图11所示，开关单元组包括第七开关单元T7和第八开关单元T8。第七开关单元T7的第一端与第六子像素列的数据线26连接。第八开关单元T8的第一端与第七子像素列的数据线27连接。

控制信号线组包括第七控制信号线SW7和第八控制信号线SW8。第七控制信号线SW7与第七开关单元T7的控制端连接。第八控制信号线SW8与第八开关单元T8的控制端连接。

检测信号线组13包括第一检测信号线ODD和第二检测信号线EVEN。多个开关单元组11与第一检测信号线ODD和第二检测信号线EVEN交替连接。即在多个开关单元组11中，奇数位的开关单元组11与第一检测信号线ODD连接，偶数位的开关单元组11与第二检测信号线EVEN连接。如图10所示，第一个开关单元组11和第三个开关单元组11与第一检测信号线ODD连接，第二个开关单元组11和第四个开关单元组11与第二检测信号线EVEN连接。

图12为图11所示的检测电路在检测阶段各信号一示例的信号时序图。为了便于说明，各个信号的标识与各个信号线的标识一致，例如，第七控制信号线提供的控制信号的标识也为“SW7”。假设开关单元控制端接收到低电平信号，开关单元导通；开关单元控制端接收到高电平信号，开关单元关断。数据线上传输的信号为高电平，数据线对应的子像素列中被扫描的子像素发光。

在t1阶段对红色子像素进行发光检测，控制信号SW7为低电平，控制信号SW8为高电平，第七开关单元T7导通，第八开关单元T8关断。检测信号ODD为高电平，检测信号EVEN为高电平。各子像素组中第六子像素列中红色子像素发光。

在t2阶段对蓝色子像素进行发光检测，控制信号SW7为低电平，控制信号SW8为高电平，第七开关单元T7导通，第八开关单元T8关断。检测信号ODD为高电平，检测信号EVEN为高电平。各子像素组中第六子像素列中蓝色子像素发光。

在t3阶段对绿色子像素进行发光检测，控制信号SW8为低电平，控制信号SW7为高电平，第八开关单元T8导通，第七开关单元T7关断。检测信号ODD为高电平，检测信号EVEN为高电平。各子像素组中第七子像素列中绿色子像素发光。

在图像显示阶段，开关单元组和控制信号线组形成了demux电路结构，能够实现图像显示的功能。第七控制信号线SW7和第八控制信号线SW8提供的控制信号与驱动芯片的图像显示信号输出端输出的图像显示信号，以及各子像素接收到的扫描信号共同作用，即可实现显示面板的图像显示。由于显示面板显示的图像较为复杂，驱动芯片的图像显示信号输出端输出的图像显示信号也较为复杂，在此简单对图像显示阶段中第七控制信号线SW7和第八控制信号线SW8提供的控制信号进行说明。在显示的图像需要红色子像素发光的情况下，控制信号SW7为低电平，第七开关单元T7导通。在显示的图像需要蓝色子像素发光的情况下，控制信号SW7为低电平，第七开关单元T7导通。在显示的图像需要绿色子像素发光的情况下，控制信号SW8为低电平，第八开关单元T8导通。

上述如图7、图9和图11所示的检测电路，与图4所示的显示面板中的检测电路和demux电路相比，省去了专为检测设置的检测开关管X2和测试信号线VT，进一步简化了显示面板的非显示区内的结构，减小了显示面板的非显示区中结构占据的空间，使得显示面板的窄边框设计能够实现。

需要说明的是，本申请实施例的显示面板的检测电路包括但不限于上述具体结构。

本申请实施例还提供了一种显示面板的检测方法，可应用于上述实施例中的检测电路，如图6所示的检测电路，在此并不限定。图13为本申请一实施例提供的显示面板的检测方法的流程图。如图13所示，该检测方法可包括步骤S301和步骤S302。

在步骤S301中，在检测阶段，将控制信号线组提供的第一控制信号输入开关单元的控制端，将检测信号线组提供的检测信号输入开关单元的第二端，根据控制信号和检测信号，控制子像素组中的子像素发光以进行检测。

第一控制信号为控制信号线组在检测阶段向开关单元提供的控制信号。

在步骤S302中，在图像显示阶段，将控制信号线组提供的第二控制信号输入开关单元的控制端，将图像显示信号输入开关单元的第二端，根据第二控制信号和图像显示信号，控制子像素中的子像素发光以显示图像。

第二控制信号为控制信号线组在图像显示阶段向开关单元提供的控制信号。

上述步骤S301和步骤S302的具体内容可参见上述实施例中的相关说明，在此不再赘述。

在本申请实施例中，可在检测阶段，利用控制信号线组提供的第一控制信号和检测信号线组提供的检测信号，通过检测电路实现发光检测。在图像显示阶段，利用控制信号线组提供的第二控制信号和显示面板中驱动芯片提供的图像显示信号，通过检测电路实现图像显示。通过检测电路的每个开关单元组中开关单元的导通和关断，即可控制子像素组中子像素发光，既能够实现检测，又能够实现图像显示。本申请实施例中的检测电路与如图4所示的需要设置demux电路、检测信号线以及demux电路与检测信号线之间的开关管才能够实现检测功能和图像显示功能的电路结构相比，本申请实施例在能够实现检测功能和图像显示功能的基础上，简化了显示面板内的电路结构，减小了显示面板的非显示区中结构占据的空间，使得显示面板的窄边框设计能够实现。

图14为本申请另一实施例提供的显示面板的检测方法的流程图。图14与图13的不同之处在于，图14所示的检测方法还可包括步骤S303。

在步骤S303中，切断多个分路开关单元组与检测信号线组之间的电连接。

在检测阶段结束后，图像显示阶段开始前，可将检测信号线组切除。例如，可采用激光切割或其他切割方法，切断分路开关单元组与检测信号线组之间的电连接。在图像显示阶段中，显示面板并不包括检测信号线组，检测电路可接收显示面板中驱动芯片的图像显示信号输出端输出的图像显示信号，并结合控制信号线组提供的控制信号以及子像素组的扫描信号，实现显示面板图像显示。

将检测信号线组从检测电路中切除，最终显示面板的成品中可不包括检测信号线组，从而进一步减小显示面板的非显示区中结构占据的空间，更容易实现显示面板的窄边框设计。

本申请实施例还提供了一种显示面板。该显示面板可包括多个子像素组、多条数据线以及上述实施例中的显示面板的检测电路。子像素组、数据线以及检测电路的具体内容可参见上述实施例中的相关说明，在此不再赘述。

为了便于说明，下面结合附图以一示例进行说明。图15为本申请实施例提供的制作过程中的显示面板的一示例的结构示意图。如图15所示，显示面板包括显示区AA和非显示区NA。显示区AA中的子像素排布如图2所示，在此不再赘述。每个子像素列对应一条数据线。每条数据线20与非显示区NA中一个开关单元组11连接。具体地，每条数据线20与一个开关单元组11中开关单元的第一端连接。开关单元组11还与控制信号线组中的控制信号线SWA、SWB和SWC连接。具体地，开关单元组11中的开关单元的控制端与控制信号线组12中的控制信号线连接。每个开关单元组11中的开关单元的第二端短接。开关单元短接的第二端可与显示面板中驱动芯片14连接。在一些示例中，开关单元短接的第二端可通过扇区走线与驱动芯片14连接，在此并不限定。开关单元短接的第二端还可与检测信号线组中的检测信号线ODD和检测信号线EVEN连接，需要注意的是，检测信号线组并不在显示面板内部。在对显示面板的子像素的发光检测结束后，即可将检测信号组切除。具体可采用激光切割或其他切割方式，在此并不限定。

在本申请实施例中，通过检测电路的每个开关单元组中开关单元的导通和关断，即可控制子像素组中子像素发光，即能够实现检测，又能够实现图像显示。与如图4所示的需要设置demux电路、检测信号线以及demux电路与检测信号线之间的开关管才能够实现检测功能和图像显示功能的显示面板相比，本申请实施例在能够实现检测功能和图像显示功能的基础上，简化了显示面板内的电路结构，减小了显示面板的非显示区中结构占据的空间，使得显示面板的窄边框设计能够实现。而且，检测信号线组可设置在显示面板外。在检测阶段结束后，将检测信号线组从检测电路中切除，最终显示面板的成品中可不包括检测信号线组，从而进一步减小显示面板的非显示区中结构占据的空间，更容易实现显示面板的窄边框设计。

本申请实施例还提供一种显示面板的制作方法，显示面板即为上述实施例中的显示面板。图16为本申请实施例提供的显示面板的制作方法的流程图。如图16所示，该制作方法可包括步骤S401至步骤S404。

在步骤S401中，制作检测电路。

其中，检测电路可包括多个开关单元组、控制信号线组和检测信号线组。检测电路的具体内容可参见上述实施例中的相关说明，在此不再赘述。

在步骤S402中，利用检测电路对显示面板的子像素进行发光检测。

在步骤S403中，在开关单元组与检测信号线组之间进行切割，将检测信号线组切除。

在步骤S404中，将切割后的检测电路进行绑定，组装得到显示面板。

上述步骤S401至步骤S404的具体内容可参见上述实施例中的相关说明，在此不再赘述。

需要明确的是，本说明书中的各个实施例均采用递进的方式描述，各个实施例之间相同或相似的部分互相参见即可，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处。对于检测方法实施例、显示面板实施例和显示面板制作方法实施例而言，相关之处可以参见显示面板的检测电路实施例的说明部分。本申请并不局限于上文所描述并在图中示出的特定步骤和结构。本领域的技术人员可以在领会本申请的精神之后，作出各种改变、修改和添加，或者改变步骤之间的顺序。并且，为了简明起见，这里省略对已知技术的详细描述。

本领域技术人员应能理解，上述实施例均是示例性而非限制性的。在不同实施例中出现的不同技术特征可以进行组合，以取得有益效果。本领域技术人员在研究附图、说明书及权利要求书的基础上，应能理解并实现所揭示的实施例的其他变化的实施例。在权利要求书中，术语“包括”并不排除其他装置或步骤；数量词“一个”不排除多个；术语“第一”、“第二”用于标示名称而非用于表示任何特定的顺序。权利要求中的任何附图标记均不应被理解为对保护范围的限制。权利要求中出现的多个部分的功能可以由一个单独的硬件或软件模块来实现。某些技术特征出现在不同的从属权利要求中并不意味着不能将这些技术特征进行组合以取得有益效果。

Claims (12)

1.一种显示面板的检测电路，其特征在于，所述显示面板具有多个子像素组和多条数据线；

所述检测电路包括多个开关单元组和控制信号线组；

每个所述开关单元组对应一个所述子像素组，所述开关单元组包括多个开关单元，每个所述开关单元的控制端与所述控制信号线组连接，同一个所述开关单元组中的所述开关单元的第一端被配置为与所述开关单元组对应的所述子像素组的数据线连接，同一个所述开关单元组中的所述开关单元的第二端短接；

所述检测电路还包括检测信号线组，所述检测信号线组通过连接走线直接与所述开关单元组中的所述开关单元的第二端连接；

所述检测信号线组包括第一检测信号线和第二检测信号线，

多个所述开关单元组与所述第一检测信号线和所述第二检测信号线交替连接；其中，奇数位的开关单元组与第一检测信号线连接，偶数位的开关单元组与第二检测信号线连接；

其中，所述开关单元的第二端用于在检测阶段接收检测信号，以及，用于在图像显示阶段接收图像显示信号。

2.根据权利要求1所述的检测电路，其特征在于，

所述子像素组包括第一子像素列、第二子像素列和第三子像素列，所述第一子像素列包括颜色相同的第一子像素，所述第二子像素列包括颜色相同的第二子像素，所述第三子像素列包括颜色相同的第三子像素，所述第一子像素、第二子像素、第三子像素的颜色不同；

所述开关单元组包括第一开关单元、第二开关单元和第三开关单元，所述第一开关单元的第一端与所述第一子像素列的数据线连接，所述第二开关单元的第一端与所述第二子像素列的数据线连接，所述第三开关单元的第一端与所述第三子像素列的数据线连接。

3.根据权利要求2所述的检测电路，其特征在于，所述控制信号线组包括第一控制信号线、第二控制信号线和第三控制信号线，

所述第一控制信号线与所述第一开关单元的控制端连接，所述第二控制信号线与所述第二开关单元的控制端连接，所述第三控制信号线与所述第三开关单元的控制端连接。

4.根据权利要求1所述的检测电路，其特征在于，

所述子像素组包括第四子像素列和第五子像素列，所述第四子像素列包括不同颜色的第一子像素和第二子像素，所述第五子像素列包括颜色相同的第三子像素，所述第一子像素、第二子像素、第三子像素的颜色不同；

所述开关单元组包括第四开关单元、第五开关单元和第六开关单元，所述第四开关单元的第一端与所述第四子像素列的数据线连接，所述第五开关单元的第一端与所述第四子像素列的数据线连接，所述第六开关单元的第一端与所述第五子像素列的数据线连接。

5.根据权利要求4所述的检测电路，其特征在于，所述控制信号线组包括第四控制信号线、第五控制信号线和第六控制信号线，

所述第四控制信号线与所述第四开关单元的控制端连接，所述第五控制信号线与所述第五开关单元的控制端连接，所述第六控制信号线与所述第六开关单元的控制端连接。

6.根据权利要求1所述的检测电路，其特征在于，

所述子像素组包括第六子像素列和第七子像素列，所述第六子像素列包括不同颜色的第一子像素和第二子像素，所述第七子像素列包括颜色相同的第三子像素，所述第一子像素、第二子像素、第三子像素的颜色不同；

所述开关单元组包括第七开关单元和第八开关单元，所述第七开关单元的第一端与所述第六子像素列的数据线连接，所述第八开关单元的第一端与所述第七子像素列的数据线连接。

7.根据权利要求6所述的检测电路，其特征在于，所述控制信号线组包括第七控制信号线和第八控制信号线，

所述第七控制信号线与所述第七开关单元的控制端连接，所述第八控制信号线与所述第八开关单元的控制端连接。

8.根据权利要求1所述的检测电路，其特征在于，所述检测电路还包括驱动芯片，每个所述开关单元组中所述开关单元的第二端与驱动芯片的图像显示信号输出端连接。

9.一种显示面板的检测方法，其特征在于，应用于如权利要求1所述的检测电路；

所述检测方法包括：

在检测阶段，将所述控制信号线组提供的第一控制信号输入所述开关单元的控制端，将所述检测信号线组提供的检测信号输入所述开关单元的第二端，根据所述控制信号和所述检测信号，控制所述子像素组中的子像素发光以进行检测；

在图像显示阶段，将所述控制信号线组提供的第二控制信号输入所述开关单元的控制端，将图像显示信号输入所述开关单元的第二端，根据所述第二控制信号和所述图像显示信号，控制所述子像素中的子像素发光以显示图像；

其中，将所述检测信号线组提供的检测信号输入所述开关单元的第二端，包括：

将第一检测信号线提供的检测信号输入奇数位的开关单元组中的开关单元的第二端；

将第二检测信号线提供的检测信号输入偶数位的开关单元组中的开关单元的第二端。

10.根据权利要求9所述的检测方法，其特征在于，在所述检测阶段之后，且在所述显示阶段之前，还包括：

切断多个所述开关单元组与所述检测信号线组之间的电连接。

11.根据权利要求9所述的检测方法，其特征在于，所述检测信号为交变信号。

12.一种显示面板，其特征在于，包括多个子像素组、多条数据线，以及如权利要求1至8中任意一项所述的检测电路。

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