CN111179793B - 显示基板的检测方法及装置 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种显示基板的检测方法及装置，属于显示技术领域，其可解决现有的显示基板靶材区和非靶材区显示不均不良的检测准确度较低的问题。本发明的显示基板的检测方法包括：对显示基板中的像素驱动电路中驱动晶体管的阈值电压进行激发；向显示基板中的像素驱动电路输入检测信号；采集像素驱动电路输出的电压；将采集的像素驱动电路输出的电压输入检测设备中，并生成检测图像；根据检测图像，判断显示基板是否正常。

Description

显示基板的检测方法及装置
技术领域
本发明属于显示技术领域，具体涉及一种显示基板的检测方法及装置。
背景技术
目前有机发光二极管(organic light-emitting diode，OLED)显示面板可以采用氧化物薄膜晶体管制作，在制作过程中，一般利用溅射工艺，在玻璃基板上沉积金属氧化物，从而制作各个显示器件，以形成显示基板。其中，与制备过程中的玻璃基板上与靶材正对的区域为靶材区，相邻的靶材区之间的间隙区域为非靶材区。由于金属氧化物溅射设备的原因，在靶材区和非靶材区形成的金属氧化物膜层的厚度不均，相应的，在形成的显示基板的靶材区容易引起像素驱动电路中的驱动晶体管的阈值电压发生偏移，并且开态电流下降，靶材区和非靶材区容易出现显示画面不均(mura)的不良，因此，需要对显示基板进行检测。目前一般通过向整个显示基板输入相同的检测信号，利用各个像素驱动电路输出的电压信号，形成检测图像，以检测该显示基板是否会出现显示画面不均的不良。
发明内容
本发明旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一，提供一种显示基板的检测方法及装置。
解决本发明技术问题所采用的技术方案是一种显示基板的检测方法，包括：
对所述显示基板中的像素驱动电路中驱动晶体管的阈值电压进行激发；
向所述显示基板中的所述像素驱动电路输入检测信号；
采集所述像素驱动电路输出的电压；
将采集的所述像素驱动电路输出的电压输入检测设备中，并生成检测图像；
根据所述检测图像，判断所述显示基板是否正常。
可选地，所述显示基板具有靶材区和非靶材区；所述靶材区包括与制备过程中的靶材正对的区域，所述非靶材区包括相邻的所述靶材区之间的间隙区域；所述显示基板的检测方法包括：
对所述靶材区中的像素驱动电路中驱动晶体管的阈值电压进行激发；
向所述靶材区和所述非靶材区中的所述像素驱动电路输入检测信号；
采集所述靶材区中的所述像素驱动电路输出的第一电压和所述非靶材区中的所述像素驱动电路输出的第二电压；
将采集的所述第一电压和所述第二电压输入检测设备中，并生成检测画面；
根据所述检测画面，判断所述显示基板是否正常。
可选地，所述对所述靶材区中的像素驱动电路中驱动晶体管的阈值电压进行激发，包括：
向所述靶材区中的所述像素驱动电路输入激发信号，以及向所述非靶材区中的所述像素驱动电路输入非激发信号。
可选地，所述像素驱动电路包括：第一开关晶体管、第二开关晶体管、存储电容、驱动晶体管和发光二极管。
所述第一开关晶体管的控制极连接扫描信号端，第一极连接数据信号端，第二极连接第一节点；
所述存储电容的第一极连接所述第一节点，第二极连接第二节点；
所述驱动晶体管的控制极连接所述第一节点，第一极连接第一电源端，第二极连接所述第二节点；
所述第二开关晶体管的控制极连接补偿控制信号端，第一极连接补偿信号端，第二极连接所述第二节点；
所述发光二极管的第一极连接所述第二节点，第二极连接第二电源端。
可选地，所述向所述靶材区中的所述像素驱动电路输入激发信号，包括：
向所述靶材区中的所述像素驱动电路的所述数据信号端输入第一数据信号，所述第一数据信号包括高电平信号。
可选地，所述向所述靶材区中的所述像素驱动电路输入激发信号，包括：
向所述靶材区中的所述像素驱动电路的所述数据信号端输入第二数据信号，所述第二数据信号包括低电平信号。
可选地，所述向所述非靶材区中的所述像素驱动电路输入非激发信号，包括：
向所述非靶材区中的所述像素驱动电路的所述数据信号端输入第三数据信号，所述第三数据信号的电压为0伏。
可选地，所述第一开关晶体管和第二开关晶体管的开启电压为24伏，关断电压为-10伏。
可选地，所述根据所述检测画面，判断所述显示基板是否正常，包括：
比较所述检测图像中对应所述靶材区和所述非靶材区位置的亮度是否一致；
若所述检测图像对应所述靶材区和所述非靶材区位置的亮度一致，则确定所述显示基板正常。
解决本发明技术问题所采用的技术方案是一种显示基板的检测装置，包括：
激发单元，用于对所述显示基板中的像素驱动电路中驱动晶体管的阈值电压进行激发；
输入单元，用于向所述显示基板中的所述像素驱动电路输入检测信号；
采集单元，用于采集所述像素驱动电路输出的电压；
检测图像生成单元，用于将采集的所述像素驱动电路输出的电压输入检测设备中，并生成检测图像；
判断单元，用于根据所述检测图像，判断所述显示基板是否正常。
附图说明
图1为现有技术中的一种显示基板的制备过程示意图；
图2和图3为本发明实施例提供的一种显示基板的检测方法的流程示意图；
图4为本发明实施例提供的一种像素驱动电路的结构示意图；
图5为本发明实施例提供的一种激发信号的波形图；
图6为本发明实施例提供的另一种激发信号的波形图；
图7为本发明实施例提供的一种非激发信号的波形图；
图8a为现有技术中的一种显示基板的检测结果的示意图；
图8b为本发明实施例提供的一种显示基板的检测结果的示意图；
图9为本发明实施例提供的一种显示基板的检测装置的结构示意图。
其中附图标记为：101-玻璃基板、102-靶材、T1-第一开关晶体管、T2-第二开关晶体管、C-存储电容、T-驱动晶体管、D-发光二极管、G1-扫描信号端、Data-数据信号端、N1-第一节点、N2-第二节点、G2-补偿控制信号端、Sense-补偿信号端、VDD-第一电源端、VSS-第二电源端、901-激发单元、902-输入单元、903-采集单元、904-检测图像生成单元、和905-判断单元。
具体实施方式
为使本领域技术人员更好地理解本发明的技术方案，下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细描述。
在显示技术领域，显示基板一般是在整块的玻璃基板上进行制备，然后切割形成。随着技术的发展，显示基板世代线的代数越来越高，制备的显示基板的尺寸也越来越大。为了实现切割的经济性，往往将一块基板切割为6块或8块。以目前的10.5代线为例，可以将在整块尺寸为2940毫米(mm)*3370mm的玻璃基板上形成并切割成8块65寸的显示基板。图1为现有技术中的一种显示基板的制备过程示意图，如图1所示，可以采用磁控溅射工艺，对玻璃基板101上方的靶材102进行轰击，使得靶材102形成溅射，溅射的靶材粒子在玻璃基板101上相应位置沉积形成金属氧化物薄膜层，构成各个显示器件及显示膜层，再对整块基板进行切割，最终形成需要的尺寸的显示基板。其中，与制备过程中的玻璃基板101上与靶材102正对的区域为靶材区，相邻的靶材区之间的间隙区域为非靶材区。由于金属氧化物溅射设备的原因，在靶材区形成的金属氧化物膜层容易出现不均的问题，从而使得靶材区和非靶材区的金属氧化层具有一定的差异，相应的，在形成的显示基板的靶材区容易引起像素驱动电路中的驱动晶体管的阈值电压发生正向偏移，以及发光二极管的开态电流下降，这样，显示基板的靶材区和非靶材区容易出现显示不均的不良，因此，需要对显示基板进行检测。目前现有技术中的检测方法准确度较低，即使检测过程中检测图像中没有出现显示不均的不良，在后端的点灯或信赖性测试中也可能会出现显示不均的不良，因此降低了与后端的点灯或信赖性测试的准确匹配率。为了解决现有技术中的检测方法准确度较低的技术问题，本发明实施例提供了一种显示基板的检测方法及装置。下面将以10.5代线为例结合附图和具体实施方式，对本发明实施例提供的显示基板的检测方法及装置进行进一步详细说明。
实施例一
图2为本发明实施例提供的一种显示基板的检测方法的流程示意图，如图2所示，该显示面板的检测方法包括如下步骤：
S201，对显示基板中的像素驱动电路中驱动晶体管的阈值电压进行激发。
需要说明的是，显示基板上均设置有多个阵列分布的像素驱动电路，用于驱动显示基板中对应的发光二极管进行发光，以形成显示。像素驱动电路中的驱动晶体管具有一定的阈值电压，由于金属氧化物溅射设备的原因，容易引起显示基板中部分驱动晶体管的阈值电压发生正向偏移，以及发光二极管的开态电流下降。在本发明实施例中，像素驱动电路中的驱动晶体管的阈值电压进行激发，这样，可以使得阈值电压发生正向偏移的驱动晶体管的阈值电压进一步恶化，从而可以提高显示基板的检测准确度。
S202，向显示基板中的像素驱动电路输入检测信号。
需要说明的是，可以利用现有技术中的检测信号的输入方法，向整个显示基板的像素驱动电路输入检测信号，驱动晶体管在检测信号的控制下可以进行工作。可以理解的是，由于显示基板中出现显示不均的不良根本上是由于部分驱动晶体管的阈值电压发生正向偏移引起的，因此在进行检测时输入的检测信号需要保证与像素驱动电路中的驱动晶体管的阈值电压有关，其具体信号及波形在此不再赘述。
S203，采集像素驱动电路输出的电压。
需要说明的是，在检测信号的控制下，驱动晶体管进行工作，此时，在像素驱动电路的输出端分别输出电压。由于金属氧化物膜层的制备原因，部分驱动晶体管的阈值电压可能会出现正向偏移，因此，其中部分像素驱动电路输出的电压可能不同。再者，本发明实施例中，在输入检测信号前，对驱动晶体管的阈值电压进行激发，这样，部分像素驱动电路输出的电压会进一步发生明显变化，从而提高显示基板的检测准确度。
S204，将采集的像素驱动电路输出的电压输入检测设备中，并生成检测图像。
需要说明的是，可以将采集的像素驱动电路输出的电压输入检测设备中，输出的电压可以驱动对应位置的像素，从而形成检测图像。该检测图像的像素可以为与待检测显示基板的像素的数量和位置均相等的画面，也可以为按照预设算法形成的表示显示基板中各个像素显示亮度的示意画面。
S205，根据检测图像，判断显示基板是否正常。
需要说明的是，可以通过观察检测图像可以判断出显示基板是否正常。也可以通过处理器对检测图像进行分析，判断出显示基板是否正常。可以根据实际需要，利用合理的方式对显示基板是否正常进行判断。
本发明实施例提供的显示基板的检测方法，通过对显示基板上的像素驱动电路中的驱动晶体管的阈值电压进行激发，可以使得部分阈值电压发生正向偏移的驱动晶体管的阈值电压进一步恶化，再通过对整个显示基板输入检测信号，可以使得这部分的像素驱动电路输出的电压进一步发生明显变化，因此可以使得显示基板的检测更为准确，从而实现显示基板显示不均不良的有效检测。同时，将检测出容易出现显示不均不良的显示基板可以直接排除，实现不良基板的有效拦截，从而提高了与后端的点灯或信赖性测试的准确匹配率，进而节约显示基板的制备成本。
可选地，本发明实施例提供的显示基板的检测方法，可以应用于如图1所示制备方法形成的显示基板中，具体地，该显示基板的检测方法如图3所示，其具体检测方法包括如下步骤：
S301，对靶材区中的像素驱动电路中驱动晶体管的阈值电压进行激发。
S302，向靶材区和非靶材区中的像素驱动电路输入检测信号。
S303，采集靶材区中的像素驱动电路输出的第一电压和非靶材区中的像素驱动电路输出的第二电压。
S304，将采集的第一电压和第二电压输入检测设备中，并生成检测画面。
S305，根据检测画面，判断显示基板是否正常。
在此需要说明的是，该显示基板包括靶材区和非靶材区，由于在显示基板的制备过程中，由于金属氧化物溅射设备的原因，在靶材区金属氧化物膜层的厚度容易出现问题，从而容易引起靶材区的驱动晶体管的阈值电压发生正向偏移，而非靶材区的驱动晶体管的阈值电压不容易发生正向偏移。在本发明实施例中，与上述显示基板的检测方法不同点在于，可以仅对靶材区的驱动晶体管的阈值电压进行激发，而对非靶材区的驱动晶体管的阈值电压不进行激发，可以使得靶材区的驱动晶体管的阈值电压进一步恶化，从而可以使得靶材区的驱动晶体管与非靶材区的晶体管的阈值电压之间的差距更加明显，这样，在对靶材区与非靶材区的像素驱动电路输入同样的检测信号时，靶材区与非靶材区的像素驱动电路可以分别输出第一电压和第二电压，可以使得检测画面中出现显示不均的情况更为明显，因此可以提高显示基板检测的准确度。同时，将检测出容易出现显示不均不良的显示基板可以直接排除，实现不良基板的有效拦截，从而提高了与后端的点灯或信赖性测试的准确匹配率，进而节约显示基板的制备成本。
可选地，S301，对靶材区中的像素驱动电路中驱动晶体管的阈值电压进行激发，包括：向靶材区中的像素驱动电路输入激发信号，以及向非靶材区中的像素驱动电路输入非激发信号。
需要说明的是，可以独立对靶材区中的像素驱动电路输入激发信号，该激发信号可以为与驱动晶体管阈值电压有关的信号，独立对非靶材区中的像素驱动电路输入非激发信号，当然也可以不对非靶材区中的像素驱动电路做任何处理，这样，可以使得靶材区的驱动晶体管的阈值电压进一步恶化，从而使得靶材区与非靶材区的驱动晶体管的阈值电压之间的差距增大，进而提高检测准确度。
图4为本发明实施例提供的一种像素驱动电路的结构示意图，如图4所示，该像素驱动电路包括：第一开关晶体管T1、第二开关晶体管T2、存储电容C、驱动晶体管T和发光二极管D。
第一开关晶体管T1的控制极连接扫描信号端G1，第一极连接数据信号端Data，第二极连接第一节点N1。存储电容C的第一极连接第一节点N1，第二极连接第二节点N2。驱动晶体管T的控制极连接第一节点N1，第一极连接第一电源端VDD，第二极连接第二节点N2。第二开关晶体管T2的控制极连接补偿控制信号端G2，第一极连接补偿信号端Sense，第二极连接第二节点N2。发光二极管D的第一极连接第二节点N2，第二极连接第二电源端VSS。
可以理解的是，在本发明实施例中，各个晶体管的源极和漏极在一定条件下是可以互换的，因此，各个晶体管的源极、漏极从连接关系的描述上是没有区别的。在本发明实施例中，为了区分晶体管的源极和漏极，将其中一极称为第一极，另一极称为第二极，栅极称为控制极。此外，按照晶体管的特性区分可以将晶体管分为N型晶体管和P型晶体管，对于N型晶体管，第一极为N型晶体管的源极，第二极为N型晶体管的漏极，栅极输入高电平时，源漏极导通，P型晶体管相反。
本发明实施例中的显示基板包括多个阵列分布的如图4所述的像素驱动电路，下面将以图4所示的像素驱动电路为例，对本发明实施例提供的显示基板的检测方法进行进一步详细说明。
可选地，上述步骤中，向靶材区中的像素驱动电路输入激发信号，包括：向靶材区中的像素驱动电路的数据信号端输入第一数据信号，第一数据信号包括高电平信号。
需要说明的是，上述激发信号的波形图可以如图5所示，具体可以为：向靶材区的像素驱动电路的数据信号端Data输入第一数据信号，该第一数据信号可以为高电平信号；扫描信号端G1输入扫描信号，该扫描信号可以控制第一开关晶体管T1按照预设时序开启或关闭；第一电源端VDD输入第一电源电压，第一电源电压为0伏；补偿控制信号端G2可以输入补偿控制信号，该补偿控制信号可以控制第二开光晶体管T2开启或关闭；补偿信号端Sense可以输入补偿信号，该补偿信号的电压为0伏。这样，高电平信号可以模拟驱动晶体管T的工作信号，对靶材区的驱动晶体管T的阈值电压进行激发，使得该驱动晶体管T的阈值电压进一步恶化，靶材区与非靶材区的驱动晶体管的阈值电压之间的差距增大，因此可以使得显示基板的检测更为准确，从而实现显示基板显示不均不良的有效检测。
可选地，上述步骤中，向靶材区中的像素驱动电路输入激发信号，包括：向靶材区中的像素驱动电路的数据信号端输入第二数据信号，第二数据信号包括低电平信号。
需要说明的是，上述激发信号的波形图可以如图6所示，具体可以为：向靶材区的像素驱动电路的数据信号端Data输入第二数据信号，该第二数据信号可以为低电平信号；扫描信号端G1输入扫描信号，该扫描信号可以控制第一开关晶体管T1按照预设时序开启或关闭；第一电源端VDD输入第一电源电压，第一电源电压为0伏；补偿控制信号端G2可以输入补偿控制信号，该补偿控制信号可以控制第二开光晶体管T2开启或关闭；补偿信号端Sense可以输入补偿信号，该补偿信号的电压为0伏。这样，低电平信号可以模拟驱动晶体管T的工作信号，对靶材区的驱动晶体管T的阈值电压进行激发，使得该驱动晶体管T的阈值电压进一步恶化，靶材区与非靶材区的驱动晶体管的阈值电压之间的差距增大，因此可以使得显示基板的检测更为准确，从而实现显示基板显示不均不良的有效检测。
在本发明实施例中，非靶材区的驱动晶体管T的阈值电压不需要激发，在本发明实施例中可以不对非靶材区的驱动晶体管T输入激发信号。当然也可以与靶材区对应的，对非靶材区的像素驱动电路输入非激发信号，该非激发信号可以如图7所示，具体可以为：向非靶材区的像素驱动电路的数据信号端Data输入第三数据信号，该第三数据信号的电压为0伏；扫描信号端G1输入扫描信号，该扫描信号可以控制第一开关晶体管T1按照预设时序开启或关闭；第一电源端VDD输入第一电源电压，第一电源电压为0伏；补偿控制信号端G2可以输入补偿控制信号，该补偿控制信号可以控制第二开光晶体管T2开启或关闭；补偿信号端Sense可以输入补偿信号，该补偿信号的电压为0伏。这样，第三数据信号的电压为0伏，对非靶材区的驱动晶体管T的阈值电压不进行激发，可以以非靶材区的驱动晶体管T的阈值电压为参考，使得靶材区与非靶材区的驱动晶体管T的阈值电压之间的差距增大，因此可以使得显示基板的检测更为准确，从而实现显示基板显示不均不良的有效检测。
可选地，本发明实施例中的第一开关晶体管T1和第二开关晶体管T2可以均为N型晶体管，二者的开启电压可以为24伏，关断电压可以为-10伏。
需要说明的是，可以向第一晶体管T1和第二晶体管T2中输入高电平电压，例如该高电平电压可以为24伏，可以使得二者开启。可以向第一晶体管T1和第二晶体管T2中输入低电平电压，例如该低电平电压可以为-10伏，可以使得二者关断。可以理解的是在本发明实施例中，第二晶体管T1和第二开关晶体管T2也可以为P型晶体管，其实现原理类似，在此不再赘述。
可选地，上述步骤S305，根据检测图像，判断显示基板是否正常，包括：比较检测图像中对应靶材区和非靶材区位置的亮度是否一致。若检测图像对应靶材区和非靶材区位置的亮度一致，则确定显示基板正常。
需要说明的是，可以比较检测图像中对应显示基板的靶材区和非靶材区的位置，通过观察或者提取各个位置的亮度参数，可以区分靶材区和非靶材区显示的亮度是否一致。如果亮度一致，则表示该显示基板正常，在后端测试以及实际应用中不容易出现靶材区和非靶材区显示亮度不均的不良。如果亮度不一致，则表示该显示基板容易出现显示亮度不均的不良，从而可以将该显示基板排除，节约制备成本。
图8a为现有技术中的一种显示基板的检测结果的示意图，利用现有技术中的检测方法对现有的显示基板进行检测，如图8a中左图所示，在检测过程中，显示基板中靶材区和非靶材区中未出现显示不均的不良，然而，如图8a中右图所示，在实际应用中该显示基板仍然出现了显示不均的不良。图8b为本发明实施例提供的一种显示基板的检测结果的示意图，利用本发明实施例提供的检测方法对同样的显示基板进行检测，如图8b中左图所示，对靶材区的驱动晶体管的阈值电压进行激发，在检测过程中，显示基板中靶材区和非靶材区中出现显示不均的不良，如图8b中右图所示，在实际应用中该显示基板同样出现了显示不均的不良。因此可以看出，利用本发明实施例提供的显示基板的检测方法，通过对靶材区中的驱动晶体管的阈值电压进行激发后，再对整个显示基板中的像素驱动电路输入检测信号进行检测，可以使得靶材区与非靶材区的驱动晶体管的阈值电压之间的差距增大，靶材区和非靶材区的像素驱动电路输出的第一电压和第二电压之间的差距较为明显，因此可以使得显示基板的检测更为准确，从而实现显示基板显示不均不良的有效检测。同时，将检测出容易出现显示不均不良的显示基板可以直接排除，实现不良基板的有效拦截，从而提高了与后端的点灯或信赖性测试的准确匹配率，进而节约显示基板的制备成本。
实施例二
基于同一发明构思，本发明实施例提供了一种显示基板的检测装置，图9为本发明实施例提供的一种显示基板的检测装置的结构示意图，如图9所示，该显示基板的检测装置包括：激发单元901、输入单元902、采集单元903、检测图像生成单元904、和判断单元905。
激发单元901用于对显示基板中的像素驱动电路中驱动晶体管的阈值电压进行激发。输入单元902用于向显示基板中的像素驱动电路输入检测信号。采集单元903用于采集像素驱动电路输出的电压。检测图像生成单元904用于将采集的像素驱动电路输出的电压输入检测设备中，并生成检测图像。判断单元905用于根据检测图像，判断显示基板是否正常。
需要说明的是，本发明实施例提供的显示基板的检测装置中的各个功能单元可以分别用于执行上述实施例中的显示基板的检测方法中的步骤S201-S205，其实现原理与上述实施例提供的显示基板的检测方法的实现原理类型，在此不再赘述。
可以理解的是，以上实施方式仅仅是为了说明本发明的原理而采用的示例性实施方式，然而本发明并不局限于此。对于本领域内的普通技术人员而言，在不脱离本发明的精神和实质的情况下，可以做出各种变型和改进，这些变型和改进也视为本发明的保护范围。

Claims (9)

1.一种显示基板的检测方法，其特征在于，所述显示基板具有靶材区和非靶材区；所述靶材区包括与制备过程中的靶材正对的区域，所述非靶材区包括相邻的所述靶材区之间的间隙区域；所述显示基板的检测方法包括：
对所述靶材区中的像素驱动电路中驱动晶体管的阈值电压进行激发；
向所述靶材区和所述非靶材区中的所述像素驱动电路输入检测信号；
采集所述靶材区中的所述像素驱动电路输出的第一电压和所述非靶材区中的所述像素驱动电路输出的第二电压；
将采集的所述第一电压和所述第二电压输入检测设备中，并生成检测画面；
根据所述检测画面，判断所述显示基板是否正常。
2.根据权利要求1所述的显示基板的检测方法，其特征在于，所述对所述靶材区中的像素驱动电路中驱动晶体管的阈值电压进行激发，包括：
向所述靶材区中的所述像素驱动电路输入激发信号，以及向所述非靶材区中的所述像素驱动电路输入非激发信号。
3.根据权利要求2所述的显示基板的检测方法，其特征在于，所述像素驱动电路包括：第一开关晶体管、第二开关晶体管、存储电容、驱动晶体管和发光二极管，
所述第一开关晶体管的控制极连接扫描信号端，第一极连接数据信号端，第二极连接第一节点；
所述存储电容的第一极连接所述第一节点，第二极连接第二节点；
所述驱动晶体管的控制极连接所述第一节点，第一极连接第一电源端，第二极连接所述第二节点；
所述第二开关晶体管的控制极连接补偿控制信号端，第一极连接补偿信号端，第二极连接所述第二节点；
所述发光二极管的第一极连接所述第二节点，第二极连接第二电源端。
4.根据权利要求3所述的显示基板的检测方法，其特征在于，所述向所述靶材区中的所述像素驱动电路输入激发信号，包括：
向所述靶材区中的所述像素驱动电路的所述数据信号端输入第一数据信号，所述第一数据信号包括高电平信号。
5.根据权利要求3所述的显示基板的检测方法，其特征在于，所述向所述靶材区中的所述像素驱动电路输入激发信号，包括：
向所述靶材区中的所述像素驱动电路的所述数据信号端输入第二数据信号，所述第二数据信号包括低电平信号。
6.根据权利要求3所述的显示基板的检测方法，其特征在于，所述向所述非靶材区中的所述像素驱动电路输入非激发信号，包括：
向所述非靶材区中的所述像素驱动电路的所述数据信号端输入第三数据信号，所述第三数据信号的电压为0伏。
7.根据权利要求3所述的显示基板的检测方法，其特征在于，所述第一开关晶体管和第二开关晶体管的开启电压为24伏，关断电压为-10伏。
8.根据权利要求1所述的显示基板的检测方法，其特征在于，所述根据所述检测画面，判断所述显示基板是否正常，包括：
比较所述检测图像中对应所述靶材区和所述非靶材区位置的亮度是否一致；
若所述检测图像对应所述靶材区和所述非靶材区位置的亮度一致，则确定所述显示基板正常。
9.一种显示基板的检测装置，其特征在于，所述显示基板具有靶材区和非靶材区；所述靶材区包括与制备过程中的靶材正对的区域，所述非靶材区包括相邻的所述靶材区之间的间隙区域；所述显示基板的检测装置包括：
激发单元，用于对所述靶材区中的像素驱动电路中驱动晶体管的阈值电压进行激发；
输入单元，用于向所述靶材区和所述非靶材区中的所述像素驱动电路输入检测信号；
采集单元，用于采集所述靶材区中的所述像素驱动电路输出的第一电压和所述非靶材区中的所述像素驱动电路输出的第二电压；
检测图像生成单元，用于将采集的所述第一电压和所述第二电压输入检测设备中，并生成检测画面；
判断单元，用于根据所述检测画面，判断所述显示基板是否正常。
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