JP2002258231A - 液晶表示基板、情報端末装置、液晶表示基板検査装置、液晶表示基板検査方法、およびプログラム - Google Patents

液晶表示基板、情報端末装置、液晶表示基板検査装置、液晶表示基板検査方法、およびプログラム

Info

Publication number
JP2002258231A
JP2002258231A JP2001052809A JP2001052809A JP2002258231A JP 2002258231 A JP2002258231 A JP 2002258231A JP 2001052809 A JP2001052809 A JP 2001052809A JP 2001052809 A JP2001052809 A JP 2001052809A JP 2002258231 A JP2002258231 A JP 2002258231A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wiring
inspection
gate
liquid crystal
source
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2001052809A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2002258231A5 (ja
JP4795548B2 (ja
Inventor
Shinichi Hoshino
真一 星野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP2001052809A priority Critical patent/JP4795548B2/ja
Publication of JP2002258231A publication Critical patent/JP2002258231A/ja
Publication of JP2002258231A5 publication Critical patent/JP2002258231A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4795548B2 publication Critical patent/JP4795548B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Abstract

(57)【要約】 【課題】 液晶表示装置の検査完了後に、各検査配線と
の接続を電気的にオープンにするための切断が必要であ
った。 【解決手段】 ソース配線3に設けられた接続状態を切
り替えるための検査用スイッチング素子5と、検査用ス
イッチング素子5を介してソース配線3に接続されるソ
ース側検査配線S1〜S3と、ゲート配線2に設けられ
た接続状態を切り替えるための検査用スイッチング素子
5と、検査用スイッチング素子5を介してゲート配線2
に接続される第1ゲート側検査配線G1、第2ゲート側
検査配線G2とを備え、検査用スイッチング素子5は、
液晶表示基板の検査を行うときに、外部からの所定の作
用に基づいて接続状態のオン/オフ状態を切り替えられ
る液晶表示基板。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、液晶表示基板、情
報端末装置、液晶表示基板検査装置、液晶表示基板検査
方法、およびプログラムに関する。
【0002】
【従来の技術】近年、文字や情報を表示する表示装置と
して、大きさや低消費電力の点から液晶表示装置が注目
されている。その中でも、応答が早く、動画を鮮明に表
示させるために、各画素にTFT(薄膜トランジスタ)
に代表されるスイッチング素子を接続したアクティブマ
トリクス方式の液晶表示装置が、注目されている。
【0003】アクティブマトリクス方式の液晶表示装置
には、赤、緑、青色を表示する画素電極を、図17に示
すようにデルタ配列に配置したものと、図19に示すよ
うにストライプ配列に配置したものとがある。なお、図
17は画素電極をデルタ配列とした従来の液晶表示装置
の平面図、図19は画素電極をストライプ配列とした従
来の液晶表示装置の平面図である。
【0004】図17において、赤を表示させる画素電極
1rと緑を表示させる画素電極1gと青を表示させる画
素電極1bとはデルタ配列に配置され、これら画素電極
1(3色の画素電極1r、1g、1bがあるが、これら
の表示色の違いを無視して代表的に記す場合には、符号
1を用いることがある)の間を縫ってゲート配線2とソ
ース配線3が配置されている。ゲート配線2とソース配
線3との交点には、前述のTFTに代表されるスイッチ
ング素子4(図面上最も左に配置されたものにのみ符号
を付した)が配置され、ゲート配線2に印加される電位
により、(1)ソース配線3と、(2)赤画素電極1
r、緑画素電極1g、青画素電極1bの何れかとが、電
気的に接続または遮断される。
【0005】なお、同色の画素電極1はゲート配線2の
1配線毎に同列に配置され、ゲート配線2を介して隣接
される同色の画素電極1は1.5画素ずつずれて配置さ
れている。また、このデルタ配列では、1つのソース配
線3にはスイッチング素子4を介して1行毎に異なる2
色の画素電極1(たとえば赤画素電極1rと緑画素電極
1g)が接続されている。もちろん、緑画素電極1gと
青画素電極1b、青画素電極1bと赤画素電極1rにつ
いても同様である。
【0006】6はゲート配線2に駆動電位を印加するゲ
ート駆動回路、7はソース配線3に駆動電位を印加する
ソース駆動回路、8は対向電極9に駆動電位を印加する
対向電極駆動回路であり、ゲート駆動回路6、ソース駆
動回路7、および対向電極駆動回路8は、画面の外側に
配置されている。
【0007】図18(a)、(b)に示されているよう
に、画素電極1は液晶10を挟んで対向電極9と対向
し、画素電極1と対向電極9との電位差により透過光の
割合を変化させて文字や情報を表示する。なお、図18
(a)はA−A’線(図17参照)に沿う断面図、図1
8(b)はB−B’線(図17参照)に沿う断面図であ
る。
【0008】つぎに、図19を参照しながら、画素電極
をストライプ配列に配置した従来の液晶表示装置に対
し、検査配線を利用してその完成前に中間検査として行
われる不良検出検査について説明する。
【0009】従来、このような不良検出検査は、液晶表
示装置を歩留まり良く生産するために、ゲート駆動回路
6とソース駆動回路7と対向電極駆動回路8とを、それ
ぞれすべてのゲート配線2とソース配線3と対向電極9
とに接続して電位を印加し、白、黒、赤、緑および青の
画面を表示させることによって行われていた。
【0010】この不良検出検査では、検査回路とゲート
配線2およびソース配線3との接続にはプローブが主に
使用されるが、液晶表示装置が小型、高精細になるとプ
ローブの作成が困難もしくは作製不可能となる。
【0011】そこで、画素電極1がストライプ配列に配
置された液晶表示装置では、これらの不都合を解消する
ために、図19に示すように、全てのゲート配線2に接
続されたゲート側検査配線Gと、赤に対応するソース配
線3のすべてに接続したソース側検査配線S1と、緑に
対応するソース配線3のすべてに接続したソース側検査
配線S2と、青に対応するソース配線3のすべてに接続
したソース側検査配線S3と、対向電極9に接続した対
向電極側検査配線Cとによる合計5本の検査配線を設
け、前記各検査配線と前記検査回路とを接続して検査し
た後、前記ゲート側検査配線G、およびソース側検査配
線S1、S2、S3との接続を切断部Tで切断するよう
にした簡易検査構成が採用されている。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述の
ような液晶表示装置では、スイッチング素子4を常に導
通状態で検査する必要がある。そのため、スイッチング
素子4の開閉に起因する不良、およびスイッチング素子
4の特性的不良に起因する不良を検出できないことがあ
る。なお、画素電極1がデルタ配列に配置された液晶表
示装置においては、1つのソース配線3に2色の画素電
極1が接続されているため、赤、緑、青の各色を単色で
表示できない。
【0013】そして、何れの場合にせよ、検査完了後に
各検査配線との接続を電気的にオープンにするため、切
断という余計な作業が必要になるという課題があった。
【0014】本発明は、上記従来のこのような課題を考
慮し、たとえば、液晶表示装置の検査完了後における、
各検査配線との接続を電気的にオープンにするための切
断が不要な液晶表示基板、情報端末装置、液晶表示基板
検査装置、液晶表示基板検査方法、およびプログラムを
提供することを目的とする。
【0015】
【課題を解決しようとする手段】第一の本発明(請求項
1に対応)は、複数列のソース配線と複数行のゲート配
線との交差部に対応して配置された複数の画素電極と、
前記複数の画素電極に対向する対向電極と、前記複数の
画素電極と前記対向電極との間に狭持される複数の液晶
素子と、前記ソース配線に設けられた接続状態を切り替
えるためのソース配線用スイッチ手段と、前記ソース配
線用スイッチ手段を介して前記ソース配線に接続される
ソース配線用検査配線と、前記ゲート配線に設けられた
接続状態を切り替えるためのゲート配線用スイッチ手段
と、前記ゲート配線用スイッチ手段を介して前記ゲート
配線に接続されるゲート配線用検査配線とを備え、前記
ソース配線用スイッチ手段および前記ゲート配線用スイ
ッチ手段は、液晶表示基板の検査を行うときに、外部か
らの所定の作用に基づいて、前記接続状態のオン/オフ
状態を切り替えられる液晶表示基板である。
【0016】第二の本発明(請求項2に対応)は、前記
ソース配線用スイッチ手段は、所定の電位の印加によっ
てオン状態となる、各ソース配線ごとに設けられた複数
の検査用スイッチング素子であり、前記ゲート配線用ス
イッチ手段は、所定の電位の印加によってオン状態とな
る、各ゲート配線ごとに設けられた複数の検査用スイッ
チング素子であり、前記各ソース配線ごとに設けられた
複数の検査用スイッチング素子、および前記各ゲート配
線ごとに設けられた複数の検査用スイッチング素子に連
結された、前記所定の電位の印加を行うための検査配線
を備え、前記検査を行うときには、前記検査配線に対す
る前記所定の電位の印加が行われる第一の本発明の液晶
表示基板である。
【0017】第三の本発明(請求項3に対応)は、前記
複数の画素電極の配置は、デルタ配列またはストライプ
配列の何れかによって行われている第二の本発明の液晶
表示基板である。
【0018】第四の本発明(請求項4に対応)は、前記
検査を行わないときには、前記検査配線に対する、前記
各ソース配線ごとに設けられた複数の検査用スイッチン
グ素子、および前記各ゲート配線ごとに設けられた複数
の検査用スイッチング素子をオフ状態にするための電位
の印加が行われる第二の本発明の液晶表示基板である。
【0019】第五の本発明(請求項5に対応)は、第一
から第四の何れかの本発明の液晶表示装置を用いた情報
端末装置である。
【0020】第六の本発明(請求項6に対応)は、複数
列のソース配線と複数行のゲート配線との交差部に対応
して配置された複数の液晶素子と、前記ソース配線に設
けられた接続状態を切り替えるためのソース配線用スイ
ッチ手段と、前記ソース配線用スイッチ手段を介して前
記ソース配線に接続されるソース配線用検査配線と、前
記ゲート配線に設けられた接続状態を切り替えるための
ゲート配線用スイッチ手段と、前記ゲート配線用スイッ
チ手段を介して前記ゲート配線に接続されるゲート配線
用検査配線とを備えた液晶表示基板に対する検査を行う
ための液晶表示基板検査装置であって、前記ソース配線
用スイッチ手段および前記ゲート配線用スイッチ手段の
前記接続状態のオン/オフ状態の切替を制御するための
スイッチ制御手段を備えた液晶表示基板検査装置であ
る。
【0021】第七の本発明(請求項7に対応)は、前記
ソース配線用スイッチ手段は、所定の電位の印加によっ
てオン状態となる、各ソース配線ごとに設けられた複数
の検査用スイッチング素子であり、前記ゲート配線用ス
イッチ手段は、所定の電位の印加によってオン状態とな
る、各ゲート配線ごとに設けられた複数の検査用スイッ
チング素子であり、前記液晶表示基板は、前記各ソース
配線ごとに設けられた複数の検査用スイッチング素子、
および前記各ゲート配線ごとに設けられた複数の検査用
スイッチング素子に連結された、前記所定の電位の印加
を行うための検査配線を備え、前記スイッチ制御手段
は、前記検査を行うときに、前記検査配線に対する前記
所定の電位の印加を行うための電位印加回路である第六
の本発明の液晶表示基板検査装置である。
【0022】第八の本発明(請求項8に対応)は、複数
列のソース配線と複数行のゲート配線との交差部に対応
して配置された複数の液晶素子と、前記ソース配線に設
けられた接続状態を切り替えるためのソース配線用スイ
ッチ手段と、前記ソース配線用スイッチ手段を介して前
記ソース配線に接続されるソース配線用検査配線と、前
記ゲート配線に設けられた接続状態を切り替えるための
ゲート配線用スイッチ手段と、前記ゲート配線用スイッ
チ手段を介して前記ゲート配線に接続されるゲート配線
用検査配線とを備えた液晶表示基板に対する検査を行う
ための液晶表示基板検査方法であって、(1)前記ソー
ス配線用スイッチ手段の前記接続状態をオン状態に切り
替え、(2)前記ゲート配線用スイッチ手段の前記接続
状態をオン状態に切り替え、(3)前記ソース配線に対
し前記ソース配線用検査配線から所定のソース配線用検
査信号の供給を行い、(4)前記ゲート配線に対し前記
ゲート配線用検査配線から所定のゲート配線用検査信号
の供給を行う液晶表示基板検査方法である。
【0023】第九の本発明(請求項9に対応)は、前記
ソース配線用スイッチ手段は、所定の電位の印加によっ
てオン状態となる、各ソース配線ごとに設けられた複数
の検査用スイッチング素子であり、前記ゲート配線用ス
イッチ手段は、所定の電位の印加によってオン状態とな
る、各ゲート配線ごとに設けられた複数の検査用スイッ
チング素子であり、前記液晶表示基板は、前記各ソース
配線ごとに設けられた複数の検査用スイッチング素子、
および前記各ゲート配線ごとに設けられた複数の検査用
スイッチング素子に連結された、前記所定の電位の印加
を行うための検査配線を備え、前記検査を行うときに
は、前記検査配線に対する前記所定の電位の印加を行う
第八の本発明の液晶表示基板検査方法である。
【0024】第十の本発明(請求項10に対応)は、前
記ゲート配線用検査配線は、前記複数行のゲート配線の
内、(1)奇数行のゲート配線に接続される第1ゲート
配線用検査配線、および(2)偶数行のゲート配線に接
続される第2ゲート配線用検査配線であり、前記供給さ
れる所定のゲート配線用検査信号は、(1)前記奇数行
のゲート配線に対し前記第1ゲート配線用検査配線から
供給される第1ゲート配線用検査信号、および(2)前
記偶数行のゲート配線に対し前記第2ゲート配線用検査
配線から供給される第2ゲート配線用検査信号であり、
前記複数の画素電極は、前記第1ゲート配線用検査信号
または前記第2ゲート配線用検査信号によってオン/オ
フ状態を切り替えられるスイッチング素子をそれぞれ介
して、前記複数列のソース配線の内の所定のソース配線
に接続されている第九の本発明の液晶表示基板検査方法
である。
【0025】第十一の本発明(請求項11に対応)は、
前記スイッチング素子をオン状態とする期間は、(1)
前記スイッチング素子をオン状態とするための電位Vo
nを印加することにより、前記ゲート配線の電位が、前
記スイッチング素子をオフ状態とするための電位Vof
fから電位0.9×(Von―Voff)+Voffと
なるまでの第1の立ち上がり期間と、(2)前記所定の
ソース配線用検査信号の供給により、前記画素電極にデ
ータを書き込むのに必要な期間と、(3)前記電位Vo
ffを印加することにより、前記ゲート配線の電位が、
前記電位Vonから電位0.9×(Voff―Von)
+Vonとなるまでの第1の立ち下がり期間との和であ
る期間S1以上であり、(1)前記電位Vonを印加す
ることにより、前記ゲート配線の電位が、前記電位Vo
ffから前記電位Vonとなるまでの第2の立ち上がり
期間と、(2)前記所定のソース配線用検査信号の供給
により、前記画素電極にデータを書き込むのに必要な期
間と、(3)前記電位Voffを印加することにより、
前記ゲート配線の電位が、前記電位Vonから前記電位
Voffとなるまでの第2の立ち下がり期間との和であ
る期間S2未満である第十の本発明の液晶表示基板検査
方法である。
【0026】第十二の本発明(請求項12に対応)は、
前記第1ゲート配線用検査信号または前記第2ゲート配
線用検査信号の内の、(1)何れか一方によってオン/
オフ状態を切り替えられるスイッチング素子が、オン状
態に切り替えられ、前記オン状態を継続させられた上で
オフ状態に切り替えられ、(2)他方によってオン/オ
フ状態を切り替えられるスイッチング素子が、その後に
オン状態に切り替えられるまでの期間は、前記オン状態
を継続させられる期間の2倍以上の期間である第十の本
発明の液晶表示基板検査方法である。
【0027】第十三の本発明(請求項13に対応)は、
前記複数の画素電極の配置は、赤、緑、青の各色に対応
した画素電極の、デルタ配列またはストライプ配列の何
れかによって行われており、前記第1ゲート配線用検査
信号および前記第2ゲート配線用検査信号は、前記第1
ゲート配線用検査信号によってオン/オフ状態を切り替
えられるスイッチング素子と前記第2ゲート配線用検査
信号によってオン/オフ状態を切り替えられるスイッチ
ング素子とが交互にオン状態に切り替えられるように供
給され、前記ソース配線用検査信号は、前記第1ゲート
配線用検査信号および前記第2ゲート配線用検査信号の
供給に基づいて、赤、緑、青、黒、白の内の何れかの単
色画面表示が行われるように供給される第十の本発明の
液晶表示基板検査方法である。
【0028】第十四の本発明(請求項14に対応)は、
前記複数の画素電極の配置は、赤、緑、青の各色に対応
した画素電極の、デルタ配列またはストライプ配列の何
れかによって行われており、(1)前記第1ゲート配線
用検査信号によってオン/オフ状態を切り替えられるス
イッチング素子を、オン状態に切り替え、前記オン状態
を所定の期間において継続させた上でオフ状態に切り替
え、前記第2ゲート配線用検査信号によってオン/オフ
状態を切り替えられるスイッチング素子を、前記所定の
期間においてオフ状態とする動作1と、(2)前記第2
ゲート配線用検査信号によってオン/オフ状態を切り替
えられるスイッチング素子を、オン状態に切り替え、前
記オン状態を前記所定の期間において継続させた上でオ
フ状態に切り替え、前記第1ゲート配線用検査信号によ
ってオン/オフ状態を切り替えられるスイッチング素子
を、前記所定の期間においてオフ状態とする動作2と、
(3)前記第1ゲート配線用検査信号によってオン/オ
フ状態を切り替えられるスイッチング素子および前記第
2ゲート配線用検査信号によってオン/オフ状態を切り
替えられるスイッチング素子をともにオフ状態とする動
作3を、動作1、動作2、動作3、動作2、動作1、動
作3の順序で繰り返し、前記ソース配線用検査信号を、
前記順序での繰り返しに基づいて、赤、緑、青、黒、白
の内の何れかの単色画面表示が行われるように供給する
第十の本発明の液晶表示基板検査方法である。
【0029】第十五の本発明(請求項15に対応)は、
前記ソース配線用検査信号は、黒色画面表示と白色画面
表示とが交互に行われるように供給され、前記第1ゲー
ト配線用検査信号および前記第2ゲート配線用検査信号
は、前記ソース配線用検査信号の供給に基づいて、前記
第1ゲート配線用検査信号または前記第2ゲート配線用
検査信号の内の、(1)何れか一方によってオン/オフ
状態を切り替えられるスイッチング素子がオン状態に切
り替えられているときには、他方によってオン/オフ状
態を切り替えられるスイッチング素子がオフ状態に切り
替えられ、(2)何れか一方によってオン/オフ状態を
切り替えられるスイッチング素子がオフ状態に切り替え
られているときには、他方によってオン/オフ状態を切
り替えられるスイッチング素子がオン状態に切り替えら
れることにより、黒、白、黒、白、…、または白、黒、
白、黒、…というフリッカー画面表示が行われるように
供給される第十の本発明の液晶表示基板検査方法であ
る。
【0030】第十六の本発明(請求項16に対応)は、
前記第1ゲート配線用検査信号および前記第2ゲート配
線用検査信号は、実質上24Hz以上の周波数を有する
第十の本発明の液晶表示基板検査方法である。
【0031】第十七の本発明(請求項17に対応)は、
前記第1ゲート配線用検査信号または前記第2ゲート配
線用検査信号によってオン/オフ状態を切り替えられる
スイッチング素子が、オン状態に切り替えられ、前記オ
ン状態を継続させられた上でオフ状態に切り替えられ、
その後オン状態に切り替えられるまでの期間は、長短2
種類あり、前記長短2種類の期間の内の長い方の期間
は、実質上41.6ms以下である第十の本発明の液晶
表示基板検査方法である。
【0032】第十八の本発明(請求項18に対応)は、
前記第1ゲート配線用検査信号または前記第2ゲート配
線用検査信号によってオン/オフ状態を切り替えられる
スイッチング素子が、オン状態に切り替えられ、前記オ
ン状態を継続させられた上でオフ状態に切り替えられ、
その後オン状態に切り替えられるまでの期間は、長短2
種類あり、前記長短2種類の期間の内の長い方の期間
は、前記液晶素子が前記オン状態の継続に基づく表示を
継続する期間と実質上等しい第十の本発明の液晶表示基
板検査方法である。
【0033】第十九の本発明(請求項19に対応)は、
前記ゲート配線用検査信号の供給および前記ソース配線
用検査信号の供給は、前記液晶表示基板における前記検
査配線を含む配線の抵抗および容量を考慮して行われる
第十の本発明の液晶表示基板検査方法である。
【0034】第二十の本発明(請求項20に対応)は、
第六の本発明の液晶表示基板検査装置の、前記ソース配
線用スイッチ手段および前記ゲート配線用スイッチ手段
の前記接続状態のオン/オフ状態の切替を制御するため
のスイッチ制御手段の全部または一部としてコンピュー
タを機能させるためのプログラムである。
【0035】第二十一の本発明(請求項21に対応)
は、第八の本発明の液晶表示の制御方法の、(1)前記
ソース配線用スイッチ手段の前記接続状態をオン状態に
切り替え、(2)前記ゲート配線用スイッチ手段の前記
接続状態をオン状態に切り替え、(3)前記ソース配線
に対し前記ソース配線用検査配線から所定のソース配線
用検査信号の供給を行い、(4)前記ゲート配線に対し
前記ゲート配線用検査配線から所定のゲート配線用検査
信号の供給を行うステップの全部または一部をコンピュ
ータに実行させるためのプログラムである。
【0036】
【発明の実施の形態】以下では、本発明にかかる実施の
形態について、図面を参照しつつ説明を行う。
【0037】はじめに、本実施の形態における、画素電
極1がストライプ配列に配置された液晶表示装置の平面
図である図1を参照しながら、本実施の形態の液晶表示
装置の構成について説明する。なお、図17〜19に示
した従来の場合と同じ構成要素には、同一番号を付与し
た。
【0038】本実施の形態における液晶表示装置の主た
る特徴は、つぎの通りである。
【0039】(1)ゲート配線2(なお、図面上最上に
ある、画素電極に接続されていないゲート配線は、いわ
ゆるダミー配線である)に係わる検査配線を、第1ゲー
ト側検査配線G1、第2ゲート側検査配線の2本とし、
(2)対向電極側検査配線Cと対向電極9とを接続し、
(3)ソース側検査配線S1、S2、S3とソース配線
3とを、検査用スイッチング素子5を介して接続し、
(4a)前記第1ゲート側検査配線G1と前記奇数行の
ゲート配線2、(4b)前記第2ゲート側検査配線G2
と前記偶数行のゲート配線2を、検査用スイッチング素
子5を介して接続し、(5)前記検査用スイッチング素
子5に電位を与える検査配線G0を備える。なお、ゲー
ト駆動回路6やソース駆動回路7は、後述のような生産
工程における中間的な検査を行う際には、まだ実装され
ていない。
【0040】ここで、従来の液晶表示装置(図19参
照)には見られない特徴である上述の(3)、(4
a)、(4b)に関して、より具体的に説明する。
【0041】ソース側検査配線S1、ソース側検査配線
S2、ソース側検査配線S3、第1ゲート側検査配線G
1、第2ゲート側検査配線G2、および対向電極側検査
配線Cの計6本の検査配線が、液晶表示装置の表示範囲
の外部に引き出され、画素電極1が形成されたガラス基
板の上に形成されている。
【0042】第1ゲート側検査配線G1は、ゲート配線
2に沿って配列された第1行目、第3行目、第5行目…
のように奇数行のすべてのゲート配線2に接続されてい
る。また、第2ゲート側検査配線G2は、ゲート配線2
に沿って配列された第2行目、第4行目、第6行目…の
ように偶数行のすべてのゲート配線2に接続されてい
る。なお、これらの接続は、検査用スイッチング素子5
を介して行われている。
【0043】ソース側検査配線S1は、ソース配線3の
うちの赤画素電極1rがスイッチング素子4を介して接
続されているソース配線3のすべてに接続されている。
また、ソース側検査配線S2は、ソース配線3のうちの
緑画素電極1gがスイッチング素子4を介して接続され
ているソース配線3のすべてに接続されている。また、
ソース側検査配線S3は、ソース配線3のうちの青画素
電極1bがスイッチング素子4を介して接続されている
ソース配線3のすべてに接続されている。なお、これら
の接続は、検査用スイッチング素子5を介して行われて
いる。
【0044】対向電極側検査配線Cは、対向電極9に接
続されている。
【0045】なお、この液晶表示装置における画素電極
1と対向電極9との間に狭持された各色の液晶素子(図
示省略)は、画素電極1と対向電極9との間の電位差が
小さい時に赤、緑、青を表示し、電位差が大きいときに
黒を表示するものである。また、スイッチング素子4が
遮断されてからつぎに導電されるまでの間は、画素電極
1と対向電極9との電位差は、維持される。
【0046】なお、本実施の形態の液晶表示装置は、本
発明の液晶表示基板を含む手段に対応する。
【0047】つぎに、本実施の形態における検査装置の
構成図である図16を参照しながら、検査装置の構成に
ついて説明する。
【0048】本実施の形態の検査装置は、後述の画面表
示を選択するための選択スイッチ13、および液晶表示
装置に入力すべき信号14を発生するための信号発生手
段12を備えている。ここに、検査用の駆動電位は、信
号14によって、検査配線がガラス基板の上に形成され
た液晶表示装置の検査配線G0、G1、G2、S1、S
2、S3、Cに対して印加される。
【0049】なお、信号発生手段12は、本発明のスイ
ッチ制御手段を含む手段に対応する。
【0050】つぎに、図2〜8を参照しながら、(1)
白画面、(2)黒画面、(3)赤画面、(4)緑画面、
(5)青画面、(6)ゲート1ライン毎に黒、白、黒、
白、…というフリッカー画面、(7)ゲート1ライン毎
に白、黒、白、黒、…というフリッカー画面を、それぞ
れ表示させるような検査を行う場合における、検査装置
の動作について説明する。なお、本実施の形態の検査装
置の動作について説明しながら、本発明の液晶表示基板
検査方法の一実施の形態についても説明する。
【0051】なお、図2は本実施の形態における白表示
を行う場合の検査のための駆動電位を示す波形図であ
り、図3は本実施の形態における黒表示を行う場合の検
査のための駆動電位を示す波形図であり、図4は本実施
の形態における赤表示を行う場合の検査のための駆動電
位を示す波形図であり、図5は本実施の形態における緑
表示を行う場合の検査のための駆動電位を示す波形図で
あり、図6は本実施の形態における青表示を行う場合の
検査のための駆動電位を示す波形図である。また、図7
は本実施の形態における黒、白、黒、白、…というフリ
ッカー画面表示を行う場合の検査のための駆動電位を示
す波形図であり、図8は本実施の形態における白、黒、
白、黒、…というフリッカー画面表示を行う場合の検査
のための駆動電位を示す波形図である。
【0052】図2〜8において、検査配線G0、第1ゲ
ート側検査配線G1、第2ゲート側検査配線G2、ソー
ス側検査配線S1、S2、S3、対向電極側検査配線C
に印加される駆動電位を、それぞれVg0、Vg1、V
g2、Vs1、Vs2、Vs3、Vcとしている。
【0053】Vg0において、各検査用スイッチング素
子5を電気的に導通させるに十分な駆動電位をVon+
α電位としている。また、Vg1、Vg2において、各
スイッチング素子4を電気的に開閉させるに十分な駆動
電位を、それぞれVon電位、Voff電位としてい
る。また、Vs1、Vs2、Vs3における、方形波の
センター電位をVsc電位、上下のピーク電位をそれぞ
れVsc+β、Vsc−βVc電位としている。また、
Vcにおける方形波のセンター電位をVcc電位、上下
のピーク電位をそれぞれVcc+γ、Vcc−γ電位と
している。なお、Vsc電位とVcc電位の間には、V
sc−(フィードスルー電位差)=Vccという関係式
が成り立つ。ここに、フィードスルー電位差とは、ゲー
トパルスがオンの時に液晶容量および蓄積容量に充電さ
れた電荷が、スイッチング素子4のソースとゲートとの
間の寄生容量の影響でゲートパルスがオフになった瞬間
に、それぞれの容量に再分配されることにより発生する
電位差をいう。
【0054】(a1)第1ゲート側検査配線G1に、V
off電位からVon電位が一度印加されたのちVof
f電位が印加され、(a2)第2ゲート側検査配線G2
に、Voff電位が印加されている状態を、動作1とす
る。また、(b1)第2ゲート側検査配線G2に、Vo
ff電位からVon電位が一度印加されたのちVoff
電位が印加され、(b2)第1ゲート側検査配線G1
に、Voff電位が印加されている状態を、動作2とす
る。また、(c3)第1ゲート側検査配線G1と第2ゲ
ート側検査配線G2のいずれにも、Voff電位が印加
されている状態を、動作3とする。なお、動作1および
動作2の周期をτa、駆動電位Vg1および駆動電位V
g2がVonである期間をτbとする。
【0055】つぎに、図9〜15を参照しながら、図2
〜8に示した検査のための駆動電位を印加した場合の、
(1)第1ゲート側検査配線G1に接続された奇数行の
赤画素電極1r、緑画素電極1g、青画素電極1bのそ
れぞれの液晶電位V1r、V1g、V1bの波形と、
(2)第2ゲート側検査配線G2に接続された偶数行の
赤画素電極1r、緑画素電極1g、青画素電極1bのそ
れぞれの液晶電位V1r、V1g、V1bの波形とに着
目し、各画素電極ごとの表示色と画面全体としての表示
色の関係について説明する。
【0056】なお、図9は本実施の形態における検査の
ための白表示を行う場合の画素ごとの液晶電位を示す波
形図であり、図10は本実施の形態における検査のため
の黒表示を行う場合の画素ごとの液晶電位を示す波形図
であり、図11は本実施の形態における検査のための赤
表示を行う場合の画素ごとの液晶電位を示す波形図であ
り、図12は本実施の形態における検査のための緑表示
を行う場合の画素ごとの液晶電位を示す波形図であり、
図13は本実施の形態における検査のための青表示を行
う場合の画素ごとの液晶電位を示す波形図である。ま
た、図14は本実施の形態における検査のための黒、
白、黒、白、…というフリッカー画面表示を行う場合の
画素ごとの液晶電位を示す波形図であり、図15は本実
施の形態における検査のための白、黒、白、黒、…とい
うフリッカー画面表示を行う場合の画素ごとの液晶電位
を示す波形図である。
【0057】図9〜15に示されているように、ゲート
配線2に接続される検査配線を第1ゲート側検査配線G
1、第2ゲート側検査配線G2の2本とし、第1ゲート
側検査配線G1と第2ゲート側検査配線G2とに印加す
るVon電位を、所定のタイミングで切り替えて印加す
ることにより、(1)白画面、(2)黒画面、(3)赤
画面、(4)緑画面、(5)青画面、(6)ゲート1ラ
イン毎に黒、白、黒、白、…というフリッカー画面、
(7)ゲート1ライン毎に白、黒、白、黒、…というフ
リッカー画面の表示が可能となる。
【0058】かくして、(A)スイッチング素子の開閉
に起因する不良、(B)スイッチング素子の特性的不良
に起因する不良、(C)画素電位の保持特性のバラツキ
による不良、(D)各画素構成および前記各配線等のパ
ターンに起因する不良の検査検出力を向上させた液晶表
示装置の検査方法を実現することができる。また、液晶
表示装置完成前の検査にて、簡易的にフリッカーレベル
を評価判断することもできる。
【0059】なお、奇数行、偶数行のゲート配線2を、
第1ゲート側検査配線G1、第2ゲート側検査配線G2
にそれぞれ区別して接続する構成とし、ソース配線3よ
り各画素電極1へデータ信号を書き込む時の画素電極1
と対向電極9との間の電位状態を考慮した第1ゲート側
検査配線G1、第2ゲート側検査配線G2に印加するV
on電位のタイミングにより、第1ゲート側検査配線G
1に接続されたゲート配線2のラインの画素群と第2ゲ
ート側検査配線G2に接続されたゲート配線2のライン
画素群との輝度差(すなわちゲート奇数行の画素電位と
ゲート偶数行の画素電位におけるフィードスルー電位
差)を解消するのに役立てることができる。これにより
フリッカー(すなわち画面のぱたつき)を抑えられるの
であり、より具体的には、垂直周期(フィールド周期、
すなわちある画素にデータが書き込まれてから次に書き
込まれるまでの期間に対応する期間)を実質上24Hz
以上とすることにより、フリッカーのない画面表示を可
能とする。なお、上述した本実施の形態では、たとえば
図2に示されているように、長周期Tlongおよび短周期
shortの長短2種類の垂直周期が存在するが、長周期
longが24Hz以上の周期となっている。
【0060】また、ゲート配線2に接続される第1ゲー
ト側検査配線G1と第2ゲート側検査配線G2の両方に
Voff電位が印加される期間(すなわち動作3の期
間)を、液晶表示装置に液晶駆動回路を形成したときの
実際の駆動における画素電極1と対向電極9との間の電
位差を維持する期間と等しくする。この場合、本実施の
形態の検査方法では、上記のように長短2種類の垂直周
期が存在するため、長い方のVoff電位の期間を、液
晶表示装置に液晶駆動回路を形成したときの実際の駆動
における画素電極1と対向電極9との間の電位差を維持
する期間と等しくする。その理由は、本実施の形態の検
査方法による検査は液晶表示装置製造過程における中間
検査であるため、画素電位の保持特性に起因する不良の
過剰検査を避けるためである。これにより画素電位の保
持特性ばらつきによる点欠陥が認識可能となる。なお、
保持特性は、スイッチング素子のオフ電流、画素容量お
よび液晶抵抗を通じてのリーク電流などに依存する。
【0061】また、スイッチング素子4を第1ゲート側
検査配線G1または第2ゲート側検査配線G2への印加
電位によりオンとする期間τbは、液晶表示装置内にお
けるゲート配線2の電位がVoff電位の状態から、第
1ゲート側検査配線G1または第2ゲート側検査配線G
2に、Von電位を印加して、ゲート配線2の電位が
0.9×(Von−Voff)+Voffとなる時の立
ち上がり期間とすることが望ましい。さらに、期間τb
は、(1)スイッチング素子4を通して画素電極1にソ
ース配線3からのデータ信号を書き込むのに必要な期間
と、(2)液晶表示装置内のゲート配線2の電位が、V
on電位の状態から、第1ゲート側検査配線G1または
第2ゲート側検査配線G2に、Voff電位を印加して
ゲート配線2の電位が0.9×(Voff−Von)+
Vonとなる時の立ち下がり期間とを加算した期間以上
とすることが望ましい。また、期間τbは、(1)液晶
表示装置内のゲート配線2の電位が、Voff電位の状
態から、第1ゲート側検査配線G1、第2ゲート側検査
配線G2に、Von電位を印加して、ゲート配線2の電
位がVon電位となるときの立ち上がり期間と、上記ス
イッチング素子4を通して画素電極1にソース配線3か
らのデータ信号を書き込むのに必要な期間と、液晶表示
装置内のゲート配線2の電位がVon電位の状態から第
1ゲート側検査配線G1または第2ゲート側検査配線G
2にVoff電位を印加してゲート配線2の電位がVo
ffとなるときの立ち下がり期間とを加算した期間未満
とすることが望ましい。
【0062】なぜならば、ゲート配線2に印加される駆
動電位Vg1および駆動電位Vg2は、第1ゲート側検
査配線G1および第2ゲート側検査配線G2とゲート配
線2が持っている抵抗および容量により遅延を生じる。
スイッチング素子4をオンとする時間が長過ぎると、V
on電位からVoff電位へ変化させる波形に遅延が生
じることにより、スイッチング素子4を所定のタイミン
グで遮断できなくなり、スイッチング素子4に起因する
不良が検出できない恐れがある。上述のようにすること
により、スイッチング素子4のスイッチング特性のバラ
ツキによる点欠陥の、特に輝点に対して、液晶駆動回路
形成時における駆動画面との相関性(つまり輝点の視認
性)が一致することになる。
【0063】また、動作1および動作2の動作期間にあ
たる期間τaは、Von電位を印加する期間τbの2倍
以上にすることが望ましい。なぜならば、前述のように
ゲート配線2に印加される駆動電位Vg1および駆動電
位Vg2は、第1ゲート側検査配線G1、第2ゲート側
検査配線G2およびゲート配線2が持つ抵抗および容量
により遅延を生じる。そのため、スイッチング素子4の
ゲート電位をオフとし切らない間にソース配線3の駆動
電位Vs1〜Vs3の切り替わり、その時の電位が画素
に書き込まれる恐れがあるからである。
【0064】また、第1ゲート側検査配線G1と第2ゲ
ート側検査配線G2のように2本設けた場合、第1ゲー
ト側検査配線G1に接続される奇数行のゲート配線2の
駆動電位Vg1の振幅と、第2ゲート側検査配線G2に
接続される偶数行のゲート配線2に印加される駆動電位
Vg2の振幅とを同一にし、ゲート配線2に接続された
同色の各画素の画素電極1における液晶電圧を、奇数行
と偶数行とに係わらず、同一にすることが望ましい。そ
こで、各ゲート配線2は、第1ゲート側検査配線G1ま
たは第2ゲート側検査配線G2のどちらかに接続すると
ともに、他方の第2ゲート側検査配線G2または第1ゲ
ート側検査配線G1とは、配線パターン上で交差する構
造とし、2本の第1ゲート側検査配線G1と第2ゲート
側検査配線G2に生じる抵抗、容量を同一にさせるよう
にしている。
【0065】なお、検査完了後、液晶駆動回路を形成
し、液晶表示装置を動作させて画像を表示する際には、
検査配線G0には検査用スイッチング素子5が電気的に
導通しない電位を印加し、(1)前記ソース側検査配線
S1、S2、S3と前記ソース配線3、(2)前記第1
ゲート側検査配線G1と前記奇数行のゲート配線2、
(3)前記第2ゲート側検査配線G2と前記偶数行のゲ
ート配線2との、液晶駆動回路形成時での液晶表示装置
の通常動作に必要でない電気接続を、遮断することはも
ちろんである。これにより、従来レーザー光を照射して
配線パターンの一部を溶断、または割断等によって前記
電気接続を遮断するという作業をなくすことができ、生
産性を向上させることができる。
【0066】また、前記各検査配線とソース配線3、ゲ
ート配線2、対向電極9の間のパターン短絡による電荷
分散効果により、静電気によるスイッチング素子4の破
壊、およびスイッチング特性不良の防止効果が期待でき
る。
【0067】以上で、本実施の形態について説明した。
【0068】なお、上述した本実施の形態では、画素電
極1がストライプ配列に配置された液晶表示装置を例に
挙げて説明したが、本発明は、画素電極1をデルタ配列
に配置した液晶表示装置に対しても有効である。すなわ
ち、画素電極1をデルタ配列に配置した液晶表示装置
は、前記対向電極側検査配線Cと前記対向電極9を接続
し、前記ソース側検査配線S1、S2、S3と前記ソー
ス配線3、前記第1ゲート側検査配線G1と前記奇数行
のゲート配線2、前記第2ゲート側検査配線G2と前記
偶数行のゲート配線2とを検査用スイッチング素子5を
介して接続し、前記検査用スイッチング素子5のゲート
に電位を与える検査配線G0を備えた構成とする。そし
て、前記検査配線G0には検査用スイッチング素子5が
電気的に導通させる電位を印加した状態にて、前記第1
ゲート側検査配線G1と前記第2ゲート側検査配線G2
に印加するVon電位を、前述した本実施の形態に説明
したようなタイミングにて印加し、ソース側検査配線S
1、S2、S3に白、黒、赤、緑、青を表示させるよう
なデータ信号の電位を印加して、画像検査する(もちろ
ん、データ信号の電位の印加は、デルタ配列に対応した
ものである必要がある)。かくして、スイッチング素子
4の開閉に起因する不良、スイッチング素子4の特性的
不良に起因する不良、画素電位の保持特性のばらつきに
よる不良、各画素構成および前記各配線等のパターンに
起因する不良の検査検出力を向上させた液晶表示装置の
検査方法を簡易的に実現する。また、ゲート1ライン毎
に黒、白、黒、白、…、または白、黒、白、黒、…とい
うフリッカー画面の表示を可能とし、液晶表示装置完成
前の検査にて、簡易的にフリッカーレベルを評価判断す
ることも可能とする。そして、検査完了後の各検査配線
との接続を電気的にオープンにする作業をなくし、生産
性を向上させることができる。
【0069】このように、本発明は、たとえば、各列に
赤、緑、青の各画素の画素電極がスイッチング素子を介
してソース配線に接続され、前記スイッチング素子のゲ
ートに電位を与える各ゲート配線郡の奇数行の画素の色
と偶数行の画素の色との組み合わせが同一な前記ソース
配線のすべてに接続したソース側検査配線を前記画素郡
の3列ごとに接続された3本の配線で構成するととも
に、奇数行の前記各ゲート配線に接続した第1ゲート側
検査配線と、偶数行の前記各ゲート配線に接続した第2
ゲート側検査配線と、前記各画素電極のすべてが液晶と
挟んで対向するように設けられた対向電極に接続した対
向電極側検査配線とを備え、前記ソース側検査配線 と
前記ソース配線との接続、前記第1ゲート側検査配線
と前記奇数行のゲート配線との接続、前記第2ゲート側
検査配線と前記偶数行のゲート配線との接続、前記対向
電極側検査配線と前記対向電極との接続のうちいずれか
の、前記ソース側検査配線と前記ソース配線、前記第1
ゲート側検査配線と前記奇数行のゲート配線、前記第2
ゲート側検査配線と前記偶数行のゲート配線、前記対向
電極側検査配線と前記対向電極を検査用スイッチング素
子を介して接続する構成とし、前記検査用スイッチング
素子のゲートに電位を与える検査用ゲート配線を備えた
ことを特徴とする液晶表示装置である。これにおいて、
液晶表示装置の完了前の検査にて簡易的に検査すること
ができるという作用を有する。また、液晶表示装置の完
了前の検査完了後に、第1ゲート側検査配線および第2
ゲート側検査配線と各ゲート配線との電気接続、各ソー
ス側検査配線と各ソース配線との電気接続、対向電極側
配線と対向電極との電気接続のうちで、スイッチング素
子を介して接続した構成とした部分につき、液晶駆動回
路形成時での液晶表示装置を動作させて画像を表示する
うえで、検査用ゲート配線に検査用スイッチング素子が
電気的に導通しない電位を印加させることにより、液晶
駆動回路形成時での液晶表示装置の通常動作に必要でな
い電気接続を遮断することができ、これにより各検査配
線との接続を電気的にオープンにする作業をなくし、生
産性を向上させることができるという作用を有し、かつ
ソース、ゲート配線が各検査配線とパターン的に短絡し
ていることにより、静電気によるスイッチング素子の破
壊、スイッチング特性不良防止の作用も有する。
【0070】また、本発明は、たとえば、スイッチング
素子のゲートに電位を与える各ゲート配線郡の奇数行の
画素の色と偶数行の画素の色との組み合わせが同一なソ
ース配線のすべてに、検査用スイッチング素子を介して
接続したソース側検査配線を前記画素郡の3列ごとに接
続された3本の配線で構成するとともに、奇数行の前記
各ゲート配線に接続した第1ゲート側検査配線と、偶数
行の前記各ゲート配線に接続した第2ゲート側検査配線
と、前記各画素電極のすべてが液晶と挟んで対向するよ
うに設けられた対向電極に接続した対向電極側検査配線
とを備え、前記ソース側検査配線および前記第1ゲート
側検査配線および前記第2ゲート側検査配線それぞれに
設けられた前記検査用スイッチング素子のゲートに電位
を与える検査用ゲート配線を備えたことを特徴とする前
述の液晶表示装置である。これにおいて、液晶表示装置
の完了前の検査にて簡易的に検査することができるとい
う作用を有する。また、液晶表示装置の完了前の検査完
了後に、第1ゲート側検査配線および第2ゲート側検査
配線と各ゲート配線との電気接続を、液晶駆動回路形成
時での液晶表示装置を動作させて画像を表示するうえ
で、検査用ゲート配線に検査用スイッチング素子が電気
的に導通しない電位を印加させることにより、液晶駆動
回路形成時での液晶表示装置の通常動作に必要でない電
気接続を遮断することができ、これにより各検査配線と
の接続を電気的にオープンにする作業をなくし、生産性
を向上させることができるという作用を有し、かつソー
ス、ゲート配線が各検査配線とパターン的に短絡してい
ることにより、静電気によるスイッチング素子の破壊、
スイッチング特性不良防止の作用も有する。
【0071】また、本発明は、たとえば、スイッチング
素子のゲートに電位を与える各ゲート配線郡の奇数行の
画素の色と偶数行の画素の色との組み合わせが同一なソ
ース配線のすべてに接続したソース側検査配線を前記画
素郡の3列ごとに接続された3本の配線で構成するとと
もに、奇数行の前記各ゲート配線に検査用スイッチング
素子を介して接続した第1ゲート側検査配線と、偶数行
の前記各ゲート配線に検査用スイッチング素子を介して
接続した第2ゲート側検査配線と、前記各画素電極のす
べてが液晶と挟んで対向するように設けられた対向電極
に接続した対向電極側検査配線とを備え、前記ソース側
検査配線に設けられた前記検査用スイッチング素子のゲ
ートに電位を与える検査用ゲート配線を備えたことを特
徴とする前述の液晶表示装置である。これにおいて、液
晶表示装置の完了前の検査にて簡易的に検査することが
できるという作用を有する。また、液晶表示装置の完了
前の検査完了後に、各ソース側検査配線と各ソース配線
との電気接続を、液晶駆動回路形成時での液晶表示装置
を動作させて画像を表示するうえで、検査用ゲート配線
に検査用スイッチング素子が電気的に導通しない電位を
印加させることにより、液晶駆動回路形成時での液晶表
示装置の通常動作に必要でない電気接続を遮断すること
ができ、これにより各検査配線との接続を電気的にオー
プンにする作業をなくし、生産性を向上させることがで
きるという作用を有し、かつソース、ゲート配線が各検
査配線とパターン的に短絡していることにより、静電気
によるスイッチング素子の破壊、スイッチング特性不良
防止の作用も有する。
【0072】また、本発明は、たとえば、前記スイッチ
ング素子のゲートに電位を与える各ゲート配線の列にお
ける奇数行の画素の色と偶数行の画素の色との組み合わ
せが同一な前記ソース配線のすべてに接続したソース側
検査配線を前記組み合わせごとに設けるとともに、奇数
行の前記各ゲート配線に検査用スイッチング素子を介し
て接続した第1ゲート側検査配線と、偶数行の前記各ゲ
ート配線に検査用スイッチング素子を介して接続した第
2ゲート側検査配線と、前記各画素電極のすべてが液晶
と挟んで対向するように設けられた対向電極に接続した
対向電極側検査配線とを備え、前記第1ゲート側検査配
線および前記第2ゲート側検査配線それぞれに設けられ
た前記検査用スイッチング素子のゲートに電位を与える
検査用ゲート配線を備えたことを特徴とする前述の液晶
表示装置である。これにおいて、液晶表示装置の完了前
の検査にて簡易的に検査することができるという作用を
有する。また、液晶表示装置の完了前の検査完了後に、
第1ゲート側検査配線および第2ゲート側検査配線と各
ゲート配線との電気接続、各ソース側検査配線と各ソー
ス配線との電気接続を、液晶駆動回路形成時での液晶表
示装置を動作させて画像を表示するうえで、検査用ゲー
ト配線に検査用スイッチング素子が電気的に導通しない
電位を印加させることにより、液晶駆動回路形成時での
液晶表示装置の通常動作に必要でない電気接続を遮断す
ることができ、これにより各検査配線との接続を電気的
にオープンにする作業をなくし、生産性を向上させるこ
とができるという作用を有し、かつソース、ゲート配線
が各検査配線とパターン的に短絡していることにより、
静電気によるスイッチング素子の破壊、スイッチング特
性不良防止の作用も有する。
【0073】また、本発明は、たとえば、画素配列がデ
ルタ配列とストライプ配列とのいずれかである液晶表示
装置であることを特徴とする前述の液晶表示装置であ
る。これにおいて、画素配列がデルタ配列であるかスト
ライプ配列であるかに関係なく、液晶表示装置の完了前
の検査にて簡易的に検査することができるという作用を
有する。
【0074】また、本発明は、たとえば、検査用ゲート
配線には検査用スイッチング素子が電気的に導通させる
電位を印加した状態にて、第1ゲート側検査配線および
第2ゲート側検査配線に印加する駆動電位により、奇数
行の画素と偶数行の画素とを分離して駆動させることを
特徴とする前述の液晶表示装置の検査方法である。これ
において、画素配列がデルタ配列であるかストライプ配
列であるかに関係なく、液晶表示装置の完了前の検査に
て簡易的に検査することができるという作用を有する。
【0075】また、本発明は、たとえば、第1ゲート側
検査配線または第2ゲート側検査配線への印加電位によ
りスイッチング素子をオン状態とする所定の期間とし
て、前記スイッチング素子をオフとする電位をVof
f、前記スイッチング素子をオンとする電位をVonと
したとき、液晶表示装置内のゲート配線の電位がVof
f電位の状態からVon電位を印加して0.9×(Vo
n―Voff)+Voffとなる立ち上がり期間と、前
記スイッチング素子を介して画素電極にソース配線から
データ信号を書き込むのに要する期間と、前記ゲート配
線の電位がVonの状態からVoff電位を印加して
0.9×(Voff―Von)+Vonとなる立ち下が
り期間とを加算した期間以上であり、かつ液晶表示装置
内のゲート配線の電位がVoffの状態からVon電位
を印加してVonとなる立ち上がり期間と、前記スイッ
チング素子を介して画素電極にソース配線からデータを
書き込むのに要する期間と、液晶表示装置内のゲート配
線の電位がVonの状態からoff電位を印加してVo
ffとなる立ち下がり期間とを加算した期間未満とする
ようにした前述の液晶表示装置の検査方法である。これ
において、画素配列がデルタ配列であるかストライプ配
列であるかに関係なく、液晶表示装置の完了前の検査に
て、スイッチング素子の開閉に起因する不良、スイッチ
ング素子の特性的不良に起因する不良の検査検出力を向
上させ、液晶表示装置完成前の検査で液晶駆動回路形成
時の駆動画面と比較して液晶表示装置の不良視認の相関
性、一致性を高めるという作用を有する。
【0076】また、本発明は、たとえば、第1ゲート側
検査配線および第2ゲート側検査配線の一方に対応した
スイッチング素子がオン状態に切り替えられてから、こ
のオン状態を所定期間続けたうえでオフ状態に切り替え
られ、その後に、第1ゲート側検査配線および第2ゲー
ト側検査配線の他方に対応したスイッチング素子がオン
状態に切り替えられるまでの期間を、前記スイッチング
素子が続けるオン状態の期間の2倍以上の期間とするこ
とを特徴とする前述の液晶表示装置の検査方法である。
これにおいて、液晶表示装置完成前の検査でソース配線
からのデータ信号をスイッチング素子を通して画素電極
に書き込む時、前記スイッチング素子のゲートしきい値
に対してマージンを保たせて、ソース配線からのデータ
信号を前記画素電極に書き込む動作を適切かつ確実に行
うという作用を有する。
【0077】また、本発明は、たとえば、第1ゲート側
検査配線および第2ゲート側検査配線にはスイッチング
素子を電気的に導通させる電位を交互に印加させ、ソー
ス側検査配線には、前記スイッチング素子が電気的に導
通になるタイミングに合わせてデータ信号、および対向
電極側検査配線には対向電極電位を印加して、白、黒、
赤、緑、および青色のカラー単色画面を表示させて検査
を行うことを特徴とする前述の液晶表示装置の検査方法
である。これにおいて、画素配列がデルタ配列であるか
ストライプ配列であるかに関係なく、液晶表示装置の完
了前の検査にて、白、黒、赤、緑、青のカラー単色画面
を表示させて、簡易的に液晶表示装置の検査ができると
いう作用を有する。
【0078】また、本発明は、たとえば、第1ゲート側
検査配線への印加電位によりスイッチング素子をオフ状
態から所定の期間オン状態としたのちオフ状態とし、そ
の所定の期間中は前記第2ゲート側検査配線への印加電
位により前記スイッチング素子をオフ状態とする動作を
動作1とし、第2ゲート側検査配線への印加電位により
スイッチング素子をオフ状態から所定の期間オン状態と
したのちオフ状態とし、その所定の期間中は前記第1ゲ
ート側検査配線への印加電位により前記スイッチング素
子をオフ状態とする動作を動作2とし、第1ゲート側検
査配線と第2ゲート側検査配線への印加電位により前記
スイッチング素子ををいずれもオフ状態とする動作を動
作3としたとき、動作1、動作2、動作3、動作2、動
作1、動作3の順序の一連の動作を繰り返し行い、ソー
ス側検査配線には、前記スイッチング素子が電気的に導
通になるタイミングに合わせてデータ信号、および対向
電極側検査配線には対向電極電位を印加して、白、黒、
赤、緑、および青色のカラー単色画面を表示させて検査
を行うことを特徴とする前述の液晶表示装置の検査方法
である。これにおいて、画素配列がデルタ配列であるか
ストライプ配列であるかに関係なく、液晶表示装置の完
了前の検査にて、白、黒、赤、緑、青のカラー単色画面
を表示させて、簡易的に液晶表示装置の検査ができると
いう作用を有し、かつスイッチング素子の開閉に起因す
る不良、スイッチング素子の特性的不良に起因する不
良、各画素構成および前記各配線等のパターンに起因す
る不良の検査検出力を向上させ、液晶表示装置完成前の
検査で液晶駆動回路形成時の駆動画面と比較して液晶表
示装置の不良視認の相関性、一致性を高めるという作用
を有する。
【0079】また、本発明は、たとえば、各ソース側検
査配線に、画素に赤、緑、青を表示させる第1のデータ
信号と、画素に黒を表示させる第2のデータ信号とを選
択的に印加し、第1ゲート側検査配線および第2ゲート
側検査配線への印加電位によって、ソース側検査配線に
第1のデータ信号と第2のデータ信号との一方が印加さ
れているときに、奇数行と偶数行との一方のスイッチン
グ素子をオン状態とするともに他方のスイッチング素子
をオフ状態としてその状態を所定時間だけ維持させ、か
つソース側検査配線に第1のデータ信号と第2のデータ
信号との他方が印加されているときに、奇数行と偶数行
との他方のスイッチング素子をオン状態にするととも
に、前記一方のスイッチング素子をオフ状態としてその
状態を所定時間だけ維持させて、ゲート1ライン毎に
黒、白、黒、白、…、または白、黒、白、黒、…という
フリッカー画面を表示させて検査を行うことを特徴とす
る前述の液晶表示吾装置の検査方法である。これにおい
て、画素配列がデルタ配列であるかストライプ配列であ
るかに関係なく、液晶表示装置の完了前の検査にて、ゲ
ート1ライン毎に黒、白、黒、白、…または、白、黒、
白、黒、…というフリッカー画面の表示を可能とし、液
晶表示装置完成前の検査にて、簡易的にフリッカーレベ
ルを評価判断することができるという作用を有する。
【0080】また、本発明は、たとえば、第1ゲート側
検査配線および第2ゲート側検査配線にスイッチング素
子が導通する電位を交互に印加する周波数を24Hz以
上にして検査する前述の検査方法である。これにおい
て、液晶表示装置の完了前の検査にて、画素電位の保持
特性のバラツキによる不良の検査検出力を向上させ、液
晶表示装置完成前の検査で液晶駆動回路形成時の駆動画
面と比較して液晶表示装置の不良視認の相関性、一致性
を高めるという作用を有する。
【0081】また、本発明は、たとえば、第1ゲート側
検査配線と第2ゲート側検査配線とへの印加電位により
スイッチング素子をオフ状態からオン状態に切り替えた
状態から、オフ状態に切り替え、その後に時間をおいて
再びオン状態に切り替えるまでの期間を長短2種類存在
させ、そのうちの長いほうの期間を、41.6ms以
下、つまり周波数で表記すれば24Hz以上にすること
を特徴とする前述の液晶表示装置である。これにおい
て、液晶表示装置完成前の検査で、液晶駆動回路形成時
の駆動画面と比較して液晶表示装置の不良視認の相関
性、一致性を高めるという作用を有する。
【0082】また、本発明は、たとえば、第1ゲート側
検査配線と第2ゲート側検査配線とへの印加電位により
スイッチング素子をオフ状態からオン状態に切り替えた
状態から、オフ状態に切り替え、その後に時間をおいて
再びオン状態に切り替えるまでの期間を長短2種類存在
させ、そのうちの長いほうの期間を、画素が所定期間の
オン状態での色と同じ色を表示し続け得る期間と同等に
することを特徴とする前述の液晶表示装置である。これ
において、液晶表示装置完成前の検査で、液晶駆動回路
形成時の駆動画面と比較して液晶表示装置の不良視認の
相関性、一致性を高めるという作用を有する。
【0083】また、本発明は、たとえば、液晶法事装置
の各配線および各検査配線の抵抗および容量により生じ
る遅延を解消するために、スイッチング素子のオンオフ
動作を司る目的で第1ゲート側検査配線および第2ゲー
ト側検査配線に印加する駆動電位と、画素電極に書き込
むデータ信号とを時間的に遅らせるかまたは早めること
を特徴とする前述の液晶表示装置の検査方法である。こ
れにおいて、液晶表示装置完成前の検査でソース配線か
らのデータ信号をスイッチング素子を通して画素電極に
書き込む時、前記スイッチング素子のゲートしきい値に
対してマージンを保たせて、ソース配線からのデータ信
号を前記画素電極に書き込む動作を適切かつ確実に行う
作用を有する。
【0084】また、本発明は、たとえば、各ソース側検
査配線、第1ゲート側検査配線、第2ゲート側検査配
線、前記対向電極側検査配線、および検査用ゲート配線
へ、前述の液晶表示装置の検査方法を可能にした信号発
生手段を設けたことを特徴とする液晶表示装置の検査装
置である。これにおいて、液晶表示装置完成前の検査
で、簡易的に液晶表示装置を検査することができるとい
う作用を有する。
【0085】また、本発明は、たとえば、検査完了後、
液晶駆動回路形成時での液晶表示装置を動作させて画像
を表示するうえで、検査用ゲート配線には検査用スイッ
チング素子が電気的に導通しない電位が印加させるよう
な構成を備えたことを特徴とする前述の液晶表示装置で
ある。これにおいて、液晶駆動回路形成時での液晶表示
装置を動作させて画像を表示するうえで、検査用ゲート
配線に検査用スイッチング素子が電気的に導通しない電
位を印加させることにより、液晶駆動回路形成時での液
晶表示装置の通常動作に必要でない電気接続を遮断する
ことができ、これにより各検査配線との接続を電気的に
オープンにする作業をなくし、生産性を向上させること
ができるという作用を有する。
【0086】また、本発明は、たとえば、検査完了後、
第1ゲート側検査配線および第2ゲート側検査配線と各
ゲート配線との接続、対向電極側配線と対向電極との接
続のうち、液晶駆動回路形成時での液晶表示装置の通常
動作に必要でない電気接続をオープンにし、液晶駆動回
路形成時での液晶表示装置を動作させて画像を表示する
うえで、検査用ゲート配線には検査用スイッチング素子
が電気的に導通しない電位が印加させるような構成を備
えたことを特徴とする前述の液晶表示装置である。これ
において、液晶駆動回路形成時での液晶表示装置を動作
させて画像を表示するうえで、検査用ゲート配線に検査
用スイッチング素子が電気的に導通しない電位を印加さ
せることにより、液晶駆動回路形成時での液晶表示装置
の通常動作に必要でない電気接続を遮断することがで
き、これにより各検査配線との接続を電気的にオープン
にする作業をなくし、生産性を向上させることができる
という作用を有する。
【0087】また、本発明は、たとえば、検査完了後、
各ソース側検査配線と各ソース配線との接続、対向電極
側配線と対向電極との接続のうち、液晶駆動回路形成時
での液晶表示装置の通常動作に必要でない電気接続をオ
ープンにし、液晶駆動回路形成時での液晶表示装置を動
作させて画像を表示するうえで、検査用ゲート配線には
検査用スイッチング素子が電気的に導通しない電位が印
加させるような構成を備えたことを特徴とする前述の液
晶表示装置である。これにおいて、液晶駆動回路形成時
での液晶表示装置を動作させて画像を表示するうえで、
検査用ゲート配線に検査用スイッチング素子が電気的に
導通しない電位を印加させることにより、液晶駆動回路
形成時での液晶表示装置の通常動作に必要でない電気接
続を遮断することができ、これにより各検査配線との接
続を電気的にオープンにする作業をなくし、生産性を向
上させることができるという作用を有する。
【0088】また、本発明は、たとえば、複数列のソー
ス配線と複数行のゲート配線との交差部に対応して配置
された複数の画素電極と、前記複数の画素電極に対向す
る対向電極と、前記複数の画素電極と前記対向電極との
間に狭持される複数の液晶素子と、前記ゲート配線に設
けられた接続状態を切り替えるためのゲート配線用スイ
ッチ手段と、前記ゲート配線用スイッチ手段を介して、
前記複数行のゲート配線の内、(1)奇数行のゲート配
線に接続される第1ゲート配線用検査配線、および
(2)偶数行のゲート配線に接続される第2ゲート配線
用検査配線とを備え、前記ゲート配線用スイッチ手段
は、液晶表示基板の検査を行うときに、外部からの所定
の作用に基づいて、前記接続状態のオン/オフ状態を切
り替えられることを特徴とする液晶表示基板である。
【0089】また、本発明は、たとえば、複数列のソー
ス配線と複数行のゲート配線との交差部に対応して配置
された複数の液晶素子と、前記ゲート配線に設けられた
接続状態を切り替えるためのゲート配線用スイッチ手段
と、前記ゲート配線用スイッチ手段を介して、前記複数
行のゲート配線の内、(1)奇数行のゲート配線に接続
される第1ゲート配線用検査配線、および(2)偶数行
のゲート配線に接続される第2ゲート配線用検査配線と
を備えたことを特徴とする液晶表示基板に対する検査を
行うための液晶表示基板検査装置であって、前記ゲート
配線用スイッチ手段の前記接続状態のオン/オフ状態の
切替を制御するためのスイッチ制御手段を備えたことを
特徴とする液晶表示基板検査装置である。
【0090】また、本発明は、たとえば、複数列のソー
ス配線と複数行のゲート配線との交差部に対応して配置
された複数の液晶素子と、前記ゲート配線に設けられた
接続状態を切り替えるためのゲート配線用スイッチ手段
と、前記ゲート配線用スイッチ手段を介して、前記複数
行のゲート配線の内、奇数行のゲート配線に接続される
第1ゲート配線用検査配線、および偶数行のゲート配線
に接続される第2ゲート配線用検査配線とを備えたこと
を特徴とする液晶表示基板に対する検査を行うための液
晶表示基板検査方法であって、(1)前記ゲート配線用
スイッチ手段の前記接続状態をオン状態に切り替え、
(2)前記奇数行のゲート配線に対し前記第1ゲート配
線用検査配線から所定の第1ゲート配線用検査信号の供
給を行い、(3)前記偶数行のゲート配線に対し前記第
2ゲート配線用検査配線から所定の第2ゲート配線用検
査信号の供給を行うことを特徴とする液晶表示基板検査
方法である。
【0091】このように、本発明の液晶表示装置の検査
方法は、たとえば、行ごとのゲート配線に接続する検査
配線を第1ゲート側検査配線と第2ゲート側検査配線と
の2本とし、ゲート配線を1行置きに第1ゲート側検査
配線と第2ゲート側検査配線に交互に接続し、前記第1
および第2ゲート側検査配線と各ゲート配線との接続
と、ソース側検査配線と各ソース配線との接続には、検
査用のスイッチング素子を介して接続する構成とし、前
記検査用スイッチング素子のゲートに電位を与える検査
用ゲート配線を設け、前記検査用ゲート配線には前記検
査用スイッチング素子が電気的に導通させる電位を印加
した状態にて、第1ゲート側検査配線への印加電位によ
り、前記スイッチング素子をオフ状態から所定期間オン
状態としたのちオフ状態とし、その所定期間中は前記第
2ゲート側検査配線への印加電位により前記スイッチン
グ素子をオフ状態とする動作を動作1とし、第2ゲート
側検査配線への印加電位により、前記スイッチング素子
をオフ状態から所定期間オン状態としたのちオフ状態と
し、その所定期間中は第1ゲート側検査配線への印加電
位により前記スイッチング素子をオフ状態とする動作を
動作2と定義し、第1ゲート側検査配線と第2ゲート側
検査配線への印加電位により前記スイッチング素子をオ
フ状態とする動作を動作3と定義した時、動作1、動作
2、動作3、動作2、動作1、動作3、…の順序の一連
の動作を繰り返して行うことにより、白、黒、赤、緑、
青のカラー単色画面、およびゲート1ライン毎に黒、
白、黒、白、…、または白、黒、白、黒、…というフリ
ッカー画面を表示させて検査するようにした液晶表示装
置およびその検査方法である。
【0092】なお、本発明のソース配線用スイッチ手段
は、上述された本実施の形態においては、所定の電位の
印加によってオン状態となる各ソース配線ごとに設けら
れた複数の検査用スイッチング素子5であった。しか
し、本発明のソース配線用スイッチ手段は、これに限ら
ず、たとえば、脱着自在な所定の治具をはめ込み装着す
ることによりオン状態となるような電気的接続切替用部
材などであってもよい。
【0093】また、本発明のゲート配線用スイッチ手段
は、上述された本実施の形態においては、所定の電位の
印加によってオン状態となる各ゲート配線ごとに設けら
れた複数の検査用スイッチング素子5であった。しか
し、本発明のゲート配線用スイッチ手段は、これに限ら
ず、たとえば、上述のような電気的接続切替用部材など
であってもよい。
【0094】また、本発明の検査用スイッチング素子
は、上述された本実施の形態においては、検査配線G0
から所定の電位の印加を行うことにより、全てが同時に
オン/オフ状態を切り替えられた。しかし、本発明の検
査用スイッチング素子は、これに限らず、たとえば、検
査用スイッチング素子に連結された所定の電位の印加を
行うための検査配線を所定のルールに基づいて設けるこ
とにより、個々が別々にオン/オフ状態を切り替えられ
てもよい。
【0095】また、本発明の検査用スイッチング素子
は、上述された本実施の形態においては、各ゲート配線
2および各ソース配線3の全部に対して設けられてい
た、しかし、本発明の検査用スイッチング素子は、これ
に限らず、要するに、ゲート配線およびソース配線の全
部または一部に設けられていてもよい。
【0096】また、本発明のソース配線用検査配線は、
上述された本実施の形態においては、赤画素電極1rが
接続されているソース配線3に接続されるソース側検査
配線S1、緑画素電極1gが接続されているソース配線
3に接続されるソース側検査配線S2、および青画素電
極1bが接続されているソース配線3に接続されるソー
ス側検査配線S3であった。しかし、本発明のソース配
線用検査配線は、これに限らず、たとえば、(1)全部
のソース配線に一括して接続されていてもよいし、
(1)一部のソース配線にのみ接続されていてもよい。
【0097】また、本発明のゲート配線用検査配線は、
上述された本実施の形態においては、奇数行のゲート配
線2に接続された第1ゲート側検査配線G1、および偶
数行のゲート配線2に接続された第2ゲート側検査配線
G2であった。しかし、本発明のゲート配線用検査配線
は、これに限らず、たとえば、(1)全部のゲート配線
に一括して接続されていてもよいし、(1)一部のゲー
ト配線にのみ接続されていてもよい。
【0098】本発明は、上述した本発明の液晶表示基板
検査装置の全部または一部の手段(または、装置、素
子、回路、部など)の機能をコンピュータにより実行さ
せるためのプログラムであって、コンピュータと協働し
て動作するプログラムである。なお、本発明のコンピュ
ータは、CPUなどの純然たるハードウェアに限らず、
ファームウェアやOS、さらに周辺機器を含むものであ
っても良い。
【0099】本発明は、上述した本発明の液晶表示基板
検査方法の全部または一部のステップ(または、工程、
動作、作用など)の動作をコンピュータにより実行させ
るためのプログラムであって、コンピュータと協働して
動作するプログラムである。
【0100】なお、本発明の一部の手段(または、装
置、素子、回路、部など)、本発明の一部のステップ
(または、工程、動作、作用など)は、それらの複数の
手段またはステップの内の幾つかの手段またはステップ
を意味する、あるいは一つの手段またはステップの内の
一部の機能または一部の動作を意味するものである。
【0101】また、本発明の一部の装置(または、素
子、回路、部など)は、それら複数の装置の内の幾つか
の装置を意味する、あるいは一つの装置の内の一部の手
段(または、素子、回路、部など)を意味する、あるい
は一つの手段の内の一部の機能を意味するものである。
【0102】また、本発明のプログラムを記録した、コ
ンピュータに読みとり可能な記録媒体も本発明に含まれ
る。また、本発明のプログラムの一利用形態は、コンピ
ュータにより読み取り可能な記録媒体に記録され、コン
ピュータと協働して動作する態様であっても良い。ま
た、本発明のプログラムの一利用形態は、伝送媒体中を
伝送し、コンピュータにより読みとられ、コンピュータ
と協働して動作する態様であっても良い。また、記録媒
体としては、ROM等が含まれ、伝送媒体としては、イ
ンターネット等の伝送媒体、光・電波・音波等が含まれ
る。
【0103】なお、本発明の構成は、ソフトウェア的に
実現しても良いし、ハードウェア的に実現しても良い。
【0104】かくして、デルタ配列であるかストライプ
配列であるかに関係なく、スイッチング素子の開閉に起
因する不良、スイッチング素子の特性的不良に起因する
不良、画素電位の保持特性のバラツキによる不良、各画
素構成および前記各配線等のパターンに起因する不良の
検査検出力を向上させた液晶表示装置の検査方法を実現
し、ゲート1ライン毎に黒、白、黒、白、…、または
白、黒、白、黒、…というフリッカー画面の表示を可能
とし、液晶表示装置完成前の検査にて、簡易的にフリッ
カーレベルを評価判断することも可能とし、かつ検査完
了後の各検査配線との接続を電気的にオープンにする作
業をなくし、生産性を向上させることができる。
【0105】つまり、本発明の液晶表示装置の検査方法
によれば、たとえば、奇数行のスイッチング素子のゲー
ト配線に検査用のスイッチング素子を介して接続した第
1ゲート側検査配線と、偶数行のスイッチング素子のゲ
ート配線に検査用のスイッチング素子を介して接続した
第2ゲート側検査配線と、ソース配線に検査用のスイッ
チング素子を介して接続した3本のソース側検査配線
と、対向電極に接続した対向電極側検査配線を設け、奇
数行の画素と偶数行の画素とを分離して駆動させること
により、画素配列がストライプ配列、デルタ配列に関係
なく、簡易画像検査が実現できる。また、画素電極の配
置がデルタ配列であるかストライプ配列であるかに関係
なく、スイッチング素子の開閉に起因する不良、および
スイッチング素子の特性的不良に関する不良、かつ画素
電位の保持特性のばらつきによる不良、各画素構成およ
び前記各配線等のパターンに起因する不良を検出するこ
とができ、液晶駆動回路形成時での駆動画面との相関性
を高めた検査をすることができる。
【0106】
【発明の効果】以上述べたところから明らかなように、
本発明は、たとえば、液晶表示装置の検査完了後に、各
検査配線との接続を電気的にオープンにするための切断
が不要になるという長所を有する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態における、画素電極1がス
トライプ配列に配置された液晶表示装置の平面図
【図2】本発明の実施の形態における白表示を行う場合
の検査のための駆動電位を示す波形図
【図3】本発明の実施の形態における黒表示を行う場合
の検査のための駆動電位を示す波形図
【図4】本発明の実施の形態における赤表示を行う場合
の検査のための駆動電位を示す波形図
【図5】本発明の実施の形態における緑表示を行う場合
の検査のための駆動電位を示す波形図
【図6】本発明の実施の形態における青表示を行う場合
の検査のための駆動電位を示す波形図
【図7】本発明の実施の形態における黒、白、黒、白、
…というフリッカー画面表示を行う場合の検査のための
駆動電位を示す波形図
【図8】本発明の実施の形態における白、黒、白、黒、
…というフリッカー画面表示を行う場合の検査のための
駆動電位を示す波形図
【図9】本発明の実施の形態における検査のための白表
示を行う場合の画素ごとの液晶電位を示す波形図
【図10】本発明の実施の形態における検査のための黒
表示を行う場合の画素ごとの液晶電位を示す波形図
【図11】本発明の実施の形態における検査のための赤
表示を行う場合の画素ごとの液晶電位を示す波形図
【図12】本発明の実施の形態における検査のための緑
表示を行う場合の画素ごとの液晶電位を示す波形図
【図13】本発明の実施の形態における検査のための青
表示を行う場合の画素ごとの液晶電位を示す波形図
【図14】本発明の実施の形態における検査のための
黒、白、黒、白、…というフリッカー画面表示を行う場
合の画素ごとの液晶電位を示す波形図
【図15】本発明の実施の形態における検査のための
白、黒、白、黒、…というフリッカー画面表示を行う場
合の画素ごとの液晶電位を示す波形図
【図16】本発明の実施の形態における検査装置の構成
【図17】画素電極をデルタ配列とした従来の液晶表示
装置の平面図
【図18】A−A’線(図17参照)に沿う断面図(図
18(a))、およびB−B’線(図17参照)に沿う
断面図(図18(b))
【図19】画素電極をストライプ配列とした従来の液晶
表示装置の平面図
【符号の説明】
1 画素電極 1r 赤画素電極 1g 緑画素電極 1b 青画素電極 2 ゲート配線 3 ソース配線 4 スイッチング素子 5 検査用スイッチング素子 6 ゲート駆動回路 7 ソース駆動回路 8 対向電極駆動回路 9 対向電極 10 液晶 C 対向電極側検査配線 G ゲート側検査配線 G0 検査配線 G1 第1ゲート側検査配線 G2 第2ゲート側検査配線 S1、S2、S3 ソース側検査配線 T 切断部 VG0、Vg1、Vg2、Vs1、Vs2、Vs3、V
c 駆動電位 V1r、V1g、V1b 液晶電位 Von+α 検査用スイッチング素子が電気的に導通さ
せるに十分な駆動電位Von、Voff スイッチング
素子が電気的に開閉させるに十分な駆動電位Vsc
Vs1、Vs2、Vs3における方形波のセンター電位 Vsc+β、Vsc−β Vs1、Vs2、Vs3にお
ける方形波のピーク電位 Vcc Vcにおける方形波のセンター電位 Vcc+γ、Vcc−γ Vcにおける方形波のピーク
電位 Τa スイッチング素子をオンとする期間 Τb 動作1の期間

Claims (21)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 複数列のソース配線と複数行のゲート配
    線との交差部に対応して配置された複数の画素電極と、 前記複数の画素電極に対向する対向電極と、 前記複数の画素電極と前記対向電極との間に狭持される
    複数の液晶素子と、 前記ソース配線に設けられた接続状態を切り替えるため
    のソース配線用スイッチ手段と、 前記ソース配線用スイッチ手段を介して前記ソース配線
    に接続されるソース配線用検査配線と、 前記ゲート配線に設けられた接続状態を切り替えるため
    のゲート配線用スイッチ手段と、 前記ゲート配線用スイッチ手段を介して前記ゲート配線
    に接続されるゲート配線用検査配線とを備え、 前記ソース配線用スイッチ手段および前記ゲート配線用
    スイッチ手段は、液晶表示基板の検査を行うときに、外
    部からの所定の作用に基づいて、前記接続状態のオン/
    オフ状態を切り替えられる液晶表示基板。
  2. 【請求項2】 前記ソース配線用スイッチ手段は、所定
    の電位の印加によってオン状態となる、各ソース配線ご
    とに設けられた複数の検査用スイッチング素子であり、 前記ゲート配線用スイッチ手段は、所定の電位の印加に
    よってオン状態となる、各ゲート配線ごとに設けられた
    複数の検査用スイッチング素子であり、 前記各ソース配線ごとに設けられた複数の検査用スイッ
    チング素子、および前記各ゲート配線ごとに設けられた
    複数の検査用スイッチング素子に連結された、前記所定
    の電位の印加を行うための検査配線を備え、 前記検査を行うときには、前記検査配線に対する前記所
    定の電位の印加が行われる請求項1記載の液晶表示基
    板。
  3. 【請求項3】 前記複数の画素電極の配置は、デルタ配
    列またはストライプ配列の何れかによって行われている
    請求項2記載の液晶表示基板。
  4. 【請求項4】 前記検査を行わないときには、前記検査
    配線に対する、前記各ソース配線ごとに設けられた複数
    の検査用スイッチング素子、および前記各ゲート配線ご
    とに設けられた複数の検査用スイッチング素子をオフ状
    態にするための電位の印加が行われる請求項2記載の液
    晶表示基板。
  5. 【請求項5】 請求項1から4の何れかに記載の液晶表
    示装置を用いた情報端末装置。
  6. 【請求項6】 複数列のソース配線と複数行のゲート配
    線との交差部に対応して配置された複数の液晶素子と、
    前記ソース配線に設けられた接続状態を切り替えるため
    のソース配線用スイッチ手段と、前記ソース配線用スイ
    ッチ手段を介して前記ソース配線に接続されるソース配
    線用検査配線と、前記ゲート配線に設けられた接続状態
    を切り替えるためのゲート配線用スイッチ手段と、前記
    ゲート配線用スイッチ手段を介して前記ゲート配線に接
    続されるゲート配線用検査配線とを備えた液晶表示基板
    に対する検査を行うための液晶表示基板検査装置であっ
    て、 前記ソース配線用スイッチ手段および前記ゲート配線用
    スイッチ手段の前記接続状態のオン/オフ状態の切替を
    制御するためのスイッチ制御手段を備えた液晶表示基板
    検査装置。
  7. 【請求項7】 前記ソース配線用スイッチ手段は、所定
    の電位の印加によってオン状態となる、各ソース配線ご
    とに設けられた複数の検査用スイッチング素子であり、 前記ゲート配線用スイッチ手段は、所定の電位の印加に
    よってオン状態となる、各ゲート配線ごとに設けられた
    複数の検査用スイッチング素子であり、 前記液晶表示基板は、前記各ソース配線ごとに設けられ
    た複数の検査用スイッチング素子、および前記各ゲート
    配線ごとに設けられた複数の検査用スイッチング素子に
    連結された、前記所定の電位の印加を行うための検査配
    線を備え、 前記スイッチ制御手段は、前記検査を行うときに、前記
    検査配線に対する前記所定の電位の印加を行うための電
    位印加回路である請求項6記載の液晶表示基板検査装
    置。
  8. 【請求項8】 複数列のソース配線と複数行のゲート配
    線との交差部に対応して配置された複数の液晶素子と、
    前記ソース配線に設けられた接続状態を切り替えるため
    のソース配線用スイッチ手段と、前記ソース配線用スイ
    ッチ手段を介して前記ソース配線に接続されるソース配
    線用検査配線と、前記ゲート配線に設けられた接続状態
    を切り替えるためのゲート配線用スイッチ手段と、前記
    ゲート配線用スイッチ手段を介して前記ゲート配線に接
    続されるゲート配線用検査配線とを備えた液晶表示基板
    に対する検査を行うための液晶表示基板検査方法であっ
    て、 (1)前記ソース配線用スイッチ手段の前記接続状態を
    オン状態に切り替え、(2)前記ゲート配線用スイッチ
    手段の前記接続状態をオン状態に切り替え、(3)前記
    ソース配線に対し前記ソース配線用検査配線から所定の
    ソース配線用検査信号の供給を行い、(4)前記ゲート
    配線に対し前記ゲート配線用検査配線から所定のゲート
    配線用検査信号の供給を行う液晶表示基板検査方法。
  9. 【請求項9】 前記ソース配線用スイッチ手段は、所定
    の電位の印加によってオン状態となる、各ソース配線ご
    とに設けられた複数の検査用スイッチング素子であり、 前記ゲート配線用スイッチ手段は、所定の電位の印加に
    よってオン状態となる、各ゲート配線ごとに設けられた
    複数の検査用スイッチング素子であり、 前記液晶表示基板は、前記各ソース配線ごとに設けられ
    た複数の検査用スイッチング素子、および前記各ゲート
    配線ごとに設けられた複数の検査用スイッチング素子に
    連結された、前記所定の電位の印加を行うための検査配
    線を備え、 前記検査を行うときには、前記検査配線に対する前記所
    定の電位の印加を行う請求項8記載の液晶表示基板検査
    方法。
  10. 【請求項10】 前記ゲート配線用検査配線は、前記複
    数行のゲート配線の内、(1)奇数行のゲート配線に接
    続される第1ゲート配線用検査配線、および(2)偶数
    行のゲート配線に接続される第2ゲート配線用検査配線
    であり、 前記供給される所定のゲート配線用検査信号は、(1)
    前記奇数行のゲート配線に対し前記第1ゲート配線用検
    査配線から供給される第1ゲート配線用検査信号、およ
    び(2)前記偶数行のゲート配線に対し前記第2ゲート
    配線用検査配線から供給される第2ゲート配線用検査信
    号であり、 前記複数の画素電極は、前記第1ゲート配線用検査信号
    または前記第2ゲート配線用検査信号によってオン/オ
    フ状態を切り替えられるスイッチング素子をそれぞれ介
    して、前記複数列のソース配線の内の所定のソース配線
    に接続されている請求項9記載の液晶表示基板検査方
    法。
  11. 【請求項11】 前記スイッチング素子をオン状態とす
    る期間は、(1)前記スイッチング素子をオン状態とす
    るための電位Vonを印加することにより、前記ゲート
    配線の電位が、前記スイッチング素子をオフ状態とする
    ための電位Voffから電位0.9×(Von―Vof
    f)+Voffとなるまでの第1の立ち上がり期間と、
    (2)前記所定のソース配線用検査信号の供給により、
    前記画素電極にデータを書き込むのに必要な期間と、
    (3)前記電位Voffを印加することにより、前記ゲ
    ート配線の電位が、前記電位Vonから電位0.9×
    (Voff―Von)+Vonとなるまでの第1の立ち
    下がり期間との和である期間S1以上であり、(1)前
    記電位Vonを印加することにより、前記ゲート配線の
    電位が、前記電位Voffから前記電位Vonとなるま
    での第2の立ち上がり期間と、(2)前記所定のソース
    配線用検査信号の供給により、前記画素電極にデータを
    書き込むのに必要な期間と、(3)前記電位Voffを
    印加することにより、前記ゲート配線の電位が、前記電
    位Vonから前記電位Voffとなるまでの第2の立ち
    下がり期間との和である期間S2未満である請求項10
    記載の液晶表示基板検査方法。
  12. 【請求項12】 前記第1ゲート配線用検査信号または
    前記第2ゲート配線用検査信号の内の、(1)何れか一
    方によってオン/オフ状態を切り替えられるスイッチン
    グ素子が、オン状態に切り替えられ、前記オン状態を継
    続させられた上でオフ状態に切り替えられ、(2)他方
    によってオン/オフ状態を切り替えられるスイッチング
    素子が、その後にオン状態に切り替えられるまでの期間
    は、前記オン状態を継続させられる期間の2倍以上の期
    間である請求項10記載の液晶表示基板検査方法。
  13. 【請求項13】 前記複数の画素電極の配置は、赤、
    緑、青の各色に対応した画素電極の、デルタ配列または
    ストライプ配列の何れかによって行われており、 前記第1ゲート配線用検査信号および前記第2ゲート配
    線用検査信号は、前記第1ゲート配線用検査信号によっ
    てオン/オフ状態を切り替えられるスイッチング素子と
    前記第2ゲート配線用検査信号によってオン/オフ状態
    を切り替えられるスイッチング素子とが交互にオン状態
    に切り替えられるように供給され、 前記ソース配線用検査信号は、前記第1ゲート配線用検
    査信号および前記第2ゲート配線用検査信号の供給に基
    づいて、赤、緑、青、黒、白の内の何れかの単色画面表
    示が行われるように供給される請求項10記載の液晶表
    示基板検査方法。
  14. 【請求項14】 前記複数の画素電極の配置は、赤、
    緑、青の各色に対応した画素電極の、デルタ配列または
    ストライプ配列の何れかによって行われており、 (1)前記第1ゲート配線用検査信号によってオン/オ
    フ状態を切り替えられるスイッチング素子を、オン状態
    に切り替え、前記オン状態を所定の期間において継続さ
    せた上でオフ状態に切り替え、前記第2ゲート配線用検
    査信号によってオン/オフ状態を切り替えられるスイッ
    チング素子を、前記所定の期間においてオフ状態とする
    動作1と、(2)前記第2ゲート配線用検査信号によっ
    てオン/オフ状態を切り替えられるスイッチング素子
    を、オン状態に切り替え、前記オン状態を前記所定の期
    間において継続させた上でオフ状態に切り替え、前記第
    1ゲート配線用検査信号によってオン/オフ状態を切り
    替えられるスイッチング素子を、前記所定の期間におい
    てオフ状態とする動作2と、(3)前記第1ゲート配線
    用検査信号によってオン/オフ状態を切り替えられるス
    イッチング素子および前記第2ゲート配線用検査信号に
    よってオン/オフ状態を切り替えられるスイッチング素
    子をともにオフ状態とする動作3を、動作1、動作2、
    動作3、動作2、動作1、動作3の順序で繰り返し、 前記ソース配線用検査信号を、前記順序での繰り返しに
    基づいて、赤、緑、青、黒、白の内の何れかの単色画面
    表示が行われるように供給する請求項10記載の液晶表
    示基板検査方法。
  15. 【請求項15】 前記ソース配線用検査信号は、黒色画
    面表示と白色画面表示とが交互に行われるように供給さ
    れ、 前記第1ゲート配線用検査信号および前記第2ゲート配
    線用検査信号は、前記ソース配線用検査信号の供給に基
    づいて、前記第1ゲート配線用検査信号または前記第2
    ゲート配線用検査信号の内の、(1)何れか一方によっ
    てオン/オフ状態を切り替えられるスイッチング素子が
    オン状態に切り替えられているときには、他方によって
    オン/オフ状態を切り替えられるスイッチング素子がオ
    フ状態に切り替えられ、(2)何れか一方によってオン
    /オフ状態を切り替えられるスイッチング素子がオフ状
    態に切り替えられているときには、他方によってオン/
    オフ状態を切り替えられるスイッチング素子がオン状態
    に切り替えられることにより、黒、白、黒、白、…、ま
    たは白、黒、白、黒、…というフリッカー画面表示が行
    われるように供給される請求項10記載の液晶表示基板
    検査方法。
  16. 【請求項16】 前記第1ゲート配線用検査信号および
    前記第2ゲート配線用検査信号は、実質上24Hz以上
    の周波数を有する請求項10記載の液晶表示基板検査方
    法。
  17. 【請求項17】 前記第1ゲート配線用検査信号または
    前記第2ゲート配線用検査信号によってオン/オフ状態
    を切り替えられるスイッチング素子が、オン状態に切り
    替えられ、前記オン状態を継続させられた上でオフ状態
    に切り替えられ、その後オン状態に切り替えられるまで
    の期間は、長短2種類あり、 前記長短2種類の期間の内の長い方の期間は、実質上4
    1.6ms以下である請求項10記載の液晶表示基板検
    査方法。
  18. 【請求項18】 前記第1ゲート配線用検査信号または
    前記第2ゲート配線用検査信号によってオン/オフ状態
    を切り替えられるスイッチング素子が、オン状態に切り
    替えられ、前記オン状態を継続させられた上でオフ状態
    に切り替えられ、その後オン状態に切り替えられるまで
    の期間は、長短2種類あり、 前記長短2種類の期間の内の長い方の期間は、前記液晶
    素子が前記オン状態の継続に基づく表示を継続する期間
    と実質上等しい請求項10記載の液晶表示基板検査方
    法。
  19. 【請求項19】 前記ゲート配線用検査信号の供給およ
    び前記ソース配線用検査信号の供給は、前記液晶表示基
    板における前記検査配線を含む配線の抵抗および容量を
    考慮して行われる請求項10記載の液晶表示基板検査方
    法。
  20. 【請求項20】 請求項6記載の液晶表示基板検査装置
    の、前記ソース配線用スイッチ手段および前記ゲート配
    線用スイッチ手段の前記接続状態のオン/オフ状態の切
    替を制御するためのスイッチ制御手段の全部または一部
    としてコンピュータを機能させるためのプログラム。
  21. 【請求項21】 請求項8記載の液晶表示の制御方法
    の、(1)前記ソース配線用スイッチ手段の前記接続状
    態をオン状態に切り替え、(2)前記ゲート配線用スイ
    ッチ手段の前記接続状態をオン状態に切り替え、(3)
    前記ソース配線に対し前記ソース配線用検査配線から所
    定のソース配線用検査信号の供給を行い、(4)前記ゲ
    ート配線に対し前記ゲート配線用検査配線から所定のゲ
    ート配線用検査信号の供給を行うステップの全部または
    一部をコンピュータに実行させるためのプログラム。
JP2001052809A 2001-02-27 2001-02-27 液晶表示基板検査方法 Expired - Fee Related JP4795548B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001052809A JP4795548B2 (ja) 2001-02-27 2001-02-27 液晶表示基板検査方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001052809A JP4795548B2 (ja) 2001-02-27 2001-02-27 液晶表示基板検査方法

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2002258231A true JP2002258231A (ja) 2002-09-11
JP2002258231A5 JP2002258231A5 (ja) 2008-04-03
JP4795548B2 JP4795548B2 (ja) 2011-10-19

Family

ID=18913383

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001052809A Expired - Fee Related JP4795548B2 (ja) 2001-02-27 2001-02-27 液晶表示基板検査方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4795548B2 (ja)

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007233391A (ja) * 2007-03-07 2007-09-13 Mitsubishi Electric Corp 画像表示装置
CN100449360C (zh) * 2006-04-11 2009-01-07 友达光电股份有限公司 激光断路的布线结构
JP2010181888A (ja) * 2010-02-26 2010-08-19 Mitsubishi Electric Corp 画像表示装置
KR101010182B1 (ko) * 2003-11-28 2011-01-20 엘지디스플레이 주식회사 검사회로를 구비한 액정표시소자
JP2011158707A (ja) * 2010-02-01 2011-08-18 Casio Computer Co Ltd アクティブマトリクス型表示パネル用基板とこれを用いた液晶表示パネル
CN102540508A (zh) * 2010-12-30 2012-07-04 上海天马微电子有限公司 液晶显示装置的线路检测结构及检测方法
CN103676232A (zh) * 2013-11-25 2014-03-26 深圳市华星光电技术有限公司 走线结构及该走线结构的断路修复方法、液晶面板
WO2015122365A1 (ja) * 2014-02-17 2015-08-20 凸版印刷株式会社 薄膜トランジスタアレイ装置、el装置、センサ装置、薄膜トランジスタアレイ装置の駆動方法、el装置の駆動方法、および、センサ装置の駆動方法

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106531039B (zh) * 2016-12-23 2019-07-16 深圳市华星光电技术有限公司 显示装置及其纯色画面检测方法

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11338376A (ja) * 1998-03-27 1999-12-10 Sharp Corp アクティブマトリクス型液晶表示パネル及びその検査方法
JP2000155302A (ja) * 1998-11-24 2000-06-06 Matsushita Electric Ind Co Ltd 液晶表示装置の検査方法およびその検査装置
JP2001033813A (ja) * 1999-07-16 2001-02-09 Matsushita Electric Ind Co Ltd 液晶表示装置の検査方法

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11338376A (ja) * 1998-03-27 1999-12-10 Sharp Corp アクティブマトリクス型液晶表示パネル及びその検査方法
JP2000155302A (ja) * 1998-11-24 2000-06-06 Matsushita Electric Ind Co Ltd 液晶表示装置の検査方法およびその検査装置
JP2001033813A (ja) * 1999-07-16 2001-02-09 Matsushita Electric Ind Co Ltd 液晶表示装置の検査方法

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101010182B1 (ko) * 2003-11-28 2011-01-20 엘지디스플레이 주식회사 검사회로를 구비한 액정표시소자
CN100449360C (zh) * 2006-04-11 2009-01-07 友达光电股份有限公司 激光断路的布线结构
JP2007233391A (ja) * 2007-03-07 2007-09-13 Mitsubishi Electric Corp 画像表示装置
JP4570633B2 (ja) * 2007-03-07 2010-10-27 三菱電機株式会社 画像表示装置
JP2011158707A (ja) * 2010-02-01 2011-08-18 Casio Computer Co Ltd アクティブマトリクス型表示パネル用基板とこれを用いた液晶表示パネル
JP2010181888A (ja) * 2010-02-26 2010-08-19 Mitsubishi Electric Corp 画像表示装置
CN102540508A (zh) * 2010-12-30 2012-07-04 上海天马微电子有限公司 液晶显示装置的线路检测结构及检测方法
CN102540508B (zh) * 2010-12-30 2015-02-04 上海天马微电子有限公司 液晶显示装置的线路检测结构及检测方法
CN103676232A (zh) * 2013-11-25 2014-03-26 深圳市华星光电技术有限公司 走线结构及该走线结构的断路修复方法、液晶面板
WO2015074302A1 (zh) * 2013-11-25 2015-05-28 深圳市华星光电技术有限公司 走线结构及该走线结构的断路修复方法、液晶面板
WO2015122365A1 (ja) * 2014-02-17 2015-08-20 凸版印刷株式会社 薄膜トランジスタアレイ装置、el装置、センサ装置、薄膜トランジスタアレイ装置の駆動方法、el装置の駆動方法、および、センサ装置の駆動方法
CN105981093A (zh) * 2014-02-17 2016-09-28 凸版印刷株式会社 薄膜晶体管阵列装置、el装置、传感器装置、薄膜晶体管阵列装置的驱动方法、el装置的驱动方法以及传感器装置的驱动方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP4795548B2 (ja) 2011-10-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US9389245B2 (en) Switch control unit, test apparatus and method for liquid crystal cell
JP4006304B2 (ja) 画像表示装置
WO2017041480A1 (zh) 显示基板及其测试方法、显示装置
EP0875879A1 (en) Liquid crystal display device and method for driving the same with driving of both ends of display electrodes
JP3190238B2 (ja) アクティブマトリクス液晶パネルの欠陥検出方法
KR0125465B1 (ko) 활성 매트릭스 기판용 검사장치 및 방법과 결함 수정방법
JP4795548B2 (ja) 液晶表示基板検査方法
JPH01130131A (ja) ドライバー内蔵アクティブマトリクスパネル
JP2003157053A (ja) 液晶表示装置およびその検査方法およびその検査装置
JP4128677B2 (ja) 液晶表示装置の検査方法
JP4637868B2 (ja) 画像表示装置
JP3177702B2 (ja) 液晶表示装置の検査方法
JP3290602B2 (ja) 液晶表示装置の検査方法および液晶表示装置
JP3492203B2 (ja) 液晶表示装置
JP2001033813A (ja) 液晶表示装置の検査方法
JP3302623B2 (ja) アクティブマトリックス型液晶パネルの検査方法
JPH11149092A (ja) 液晶表示装置及びその検査方法
JP3428317B2 (ja) 液晶パネルの検査方法
JP3898037B2 (ja) 液晶表示パネルの点灯表示検査方法及び点灯表示検査装置
JP2008241561A (ja) マトリクス表示装置の検査方法
JP2002107688A (ja) 液晶表示パネルの検査装置及び検査方法
JPH05313196A (ja) アクティブマトリクス型表示装置
JP2001042288A (ja) 表示装置およびその駆動方法ならびに表示装置の検査方法
JP2006209027A (ja) 液晶パネルの検査方法
JP2002023194A (ja) アクティブマトリクス液晶パネルの欠陥検出方法

Legal Events

Date Code Title Description
A711 Notification of change in applicant

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711

Effective date: 20061207

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20080214

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20080214

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20110223

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110301

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110421

RD02 Notification of acceptance of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422

Effective date: 20110421

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20110705

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20110728

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140805

Year of fee payment: 3

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140805

Year of fee payment: 3

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees