CN102213739B - 线路检测结构和线路检测方法 - Google Patents
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Abstract
一种平板显示装置的线路检测结构和线路检测方法，其中所述线路检测结构包括：第一驱动线检测结构，包括第一驱动线短路棒和第一驱动线测试端子；第二驱动线检测结构，包括第一驱动控制线、第一驱动线控制开关、第一驱动线控制端子、第二驱动线短路棒和第二驱动线测试端子。与现有技术相比，本发明通过增加的第二驱动线检测结构，在判定驱动线存在线缺陷基础上确定所述线缺陷的类型，以解决现有线路修复技术中不能判定线缺陷的类型而直接将存在线缺陷的产品报废导致材料浪费成本上升的问题。
Description
技术领域
本发明涉及平板显示技术，特别涉及平板显示装置的线路检测结构和线路检测方法。
背景技术
随着显示器技术快速的进步与演进，传统的阴极射线管显示器(CathodeRay Tube，CRT)已逐渐被淘汰，取而代之的是以液晶显示器(Liquid CrystalDisplay，LCD)为代表的平板电视。由于液晶显示器具有显示质量高、能源消耗低及无辐射等优点，使得液晶显示器大量地被应用于移动电话、个人数字助理(PDA)、笔记本计算机、数码摄影机、数码相机、计算机屏幕以及液晶电视等通信、信息或消费性电子产品之中。
液晶显示装置具有由矩阵状的显示像素构成的有效显示部分。所述有效显示部分具有沿显示像素的行方向延伸的扫描线、沿显示像素的列方向延伸的数据线、配置在扫描线与数据线的交叉部分附近的开关元件、以及与开关元件连接的像素电极等。但是在制造液晶显示装置的工艺过程中，大量设置的扫描线和数据线总会因为一些生产缺陷，例如成膜质量的好坏、环境的洁净度、划伤、设备等，造成线路断点。例如，若数据线出现断点缺陷，则与所述断点的数据线相对应的像素电极就不能得到正常的数据信号，从而形成显示面板的显示缺陷，降低图像的显示品质。因此，液晶面板厂商会对液晶显示装置的半成品或成品进行电性检测，检出其中的不良品，防止大规模不良的发生以及不良品流入下一工序。
请参阅图1，显示现有技术中常见的一种线路检测结构。如图1所示，所述线路检测结构应用于液晶显示装置的阵列基板上，在所述阵列基板上至少包括：沿显示像素的行方向延伸的扫描线(未在图式中显示)；沿显示像素的列方向延伸的数据线，在图1中分别以D1、D2、D3、D4、D5、D6作标示。
所述线路检测结构包括：短路棒，在图1中分别以101、102、103作标示的短路棒；提供数据线与短路棒连接的过孔结构，具体来讲，数据线D1、D4分别通过过孔结构V1、V4与短路棒101连接，数据线D2、D5分别通过过孔结构V2、V5与短路棒102连接，数据线D3、D6分别通过过孔结构V3、V6与短路棒103连接；分别与短路棒101、102、103连接的测试端子104、105、106。
应用所述线路检测结构时，通过在测试端子104、105、106上施加特定电压信号，让液晶显示装置显示例如红色、绿色、蓝色、灰色或黑色等画面，以检测各数据线是否能正常工作。
易知，在制造工艺过程中，由于静电过大，会将过孔结构处的导电介质(铟锡金属氧化物或铟锌金属氧化物)烧毁；或者由于线路的划伤，如图1所示数据线D2在外围区域109的108处出现断点，就会出现不良现象。两者引起的缺陷在这里统称为线缺陷。但利用现有的线路检测结构仅能检测是否存在有线缺陷，但不能判定所述线缺陷的原因是过孔结构损坏导致还是线路划伤导致的。为确保产品质量，一旦检测出线缺陷，就将产品予以报废(而实际上过孔结构损坏导致的线缺陷，产品没有必要报废，最终不影响产品的性能)，这样就会造成浪费。
发明内容
本发明的目的是提供一种线路检测结构和线路检测方法，以解决现有线路修复技术中不能判定线缺陷的类型而直接将存在线缺陷的产品报废导致材料浪费成本上升的问题。
为解决上述问题，本发明提供一种平板显示装置的线路检测结构，所述平板显示装置包括阵列基板，在所述阵列基板上部设有驱动线，所述线路检测结构包括：第一驱动线检测结构，用于检测所述驱动线是否存在线缺陷，包括第一驱动线短路棒和第一驱动线测试端子；所述第一驱动线短路棒与所述驱动线交叉排列，并通过过孔结构与所述驱动线连接；所述第一驱动线测试端子与所述第一驱动线短路棒连接，提供测试信号至驱动线；第二驱动线检测结构，用于确定驱动线存在的线缺陷的类型，包括第一驱动控制线、第一驱动线控制开关、第一驱动线控制端子、第二驱动线短路棒和第二驱动线测试端子；所述第一驱动控制线与所述第一驱动线控制开关和所述第一驱动线控制端子相连接；所述第一驱动线控制端子通过所述第一驱动控制线提供控制信号至所述第一驱动线控制开关，所述第一驱动线控制开关用于控制驱动线与第二驱动线短路棒的通断；所述第二驱动线测试端子与所述第二驱动线短路棒连接，提供测试信号至驱动线。
可选地，所述线路检测结构还包括：驱动线断开结构，包括第二驱动控制线、第二驱动线控制端子和第二驱动线控制开关，所述第二驱动控制线与所述第二驱动线控制端子和所述第二驱动线控制开关相连接，所述第二驱动线控制端子通过所述第二驱动控制线提供控制信号至所述第二驱动线控制开关，所述第二驱动线控制开关控制所述驱动线与所述第一驱动线检测结构和/或第二驱动线检测结构的通断。
可选地，所述第一驱动线短路棒的数量为一个或多个。
可选地，所述过孔结构包括过孔和位于所述过孔内的导电介质，所述过孔贯穿第一驱动线短路棒和驱动线。
可选地，所述导电介质包括铟锡金属氧化物或铟锌金属氧化物。
可选地，所述第一驱动线控制开关和第二驱动线控制开关包括薄膜晶体管。
可选地，所述驱动线存在的线缺陷的类型包括过孔结构损坏导致的线缺陷和线路划伤导致的线缺陷。
可选地，所述驱动线为扫描线或数据线。
本发明另提供一种应用于前述线路检测结构的线路检测方法，所述线路检测方法包括：在第二驱动线检测结构的第一驱动线控制端子上施加用于断开的控制信号，使得第二驱动线检测结构中与连接控制线相连的第一驱动线控制开关断开；在第一驱动线检测结构的第一驱动线测试端子上施加测试信号，用于判定与第一驱动线检测结构对应的驱动线是否存在有线缺陷；在第二驱动线检测结构的第一驱动线控制端子上施加用于导通的控制信号，使得第二驱动线检测结构中与第一驱动控制线相连的第一驱动线控制开关导通；在第二驱动线检测结构的第二驱动线测试端子上施加测试信号，用于判定与第二驱动线检测结构对应的驱动线存在的线缺陷的类型。
可选地，所述用于断开的控制信号为低电压信号，所述用于导通的控制信号为高电压信号。
可选地，所述驱动线存在的线缺陷的类型包括过孔结构损坏导致的线缺陷和线路划伤导致的线缺陷。
可选地，所述驱动线为扫描线或数据线。
本发明再提供一种平板显示装置的线路检测结构，所述平板显示装置包括阵列基板，在所述阵列基板上具有交叉排列的扫描线和数据线，所述线路检测结构包括：第一扫描线检测结构，用于检测所述扫描线是否存在线缺陷，包括第一扫描线短路棒和第一扫描线测试端子；所述第一扫描线短路棒与所述扫描线交叉排列，并通过过孔结构与所述扫描线连接；所述第一扫描线测试端子与所述第一扫描线短路棒连接，提供测试信号至扫描线；第一数据线检测结构，用于检测所述数据线是否存在线缺陷，包括第一数据线短路棒和第一数据线测试端子；所述第一数据线短路棒与所述数据线交叉排列，并通过过孔结构与所述数据线连接；所述第一数据线测试端子与所述第一数据线短路棒连接，提供测试信号至数据线；第二扫描线检测结构，用于确定扫描线存在的线缺陷的类型，包括第一扫描控制线、第一扫描线控制开关、第一扫描线控制端子、第二扫描线短路棒和第二扫描线测试端子；所述第一扫描控制线与所述第一扫描线控制开关和所述第一扫描线控制端子相连接；所述第一扫描线控制端子通过所述第一扫描控制线提供控制信号至所述第一扫描线控制开关，所述第一扫描线控制开关用于控制扫描线与第二扫描线短路棒的通断；所述第二扫描线测试端子与所述第二扫描线短路棒连接，提供测试信号至扫描线；第二数据线检测结构，用于确定数据线存在的线缺陷的类型，包括第一数据控制线、第一数据线控制开关、第一数据线控制端子、第二数据线短路棒和第二数据线测试端子；所述第一数据控制线与所述第一数据线控制开关和所述第一数据线控制端子相连接；所述第一数据线控制端子通过所述第一数据控制线提供控制信号至所述第一数据线控制开关，所述第一数据线控制开关用于控制数据线与第二数据线短路棒的通断；所述第二数据线测试端子与所述第二数据线短路棒连接，提供测试信号至数据线。
可选地，所述线路检测结构还包括：扫描线断开结构，包括第二扫描控制线、第二扫描线控制端子和第二扫描线控制开关，所述第二扫描控制线与所述第二扫描线控制端子和所述第二扫描线控制开关相连接，所述第二扫描线控制端子通过所述第二扫描控制线提供控制信号至所述第二扫描线控制开关，所述第二扫描线控制开关控制所述扫描线与所述第一扫描线检测结构和/或第二扫描线检测结构的通断；数据线断开结构，包括第二数据控制线、第二数据线控制端子和第二数据线控制开关，所述第二数据控制线与所述第二数据线控制端子和所述第二数据线控制开关相连接，所述第二数据线控制端子通过所述第二数据控制线提供控制信号至所述第二数据线控制开关，所述第二数据线控制开关控制所述数据线与所述第一数据线检测结构和/或第二数据线检测结构的通断。
本发明还提供一种应用于前述线路检测结构的线路检测方法，所述线路检测方法包括扫描线检测方法和/或数据线检测方法；所述扫描线检测方法包括：在第二扫描线检测结构的第一扫描线控制端子上施加用于断开的控制信号，使得第二扫描线检测结构中与第一扫描控制线相连的第一扫描线控制开关断开；在第一扫描线检测结构的第一扫描线测试端子上施加测试信号，用于判定与第一扫描线检测结构对应的扫描线是否存在有线缺陷；在第二扫描线检测结构的第一扫描线控制端子上施加用于导通的控制信号，使得第二扫描线检测结构中与第一扫描控制线相连的第一扫描线控制开关导通；在第二扫描线检测结构的第二扫描线测试端子上施加测试信号，用于判定与第二扫描线检测结构对应的扫描线存在的线缺陷的类型；所述数据线检测方法包括：在第二数据线检测结构的第一数据线控制端子上施加用于断开的控制信号，使得第二数据线检测结构中与第一数据控制线相连的第一数据线控制开关断开；在第一数据线检测结构的第一数据线测试端子上施加测试信号，用于判定与第一数据线检测结构对应的数据线是否存在有线缺陷；在第二数据线检测结构的第一数据线控制端子上施加用于导通的控制信号，使得第二数据线检测结构中与第一数据控制线相连的第一数据线控制开关导通；在第二数据线检测结构的第二数据线测试端子上施加测试信号，用于判定与第二数据线检测结构对应的数据线存在的线缺陷的类型。
可选地，所述用于断开的控制信号为低电压信号，所述用于导通的控制信号为高电压信号。
与现有技术相比，本发明的线路检测结构和线路检测方法能够判定驱动线出现的线缺陷的类型，解决了现有技术中不能判定线缺陷的类型而直接将存在线缺陷的产品报废导致材料浪费成本上升的问题。
附图说明
图1为现有技术中一种线路检测结构的布局示意图；
图2为本发明液晶显示装置在第一实施方式中的线路检测结构的布局示意图；
图3为应用于图2的第一实施方式中线路检测结构的线路检测方法的流程示意图；
图4为应用于图2的第一实施方式中线路检测结构的线路检测方法的一个检测实例；
图5为本发明液晶显示装置在第二实施方式中的线路检测结构的布局示意图；
图6为应用于图5的第二实施方式中线路检测结构的线路检测方法的流程示意图；
图7为应用于图5的第二实施方式中线路检测结构的线路检测方法的一个检测实例。
具体实施方式
本发明的发明人发现，在现有应用于平板显示装置的线路修复电路中，采用的多是简单的短路棒结构，所述短路棒结构在检测扫描线或数据线的线缺陷上受到一定的限制，例如只能检测出扫描线和/或数据线是否存在线缺陷，但却不能确定所述线缺陷的类型到底是过孔结构损坏导致的还是线路划伤导致的，致使一旦出现线缺陷就将产品予以报废，材料浪费现象严重，造成生产成本的上升。
在对本发明的技术内容进行详细描述之前，需要说明的是，在以下各实施方式中，所述平板显示装置是以薄膜晶体管液晶显示装置(TFT-LCD)为例进行说明的，但并不限于薄膜晶体管液晶显示装置。
第一实施方式：
本发明的线路检测结构形成于阵列基板上，所述线路检测结构包括：第一驱动线检测结构，用于检测所述驱动线是否存在线缺陷，包括第一驱动线短路棒和第一驱动线测试端子；所述第一驱动线短路棒与所述驱动线交叉排列，并通过过孔结构与所述驱动线连接；所述第一驱动线测试端子与所述第一驱动线短路棒连接，提供测试信号至驱动线；第二驱动线检测结构，用于确定驱动线存在的线缺陷的类型，包括第一驱动控制线、第一驱动线控制开关、第一驱动线控制端子、第二驱动线短路棒和第二驱动线测试端子；所述第一驱动控制线与所述第一驱动线控制开关和所述第一驱动线控制端子相连接；所述第一驱动线控制端子通过所述第一驱动控制线提供控制信号至所述第一驱动线控制开关，所述第一驱动线控制开关用于控制驱动线与第二驱动线短路棒的通断；所述第二驱动线测试端子与所述第二驱动线短路棒连接，提供测试信号至驱动线。
在前述线路检测结构中，所述驱动线可以为扫描线或数据线。
另外，为使得能同时应用于扫描线或数据线，本发明另提供一种线路检测结构，包括：第一扫描线检测结构，用于检测所述扫描线是否存在线缺陷，包括第一扫描线短路棒和第一扫描线测试端子；所述第一扫描线短路棒与所述扫描线交叉排列，并通过过孔结构与所述扫描线连接；所述第一扫描线测试端子与所述第一扫描线短路棒连接，提供测试信号至扫描线；第一数据线检测结构，用于检测所述数据线是否存在线缺陷，包括第一数据线短路棒和第一数据线测试端子；所述第一数据线短路棒与所述数据线交叉排列，并通过过孔结构与所述数据线连接；所述第一数据线测试端子与所述第一数据线短路棒连接，提供测试信号至数据线；第二扫描线检测结构，用于确定扫描线存在的线缺陷的类型，包括第一扫描控制线、第一扫描线控制开关、第一扫描线控制端子、第二扫描线短路棒和第二扫描线测试端子；所述第一扫描控制线与所述第一扫描线控制开关和所述第一扫描线控制端子相连接；所述第一扫描线控制端子通过所述第一扫描控制线提供控制信号至所述第一扫描线控制开关，所述第一扫描线控制开关用于控制扫描线与第二扫描线短路棒的通断；所述第二扫描线测试端子与所述第二扫描线短路棒连接，提供测试信号至扫描线；第二数据线检测结构，用于确定数据线存在的线缺陷的类型，包括第一数据控制线、第一数据线控制开关、第一数据线控制端子、第二数据线短路棒和第二数据线测试端子；所述第一数据控制线与所述第一数据线控制开关和所述第一数据线控制端子相连接；所述第一数据线控制端子通过所述第一数据控制线提供控制信号至所述第一数据线控制开关，所述第一数据线控制开关用于控制数据线与第二数据线短路棒的通断；所述第二数据线测试端子与所述第二数据线短路棒连接，提供测试信号至数据线。
图2示出了本发明液晶显示装置的线路检测结构在一个实施方式中的布局示意图。需说明的是，为叙述方便，在这里，我们是以检测作为驱动线的数据线的线缺陷为例进行说明的，但并不限于此，在其他实施方式中，也可以应用于扫描线的线缺陷检测或者同时应用于数据线和扫描线的线缺陷检测。
如图2所示，所述线路检测结构应用于液晶显示装置的阵列基板上，在所述阵列基板上包括：多条数据线D1、D2、D3、D4、D5、D6、......、D3n-2、D3n-1、D3n(n为自然数)；第一数据线检测结构，包括：与数据线D1、D2、D3、D4、D5、D6、......、D3n-2、D3n-1、D3n交叉排列的第一数据线短路棒101、102、103；分别与第一数据线短路棒101、102、103连接的第一数据线测试端子104、105、106；第二数据线检测结构，包括：第一数据控制线112，分别与数据线D1、D2、D3、D4、D5、D6、......、D3n-2、D3n-1、D3n相连的第一数据线控制开关S1、S2、S3、S4、S5、S6、......、S3n-2、S3n-1、S3n(n为自然数)；与第一数据线控制开关S1、S2、S3、S4、S5、S6、......、S3n-2、S3n-1、S3n相连的第二数据线短路棒111；与第一数据控制线112连接的第一数据线控制端子110；以及与第二数据线短路棒111连接的第二数据线测试端子113。
其中，数据线D1、D2、D3、D4、D5、D6、......、D3n-2、D3n-1、D3n与所述第一数据线检测结构中的第一数据线短路棒101、102、103位于不同布线层，两者通过过孔结构V1、V2、V3、V4、V5、V6、......、V3n-2、V3n-1、V3n(n为自然数)实现电性连接，其中，数据线D1、D4、......、D3n-2通过过孔结构V1、V4、......、V3n-2与第一数据线短路棒101连接，数据线D2、D5、......、D3n-1通过过孔结构V2、V5、......、V3n-1与第一数据线短路棒102连接，数据线D3、D6、......、D3n通过过孔结构V3、V6、......、V3n与第一数据线短路棒103连接。数据线D1、D2、D3、D4、D5、D6、......、D3n-2、D3n-1、D3n和第一数据线短路棒101、102、103采用的材料可以为铜、铝、钕(Nd)或钼中的一种或多种的组合合金。过孔结构V1、V2、V3、V4、V5、V6、......、V3n-2、V3n-1、V3n包括贯穿数据线和第一数据线短路棒的过孔和位于所述过孔内的导电介质，所述导电介质可以是铟锡金属氧化物(Indium Tin Oxides，ITO)或铟锌金属氧化物(Indium Zinc Oxide，IZO)。第二数据线检测结构中的第二数据线短路棒111与数据线D1、D2、D3、D4、D5、D6、......、D3n-2、D3n-1、D3n位于同一布线层。第二数据线短路棒111和第一数据控制线112采用的材料可以为铜、铝、钕(Nd)或钼中的一种或多种的组合合金。第一数据控制线112上的第一数据线控制开关S1、S2、S3、S4、S5、S6、......、S3n-2、S3n-1、S3n为薄膜晶体管，在导通的情况下，使得第二数据线短路棒111与数据线D1、D2、D3、D4、D5、D6、......、D3n-2、D3n-1、D3n电性连接。
在图2中，通过包括第一数据线短路棒101、102、103以及第一数据线测试端子104、105、106所构成的第一数据线检测结构，能够检测所述液晶显示装置中各数据线是否存在线缺陷。通过由具有与第一数据线控制开关S1、S2、S3、S4、S5、S6、......、S3n-2、S3n-1、S3n相连的第一数据控制线112、第一数据线控制端子110、第二数据线短路棒111以及第二数据线测试端子113所构成的第二数据线检测结构，能够进一步检测出针对数据线出现的线缺陷的类型，以供后续可以根据所述线缺陷的类型有针对性地采取相应的措施。
图3示出了应用于图2的线路检测结构的线路检测方法在一个实施例中的流程示意图。需说明的是，为叙述方便，在这里，我们是以检测数据线的线缺陷为例进行说明的，但并不限于此，例如也可以应用于扫描线的线缺陷检测或者同时应用于数据线和扫描线的线缺陷检测。
如图3所示，所述线路检测方法包括：
步骤S100，在第二数据线检测结构的第一数据线控制端子上施加用于断开的控制信号，使得第二数据线检测结构中与第一数据控制线相连的第一数据线控制开关断开，第二数据线短路棒与数据线电性断开；
步骤S101，在第一数据线检测结构的第一数据线测试端子上施加测试信号，观察所述各数据线的显示效果；
步骤S102，根据显示效果，判定与第一数据线检测结构对应的数据线是否存在有线缺陷；
若判定没有线缺陷，则结束所述线路检测，将产品进入下一工艺；
若判定存在有线缺陷，则进行步骤S103，在第二数据线检测结构的第一数据线控制端子上施加用于导通的控制信号，使得第二数据线检测结构中与第一数据控制线相连的第一数据线控制开关导通，第二数据线短路棒与数据线电性连接；
步骤S104，在第二数据线检测结构的第二数据线测试端子上施加测试信号，观察所述各数据线的显示效果；
步骤S105，根据显示效果，判定所述显示效果中是否还存在有缺陷；
步骤S106，若显示画面中仍存在有缺陷，则可判定所述线缺陷的类型为线路划伤导致的线缺陷；
步骤S107，若显示画面中没有缺陷，则可判定所述线缺陷的类型为过孔结构损坏导致的线缺陷。
以下针对数据线产生的线缺陷的各种不同类型进行详细叙述。
在实际应用中，位于外围区域的导电线很容易被物理划伤，在本实施方式中，现以数据线D3产生断线缺陷(如图4所示，数据线D3产生断线缺陷的断线位置118)为例进行说明。具体地，线路检测方法包括：首先，在第一数据线控制端子110上施加低电压，使得与第一数据控制线112相连接的第一数据线控制开关S1、S2、S3、S4、S5、S6、......、S3n-2、S3n-1、S3n处于断开状态(即第二数据线短路棒111与数据线D1、D2、D3、D4、D5、D6......D3n-2、D3n-1、D3n处于断开)；并且，在第一数据线测试端子104、105、106上施加特定电压，得以让与第一数据线短路棒101、102、103连接的各数据线D1、D2、D3、D4、D5、D6、......、D3n-2、D3n-1、D3n根据所述特定电压显示对应的色彩画面(例如红色、蓝色、绿色、灰色、黑色等画面)。然后，观察所述液晶显示装置所显示的画面效果，可以判定出数据线D3存在有线缺陷。接着，在第一数据线控制端子110上施加高电压，使得与第一数据控制线112相连接的第一数据线控制开关S1、S2、S3、S4、S5、S6、......、S3n-2、S3n-1、S3n处于导通状态(即第二数据线短路棒111与数据线D1、D2、D3、D4、D5、D6、......、D3n-2、D3n-1、D3n电性连接)；并且，在第二数据线测试端子113上施加特定电压，得以让与第二数据线短路棒111连接的各数据线D1、D2、D3、D4、D5、D6、......、D3n-2、D3n-1、D3n根据所述特定电压显示对应的色彩画面(例如黑色画面)。最后，观察所述液晶显示装置所显示的画面，对应数据线D3处仍存在有线缺陷，因此可判定数据线D3存在的线缺陷的类型为线路划伤导致的线缺陷。在后续工艺中，可以通过例如线路修复方法修复数据线D3的线缺陷。
另外，在另一实施例中，现以数据线D3与第一数据线短路棒相交的过孔结构V3损坏为例进行说明。具体地，线路检测方法包括：首先，在第一数据线控制端子110上施加低电压，使得与第一数据控制线112相连接的第一数据线控制开关S1、S2、S3、S4、S5、S6、......、S3n-2、S3n-1、S3n处于断开状态(即第二数据线短路棒111与数据线D1、D2、D3、D4、D5、D6、......、D3n-2、D3n-1、D3n处于断开)；并且，在第一数据线测试端子104、105、106上施加特定电压，得以让与第一数据线短路棒101、102、103连接的各数据线D1、D2、D3、D4、D5、D6、......、D3n-2、D3n-1、D3n根据所述特定电压显示对应的色彩画面(例如红色、蓝色、绿色、灰色、黑色等画面)。然后，观察所述液晶显示装置所显示的画面效果，可以判定出数据线D3存在有线缺陷。接着，在第一数据线控制端子110上施加高电压，使得与第一数据控制线112上相连接第一数据线控制开关S1、S2、S3、S4、S5、S6、......、S3n-2、S3n-1、S3n处于导通状态(即第二数据线短路棒111与数据线D1、D2、D3、D4、D5、D6、......、D3n-2、D3n-1、D3n电性连接)；并且，在第二数据线测试端子113上施加特定电压，得以让与第二数据线短路棒111连接的各数据线D1、D2、D3、D4、D5、D6、......、D3n-2、D3n-1、D3n根据所述特定电压显示对应的色彩(例如黑色画面)。最后，观察所述液晶显示装置所显示的画面，对应数据线D3处没有线缺陷，因此可判定数据线D3存在的线缺陷的类型为过孔结构V3损坏导致的线缺陷。
第二实施方式：
本发明的线路检测结构形成于阵列基板上，所述线路检测结构包括第一驱动线检测结构、第二驱动线检测结构、驱动线断开结构。
第一驱动线检测结构，用于检测所述驱动线是否存在线缺陷，包括第一驱动线短路棒和第一驱动线测试端子；所述第一驱动线短路棒与所述驱动线交叉排列，并通过过孔结构与所述驱动线连接；所述第一驱动线测试端子与所述第一驱动线短路棒连接，提供测试信号至驱动线；
第二驱动线检测结构，用于确定驱动线存在的线缺陷的类型，包括第一驱动控制线、第一驱动线控制开关、第一驱动线控制端子、第二驱动线短路棒和第二驱动线测试端子；所述第一驱动控制线与所述第一驱动线控制开关和所述第一驱动线控制端子相连接；所述第一驱动线控制端子通过所述第一驱动控制线提供控制信号至所述第一驱动线控制开关，所述第一驱动线控制开关用于控制驱动线与第二驱动线短路棒的通断；所述第二驱动线测试端子与所述第二驱动线短路棒连接，提供测试信号至驱动线。
驱动线断开结构，包括第二驱动控制线、第二驱动线控制端子和第二驱动线控制开关，所述第二驱动控制线与所述第二驱动线控制端子和所述第二驱动线控制开关相连接，所述第二驱动线控制端子通过所述第二驱动控制线提供控制信号至所述第二驱动线控制开关，所述第二驱动线控制开关控制所述驱动线与所述第一驱动线检测结构和/或第二驱动线检测结构的通断。
在前述线路检测结构中，所述驱动线可以为扫描线或数据线。
另外，为使得能同时对扫描线或数据线进行线路检测，本发明另提供一种线路检测结构，包括：
第一扫描线检测结构，用于检测所述扫描线是否存在线缺陷，包括第一扫描线短路棒和第一测试端子；所述第一扫描线短路棒与所述扫描线交叉排列，并通过过孔结构与所述扫描线连接；所述第一测试端子与所述第一扫描线短路棒连接，提供测试信号至扫描线；
第一数据线检测结构，用于检测所述数据线是否存在线缺陷，包括第一数据线短路棒和第一测试端子；所述第一数据线短路棒与所述数据线交叉排列，并通过过孔结构与所述数据线连接；所述第一测试端子与所述第一数据线短路棒连接，提供测试信号至数据线；
第二扫描线检测结构，用于确定扫描线存在的线缺陷的类型，包括第一扫描控制线、第一扫描线控制开关、第一扫描线控制端子、第二扫描线短路棒和第二扫描线测试端子；所述第一扫描控制线与所述第一扫描线控制开关和所述第一扫描线控制端子相连接；所述第一扫描线控制端子通过所述第一扫描控制线提供控制信号至所述第一扫描线控制开关，所述第一扫描线控制开关用于控制扫描线与第二扫描线短路棒的通断；所述第二扫描线测试端子与所述第二扫描线短路棒连接，提供测试信号至扫描线；
第二数据线检测结构，用于确定数据线存在的线缺陷的类型，包括第一数据控制线、第一数据线控制开关、第一数据线控制端子、第二数据线短路棒和第二数据线测试端子；所述第一数据控制线与所述第一数据线控制开关和所述第一数据线控制端子相连接；所述第一数据线控制端子通过所述第一数据控制线提供控制信号至所述第一数据线控制开关，所述第一数据线控制开关与所述数据线和第二数据线短路棒连接，控制数据线与第二数据线短路棒的通断；所述第二数据线测试端子与所述第二数据线短路棒连接，提供测试信号至数据线。
扫描线断开结构，包括第二扫描控制线、第二扫描线控制端子和第二扫描线控制开关，所述第二扫描控制线与所述第二扫描线控制端子和所述第二扫描线控制开关相连接，所述第二扫描线控制端子通过所述第二扫描控制线提供控制信号至所述第二扫描线控制开关，所述第二扫描线控制开关控制所述扫描线与所述第一扫描线检测结构和/或第二扫描线检测结构的通断；
数据线断开结构，包括第二数据控制线、第二数据线控制端子和第二数据线控制开关，所述第二数据控制线与所述第二数据线控制端子和所述第二数据线控制开关相连接，所述第二数据线控制端子通过所述第二数据控制线提供控制信号至所述第二数据线控制开关，所述第二数据线控制开关控制所述数据线与所述第一数据线检测结构和/或第二数据线检测结构的通断。
图5示出了本发明液晶显示装置的线路检测结构在另一个实施方式中的布局示意图。需说明的是，为叙述方便，在这里，我们是以检测数据线的线缺陷为例进行说明的，但并不限于此，例如也可以应用于扫描线的线缺陷检测或者同时应用于数据线和扫描线的线缺陷检测。
如图5所示，所述线路检测结构应用于液晶显示装置的阵列基板上，在所述阵列基板上包括：多条数据线D1、D2、D3、D4、D5、D6、......、D3n-2、D3n-1、D3n(n为自然数)；第一数据线检测结构，包括：与数据线D1、D2、D3、D4、D5、D6、......、D3n-2、D3n-1、D3n交叉排列的第一数据线短路棒101、102、103，其中，数据线D1、D4、......、D3n-2通过过孔结构V1、V4、......、V3n-2与第一数据线短路棒101连接，数据线D2、D5、......、D3n-1通过过孔结构V2、V5、......、V3n-1与第一数据线短路棒102连接，数据线D3、D6、......、D3n通过过孔结构V3、V6、......、Vn与第一数据线短路棒103连接；分别与第一数据线短路棒101、102、103连接的第一数据线测试端子104、105、106；第二数据线检测结构，包括：第一数据控制线112，与数据线D1、D2、D3、D4、D5、D6、......、D3n-2、D3n-1、D3n相连的第一数据线控制开关S1、S2、S3、S4、S5、S6、......、S3n-2、S3n-1、S3n(n为自然数)；与第一数据控制线112和第一数据线控制开关S1、S2、S3、S4、S5、S6、......、S3n-2、S3n-1、S3n相连的第二数据线短路棒111；与第一数据控制线112连接的第一数据线控制端子110；以及与第二数据线短路棒111连接的第二数据线测试端子113；数据线断开结构，包括第二数据控制线120、第二驱动线控制端子122和第二驱动线控制开关K1、K2、K3、K4、K5、K、......、K3n-2、K3n-1、K3n(n为自然数)，第二数据控制线120与第二数据线控制端子122和第二数据线控制开关K1、K2、K3、K4、K5、K、......、K3n-2、K3n-1、K3n相连接，第二数据线控制端子122提供控制信号至相连接的第二数据线控制开关K1、K2、K3、K4、K5、K6、......、K3n-2、K3n-1、K3n，控制位于第二数据控制线120相对两侧的数据线S1、S2、S3、S4、S5、S6、......、S3n-2、S3n-1、S3n通断，并在断开时，使得各数据线D1、D2、D3、D4、D5、D6、......、D3n-2、D3n-1、D3n与所述检测装置断开而单独工作。
需特别说明的是，在本实施方式中，由于额外提供了数包括第二数据控制线120、第二驱动线控制端子122和第二驱动线控制开关K1、K2、K3、K4、K5、K、......、K3n-2、K3n-1、K3n的据线断开结构，因此，数据线D1、D2、D3、D4、D5、D6、......、D3n-2、D3n-1、D3n在控制开关K1、K2、K3、K4、K5、K、......、K3n-2、K3n-1、K3n处可以分为二个区段，其中一个区段位于显示区域中，另一区段则外围区域，所述二个区段位于同一布线层，为叙述简便，未对二个区段进行区分以分别予以标号，故在此特此说明。
图6示出了应用于图5的线路检测结构的线路检测方法在一个实施例中的流程示意图。需说明的是，为叙述方便，在这里，我们是以检测数据线的线缺陷为例进行说明的，但并不限于此，例如也可以应用于扫描线的线缺陷检测或者同时应用于数据线和扫描线的线缺陷检测。
如图6所示，所述线路检测方法包括：
步骤S200，在第二数据线检测结构的第一数据线控制端子上施加用于断开的控制信号，使得第二数据线检测结构中与第一数据控制线相连的第一数据线控制开关断开，第二数据线短路棒与数据线断开；并且，在数据线断开结构的第二数据线控制端子上施加用于导通的控制信号，使得位于第二数据控制线相对两侧的数据线导通；
步骤S201，在第一数据线检测结构的第一数据线测试端子上施加测试信号，观察所述各数据线的显示效果；
步骤S202，根据显示效果，判定与第一数据线检测结构对应的数据线是否存在有线缺陷；
若判定没有线缺陷，则结束所述线路检测，将产品进入下一工艺；
若判定存在有线缺陷，则进行步骤S203，在第二数据线检测结构的第一数据线控制端子上施加用于导通的控制信号，使得第二数据线检测结构中与第一数据控制线相连的第一数据线控制开关导通，则第二数据线短路棒与数据线电性连接；并且，在数据线断开结构的第二数据线控制端子上施加用于导通的控制信号，使得位于第二数据控制线相对两侧的数据线导通；
步骤S204，在第二数据线检测结构的第二数据线测试端子上施加测试信号，观察所述各数据线的显示效果；
步骤S205，根据显示效果，判定所述显示效果中是否还存在有缺陷；
步骤S206，若显示画面中仍存在有缺陷，则可判定所述数据线的线缺陷的类型为线路划伤导致的线缺陷；
步骤S207，若显示画面中没有缺陷，则可判定所述数据线的线缺陷的类型为过孔结构损坏导致的线缺陷。
以下针对数据线产生的线缺陷的各种不同类型进行详细叙述。
在本实施例中，现以数据线D3产生断线缺陷(如图7所示，数据线D3产生断线缺陷的断线位置119)为例进行说明。具体地，线路检测方法包括，首先，在第一数据线控制端子110上施加低电压，使得与第一数据控制线112相连接的第一数据线控制开关S1、S2、S3、S4、S5、S6、......、S3n-2、S3n-1、S3n处于断开状态(即第二数据线短路棒111与外围区域的数据线D1、D2、D3、D4、D5、D6、......、D3n-2、D3n-1、D3n处于断开)；在第二数据线控制端子122上施加高电压，使得与第二数据控制线120相连接的第二数据线控制开关K1、K2、K3、K4、K5、K6、......、K3n-2、K3n-1、K3n处于导通状态，位于第二数据控制线120相对两侧(外围区域和显示区域)的数据线D1、D2、D3、D4、D5、D6、......、D3n-2、D3n-1、D3n导通；并且，在第一数据线测试端子104、105、106上施加特定电压，得以让与第一数据线短路棒101、102、103连接的各数据线D1、D2、D3、D4、D5、D6、......、D3n-2、D3n-1、D3n根据所述特定电压显示对应的色彩画面(例如红色、蓝色、绿色、灰色、黑色等画面)。然后，观察所述液晶显示装置所显示的画面效果，可以判定出数据线D3存在有线缺陷。接着，在第一数据线控制端子110上施加高电压，使得与第一数据控制线112相连接的第一数据线控制开关S1、S2、S3、S4、S5、S6、......、S3n-2、S3n-1、S3n处于导通状态(即第二数据线短路棒111与外围区域的数据线D1、D2、D3、D4、D5、D6、......、D3n-2、D3n-1、D3n电性连接)；在第二数据线控制端子122上施加高电压，使得与第二数据控制线120相连接的第二数据线控制开关K1、K2、K3、K4、K5、K6、......、K3n-2、K3n-1、K3n处于导通状态，位于第二数据控制线120相对两侧(外围区域和显示区域)的数据线D1、D2、D3、D4、D5、D6、......、D3n-2、D3n-1、D3n导通；并且，在第二数据线测试端子113上施加特定电压，得以让与第二数据线短路棒111连接的各数据线D1、D2、D3、D4、D5、D6、......、D3n-2、D3n-1、D3n根据所述特定电压显示对应的色彩画面(例如黑色画面)。接着，观察所述液晶显示装置所显示的画面，对应数据线D3处仍存在有线缺陷，因此可判定数据线D3存在的线缺陷的类型为线路划伤导致的线缺陷。
另外，在其他实施例中，利用所述线路检测方法还可以检测出过孔结构损坏的问题。仍请结合图7，对本发明图5所示的线路检测结构的线路检测方法做具体说明，现以数据线D3与第一数据线短路棒103相交的过孔结构V3损坏为例进行说明。具体地，线路检测方法包括：首先，在第一数据线控制端子110上施加低电压，使得与第一数据控制线112相连接的第一数据线控制开关S1、S2、S3、S4、S5、S6、......、S3n-2、S3n-1、S3n处于断开状态(即第二数据线短路棒111与外围区域的数据线D1、D2、D3、D4、D5、D6、......、D3n-2、D3n-1、D3n处于断开)；在第二数据线控制端子122上施加高电压，使得与第二数据控制线120相连接的第二数据线控制开关K1、K2、K3、K4、K5、K6、......、K3n-2、K3n-1、K3n处于导通状态，位于第二数据控制线120相对两侧(外围区域和显示区域)的数据线D1、D2、D3、D4、D5、D6、......、D3n-2、D3n-1、D3n导通；并且，在第一数据线测试端子104、105、106上施加特定电压，得以让与第一数据线短路棒101、102、103连接的各数据线D1、D2、D3、D4、D5、D6、......、D3n-2、D3n-1、D3n根据所述特定电压显示对应的色彩画面(例如红色、蓝色、绿色、灰色、黑色等画面)。然后，观察所述液晶显示装置所显示的画面效果，可以判定出数据线D3存在有线缺陷。接着，在第一数据线控制端子110上施加高电压，使得与第一数据控制线112相连接的第一数据线控制开关S1、S2、S3、S4、S5、S6、......、S3n-2、S3n-1、S3n处于导通状态(即第二数据线短路棒111与数据线D1、D2、D3、D4、D5、D6、......、D3n-2、D3n-1、D3n电性连接)；在第二数据线控制端子122上施加高电压，使得与第二数据控制线120相连接的第二数据线控制开关K1、K2、K3、K4、K5、K6、......、K3n-2、K3n-1、K3n处于导通状态，位于第二数据控制线120相对两侧(外围区域和显示区域)的数据线D1、D2、D3、D4、D5、D6、......、D3n-2、D3n-1、D3n导通；并且，在第二数据线测试端子113上施加特定电压，得以让与第二数据线短路棒111连接的各数据线D1、D2、D3、D4、D5、D6、......、D3n-2、D3n-1、D3n根据所述特定电压显示对应的色彩画面(例如黑色画面)。观察所述液晶显示装置所显示的画面，对应数据线D3处没有线缺陷，因此可判定数据线D3存在的线缺陷的类型为过孔结构V3损坏导致的线缺陷。
在液晶显示面板的制成过程中，如上所述的线路检测结构是用来检测驱动线的缺陷状况的，在检测完成之后需要将所述线路检测结构切除，具体的：如图2所示，在第一数据线短路棒101、102、103和显示区域之间进行激光切割，去除所述线路检测结构，然后将驱动线和相应的驱动IC相连接。所述激光切割需要专用的设备，造价昂贵，并且切割工艺需要时间，会使整个生产的周期变长。
为了降低生产成本和生产周期，本发明提供如图5所示的线路检测结构，在不增加设备和工艺的基础上，可以使线路检测装置和驱动线处于独立的状态。
结合图5和图7，在上述第二种线路检测结构的检测方法中，当线路检测完成后，对第二数据线控制端子122上施加低电压，使第二数据控制线120处于关闭状态，各数据线D1、D2、D3、D4、D5、D6、......、D3n-2、D3n-1、D3n就处于独立工作状态，省去了激光切割工序。相对于图2所示的线路检测结构，图5所示的线路检测结构，除了能检测线缺陷及其类型之外，还能使完成检测作业的驱动线与所述检测装置断开处于独立工作状态，可以省去进行激光切割的工艺，缩短了生产周期，提高了工作效率。
虽然本发明己以较佳实施例披露如上，但本发明并非限定于此。任何本领域技术人员，在不脱离本发明的精神和范围内，均可作各种更动与修改，因此本发明的保护范围应当以权利要求所限定的范围为准。
Claims (16)
1.一种平板显示装置的线路检测结构，所述平板显示装置包括阵列基板，在所述阵列基板上设有驱动线，所述线路检测结构包括：
第一驱动线检测结构，用于检测所述驱动线是否存在线缺陷，包括第一驱动线短路棒和第一驱动线测试端子；所述第一驱动线短路棒与所述驱动线通过过孔结构连接；所述第一驱动线测试端子与所述第一驱动线短路棒连接，提供测试信号至驱动线；
第二驱动线检测结构，用于确定所述驱动线的线缺陷的缺陷类型，包括第一驱动控制线、第一驱动线控制开关、第一驱动线控制端子、第二驱动线短路棒和第二驱动线测试端子；所述第一驱动控制线与所述第一驱动线控制开关和所述第一驱动线控制端子相连接，所述第一驱动线控制端子通过所述第一驱动控制线提供控制信号至所述第一驱动线控制开关；所述第一驱动线控制开关与所述驱动线的一端和所述第二驱动线短路棒连接，控制所述驱动线和所述第二驱动线短路棒的通断；所述第二驱动线测试端子与所述第二驱动线短路棒连接，提供测试信号至所述驱动线。
2.根据权利要求1所述的线路检测结构，其特征在于，还包括：
驱动线断开结构，包括第二驱动控制线、第二驱动线控制端子和第二驱动线控制开关；所述第二驱动控制线与所述第二驱动线控制端子和所述第二驱动线控制开关相连接，所述第二驱动线控制端子通过所述第二驱动控制线提供控制信号至所述第二驱动线控制开关；所述第二驱动线控制开关与所述驱动线和所述第一驱动线检测结构和/或第二驱动线检测结构相连接，控制所述驱动线和所述第一驱动线检测结构和/或第二驱动线检测结构的通断。
3.根据权利要求1所述的线路检测结构，其特征在于，所述第一驱动线短路棒的数量为一个或多个。
4.根据权利要求1所述的线路检测结构，其特征在于，所述过孔结构包括过孔和位于所述过孔内的导电介质。
5.根据权利要求4所述的线路检测结构，其特征在于，所述导电介质包括铟锡金属氧化物或铟锌金属氧化物。
6.根据权利要求2所述的线路检测结构，其特征在于，所述第一驱动线控制开关和第二驱动线控制开关包括薄膜晶体管。
7.根据权利要求1所述的线路检测结构，其特征在于，所述驱动线存在的线缺陷的类型包括过孔结构损坏导致的线缺陷和线路划伤导致的线缺陷。
8.根据权利要求1所述的线路检测结构，其特征在于，所述驱动线为扫描线或数据线。
9.一种平板显示装置的线路检测结构，所述平板显示装置包括阵列基板，在所述阵列基板上具有交叉排列的扫描线和数据线，所述线路检测结构包括：
第一扫描线检测结构，用于检测所述扫描线是否存在线缺陷，包括第一扫描线短路棒和第一扫描线测试端子；所述第一扫描线短路棒与所述扫描线通过过孔结构连接；所述第一扫描线测试端子与所述第一扫描线短路棒连接，提供测试信号至扫描线；
第一数据线检测结构，用于检测所述数据线是否存在线缺陷，包括第一数据线短路棒和第一数据线测试端子；所述第一数据线短路棒与所述数据线通过过孔结构连接；所述第一数据线测试端子与所述第一数据线短路棒连接，提供测试信号至数据线；
第二扫描线检测结构，用于确定所述扫描线存在的线缺陷的缺陷类型，包括第一扫描控制线、第一扫描线控制开关、第一扫描线控制端子、第二扫描线短路棒和第二扫描线测试端子；所述第一扫描控制线与所述第一扫描线控制开关和所述第一扫描线控制端子相连接，所述第一扫描线控制端子通过所述第一扫描控制线提供控制信号至所述第一扫描线控制开关；所述第一扫描线控制开关与所述扫描线和第二扫描线短路棒连接，控制所述扫描线和所述第二扫描线短路棒的通断；所述第二扫描线测试端子与所述第二扫描线短路棒连接，提供测试信号至扫描线；
第二数据线检测结构，用于确定所述数据线存在的线缺陷的缺陷类型，包括第一数据控制线、第一数据线控制开关、第一数据线控制端子、第二数据线短路棒和第二数据线测试端子；所述第一数据控制线与所述第一数据线控制开关和所述第一数据线控制端子相连接，所述第一数据线控制端子通过所述第一数据控制线提供控制信号至所述第一数据线控制开关；所述第一数据线控制开关与所述数据线和第二数据线短路棒连接，控制所述数据线和所述第二数据线短路棒的通断；所述第二数据线测试端子与所述第二数据线短路棒连接，提供测试信号至数据线。
10.根据权利要求9所述的线路检测结构，其特征在于，还包括：
扫描线断开结构，包括第二扫描控制线、第二扫描线控制端子和第二扫描线控制开关；所述第二扫描控制线与所述第二扫描线控制端子和所述第二扫描线控制开关相连接，所述第二扫描线控制端子通过所述第二扫描控制线提供控制信号至所述第二扫描线控制开关；所述第二扫描线控制开关与所述扫描线和所述第一扫描线检测结构和/或第二扫描线检测结构相连接，控制所述扫描线和所述第一扫描线检测结构和/或第二扫描线检测结构的通断；
数据线断开结构，包括第二数据控制线、第二数据线控制端子和第二数据线控制开关；所述第二数据控制线与所述第二数据线控制端子和所述第二数据线控制开关相连接，所述第二数据线控制端子通过所述第二数据控制线提供控制信号至所述第二数据线控制开关；所述第二数据线控制开关与所述数据线和所述第一数据线检测结构和/或第二数据线检测结构相连接，控制所述数据线和所述第一数据线检测结构和/或第二数据线检测结构的通断。
11.一种应用于权利要求1至8中任一项线路检测结构的线路检测方法，其特征在于，所述线路检测方法包括：
在第二驱动线检测结构的第一驱动线控制端子上施加用于断开的控制信号，使得第二驱动线检测结构中与第一驱动控制线相连的第一驱动线控制开关断开；
在第一驱动线检测结构的第一驱动线测试端子上施加测试信号，用于判定与第一驱动线检测结构对应的驱动线是否存在有线缺陷；
在第二驱动线检测结构的第一驱动线控制端子上施加用于导通的控制信号，使得第二驱动线检测结构中与第一驱动控制线相连的第一驱动线控制开关导通；
在第二驱动线检测结构的第二驱动线测试端子上施加测试信号，用于判定与第二驱动线检测结构对应的驱动线存在的线缺陷的类型。
12.根据权利要求11所述的线路检测方法，其特征在于，所述用于断开的控制信号为低电压信号，所述用于导通的控制信号为高电压信号。
13.根据权利要求11所述的线路检测方法，其特征在于，所述驱动线存在的线缺陷的类型包括过孔结构损坏导致的线缺陷和线路划伤导致的线缺陷。
14.根据权利要求11所述的线路检测方法，其特征在于，所述驱动线为扫描线或数据线。
15.一种利用权利要求9或10项所述线路检测结构的线路检测方法，其特征在于，所述线路检测方法包括扫描线检测方法和/或数据线检测方法；
所述扫描线检测方法包括：
在第二扫描线检测结构的第一扫描线控制端子上施加用于断开的控制信号，使得第二扫描线检测结构中与第一扫描控制线相连的第一扫描线控制开关断开；
在第一扫描线检测结构的第一扫描线测试端子上施加测试信号，用于判定与第一扫描线检测结构对应的扫描线是否存在有线缺陷；
在第二扫描线检测结构的第一扫描线控制端子上施加用于导通的控制信号，使得第二扫描线检测结构中与第一扫描控制线相连的第一扫描线控制开关导通；
在第二扫描线检测结构的第二扫描线测试端子上施加测试信号，用于判定与第二扫描线检测结构对应的扫描线存在的线缺陷的类型；
所述数据线检测方法包括：
在第二数据线检测结构的第一数据线控制端子上施加用于断开的控制信号，使得第二数据线检测结构中与第一数据控制线相连的第一数据线控制开关断开；
在第一数据线检测结构的第一数据线测试端子上施加测试信号，用于判定与第一数据线检测结构对应的数据线是否存在有线缺陷；
在第二数据线检测结构的第一数据线控制端子上施加用于导通的控制信号，使得第二数据线检测结构中与第一数据控制线相连的第一数据线控制开关导通；
在第二数据线检测结构的第二数据线测试端子上施加测试信号，用于判定与第二数据线检测结构对应的数据线存在的线缺陷的类型。
16.根据权利要求15所述的线路检测方法，其特征在于，所述用于断开的控制信号为低电压信号，所述用于导通的控制信号为高电压信号。
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| C06 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| C10 | Entry into substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| C14 | Grant of patent or utility model | ||
| GR01 | Patent grant |