CN110570795B - 一种显示面板的测试方法 - Google Patents
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Abstract
本发明提供一种显示面板的测试方法,所述显示面板包括显示区域和非显示区域,所述显示区域包括多条扫描线和多条数据线,所述显示面板内设置有测试线,所述显示面板的边缘设置有测试端子,其中所述测试线与所述测试端子连接;该方法包括:将测试线与待检测扫描线连接,所述待检测扫描线接入有扫描信号;获取所述测试端子上的信号的波形,以得到所述待检测扫描线上的实际输出波形。本发明的显示面板的测试方法,能够提高产品良率。
Description
【技术领域】
本发明涉及显示技术领域,特别是涉及一种显示面板的测试方法。
【背景技术】
不同面板的负载(loading)不同,即使在输入相同扫描信号的情况下,扫描线上的实际波形也不同。因此如何检测扫描线的输出波形成为研究的热点。
由于面内信号与外界之间是有MOS隔离的,因而无法直接测试到的,且面内信号很脆弱,如果直接与外界相连容易被干扰和带来ESD风险。因此,目前只能通过模拟时钟信号,对面内的扫描线的充电情况进行大概的预估,但是无法准确获取扫描线的实际的充电情况,从而给调试和修复带来诸多的不变,降低了产品良率。
因此,有必要提供一种显示面板的测试方法,以解决现有技术所存在的问题。
【发明内容】
本发明的目的在于提供一种显示面板的测试方法,能够提高产品良率。
为解决上述技术问题,本发明提供一种显示面板的测试方法,其中所述显示面板包括显示区域和非显示区域,所述显示区域包括多条扫描线和多条数据线,所述显示面板内设置有测试线,所述显示面板的边缘设置有测试端子,其中所述测试线与所述测试端子连接;所述方法包括:
将所述测试线与待检测扫描线连接,所述待检测扫描线接入有扫描信号;
获取所述测试端子上的信号的波形,以得到所述待检测扫描线上的实际输出波形。
本发明的显示面板的测试方法,通过将显示面板中的测试线与待检测扫描线连接,待检测扫描线接入有扫描信号;获取所述测试端子上信号的波形,以得到所述待检测扫描线上的实际输出波形,由于在显示面板中设置测试线,将测试线与待检测扫描线连接,且通过检测测试线上的信号的波形能够得到待检测扫描线的实际输出波形,从而准确地获取扫描线的充电情况,提高了产品良率。
【附图说明】
图1为本发明实施例一的显示面板的结构示意图;
图2为本发明实施例二的显示面板的第一种结构示意图;
图3为本发明实施例二的显示面板的第二种结构示意图。
【具体实施方式】
以下各实施例的说明是参考附加的图式,用以例示本发明可用以实施的特定实施例。本发明所提到的方向用语,例如「上」、「下」、「前」、「后」、「左」、「右」、「内」、「外」、「侧面」等,仅是参考附加图式的方向。因此,使用的方向用语是用以说明及理解本发明,而非用以限制本发明。在图中,结构相似的单元是以相同标号表示。
请参照图1,图1为本发明实施例一的显示面板的结构示意图。
如图1所示,本实施例的显示面板100包括显示区域和非显示区域(图中未示出),所述显示面板100包括多条扫描线10(图中以5条扫描线为例)和多条数据线(图中未示出),所述显示面板100还可包括栅极驱动单元(图中未示出)和柔性电路板30,柔性电路板30包括源驱动单元31,所述栅极驱动单元位于所述显示面板100的一侧。本实施例的显示面板为单边驱动面板。其中所述待检测扫描线10的输出端位于所述显示面板100的另一侧。
所述显示面板100内设置有测试线20,为了简化制程工艺,其中测试线20与数据线平行。其中,为了提高检测的准确性,所述测试线20可与所述待检测扫描线10的输出端位于同一侧。比如栅极驱动单元位于显示面板100的右侧,待检测扫描线10的输出端位于显示面板100的左侧,测试线20也位于显示面板100的左侧。在一实施方式中,所述测试线20位于所述非显示区域,比如测试线20在显示面板左侧的非显示区域。在另一实施方式中,所述显示面板100的截面结构包括衬底基板,所述测试线20还可位于所述显示区域,所述测试线20在衬底基板上的投影与所述数据线在衬底基上的投影的位置重叠。也即测试线20可与最左侧的数据线重叠。在另一实施方式中,测试线20可为最左侧的数据线。
所述显示面板100的边缘设置有测试端子21,其中所述测试线20与所述测试端子21连接。
本实施例的显示面板的测试方法包括:
S101、将所述测试线与所述待检测扫描线连接,所述待检测扫描线接入有扫描信号;
例如,待检测扫描线10比如为面板最下方的扫描线,将所述测试线20与所述待检测扫描线距离输入端较远的位置连接。
在一实施方式中,为了进一步提高检测的准确性,所述测试线20与待检测扫描线的输出端连接,所述待检测扫描线10的输入端接入扫描信号。
待检测扫描线10的输入端比如为该扫描线10的最右端,待检测扫描线的输出端为该扫描线的最左端。在一实施方式中,可将测试线20与待检测扫描线10的最右端连接。可以理解的,每条扫描线单独进行测试,且每次测试过程中,将待检测扫描线与测试线连接,其余扫描线不与测试线连接。
所述将所述测试线与所述待检测扫描线的输出端连接的步骤包括:
S1011、通过镭射方式将所述测试线与所述待检测扫描线连接。
通过镭射将测试线20与待检测扫描线连接。
S102、获取所述测试端子上的信号的波形,以得到所述待检测扫描线上的实际输出波形。
例如,通过侦测测试端子21上的信号的波形,以得到所述待检测扫描线10上的实际输出波形。
由于在显示面板中设置测试线,将测试线与待检测扫描线连接,且通过检测测试线上的信号的波形,从而得到待检测扫描线的实际输出波形,进而能够准确地获取扫描线的充电情况,提高了产品良率。此外本实施例的测试方法不会对面内信号带来干扰,且降低了ESD风险。
请参照图2和3,图2为本发明实施例二的显示面板的第一种结构示意图。
本实施例与上一实施例的区别在于,本实施例的显示面板为双边驱动面板。
所述显示面板100包括第一栅极驱动单元和第二栅极驱动单元(图中均未示出),所述第一栅极驱动单元的位置与所述第二驱动单元的位置相对,也即第一栅极驱动单元和第二栅极驱动单元分别位于显示面板两侧中的一侧。
如图2和3所示,所述待检测扫描线10的输出端位于所述显示面板100的中间区域,所述中间区域与多条所述待检测扫描线10的中点的连线的位置对应,所述测试线20也位于所述显示面板的中间区域。
在一实施方式中,所述测试线20可单独制作,所述测试线20在衬底基板上的正投影与位于所述中间区域内的数据线在衬底基板上的正投影重叠。也即所述测试线20与数据线位于不同层。
在另一实施方式中,如图3所示,所述测试线与数据线共用,其中所述测试线为位于所述中间区域内的数据线40。
其中,在所述将所述测试线与所述待检测扫描线连接的步骤之前,所述方法还包括:
S201、将所述位于所述中间区域内的数据线与源驱动单元之间的连接线切断;以及
S202、将位于所述待检测扫描线上方的该数据线切断。
如图3所示,将所述位于所述中间区域内的数据线40与源驱动单元31之间的连接线51切断,得到切断点A;之后将位于所述待检测扫描线10上方的数据线切断,得到切断点B。也即将位于所述测试线与所述待检测扫描线之间的连接点52的上方的数据线40切断。
在实施例一的基础上,由于直接采用数据线作为测试线,还可以降低生产成本。
本发明的显示面板的测试方法,通过将显示面板中的测试线与待检测扫描线连接,待检测扫描线接入有扫描信号;获取所述测试端子上信号的波形,以得到所述待检测扫描线上的实际输出波形,由于在显示面板中设置测试线,将测试线与待检测扫描线连接,且通过检测测试线上的信号的波形能够得到待检测扫描线的实际输出波形,从而准确地获取扫描线的充电情况,提高了产品良率。
综上所述,虽然本发明已以优选实施例揭露如上,但上述优选实施例并非用以限制本发明,本领域的普通技术人员,在不脱离本发明的精神和范围内,均可作各种更动与润饰,因此本发明的保护范围以权利要求界定的范围为准。
Claims (5)
1.一种显示面板的测试方法,其特征在于,所述显示面板包括显示区域和非显示区域,所述显示区域包括多条扫描线和多条数据线,所述显示面板内设置有测试线,所述显示面板的边缘设置有测试端子,其中所述测试线与所述测试端子连接,所述显示面板还包括衬底基板,所述测试线位于所述显示区域,所述测试线与所述数据线位于所述显示面板的不同层,所述测试线在所述衬底基板上的投影与所述数据线在所述衬底基板上的投影的位置重叠;所述方法包括:
将所述测试线与待检测扫描线连接,所述待检测扫描线接入有扫描信号;
获取所述测试端子上的信号的波形,以得到所述待检测扫描线上的实际输出波形。
2.根据权利要求1所述的显示面板的测试方法,其特征在于,所述测试线与所述待检测扫描线的输出端连接,所述待检测扫描线的输入端接入扫描信号。
3.根据权利要求2所述的显示面板的测试方法,其特征在于,
所述显示面板还包括栅极驱动单元,所述栅极驱动单元位于所述显示面板的一侧,所述待检测扫描线的输出端位于所述显示面板的另一侧,所述测试线与所述待检测扫描线的输出端位于同一侧。
4.根据权利要求2所述的显示面板的测试方法,其特征在于,
所述显示面板包括第一栅极驱动单元和第二栅极驱动单元,所述第一栅极驱动单元的位置与所述第二栅极 驱动单元的位置相对,所述待检测扫描线的输出端位于所述显示面板的中间区域,所述中间区域与多条所述待检测扫描线的中点的连线的位置对应,所述测试线也位于所述中间区域。
5.根据权利要求4所述的显示面板的测试方法,其特征在于,
所述测试线在衬底基板上的正投影与位于所述中间区域内的数据线在衬底基板上的正投影重叠。
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