CN113284442B - 显示面板的测试模组和测试方法 - Google Patents

Abstract

本申请适用于显示技术领域，提供了一种显示面板的测试模组和测试方法。显示面板的测试模组包括n条栅极线和第一导电部件，第一导电部件包括n+1个导电单元，任意相邻的两个导电单元之间间隔设置，第1个导电单元与显示面板的外引脚贴合区连接，第i+1个导电单元和第i条栅极线相交并间隔设置，第1条栅极线至第n条栅极线和第2个导电单元至第n+1个导电单元一一对应，可以对任意一条或任意多条的栅极线进行测试，并在测试过程中当多条栅极线和对应的导电单元发生短路时，可以避免多条栅极线通过对应的导电单元电性连接造成进一步扩大短路的影响，实现提高栅极线测试的灵活度并提高显示面板的生产良品率。

Description

显示面板的测试模组和测试方法

技术领域

本申请属于显示技术领域，尤其涉及一种显示面板的测试模组和测试方法。

背景技术

随着显示技术的不断发展，显示面板在娱乐、教育、安防等各种领域得到广泛应用。GOA(Gate Driver on Array，阵列基板行驱动)技术是指将栅极驱动电路(Gate driverIC)直接制作在阵列(Array)基板上，实现对栅极逐行扫描的驱动方式。GOA技术能够简化显示面板的制备工序，省去水平扫描线方向的芯片贴合(Bonding)工序，可以减少覆晶薄膜的使用(Chip On Film，COF)，降低生产成本，同时可以提高显示面板的集成度，使显示面板更轻薄化。

通常为了验证显示面板的设计或者解决显示面板存在的问题，需要同时对全部栅极线进行测试，然而一片覆晶薄膜能够连接的栅极线数量有限，因此减少覆晶薄膜的使用会导致无法通过覆晶薄膜连接全部栅极线进行测试，影响测试性能。

发明内容

有鉴于此，本申请实施例提供了一种显示面板的测试模组和测试方法，以解决减少覆晶薄膜的使用会导致无法通过覆晶薄膜连接全部栅极线进行测试，影响测试性能的问题。

本申请实施例的第一方面提供了一种显示面板的测试模组，包括n条栅极线和第一导电部件，所述第一导电部件包括n+1个导电单元，任意相邻的两个所述导电单元之间间隔设置，第1个导电单元与所述显示面板的外引脚贴合区连接，第i+1个导电单元和第i条栅极线相交并间隔设置，第1条栅极线至第n条栅极线和第2个导电单元至第n+1个导电单元一一对应；

其中，i＝1，2，…，n，n≥1且n为整数。

在一个实施例中，所述测试模组还包括n个第二导电部件，第i个第二导电部件设置于第i个导电单元与第i+1个导电单元之间的间隔处。

在一个实施例中，所述栅极线和所述第一导电部件设置于所述显示面板的阵列基板一侧的不同层，所述第一导电部件和所述第二导电部件设置于所述显示面板的阵列基板一侧的相同层；

或者，所述栅极线和所述第二导电部件设置于所述显示面板的阵列基板一侧的相同层，所述栅极线和所述第一导电部件设置于所述显示面板的阵列基板一侧的不同层；

或者，所述栅极线、所述第二导电部件和所述第一导电部件依次设置于所述显示面板的阵列基板一侧的不同层。

在一个实施例中，所述测试模组包括栅极信号总线，每条所述栅极线通过所述栅极信号总线与所述显示面板的外引脚贴合区连接。

在一个实施例中，所述导电单元为金属导电单元或氧化铟锡导电单元。

本申请实施例的第一方面提供的显示面板的测试模组，可以对任意一条或任意多条的栅极线进行测试，并在测试过程中当多条栅极线和对应的导电单元发生短路时，可以避免多条栅极线通过对应的导电单元电性连接造成进一步扩大短路的影响，实现提高栅极线测试的灵活度并提高显示面板的生产良品率。

本申请实施例的第二方面提供了一种显示面板的测试方法，包括：

连接第k条栅极线与第k+1个导电单元；

依次连接第1个导电单元至第k+1个导电单元；

对第k条栅极线输出的栅极驱动信号进行检测；其中，k∈[1,n]。

本申请实施例的第二方面提供的显示面板的测试方法，可以选择任意一条或任意多条的栅极线并对其输出的栅极驱动信号进行测试，以提升测试的灵活度，并且未进行测试的栅极线和对应的导电单元断开，可以减少测试模组中未进行测试的栅极线的负载，提升测试模组运行的稳定性。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本申请实施例提供的显示面板的测试模组的第一种结构示意图；

图2是本申请实施例提供的显示面板的测试方法的第一种流程示意图；

图3是本申请实施例提供的显示面板的测试方法的第二种流程示意图；

图4是本申请实施例提供的显示面板的测试模组的第二种结构示意图；

图5是本申请实施例提供的显示面板的测试方法的第三种流程示意图；

图6是本申请实施例提供的显示面板的测试方法的第四种流程示意图；

图7是本申请实施例提供的栅极线通过激光焊接形成的连接体与对应的导电单元连接的结构示意图；

图8是本申请实施例提供的第k个第二导电部件通过激光焊接形成的连接体分别与第k个导电单元和第k+1个导电单元连接的结构示意图。

附图标记说明：

10-栅极线； 40-栅极信号总线；

11-第1条栅极线； 51-第1个第二导电部件；

12-第2条栅极线； 52-第2个第二导电部件；

13-第i-1条栅极线； 53-第i个第二导电部件；

14-第i条栅极线； 71-栅极线；

20-第一导电部件； 72-连接体；

21-第1个导电单元； 73-导电单元；

22-第2个导电单元； 81-第k个第二导电部件；

23-第3个导电单元； 82-连接体；

24-第i个导电单元； 83-第k个导电单元；

25-第i+1个导电单元； 84-第k+1个导电单元。

30-外引脚贴合区；

具体实施方式

以下描述中，为了说明而不是为了限定，提出了诸如特定系统结构、技术之类的具体细节，以便透彻理解本申请实施例。然而，本领域的技术人员应当清楚，在没有这些具体细节的其它实施例中也可以实现本申请。在其它情况中，省略对众所周知的系统、模组、电路以及方法的详细说明，以免不必要的细节妨碍本申请的描述。

应当理解，当在本申请说明书和所附权利要求书中使用时，术语“包括”指示所描述特征、整体、步骤、操作、元素和/或组件的存在，但并不排除一个或多个其它特征、整体、步骤、操作、元素、组件和/或其集合的存在或添加。

还应当理解，在本申请说明书和所附权利要求书中使用的术语“和/或”是指相关联列出的项中的一个或多个的任何组合以及所有可能组合，并且包括这些组合。

如在本申请说明书和所附权利要求书中所使用的那样，术语“如果”可以依据上下文被解释为“当...时”或“一旦”或“响应于确定”或“响应于检测到”。类似地，短语“如果确定”或“如果检测到[所描述条件或事件]”可以依据上下文被解释为意指“一旦确定”或“响应于确定”或“一旦检测到[所描述条件或事件]”或“响应于检测到[所描述条件或事件]”。

另外，在本申请说明书和所附权利要求书的描述中，术语“第一”、“第二”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

在本申请说明书中描述的参考“一个实施例”意味着在本申请的一个实施例中包括结合该实施例描述的特定特征、结构或特点。由此，在本说明书中的不同之处出现的语句“在一个实施例中”不是必然都参考相同的实施例，而是意味着“一个但不是所有的实施例”，除非是以其他方式另外特别强调。术语“包括”、“包含”、“具有”及它们的变形都意味着“包括但不限于”，除非是以其他方式另外特别强调。

本申请实施例提供一种显示面板的测试模组，可以应用于显示面板，显示面板可以是基于TFT-LCD(Thin Film Transistor Liquid Crystal Display，薄膜晶体管液晶显示器)技术的液晶显示面板、基于LCD(Liquid Crystal Display，液晶显示器)技术的液晶显示面板、基于OLED(Organic Light-Emitting Diode，有机发光二极管)技术的有机电激光显示面板、基于QLED(Quantum Dot Light Emitting Diodes，量子点发光二极管)技术的量子点发光二极管显示面板或曲面显示面板等。

如图1所示，本申请实施例提供的显示面板的测试模组，包括n条栅极线10和第一导电部件20，第一导电部件20包括n+1个导电单元，任意相邻的两个导电单元之间间隔设置，第1个导电单元21与显示面板的外引脚贴合区(Outer Lead Bonding，OLB)30连接，图1示例性的示出了第2个导电单元22和第1条栅极线11相交并间隔设置、第3个导电单元23和第2条栅极线12相交并间隔设置、第i个导电单元24和第i-1条栅极线13相交并间隔设置、第i+1个导电单元25和第i条栅极线14相交并间隔设置，第1条栅极线至第n条栅极线和第2个导电单元至第n+1个导电单元一一对应；其中，i＝1，2，…，n，n≥1且n为整数。

在应用中，导电单元可以是线状导电单元或片状导电单元等不同形状的导电单元，导电单元的数量由栅极线的条数确定且每条栅极线有对应的导电单元，在栅极线的条数的基础上加1可以确定导电单元的数量，需要说明的是，第1个导电单元不具有对应的栅极线，第1个导电单元用于连接外引脚贴合区和第2个导电单元，第1个导电单元可以通过外引脚贴合区与一片覆晶薄膜连接。任意相邻的两个导电单元之间在竖直方向上间隔设置，具体的，相邻的两个导电单元位于同一水平面，并当所有相邻的两个导电单元连接时可以构成一条直线或可以构成一条折线，且每个导电单元都是无源导电单元，在测试过程中当多条栅极线和对应的导电单元发生短路时，可以避免多条栅极线通过对应的导电单元电性连接造成进一步扩大短路的影响，从而提高生产良品率。本申请实施例对栅极线的条数和导电单元的数量不做任何限制。

在应用中，当显示面板的阵列基板采用TFT(Thin Film Transistor，薄膜晶体管)控制液晶的偏转程度时，外引脚贴合区可以设置于显示面板的阵列基板，且外引脚贴合区可以与TCON(Timer Control Register，时序控制器)、栅极驱动器、处理器等器件连接，其中，处理器可以是中央处理单元(Central Processing Unit，CPU)，该处理器还可以是其他通用处理器、数字信号处理器(Digital Signal Processor，DSP)、专用集成电路(Application Specific Integrated Circuit，ASIC)、现成可编程门阵列(Field-Programmable Gate Array，FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等，具体可以是覆晶薄膜。

在应用中，当第i+1个导电单元和第i条栅极线设置的过近时，第i+1个导电单元和第i条栅极线之间的电压会过高，容易超过空气的击穿电压并以空气为导电介质形成电性连接，会引发第i+1个导电单元和第i条栅极线电路，进而损坏测试模组和显示面板。因此，通过将第i+1个导电单元和第i条栅极线相交并在垂直方向上间隔设置，具体的，可以是十字相交，并位于显示面板的阵列基板一侧的不同层从而在垂直方向上形成间隔，可以降低第i+1个导电单元和第i条栅极线发生短路的风险，提升测试模组的工作稳定性。

在一个实施例中，测试模组包括栅极信号总线40，每条栅极线10通过栅极信号总线40与显示面板的外引脚贴合区30连接。

在应用中，栅极信号总线可以包括多条子栅极信号线，具体可以包括1条、2条、3条或4条等任意数量的子栅极信号线，每条栅极线通过栅极信号总线中的一条子栅极信号线连接至外引脚贴合区。

在一个实施例中，导电单元为金属导电单元或氧化铟锡(Indium Tin Oxide，ITO)导电单元。

在应用中，导电单元可以根据实际需要，或者根据导电单元在显示面板所在的层确定导电单元的材质，具体的，当导电单元设置于显示面板的阵列基板一侧的第二金属层时，导电单元可以为金属导电单元；当导电单元设置于显示面板的阵列基板一侧的氧化铟锡层时，导电单元可以为氧化铟锡导电单元，需要说明的是，栅极线位于显示面板阵列基板一侧的第一金属层，显示面板的阵列基板一侧可以包括依次设置的第一金属层、第一绝缘层、第二金属层、第二绝缘层和氧化铟锡层。

在一个实施例中，测试模组包括n条栅极线和多个第一导电部件。

在应用中，可以设置多个第一导电部件，以对显示面板进行多次测试，第一导电部件的数量可以根据实际需要进行设置。

如图2所示，基于图1所对应的实施例，本申请实施例提供的显示面板的测试方法，包括如下步骤S201至步骤S203：

步骤S201、连接第k条栅极线与第k+1个导电单元；其中，k∈[1,n]。

在应用中，可以根据实际测试确定需要测试的栅极线的数量，连接需要测试的栅极线与上述需要测试的栅极线对应的导电单元，以通过上述对应的导电单元导出需要测试的栅极线输出的栅极驱动信号；未与导电单元连接的栅极线不参与测试，从而可以导出任意一条或任意多条需要测试的栅极线输出的栅极驱动信号。

在一个实施例中，步骤S201之前，还包括：

控制第k条栅极线输出栅极驱动信号。

在应用中，可以控制实际需要测试的栅极线输出栅极驱动信号，且不参与测试的栅极线不输出栅极驱动信号，避免不参与测试的栅极线与导电单元连接的情况下导出上述不参与测试的栅极线的栅极驱动信号，提升测试的准确性。

步骤S202、依次连接第1个导电单元至第k+1个导电单元。

在应用中，当需要测试的栅极线的数量为一条时，通过依次连接第1个导电单元至第k+1个导电单元，可以将需要测试的栅极线输出的栅极驱动信号导出至外引脚贴合区；当需要测试的栅极线的数量为多条时，通过依次连接第1个导电单元至最后一条需要测试的栅极线对应的导电单元，可以将所有需要测试的栅极线输出的栅极驱动信号导出至外引脚贴合区，其中，最后一条需要测试的栅极线为序号最大的需要测试的栅极线，例如，假设需要测试的栅极线包括第1条栅极线、第3条栅极线和第5条栅极线，则第5条栅极线为最后一条需要测试的栅极线。

步骤S203、对第k条栅极线输出的栅极驱动信号进行检测。

在应用中，与外引脚贴合区相连的处理器可以获取一条或多条需要测试的栅极线输出的栅极驱动信号并进行检测，具体的，栅极驱动信号具有对应的标准栅极驱动信号，处理器可以将获取的栅极驱动信号与对应的标准栅极驱动信号进行比对以完成检测，其中，标准栅极驱动信号可以是与需要测试的栅极线连接的子栅极信号线输出的信号，也可以是存储在存储器中的预设栅极驱动信号；栅极驱动信号和标准栅极驱动信号可以是具有一定波形的电压信号，通过比对栅极驱动信号和标准栅极驱动信号的波形是否一致可以完成检测。

在应用中，当与外引脚贴合区相连的处理器是覆晶薄膜时，覆晶薄膜只需要通过外引脚贴合区与第1个导电单元连接，即可获取所有需要测试的栅极线输出的栅极驱动信号，因此，通过1片覆晶薄膜就可以实现连接全部栅极线进行测试，降低生成成本的同时保证了测试性能。

在应用中，将上述一条或多条需要测试的栅极线与对应的导电单元连接，并依次连接第1个导电单元至最后一条需要测试的栅极线对应的导电单元，对上述一条或多条需要测试的栅极线输出的栅极驱动信号进行检测，可以选择任意一条或任意多条栅极线并对其输出的栅极驱动信号进行测试，从而提升测试的灵活度，并且未进行测试的栅极线和对应的导电单元断开，可以减少测试模组中未进行测试的栅极线的负载，从而提升测试模组运行的稳定性。

如图3所示，本申请实施例提供一种基于图1所对应的实施例中的测试方法，包括如下步骤S301至步骤S304：

步骤S301、连接第k条栅极线与第k+1个导电单元；

步骤S302、依次连接第1个导电单元至第k+1个导电单元；

步骤S303、对第k条栅极线输出的栅极驱动信号进行检测。

在应用中，步骤S301至步骤S303的测试方法和上述实施例中步骤S201至步骤S203的测试方法一致，在此不再赘述。

步骤S304、当检测结果异常时，输出表征第k条栅极线故障的故障信号。

在应用中，当检测到第k条栅极线的栅极驱动信号和对应的标准栅极驱动信号不同时，检测结果为异常，可以输出表第k条栅极线故障的故障信号，以提醒测试员第k条栅极线栅极线存在故障；当检测到第k条栅极线的栅极驱动信号和对应的标准栅极驱动信号相同时，检测结果为正常，可以通过输出表征第k条栅极线正常的正常信号，以提醒测试员第k条栅极线栅极线正常。

在应用中，当同时检测多条需要测试的栅极线时，可以分别对上述多条需要测试的栅极线进行检测，检测方法和上述第k条栅极线的检测方法相同，在此不再赘述。

如图4所示，在一个实施例中，基于图1所对应的实施例，测试模组还包括n个第二导电部件，图4示例性的示出了第1个第二导电部件51设置于第1个导电单元21和第2个导电单元22之间的间隔处、第2个第二导电部件52设置于第2个导电单元22和第3个导电单元23之间的间隔处、第i个第二导电部件53设置于第i个导电单元24与第i+1个导电单元25之间的间隔处。

在应用中，第i个第二导电部件与第i个导电单元和第i+1个导电单元在竖直方向上间隔设置，第二导电部件的数量由导电单元的数量确定，具体的，在导电单元的数量的基础上减1可以确定第二导电部件的数量，且第1个至第n个第二导电部件与第2个导电单元至第n+1个导电单元一一对应。

在一个实施例中，栅极线和第一导电部件设置于显示面板的阵列基板一侧的不同层，第一导电部件和第二导电部件设置于显示面板的阵列基板一侧的相同层；

或者，栅极线和第二导电部件设置于显示面板的阵列基板一侧的相同层，栅极线和第一导电部件设置于显示面板的阵列基板一侧的不同层；

或者，栅极线、第二导电部件和第一导电部件依次设置于显示面板的阵列基板一侧的不同层。

在应用中，栅极线、第二导电部件和第一导电部件可以根据实际需要设置在显示面板的阵列基板一侧的第一金属层、第二金属层或氧化铟锡层，例如，可以依次设置于显示面板的阵列基板一侧的第一金属层、第二金属层和第二金属层；也可以依次设置于显示面板的阵列基板一侧的第一金属层、第一金属层和第二金属层；还可以依次设置于显示面板的阵列基板一侧的第一金属层、第二金属层和氧化铟锡层。

在应用中，当栅极线和第二导电部件都设置在第一金属层时，栅极线和第二导电部件之间的垂直间隔大于预设距离，以避免栅极线和第二导电部件设置过近形成电性连接，可以降低短路的风险；同理，当第一导电部件和第二导电部件都设置在第二金属层时，第一导电部件和第二导电部件之间的垂直间隔大于预设距离，其中，预设距离可以是1微米、2微米或3微米。

本申请实施例提供的显示面板的测试模组，包括n条栅极线和第一导电部件，第一导电部件包括n+1个导电单元，任意相邻的两个导电单元之间间隔设置，第1个导电单元与显示面板的外引脚贴合区连接，第i+1个导电单元和第i条栅极线相交并间隔设置，第1条栅极线至第n条栅极线和第2个导电单元至第n+1个导电单元一一对应，可以对任意一条或任意多条的栅极线进行测试，并在测试过程中当多条栅极线和对应的导电单元发生短路时，可以避免多条栅极线通过对应的导电单元电性连接造成进一步扩大短路的影响，实现提高栅极线测试的灵活度并提高显示面板的生产良品率。

如图5所示，本申请实施例提供一种基于图4所对应的实施例中的测试方法，包括如下步骤S501至步骤S504：

步骤S501、连接第k条栅极线与第k+1个导电单元。

在应用中，步骤S501的检测方法和上述步骤S201的检测方法相同，在此不再赘述。

步骤S502、通过第1个第二导电部件至第k个第二导电部件依次连接第1个导电单元至第k+1个导电单元。

在应用中，可以通过第k个第二导电部件连接第k个导电单元与第k+1个导电单元，以将第k个导电单元与第k+1个导电单元电性连接；第k个导电单元和第k+1个导电单元未通过第k+1个第二导电部件连接时，第k个导电单元和第k+1个导电单元断开。

在应用中，通过第k+1个第二导电部件，可以方便的连接第k个导电单元和第k+1个导电单元，也可以保持第k个导电单元和第k+1个导电单元断开，从而通过第1个第二导电部件至第k个第二导电部件的第二导电部件，可以依次连接第1个导电单元至第k+1个的导电单元，从而将第k条栅极线输出的栅极驱动信号导出至外引脚贴合区进行测试。

步骤S503、对第k条栅极线输出的栅极驱动信号进行检测；

步骤S504、当检测结果异常时，输出表征第k条栅极线故障的故障信号。

在应用中，步骤S503和步骤S504的检测方法和上述步骤S303和步骤S304的检测方法相同，在此不再赘述。

在应用中，当有多条需要测试的栅极线时，通过第1个第二导电部件至最后一条需要测试的栅极线对应的第二导电部件，便于依次连接第1个导电单元至最后一条需要测试的栅极线对应的导电单元，从而将上述多条需要测试的栅极线输出的栅极驱动信号导出至外引脚贴合区进行测试。

如图6所示，本申请实施例提供一种基于图4所对应的实施例中的测试方法，包括如下步骤S601至步骤S604：

步骤S601、通过激光焊接方式连接第k条栅极线与第k+1个导电单元。

在应用中，可以通过激光发射设备对第k条栅极线和对应的第k+1个导电单元的相交处进行激光焊接，以将第k条栅极线和对应的第k+1个导电单元电性连接，焊接点可以根据实际情况进行选择。

图7示例性的示出了栅极线71通过激光焊接形成的连接体72与对应的导电单元73连接。

步骤S602、通过激光焊接方式依次连接第1个导电单元至第k+1条导电单元。

在应用中，可以通过激光焊接方式将第k个第二导电部件分别连接第k个导电单元和第k+1个导电单元，以连接第k个导电单元和第k+1个导电单元，例如，将第1个第二导电部件分别与第1个导电单元和第2个导电单元进行激光焊接，以将第1个第二导电部件分别与第1个导电单元和第2个导电单元形成电性连接，从而实现第1个导电单元和第2个导电单元的连接，焊接点可以根据实际情况进行选择。同理，通过第1个第二导电部件至第k个第二导电部件，可以依次连接第1个导电单元至第k+1个的导电单元，从而将第k条栅极线输出的栅极驱动信号导出至外引脚贴合区进行测试。

图8示例性的示出了第k个第二导电部件81通过激光焊接形成的连接体82分别与第k个导电单元83和第k+1个导电单元84连接。

步骤S603、对第k条栅极线输出的栅极驱动信号进行检测；

步骤S604、当检测结果异常时，输出表征第k条栅极线故障的故障信号。

在应用中，步骤S503和步骤S504的检测方法和上述步骤S303和步骤S304的检测方法相同，在此不再赘述。

图6所对应的实施例，通过提供一种基于图4所对应的实施例中的显示面板的测试方法，连接第k条栅极线与第k+1个导电单元；依次连接第1个导电单元至第k+1个导电单元；对第k条栅极线输出的栅极驱动信号进行检测，可以选择任意一条或任意多条的栅极线并对其输出的栅极驱动信号进行测试，以提升测试的灵活度，并且未进行测试的栅极线和对应的导电单元断开，可以减少测试模组中未进行测试的栅极线的负载，提升测试模组运行的稳定性。

应理解，上述实施例中各步骤的序号的大小并不意味着执行顺序的先后，各过程的执行顺序应以其功能和内在逻辑确定，而不应对本申请实施例的实施过程构成任何限定。

在上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述或记载的部分，可以参见其它实施例的相关描述。

需要说明的是，上述模组之间的信息交互、执行过程等内容，由于与本申请方法实施例基于同一构思，其具体功能及带来的技术效果，具体可参见方法实施例部分，此处不再赘述。

本领域普通技术人员可以意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的模组及方法步骤，能够以电子硬件、或者计算机软件和电子硬件的结合来实现。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本申请的范围。

以上所述实施例仅用以说明本申请的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本申请进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本申请各实施例技术方案的精神和范围，均应包含在本申请的保护范围之内。

Claims (7)

1.一种显示面板的测试模组，其特征在于，所述测试模组包括n条栅极线和第一导电部件，所述第一导电部件包括n+1个导电单元，任意相邻的两个所述导电单元之间间隔设置，第1个导电单元与所述显示面板的外引脚贴合区连接，第i+1个导电单元和第i条栅极线相交并间隔设置，第1条栅极线至第n条栅极线和第2个导电单元至第n+1个导电单元一一对应；

其中，i＝1，2，…，n，n≥1且n为整数；

所述测试模组还包括n个第二导电部件，第i个第二导电部件设置于第i个导电单元与第i+1个导电单元之间的间隔处；

所述栅极线和所述第一导电部件设置于所述显示面板的阵列基板一侧的不同层，所述第一导电部件和所述第二导电部件设置于所述显示面板的阵列基板一侧的相同层；当所述第一导电部件和所述第二导电部件都设置在第二金属层时，所述第一导电部件和所述第二导电部件之间的垂直间隔大于预设距离；

或者，所述栅极线和所述第二导电部件设置于所述显示面板的阵列基板一侧的相同层，所述栅极线和所述第一导电部件设置于所述显示面板的阵列基板一侧的不同层；其中，当所述栅极线和所述第二导电部件都设置在第一金属层时，所述栅极线和所述第二导电部件之间的垂直间隔大于预设距离；

或者，所述栅极线、所述第二导电部件和所述第一导电部件依次设置于所述显示面板的阵列基板一侧的不同层。

2.如权利要求1所述的测试模组，其特征在于，所述测试模组包括栅极信号总线，每条所述栅极线通过所述栅极信号总线与所述显示面板的外引脚贴合区连接。

3.如权利要求1所述的测试模组，其特征在于，所述导电单元为金属导电单元或氧化铟锡导电单元。

4.一种基于权利要求1至3任一项所述的显示面板的测试模组实现的测试方法，其特征在于，所述方法包括：

连接第k条栅极线与第k+1个导电单元；

依次连接第1个导电单元至第k+1个导电单元；

对第k条栅极线输出的栅极驱动信号进行检测；其中，k∈[1,n]；

所述依次连接第1个导电单元至第k+1个导电单元，包括：

通过第1个第二导电部件至第k个第二导电部件依次连接第1个导电单元至第k+1个导电单元。

5.如权利要求4所述的测试方法，其特征在于，所述连接第k条栅极线与第k+1个导电单元，包括：

通过激光焊接方式连接第k条栅极线与第k+1个导电单元；

所述依次连接第1个导电单元至第k+1个导电单元，包括：

通过激光焊接方式依次连接第1个导电单元至第k+1条导电单元。

6.如权利要求4所述的测试方法，其特征在于，所述对第k条栅极线输出的栅极驱动信号进行检测之后，还包括：

当检测结果异常时，输出表征所述第k条栅极线故障的故障信号。

7.如权利要求4所述的测试方法，其特征在于，所述对第k条栅极线输出的栅极驱动信号进行检测之前，还包括：

控制所述第k条栅极线输出栅极驱动信号。

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