CN109949729A - Amoled面板成盒检测电路及其修复数据线的方法 - Google Patents

Amoled面板成盒检测电路及其修复数据线的方法 Download PDF

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Abstract

本发明涉及一种AMOLED面板成盒检测电路及其修复数据线的方法。该电路包括：第一开关(SW1)，其控制端连接检测控制信号(EN)，输入端输入第一数据信号(Data R/B)，输出端连接第一检测数据信号线(CT R)；第二开关(SW2)，其控制端连接检测控制信号(EN)，输入端输入第二数据信号(Data B/R)，输出端连接第二检测数据信号线(CT B)；第三开关(SW3)，其控制端连接检测控制信号(EN)，输入端输入第三数据信号(Data G)，输出端连接第三检测数据信号线(CT G)；各类数据线分别连接第一检测数据信号线(CT R)、第二检测数据信号线(CT B)及第三检测数据信号线(CT G)。本发明不仅可以实现成盒检测电路的画面检测功能，且能实现电路修复，提升良率。

Description

AMOLED面板成盒检测电路及其修复数据线的方法
技术领域
本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种AMOLED面板成盒检测电路及其修复数据线的方法。
背景技术
有源矩阵有机发光二极体(Active-matrix organic light emitting diode，简称AMOLED)面板具有自发光的特性，采用非常薄的有机材料涂层和玻璃基板制作，当有电流通过时，这些有机材料就会发光。AMOLED面板是自发光，不像薄膜场效应晶体管液晶显示(TFT LCD)面板需要背光，视角广，色饱和度高，尤其其驱动电压低且功耗低，加上反应快、重量轻、厚度薄，构造简单，成本低等，被视为最具前途的产品之一。
目前，产品的良率仍然是AMOLED技术的关键问题，为监控面板生产各段制程的良率，一般会在面板中设计各种检测电路，用于各段制程中筛选能正常工作的面板，减少不良品流入后段制程中。成盒检测(Cell Test，CT)电路为一种常见的检测电路，用于在面板的成盒(Cell)段制程进行检测。
一般的AMOLED面板的设计，成盒检测电路仅能作为检测面板显示的电路。参见图1，其为一种现有一般的成盒检测电路示意图，其使用走线较多，空间占比较大，不利于面板的窄边框设计，主要包括T1～T6六个薄膜晶体管作为开关，T1～T6的栅极分别连接三个检测控制信号EN-G、EN-R/B及EN-B/R作为开关信号，T1～T6的输入端分别输入作为检测的数据信号Data R/B、Data G及Data B/R，T1～T6的输出端分别连接检测数据信号线CT-G、CT-B/R及CT-R/B，通过各检测数据信号线再连接面板有效显示区(AA)内的各数据线以分别输入数据信号Data R/B、Data G及Data B/R进行成盒检测。
当面板内的数据线失效时，面板画面显示异常(出现竖直亮线)，图1所示现有的成盒检测电路仅作为画面检测电路存在。
发明内容
因此，本发明的目的在于提供一种AMOLED面板成盒检测电路及其修复数据线的方法，克服现有的成盒检测电路仅作为画面检测电路存在的缺点。
为实现上述目的，本发明提供了一种AMOLED面板成盒检测电路，包括：
第一开关，其控制端连接检测控制信号，输入端输入第一数据信号，输出端连接第一检测数据信号线；
第二开关，其控制端连接检测控制信号，输入端输入第二数据信号，输出端连接第二检测数据信号线；
第三开关，其控制端连接检测控制信号，输入端输入第三数据信号，输出端连接第三检测数据信号线；
面板内的数据线按照其所连接子像素的排列方式分为第一类数据线、第二类数据线及第三类数据线，第一检测数据信号线连接第一类数据线，第二检测数据信号线连接第二类数据线，第三检测数据信号线连接第三类数据线；
第一检测数据信号线、第二检测数据信号线及第三检测数据信号线在面板有效显示区两侧分别设有对应的第一垂直走线、第二垂直走线及第三垂直走线，并且在面板有效显示区内垂直于数据线方向按照预设间隔分别设有连接两侧对应的第一垂直走线、第二垂直走线及第三垂直走线的多条第一种平行走线、第二种平行走线及第三种平行走线。
其中，所述第一类数据线所连接的子像素按照R子像素、B子像素交替排列；所述第二类数据线所连接的子像素按照B子像素、R子像素交替排列；所述第三类数据线所连接的子像素均为G子像素。
其中，成盒检测时，所述第一数据信号、第二数据信号及第三数据信号采用时钟信号实现纯色/或色条画面检测。
其中，所述成盒检测电路还连接成盒检测焊盘，所述成盒检测焊盘用于向成盒检测电路提供所述第一数据信号、第二数据信号及第三数据信号。
其中，所述成盒检测焊盘数量为两个，并且分别位于有效显示区下方的两侧。
其中，所述成盒检测电路的主体位于有效显示区上方。
其中，当面板内数据线未发生断路时，所述第一种平行走线、第二种平行走线及第三种平行走线不与数据线连接。
其中，当面板内某一数据线的某一位置具有断路时，第一种平行走线、第二种平行走线及第三种平行走线其中一种连接所述某一数据线以修复在所述某一位置的断路。
本发明还提供了一种应用前述AMOLED面板成盒检测电路修复数据线的方法，包括：
步骤10、通过成盒检测电路检测面板有效显示区内某一数据线在其某一位置的断路；
步骤20、在所述某一数据线的所述某一位置两侧分别选取一个位置，从第一种平行走线、第二种平行走线及第三种平行走线中选取一种以在所述选取的位置连接所述某一数据线以修复其在所述某一位置的断路；
步骤30、在模组段切断成盒检测焊盘向成盒检测电路所提供的第一数据信号、第二数据信号和第三数据信号。
其中，还包括步骤21、重复步骤10及步骤20，以修复所述某一数据线上所有位置的断路。
其中，还包括步骤22、重复步骤21，以修复面板有效显示区内多条数据线的断路。
其中，所述第一种平行走线、第二种平行走线及第三种平行走线分别用于修复面板有效显示区内三根不同数据线的断路。
其中，所述第一种平行走线、第二种平行走线及第三种平行走线其中任意一种用于修复面板有效显示区内同一数据线的不同位置的断路。
综上，本发明的AMOLED面板成盒检测电路及其修复数据线的方法不仅可以实现成盒检测电路的画面检测功能，且能实现电路修复，提升面板生产良率。
附图说明
下面结合附图，通过对本发明的具体实施方式详细描述，将使本发明的技术方案及其他有益效果显而易见。
附图中，
图1为一种现有一般的成盒检测电路示意图；
图2a为本发明AMOLED面板成盒检测电路一较佳实施例的设计图；
图2b为本发明AMOLED面板成盒检测电路一较佳实施例的等效电路图；
图3为本发明AMOLED面板成盒检测电路一较佳实施例显示红色画面时的时序信号示意图；
图4为本发明AMOLED面板成盒检测电路一较佳实施例成盒检测电路及其焊盘的位置示意图；
图5a为本发明AMOLED面板成盒检测电路一较佳实施例在面板内的连接方式示意图；
图5b为本发明AMOLED面板成盒检测电路一较佳实施例的失效电路修复原理示意图；
图5c为本发明AMOLED面板成盒检测电路一较佳实施例检测黑色画面时异常画面显示效果示意图；
图5d为图5c所示异常画面修复后显示效果示意图。
具体实施方式
参见图2a、图2b及图5a，图2a为本发明AMOLED面板成盒检测电路一较佳实施例的设计图，图2b为该较佳实施例的等效电路图，图5a为该较佳实施例在面板内的连接方式示意图。如图2a所示，本发明的AMOLED面板成盒检测电路主要包括：
第一开关SW1，其控制端连接检测控制信号EN，输入端输入第一数据信号Data R/B，输出端连接第一检测数据信号线CT R；
第二开关SW2，其控制端连接检测控制信号EN，输入端输入第二数据信号Data B/R，输出端连接第二检测数据信号线CT B；
第三开关SW3，其控制端连接检测控制信号EN，输入端输入第三数据信号Data G，输出端连接第三检测数据信号线CT G；
检测控制信号EN可以控制各开关的通断，从而可以控制成盒检测电路是否工作；第一开关SW1、第二开关SW2及第三开关SW3可以采用薄膜晶体管，相应的控制端为薄膜晶体管的栅极，相应的输入端及输出端为薄膜晶体管的源极和漏极；
面板内的数据线按照其所连接子像素的排列方式分为第一类数据线、第二类数据线及第三类数据线，第一检测数据信号线CT R连接第一类数据线，第二检测数据信号线CTB连接第二类数据线，第三检测数据信号线CT G连接第三类数据线；
数据线的分类与像素区域内R/G/B排列方式相关，如图2b所示，在此实施例中，R/G/B排列为第一行RGBG周期排列，第二行BGRG周期排列，奇数行重复第一行排列，偶数行重复第二行排列；从纵向来看，也就是第一类数据线所连接的子像素按照R子像素、B子像素交替排列；所述第二类数据线所连接的子像素按照B子像素、R子像素交替排列；所述第三类数据线所连接的子像素均为G子像素；在其他实施例中，也可以采用与图2b所示不同R/G/B排列方式，在此不再赘述。一共只有三条检测数据信号线，第一检测数据信号线CT R连接第一类数据线，第二检测数据信号线CT B连接第二类数据线，第三检测数据信号线CT G连接第三类数据线；对于面板有效显示区的第一行像素来说，第一检测数据信号线CT R输入有效显示区第一行发光层为红色的像素电路，第二检测数据信号线CT B输入有效显示区第一行发光层为蓝色的像素电路，第三检测数据信号线CT G输入有效显示区第一行发光层为绿色的像素电路。由此较佳实施例中特定的R/G/B排列方式所决定，根据时序变化，第一数据信号Data R/B可以为红色子像素或蓝色子像素的检测数据，第二数据信号Data B/R可以为蓝色子像素或红色子像素的检测数据，第三数据信号Data G一直为绿色子像素的检测数据。
如图5a所示，第一检测数据信号线CT R、第二检测数据信号线CT B及第三检测数据信号线CT G在面板有效显示区(AA)两侧分别设有对应的第一垂直走线2、第二垂直走线2及第三垂直走线3，并且在面板有效显示区内垂直于数据线5方向按照预设间隔分别设有连接两侧对应的第一垂直走线、第二垂直走线及第三垂直走线的多条第一种平行走线、第二种平行走线及第三种平行走线。当面板内数据线5未发生断路时，第一种平行走线、第二种平行走线及第三种平行走线不与数据线5连接。另外，面板有效显示区两侧还分别设有检测控制信号4以传输检测控制信号EN，检测控制信号EN可以来自于成盒检测电路焊盘。本发明所提供的CT电路，在AA区相邻一段区域周期性的通过两侧的走线引入第一检测数据信号线CT R、第二检测数据信号线CT B及第三检测数据信号线CT G共三根信号线穿过整个AA区，但并未连入AA区。当面板内某一数据线5的某一位置具有断路时，第一种平行走线、第二种平行走线及第三种平行走线其中一种连接某一数据线5以修复在所述某一位置的断路。
一般的AMOLED显示器的设计中，CT电路仅能作为检测面板显示的电路，本发明提供的方案，将原来的CT电路进行改进，不仅可以实现CT电路的画面检测功能，且数据线失效时，可以利用激光焊接(laser welding)将CT电路的检测信号线与面板的数据线融合导通，原先的线缺陷(defect)将被改善，改善后的显示效果与优等面板几乎没有显示差别。此改善方案实现了电路修复，提升面板生产良率。
如图3所示，其为本发明AMOLED面板成盒检测电路一较佳实施例显示红色画面时的时序信号示意图，显示红色画面时输入面板有效显示区红色子像素的检测数据data R为高电平，相应的输入面板有效显示区绿色子像素的检测数据data B为低电平。在本发明中，第一数据信号Data R/B、第二数据信号Data B/R及第三数据信号Data G的数据信号可以采用时钟(clock)信号，从而可以实现纯色及色条(color bar)画面检测，且显示效果与现有一般CT电路检测面板几乎没有显示差别。
如图4所示，其为本发明AMOLED面板成盒检测电路一较佳实施例成盒检测电路及其焊盘的位置示意图。成盒检测电路100的主体位于有效显示区101上方，扇出走线102用于有效显示区101内数据线与绑定区103所绑定的芯片之间的走线连接。成盒检测电路100还连接成盒检测焊盘104，成盒检测焊盘104可以用于向成盒检测电路100提供第一数据信号Data R/B、第二数据信号Data B/R、第三数据信号Data G及检测控制信号EN等信号，柔性印刷电路板105可以用于连接电子设备主板。在此实施例中，成盒检测焊盘104数量为两个，并且分别位于有效显示区101下方的两侧。
根据本发明的AMOLED面板成盒检测电路，本发明还提供了基于本发明的成盒检测电路修复数据线的方法，本发明的创新点在于采用了一种新的CT电路连接方式，不仅可以实现CT电路的画面检测功能，且能实现电路修复功能。在现有一般的AMOLED显示器的设计，CT电路仅能作为检测面板显示电路，本发明提供的这种方案，将原来的CT电路进行改进，不仅可以实现CT电路的画面检测功能，同时可以准确确定多次断路位置，且数据线失效时，可以利用激光焊接(laser welding)将CT电路的第一种平行走线、第二种平行走线及第三种平行走线与数据线融合导通，原先的线缺陷(defect)将被改善，且改善后的显示效果与优等面板几乎没有显示差别，此改善方案实现了电路修复,提升面板生产良率。
参见图5b，其为本发明AMOLED面板成盒检测电路一较佳实施例的失效电路修复原理示意图，并可结合图5a、图5c及图5d进行理解，图5c为该较佳实施例检测黑色画面时异常画面显示效果示意图，图5d为图5c所示异常画面修复后显示效果示意图。本发明的修复数据线的方法，主要包括：
步骤10、通过成盒检测电路检测面板有效显示区内某一数据线在其某一位置的断路。在CT电路检测黑色画面时，若AA区某条数据线失效，比如数据线在a位置处发生断路情况，数据线在a位置处竖直反向整条线上像素无数据信号输入，面板显示画面为竖直亮线。
步骤20、在所述某一数据线的所述某一位置两侧分别选取一个位置，从第一检测数据信号线CT R、第二检测数据信号线CT B及第三检测数据信号线CT G对应的第一种平行走线、第二种平行走线及第三种平行走线中选取一种以在所述选取的位置连接所述某一数据线以修复其在所述某一位置的断路。在数据线a位置处两侧分别选取b位置处及c位置处，此时可将其中一条CT电路的平行走线在如图5b中b位置处采用激光焊接(laser welding)技术将数据信号引入AA区电路，此时该竖直方向数据线有两个相同信号输入，之前因为断路而在a位置处下方没有信号输入显示异常的像素，因b位置处引入数据信号而实现了画面显示正常，同时为使其在模组阶段正常出货，需在c位置处采用激光焊接技术将数据线与外围CT电路的平行走线连接，使作为修复线的CT电路的平行走线在模组段也有信号输入。
进一步，还可以包括步骤21、重复步骤10及步骤20，以修复所述某一数据线上所有位置的断路。通过对某一数据线重复步骤10及步骤20中检测及修复的过程，本发明不仅可以实现CT电路的画面检测功能，同时可以准确确定多次断路位置，进而可以将某一数据线上所有位置的断路修复。第一检测数据信号线CT R、第二检测数据信号线CT B及第三检测数据信号线CT G对应的第一种平行走线、第二种平行走线及第三种平行走线其中任意一种都可以用于修复面板有效显示区内同一数据线的不同位置的断路，实现相同竖直数据线任意位置的修复。
进一步，还可以包括步骤22、重复步骤21，以修复面板有效显示区内多条数据线的断路。通过对面板有效显示区内各数据线分别重复步骤21的检测及修复过程，可以修复面板有效显示区内多条数据线的断路。由于CT电路具有第一检测数据信号线CT R、第二检测数据信号线CT B及第三检测数据信号线CT G对应的第一种平行走线、第二种平行走线及第三种平行走线供三种，因此可以分别用于对应修复面板有效显示区内三根不同数据线的断路，从而可以同时实现面板内三处不同竖直数据线的修复，并且进一步对于每个相同的数据线来说也可以实现该相同竖直数据线上任意位置的修复。
步骤30、在模组段切断成盒检测焊盘向成盒检测电路所提供的第一数据信号DataR/B、第二数据信号Data B/R和第三数据信号Data G。在模组时采用激光切断CT焊盘给CT电路各检测数据信号线的信号，避免模组时芯片和CT焊盘同时给作为修复线的CT电路平行线信号，避免芯片损坏。本发明的改善方案不仅实现了CT电路的画面检测功能，同时也实现了电路修复功能，提升面板生产良率。
综上，一般的AMOLED显示器的设计，CT电路仅能作为检测面板显示的电路，若面板里相同数据线出现多次断路(显示画面为竖直亮线)，并不能准确检测出多处断路位置，本发明所提供的这种方案，将原来的CT电路进行改进，不仅可以实现CT电路的画面检测功能，同时可以准确确定多次断路位置，且能实现了电路修复；并且更近一步，当数据线失效时，可以利用激光焊接将CT电路的平行走线与数据线融合导通，原先的线缺陷将被改善，且改善后的显示效果与优等面板几乎没有显示差别，此改善方案实现了电路修复,提升面板生产良率。
以上所述，对于本领域的普通技术人员来说，可以根据本发明的技术方案和技术构思作出其他各种相应的改变和变形，而所有这些改变和变形都应属于本发明后附的权利要求的保护范围。

Claims (13)

1.一种AMOLED面板成盒检测电路，其特征在于，包括：
第一开关(SW1)，其控制端连接检测控制信号(EN)，输入端输入第一数据信号(Data R/B)，输出端连接第一检测数据信号线(CT R)；
第二开关(SW2)，其控制端连接检测控制信号(EN)，输入端输入第二数据信号(Data B/R)，输出端连接第二检测数据信号线(CT B)；
第三开关(SW3)，其控制端连接检测控制信号(EN)，输入端输入第三数据信号(DataG)，输出端连接第三检测数据信号线(CT G)；
面板内的数据线按照其所连接子像素的排列方式分为第一类数据线、第二类数据线及第三类数据线，第一检测数据信号线(CT R)连接第一类数据线，第二检测数据信号线(CTB)连接第二类数据线，第三检测数据信号线(CT G)连接第三类数据线；
第一检测数据信号线(CT R)、第二检测数据信号线(CT B)及第三检测数据信号线(CTG)在面板有效显示区两侧分别设有对应的第一垂直走线、第二垂直走线及第三垂直走线，并且在面板有效显示区内垂直于数据线方向按照预设间隔分别设有连接两侧对应的第一垂直走线、第二垂直走线及第三垂直走线的多条第一种平行走线、第二种平行走线及第三种平行走线。
2.如权利要求1所述的AMOLED面板成盒检测电路，其特征在于，所述第一类数据线所连接的子像素按照R子像素、B子像素交替排列；所述第二类数据线所连接的子像素按照B子像素、R子像素交替排列；所述第三类数据线所连接的子像素均为G子像素。
3.如权利要求1所述的AMOLED面板成盒检测电路，其特征在于，成盒检测时，所述第一数据信号(Data R/B)、第二数据信号(Data B/R)及第三数据信号(Data G)采用时钟信号实现纯色/或色条画面检测。
4.如权利要求1所述的AMOLED面板成盒检测电路，其特征在于，所述成盒检测电路还连接成盒检测焊盘，所述成盒检测焊盘用于向成盒检测电路提供所述第一数据信号(Data R/B)、第二数据信号(Data B/R)及第三数据信号(Data G)。
5.如权利要求4所述的AMOLED面板成盒检测电路，其特征在于，所述成盒检测焊盘数量为两个，并且分别位于有效显示区下方的两侧。
6.如权利要求5所述的AMOLED面板成盒检测电路，其特征在于，所述成盒检测电路的主体位于有效显示区上方。
7.如权利要求1所述的AMOLED面板成盒检测电路，其特征在于，当面板内数据线未发生断路时，所述第一种平行走线、第二种平行走线及第三种平行走线不与数据线连接。
8.如权利要求1所述的AMOLED面板成盒检测电路，其特征在于，当面板内某一数据线的某一位置具有断路时，所述第一种平行走线、第二种平行走线及第三种平行走线其中一种连接所述某一数据线以修复在所述某一位置的断路。
9.一种应用如权利要求1所述AMOLED面板成盒检测电路修复数据线的方法，其特征在于，包括：
步骤10、通过成盒检测电路检测面板有效显示区内某一数据线在其某一位置的断路；
步骤20、在所述某一数据线的所述某一位置两侧分别选取一个位置，从第一种平行走线、第二种平行走线及第三种平行走线中选取一种以在所述选取的位置连接所述某一数据线以修复其在所述某一位置的断路；
步骤30、在模组段切断成盒检测焊盘向成盒检测电路所提供的第一数据信号(Data R/B)、第二数据信号(Data B/R)和第三数据信号(Data G)。
10.如权利要求9所述的修复数据线的方法，其特征在于，还包括：步骤21、重复步骤10及步骤20，以修复所述某一数据线上所有位置的断路。
11.如权利要求10所述的修复数据线的方法，其特征在于，还包括：步骤22、重复步骤21，以修复面板有效显示区内多条数据线的断路。
12.如权利要求9所述的修复数据线的方法，其特征在于，所述第一种平行走线、第二种平行走线及第三种平行走线分别用于修复面板有效显示区内三根不同数据线的断路。
13.如权利要求9所述的修复数据线的方法，其特征在于，所述第一种平行走线、第二种平行走线及第三种平行走线其中任意一种用于修复面板有效显示区内同一数据线的不同位置的断路。
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