CN101000736A - 短路检测装置及应用该装置的像素单元和显示面板 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种像素单元，包括像素电极、扫描电极、共同电压电极、数据电极以及至少一冗余电极。在像素单元的工艺中，若有颗粒(particle)同时附着于像素电极、扫描电极和共同电压电极其中两个电极时，则会使得这两个电极产生短路。本发明可以使得像素单元在数组测试或是液晶胞测试时，在短路的位置产生十字型缺陷。藉此，使用者可以快速找出缺陷位置并将其修补。

Description

短路检测装置及应用该装置的像素单元和显示面板

技术领域

本发明涉及一种检测装置，且特别是一种可以找出在显示面板上短路位置的短路检测装置。

背景技术

目前是一个3C的时代，也就是计算机(Computer)、通讯(Communication)、和消费性电子产品(Consumer electronics)的时代。在这样的导向下，市面上有许多琳琅满目的信息设备不断地被推出，例如，手机、PDA、GPS、数字相机和显示器等。其中，大部分的信息设备都是以平面显示器作为主要的沟通接口。

然而，在以往的显示设备中，几乎都是以阴极射线管为主。由于近年来半导体工艺技术的进步，使得液晶显示器相较于传统的阴极射线管具有轻、薄、短、小以及低消耗功率等优点。因此，液晶显示器在显示市场占有相当大的比率。

图1为现有技术像素单元的电路图。请参照图1，现有技术的像素单元100包括扫描电极102、共同电压电极104、数据电极106以及像素电极108。一般而言，扫描电极102和共同电压电极104具有不同的电位。然而，在半导体工艺中，若有颗粒(如110所示)掉落至扫描电极102和共同电压电极104上，则会使得这两个电极形成短路。

图2为现有技术像素单元经过数组测试后的测试结果。请参照图2，当现有技术的像素单元有例如图1所示的缺陷时，会使得两个电极形成短路，而在像素单元在数组测试(array test)或是液晶胞测试(cell test)时，产生一水平线的缺陷信号，如210所示。但是，依据此一水平线的缺陷信号210，并无法快速以及精确地找出有缺陷的像素的位置，导致测试的时间加长以及成本的增加。

发明内容

本发明的目的就是提供一种显示面板及其像素单元，当显示面板作数组测试或是液晶胞测试时，能够快速并精确地找出有缺陷的像素单元。

从另一观点来看，本发明的就是提供一种短路检测装置，可以检测显示面板在扫描电极和共同电压电极发生短路，或是像素电极与扫描电极发生短路的情形。

本发明提出一种像素单元，其配置于基板上。像素单元包括像素电极、扫描电极、共同电压电极、数据电极以及至少一冗余电极。其中，冗余电极配置于像素电极与扫描电极之间，以及配置于扫描电极与共同电压电极之间二者至少其中之一，并耦接数据电极。

从另一观点来看，本发明提出一种显示面板，包括基板、多数个显示区域以及至少一冗余电极。其中，多数个显示区域配置于基板上，而每一显示区域是由数据电极、扫描电极和共同电压电极所围成，且每一显示区域中都配置一像素电极。此外，冗余电极耦接这些数据电极其中之一，并配置于像素电极与扫描电极之间，以及配置于扫描电极与该共同电压电极之间二者至少其中之一。

从另一观点来看，本发明提出一种短路检测装置，适于检测在一显示面板中，是否具有扫描电极和共同电压电极发生短路，或是像素电极与扫描电极发生短路。而短路检测装置包括冗余电极和连接插塞。其中，冗余电极耦接配置在显示面板中之一数据电极，并配置在像素电极与扫描电极之间，以及配置在扫描电极与共同电压电极之间二者至少其中之一，而冗余电极具有一孔洞。此外，在孔洞中还包含一连接插塞，用以将冗余电极耦接至显示面板的基板。

综上所述，本发明可以藉由配置在像素电极与扫描电极之间，以及配置于扫描电极与共同电压电极之间二者至少其中之一的冗余电极，而可以快速并精确地找出显示面板上发生缺陷的像素的位置，使得使用者可以更有效率地将其修补。

为让本发明之上述和其它目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合附图，作详细说明如下。

附图说明

图1为现有技术像素单元的电路图；

图2为现有技术像素单元经过数组测试后的测试结果；

图3为依照本发明之一较佳实施例的一种显示面板的电路图；

图4为依照本发明之一较佳实施例的一种像素单元的电路图；

图5为本实施例之像素单元经过数组测试后的测试结果；

图6为依照本发明另一种像素单元的电路图；

图7为依照本发明另一种像素单元的电路图。

其中，附图标记为：

100、400、600、700：像素单元

102、405：扫描电极

104、403：共同电压电机

106、407：数据电极

108、409：像素电极

110、420、605、705、707：颗粒

210：水平线的缺陷信号

300：显示面板

303：基板

305：显示区域

413、601、701、703：冗余电极

415：孔洞

417：连接插塞

501：十字型缺陷信号

具体实施方式

图3为依照本发明之一较佳实施例的一种显示面板的电路图。请参照图3，本发明的显示面板300包括基板303和多个显示区域305。其中，这些显示区域305是以数组的方式配置于基板303上。

图4为依照本发明之一较佳实施例的一种像素单元的电路图，可以适用于图3的显示区域。请参照图4，本发明的像素单元400包括共同电压电极403、扫描电极405、像素电极409、数据电极407和冗余电极413。众所皆知地，扫描电极405的延伸方向与共同电压电极403的延伸方向可以为平行，而与数据电极407的延伸方向大致上为垂直，并且彼此并不互相接触。而像素电极409则配置于扫描电极405、数据电极407与共同电压电极403所围成的区域内。

特别的是，本发明在数据电极407上，还配置了一短路检测装置的结构，以检测在扫描电极405和共同电压电极403之间，是否发生短路。本发明所提供的短路检测装置包括一冗余电极413。而冗余电极413则包含一孔洞415，且孔洞415中还配置连接插塞417，藉此将冗余电极413耦接至基板。此外，在本发明中，共同电压电极403耦接至共同电压。

请继续参照图4，在像素单元400的工艺中，若有一颗粒(paticle)420同时附着于扫描电极405和共同电压电极403，则会造成扫描电极405和共同电压电极403短路。在本实施例中，由于扫描电极405和共同电压电极403之间配置一冗余电极413，且冗余电极413耦接至数据电极407。藉此，当颗粒420同时附着于扫描电极405和共同电压电极403时，也会和冗余电极413产生短路，使得扫描电极405、共同电压电极403以及数据电极407三者短路。

图5为本实施例的像素单元经过数组测试后的测试结果。请合并参照图4和图5，当像素单元400被驱动时，若是像素单元400具有例如图1所绘示的缺陷，则会导致扫描电极405、共同电压电极403和数据电极407具有相同的电位。因此，当有缺陷的像素单元400在作数组测试(array test)或是液晶胞测试(cell test)时，会产生十字型缺陷信号501。藉此，使用者可以依据十字型缺陷信号501而准确地找出缺陷位置，并将其修补。

图6为依照本发明另一种像素单元的电路图，可以适用于图3的显示区域。请参照图6，其中与图4的像素单元有相同编号的组件，代表相同的功能与工作原理。本实施例的像素单元600与第一实施例不同处，为冗余电极601配置于扫描电极405和像素电极409之间。此外，当有颗粒605同时附着于扫描电极405和像素电极409时，熟知此项技术者当可以依据图4的说明，来推得发生缺陷的位置。

图7为依照本发明另一种像素单元的电路图，可以适用于图3的显示区域。请参照图7，其中与图4的像素单元有相同编号的组件，代表相同的功能与工作原理。本实施例的像素单元700与第一实施例不同处，为冗余电极701和703分别配置于扫描电极405和像素电极409之间以及扫描电极405与共同电压电极403之间。此外，当有颗粒705和707同时附着于扫描电极405和像素电极409以及同时附着于扫描电极405和与共同电压电极403时，熟知此一技艺者当可以依据图4的说明，来推得发生缺陷的位置。

综上所述，本发明之显示面板的像素单元至少包含一冗余电极，当有颗粒附着于像素单元之任两个电极时，则会使得像素电极、扫描电极和数据电极相互短路。因此，当有缺陷的像素单元在作数组测试(array test)或是液晶胞测试(cell test)时，会产生一十字型缺陷信号，藉此，使用者可以依据快速找到缺陷位置并将其修补。

虽然本发明已以前述较佳实施例揭露如上，然其并非用以限定本发明，在不背离本发明精神及其实质的情况下，熟悉本领域的技术人员当可根据本发明作出各种相应的改变和变形，但这些相应的改变和变形都应属于本发明所附的权利要求的保护范围。

Claims (11)

1.一种像素单元，配置于一基板上，其特征在于，该像素单元包括：

一像素电极；

一扫描电极；

一共同电压电极；

一数据电极；以及

至少一冗余电极，配置于该像素电极与该扫描电极之间，以及配置于该扫描电极与该共同电极之间二者至少其中之一，并耦接该数据电极。

2.根据权利要求1所述的像素单元，其特征在于，该共同电压电极的延伸方向与该扫描电极的延伸方向大致平行。

3.根据权利要求1所述的像素单元，其特征在于，该数据电极的延伸方向与该扫描电极的延伸方向大致垂直。

4.根据权利要求1所述的像素单元，其特征在于，该冗余电极包括：

一孔洞；以及

一连接插塞，配置于该孔洞中，用以将该冗余电极耦接至该基板。

5.一种显示面板，其特征在于，包括：

一基板；

多数个显示区域，位于该基板上，而每一显示区域是由一数据电极、一扫描电极和一共同电压电极所围成，且每一显示区域中都配置一像素电极；以及

至少一冗余电极，耦接该些数据电极其中之一，并配置于该像素电极与该扫描电极之间，以及配置于该扫描电极与该共同电极之间二者至少其中之一。

6根据权利要求5所述的显示面板，其特征在于，该共同电压电极的延伸方向与该扫描电极的延伸方向大致平行。

7.根据权利要求5所述的显示面板，其特征在于，该数据电极的延伸方向与该扫描电极的延伸方向大致垂直。

8.根据权利要求5所述的显示面板，其特征在于，该共同电压电极耦接至一共同电压。

9.根据权利要求5所述的显示面板，其特征在于，该冗余电极包括：

一孔洞；以及

一连接插塞，配置于该孔洞中，用以将该冗余电极耦接至该基板。

10.一种短路检测装置，适于检测在一显示面板中，是否具有一扫描电极和一共同电压电极发生短路，或是一像素电极与该扫描电极发生短路，其特征在于，该短路检测装置包括：

一冗余电极，耦接配置在该显示面板中的一数据电极，并配置于该像素电极与该扫描电极之间，以及配置于该扫描电极与该共同电极之间二者至少其中之一，而该透明电极具有一孔洞；以及

一连接插塞，配置于该孔洞中，用以将该透明电极耦接至该显示面板的基板。

11.根据权利要求10所述的短路检测装置，其特征在于，该显示面板为液晶显示面板。

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