CN101359105B - 对液晶显示屏玻璃基板的导电引线进行电性能检测的方法 - Google Patents
对液晶显示屏玻璃基板的导电引线进行电性能检测的方法 Download PDFInfo
- Publication number
- CN101359105B CN101359105B CN2007100753792A CN200710075379A CN101359105B CN 101359105 B CN101359105 B CN 101359105B CN 2007100753792 A CN2007100753792 A CN 2007100753792A CN 200710075379 A CN200710075379 A CN 200710075379A CN 101359105 B CN101359105 B CN 101359105B
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- wire
- glass substrate
- row
- liquid crystal
- lead
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 239000011521 glass Substances 0.000 title claims abstract description 82
- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims abstract description 79
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 title claims abstract description 54
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 33
- WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N lead(0) Chemical compound [Pb] WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 title claims description 69
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims abstract description 30
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 29
- 210000002858 crystal cell Anatomy 0.000 claims description 30
- 230000007547 defect Effects 0.000 claims description 22
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 11
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 10
- 239000002390 adhesive tape Substances 0.000 description 8
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 6
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 5
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 3
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 2
- 239000012141 concentrate Substances 0.000 description 2
- 230000007812 deficiency Effects 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 239000002699 waste material Substances 0.000 description 2
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- 238000011056 performance test Methods 0.000 description 1
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 description 1
- 238000003908 quality control method Methods 0.000 description 1
Images
Abstract
本发明公开了一种对液晶显示屏玻璃基板的导电引线进行电性能检测的方法，该方法用于检测短路缺陷和断路缺陷，包括如下步骤：将液晶显示屏的玻璃基板上的导电引线分为列驱动引线和行驱动引线，分别对应驱动芯片的列电极和行电极；将列驱动引线向玻璃基板上方拉伸，将行驱动引线向玻璃基板两侧方向拉伸；使用一片普通玻璃基板和一片所述被拉伸驱动引线的玻璃基板制成液晶盒，使用检测装置向被拉伸的列驱动引线和行驱动引线输入检测信号并根据液晶盒反馈的图像得到测试结果。本发明的方法因此可以根据需要将液晶显示屏玻璃基板的导电引线全部拉伸到适当位置，从而实现对液晶显示屏玻璃基板上的所有导电引线进行电性能检测。
Description
技术领域
本发明涉及一种对液晶显示屏玻璃基板的导电引线进行电性能检测的方法。
背景技术
液晶显示屏一般都需要芯片进行驱动，现有的液晶显示屏一般通过板上芯片(Chip On Glass，简称COG)的方式将芯片邦定在液晶显示屏的玻璃基板上制成液晶显示模块(LCD Module，简称LCM)。具体而言，是将芯片(IC)通过各向异性导电膜(Anisotropic Conductive Film，简称ACF)固定在液晶显示屏的玻璃基板上，然后由该芯片驱动液晶显示屏，完成显示。采用这种方式邦定的液晶显示屏的玻璃基板上的导电引线分布密集，一般导电引线间的间隔只有15微米左右，最小的间隔甚至只有12微米。因此生产过程中，很容易出现短路缺陷，影响该导电引线的电性能。
现有的对液晶显示屏玻璃基板的导电引线进行电性能检测的方法，一般有两种：第一种是图形检测(Pattern Check)法，另外一种就是邦定芯片后检测法。
图形检测(Pattern Check)法的具体步骤如下：在液晶显示屏制作过程中，当导电引线的图形蚀刻完成后，将光刻胶脱膜，利用图形检测设备上的金属探针，一般两个探针为一组，直接对蚀刻在玻璃上的导电引线进行检测。如果两个导电引线之间短路，则与两个导电引线相接触的两探针间的电阻就会变小，或者电流变大；如果一个导电引线存在断路，则与一个导电引线相接触的两探针间的电阻就会变大。该检测方法是液晶显示屏生产过程中品质控制的重要手段，但是存在以下局限：1、成本高。该图形检测设备售价高达几百万人民币，且探针价格昂贵(一只探针售价高达30美金，一台图形检测设备一般需60只探针)，此外，探针容易被损坏，进一步提升了成本。2、检测速度慢，调试探针时间长，限制了产能。3、检测不完全，容易出现漏检现象，使有缺陷的产品流入下个工序。4、检测精度不够，一般该设备的检测精度为50微米，对于50微米以下的产品无法检测短路缺陷。5、在短路检测过程中，容易划伤导电引线、玻璃，产生新的缺陷。
邦定芯片后检测法的具体步骤如下：制作液晶显示屏完后，贴好偏光片，并邦定芯片，对产品进行全屏显示以及部分显示，检测是否有不显示或乱显示的现象。此检测方法是液晶显示模块产品出货前的重要检测手段，但使用该检测方法无法判断出是液晶显示屏玻璃基板的导电引线的电性能缺陷(短路或短路)的原因，还是IC本身的问题，或是IC邦定工艺出现问题。而且本方法需要在邦定IC后进行，会带来IC、ACF等材料的浪费。上述两种方法均存在高成本、低效率、使用条件苛刻等局限。
为了克服以上检测方法的不足，申请号为200610033009.8的发明专利申请中提出一种夹具测试短路的方法，该方法通过导电条、夹具、测试架和检测电路板，将芯片引脚对应的显示屏电路引线的奇数或偶数单独引至芯片邦定区域，从而使液晶显示屏隔行或隔列显示，检测液晶显示屏的玻璃基板上的导电引线是否存在短路。但是该发明专利申请也存在以下缺陷：在测试过程中，由于引线的位置集中在IC邦定区域，因此与液晶显示屏的其它线路非常接近，容易发生误判。在测试过程中，由于引线的位置集中在IC邦定区域，而IC邦定区域非常狭小，因此有时不能将所有的奇数或偶数引线全部拉伸到IC邦定区域导电引线，因此不能检测出玻璃基板上导电引线的全部短路缺陷。此外，该发明专利申请中使用导电胶条与被拉伸的导电引线进行电连接，导电胶条与导电引线之间的对位比较困难，容易发生误判。而且导电胶条有弹性，容易变形，因此测试夹具不稳定，经常需要重新调试，影响生产效率，而且导电胶条变形后可能会导致其与导电引线的连接不可靠，影响测试结果。
发明内容
本发明就是为了克服以上的不足，提出了一种对液晶显示屏玻璃基板上导电引线的电性能进行检测的方法，该方法不需将引线拉伸到IC邦定区域，从而能对所有导电引线进行电性能检测。
本发明的技术问题通过以下的技术方案予以解决：一种对液晶显示屏玻璃基板的导电引线进行电性能检测的方法，该方法用于检测短路缺陷和断路缺陷，包括如下步骤：
1)将液晶显示屏的玻璃基板上的导电引线分为列驱动引线和行驱动引线，分别对应驱动芯片的列电极和行电极；
2)将列驱动引线向玻璃基板上方拉伸，将行驱动引线向玻璃基板两侧方向拉伸；
3)使用一片普通玻璃基板和一片所述被拉伸驱动引线的玻璃基板制成液晶盒，使用检测装置向被拉伸的列驱动引线和行驱动引线输入检测信号并根据液晶盒反馈的图像得到测试结果。
优选地，所述被拉伸的列驱动引线与驱动芯片的奇数顺序或偶数顺序的列电极相对应。
所述被拉伸的行驱动引线与驱动芯片的奇数顺序或偶数顺序的行电极相对应。
所述步骤2)和步骤3)之间还包括如下步骤：用第一公共导电引线将被拉伸的列驱动引线连接到位于玻璃基板周边的第一导电点，用第二公共导电引线将被拉伸的行驱动引线连接到位于玻璃基板周边的第二导电点；所述步骤3)中检测装置分别通过第一导电点和第二导电点向列驱动引线和行驱动引线输入检测信号。
所述玻璃基板上设有至少两个待切割液晶盒位；所述第一公共导电引线将与同一排待切割液晶盒位相配套的列驱动引线连接到第一导电点，所述第二公共导电引线将与同一排待切割液晶盒位相配套的行驱动引线连接到位于玻璃基板周边的第二导电点。
所述检测装置包括测试架和信号发生器，所述测试架包括测试背光、上偏光片和下偏光片；所述上偏光片位于液晶盒上方，所述下偏光片位于液晶盒下方，所述测试背光位于下偏光片下方，所述信号发生器向被拉伸的列驱动引线和行驱动引线输入检测信号。
本发明与现有技术对比的有益效果是：本发明的方法不需将导电引线向有限的芯片邦定区域拉伸，因此可以根据需要将液晶显示屏玻璃基板的导电引线全部拉伸到适当位置，从而实现对液晶显示屏玻璃基板上的所有导电引线进行电性能检测。本发明操作简单、识别方便，非常有利于生产员工的使用，而且本发明不需使用复杂设备，成本低。使用本发明的方法进行检测时，不需要金属探针与导电引线进行直接接触，避免金属探针划伤导电引线，造成新的缺陷。使用本发明的方法进行检测时，也不需要邦定IC，可以有效防止IC与ACF等材料的浪费。
本发明通过将所拉伸的列/行驱动引线与驱动芯片的奇数顺序或偶数顺序的列/行电极相对应，依靠检测设备可以非常直观地观察出是否有短路缺陷。例如：当只显示出奇数或偶数行/列的图形时则表明该液晶显示屏的玻璃基板上的导电引线不存在短路缺陷，当同时显示奇数和偶数行/列，则该液晶显示屏的玻璃基板上的导电引线存在短路缺陷。
本发明通过第一、二公共导电引线将拉伸的列、行驱动引线引至位于玻璃基板周边的第一、二导电点，并由检测装置通过第一、二导电点向列、行驱动引线输入检测信号。因此不需要通过导电胶条向列、行驱动引线输入检测信号，可以不需使用复杂的夹具，实现导电胶条和列、行驱动引线之间的精确对位，避免误判现象的发生。而且在测试时不需要进行导电胶条和列、行驱动引线之间的对位操作，可以提高生产效率。本发明还可避免导电胶条变形后所导致的其与导电引线的连接不可靠问题，保证测试结果。
本发明通过在玻璃基板上设有至少两个待切割液晶盒位；并通过第一、二公共导电引线将与同一排待切割液晶盒位相配套的列、行驱动引线连接到第一、二导电点，从而实现一次检测出一排(可以包含十个以上)导电引线的电性能情况，操作方便、快捷，效率高。
本发明所使用的检测装置结构简单，成本低，操作简单。
附图说明
图1是液晶显示屏玻璃基板的导电引线的局部分布示意图；
图2是列驱动引线拉伸前的局部分布示意图；
图3是本发明具体实施方式列驱动引线拉伸后的局部分布示意图；
图4是行驱动引线拉伸前的局部分布示意图；
图5是本发明具体实施方式行驱动引线拉伸后的局部分布示意图；
图6是本发明具体实施方式列驱动引线和行驱动引线拉伸后的局部分布示意图；
图7是本发明具体实施方式列驱动引线和行驱动引线拉伸后通过公共导电引线连接到导电点的示意图；
图8是本发明具体实施方式的检测装置的结构示意图；
图9是液晶显示屏玻璃基板的导电引线不存在短路缺陷的显示示意图；
图10是液晶显示屏玻璃基板的列驱动引线存在短路缺陷的显示示意图；
图11是液晶显示屏玻璃基板的行驱动引线存在短路缺陷的显示示意图。
具体实施方式
下面通过具体的实施方式并结合附图对本发明做进一步详细说明。
如图1所示，一种对液晶显示屏玻璃基板的导电引线进行电性能检测的方法，该方法用于检测短路缺陷和断路缺陷，包括如下步骤：
第一步：如图1所示，将液晶显示屏的玻璃基板上的导电引线分为列驱动引线2和行驱动引线1。其中列驱动引线2与驱动芯片的列(SEG)电极3相对应，即列驱动引线2与驱动芯片的列(SEG)电极3相连接；行驱动引线1与驱动芯片的行(COM)电极4相对应，即行驱动引线1与驱动芯片的行(COM)电极4相连接。
第二步：如图2、3、6所示，将列驱动引线2向玻璃基板上方拉伸，如图4、5、6所示，将行驱动引线1向玻璃基板两侧方向拉伸。芯片(IC)一般会被邦定在玻璃基板下方，此处的玻璃基板上方即指与芯片(IC)邦定位相对的方向。本发明的导电引线不需向有限的IC邦定区域拉伸，因此可以将全部需要拉伸的导电引线拉伸到适当位置，从而实现对所有导电引线进行电性能测试。
当需要对液晶显示屏的玻璃基板上的导电引线是否存在断路缺陷进行检测时，可以将所有行驱动引线和列驱动引线进行拉伸。当只需要对液晶显示屏的玻璃基板上的导电引线是否存在短路缺陷进行检测时，可以选择隔行/列拉伸。即：使被拉伸的列驱动引线与驱动芯片的奇数顺序的列电极或偶数顺序的列电极相对应；使被拉伸的行驱动引线与驱动芯片的奇数顺序的行电极或偶数顺序的行电极相对应。
第三步：如图7所示，用第一公共导电引线5将被拉伸的列驱动引线2连接到位于玻璃基板周边(例如：玻璃基板最外侧，这样不会影响液晶显示屏的制作)的第一导电点7，用第二公共导电引线6将被拉伸的行驱动引线1连接到位于玻璃基板周边的第二导电点8。这样检测装置可分别通过第一导电点7和第二导电点8向被拉伸的列驱动引线2和行驱动引线1输入检测信号。
优选地，可以在所述玻璃基板上设有至少两个待切割液晶盒位(图7中只列出了两个)，即使用该玻璃基板制成液晶盒后可以切割出至少两个液晶显示屏。此时第一公共导电引线5将玻璃基板上与同一排待切割液晶盒位相配套的所有被拉伸的列驱动引线2连接到第一导电点，所述第二公共导电引线将与同一排待切割液晶盒位相配套的所有被拉伸的行驱动引线连接到位于玻璃基板周边的第二导电点。每个待切割液晶盒位所配套的列驱动引线的数目至少为两个，每个待切割液晶盒位所配套的行驱动引线的数目至少为两个。
第四步：使用一片普通玻璃基板和一片所述被拉伸驱动引线的玻璃基板通过边框胶密封并灌入液晶制成液晶盒，使用检测装置进行检测。如图8所示，所述检测装置包括测试架和信号发生器，所述测试架包括测试背光10、上偏光片12和下偏光片11。所述上偏光片12位于液晶盒上方，所述下偏光片11位于液晶盒下方，所述测试背光10位于下偏光片11下方。所述信号发生器分别向被拉伸的列驱动引线和行驱动引线输入检测信号(可以通过第一导电点7和第二导电点8向被拉伸的列驱动引线和行驱动引线输入检测信号)，即信号发生器通过第一导电点7向被拉伸的列驱动引线2输入列驱动信号，通过第二导电点8向被拉伸的行驱动引线1输入行驱动信号。
本发明可以根据液晶盒反馈的图像可得到测试结果。如图9所示，当从上偏光片上方往下方看，液晶盒上形成黑白相间(黑色表示显示，白色表示不显示)的图像时，则表明玻璃基板上的导电引线不存在短路问题。如图10、11所示，当液晶盒上存在同时显示奇数和偶数行/列(图中示意出了相邻的三行/列)同时显示时，则表明玻璃基板上的导电引线存在短路问题。本发明根据显示结果对液晶显示屏的玻璃基板上的导电引线是否短路进行判定，正常情况下只会显示奇数行/列、或者只会显示偶数行/列的图形，如果同时显示奇数和偶数行/列，则该液晶显示屏的玻璃基板上的导电引线存在短路缺陷。当要检测液晶显示屏的玻璃基板上的导电引线是否存在断路缺陷时，可以由信号发生器通过第一导电点、第二导电点向所有行驱动引线和列驱动引线输入检测信号。当从上偏光片上方往下方看，液晶盒上所有行、列当正常显示时，则表明该液晶显示屏的玻璃基板上的导电引线不存在断路缺陷；当液晶盒上出现没有显示的行或列时，则表明该液晶显示屏的玻璃基板上的导电引线存在断路缺陷。本发明的方法可以非常直观的检测出液晶显示屏的玻璃基板上的导电引线是否存在短/断路缺陷。
以上内容是结合具体的优选实施方式对本发明所作的进一步详细说明，不能认定本发明的具体实施只局限于这些说明。对于本发明所属技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干简单推演或替换，都应当视为属于本发明的保护范围。
Claims (6)
1.一种对液晶显示屏玻璃基板的导电引线进行电性能检测的方法，该方法用于检测短路缺陷和断路缺陷，其特征在于：包括如下步骤：
1)将液晶显示屏的玻璃基板上的导电引线分为列驱动引线和行驱动引线，分别对应驱动芯片的列电极和行电极；
2)将列驱动引线向玻璃基板上方拉伸，将行驱动引线向玻璃基板两侧方向拉伸；
3)使用一片普通玻璃基板和一片所述被拉伸驱动引线的玻璃基板制成液晶盒，使用检测装置向被拉伸的列驱动引线和行驱动引线输入检测信号并根据液晶盒反馈的图像得到测试结果。
2.根据权利要求1所述的对液晶显示屏玻璃基板的导电引线进行电性能检测的方法，其特征在于：所述被拉伸的列驱动引线与驱动芯片的奇数顺序或偶数顺序的列电极相对应。
3.根据权利要求2所述的对液晶显示屏玻璃基板的导电引线进行电性能检测的方法，其特征在于：所述被拉伸的行驱动引线与驱动芯片的奇数顺序或偶数顺序的行电极相对应。
4.根据权利要求3所述的对液晶显示屏玻璃基板的导电引线进行电性能检测的方法，其特征在于：所述步骤2)和步骤3)之间还包括如下步骤：用第一公共导电引线将被拉伸的列驱动引线连接到位于玻璃基板周边的第一导电点，用第二公共导电引线将被拉伸的行驱动引线连接到位于玻璃基板周边的第二导电点；所述步骤3)中检测装置分别通过第一导电点和第二导电点向列驱动引线和行驱动引线输入检测信号。
5.根据权利要求4所述的对液晶显示屏玻璃基板的导电引线进行电性能检测的方法，其特征在于：所述玻璃基板上设有至少两个待切割液晶盒位；所述第一公共导电引线将与同一排待切割液晶盒位相配套的列驱动引线连接到第一导电点，所述第二公共导电引线将与同一排待切割液晶盒位相配套的行驱动引线连接到位于玻璃基板周边的第二导电点。
6.根据权利要求1-5任一所述的对液晶显示屏玻璃基板的导电引线进行电性能检测的方法，其特征在于：所述检测装置包括测试架和信号发生器，所述测试架包括测试背光、上偏光片和下偏光片；所述上偏光片位于液晶盒上方，所述下偏光片位于液晶盒下方，所述测试背光位于下偏光片下方，所述信号发生器向被拉伸的列驱动引线和行驱动引线输入检测信号。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN2007100753792A CN101359105B (zh) | 2007-08-01 | 2007-08-01 | 对液晶显示屏玻璃基板的导电引线进行电性能检测的方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN2007100753792A CN101359105B (zh) | 2007-08-01 | 2007-08-01 | 对液晶显示屏玻璃基板的导电引线进行电性能检测的方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN101359105A CN101359105A (zh) | 2009-02-04 |
| CN101359105B true CN101359105B (zh) | 2011-01-12 |
Family
ID=40331590
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN2007100753792A Expired - Fee Related CN101359105B (zh) | 2007-08-01 | 2007-08-01 | 对液晶显示屏玻璃基板的导电引线进行电性能检测的方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN101359105B (zh) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN101825782B (zh) * | 2009-03-06 | 2012-02-29 | 北京京东方光电科技有限公司 | 基板测试电路及基板 |
| CN105929612A (zh) * | 2016-06-15 | 2016-09-07 | 苏州众显电子科技有限公司 | 一种液晶显示屏行引线的ito布线方法 |
| CN107329291A (zh) * | 2017-08-11 | 2017-11-07 | 深圳同兴达科技股份有限公司 | 一种液晶显示模组高效检测系统 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN1764868A (zh) * | 2003-03-26 | 2006-04-26 | 日本发条株式会社 | 液晶面板用检查装置 |
| CN1804685A (zh) * | 2006-01-19 | 2006-07-19 | 汕头超声显示器有限公司 | 液晶显示屏高精密薄膜电路短路检测法 |
| CN101000736A (zh) * | 2007-01-16 | 2007-07-18 | 友达光电股份有限公司 | 短路检测装置及应用该装置的像素单元和显示面板 |
-
2007
- 2007-08-01 CN CN2007100753792A patent/CN101359105B/zh not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN1764868A (zh) * | 2003-03-26 | 2006-04-26 | 日本发条株式会社 | 液晶面板用检查装置 |
| CN1804685A (zh) * | 2006-01-19 | 2006-07-19 | 汕头超声显示器有限公司 | 液晶显示屏高精密薄膜电路短路检测法 |
| CN101000736A (zh) * | 2007-01-16 | 2007-07-18 | 友达光电股份有限公司 | 短路检测装置及应用该装置的像素单元和显示面板 |
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| JP特开2002-229053A 2002.08.14 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN101359105A (zh) | 2009-02-04 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN102621721B (zh) | 液晶面板、液晶模组及厘清其画面不良的原因的方法 | |
| CN207458545U (zh) | 一种显示面板和显示装置 | |
| US20130265072A1 (en) | Display apparatus and method of testing the same | |
| KR100494685B1 (ko) | 액정표시장치의 패널내 배선의 결함 테스트 방법 | |
| KR20020050037A (ko) | 신호라인 검사를 위한 액정표시장치 | |
| CN101059605B (zh) | 检查显示板的装置和方法 | |
| CN103345077B (zh) | 液晶显示模组的质量检测装置及其使用方法 | |
| CN101359105B (zh) | 对液晶显示屏玻璃基板的导电引线进行电性能检测的方法 | |
| KR101271525B1 (ko) | 액정표시장치용 어레이 기판 | |
| WO2015096238A1 (zh) | 一种液晶显示阵列基板、源极驱动电路及断线修复方法 | |
| JP2834935B2 (ja) | アクティブマトリクス型表示素子及びその製造方法 | |
| KR100909781B1 (ko) | 액정표시장치용 어레이 기판의 검사장치 및 검사방법 | |
| KR20060036655A (ko) | 액정표시장치 | |
| CN101303499A (zh) | 液晶显示面板装置及其测试方法 | |
| US11017703B2 (en) | Method for manufacturing display device, method for repairing display device, and display device | |
| KR20070120385A (ko) | 어레이 기판, 이를 이용한 액정표시장치 및 어레이 기판의제조방법 | |
| CN205067931U (zh) | 一种显示基板和显示面板 | |
| KR20080027569A (ko) | 표시 패널의 검사 장치 및 검사 방법 | |
| KR100855484B1 (ko) | 액정표시장치의 검사시스템 | |
| US20240087492A1 (en) | Display substrate, test method for the same and display device | |
| CN219799933U (zh) | 一种非接触测量设备 | |
| CN109448620B (zh) | 显示面板测试电路、系统及方法 | |
| KR20070057325A (ko) | 표시 기판 및 이의 검사 방법 | |
| CN201335927Y (zh) | 一种用于液晶显示的装置 | |
| KR20070109357A (ko) | 액정패널 검사 장치 및 방법 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| C06 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| C10 | Entry into substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| C14 | Grant of patent or utility model | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| ASS | Succession or assignment of patent right |
Owner name: SHENZHEN BYD ELECTRONIC COMPONENT CO., LTD. Free format text: FORMER OWNER: BIYADI CO., LTD. Effective date: 20150906 |
|
| C41 | Transfer of patent application or patent right or utility model | ||
| TR01 | Transfer of patent right |
Effective date of registration: 20150906 Address after: 518119 Guangdong province Shenzhen City Dapeng new Kwai town Yanan Road No. 1 building experimental Byd Co Patentee after: SHENZHEN BYD ELECTRONIC COMPONENT Co.,Ltd. Address before: Kwai Chung town Yanan Road, BYD Industrial Park in Longgang District of Shenzhen City, Guangdong province 518119 Patentee before: BYD Co.,Ltd. |
|
| CP01 | Change in the name or title of a patent holder | ||
| CP01 | Change in the name or title of a patent holder |
Address after: 518119 Guangdong province Shenzhen City Dapeng new Kwai town Yanan Road No. 1 building experimental Byd Co Patentee after: Shenzhen helitai photoelectric Co.,Ltd. Address before: 518119 Guangdong province Shenzhen City Dapeng new Kwai town Yanan Road No. 1 building experimental Byd Co Patentee before: SHENZHEN BYD ELECTRONIC COMPONENT Co.,Ltd. |
|
| CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee |
Granted publication date: 20110112 |
|
| CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee |