KR20020050037A

KR20020050037A - 신호라인 검사를 위한 액정표시장치

Info

Publication number: KR20020050037A
Application number: KR1020000079373A
Authority: KR
Inventors: 권극상; 방용익
Original assignee: 구본준, 론 위라하디락사; 엘지.필립스 엘시디 주식회사
Priority date: 2000-12-20
Filing date: 2000-12-20
Publication date: 2002-06-26
Also published as: KR100353955B1; US20020075419A1; US6566902B2

Abstract

본 발명은 박막트랜지스터 완성검사시 데이터라인의 쇼트단선불량에 대한 검출력을 향상시킬 수 있는 신호라인의 검사를 위한 액정표시장치에 관한 것이다.

본 발명의 신호라인 불량검출을 위한 액정표시장치는 액정표시패널의 홀수데이터라인들에 공통접속된 홀수데이터검사라인과, 상기 액정표시패널의 짝수데이터라인들에 공통접속된 짝수데이터검사라인과, 상기 데이터라인들에 각각 접속된 제1 정전기방지회로들과, 상기 홀수데이터라인들에 접속되어진 제1 정전기방지회로들에 공통 접속된 제1 공통전극라인과, 상기 짝수데이터라인들에 접속되어진 제2 정전기방지회로들에 공통 접속된 제2 공통전극라인과, 상기 제1 및 제2 공통전극라인 사이에 직렬로 접속된 저항수단을 구비하는 것을 특징으로 한다.

본 발명에 의하면, 홀수데이터검사라인 및 짝수데이터검사라인과 정전기방지회로와 연결된 공통전극라인을 2개로 분리함과 아울러 2개로 분리된 공통전극을 적어도 2개 이상의 정전기방지회로를 통해 연결함으로써 두 검사라인 사이의 임계저항을 높여 쇼트불량에 대한 검출력을 향상시킬 수 있게 된다.

Description

신호라인 검사를 위한 액정표시장치{Liquid Crystal Display for Examination of Signal Line}

본 발명은 액정표시장치에 관한 것으로, 특히 박막트랜지스터 완성검사시 데이터라인의 쇼트불량에 대한 검출력을 향상시킬 수 있는 신호라인의 검사를 위한 액정표시장치에 관한 것이다.

통상의 액정표시장치는 전계를 이용하여 액정의 광투과율을 조절함으로써 화상을 표시하게 된다. 이를 위하여, 액정표시장치는 액정셀들이 매트릭스 형태로 배열되어진 액정패널과, 이 액정패널을 구동하기 위한 구동회로를 구비하게 된다. 액정패널에는 액정셀들 각각에 전계를 인가하기 위한 화소전극들과 기준전극, 즉 공통전극이 마련되게 된다. 화소전극은 하부기판 상에 액정셀별로 형성되는 반면 공통전극은 상부기판의 전면에 일체화되어 형성되게 된다. 화소전극들 각각은 스위치 소자로 사용되는 박막 트랜지스터(Thin Film Transistor; TFT)의 소오스 및 드레인 단자들을 경유하여 데이터라인들 중 어느 하나에 접속되게 된다. 박막 트랜지스터들 각각의 게이트단자는 화소전압신호가 1라인분씩의 화소전극들에게 인가되게끔 하는 게이트라인들 중 어느 하나에 접속되게 된다. 이러한 구성을 가지는 액정표시장치가 완성되면 신호라인, 즉 게이트라인과 데이터라인의 쇼트, 단선 및 박막트랜지스터의 불량을 검출하기 위한 검사과정을 거치게 된다. 이를 위하여, 액정표시장치에는 게이트라인 및 데이터라인 각각에는 홀수번째와 짝수번째를 구분하여 서로 다른 구조를 가지게 한 검사용 패드를 통해 라인불량을 검출하게 된다.

도 1을 참조하면, 신호라인 불량검출을 위한 액정표시장치가 도시되어 있다. 액정표시장치는 액정셀이 매트릭스 형태로 배열된 화상표시부(10)와, 화상표시부(10)에 배치된 게이트라인들(GL)에 각각 접속된 게이트패드(6)와, 데이터라인들(DL)에 각각 접속된 데이터패드(2)와, 데이터패드(2)를 통해 홀수번째의데이터라인(DL)에 공통적으로 접속된 홀수데이터검사라인(ODDL)과, 데이터패드(2)를 통해 짝수번째의 데이터라인(DL)에 공통적으로 접속된 짝수데이터검사라인(EDDL)과, 공통전극라인(CL)과 데이터라인(DL) 사이 각각에 접속된 정전기방지회로(4)를 구비한다. 화상표시부(10)는 게이트라인들(GL) 및 데이터라인들(DL)과, 게이트라인들(GL) 및 데이터라인(DL)의 교차부에 각각 형성된 박막트랜지스터(TFT)와, 박막트랜지스터(TFT)에 연결된 액정용량 캐패시터(Clc)를 구비한다. 액정용량 캐패시터(Clc)는 액정을 사이에 두고 대면하는 공통전극과 박막트랜지스터 어레이 패널에 형성된 화소전극 사이에 형성되는 캐패시터로서 데이터라인을 통해 입력되는 데이터전압을 충전하여 액정을 구동시킴으로써 액정이 광투과율을 조절할 수 있게 한다. 공통전압(Vcom)이 공급되는 공통전극라인(CL)과 각각의 데이터라인들(DL) 사이에 접속되어진 정전기 방지회로(4)는 통상 다수개의 박막트랜지스터를 구성으로 한다. 이러한 정전기 방지회로(4)는 정전기 등에 의한 고전압영역에서는 낮은 임피던스를 가져 과전류가 방전되게 하고, 정상적인 구동환경에서는 높은 임피던스를 가져 신호라인을 통해 공급되는 구동신호에 영향을 주지 않게 한다. 홀수번째의 데이터라인들(DL)에 공통 접속되어진 홀수데이터검사라인(ODDL)과, 짝수번째의 데이터라인들(DL)에 공통 접속되어진 짝수데이터검사라인(EDDL)에 각각 접속된 검사용패드(도시하지 않음)를 통해 특정패턴의 신호를 공급하여 홀수데이터검사라인(ODDL)과 짝수데이터검사라인(EDDL) 사이의 저항차를 검출하여 데이터라인들의 쇼트, 단선 등과 같은 라인불량을 검사하게 된다.

이러한 종래의 액정표시장치에서는 도 1에 도시된 바와 같이 홀수데이터검사라인(ODDL)에 공통접속된 홀수번째 데이터라인들(DL)과 짝수데이터검사라인(EDDL)에 공통접속된 짝수번째의 데이터라인들(DL)은 정전기방지회로(4)를 통해 모두 한 개의 공통전극라인(CL)에 접속되어 있게 된다. 상세히 하면, 도 2에 도시된 등가회로도와 같이 홀수번째 데이터라인들(DL)은 각각 라인저항성분(Rodd1 내지 RoddN)을 가지고 홀수데이터검사라인(ODDL) 및 공통전극라인(CL) 사이에 병렬로 접속된다. 짝수번째 데이터인들(DL)도 동일하게 각각 라인저항성분(Reven1 내지 RevenN)을 가지고 짝수데이터검사라인(EDDL) 및 공통전극라인(CL) 사이에 병렬로 접속된다. 이렇게, 데이터라인들(DL)이 하나의 공통전극라인(CL)에 정전기방지회로를 통하여 병렬로 접속됨으로 인하여 홀수데이터검사라인(ODDL)과 짝수데이터검사라인(EDDL) 사이의 라인저항이 감소하여 검출임계저항이 낮아지게 된다. 이에 따라, 검출임계저항이 낮은 경우 그 임계저항 이상이 되는 데이터라인들(DL)의 쇼트불량 검출이 불가능하게 된다. 또한, 고해상도 화상을 표시하기 위하여 데이터라인수가 증가되는 경우에는 병렬로 연결된 라인저항의 개수가 증가하여 홀수데이터검사라인(ODDL)과 짝수데이터검사라인(EDDL) 사이의 임계저항은 더욱 감소하게 되어 그 임계저항 이상의 라인쇼트불량은 검출해낼 수 없게 된다.

따라서, 본 발명의 목적은 데이터신호라인의 쇼트불량 검출율을 향상시킬 수 있는 신호라인 검사를 위한 액정표시장치를 제공하는 것이다.

도 1은 종래의 신호라인 검사를 위한 액정표시장치를 개략적으로 나타낸 도면.

도 2는 도 1에 도시된 데이터라인들에 대한 등가회로도.

도 3은 본 발명의 실시 예에 따른 신호라인 검사를 위한 액정표시장치를 개략적으로 나타낸 도면.

도 4는 도 3에 도시된 데이터라인들에 대한 등가회로도.

<도면의 주요부분에 대한 부호의 간단한 설명>

2 : 데이터패드 4, 12: 정전기 방지회로

6 : 게이트패드 10 : 화상표시부

상기 목적을 달성하기 위하여, 본 발명에 따른 신호라인 불량검출을 위한 액정표시장치는 액정표시패널의 홀수데이터라인들에 공통접속된 홀수데이터검사라인과, 상기 액정표시패널의 짝수데이터라인들에 공통접속된 짝수데이터검사라인과, 상기 데이터라인들에 각각 접속된 제1 정전기방지회로들과, 상기 홀수데이터라인들에 접속되어진 제1 정전기방지회로들에 공통 접속된 제1 공통전극라인과, 상기 짝수데이터라인들에 접속되어진 제2 정전기방지회로들에 공통 접속된 제2 공통전극라인과, 상기 제1 및 제2 공통전극라인 사이에 직렬로 접속된 저항수단을 구비하는 것을 특징으로 한다.

상기 목적 외에 본 발명의 다른 목적 및 이점들은 첨부 도면을 참조한 본 발명의 바람직한 실시예에 대한 설명을 통하여 명백하게 드러나게 될 것이다.

이하, 본 발명의 바람직한 실시예들을 도 3 및 도 4를 참조하여 상세하게 설명하기로 한다.

도 3은 본 발명의 실시 예에 따른 신호라인 검사를 위한 액정표시장치를 도시한 것이다. 도 3의 액정표시장치는 액정표시장치는 액정셀이 매트릭스 형태로 배열된 화상표시부(10)와, 화상표시부(10)에 배치된 게이트라인들(GL)에 각각 접속된 게이트패드(6)와, 데이터라인들(DL)에 각각 접속된 데이터패드(2)와, 데이터패드(2)를 통해 홀수번째의 데이터라인(DL)에 공통적으로 접속된 홀수데이터검사라인(ODDL)과, 데이터패드(2)를 통해 짝수번째의 데이터라인(DL)에 공통적으로 접속된 짝수데이터검사라인(EDDL)과, 분리된 2개의 공통전극라인(CLa,CLb)과 데이터라인(DL)의 교차부 각각에 접속됨과 아울러 그 분리된 2개의 공통전극라인(CLa, CLb) 사이에 직렬도 접속된 적어도 2개 이상의 정전기방지회로들(12)을 구비한다. 화상표시부(10)는 게이트라인들(GL) 및 데이터라인들(DL)과, 게이트라인들(GL) 및 데이터라인(DL)의 교차부에 각각 형성된 박막트랜지스터(TFT)와, 박막트랜지스터(TFT)에 연결된 액정용량 캐패시터(Clc)를 구비한다. 액정용량 캐패시터(Clc)는 액정을 사이에 두고 대면하는 공통전극과 박막트랜지스터 어래이 패널에 형성된 화소전극 사이에 형성되는 캐패시터로서 데이터라인을 통해 입력되는 데이터전압을 충전하여 액정을 구동시킴으로써 액정이 광투과율을 조절할 수 있게 한다. 공통전압(Vcom)이 공급되는 공통전극라인(CLa, CLb)과 각각의 데이터라인들(DL) 사이에 접속되어진 정전기 방지회로(12) 및 분리된 2개의 공통전극라인(CLa, CLb) 사이에 접속된 정전기 방지회로(12)는 통상 다수개의 박막트랜지스터를 구성으로 한다. 이러한 정전기 방지회로(12)는 정전기 등에 의한 고전압영역에서는 낮은 임피던스를 가져 과전류가 방전되게 하고, 정상적인 구동환경에서는 높은 임피던스를 가져 신호라인을 통해 공급되는 구동신호에 영향을 주지 않게 한다. 여기서, 분리된 2개의 공통전극라인(CLa, CLb) 사이에 직렬도 접속된 정전기 방지회로들(12)은 내부저항이 도 4에 도시된 바와 같이 공통전극라인(CL)에 직렬로 연결된 2개의 저항(Rd1, Rd2) 이상 값이 되도록 설계하게 된다. 홀수번째의 데이터라인들(DL)에 공통 접속되어진 홀수데이터검사라인(ODDL)은 정전기회로(12)를 통해 분리된 2개의 공통전극라인(CLa, CLb) 중 어느 하나의 공통전극라인(CLa)에 접속되고, 짝수번째의 데이터라인들(DL)에 공통 접속되어진짝수데이터검사라인(EDDL)은 정전기회로(12)를 통해 다른 공통전극라인(CLb)에 접속된다. 박막트랜지스터 어래이가 완성되면 홀수데이터검사라인(ODDL)과 짝수데이터검사라인(EDDL)에 각각 접속된 검사용패드(도시하지 않음)를 통해 특정패턴의 신호를 공급하여 패턴불량에 의한 저항차이를 검출하여 데이터라인들을 쇼트, 단선 등과 같은 라인불량을 검사하게 된다.

이 경우, 도 4에 도시된 등가회로도와 같이 홀수번째 데이터라인들(DL)은 각각 라인저항성분(Rodd1 내지 RoddN)을 가지고 홀수데이터검사라인(ODDL) 및 공통전극라인(CL) 사이에 병렬로 접속된다. 짝수번째 데이터라인들(DL)도 동일하게 각각 라인저항성분(Reven1 내지 RevenN)을 가지고 짝수데이터검사라인(EDDL) 및 공통전극라인(CL) 사이에 병렬로 접속된다. 아울러, 공통전극라인(CL)에는 도 3에 도시된 바와 같이 분리된 2개의 공통전극라인(CLa, CLb) 사이에 직렬로 접속된 적어도 2개 이상의 정전기방지회로(12)의 내부회로상 존재하는 내부저항(Rd1, Rd2)이 직렬로 접속된다. 이렇게, 공통전극라인(LC) 상에 직렬로 접속된 적어도 2개 이상의 정전기방진회로(12)의 내부저항(Rd1, Rd2)에 의해 홀수데이터검사라인(ODDL)과 짝수데이터검사라인(EDDL) 사이의 임계저항 값이 높아지게 된다. 이러한 임계저항값은 어래이 내부에서의 데이터라인간의 쇼트불량에 의해 홀수데이터검사라인(ODDL)과 짝수데이터검사라인(EDDL) 사이에서 발생하는 저항값보다 훨씬 높아지게 되므로 쇼트불량 검출력을 향상시킬 수 있게 된다.

상술한 바와 같이, 본 발명에 따른 신호라인 검사를 위한 액정표시장치에서는 홀수데이터검사라인 및 짝수데이터검사라인과 정전기방지회로와 연결된 공통전극라인을 2개로 분리함과 아울러 2개로 분리된 공통전극을 적어도 2개 이상의 정전기방지회로를 통해 연결함으로써 두 검사라인 사이의 임계저항을 높여 쇼트불량에 대한 검출력을 향상시킬 수 있게 된다.

이상 설명한 내용을 통해 당업자라면 본 발명의 기술사상을 일탈하지 아니하는 범위에서 다양한 변경 및 수정이 가능함을 알 수 있을 것이다. 따라서, 본 발명의 기술적 범위는 명세서의 상세한 설명에 기재된 내용으로 한정되는 것이 아니라 특허 청구의 범위에 의해 정하여져야만 할 것이다.

Claims

신호라인 검사를 위한 액정표시장치에 있어서,

액정표시패널의 홀수데이터라인들에 공통접속된 홀수데이터검사라인과,

상기 액정표시패널의 짝수데이터라인들에 공통접속된 짝수데이터검사라인과,

상기 데이터라인들에 각각 접속된 제1 정전기방지회로들과,

상기 홀수데이터라인들에 접속되어진 제1 정전기방지회로들에 공통 접속된 제1 공통전극라인과,

상기 짝수데이터라인들에 접속되어진 제2 정전기방지회로들에 공통 접속된 제2 공통전극라인과,

상기 제1 및 제2 공통전극라인 사이에 직렬로 접속된 저항수단을 구비하는 것을 특징으로 하는 신호라인 검사를 위한 액정표시장치.
제 1 항에 있어서,

상기 저항수단은 적어도 2개 이상의 상기 정전기방지회로인 것을 특징으로 하는 신호라인 검사를 위한 액정표시장치.