CN100390551C - 平面显示器的测试装置及其操作方法 - Google Patents

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Abstract

一种平面显示器的测试装置及其操作方法，该装置电连接至第一驱动线、图像信号源和短路杆信号源，且包括第一焊垫、n个探测端以及n个开关元件。在本发明中，n个探测端是电连接至第一焊垫，且n为大于等于1的正整数，而每一开关元件的控制极端电连接至短路杆信号源，第一端电连接至图像信号源，第二端电连接至相对应的n个探测端的其中之一。在本发明中，是由短路杆信号源提供的电位来控制对平面显示器作短路杆测试或全部接点测试。

Description

平面显示器的测试装置及其操作方法
技术领域
本发明是有关于一种显示器的测试装置，特别是有关于一种同时适用于短路杆(shorting bar)测试和全部接点(full contact)测试的平面显示器的测试装置及其操作方法。
背景技术
液晶材料由欧洲发现后，在美国研究开发其实用性，日本深入探讨其物性及各种领域的应用技术，并不断地研制新世代的液晶平面显示器。目前，各种液晶技术已被广泛地使用在显示器上，尤其是液晶平面显示器(LCD)，各制造商已经由TN-LCD(Twisted Nematic-Liquid Crystal Display，扭曲向列型液晶平面显示器)扩展至STN-LCD(Super TwistedNematic-Liquid Crystal Display，超扭曲向列型液晶平面显示器)，并更加扩大至非晶硅TFT-LCD(Thin Film Transistor LCD，薄膜晶体管液晶平面显示器)，且规模有越来越大的趋势。而薄膜晶体管液晶平面显示器在制作时必须经过短路杆(shorting bar)测试和全部接点(full contact)测试，以确定所制作出来的薄膜晶体管液晶平面显示器能正常工作。
参照图2，它是表示公知一种液晶显示器的短路杆测试时的测试装置电路图。在图2中，显示器200包括：测试装置210、控制极驱动电路250以及控制极驱动线252与数据驱动线222所形成的显示单元，而此显示单元的每一单位包括晶体管254、存储容256与像素单元258。
在图2中，测试装置210包括数据焊垫220、控制极焊垫230、其他电路焊垫240、探测端P11、P20～P29、P30～P39与P40，而且每一探测端P11、P20～P29、P30～P39和P40均电连接一电阻212。其中，连接关系是：数据焊垫220电连接探测端P11，控制极焊垫230电连接探测端P20～P29和P40，其他电路焊垫240电连接探测端P30～P39。
当要对测试装置210作短路杆测试时，即将所有探测端接地，且将数据焊垫220电连接至一图像信号源，而在数据焊垫220与图像信号源之间电连接电阻216。此时，借助图像信号源供给的图像信号即可对显示器200作短路杆测试。
接着参照图3，它是表示公知一种液晶显示器的全部接点测试时的测试装置电路图。它与图2不同之处在于，图3的数据焊垫220为电连接探测端P101～P128，且控制极焊垫230电连接P20～P29。另外，图3并没有图像信号源。
在作全部接点测试时，则将所有探测端P101～P128、P20～P29以及P30～P39连接起来，并加以驱动。此时，即可对显示器300作全部接点测试。
综合以上所述，公知测试显示器的测试装置有下列缺点：
(1)公知作液晶显示器的短路杆测试时，需在玻璃切割完成后才能作测试。此外，进行短路杆测试时，由于是输入单一图像信号(例如是输入一红色信号)，测试者只能以目视判断显示器有无正常，而无法详细得知是哪一条数据驱动线出问题。
(2)当对公知作液晶显示器的全部接点测试时，虽然可以详细判断每一条数据驱动线的正常与否，但由于测试需要以非常精细的探针才能达成，造成其成本很高，较不适用在大量生产。
发明内容
因此本发明提供一种平面显示器的测试装置及其操作方法，是增加了短路杆信号源与开关元件，此开关元件在短路杆信号源供给高电位时导通，以让使用者对探测端作短路杆测试，而在短路杆信号源供给低电位时断开，以让使用者对探测端作全部接点测试。
本发明提出一种平面显示器的测试装置，它电连接至第一驱动线、图像信号源与短路杆信号源，此测试装置包括有第一焊垫、n个探测端以及n个开关元件。其中，此第一焊垫是电连接至第一驱动线。
依照本发明的优选实施例所述，上述的n个探测端是电连接至第一焊垫，且n为大于等于1的正整数。其中，这些探测端是作为短路杆测试或全部接点测试时的探测端点。
依照本发明的优选实施例所述，上述的n个开关元件的每一开关元件具有控制极端、第一端和第二端。其中，每一开关元件的控制极端电连接至短路杆信号源，每一开关元件的第一端电连接至图像信号源，每一开关元件的第二端电连接至相对应的n个探测端的其中之一。
依照本发明的优选实施例所述，上述的平面显示器的测试装置是由短路杆信号源供给的电位来控制作短路杆测试或全部接点测试。其中，若短路杆信号源供给高电位时，每一开关元件将被导通，以提供使用者作短路杆测试；反之，若短路杆信号源供给低电位时，每一开关元件将被断开，以提供使用者作全部接点测试。
依照本发明的优选实施例所述，上述的平面显示器的测试装置还包括第二焊垫，它电连接有m个探测端，以提供使用者作全部接点测试。其中，m为大于等于1的正整数。
依照本发明的优选实施例所述，上述的平面显示器的测试装置还包括第三焊垫，其是电连接有s个探测端，以提供使用者作全部接点测试。其中，s为大于等于1的正整数。
本发明提出一种平面显示器的测试装置的操作方法，此操作方法是为短路杆信号源提供信号至测试装置的开关元件的控制极端，开关元件即根据短路杆信号源提供的电位，判断是否导通开关元件。当开关元件被导通时，即可至探测端上测量图像信号(短路杆测试)；反之，当开关元件被断开时，即可对探测端作全部接点测试。
依照本发明的优选实施例所述，上述的操作方法还包括当开关元件被断开时，对测试装置的第二焊垫和第三焊垫作全部接点测试。
本发明因采用在测试装置中加入开关元件，因此当短路杆信号源供给高电位时，可对此显示器作短路杆测试，而当短路杆信号源供给低电位时，对此显示器作全部接点测试。
为使本发明的上述和其他目的、特征、和优点能更明显易懂，下面特举一优选实施例，并结合附图，作详细说明如下：
附图说明
图1A是表示依照本发明一优选实施例的一种平面显示器的测试装置的电路图。
图1B是表示依照本发明一优选实施例的一种平面显示器的测试装置的操作方法步骤流程图。
图2是公知一种液晶显示器的短路杆测试时的测试装置电路图。
图3是公知一种液晶显示器的全部接点测试时的测试装置电路图。
附图标号说明
100：平面显示器
110，210，310：测试装置
112：短路杆信号探测端
114：图像信号探测端
116，134，144，212，216：电阻
120：第一焊垫
122：第一驱动线
124：第一端
126：控制极端
128：第二端
130：第二焊垫
132，142：二极管
140：第三焊垫
150，250：控制极驱动电路
152，252：控制极驱动线
154，254：晶体管
156，256：存储容
158，258：像素单元
160：晶片输入焊垫
162：柔性印刷电路焊垫
200，300：液晶显示器
220：数据焊垫
222：数据驱动线
230：控制极焊垫
240：其他电路焊垫
P1～Pn，P11，P101～P128，P20～P29，P30～P39，P40，F101～F1m，F201～F2s：探测端
S1～Sn：开关元件
s180～s186：各个步骤流程
具体实施方式
参照图1A，它是表示依照本发明一优选实施例的一种平面显示器的测试装置的电路图。在图1A中，平面显示器100包括：测试装置110、控制极驱动电路150与由多条第一驱动线122与多条控制极驱动线152所组成的显示单元。其中，显示单元的每一单位包括晶体管154、存储容156与像素胞158。另外，如本技术领域的普遍技术人员所清楚了解那样，测试装置110可以是数据驱动电路，第一驱动线122可以是数据驱动线，像素单元158可以是液晶电容或有机发光(OLED)层，而平面显示器100依据像素单元158的不同可以是液晶显示器或是有机发光二极管显示器(OLED)，但均不以此为限。
继续参照图1A，测试装置110电连接至第一驱动线122、图像信号源与短路杆信号源。而此测试装置110包括有第一焊垫120、n个探测端P1～Pn以及n个开关元件S1～Sn。其中，n为大于等于1的正整数。
在本实施例中，测试装置110中的电连接关系是第一焊垫120外接至第一驱动线122与n个探测端P1～Pn、而n个开关元件每一开关元件S1～Sn具有控制极端126、第一端124(源极端或漏极端)及第二端128(漏极端或源极端)。其中，每一开关元件S1～Sn的控制极端126电连接至短路杆信号源，每一开关元件S1～Sn的第一端124电连接至图像信号源，每一开关元件S1～Sn的第二端128电连接至相对应的n个探测端P1～Pn的其中之一。
在本实施例中，测试装置110是由短路杆信号源供给的电位来作为是否作短路杆测试或全部接点测试的。当短路杆信号源供给一高电位(VDD)时，每一开关元件S1～Sn将被导通，此时，探测端114可提供使用者作短路杆测试；反之，若短路杆信号源供给一低电位(VEE)时，每一开关元件S1～Sn将被断开，此时，每一探测端P1～Pn可提供使用者作全部接点测试。另外，每一开关元件S1～Sn也可能在短路杆信号源供给低电位(VEE)时被导通，以作短路杆测试，而在短路杆信号源供给高电位(VDD)时被断开，以作全部接点测试。
在本实施例中，在短路杆信号源与第一个开关元件S1的控制极端126间电连接电阻116，而在图像信号源与第一个开关元件S1的第一端124间也电连接有电阻116，在此处连接电阻116为当输入的信号或电位的电压值太大时，用来降低其电压值，以避免造成测试装置内部电路的损伤，但不以此为限。
在本实施例中，测试装置110还包括第二焊垫130与第三焊垫140，此第二焊垫130电连接至控制极驱动电路150与M个探测端F101～F1m，而第三焊垫140则电连接至其他控制电路(未绘示)与s个探测端F201～F2s。其中，m与s均为大于等于1的正整数。
在本实施例中，M个探测端的每一个探测端F101～F1m与s个探测端的每一个探测端F201～F2s分别各自电连接有电阻134与144，其作用与电阻116相同。
继续参照图1A，显示器100在作短路杆测试时的动作为将探测端F101～F1m与F201～F2s均浮接(floating)，然后将短路杆信号探测端112连接至高电位(VDD)，同时将图像信号探测端114连接至图像信号源。此时，短路杆信号源供给的高电位将导通每一开关元件S1～Sn，使得使用者能在探测端114测量图像信号源供给的信号，以确定电路工作是否正常。
而当显示器100作全部接点测试时，其动作为将短路杆信号探测端112连接至低电位(VEE)，而图像信号探测端114则浮接。此时，即可经由测试探测端P1～Pn、F101～F1m以及F201～F2s测得电路工作是否正常。
在本发明的优选实施例中，输入图像信号可控制灰度。
在本发明的优选实施例中，测试装置110更包括在第二焊垫130与第一个探测端F101之间电连接由两个二极管132所组成的静电放电的保护电路，以及在第三焊垫140与第一个探测端F201之间电连接由两个二极管142所组成的静电放电的保护电路，但均不以此为限。
在本发明的优选实施例中，测试装置110还包括晶片输入焊垫160以及与其电连接的柔性印刷电路焊垫(Flexible Printed Circuit，简称FPC)162。
接着参照图1B，它是表示依照本发明一优选实施例的一种平面显示器的测试装置的操作方法步骤流程图。在本实施例中，此操作方法是为短路杆信号源提供信号至测试装置的开关元件的控制极端(s180)，接着开关元件即根据短路杆信号源提供的电位，判断是否导通开关元件(s182)。当开关元件被导通时，即可至探测端上测量图像信号(短路杆测试)(s184)；反之，当开关元件被断开时，即可对探测端作全部接点测试(s186)。
在本发明的优选实施例中，操作方法还包括当开关元件被断开时，对测试装置的第二焊垫和第三焊垫作全部接点测试。
综合以上所述，平面显示器的测试装置与其操作方法可以任意切换不同模式的测试方式，以符合不同的需求。
虽然本发明已以一优选实施例公开如上，然其并非用以限定本发明，任何本技术领域的普遍技术人员，在不脱离本发明的精神和范围内，应当可作更动与润饰，因此本发明的保护范围应当以权利要求书范围所界定的为准。

Claims (10)

1.一种平面显示器的测试装置，它电连接至一第一驱动线、一图像信号源和一短路杆信号源，该测试装置包括：
一电连接至该第一驱动线的第一焊垫；
一电连接至该第一焊垫的探测端；以及
一开关元件，该开关元件具有一控制极端、一第一端和一第二端，该开关元件的该控制极端电连接至该短路杆信号源，该开关元件的该第一端电连接至该图像信号源，该开关元件的该第二端电连接至相对应的这些探测端的其中之一。
2.如权利要求1所述的平面显示器的测试装置，其特征在于：由该短路杆信号源供给的电位来控制该测试装置提供一短路杆测试和一全部接点测试其中之一。
3.如权利要求2所述的平面显示器的测试装置，其特征在于：当该短路杆信号源供给一高电位时，该开关元件将被导通，用以供使用者对该探测端作该短路杆测试，反之，当该短路杆信号源供给一低电位时，该开关元件将被断开，用以供使用者对该探测端作全部接点测试；或是，当该短路杆信号源供给一低电位时，该开关元件将被导通，用以供使用者对该探测端作该短路杆测试，反之，当该短路杆信号源供给一高电位时，该开关元件将被断开，用以供使用者对该探测端作全部接点测试。
4.如权利要求2所述的平面显示器的测试装置，其特征在于：包括一第二焊垫，该第二焊垫电连接有m个探测端，用以提供使用者作该全部接点测试，且m为大于等于1的正整数。
5.如权利要求2所述的平面显示器的测试装置，其特征在于：还包括一第三焊垫，该第三焊垫电连接有s个探测端，用以提供使用者作该全部接点测试，且s为大于等于1的正整数。
6.如权利要求1所述的平面显示器的测试装置，其特征在于：该平面显示器为液晶显示器和有机发光二极管显示器其中之一。
7.一种平面显示器的测试方法，该平面显示器包括一测试装置，该测试装置至少包括至少一开关元件和至少一探测端，其特征在于：该测试方法包括：
提供一短路杆信号源；
根据该短路杆信号源提供的电位，判断导通该开关元件与否；以及
根据该开关元件导通与否，以决定是否在该探测端上测量一图像信号。
8.如权利要求7所述的平面显示器的测试方法，其特征在于：还包括当该开关元件被断开时，对该探测端作一全部接点测试。
9.如权利要求8所述的平面显示器的测试方法，其特征在于：还包括对该测试装置的一第二焊垫和一第三焊垫作该全部接点测试。
10.如权利要求7所述的平面显示器的测试方法，其特征在于：当该开关元件导通时，至该探测端上测量该图像信号。
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