JP2005099543A - 平面表示器の測定装置およびその操作方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】表示器は、測定装置110とゲート駆動回路150と複数の第一駆動線122と複数のゲート駆動線152とからなる表示ユニットを含み、この表示ユニットの各単位は、トランジスタ154と保存用コンデンサ156と画素ユニット158とを含んでいる。測定装置110が電気的に第一駆動線112、映像信号源、および短絡棒信号源に接続されている。そして、この測定装置110は、第一接続部120と、n個探測端P1〜Pnと、およびn個スイッチ素子S1〜Snとを含んでいる。ここで、nは1より大きい整数である。短絡棒信号源から供給された電位によって、平面表示器に対する短絡棒測定または全部接点測定を分別する。
【選択図】図1−1
Description
また、図2に示すように、測定装置210は、信号線接続部220と、ゲート接続部230と、他回路接続部240と、探測端P11、P20〜P29、P30〜P39およびP40とを含んでいる。各探測端P11、P20〜P29、P30〜P39およびP40は、全て電気的に抵抗212に接続されている。詳しくは、信号線接続部220は、探測端P11に電気的に接続され、ゲート接続部230は、探測端P20〜P29に電気的に接続され、他回路接続部240は、探測端P30〜P39に電気的に接続されている。
110 測定装置
112 短絡棒信号探測端
114 映像信号探測端
116 抵抗
120 第一接続部
122 第一駆動線
124 第一端
126 ゲート端
128 第二端
130 第二接続部
132 ダイオード
134 抵抗
140 第三接続部
142 ダイオード
144 抵抗
150 ゲート駆動回路
152 ゲート駆動線
154 トランジスタ
156 保存用コンデンサ
158 画素ユニット
160 結晶片接続部
162 軟性印刷回路接続部
200 液晶表示器
210 測定装置
212 抵抗
216 抵抗
220 信号線接続部
222 信号駆動線
230 ゲート接続部
240 他回路接続部
250 ゲート駆動回路
252 ゲート駆動線
254 トランジスタ
256 保存用コンデンサ
258 画素ユニット
300 液晶表示器
310 測定装置
P 探測端
F 探測端
S スイッチ素子
s180 各ステップを含むフローチャート
s181 各ステップを含むフローチャート
s182 各ステップを含むフローチャート
s183 各ステップを含むフローチャート
s184 各ステップを含むフローチャート
s185 各ステップを含むフローチャート
s186 各ステップを含むフローチャート
Claims (9)
- 第一駆動線と映像信号源と短絡棒信号源とに電気的に接続されている測定装置において、第一駆動線に電気的に接続されている第一接続部と、第一接続部に電気的に接続されている探測端と、ゲート端と第一端と第二端とを有するスイッチ素子とを備え、前記スイッチ素子のゲート端は、電気的に前記短絡棒信号源に接続され、該スイッチ素子の第一端は電気的に映像信号源に接続され、該スイッチ素子の第二端は、対応の複数個探測端のうちの一つに電気的に接続されており、短絡棒信号源から供給された電位によって、この測定装置による短絡棒(shorting bar)測定または全部接点(full contact)測定が制御されることを特徴とする平面表示器の測定装置。
- 短絡棒信号源から高電位が供給されたとき、前記スイッチ素子がオンとなって使用者がこの探測端に対し短絡棒測定を行い、逆に、短絡棒信号源から低電位が供給されたとき、前記スイッチ素子がオフとなって使用者がこの探測端に対し全部接点測定を行い、或いは、短絡棒信号源から低電位が供給されたとき、前記スイッチ素子がオンとなって使用者がこの探測端に対し短絡棒測定を行い、逆に、短絡棒信号源から高電位が供給されたとき、前記スイッチ素子がオフとなって使用者がこの探測端に対し全部接点測定を行うことを特徴とする請求項1に記載の平面表示器の測定装置。
- 更に、第二接続部を有し、前記第二接続部がm個の探測端に電気的に接続され、前記探測端によって使用者が全部接点測定を行え、mは1以上の整数であり、第三接続部を有し、前期第三接続部がs個の探測端に電気的に接続され、前記探測端によって使用者が全部接点測定を行え、sは1以上の整数であることを特徴とする請求項1又は2に記載の平面表示器の測定装置。
- 前記駆動回路は、信号駆動回路またはゲート駆動回路であることを特徴とする請求項1ないし3のいずれかに記載の平面表示器の測定装置。
- 前記平面表示器は、液晶表示器または有機発光ダイオード表示器(OLED)であることを特徴とする請求項1ないし4のいずれかに記載の平面表示器の測定装置。
- 短絡棒信号源を提供することと、前記短絡棒信号源から提供された電位に基づいて、スイッチ素子がオンであるかどうかを判断することと、前記スイッチ素子がオンであるかどうかによって、前記探測端に対し映像信号を測定するかどうかを決めることを特徴とする平面表示器の測定装置の操作方法。
- 前記スイッチ素子がオフであるとき、前記探測端に対して全部接点測定を行うことを特徴とする請求項6に記載の平面表示器の測定装置の操作方法。
- 前記測定装置の第二接続部および第三接続部に対して全部接点測定を行うことを特徴とする請求項7に記載の平面表示器の測定装置の操作方法。
- 前記スイッチ素子がオンであるとき、前記探測端に対し前記映像信号を測定することを特徴とする請求項6ないし8のいずれかに記載の平面表示器の測定装置の操作方法。
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Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100753867B1 (ko) * | 2006-05-04 | 2007-09-03 | 주식회사 대우일렉트로닉스 | Oled 패널의 특성 측정 장치 |
JP2007226228A (ja) * | 2006-02-20 | 2007-09-06 | Samsung Electronics Co Ltd | 表示装置及びその感知部検査方法 |
CN101986376A (zh) * | 2010-09-28 | 2011-03-16 | 彩虹显示器件股份有限公司 | 整片oled基板玻璃点亮老化时检查串笔的走线方法 |
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CN110398641A (zh) * | 2018-04-24 | 2019-11-01 | 强茂股份有限公司 | 元件通电测试方法与通电测试系统 |
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2003
- 2003-09-26 JP JP2003334613A patent/JP2005099543A/ja active Pending
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007226228A (ja) * | 2006-02-20 | 2007-09-06 | Samsung Electronics Co Ltd | 表示装置及びその感知部検査方法 |
KR100753867B1 (ko) * | 2006-05-04 | 2007-09-03 | 주식회사 대우일렉트로닉스 | Oled 패널의 특성 측정 장치 |
CN102193258A (zh) * | 2010-03-05 | 2011-09-21 | 上海天马微电子有限公司 | 线缺陷判断装置及线缺陷判断方法 |
CN101986376A (zh) * | 2010-09-28 | 2011-03-16 | 彩虹显示器件股份有限公司 | 整片oled基板玻璃点亮老化时检查串笔的走线方法 |
CN101986376B (zh) * | 2010-09-28 | 2012-07-25 | 彩虹显示器件股份有限公司 | 整片oled基板玻璃点亮老化时检查串笔的走线方法 |
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