CN103091918B - 阵列基板、显示装置及检测方法 - Google Patents

Abstract

本发明实施例公开了一种阵列基板、显示装置及检测方法，涉及液晶显示领域，能够在不改变测试点的情况下完成对阵列基板中每一条栅线/数据线的检测工作，从而简化整个阵列基板的测试过程。本发明实施例的阵列基板，包括：多条栅线、多条数据线、栅线与数据线交叉定义的像素单元，至少一条数据线和/或栅线的首端设置有第一开关，设置有第一开关的数据线和/或栅线的末端设置有第二开关，第一开关均连接到用以测试数据线和/或栅线首端数据的第一测试点上，第二开关均连接到用以测试数据线和/或栅线末端数据的第二测试点上。

Description

阵列基板、显示装置及检测方法

技术领域

本发明涉及一种显示领域，尤其涉及一种阵列基板、显示装置及检测方法。

背景技术

作为显示面板的重要构成部分，阵列基板通过构图工艺生成。在构图阵列基板时分别在基板上形成多条数据线、多条栅线以及在数据线与栅线交叉处定义的TFT(ThinFilmTransistor，薄膜晶体管)像素单元，像素单元包括：薄膜晶体管器件、公共电极等等。

在构图完成之后，为掌握阵列基板的相关性能，诸如：数据线/栅线驱动能力、数据驱动/扫描驱动IC(IntegratedCircuit，集成电路)首端/末端间的数据滞后时间等等参数，还需要对阵列基板中的栅线/数据线分别进行电学检测。举例来说，以数据线的测试为例，若要测试整个阵列基板中各条数据线的电学性能，需要在每一条数据线上分别选择首端测试点、末端测试点，然后利用选择的首端测试点、末端测试点依次完成对各条数据线的测试工作。因此，在测试过程中需要改变测试点，导致整个阵列基板的测试过程十分复杂。

发明内容

本发明的实施例所要解决的技术问题在于提供一种阵列基板、显示装置及检测方法，能够在不改变测试点的情况下完成对阵列基板中每一条栅线和/或数据线的检测工作，从而简化整个阵列基板的测试过程。

本申请的一方面，提供一种阵列基板，包括：多条栅线、多条数据线、所述栅线与所述数据线交叉定义的像素单元，至少一条所述数据线和/或所述栅线的首端设置有第一开关，设置有所述第一开关的所述数据线和/或所述栅线的末端设置有第二开关，所述第一开关均连接到用以测试所述数据线和/或所述栅线首端数据的第一测试点上，所述第二开关均连接到用以测试所述数据线和/或所述栅线末端数据的第二测试点上。

优选的，每条所述数据线和/或所述栅线的首端设置有第一开关，每条所述数据线和/或所述栅线的末端设置有第二开关。

进一步的，所述第一开关与所述第二开关设置于所述阵列基板的非显示区域内。

优选的，所述第一开关、所述第二开关为相同结构的薄膜晶体管。

进一步的，所述的阵列基板，设置有所述第一开关以及所述第二开关的所述数据线和/或所述栅线上还设置有第三开关，所述第三开关均连接到用以测试所述数据线和/或所述栅线中端数据的第三测试点上。

本申请的另一方面，提供一种显示装置，包括如上所述的阵列基板。

本申请的另一方面，提供一种阵列基板的检测方法，包括：

向数据线和/或栅线提供驱动信号；

闭合待测所述数据线和/或栅线首端的第一开关和所述数据线和/或栅线末端的第二开关，并断开其它所述数据线和/或栅线上的所述第一开关和所述第二开关，通过所述第一测试点测试所述待测数据线和/或栅线的首端数据，通过所述第二测试点测试所述待测数据线和/或栅线的末端数据；

改变待测的所述数据线和/或栅线，重复执行上一步骤，直至全部所述数据线和/或栅线测试完成。

进一步的，所述的阵列基板的检测方法，还包括：

闭合待测数据线和/或栅线上的第三开关，并断开其它所述数据线和/或栅线上的所述第三开关，通过所述第三测试点测试所述待测数据线和/或栅线的中端数据；

改变待测的所述数据线和/或栅线，重复执行上一步骤，直至全部所述数据线和/或栅线测试完成。

本发明实施例的一种阵列基板、显示装置及检测方法，通过设置第一开关、第二开关，实现了在不改变测试点的情况下检测阵列基板中每一条数据线和/或栅线电学性能的目的，从而简化整个阵列基板的测试过程，节省测试时间，提高测试效率。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明实施例中阵列基板的结构示意图之一；

图2为本发明实施例中数据线近端的电压波形曲线图；

图3为本发明实施例中数据线远端的电压波形曲线图；

图4为本发明实施例中阵列基板的结构示意图之二；

图5为本发明实施例中阵列基板的结构示意图之三；

图6为本发明实施例中阵列基板的检测方法。

具体实施方式

本发明实施例提供一种阵列基板、显示装置及检测方法，能够在不改变测试点的情况下完成对阵列基板中每一条栅线/数据线的检测工作，从而简化整个阵列基板的测试过程。

以下描述中，为了说明而不是为了限定，提出了诸如特定系统结构、接口、技术之类的具体细节，以便透切理解本发明。然而，本领域的技术人员应当清楚，在没有这些具体细节的其它实施例中也可以实现本发明。在其它情况中，省略对众所周知的装置、电路以及方法的详细说明，以免不必要的细节妨碍本发明的描述。

下面结合下述附图对本发明实施例做详细描述。

本实施例提供一种阵列基板，如图1所示，包括多条栅线2、多条数据线1、栅线2与数据线1交叉定义的像素单元3。另外，阵列基板中还包括驱动单元4，用于提供驱动信号。具体的，驱动单元4包括数据驱动单元、栅极驱动单元，分别为数据线1和栅线2提供工作所需的驱动信号。其中，至少一条数据线1和/或栅线2的首端设置有第一开关11，设置有第一开关的数据线1和/或栅线2的末端设置有第二开关12，第一开关11均连接到用以测试数据线和/或栅线首端数据的第一测试点A上(简称为A点)，第二开关12均连接到用以测试数据线1和/或栅线2末端数据的第二测试点B上(简称为B点)。其中，“数据线和/或栅线首端”是指数据线和/或栅线靠近驱动单元的一端；“数据线和/或栅线末端”是指数据线和/或栅线远离驱动单元的一端。

作为本发明的一种具体实施方式，举例来说，以对图1中从左侧数第一条数据线(简称为一路数据线)的测试过程为例。首先，开启驱动单元4，并开始输入驱动信号，此时，驱动单元为数据驱动单元，将数据驱动单元输入的驱动信号作为测试信号。示例性的，该测试信号驱动信号可具体为：交流电压信号、锯齿波电压信号或者其它常见驱动用电压信号等等。然后，闭合一路数据线首端的第一开关11，断开其它路数据线首端的第一开关11，然后将第一测试点A连接到示波器上。此时，示波器上显示出一路数据线首端的电压波形曲线图，如图2所示。图2的横轴表示时间，纵轴表示电压，为液晶显示单元正常工作所需的电压值。其中，t1表示一路数据线首端电压上升时间，t1′表示一路数据线首端电压下降时间。然后，在闭合一路数据线末端的第二开关12，断开其它路数据线末端的第二开关12，然后将第二测试点B连接到示波器上。此时，示波器上显示出一路数据线末端的电压波形曲线图，如图3所示。图3的横轴表示时间，纵轴表示电压，表示液晶显示单元正常工作所需的电压值。其中，t2表示一路数据线末端电压上升时间，t2′表示一路数据线末端电压下降时间。利用分别得到图2和图3的波形曲线图，便可完成一路数据线相关电学性能的计算工作。例如：测试数据线中的数据延时情况。在数据线中驱动信号从首端传输到末端过程中存在着数据延时现象，以一路数据线为例，对应图2和图3，t1和t2分别表示一路数据线首端和末端的电压上升时间。驱动信号在数据线的传输过程中，必然先达到第一开关所在位置而后达到第二开关所在位置，因此，“t2-t1”就可以来反映一路数据线中驱动信号的数据延时时间。假设检测得到t1＝5us，t2＝7us，通过计算，一路数据线中的数据延时时间为2us。

作为本发明的另一种具体实施方式，举例来说，在完成测试一路数据线之后，还可以继续测试二路数据线。与上述实施方式相类似，此时，测试二路数据线首端时需要闭合二路数据线首端的第一开关11而断开其他路数据线上的第一开关11，测试二路数据线末端时需要闭合二路数据线末端的第二开关12断开其他路数据线上的第二开关12，然后分别通过A点和B点连接示波器进行测试工作。同理，通过测试得到的波形曲线图即可计算二路数据线上的相关电学性能。由此可以发现，在整个数据线测试过程中，只需闭合/断开相应的第一/第二开关，利用A点和B点两个测试点即可完成对任意一路数据线的测试工作，而不需要改变新的测试点。需要说明的是，利用A点测试数据线首端以及利用B点测试数据线末端这两个过程相互独立，因此本领域技术人员可同时进行利用A点测试数据线首端以及利用B点测试数据线末端的测试工作。并且，利用本发明实施例阵列基板进行数据线的测试不需更换测试点，使得数据线的检测过程得到了简化，数据线的检测效率也得到了提高。

需要说明的是，上述实施例是以数据线为例，事实上，本领域技术人员可知，对栅线进行测试所使用原理以及结构与对数据线进行测试所使用原理以及结构是相类似的，因为本文篇幅有限，在此不做赘述。

另外，需要特别说明的是，若阵列基板为双边栅极驱动的阵列基板，举例来说，阵列基板中既有第一栅极驱动单元又有第二栅极驱动单元，第一栅极驱动单元用于驱动第一栅线、第三栅线、第五栅线......，第二栅极驱动单元用于驱动第二栅线、第四栅线、第六栅线......。此时，需要调整第一开关、第二开关以及第一测试点、第二测试点的所在位置，而并不涉及阵列基板结构上的改变。

本发明实施例的一种阵列基板，能够在不改变测试点的情况下完成对阵列基板中每一条栅线和/或数据线的检测工作，从而简化整个阵列基板的测试过程。

优选的，每条数据线和/或栅线的首端设置有第一开关，每条数据线和/或栅线的末端设置有第二开关。通过在每条数据线和/或栅线上设置第一开关和第二开关，可以测试出每条数据线和/或栅线上驱动信号的情况，从而更加准确的掌握整个阵列基板的性能。

进一步的，第一开关与第二开关位于阵列基板的非显示区域内，第一开关与第二开关相同，且与像素单元形成在同一层上。其中，如图1所示，图1中的区域S为阵列基板像素单元所在区域，因此，“非显示区域”是指阵列基板上像素单元所在区域之外的区域。举例来说，当驱动信号在数据线中传输时，驱动信号会受到像素单元的影响发生变化，因此将第一开关设置于非显示区域可保证A点测试的数据线近端的信号波形曲线不会受到像素单元的影响，同理，将第二开关设置于非显示区域可保证B点测试的数据线近端的信号波形曲线不会受到像素单元的影响，此时可使得计算出的数据线电学性能会更加准确。

优选的，第一开关、第二开关为相同结构的薄膜晶体管。薄膜晶体管包括：第一端、第二端以及控制端。以第一数据线上的第一开关为例，例如：第一数据线上的第一开关基于薄膜晶体管结构，其中，该薄膜晶体管的第一端与第一数据线的首端相连，第二端与第一测试点相连，控制端与控制电路相连。控制电路用于控制控制端，导通或断开第一开关。当导通状态时，第一开关的第一端接收第一数据线首端传输的驱动信号并通过第二端传输给第一测试点进行测试。当然，上述连接方式仅为示例性说明，并不构成对本实施例的限定。另外，使用相同结构的第一开关、第二开关，可使得本实施例的阵列基板结构更加简单，层间结构更加紧凑。

进一步的，本实施例提供一种阵列基板，如图4所示，设置有第一开关11以及第二开关12的数据线1和/或栅线2上还设置有第三开关13，第三开关13均连接到用以测试数据线和/或栅线中端数据的第三测试点C上。其中，第三开关所在位置设置在数据线和/或栅线上且第一开关和第二开关之间的任意位置上。例如：当显示面板尺寸较大时，阵列基板上数据线/栅线/像素单元的数量较多，此时驱动信号在数据线和/或栅线中的变化也更加复杂，此时利用新增的第三开关以及第三测试点C测试数据线和/或栅线中端数据，可以更加准确掌握阵列基板的相关性能。

另外，除了上述具体实施方式中提及到的数据线和/或栅线的测试之外，利用本发明提供的阵列基板还可以完成其他的功能。作为本发明的一种具体实施方式，举例来说：如图1所示，以二路数据线为例，假设二路数据线中存在断路的情况，开启驱动单元4输入驱动信号用作测试使用。然后分别将A点和B点连接到示波器上进行测试。若A点B点均无波形曲线输出，则说明断路点位于二路数据线的第一开关与驱动单元之间；若A点有波形曲线输出而B点无波形曲线输出，则说明断路点位于二路数据线的第一开关与第二开关之间；若A点B点均有波形曲线输出，则说明断路点位于二路数据线的第二开关之后。

作为本发明的另一种具体实施方式，如图5所示，为了消除阵列基板中的静电影响，在数据线2的末端还设置有静电阻抗器5(英文：Electro-Staticdischarge，缩写：ESD)。利用本发明提供的阵列基板还可以对静电阻抗器5进行测试。举例来说，以对二路数据线末端的ESD测试为例，首先关闭驱动单元，断开二路数据线首端的第一开关11，闭合二路数据线末端的第二开关12，然后将B点连接到示波器上。ESD作用是对产生的静电进行吸收和抑制，若在示波器上检测不到波形曲线，则说明ESD上无电荷储存，此时ESD处于正常工作状态；若在示波器上检测到了波形曲线，则说明ESD上储存有电荷，此时ESD处于非正常工作状态。

本发明实施例的一种阵列基板，能够在不改变测试点的情况下完成对阵列基板中每一条栅线和/或数据线的检测工作，从而简化整个阵列基板的测试过程。

另一方面，本发明实施例还提供了一种显示面板，包括如上的阵列基板。其中，阵列基板的结构以及工作原理同上述实施例。另外，显示装置其他部分的结构可以参考现有技术，对此本文不再详细描述。显示装置可以为：手机、平板电脑、电视机、显示器、笔记本电脑、数码相框、导航仪等任何具有显示功能的产品或部件。

本发明实施例的一种显示面板，能够在不变更改变测试点的情况下分别进行阵列基板中每一条栅线和/或数据线的检测工作，从而简化整个阵列基板的测试过程。

再一方面，本发明实施例还提供了一种采用上述阵列基板的检测方法，如图6所示，包括：

步骤a、向数据线和/或栅线提供驱动信号；

作为本发明的一种具体实施方式，本检测方法检测的对象为阵列基板中的数据线和/或栅线。以图1所示的阵列基板为例，当对阵列基板的数据线进行测试时，假设阵列基板上设置有4条数据线(从左到右分别定义为一路数据线、二路数据线、三路数据线、四路数据线)，数据线1的首端与驱动单元4相连接。将驱动信号输入到数据线1中。举例来说：驱动单元中包括数据驱动单元以及栅极驱动单元，利用数据驱动单元向数据线中输入驱动信号。而该驱动信号可以包括，示例性的，交流电压信号、锯齿波电压信号或者其它常见驱动用电压信号等等。

步骤b、闭合待测所述数据线和/或栅线首端的第一开关和所述数据线和/或栅线末端的第二开关，并断开其它数据线和/或栅线上上的第一开关和第二开关，通过第一测试点测试待测数据线和/或栅线上的首端数据，通过第二测试点测试待测数据线和/或栅线上的末端数据；

对应上述具体实施方式，如图1所示，首先对一路数据线开始测试。此时，闭合一路数据线上的第一开关11和第二开关12，断开二、三、四路数据线上的第一开关11和第二开关12；然后，将第一测试点A与第二测试点B分别连接到示波器上，利用示波器可以得到一路数据线首端的波形曲线图，如图2所示；一路数据线末端的波形曲线图，如图3所示。根据图2以及图3便可以计算出一路数据线的电学性能。其中，数据线电学性能的计算过程可参考上述具体实施方式中所介绍的计算过程。需要说明的是，通过第一测试点A检测数据线首端与通过第二测试点B检测数据线末端的这两个测试过程相互独立，因此，可同时进行上述两个测试过程，也可以分别进行两个测试过程。

步骤c、改变待测的数据线和/或栅线，重复执行步骤b，直至全部数据线和/或栅线测试完成。

对应上述具体实施方式，在一路数据线的测试完成之后，继续测试二路数据线。测试的过程与一路数据线的测试相类似，如图1所示，首先闭合二路数据线上的第一开关11和第二开关12，断开一、三、四路数据线上的第一开关11和第二开关12。然后利用第一测试点A与第二测试点B分别得到二路数据线首端与二路数据线末端的波形曲线图，并计算出二路数据线的电学性能。同理，在二路数据线测试完成之后，继续利用第一测试点A与第二测试点B测试剩余数据线首端与末端的波形曲线图，并分别计算三路数据线、四路数据线的电学性能，从而将阵列基板上全部数据线的电学性能测试完成。

进一步的，上述阵列基板的检测方法，还包括：

步骤d、闭合待测数据线和/或栅线上的第三开关，并断开其它数据线和/或栅线上的第三开关，通过第三测试点测试待测数据线和/或栅线的中端数据；

对应上述具体实施方式，如图6所示，在测试完数据线近端/远端之后，还可以测试数据线中端。以一路数据线的中端检测为例，首先闭合一路数据线上的第三开关13，断开二、三、四路数据线上的第三开关13。然后将C点连接到示波器上得到一路数据线中端的波形曲线图，以便进一步准确的计算一路数据线的电学性能。

步骤e、改变待测的数据线和/或栅线，重复执行步骤d，直至全部数据线和/或栅线测试完成。

对应上述具体实施方式，在一路数据线的测试完成之后，继续测试其他路的数据线。测试的过程与一路数据线的测试相类似，在此不做赘述。

需要说明的是，在上述实施方式阵列基板的检测方法中，数据线测试的先后顺序仅为示例型描述而不是对本发明的限定，本领域技术人员可知，在实际的测试过程中该测试顺序可通过设置的控制模块进行控制，该控制模块可以在阵列基板上，对控制模块的操作方法也可以进行相应的设计，当然，对阵列基板的检测的顺序还可以采用其它方式实现，在此不做限定。

另外，需要说明的是，在上述实施方式阵列基板的检测方法中，是以对数据线的检测为例进行的示例性说明，事实上，本领域技术人员可知，在上述阵列基板的检测方法中检测数据线所使用的原理和步骤与检测栅线所使用的原理和步骤相似，因为本文篇幅有限，在此不做赘述。

本发明实施例的一种阵列基板的检测方法，能够在不变更改变测试点的情况下分别进行阵列基板中每一条数据线和/或栅线检测工作，从而简化整个阵列基板的测试过程。

以上，仅为本发明的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应以权利要求的保护范围为准。

Claims (8)

1.一种阵列基板，包括：多条栅线、多条数据线、所述栅线与所述数据线交叉定义的像素单元，其特征在于，至少一条所述数据线和/或所述栅线的首端设置有第一开关，设置有所述第一开关的所述数据线和/或所述栅线的末端设置有第二开关，所述第一开关均连接到用以测试所述数据线和/或所述栅线首端数据的第一测试点上，所述第二开关均连接到用以测试所述数据线和/或所述栅线末端数据的第二测试点上。

2.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，每条所述数据线和/或所述栅线的首端设置有第一开关，每条所述数据线和/或所述栅线的末端设置有第二开关。

3.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，所述第一开关与所述第二开关设置于所述阵列基板的非显示区域内。

4.根据权利要求2所述的阵列基板，其特征在于，所述第一开关、所述第二开关为相同结构的薄膜晶体管。

5.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，设置有所述第一开关以及所述第二开关的所述数据线和/或所述栅线上还设置有第三开关，所述第三开关均连接到用以测试所述数据线和/或所述栅线中端数据的第三测试点上。

6.一种显示装置，其特征在于，包括权利要求1-5任一项所述的阵列基板。

7.一种阵列基板的检测方法，其特征在于，包括：

向数据线和/或栅线提供驱动信号；

闭合待测所述数据线和/或栅线首端的第一开关和所述数据线和/或栅线末端的第二开关，并断开其它所述数据线和/或栅线上的所述第一开关和所述第二开关，通过第一测试点测试所述待测数据线和/或栅线的首端数据，通过第二测试点测试所述待测数据线和/或栅线的末端数据；

改变待测的所述数据线和/或栅线，重复执行上一步骤，直至全部所述数据线和/或栅线测试完成。

8.根据权利要求7所述的阵列基板的检测方法，其特征在于，还包括：

闭合待测数据线和/或栅线上的第三开关，并断开其它所述数据线和/或栅线上的所述第三开关，通过第三测试点测试所述待测数据线和/或栅线的中端数据；

改变待测的所述数据线和/或栅线，重复执行上一步骤，直至全部所述数据线和/或栅线测试完成。