TWI500939B - 顯示裝置的顯示面板及檢測顯示裝置的信號線的缺陷的方法 - Google Patents

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Description

顯示裝置的顯示面板及檢測顯示裝置的信號線的缺陷的方法
本發明涉及一種顯示裝置，尤其是一種能精準判定相鄰的信號線是否短路及/或開路的顯示裝置的顯示面板、以及一種檢測顯示裝置的信號線的缺陷的方法。
如像液晶顯示(Liquid Crystal Display,LCD)裝置、電漿(Plasma)顯示裝置及發光二極體(light-emitting diode，LED)顯示裝置的顯示裝置，在他們能推出市場之前，通常要先經過數種測試處理。
這些的各種測試包含例如是閘極線與資料線的信號線的短路及開路條件的測試處理。
然而，當顯示裝置按比例增大時，信號線的數量隨著顯示裝置的尺寸而等比的增加，於是形成在顯示裝置上的信號線變得更加密集。尤其是，為了補償驅動開關元件的電流驅動能力，發光二極體顯示裝置需要為數很多的開關元件及提供給開關元件的各種驅動信號。因此，就只能減少信號線之間的空間。
因此，在現今的顯示裝置，由於相鄰的信號線之間的信號干擾使從相鄰的信號線所測得的信號波形幾乎完全相同，造成各信號線是否短路及/或開路的檢測以及該等開路及/或短路的信號線的確切位置就會難以判定。
各實施例包含一種顯示裝置的顯示面板，具有一使相鄰的信號線具有不同電性連接方式的信號線結構，從而增加相鄰的信號線之間的電阻差值，並消除相鄰的信號線之間的信號干擾。有益地，能夠精準判定各信號線SL是否短路，以及信號線是否開路。各實施例並包含一種用於檢測具有該結構之顯示裝置的信號線的缺陷的方法。
本發明另外的優點、目的、和特徵將陳述於後續說明書中，而熟知此技藝者透過審視以下內容或經實施本發明而習得對本發明之優點、目的、和特徵或變為顯而易知。本發明的目標及其他優點可以通過特別的書面說明 和關於它的專利範圍以及附圖所指出的結構而實現並獲得。
在一實施例中，一種顯示裝置的顯示面板包括形成在一基板上之複數個信號線，該等信號線可傳送控制該顯示面板的像素所需的信號，其中該等信號線之被選擇的信號線耦接至複數個主信號線及該等信號線之未被選擇的一些信號線的其中之一，該等信號線之未被選擇的信號線保持在與該等信號線之被選擇的信號線不同的電性狀態下，比如浮動狀態下。例如，每一個其他的信號線可耦接至該等主信號傳輸線的其中之一，而該等未被選擇的信號線可保持於浮動狀態下。
在一實施例中，一種顯示裝置的顯示面板包括一基板，其上形成有傳送各種像素所需的信號的複數個信號線，其中對任兩相鄰的信號線而言，該兩相鄰的信號線的其中之一耦接至複數個主信號傳輸線的至少其中之一，而該兩相鄰的信號線的另一個保持於浮動狀態下。
該等信號線中的nth 信號線可保持於浮動狀態下，該等nth 信號線以外之該等其餘的信號線耦接至該等第一主信號傳輸線，其中n可以是2m-1(m為一自然數)或2m。
該等主信號傳輸線及該等信號線SL可位於不同層中，使得一閘極絕緣層插設於其間，而該等nth 信號線以外之該等其餘的信號線可經由穿過該閘極絕緣層的複數個接觸孔耦接至該等主信號傳輸線。
該基板可分割成一顯示區，其中將形成該等像素；一非顯示區，其中將安裝一提供驅動該等像素的信號的驅動積體電路；以及一短路桿區，其中將形成有複數個短路桿。該等短路桿可與該等主信號傳輸線形成於同一層上，而該等nth 信號線可經由複數個連接線分別耦接至該等短路桿。
該等連接線與該等信號線可位於具有一鈍化層插設於其間的不同層之中，而該等連接線與該等短路桿可形成於具有該閘極絕緣層及該鈍化層插設於其間的不同層之中。該等連接線的一端可經由穿過該鈍化層的複數個接觸孔連接到該等nth 信號線，而該等連接線的另一端可經由穿過該閘極絕緣層及該鈍化層的複數個接觸孔連接到該等短路桿。
該等主信號傳輸線與該等短路桿可由相同的材料製成，該等信號線可由相同的材料製成，該等連接線可由相同的材料製成，而該等主信號傳輸線、該等信號線以及該等連接線的材料可以是不相同的。
該等連接線可由銦錫氧化物(Indium Tin Oxide,ITO)或鉬(molybdenum)合金來製成。
該等主信號傳輸線可包含第一主信號傳輸線與第二主信號傳輸線，而該等nth 信號線以外之該等其餘的信號線的一端可選擇性地連接到該第一主信號傳輸線或該第二主信號傳輸線。
在本發明的另一方面，一種檢測顯示裝置的信號線的缺陷的方法包括：對任兩相鄰的信號線而言，將兩相鄰的信號線的其中之一耦接至複數個主信號傳輸線的至少其中之一，並保持該兩相鄰的信號線的另一個於浮動狀態下；將一輸入測試信號提供到該等信號線的一端；以及藉由分析自該等信號線輸出的輸出測試信號的波形，判定該等信號線是否短路及該等信號線是否開路。
該等信號線中的該等nth 信號線可保持於浮動狀態下，該等nth 信號線以外之該等其餘的信號線可耦接到該等主信號傳輸線，其中n可以是2m-1(m為一自然數)或2m。
該等主信號傳輸線與該等信號線可位於具有一閘極絕緣層插設於其間的不同層之中，而該等nth 信號線以外之該等其餘信號線可經由穿過該閘極絕緣層的複數個接觸孔耦接至該等主信號傳輸線。
該輸入測試信號可以是一電壓型式輸入測試信號。
藉由比較自該等信號線另一端輸出的輸出測試信號的波形與第一參考電壓和第二參考電壓，實施判定該等信號線是否短路以及該等信號線是否開路。該第一參考電壓可以是自在該等信號線不是開路或短路的正常狀態下該等nth 信號線所測得的輸出測試信號之最大峰值電壓的平均值。該第二參考電壓可以是自在該等信號線不是開路或短路的正常狀態下該等nth 信號線以外之該等其餘的信號線所測得的輸出測試信號之最大峰值電壓的平均值。例如，在正常狀態下該等信號線可包含在已知無任何缺陷且與被測試的顯示裝置有明顯區隔的一顯示裝置之中。
當從一nth 信號線所測得的輸出測試信號的最大峰值電壓與該第一參考電壓之間的差值在一預定範圍內時，判定相對應的信號線是無缺陷的。當從該nth 信號線所測得的輸出測試信號的最大峰值電壓與該第一參考電壓之間的差值超出一預定範圍內時，判定相對應的信號線開路。當從該nth 信號 線所測得的輸出測試信號的最大峰值電壓與該第一參考電壓之間的差值小於一預定範圍內時，判定相對應的信號線短路。當從該等nth 信號線以外之一信號線所測得的輸出測試信號的最小峰值電壓與該第二參考電壓之間的差值位於一預定範圍內時，判定相對應的信號線是無缺陷的。當從該等nth 信號線以外之該信號線所測得的輸出測試信號的最小峰值電壓與該第二參考電壓之間的差值超出一預定範圍內時，判定相對應的信號線短路。當從該等nth 信號線以外之該信號線所測得的輸出測試信號的最小峰值電壓與該第二參考電壓之間的差值小於一預定範圍內時，判定相對應的信號線開路。
該方法可進一步包括將該基板分割成有一顯示區，其中將形成該等像素；一非顯示區，其中將安裝一提供驅動該等像素的信號的驅動積體電路；以及一短路桿區，其中將形成複數個短路桿；將該等短路桿形成於與該等主信號傳輸線的同一層上；以及經由複數個連接線將該等nth 信號線分別耦接至該等短路桿。
該等連接線與該等信號線可位於具有一鈍化層插設於其間的不同層之中，而該等連接線與該等短路桿可形成於具有該閘極絕緣層及該鈍化層插設於其間的不同層之中。該等連接線的一端可經由穿過該鈍化層的複數個接觸孔連接至該等nth 信號線，而該等連接線的另一端可經由穿過該閘極絕緣層及該鈍化層的複數個接觸孔連接至該等短路桿。
該等主信號傳輸線與該等短路桿可由相同的材料製成，該等信號線可由相同的材料製成，該等連接線可由相同的材料製成，而該等主信號傳輸線、該等信號線以及該等連接線的材料可以是不相同的。
該等連接線可由銦錫氧化物(Indium Tin Oxide,ITO)或鉬(molybdenum)合金來製成。
該等主信號傳輸線可包含第一主信號傳輸線與第二主信號傳輸線，而該等nth 信號線以外之該等其餘的信號線的一端可選擇性地連接至該第一主信號傳輸線或該第二主信號傳輸線。
該方法可進一步包括藉由提供一電流式的輸入測試信號到該等信號線的一端判定該等信號線是否開路或短路，而最終依據該電流式信號及該電壓式信號基於該等信號線是否開路或短路的判定結果來判定該等信號線是否開路或短路。
吾人須知前述本發明之一般說明與下述之詳細說明皆係示範與解釋，且意欲提供本發明申請專利範圍之進一步解釋。
以下將詳細介紹本發明之較佳實施例，其範例並顯示於附圖中，在任何可能的情況中，其中全部圖式中的相同參考標號係代表相同或類似元件。
第1圖顯示依據本發明第一實施例之顯示裝置的顯示面板。如第1圖所示，依據本發明第一實施例之顯示裝置的顯示面板包含基板100，該基板100上形成有傳送像素所需的各種信號的複數個信號線SL。
基板100分割成顯示區101、非顯示區102、以及短路桿(shorting bar)區103。如第1圖所示，基板100為顯示面板的兩個基板中的下基板，而第1圖並未顯示上基板。在最終測試後，短路桿區103自基板100去除。比如，藉由沿著第1圖的描繪線SCL切割基板100來去除短路桿區103。
如上所述，像素與信號線SL形成於顯示區101之內。此外，第一主信號傳輸線MSL1與第二主信號傳輸線MSL1形成於顯示區101之內。或者，第一主信號傳輸線MSL1與第二主信號傳輸線MSL2可形成於非顯示區102之內，而不是在顯示區101之內。
非顯示區102是其中安裝有傳送信號到信號線SL、第一主信號傳輸線MSL1與第二主信號傳輸線MSL2的驅動積體電路的區域，而該等驅動積體電路是在該等信號線SL的所有測試程序完成後再安裝。
複數個短路桿SB形成於短路桿區103之內，該等短路桿SB將自信號線SL與主信號傳輸線MSL1、MSL2所產生的靜電排放至外面，藉此防止形成在像素中的薄膜電晶體遭到破壞。此外，該等短路桿SB用以提供用於檢測像素的缺陷的測試信號給像素。
第1圖中顯示的結構設計以測試信號線SL是否短路，以及信號線SL是否開路。基於此目的，任兩相鄰信號線SL的一信號線SL耦接至主信號傳輸線MSL1或主信號傳輸線MSL2，而另一信號線SL保持在該信號線SL未耦接至任何線路的浮動狀態(floating state)下。
亦即，該等信號線SL中的nth 信號線SL保持在浮動狀態下，而該等nth 信號線SL以外之其餘的信號線SL耦接至第一主信號傳輸線MSL1及第二 主信號傳輸線MSL12的其中之一。此處的n是2m-1(m為自然數)或2m。如第1圖所示的例子，該等信號線SL中的奇數信號線SL不連接到任何線路並保持在浮動狀態下，而該等信號線SL中的偶數信號線SL的一端選擇性地連接到第一主信號傳輸線MSL1或第二主信號傳輸線MSL2。
第一主信號傳輸線MSL1及第二主信號傳輸線MSL2及短路桿SB可由一般製作閘極線用的閘極金屬來製成。比如，第一主信號傳輸線MSL1及第二主信號傳輸線MSL2及短路桿SB可由鋁合金及包含有鋁之雙金屬層的其中之一來製成。
該等信號線SL可由一般製作資料線用的源極或汲極金屬來製成。比如，該等信號線SL可由具有高化學抗腐蝕性及高機械強度的金屬來製成，該金屬可以是鉬(molybdenum)金屬、鉻(chromium)金屬、鎢(tungsten)金屬及鎳(nickel)金屬的其中之一。
第一主信號傳輸線MSL1和第二主信號傳輸線MSL2及短路桿SB由透過一圖案化製程在同一層上的同一種金屬來製成。
信號線SL由透過一圖案化製程在同一層上的同一種金屬來製成。
第一主信號傳輸線MSL1和第二主信號傳輸線MSL2及信號線SL位於不同層中，使得一閘極絕緣層插設於其間。
信號線SL中的nth 信號線SL(例如：奇數信號線SL)並未耦接至第一主信號傳輸線MSL1及第二主信號傳輸線MSL2。亦即，在浮動狀態下nth 信號線SL形成於閘極絕緣層上，並橫跨於第一主信號傳輸線MSL1及第二主信號傳輸線MSL2。另一方面，(n+1)th 信號線SL(例如：偶數信號線SL)經由穿過閘極絕緣層的接觸孔耦接至等一主信號傳輸線MSL1及第二主信號傳輸線MSL2的其中之一。
由於本發明的此種結構，即使信號線SL彼此之間非常鄰近，還是能夠精準測試各信號線是否個別地短路及或/開路。也就是，由於相鄰信號線SL具有不同電性連接方式，相鄰信號線SL具有不同電阻。即，由於在浮動狀態下一信號線SL的電阻值與連接到一主信號傳輸線的一信號線SL的電阻值不同，當具有相同值的輸入測試信號提供給每一個相鄰信號線SL的一端時，從相鄰信號線SL的另一端所測得的輸出測試信號就有很大的差別。因此，即便因信號干擾而於相鄰信號線之間產生雜訊，該兩輸出測試信號之 間仍具有很大的差異，於是可精準檢測從各信號線SL傳出的輸出測試信號。因此，根據本發明的實施例，藉由個別分析自各信號線SL所測得的輸出測試信號的值，能夠精準判定各信號線SL是否短路及/或短路。
第2圖顯示在信號線的開路及短路測試處理之後顯示面板的結構。
在透過第1圖所示的顯示面板結構中信號線SL的短路及開路測試處理判定各信號線是否有缺陷時，進行測試各像素是否有缺陷的處理。為進行此種處理，需要提供測試信號到在浮動狀態下的信號線SL。為此目的，在浮動狀態下信號線SL與短路桿SB之間的電性連接，如第2圖所示，必須在測試處理前完成。
如第2圖所示，在浮動狀態下信號線SL經由複數個連接線CNL電性連接至該等短路桿SB。
連接線CNL可由銦錫氧化物(Indium Tin Oxide,ITO)及鉬(molybdenum)合金的其中之一來製成。
在浮動狀態下該等連接線CNL與該等信號線SL位於具有鈍化層插設於其間的不同層之中。此外，該等連接線CNL及該等短路桿SB位於具有閘極絕緣層與鈍化層插設於其間的不同層之中。
該等連接線CNL的一端經由穿過鈍化層的複數個接觸孔連接到在浮動狀態下的該等信號線SL。此外，該等連接線CNL的另一端經由穿過閘極絕緣層與鈍化層的該等接觸孔連接到該等短路桿SB。
以下，將詳細說明在主信號傳輸線及信號線SL之間的連接關係以及短路桿SB及信號線SL之間的連接關係。
第3圖為第2圖A部份的剖視圖，即沿著第2圖的I-I’線所視。
如第3圖所示，以閘極金屬製成的第一主信號傳輸線MSL1形成在基板100上。閘極絕緣層GI形成在第一主信號傳輸線MSL1上。以資料金屬製成的信號線SL形成在閘極絕緣層GI上。此處，穿過閘極絕緣層GI的接觸孔形成在閘極絕緣層GI上。該接觸孔使位於閘極絕緣層GI之下的第一主信號傳輸線MSL1的一部份外露出來。信號線SL經由該接觸孔電性連接到位於信號線SL之下的第一主信號傳輸線MSL1。此外，鈍化層PAS形成在第一主信號傳輸線MSL1及閘極絕緣層GI之上。
第4圖為第2圖B部份的剖視圖，即沿著第2圖的I-I線所視。
如第4圖所示，以閘極金屬製成的短路桿SB形成在基板100之上。閘極絕緣層GI形成在短路桿SB之上。以資料金屬製成的信號線SL形成在閘極絕緣層GI之上。鈍化層PAS形成在信號線SL及閘極絕緣層GI之上。連接線CNL形成在鈍化層PAS之上。此處，穿過鈍化層PAS的接觸孔形成在鈍化層PAS上。上述的接觸孔使位於鈍化層PAS下方的信號線SL的一部份外露出來。此外，依序穿過閘極絕緣層GI與鈍化層PAS的另一接觸孔形成於閘極絕緣層GI與鈍化層PAS上。上述的接觸孔使位於閘極絕緣層GI下方的短路桿SB的一部份外露出來。連接線CNL的一端電性連接到位於通過之前的接觸孔的連接線CNL的下方的信號線SL，而連接線CNL的另一端電性連接到位在通過之後的接觸孔的連接線的下方的短路桿。因此，在浮動狀態下信號線SL與短路桿SB經由連接線CNL而電性連接。
第4圖所示的剖面結構是一種在信號線SL的短路及開路測試處理後，處理測試像素是否有缺陷的結構。因此，在信號線SL的短路及開路測試處理期間，第4圖的連接線CNL還未形成。在信號線SL的短路及開路測試處理期間，該等接觸孔以及上述的連接線CNL可被去除。亦即，第一主信號傳輸線MSL1、第二主信號傳輸線MSL2、短路桿SB、閘極絕緣層GI以及鈍化層PAS可在信號線SL的短路及開路測試處理之前先形成，而上述的接觸孔(第4圖中)及連接線CNL可在信號線SL的短路及開路測試處理完成以後而形成。
根據另一實施例，第一主信號傳輸線MSL1、第二主信號傳輸線MSL2、短路桿SB、閘極絕緣層GI以及信號線SL可在信號線SL的短路及開路測試處理之前先形成。信號線SL的短路及開路測試處理係實施於上述的結構上，接著，鈍化層PAS、接觸孔(於第4圖中)以及連接線CNL可在信號線SL的短路及開路測試處理完成以後而形成。
第5圖顯示第1圖的一個像素的配置。
第1圖的基板100可以是發光二極體顯示裝置的基板100。此處，如第5圖所示的像素可包含資料開關元件Tr_DS、驅動開關元件Tr_DR、發光二極體OLED、以及儲存電容器Cst。
資料開關元件Tr_DS由閘極線GL的閘極信號控制，並連接於資料線DL及驅動開關元件Tr_DR的閘極電極之間。
驅動開關元件Tr_DR由資料開關元件Tr_DS的資料信號控制，並連接至發光二極體OLED的陰極和第二驅動線VSL之間。第二驅動線VSL連接至傳送第二驅動電壓VSS的第二主驅動線MVSL。
發光二極體OLED連接於第一驅動線VDL及驅動開關元件Tr_DR的汲極電極之間。在此，第一驅動線VDL連接至傳送第一驅動電壓VDD的第一主驅動線MVDL。
儲存電容器Cst連接於源極電極及驅動開關元件Tr_DR的閘極電極之間。
此處，第1圖上述的信號線SL可包含資料線DL、第一驅動線VDL、以及第二驅動線VSL。例如，資料線DL對應於第1圖在浮動狀態下的信號線SL，第一主驅動線MVDL對應於第1圖的第一主信號傳輸線MSL1。 第二主驅動線MVSL對應於第1圖的第二主信號傳輸線MSL2，第一驅動線VDL對應於與第1圖的第一主信號傳輸線MSL1連接的信號線SL，而第二驅動線VSL對應於與第二主信號傳輸線MSL2連接的信號線SL。
以下，將詳細說明依據本發明實施例之檢測顯示裝置的信號線的缺陷(短路及開路)的方法。
第6A圖至第6C圖顯示根據本發明之檢測顯示裝置的信號線SL的缺陷的方法。第6B圖為沿著第6A圖III-III’線所示的剖視圖，以及第6C圖為沿著第6A圖IV-IV’線所示的剖視圖。
首先，如第6A圖所示，線路測試裝置600設置於第1圖中基板100的上表面上。如第6A圖所示，線路測試裝置600包含輸入測試信號輸出單元601以及輸出測試信號檢測單元602。輸入測試信號輸出單元601位在信號線SL之一端的上表面之上，而輸出測試信號檢測單元602位在信號線SL之另一端的上表面之上。此處，如第6B圖及第6C圖所示，輸入測試信號輸出單元601與輸出測試信號檢測單元602不直接與信號線SL接觸，且與信號線SL相隔一預定間隔。
將自輸入測試信號輸出單元601輸出的輸入測試信號提供至信號線SL的一端，如第6C圖所示。接著，當輸入測試信號提供至信號線SL的一端時，從各信號線SL的另一端會產生輸出測試信號OIS。從信號線SL的其他端所產生的輸出測試信號OIS由輸出測試信號檢測單元602來檢測。
第6A圖顯示當信號線SL皆未有缺陷時，即，信號線SL皆未短路或斷路時，由輸出測試信號檢測單元602所檢測到的輸出測試信號OIS。此處，從在浮動狀態下信號線SL所測得的輸出測試信號OIS，比如自為奇數信號線SL所測得的輸出測試信號OIS，具有相當高的峰值電壓。另一方面，自連接到第一主信號傳輸線MSL1及第二主信號傳輸線MSL2其中之一的信號線SL所測得的輸出測試信號OIS，比如從偶數信號線SL所測得的輸出測試信號OIS，具有相當低的峰值電壓。峰值電壓會不同的原因是在浮動狀態下奇數信號線SL具有比偶數信號線SL更高的電阻值。因此，當信號線SL皆未有缺陷時，從各信號線SL所測得的輸出測試信號OIS形成具有均一值的正弦波，如第6A圖所示。
第7圖顯示當一些信號線SL短路或開路時輸出測試信號OIS的波形。
如第7圖所示，當一些信號線SL短路或開路時，輸出測試信號OIS所具有的值不同於自第6A圖中短路或開路的信號線SL輸出的輸出測試信號OIS。比如，當第7圖中全部的信號線SL依序由左至右被定義為第一到第十一信號線SL1~S11時，從短路的第一信號線SL1與第二信號線SL所輸出的輸出測試信號OIS的峰值電壓的數值低於正常狀態下從信號線所輸出的峰值電壓。峰值電壓會不同的原因是第一信號線SL1及第二信號線SL2短路，並因而第一信號線SL1及第二信號線SL2的電阻值大為減少。反之，從開路的第五個信號線SL5及第八個信號線SL8輸出的輸出測試信號OIS的峰值電壓的數值高於正常狀態下信號線所輸出的峰值電壓。峰值電壓會不同的原因是第五信號線SL5及第八信號線SL8開路，並因而第五信號線SL5及第八信號線SL8的電阻值大為提高。
根據本發明的實施例，第一參考電壓及第二參考電壓可根據在正常狀態下各信號線SL的輸出測試信號OIS來設定，如第6A圖所示。比如，在正常狀態下信號線可包含在已知無任何缺陷且與測試的顯示面板有明顯區隔的顯示面板之中。自第6A圖之奇數信號線SL測得的輸出測試信號OIS之最大峰值電壓的平均值可被計算出來，而被計算出的最大平均峰值電壓可設定為第一參考電壓。此外，自第6A圖之偶數信號線SL測得的輸出測試信號OIS之最小峰值電壓的平均值可被計算出來，而被計算出的最小平均峰值電壓可設定為第二參考電壓。當從奇數信號線SL測得的輸出測試信號 的最大峰值電壓與第一參考電壓之差值在一預定範圍內時，判定相對應的信號線SL為無缺陷。相同地，當從一奇數信號線SL測得的輸出測試信號的最大峰值電壓與第一參考電壓之間的差值相同於該預定範圍的最大值或該預定範圍的最小值時，判定相對應的信號線SL為無缺陷。另一方面，當從奇數信號線SL測得的輸出測試信號的最大峰值電壓與第一參考電壓之間的差值超出該預定範圍的最大值時，判定相對應的信號線SL開路。此外，當從奇數信號線SL測得的輸出測試信號的最大峰值電壓與第一參考電壓之間的差值小於該預定範圍的最小值時，判定相對應的信號線SL短路。
以相同的方式，當從一偶數信號線SL測得的輸出測試信號的最小峰值電壓與第二參考電壓之差值在一預定範圍內時，判定相對應的信號線SL為無缺陷。相同地，當從一偶數信號線SL測得的輸出測試信號的最小峰值電壓與第二參考電壓之差值相同於該預定範圍的最大值或該預定範圍的最小值時，判定相對應的信號線SL為無缺陷。另一方面，當從偶數信號線SL測得的輸出測試信號的最小峰值電壓與第二參考電壓之間的差值超出該預定範圍的最大值時，判定相對應的信號線SL短路。此外，當從偶數信號線SL測得的輸出測試信號的最小峰值電壓與第二參考電壓之間的差值小於該預定範圍的最小值時，判定相對應的信號線SL開路。
這樣的判定可藉由輸出信號檢測單元602來實施，判定的結果可顯示在另一顯示器上。
上述的輸入測試信號輸出單元601的輸入測試信號可以是電壓信號或電流信號。第6A圖及第7圖是當輸入測試信號為電壓信號時的圖。然而即便使用電流型式的輸入測試信號，自各信號線SL測得的輸出測試信號OIS的波形可相近於第6A圖及第7圖顯示的波形。
根據本發明的另一實施例，輸入測試信號輸出單元601可同時輸出電壓式輸入測試信號及電流式輸入測試信號。包含該輸入測試信號輸出單元601的線路測試裝置600可先將電壓式測試信號提供到信號線SL，以判定信號線SL是否開路及/或短路，之後將電流式輸入測試信號提供到信號線SL以判定信號線SL是否開路及/或短路。在此情形下，信號線SL是否開路及/或短路可基於上述兩種判定的結果做最後的判定。亦即，輸出信號檢測單元602比對上述兩種判定彼此之間的結果，並將被判定為相同的診斷狀態 (開路狀態、短路狀態或正常狀態)的信號線SL及被判定成不同的診斷狀態的信號線SL通知給操作員(operator)。經由該兩種判定，可提高該測試的準確度及效率。
若基板100的區域大於可被線路測試裝置600測試的區域，基板100的區域可分割成複數個區域，且線路測試裝置600可以轉移到分割的區域並在分割的區域上實施測試以測試信號線SL是否有缺陷。
第8圖顯示依據本發明第二實施例之顯示裝置的顯示面板。
如第8圖所示，依據本發明第二實施例之顯示裝置的顯示面板包含基板100，其上形成有傳送各種像素所需信號的複數個信號線SL。
基板100分割成顯示區101、非顯示區102、第一短路桿區103、以及第二短路桿區104。於第8圖中所示的基板100為顯示面板的兩基板中的下基板，但第8圖未顯示上基板。
如上所述，像素與信號線SL形成於顯示區101之內。此外，第一至第四主信號傳輸線MSL1~MSL4形成於顯示區101之內。或者，第一至第四主信號傳輸線MSL1~MSL4可形成於非顯示區102之內，而不是在顯示區101之內。
非顯示區102是其中安裝有可傳送信號到該等信號線SL、第一至第四主信號傳輸線MSL1~MSL4的驅動積體電路的區域，而在該等信號線SL的所有測試程序完成後安裝該等驅動積體電路。
複數個第一短路桿SB1形成於第一短路桿區103之內。第一短路桿SB1將自信號線SL及第一至第四主信號傳輸線MSL1~MSL4所產生的靜電排放到外面，藉此防止形成在像素中的薄膜電晶體遭到破壞。此外，第一短路桿SB1用以提供各種用於檢測像素的缺陷的測試信號給像素。在最終測試後第一短路桿區103從基板100去除。比如，藉由沿著第8圖的第一描繪線SCL1切割基板100來去除第一短路桿區103。
複數個第二短路桿SB2形成於第二短路桿區104之內。第二短路桿SB2將自信號線SL及第一至第四主信號傳輸線MSL1~MSL4所產生的靜電排放到外面，藉此防止形成在像素中的薄膜電晶體遭到破壞。此外，第二短路桿SB2用以提供各種用於檢測像素的缺陷的測試信號給像素。在最終測試後第二短路桿區104從基板100去除。比如，藉由沿著第8圖的第二描 繪線SCL2切割基板100來去除第二短路桿區104。
第8圖中顯示的結構設計以測試信號線SL是否短路及/或開路。基於此目的，任兩相鄰信號線SL之一信號線SL連接至主信號傳輸線MSL1~MSL4的其中之二，而其他的信號線SL保持在信號線SL未耦接至任何線路的浮動狀態下。
亦即，該等信號線SL中的nth 信號線SL保持在浮動狀態下，而nth 信號線SL以外之其餘的信號線SL連接至第一主信號傳輸線MSL1及第三主信號傳輸線MSL3，或連接至第二主信號傳輸線MSL2及第四主信號傳輸線MSL4。此處的n是2m-1(m為一自然數)或2m。如第8圖所示的例子，該等信號線SL中的奇數信號線SL不連接到任何線路並保持於浮動狀態下，而該等信號線SL中的偶數信號線SL的一端選擇性地連接到第一主信號傳輸線MSL1或第二主信號傳輸線MSL2，並且該等信號線SL中的偶數信號線SL的另一端選擇性地連接到第三主信號傳輸線MSL3或第四主信號傳輸線MSL4。
第一主信號傳輸線至第四主信號傳輸線MSL1~MSL4以及第一短路桿SB1和第二短路桿SB2可由一般製作閘極線用的閘極金屬來製成。該閘極金屬相同於第一實施例的閘極金屬。
該等信號線SL可由一般製作資料線用的源極/汲極金屬來製成。該資料金屬相同於第一實施例的資料金屬。
第一主信號傳輸線至第四主信號傳輸線MSL1~MSL4以及第一短路桿SB1和第二短路桿SB2透過一圖案化製程由在同一層上的同一種金屬來製成。
信號線SL透過一圖案化製程由在同一層上的同一種金屬來製成。
第一主信號傳輸線至第四主信號傳輸線MSL1~MSL4與信號線SL位於不同層。此處，閘極絕緣層插設於第一主信號傳輸線至第四主信號傳輸線MSL1~MSL4與信號線SL之間。
該等信號線SL中的nth 信號線SL(例如：奇數信號線SL)並未連接到第一主信號傳輸線至第四主信號傳輸線MSL1~MSL4。亦即，在浮動狀態下nth 信號線SL形成於閘極絕緣層GI上，並橫跨於第一主信號傳輸線至第四主信號傳輸線MSL1~MSL4。另一方面，(n+1)th 信號線SL(例如：偶 數信號線SL)經由穿過閘極絕緣層GI的接觸孔連接到第一主信號傳輸線MSL1與第三主信號傳輸線MSL13，或連接到第二主信號傳輸線MSL2及第四主信號傳輸線MSL4。
由於本發明的此種結構，即使該等信號線SL非常相鄰於彼此，各信號線是否個別地短路及/或開路還是能夠被精準地測試。亦即，由於相鄰的信號線SL具有不同的電性連接方式，相鄰的信號線SL具有不同的電阻值。也就是，由於在浮動狀態下一信號線SL的電阻值與連接到主信號傳輸線的信號線的電阻值不同，當具有相同值的輸入測試信號提供到每一個相鄰信號線SL的一端時，從相鄰信號線SL的另一端測得的輸出測試信號有很大的差異。因此，即便因信號干擾而使該等相鄰信號線之間產生雜訊，兩輸出測試信號OIS之間仍有很大差異，因而可精準檢測從各信號線SL傳出的輸出測試信號OIS。因此在本發明中，藉由個別分析自各信號線SL測得的輸出測試信號OIS的數值，可精準判定各信號線SL是否短路及/或開路。
第9圖顯示在信號線的開路及短路測試處理之後顯示面板的結構。
在透過第8圖所示的顯示面板結構中各信號線SL的短路及開路測試處理判定各信號線SL是否有缺陷時，進行各像素是否有缺陷的測試處理。為進行此處理，需要提供測試信號到在浮動狀態下的信號線SL。為此目的，必須在測試處理前，完成在浮動狀態下的信號線SL與第一短路桿SB1及第二短路桿SB2之間的電性連接(如第9圖所示)。
如第9圖所示，在浮動狀態下的信號線SL經由第一連接線CNL1及第二連接線CNL2電性連接到第一短路桿SB1及第二短路桿SB。
第一連接線CNL1及第二連接線CNL2可由銦錫氧化物(Indium Tin Oxide,ITO)及鉬(molybdenum)合金的其中之一來製成。
第一連接線CNL1、第二連接線CNL2與在浮動狀態下的信號線SL位於具有鈍化層插設其間的不同層之中。此外，第一連接線CNL1、第二連接線CNL2、第一短路桿SB1及第二短路桿SB位於具有閘極絕緣層與鈍化層插設其間的不同層之中。
第一連接線CNL1的一端經由穿過鈍化層的複數個接觸孔連接到在浮動狀態下的信號線SL。此外，第一連接線CNL1的另一端經由穿過閘極絕緣層及鈍化層的複數個接觸孔連接到第一短路桿SB1。
第二連接線CNL2的一端經由穿過鈍化層的複數個接觸孔連接到在浮動狀態下的信號線SL。此外，第二連接線CNL2的另一端經由穿過閘極絕緣層及鈍化層的複數個接觸孔連接到第二短路桿SB2。
在本發明的第二實施例中，在最終測試後，第一主信號傳輸線MSL1及第三主信號傳輸線MSL3皆傳送相同的電壓，亦即第一驅動電壓。以一樣的方式，在最終測試後，第二主信號傳輸線MSL2及第四主信號傳輸線MSL4皆傳送相同的電壓，亦即，第二驅動電壓VSS。
依據本發明第二實施例之顯示裝置的顯示面板的測試方式相同於本發明第一實施例之顯示裝置的顯示面板的測試方式。
在透過完成測試像素是否有缺陷的處理後判定顯示裝置是正常時，如第2圖所示，隨後進行將資料驅動器貼設於顯示面板的處理。將參考附圖對此作詳細說明。
第10A圖及第10B圖顯示依據本發明第一實施例將資料驅動器貼設於顯示裝置的製程。
首先，如第10A圖所示，沿著描繪線SCL切割基板100。接著，沿著描繪線SCL將基板100分割成兩塊。此處，位在與描繪線SCL交界的部份連接線CNL被切除。自基板100的該兩塊之中，形成有短路桿SB的該塊基板100被去除，而只形成有顯示區101的該塊基板100使用在後續的製程中。
接著，如第10B圖所示，資料驅動器DD貼設於形成有顯示區101之基板100的該分割部分。該資料驅動器DD可貼設於以捲帶式封裝(tape carrier package，TCP)的基板100。此處，資料驅動器DD的輸出端OT分別連接至留在基板100的該分割部分的連接線CNL。藉此，資料驅動器DD與在浮動狀態下的信號線SL藉連接線CN相互連接。此處，在浮動狀態下的信號線SL為傳送資料信號至像素的資料線。
如上所述，連接線CNL與信號線SL位於具有鈍化膜PAS插設於其間的不同層之中。因此，每一個連接線CNL的一側經由穿過鈍化膜的每一個接觸孔電性連接到在浮動狀態下每一個信號線SL的一側。此外，每一個連接線CNL的另一側電性連接至每一個輸出端OT。
此外，如上所述，信號線SL與連接線CNL係由不同的材料製成。
透過第10A圖及第10B圖所示的製程，資料驅動器可同樣地貼設於第9圖的顯示裝置。將參考附圖對此作詳細說明。
第11A圖及第11B圖顯示依據本發明第二實施例將資料驅動器貼設於顯示裝置的製程。
首先，如第11A圖所示，沿著第一與第二描繪線SCL1及SCL2切割基板100。接著，沿著第一與第二描繪線SCL1及SCL2將基板100分割成三塊。此處，位於與第一描繪線SCL1交界的部份第一連接線CNL1被切除，並且位於與第二描繪線SCL2交界的部份第二連接線CNL2被切除。自基板100的該三塊之中，形成有第一短路桿SB1與第二短路桿SB2的該塊基板100被去除，且只形成有顯示區101的該塊基板100使用在後續的製程中。
接著，如第11B圖所示，資料驅動器DD貼設於形成有顯示區101的基板1001的上分割部分。該資料驅動器DD可貼設於以TCP封裝的基板100。此處，資料驅動器DD的輸出端OT分別連接到留在基板100的上分割部分的第一連接線CNL1。藉此，在浮動狀態下資料驅動器DD與信號線SL藉第一連接線CNL1相互連接。此處，在浮動狀態下的信號線SL為傳送資料信號至像素的資料線。
如上所述，第一連接線CNL1與信號線SL位於具有鈍化膜PAS插設於其間的不同層之中。因此，每一個第一連接線CNL1的一側經由穿過鈍化膜的每一個接觸孔電性連接到在浮動狀態下每一個信號線SL的一側。此外，每一個第一連接線CNL1的另一側電性連接到每一個輸出端OT。
此外，如上所述，信號線SL與第一連接線CNL1係由不同的材料製成。
再者，第二連接線CNL3與信號線SL位於具有鈍化膜PAS插設於其間的不同層之中。因此，每一個第二連接線CNL2的一側經由穿過鈍化膜PAS的每一個的接觸孔電性連接到在浮動狀態下每一個信號線SL的一側。
此外，如上所述，信號線SL與第二連接線CNL2係由不同的材料製成。
如上述清楚的說明，依據本發明之顯示裝置的顯示面板及檢測顯示裝置的信號線的缺陷的方法具有下列的優點。
依據本發明之顯示裝置的顯示面板的信號線中之奇數信號線係處於浮動狀態下，並且偶數信號線係連接至主信號傳輸線。因而，相鄰信號線具有不同的電阻。因此，在本發明中，即使該等信號線SL非常鄰近於彼此，當具有 相同值的輸入測試信號提供到每一個相鄰信號線的一端，從相鄰信號線之另一端測得的輸出測試信號有很大的差異。因此，即便因信號干擾而於相鄰信號線之間產生雜訊，兩輸出測試信號之間具有很大的差異，因而可精準檢測出各信號線SL的輸出測試信號。因此，在本發明中，藉由個別分析自各信號線SL測得的輸出測試信號的值，可定精準判定各信號線SL是否短路及/或短路。
熟習此技術者應顯然明白，本發明可做不同的修飾與變更而不背離本發明之精神或範圍，故對本發明所做之修飾與變更若在所附申請專利範圍或其相等之範圍內，皆在本發明意圖涵蓋之內。
本申請案主張2011年11月5日在韓國提出申請之韓國專利申請案第10-2011-0124437號的權益，其在此併入本說明書內作為參考。
100‧‧‧基板
101‧‧‧顯示區
102‧‧‧非顯示區
103‧‧‧短路桿區/第一短路桿區
104‧‧‧第二短路桿區
600‧‧‧線路測試裝置
601‧‧‧輸入測試信號輸出單元
602‧‧‧輸出測試信號檢測單元
CNL‧‧‧連接線
CNL1‧‧‧第一連接線
CNL2‧‧‧第二連接線
Cst‧‧‧儲存電容器
DD‧‧‧資料驅動器
DL‧‧‧資料線
GI‧‧‧閘極絕緣層
GL‧‧‧閘極線
MSL1‧‧‧第一主信號傳輸線
MSL2‧‧‧第二主信號傳輸線
MSL3‧‧‧第三主信號傳輸線
MSL4‧‧‧第四主信號傳輸線
MVDL‧‧‧第一主驅動線
MVSL‧‧‧第二主驅動線
OLED‧‧‧發光二極體
OIS‧‧‧輸出測試信號
OT‧‧‧輸出端
PAS‧‧‧鈍化層/鈍化膜
SB‧‧‧短路桿
SB1‧‧‧第一短路桿
SB2‧‧‧第二短路桿
SCL‧‧‧描繪線
SCL1‧‧‧第一描繪線
SCL2‧‧‧第二描繪線
SL‧‧‧信號線
SL1~SL11‧‧‧第一信號線~第十一信號線
Tr_DR‧‧‧驅動開關元件
Tr_Ds‧‧‧資料開關元件
VDD‧‧‧第一驅動電壓
VDL‧‧‧第一驅動線
VSL‧‧‧第二驅動線
VSS‧‧‧第二驅動電壓
附圖可提供對本發明的進一步了解，亦併入構成本專利說明書之一部份，附圖所描繪之發明實施例與說明，將共同用於解釋此發明的原理。第1圖顯示依據本發明第一實施例之顯示裝置的顯示面板；第2圖顯示在信號線的開路及短路測試處理之後顯示面板的結構；第3圖為第2圖A部位的剖視圖；第4圖為第2圖B部份的剖視圖；第5圖顯示第1圖顯示面板之像素的配置；第6A圖至第6C圖顯示根據本發明實施例之檢測顯示裝置的信號線的缺陷的方法；第7圖顯示當一些信號線短路或開路時輸出測試信號的波形；第8圖顯示依據本發明第二實施例之顯示裝置的顯示面板；第9圖顯示在信號線的開路及短路測試處理之後顯示面板的結構；第10A圖及第10B圖顯示依據本發明第一實施例將資料驅動器貼設於顯示裝置的製程；以及第11A圖及第11B圖顯示依據本發明第二實施例將資料驅動器貼設於顯示裝置的製程。
100‧‧‧基板
101‧‧‧顯示區
102‧‧‧非顯示區
103‧‧‧短路桿區
SB‧‧‧短路桿
SL‧‧‧信號線
SCL‧‧‧描繪線
MSL1‧‧‧第一主信號傳輸線
MSL2‧‧‧第二主信號傳輸線

Claims (26)

  1. 一種顯示裝置的顯示面板，包括：一基板，其上形成有複數個信號線，用以傳送控制該顯示面板的像素的信號，其中，任兩相鄰信號線的其中之一耦接到複數個主信號傳輸線的至少其中之一，且該兩相鄰信號線的另一個保持於浮動狀態下。
  2. 依據申請專利範圍第1項所述之顯示裝置的顯示面板，其中，該等信號線中的複數個nth 信號線保持於浮動狀態下；該等nth 信號線以外之其餘的信號線耦接至該等主信號傳輸線；以及n是2m-1(m為一自然數)或2m。
  3. 依據申請專利範圍第2項所述之顯示裝置的顯示面板，其中，該等主信號傳輸線與該等信號線位於不同層之中，使得一閘極絕緣層插設於其間；以及該等nth 信號線以外的該等其餘的信號線經由穿過該閘極絕緣層的複數個接觸孔連接至該等主信號傳輸線。
  4. 依據申請專利範圍第3項所述之顯示裝置的顯示面板，其中，複數個短路桿形成於與該等主信號傳輸線相同的一層上；以及該等nth 信號線經由複數個連接線分別連接至該等短路桿。
  5. 依據申請專利範圍第4項所述之顯示裝置的顯示面板，其中，該等連接線與該等信號線形成於具有一鈍化層插設於其間的不同層之中；該等連接線與該等短路桿形成於具有該閘極絕緣層與該鈍化層插設於其間的不同層之中；該等連接線的第一端經由穿過該鈍化層的複數接觸孔連接至該等nth 信號線；以及該等連接線的第二端經由穿過該閘極絕緣層與該鈍化層的複數個接觸孔連接到該等短路桿。
  6. 依據申請專利範圍第4項所述之顯示裝置的顯示面板，其中，該等主信號傳輸線與該等短路桿係由相同材料製成；以及該等主信號傳輸線、該等信號線及該等信號線彼此之間的材料不相同。
  7. 依據申請專利範圍第1項所述之顯示裝置的顯示面板，其中，該等主信號傳輸線包含第一主信號傳輸線與第二主信號傳輸線；以及該等nth 信號線以外之該等其餘的信號線的第一端選擇性地耦接至該第一主信號傳輸線或該第二主信號傳輸線。
  8. 依據申請專利範圍第1項所述之顯示裝置的顯示面板，其中，該等主信號傳輸線包含第一主信號傳輸線、第二主信號傳輸線、第三主信號傳輸線以及第四主信號傳輸線，該第一主信號傳輸線及該第三主信號傳輸線由一相同的第一電壓驅動，而該第二主信號傳輸線與該第四主信號傳輸線由一相同的第二電壓驅動；以及該等其餘的信號線的一第一子集(Subset)耦接至該第一主信號傳輸線及該第三主信號傳輸線，而該等其餘的信號線的一第二子集耦接至該第二主信號傳輸線與該第四主信號傳輸線。
  9. 依據申請專利範圍第1項所述之顯示裝置的顯示面板，進一步包含分別連接到一資料驅動器的複數個輸出端的複數個連接線，該資料驅動器輸出資料訊號至在該浮動狀態下的該等信號線。
  10. 依據申請專利範圍第9項所述之顯示裝置的顯示面板，其中，該等連接線與該等信號線位於具有一鈍化層插設於其間的不同層之中；每一個該等連接線的一側經由穿過該鈍化層的一接觸孔連接至該浮動狀態下該等信號線之對應的一個；以及每一個該等連接線的另一側連接至該等輸出端之對應的一個。
  11. 依據申請專利範圍第10項所述之顯示裝置的顯示面板，其中該等連接線 與該等信號線係由不同材料製成。
  12. 一種檢測顯示裝置的信號線的缺陷的方法，該顯示裝置包含一基板，該基板具有形成在其上的複數個信號線，用以傳送控制該顯示裝置之像素的信號，該方法包括：將任兩相鄰信號線的其中之一連接至複數個主信號傳輸線之至少其中之一，並且保持該兩相鄰信號線的另一個於浮動狀態下；將一輸入測試信號提供給該等信號線的第一端；以及藉由分析從該等信號線之第二端輸出的輸出測試信號的波形，判定該等信號線是否短路或開路。
  13. 依據申請專利範圍第12項所述之檢測顯示裝置的信號線的缺陷的方法，其中，該等信號線中的nth 信號線保持於浮動狀態下；該等nth 信號線以外之其餘的信號線耦接至該等主信號傳輸線；以及n是2m-1(m為一自然數)或2m。
  14. 依據申請專利範圍第13項所述之檢測顯示裝置的信號線的缺陷的方法，其中該輸入測試信號為一電壓式輸入測試信號。
  15. 依據申請專利範圍第14項所述之檢測顯示裝置的信號線的缺陷的方法，其中判定該等信號線是否短路或開路包含：比較自各信號線測得的輸出測試信號與一第一參考電壓和一第二參考電壓；該第一參考電壓對應於在該等信號線不是斷路或開路的正常狀態下自該等nth 信號線測得的輸出測試信號的最大峰值電壓的平均值；以及該第二參考電壓對應於在該等信號線不是斷路或開路的正常狀態下自該等nth 信號線以外之該等其餘的信號線測得的輸出測試信號的最小峰值電壓的平均值。
  16. 依據申請專利範圍第15項所述之檢測顯示裝置的信號線的缺陷的方法，其中，回應於自該等nth 信號線的其中之一測得的輸出測試信號的最大峰值電壓與該第一參考電壓之一差值在一預定範圍中，判定該等nth 信號線的該其中之一沒有缺陷。
  17. 依據申請專利範圍第16項所述之檢測顯示裝置的信號線的缺陷的方法，其中，回應於自該等nth 信號線的其中之一測得的輸出測試信號的最大峰值電壓與該第一參考電壓之該差值超出該預定範圍的最大值，判定該等nth 信號線的該其中之一開路。
  18. 依據申請專利範圍第16項所述之檢測顯示裝置的信號線的缺陷的方法，其中，回應於自該等nth 信號線的其中之一測得的輸出測試信號的最大峰值電壓與該第一參考電壓之該差值小於該預定範圍的最小值，判定該等nth 信號線的該其中之一短路。
  19. 依據申請專利範圍第15項所述之檢測顯示裝置的信號線的缺陷的方法，其中，回應於自該等nth 信號線以外之該等信號線的其中之一測得的輸出測試信號的最小峰值電壓與該第二參考電壓之一差值在另一預定範圍之內，判定該等nth 信號線以外之該等信號線的該其中之一沒有缺陷。
  20. 依據申請專利範圍第19項所述之檢測顯示裝置的信號線的缺陷的方法，其中，回應於自該等nth 信號線以外之該等信號線的其中之一測得的輸出測試信號的最小峰值電壓與該第二參考電壓之該差值超出於該另一預定範圍的最大值，判定該等nth 信號線以外之該等信號線的該其中之一短路。
  21. 依據申請專利範圍第19項所述之檢測顯示裝置的信號線的缺陷的方法，其中，回應於自該等nth 信號線以外之該等信號線的其中之一測得的輸出測試信號的最小峰值電壓與該第二參考電壓之一差值小於該另一預定範圍的最小值，判定該等nth 信號線以外之該等信號線的該其中之一開路。
  22. 依據申請專利範圍第14項所述之檢測顯示裝置的信號線的缺陷的方法，進一步包括：藉由提供作為該輸入測試信號的一電壓式測試信號與一電流式測試信號至該等信號線的一端判定該等信號線是否短路或開路。
  23. 一種顯示裝置的顯示面板，包括：複數個信號線，形成於一基板上，用以傳送控制該顯示面板的像素的信號，其中該等信號線之被選擇的信號線耦接至複數個主信號傳輸線的其中之一，而該等信號線之其餘的信號線保持在不同於該等信號線之被選擇的信號線的電性狀態下。
  24. 依據申請專利範圍第23項所述之顯示裝置的顯示面板，其中，當一輸入測試信號提供至該等信號線時，該等信號線之該等其餘的信號線保持在不同於該等信號線之被選擇信號線的電性狀態下。
  25. 依據申請專利範圍第23項所述之顯示裝置的顯示面板，其中該等信號線之該等其餘的信號線保持於浮動狀態下。
  26. 依據申請專利範圍第23項所述之顯示裝置的顯示面板，其中每一個其他的信號線耦接到該等主信號傳輸線的其中之一，而該等其餘的信號線保持於浮動狀態下。
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