KR20070093229A - 발광 소자에 있어서 라인 불량 검출 방법 - Google Patents

발광 소자에 있어서 라인 불량 검출 방법 Download PDF

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Abstract

본 발명은 스캔 라인들을 전압원들에 연결시켜 발광 소자에 발생된 라인 불량 및 불량난 픽셀을 검출하는 방법에 관한 것이다. 데이터 라인들과 스캔 라인들이 교차하는 발광 영역들에 형성된 복수의 픽셀들을 포함하는 발광 소자에서 라인 불량을 검출하는 방법은 적어도 하나의 데이터 라인을 플로팅(floating)시키는 단계; 및 상기 스캔 라인들을 하나씩 제 1 전압을 가지는 제 1 전압원에 연결하는 단계를 포함한다. 여기서, 상기 스캔 라인들 중 상기 제 1 전압원에 연결된 스캔 라인 외의 스캔 라인은 제 2 전압을 가지는 제 2 전압원에 연결되며, 상기 제 2 전압은 상기 제 1 전압과 다른 크기를 가진다. 상기 라인 불량 검출 방법은 데이터 라인들을 플로팅시킨 상태로 스캔 라인들을 하나씩 제 1 전압원에 연결하므로, 라인 불량난 데이터 라인을 검출할 수 있을 뿐만 아니라 불량난 픽셀을 검출할 수 있다.
라인 불량, 발광 소자, 픽셀

Description

발광 소자에 있어서 라인 불량 검출 방법{METHOD OF DETECTING LINE DEFECT IN A LIGHT EMITTING DEVICE}
도 1a는 일반적인 유기 전계 발광 소자를 도시한 도면이다.
도 1b는 도 1a의 픽셀을 도시한 단면도이다.
도 2는 스캔 신호들을 도시한 타이밍 다이어그램이다.
도 3a는 라인 불량의 원인이 되는 불량 픽셀을 도시한 단면도이다.
도 3b는 라인 불량이 발생된 유기 전계 발광 소자를 도시한 회로도이다.
도 4 내지 도 5c는 본 발명의 바람직한 일 실시예에 따른 라인 불량 검출 과정을 도시한 도면들이다.
도 6은 라인 불량난 픽셀을 리페어(repair)하는 과정을 도시한 도면이다.
본 발명은 발광 소자에 있어서 라인 불량 검출 방법에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 스캔 라인들을 전압원들에 연결시켜 발광 소자에 발생된 라인 불량 및 불량난 픽셀을 검출하는 방법에 관한 것이다.
발광 소자는 소정 파장의 빛을 발생시키는 소자로서, 특히 유기 전계 발광 소자는 자체 발광 소자이다.
도 1a는 일반적인 유기 전계 발광 소자를 도시한 도면이고, 도 1b는 도 1a의 픽셀을 도시한 단면도이며, 도 2는 스캔 신호들을 도시한 타이밍 다이어그램이다. 도 3a는 라인 불량의 원인이 되는 불량 픽셀을 도시한 단면도이고, 도 3b는 라인 불량이 발생된 유기 전계 발광 소자를 도시한 회로도이다.
도 1a를 참조하면, 상기 유기 전계 발광 소자는 패널(100), 제어부(102), 스캔 구동부(104) 및 데이터 구동부(106)를 포함한다.
패널(100)은 데이터 라인들(D1 내지 D4)과 스캔 라인들(S1 내지 S4)이 교차하는 발광 영역들에 형성되는 복수의 픽셀들(E11 내지 E44)을 포함한다.
각 픽셀들(E11 내지 E44)은 도 1b에 도시된 바와 같이 순차적으로 적층된 애노드전극층(110), 유기물층(112) 및 캐소드전극층(114)을 포함한다.
애노드전극층(110)에 양의 전압이 인가되고 캐소드전극층(114)에 음의 전압이 인가되는 경우, 유기물층(112)으로부터 소정 파장의 빛이 발생된다.
제어부(102)는 외부 장치로부터 디스플레이 데이터를 수신하고, 상기 수신된 디스플레이 데이터를 이용하여 스캔 구동부(104) 및 데이터 구동부(106)를 제어한다.
스캔 구동부(104)는 제어부(102)의 제어하에 도 2에 도시된 바와 같은 스캔 신호들(SP1 내지 SP4)을 스캔 라인들(S1 내지 S4)에 순차적으로 전송한다. 여기서, 각 스캔 신호들(SP1 내지 SP4)은 픽셀들(E11 내지 E44)의 구동 전압과 동일한 크기 를 가지는 전압(V1)에 해당하는 하이 로직 영역과 0V 전압에 해당하는 로우 로직 영역을 가지며, 이 경우 스캔 라인들(S1 내지 S4)은 해당 스캔 신호의 로우 로직 영역에서 접지(ground)에 연결된다. 따라서, 스캔 라인들(S1 내지 S4)은 순차적으로 접지에 연결된다.
데이터 구동부(106)는 제어부(102)로부터 전송된 디스플레이 데이터에 해당하는 데이터 신호들, 즉 데이터 전류를 데이터 라인들(D1 내지 D4)에 제공한다.
이하, 상기 유기 전계 발광 소자 구동 과정을 도 3b를 참조하여 상술하겠다.
도 3b를 참조하면, 제 1 스캔 라인(S1)이 접지에 연결되며, 나머지 스캔 라인들(S2 내지 S4)은 상기 구동 전압과 동일한 크기의 전압(V1)을 가지는 비발광원에 연결된다. 또한, 데이터 전류(I1 내지 I4)가 데이터 라인들(D1 내지 D4)에 제공된다.
이 경우, 제 1 스캔 라인(S1)에 해당하는 픽셀들(E11 내지 E41)에는 순방향 전압이 인가되므로, 픽셀들(E11 내지 E41)은 발광한다. 여기서, 픽셀들(E11 내지 E41)의 휘도는 상기 데이터 전류의 계조에 따라 달라진다.
반면에, 나머지 스캔 라인들(S2 내지 S4)에 해당하는 픽셀들(E12 내지 E44)에는 역방향 전압이 인가되므로, 픽셀들(E12 내지 E44)은 발광하지 않는다.
이하, 픽셀(E13)이 도 3a에 도시된 바와 같이 특정 부분(120)을 원인으로 하여 단락되고, 픽셀(E11)이 14V에 상응하는 70% 계조로 발광하도록 설정되었다고 하자.
픽셀(E13)이 단락되지 않았으면, 제 1 스캔 라인(S1)에 해당하는 픽셀(E11) 은 70% 계조에 해당하는 휘도로 발광한다.
그러나, 픽셀(E13)이 단락된 경우, 픽셀(E11)의 애노드전압(VA11)은 제 3 스캔 라인(S3)에 해당하는 전압(V1, 20V)을 가지며, 캐소드전압(VC11)은 0V를 가진다. 따라서, 픽셀(E11)은 70% 휘도로 발광하지 못하고 20V(20V-0V)에 해당하는 휘도, 즉 100% 휘도로 발광한다.
이어서, 다른 스캔 라인들(S2 내지 S4)이 순차적으로 접지에 연결되며, 이 경우 위와 동일한 과정이 반복된다.
요컨대, 불량난 픽셀이 존재하는 경우, 상기 불량난 픽셀과 관련된 데이터 라인에 해당하는 픽셀들이 원하는 휘도로 발광하지 못하고 V1(V1-0V)에 해당하는 휘도로 발광한다. 이러한 현상을 라인 불량이라고 한다.
본 발명의 목적은 발광 소자에서 라인 불량의 원인이 되는 픽셀을 검출하는 방법을 제공하는 것이다.
상기한 바와 같은 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 바람직한 일 실시예에 따른 데이터 라인들과 스캔 라인들이 교차하는 발광 영역들에 형성된 복수의 픽셀들을 포함하는 발광 소자에서 라인 불량을 검출하는 방법은 적어도 하나의 데이터 라인을 플로팅(floating)시키는 단계; 및 상기 스캔 라인들을 하나씩 제 1 전압을 가지는 제 1 전압원에 연결하는 단계를 포함한다. 여기서, 상기 스캔 라인들 중 상기 제 1 전압원에 연결된 스캔 라인 외의 스캔 라인은 제 2 전압을 가지는 제 2 전 압원에 연결되며, 상기 제 2 전압은 상기 제 1 전압과 다른 크기를 가진다.
본 발명의 바람직한 다른 실시예에 따른 데이터 라인들과 스캔 라인들이 교차하는 발광 영역들에 형성된 복수의 픽셀들을 포함하는 유기 전계 발광 소자에서 라인 불량을 검출하는 방법은 (a) 상기 스캔 라인들 중 하나를 제 1 전압을 가지는 제 1 전압원에 연결하고, 나머지 스캔 라인들을 제 2 전압을 가지는 제 2 전압원에 연결하는 단계; (b) 상기 전압원들 중 상기 제 2 전압원에만 연결된 스캔 라인이 존재하는 지의 여부를 판단하는 단계; (c) 상기 제 2 전압원에만 연결된 스캔 라인이 존재하는 때, 상기 제 2 전압원에만 연결된 스캔 라인 중 하나를 상기 제 1 전압원에 연결하고, 상기 스캔 라인들 중 상기 제 1 전압원에 연결된 스캔 라인을 제외한 나머지 스캔 라인들을 상기 제 2 전압원에 연결하는 단계; 및 (d) 상기 (b) 단계 및 상기 (c) 단계를 반복시키는 단계를 포함한다. 여기서, 상기 제 2 전압은 상기 제 1 전압과 다른 크기를 가진다.
본 발명에 따른 발광 소자에 있어서 라인 불량 검출 방법은 데이터 라인들을 플로팅시킨 상태로 스캔 라인들을 하나씩 제 1 전압원에 연결하므로, 라인 불량난 데이터 라인을 검출할 수 있을 뿐만 아니라 불량난 픽셀을 검출할 수 있다.
이하에서는 첨부된 도면들을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 자세히 설명하도록 한다.
도 4 내지 도 5c는 본 발명의 바람직한 일 실시예에 따른 라인 불량 검출 과정을 도시한 도면들이다.
도 4를 참조하면, 상기 라인 불량 검출 대상인 발광 소자에 포함된 패널(400)은 데이터 라인들(D1 내지 D4)과 스캔 라인들(S1 내지 S4)이 교차하는 발광 영역들에 형성되는 복수의 픽셀들(E11 내지 E44)을 가진다. 여기서, 상기 발광 소자는 디스플레이 소자로서 유기 전계 발광 소자, 액정 표시 장치(Liquid Crystal Display, LCD) 또는 플라즈마 디스플레이 패널(Plasma Display Panel, PDP) 등이다.
이하, 설명의 편의를 위하여 상기 발광 소자로서 유기 전계 발광 소자를 예로 하여 본 발명의 라인 불량 검출 과정을 상술하겠다. 다만, 상기 라인 불량 검출 과정을 상술하기에 앞서 상기 발광 소자의 구조에 대하여 간략히 설명하겠다.
상기 발광 소자가 유기 전계 발광 소자인 경우, 적어도 하나의 픽셀은 도 5a에 도시된 바와 같이 순차적으로 형성된 애노드전극층(500), 유기물층(502) 및 캐소드전극층(504)을 포함한다. 여기서, 도 5c에 도시된 픽셀은 불량난 픽셀로서, 정상적인 픽셀은 불량 부분(506)을 포함하지 않는다.
애노드전극층(500)은 투명전극층으로서, 예를 들어 인듐주석산화물(Indium Tin Oxide)로 이루어진다.
유기물층(502)은 소정 색에 해당하는 유기물로 이루어지며, 정공 수송층(Hole Transporting Layer, HTL), 발광층(Emitting Layer, EML) 및 전자수송층(Electron Transporting Layer, ETL)을 포함한다.
캐소드전극층(504)은 금속, 예를 들어 알루미늄(Al)으로 이루어진다.
애노드전극층(500)에 양의 전압이 인가되고 캐소드전극층(504)에 음의 전압 이 인가되는 경우, HTL은 애노드전극층(500)으로부터 발생된 정공들을 EML로 수송하고, ETL은 캐소드전극층(504)으로부터 발생된 전자들을 EML로 수송한다. 상기 수송된 정공들 및 전자들은 EML에서 재결합하며, 이 과정에서 소정 파장을 가지는 빛이 EML로부터 발생된다.
요컨대, 스캔 라인들(S1 내지 S4)에 상기 스캔 신호들이 전송되고, 데이터 라인들(D1 내지 D4)에 데이터 전류가 제공되는 때, 픽셀들(E11 내지 E44)이 발광한다.
이하, 상기 발광 소자에서 라인 불량 검출 과정을 상술하겠다.
도 4에 도시된 바와 같이, 데이터 라인들(D1 내지 D4)은 상기 라인 불량 검출를 위하여 플로팅(floating)된다.
이어서, 스캔 라인들(S1 내지 S4) 중 하나, 예를 들어 S1이 제 1 전압을 가지는 제 1 전압원, 바람직하게는 접지(ground)에 연결되고, 나머지 스캔 라인들(S2 내지 S4)은 제 2 전압(V2)을 가지는 제 2 전압원에 연결된다. 여기서, 상기 제 2 전압은 상기 제 1 전압과 다른 크기를 가지며, 바람직하게는 상기 제 1 전압보다 큰 전압을 가진다.
계속하여, 나머지 스캔 라인들(S2 내지 S4) 중 하나, 예를 들어 S2가 상기 제 1 전압원에 연결되고, 나머지 스캔 라인들(S1, S3 및 S4)은 상기 제 2 전압원에 연결된다.
이어서, 상기 제 1 전압원에 연결되지 않은 스캔 라인들(S3 및 S4) 중 하나, 예를 들어 S3가 상기 제 1 전압원에 연결되고, 나머지 스캔 라인들(S1, S2 및 S4) 이 상기 제 2 전압원에 연결된다.
계속하여, 상기 제 1 전압원에 연결되지 않았던 S4가 상기 제 1 전압원에 연결되고, 나머지 스캔 라인들(S1 내지 S3)이 상기 제 2 전압원에 연결된다.
즉, 스캔 라인들(S1 내지 S4)은 하나씩 상기 제 1 전압원에 연결되며, 바람직하게는 순차적으로 상기 제 1 전압원에 연결된다. 이 경우, 상기 제 1 전압원에 연결된 스캔 라인 외의 스캔 라인들은 상기 제 2 전압원에 연결된다.
이하, 상기 라인 불량 검출 과정에 따라 픽셀들(E11 내지 E44)에 나타나는 현상들을 상술하겠다.
우선, 픽셀들(E11 내지 E44)이 도 4에 도시된 바와 같이 모두 정상적인 경우, 픽셀들(E11 내지 E44)에 나타나는 현상을 살펴보겠다.
이 경우, 데이터 라인들(D1 내지 D4)이 플로팅 상태이므로, 픽셀들(E11 내지 E44)은 발광하지 않는다. 다만, 실제적으로는 픽셀들(E11 내지 E44)을 통하여 누설 전류가 흐를 수는 있다.
다음으로, 일부 픽셀, 예를 들어 픽셀(E23)이 도 5a에 도시된 바와 같이 불량 부분(506)에 의해 단락된 경우, 픽셀들(E11 내지 E44)에 나타나는 현상을 살펴보겠다.
상기 제 1 전압원에 연결된 스캔 라인(S1)이 도 5b에 도시된 바와 같이 불량 픽셀(E23)에 해당하는 스캔 라인(S3)이 아닌 경우, 불량 픽셀(E23)은 전류 통로의 역할을 수행한다. 따라서, 소정의 전류가 도 5b에 도시된 바와 같이 상기 제 2 전압원으로부터 불량 픽셀(E23) 및 픽셀(E23)을 통하여 상기 제 1 전압원, 예를 들어 접지로 흐른다. 그 결과, 픽셀(E21)이 발광한다. 즉, 본 발명의 라인 불량 검출 방법은 상기 발광된 픽셀(E21)을 통하여 픽셀(E21)에 상응하는 데이터 라인(D2)에 해당하는 픽셀들(E21 내지 E24) 중 하나에 불량이 발생되었음을 검출할 수 있다. 즉, 상기 라인 불량 검출 방법은 발광된 픽셀(E21)을 통하여 픽셀(E21)에 해당하는 데이터 라인(D2)이 라인 불량난 데이터 라인임을 파악한다.
반면에, 상기 제 1 전압원에 연결된 스캔 라인(S3)이 불량 픽셀(E23)에 해당하는 스캔 라인인 경우, 불량 픽셀(E23)이 단락되었음에도 불구하고 불량 픽셀(E23)과 관련된 데이터 라인(D2)에 해당하는 픽셀들(E21, E22 및 E24)에 모두 역전압이 걸리므로, 픽셀들(E21, E22 및 E24)은 발광하지 않는다. 즉, 상기 라인 불량 검출 방법은 위 검출 과정을 통하여 불량 픽셀(E23)을 검출할 수 있다.
요컨대, 본 발명의 라인 불량 검출 방법은 스캔 라인들(S1 내지 S4)을 하나씩 상기 제 1 전압원에 연결한다. 이 경우, 발광하는 픽셀이 존재하는 경우, 상기 발광하는 픽셀에 상응하는 데이터 라인에 라인 불량이 발생되었음을 검출할 수 있다. 또한, 상기 라인 불량이 발생된 데이터 라인에 해당하는 픽셀들 중 일 픽셀이 불량난 픽셀임을 파악할 수 있다.
게다가, 스캔 라인들(S1 내지 S4)을 하나씩 상기 제 1 전압원에 연결하는 과정 중에서 상기 라인 불량이 발생된 데이터 라인에 해당하는 픽셀들이 전부 발광하지 않는 경우, 상기 라인 불량 검출 방법은 상기 제 1 전압원에 연결된 스캔 라인과 상기 라인 불량이 발생된 데이터 라인이 교차하는 영역에 형성되는 픽셀이 불량난 픽셀임을 검출할 수 있다.
도 6은 라인 불량난 픽셀을 리페어(repair)하는 과정을 도시한 도면이다.
도 6에 도시된 바와 같이, 데이터 라인들(D1 내지 D4)을 플로팅(floating)시킨 상태로, 스캔 라인들(S1 내지 S4)에 교류 전압을 인가한다. 다만, 이러한 과정은 산소 분위기에서 실행된다.
예를 들어, 스캔 라인들(S1 내지 S4) 중 홀수번째 스캔 라인들(S1 및 S3)에 소정의 양의 전압을 인가하고, 짝수번째 스캔 라인들(S2 및 S4)에 상기 양의 전압과 동일한 크기의 음의 전압을 인가한다. 따라서, 홀수번째 스캔 라인들(S1 및 S3)에 해당하는 픽셀들(E11, E21, E31, E41, E13, E23, E33 및 E43)에 역전압이 인가되며, 그래서 픽셀들(E11, E21, E31, E41, E13, E23, E33 및 E43) 중 라인 불량을 가지는 픽셀이 존재하는 경우, 상기 라인 불량의 원인이 된 불량 부분이 산화된다. 즉, 이러한 과정을 통하여 상기 불량 부분이 제거되고, 따라서 상기 패널이 리페어된다.
이어서, 홀수번째 스캔 라인들(S1 및 S3)에 소정의 음의 전압이 인가되고, 짝수번째 스캔 라인들(S2 및 S4)에 상기 음의 전압과 동일한 크기의 양의 전압이 인가된다. 따라서, 짝수번째 스캔 라인들(S2 및 S4)에 해당하는 픽셀들(E12, E22, E32, E42, E14, E24, E34 및 E44)에 역전압이 인가된다. 그러므로, 픽셀들(E12, E22, E32, E42, E14, E24, E34 및 E44) 중 라인 불량을 가지는 픽셀들이 존재하는 경우, 상기 라인 불량의 원인이 된 불량 부분이 산화된다.
계속하여, 위의 과정을 반복시켜, 불량난 픽셀을 리페어시킨다.
그러나, 이러한 과정을 통하여도 불량난 픽셀이 리페어되지 않는 경우가 발 생할 수 있다. 이 경우, 본 발명의 라인 불량 검출 방법이 불량난 픽셀을 명확하게 검출해내므로, 검출자는 상기 불량난 픽셀이 리페어되었는 지의 여부를 확인하여 리페어되지 않은 경우 별도의 리페어 과정을 통하여 상기 불량난 픽셀을 리페어할 수 있다.
위에서는, 픽셀들(E11 내지 E44) 전체를 리페어하는 과정을 상술하였으나, 불량난 픽셀을 개별적으로 리페어할 수도 있다.
요컨대, 본 발명의 라인 불량 검출 방법을 통하여 불량난 픽셀을 명확하게 검출할 수 있으므로, 검출자는 상기 불량난 픽셀을 빠짐없이 리페어할 수 있다.
상기한 본 발명의 바람직한 실시예는 예시의 목적을 위해 개시된 것이고, 본 발명에 대한 통상의 지식을 가지는 당업자라면 본 발명의 사상과 범위 안에서 다양한 수정, 변경, 부가가 가능할 것이며, 이러한 수정, 변경 및 부가는 하기의 특허청구범위에 속하는 것으로 보아야 할 것이다.
이상에서 설명한 바와 같이, 본 발명에 따른 발광 소자에 있어서 라인 불량 검출 방법은 데이터 라인들을 플로팅시킨 상태로 스캔 라인들을 하나씩 제 1 전압원에 연결하므로, 라인 불량난 데이터 라인을 검출할 수 있을 뿐만 아니라 불량난 픽셀을 검출할 수 있는 장점이 있다. 따라서, 상기 불량난 픽셀을 빠짐없이 리페어할 수 있다.

Claims (9)

  1. 데이터 라인들과 스캔 라인들이 교차하는 발광 영역들에 형성된 복수의 픽셀들을 포함하는 발광 소자에서 라인 불량을 검출하는 방법에 있어서,
    적어도 하나의 데이터 라인을 플로팅(floating)시키는 단계; 및
    상기 스캔 라인들을 하나씩 제 1 전압을 가지는 제 1 전압원에 연결하는 단계를 포함하되,
    상기 스캔 라인들 중 상기 제 1 전압원에 연결된 스캔 라인 외의 스캔 라인은 제 2 전압을 가지는 제 2 전압원에 연결되며, 상기 제 2 전압은 상기 제 1 전압과 다른 크기를 가지는 것을 특징으로 하는 발광 소자에서 라인 불량 검출 방법.
  2. 제 1 항에 있어서, 상기 제 2 전압이 상기 제 1 전압보다 큰 것을 특징으로 하는 발광 소자에서 라인 불량 검출 방법.
  3. 제 1 항에 있어서, 상기 제 1 전압원은 접지(ground)인 것을 특징으로 하는 발광 소자에서 라인 불량 검출 방법.
  4. 제 1 항에 있어서, 상기 제 2 전압원에 연결된 스캔 라인들에 해당하는 픽셀들 중 소정 픽셀이 불량난 픽셀인 경우, 상기 픽셀과 관련된 데이터 라인에 해당하는 픽셀들 중 상기 제 1 전압원에 연결된 스캔 라인과 상기 데이터 라인이 교차하 는 발광 영역에 형성된 픽셀이 발광하는 것을 특징으로 하는 발광 소자에서 라인 불량 검출 방법.
  5. 제 1 항에 있어서, 상기 스캔 라인들은 상기 제 1 전압원에 순차적으로 연결되는 것을 특징으로 하는 발광 소자에서 라인 불량 검출 방법.
  6. 데이터 라인들과 스캔 라인들이 교차하는 발광 영역들에 형성된 복수의 픽셀들을 포함하는 유기 전계 발광 소자에서 라인 불량을 검출하는 방법에 있어서,
    (a) 상기 스캔 라인들 중 하나를 제 1 전압을 가지는 제 1 전압원에 연결하고, 나머지 스캔 라인들을 제 2 전압을 가지는 제 2 전압원에 연결하는 단계;
    (b) 상기 전압원들 중 상기 제 2 전압원에만 연결된 스캔 라인이 존재하는 지의 여부를 판단하는 단계;
    (c) 상기 제 2 전압원에만 연결된 스캔 라인이 존재하는 때, 상기 제 2 전압원에만 연결된 스캔 라인 중 하나를 상기 제 1 전압원에 연결하고, 상기 스캔 라인들 중 상기 제 1 전압원에 연결된 스캔 라인을 제외한 나머지 스캔 라인들을 상기 제 2 전압원에 연결하는 단계; 및
    (d) 상기 (b) 단계 및 상기 (c) 단계를 반복시키는 단계를 포함하되,
    상기 제 2 전압은 상기 제 1 전압과 다른 크기를 가지는 것을 특징으로 하는 유기 전계 발광 소자에서 라인 불량을 검출하는 방법.
  7. 제 6 항에 있어서, 적어도 하나의 데이터 라인은 플로팅(floating)되어 있는 것을 특징으로 하는 유기 전계 발광 소자에서 라인 불량 검출 방법.
  8. 제 6 항에 있어서, 상기 제 1 전압원은 접지(ground)인 것을 특징으로 하는 유기 전계 발광 소자에서 라인 불량 검출 방법.
  9. 제 6 항에 있어서, 상기 제 2 전압원에 연결된 스캔 라인들에 해당하는 픽셀들 중 소정 픽셀이 불량난 픽셀인 경우, 상기 픽셀과 관련된 데이터 라인에 해당하는 픽셀들 중 상기 제 1 전압원에 연결된 스캔 라인과 상기 데이터 라인이 교차하는 발광 영역에 형성된 픽셀이 발광하는 것을 특징으로 하는 발광 소자에서 라인 불량 검출 방법.
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