WO2014040315A1 - 一种tft-lcd阵列基板及其测试方法 - Google Patents

一种tft-lcd阵列基板及其测试方法 Download PDF

Info

Publication number
WO2014040315A1
WO2014040315A1 PCT/CN2012/082030 CN2012082030W WO2014040315A1 WO 2014040315 A1 WO2014040315 A1 WO 2014040315A1 CN 2012082030 W CN2012082030 W CN 2012082030W WO 2014040315 A1 WO2014040315 A1 WO 2014040315A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
test
line
connection layer
display area
connection
Prior art date
Application number
PCT/CN2012/082030
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
文松贤
蔡荣茂
廖学士
庄益壮
邓明锋
Original Assignee
深圳市华星光电技术有限公司
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 深圳市华星光电技术有限公司 filed Critical 深圳市华星光电技术有限公司
Priority to US13/697,360 priority Critical patent/US9000797B2/en
Publication of WO2014040315A1 publication Critical patent/WO2014040315A1/zh

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/1306—Details
    • G02F1/1309—Repairing; Testing
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/1333—Constructional arrangements; Manufacturing methods
    • G02F1/1345—Conductors connecting electrodes to cell terminals
    • G02F1/13452—Conductors connecting driver circuitry and terminals of panels
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2300/00—Aspects of the constitution of display devices
    • G09G2300/04—Structural and physical details of display devices
    • G09G2300/0421—Structural details of the set of electrodes
    • G09G2300/0426—Layout of electrodes and connections
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/20—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters
    • G09G3/34—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters by control of light from an independent source
    • G09G3/36—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters by control of light from an independent source using liquid crystals
    • G09G3/3611—Control of matrices with row and column drivers
    • G09G3/3648—Control of matrices with row and column drivers using an active matrix

Definitions

  • the present invention relates to a testing technique for a liquid crystal panel, and more particularly to a thin film transistor liquid crystal display (TFT-LCD) array substrate and a testing method thereof.
  • TFT-LCD thin film transistor liquid crystal display
  • TFT-LCD is the only display device that fully catches up with and exceeds the cathode ray tube (CRT) display in terms of brightness, contrast, power consumption, lifetime, volume and weight. It has excellent performance and large scale. The advantages of good production characteristics and high degree of automation have quickly become the mainstream products.
  • the liquid crystal panel in the TFT-LCD is composed of a thin film transistor array substrate (array substrate), a color filter array substrate (CF substrate), and a liquid crystal sandwiched between the two substrates.
  • array substrate and the CF substrate are formed by chemical or physical methods, and then exposed, developed, and etched to obtain an array substrate required for design.
  • a test procedure must be performed to check whether the TFT structures in the LCD panel are normal.
  • a schematic diagram of a typical TFT-LCD array substrate is shown; wherein the liquid crystal panel includes a display area 1 and a peripheral area 2 located at the periphery of the display area.
  • a plurality of mutually perpendicular data lines 10 and gate lines 12 are disposed in the display area 1, and a TFT unit 14 is connected at the intersection of each of the data lines 10 and the gate lines 12, and each of the TFT units 14 includes a TFT, a liquid crystal capacitor, and a memory. capacitance.
  • the source of the TFT in each of the TFT cells 14 is connected to the data line 10, and the gate thereof is connected to the gate line 12.
  • a first test short stick which is provided with a plurality of Strip data test lines 30 (corresponding to tests of red, green, blue and blue R/G/B, respectively) are respectively connected to data lines 10 in display area 1 for transmitting data test signals to these data lines 10; a bar, on which a gate line test line 40 and a common electrode line 41 are disposed, wherein the gate line test line 40 is connected to each gate line 12 in the display area 1 for transmitting a gate line test signal to the gate lines;
  • the line 41 is for supplying a common electrode to each of the TFT units 14 in the display area 1.
  • the data test signal and the gate line test signal can both be square wave signals, and through the above signals, each TFT unit can be illuminated to perform defect inspection.
  • the technical problem to be solved by the present invention is to provide a TFT-LCD array substrate and a test method thereof, which can perform a secondary test on the TFT-LCD array substrate to overcome the prior art TFT-LCD array substrate after shipment. The inadequacies of being unable to test again.
  • an embodiment of the present invention provides a TFT-LCD array substrate including a display area and a peripheral area located at a periphery of the display area, and the display area is provided with a gate line and a data line.
  • the peripheral area is provided with:
  • a first test short bar which is provided with a plurality of test lines for respectively transmitting data test signals to each data line in the display area;
  • a second test short bar on which a gate line test line is disposed for transmitting a gate line test signal to each gate line in the display area
  • a connecting device including a first connecting layer and a second connecting layer.
  • the connecting device comprises: a first connection layer, one end of which is connected to the data test line or the gate line test line, and the other end is connected to a corresponding data line or gate line;
  • connection layer disposed under the first connection layer and at least partially overlapping the first connection layer
  • An insulating layer disposed between the first connecting layer and the second connecting layer;
  • a protective layer disposed on the first connection layer.
  • first connecting layer overlapping the second connecting layer is disposed with a laser-breakable first region
  • a second region connectable to the second connecting layer via laser welding is disposed on each side of the first region of the first connecting layer.
  • One end of the first connecting layer is connected to the gate line test line through the indium tin oxide film ITO, and the other end is connected to the corresponding gate line.
  • a TFT-LCD array substrate including a display area and a peripheral area located at a periphery of the display area, wherein the display area is provided with a gate line and a data line, and the peripheral area is
  • the settings are:
  • test lines for respectively transmitting data test signals to each data line in the display area;
  • gate line test line for transmitting a gate line test signal to each gate line in the display area;
  • connection layer Providing a first connection layer and a second connection at a connection of the at least one data test line to a data line of the display area, or/and at a connection between the gate line test line and the at least one gate line of the display area Layer connection device.
  • the connecting device comprises:
  • a first connection layer one end of which is connected to the data test line or the gate line test line, and the other end is connected to a corresponding data line or gate line;
  • connection layer disposed under the first connection layer and at least partially overlapping the first connection layer
  • An insulating layer disposed between the first connecting layer and the second connecting layer;
  • a protective layer disposed on the first connection layer.
  • first connecting layer overlapping the second connecting layer is disposed with a first region that can be interrupted by a laser;
  • a second region connectable to the second connecting layer via laser welding is disposed on each side of the first region of the first connecting layer.
  • One end of the first connecting layer is connected to the gate line test line through the indium tin oxide film ITO, and the other end is connected to the corresponding gate line.
  • a further aspect of the present invention provides a method for testing a TFT-LCD array substrate, including:
  • the first test stub and the second test stub send a test signal to each of the data lines and the gate lines in the display area through the first connection layer for the first test;
  • the first test stub and the second test stub send test signals to the data lines and gate lines of the display area respectively connected thereto through the re-established electrical connection for the second test.
  • the step of disconnecting the electrical connection between the first test stub and the second test stub and the data lines and the gate lines of the display area is specifically as follows:
  • the first test stub and the second test stub are disconnected from each of the data lines and the gate lines of the display area by laser interruption of the first area on each of the first connection layers.
  • the step of reestablishing the electrical connection between the first test stub and the second test stub and the data lines and the gate lines of the display area is specifically as follows:
  • test stub Separating the second regions on both sides of the first region of each of the first connection layers with the second connection layer disposed under the first connection layer by laser welding, so that the first test stub and the second The test stub is electrically connected to each of the data lines and the gate lines of the display area.
  • the second connection layer is further broken by the laser at the first region on each of the first connection layers, so that the first test stub and the second test stub are Each of the data lines and the gate lines of the display area are electrically disconnected.
  • a TFT-LCD array substrate and a test method thereof provided by embodiments of the present invention have the following beneficial effects:
  • connection means By connecting the test line to the data line or the gate line of the display area, the connection means includes at least the first test layer and the spare test layer which are insulated from each other, so that two tests of the display area can be realized.
  • a second test can be performed on a defective TFT-LCD array substrate on a subsequent process, thereby quickly determining the problem of occurrence of a defect.
  • FIG. 1 is a schematic structural view showing a typical TFT-LCD array substrate
  • FIG. 2 is a schematic structural view of an embodiment of a TFT-LCD array substrate of the present invention
  • FIG. 3 is a schematic diagram of a data test line of FIG. 2 connected to a data line;
  • FIG. 4 is a schematic view showing a gate line test line and a gate line in FIG. 2;
  • Figure 5 is a schematic cross-sectional view taken along line A-A of Figure 3;
  • Figure 6 is a cross-sectional view taken along line B-B of Figure 4.
  • Figure 7 is a schematic view showing the state in which the first connection layer is broken in Figure 5;
  • Figure 8 is a schematic view showing the state in which the first connection layer is broken in Figure 6;
  • FIG. 9 is a schematic view showing a state in which the first connection layer and the second connection layer are opened in FIG. 7.
  • FIG. 10 is a schematic view showing a state in which the first connection layer and the second connection layer are opened in FIG. 8;
  • Fig. 12 is a view showing a state in which the second connection layer in Fig. 10 is broken.
  • the TFT-LCD array substrate includes: a display area 1 and a peripheral area 2 located at a periphery of the display area 1.
  • a plurality of mutually perpendicular data lines 10 and gate lines 12 are disposed in the display area 1.
  • Each of the data lines 10 and the gate lines 12 is connected to a TFT unit 14 at each intersection.
  • Each TFT unit includes a TFT, a liquid crystal capacitor and a storage capacitor. .
  • the source of the TFT in each of the TFT cells 14 is connected to the data line 10, and the gate thereof is connected to the gate line 12.
  • the first test short bar 3 is provided with a plurality of data test lines 30 (corresponding to the test of the red, green and blue R/G/B signal ends respectively) for respectively transmitting data test signals in each data line 10 in the display area 1; a second test stub 4 on which a gate line test line 40 and a common electrode line 41 are disposed, wherein the gate line test line 40 is for transmitting a gate line test signal to each gate line 12 in the display area 1; the common electrode line 41 It is used to supply a common electrode to each of the TFT units 14 in the display area 1.
  • connection portion 5 is provided with a connection device 5 comprising a first connection layer and a second connection layer, by means of which the display area 1 can be subjected to a secondary test.
  • FIG. 3 is a connection diagram of a data test line 30 and a data line 10 in FIG. 2
  • FIG. 4 is a schematic diagram of the connection between the gate line test line 40 and a gate line 12 in FIG.
  • a connection device 5 is provided at the junction of the data test line 30 and the data line 10
  • a connection device 5 is disposed between the gate line test line 40 and the gate line 12.
  • a connection device 5 may be disposed at a connection between each of the data test lines 30 and the corresponding data line 10, and the same may be disposed between each of the gate line test lines 40 and the corresponding gate line 12.
  • Connecting device 5 may be disposed at a connection between each of the data test lines 30 and the corresponding data line 10.
  • the connecting device 5 comprises:
  • the first connection layer 50 has one end connected to the data test line 30 and the other end connected to the corresponding data line.
  • a second connecting layer 51 disposed under the first connecting layer 50, at least a portion overlapping the first connecting layer 50;
  • An insulating layer 52 disposed between the first connection layer 50 and the second connection layer 51;
  • the protective layer 53 is disposed on the first connection layer 50.
  • the first connection layer 50 is used for the first test of the display area.
  • the first connection layer 50 is a conductor layer, and the data connection between the data test line 30 and the corresponding data line 12 is made through the first connection layer 50.
  • the second connection layer 51 is also a conductor layer, except that the insulating layer 52 is disposed between the first connection layer 50 and the first connection layer 50, so In the second test, it is insulated from the data test line 30 and the data line 12 connected to the first connection layer 50; when a second test is required, it needs to be combined with data by means such as laser welding.
  • a conduction state is formed between the test line 30 and the data line 12.
  • FIG. 7 is a schematic view showing a state in which the first connection layer is broken in FIG. 5; and FIG. 9 is a schematic view showing a state in which the first connection layer and the second connection layer are opened in FIG. .
  • a portion of the first connecting layer 50 that is overlapped with the second connecting layer 51 is provided with a laser-breakable first region 500;
  • a second region 501 is provided that is laser welded to the second connection layer.
  • the protective layer 53 and the first connection layer 50 can be accurately interrupted by controlling the energy of the laser, thereby cutting off the connection between the data test line 30 and the corresponding data line 12. .
  • the first connection layer 50 and the second connection layer 51 can be soldered to each other, thereby forming the data test line 30 and the first connection layer.
  • a portion, a second connection layer 51, another portion of the first connection layer 50, and a data line 12 form a conductive connection.
  • FIG. 11 it is a schematic diagram of the state in which the second connection layer is broken in Fig. 9. It can be seen that by controlling the energy of the laser, the insulating layer 52 and the second connecting layer 1 can be further broken at the first region 500, thereby cutting off the connection between the data test line 30 and the corresponding data line 12. It can be understood that in other embodiments, the protective layer 53, the first connecting layer 50, the insulating layer 52 and the second connecting layer 51 can be simultaneously interrupted by laser at other locations.
  • FIG. 6 it is a schematic view of the B-B section in Figure 4. As can be seen from the figure, it is basically similar to the structure shown in FIG.
  • the connecting device 5 comprises:
  • first connection layer 50 one end of which is connected to the gate line test line 40 through an Indium Tim Oxides (ITO) 54 and the other end is connected to the corresponding gate line 10;
  • the second connecting layer 51 is disposed under the first connecting layer 50, and at least a portion overlaps with the first connecting layer 50;
  • An insulating layer 52 disposed between the first connection layer 50 and the second connection layer 51;
  • the protective layer 53 is disposed on the first connection layer 50.
  • FIG. 8 is a schematic view showing a state in which the first connection layer is broken in FIG. 6.
  • FIG. 10 is a view showing the first connection layer and the second connection layer in FIG.
  • FIG. 12 is a schematic view showing a state in which the second connection layer is broken in FIG.
  • the structures and principles shown in the three figures are similar to those of Figs. 7, 9, and 11, respectively, and will not be described in detail herein.
  • the present invention provides a test method for a TFT-LCD array substrate for testing the TFT-LCD array substrate described in the foregoing FIGS. 1 to 6, the method comprising:
  • Step 1 The first test short bar and the second test short bar send a test signal to each of the data lines and the gate lines in the display area through the first connection layer, and perform the first test;
  • Step 2 After the first test is completed, the electrical connection between the first test stub and the second test stub and the data lines and gate lines of the display area is disconnected. Specifically, the first test short bar and the second test short bar are disconnected from each of the data lines and the gate lines of the display area by laser breaking the first area on each of the first connection layers.
  • Step 3 The second test layer is used to re-establish the electrical connection between the first test stub and the second test stub and each of the data lines and the gate lines of the display area.
  • the second area on both sides of the first area of each first connection layer is respectively connected to the second connection layer disposed under the first connection layer by laser welding, so that the first test short rod and the second The test stub is electrically connected to each of the data lines and the gate lines of the display area, as shown in FIG. 9 and FIG. 10;
  • Step 4 The first test short bar and the second test short bar send a test signal to the data line and the gate line of the display area respectively connected thereto through the electrical connection re-established in the third step, and perform the second test;
  • Step 5 After the second test is completed, the second connection layer is further broken by the laser at the first region on each of the first connection layers, so that the data of the first test stub and the second test stub and the display area are The electrical connection is broken between the line and the grid line. Referring to FIG. 11 and FIG. 12, in the two figures, the second connection layer is further broken at the first area; in other embodiments, the protection layer may be simultaneously interrupted at other positions.
  • the first connecting layer, the insulating layer and the second connecting layer can also achieve the effect of disconnecting the first test stub and the second test stub from the display area.
  • the peripheral area can also be separated (eg, clipped) from the display area at location 6.
  • Embodiments of the present invention are provided with a connecting device at a connection between a test line and a data line or a gate line of a display area, the connecting device comprising at least a first test layer and an alternate test layer insulated from each other, thereby realizing two of the display areas Subtest.
  • a defective TFT-LCD array substrate can be subjected to a second test in a subsequent process, thereby quickly determining the problem of occurrence of defects, preventing the defective TFT-LCD array substrate from flowing into the customer.

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)

Abstract

提供一种TFT-LCD阵列基板及其测试方法，阵列基板包括显示区和位于显示区外围的外围区域，显示区内设置有栅线和数据线，外围区域内设置有：第一测试短棒，其上设置有多条测试线，用于分别向显示区中各数据线发送数据测试信号；第二测试短棒，其上设置有栅线测试线，用于向显示区中各栅线发送栅线测试信号；在至少一条第一测试短棒的数据测试线与显示区的一条数据线连接处，或在第二测试短棒的栅线测试线与显示区的至少一条栅线连接处设置有包含有第一连接层（50）和第二连接层（51）的连接装置（5）。测试方法可以实现对TFT-LCD阵列基板进行两次测试。

Description

一种 TFT-LCD阵列基板及其测试方法
本申请要求于 2012 年 9 月 12 日提交中国专利局、 申请号为 201210335918.2、发明名称为 "一种 TFT-LCD阵列基板及其测试方法"的中 国专利申请的优先权， 上述专利的全部内容通过引用结合在本申请中。 技术领域
本发明涉及液晶面板的测试技术， 尤其涉及一种薄膜晶体管液晶显示器 ( Thin Film Transistor liquid crystal display, TFT-LCD ) 阵列基板及其测试方 法。 背景技术
TFT-LCD是目前唯一在亮度、 对比度、 功耗、 寿命、 体积和重量等综合 性能上全面赶上和超过阴极射线管 （Cathode Ray Tube, CRT )显示器的显示 器件， 它具有性能优良、 大规模生产特性好以及自动化程度高等优点， 迅速 成为目前的主流产品。 TFT-LCD 中的液晶面板由薄膜晶体管阵列基板（ array 基板）、 彩色滤光阵列基板（CF基板）和夹在该两基板间的液晶共同构成。 其中， Array基板与 CF基板是经由化学或物理的方法成膜， 然后曝光， 显 影， 蚀刻得到设计所需的阵列基板。 在 TFT-LCD 液晶面板出货前， 为保证 产品质量，必须经由一道检测程序，主要为检查液晶面板中各 TFT结构是否 正常。
现有的液晶面板测试的技术中， 主要采用测试短棒（Short bar ) 面板布 线方式来测试。 如图 1所示， 示出了一种典型的 TFT-LCD阵列基板的结构 示意图； 其中， 该液晶面板包括显示区 1和位于显示区外围的外围区域 2。
在显示区 1内设置有多条相互垂直的数据线 10和栅线 12, 每条数据线 10和栅线 12交叉处连接一个 TFT单元 14, 每个 TFT单元 14包括有 TFT、 液晶电容和存储电容。 每个 TFT单元 14中的 TFT的源极连接该数据线 10, 其栅极连接该栅线 12。 在外围区域内设置有： 第一测试短棒， 其上设置有多 条数据测试线 30 (分别对应于红绿绿蓝 R/G/B的测试）， 分别和显示区 1中 各数据线 10分别连接， 用于向这些数据线 10发送数据测试信号； 第二测试 短棒， 其上设置有栅线测试线 40和公共电极线 41 , 其中， 栅线测试线 40 和显示区 1 中各栅线 12相连接， 用于向这些栅线发送栅线测试信号； 公共 电极线 41用于向显示区 1中各 TFT单元 14提供公共电极。其中，数据测试 信号和栅线测试信号均可以是方波信号， 通过上述信号， 即可以点亮各 TFT 单元来进行缺陷检查。
当上述检测完成后， 即可以从位置 6切开， 巴外围区域 2和显示区 1进 行分离， 然后将该去除了外围区域 2的液晶面板出货到下一工序（例如进行 后续制程）。
发明人发现， 在现在的技术中， 在下一工序中如果发现产品存在问题， 由于液晶面板的测试棒已被分离， 故不能再单独针对液晶面板进行测试， 从 而不易甄别不良产品的其出现的问题是在液晶面板上还是在后续的制程上。 发明内容
本发明所要解决的技术问题在于， 提供一种 TFT-LCD阵列基板以及其 测试方法， 可以对 TFT-LCD阵列基板进行二次测试， 以克服现有技术中对 出货后的 TFT-LCD阵列基板不能够进行再次测试的不足之处。
为了解决上述技术问题，一方面，本发明的实施例提供了一种 TFT-LCD 阵列基板， 包括显示区和位于所述显示区外围的外围区域， 所述显示区内设 置有栅线和数据线， 所述外围区域内设置有：
第一测试短棒， 其上设置有多条测试线， 用于分别向显示区中各数据线 发送数据测试信号；
第二测试短棒， 其上设置有栅线测试线， 用于向显示区中各栅线发送栅 线测试信号；
在所述至少一条第一测试短棒的数据测试线与显示区的一条数据线连 接处，或 /和在第二测试短棒的栅线测试线与显示区的至少一条栅线连接处设 置有包含有第一连接层和第二连接层的连接装置。
其中， 所述连接装置包括： 第一连接层， 其一端连接所述数据测试线或栅线测试线， 另一端连接对 应的数据线或栅线；
第二连接层， 设置在所述第一连接层下面， 至少部分与所述第一连接层 位置重叠；
绝缘层， 设置在所述第一连接层与所述第二连接层之间；
保护层， 设置在所述第一连接层上面。
其中，在所述第一连接层与所述第二连接层重叠的部份上至少设置有一 个可经激光打断的第一区域；
在所述第一连接层的所述第一区域两侧分别设置有一个可经激光焊接 与所述第二连接层连通的第二区域。
述第一连连接层一端通过铟锡氧化物薄膜 ITO连接栅线测试线，另一端 连接对应的栅线。
相应地， 本发明的另一方面提供一种 TFT-LCD阵列基板， 包括显示区 和位于所述显示区外围的外围区域， 所述显示区内设置有栅线和数据线， 所 述外围区域内设置有：
多条测试线， 用于分别向显示区中各数据线发送数据测试信号； 栅线测试线， 用于向显示区中各栅线发送栅线测试信号；
在所述至少一条数据测试线与显示区的一条数据线连接处，或 /和在所述 栅线测试线与显示区的至少一条栅线连接处设置有包含有第一连接层和第 二连接层的连接装置。
其中， 所述连接装置包括：
第一连接层， 其一端连接所述数据测试线或栅线测试线， 另一端连接对 应的数据线或栅线；
第二连接层， 设置在所述第一连接层下面， 至少部分与所述第一连接层 位置重叠；
绝缘层， 设置在所述第一连接层与所述第二连接层之间；
保护层， 设置在所述第一连接层上面。
其中，在所述第一连接层与所述第二连接层重叠的部份上至少设置有一 个可经激光打断的第一区域； 在所述第一连接层的所述第一区域两侧分别设置有一个可经激光焊接 与所述第二连接层连通的第二区域。
述第一连连接层一端通过铟锡氧化物薄膜 ITO连接栅线测试线，另一端 连接对应的栅线。
相应地， 本发明的再一方面提供一种 TFT-LCD阵列基板的测试方法， 包括：
所述第一测试短棒和第二测试短棒通过第一连接层向显示区中的各数 据线和栅线发送测试信号， 进行首次测试；
在首次测试完成后， 断开所述第一测试短棒和第二测试短棒与所述显示 区的各数据线和栅线之间的电连接；
通过第二连接层， 重新建立所述第一测试短棒和第二测试短棒与所述显 示区的各数据线和栅线之间电连接；
所述第一测试短棒与第二测试短棒通过所述重新建立的电连接向分别 与其连接的显示区的数据线和栅线发送测试信号， 进行第二次测试。
其中， 所述断开所述第一测试短棒和第二测试短棒与所述显示区的各数 据线和栅线之间的电连接的步骤具体为：
通过激光打断每个第一连接层上的第一区域，使所述第一测试短棒和第 二测试短棒与所述显示区的各数据线和栅线断开电连接。
其中，所述重新建立所述第一测试短棒和第二测试短棒与所述显示区的 各数据线和栅线之间电连接的步骤具体为：
通过激光焊接将每一第一连接层的第一区域两侧的第二区域分别与设 置在所述第一连接层之下的第二连接层连通，使所述第一测试短棒和第二测 试短棒与所述显示区的各数据线和栅线之间实现电连接。
其中， 进一步包括：
在第二次测试完成后，通过激光在每个第一连接层上的第一区域处进一 步打断所述第二连接层，使所述第一测试短棒和第二测试短棒与所述显示区 的各数据线和栅线断开电连接。
其中， 所述每一相应的第一连接层和第二连接层之间设置有绝缘层， 且 所述第二连接层至少与所述第一连接层的第一区域及第二区域处重叠。 实施本发明实施例所提供的一种 TFT-LCD阵列基板以及其测试方法， 具有如下有益效果：
通过在测试线与显示区的数据线或栅线连接处设置有连接装置， 该连接 装置至少包括相互绝缘的首次测试层和备用测试层，从而可以实现对显示区 的两次测试。 利用本发明， 可在后续制程上对出现不良的 TFT-LCD阵列基 板进行第二次测试， 从而快速筒单地确定出现不良的问题所在。 附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案， 下面将对实 施例或现有技术描述中所需要使用的附图作筒单地介绍， 显而易见地， 下面 描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例， 对于本领域普通技术人员来讲， 在不付出创造性劳动的前提下， 还可以根据这些附图获得其他的附图。
图 1是示出了一种典型的 TFT-LCD阵列基板的结构示意图；
图 2是本发明的 TFT-LCD阵列基板的一个实施例的结构示意图； 图 3是图 2中一条数据测试线与一条数据线连接的示意图；
图 4是图 2中一条栅线测试线与一条栅线连接的示意图；
图 5是图 3中 A-A剖面示意图；
图 6是图 4中 B-B剖面示意图；
图 7是图 5中第一连接层被打断的状态示意图；
图 8是图 6中第一连接层被打断的状态示意图；
图 9是图 7中将第一连接层与第二连接层打通的状态示意图； 图 10是图 8中将第一连接层与第二连接层打通的状态示意图； 图 11是图 9中第二连接层被打断的状态示意图；
图 12是图 10中第二连接层被打断的状态示意图。
具体实施方式
下面参考附图对本发明的优选实施例进行描述。
如图 2所示， 是本发明的 TFT-LCD阵列基板的一个实施例的结构示意 图。 其中， 该 TFT-LCD阵列基板包括： 显示区 1和位于显示区 1外围的外 围区域 2。 在显示区 1内设置有多条相互垂直的数据线 10和栅线 12, 每条数据线 10和栅线 12交叉处连接一个 TFT单元 14, 每个 TFT单元包括有 TFT、 液 晶电容和存储电容。 每个 TFT单元 14中的 TFT的源极连接该数据线 10, 其栅极连接该栅线 12。
在外围区域 2内设置有：
第一测试短棒 3 , 其上设置有多条数据测试线 30 (分别对应于红绿蓝 R/G/B信号端的测试）,分别用于显示区 1中各数据线 10发送数据测试信号； 第二测试短棒 4, 其上设置有栅线测试线 40和公共电极线 41 , 其中， 栅线测试线 40用于向显示区 1中各栅线 12发送栅线测试信号；公共电极线 41用于向显示区 1中各 TFT单元 14提供公共电极。
其中， 在至少一条第一测试短棒 3的数据测试线 30与显示区 1的一条 数据线 10连接处，或在至第二测试短棒 4的栅线测试线 40与显示区 2的栅 线 12连接处设置有包含第一连接层和第二连接层的连接装置 5 ,通过该连接 装置 5可以对显示区 1进行二次测试。
再请结合图 3与图 4,其中图 3是图 2中一条数据测试线 30与一条数据 线 10的连接示意图， 图 4是图 2中栅线测试线 40与一条栅线 12的连接示 意图。 从中可以看出， 在数据测试线 30与数据线 10连接处设置有一个连接 装置 5 , 在栅线测试线 40与栅线 12之间设置有一个连接装置 5。 在具体的 实施中， 可以在每一数据测试线 30与对应数据线 10连接处均设置有连接装 置 5 , 同样可以在每一栅线测试线 40与对应的栅线 12之间均设置有该连接 装置 5。
如图 5所示， 是图 3中 A-A剖面示意图。 从中可以看出， 该连接装置 5 包括：
第一连接层 50, 其一端连接数据测试线 30, 另一端连接对应的数据线
12;
第二连接层 51 , 设置在第一连接层 50的下面， 至少有一部分与该第一 连接层 50位置重叠；
绝缘层 52, 设置在第一连接层 50与第二连接层 51之间； 以及
保护层 53 , 设置在第一连接层 50上面。 其中， 第一连接层 50用于对显示区进行首次测试， 在该结构中， 第一 连接层 50为导体层， 通过该第一连接层 50使数据测试线 30和相应的数据 线 12之间导通，从而使数据测试线 30可以向数据线 12传送数据测试信号； 而第二连接层 51也为导体层， 只是其与第一连接层 50之间设置有绝缘 层 52,故在第一次测试时，其与第一连接层 50所连接的数据测试线 30以及 数据线 12之间处于绝缘状态； 在需要进行第二次测试时， 则需要通过诸如 激光焊接的方式， 使其与数据测试线 30以及数据线 12之间形成导通状态。
再请结合图 7和图 9所示， 其中， 图 7是图 5中第一连接层被打断的状 态示意图； 图 9是图 7中将第一连接层与第二连接层打通的状态示意图。
在本发明中， 在第一连接层 50的中部位置上， 其与第二连接层 51重叠 的部份上设置有一可经激光打断的第一区域 500; 在该第一区域 500两侧分 别设置有一个可经激光焊接与第二连接层连通的第二区域 501。
从图 7可以看出， 在第一区域 500处， 通过控制激光的能量可以精确地 将保护层 53与第一连接层 50打断， 从而切断数据测试线 30以及相应数据 线 12之间的连接。
从图 9中可以看出， 在第二区域 501处， 通过控制激光的能量， 可以将 第一连接层 50与第二连接层 51之间焊接连通，从而在数据测试线 30、第一 连接层 50 —部份、 第二连接层 51、 第一连接层 50的另一部份以及数据线 12之间形成导通连接。
如图 11所示， 是图 9中第二连接层被打断的状态示意图。 从中可以看 出， 通过控制激光的能量， 可以在第一区域 500处， 进一步地将绝缘层 52 和第二连接层 1打断，从而切断数据测试线 30以及相应数据线 12之间的连 接。 可以理解的是， 在其他的实施例中， 也可以选择在其他位置采用激光的 方式同时将保护层 53、 第一连接层 50、 绝缘层 52和第二连接层 51 同时打 断。
再请结合图 6, 是图 4中 B-B剖面示意图。 从图中可以看出， 其与图 5 中显示出的结构基本相似。 该连接装置 5包括：
第一连接层 50, 其一端通过铟锡氧化物薄膜（ Indium Tim Oxides, ITO ) 54连接栅线测试线 40, 另一端连接对应的栅线 10; 第二连接层 51 , 设置在第一连接层 50的下面， 至少有一部分与该第一 连接层 50位置重叠；
绝缘层 52, 设置在第一连接层 50与第二连接层 51之间； 以及
保护层 53 , 设置在第一连接层 50上面。
再请结合图 8、 图 10和图 12所示， 其中， 图 8为图 6中第一连接层被 打断的状态示意图； 图 10为图 8中将第一连接层与第二连接层打通的状态 示意图； 图 12为图 10中第二连接层被打断的状态示意图。 该三个附图中示 出的结构及原理分别与图 7、 图 9和图 11类似， 在此不进行详述。
相应地， 本发明提供了一种 TFT-LCD阵列基板的测试方法， 其用于对 前述图 1至图 6描述的 TFT-LCD阵列基板进行测试， 该方法包括：
步骤一： 第一测试短棒和第二测试短棒通过第一连接层向显示区中各数 据线和栅线发送测试信号， 进行首次测试；
步骤二： 在首次测试完成后， 断开第一测试短棒和第二测试短棒与所述 显示区的各数据线和栅线之间的电连接。 具体为： 通过激光打断每一第一连 接层上的第一区域，使第一测试短棒和第二测试短棒与所述显示区的各数据 线和栅线断开电连接， 可参见图 7和图 8所示；
步骤三： 通过第二连接层， 重新建立第一测试短棒和第二测试短棒与显 示区的各数据线和栅线之间电连接。 具体为： 通过激光焊接将每一第一连接 层的第一区域两侧的第二区域分别与设置在该第一连接层之下的第二连接 层连通，使第一测试短棒和第二测试短棒与显示区的各数据线和栅线实现电 连接， 可参见图 9和图 10所示；
步骤四： 第一测试短棒与第二测试短棒通过步骤三中重新建立的电连接 向分别与其连接的显示区的数据线和栅线发送测试信号， 进行第二次测试； 步骤五： 在第二次测试完成后， 通过激光在每一第一连接层上的第一区 域处进一步打断第二连接层，使第一测试短棒和第二测试短棒与所述显示区 的各数据线和栅线之间断开电连接。可参见图 11和图 12,在该两个附图中， 是在第一区域处进一步打断第二连接层； 在其他的实施例中， 也可以选择在 其他的位置同时打断保护层、 第一连接层、 绝缘层和第二连接层， 也可以达 到将第一测试短棒和第二测试短棒与所述显示区断开电连接的效果。 进一步地， 也可以在位置 6处将外围区域与显示区分离 （例如剪断）。 可以理解的是， 本发明上述的实施例均为采用测试短棒进行测试的情 形， 在其他没有采用测试短棒的情形也可以使用本发明的技术。 只需将连接 装设置在每条测试线和与其连接的显示区的数据线或栅线之间， 同样可以达 到本发明的效果。
实施本发明实施例，通过在测试线与显示区的数据线或栅线连接处设置 有连接装置， 该连接装置至少包括相互绝缘的首次测试层和备用测试层， 从 而可以实现对显示区的两次测试。 利用本发明， 可在后续制程上出现不良的 TFT-LCD阵列基板进行第二次测试，从而快速筒单地确定出现不良的问题所 在， 防止不良的 TFT-LCD阵列基板流入到客户处。
以上所揭露的仅为本发明较佳实施例而已， 当然不能以此来限定本发明 之权利范围， 因此等同变化， 仍属本发明所涵盖的范围。

Claims

权 利 要 求
1、 一种 TFT-LCD阵列基板， 包括显示区和位于所述显示区外围的外围 区域， 所述显示区内设置有栅线和数据线， 其中， 所述外围区域内设置有： 第一测试短棒， 其上设置有多条测试线， 用于分别向显示区中各数据线 发送数据测试信号；
第二测试短棒， 其上设置有栅线测试线， 用于向显示区中各栅线发送栅 线测试信号；
在所述至少一条第一测试短棒的数据测试线与显示区的一条数据线连 接处，或 /和在第二测试短棒的栅线测试线与显示区的至少一条栅线连接处设 置有包含有第一连接层和第二连接层的连接装置。
2、如权利要求 1所述的 TFT-LCD阵列基板，其中，所述连接装置包括： 第一连接层， 其一端连接所述数据测试线或柵线测试线， 另一端连接对 应的数据线或栅线；
第二连接层， 设置在所述第一连接层下面， 至少部分与所述第一连接层 位置重叠；
绝缘层， 设置在所述第一连接层与所述第二连接层之间；
保护层， 设置在所述第一连接层上面。
3、 如权利要求 2所述的 TFT-LCD阵列基板， 其中，
在所述第一连接层与所述第二连接层重叠的部份上至少设置有一个可 经激光打断的第一区域；
在所述第一连接层的所述第一区域两侧分别设置有一个可经激光焊接 与所述第二连接层连通的第二区域。
4、 如权利要求 2所述的 TFT-LCD阵列基板， 其中， 所述第一连连接层 一端通过铟锡氧化物薄膜 ITO连接栅线测试线， 另一端连接对应的栅线。
5、 一种 TFT-LCD阵列基板， 包括显示区和位于所述显示区外围的外围 区域， 所述显示区内设置有栅线和数据线， 其中， 所述外围区域内设置有： 多条测试线， 用于分别向显示区中各数据线发送数据测试信号； 栅线测试线， 用于向显示区中各栅线发送栅线测试信号；
在所述至少一条数据测试线与显示区的一条数据线连接处，或 /和在所述
更正 1 、细则弟 3Ί宋 栅线测试线与显示区的至少一条栅线连接处设置有包含有第一连接层和第 二连接层的连接装置。
6、如权利要求 5所述的 TFT-LCD阵列基板，其中 ,所述连接装置包括： 第一连接层， 其一端连接所述数据测试线或栅线测试线， 另一端连接对 应的数据线或栅线；
第二连接层，设置在所述第一连接层下面， 至少部分与所述第一连接层 位置重叠；
绝缘层， 设置在所述第一连接层与所述第二连接层之间；
保护层， 设置在所述第一连接层上面。
7、 如权利要求 6所述的 TFT-LCD阵列基板， 其中，
在所述第一连接层与所述第二连接层重叠的部份上至少设置有一个可 经激光打断的第一区域；
在所述第一连接层的所述第一区域两侧分别设置有一个可经激光焊接 与所述第二连接层连通的第二区域。
8、 如权利要求 6所述的 TFT-LCD阵列基板， 其中， 所述第一连连接层 一端通过铟锡氧化物薄膜 ITO连接栅线测试线， 另一端连接对应的栅线。
9、 一种 TFT-LCD阵列基板的测试方法， 用于对权利要求 1至 4任一项 所述的 TFT-LCD阵列基板进行测试， 其中， 所述测试方法包括：
所述第一测试短棒和第二测试短棒通过第一连接层向显示区中的各数 据线和栅线发送测试信号， 进行首次测试；
在首次测试完成后，断开所述第一测试短棒和第二测试短棒与所述显示 区的各数据线和栅线之间的电连接；
通过第二连接层，重新建立所述第一测试短棒和第二测试短棒与所述显 示区的各数据线和栅线之间电连接；
所述第一测试短棒与第二测试短棒通过所述重新建立的电连接向分别 与其连接的显示区的数据线和栅线发送测试信号 , 进行第二次测试。
10、 如权利要求 9所述的 TFT-LCD阵列基板的测试方法， 其中， 所述 断开所述第一测试短棒和第二测试短棒与所述显示区的各数据线和栅线之 间的电连接的步骤具体为：
更正. i st^ 通过激光打断每个第一连接层上的第一区域，使所述第一测试短棒和第 二测试短棒与所述显示区的各数据线和栅线断开电连接。
11、 如权利要求 10所述的 TFT-LCD阵列基板的测试方法， 其中， 所述 重新建立所述第一测试短棒和第二测试短棒与所述显示区的各数据线和栅 线之间电连接的步骤具体为：
通过激光焊接将每一第一连接层的第一区域两侧的第二区域分别与设 置在所述第一连接层之下的第二连接层连通，使所述第一测试短棒和第二测 试短棒与所述显示区的各数据线和栅线之间实现电连接。
12、 如权利要求 11所述的 TFT-LCD阵列基板的测试方法， 其中， 进一 步包括：
在第二次测试完成后， 通过激光进一步打断所述第二连接层， 使所述第 一测试短棒和第二测试短棒与所述显示区的各数据线和栅线之间断开电连 接。
13、 如权利要求 12所述的 TFT-LCD阵列基板的测试方法， 其中， 所述 每一相应的第一连接层和第二连接层之间设置有绝缘层，且所述第二连接层 至少与所述第一连接层的第一区域及第二区域处重叠。
更
PCT/CN2012/082030 2012-09-12 2012-09-26 一种tft-lcd阵列基板及其测试方法 WO2014040315A1 (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US13/697,360 US9000797B2 (en) 2012-09-12 2012-09-26 TFT-LCD array substrate having a connecting device for testing twice and test method for the same

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201210335918.2 2012-09-12
CN201210335918.2A CN102831852B (zh) 2012-09-12 2012-09-12 一种tft-lcd阵列基板及其测试方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2014040315A1 true WO2014040315A1 (zh) 2014-03-20

Family

ID=47334954

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/CN2012/082030 WO2014040315A1 (zh) 2012-09-12 2012-09-26 一种tft-lcd阵列基板及其测试方法

Country Status (2)

Country Link
CN (1) CN102831852B (zh)
WO (1) WO2014040315A1 (zh)

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP3410182A1 (en) * 2013-12-02 2018-12-05 LG Display Co., Ltd. Display device and manufacturing and testing methods thereof
US10161998B2 (en) 2015-07-24 2018-12-25 Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co., Ltd. Test lead wire structure and test apparatus
CN105139787A (zh) * 2015-07-24 2015-12-09 深圳市华星光电技术有限公司 测试引出线结构及测试装置
CN105575300B (zh) * 2015-12-16 2018-11-09 武汉华星光电技术有限公司 阵列基板的esd检测方法
CN106328029A (zh) * 2016-10-13 2017-01-11 武汉华星光电技术有限公司 一种显示面板及其测试方法
CN109119010A (zh) * 2018-08-03 2019-01-01 深圳市华星光电技术有限公司 阵列基板行驱动电路的检测方法和显示面板
CN110853565B (zh) * 2019-11-29 2022-10-04 昆山国显光电有限公司 显示基板的制备方法、显示基板、显示面板及显示装置

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN100460934C (zh) * 2007-01-11 2009-02-11 友达光电股份有限公司 液晶显示器面板的测试方法
CN101770122A (zh) * 2008-12-31 2010-07-07 北京京东方光电科技有限公司 Tft-lcd阵列基板及其制造方法和测试方法
CN101556382B (zh) * 2008-04-10 2011-04-13 北京京东方光电科技有限公司 Tft-lcd阵列基板及其制造方法和测试方法
CN102236179A (zh) * 2010-05-07 2011-11-09 北京京东方光电科技有限公司 Tft-lcd阵列基板及其制造方法

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN100460934C (zh) * 2007-01-11 2009-02-11 友达光电股份有限公司 液晶显示器面板的测试方法
CN101556382B (zh) * 2008-04-10 2011-04-13 北京京东方光电科技有限公司 Tft-lcd阵列基板及其制造方法和测试方法
CN101770122A (zh) * 2008-12-31 2010-07-07 北京京东方光电科技有限公司 Tft-lcd阵列基板及其制造方法和测试方法
CN102236179A (zh) * 2010-05-07 2011-11-09 北京京东方光电科技有限公司 Tft-lcd阵列基板及其制造方法

Also Published As

Publication number Publication date
CN102831852B (zh) 2015-02-18
CN102831852A (zh) 2012-12-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
WO2014040315A1 (zh) 一种tft-lcd阵列基板及其测试方法
US9000797B2 (en) TFT-LCD array substrate having a connecting device for testing twice and test method for the same
TWI480655B (zh) 顯示面板及其測試方法
TWI409558B (zh) 顯示面板及其訊號線修補方法
WO2016019605A1 (zh) 液晶面板检测线路
TWI335560B (en) Circuit structure of a display
US10126604B2 (en) Liquid crystal display panel, sealing performance testing method thereof and display device
WO2014187097A1 (zh) 阵列基板、该阵列基板断线修复方法及显示装置
WO2006064789A1 (ja) 液晶表示装置および液晶表示装置の欠陥修正方法
KR20130017876A (ko) 박막 트랜지스터 기판, 이의 제조 방법 및 이를 포함하는 표시 장치
JP2004212931A (ja) 表示装置用基板及びその製造方法
CN110416270B (zh) Oled显示面板及其检测方法、显示装置
WO2015003405A1 (zh) 一种快速测试切换装置及相应的tft-lcd阵列基板
WO2018176754A1 (zh) 阵列基板、显示面板及显示装置
WO2013107193A1 (zh) 阵列基板、液晶显示器件及其修复方法
CN104503174A (zh) Goa电路模块及其测试方法、显示面板和显示装置
TW201017191A (en) Auto prove device and method of testing liquid crystal panel using the same
KR100828294B1 (ko) 액정표시장치용 기판 및 이를 이용한 액정표시장치 제조방법
TW200813540A (en) Liquid crystal display
WO2020108143A1 (zh) 一种阵列基板、显示面板及显示装置
WO2016106856A1 (zh) 薄膜晶体管阵列基板及液晶显示面板
US10908467B2 (en) Array substrate and repairing method thereof, display panel
WO2015032106A1 (zh) 点灯测试治具以及液晶面板测试方法
US8830412B2 (en) Substrate and manufacturing method of panel display device and corresponding liquid crystal display panel
CN109100896A (zh) 阵列基板、显示面板及其显示面板的垂直淡线修复方法

Legal Events

Date Code Title Description
WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 13697360

Country of ref document: US

121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application

Ref document number: 12884714

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1

NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: DE

122 Ep: pct application non-entry in european phase

Ref document number: 12884714

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1