TWI409558B - 顯示面板及其訊號線修補方法 - Google Patents

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Description

顯示面板及其訊號線修補方法
本發明係有關於一種顯示面板，特別有關於一種液晶顯示面板及其訊號線修補方法。
第1圖係為一習知液晶顯示面板修補信號線的示意圖。如第1圖所示，一液晶顯示面板包含有一基板10，於基板10上具有複數條掃描線12及複數條訊號線14，並且該些掃描線12彼此平行且與該些訊號線14交錯。該些掃描線12以及該些訊號線14之間形成複數個畫素區域及薄膜電晶體(Thin Film Transistor,TFT)陣列(未圖示)。另外，於基板10上還具有一掃描線驅動晶片22及複數個訊號線驅動晶片24，於圖式中為清楚說明僅以一個訊號線驅動晶片24表示。該掃描線驅動晶片22用於順序地驅動該些掃描線12、該些訊號線驅動晶片24用於提供畫素的電壓數據給該些訊號線14。
由於畫素數量的提高，在基板10上的相鄰的掃描線12或是相鄰訊號線14之間僅有數微米的間隔。因此在製作過程中，可能會因為異物(例如灰塵)造成訊號線14斷開。為解決訊號線14斷開的問題，習知的液晶顯示面板還會在基板10上設置用於修補斷開訊號線的修補線(repair lines)16。修補線16設置於該些掃描線12及訊號線14所形成的顯示區域11外圍，並與該些訊號線14交錯並間隔一絕緣層。當某一訊號線14發生斷開的情形時，修補線16可利用與該訊號線14重疊處進行雷射融接，而訊號線驅動晶片24所提供的資料則經由修補線16來向斷開的訊號線14提供訊號。
然而，隨著畫素的提高，掃描線12及訊號線14的數量越來越龐大，掃描線驅動晶片22及該些訊號線驅動晶片24將佔據基板10周圍大部分空間，將使得基板10周圍可利用的空間越來越小。因此增加了設置修補線16的難度。
有鑑於此，本發明之目的在於提供一種減輕基板周圍空間使用的顯示面板，以解決前述的問題。
本發明之另一目的在於提供一種顯示面板的訊號線修補方法，其可藉由該顯示面板的結構進行訊號線的修補而無須設置修補線。
為達上述之目的，本發明提供了一種顯示面板。於本發明第一較佳實施例中，該顯示面板具有複數條訊號線設置於一基板上，該顯示面板包含至少一短路配線及複數個開關。該些開關分別電性連接於該些訊號線及該短路配線，每一該開關包含一閘極圖案、一源極線及一汲極線。
其中該閘極圖案，設置於該基板上，該閘極圖案具有一第一區域及一第二區域，其中該第一區域及第二區域以一連接部連接。每一該開關之該閘極圖案係根據該第一區域及該第二區域互相電性連接。該源極線設置於該閘極圖案上，該源極線與該閘極圖案之間設置有一絕緣層，該源極線之一端電性連接於該些訊號線之一。該汲極線設置於該閘極圖案上，該汲極線與該閘極圖案之間具有該絕緣層，該汲極線之一端電性連接於該短路配線。
於本發明第一較佳實施例中，該些開關係複數個薄膜電晶體開關。此外，該閘極圖案、該源極線及該閘極線分別係該些薄膜電晶體開關之閘極、源極及汲極。
於本發明第一較佳實施例中，其中任意相鄰的兩個開關之該閘極圖案係兩者的該第一區域互相電性連接及兩者的該第二區域互相電性連接。該閘極圖案之該連接部未被該源極線及該汲極線覆蓋。另外，該些開關之該源極線及該汲極線與該些訊號線係同一金屬材質；且該短路配線與該些開關之該閘極圖案係同一金屬材質。
為達上述之另一目的，本發明提供使用第一較佳實施例所述之顯示面板的訊號線修補方法，其適用於修補損壞的該訊號線，該方法包含：進行一切割製程，用以切斷該閘極圖案之該連接部以及兩相鄰之該第一區域；以及進行一融接製程，用以將對應損壞的該訊號線之該源極線及該汲極線分別融接於該閘極圖案之該第一區域。其中損壞的該訊號線之訊號經由該閘極圖案之該第一區域以及融接的該源極線傳輸到損壞的該訊號線。
第一較佳實施例中，該融接製程係使用雷射融接，且該融接製程係將該源極線及該汲極線穿透該絕緣層電性連接於該閘極圖案。
此外，本發明還於第二較佳實施例中提供一種顯示面板，該顯示面板具有複數條訊號線設置於一基板上，該顯示面板還包含至少一短路配線、複數個開關及複數條輔助修補線。該些開關分別電性連接於該些訊號線及該短路配線。每一該輔助修補線之兩端重疊於每一該開關與該短路配線之複數條連線，該些輔助修補線與該些連線之間設置有一絕緣層。
於第二較佳實施例中，每一該開關包含一閘極圖案、一源極線及一汲極線。該閘極圖案，設置於該基板上。該源極線設置於該閘極圖案上，該源極線與該閘極圖案之間設置有一絕緣層，該源極線之一端電性連接於該些訊號線之一。該汲極線設置於該閘極圖案上，該汲極線與該閘極圖案之間具有該絕緣層，該汲極線之一端電性連接於該短路配線。
於第二較佳實施例中，該些開關係複數個閘極串接的薄膜電晶體開關。此外，該些開關之該源極線及該汲極線與該些訊號線係同一金屬材質。其中該短路配線及該些輔助修補線與該些開關之該閘極圖案係同一金屬材質。
本發明還於第二較佳實施例中提供以種使用第二較佳實施例所述之顯示面板的訊號線修補方法，其適用於修補損壞的該訊號線，該方法包含：進行一切割製程，用以切斷每一該開關與該短路配線之複數條連線；以及進行一融接製程，用以將對應損壞的該訊號線之該輔助修補線之兩端分別融接於對應損壞的該訊號線之被切斷的該連線的兩邊。其中該融接製程係使用雷射融接。
於第二較佳實施例中，損壞的該訊號線之訊號經由該短路配線以及該輔助修補線通過對應損壞的該訊號線之開關傳輸到損壞的該訊號線。其中對應損壞的該訊號線之開關呈導通狀態。
根據本發明之顯示面板及其訊號線修補方法，其利用簡易點燈之線路取代修補線，解決了習知需要在基板周圍設置修補線的問題，也提高了基板周圍的可利用空間。
為讓本發明之上述內容能更明顯易懂，下文特舉較佳實施例，並配合所附圖式，作詳細說明如下。
本發明之較佳實施例將與所附圖示與下面之說明加以詳細的描述，在不同圖示中，相同的參考標號表示相同或相似的元件。以下將配合附圖來詳細說明本發明之顯示面板的第一較佳實施例。
第2圖為本發明第一實施例之顯示面板示意圖。請參考第2圖，該顯示面板包含一基板10、複數條訊號線14、複數條掃描線12、掃描線驅動晶片22、複數個訊號線驅動晶片24、一短路配線(Shorting Bar)組30、複數個開關(Switch) 40。該些掃描線12彼此平行且與該些訊號線14交錯，並設置於該基板10上，並且該掃描線驅動晶片22及該些訊號線驅動晶片24設置於基板10周圍。該掃描線驅動晶片22用於順序地驅動該些掃描線12；該些訊號線驅動晶片24用於提供畫素的電壓數據給該些訊號線14。各開關40可以一薄膜電晶體(TFT)實施。
第3圖為本發明第一實施例之簡易點燈線路示意圖、第4圖為第3圖之電路設計圖，用以說明在液晶盒測試(Cell Test)階段時的簡易點燈線路。請參考第3圖及第4圖，簡易點燈線路包含該短路配線組30及該些開關40。該短路配線組30設置於該基板10上並包含至少一條短路配線(Shorting Bar)，其用於在液晶盒測試(Cell Test)階段時，傳遞測試訊號給該些訊號線14，以檢查顯示面板是否有異常缺陷(例如：亮、暗點或異常的顏色顯示)。如果某一條訊號線14有斷開的現象時，即會在對應該條訊號線14的彩色濾光片上產生異常的顏色顯示。一般而言，短路配線組30會包含三條短路配線如第一短路配線301、第二短路配線302及第三短路配線303以用於檢測顯示紅藍綠三種顏色的訊號線14，但亦有設置單一條短路配線之實施方式。
如前所述，該些開關40係以複數個閘極串接的薄膜電晶體開關(switch TFT)實施。該些開關40分別電性連接於該些訊號線14及該第一短路配線301、第二短路配線302及第三短路配線303。其中該些開關40之兩端與該第一短路配線301、第二短路配線302及第三短路配線303係屬不同之金屬層，兩者之間具有一絕緣層(未圖示)保護。因此，該些開關40之一端係利用接合墊38跳層(Jumper Layer)即穿透絕緣層與該第一短路配線301、第二短路配線302及第三短路配線303電性連接。
每一該開關(亦即薄膜電晶體)40包含一閘極圖案42、一源極線44及一汲極線46。舉例來說，該閘極圖案42、該源極線44及該汲極線46分別以薄膜電晶體開關之閘極(Gate)、源極(Source)及汲極(Drain)實施。需注意的是，如第4圖所示該些開關40的閘極圖案42係互相電性連接的，並與該掃描線驅動晶片22電性連接如第2圖所示。當進行液晶盒測試時，外部檢測治具給予該些開關40的閘極圖案42一個高電壓(Vgh)的訊號，進而使得該開關40的該源極線44及該汲極線46導通。當該開關40導通時，測試訊號就可由該第一短路配線301、第二短路配線302及第三短路配線303傳送到該些訊號線14進行檢測。
第5圖為本發明第一實施例之開關之電路設計圖，用以詳細說明該開關40之詳細結構。請參考第5圖，該閘極圖案42設置於該基板10(未圖示)上，該閘極圖案42具有一第一區域42a及一第二區域42b，其中該第一區域42a及第二區域42b以一連接部42c相互連接。任意相鄰的兩個開關40之閘極圖案42的連接方式為兩者的第一區域42a互相電性連接及兩者的第二區域42b互相電性連接。需注意的是，該連接部42c未被該源極線44及該汲極線46覆蓋。
該源極線44設置於該閘極圖案42上，該源極線44與該閘極圖案42之間設置有一絕緣層(未圖示)作為該薄膜電晶體開關之閘極與源極的絕緣層，該源極線44之一端電性連接於該些訊號線14之一。該汲極線46設置於該閘極圖案42上，該汲極線46與該閘極圖案42之間亦設置有該絕緣層(未圖示)作為薄膜電晶體開關之閘極與汲極的絕緣層，該汲極線46之一端電性連接於該短路配線組30。其中該源極線44及該汲極線46設計成梳狀(Comb)圖形以增加電晶體之W/L比(其中W為電晶體之通道寬、L為通道長)，以利該開關40的電流導通。
該些開關40之該源極線44及該汲極線46與該些訊號線14係同一金屬材質，例如在液晶面板陣列(Array)製程中以同一道製程中形成。另外，該短路配線組30與該些開關40之該閘極圖案42係同一金屬材質，例如在液晶面板陣列製程中以同一道製程中形成。因此無須額外增加製作流程。
以下將詳細說明使用本發明第一較佳實施例之顯示面板的訊號線修補方法。請參考第6圖所示，第6圖為本發明第一實施例之訊號線修補電路結構之示意圖。本發明第一較佳實施例之顯示面板於液晶盒測試階段後，可得知損壞的該訊號線14的位置。本發明第一較佳實施例的訊號線修補方法針對損壞的該訊號線14對應的該開關40作處理。該訊號線修補方法包含：進行一切割製程，沿著虛線切斷該閘極圖案42之該連接部42c以及兩相鄰之該第一區域42a；以及進行一融接製程，用以將對應損壞的該訊號線14之該源極線44及該汲極線46分別融接於該閘極圖案42之該第一區域42a。
需注意的是，該切割製程係切斷對應損壞的該訊號線14之開關40的連接部42c，並且沒有切斷每一開關40之源極線44及該汲極線46。再者，該融接製程僅需將對應損壞的該訊號線14之該源極線44及該汲極線46分別融接於該閘極圖案42之該第一區域42a，使得該源極線44及該汲極線46電性連接於該閘極圖案42之該第一區域42a。其中該切割製程係可使用雷射切割實施。該融接製程係可使用雷射融接將該源極線44及該汲極線46穿透該絕緣層電性連接於該閘極圖案42。
損壞的該訊號線14之顯示訊號23則由該訊號線驅動晶片24發出，經由短路配線組30(參考第4圖)、融接的該汲極線46(由融接點51)、該第一區域42a以及融接的該源極線44(由融接點51)傳輸到損壞的該訊號線14以進行訊號的修補。
綜上所述，本發明第一較佳實施例之顯示面板利用簡易點燈線路中的特殊開關40結構，將閘極圖案42設計成第一區域42a及第二區域42b。並將連接部42c設計成未被該源極線44及該汲極線46覆蓋，使得在修補過程中可將該些連接部42c切斷，並將該源極線44融接於該第一區域42a以傳輸顯示訊號23。因此，解決了習知需要在基板周圍設置修補線的問題，也提高了基板周圍的可利用空間。
以下將配合附圖來詳細說明本發明之顯示面板的第二較佳實施例。第7圖為本發明第二實施例之訊號線修補電路結構之示意圖。一併參考第2圖及第7圖，該顯示面板包含一基板10、複數條訊號線14、複數條掃描線12、掃描線驅動晶片22、複數個訊號線驅動晶片24、一短路配線(Shorting Bar)組30、複數個開關(Switch)41及複數條輔助修補線62。其中與第一實施例之顯示面板相同的元件說明可參考前述，在此不予以贅述。
以下說明與第一實施例之開關40類似之開關41。該些開關41係以複數個閘極串接的薄膜電晶體開關(Switch TFT)實施。該些開關41分別電性連接於該些訊號線14及該第一短路配線301、第二短路配線302及第三短路配線303。其中該些開關41之兩端與該第一短路配線301、第二短路配線302及第三短路配線303係屬不同之金屬層，兩者之間具有一絕緣層(未圖示)保護。因此，該些開關41之一端係利用接合墊38跳層(Jumper Layer)即穿透絕緣層與該第一短路配線301、第二短路配線302及第三短路配線303電性連接。
請參考第7圖，每一開關(亦即薄膜電晶體)41包含一閘極圖案43、一源極線45及一汲極線47。舉例來說，該閘極圖案43、該源極線44及該汲極線46分別以薄膜電晶體開關之閘極(Gate)、源極(Source)及汲極(Drain)實施。需注意的是，如第4圖所示每一開關41的閘極圖案43係互相電性連接的，並與該掃描線驅動晶片22電性連接如第2圖所示。當進行液晶盒測試時，外部檢測治具給予該些開關41的閘極圖案43一個高電壓(Vgh)的訊號，進而使得該開關41的該源極線45及該閘極線47導通。當開關41導通時，測試訊號就可由該第一短路配線301、第二短路配線302及第三短路配線303傳送到該些訊號線14進行檢測。
請參考第7圖，該閘極圖案43設置於該基板10(未圖示)上，與第一實施例不同的是，該閘極圖案43為一面電極，並且每一開關41的閘極圖案43互相電性連接，即共用閘極。該源極線45設置於該閘極圖案43上，該源極線45與該閘極圖案43之間設置有一絕緣層(未圖示)作為薄膜電晶體開關之閘極與源極的絕緣層，該源極線45之一端電性連接於該些訊號線14之一(未圖示)。該汲極線47設置於該閘極圖案43上，該汲極線47與該閘極圖案43之間設置有該絕緣層(未圖示)作為薄膜電晶體開關之閘極與汲極的絕緣層，該汲極線47之一端經由連線39電性連接於該短路配線組30。其中該源極線45及該汲極線47設計成梳狀(Comb)圖形以增加電晶體之W/L比(其中W為電晶體之通道寬、L為通道長)，以利該開關41的電流導通。
本發明第二實施例之顯示面板還包含複數條輔助修補線62，其中每一該輔助修補線62之兩端重疊於每一該開關41與該短路配線組30之複數條連線39，該些輔助修補線62與該些連線39之間設置有一絕緣層(未圖示)。
該些開關41之該源極線45及該汲極線47與該些訊號線14係同一金屬材質，例如在液晶面板陣列(Array)製程中以同一道製程中形成。另外，該短路配線組30及該些輔助修補線62與該些開關41之該閘極圖案43係同一金屬材質，例如在液晶面板陣列製程中以同一道製程中形成。因此無須額外增加製作流程。
以下將詳細說明使用本發明第二較佳實施例之顯示面板的訊號線修補方法。請繼續參考第7圖所示，本發明第二較佳實施例的訊號線修補方法針對損壞的該訊號線14對應的輔助修補線62作處理。該訊號線14修補方法包含：進行一切割製程，用以切斷每一開關41與該短路配線組30之間的每一條連線39；以及進行一融接製程，用以將對應損壞的該訊號線14之該輔助修補線62之兩端分別融接於對應損壞的該訊號線14之開關41與該短路配線組30之被切斷的該連線39的兩邊。
需注意的是，該切割製程需切斷每一開關40該短路配線組30之連線39，而該融接製程僅需將對應損壞的該訊號線14之該輔助修補線62之兩端分別融接於該連線39上，使得該汲極線47電性連接於該短路配線組30(例如第二短路配線302)。該切割製程係可使用雷射沿著虛線切割實施。該融接製程係可於融接點51使用雷射融接將該輔助修補線62之兩端穿透該絕緣層電性連接於該連線39上。
損壞的該訊號線14之顯示訊號23則由該訊號線驅動晶片24發出，經由該第二短路配線302以及該輔助修補線62通過對應損壞的該訊號線14之開關41傳輸到損壞的該訊號線14。在此同時，該訊號線驅動晶片24提供該些閘極圖案43一高電壓(Vgh)的訊號，使對應損壞的該訊號線14之開關41呈導通狀態。進而使得該顯示訊號23就可由該第二短路配線302傳送到損壞的該訊號線14進行修補。
綜上所述，本發明第二較佳實施例之顯示面板利用簡易點燈線路中的輔助修補線62結構，使得在修補過程中可將每一連線39切斷，並將該輔助修補線62兩端融接於被切斷的該連線39的兩邊。因此，解決了習知需要在基板周圍設置修補線的問題，也提高了基板周圍的可利用空間。
須注意的是，上述本發明第一及第二較佳實施例中，並不限於捨棄修補線之實施方式，亦可配合修補線方式實施。具體地說，修補線16(顯示於第1圖)可設計成與該短路配線組30絕緣地相交，當須修補時，可利用修補線16與該訊號線14及該短路配線組30相交處進行上述融接製程(例如雷射融接)，使訊號線驅動晶片24所提供的顯示訊號23經由修補線16及該短路配線組30來向斷開的訊號線14提供訊號。
以下將配合附圖來詳細說明本發明之顯示面板的第三較佳實施例。在第三較佳實施例之顯示面板中，完全捨棄修補線16的設計，使得基板周圍的可利用空間可最大化。請參考第8圖所示，第8圖為本發明第三實施例之顯示面板的線路示意圖。相同之元件說明請參考上述第一及第二較佳實施例之說明，在此不再贅述。
在第三較佳實施例中，上述第一及第二較佳實施例之顯示面板分別進一步包含有一靜電防護線路(electrostatic discharge,ESD)70設置於該基板10上。該靜電防護線路70係非封閉式環繞設置於該顯示區域11外圍，並與該些掃描線12以及該些訊號線14絕緣地相交(亦即彼此有重疊而無電性耦接)，然而該靜電防護線路70並不限設置於該顯示區域11外，亦可設置於該顯示區域11內。該靜電防護線路70係用於避免靜電破壞該顯示區域11內之線路或薄膜電晶體陣列(未圖示)。具體而言，該靜電防護線路70與每一掃描線12以及每一訊號線14之間各設有一開關元件，例如一高壓觸發之薄膜電晶體71(僅繪示於該靜電防護線路70與每一訊號線14之間)，該高壓觸發之薄膜電晶體71之閘極端與該靜電防護線路70電性連接；該高壓觸發之薄膜電晶體71之源極端及汲極端電性連接兩條相鄰的訊號線14或兩條相鄰的掃描線12。該高壓觸發之薄膜電晶體71用以將過大之靜電電流引導到周圍之掃描線12或訊號線14，藉此降低過大電流或過大電壓對該顯示區域11內之線路或薄膜電晶體陣列的破壞。
在第三較佳實施例中，該靜電防護線路70與該至少一短路配線(如上述之短路配線組30)絕緣地相交，如第8圖所示。具體而言，該靜電防護線路70被設計成從與該些掃描線12相交處(該顯示區域11左側)延伸，並與該短路配線組30絕緣地相交。每一短路配線30之一端設置有一接觸墊31，該接觸墊31用於在液晶盒測試階段接收外部訊號。
以下將說明使用本發明第三較佳實施例之顯示面板的訊號線修補方法。請再參考第8圖所示，當某一訊號線14(如圖所示)發生斷開的情形時，該靜電防護線路70可利用與該訊號線14相交處、以及該靜電防護線路70與對應損壞之短路配線30之相交處進行上述融接製程(例如雷射融接)。而訊號線驅動晶片24所提供的顯示訊號23(如箭頭所示)則經由該靜電防護線路70來向斷開的訊號線14進行訊號修補。其修補細節已詳述於第一及第二實施例，在此不予贅述。
以下將配合附圖來詳細說明本發明之顯示面板的第四較佳實施例。相似地，在第四較佳實施例之顯示面板中，完全捨棄修補線16的設計，使得基板周圍的可利用空間可最大化。請參考第9圖所示，第9圖為本發明第四實施例之顯示面板的線路示意圖。相同之元件說明請參考上述第一、第二及第三較佳實施例之說明，在此不再贅述。
具體而言，本發明第四實施例與第三實施例不同之處在於：該靜電防護線路70被設計成從與該些訊號線14相交處(該顯示區域11上側)延伸，並絕緣地與該短路配線組30相交，如第9圖所示。在其他實施例中，該靜電防護線路70亦可改為與該接觸墊31絕緣地相交。需注意的是，本發明並未限定該靜電防護線路70與該至少一短路配線相交的位置，只要該靜電防護線路70與每一條短路配線有重疊即可實施。上述靜電防護線路70及該短路配線組30重疊處，靜電防護線路70與該短路配線組30之間係以一絕緣層(未圖示)相隔開，該靜電防護線路70可設置於該短路配線組30之上或下。同樣地，本發明第四較佳實施例之顯示面板的訊號線修補方法與第三實施例相同，在此不再贅述。
綜上所述，本發明第三及第四較佳實施例之顯示面板利用靜電防護線路絕緣地相交於上述之短路配線組。當須修補訊號線時，可對相交處進行雷射融接，而無須在基板周圍設置修補線，從而提高了基板周圍的可利用空間。
雖然本發明已用較佳實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明，本發明所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離本發明之精神和範圍內，當可作各種之更動與潤飾，因此本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。
10．．．基板
11．．．顯示區域
12．．．掃描線
14．．．訊號線
16．．．修補線
22．．．掃描線驅動晶片
23．．．顯示訊號
24．．．訊號線驅動晶片
30．．．短路配線組
31．．．接觸墊
301．．．第一短路配線
302．．．第二短路配線
303．．．第三短路配線
38．．．接合墊
39．．．連線
40、41．．．開關
42、43．．．閘極圖案
42a．．．第一區域
42b．．．第二區域
42c．．．連接部
44、45．．．源極線
46、47．．．汲極線
51．．．融接點
62．．．輔助修補線
70．．．靜電防護線路
71．．．高壓觸發之薄膜電晶體
第1圖係繪示習知液晶顯示面板修補信號線的示意圖。
第2圖係繪示本發明第一實施例之顯示面板示意圖。
第3圖係繪示本發明第一實施例之簡易點燈線路示意圖。
第4圖係繪示第3圖之電路設計圖。
第5圖係繪示本發明第一實施例之開關之電路設計圖。
第6圖係繪示本發明第一實施例之訊號線修補電路結構之示意圖。
第7圖係繪示本發明第二實施例之訊號線修補電路結構之示意圖。
第8圖係繪示本發明第三實施例之顯示面板的線路示意圖。
第9圖係繪示本發明第四實施例之顯示面板的線路示意圖。
23．．．顯示訊號
30．．．短路配線組
301．．．第一短路配線
302．．．第二短路配線
303．．．第三短路配線
38．．．接合墊
39．．．連線
41．．．開關
43．．．閘極圖案
45．．．源極線
47．．．汲極線
51．．．融接點
62．．．輔助修補線

Claims (24)

  1. 一種顯示面板，其包含：一基板；複數條訊號線設置於該基板上；至少一短路配線，對應於該些訊號線設置於該基板上；及複數個開關，分別電性連接於該些訊號線及該短路配線，每一該開關包含：一閘極圖案，設置於該基板上，該閘極圖案具有一第一區域及一第二區域，其中該第一區域及第二區域以一連接部連接；一源極線，設置於該閘極圖案上，該源極線與該閘極圖案之間設置有一絕緣層，該源極線之一端電性連接於該些訊號線之一；以及一汲極線，設置於該閘極圖案上，該汲極線與該閘極圖案之間設置有該絕緣層，該汲極線之一端電性連接於該短路配線。
  2. 如專利申請範圍第1項所述之顯示面板，其中該些開關係複數個薄膜電晶體開關，每一該薄膜電晶體開關具有一閘極，且藉由該閘極彼此串接。
  3. 如專利申請範圍第2項所述之顯示面板，其中該閘極圖案、該源極線及該汲極線分別係該些薄膜電晶體開關之閘極、源極及汲極。
  4. 如專利申請範圍第1項所述之顯示面板，其中任意相鄰的兩個開關之該閘極圖案係兩者的該第一區域互相電性連接及兩者的該第二區域互相電性連接。
  5. 如專利申請範圍第1項所述之顯示面板，其中該閘極圖案之該連接部未被該源極線及該汲極線覆蓋。
  6. 如專利申請範圍第1項所述之顯示面板，其中該些開關之該源極線及該汲極線與該些訊號線係同一金屬材質。
  7. 如專利申請範圍第1項所述之顯示面板，其中該短路配線與該些開關之該閘極圖案係同一金屬材質。
  8. 如專利申請範圍第1項所述之顯示面板，進一步包含有一靜電防護線路設置於該基板上，該靜電防護線路係與該至少一短路配線絕緣地相交。
  9. 如專利申請範圍第8項所述之顯示面板，其中該靜電防護線路與該些訊號線絕緣地相交。
  10. 一種使用如專利申請範圍第1項所述之顯示面板的訊號線修補方法，適用於修補損壞的該訊號線，該方法包含：進行一切割製程，用以切斷該閘極圖案之該連接部以及兩相鄰之該第一區域；以及進行一融接製程，用以將對應損壞的該訊號線之該源極線及該汲極線分別融接於該閘極圖案之該第一區域。
  11. 如專利申請範圍第10項所述之訊號線修補方法，其中損壞的該訊號線之訊號經由該閘極圖案之該第一區域以及融接的該源極線傳輸到損壞的該訊號線。
  12. 如專利申請範圍第10項所述之訊號線修補方法，其中該融接製程係將該源極線及該汲極線穿透該絕緣層電性連接於該閘極圖案。
  13. 如專利申請範圍第10項所述之訊號線修補方法，其中該融接製程係使用雷射融接。
  14. 一種顯示面板，其包含：一基板；複數條訊號線設置於該基板上；至少一短路配線，對應於該些訊號線設置於該基板上；複數個開關，分別電性連接於該些訊號線及該短路配線；及複數條輔助修補線，其中每一該輔助修補線之兩端重疊於每一該開關與該短路配線之間的每一條連線，每一該輔助修補線與每一該連線之間設有一絕緣層。
  15. 如專利申請範圍第14項所述之顯示面板，其中每一該開關包含：一閘極圖案，設置於該基板上；一源極線，設置於該閘極圖案上，該源極線與該閘極圖案之間設置有一絕緣層，該源極線之一端電性連接於該些訊號線之一；以及一汲極線，設置於該閘極圖案上，該汲極線與該閘極圖案之間設置有該絕緣層，該汲極線之一端電性連接於該短路配線。
  16. 如專利申請範圍第14項所述之顯示面板，其中該些開關係複數個薄膜電晶體開關，每一該薄膜電晶體開關具有一閘極，且藉由該閘極彼此串接。
  17. 如專利申請範圍第15項所述之顯示面板，其中該些開關之該源極線及該汲極線與該些訊號線係同一金屬材質。
  18. 如專利申請範圍第15項所述之顯示面板，其中該短路配線及該些輔助修補線與該些開關之該閘極圖案係同一金屬材質。
  19. 如專利申請範圍第14項所述之顯示面板，進一步包含有一靜電防護線路設置於該基板上，該靜電防護線路係與該至少一短路配線絕緣地相交。
  20. 如專利申請範圍第19項所述之顯示面板，其中該靜電防護線路與該些訊號線絕緣地相交。
  21. 一種使用如專利申請範圍第14項所述之顯示面板的訊號線修補方法，適用於修補損壞的該訊號線，該方法包含：進行一切割製程，用以切斷每一該開關與該短路配線之每一條連線；以及進行一融接製程，用以將對應損壞的該訊號線之該輔助修補線之兩端分別融接於對應損壞的該訊號線之被切斷的該連線的兩邊。
  22. 如專利申請範圍第21項所述之訊號線修補方法，其中損壞的該訊號線之訊號經由該短路配線以及該輔助修補線通過對應損壞的該訊號線之開關傳輸到損壞的該訊號線。
  23. 如專利申請範圍第22項所述之訊號線修補方法，其中對應損壞的該訊號線之開關呈導通狀態。
  24. 如專利申請範圍第21項所述之訊號線修補方法，其中該融接製程係使用雷射融接。
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