CN106328029A - 一种显示面板及其测试方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种显示面板及其测试方法。该显示面板包括第一引线线路和第二引线线路,其中第二引线线路与待测线路和第一引线线路中的一者电性连接,并与待测线路和第一引线线路中的另一者绝缘间隔设置,该测试方法包括:将第二引线线路与待测线路和第一引线线路中的另一者进行电性连接,以使得第一引线线路与待测线路进行电性连接;通过第一引线线路对待测线路或待测线路所连接的电路器件进行测试;在测试完成后,断开第二引线线路,进而断开待测线路与第一引线线路之间的电性连接。通过上述方式,本发明能够准确地、完整地测试显示面板内的所有信号线,为显示面板的设计验证提供真实有效数据。
Description
技术领域
本发明涉及液晶显示领域,特别是涉及一种显示面板及其测试方法。
背景技术
目前小尺寸液晶显示器大多采用GOA设计,其中,GOA设计是指利用现有的薄膜晶体管液晶显示器中的Array制程将栅极驱动(Gate)信号制作在Array基板上,实现对液晶显示器扫描的一项技术。但是,由于GOA电路内置于显示面板内,无法如外置电路那样可以实际测量到GOA电路中扫描线输出的栅极驱动信号。
为了解决上述问题,现有技术的做法是:在显示面板的非显示区域且靠近GOA电路输出端引出至少一个测试焊盘,将靠近非显示区域的扫描线桥接到测试焊盘进行测试。举例来说,如图1所示,GOA电路设计在显示面板的两边,双向驱动控制显示面板中的薄膜晶体管(TFT),在显示面板的底边的非显示区域靠近GOA电路的输出端引出第一测试焊盘PAD1和第二测试焊盘PAD2,第一行扫描线G(1)和第二行扫描线G(2)分别与第一测试焊盘PAD1和第二测试焊盘PAD2连接,通过第一测试焊盘PAD1和第二测试焊盘PAD1进行测试。
其中,现有技术的做法有如下缺点:只能测量有限行数的扫描线,例如第一行扫描线和第二行扫描线上的栅极驱动信号,无法测量所有水平扫描线上的栅极驱动信号,其中,当中间级出现问题时,容易出现不良分析时的判断失误。
进一步,对于设置于显示面板中的数据线以及其它信号线,也具有同样的问题。
发明内容
本发明提供一种显示面板及其测试方法,以解决现有技术中无法完整地测试显示面板内的信号线(例如,扫描线、数据线等)的问题。
为解决上述技术问题,本发明采用的一个技术方案是:提供一种显示面板的测试方法,该显示面板包括基板以及设置于基板上的待测线路、第一引线线路和第二引线线路,其中第二引线线路与待测线路和第一引线线路中的一者电性连接,并与待测线路和第一引线线路中的另一者绝缘间隔设置,该测试方法包括:将第二引线线路与待测线路和第一引线线路中的另一者进行电性连接,以使得第一引线线路与待测线路进行电性连接;通过第一引线线路对待测线路或待测线路所连接的电路器件进行测试;在测试完成后,断开第二引线线路,进而断开待测线路与第一引线线路之间的电性连接。
其中,待测线路的数量为多条,并且每一待测线路分别对应设置至少一个第二引线线路,以使得能够通过同一条第一引线线路依次对多条待测线路或待测线路所连接的电路器件进行测试。
其中,第二引线线路与待测线路和第一引线线路中的另一者部分重叠设置且绝缘层进行间隔;将第二引线线路与待测线路和第一引线线路中的另一者进行电性连接的步骤包括:利用辐射束照射第二引线线路与待测线路和第一引线线路中的另一者的重叠区域,进而以熔接方式电性连接第二引线线路与待测线路和第一引线线路中的另一者;在测试完成后,断开第二引线线路,进而断开待测线路与第一引线线路之间的电性连接的步骤包括:利用辐射束照射第二引线线路的位于第二引线线路与待测线路的连接位置以及第二引线线路与第一引线线路的连接位置之间的中间区域,进而割断第二引线线路。
其中,第一引线线路的数量为多条且以分段方式设置于显示面板的显示区域的外围或者第一引线线路以闭合环绕方式设置于显示面板的显示区域的外围,待测线路为数据线或扫描线,电路器件为数据线连接的数据驱动电路或者与扫描线连接的扫描驱动电路。
其中,第二引线线路与第一引线线路电性连接,并与待测线路绝缘间隔设置。
为解决上述技术问题,本发明采用的另一个技术方案是:提供一种显示面板,该显示面板包括基板以及设置于基板上的待测线路、第一引线线路和第二引线线路,其中第二引线线路与待测线路和第一引线线路中的一者电性连接,并与待测线路和第一引线线路中的另一者绝缘间隔设置,且设置成允许在测试过程中进行电性连接,以使得第一引线线路与待测线路进行电性连接,进而通过第一引线线路对待测线路或待测线路所连接的电路器件进行测试。
其中,待测线路的数量为多条,并且每一待测线路分别对应设置至少一条第二引线线路,以使得能够通过同一条第一引线线路依次对多条待测线路或电路器件进行测试。
其中,第二引线线路与待测线路和第一引线线路中的另一者部分重叠设置且绝缘层进行间隔,其中第二引线线路与待测线路和第一引线线路中的另一者的重叠区域设置成允许利用辐射束进行熔接方式,第二引线线路与待测线路的连接位置和第二引线线路与第一引线线路的连接位置之间的中间区域允许利用辐射束进行切割。
其中,第一引线线路的数量为多条且以分段方式设置于显示面板的显示区域的外围,或者第一引线线路以闭合环绕方式设置于显示面板的显示区域的外围,待测线路为数据线或扫描线,电路器件为数据线连接的数据驱动电路或者与扫描线连接的扫描驱动电路。
其中,第二引线线路与第一引线线路电性连接,并与待测线路绝缘间隔设置。
本发明的有益效果是:区别于现有技术,本发明的显示面板及测试方法通过在基板上设置第一引线线路和第二引线线路,其中第二引线线路与待测线路和第一引线线路中的一者电性连接,并与待测线路和第一引线线路中的另一者绝缘间隔设置,且设置成允许在测试过程中进行电性连接,以使得第一引线线路与待测线路进行电性连接,进而通过第一引线线路对待测线路或待测线路所连接的电路器件进行测试。通过上述方式,本发明能够准确地、完整地测试显示面板内的所有信号线(例如,扫描线、数据线等),为显示面板的设计验证提供真实有效数据。
附图说明
图1是现有技术的显示面板的结构示意图;
图2是本发明实施例的显示面板的结构示意图;
图3是图2所示显示面板中SS区域的放大示意图;
图4是本发明实施例的显示面板的测试方法的流程图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅是本发明的一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
图2是本发明实施例的显示面板的结构示意图,图3是图2所示显示面板中SS区域的放大示意图。如图2和图3所示,显示面板包括基板11、设置在基板11上的待测线路12、第一引线线路13和第二引线线路14以及连接待测线路12的电路器件15。
其中,第二引线线路14与待测线路12和第一引线线路13中的一者电性连接,并与待测线路12和第一引线线路13中的另一者绝缘间隔设置,且设置成允许在测试过程中进行电性连接,以使得第一引线线路13与待测线路进行电性连接,进而通过第一引线线路13对待测线路12或待测线路12所连接的电路器件15进行测试。
在本实施例中,第二引线线路14与待测线路12电性连接,并与第一引线线路13绝缘间隔设置。
在本实施例中,第一引线线路13的数量为多条且以分段方式设置于显示面板的显示区域的外围。具体来说,第一引线线路13的数量为四条,分别为左右引线线段和上下引线线段。其中,左右引线线段用于测试扫描线,上下引线线段用于测试数据线。本领域的技术人员可以理解,图1所示的第一引线线路13的数量和位置,其仅为举例,本发明不以此为限。在其它实施例中,第一引线线路13也可以以闭合环绕方式设置于显示面板的显示区域的外围。
在本实施例中,待测线路12为多条扫描线,其具体包括第一行扫描线S(1)、第二行扫描线S(2)、第三行扫描线S(3)……、第N行扫描线S(n)。电路器件15设置在基板11的两侧,电路器件15为扫描驱动电路也即GOA电路,其中,两侧GOA电路中的一侧GOA电路控制奇数行的扫描线,两侧GOA电路中的另一侧GOA电路控制偶数行的扫描线。在其它实施例中,GOA电路也可以设置在基板11的同一侧。
优选地,为了方便测试扫描线,在显示面板的非显示区域例如OLB端引出至少一个测试焊盘16并与第一引线线路13电连接。具体来说,如图1所示,在显示面板的OLB端引出两个测试焊盘16,两个测试焊盘16与两侧GOA电路对应设置,第一引线线路13的左右两段引线线路分别与两个测试焊盘16对应连接。本领域的技术人员可以理解,图1所示的测试焊盘16的数量和位置,其仅为举例,本发明不以此为限。
同理,为了方便测试数据线,也可以在显示面板的非显示区域引出至少一个测试焊盘(未图示),该测试焊盘与第一引线线路13的上下两段引线线路对应连接。
在本实施例中,每一待测线路12也即每一扫描线分别对应设置至少一条第二引线线路14,以使得能够通过同一条第一引线线路13依次对多条待测线路12也即多条扫描线或对电路器件15进行测试。优选地,每一扫描线对应设置两条第二引线线路14,两条第二引线线路14分别靠近每一条扫描线的线路头端和尾端设置,从而可以测试扫描线的线路头端的栅极驱动信号以及输出至扫描线的线路尾端的栅极驱动信号的正确性,进而可以判断出扫描线中因RC延迟而出现的Mura现象。
在本实施例中,第二引线线路14与第一引线线路13部分重叠设置且绝缘层进行间隔,其中第二引线线路14与第一引线线路13的重叠区域AA设置成允许利用辐射束进行熔接方式,第二引线线路13与待测线路12的连接位置和第二引线线路14与第一引线线路13的连接位置之间的中间区域BB允许利用辐射束进行切割。
以第一行扫描线S(1)为例来说,第一行扫描线S(1)对应两条第二引线线路14,两条第二引线线路14分别设置在第一行扫描线S(1)的线路头端和尾端,两条第二引线线路14的一端与第一扫描线S(1)电连接,两条第二引线线路14的另一端与第一引线线路13部分重叠设置且绝缘层进行间隔。
具体来说,两条第二引线线路14的另一端分别与第一引线线路13的左右引线线路部分重叠设置,当需要测试第一行扫描线S(1)上的栅极驱动信号时,利用辐射束熔接第二引线线路14和第一引线线路13的重叠区域AA以使第二引线线路14和第一引线线路13电连通,进而可以通过两个测试焊盘16测试得到在第一行扫描线S(1)的线路头端和尾端处的栅极驱动信号,从而为显示面板的设计验证提供真实有效数据。
当第一行扫描线S(1)上的栅极驱动信号测试完毕后,利用辐射束切割第二引线线路13与待测线路12的连接位置和第二引线线路14与第一引线线路13的连接位置之间的中间区域BB,从而断开与第一行扫描线S(1)电连接的第二引线线路13与第一引线线路13之间的连接。
其中,第二行扫描线S(2)、第三行扫描线S(3)、……、第N行扫描线S(n)的测试与第一行扫描线S(1)的测试相类似,为简约起见,不再赘述。
通过上述方式,本实施例可实现对GOA电路不良产品的失效分析,提升分析效率,及时找到真因,推动改善,提升产品良率。
本领域的技术人员可以理解,在其它实施例中,也可以是第二引线线路14与第一引线线路13电性连接,并与待测线路12绝缘间隔设置。此时,第二引线线路14与待测线路12重叠设置且绝缘层进行间隔,其中第二引线线路14与待测线路12的重叠区域设置成允许利用辐射束进行熔接方式,第二引线线路14与待测线路12的连接位置和第二引线线路14与第一引线线路13的连接位置之间的中间区域允许利用辐射束进行切割。
本领域的技术人员可以理解,当待测线路12为多条数据线,电路器件15为与多条数据线连接的数据驱动电路时,通过第一引线线路13和第二引线线路14依次对多条数据线或数据驱动电路进行测试的过程与上述的通过第一引线线路13和第二引线线路14依次对多条扫描线或扫描驱动电路进行测试类似,为简约起见,在此不再详述。
图4是本发明实施例的显示面板的测试方法的流程图。其中,显示面板包括基板以及设置于基板上的待测线路、第一引线线路和第二引线线路,其中第二引线线路与待测线路和第一引线线路中的一者电性连接,并与待测线路和第一引线线路中的另一者绝缘间隔设置。如图4所示,该测试方法包括步骤:
步骤S101:将第二引线线路与待测线路和第一引线线路中的另一者进行电性连接,以使得第一引线线路与待测线路进行电性连接。
在步骤S101中,具体来说,当第二引线与待测电路电性连接,并与第一引线间隔设置时:将第二引线线路与第一引线电性连接,以使得第一引线线路与待测线路进行电连接。当第二引线线路与第一引线线路电性连接,并与待测线路绝缘间隔设置时:将第二引线与待测电路电性连接,以使得第一引线线路与待测线路进行电连接。
在本实施例中,第一引线线路的数量为多条且以分段方式设置于显示面板的显示区域的外围,待测线路为数据线或扫描线,电路器件为数据线连接的数据驱动电路或者与扫描线连接的扫描驱动电路。在其它实施例中,第一引线线路也可以以闭合环绕方式设置于显示面板的显示区域的外围。
在本实施例中,待测线路的数量为多条,并且每一待测线路分别对应设置至少一个第二引线线路,以使得能够通过同一条第一引线线路依次对多条待测线路或待测线路所连接的电路器件进行测试。
其中,当第二引线线路与待测线路和第一引线线路中的另一者部分重叠设置且绝缘层进行间隔时,将第二引线线路与待测线路和第一引线线路中的另一者进行电性连接的步骤包括:利用辐射束照射第二引线线路与待测线路和第一引线线路中的另一者的重叠区域,进而以熔接方式电性连接第二引线线路与待测线路和第一引线线路中的另一者。
步骤S102:通过第一引线线路对待测线路或待测线路所连接的电路器件进行测试。
在步骤S102中,举例来说,当待测线路为多条扫描线例如第一行扫描线、第二行扫描线、第三行扫描线……、第N行扫描线时,每一行扫描线对应至少一条第二引线线路,通过至少一条第二引线线路将第一引线线路与多条扫描线中对应该第二引线线路的一条扫描线进行电连接,通过第一引线线路完成对该扫描线的测试。
步骤S103:在测试完成后,断开第二引线线路,进而断开待测线路与第一引线线路之间的电性连接。
在步骤S103中,当第二引线线路与待测线路和第一引线线路中的另一者部分重叠设置且绝缘层进行间隔时,在测试完成后,断开第二引线线路,进而断开待测线路与第一引线线路之间的电性连接的步骤包括:利用辐射束照射第二引线线路的位于第二引线线路与待测线路的连接位置以及第二引线线路与第一引线线路的连接位置之间的中间区域,进而割断第二引线线路。
本领域的技术人员可以理解,举例来说,当待测线路为多条扫描线例如第一行扫描线、第二行扫描线、第三行扫描线……、第N行扫描线时,当需要完成所有扫描线的测试时,需要循环执行步骤S101~步骤S103,也就是说,每次仅有一条扫描线与第一引线线路连接。
本发明的有益效果是:区别于现有技术,本发明的显示面板及测试方法通过在基板上设置第一引线线路和第二引线线路,其中第二引线线路与待测线路和第一引线线路中的一者电性连接,并与待测线路和第一引线线路中的另一者绝缘间隔设置,且设置成允许在测试过程中进行电性连接,以使得第一引线线路与待测线路进行电性连接,进而通过第一引线线路对待测线路或待测线路所连接的电路器件进行测试。通过上述方式,本发明能够完整地测试显示面板内的所有信号线(例如,扫描线、数据线等),为显示面板的设计验证提供真实有效数据。
以上所述仅为本发明的实施方式,并非因此限制本发明的专利范围,凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换,或直接或间接运用在其他相关的技术领域,均同理包括在本发明的专利保护范围内。
Claims (10)
1.一种显示面板的测试方法,其特征在于,所述显示面板包括基板以及设置于所述基板上的待测线路、第一引线线路和第二引线线路,其中所述第二引线线路与所述待测线路和所述第一引线线路中的一者电性连接,并与所述待测线路和所述第一引线线路中的另一者绝缘间隔设置,所述测试方法包括:
将所述第二引线线路与所述待测线路和所述第一引线线路中的另一者进行电性连接,以使得所述第一引线线路与所述待测线路进行电性连接;
通过所述第一引线线路对所述待测线路或所述待测线路所连接的电路器件进行测试;
在测试完成后,断开第二引线线路,进而断开所述待测线路与所述第一引线线路之间的电性连接。
2.根据权利要求1所述的测试方法,其特征在于,所述待测线路的数量为多条,并且每一所述待测线路分别对应设置至少一个所述第二引线线路,以使得能够通过同一条所述第一引线线路依次对多条所述待测线路或所述待测线路所连接的电路器件进行测试。
3.根据权利要求1所述的测试方法,其特征在于,所述第二引线线路与所述待测线路和所述第一引线线路中的另一者部分重叠设置且绝缘层进行间隔;
所述将所述第二引线线路与所述待测线路和所述第一引线线路中的另一者进行电性连接的步骤包括:
利用辐射束照射所述第二引线线路与所述待测线路和所述第一引线线路中的另一者的重叠区域,进而以熔接方式电性连接所述第二引线线路与所述待测线路和所述第一引线线路中的另一者;
所述在测试完成后,断开第二引线线路,进而断开所述待测线路与所述第一引线线路之间的电性连接的步骤包括:
利用辐射束照射所述第二引线线路的位于所述第二引线线路与所述待测线路的连接位置以及所述第二引线线路与所述第一引线线路的连接位置之间的中间区域,进而割断所述第二引线线路。
4.根据权利要求1所述的测试方法,其特征在于,所述第一引线线路的数量为多条且以分段方式设置于所述显示面板的显示区域的外围或者所述第一引线线路以闭合环绕方式设置于所述显示面板的显示区域的外围,所述待测线路为数据线或扫描线,所述电路器件为所述数据线连接的数据驱动电路或者与所述扫描线连接的扫描驱动电路。
5.根据权利要求1所述的测试方法,其特征在于,所述第二引线线路与所述第一引线线路电性连接,并与所述待测线路绝缘间隔设置。
6.一种显示面板,其特征在于,所述显示面板包括基板以及设置于所述基板上的待测线路、第一引线线路和第二引线线路,其中所述第二引线线路与所述待测线路和所述第一引线线路中的一者电性连接,并与所述待测线路和所述第一引线线路中的另一者绝缘间隔设置,且设置成允许在测试过程中进行电性连接,以使得所述第一引线线路与所述待测线路进行电性连接,进而通过所述第一引线线路对所述待测线路或所述待测线路所连接的电路器件进行测试。
7.根据权利要求6所述的显示面板,其特征在于,所述待测线路的数量为多条,并且每一所述待测线路分别对应设置至少一条所述第二引线线路,以使得能够通过同一条所述第一引线线路依次对多条所述待测线路或所述电路器件进行测试。
8.根据权利要求6所述的显示面板,其特征在于,所述第二引线线路与所述待测线路和所述第一引线线路中的另一者部分重叠设置且绝缘层进行间隔,其中所述第二引线线路与所述待测线路和所述第一引线线路中的另一者的重叠区域设置成允许利用辐射束进行熔接方式,所述第二引线线路与所述待测线路的连接位置和所述第二引线线路与所述第一引线线路的连接位置之间的中间区域允许利用辐射束进行切割。
9.根据权利要求6所述的显示面板,其特征在于,所述第一引线线路的数量为多条且以分段方式设置于所述显示面板的显示区域的外围,或者所述第一引线线路以闭合环绕方式设置于所述显示面板的显示区域的外围,所述待测线路为数据线或扫描线,所述电路器件为所述数据线连接的数据驱动电路或者与所述扫描线连接的扫描驱动电路。
10.根据权利要求6所述的显示面板,其特征在于,所述第二引线线路与所述第一引线线路电性连接,并与所述待测线路绝缘间隔设置。
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---|---|---|---|
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---|---|
CN (1) | CN106328029A (zh) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN106782249A (zh) * | 2017-01-13 | 2017-05-31 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种显示面板、其电学检测方法及显示装置 |
CN107025867A (zh) * | 2017-04-07 | 2017-08-08 | 昆山龙腾光电有限公司 | 液晶显示装置及其测试方法 |
CN108983461A (zh) * | 2018-08-22 | 2018-12-11 | 惠科股份有限公司 | 阵列基板及液晶模组 |
CN109119010A (zh) * | 2018-08-03 | 2019-01-01 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 阵列基板行驱动电路的检测方法和显示面板 |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5608558A (en) * | 1994-04-26 | 1997-03-04 | Sharp Kabushiki Kaisha | Defect detection method and apparatus for active matrix substrate or active matrix liquid crystal panel and defect repairing method thereof |
US7956976B1 (en) * | 2002-09-10 | 2011-06-07 | Hitachi Displays, Ltd. | Liquid crystal display device |
CN102621721A (zh) * | 2012-04-10 | 2012-08-01 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 液晶面板、液晶模组及厘清其画面不良的原因的方法 |
CN102636928A (zh) * | 2012-04-16 | 2012-08-15 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 液晶显示面板配线区线路结构及液晶显示面板测试方法 |
CN102819126A (zh) * | 2012-08-06 | 2012-12-12 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 测试装置及测试方法 |
CN102831852A (zh) * | 2012-09-12 | 2012-12-19 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 一种tft-lcd阵列基板及其测试方法 |
EP2990863A1 (en) * | 2014-08-29 | 2016-03-02 | LG Display Co., Ltd. | Display device and method for manufacturing the same |
-
2016
- 2016-10-13 CN CN201610900906.8A patent/CN106328029A/zh active Pending
Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5608558A (en) * | 1994-04-26 | 1997-03-04 | Sharp Kabushiki Kaisha | Defect detection method and apparatus for active matrix substrate or active matrix liquid crystal panel and defect repairing method thereof |
US7956976B1 (en) * | 2002-09-10 | 2011-06-07 | Hitachi Displays, Ltd. | Liquid crystal display device |
CN102621721A (zh) * | 2012-04-10 | 2012-08-01 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 液晶面板、液晶模组及厘清其画面不良的原因的方法 |
CN102636928A (zh) * | 2012-04-16 | 2012-08-15 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 液晶显示面板配线区线路结构及液晶显示面板测试方法 |
CN102819126A (zh) * | 2012-08-06 | 2012-12-12 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 测试装置及测试方法 |
CN102831852A (zh) * | 2012-09-12 | 2012-12-19 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 一种tft-lcd阵列基板及其测试方法 |
EP2990863A1 (en) * | 2014-08-29 | 2016-03-02 | LG Display Co., Ltd. | Display device and method for manufacturing the same |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN106782249A (zh) * | 2017-01-13 | 2017-05-31 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种显示面板、其电学检测方法及显示装置 |
CN107025867A (zh) * | 2017-04-07 | 2017-08-08 | 昆山龙腾光电有限公司 | 液晶显示装置及其测试方法 |
CN107025867B (zh) * | 2017-04-07 | 2020-08-04 | 昆山龙腾光电股份有限公司 | 液晶显示装置及其测试方法 |
CN109119010A (zh) * | 2018-08-03 | 2019-01-01 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 阵列基板行驱动电路的检测方法和显示面板 |
CN108983461A (zh) * | 2018-08-22 | 2018-12-11 | 惠科股份有限公司 | 阵列基板及液晶模组 |
CN108983461B (zh) * | 2018-08-22 | 2021-04-27 | 惠科股份有限公司 | 阵列基板及液晶模组 |
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