CN101216643A - 液晶显示装置阵列基板、其修补方法及液晶显示装置 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种液晶显示装置阵列基板，包括：数据线；扫描线，设置成与数据线交叉；检测线组件，设置在阵列基板中的显示区域外围，检测线组件中至少一部分用于对阵列基板进行检测；以及修补线组件，设置在显示区域外围，用于对数据线中有缺陷数据线的缺陷进行修补。其中，检测线组件设置成：在未进行修补的时候，检测线组件与修补线组件电隔离；在进行修补的时候，检测线组件与修补线组件以及有缺陷数据线电连接。本发明还公开了该液晶显示装置阵列基板的修补方法及使用该阵列基板的液晶显示装置。根据本发明，可以将检测线组件用作修补线路的一部分来实现数据线的修补，因此可以显著减小非显示区域的面积。

Description

液晶显示装置阵列基板、其修补方法及液晶显示装置
技术领域
本发明涉及一种液晶显示装置阵列基板及其修补方法，特别涉及一种具有修补线路结构的液晶显示装置阵列基板及其修补方法，还涉及具有该阵列基板的液晶显示装置。
背景技术
液晶显示装置具有轻、薄、低耗电等优点，因此被广泛应用于笔记本计算机、移动电话及个人数字助理等现代化信息设备。
图1所示为现有的液晶显示装置中阵列基板的示意图，液晶显示装置的阵列基板110包括信号引入区域111和显示区域112。数据线焊盘121和扫描线焊盘131形成于信号引入区域111中，多条数据线122和扫描线132分别连接到数据线焊盘121和扫描线焊盘131，多条数据线与多条扫描线的交叉区域限定了多个像素P。外部数据信号和扫描信号经数据线焊盘121、扫描线焊盘131端输入，然后经由数据线122、扫描线132传输到显示区域112的各个像素P中。
在现有的液晶显示装置阵列基板的制程中，数据线可能出现断开等缺陷。如图1所示，数据线122在显示区域112的D1位置断开。在此情况下，数据信号无法传送到断开处D1下方的数据线部分，由此形成了线缺陷。
为了修补线缺陷，美国专利No.6,111,558公开了一种修补结构。在该结构中，如本申请的附图2所示，数据线122包括三个部分，即位于显示区域外与数据线焊盘121相连的前端数据线部分122a、位于显示区域中的显示区域数据线部分122b和位于显示区域外远离数据线焊盘121那端的末端数据线部分122c。同时，在阵列基板110的显示区域112外围设有修补线223，修补线223在显示区域外围的几乎整个上方、右侧和下方方向上延伸。在图2所示的阵列基板俯视图中，该修补线223与前端数据线部分122a及末端数据线部分122c垂直交叉排列。但在与阵列基板表面垂直的方向上，修补线223与数据线122分别位于不同的层中且二者之间隔有绝缘层，因此在正常情况下两者互不导通。
当出现如图2所示的断开处D2时，用激光熔融的方式使前端数据线部分122a与修补线223在它们的交叉位置A0处导通，并使末端数据线部分122c与修补线223在它们的交叉位置B0处导通。由此，该数据线上的数据信号就可以从数据线焊盘121通过前端数据线部分122a经A0点传送到修补线223，再经B0点传送到断开处D2下方部分的数据线上，从而使线缺陷得到修补。
另外，图3示出了一种现有的对阵列基板进行检测所用的线路示意图。如图3所示，检测线路15设置于显示区域112的外围，其包括测试数据线151和测试扫描线152。测试数据线151用于传输测试数据信号，并包括DB、DG和DR三条测试数据线。测试扫描线152用于传输测试扫描信号，并包括GO和GE两条测试扫描线。检测线路15通过薄膜晶体管(TFT)14将测试信号传输到待测数据线122上。每个薄膜晶体管14的源极与测试数据线151之一电连接，漏极与相应的待测数据线122电连接，而栅极与测试扫描线152之一电连接。在图3所示具体情况中，从左侧算起的奇数列和偶数列薄膜晶体管14的栅极分别连接到测试扫描线152中的GO和GE线；同时，从左侧起第3n-2、3n-1和3n(n＝1，2，3……)列薄膜晶体管14的源极对应地分别连接到测试数据线151中的DB、DG和DR线。
但是，在例如图2和图3所示的现有技术中，修补线路223与检测线路15分别独立地布置于显示区域112的外围，因此液晶显示面板中需要有较大面积的区域用于此类布线而不能用于显示，不利于液晶显示面板的有效利用。
发明内容
考虑到上述问题，本发明在第一方面提供了一种液晶显示装置的阵列基板。该液晶显示装置阵列基板包括：数据线；扫描线，设置成与数据线交叉；检测线组件，设置在阵列基板中的显示区域外围，检测线组件中至少一部分用于对阵列基板进行检测；以及修补线组件，设置在显示区域外围，用于对数据线中有缺陷数据线的缺陷进行修补。其中，检测线组件设置成：在未进行修补的时候，检测线组件与修补线组件电隔离；在进行修补的时候，检测线组件与修补线组件以及有缺陷数据线电连接。
本发明在第二个方面提供了一种对液晶显示装置阵列基板中的缺陷进行修补的方法，其中，阵列基板包括：数据线；扫描线，设置成与数据线交叉；检测线组件，设置在阵列基板中的显示区域外围，检测线组件中至少一部分用于对阵列基板进行检测；以及修补线组件，设置在显示区域外围，用于对数据线中有缺陷数据线的缺陷进行修补；并且，检测线组件与修补线组件处于电隔离关系。该方法包括使检测线组件与修补线组件以及有缺陷数据线电连接的步骤。
本发明在第三个方面提供了一种液晶显示装置，该装置包括阵列基板和印刷电路板，该阵列基板包括：数据线；扫描线，设置成与数据线交叉；检测线组件，设置在阵列基板中的显示区域外围，检测线组件中至少一部分用于对阵列基板进行检测；以及修补线组件，设置在显示区域外围，用于对数据线中有缺陷数据线的缺陷进行修补。其中，检测线组件设置成：在未进行修补的时候，检测线组件与修补线组件电隔离；在进行修补的时候，检测线组件与修补线组件以及有缺陷数据线电连接。
根据本发明，可以将检测线组件用作修补线路的一部分来实现数据线的修补，因此可以显著减小非显示区域的面积。同时，在本发明中，检测线组件与修补线组件在非修补状态时不处于电连接状态，因此在未用于修补时并不影响检测线组件的正常功能。
根据本发明的一种实施例，还可以在测试数据线上并联测试数据辅助线。这样可以使测试数据线的电阻显著减小，从而降低信号延迟的影响；用测试数据辅助线来进行数据线的修补还可以避免寄生电容的产生，并可以对测试数据线本身的断路短路缺陷进行修补。
附图说明
图1为现有技术的液晶显示装置阵列基板示意图。
图2为现有技术的修补线路结构示意图。
图3为现有技术的阵列基板检测用的线路。
图4A为本发明第一实施例的液晶显示装置阵列基板修补线路结构示意图。
图4B为图4A中X1区域薄膜晶体管更详细的结构图。
图4C为图4A中X2区域的更详细的结构图。
图5A为本发明第二实施例的液晶显示装置阵列基板修补线路结构示意图。
图5B为图5A中Y1区域薄膜晶体管更详细的结构图。
图5C为图5A中Y2区域更详细的结构图。
图5D为图5A中Y3区域更详细的结构图。
具体实施方式
以下将参照附图详细说明本发明的示例性实施方式。
图4A为根据本发明第一实施例的液晶显示装置阵列基板的修补线路结构的俯视示意图。液晶显示装置的阵列基板410包括显示区域412和位于显示区域412外围的信号引入区域411，多个数据线焊盘421形成于信号引入区域411中并分别与各条数据线422电连接。每条数据线422包括三个部分，即位于显示区域412外并与相应的数据线焊盘421电连接的前端数据线部分422a、位于显示区域412中的显示区域数据线部分422b和位于显示区域412外远离数据线焊盘421那端的末端数据线部分422c。从数据线焊盘421输入的数据信号按照前端数据线部分422a、显示区域数据线部分422b和末端数据线部分422c这样的顺序在整条数据线422上传输。为清楚起见，图4A中未示出与数据线422交叉设置的各条扫描线以及扫描线焊盘。
在根据本发明的第一实施例中，修补线423位于显示区域412外围，在图4A所示情况下位于显示区域412的上方和右侧，但几乎不延伸到显示区域412的下方。如图4A的俯视示意图所示，沿垂直于阵列基板410表面的方向看去，修补线423与前端数据线部分422a在位置A1处交叉。另外，在垂直于阵列基板410表面的方向上，修补线423与前端数据线部分422a位于不同层中且二者之间隔有绝缘层，因此在未利用修补线423进行修补的情况下两者是互不导通的。虽然在图4A所示的俯视示意中修补线423与前端数据线部分422a以垂直方式交叉排列，但本发明并不限于这种垂直排列方式，只要在俯视图中二者之间存在交叉位置即可。
如图4A所示，检测线路45也设置于显示区域412的外围，在本实施例中位于显示区域412的下方。检测线路45包括测试数据线451和测试扫描线452。测试数据线451用于传输测试数据信号，在本实施例中包括DB、DG和DR三条测试数据线，分别用于传输针对蓝色(B)、绿色(G)和红色(R)的测试数据信号；测试扫描线452用于传输测试扫描信号，在本实施例中包括GO和GE两条测试扫描线，分别用于传输针对奇数列和偶数列的测试扫描信号。检测线路45通过薄膜晶体管44将测试信号传输到各条数据线422上。
在图4A所示的第一实施例中，检测线路45与薄膜晶体管44的连接方式是：从左侧算起的奇数列和偶数列薄膜晶体管44的栅极分别连接到测试扫描线452中的GO和GE线；同时，从左侧起第3n-2、3n-1和3n(n＝1，2，3……)列薄膜晶体管的源极分别相应地连接到测试数据线451中的DB、DG和DR线。需说明的是，图4A中的连接方式只是一种可用的示例，亦可采用其他连接方式，例如可以只设置一条测试扫描线，或者设置更多的测试数据线等等。优选地，检测线路45和修补线423都可以部分或者全部设置在框胶密封区域中，由此可以减小液晶显示面板中不用于显示的区域面积。这里，框胶密封区域是阵列基板中用于与彩色滤光片基板粘合从而形成液晶显示装置的区域。
图4B示出了图4A中X1区域的薄膜晶体管44更详细的结构图。如图4B所示，薄膜晶体管44具有源极442、漏极441以及栅极443，其中源极442连接到测试数据线分支444，漏极441连接到相应数据线422的末端数据线部分422c，栅极443连接到测试扫描线452(对于图4A所示的情况，是连接到测试扫描线452中的GO线)。上述测试数据线分支444连接到测试数据线451(对于图4A所示的具体情况，是连接到测试数据线451中的DR线)。
图4C示出了图4A的X2区域中，测试数据线451与修补线423之间关系的更详细的结构图。沿垂直于阵列基板表面的方向看去，如图4C所示，测试数据线451(对于图4A所示的情况，是测试数据线451中的DR线)与修补线423二者的末端至少部分重叠，即二者之间有重叠区域；但测试数据线451与修补线423在该方向上位于不同层且二者之间隔有绝缘层，因此在未进行修补时，测试数据线451与修补线423二者的末端处于电绝缘状态。
下面将参照图4A-4C，对根据本发明第一实施例对有缺陷的数据线进行修补的方法进行说明。在根据本发明第一实施例的液晶显示装置阵列基板410中，例如当数据线422在图4A中的D4处产生断开缺陷时，可以通过下述方式进行修补。
(1)使修补线423与有缺陷数据线422的前端数据线部分422a导通。例如，可以通过激光熔融的方式使修补线423与该数据线422的前端数据线部分422a在二者的交叉位置A1处导通。
(2)使测试数据线451与修补线423的末端导通。如图4C所示，可以通过例如激光熔融的方式，使图4A中X2区域的测试数据线451(在图4A所示情况下为DR线)与修补线423二者的末端在重叠位置A4处导通。
(3)对薄膜晶体管44进行处理，使其源极442与漏极441直接连通并切断栅极443与测试扫描线452之间的连接。例如，对于图4A中X1区域的薄膜晶体管44，如图4B所示，用例如激光熔融的方式分别使源极442与栅极443、漏极441与栅极443在它们各自的重叠位置A2、A3处导通，并例如用激光在C2位置处将栅极443与测试扫描线452的电连接切断，使得栅极443成为孤岛结构而不与测试扫描线452电连接。这样，从测试数据线分支444传递到栅极443的数据信号(经修补数据信号)不会传送到测试扫描线452上而影响显示装置正常工作。
经过上述修补，有缺陷数据线422上的数据信号就可以经由图4A中虚线43所示的路径传输到该数据线422中断开处D4下方的部分。具体的传送路径为：从前端数据线部分422a经交叉点A1传送至修补线423，接着经交叉点A4传送至测试数据线451(在图4A所示情况下为DR线)并经过与测试数据线451相连的测试数据线分支444传送到薄膜晶体管44的源极442，然后经重叠位置A2传送至栅极443，再经重叠位置A3传送至漏极441并传送至与漏极441相连的末端数据线部分442c，从而最终传送到显示区域数据线部分442b中断开处D4下方的部分。
以修补线423与前端数据线部分422a的交叉点A1为界，修补线423可以分为两个部分，即，在进行了修补的情况下，数据信号向有缺陷数据线422传送时所经过的部分(称为第一部分，例如图4A中位于交叉点A1右侧的部分)和数据信号向有缺陷数据线422传送时不经过的部分(称为第二部分，例如图4A中位于交叉点A1左侧的部分)。优选地，可以在所述第二部分中任一位置处将修补线423断开，更优选地使该断开位置比较靠近交叉点A1。例如在图4A所示的情况下，可以例如用激光将修补线423在C1位置切断。通过这种方式，可以减少修补线423与没有发生断开缺陷的那些前端数据线部分422a之间的寄生电容，改善信号质量。
在根据本发明的第一实施例中，检测线路45作为检测线组件，设置在阵列基板410的显示区域412外围，并用于对阵列基板410进行检测。修补线423作为修补线组件，设置在显示区域412外围，用于对数据线422中有缺陷数据线的缺陷进行修补。
在根据本发明的第一实施例中，由于在显示区域412下方不设置单独的修补线路，而利用了检测线路45作为修补后信号传送路径的一部分，来对有缺陷数据线422实现修补，因此可以显著地减小阵列基板410中非显示区域的面积，提高面板的利用率。另外，在根据本发明的第一实施例中，在未用修补线423进行修补时，检测线路45与修补线423不处于电连接状态，因此不会影响检测线路45的正常功能。还应当明白，第一实施例中的检测线路45与修补线423只是示意性表示而非限制性的表示。
下面将参考图5A-图5D，对本发明的第二实施例进行说明。在第二实施例中，与第一实施例相同或相似的部分用相同或相似的标号来表示，并不再进行详细说明。
根据本发明第一实施例的结构中，如果检测线路45本身在制程中发生短路或者断路缺陷，就难以进行修补，因此也就不能完成测试和数据线修补这些功能。同时，在用上述检测线路45进行测试时，由于检测线路45本身具有较大电阻，所以本身的信号延迟(RC delay)也可能较严重。
图5A为根据本发明第二实施例的液晶显示装置阵列基板的修补线路结构的俯视示意图。与图4A所示情况类似，液晶显示装置的阵列基板410包括显示区域412和位于显示区域412外围的信号引入区域411，多个数据线焊盘421形成于信号引入区域411中并分别与各条数据线422电连接。每条数据线422包括三个部分，即位于显示区域412外并与相应的数据线焊盘421电连接的前端数据线部分422a、位于显示区域412中的显示区域数据线部分422b和位于显示区域412外远离数据线焊盘421那端的末端数据线部分422c。从数据线焊盘421输入的数据信号按照前端数据线部分422a、显示区域数据线部分422b和末端数据线部分422c这样的顺序在整条数据线422上传输。为清楚起见，图5A中未示出与数据线422交叉设置的各条扫描线以及扫描线焊盘。
根据本发明第二实施例，修补线路包括数据连接线520、连接部件547(见图5D)、修补连接线521、位于印刷电路板(PCB)510上的公共修补线522、以及位于显示区域412外围的数据修补线523。其中，数据修补线523在显示区域412的右侧延伸，而几乎不延伸到显示区域412的下方。为方便表述，此处将不对位于印刷电路板510上的公共修补线522与阵列基板410上的数据修补线523之间的连接方式进行详细说明，但是本领域的技术人员应该知道，可以使用芯片封装薄膜(COF)、载带封装薄膜(TCP)等方式进行连接。沿垂直于阵列基板410表面的方向看去，数据连接线520与前端数据线部分422a以交叉方式排列，但二者在垂直于阵列基板410表面的方向上位于不同层中，且二者之间隔有绝缘层，因此在未利用修补线路进行修补的情况下两者是互不导通的。虽然在图5A所示的俯视示意中数据连接线520与前端数据线部分422a以垂直方式交叉排列，但本发明并不限于这种垂直排列方式，只要在俯视图中二者之间存在交叉位置即可。
如图5A所示，检测线路55设置于显示区域412的外围，并包括测试数据线551、测试扫描线552和测试数据辅助线553。测试数据线551用于传输测试数据信号，在本实施例中包括DB0、DG0和DR0三条测试数据线。测试扫描线552用于传输扫描测试信号，在本实施例中包括GO0和GE0两条测试扫描线。在本实施例中，测试数据辅助线553包括DB1、DG1和DR1三条线。由图5A可见，测试数据线DB0的左右两端与测试数据辅助线DB1的左右两端是分别相连的，而测试数据线DG0与测试数据辅助线DG1、测试数据线DR0与测试数据辅助线DR1之间也分别具有类似的关系。即，这些测试数据辅助线DB1、DG1和DR1分别与相应的测试数据线DB0、DG0和DR0处于并联关系。检测线路55通过薄膜晶体管44将数据测试信号传输到数据线422上。
如图5A所示，为了更有效地进行数据测试，检测线路55与薄膜晶体管44的连接方式是：从左侧算起奇数列和偶数列薄膜晶体管的栅极分别连接测试扫描线552中的GO0和GE0线，同时，从左侧起的第3n-2、3n-1和3n(n＝1，2，3……)列薄膜晶体管的源极分别相应连接测试数据线551中的DB0、DG0和DR0线。需说明的是，图5A中只是一种示意表示，亦可采用其他连接方式，如只设置一条测试扫描线，或者设置更多测试数据线等等。优选地，检测线路55和数据修补线523都可以全部或者部分地设置在框胶密封区域中，从而可以减小液晶显示面板中不用于显示的区域面积。
图5B示出了图5A中Y1区域的更详细的结构图，该区域主要包括薄膜晶体管44和导体制成的连接部件545。如图5B所示，薄膜晶体管44具有源极442、漏极441以及栅极443，其中源极442连接测试数据线分支444，漏极441连接相应数据线422中的末端数据线部分422c，栅极443连接测试扫描线552(在图5A所示的具体情况下，连接到测试扫描线552中的GO0线)。上述测试数据线分支444连接到测试数据线551(在图5A所示的具体情况下，连接到测试数据线551中的DR0线)。同时，沿着垂直于阵列基板表面的方向看去，测试数据辅助线分支544与连接部件545在位置A6处有重叠区域，但两者在垂直于阵列基板表面的方向上位于不同层中并且二者之间隔着绝缘层；末端数据线部分422c与连接部件545在位置A7处也有重叠区域，且二者在垂直于阵列基板表面的方向上位于不同层，二者之间隔着绝缘层。上述测试数据辅助线分支544连接到测试数据辅助线553(在图5A所示的情况下，连接到测试数据辅助线553中的DR1线)。在未利用修补线路进行修补的情况下，测试数据辅助线分支544、连接部件545以及末端数据线部分422c这三者中任何两者之间彼此都不导通。
图5C示出了图5A中Y2区域的更详细结构图。沿垂直于阵列基板410表面的方向看去，如图5C所示，测试数据辅助线553(对于图5A所示情况，为测试数据辅助线553中的DR1线)与导体制成的连接部件546在位置A8处有重叠区域，并在垂直于阵列基板表面的方向上位于不同层且二者之间隔着绝缘层。另外，沿垂直于阵列基板410表面的方向看去，数据修补线523末端也与连接部件546在位置A9处有重叠区域，并在该方向上位于不同层且二者之间隔着绝缘层。因此在未利用修补线路进行修补的情况下，测试数据辅助线553、连接部件546以及数据修补线523这三者中任何两者之间彼此都不导通。
图5D示出了图5A中Y3区域的结构放大图。沿垂直于阵列基板410表面的方向看去，如图5D所示，数据连接线520与导体制成的连接部件547在位置A11处有重叠区域，并在垂直于阵列基板表面的方向上位于不同层且二者之间隔着绝缘层。另外，沿垂直于阵列基板410表面的方向看去，修补连接线521亦与连接部件54也在位置A10处有重叠区域，并在该方向上位于不同层且二者之间隔着绝缘层。因此在未利用修补线路进行修补的情况下，数据连接线520、连接部件547以及修补连接线521这三者中任何两者之间彼此都不导通。
下面将参照图5A-5D，对根据本发明第二实施例对数据线进行修补的方法进行说明。在根据本发明第二实施例的液晶显示装置阵列基板410中，例如当数据线422在图5A中的D5处发生断开缺陷时，可以通过下述方式进行修补。
(1)使数据连接线520与有缺陷数据线422的前端数据线部分422a导通。例如，可以通过激光熔融的方式使数据连接线520与该数据线422的前端数据线部分422a在二者的交叉位置A5处导通。
(2)使数据连接线520与修补连接线521导通。例如，如图5D所示，可以利用激光熔融的方式，使数据连接线520与连接部件547在位置A11处的重叠区域导通，并使修补连接线521与连接部件547在位置A10处的重叠区域导通，从而实现数据连接线520与修补连接线521之间的导通。
(3)使测试数据线551与数据修补线523导通。如图5C所示，例如，可以通过例如激光熔融的方式，使图5A中Y2区域的测试数据辅助线553(在图5A所示情况下为DR1线)与连接部件546在位置A8处的重叠区域导通，并使数据修补线523与连接部件546在位置A9处的重叠区域导通。
(4)对图5A中的Y1区域进行处理，使有缺陷数据线422所对应的测试数据辅助线分支544与该数据线422的末端数据线部分422c导通，并使修补所用测试数据辅助线553(在图5A所示情况下为DR1线)和与其相对应的测试数据线551(在图5A所示情况下为DR0线)之间的连接切断。如图5A所示，当用测试数据辅助线553中的DR1线作为修补线路时，用例如激光熔融的方式分别使测试数据辅助线分支544与连接部件545在位置A6处的重叠区域导通，并使末端数据线部分422c与连接部件545在位置A7处的重叠区域导通(见图5B)；并利用例如激光在C4、C5位置切断DR1线与DR0线的连接。
经过上述修补，有缺陷数据线422上的数据信号就可以经由虚线53所示的路径传输到该数据线422中位于断开处D5下方的部分。具体的传送路径为：从前端数据线部分422a经交叉点A5传送至数据连接线520，接着经过交叉点A11传送至连接部件547，再经交叉点A12传送至修补连接线521，然后经过PCB上的公共修补线522传送至数据修补线523，并经过交叉点A9传送至连接部件546，然后经交叉点A8传送至测试数据辅助线553中的DR1线并传送至测试数据辅助线分支544，然后经交叉点A6传送至连接部件545，经交叉点A7传送至末端数据线部分422c并到达显示区域数据线部分442b中处于断开处D4下方的部分。
与第一实施例类似，以数据连接线520与前端数据线部分422a的交叉点A5为界，前端数据线520可以分为两个部分，即，在进行了修补的情况下，数据信号向有缺陷数据线422传送时所经过的部分(称为第一部分，例如图5A中位于交叉点A5右侧的部分)和数据信号向有缺陷数据线422传送时不经过的部分(称为第二部分，例如图5A中位于交叉点A5左侧的部分)。优选地，可以在所述第二部分的某一位置(优选为较靠近交叉点A5的位置)处将数据连接线520断开。例如在图5A所示的情况下，可以例如用激光将数据连接线520在C3位置处切断。与第一实施例类似，这样可以进一步减小修补线路与没有发生断开缺陷的那些前端数据线部分之间的寄生电容。
在根据本发明的第二实施例中，检测线路55作为检测线组件，设置在阵列基板410的显示区域412外围，并用于对阵列基板410进行检测。而修补线路(如上所述包括数据连接线520、连接部件547、修补连接线521、公共修补线522、以及数据修补线523等)作为修补线组件，设置在显示区域412外围，用于对数据线422中有缺陷数据线的缺陷进行修补。
在根据本发明的第二实施例中，由于在显示区域412下方不设置单独的修补线路，而利用检测线路55作为修补后信号传送路径的一部分，来实现数据线的修补，因此可以显著地减小非显示区域的面积。同时，在第二实施例中，由于将测试数据辅助线553与测试数据线551并联，使得测试数据线的电阻显著减小，从而可以降低信号延迟的影响。此外，数据信号传递时经过的部分修补线路(例如上述公共修补线522)被设在阵列基板外部的PCB板上，因而可以采用电阻率很低的材料(例如铜等等)，从而可以进一步减小数据信号传递路径整体的电阻，并进一步减小信号延迟。
此外，根据本发明的第二实施例，在对有缺陷数据线422进行了修补的情况下，数据信号经过测试数据辅助线553传送时不会传送到未用于修补的其他薄膜晶体管44的源极，所以也不会在这些源极及与之对应的TFT栅极之间形成寄生电容，不会因此对数据信号的传输造成不利影响。另外，根据本发明第二实施例的修补线路结构还可以用来对测试数据线本身的断路、短路缺陷进行修补。
在根据本发明的第二实施例中，检测线路55与数据修补线523在未进行修补时不处于电连接状态，因此在未用于修补时并不影响检测线路55的正常功能。同时，在根据本发明的第二实施例中，检测线路与修补线路的结构及其连接方式只是示意性表示而非限制性的表示。
本领域技术人员可以理解，对于上述各种实施方式，可以有多种改变形式。
例如，对于第二实施例，公共修补线522可以不设在单独的PCB板上而是直接设在阵列基板上；测试数据辅助线553、数据修补线523等也可以设在PCB板上而不直接设在阵列基板上，等等。
又例如，对于第二实施例，可以不设置连接部件546而将测试数据辅助线553与数据修补线523直接连接，并在进行修补的时候相应地略去第二实施例中的步骤(3)。在此情况下，数据修补线523实际上成为测试数据辅助线553的一部分。在这种改变形式中，本发明的检测线组件除了包括测试数据线551、测试扫描线552和测试数据辅助线553(这些部分用于对阵列基板进行检测)之外，还包括对于第二实施例而言属于修补线组件的修补连接线521、公共修补线522、数据修补线523。而修补线组件包括数据连接线520。在这种改变形式中，通过连接部件547来改变检测线组件与修补线组件的电隔离和电连接。
虽然上述说明针对的是对数据线上的缺陷进行修补，但本发明也适用于对扫描线上的缺陷进行修补。并且，本申请中所述“上方”、“下方”、“左侧”和“右侧”是对于所描述的具体实施例而言的，本领域技术人员容易理解，这种位置关系可以根据实际情况而改变。另外，本发明对线缺陷进行修补的方法中，各个步骤的顺序不受特殊限制，可以根据工艺方面或经济方面的考虑等等来对设置修补方法中各个步骤的顺序，可以同时完成修补方法中的多个步骤或将其中的一个步骤分散在不同时间完成的几个工序中。因此，本发明的保护范围由权利要求而非上述各种具体实施形式来限定。

Claims (27)

1.一种液晶显示装置阵列基板，包括：
数据线；
扫描线，设置成与所述数据线交叉；
检测线组件，设置在所述阵列基板中的显示区域外围，所述检测线组件中至少一部分用于对所述阵列基板进行检测；以及
修补线组件，设置在所述显示区域外围，用于对所述数据线中有缺陷数据线的缺陷进行修补，
所述检测线组件设置成：在未进行所述修补的时候，所述检测线组件与所述修补线组件电隔离；在进行所述修补的时候，所述检测线组件与所述修补线组件以及所述有缺陷数据线电连接。
2.如权利要求1所述的液晶显示装置阵列基板，其特征在于：所述检测线组件包括用于传输测试数据信号的测试数据线和用于传输测试扫描信号的测试扫描线；在进行所述修补时，所述测试数据线与所述修补线组件以及所述有缺陷数据线电连接。
3.如权利要求1所述的液晶显示装置阵列基板，其特征在于：
所述检测线组件包括：用于传输测试数据信号的测试数据线、用于传输测试扫描信号的测试扫描线、以及与所述测试数据线并联的测试数据辅助线，
在进行所述修补的时候，所述测试数据辅助线与所述测试数据线电隔离，并与所述修补线组件以及所述有缺陷数据线电连接。
4.如权利要求1所述的液晶显示装置阵列基板，其特征在于：
所述修补线组件至少部分地位于所述阵列基板外部的印刷电路板上。
5.如权利要求1所述的液晶显示装置阵列基板，其特征在于：
所属检测线组件至少部分地设置在所述阵列基板的框胶密封区域。
6.如权利要求1所述的液晶显示装置阵列基板，其特征在于：
所属修补线组件至少部分地设置在所述阵列基板的框胶密封区域。
7.如权利要求1所述的液晶显示装置阵列基板，其特征在于：
沿垂直于所述阵列基板表面的方向看去，所述检测线组件与所述修补线组件二者至少部分重叠，且所述检测线组件与所述修补线组件之间隔有绝缘层。
8.如权利要求1所述的液晶显示装置阵列基板，其特征在于：
所述阵列基板还包括导体制成的连接部件，沿垂直于所述阵列基板表面的方向看去，所述检测线组件和所述修补线组件二者都与所述连接部件至少部分重叠，且所述检测线组件与所述连接部件之间、所述修补线组件与所述连接部件之间都隔有绝缘层。
9.如权利要求2所述的液晶显示装置阵列基板，其特征在于：
所述阵列基板还包括与所述数据线对应的薄膜晶体管，所述薄膜晶体管的源极电连接到所述测试数据线，所述薄膜晶体管的漏极电连接到所述数据线，所述薄膜晶体管的栅极电连接到所述测试扫描线；并且
在进行所述修补时，对于与所述有缺陷数据线对应的薄膜晶体管，使其源极与漏极电连接，并使其栅极与所述测试扫描线的电连接断开，从而使所述测试数据线与所述有缺陷数据线电连接。
10.如权利要求1所述的液晶显示装置阵列基板，其特征在于：
所述数据线包括前端数据线部分、显示区域数据线部分和末端数据线部分；
所述修补线组件包括这样的部分：所述部分能够在所述修补线组件未被用来进行修补的时候与所述前端数据线部分电隔离，并在所述修补线组件被用来进行修补的时候与所述前端数据线部分电连接。
11.如权利要求10所述的液晶显示装置阵列基板，其特征在于：
在进行所述修补的时候，所述检测线组件与所述有缺陷数据线的末端数据线部分电连接。
12.一种对液晶显示装置阵列基板中的缺陷进行修补的方法，其中所述阵列基板包括：
数据线；
扫描线，设置成与所述数据线交叉；
检测线组件，设置在所述阵列基板中的显示区域外围，所述检测线组件中至少一部分用于对所述阵列基板进行检测；以及
修补线组件，设置在所述显示区域外围，用于对所述数据线中有缺陷数据线的缺陷进行修补；
其中，所述检测线组件与所述修补线组件处于电隔离关系，
所述方法包括使所述检测线组件与所述修补线组件以及所述有缺陷数据线电连接的步骤。
13.如权利要求12所述的方法，其中，所述检测线组件包括用于传输测试数据信号的测试数据线和用于传输测试扫描信号的测试扫描线，并且，使所述检测线组件与所述修补线组件电连接的步骤包括使所述测试数据线与所述修补线组件以及所述有缺陷数据线电连接的步骤。
14.如权利要求12所述的方法，其中，所述检测线组件还包括与所述测试数据线并联的测试数据辅助线，并且，使所述检测线组件与所述修补线组件以及所述有缺陷数据线电连接的步骤包括：使所述测试数据辅助线与所述测试数据线电隔离并与所述修补线组件以及所述有缺陷数据线电连接的步骤。
15.如权利要求12所述的方法，其中，沿垂直于所述阵列基板表面的方向看去，所述检测线组件与所述修补线组件二者至少部分重叠，且所述检测线组件与所述修补线组件之间隔有绝缘层；并且
使所述检测线组件与所述修补线组件电连接的步骤包括下列步骤：用激光熔融方式使所述检测线组件与所述修补线组件导通。
16.如权利要求12所述的方法，其中，所述阵列基板还包括导体制成的连接部件，沿垂直于所述阵列基板表面的方向看去，所述检测线组件和所述修补线组件二者都与所述连接部件至少部分重叠，且所述检测线组件与所述连接部件之间、所述修补线组件与所述连接部件之间都隔有绝缘层；并且
使所述检测线组件与所述修补线组件电连接的步骤包括下列步骤：用激光熔融方式使所述检测线组件和所述修补线组件分别与所述连接部件导通。
17.如权利要求13所述的方法，其中，所述阵列基板还包括与所述数据线对应的薄膜晶体管，所述薄膜晶体管的源极电连接到对应的测试数据线，所述薄膜晶体管的漏极电连接到所述数据线，所述薄膜晶体管的栅极电连接到所述测试扫描线；并且
使所述测试数据线与所述修补线组件以及所述有缺陷数据线电连接的步骤包括下述步骤：对于与所述有缺陷数据线对应的薄膜晶体管，使其源极与漏极电连接，并使其栅极与所述测试扫描线的电连接断开。
18.如权利要求12所述的方法，其中，所述修补线组件包括第一部分和第二部分，所述第一部分是在进行了所述修补的情况下数据信号向所述有缺陷数据线传送时所经过的部分，所述第二部分是在进行了所述修补的情况下数据信号向所述有缺陷数据线传送时不经过的部分，
所述方法的特征在于还包括下述步骤：
在所述第二部分处将所述修补线组件断开。
19.一种液晶显示装置，包括阵列基板和印刷电路板，其特征在于所述阵列基板包括：
数据线；
扫描线，设置成与所述数据线交叉；
检测线组件，设置在所述阵列基板中的显示区域外围，所述检测线组件中至少一部分用于对所述阵列基板进行检测；以及
修补线组件，设置在所述显示区域外围，用于对所述数据线中有缺陷数据线的缺陷进行修补，
所述检测线组件设置成：在未进行所述修补的时候，所述检测线组件与所述修补线组件电隔离；在进行所述修补的时候，所述检测线组件与所述修补线组件以及所述有缺陷数据线电连接。
20.如权利要求19所述的液晶显示装置，其特征在于：
所述检测线组件包括用于传输测试数据信号的测试数据线和用于传输测试扫描信号的测试扫描线，在进行所述修补时，所述测试数据线与所述修补线组件以及所述有缺陷数据线电连接。
21.如权利要求19所述的液晶显示装置，其特征在于：
所述检测线组件包括：用于传输测试数据信号的测试数据线、用于传输测试扫描信号的测试扫描线、以及与所述测试数据线并联的测试数据辅助线，
在进行所述修补的时候，所述测试数据辅助线与所述测试数据线电隔离，并与所述修补线组件以及所述有缺陷数据线电连接。
22.如权利要求19所述的液晶显示装置，其特征在于：
沿垂直于所述阵列基板表面的方向看去，所述检测线组件与所述修补线组件二者至少部分重叠，且所述检测线组件与所述修补线组件之间隔有绝缘层。
23.如权利要求19所述的液晶显示装置，其特征在于：
所述阵列基板还包括导体制成的连接部件，沿垂直于所述阵列基板表面的方向看去，所述检测线组件和所述修补线组件二者都与所述连接部件至少部分重叠，且所述检测线组件与所述连接部件之间、所述修补线组件与所述连接部件之间都隔有绝缘层。
24.如权利要求20所述的液晶显示装置，其特征在于：
所述阵列基板还包括与所述数据线对应的薄膜晶体管，所述薄膜晶体管的源极电连接到所述测试数据线，所述薄膜晶体管的漏极电连接到所述数据线，所述薄膜晶体管的栅极电连接到所述测试扫描线；并且
在进行所述修补时，对于与所述有缺陷数据线对应的薄膜晶体管，使其源极与漏极电连接，并使其栅极与所述测试扫描线的电连接断开，从而使所述测试数据线与所述有缺陷数据线电连接。
25.如权利要求19所述的液晶显示装置，其特征在于：
所述数据线包括前端数据线部分、显示区域数据线部分和末端数据线部分；
所述修补线组件包括这样的部分：所述部分能够在所述修补线组件未被用来进行修补的时候与所述前端数据线部分电隔离，并在所述修补线组件被用来进行修补的时候与所述前端数据线部分电连接。
26.如权利要求25所述的液晶显示装置，其特征在于：
在进行所述修补的时候，所述检测线组件与所述有缺陷数据线的末端数据线部分电连接。
27.如权利要求19所述的液晶显示装置，其特征在于：
所述印刷电路板上设有公共修补线；
并且，在进行所述修补的时候，所述检测线组件通过所述印刷电路板上的所述公共修补线与所述修补线组件电连接。
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