CN105807518B - 液晶显示面板 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种液晶显示面板，在阵列测试电路(200)中设置包括一个N型薄膜晶体管和一个P型薄膜晶体管的测试控制单元，其中一个薄膜晶体管作为输出薄膜晶体管，另一个薄膜晶体管作为稳压薄膜晶体管，当液晶显示面板处于正常显示状态时，测试控制信号(ATEN)控制输出薄膜晶体管截止并控制稳压薄膜晶体管开启，使输出薄膜晶体管栅极与源极的电压差为零，进而使有效显示区域(100)内的数据线上的漏电一致，液晶显示面板的画面显示均匀，产品质量高。

Description

液晶显示面板
技术领域
本发明涉及液晶显示技术领域，尤其涉及一种液晶显示面板。
背景技术
液晶显示器(Liquid Crystal Display，LCD)具有机身薄、省电、无辐射等众多优点，得到了广泛的应用。如：液晶电视、移动电话、个人数字助理(PDA)、数字相机、计算机屏幕或笔记本电脑屏幕等，在平板显示领域中占主导地位。
现有市场上的液晶显示器大部分为背光型液晶显示器，其包括液晶显示面板及背光模组(backlight module)。液晶显示面板的工作原理是在薄膜晶体管阵列基板(ThinFilm Transistor Array Substrate，TFT Array Substrate)与彩色滤光片基板(ColorFilter，CF)之间灌入液晶分子，并在两片基板上施加驱动电压来控制液晶分子的旋转方向，以将背光模组的光线折射出来产生画面。
随着低温多晶硅(Low Temperature Poly-Silicon，LTPS)半导体薄膜晶体管的发展，而且由于LTPS半导体本身超高载流子迁移率的特性，面板周边集成电路也成为业界关注的焦点。
请参阅图1，为一种现有的液晶显示面板的结构示意图，包括：有效显示区(ActiveArea，AA)100’、GOA(Gate Driver on Array)电路200’、扇出走线(Fanout)300’、多路复用(Demux)器400’，外围走线(Wire On Array，WOA)500’、控制集成电路(IntegratedCircuit，IC)600’、柔性电路板(Flexible Printed Circuit，FPC)700’、及阵列测试(ArrayTest)电路800’。所述有效显示区100’用于像素的显示，设N为正整数，所述有效显示区域100’包括4N条相互平行并依次排列的用于为像素充电的数据线,所述4N条数据线中任意4条相邻的数据线为一个待测单元，每一个待测单元的4条数据线分别定义为第一、第二、第三与第四数据线D1’、D2’、D3’、D4’。所述阵列测试电路800’与所述有效显示区100’中的数据线电性相连，用于在阵列基板制作完成后对阵列基板的电性进行测试。
请参阅图2，为图1所示的液晶显示面板中阵列测试电路的电路示意图，所述阵列测试电路800’包括并列的N个阵列测试电路单元，每一个阵列测试电路单元对应一有效显示区域100’中的待测单元；每一个阵列测试电路单元均包括：第一薄膜晶体管T1’、第二薄膜晶体管T2’、第三薄膜晶体管T3’、第四薄膜晶体管T4’、第五薄膜晶体管T5’、第六薄膜晶体管T6’、第七薄膜晶体管T7’、及第八薄膜晶体管T8’；所述第一、第二、第三、及第四薄膜晶体管T1’、T2’、T3’、T4’的栅极分别接入第一、第二、第三、及第四测试时钟信号ACK1’、ACK2’、ACK3’、ACK4’，源极均接入测试数据信号Data’，漏极分别电性连接于第一、第二、第三、及第四节点A’、B’、C’、D’；所述第五、第六、第七、及第八薄膜晶体管T5’、T6’、T7’、T8’的栅极均接入测试控制信号ATEN’，源极分别电性连接于第一、第二、第三、及第四节点A’、B’、C’、D’，漏极分别电性连接于对应待测单元中的第一、第二、第三、及第四数据线D1’、D2’、D3’、D4’。
请参阅图3，为图2所示的阵列测试电路的时序图，当进行阵列测试时，测试控制信号ATEN’信号为高电位，使第五、第六、第七、及第八薄膜晶体管T5’、T6’、T7’、T8’导通，第一、第二、第三、及第四测试时钟信号ACK1’、ACK2’、ACK3’、ACK4’依次提供高电位，使第一、第二、第三、及第四薄膜晶体管T1’、T2’、T3’、T4’依次导通，变化的数据信号Data分别输入第一、第二、第三、及第四数据线D1’、D2’、D3’、D4’中，并且在对应的测试时钟信号ACK1’、ACK2’、ACK3’、ACK4’转换为低电位后保持稳定，直到下一次对应的测试时钟信号提供高电位，测试数据信号Data’再次写入相应数据线中。当阵列测试结束，液晶面板进行正常显示，测试控制信号ATEN’为低电位，待测单元中的数据线D1’、D2’、D3’、D4’由控制IC600’提供显示数据信号。此时第一、第二、第三、及第四节点A’、B’、C’、D’电位处于未知状态，使第五、第六、第七、及第八薄膜晶体管T5’、T6’、T7’、T8’的栅极与源极的电压差Vgs产生漂移(floating)，将导致不同数据线上的漏电不均，使有效显示区100’内的画面显示不均匀，降低产品质量。
发明内容
本发明的目的在于提供一种液晶显示面板，在进行正常显示时阵列测试电路中的节点电位稳定，各数据线的漏电一致，有效显示区域内的画面显示均匀，产品质量高。
为实现上述目的，本发明提供一种液晶显示面板，包括：有效显示区域、及与所述有效显示区域电性相连的阵列测试电路；
所述有效显示区域包括多个待测单元，每个待测单元包括至少两条数据线；
所述阵列测试电路包括与多个待测单元相对应的多个阵列测试电路单元，每个阵列测试电路单元包括至少两个阵列测试分路；
所述每个阵列测试电路单元中的阵列测试分路的数量与每个待测单元中的数据线的数量相同；
每一阵列测试分路均包括一分路控制单元、及一测试控制单元；
所述分路控制单元包括输入端、输出端、及控制端，所述分路控制单元的输入端接入测试数据信号，控制端接入该分路控制单元对应一测试时钟信号，输出端电性连接测试控制单元；
所述测试控制单元包括：一输出薄膜晶体管和一稳压薄膜晶体管；
所述输出薄膜晶体管的栅极电性连接测试控制信号，源极电性连接于分路控制单元的输出端，漏极电性连接于该阵列测试分路对应的数据线，所述稳压薄膜晶体管的栅极与源极均接入测试控制信号，漏极电性连接于分路控制单元的输出端；
所述输出薄膜晶体管为N型薄膜晶体管与P型薄膜晶体管中的一种，稳压薄膜晶体管为N型薄膜晶体管与P型薄膜晶体管中不同于输出薄膜晶体管的另一种。
所述分路控制单元包括一分路控制薄膜晶体管，所述分路控制薄膜晶体管的栅极为所述分路控制单元的控制端，源极为所述分路控制单元的输入端，漏极为所述分路控制单元的输出端。
所述每个待测单元包括四条数据线，所述每个阵列测试电路单元包括四个阵列测试分路。
还包括：与所述有效显示区域电性相连的多路复用器、与所述多路复用器电性相连的扇出走线、与所述扇出走线电性相连的控制IC、与所述控制IC电性相连的外围走线、与所述外围走线及有效显示区域电性相连的GOA电路、及与所述控制IC电性相连的柔性电路板。
所述测试数据信号、测试控制信号、测试时钟信号由外部时序控制器提供。
所述稳压薄膜晶体管为P型薄膜晶体管；输出薄膜晶体管为N型薄膜晶体管。
所述测试控制信号在阵列测试电路工作时提供高电位，阵列测试结束，所述测试控制信号提供低电位。
所述测试控制信号提供的低电位的电压值为-7V。
所述稳压薄膜晶体管为N型薄膜晶体管；输出薄膜晶体管为P型薄膜晶体管。
所述测试控制信号在阵列测试电路工作时提供低电位，阵列测试结束，所述测试控制信号提供高电位。
本发明的有益效果：本发明提供的液晶显示面板，在阵列测试电路中设置包括一个N型薄膜晶体管和一个P型薄膜晶体管的测试控制单元，其中一个薄膜晶体管作为输出薄膜晶体管，栅极接入测试控制信号，源极与另一薄膜晶体管的源极电性连接于一节点，漏极电性连接有效显示区域中的对应数据线，另一个薄膜晶体管作为稳压薄膜晶体管，栅极与漏极均连接测试控制信号，当液晶显示面板处于正常显示状态时，测试控制信号控制输出薄膜晶体管截止并控制稳压薄膜晶体管开启，节点的电压与测试控制信号提供的电压一致，使输出薄膜晶体管栅极与源极的电压差为零，进而使有效显示区域内的数据线上的漏电一致，液晶显示面板的画面显示均匀，产品质量高。
附图说明
为了能更进一步了解本发明的特征以及技术内容，请参阅以下有关本发明的详细说明与附图，然而附图仅提供参考与说明用，并非用来对本发明加以限制。
附图中，
图1为一种现有的液晶显示面板的结构示意图；
图2为图1所示的液晶显示面板的阵列测试电路的电路示意图；
图3为图2所示的液晶显示面板的阵列测试电路的时序图；
图4为本发明的液晶显示面板的结构示意图；
图5为本发明的液晶显示面板的第一实施例的阵列测试电路的电路示意图；
图6为本发明的液晶显示面板的第二实施例的阵列测试电路的电路示意图。
具体实施方式
为更进一步阐述本发明所采取的技术手段及其效果，以下结合本发明的优选实施例及其附图进行详细描述。
请参阅图4，本发明提供一种液晶显示面板，包括：有效显示区域100、及与所述有效显示区域100电性相连的阵列测试电路200。
具体地，所述的液晶显示面板还包括：与所述有效显示区域100电性相连的多路复用器300、与所述多路复用器300电性相连的扇出走线400、与所述扇出走线400电性相连的控制IC500、与所述控制IC500电性相连的外围走线600、与所述外围走线600及有效显示区域100电性相连的GOA电路700、及与所述控制IC500电性相连的柔性电路板800。其中，所述多路复用器300、扇出走线400、控制IC500、外围走线600、及柔性电路板800均设于所述有效显示区域100的下侧，所述GOA电路700的数量为两个，分设于有效显示区域100的左右两侧，阵列测试电路200设于所述有效显示区域的上侧。
进一步地，所述有效显示区域100用于液晶显示面板的画面显示；阵列测试电路200用于在阵列基板制作完成之后对阵列基板进行阵列测试；控制IC500用于发射驱动信号驱动液晶显示面板进行显示；扇出走线400负责连接控制IC500与多路复用器300间的走线；多路复用器300用于将控制IC500提供的数据信号拆分为多个数据信号；外围走线600负责将控制IC500提供的扫描驱动信号传输至GOA电路700；GOA电路700用于驱动液晶显示面板内部的薄膜晶体管工作使液晶显示面板进行显示；柔性电路板800用于连接液晶显示装置的主板。
具体地，所述有效显示区域100包括多个待测单元，每个待测单元包括至少两条数据线；
所述阵列测试电路200包括与多个待测单元相对应的多个阵列测试电路单元，每个阵列测试电路单元包括至少两个阵列测试分路；
所述每个阵列测试电路单元中的阵列测试分路的数量与每个待测单元中的数据线的数量相同；
每一阵列测试分路均包括一分路控制单元、及一测试控制单元；
所述分路控制单元包括输入端、输出端、及控制端，所述分路控制单元的输入端接入测试数据信号Data，控制端接入该分路控制单元对应一测试时钟信号，输出端电性连接该分路控制单元所在阵列测试分路的测试控制单元；
所述测试控制单元包括：一输出薄膜晶体管和一稳压薄膜晶体管；
所述输出薄膜晶体管的栅极电性连接测试控制信号ATEN，源极电性连接于分路控制单元的输出端，漏极电性连接于该阵列测试分路对应的数据线，所述稳压薄膜晶体管的栅极与源极均接入测试控制信号ATEN，漏极电性连接于分路控制单元的输出端；
所述输出薄膜晶体管为N型薄膜晶体管与P型薄膜晶体管中的一种，稳压薄膜晶体管为N型薄膜晶体管与P型薄膜晶体管中不同于输出薄膜晶体管的另一种。
其中，每个待测单元包括的数据线的数量和阵列测试电路单元包括的阵列测试分路的数量可以根据需要进行选择，如图5及图6所示，在本发明的第一和第二实施例中，每个待测单元四条数据线，每个阵列测试电路单元包括四个阵列测试分路。
如图5及图6所示，每一个待测单元的四条数据线分别为第一、第二、第三与第四数据线D1、D2、D3、D4。在正常显示阶段，所述数据线接收控制IC500传输的显示数据信号；在阵列测试阶段，所述数据线接收阵列测试电路传输的测试数据信号Data。
具体地，请参阅图5，每一个阵列测试电路均包括：第一测试控制单元10、第二测试控制单元20、第三测试控制单元30、第四测试控制单元40、第一分路控制单元50、第二分路控制单元60、第三分路控制单元70、及第一分路控制单元80；
所述第一分路控制单元50包括：第一薄膜晶体管T1，所述第一薄膜晶体管T1的栅极接入第一测试时钟信号ACK1，源极接入测试数据信号Data，漏极电性连接于第一节点A；所述第二分路控制单元60包括：第二薄膜晶体管T2，所述第二薄膜晶体管T2的栅极接入第二测试时钟信号ACK2，源极接入测试数据信号Data，漏极电性连接于第二节点B；所述第三分路控制单元70包括：第三薄膜晶体管T3，所述第三薄膜晶体管T3的栅极接入第三测试时钟信号ACK3，源极接入测试数据信号Data，漏极电性连接于第三节点C；所述第四分路控制单元80包括：第四薄膜晶体管T4，所述第四薄膜晶体管T4的栅极接入第四测试时钟信号ACK4，源极接入测试数据信号Data，漏极电性连接于第四节点D；所述第一测试控制单元10包括：第五薄膜晶体管T5、及第六薄膜晶体管T6；所述第五薄膜晶体管T5的栅极与源极均接入测试控制信号ATEN，漏极电性连接于第一节点A；所述第六薄膜晶体管T6的栅极接入测试控制信号ATEN，源极电性连接于第一节点A，漏极电性连接于对应待测单元中的第一数据线D1；所述第二测试控制单元20包括：第七薄膜晶体管T7、及第八薄膜晶体管T8；所述第七薄膜晶体管T7的栅极与源极均接入测试控制信号ATEN，漏极电性连接于第二节点B；所述第八薄膜晶体管T8的栅极接入测试控制信号ATEN，源极电性连接于第二节点B，漏极电性连接于对应待测单元中的第二数据线D2；所述第三测试控制单元30包括：第九薄膜晶体管T9、及第十薄膜晶体管T10；所述第九薄膜晶体管T9的栅极与源极均接入测试控制信号ATEN，漏极电性连接于第三节点C；所述第十薄膜晶体管T10的栅极接入测试控制信号ATEN，源极电性连接于第三节点C，漏极电性连接于对应待测单元中的第三数据线D3；所述第四测试控制单元40包括：第十一薄膜晶体管T11、及第十二薄膜晶体管T12；所述第十一薄膜晶体管T11的栅极与源极均接入测试控制信号ATEN，漏极电性连接于第四节点D；所述第十薄膜晶体管T11的栅极接入测试控制信号ATEN，源极电性连接于第四节点D，漏极电性连接于对应待测单元中的第四数据线D4。
需要说明的是，所述第五、第七、第九、及第十一薄膜晶体管T5、T7、T9、T11均为N型薄膜晶体管与P型薄膜晶体管中的一种，所述第六、第八、第十、及第十二薄膜晶体管T6、T8、T10、T12均为N型薄膜晶体管与P型薄膜晶体管中不同于所述第五、第七、第九、及第十一薄膜晶体管T5、T7、T9、T11的另一种。所述第五薄膜晶体管T5、第七薄膜晶体管T7、第九薄膜晶体管T9、及第十一薄膜晶体管T11为为稳压薄膜晶体管，用于在非阵列测试阶段分别控制第一节点A、第二节点B、第三节点C、及第四节点D的电压稳定；所述第六薄膜晶体管T6、第八薄膜晶体管T8、第十薄膜晶体管T10、及第十二薄膜晶体管T12为输出薄膜晶体管，用于在阵列测试阶段使测试数据信号Data输入待测单元中的数据线D1、D2、D3、D4中。
具体地，所述测试数据信号Data、测试控制信号ATEN、第一测试时钟信号ACK1、第二测试时钟信号ACK2、第三测试时钟信号ACK3、及第四测试时钟信号ACK4由外部时序控制器提供。
具体地，请参阅图5，在本发明的第一实施例中，所述第五薄膜晶体管T5、第七薄膜晶体管T7、第九薄膜晶体管T9、及第十一薄膜晶体管T11为P型薄膜晶体管；所述第六薄膜晶体管T6、第八薄膜晶体管T8、第十薄膜晶体管T10、及第十二薄膜晶体管T12为N型薄膜晶体管。
具体地，当进行阵列测试时，测试控制信号ATEN信号为高电位，使第六薄膜晶体管T6、第八薄膜晶体管T8、第十薄膜晶体管T10、及第十二薄膜晶体管T12导通，第五薄膜晶体管T5、第七薄膜晶体管T7、第九薄膜晶体管T9、及第十一薄膜晶体管T11截止，第一、第二、第三、及第四测试时钟信号ACK1、ACK2、ACK3、ACK4依次提供高电位，使第一、第二、第三、及第四薄膜晶体管T1、T2、T3、T4依次导通，变化的测试数据信号Data分别输入第一、第二、第三、及第四数据线D1、D2、D3、D4中，并且在对应的测试时钟信号ACK1、ACK2、ACK、ACK4转换为低电位后保持稳定，直到下一次对应的测试时钟信号提供高电位，测试数据信号Data再次写入相应数据线中。
具体地，当阵列测试结束，测试控制信号ATEN为低电位，优选的，测试控制信号ATEN的低电位电压值为-7V。此时第六薄膜晶体管T6、第八薄膜晶体管T8、第十薄膜晶体管T10、及第十二薄膜晶体管T12截止，有效显示区域100中的第一、第二、第三、及第四数据线D1、D2、D3、D4由控制IC500提供显示数据信号，同时第五薄膜晶体管T5、第七薄膜晶体管T7、第九薄膜晶体管T9、及第十一薄膜晶体管T11开启，第一节点A、第二节点B、第三节点C、及第四节点D被拉低至控制信号ATEN提供的低电位并保持稳定，电压值为-7V，这使第六薄膜晶体管T6、第八薄膜晶体管T8、第十薄膜晶体管T10、及第十二薄膜晶体管T12栅极与源极之间的电压差Vgs为零并保持稳定，使第一、第二、第三、及第四数据线D1、D2、D3、D4的漏电一致，进而使有效显示区域100内的画面显示均匀，提升液晶显示面板的质量。
请参阅图6，为本发明的第二实施例的阵列测试电路的电路示意图，本发明的第二实施例与第一实施例的区别在于，所述第五薄膜晶体管T5、第七薄膜晶体管T7、第九薄膜晶体管T9、及第十一薄膜晶体管T11为N型薄膜晶体管；所述第六薄膜晶体管T6、第八薄膜晶体管T8、第十薄膜晶体管T10、及第十二薄膜晶体管T12为P型薄膜晶体管。相应的，在阵列测试电路工作时，测试控制信号ATEN在提供低电位，使第六薄膜晶体管T6、第八薄膜晶体管T8、第十薄膜晶体管T10、及第十二薄膜晶体管T12导通，第五薄膜晶体管T5、第七薄膜晶体管T7、第九薄膜晶体管T9、及第十一薄膜晶体管T11截止，使变化的测试数据信号Data分别输入第一、第二、第三、及第四数据线D1、D2、D3、D4中；当阵列测试结束，测试控制信号ATEN为高电位，第六薄膜晶体管T6、第八薄膜晶体管T8、第十薄膜晶体管T10、及第十二薄膜晶体管T12截止，第五薄膜晶体管T5、第七薄膜晶体管T7、第九薄膜晶体管T9、及第十一薄膜晶体管T11开启，第一节点A、第二节点B、第三节点C、及第四节点D被抬升至控制信号ATEN提供的高电位并保持稳定。其余均与第一实施例相同，在此不再进行赘述。
综上所述，本发明提供的液晶显示面板，在阵列测试电路中设置包括一个N型薄膜晶体管和一个P型薄膜晶体管的测试控制单元，其中一个薄膜晶体管作为输出薄膜晶体管，栅极接入测试控制信号，源极与另一薄膜晶体管的源极电性连接于一节点，漏极电性连接有效显示区域中的对应数据线，另一个薄膜晶体管作为稳压薄膜晶体管，栅极与漏极均连接测试控制信号，当液晶显示面板处于正常显示状态时，测试控制信号控制输出薄膜晶体管截止并控制稳压薄膜晶体管开启，节点的电压与测试控制信号提供的电压一致，使输出薄膜晶体管栅极与源极的电压差为零，进而使有效显示区域内的数据线上的漏电一致，液晶显示面板的画面显示均匀，产品质量高。
以上所述，对于本领域的普通技术人员来说，可以根据本发明的技术方案和技术构思作出其他各种相应的改变和变形，而所有这些改变和变形都应属于本发明后附的权利要求的保护范围。

Claims (10)

1.一种液晶显示面板，其特征在于，包括：有效显示区域(100)、及与所述有效显示区域(100)电性相连的阵列测试电路(200)；
所述有效显示区域(100)包括多个待测单元，每个待测单元包括至少两条数据线；
所述阵列测试电路(200)包括与多个待测单元相对应的多个阵列测试电路单元，每个阵列测试电路单元包括至少两个阵列测试分路；
所述每个阵列测试电路单元中的阵列测试分路的数量与每个待测单元中的数据线的数量相同；
每一阵列测试分路均包括一分路控制单元、及一测试控制单元；
所述分路控制单元包括输入端、输出端、及控制端，所述分路控制单元的输入端接入测试数据信号(Data)，控制端接入该分路控制单元对应一测试时钟信号，输出端电性连接测试控制单元；
所述测试控制单元包括：一输出薄膜晶体管和一稳压薄膜晶体管；所述输出薄膜晶体管的栅极电性连接测试控制信号(ATEN)，源极电性连接于分路控制单元的输出端，漏极电性连接于该阵列测试分路对应的数据线，所述稳压薄膜晶体管的栅极与源极均接入测试控制信号(ATEN)，漏极电性连接于分路控制单元的输出端；
所述输出薄膜晶体管为N型薄膜晶体管与P型薄膜晶体管中的一种，稳压薄膜晶体管为N型薄膜晶体管与P型薄膜晶体管中不同于输出薄膜晶体管的另一种。
2.如权利要求1所述的液晶显示面板，其特征在于，所述分路控制单元包括一分路控制薄膜晶体管，所述分路控制薄膜晶体管的栅极为所述分路控制单元的控制端，源极为所述分路控制单元的输入端，漏极为所述分路控制单元的输出端。
3.如权利要求1所述的液晶显示面板，其特征在于，每个待测单元包括四条数据线，每个阵列测试电路单元包括四个阵列测试分路。
4.如权利要求1所述的液晶显示面板，其特征在于，还包括：与所述有效显示区域(100)电性相连的多路复用器(300)、与所述多路复用器(300)电性相连的扇出走线(400)、与所述扇出走线(400)电性相连的控制IC(500)、与所述控制IC(500)电性相连的外围走线(600)、与所述外围走线(600)及有效显示区域(100)电性相连的GOA电路(700)、及与所述控制IC(500)电性相连的柔性电路板(800)。
5.如权利要求1所述的液晶显示面板，其特征在于，所述测试数据信号(Data)、测试控制信号(ATEN)、测试时钟信号由外部时序控制器提供。
6.如权利要求1所述的液晶显示面板，其特征在于，所述稳压薄膜晶体管为P型薄膜晶体管；输出薄膜晶体管为N型薄膜晶体管。
7.如权利要求4所述的液晶显示面板，其特征在于，所述测试控制信号(ATEN)在阵列测试电路(200)工作时提供高电位，阵列测试结束，所述测试控制信号(ATEN)提供低电位。
8.如权利要求7所述的液晶显示面板，其特征在于，所述测试控制信号(ATEN)提供的低电位的电压值为-7V。
9.如权利要求1所述的液晶显示面板，其特征在于，所述稳压薄膜晶体管为N型薄膜晶体管；输出薄膜晶体管为P型薄膜晶体管。
10.如权利要求7所述的液晶显示面板，其特征在于，所述测试控制信号(ATEN)在阵列测试电路(200)工作时提供低电位，阵列测试结束，所述测试控制信号(ATEN)提供高电位。
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