CN106444107B - 一种液晶盒测试电路、显示面板和装置 - Google Patents

Abstract

本发明提供了一种用于液晶盒测试电路、显示面板和装置，该测试电路包括：测试使能信号端，用于输入测试使能信号；多个测试数据信号端，用于输入测试数据信号并且按预定规则分组并联；多个第一晶体管，其栅极连接测试使能信号端，源极连接至一一对应的测试数据信号端，漏极连接液晶盒，由测试使能信号控制打开以将测试数据信号输入至液晶盒，其中，在液晶盒测试完毕后，通过控制测试使能信号和测试数据信号，使得多个第一晶体管的栅源极电压为零。本发明可以有效防止测试数据信号通过测试晶体管漏电形成的串扰问题。

Description

一种液晶盒测试电路、显示面板和装置

技术领域

本发明属于显示面板测试技术领域，具体地说，尤其涉及一种用于液晶盒测试电路、显示面板和装置。

背景技术

目前，小尺寸显示器在进行盒组检测时大都通过盒组检测开关器件(如晶体管)将数据信号传输到面板区中的数据线上或多路分配器输入端。在盒组检测开关器件采用晶体管时，该晶体管的源极连接至盒组测试信号，漏极连接至有效显示区的数据线，通过控制该晶体管的栅极，使得盒组测试信号控制显示不同的画面以达到检测显示面板不良的目的。

当模组组装时会将盒组检测开关用的晶体管关闭，通过驱动芯片直接给每个数据线传输所需的数据信号来控制画面显示。一般模组组装后，盒组测试信号就处在浮动的状态，而若盒组检测开关用晶体管电性不好而又处于栅源极电压Vgs较小的情况时，该晶体管的漏电流会较大，导致不同数据线线之间的信号会通过该晶体管串扰，使画面显示异常。

发明内容

为解决以上问题，本发明提供了一种用于液晶盒测试电路、显示面板和装置，可以有效防止测试数据信号通过测试晶体管漏电形成的串扰问题。

根据本发明的一个实施例，提供了一种液晶盒测试电路，包括：

测试使能信号端，用于输入测试使能信号；

多个测试数据信号端，用于输入测试数据信号并且按预定规则分组并联；

多个第一晶体管，其栅极连接所述测试使能信号端，源极连接至一一对应的测试数据信号端，漏极连接液晶盒，由所述测试使能信号控制打开以将所述测试数据信号输入至液晶盒，

其中，在液晶盒测试完毕后，通过控制所述测试使能信号和所述测试数据信号，使得多个第一晶体管的栅源极电压为零。

根据本发明的一个实施例，所述测试电路还包括两个柔性电路板，在液晶盒测试完毕后，其中一个输出栅极关闭电压至测试使能信号端，另一个输出栅极关闭电压至各组测试数据信号端中的任一个测试数据信号端。

根据本发明的一个实施例，所述测试数据信号端按预定规则分为两组时，所述测试电路还包括三个柔性电路板，在液晶盒测试完毕后，其中一个柔性电路板输出栅极关闭电压至测试使能信号端，另外两个柔性电路板输出栅极关闭电压至对应分组的测试数据信号端中的任一个测试数据信号端。

根据本发明的一个实施例，所述测试电路还设置有与各组中任一所述测试数据信号端连接的第二晶体管，其中，

所述测试使能信号端与各所述第二晶体管的栅极之间通过一反相器连接；

所述第二晶体管的漏极与对应的测试数据信号端连接，源极用于引入栅极关闭信号。

根据本发明的一个实施例，所述测试电路还包括一柔性电路板，在液晶盒测试完毕后，用于输出栅极关闭电压至测试使能信号端。

根据本发明的一个实施例，

所述测试电路还包括两个柔性电路板，在液晶盒测试完毕后，其中一个柔性电路板输出栅极关闭电压至测试使能信号端，另一个柔性电路板输出栅极关闭电压至所述第二晶体管的源极。

根据本发明的一个实施例，所述测试数据信号端按预定规则分为两组时，所述测试电路还包括三个柔性电路板，在液晶盒测试完毕后，其中一个柔性电路板输出栅极关闭电压至测试使能信号端，另外两个柔性电路板输出栅极关闭电压至对应分组的第二晶体管的源极。

根据本发明的一个实施例，所述晶体管为N型薄膜晶体管。

根据本发明的另一个方面，还提供了一种采用以上所述测试电路的显示面板。

根据本发明的再一个方面，还提供了一种采用以上所述显示面板的显示装置。

本发明的有益效果：

本发明通过将液晶盒测试电路中的测试用晶体管栅源极电压设置为零，可以有效防止测试数据信号通过测试晶体管漏电形成的串扰问题。

本发明的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本发明而了解。本发明的目的和其他优点可通过在说明书、权利要求书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要的附图做简单的介绍：

图1是现有技术中的一种液晶盒测试电路；

图2是晶体管栅源极电压与漏电流的关系示意图；

图3是根据本发明的一个实施例的液晶盒测试电路图；

图4是根据本发明的另一个实施例的液晶盒测试电路图。

具体实施方式

以下将结合附图及实施例来详细说明本发明的实施方式，借此对本发明如何应用技术手段来解决技术问题，并达成技术效果的实现过程能充分理解并据以实施。需要说明的是，只要不构成冲突，本发明中的各个实施例以及各实施例中的各个特征可以相互结合，所形成的技术方案均在本发明的保护范围之内。

如图1所示是现有常用的一种液晶盒组测试电路图，通过盒组测试用的第一晶体管200将盒组测试数据信号传输至有效显示区中的数据线或解复用器DEMUX，图1所示为采用解复用器DEMUX引入测试数据信号。

如图1所示，盒组测试晶体管的栅极连接至测试使能信号端CTEN，CTEN用于引入用作开关信号的测试使能信号以控制这些第一晶体管的栅极；源极连接至盒组测试数据信号端CTDO和CTDE(CTDO和CTDE对应两组测试数据信号)；漏极通过解复用器DEMUX连接至有效显示区的数据线。测试数据信号由测试晶体管的源极输入、漏极输出给有效显示区的数据线，用于控制显示不同的画面以达到检测显示面板不良的目的。

在液晶模组组装时，会将驱动芯片或者柔性电路板FPC的栅极关闭信号VGL信号作为测试使能信号，以将盒组测试晶体管关闭，而通过驱动芯片直接给每条数据线提供所需的信号以控制画面显示。一般模组组装后，盒组测试数据信号就处在浮动的状态，如图1所示。此时CTEN端的测试使能信号处于-7V，CTDO和CTDE端的测试数据信号在-4.5V至+4.5V之间，所以盒组测试晶体管工作在Vgs-2.5V至-11.5V之间的区间。若盒组测试用晶体管的电性不好，在栅源电压Vgs较小时而器件漏电流较大，会存在如图1中箭头所示的漏电路径，导致不同数据线之间的信号会通过盒组测试用晶体管发生串扰，使画面显示异常。

其中，图1中虚线100内是用于引入测试数据信号的CTDO焊盘和CTDE焊盘，检测时通过这些焊盘引入所需的检测信号；图1中虚线200内是盒组测试晶体管，其栅极连接至CTEN，源极连接至CTDO或CTDE，漏极连接至DEMUX；图1中虚线300内是用于连接FPC的焊盘，由FPC提供测试使能信号至CTEN。FPC绑定后使测试使能信号处于VGL电压，可将盒组测试晶体管关闭。

如图2所示是常见的N型晶体管器件的源漏极电流Id与栅源电压Vgs的关系示意图，表示N型晶体管器件源漏极电流Id随Vgs变化的关系，从此曲线可以看出：当Vgs较小时会出现漏电流较大的问题。所以当数据线电压变化时，盒组测试晶体管器件中的漏电流也会变化。当Vgs较小时而器件漏电流过大，就会发生数据线信号串扰的问题。

因此，本发明提供了一种液晶盒测试电路，该测试电路包括测试使能信号端(如图3中虚线201内部分)、多个测试数据信号端和多个第一晶体管(如图3中虚线202内部分)。测试使能信号端用于输入测试使能信号；多个测试数据信号端用于输入测试数据信号并且按预定规则分组并联；多个测试晶体管，其栅极连接测试使能信号端，源极连接至一一对应的测试数据信号端，漏极连接液晶盒，由测试使能信号控制打开以将测试数据信号输入至液晶盒，其中，在液晶盒测试完毕后，通过控制测试使能信号和测试数据信号，使得多个第一晶体管的栅源极电压为零。由图2可知，当Vgs＝0V时器件漏电流相对较小，可以有效防止测试数据信号通过测试晶体管漏电形成的串扰问题。

根据本发明的一个实施例，该测试电路还包括两个柔性电路板，在液晶盒测试完毕后，其中一个柔性电路板(如图3中虚线203内部分)输出栅极关闭电压至测试使能信号端，另一个柔性电路板输出栅极关闭电压至各组测试数据信号端中的任一个测试数据信号端。具体的，如图3所示，可以通过新增的柔性电路板栅极关闭信号输入焊盘DO和DE(如图3中虚线204内部分)引入栅极关闭信号至对应的测试数据信号端。也就是说，各组测试数据信号端均输入由同一柔性电路板提供的栅极关闭电压。或者，也可以将各组测试数据信号端并联在一起后，再输入由同一柔性电路板提供的栅极关闭电压。

根据本发明的一个实施例，测试数据信号端按预定规则分为两组时，测试电路还包括三个柔性电路板，在液晶盒测试完毕后，其中一个柔性电路板输出栅极关闭电压至测试使能信号端，另外两个柔性电路板输出栅极关闭电压至对应分组的测试数据信号端中的任一个测试数据信号端。也就是说，对应分组的测试数据信号端(即CTDO端和CTDE端)，一组测试数据信号端由一个柔性电路板输出栅极关闭电压，两组测试数据信号端由两个柔性电路板输出栅极关闭电压。这样有利于对输入至测试数据信号端的栅极关闭信号进行分组控制。

根据本发明的一个实施例，该测试电路还设置有与各组中任一测试数据信号端连接的第二晶体管，其中，测试使能信号端与各第二晶体管的栅极之间通过一反相器连接，第二晶体管的漏极与对应的测试数据信号端连接，源极用于引入栅极关闭信号。当进行盒组检测时，CTEN端输入的测试使能信号为高，将新增的第二晶体管关闭，分组的测试数据信号根据需要控制检测画面显示。当模组工作时，CTEN端输入的测试使能信号为低，将新增的第二晶体管打开，使分组的测试数据信号端输出的信号处于栅极关闭电压，这样测试用的第一晶体管就会一直处于Vgs＝0V的状态，从而有效防止数据信号通过第一晶体管漏电形成的串扰问题。其中，虚线205内是新增的一个反相器，输入端连接至CTEN，输出端连接至新增的第二晶体管的栅极；虚线206内是新增的第二晶体管，源极连接至栅极关闭VGL信号，漏极分别连接至CTDO和CTDE。

根据本发明的一个实施例，该测试电路还包括一个柔性电路板，在液晶盒测试完毕后，用于输出栅极关闭电压至测试使能信号端，如图4所示。

根据本发明的一个实施例，该测试电路还包括两个柔性电路板，在液晶盒测试完毕后，其中一个输出栅极关闭电压至测试使能信号端，另一个输出栅极关闭电压至所述第二晶体管的源极。

根据本发明的一个实施例，该测试数据信号端按预定规则分为两组时，测试电路还包括三个柔性电路板，在液晶盒测试完毕后，其中一个输出栅极关闭电压至测试使能信号端，另外两个输出栅极关闭电压至对应分组的第二晶体管的源极。

根据本发明的一个实施例，该晶体管为N型薄膜晶体管。在该晶体管为N型薄膜晶体管时，可以实现在向CTEN输入栅极关闭电压时，测试用第一晶体管关闭以及第二晶体管打开。

根据本发明的另一方面，还提供了采用以上所述测试电路的显示面板以及采用该显示面板的显示装置，可以有效防止测试数据信号通过测试晶体管漏电形成的串扰问题。

虽然本发明所公开的实施方式如上，但所述的内容只是为了便于理解本发明而采用的实施方式，并非用以限定本发明。任何本发明所属技术领域内的技术人员，在不脱离本发明所公开的精神和范围的前提下，可以在实施的形式上及细节上作任何的修改与变化，但本发明的专利保护范围，仍须以所附的权利要求书所界定的范围为准。

Claims (9)

1.一种液晶盒测试电路，包括：

测试使能信号端，用于输入测试使能信号；

多个测试数据信号端，用于输入测试数据信号并且按预定规则分组并联；

多个第一晶体管，其栅极连接所述测试使能信号端，源极连接至一一对应的测试数据信号端，漏极连接液晶盒，由所述测试使能信号控制打开以将所述测试数据信号输入至所述液晶盒，

其中，在所述液晶盒测试完毕后，通过控制所述测试使能信号和所述测试数据信号，使得多个第一晶体管的栅源极电压为零；

所述测试电路还设置有与任一所述测试数据信号端连接的第二晶体管，其中，所述测试使能信号端与各所述第二晶体管的栅极之间通过一反相器连接，所述第二晶体管的漏极与对应的测试数据信号端连接，所述第二晶体管的源极用于引入栅极关闭信号。

2.根据权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所述测试电路还包括两个柔性电路板，在液晶盒测试完毕后，其中一个输出栅极关闭电压至测试使能信号端，另一个输出栅极关闭电压至各组测试数据信号端中的任一个测试数据信号端。

3.根据权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所述测试数据信号端按预定规则分为两组时，所述测试电路还包括3个柔性电路板，在液晶盒测试完毕后，其中一个柔性电路板输出栅极关闭电压至测试使能信号端，另外两个柔性电路板输出栅极关闭电压至对应分组的测试数据信号端中的任一个测试数据信号端。

4.根据权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所述测试电路还包括一柔性电路板，在液晶盒测试完毕后，用于输出栅极关闭电压至测试使能信号端。

5.根据权利要求4所述的测试电路，其特征在于，

所述测试电路还包括两个柔性电路板，在液晶盒测试完毕后，其中一个柔性电路板输出栅极关闭电压至测试使能信号端，另一个柔性电路板输出栅极关闭电压至所述第二晶体管的源极。

6.根据权利要求4所述的测试电路，其特征在于，所述测试数据信号端按预定规则分为两组时，所述测试电路还包括三个柔性电路板，在液晶盒测试完毕后，其中一个柔性电路板输出栅极关闭电压至测试使能信号端，另外两个柔性电路板输出栅极关闭电压至对应分组的第二晶体管的源极。

7.根据权利要求1所述的测试电路，其特征在于，

所述第一晶体管为N型薄膜晶体管。

8.一种采用权利要求1-7中任一项所述测试电路的显示面板。

9.一种采用权利要求8所述显示面板的显示装置。