CN112270908B - 阵列基板、阵列基板母板、显示面板及其制备方法 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种阵列基板、阵列基板母板、显示面板及其制造方法，阵列基板包括多个子像素、多条数据线、多个多路分配单元、X条第一开关控制线、多个测试单元和N条第二开关控制线；同一多路分配单元的X个第一开关元件的第一输出端与同一数据线组的X条数据线一一对应连接；每一多路分配单元的X个第一开关元件的第一控制端与X条第一开关控制线一一对应连接；同一测试单元中第二开关元件的第二输出端与同一多路分配单元中第一开关元件的第一输入端电连接；每一测试单元的N个第二开关元件的第二控制端与N条第二开关控制线一一对应连接。本发明提供的阵列基板应用至显示面板时，能够实现显示面板的可视化检测。

Description

阵列基板、阵列基板母板、显示面板及其制备方法
技术领域
本发明涉及显示技术领域，具体涉及一种阵列基板、阵列基板母板、显示面板及其制备方法。
背景技术
在显示面板的生产过程中，在显示面板绑定集成电路(Integrated Circuit)芯片之前，通常会对显示面板进行可视化检测(Visual Test，VT)，以检测显示面板是否存在不良，避免不良产品进入IC绑定工艺中。因此，如何设置合理的检测电路以对显示面板进行VT检测已经成为亟需解决的问题。
发明内容
本发明提供一种阵列基板、阵列基板母板、显示面板及其制备方法，便于实现对显示面板的VT检测。
一方面，本发明实施例提供一种阵列基板，包括多个子像素、多条数据线、多个多路分配单元、X条第一开关控制线、多个测试单元和N条第二开关控制线。相邻N个不同种颜色的子像素组成一像素单元；多条数据线沿第一方向延伸且沿第二方向排布，第一方向和第二方向交叉，M列像素单元的X条数据线为一数据线组，X＝M*N，N≥3且为整数，M为正整数；每个多路分配单元包括与X条数据线一一对应的X个第一开关元件，每一第一开关元件包括第一控制端、第一输入端和第一输出端，同一多路分配单元的X个第一开关元件的第一输入端连接，同一多路分配单元的X个第一开关元件的第一输出端与同一数据线组的X条数据线一一对应连接；每一多路分配单元的X个第一开关元件的第一控制端与X条第一开关控制线一一对应连接；多个测试单元与多路分配单元一一对应，每一测试单元包括N个第二开关元件，每一第二开关元件包括第二控制端、第二输入端和第二输出端，同一测试单元的N个第二开关元件的第二输出端连接；同一测试单元中第二开关元件的第二输出端与同一多路分配单元中第一开关元件的第一输入端电连接；每一测试单元的N个第二开关元件的第二控制端与N条第二开关控制线一一对应连接。
另一方面，本发明实施例还提供一种阵列基板母板，包括上述任一实施方式的阵列基板。
再一方面，本发明实施例还提供一种显示面板，包括上述任一实施方式的阵列基板。
又一方面，本发明实施例还提供一种显示面板的制备方法，包括提供上述任一实施方式的阵列基板，阵列基板包括显示区和位于显示区外周侧的非显示区，非显示区包括待切割区；切除待切割区。
根据本发明实施例的阵列基板、阵列基板母板、显示面板以及显示面板的制备方法，阵列基板包括多个子像素、多条数据线、多个多路分配单元、X条第一开关控制线、多个测试单元和N条第二开关控制线，通过设置测试单元的第二开关元件的第二控制端与第二开关控制线连接一一对应连接，使得第二开关控制线能够选通第二开关元件，进而使测试信号通过测试单元的第二开关元件；通过设置同一测试单元中第二开关元件的第二输出端与同一多路分配单元中第一开关元件的第一输入端电连接，使得测试信号能够经由第二开关元件传输至第一开关元件的第一输入端；进一步地，通过设置多路分配单元的第一开关元件的第一控制端与第一开关控制线一一对应连接，使得第一开关控制线能够选通第一开关元件，进而使测试信号能够通过多路分配单元的第一开关元件，并将测试信号传输至数据线中，数据线能够控制各子像素发光显示，从而实现显示面板的可视检测，从而检测出显示面板是否存在不良的情况。
附图说明
通过阅读以下参照附图对非限制性实施例所作的详细描述，本发明的其它特征、目的和优点将会变得更明显，其中，相同或相似的附图标记表示相同或相似的特征，附图并未按照实际的比例绘制。
图1是本发明一个实施例提供的阵列基板的结构示意图；
图2是本发明另一个实施例提供的阵列基板的结构示意图；
图3是本发明再一个实施例提供的阵列基板的结构示意图；
图4是本发明另一个实施例提供的阵列基板的结构示意图；
图5是本发明又一个实施例提供的阵列基板的结构示意图；
图6是本发明另一个实施例提供的阵列基板的结构示意图；
图7是本发明另一个实施例提供的阵列基板的结构示意图；
图8是本发明另一个实施例提供的阵列基板的结构示意图；
图9是本发明另一个实施例提供的阵列基板的结构示意图；
图10是本发明另一个实施例提供的阵列基板的结构示意图；
图11是本发明另一个实施例提供的阵列基板的结构示意图；
图12是本发明另一个实施例提供的阵列基板的结构示意图；
图13是本发明一个实施例提供的阵列基板母板的结构示意图；
图14是本发明一个实施例提供的显示面板的结构示意图；
图15是本发明一个实施例提供的显示面板的制备方法的流程示意图；
图16是本发明一个实施例提供的阵列基板的结构示意图；
图17是本发明另一个实施例提供的阵列基板的结构示意图；
图18是本发明一个实施例提供的切除待切割区域后的阵列基板的结构示意图。
具体实施方式
下面将详细描述本发明的各个方面的特征和示例性实施例，为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及具体实施例，对本发明进行进一步详细描述。应理解，此处所描述的具体实施例仅被配置为解释本发明，并不被配置为限定本发明。对于本领域技术人员来说，本发明可以在不需要这些具体细节中的一些细节的情况下实施。下面对实施例的描述仅仅是为了通过示出本发明的示例来提供对本发明更好的理解。
需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
应当理解，在描述部件的结构时，当将一层、一个区域称为位于另一层、另一个区域“上面”或“上方”时，可以指直接位于另一层、另一个区域上面，或者在其与另一层、另一个区域之间还包含其它的层或区域。并且，如果将部件翻转，该一层、一个区域将位于另一层、另一个区域“下面”或“下方”。
下面将详细描述本发明的各个方面的特征和示例性实施例。此外，下文中所描述的特征、结构或特性可以以任何合适的方式结合在一个或更多实施例中。
本发明实施例提供了一种阵列基板、阵列基板母板、显示面板以及显示面板的制备方法。下面结合附图对本发明实施例的阵列基板100、阵列基板母板、显示面板以及显示面板的制备内方法进行详细描述。
请一并参阅图1至图3，图1是本发明一个实施例提供的阵列基板的结构示意图，图2是本发明一个实施例提供的阵列基板的结构示意图，图3是本发明再一个实施例提供的阵列基板的结构示意图。本发明实施例提供一种阵列基板100，阵列基板100具有显示区AA以及位于显示区AA外周侧的非显示区NA，阵列基板100包括多个子像素10、多条数据线20、多个多路分配单元30、X条第一开关控制线40、多个测试单元50和N条第二开关控制线60，其中，多个子像素10和多条数据线20的至少部分位于显示区AA，多个多路分配单元30、X条第一开关控制线40、多个测试单元50和N条第二开关控制线60均位于非显示区NA。
在多个子像素10中，相邻N个不同种颜色的子像素10组成一像素单元PX。可选地，多个子像素10可以包括红色子像素11、绿色子像素12以及蓝色子像素13，三个不同颜色的子像素10组成一个像素单元PX，此时N＝3。在一些实施例中，多个子像素10可以包括红色子像素11、绿色子像素12、蓝色子像素13以及白色子像素，四个不同颜色的子像素10组成一个像素单元PX，此时N＝4。本文中以不同颜色的填充图案表示不同颜色的子像素，附图中示意性绘示出数据线与子像素的电连接关系，对子像素的排列形式不作限定。
多条数据线20沿第一方向Q延伸且沿第二方向K排布，第一方向Q和第二方向K交叉，数据线20与子像素10的像素电路连接，以将数据信号传输至像素电路中，像素电路能够控制子像素10发光显示。多个子像素10能够形成M列像素单元PX，M列像素单元PX包括X条数据线20，X条数据线20为一个数据线组21，其中，X＝M*N，N≥3且为整数，M为正整数。在具体实施时，第一方向Q和第二方向K之间的角度可以为90度，第一方向Q可以为阵列基板100的列方向，第二方向K可以为阵列基板100的行方向。可以理解的是，在附图1中，第一方向Q为图中的上下延伸方向，此时数据线20沿上下方向延伸，可选地，数据线20可以为沿第一方向Q呈直线延伸、或者曲线延伸或者呈折线延伸等，本发明对此不进行限定。
在多个多路分配单元30中，每个多路分配单元30包括与X条数据线20一一对应的X个第一开关元件31，每一第一开关元件31包括第一控制端311、第一输入端312和第一输出端313，同一多路分配单元30的X个第一开关元件31的第一输入端312连接，同一多路分配单元30的X个第一开关元件31的第一输出端313与同一数据线组21的X条数据线20一一对应连接。在一些实施例中，同一多路分配单元30的X个第一开关元件31的第一输入端312连接且与一条扇出线74连接，扇出线74位于非显示区NA。通过在一个多路分配单元30设置与X条数据线20一一对应的X个第一开关元件31，能够使每个第一开关元件31独立控制对应的数据线20的信号传输，且通过将同一多路分配单元30的X个第一开关元件31的第一输入端312连接至一条扇出线74，能够减少扇出线74的布线数量，从而使一条扇出线74能够分别给X条数据线20传输电信号，控制X条数据线20发光显示，从而减小非显示区NA的布线数量，减少非显示区NA的面积，实现显示面板的窄边框需求。其中，每个多路分配单元30中包括的第一开关元件31的数量X可以根据一个数据线组21中包括的数据线20的数量进行设定，例如，当一个像素单元PX中包括三种不同颜色的子像素10，一列像素单元PX的三条数据线20为一个数据线组20，即一个数据线组20包括三条数据线20，如图1和图3所示，每个多路分配单元30中包括的第一开关元件31的数量X可以为3，或者如图2所示X可以为6，此时M＝2。
在X条第一开关控制线40中，每一多路分配单元30的X个第一开关元件31的第一控制端311与X条第一开关控制线40一一对应连接，使每条第一开关控制线40能够控制对应的一个第一开关元件31的通断。
多个测试单元50与多路分配单元30一一对应，每一测试单元50包括N个第二开关元件51，每一第二开关元件51包括第二控制端511、第二输入端512和第二输出端513，同一测试单元50的N个第二开关元件51的第二输出端513连接，同一测试单元50中第二开关元件51的第二输出端513与同一多路分配单元30中第一开关元件31的第一输入端312电连接，通过上述设置，能够使测试单元50中经第二开关元件51传输的测试信号传输至同一多路分配单元30中的第一开关元件31，又由于多路分配单元30中第一开关元件31的第一输出端313与同一数据线组21的X条数据线20一一对应连接，使得测试单元50传输的测试信号能够经由多路分配单元30传输至数据线20中，数据线20控制相应的子像素10发光显示。
在N条第二开关控制线60中，每一测试单元50的N个第二开关元件51的第二控制端511与N条第二开关控制线60一一对应连接，以使每条第二开关控制线60能够控制对应的一个第二开关元件51的通断。
根据本发明实施例的阵列基板100、通过设置第二开关控制线60控制测试单元50的第二开关元件51的通断，第一开关控制线40控制多路分配单元30的第一开关元件31的通断，在第一开关元件31和对应的第二开关元件51处于导通状态时，本发明实施例的阵列基板100中的测试信号能够经由第二开关元件51的第二输出端513传输至第一开关元件31的第一输入端312，然后由第一开关元件31的第一输出端313传输至对应的数据线20，进而控制与该数据线20电连接的子像素10的发光显示，当阵列基板100应用至显示面板上时，能够实现显示面板的VT检测。
在一些实施例中，X条第一开关控制线40包括第一子开关控制线CK-R，第一子开关控制线CK-R包括与第一节点41连接的第一子线部42和第一子进线部43，第一子线部42的延伸方向与第一方向Q交叉，第一子进线部43的延伸方向与第二方向K交叉。N条第二开关控制线60包括第二子开关控制线SW-R，第二子开关控制线SW-R包括与第二节点61连接的第二子线部62和第二子进线部63，第二子线部62的延伸方向与第一方向Q交叉，第二子进线部63的延伸方向与第二方向K交叉。阵列基板100还包括第一控制端子71、第二控制端子72和信号端子73，第一控制端子71与第一子进线部43电连接；第二控制端子72与第二子进线部63电连接，信号端子73与第二开关元件51的第二输入端512电连接。
可选地，第一子开关控制线CK-R与第二子开关控制线SW-R均用于控制对应同种颜色子像素10的数据线20的信号传输，例如第一子开关控制线CK-R与第二子开关控制线SW-R均用于控制红色子像素11的数据线20的信号传输，此时，第一子开关控制线CK-R在控制第一开关元件31导通、第二子开关控制线SW-R在控制第二开关元件51导通时，信号端子73传输的电信号能够经由第二开关元件51和第一开关元件31控制同一颜色的子像素10发光显示，可以使在VT测试时实现纯色画面显示；同时由于第二开关元件51通过第一开关元件31控制子像素10发光显示，能够避免单独额外设置第二开关元件51与数据线20的连接引线，从而减小阵列基板100的宽度。在控制对应同种颜色子像素10的数据线20的信号传输的第一子开关控制线CK-R和第二子开关控制线SW-R中，第一子开关控制线CK-R的第一子线部42位于第一节点41的第一侧，与第一子线部42连接的第一开关元件31的数量为p1；第二子开关控制线SW-R的第二子线部62位于第二节点61的第一侧，与第二子线部62连接的第二开关元件51的数量为q1，p1和q1满足关系式：∣p1-q1∣≤k，p1≥0且为整数，q1≥0且为整数，k为预设阈值，其中，预设阈值为用户目视到的显示面板的显示效果均一，没有亮线、暗线等竖直显示不均一(mura)的情况下，∣p1-q1∣的最大值。通过上述设置，使得沿第二方向K，第一节点41和第二节点61相互靠近，改善因第一节点41和第二节点61沿第二方向K距离较远时，因第一子开关控制线CK-R上传输的关闭信号和第二子开关控制线SW-R传输的关闭信号在传输时具有时延，使得第二子开关控制线SW-R中的关闭信号传输至其中一个第二开关元件51时，与该第二开关元件51的第二输出端513电连接的第一开关元件31还未接收到关闭信号，还处于打开状态，导致与该第一开关元件31电连接的数据线20的电压耦合量与其他数据线20的电压耦合量不一致导致显示面板产生竖直显示不均一(mura)的问题；例如在图1中，本发明实施例的第一节点41和第二节点61相互靠近，第二控制端子72发出的关闭信号经由第二节点61沿第二子线部62传输至各个第二开关元件51的时间，与第一控制端子71发出的关闭信号经由第一节点41沿第一子线部42传输至各个第一开关元件31的时间相近，使得与第一开关元件31电连接的不同位置数据线20电压耦合量相近，使得显示面板的显示效果均一。可以理解的是，第一侧可以为第二子线部62的延伸方向的其中一侧，如图1至图3所示，第二子线部62沿附图中的左右方向延伸，则第一侧可以为第二子线部62的左侧或右侧，例如，第一侧可以为第二子线部62的右侧，即第二节点61位于第二子线部62的右侧，此时，第一节点41可以位于第一子线部42的右侧。可选地，第一侧可以为第二子线部62的左侧，即第二节点61位于第二子线部62的左侧，此时，第一节点41可以位于第一子线部42的左侧。
示例性地，如图1所示，每个多路分配单元30中包括的第一开关元件31的数量X＝3，每个测试单元50中包括的第二开关元件51的数量N＝3，第一节点41可位于第一子线部42的右侧，第二节点61位于第二子线部62的右侧，此时，p1＝q1，则p1和q1满足关系式：∣p1-q1∣＝0。如图2所示，每个多路分配单元30中包括的第一开关元件31的数量X＝6，每个测试单元50中包括的第二开关元件51的数量N＝3，第一节点41可位于第一子线部42的右侧，第二节点61位于第二子线部62的右侧，以控制对应红色子像素11的数据线22的信号传输的第一子开关控制线CK-R1和第二子开关控制线SW-R为例，此时，则p1和q1满足关系式：∣p1-q1∣＝0。在图1和图2中示出的阵列基板100的结构中，沿第二方向K，全部数量的第一开关元件31均位于第一节点41的左侧，全部数量的第二开关元件51均位于第二节点61的左侧，使得第二控制端子72发出的关闭信号经由第二节点61沿第二子线部62传输至各个第二开关元件51的时间，与第一控制端子71发出的关闭信号经由第一节点41沿第一子线部42传输至各个第一开关元件31的时间相近，减少第一开关元件31和与第一开关元件31电连接的第二开关元件51接收到关闭信号的时延，使得与第一开关元件31电连接的不同位置数据线20电压耦合量相近，提高显示面板的显示均一性。
在一些实施例中，阵列基板100中包括N个信号端子73时，同一像素单元PX中，与该N个不同种颜色的子像素10分别连接的N条数据线20，分别通过不同的第一开关元件31和第二开关元件51与N个信号端子一一对应连接。通过上述设置，以使不同的信号端子73向不同的数据线20中传输数据信号，以控制不同种颜色的子像素10发光显示，进而实现VT测试。
下面结合附图1对测试单元50能够实现不同颜色子像素10发光显示的具体结构进行介绍。一个像素单元PX中可以包括三个子像素10，分别为红色子像素11、绿色子像素12以及蓝色子像素13，多条数据线20包括用于给红色子像素11传输数据信号的第一数据线22，用于给绿色子像素12传输数据信号的第二数据线23以及用于给蓝色子像素13传输数据信号的第三数据线24，多路分配单元30中包括三个第一开关元件31，分别为第一开关元件31R、第一开关元件31G以及第一开关元件31B，X条第一开关控制线40还可以包括第三子开关控制线CK-G以及第四子开关控制线CK-B，第一子开关控制线CK-R、第三子开关控制线CK-G以及第四子开关控制线CK-B各自均包括与第一节点41连接的第一子线部42和第一子进线部43，每个测试单元50中包括三个第二开关元件51，分别为第二开关元件51R、第二开关元件51G以及第二开关元件51B，N条第二开关控制线60还包括第五子开关控制线SW-G以及第六子开关控制线SW-B，信号端子73包括第一信号端子73R、第二信号端子73G以及第三信号端子73B。
基于此，第一子开关控制线CK-R与第二开关元件51R的控制端511电连接，第二子开关控制线SW-R与第一开关元件31R的控制端311电连接，第一信号端子73R与第二开关元件51R的第二输入端512电连接，第二开关元件51R的第二输出端513与第一开关元件31R的第一输入端312电连接，第一开关元件31R的第一输出端313与第一数据线22连接，第一数据线22用于给红色子像素11传输数据信号，通过上述设置，能够使第一子开关控制线CK-R在导通第一开关元件31R、第二子开关控制线SW-R在导通第二开关元件51R时，信号端子73R输入的电信号能够经由第二开关元件51R和第一开关元件31R控制红色子像素11发光显示。同样地，第三子开关控制线CK-G与第二开关元件51G的控制端511电连接，第三子开关控制线SW-G与第一开关元件31G的控制端311电连接，第一信号端子73G与第二开关元件51G的第二输入端512电连接，第二开关元件51G的第二输出端513与第一开关元件31G的第一输入端312电连接，第一开关元件31G的第一输出端313与第二数据线23连接，第二数据线23用于给绿色子像素12传输数据信号，通过上述设置，能够使第三子开关控制线CK-G在选通第一开关元件31G、第五子开关控制线SW-G在选通第二开关元件51G时，信号端子73G输入的电信号能够经由第二开关元件51G和第一开关元件31G控制绿色子像素12发光显示。第四子开关控制线CK-B与第二开关元件51B的控制端511电连接，第六子开关控制线SW-B与第一开关元件31B的控制端311电连接，第一信号端子73B与第二开关元件51B的第二输入端512电连接，第二开关元件51B的第二输出端513与第一开关元件31B的第一输入端312电连接，第一开关元件31B的第一输出端313与第三数据线24连接，第三数据线24用于给蓝色子像素13传输数据信号，通过上述设置，能够使第四子开关控制线CK-B在选通第一开关元件31B、第六子开关控制线SW-B在选通第二开关元件51B时，信号端子73B输入的电信号能够经由第二开关元件51B和第一开关元件31B控制蓝色子像素13发光显示。
与第一子开关控制线CK-R的第一子线部42连接的第一开关元件31的数量为p1；与第二子开关控制线SW-R的第二子线部62连接的第二开关元件51的数量为q1，则∣p1-q1∣≤k。与第三子开关控制线CK-G的第一子线部42连接的第一开关元件31的数量为p1；与第五子开关控制线SW-G的第二子线部62连接的第二开关元件51的数量为q1，∣p1-q1∣≤k。与第四子开关控制线CK-B的第一子线部42连接的第一开关元件31的数量为p1；与第六子开关控制线SW-B的第二子线部62连接的第二开关元件51的数量为q1，∣p1-q1∣≤k。
图2中X条第一开关控制线40可以包括第一子开关控制线CK-R1、第一子开关控制线CK-R2、第三子开关控制线CK-G1、第三子开关控制线CK-G2、第四子开关控制线CK-B1、第四子开关控制线CK-B2，其中，第一子开关控制线CK-R1、第一子开关控制线CK-R2以及第二子开关控制线SW-G均用于控制对应红色子像素11的数据线22的信号传输；第三子开关控制线CK-G1、第三子开关控制线CK-G2以及第五子开关控制线SW-G均用于控制对应绿色子像素12的数据线23的信号传输，第四子开关控制线CK-B1、第四子开关控制线CK-B2以及第六子开关控制线SW-B均用于控制对应蓝色子像素13的数据线24的信号传输，测试单元50、多路分配单元30以及数据线20的连接方式与图1相似，不再赘述。
请参阅图4，图4是本发明另一个实施例提供的阵列基板的结构示意图。在本实施例提供的阵列基板100中，多条数据线20形成第一数据线组21a和第二数据线组21b，第一数据线组21a和第二数据线组21b中包括的数据线20的数量相等，沿第二方向K，第一进线部43和第一节点41位于第一数据线组21a远离第二数据线组21b的一侧，即第一节点41位于阵列基板100的边缘位置，第二进线部63和第二节点61位于第一数据线组21a和第二数据线组21b之间，即第二进线部63和第二节点61位于阵列基板100的中间位置。通过上述设置，使得测试信号能够通过第二开关元件51和第一开关元件31传输至数据线20中，从而实现显示面板的VT测试。
请进一步参阅图2、图5至图7，图5是本发明又一个实施例提供的阵列基板的结构示意图，图6是本发明另一个实施例提供的阵列基板的结构示意图，图7是本发明另一个实施例提供的阵列基板的结构示意图。在一些实施例中，第二控制端子72复用为第一控制端子71，在控制对应同种颜色子像素10的数据线20的信号传输的第一子开关控制线CK-R和第二子开关控制线SW-R中，第一子进线部43和第二子进线部63电连接。可以理解的是，当第一开关控制线40还包括第三子开关控制线CK-G，第二开关控制线60还包括第五子开关控制线SW-G时，第三子开关控制线CK-G的第一子进线部43和第五子开关控制线SW-G的第二子进线部63电连接。通过上述设置，能够减少控制端子的布置数量，便于优化控制端子在阵列基板100上的布局，使得阵列基板100上的控制端子的布局更加合理规范。
请一并参阅图5和图6，在一些实施例中，p1＝q1＞0，k＝0。通过上述设置，第一节点41和第二节点61相互靠近设置，使得第二控制端子72发出的关闭信号经由第二节点61沿第二子线部62传输至各个第二开关元件51的时间，与第一控制端子71发出的关闭信号经由第一节点41沿第一子线部42传输至各个第一开关元件31的时间相近，减少第一开关元件31和与第一开关元件31电连接的第二开关元件51接收到关闭信号的时延，使得与第一开关元件31电连接的不同位置数据线20电压耦合量相近，提高显示面板的显示均一性。可选地，如图7所示，第一节点41位于第一子线部42的左侧，第二节点61位于第二子线部62的左侧，此时p1＝q1＝0，k＝0。
为合理布置第一节点41和第二节点61的位置，在一些实施例中，第一子开关控制线CK-R还包括延伸方向与第一方向Q交叉的第三子线部44，第三子线部44与第一子线部42连接于第一节点41；第二子开关控制线SW-R还包括延伸方向与第一方向Q交叉的第四子线部64，第四子线部64与第二子线部62连接于第二节点61；第三子线部44位于第一节点41的第二侧，与第三子线部44连接的第一开关元件31的数量为p2；第四子线部64位于第二节点61的第二侧，与第四子线部64连接的第二开关元件51的数量为q2，p2为正整数，q2位正整数，第一侧与第二侧不同。可以理解的是，第二侧可以为第三子线部44的延伸方向的其中一侧，如图6所示，第三子线部44沿附图6中的左右方向延伸，则第二侧可以为第三子线部44的左侧或右侧，同样地，第四子线部64沿附图6中的左右方向延伸，则第二侧可以为第四子线部64的左侧或右侧。由于第一侧和第二侧不同，则第一侧为如图6左侧或右侧的其中一者，第二侧则为左侧和右侧的另一者。例如，第一节点41位于第一子线部42的右侧，第一节点41位于第三子线部44的左侧，第二节点61位于第二子线部62的右侧，第二节点61位于第四子线部64的左侧。
在一些实施例中，p1＝p2，q1＝q2，且k＝0，此时的第一节点41和第二节点42位于阵列基板100的中间位置，能够简化阵列基板100的制作工艺。
为便于规范布线，可选地，第一子进线部43、第二子进线部63均沿第一方向Q延伸，第一子进线部43、第二子线部63、第三子线部44以及第四子线部64均沿第二方向K延伸。
为了使各数据线21写入显示区AA中的电压差异较小，请进一步参阅图7，图7是本发明另一个实施例提供的阵列基板的结构示意图。在一些实施例中，第一子开关控制线CK-R还包括至少一个第三节点45，以及连接第一节点41和第三节点45的第一子连接线部46，与第一子连接线部46连接的第一开关元件31的数量为p3；第二子开关控制线SW-R还包括至少一个第四节点65，以及连接第二节点61和第四节点65的第二子连接线部66，与第二子连接线部66连接的第一开关元件31的数量为q3；P3正整数，q3正整数。如图7所示，第一子开关控制线CK-R还包括一个第三节点45，第二子开关控制线SW-R还包括一个第四节点65，即此时的第一子进线部43和第二子进线部63分别从阵列基板100沿第二方向K的两侧进线，且两侧分别设置有控制端子。如图8所示，图8是本发明另一个实施例提供的阵列基板的结构示意图，此时的阵列基板100中，第三节点45和第四节点65的数量分别为两个，使得第一子开关控制线CK-R和各第二子开关控制线SW-R具有分别具有多个进线节点，有效减少走线负载，从而使各数据线21写入显示区AA中的电压差异较小，使显示面板的显示均匀。其中，第三节点45与第四节点65之间的位置关系与第一节点41和第二节点61之间的位置关系相同，第三子开关控制线CK-G以及第四子开关控制线CK-B上进线节点的数量以及位置与上述各实施例中第一子开关控制线CK-R相似，第五子开关控制线SW-G以及第六子开关控制线SW-B上进线节点的数量和位置与上述各实施例中第二子开关控制线SW-R相似，不再赘述。
请参阅图8，多个子像素10可以包括红色子像素11、绿色子像素12、蓝色子像素13以及白色子像素，四个不同颜色的子像素10组成一个像素单元PX，此时N＝4。相应地，M可以为1，则X＝4，即每个多路分配单元30中可以包括四个第一开关元件31；每个测试单元50中包括四个第二开关元件51，第一控制端子71、第二控制端子72以及信号端子73的数量分别为四个。在具体实施时，X条第一开关控制线40还可以包括第七子开关控制线CK-W，N条第二开关控制线60还可以包括第八子开关控制线SW-W，信号端子73W与第二开关元件51W的第二输入端512电连接，第二开关元件51W的第二输出端513与第一开关元件31W的第一输入端312电连接，第二开关元件51W的控制端511与第二子控制线SW-W电连接，第一开关元件31W的第一输出端313与向白色子像素14传输数据信号的数据线25电连接，第一开关元件31W的控制端311与第一子控制线CK-W电连接，其余颜色子像素与各开关元件的电连接方式相似，不再赘述。
请一并参阅图9至图11，图9是本发明另一个实施例提供的阵列基板的结构示意图，图10是本发明另一个实施例提供的阵列基板的结构示意图，图11是本发明另一个实施例提供的阵列基板的结构示意图。在一些实施例中，阵列基板100包括衬底81以及位于衬底81上的集成电路绑定区82，集成电路绑定区82用于绑定IC芯片，各多路分配单元30通过扇出线74与IC芯片上的引脚电连接，从而使IC芯片控制各子像素10的发光显示；沿第一方向Q，集成电路绑定区82位于多路分配单元30和测试单元50之间，在垂直于衬底81所在平面的方向上，第一子进线部43与集成电路绑定区82至少部分交叠，和/或第二子进线部63与集成电路绑定区82至少部分交叠。通过上述设置，能够在阵列基板100上合理布置测试单元50的位置，以稳定地实现显示面板的VT检测，同时还能使集成电路绑定区82上绑定的IC芯片通过多路分配单元30或者通过多路分配单元30以及测试单元50与数据线20连接，以实现IC芯片对子像素10显示的控制作用。
在具体实施时，如图9所示，在垂直于衬底81所在平面的方向上，第一子进线部43与集成电路绑定区82至少部分交叠，或者如图10所示，第二开关控制线60位于测试单元50靠近显示区AA的一侧，在垂直于衬底81所在平面的方向上，第二子进线部63与集成电路绑定区82至少部分交叠；或者如图11所示，当第一控制端子71和第二控制端子不复用时，在垂直于衬底81所在平面的方向上，第一子进线部43与集成电路绑定区82至少部分交叠，且第二子进线部63与集成电路绑定区82至少部分交叠。
请参阅图12，图12是本发明另一个实施例提供的阵列基板的结构示意图。在一些实施例中，阵列基板100包括衬底81以及位于衬底81上的集成电路绑定区82，沿第一方向Q，测试单元50位于多路分配单元30和集成电路绑定区82之间，在垂直于衬底81所在平面的方向上，第一子进线部43与集成电路绑定区82至少部分交叠，第二子进线部63与集成电路绑定区82至少部分交叠。通过上述设置，能够在阵列基板100上合理布置测试单元50的位置，以稳定地实现显示面板的VT检测，同时还能使集成电路绑定区82上绑定的IC芯片通过多路分配单元30以及测试单元50与数据线20连接，以实现IC芯片对子像素10显示的控制作用。
在一些实施例中，第一开关元件31和第二开关元件51均为N型薄膜晶体管或均为P型薄膜晶体管。通过上述设置，使得第一开关元件31和第二开关元件51为同种类型的晶体管，便于简化控制信号的种类。
综上，根据本发明实施例的阵列基板100，阵列基板100包括多个子像素10、多条数据线20、多个多路分配单元30、X条第一开关控制线40、多个测试单元50和N条第二开关控制线60，通过设置测试单元50的第二开关元件51的第二控制端511与第二开关控制线60连接一一对应连接，使得第二开关控制线60能够选通第二开关元件51，进而使测试信号通过测试单元50的第二开关元件51；通过设置同一测试单元50中第二开关元件51的第二输出端513与同一多路分配单元30中第一开关元件31的第一输入端312电连接，使得测试信号能够经由第二开关元件51传输至第一开关元件31的第一输入端312；进一步地，通过设置多路分配单元30的第一开关元件31的第一控制端311与第一开关控制线40一一对应连接，使得第一开关控制线40能够选通第一开关元件31，进而使测试信号能够通过多路分配单元30的第一开关元件31，并将测试信号传输至数据线20中，数据线20能够控制各子像素10发光显示，从而实现显示面板的可视检测，从而检测出显示面板是否存在不良的情况。
请参阅图13，图13是本发明一个实施例提供的阵列基板母板的结构示意图。本发明实施例还提供一种阵列基板母板，包括如上述任一实施方式的阵列基板100。本发明实施例的阵列基板母板，通过设置第二开关控制线60控制测试单元50的第二开关元件51的通断，第一开关控制线40控制多路分配单元30的第一开关元件31的通断，在第一开关元件31和对应的第二开关元件51处于导通状态时，本发明实施例的阵列基板100中的测试信号能够经由第二开关元件51的第二输出端513传输至第一开关元件31的第一输入端312，然后由第一开关元件31的第一输出端313传输至对应的数据线20，进而控制与该数据线20电连接的子像素10的发光显示，当阵列基板100应用至显示面板上时，能够实现显示面板的VT检测。
在一些实施例中，阵列基板母板包括至少两个阵列基板100，通过切割形成独立的阵列基板100。在阵列基板母板中可以将两个以上阵列基板100的第一控制端子71复用为第二控制端子72，还可以将第一控制端子71、第二控制端子以及信号端子73设置于阵列基板母板的边缘区域，优化阵列基板母板的布局，减少阵列基板母板的面积，节省制作材料。
请参阅图14，图14是本发明一个实施例提供的显示面板的结构示意图。本发明实施例还提供一种显示面板1000，包括如上述任一实施方式的阵列基板100。本发明实施例的显示面板1000可以为液晶显示面板或者有机发光二极管显示面板。本发明实施例的显示面板1000具有与上述任一实施方式的阵列基板100相同的有益效果，不再赘述。
在一些实施例中，显示面板1000还包括与阵列基板100相对设置的对置基板200，当显示面板1000为液晶显示面板时，显示面板1000还包括位于阵列基板100和对置基板200之间的显示介质层300，可选地，显示介质层300可以为液晶层，通过控制液晶层的偏转以实现显示面板1000的显示。
请参阅图15至图18，图15是本发明一个实施例提供的显示面板的制备方法的流程示意图，图16是本发明一个实施例提供的阵列基板的结构示意图，图17是本发明一个实施例提供的阵列基板的结构示意图，图18是本发明一个实施例提供的切除待切割区域后的阵列基板的结构示意图。本发明实施例还提供一种显示面板的制备方法，包括：
S110、提供阵列基板100，阵列基板100包括显示区AA和位于显示区AA外周侧的非显示区NA，非显示区NA包括待切割区NA1。
在本实施例中，阵列基板100为上述任一实施方式的阵列基板100。
S120、切除待切割区NA1。
根据本发明实施例的显示面板的制备方法制备的显示面板100，在进行VT测试时，测试信号能够经由第二开关元件51的第二输出端513传输至第一开关元件31的第一输入端312，然后由第一开关元件31的第一输出端313传输至对应的数据线20，进而控制与该数据线20电连接的子像素10的发光显示，从而对显示面板1000进行检测。通过将待切割区NA1切除，能够减小显示面板1000的尺寸，进一步实现显示面板1000的窄边框需求，便于推广应用。
如图16和图17所示，在一些实施例中，阵列基板100还包括第一控制端子71、第二控制端子72以及信号端子73，非显示区NA还包括集成电路绑定区82，多路分配单元30位于集成电路绑定区82靠近显示区AA的一侧，待切割区NA1位于集成电路绑定区82远离显示区AA的一侧；其中，测试单元50、第一控制端子71、第二控制端子72以及信号端子73的至少一者位于待切割区NA1。通过上述设置，能够合理布置各控制端子、信号端子以及测试单元50的位置，能够合理设置待切割区NA1，在切除待切割区NA1后，能够减小显示面板1000的边框。
如图17，在一些实施例中，测试单元50位于集成电路绑定区82靠近显示区AA的一侧，第一控制端子71、第二控制端子72以及信号端子73的至少一者位于待切割区NA1。通过上述设置，能够合理设置待切割区NA1，在切除待切割区NA1后，能够减小显示面板1000的边框。
如图16，在一些实施例中，测试单元50位于集成电路绑定区82远离显示区AA的一侧，测试单元50、第一控制端子71以及第二控制端子72均位于待切割区NA1。通过上述设置，能够合理设置待切割区NA1，在切除待切割区NA1后，能够减小显示面板1000的边框。
如图18所示，在一些实施例中，切除待切割区NA1后，阵列基板100具有显示区AA以及位于显示区AA外周侧的非显示区NA，非显示区NA包括集成电路绑定区82，阵列基板100包括多个子像素10、多条数据线20、多个多路分配单元30和X条第一开关控制线40，其中，多个子像素10和多条数据线20的至少部分位于显示区AA，多个多路分配单元30和X条第一开关控制线40均位于非显示区NA。
依照本发明如上文的实施例，这些实施例并没有详尽叙述所有的细节，也不限制该发明仅为所述的具体实施例。显然，根据以上描述，可作很多的修改和变化。本说明书选取并具体描述这些实施例，是为了更好地解释本发明的原理和实际应用，从而使所属技术领域技术人员能很好地利用本发明以及在本发明基础上的修改使用。本发明仅受权利要求书及其全部范围和等效物的限制。

Claims (19)

1.一种阵列基板，其特征在于，包括：
多个子像素，相邻N个不同种颜色的所述子像素组成一像素单元；
多条数据线，沿第一方向延伸且沿第二方向排布，所述第一方向和所述第二方向交叉，M列像素单元的X条所述数据线为一数据线组，X＝M*N，N≥3且为整数，M为正整数；
多个多路分配单元，每个所述多路分配单元包括与X条所述数据线一一对应的X个第一开关元件，每一所述第一开关元件包括第一控制端、第一输入端和第一输出端，同一所述多路分配单元的X个第一开关元件的第一输入端连接，同一所述多路分配单元的X个第一开关元件的第一输出端与同一所述数据线组的X条所述数据线一一对应连接；
X条第一开关控制线，每一所述多路分配单元的X个第一开关元件的第一控制端与X条第一开关控制线一一对应连接；
多个测试单元，与所述多路分配单元一一对应，每一所述测试单元包括N个第二开关元件，每一所述第二开关元件包括第二控制端、第二输入端和第二输出端，同一所述测试单元的N个第二开关元件的所述第二输出端连接；同一所述测试单元中所述第二开关元件的所述第二输出端与同一所述多路分配单元中所述第一开关元件的所述第一输入端电连接；
N条第二开关控制线，每一所述测试单元的N个所述第二开关元件的所述第二控制端与N条所述第二开关控制线一一对应连接。
2.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，
X条所述第一开关控制线包括第一子开关控制线，所述第一子开关控制线包括与第一节点连接的第一子线部和第一子进线部，所述第一子线部的延伸方向与第一方向交叉，所述第一子进线部的延伸方向与所述第二方向交叉；
第一控制端子，与所述第一子进线部电连接；
N条所述第二开关控制线包括第二子开关控制线，所述第二子开关控制线包括与第二节点连接的第二子线部和第二子进线部，所述第二子线部的延伸方向与所述第一方向交叉，所述第二子进线部的延伸方向与所述第二方向交叉；
第二控制端子，与所述第二子进线部电连接；
信号端子，与所述第二开关元件的第二输入端电连接；
所述第一子开关控制线与所述第二子开关控制线均用于控制对应同种颜色子像素的数据线的信号传输；
所述第一子线部位于所述第一节点的第一侧，与所述第一子线部连接的所述第一开关元件的数量为p1；所述第二子线部位于所述第二节点的所述第一侧，与所述第二子线部连接的所述第二开关元件的数量为q1，∣p1-q1∣≤k，p1≥0且为整数，q1≥0且为整数，k为预设阈值。
3.根据权利要求2所述的阵列基板，其特征在于，所述第二控制端子复用为所述第一控制端子。
4.根据权利要求2所述的阵列基板，其特征在于，p1＝q1＞0，k＝0。
5.根据权利要求4所述的阵列基板，其特征在于，
所述第一子开关控制线还包括延伸方向与所述第一方向交叉的第三子线部，所述第三子线部与所述第一子线部连接于所述第一节点；所述第二子开关控制线还包括延伸方向与所述第一方向交叉的第四子线部，所述第四子线部与所述第二子线部连接于所述第二节点；
所述第三子线部位于所述第一节点的第二侧，与所述第三子线部连接的第一开关元件的数量为p2；所述第四子线部位于所述第二节点的所述第二侧，与所述第四子线部连接的第二开关元件的数量为q2，p2为正整数，q2位正整数，所述第一侧与所述第二侧不同。
6.根据权利要求5所述的阵列基板，其特征在于，
p1＝p2，q1＝q2。
7.根据权利要求2所述的阵列基板，其特征在于，
所述第一子开关控制线还包括至少一个第三节点，以及连接所述第一节点和所述第三节点的第一子连接线部，与所述第一子连接线部连接的所述第一开关元件的数量为p3；
所述第二子开关控制线还包括至少一个第四节点，以及连接所述第二节点和所述第四节点的第二子连接线部，与所述第二子连接线部连接的所述第一开关元件的数量为q3；
P3正整数，q3正整数。
8.根据权利要求2所述的阵列基板，其特征在于，
所述阵列基板包括衬底以及位于所述衬底上的集成电路绑定区；沿所述第一方向，所述集成电路绑定区位于所述多路分配单元和所述测试单元之间；
在垂直于所述衬底所在平面的方向上，所述第一子进线部与所述集成电路绑定区至少部分交叠，和/或所述第二子进线部与所述集成电路绑定区至少部分交叠。
9.根据权利要求2所述的阵列基板，其特征在于，
所述阵列基板包括衬底以及位于所述衬底上的集成电路绑定区，沿所述第一方向，所述测试单元位于所述多路分配单元和所述集成电路绑定区之间；
在垂直于所述衬底所在平面的方向上，所述第一子进线部与所述集成电路绑定区至少部分交叠，所述第二子进线部与所述集成电路绑定区至少部分交叠。
10.根据权利要求1所述阵列基板，其特征在于，
所述第一开关元件和所述第二开关元件均为N型薄膜晶体管或均为P型薄膜晶体管。
11.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，N＝3。
12.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，M＝2。
13.根据权利要求2所述的阵列基板，其特征在于，
包括N个所述信号端子；
同一所述像素单元中，与该N个不同种颜色的所述子像素分别连接的N条数据线，分别通过不同的所述第一开关元件和所述第二开关元件与N个所述信号端子一一对应连接。
14.一种阵列基板母板，其特征在于，包括如权利要求1至13任意一项所述的阵列基板。
15.一种显示面板，其特征在于，包括如权利要求1至13任意一项所述的阵列基板。
16.一种显示面板的制备方法，其特征在于，包括：
提供权利要求1至13任意一项所述的阵列基板，所述阵列基板包括显示区和位于所述显示区外周侧的非显示区，所述非显示区包括待切割区；
切除所述待切割区。
17.根据权利要求16所述的显示面板的制备方法，其特征在于，
所述阵列基板还包括第一控制端子、第二控制端子以及信号端子，所述非显示区还包括集成电路绑定区，所述多路分配单元位于所述集成电路绑定区靠近所述显示区的一侧，所述待切割区位于所述集成电路绑定区远离所述显示区的一侧；
其中，所述测试单元、所述第一控制端子、所述第二控制端子以及所述信号端子的至少一者位于所述待切割区。
18.根据权利要求17所述的显示面板的制备方法，其特征在于，
所述测试单元位于所述集成电路绑定区靠近所述显示区的一侧，所述第一控制端子、所述第二控制端子以及所述信号端子的至少一者位于所述待切割区。
19.根据权利要求17所述的显示面板的制备方法，其特征在于，
所述测试单元位于所述集成电路绑定区远离所述显示区的一侧，所述测试单元、所述第一控制端子以及所述第二控制端子均位于所述待切割区。
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