CN110379346B - 显示面板及其制作方法、测试方法和显示装置 - Google Patents

Abstract

本发明实施例提供了一种显示面板及其测试方法、制作方法和显示装置，涉及显示技术领域，用于窄化显示面板的边框宽度。显示面板的显示区中的多个像素划分为多个沿行方向排布的像素列组；像素列组划分为在列方向排布的第一像素单元，至少一第一像素单元中在列方向上相邻的两个像素颜色不同；测试单元位于多路选择单元器远离显示区的一侧；一个测试单元通过一个多路选择器与一个像素列组电连接；测试单元包括多个数量大于等于第一像素单元中的像素的颜色的数量的第二开关；对于同一个第一像素单元：第二开关电连接于一个第一开关与一个测试信号线之间；第二开关依次开启，将测试信号依次传递给第一像素单元中的各个像素。

Description

显示面板及其制作方法、测试方法和显示装置

【技术领域】

本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种显示面板及其制作方法、测试方法和显示装置。

【背景技术】

在显示面板的生产过程中，在显示面板绑定驱动芯片IC之前，通常需要通过短路棒(shorting bar)对显示面板进行可视测试(Visual Test，以下简称VT测试)，以检测显示面板中是否存在不良，避免使不良品进入下道IC绑定工序。

目前，在对显示面板进行VT测试时，通常是将用于测试的短路棒直接与位于显示区的像素电路相连接。在短路棒远离显示区的一侧通常还会设置有多路选择器(demux)，导致显示面板的下边框的尺寸较大，不利于显示面板的窄边框设计。

【发明内容】

有鉴于此，本发明实施例提供了一种显示面板及其制作方法、测试方法和显示装置，用以窄化显示面板的边框宽度。

一方面，本发明实施例提供了一种显示面板，包括：显示区和至少部分围绕所述显示区的非显示区；

所述显示区包括多个阵列排布的像素，多个所述像素划分为多个沿行方向排布的像素列组；所述像素列组包括多个沿所述行方向排布的像素列；所述像素列组还划分为在所述列方向排布的第一像素单元，所述第一像素单元包括至少两行像素，至少一第一像素单元中在列方向上相邻的两个像素颜色不同；

所述非显示区包括多个测试单元和多个多路选择器；所述测试单元位于所述多路选择器远离所述显示区的一侧；

一个所述测试单元通过一个所述多路选择器与一个所述像素列组电连接；

所述多路选择器包括多个第一开关，一个所述第一开关电连接于一个所述像素列与所述测试单元之间；

所述测试单元包括多个第二开关，所述第二开关的数量大于等于所述第一像素单元中的像素的颜色的数量；

对于同一个第一像素单元：所述第二开关电连接于一个第一开关与一个测试信号线之间；所述第二开关依次开启，将测试信号依次传递给所述第一像素单元中的各个像素。

本发明实施例还提供了一种显示面板的测试方法，用于上述的显示面板，所述测试方法包括多个测试周期，在每个所述测试周期内，依次向一个所述第一像素单元中的所述像素提供测试信号。

本发明实施例还提供了一种显示面板的制作方法，包括：

提供衬底基板，所述衬底基板包括显示区和和至少部分围绕所述显示区的非显示区；

在所述显示区形成多个阵列排布的像素；多个所述像素划分为多个沿行方向排布的像素列组，所述像素列组包括多个沿所述行方向排布的像素列；所述像素列组还划分为在所述行方向排布的第一像素单元，所述第一像素单元包括至少两行所述像素，至少一所述第一像素单元在所述行方向上相邻的两个所述像素颜色不同；

在所述非显示区形成多个测试单元和多个多路选择器；所述测试单元位于所述多路选择器远离所述显示区的一侧，一个所述测试单元通过一个所述多路选择器与一个所述像素列组电连接；

所述多路选择单元包括多个第一开关；一个所述第一开关电连接于一个所述像素列与所述测试单元之间；

所述测试单元包括多个第二开关，所述第二开关的数量等于所述第一像素单元中的所述像素的颜色的数量；

对于同一个所述第一像素单元，所述第二开关电连接于一个所述第一开关与一个测试信号线之间；

在测试阶段，所述第二开关依次开启，将测试信号依次传递给所述第一像素单元中的各个像素；

在显示阶段，依次通过驱动芯片和所述第一开关向所述像素提供显示信号。

本发明实施例还提供了一种显示装置，包括上述的显示面板。

本发明实施例提供的显示面板及其测试方法、制作方法和显示装置，在显示面板中设置多路选择器，并使测试单元通过多路选择器与位于显示区的像素列相连，与将测试单元直接与像素列相连相比，能够减少连接测试单元和像素列之间的走线的数量，有利于实现显示面板的窄边框设计。

而且，本发明实施例通过将测试单元设置在多路选择器远离显示区的一侧，这样后续可以将测试单元与多路选择器分离，或者将测试单元弯折至显示面板的背光侧，然后将多路选择器中第一开关的一端与驱动芯片IC绑定，以在第一开关的控制下，使显示面板进行正常显示。也就是说，在本发明实施例中，可以使测试单元在显示面板进行显示时不占用显示面板的出光侧的边框空间，有利于提高显示面板的屏占比。

除此之外，本发明实施例通过将至少一个第一像素单元中在列方向上相邻的两个像素的颜色设置为不同，与将第一像素单元中位于同一列的像素的颜色都设置为相同相比，能够提高第一像素单元的混色均匀度，从而提高显示面板的显示效果。

在此基础上，本发明实施例通过将测试单元中第二开关的数量设置为大于等于第一像素单元中的像素的颜色的数量，并使第二开关电连接于一个第二开关与一个测试信号线之间，这样在对第一像素单元中的像素进行VT测试时，可以通过第二开关的控制使对应不同颜色的测试信号依次从测试信号线、第二开关和第一开关传输给对应的像素，能够提高VT测试的准确性。

【附图说明】

为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。

图1为本发明实施例提供的一种显示面板的示意图；

图2为图1中对应与一个第一像素单元电连接的多路选择器和测试单元的一种示意图；

图3为图1中对应与一个第一像素单元电连接的多路选择器和测试单元的另一种示意图；

图4是图2所对应的信号时序图；

图5是图3所对应的信号时序图；

图6为图1中对应与一个第一像素单元电连接的多路选择器和测试单元的又一种示意图；

图7为图1中对应与一个第一像素单元电连接的多路选择器和测试单元的又一种示意图；

图8为采用图2所示的第一像素单元在列方向上循环排布形成的像素列组的示意图；

图9为采用图3所示的第一像素单元在列方向上循环排布形成的像素列组的示意图；

图10为采用图6所示的第一像素单元在列方向上循环排布形成的像素列组的示意图；

图11为采用图7所示的第一像素单元在列方向上循环排布形成的像素列组的示意图；

图12为将图10中的多个第二开关进行复用的示意图；

图13为将图11中的多个第二开关进行复用的示意图；

图14为采用图8所示的像素列组在行方向上循环排布形成的显示面板的示意图；

图15为采用图10所示的像素列组在行方向上循环排布形成的显示面板的示意图；

图16为采用图11所示的像素列组在行方向上循环排布形成的显示面板的示意图；

图17为将图15中的多个第二开关进行复用的示意图；

图18为将图16中的多个第二开关进行复用的示意图；

图19为本发明实施例提供的另一种显示面板的示意图；

图20为本发明实施例提供的又一种显示面板的示意图；

图21为本发明实施例提供的又一种显示面板的示意图；

图22为图21所示的显示面板弯折后的截面示意图；

图23为本发明实施例提供的又一种显示面板的示意图；

图24为通过切割区将测试单元与多路选择器分离后的显示面板的示意图

图25为本发明实施例提供的一种显示面板的制作方法的示意图；

图26为本发明实施例提供的一种显示装置的示意图。

【具体实施方式】

为了更好的理解本发明的技术方案，下面结合附图对本发明实施例进行详细描述。

应当明确，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本发明保护的范围。

在本发明实施例中使用的术语是仅仅出于描述特定实施例的目的，而非旨在限制本发明。在本发明实施例和所附权利要求书中所使用的单数形式的“一种”、“所述”和“该”也旨在包括多数形式，除非上下文清楚地表示其他含义。

应当理解，本文中使用的术语“和/或”仅仅是一种描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，A和/或B，可以表示：单独存在A，同时存在A和B，单独存在B这三种情况。另外，本文中字符“/”，一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。

应当理解，尽管在本发明实施例中可能采用术语第一、第二、第三等来描述开关，但这些开关不应限于这些术语。这些术语仅用来将开关彼此区分开。例如，在不脱离本发明实施例范围的情况下，第一开关也可以被称为第二开关，类似地，第二开关也可以被称为第一开关。

本发明实施例提供了一种显示面板，如图1所示，图1为本发明实施例提供的一种显示面板的示意图，其中，该显示面板包括显示区AA和至少部分围绕显示区AA的非显示区NA(图1中显示区AA和非显示区NA的边界以点划线示出)。显示区AA包括多个阵列排布的像素1(图1中像素1以方块示出)，非显示区NA包括多个测试单元5和多个多路选择器6；测试单元5位于多路选择器6远离显示区AA的一侧。如图1所示，显示区AA中的像素1可以划分为多个沿行方向x排布的像素列组2。像素列组2包括多个沿行方向x排布的像素列。位于非显示区NA的一个测试单元5通过一个多路选择器6与一个像素列组2电连接。

如图1所示，非显示区还包括与测试单元5电连接的测试信号线S。在对该显示面板进行测试时，上述多个测试单元5可以同时工作，以使测试信号线S提供的测试信号能够依次通过测试单元5和多路选择器6提供至位于显示区AA的多个像素列组2中的像素。

在本发明实施例中，显示面板中的像素可以包括多种不同的颜色。像素列组2还可划分为在列方向y排布的第一像素单元4，第一像素单元4包括至少两行像素1，且，至少一第一像素单元4中在列方向y上相邻的两个像素1的颜色不同。

多路选择器6包括多个第一开关，一个第一开关电连接于一个像素列与测试单元之间。测试单元包括多个第二开关。如图2和图3所示，图2和图3分别为图1中对应与一个第一像素单元电连接的多路选择器和测试单元的示意图，其中，多路选择器6均包括第一开关K1和第二开关K2，一个第一开关电连接于一个像素列与测试单元5之间。如图2所示，第二开关W的数量等于第一像素单元4中的像素的颜色的数量。如图3所示，第二开关W的数量大于第一像素单元4中的像素的颜色的数量。其中，在图2和图3中不同的填充图案代表不同的像素颜色。

对于同一个第一像素单元4，如图2和图3所示，第二开关电连接于一个第一开关与一个测试信号线S之间。在对该显示面板中的各个像素进行VT测试时，通过控制上述第二开关依次开启，将测试信号依次通过第二开关和第一开关传递给第一像素单元4中的各个像素。

本发明实施例通过在显示面板中设置多路选择器，并使测试单元通过多路选择器与位于显示区的像素列相连，与将测试单元直接与像素列相连相比，能够减少连接测试单元和像素列之间的走线的数量，有利于实现显示面板的窄边框设计。

而且，本发明实施例通过将测试单元设置在多路选择器远离显示区的一侧，这样后续可以将测试单元与多路选择器分离，或者将测试单元弯折至显示面板的背光侧，然后将多路选择器中第一开关的一端与驱动芯片IC绑定，以在第一开关的控制下，使显示面板进行正常显示。也就是说，在本发明实施例中，可以使测试单元在显示面板进行显示时，不占用显示面板的出光侧的边框空间，有利于提高显示面板的屏占比。

除此之外，本发明实施例通过将至少一个第一像素单元中在列方向上相邻的两个像素的颜色设置为不同，与将第一像素单元中位于同一列的像素的颜色都设置为相同相比，能够提高第一像素单元的混色均匀度，从而提高显示面板的显示效果。

在此基础上，本发明实施例通过将测试单元中第二开关的数量设置为大于等于第一像素单元中的像素的颜色的数量，并使第二开关电连接于一个第二开关与一个测试信号线之间，这样在对第一像素单元中的像素进行VT测试时，可以通过第二开关的控制使对应不同颜色的测试信号依次从测试信号线、第二开关和第一开关传输给对应的像素，能够提高VT测试的准确性。

需要说明的是，在本发明实施例中，行方向x为图1所示的水平向右的方向，列方向为图1所示的竖直向上的方向。

如图2和图3所示，上述测试信号线S的数量可以与第一像素单元中所包括的像素的颜色的数量设置为相同。

示例性的，上述同一多路选择器中的第一开关依次循环开启，与测试单元5中的第二开关互相配合，以实现对第一像素单元4中不同颜色的像素的测试。

上述非显示区NA还包括多条第一开关控制信号线，第一开关控制信号线与位于同一个多路选择器的第一开关的控制端一一对应连接。通过第一开关控制信号线上的信号控制第一开关的开启或关闭。

可选的，上述第一开关为PMOS管或NMOS管均可，在本发明实施例中，以将第一开关设置为PMOS管为例，第一开关的栅极与第一开关控制信号线连接，源极与漏极分别连接在像素列和对应的第二开关之间。

测试电路还包括多条第二开关控制信号线，第二开关控制信号线与第二开关的控制端一一对应连接。通过第二开关控制信号线的信号控制第二开关的开启或关闭。

可选的，第二开关为PMOS管或NMOS管均可，在本发明实施例中，以将第二开关也设置为PMOS管为例，第二开关的栅极与第二开关控制信号线连接，源极与漏极分别连接在第一开关和对应的测试信号线之间。

可选的，以图2所示的第一像素单元4为例，该第一像素单元示例性的包括三行两列像素，且其中包括三种不同的颜色。其中，在行方向x上，相邻的两个像素的颜色相同。在列方向y上，相邻的两个像素的颜色不同。测试信号线包括分别对应三种颜色的测试信号线S1，S2和S3。

每个多路选择器6包括2个第一开关K1和K2，这两个第一开关分别与两列像素列一一对应连接。每个测试单元5中包括三个第二开关W11、W12、W13。第一开关控制信号线有两条，第一条第一开关控制信号线CKH1与第一个第一开关K1的控制端相连，第二条第一开关控制信号线CKH2与第二个第一开关K2的控制端相连。第二开关控制信号线有三条。第一条第二开关控制信号线SW11与第一个第二开关W11相连，第二条第二开关控制信号线SW12与第二个第二开关W12相连，第三条第二开关控制信号线与第三个第二开关W13相连。

下面以图2中的第一个第一像素单元4为例，结合图4，图4是图2所对应的信号时序图，对图2所示的第一像素单元的测试方法进行具体的说明。其中，Scan1表示对应第一像素单元4中与第一行像素连接的扫描线的时序，Scan2表示对应第一像素单元4中与第二行像素连接的扫描线的时序，Scan3表示对应第一像素单元4中与第三行像素连接的扫描线的时序。

在测试第一行像素时：

在第1时段t11，在第一开关控制信号线CKH1输出的控制信号的作用下，与第一开关控制信号线CKH1相连的第一开关K1导通。在第二开关控制信号线SW11输出的控制信号的作用下，与第二开关控制信号线SW11相连的第二开关W11导通，从而使由测试信号线S1输出的测试信号传输至第一像素单元4中第一行第一个像素。

在第2时段t12，在第一开关控制信号线CKH2输出的控制信号的作用下，与第一开关控制信号线CKH2相连的第一开关K2导通。在第二开关控制信号线SW11输出的控制信号的作用下，与第二开关控制信号线SW11相连的第二开关W11导通，从而使由测试信号线S1输出的测试信号传输至第一像素单元4中第一行第二个像素。

在第3时段t13，与第一像素单元4中第一行像素连接的扫描线Scan1导通，使第一像素单元4中位于第一行的这两个像素发光。

在测试第二行像素时：

在第1时段t21，在第一开关控制信号线CKH1输出的控制信号的作用下，与第一开关控制信号线CKH1相连的第一开关K1导通。在第二开关控制信号线SW12输出的控制信号的作用下，与第二开关控制信号线SW12相连的第二开关W12导通，从而使由测试信号线S2输出的测试信号传输至第一像素单元4中第二行第一个像素。

在第2时段t22，在第一开关控制信号线CKH2输出的控制信号的作用下，与第一开关控制信号线CKH2相连的第一开关K2导通。在第二开关控制信号线SW12输出的控制信号的作用下，与第二开关控制信号线SW12相连的第二开关W12导通，从而使由测试信号线S2输出的测试信号传输至第一像素单元4中第二行第二个像素。

在第3时段t23，与第一像素单元4中第二行像素连接的扫描线Scan2导通，使第一像素单元4中位于第二行的这两个像素发光。

在测试第三行像素时：

在第1时段t31，在第一开关控制信号线CKH1输出的控制信号的作用下，与第一开关控制信号线CKH1相连的第一开关K1导通。在第二开关控制信号线SW13输出的控制信号的作用下，与第二开关控制信号线SW13相连的第二开关W13导通，从而使由测试信号线S3输出的测试信号传输至第一像素单元4中第三行第一个像素。

在第2时段t32，在第一开关控制信号线CKH2输出的控制信号的作用下，与第一开关控制信号线CKH2相连的第一开关K2导通。在第二开关控制信号线SW13输出的控制信号的作用下，与第二开关控制信号线SW13相连的第二开关W13导通，从而使由测试信号线S3输出的测试信号传输至第一像素单元4中第三行第二个像素。

在第3时段t33，与第一像素单元4中第三行像素连接的扫描线Scan3导通，使第一像素单元4中位于第三行的这两个像素发光。

以图3所示的第一像素单元4为例，该第一像素单元示例性的包括三行两列像素，且其中包括三种不同的颜色。其中，在行方向x和列方向y上，相邻的两个像素的颜色均不相同。相应的，测试信号线包括分别对应三种颜色的测试信号线S1，S2和S3。

每个多路选择器6包括2个第一开关K1和K2，这两个第一开关分别与两列像素列一一对应连接。每个测试单元5中包括六个第二开关W11、W12、W13、W21、W22、W23。具体的，这六个第二开关可以划分为两组，每组各包括三个第二开关。如图2所示，第一组第二开关包括W11、W12、W13。第二组第二开关包括W21、W22、W23。

其中，不同组的第二开关用于控制第一像素单元4中属于不同的像素列的像素，即，第一组第二开关W11、W12、W13用于控制第一像素单元4中属于第一列的三个像素，第二组第二开关W21、W22、W23用于控制第一像素单元4中属于第二列的三个像素。且，在第一组第二开关W11、W12、W13开启时，第一开关K1开启。在第二组第二开关W21、W22、W23开启时，第一开关K2开启。

仍以图3中所示的第一像素单元4为例，其中，第一开关控制信号线有两条，第一条第一开关控制信号线CKH1与第一个第一开关K1的控制端相连，第二条第一开关控制信号线CKH2与第二个第一开关K2的控制端相连。第二开关控制信号线有六条。与第二开关的划分类似，六条第二开关控制信号线也可以划分为两组。其中，第一组第二开关控制信号线包括SW11、SW12、SW13。第二组第二开关控制信号线包括SW21、SW22、SW23。

下面以图3中的第一个第一像素单元4为例，结合图5，图5是图3所对应的信号时序图，对第一像素单元的测试方法进行具体的说明，其中，Scan1仍表示对应第一像素单元4中与第一行像素连接的扫描线的时序，Scan2仍表示对应第一像素单元4中与第二行像素连接的扫描线的时序，Scan3仍表示对应第一像素单元4中与第三行像素连接的扫描线的时序。

在测试第一行像素时：

在第1时段t11，在第一开关控制信号线CKH1输出的控制信号的作用下，与第一开关控制信号线CKH1相连的第一开关K1导通。在第二开关控制信号线SW11输出的控制信号的作用下，与第二开关控制信号线SW11相连的第二开关W11导通，从而使由测试信号线S1输出的测试信号传输至第一像素单元4中第一行第一个像素。

在第2时段t12，在第一开关控制信号线CKH2输出的控制信号的作用下，与第一开关控制信号线CKH2相连的第一开关K2导通。在第二开关控制信号线SW21输出的控制信号的作用下，与第二开关控制信号线SW21相连的第二开关W21导通，从而使由测试信号线S3输出的测试信号传输至第一像素单元4中第一行第二个像素。

在第3时段t13，与第一像素单元4中第一行像素连接的扫描线Scan1导通，使第一像素单元4中位于第一行的这两个像素发光。

在测试第二行像素时：

在第1时段t21，在第一开关控制信号线CKH1输出的控制信号的作用下，与第一开关控制信号线CKH1相连的第一开关K1导通。在第二开关控制信号线SW12输出的控制信号的作用下，与第二开关控制信号线SW12相连的第二开关W12导通，从而使由测试信号线S2输出的测试信号传输至第一像素单元4中第二行第一个像素。

在第2时段t22，在第一开关控制信号线CKH2输出的控制信号的作用下，与第一开关控制信号线CKH2相连的第一开关K2导通。在第二开关控制信号线SW22输出的控制信号的作用下，与第二开关控制信号线SW22相连的第二开关W22导通，从而使由测试信号线S1输出的测试信号传输至第一像素单元4中第二行第二个像素。

在第3时段t23，与第一像素单元4中第二行像素连接的扫描线Scan2导通，使第一像素单元4中位于第二行的这两个像素发光。

在测试第三行像素时：

在第1时段t31，在第一开关控制信号线CKH1输出的控制信号的作用下，与第一开关控制信号线CKH1相连的第一开关K1导通。在第二开关控制信号线SW13输出的控制信号的作用下，与第二开关控制信号线SW13相连的第二开关W13导通，从而使由测试信号线S3输出的测试信号传输至第一像素单元4中第三行第一个像素。

在第2时段t32，在第一开关控制信号线CKH2输出的控制信号的作用下，与第一开关控制信号线CKH2相连的第一开关K2导通。在第二开关控制信号线SW23输出的控制信号的作用下，与第二开关控制信号线SW23相连的第二开关W23导通，从而使由测试信号线S2输出的测试信号传输至第一像素单元4中第三行第二个像素。

在第3时段t33，与第一像素单元4中第三行像素连接的扫描线Scan3导通，使第一像素单元4中位于第三行的这两个像素发光。

示例性的，上述第一开关以及第二开关可以包括PMOS管或NMOS管，当选用PMOS管时，上述第一开关控制信号线以及第二开关控制信号线输出低电平信号控制相应的第一开关和第二开关导通；当选用NMOS管时，上述第一开关控制信号线，以及第二开关控制信号线输出高电平信号控制相应的第一开关和第二开关导通。

可以理解的是，上述扫描线Scan输出控制信号的时序可以不限于在第一开关K1和K2开启之后。例如，也可以在第一开关K1和K2开启时同时选择将相应的扫描线Scan开启。

需要说明的是，图2和图3仅是以第一像素单元4为三行两列的像素排布为示意对本发明实施例进行的说明，实际上，还可以将像素列组2中所包括的像素列3的数量设置为大于等于2的任意数量，相应的，多路选择器6中第一开关的数量设置为与像素列的数量相同。根据所划分的第一像素单元中在列方向y上不同颜色的像素的数量，第二开关的数量也可进行相应调整。如前所述，可以将第二开关组的数量设置为与第一开关的数量相同，并将每组第二开关组中第二开关的数量设置为与第一像素单元中位于同一列的像素的颜色数量相同。

示例性的，如图6所示，图6为图1中对应与一个第一像素单元电连接的多路选择器和测试单元的又一种示意图，其中，像素列组2中设置有三列像素列。相应的，多路选择器6中设置有三个第一开关K1、K2和K3。测试单元5中设置有三组第二开关。以第一像素单元4包括相邻两行像素为例，测试单元5中每组第二开关组中包括两个第二开关。如图6所示，第一组第二开关组包括第二开关W11、W12；第二组第二开关组包括第二开关W21、W22；第三组第二开关组包括第二开关W31、W32。在对具有图6所示结构的第一像素单元4进行VT测试时，其测试时序与图4和图5类似，在此不再赘述。

如图7所示，图7为图1中对应与一个第一像素单元电连接的多路选择器和测试单元的又一种示意图，其中，像素列组2中设置有两列像素列。相应的，多路选择器6中设置有两个第一开关K1和K2。测试单元5中设置有两组第二开关。以第一像素单元4包括相邻两行像素为例，测试单元5中每组第二开关组中包括两个第二开关。如图4所示，第一组第二开关组包括第二开关W11、W12；第二组第二开关组包括第二开关W21、W22。

示例性的，该显示面板中的像素可以有多种不同的排列方式。例如，对于每个像素列组而言，可以使第一像素单元在列方向y上循环排布以形成像素列组。其中，第一像素单元的排布可以如图2、图3、图6和图7所示。

如图8所示，图8为采用图2所示的第一像素单元在列方向y上循环排布形成的像素列组的示意图，其中，不同的第一像素单元连接至同一个多路选择器和同一个测试单元。在对位于同一个像素列组3中的像素进行测试时，可以循环采用图4所示时序进行。也就是说，对于位于同一个像素列组2中的相邻两个第一像素单元4来说，在第一个像素单元的测试信号写入之后按照相同的时序进行下一个第一像素单元的测试。本发明实施例通过将第一像素单元在列方向y上循环排布形成的像素列组，有利于减少显示面板中设置的第二开关的数量，相应的，也能够减少第二开关控制信号线的数量。

如图9所示，图9为采用图3所示的第一像素单元在列方向y上循环排布形成的像素列组的示意图，其中，不同的第一像素单元连接至同一个多路选择器和同一个测试单元。在对位于同一个像素列组3中的像素进行测试时，可以循环采用图5所示时序进行。

如图10所示，图10为采用图6所示的第一像素单元在列方向y上循环排布形成的像素列组的示意图，其中，不同的第一像素单元连接至同一个多路选择器和同一个测试单元。

如图8、图9和图10所示，其中，像素列组2包括第一像素列31。在图8和图9所示的实施例中，第一像素列31包括三种不同颜色的像素。在图10所示的实施例中，第一像素列31包括两种不同颜色的像素。

如图8、图9和图10所示，在第一像素列31中，像素按照颜色在列方向y以第一周期循环排布；其中，一个第一像素单元4包括一个第一周期。也就是说，将像素列组2设置为包括多个沿列方向y重复排列的第一像素单元4。这样在对像素列组2进行测试时，就可以使第一开关控制信号线所传输的控制信号，以及第二开关控制信号线所传输的控制信号以单个第一像素单元4对应的时序进行循环以完成对相应的像素列组2中的所有像素的测试，操作简单。

在本发明实施例中，还可以在像素列组中设置仅包括一种颜色的像素的第二像素列，并令第二像素列所包括的像素的颜色与第一像素列所包括的像素的颜色不同。示例性的，图10所示，其中，像素列组2还包括第二像素列32，第二像素列32仅包括一种颜色的像素，第一像素列31包括两种颜色的像素，第二像素列32所包括的像素的颜色与第一像素列31所包括的像素的颜色不同。在这种情况下，如图10所示，可以将第一像素单元4设置为包括两行子像素。

如图10所示，在设置第一像素列31时，可以将第一像素列31划分为第一子像素列311和第二子像素列312两种类型，其中，第一子像素列311和第二子像素列312仅包括依次交替排列的第二颜色像素12和第三颜色像素13；且，沿行方向x，位于同一行的第一子像素列311和第二子像素列312中的像素的颜色不同。第二像素列32仅包括第一颜色像素11一种类型。

示例性的，如图10所示，其中，像素列组2包括沿行方向x依次排布的第一子像素列311、第二像素列32和第二子像素列312。

图10是以像素列组2包括三列像素列，且，像素列组2中同时包括第一子像素列311和第二子像素列312为例对本发明实施例进行的介绍，实际上，像素列组2中所包括的像素列的数量可以根据不同的需要进行多种选择，例如，也可以将像素列组2设置为包括两列像素列，其中一列像素列为第一像素列31，另一列像素列可以为第一子像素列311或第二子像素列312。如图11所示，图11为采用图7所示的第一像素单元在列方向上循环排布形成的像素列组的示意图，以设置第一子像素列311为例，像素列组2包括沿行方向依次排布的第一子像素列311和第二像素列32。当然，也可以将图11中的第一子像素列311均换成第二子像素列312。

本发明实施例可以将与第二像素列32相连的多个第二开关复用，即，令至少一个第二开关W2控制同一个第二像素列32中至少两个第一颜色像素11接收信号。如图12和图13所示，图12为将图10中的多个第二开关进行复用的示意图，图13为将图11中的多个第二开关进行复用的示意图，本发明实施例可以令一个第二开关W2控制同一个第二像素列中的所有的像素接收信号，如此设置能够减少第二开关的数量，并相应减少第二开关控制信号线的走线数量。

在本发明实施例中，可以将不同的像素列组2所包括的像素列3的数量设置为相同。当将不同的像素列组2所包括的像素列3的数量设置为不同时，会存在与某个像素列组2中的像素列相连的第一开关开启时，与其余的像素列组2中的像素列相连的第一开关无需开启的情况，这将造成测试时间的浪费。本发明实施例通过将不同的像素列组所包括的像素列3的数量设置为相同，相应的，将对应每个像素列组2的第一开关的数量设置为相同。这样在每个像素充电时间一定的情况下，对应不同的像素列组2的第一开关的开启时间就可以设置为一致，从而就可以将对应不同像素列组2的第一开关的控制时序设置为相同，以对多个像素列组中位于同一行的多个第一像素单元同时进行VT测试，能够提高VT测试的效率。

同样的，本发明实施例也可以将不同的像素列组2所包括的像素的行数设置为相同，相应的，可以将对应每个像素列组2的第二开关的数量设置为相同。这样在每个像素充电时间一定的情况下，对应不同的像素列组2的第二开关的开启时间就可以设置为一致，从而就可以将对应不同像素列组的第二开关的控制时序设置为相同，以进一步提高VT测试的效率。

应当理解的是，本发明实施例可以同时将不同的像素列组2所包括的像素的行数以及列数均设置为相同，也可以将不同的像素列组2所包括的像素的行数设置为相同，或者，也可以将不同的像素列组2所包括的像素的列数设置为相同，均能够提高VT测试的效率。

示例性的，在将不同的像素列组中的行列数目设置为相同时，可以将不同的像素列组2中像素的排布方式设置为相同：

如图14所示，图14为采用图8所示的像素列组在行方向x上循环排布形成的显示面板的示意图，其中，不同的多路选择器连接至相同的第一开关控制信号线，不同的测试单元连接至相同的第二开关控制信号线。在该显示面板中的像素进行测试时，按照图4所示的时序，在相应行的扫描线开启时，位于该行的属于不同像素列组的像素同时写入相应颜色的测试信号。

如图15所示，图15为采用图10所示的像素列组在行方向x上循环排布形成的显示面板的示意图，其中，不同的多路选择器连接至相同的第一开关控制信号线，不同的测试单元连接至相同的第二开关控制信号线。如图15所示的排布方式可以称为子像素渲染(SubPixel Rendered,以下简称SPR)排布。在该显示面板进行显示时，位于第一子像素列311或第二子像素列312的两个不同颜色的像素可以和相邻的第二像素列32中的像素组成一个像素单元用于显示。通过采用SPR排布，同时匹配相应的像素驱动算法，可以在不增加工艺复杂度的同时，在子像素密度不变的情况下提升感官分辨率。

如图16所示，图16为采用图11所示的像素列组在行方向x上循环排布形成的显示面板的示意图，其中，不同的多路选择器连接至相同的第一开关控制信号线，不同的测试单元连接至相同的第二开关控制信号线。

进一步的，如图17和图18所示，图17为将图15中的多个第二开关进行复用的示意图，图18为将图16中的多个第二开关进行复用的示意图，在将不同的像素列组中像素的排布方式设置为相同时，可以将每个像素列组中与第二像素列32相连的多个第二开关均复用，即，令一个第二开关W2控制同一个每个像素列组中第二像素列中所有的像素接收信号。如此设置能够在减少第二开关以及第二开关控制信号线的数量的基础上，使不同的像素列组中位于同一行的第一像素单元仍能同时进行测试，有利于提高测试效率。

图16、图17和图18是以不同的像素列组2中的像素排布相同为例进行的示意，示例性的，也可以将不同的像素列组2中像素的排布方式设置为不同。

示例性的，如图19所示，图19为本发明实施例提供的另一种显示面板的示意图，其中，像素列组2包括沿行方向x依次排布的第一像素列组21、第二像素列组22和第三像素列组23，第一像素列组21包括沿行方向x依次排布的第一子像素列311和第二像素列32；第二像素列组22包括沿行方向x依次排布的第二子像素列312和第一子像素列311；第三像素列组23包括沿行方向依次排布的第二像素列32和第二子像素列312。

或者，在对该显示面板中的像素进行排布时，如图20所示，图20为本发明实施例提供的又一种显示面板的示意图，可以将显示面板所包括的像素1的颜色的数量与第一像素列31所包括的像素的颜色的数量相同；且，在任一行像素中，使像素按照颜色在行方向x循环排布。也就是说，在行方向x和列方向y上，相邻两个像素的颜色均不相同，以提高混色均匀度。如图20所示，在该显示面板中的像素进行测试时，按照图5所示的时序，在相应行的扫描线开启时，位于该行的属于不同像素列组的像素同时写入相应颜色的测试信号。

示例性的，如图21所示，图21为本发明实施例提供的又一种显示面板的示意图，显示面板还包括弯折区BA，弯折区BA位于测试单元5和多路选择器6之间。在测试完成之后，可以通过弯折区BA将测试单元5弯折至显示面板的背光侧，如图22所示，图22为图21所示的显示面板弯折后的截面示意图，以使测试单元在显示面板进行显示时不占用显示面板的出光侧的边框空间，有利于提高显示面板的屏占比。

或者，如图23所示，图23为本发明实施例提供的又一种显示面板的示意图，其中，显示面板还包括切割区CA，切割区CA位于测试单元5和多路选择器6之间。在测试完成之后，可以通过切割区CA将测试单元5与多路选择器6分离，以提高显示面板的屏占比。如图24所示，图24为通过切割区CA将测试单元5与多路选择器6分离后的显示面板的示意图。

本发明实施例还提供了一种显示面板的测试方法，用于上述的显示面板，结合图4和图5所示，该测试方法包括多个测试周期T，在每个测试周期T内，依次向一个第一像素单元中的像素提供测试信号。

示例性的，对于图14～图20提供的显示面板来说，可以将位于同一行的第一像素单元在同一个测试周期内测试，以提高VT测试的效率。

本发明实施例还提供了一种显示面板的制作方法，结合图1和图25所示，图25为本发明实施例提供的一种显示面板的制作方法的示意图，其中，该制作方法包括：

S1：提供衬底基板8，衬底基板8包括显示区和至少部分围绕显示区的非显示区NA；

S2：在显示区AA形成多个阵列排布的像素1；多个像素1划分为多个沿行方向x排布的像素列组2，像素列组2包括多个沿行方向x排布的像素列3；像素列组2还划分为在行方向x排布的第一像素单元4，第一像素单元4包括至少两行像素，至少一第一像素单元4在行方向上相邻的两个像素颜色不同；

在非显示区NA形成多个测试单元5和多个多路选择器6；测试单元5位于多路选择器6远离显示区的一侧，一个测试单元5通过一个多路选择器6与一个像素列组2电连接；

多路选择单元包括多个第一开关；一个第一开关电连接于一个像素列3与测试单元5之间；

测试单元5包括多个第二开关，第二开关的数量等于第一像素单元4中的像素的颜色的数量；

对于同一个第一像素单元4，第二开关电连接于一个第一开关K与一个测试信号线7之间；

S3：在测试阶段，第二开关依次开启，将测试信号依次传递给第一像素单元4中的各个像素；

S4：在显示阶段，依次通过驱动芯片和第一开关向像素提供显示信号。

示例性的，如图21和图25所示，该制作方法还包括：

S51：在测试单元5和多路选择器6之间形成弯折区BA。在测试完成之后，如图22所示，可以通过弯折区BA将测试单元5弯折至显示面板的背光侧，以使测试单元在显示面板进行显示时不占用显示面板的出光侧的边框空间，以提高显示面板的屏占比。

示例性的，如图23和图25所示，该制作方法还包括：

S52：在测试单元5和多路选择器6之间形成切割区CA；

S53：测试结果正常时，如图24所示，可以将测试单元与多路选择器分离；将第一开关的第二端与驱动芯片绑定，以提高显示面板的屏占比。

本发明实施例还提供了一种显示装置，如图26所示，图26为本发明实施例提供的一种显示装置的示意图，其中，该显示装置包括上述的显示面板100。显示面板100的具体结构已经在上述实施例中进行了详细说明，此处不再赘述。当然，图26所示的显示装置仅仅为示意说明，该显示装置可以是例如手机、平板计算机、笔记本电脑、电纸书或电视机等任何具有显示功能的电子设备。

以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明保护的范围之内。

Claims (22)

1.一种显示面板，其特征在于，包括显示区和至少部分围绕所述显示区的非显示区；

所述显示区包括多个阵列排布的像素，多个所述像素划分为多个沿行方向排布的像素列组；所述像素列组包括多个沿所述行方向排布的像素列；所述像素列组还划分为在所述列方向排布的第一像素单元，所述第一像素单元包括至少两行像素，至少一第一像素单元中在列方向上相邻的两个像素颜色不同；

所述非显示区包括多个测试单元和多个多路选择器；所述测试单元位于所述多路选择器远离所述显示区的一侧；

一个所述测试单元通过一个所述多路选择器与一个所述像素列组电连接；

所述多路选择器包括多个第一开关，一个所述第一开关电连接于一个所述像素列与所述测试单元之间；

所述测试单元包括多个第二开关，所述第二开关的数量大于等于所述第一像素单元中的像素的颜色的数量；

对于同一个第一像素单元：所述第二开关电连接于一个第一开关与一个测试信号线之间；所述第二开关依次开启，将测试信号依次传递给所述第一像素单元中的各个像素。

2.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，

所述显示面板还包括弯折区，所述弯折区位于所述测试单元和所述多路选择器之间；所述测试单元能够通过所述弯折区弯折至所述显示面板的背光侧。

3.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，

所述显示面板还包括切割区，所述切割区位于所述测试单元和所述多路选择器之间；所述切割区将所述测试单元与所述多路选择器分离。

4.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，

同一所述多路选择器中的所述第一开关依次循环开启。

5.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述像素列组包括第一像素列，所述第一像素列包括至少两种不同颜色的所述像素；

在所述第一像素列中，所述像素按照颜色在所述列方向以第一周期循环排布；

一个所述第一像素单元包括一个第一周期。

6.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，

不同的所述像素列组所包括的所述像素列的数量相同，和/或不同的所述像素列组所包括的像素的行数相同。

7.根据权利要求5所述的显示面板，其特征在于，

所述像素列组还包括第二像素列，所述第二像素列仅包括一种颜色的所述像素，且，所述第二像素列所包括的像素的颜色与所述第一像素列所包括的像素的颜色不同。

8.根据权利要求7所述的显示面板，其特征在于，

所述第二像素列仅包括第一颜色像素一种类型；所述第一像素列划分为第一子像素列和/或第二子像素列两种类型，所述第一子像素列和所述第二子像素列仅包括依次交替排列的第二颜色像素和第三颜色像素；且，沿所述行方向，位于同一行的所述第一子像素列和所述第二子像素列中的所述像素的颜色不同。

9.根据权利要求8所述的显示面板，其特征在于，

不同的所述像素列组中像素的排布方式相同。

10.根据权利要求8所述的显示面板，其特征在于，

至少一个所述第二开关控制同一个所述第二像素列中至少两个所述第一颜色像素接收信号。

11.根据权利要求8所述的显示面板，其特征在于，

所述像素列组包括沿所述行方向依次排布的所述第一子像素列、所述第二像素列和所述第二子像素列。

12.根据权利要求8所述的显示面板，其特征在于，

所述像素列组包括沿所述行方向依次排布的所述第一子像素列和所述第二像素列。

13.根据权利要求8所述的显示面板，其特征在于，

所述像素列组包括沿所述行方向依次排布的第一像素列组、第二像素列组和第三像素列组，所述第一像素列组包括沿所述行方向依次排布的所述第一子像素列和所述第二像素列；所述第二像素列组包括沿所述行方向依次排布的所述第二子像素列和所述第一子像素列；所述第三像素列组包括沿所述行方向依次排布的所述第二像素列和所述第二子像素列。

14.根据权利要求5所述的显示面板，其特征在于，

所述显示面板所包括的所述像素的颜色的数量与所述第一像素列所包括的所述像素的颜色的数量相同；且，在任一行所述像素中，所述像素按照颜色在所述行方向循环排布。

15.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，

所述非显示区还包括多条第一开关控制信号线，所述第一开关控制信号线与位于同一个所述多路选择器的所述第一开关的控制端一一对应连接。

16.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，

所述显示面板还包括多条第二开关控制信号线，所述第二开关控制信号线与所述第二开关的控制端一一对应连接。

17.一种显示面板的测试方法，其特征在于，用于权利要求1-16任一项所述的显示面板，所述测试方法包括多个测试周期，在每个所述测试周期内，依次向一个所述第一像素单元中的所述像素提供测试信号。

18.根据权利要求17所述的测试方法，其特征在于，位于同一行的所述第一像素单元在同一个所述测试周期内测试。

19.一种显示面板的制作方法，其特征在于，包括：

提供衬底基板，所述衬底基板包括显示区和至少部分围绕所述显示区的非显示区；

在所述显示区形成多个阵列排布的像素；多个所述像素划分为多个沿行方向排布的像素列组，所述像素列组包括多个沿所述行方向排布的像素列；所述像素列组还划分为在所述行方向排布的第一像素单元，所述第一像素单元包括至少两行所述像素，至少一所述第一像素单元在所述行方向上相邻的两个所述像素颜色不同；

在所述非显示区形成多个测试单元和多个多路选择器；所述测试单元位于所述多路选择器远离所述显示区的一侧，一个所述测试单元通过一个所述多路选择器与一个所述像素列组电连接；

所述多路选择器包括多个第一开关；一个所述第一开关电连接于一个所述像素列与所述测试单元之间；

所述测试单元包括多个第二开关，所述第二开关的数量等于所述第一像素单元中的所述像素的颜色的数量；

对于同一个所述第一像素单元，所述第二开关电连接于一个所述第一开关与一个测试信号线之间；

在测试阶段，所述第二开关依次开启，将测试信号依次传递给所述第一像素单元中的各个像素；

在显示阶段，依次通过驱动芯片和所述第一开关向所述像素提供显示信号。

20.根据权利要求19所述的制作方法，其特征在于，还包括：

在所述测试单元和所述多路选择器之间形成弯折区，通过所述弯折区将所述测试单元弯折至所述显示面板的背光侧。

21.根据权利要求19所述的制作方法，其特征在于，还包括：

在所述测试单元和所述多路选择器之间形成切割区；

测试结果正常时，将所述测试单元与所述多路选择器分离；将所述第一开关的第二端与所述驱动芯片绑定。

22.一种显示装置，其特征在于，包括权利要求1～16任一项所述的显示面板。

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