CN112002275B - 显示面板的测试电路、测试方法和显示面板 - Google Patents

Abstract

本发明实施例公开一种显示面板的测试电路、测试方法和显示面板，测试电路中第一测试模块的第一输入端和第二输入端连接不同的测试信号端口，第二测试模块的第三输入端和第四输入端连接相同的测试信号端口；第二测试模块与第一测试模块连接测试信号端口不同；第一测试模块根据第一控制端输入的信号控制第一输入端与第一输出端之间的导通状态，以及根据第二控制端输入的信号控制第二输入端与第一输出端之间的导通状态；第二测试模块根据第三控制端输入的信号控制第三输入端与第二输出端之间的导通状态，以及根据第四控制端输入的信号控制第四输入端与第二输出端之间的导通状态，可减少测试电路中控制信号线的数量和焊盘数量，有利于窄边框的实现。

Description

显示面板的测试电路、测试方法和显示面板

技术领域

本发明实施例涉及显示技术领域，尤其涉及一种显示面板的测试电路、测试方法和显示面板。

背景技术

随着显示技术的发展，显示面板的窄边框已成为一大发展趋势。

现有技术中，显示面板的边框区域通常包括测试电路、多路选择电路、多条扇出线以及多个焊盘。

现有技术中测试电路所需的焊盘数量较多，占用空间较大，成为实现窄边框的障碍。

发明内容

本发明提供一种显示面板的测试电路、测试方法和显示面板，以实现减少测试电路所需的焊盘数量，进而节省测试电路对应的焊盘占用的空间，在边框宽度确定的情形下，可以为其他焊盘和电路的设置留下更大空间。

第一方面，本发明实施例提供了一种显示面板的测试电路，包括多个第一测试模块、多个第二测试模块、第一控制信号线和第二控制信号线；

第一测试模块包括第一控制端、第二控制端、第一输入端、第二输入端和第一输出端，第一控制端与第一控制信号线电连接，第二控制端与第二控制信号线电连接，第一测试模块的第一输入端和第二输入端连接不同的测试信号端口；第一测试模块用于根据第一控制端输入的信号控制第一输入端与第一输出端之间的导通状态，以及用于根据第二控制端输入的信号控制第二输入端与第一输出端之间的导通状态；

第二测试模块包括第三控制端、第四控制端、第三输入端、第四输入端和第二输出端，第三控制端与第一控制信号线电连接，第四控制端与第二控制信号线电连接，第二测试模块的第三输入端和第四输入端连接相同的测试信号端口；第二测试模块与第一测试模块连接的测试信号端口不同；第二测试模块用于根据第三控制端输入的信号控制第三输入端与第二输出端之间的导通状态，以及用于根据第四控制端输入的信号控制第四输入端与第二输出端之间的导通状态。

可选的，第一测试模块包括第一晶体管和第二晶体管，第一晶体管的栅极作为第一测试模块的第一控制端，第一晶体管的第一极作为第一测试模块的第一输入端；

第二晶体管的栅极作为第一测试模块的第二控制端，第二晶体管的第一极作为第一测试模块的第二输入端，第二晶体管的第二极与第一晶体管的第二极电连接，第二晶体管的第二极和第一晶体管的第二极的公共端作为第一测试模块的第一输出端。

可选的，第二测试模块包括第三晶体管和第四晶体管，第三晶体管的第一极作为第二测试模块的第三输入端；第四晶体管的第一极作为第二测试模块的第四输入端，第四晶体管的第二极与第三晶体管的第二极电连接，第四晶体管的第二极和第三晶体管的第二极的公共端作为第二测试模块的第二输出端；

第三晶体管的栅极作为第二测试模块的第三控制端，第四晶体管的栅极作为第二测试模块的第四控制端；或者第三晶体管的栅极作为第二测试模块的第四控制端，第四晶体管的栅极作为第二测试模块的第三控制端。

可选的，显示面板包括像素电路，像素电路包括至少两个晶体管，第一测试模块以及第二测试模块所包括的晶体管沟道类型与像素电路包括的晶体管的沟道类型相同。

可选的，多个第一测试模块包括第一类型的第一测试模块和第二类型的第一测试模块，其中，第一类型的第一测试模块的第一输入端连接第一测试信号端口，第一类型的第一测试模块的第二输入端连接第二测试信号端口；第二类型的第一测试模块的第一输入端连接第二测试信号端口，第二类型的第一测试模块的第二输入端连接第一测试信号端口；

第二测试模块的第三输入端和第四输入端均连接第三测试信号端口。

可选的，沿第一控制信号线和第二控制信号线的延伸方向，第二测试模块位于第一类型的第一测试模块和第二类型的第一测试模块之间。

可选的，显示面板包括多个阵列排布的子像素，其中多个阵列排布的子像素包括第一颜色子像素、第二颜色子像素和第三颜色子像素，显示面板还包括用于驱动第一颜色子像素的第一像素电路、用于驱动第二颜色子像素的第二像素电路和用于驱动第三颜色子像素的第三像素电路；

显示面板还包括多条数据线，数据线的延伸方向与第一控制信号线、第二控制信号线的延伸方向相交；

每个第一测试模块的第一输出端和每个第二测试模块的第二输出端分别连接一条数据线，每条数据线连接一列子像素对应的像素电路，且连接于第一测试模块的数据线所连接的像素电路中，包括第一像素电路和第二像素电路，连接于第二测试模块的数据线所连接的像素电路中，仅包括第三像素电路；且每一行子像素中，包括第一颜色子像素、第二颜色子像素和第三颜色子像素。

第二方面，本发明实施例还提供了一种显示面板的测试方法，

显示面板包括多个第一测试模块、多个第二测试模块、第一控制信号线和第二控制信号线；第一测试模块包括第一控制端、第二控制端、第一输入端、第二输入端和第一输出端，第一测试模块的第一输入端和第二输入端连接不同的测试信号端口；第二测试模块包括第三控制端、第四控制端、第三输入端、第四输入端和第二输出端，第二测试模块的第三输入端和第四输入端连接相同的测试信号端口；第二测试模块与第一测试模块连接的测试信号端口不同；

显示面板的测试方法包括：

第一测试模块根据第一控制端输入的信号控制第一输入端与第一输出端之间的导通状态，以及根据第二控制端输入的信号控制第二输入端与第一输出端之间的导通状态；

第二测试模块根据第三控制端输入的信号控制第三输入端与第二输出端之间的导通状态，以及根据第四控制端输入的信号控制第四输入端与第二输出端之间的导通状态。

可选的，多个第一测试模块包括第一类型的第一测试模块和第二类型的第一测试模块；第一类型的第一测试模块的第一输入端连接第一测试信号端口，第一类型的第一测试模块的第二输入端连接第二测试信号端口；第二类型的第一测试模块的第一输入端连接第二测试信号端口，第二类型的第一测试模块的第二输入端连接第一测试信号端口；

第二测试模块的第三输入端和第四输入端均连接第三测试信号端口；

第一测试模块根据第一控制端输入的信号控制第一输入端与第一输出端之间的导通状态，以及根据第二控制端输入的信号控制第二输入端与第一输出端之间的导通状态；第二测试模块根据第三控制端输入的信号控制第三输入端与第二输出端之间的导通状态，以及根据第四控制端输入的信号控制第四输入端与第二输出端之间的导通状态，包括：

在预设单色画面测试时，向第一控制信号线和第二控制信号线交替提供导通控制信号，并向与预设单色画面对应的预设测试信号端口提供第一电位信号，向其他测试信号端口提供第二电位信号，其中，第一电位信号满足显示面板中像素电路驱动晶体管的导通条件，第二电位信号满足显示面板中像素电路驱动晶体管关断条件；预设单色画面为任意单色画面，预设测试信号端口为第一测试信号端口、第二测试信号端口和第三测试信号端口中的一个端口；

在混色画面测试时，向第一控制信号线和第二控制信号线交替提供导通控制信号，并向第一测试信号端口、第二测试信号端口和第三测试信号端口提供第一电位信号。

第三方面，本发明实施例还提供了一种显示面板，包括第一方面提供的显示面板的测试电路。

本实施例提供的显示面板的测试电路、测试方法和显示面板，通过设置测试电路包括第一测试模块和第二测试模块，第一测试模块的第一输入端和第二输入端连接不同的测试信号端口，第二测试模块的第三输入端和第四输入端连接相同的测试信号端口；第二测试模块与第一测试模块连接测试信号端口不同；第一测试模块根据第一控制端输入的信号控制第一输入端与第一输出端之间的导通状态，以及根据第二控制端输入的信号控制第二输入端与第一输出端之间的导通状态，进而可以实现对显示面板中两种颜色像素的测试；第二测试模块根据第三控制端输入的信号控制第三输入端与第二输出端之间的导通状态，以及根据第四控制端输入的信号控制第四输入端与第二输出端之间的导通状态，进而可以实现对显示面板中一种颜色子像素的测试，即该测试电路可以实现三种颜色子像素的测试。本实施例的测试电路仅包括两条控制信号线，相应的，仅需两个控制信号焊盘，因此可以减少测试电路中控制信号线的数量和控制信号线对应的焊盘数量，进而减小测试电路和测试电路所需焊盘占用显示面板边框的面积，有利于窄边框的实现。并且在边框固定的情况下，可以使得边框内可以更多地布置其他电路结构，进而可以为显示面板提供更多驱动信号和测试信号，进而有利于提高显示面板性能。并且因控制信号焊盘减少，相应的，提供控制信号的驱动芯片的输出端口也可以减少，有利于减小驱动芯片的面积。

附图说明

图1是现有技术中一种测试电路的结构示意图；

图2是本发明实施例提供的一种显示面板的测试电路的结构示意图；

图3是本发明实施例提供的另一种显示面板的测试电路的结构示意图；

图4是本发明实施例提供的一种显示面板的结构示意图；

图5是现有技术中的7T1C像素电路的结构示意图；

图6是本发明实施例提供的另一种显示面板的测试电路的结构示意图；

图7是本发明实施例提供的另一种显示面板的结构示意图；

图8是本发明实施例提供的一种显示面板的测试方法的流程图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本发明作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本发明，而非对本发明的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本发明相关的部分而非全部结构。

正如背景技术中所述，现有技术中测试电路所需的焊盘数量较多，占用空间较大，成为实现窄边框的障碍。经发明人研究发现，出现上述问题的原因在于，现有显示面板的测试电路通常具有多条控制信号线，相应的，显示面板边框区需设置与控制信号线一一对应的一控制信号焊盘，并且显示面板边框区域还需设置为测试电路提供测试信号的测试信号焊盘，由于控制信号线数量较多，相应的控制信号焊盘的数量也较多，导致测试电路以及测试电路对应的焊盘占用边框面积较大，而因下边框区域还要设置用于其他对显示面板进行驱动或测试的焊盘，使得边框面积较大，或者说对于确定尺寸的边框，测试电路的控制信号线和焊盘数量较多时，本应在边框区域设置的其他电路和焊盘没有足够的设置空间。图1是现有技术中一种测试电路的结构示意图，参考图1，测试电路中包括三条控制信号线(分别为第一控制信号线SW1、第二控制信号线SW2和第三控制信号线SW3)、三个选通单元(分别为第一选通单元11、第二选通单元12和第三选通单元13)，其中第一选通单元11可以根据第一控制信号线SW1上和第二控制信号线SW2上的信号来选通红色测试信号输出或者选通蓝色测试信号输出，第二选通单元12可以根据第三控制信号线SW3上的信号来选通绿色信号输出，第三选通单元13可以根据第一控制信号信号线和第二控制信号线SW2上的信号来选通蓝色数据信号和红色数据信号输出，进而可以实现对显示面板的电性测试，其中对于第一选通单元11和第三选通单元13，第一控制信号线SW1上或第二控制信号线SW2上电位相同时，第一选通单元11和第三选通单元13所选通的信号不同。根据图1所示测试电路的结构可知，现有的测试电路包括3条控制信号线，因此显示面板需要3个控制信号焊盘，测试电路包括3种测试数据信号，因此显示面板需要3个测试数据信号焊盘，使得测试电路所需焊盘数量较多，同时控制信号线数量较多，不利于窄边框的实现。

基于上述问题，本发明实施例提供一种显示面板的测试电路，图2是本发明实施例提供的一种显示面板的测试电路的结构示意图，参考图2，该显示面板测试电路100包括多个第一测试模块110、多个第二测试模块120、第一控制信号线SW1和第二控制信号线SW2。

第一测试模块110包括第一控制端C1、第二控制端C2、第一输入端IN1、第二输入端IN2和第一输出端OUT1，第一控制端C1与第一控制信号线SW1电连接，第二控制端C2与第二控制信号线SW2电连接，第一测试模块110的第一输入端IN1和第二输入端IN2连接不同的测试信号端口；第一测试模块110用于根据第一控制端C1输入的信号控制第一输入端IN1与第一输出端OUT1之间的导通状态，以及用于根据第二控制端C2输入的信号控制第二输入端IN2与第一输出端OUT1之间的导通状态。

第二测试模块120包括第三控制端C3、第四控制端C4、第三输入端IN3、第四输入端IN4和第二输出端OUT2，第三控制端C3与第一控制信号线SW1电连接，第四控制端C4与第二控制信号线SW2电连接，第二测试模块120的第三输入端IN3和第四输入端IN4连接相同的测试信号端口；第二测试模块120与第一测试模块110连接测试信号端口不同；第二测试模块120用于根据第三控制端C3输入的信号控制第三输入端IN3与第二输出端OUT2之间的导通状态，以及用于根据第四控制端C4输入的信号控制第四输入端IN4与第二输出端OUT2之间的导通状态。

具体的，第一测试模块110的第一输入端IN1和第二输入端IN2连接不同的测试信号端口，通过第一测试模块110可以根据第一控制端C1的信号控制第一输入端IN1与第一输出端OUT1之间的连接状态，以及根据第二控制端C2的信号控制第二输入端IN2与第二输出端OUT2之间的状态，进而使得第一测试模块110的第一输出端OUT1输出不同测试信号。显示面板中通常包括多种颜色的子像素，因第一测试模块110在第一控制信号线SW1和第二控制信号线SW2的控制下，可以将第一输入端IN1或者第二输入端IN2接入的测试信号进行输出，且第一输入端IN1和第二输入端IN2连接不同的测试信号端口，因此第一输入端IN1和第二输入端IN2可以接入不同的测试信号，例如第一输入端IN1可以接入第一颜色子像素对应的测试信号，第二输入端IN2可以接入第二颜色子像素对应的测试信号，进而通过第一控制信号线SW1和第二控制信号线SW2对第一测试模块110的控制，可以实现对显示面板中两种颜色子像素的测试。第二测试模块120可以根据第三控制端C3的信号控制第三输入端IN3和第二输出端OUT2之间的连接状态，以及根据第四控制端C4的信号控制第四输入端IN4和第二输出端OUT2之间的连接状态，其中第三输入端IN3和第四输入端IN4连接相同的测试信号端口，即第三输入端IN3和第四输入端IN4接入相同的测试信号，但是第二测试模块120所接入测试信号不同于第一测试模块110所接入的测试信号，可选的，第二测试模块120的第三输入端IN3和第四输入端IN4均接入显示面板中第三颜色子像素对应的测试信号，进而通过第一控制信号线SW1和第二控制信号线SW2的控制，可实现对显示面板中第三颜色子像素的测试。

可选的，第一颜色子像素为红色子像素，第二颜色子像素为蓝色子像素，第三颜色子像素为绿色子像素。

本实施例提供的测试电路，通过设置测试电路包括第一测试模块和第二测试模块，第一测试模块的第一输入端和第二输入端连接不同的测试信号端口，第二测试模块的第三输入端和第四输入端连接相同的测试信号端口；第二测试模块与第一测试模块连接测试信号端口不同；第一测试模块根据第一控制端输入的信号控制第一输入端与第一输出端之间的导通状态，以及根据第二控制端输入的信号控制第二输入端与第一输出端之间的导通状态，进而可以实现对显示面板中两种颜色像素的测试；第二测试模块根据第三控制端输入的信号控制第三输入端与第二输出端之间的导通状态，以及根据第四控制端输入的信号控制第四输入端与第二输出端之间的导通状态，进而可以实现对显示面板中一种颜色子像素的测试，即该测试电路可以实现三种颜色子像素的测试。本实施例的测试电路仅包括两条控制信号线，相应的，仅需两个控制信号焊盘，因此可以减少测试电路中控制信号线的数量和控制信号线对应的焊盘数量，进而减小测试电路和测试电路所需焊盘占用显示面板边框的面积，有利于窄边框的实现。并且在边框固定的情况下，可以使得边框内可以更多地布置其他电路结构，进而可以为显示面板提供更多驱动信号和测试信号，进而有利于提高显示面板性能。并且因控制信号焊盘减少，相应的，提供控制信号的驱动芯片的输出端口也可以减少，有利于减小驱动芯片的面积。

以上是本发明的核心思想，下面将继续结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下，所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

图3是本发明实施例提供的另一种显示面板的测试电路的结构示意图，参考图3，可选的，该测试电路100中，第一测试模块110包括第一晶体管T1和第二晶体管T2，第一晶体管T1的栅极作为第一测试模块110的第一控制端C1，第一晶体管T1的第一极作为第一测试模块110的第一输入端IN1；第二晶体管T2的栅极作为第一测试模块110的第二控制端C2，第二晶体管T2的第一极作为第一测试模块110的第二输入端IN2，第二晶体管T2的第二极与第一晶体管T1的第二极电连接，第二晶体管T2的第二极和第一晶体管T1的第二极的公共端作为第一测试模块110的第一输出端OUT1。

具体的，第一晶体管T1可以根据第一控制信号线SW1上的信号导通或关断，第二晶体管T2可以根据第二控制信号线SW2上的信号导通或关断，第一晶体管T1导通时，可以使得第一输入端IN1输入的测试信号传输至第一测试模块110的第一输出端OUT1；第二晶体管T2导通时，可以使得第二输入端IN2输入的测试信号传输至第一测试模块110的第一输出端OUT1。

继续参考图3，可选的，第二测试模块120包括第三晶体管T3和第四晶体管T4，第三晶体管T3的第一极作为第二测试模块120的第三输入端IN3；第四晶体管T4的第一极作为第二测试模块120的第四输入端IN4，第四晶体管T4的第二极与第三晶体管T3的第二极电连接，第四晶体管T4的第二极和第三晶体管T3的第二极的公共端作为第二测试模块120的第二输出端OUT2；

第三晶体管T3的栅极作为第二测试模块120的第三控制端C3，第四晶体管T4的栅极作为第二测试模块120的第四控制端C4；或者第三晶体管T3的栅极作为第二测试模块120的第四控制端C4，第四晶体管T4的栅极作为第二测试模块120的第三控制端C3。

以第三晶体管T3的栅极作为第二测试模块120的第三控制端C3，第四晶体管T4的栅极作为第二测试模块120的第四控制端C4为例进行说明，第三晶体管T3可以根据第一控制信号线SW1上的信号导通或关断，第四晶体管T4可以根据第二控制信号线SW2上的信号导通或关断，第三晶体管T3导通时，可以使得第三输入端IN3输入的测试信号传输至第二测试模块120的第二输出端OUT2；第四晶体管T4导通时，可以使得第四输入端IN4输入的测试信号传输至第二测试模块120的第二输出端OUT2。

在上述基础方案的基础上，可选的，显示面板包括像素电路，像素电路包括至少两个晶体管，第一测试模块以及第二测试模块所包括的晶体管沟道类型与像素电路包括的晶体管的沟道类型相同。

具体的，第一测试模块、第二测试模块中所包括的晶体管沟道类型和像素电路中晶体管的沟道类型相同，可以使得第一测试模块和第二测试模块中的晶体管可以与像素电路中晶体管在同一道工艺中制作，进而有利于简化显示面板的制备工艺。

图4是本发明实施例提供的一种显示面板的结构示意图，图4以显示面板包括图3所示测试电路为例进行了示例性输出，第一测试模块110的输出端可以通过数据线连接显示面板中一列子像素对应的像素电路，该列子像素可以包括第一颜色子像素211和第二颜色子像素212，第一颜色子像素211和第二颜色子像素212的发光颜色不同，进而通过第一控制信号线SW1和第二控制信号线SW2上的信号控制第一测试模块110可以实现对第一颜色子像素211和第二颜色子像素212的测试。第二测试模块120的第三输入端IN3和第四输入端IN4连接相同的测试信号端口，并且与第一测试模块110和第二测试模块120连接的测试信号端口不同，可选的，第二测试模块120的第二输出端OUT2通过数据线连接显示面板中的一列第三颜色子像素213对应的像素电路，通过第一控制信号线SW1和第二控制信号线SW2上的信号控制第二测试模块120可以实现第三颜色子像素213的测试。

其中子像素对应的像素电路可以是现有技术中的任何像素电路，图5是现有技术中的7T1C像素电路的结构示意图，其中像素电路中包括驱动晶体管DT。示例性的，以第一测试模块110的第一控制端C1和第二控制端C2、第二测试模块120的第三控制端C3和第四控制端C4均对低电平有效为例，在对显示面板中第一颜色子像素211进行测试时，可以向第一控制信号线SW1提供低电平，向第二控制信号线SW2提供高电平，进而使得第一测试模块110根据第一控制端C1的低电平信号控制第一输入端IN1和第一输出端OUT1导通，以及根据第二控制端C2的高电平控制第二输入端IN2和第一输出端OUT1之间关断，同时向第一测试模块110的第一输入端IN1连接的测试信号端口提供第一电位信号，该第一电位信号通过数据线写入到第一颜色子像素211的像素电路的驱动晶体管栅极，且该第一电位信号为满足驱动晶体管导通条件的电位信号，使得第一颜色子像素211对应的像素电路中驱动晶体管能够导通，正常的第一颜色子像素211被点亮，若显示面板中存在不点亮的第一颜色子像素211，则证明该第一颜色子像素211存在缺陷。向第二测试模块120的第三输入端IN3和第四输入端IN4连接的测试信号端口提供第二电位信号，因第二测试模块120的第三控制端C3与第一控制信号线SW1电连接，因此第二测试模块120根据第三控制端C3的低电位信号导通，第二电位信号通过数据线写入到第三颜色子像素213的像素电路的驱动晶体管栅极，该第二电位信号可以是满足驱动晶体管关断条件的电位信号，使得第三颜色子像素213对应的像素电路中的驱动晶体管关断，进而使得第三颜色子像素213不会被点亮。

以上为对第一颜色子像素211点亮测试的过程，对第二颜色子像素212的点亮测试过程，与上述第一颜色子像素211的点亮测试过程相似，即向第一测试模块110的第二输入端IN2连接的测试信号端口提供第一电位信号，向第一测试模块110的第一输入端IN1连接的测试信号端口提供第二电位信号，向第一控制信号线SW1提供高电位信号，向第二控制信号线SW2提供低电平信号，向第二测试模块120的第三输入端IN3和第四输入端IN4连接的测试信号端口提供第二电位信号，具体工作过程在此不再赘述。

对第三颜色子像素213点亮测试时，向第二测试模块120的第三输入端IN3和第四输入端IN4连接的测试信号端口提供第一电位信号，可以向第一控制信号线SW1和/或第二控制信号线SW2提供低电平信号，保证第一电位信号可以传输至第二输出端OUT2即可。以向第一控制信号线SW1提供低电平信号，向第二控制信号线SW2提供高电平信号为例进行说明，第二测试模块120根据第三控制端C3的低电平信号控制第三输入端IN3和第二输出端OUT2导通，第一电位信号通过数据线传输至第三颜色子像素213，正常的第三颜色子像素213被点亮，若显示面板中在不点亮的第三颜色子像素213，则不点亮的第三颜色子像素213存在缺陷。同时可以向第一测试模块110的第一输入端IN1和第二输入端IN2提供第二电位信号，使得第一输入端IN1和第二输入端IN2的第二电位信号被写入到第一颜色子像素211和第二颜色子像素212，第一颜色子像素211和第二颜色子像素212也不会被点亮。

以上实施例中，均以第一测试模块110的第一输入端IN1连接第一测试信号端口D_R，第二输入端IN2连接第二测试信号端口D_B，第二测试模块120的第三输入端IN3和第四输入端IN4连接第三测试信号端口D_G为例进行了示例性示出。

图6是本发明实施例提供的另一种显示面板的测试电路的结构示意图，参考图6，可选的，多个第一测试模块110包括第一类型的第一测试模块111和第二类型的第一测试模块112，其中，第一类型的第一测试模块111的第一输入端IN1连接第一测试信号端口D_R，第一类型的第一测试模块111的第二输入端IN2连接第二测试信号端口D_B；第二类型的第一测试模块112的第一输入端IN1连接第二测试信号端口D_B，第二类型的第一测试模块112的第二输入端IN2连接第一测试信号端口D_R；第二测试模块120的第三输入端IN3和第四输入端IN4均连接第三测试信号端口D_G。

参考图6，本实施例中，第一测试模块110包括第一类型的第一测试模块111和第二类型的第一测试模块112，第一类型的第一测试模块111的第一输入端IN1与第二类型的第一测试模块112的第二输入端IN2连接相同的测试信号端口(第一测试信号端口D_R)，第一类型的第一测试模块111的第二输入端IN2与第二类型的第一测试模块112的第一输入端IN1连接相同的测试信号端口(第二测试信号端口D_B)，相比于图2中所示测试电路，本实施例的测试电路不仅可以实现单色画面下对显示面板的测试，还可以实现全部子像素均点亮时混色显示画面下的显示面板测试。

图7是本发明实施例提供的另一种显示面板的结构示意图，该显示面板包括图6所示的测试电路，参考图7，可选的，显示面板包括多个阵列排布的子像素，其中多个阵列排布的子像素包括第一颜色子像素211、第二颜色子像素212和第三颜色子像素213，显示面板还包括用于驱动第一颜色子像素211的第一像素电路、用于驱动第二颜色子像素212的第二像素电路和用于驱动第三颜色子像素213的第三像素电路；显示面板还包括多条数据线(D1、D2、D3……)，数据线的延伸方向与第一控制信号线SW1、第二控制信号线SW2的延伸方向相交；每个第一测试模块110的第一输出端OUT1和每个第二测试模块120的第二输出端OUT2分别连接一条数据线，每条数据线连接一列子像素对应的像素电路，且连接于第一测试模块110的数据线所连接的像素电路中，包括第一像素电路和第二像素电路，连接于第二测试模块120的数据线所连接的像素电路中，仅包括第三像素电路；且每一行子像素中，包括第一颜色子像素211、第二颜色子像素212和第三颜色子像素213。

其中子像素的行方向可以与第一控制信号线SW1和第二控制信号线SW2的延伸方向相同，子像素的列方向可以与数据线的延伸方向相同。

其中子像素对应的像素电路可以是现有技术中像素电路。以下对图7所示显示面板的测试过程进行介绍。示例性的，仍以第一测试模块110的第一控制端C1和第二控制端C2、第二测试模块120的第三控制端C3和第四控制端C4均对低电平有效为例，在对显示面板中单色画面进行测试，例如对第一颜色子像素211进行测试时，则在向第一行子像素(最远离测试电路的一行子像素)对应的像素电路写入测试信号时，可以向第一控制信号线SW1提供低电平，向第二控制信号线SW2提供高电平，进而使得第一类型的第一测试模块111和第二类型的第一测试模块112根据第一控制端C1的低电平信号控制第一输入端IN1和第一输出端OUT1导通，以及根据第二控制端C2的高电平控制第二输入端IN2和第一输出端OUT1之间关断，同时向第一测试信号端口D_R提供第一电位信号，该第一电位信号通过与第一类型的第一测试模块111连接的数据线写入到第一颜色子像素211的像素电路的驱动晶体管栅极，且该第一电位信号为满足驱动晶体管导通条件的电位信号，使得第一颜色子像素211对应的像素电路中驱动晶体管能够导通，第一行中正常的第一颜色子像素211被点亮，同时向第二测试信号端口D_B提供第二电位信号，使得第一行中第二颜色子像素212不会被点亮；而对显示面板中第一颜色子像素211进行测试时，在向第二行子像素(紧邻第一行子像素)对应的像素电路写入测试信号时，可以向第一控制信号线SW1提供高电平，向第二控制信号线SW2提供低电平，进而使得第一类型的第一测试模块111和第二类型的第一测试模块112根据第二控制端C2的低电平控制第二输入端IN2和第一输出端OUT1之间导通，第二类型的第一测试模块112根据第一控制端C1的高电平控制第一输入端IN1和第一输出端OUT1之间关断，同时向第一测试信号端口D_R提供第一电位信号，该第一电位信号通过与第二类型的第一测试模块112连接的数据线写入到第一颜色子像素211的像素电路的驱动晶体管栅极，且该第一电位信号为满足驱动晶体管导通条件的电位信号，使得第一颜色子像素211对应的像素电路中驱动晶体管能够导通，第二行中正常的第一颜色子像素211被点亮，同时向第二测试信号端口D_B提供第二电位信号，使得第一行中第一颜色子像素211不会被点亮；显示面板中其他行中第一子像素写入测试信号的过程，奇数行的过程与第一行相同，偶数行的过程与第二行相同，在此不再赘述。将显示面板中所有第一子像素写入测试信号后，若显示面板中存在不点亮的第一颜色子像素211，则证明该第一颜色子像素211存在缺陷。在向显示面板中任一行第一子像素对应的像素电路写入测试信号时，同时向第三测试信号端口D_G提供第二电位信号，因第二测试模块120的第三控制端C3与第一控制信号线SW1电连接，第二测试模块120的第四控制端C4与第二控制信号线SW2电连接，因此第二测试模块120根据第三控制端C3或第四控制端C4的低电位信号导通时，第二电位信号通过数据线写入到第三颜色子像素213的像素电路的驱动晶体管栅极，该第二电位信号可以是满足驱动晶体管关断条件的电位信号，使得第三颜色子像素213对应的像素电路中的驱动晶体管关断，进而使得第三颜色子像素213不会被点亮。

以上为对第一颜色子像素211点亮测试的过程，对第二颜色子像素212的点亮测试过程，与上述第一颜色子像的点亮测试过程相似，具体工作过程在此不再赘述。

对第三颜色子像素213点亮测试时，向第三测试信号端口D_G提供第一电位信号，可以向第一控制信号线SW1和/或第二控制信号线SW2提供低电平信号，保证第一电位信号可以传输至第二输出端OUT2即可。以向第一控制信号线SW1提供低电平信号，向第二控制信号线SW2提供高电平信号为例进行说明，第二测试模块120根据第三控制端C3的低电平信号控制第三输入端IN3和第二输出端OUT2导通，对于任一行子像素来说，第一电位信号通过数据线传输至第三颜色子像素213对应的像素电路，正常的第三颜色子像素213被点亮，当显示面板中所有第三颜色子像素213对应的像素电路写入测试信号后，若显示面板中在不点亮的第三颜色子像素213，则不点亮的第三颜色子像素213存在缺陷。同时在对第三颜色子像素213进行测试的整个过程中，可以向第一测试信号端口D_R和第二测试信号信号端口D_B第二电位信号，使得第二电位信号被写入到第一颜色子像素211对应的第一像素电路和第二颜色子像素212对应的第二像素电路，第一颜色子像素211和第二颜色子像素212也不会被点亮。

对于第一颜色子像素211、第二颜色子像素212和第三颜色子像素213全部点亮的混色画面进行测试时，在每一行子像素写入测试信号时，可以分别向第一测试信号端口D_R、第二测试信号端口D_B和第三测试信号端口D_G提供第一电位信号，进而使得每一行子像素对应的像素电路中均写入可以使像素电路中驱动晶体管的导通的信号，保证正常的子像素可以被点亮。

示例性的，仍以第一测试模块110的第一控制端C1和第二控制端C2、第二测试模块120的第三控制端C3和第四控制端C4均对低电平有效为例，在对显示面板中混色画面进行测试，则在向第一行子像素(最远离测试电路的一行子像素)对应的像素电路写入测试信号时，可以向第一控制信号线SW1提供低电平，向第二控制信号线SW2提供高电平，进而使得第一类型的第一测试模块111和第二类型的第一测试模块112根据第一控制端C1的低电平信号控制第一输入端IN1和第一输出端OUT1导通，以及根据第二控制端C2的高电平控制第二输入端IN2和第一输出端OUT1之间关断，同时向第一测试信号端口D_R和第二测试信号端口D_B提供第一电位信号，该第一电位信号通过与第一类型的第一测试模块111连接的数据线写入到第一颜色子像素211的像素电路的驱动晶体管栅极，第一电位信号还通过与第二类型的第一测试模块112连接的数据线写入到第二颜色子像素212的像素电路的驱动晶体管的栅极，且该第一电位信号为满足驱动晶体管导通条件的电位信号，使得第一颜色子像素211和第二颜色子像素212对应的像素电路中驱动晶体管能够导通，第一行中正常的第一颜色子像素211和第二颜色子像素212被点亮；第二测试模块120的第三输入端IN3与第二输出端OUT2之间导通，同时向第三测试信号端口D_G提供第一电位信号，该第一电位信号通过第二测试模块120连接的数据线写入到第三颜色像素213的像素电路的驱动晶体管的栅极，使得第三颜色子像素213对应的像素电路中驱动晶体管能够导通，第一行中正常的第三颜色子像素213被点亮。

而对显示面板中混色画面进行测试时，在向第二行子像素(紧邻第一行子像素)对应的像素电路写入测试信号时，可以向第一控制信号线SW1提供高电平，向第二控制信号线SW2提供低电平，进而使得第一类型的第一测试模块111和第二类型的第一测试模块112根据第二控制端C2的低电平控制第二输入端IN2和第一输出端OUT1之间导通，同时向第一测试信号端口D_R和第二测试信号端口D_B提供第一电位信号，该第一电位信号通过与第二类型的第一测试模块112连接的数据线写入到第一颜色子像素211的像素电路的驱动晶体管栅极，该第一电位信号通过与第一类型的第一测试模块111连接的数据线写入到第二颜色子像素212的像素电路的驱动晶体管的栅极，且该第一电位信号为满足驱动晶体管导通条件的电位信号，使得第一颜色子像素211对应的像素电路中驱动晶体管能够导通，第二行中正常的第一颜色子像素211和第二颜色子像素212被点亮；第二测试模块120的第四输入端IN4与第二输出端OUT2之间导通，同时向第三测试信号端口D_G提供第一电位信号，该第一电位信号通过第二测试模块120连接的数据线写入到第三颜色像素的像素电路的驱动晶体管的栅极，使得第三颜色对应的像素电路中驱动晶体管能够导通，第一行中正常的第三颜色子像被点亮。

显示面板中其他行中第一子像素写入测试信号的过程，奇数行的过程与第一行相同，偶数行的过程与第二行相同，在此不再赘述。将显示面板中所有子像素写入测试信号后，若显示面板中存在不点亮的子像素，则证明该子像素存在缺陷。

需要说明的是，对于不同颜色子像素对应的像素电路，第一电位信号大小可以不同，第二电位信号大小也可以不同。

继续参考图6和图7，可选的，沿第一控制信号线SW1和第二控制信号线SW2的延伸方向，第二测试模块120位于第一类型的第一测试模块111和第二类型的第一测试模块112之间。

具体的，图7所示显示面板的像素排列方式较为普遍，设置沿第一控制信号线SW1和第二控制信号线SW2的延伸方向，第二测试模块120位于第一类型的第一测试模块111和第二类型的第一测试模块112之间，可以使得测试电路与显示面板中像素排布结构相适应，进而可以满足对显示面板的测试要求。

本发明实施例还提供了一种显示面板的测试方法，该显示面板的测试方法适用于测试本发明上述任意实施例的显示面板，显示面板包括多个第一测试模块、多个第二测试模块、第一控制信号线和第二控制信号线；第一测试模块包括第一控制端、第二控制端、第一输入端、第二输入端和第一输出端，第一测试模块的第一输入端和第二输入端连接不同的测试信号端口；第二测试模块包括第三控制端、第四控制端、第三输入端、第四输入端和第二输出端，第二测试模块的第三输入端和第四输入端连接相同的测试信号端口；第二测试模块与第一测试模块连接的测试信号端口不同；图8是本发明实施例提供的一种显示面板的测试方法的流程图，参考图8，该显示面板的测试方法包括：

步骤310、第一测试模块根据第一控制端输入的信号控制第一输入端与第一输出端之间的导通状态，以及根据第二控制端输入的信号控制第二输入端与第一输出端之间的导通状态；第二测试模块根据第三控制端输入的信号控制第三输入端与第二输出端之间的导通状态，以及根据第四控制端输入的信号控制第四输入端与第二输出端之间的导通状态。

本实施例提供的显示面板的测试方法，可使得测试电路仅包括两条控制信号线，相应的，仅需两个控制信号焊盘，因此可以减少测试电路中控制信号线的数量和控制信号线对应的焊盘数量，进而减小测试电路和测试电路所需焊盘占用显示面板边框的面积，有利于窄边框的实现。并且在边框固定的情况下，可以使得边框内可以更多地布置其他电路结构，进而可以为显示面板提供更多驱动信号和测试信号，进而有利于提高显示面板性能。并且因控制信号焊盘减少，相应的，提供控制信号的驱动芯片的输出端口也可以减少，有利于减小驱动芯片的面积。

在上述技术方案的基础上，多个第一测试模块包括第一类型的第一测试模块和第二类型的第一测试模块；第一类型的第一测试模块的第一输入端连接第一测试信号端口，第一类型的第一测试模块的第二输入端连接第二测试信号端口；第二类型的第一测试模块的第一输入端连接第二测试信号端口，第二类型的第一测试模块的第二输入端连接第一测试信号端口；第二测试模块的第三输入端和第四输入端均连接第三测试信号端口；

上述步骤310，进一步包括：

步骤311、在预设单色画面测试时，向第一控制信号线和第二控制信号线交替提供导通控制信号，并向与预设单色画面对应的预设测试信号端口提供第一电位信号，向其他测试信号端口提供第二电位信号，其中，第一电位信号满足显示面板中像素电路驱动晶体管的导通条件，第二电位信号满足显示面板中像素电路驱动晶体管关断条件；预设单色画面为任意单色画面；预设单色画面为任意单色画面，预设测试信号端口为第一测试信号端口、第二测试信号端口和第三测试信号端口中的一个端口。

步骤312、在混色画面测试时，向第一控制信号线和第二控制信号线交替提供导通控制信号，并向第一测试信号端口、第二测试信号端口和第三测试信号端口提供第一电位信号。

其中，向第一控制信号线和第二控制信号线交替提供导通控制信号，可以使得显示面板中子像素逐行写入数据信号，可以对应上述实施例中，对于图7所示显示面板测试过程中对单色画面进行测试过程中不同行子像素写入测试信号的过程。示例性，在相邻两行子像素中某一颜色子像素写入数据时，前一行子像素写入测试信号需要向第一控制信号线提供导通控制信号，后一行子像素写入测试信号需要向第二控制信号线提供导通控制信号。

在混色画面测试时，可对应上述实施例中，对于图7所示显示面板测试过程中对混色画面进行测试的过程，在此不再赘述。

本发明实施例还提供了一种显示面板，其中该显示面板的结构示意图可以参考图5或图7，该显示面板包括本发明上述任意实施例提供的测试的电路。

注意，上述仅为本发明的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本发明不限于这里所述的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本发明的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本发明进行了较为详细的说明，但是本发明不仅仅限于以上实施例，在不脱离本发明构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，而本发明的范围由所附的权利要求范围决定。

Claims (10)

1.一种显示面板的测试电路，其特征在于，包括多个第一测试模块、多个第二测试模块、第一控制信号线和第二控制信号线；

所述第一测试模块包括第一控制端、第二控制端、第一输入端、第二输入端和第一输出端，所述第一控制端与所述第一控制信号线电连接，所述第二控制端与所述第二控制信号线电连接，所述第一测试模块的第一输入端和第二输入端连接不同的测试信号端口；所述第一测试模块用于根据所述第一控制端输入的信号控制所述第一输入端与所述第一输出端之间的导通状态，以及用于根据所述第二控制端输入的信号控制所述第二输入端与所述第一输出端之间的导通状态；

所述第二测试模块包括第三控制端、第四控制端、第三输入端、第四输入端和第二输出端，所述第三控制端与所述第一控制信号线电连接，所述第四控制端与所述第二控制信号线电连接，所述第二测试模块的第三输入端和第四输入端连接相同的测试信号端口；所述第二测试模块与所述第一测试模块连接的测试信号端口不同；所述第二测试模块用于根据所述第三控制端输入的信号控制所述第三输入端与所述第二输出端之间的导通状态，以及用于根据所述第四控制端输入的信号控制所述第四输入端与所述第二输出端之间的导通状态；

其中，所述显示面板还包括多条数据线，每个所述第一测试模块的第一输出端和每个所述第二测试模块的第二输出端分别连接一条所述数据线。

2.根据权利要求1所述的显示面板的测试电路，其特征在于，所述第一测试模块包括第一晶体管和第二晶体管，所述第一晶体管的栅极作为所述第一测试模块的第一控制端，所述第一晶体管的第一极作为所述第一测试模块的第一输入端；

所述第二晶体管的栅极作为所述第一测试模块的第二控制端，所述第二晶体管的第一极作为所述第一测试模块的第二输入端，所述第二晶体管的第二极与所述第一晶体管的第二极电连接，所述第二晶体管的第二极和所述第一晶体管的第二极的公共端作为所述第一测试模块的第一输出端。

3.根据权利要求1所述的显示面板的测试电路，其特征在于，所述第二测试模块包括第三晶体管和第四晶体管，所述第三晶体管的第一极作为所述第二测试模块的第三输入端；所述第四晶体管的第一极作为所述第二测试模块的第四输入端，所述第四晶体管的第二极与所述第三晶体管的第二极电连接，所述第四晶体管的第二极和所述第三晶体管的第二极的公共端作为所述第二测试模块的第二输出端；

所述第三晶体管的栅极作为所述第二测试模块的第三控制端，所述第四晶体管的栅极作为所述第二测试模块的第四控制端；或者所述第三晶体管的栅极作为所述第二测试模块的第四控制端，所述第四晶体管的栅极作为所述第二测试模块的第三控制端。

4.根据权利要求2或3所述的显示面板的测试电路，其特征在于，所述显示面板包括像素电路，所述像素电路包括至少两个晶体管，所述第一测试模块以及所述第二测试模块所包括的晶体管沟道类型与所述像素电路包括的晶体管的沟道类型相同。

5.根据权利要求1所述的显示面板的测试电路，其特征在于，多个所述第一测试模块包括第一类型的第一测试模块和第二类型的第一测试模块，其中，所述第一类型的第一测试模块的第一输入端连接第一测试信号端口，所述第一类型的第一测试模块的第二输入端连接第二测试信号端口；所述第二类型的第一测试模块的第一输入端连接所述第二测试信号端口，所述第二类型的第一测试模块的第二输入端连接所述第一测试信号端口；

所述第二测试模块的第三输入端和第四输入端均连接第三测试信号端口。

6.根据权利要求5所述的显示面板的测试电路，其特征在于，沿所述第一控制信号线和所述第二控制信号线的延伸方向，所述第二测试模块位于所述第一类型的第一测试模块和所述第二类型的第一测试模块之间。

7.根据权利要求1所述的显示面板的测试电路，其特征在于，所述显示面板包括多个阵列排布的子像素，其中多个阵列排布的子像素包括第一颜色子像素、第二颜色子像素和第三颜色子像素，所述显示面板还包括用于驱动第一颜色子像素的第一像素电路、用于驱动第二颜色子像素的第二像素电路和用于驱动第三颜色子像素的第三像素电路；

所述数据线的延伸方向与所述第一控制信号线、所述第二控制信号线的延伸方向相交；

每条所述数据线连接一列所述子像素对应的像素电路，且连接于所述第一测试模块的所述数据线所连接的像素电路中，包括所述第一像素电路和所述第二像素电路，连接于所述第二测试模块的所述数据线所连接的像素电路中，仅包括所述第三像素电路；且每一行子像素中，包括所述第一颜色子像素、所述第二颜色子像素和所述第三颜色子像素。

8.一种显示面板的测试方法，其特征在于，

所述显示面板包括多个第一测试模块、多个第二测试模块、第一控制信号线和第二控制信号线；所述第一测试模块包括第一控制端、第二控制端、第一输入端、第二输入端和第一输出端，所述第一测试模块的第一输入端和第二输入端连接不同的测试信号端口；所述第二测试模块包括第三控制端、第四控制端、第三输入端、第四输入端和第二输出端，所述第二测试模块的第三输入端和第四输入端连接相同的测试信号端口；所述第二测试模块与所述第一测试模块连接的测试信号端口不同；

其中，所述显示面板还包括多条数据线，每个所述第一测试模块的第一输出端和每个所述第二测试模块的第二输出端分别连接一条所述数据线；

所述显示面板的测试方法包括：

所述第一测试模块根据所述第一控制端输入的信号控制所述第一输入端与所述第一输出端之间的导通状态，以及根据所述第二控制端输入的信号控制所述第二输入端与所述第一输出端之间的导通状态；

所述第二测试模块根据所述第三控制端输入的信号控制所述第三输入端与所述第二输出端之间的导通状态，以及根据所述第四控制端输入的信号控制所述第四输入端与所述第二输出端之间的导通状态。

9.根据权利要求8所述的显示面板的测试方法，其特征在于，多个所述第一测试模块包括第一类型的第一测试模块和第二类型的第一测试模块；所述第一类型的第一测试模块的第一输入端连接第一测试信号端口，所述第一类型的第一测试模块的第二输入端连接第二测试信号端口；所述第二类型的第一测试模块的第一输入端连接所述第二测试信号端口，所述第二类型的第一测试模块的第二输入端连接所述第一测试信号端口；

所述第二测试模块的第三输入端和第四输入端均连接第三测试信号端口；

所述第一测试模块根据所述第一控制端输入的信号控制所述第一输入端与所述第一输出端之间的导通状态，以及根据所述第二控制端输入的信号控制所述第二输入端与所述第一输出端之间的导通状态；所述第二测试模块根据所述第三控制端输入的信号控制所述第三输入端与所述第二输出端之间的导通状态，以及根据所述第四控制端输入的信号控制所述第四输入端与所述第二输出端之间的导通状态，包括：

在预设单色画面测试时，向所述第一控制信号线和所述第二控制信号线交替提供导通控制信号，并向与预设单色画面对应的预设测试信号端口提供第一电位信号，向其他测试信号端口提供第二电位信号，其中，所述第一电位信号满足所述显示面板中像素电路驱动晶体管的导通条件，所述第二电位信号满足所述显示面板中像素电路驱动晶体管关断条件；所述预设单色画面为任意单色画面，所述预设测试信号端口为所述第一测试信号端口、所述第二测试信号端口和所述第三测试信号端口中的一个端口；

在混色画面测试时，向所述第一控制信号线和所述第二控制信号线交替提供导通控制信号，并向所述第一测试信号端口、所述第二测试信号端口和所述第三测试信号端口提供第一电位信号。

10.一种显示面板，其特征在于，包括权利要求1-7任一项所述的显示面板的测试电路。

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