CN113570990B - 信号检测装置、方法及显示面板 - Google Patents
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Abstract
本文公开一种信号检测装置,包括:设置在显示面板显示区外围单侧或两侧的测试区域,所述测试区域中包括M个测试垫和M‑1组开关管组;M为大于1的整数;其中,M个测试垫中的一个测试垫连接参考信号线,其余M‑1个测试垫中的每一个测试垫连接对应的开关管组,并且通过所述开关管组连接对应的信号线组,不同的开关管组复用同一组控制信号线。本文提供的信号检测装置能够通过设置少量的测试垫完成数量众多的信号的测试。
Description
技术领域
本文涉及但不限于显示技术领域,尤其涉及一种信号检测装置、方法及显示面板。
背景技术
随着显示产品在穿戴设备上越来越广泛的应用,窄边框,异形是主流趋势。圆形穿戴产品由于窄边框设计,空间有限,很难在面板(Panel)上保留足够多的测试点用于电学信号测试。
相关设计中测试点会在第二次切割工艺后被切除,而面板单侧仅有的空间只能放置少量测试点,由于测试点数量太少,远远无法完全满足信号调试及后续的不良分析工作。
发明内容
第一方面,本公开实施例提供了一种信号检测装置,包括:设置在显示面板显示区外围单侧或两侧的测试区域,所述测试区域中包括M个测试垫和M-1组开关管组;M为大于1的整数;
其中,M个测试垫中的一个测试垫连接参考信号线,其余M-1个测试垫中的每一个测试垫连接对应的开关管组,并且通过所述开关管组连接对应的信号线组,不同的开关管组复用同一组控制信号线。
第二方面,本公开实施例提供了一种信号检测方法,应用于包括上述信号检测装置的显示面板,所述方法包括以下步骤:
为第一测试垫提供参考信号;
在每一轮测试前,从M-1组待测信号中选出m个待测信号,所述m个待测信号分别属于不同的信号线组,且提供信号的m条信号线连接的开关管连接同一条控制信号线;其中,同一个测试垫连接的信号线属于同一个信号线组;m小于或等于M-1;
在每一轮测试时,同时导通m个待测信号的开关管以向m个测试垫同时提供待测信号,采集并记录M-1个测试垫上的待测信号以及第一测试垫上的参考信号的信息。
第三方面,本公开实施例提供了一种显示面板,包括上述信号检测装置。
本公开实施例提供的信号测试装置包括设置在面板显示区外围单侧或两侧的测试区域,所述测试区域中包括M个测试垫和M-1组开关管;其中,M个测试垫中的一个测试垫连接参考信号线,其余M-1个测试垫中的每一个测试垫连接对应的开关管组,并且通过所述开关管组连接对应的信号线组,不同的开关管组复用同一组控制信号线。由于窄边框的原因,面板显示区外的空白区域非常有限,通过为每一个测试垫配置一组开关管,能够使得多个信号分时复用同一个测试垫,从而能够通过设置少量的测试垫完成数量众多的信号的测试。通过不同的开关管组复用同一组控制信号线,能够减少开关管控制信号线的数量,适应窄边框面板的设计需求。
附图说明
附图用来提供对本公开技术方案的理解,并且构成说明书的一部分,与本公开的实施例一起用于解释本公开的技术方案,并不构成对本公开技术方案的限制。
图1为本公开实施例提供的一种圆形可穿戴产品的显示面板示意图;
图2为本公开实施例提供的一种信号检测装置的示意图;
图3为本公开实施例提供的一种信号检测装置的信号线的连接示意图;
图4为本公开实施例提供的一种信号检测装置的控制信号线的连接示意图;
图5为本公开实施例提供的一种显示面板具有双侧测试区域的示意图;
图6为本公开实施例提供的一种双侧测试区域的线路连接示意图;
图7为本公开实施例提供的一种信号检测方法的流程图。
具体实施方式
为使本公开的目的、技术方案和优点更加清楚明白,下文中将结合附图对本公开的实施例进行详细说明。注意,实施方式可以以多个不同形式来实施。所属技术领域的普通技术人员可以很容易地理解一个事实,就是方式和内容可以在不脱离本公开的宗旨及其范围的条件下被变换为各种各样的形式。因此,本公开不应该被解释为仅限定在下面的实施方式所记载的内容中。在不冲突的情况下,本公开中的实施例及实施例中的特征可以相互任意组合。
在附图中,有时为了明确起见,夸大表示了各构成要素的大小、层的厚度或区域。因此,本公开的一个方式并不一定限定于该尺寸,附图中各部件的形状和大小不反映真实比例。此外,附图示意性地示出了理想的例子,本公开的一个方式不局限于附图所示的形状或数值等。
本说明书中的“第一”、“第二”、“第三”等序数词是为了避免构成要素的混同而设置,而不是为了在数量方面上进行限定的。
在本说明书中,除非另有明确的规定和限定,术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解。例如,可以是固定连接,或可拆卸连接,或一体地连接;可以是机械连接,或电连接;可以是直接相连,或通过中间件间接相连,或两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言,可以具体情况理解上述术语在本公开中的具体含义。
在本说明书中,“电连接”包括构成要素通过具有某种电作用的元件连接在一起的情况。“具有某种电作用的元件”只要可以进行连接的构成要素间的电信号的授受,就对其没有特别的限制。“具有某种电作用的元件”的例子不仅包括电极和布线,而且还包括晶体管等开关元件、电阻器、电感器、电容器、其它具有各种功能的元件等。
本公开中的“约”,是指不严格限定界限,允许工艺和测量误差范围内的数值。
如图1所示,对于异形可穿戴产品(比如圆形手表),显示面板包括显示区1、数据信号扇出区2、驱动集成电路3、GOA(Gate Driver on Array,阵列基板行驱动)信号走线区4、FPC(Flexible Printed Circuit,柔性电路板)绑定区5、柔性电路板6和测试区域7。测试区域是面板上位于显示区外的区域,该区域与数据信号扇出区、驱动集成电路和GOA信号走线区相邻。由于窄边框使得空间受限,所以面板一侧的测试区域只能放置少量信号测试点,由于测试点数量太少,远远无法满足信号调试及后续的不良分析工作。
本申请实施例提供一种信号检测装置,包括:设置在显示面板显示区外围单侧或两侧的测试区域,所述测试区域中包括M个测试垫和M-1组开关管组;M为大于1的整数;
其中,M个测试垫中的一个测试垫连接参考信号线,其余M-1个测试垫中的每一个测试垫连接对应的开关管组,并且通过所述开关管组连接对应的信号线组,不同的开关管组复用同一组控制信号线。
上述实施例中的信号测试装置包括设置在面板显示区外围单侧或两侧的测试区域,所述测试区域中包括M个测试垫和M-1组开关管;其中,M个测试垫中的一个测试垫连接参考信号线,其余M-1个测试垫中的每一个测试垫连接对应的开关管组,并且通过所述开关管组连接对应的信号线组,不同的开关管组复用同一组控制信号线。由于窄边框的原因,面板显示区外的空白区域非常有限,通过为每一个测试垫配置一组开关管,能够使得多个信号分时复用同一个测试垫,从而能够通过设置少量的测试垫完成数量众多的信号的测试。通过不同的开关管组复用同一组控制信号线,能够减少开关管控制信号线的数量,适应窄边框面板的设计需求。
图2提供了一种信号检测装置。如图2所示,一种信号检测装置包括:设置在显示面板显示区外围单侧或两侧的测试区域,所述测试区域中包括M个测试垫Pi和M-1组开关管组Mt;0≤i≤M-1;1≤t≤M-1;M为大于1的整数;
其中,M个测试垫中的第一个测试垫P0连接参考信号线S0,其余M-1个测试垫中的第t个测试垫连接对应的开关管组Mt,并且通过所述开关管组Mt连接对应的信号线组St,不同的开关管组复用同一组控制信号线CT(j);1≤j≤N;N是每一组开关管组的开关管总数,N为大于1的整数。
第一个测试垫连接参考信号线,其余测试垫分别连接一组信号线,全部信号线上的信号可以通过多轮测试完成。
在一些示例性的实施方式中,如图1所示,所述显示面板还包括显示区、数据信号扇出区、驱动集成电路、阵列基板行驱动GOA信号走线区、柔性电路板FPC绑定区和柔性电路板;
所述测试区域与数据信号扇出区、驱动集成电路和GOA信号走线区相邻。
在一些示例性的实施方式中,所述显示面板包括:异形窄边框显示面板。
在一些示例性的实施方式中,所述显示面板包括:圆形显示面板。
在一些示例性的实施方式中,所述显示面板包括:圆形手表的显示面板。
在一些示例性的实施方式中,所述开关管是薄膜晶体管。
在一些示例性的实施方式中,如图3所示,所述参考信号线和M-1组信号线连接至驱动集成电路的输出端。
在一些示例性的实施方式中,所述参考信号线提供的信号是帧同步信号。
在一些示例性的实施方式中,所述M-1组信号线组提供的信号是阵列基板行驱动GOA信号。GOA信号包括时钟信号、脉冲信号等。
在一些示例性的实施方式中,所述控制信号线经过柔性电路板绑定区连接至柔性电路板。
在一些示例性的实施方式中,如图4所述,每一条控制信号线连接至柔性电路板上对应的0欧姆电阻焊盘的第一端,所述0欧姆电阻焊盘的第二端连接电源信号VX。对任意一组信号线组,当测试第j条信号线时,在所述第j条信号线连接的0欧姆电阻焊盘上焊接0欧姆电阻,使得该条信号线连接的开关管的控制极能够获得电源信号。开关管包括第一极、第二极和控制极,第一极和第二极中的一个是源电极,另一个是漏电极,控制极是栅极。
在一些示例性的实施方式中,所述显示面板外围两侧均设置测试区域,分别是第一测试区域和第二测试区域;所述第一测试区域和第二测试区域均包括M个测试垫和M-1组开关管组;所述第一测试区域和第二测试区域内的所有开关管组共用同一组控制信号线。
在一些示例性的实施方式中,如图5所示,显示面板外围两侧均设置测试区域,分别是第一测试区域101和第二测试区域102;所述第一测试区域和第二测试区域均包括M个测试垫Pi和M-1组开关管组Mt;0≤i≤M-1;1≤t≤M-1;M为大于1的整数;
对任意一个测试区域,M个测试垫中的第一个测试垫P0连接参考信号线S0,其余M-1个测试垫中的第t个测试垫连接对应的开关管组Mt,并且通过所述开关管组Mt连接对应的信号线组St,不同的开关管组复用同一组控制信号线CT(j);1≤j≤N;N是每一组开关管组的开关管总数,N为大于1的整数。
在一些示例性的实施方式中,所述第一测试区域和第二测试区域内的所有开关管组共用同一组控制信号线。两个测试区域共用同一组控制信号线能够进一步节省布线空间。在其他的实施方式中,所述第一测试区域和第二测试区域内的开关管组也可以对应不同的控制信号线组。
在一些示例性的实施方式中,如图6所示,为了进一步节省布线空间,当显示面板双侧设置有测试区域(第一测试区域和第二测试区域)时,两个测试区域的开关管组共用同一组控制信号线。以第一测试区域和第二测试区域均设置4个测试垫为例,下面说明两个测试区域的控制信号线的走线关系。
两个测试区域的第一个测试垫(P0)均连接同一个参考测试信号。
第一测试区域的第二个测试垫(P1)连接的第一个开关管,第一测试区域的第三个测试垫(P2)连接的第一个开关管,第一测试区域的第四个测试垫(P3)连接的第一个开关管,三者均连接第一测试区域的第一控制信号线。第一测试区域的第二个测试垫(P1)连接的第二个开关管,第一测试区域的第三个测试垫(P2)连接的第二个开关管,第一测试区域的第四个测试垫(P3)连接的第二个开关管,三者均连接第一测试区域的第二控制信号线。第一测试区域的第二个测试垫(P1)连接的第三个开关管,第一测试区域的第三个测试垫(P2)连接的第三个开关管,第一测试区域的第四个测试垫(P3)连接的第三个开关管,三者均连接第一测试区域的第三控制信号线。
第二测试区域的第二个测试垫(P1)连接的第一个开关管,第二测试区域的第三个测试垫(P2)连接的第一个开关管,第二测试区域的第四个测试垫(P3)连接的第一个开关管,三者均连接第二测试区域的第一控制信号线。第二测试区域的第二个测试垫(P1)连接的第二个开关管,第二测试区域的第三个测试垫(P2)连接的第二个开关管,第二测试区域的第四个测试垫(P3)连接的第二个开关管,三者均连接第二测试区域的第二控制信号线。第二测试区域的第二个测试垫(P1)连接的第三个开关管,第二测试区域的第三个测试垫(P2)连接的第三个开关管,第二测试区域的第四个测试垫(P3)连接的第三个开关管,三者均连接第二测试区域的第三控制信号线。
第一测试区域的第一控制信号线和第二测试区域的第一控制信号线通过设置在驱动集成电路3靠近FPC绑定区5一侧的第一横向走线连接在一起,第一测试区域的第二控制信号线和第二测试区域的第二控制信号线通过设置在驱动集成电路3靠近FPC绑定区5一侧的第二横向走线连接在一起,第一测试区域的第三控制信号线和第二测试区域的第三控制信号线通过设置在驱动集成电路3靠近FPC绑定区5一侧的第三横向走线连接在一起。
三条控制信号线中的每一条控制信号线连接至柔性电路板6上对应的0欧姆电阻焊盘的第一端,所述0欧姆电阻焊盘的第二端连接电源信号VGH。测试时,在柔性电路板上焊接任意一个0欧姆电阻,可以实现两个测试区域内总共6条信号线(驱动集成电路的输出信号)的测试。因此,通过将两个测试区域内的控制信号线连接在一起,可以在受限的测试空间内,利用少量的测试垫和走线实现尽可能多的信号的测试。
如图7所示,本公开实施例提供了一种信号检测方法,应用于包括上述信号检测装置的显示面板,所述方法包括以下步骤:
步骤S10,为第一测试垫提供参考信号;
步骤S20,在每一轮测试前,从M-1组待测信号中选出m个待测信号,所述m个待测信号分别属于不同的信号线组,且提供信号的m条信号线连接的开关管连接同一条控制信号线;其中,同一个测试垫连接的信号线属于同一个信号线组;m小于或等于M-1;
步骤S30,在每一轮测试时,同时导通m个待测信号的开关管以向m个测试垫同时提供待测信号,采集并记录M-1个测试垫上的待测信号以及第一测试垫上的参考信号的信息。
本公开实施例提供的信号检测方法,第一个测试垫连接参考信号线,其余测试垫分别连接一组信号线,全部信号线上的信号通过多轮测试完成,每一轮测试时,同时测试M个测试垫上的信号,可以以第一测试垫上的参考信号为基准,其余测试垫上的每一个信号都和参考信号进行比较,由于参考信号参与了所有轮的测试,因此可以通过除参考信号外的所有信号与参考信号的比较得到除参考信号外的所有信号和参考信号之间的相位关系,从而确定出每一个信号的相位信息,对所有信号的相位信息进行整合可以得出所有信号之间的相位关系,从而判断信号时序是否正确。
在每一轮测试时,m个测试垫连接的开关管由同一条控制信号线控制,因此,当所述控制信号线通过0欧姆电阻连通电源信号时可以同时导通m个待测信号的开关管以向m个测试垫同时提供待测信号。如果开关管是N型开关管,则电源信号可以是高电平信号,如果开关管是P型开关管,则电源信号可以是低电平信号。
在一些示例性的实施方式中,所述方法还包括:
在每一轮测试后,将该轮待测信号中的每一个待测信号的信息与参考信号的信息进行比较,确定该轮每一个待测信号与参考信号之间的相位关系,并根据所述相位关系确定每一个待测信号的相位信息。可以通过示波器测试待测信号和参考信号,示波器能够采集并记录所有测试信号的波形信息,后期通过波形数据比对能够确定出每一个待测信号与参考信号之间的相位关系。
在一些示例性的实施方式中,所述方法还包括:
在获得每一个待测信号的相位信息后,根据所述相位信息判断所述待测信号的时序是否正确。
本公开实施例还提供了一种显示面板,包括上述信号检测装置。
在一些示例性的实施方式中,所述显示面板包括:异形、窄边框显示面板。
在一些示例性的实施方式中,所述显示面板包括:圆形显示面板。
在一些示例性的实施方式中,所述显示面板包括:圆形手表的显示面板。
所述显示面板可以是可穿戴设备的异形、窄边框显示面板。也可以是手机、平板电脑、电视机、显示器、笔记本电脑、数码相框、导航仪等任何具有显示功能的产品或部件。对于该面板的其它必不可少的组成部分均为本领域的普通技术人员应该理解具有的,在此不做赘述,也不应作为对本公开的限制。
虽然本公开所揭露的实施方式如上,但所述的内容仅为便于理解本公开而采用的实施方式,并非用以限定本公开。任何本公开所属领域内的技术人员,在不脱离本公开所揭露的精神和范围的前提下,可以在实施的形式及细节上进行任何的修改与变化,但本公开的专利保护范围,仍须以所附的权利要求书所界定的范围为准。
Claims (9)
1.一种信号检测装置,包括:设置在显示面板显示区外围单侧或两侧的测试区域,所述测试区域中包括M个测试垫和M-1组开关管组;M为大于1的整数;
其中,M个测试垫中的一个测试垫作为第一测试垫连接参考信号线,其余M-1个测试垫中的每一个测试垫连接对应的开关管组,并且通过所述开关管组连接对应的信号线组,不同的开关管组复用同一组控制信号线;同一个测试垫连接的信号线属于同一个信号线组;
所述第一测试垫用于在每一轮测试时输入参考信号以供采集并记录;其余M-1个测试垫用于在每一轮测试前从M-1组待测信号中选出m个待测信号,所述m个待测信号分别属于不同的信号线组,且提供信号的m条信号线连接的开关管连接同一条控制信号线;在每一轮测试时,同时导通m个待测信号的开关管以向m个测试垫同时提供待测信号以供采集并记录;m小于或等于M-1;
所述显示面板还包括驱动集成电路,所述参考信号线和M-1组信号线连接至所述驱动集成电路的输出端。
2.如权利要求1所述的信号检测装置,其特征在于:
所述显示面板还包括显示区、数据信号扇出区、阵列基板行驱动GOA信号走线区、柔性电路板FPC绑定区和柔性电路板;
所述测试区域与数据信号扇出区、驱动集成电路和GOA信号走线区相邻。
3.如权利要求2所述的信号检测装置,其特征在于:
所述控制信号线经过柔性电路板绑定区连接至柔性电路板。
4.如权利要求3所述的信号检测装置,其特征在于:
每一条控制信号线连接至柔性电路板上对应的0欧姆电阻焊盘的第一端,所述0欧姆电阻焊盘的第二端连接电源信号VX。
5.如权利要求1-4中任一项所述的信号检测装置,其特征在于:
所述显示面板外围两侧均设置测试区域,分别是第一测试区域和第二测试区域;所述第一测试区域和第二测试区域均包括M个测试垫和M-1组开关管组;所述第一测试区域和第二测试区域内的所有开关管组共用同一组控制信号线。
6.如权利要求1所述的信号检测装置,其特征在于:
所述显示面板包括:异形窄边框显示面板。
7.一种信号检测方法,应用于包括上述权利要求1-6中任一项所述的信号检测装置的显示面板,所述方法包括以下步骤:
为第一测试垫提供参考信号;
在每一轮测试前,从M-1组待测信号中选出m个待测信号,所述m个待测信号分别属于不同的信号线组,且提供信号的m条信号线连接的开关管连接同一条控制信号线;其中,同一个测试垫连接的信号线属于同一个信号线组;m小于或等于M-1;
在每一轮测试时,同时导通m个待测信号的开关管以向m个测试垫同时提供待测信号,采集并记录M-1个测试垫上的待测信号以及第一测试垫上的参考信号的信息。
8.如权利要求7所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
在每一轮测试后,将该轮待测信号中的每一个待测信号的信息与参考信号的信息进行比较,确定该轮每一个待测信号与参考信号之间的相位关系,并根据所述相位关系确定每一个待测信号的相位信息。
9.一种显示面板,包括权利要求1-6中任一项所述的信号检测装置。
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Citations (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5168219A (en) * | 1988-10-31 | 1992-12-01 | Fujitsu Limited | Integrated circuit device having signal discrimination circuit and method of testing the same |
JP2001324721A (ja) * | 2000-03-06 | 2001-11-22 | Hitachi Ltd | 液晶表示装置及びその製造方法 |
JP2006308630A (ja) * | 2005-04-26 | 2006-11-09 | Seiko Epson Corp | 電気光学装置、電子機器、及び電気光学装置の検査方法 |
KR20070046238A (ko) * | 2005-10-29 | 2007-05-03 | 엘지.필립스 엘시디 주식회사 | 액정표시장치 |
KR20090090676A (ko) * | 2008-02-21 | 2009-08-26 | 엘지디스플레이 주식회사 | 액정표시장치 |
CN101713814A (zh) * | 2009-12-18 | 2010-05-26 | 南京航空航天大学 | 基于边界扫描的Flash芯片检测方法 |
CN102789076A (zh) * | 2012-08-01 | 2012-11-21 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 一种检测线路及液晶显示面板的制作方法 |
CN102959608A (zh) * | 2010-06-28 | 2013-03-06 | 夏普株式会社 | 有源矩阵基板、显示装置以及它们的检查方法 |
CN204303313U (zh) * | 2014-12-26 | 2015-04-29 | 昆山国显光电有限公司 | 线路检测结构 |
CN106875896A (zh) * | 2017-04-28 | 2017-06-20 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种源极驱动ic、显示装置及其驱动方法 |
CN207397669U (zh) * | 2017-11-10 | 2018-05-22 | 广东高云半导体科技股份有限公司 | 一种液晶屏测试控制电路 |
CN108874194A (zh) * | 2017-05-10 | 2018-11-23 | 南京瀚宇彩欣科技有限责任公司 | 内嵌式触控显示装置及其测试方法和制作方法 |
CN109559687A (zh) * | 2018-11-28 | 2019-04-02 | 友达光电股份有限公司 | 显示面板 |
CN110246443A (zh) * | 2019-06-18 | 2019-09-17 | 京东方科技集团股份有限公司 | 阵列基板及其测试方法 |
CN110867139A (zh) * | 2019-11-28 | 2020-03-06 | 上海中航光电子有限公司 | 一种阵列基板、显示面板及显示装置 |
CN112002275A (zh) * | 2020-09-04 | 2020-11-27 | 昆山国显光电有限公司 | 显示面板的测试电路、测试方法和显示面板 |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101129618B1 (ko) * | 2005-07-19 | 2012-03-27 | 삼성전자주식회사 | 액정 표시 패널 및 이의 검사 방법과 이의 제조방법 |
KR102231898B1 (ko) * | 2013-12-13 | 2021-03-25 | 엘지디스플레이 주식회사 | 표시장치 및 표시패널 |
KR102305920B1 (ko) * | 2015-04-30 | 2021-09-28 | 삼성디스플레이 주식회사 | 유기 발광 표시 장치 |
KR20200042992A (ko) * | 2018-10-16 | 2020-04-27 | 삼성디스플레이 주식회사 | 액정 표시 장치 및 이의 제조방법 |
-
2021
- 2021-07-30 CN CN202110872732.XA patent/CN113570990B/zh active Active
Patent Citations (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5168219A (en) * | 1988-10-31 | 1992-12-01 | Fujitsu Limited | Integrated circuit device having signal discrimination circuit and method of testing the same |
JP2001324721A (ja) * | 2000-03-06 | 2001-11-22 | Hitachi Ltd | 液晶表示装置及びその製造方法 |
JP2006308630A (ja) * | 2005-04-26 | 2006-11-09 | Seiko Epson Corp | 電気光学装置、電子機器、及び電気光学装置の検査方法 |
KR20070046238A (ko) * | 2005-10-29 | 2007-05-03 | 엘지.필립스 엘시디 주식회사 | 액정표시장치 |
KR20090090676A (ko) * | 2008-02-21 | 2009-08-26 | 엘지디스플레이 주식회사 | 액정표시장치 |
CN101713814A (zh) * | 2009-12-18 | 2010-05-26 | 南京航空航天大学 | 基于边界扫描的Flash芯片检测方法 |
CN102959608A (zh) * | 2010-06-28 | 2013-03-06 | 夏普株式会社 | 有源矩阵基板、显示装置以及它们的检查方法 |
CN102789076A (zh) * | 2012-08-01 | 2012-11-21 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 一种检测线路及液晶显示面板的制作方法 |
CN204303313U (zh) * | 2014-12-26 | 2015-04-29 | 昆山国显光电有限公司 | 线路检测结构 |
CN106875896A (zh) * | 2017-04-28 | 2017-06-20 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种源极驱动ic、显示装置及其驱动方法 |
CN108874194A (zh) * | 2017-05-10 | 2018-11-23 | 南京瀚宇彩欣科技有限责任公司 | 内嵌式触控显示装置及其测试方法和制作方法 |
CN207397669U (zh) * | 2017-11-10 | 2018-05-22 | 广东高云半导体科技股份有限公司 | 一种液晶屏测试控制电路 |
CN109559687A (zh) * | 2018-11-28 | 2019-04-02 | 友达光电股份有限公司 | 显示面板 |
CN110246443A (zh) * | 2019-06-18 | 2019-09-17 | 京东方科技集团股份有限公司 | 阵列基板及其测试方法 |
CN110867139A (zh) * | 2019-11-28 | 2020-03-06 | 上海中航光电子有限公司 | 一种阵列基板、显示面板及显示装置 |
CN112002275A (zh) * | 2020-09-04 | 2020-11-27 | 昆山国显光电有限公司 | 显示面板的测试电路、测试方法和显示面板 |
Also Published As
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