KR102231898B1 - 표시장치 및 표시패널 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 패널 검사를 위한 검사패드 및 검사배선의 전체 또는 일부가 내부에 형성된 표시패널 및 표시장치에 관한 것이다.

Description

표시장치 및 표시패널{DISPLAY DEVICE AND DISPLAY PANEL}
본 발명은 표시장치 및 표시패널에 관한 것이다.
정보화 사회가 발전함에 따라 화상을 표시하기 위한 표시장치에 대한 요구가 다양한 형태로 증가하고 있으며, 근래에는 액정표시장치(LCD: Liquid Crystal Display), 플라즈마표시장치(PDP: Plasma Display Panel), 유기발광표시장치(OLED: Organic Light Emitting Display Device) 등과 같은 다양한 표시장치가 활용되고 있다. 이러한 다양한 표시장치에는, 그에 맞는 표시패널이 포함된다.
이러한 표시장치에 포함되는 표시패널은 하나의 기판에서 만들어지는 여러 개의 표시패널 중 하나일 수 있다. 즉, 여러 공정 절차에 따라, 하나의 기판에서 화소들을 구성하는 소자들, 신호라인, 또는 전원 라인 등이 표시패널 단위별로 형성되고, 이후, 스크라이브(Scribe) 장비를 이용하여 표시패널 단위로 기판을 절단하여 여러 개의 표시패널을 만들 수 있다.
한편, 이러한 패널 제조 공정 중에는, 표시패널 내 화소들을 구성하는 소자들, 라인 등에 대한 특성 변화, 상태 등을 확인하는 패널 검사(예: 에이징(Aging) 검사)가 이루어질 수 있는데, 이러한 패널 검사를 위해, 기판상의 표시패널 단위별로 화소들을 구성하는 소자들, 신호 라인, 또는 전원 라인 등을 형성할 때, 또는 그 전 후에, 패널 검사를 위한 검사패드 및 검사배선 등을 함께 형성할 수 있다.
이러한 패널 검사를 위한 검사패드 및 검사배선 등은, 실제로 표시패널의 바깥 부분에 형성된다. 따라서, 스크라이브 장비를 이용하여 표시패널 단위로 기판을 절단하고 나면, 표시패널 안에는 패널 검사를 위한 검사패드 및 검사배선 등은 남아 있지 않게 된다.
하지만, 기판상에서 표시패널이 만들어지는 영역 간의 간격이 상당히 좁은 관계로, 패널 검사를 위한 검사 패드 및 검사배선 등을 표시패널의 바깥 영역에 형성하는 것이 쉽지 않은 문제점이 있다.
또한, 이러한 점 때문에, 기판상에서 표시패널이 만들어지는 영역 간의 간격을 충분히 필요한 만큼 좁히지 못하여 하나의 기판에서 많은 표시패널을 만들어 내지 못하는 문제점이 있을 수 있다.
이러한 배경에서, 본 발명의 목적은, 패널 검사를 위한 검사패드 및 검사배선의 전체 또는 일부가 내부에 형성된 표시패널 및 표시장치를 제공하는 데 있다.
본 발명의 다른 목적은, 내로우 베젤을 가능하게 하는 구조에 따라, 패널 검사를 위한 검사패드 및 검사배선의 전체 또는 일부가 내부에 형성된 표시패널 및 표시장치를 제공하는 데 있다.
본 발명의 또 다른 목적은, 패널 제조 효율성과 수율을 향상시킬 수 있도록, 패널 검사를 위한 검사패드 및 검사배선의 전체 또는 일부가 내부에 형성된 표시패널 및 표시장치를 제공하는 데 있다.
전술한 목적을 달성하기 위하여, 일 측면에서, 본 발명은, 영상 표시를 위한 신호를 출력하는 적어도 하나의 구동 집적회로; 및 상기 각 구동 집적회로가 연결된 영역의 주변 영역에 적어도 하나의 검사패드와 적어도 하나의 검사배선이 형성된 표시패널을 포함하는 표시장치를 제공한다.
다른 측면에서, 본 발명은, 제1방향으로 형성된 제1라인; 제2방향으로 형성된 제2라인; 및 상기 각 구동 집적회로가 연결된 영역의 주변 영역에 형성된 적어도 하나의 검사패드 및 적어도 하나의 검사배선을 포함하는 표시패널을 제공한다.
이상에서 설명한 바와 같이 본 발명에 의하면, 패널 검사를 위한 검사패드 및 검사배선의 전체 또는 일부가 내부에 형성된 표시패널 및 표시장치를 제공하는 효과가 있다.
또한, 본 발명에 의하면, 내로우 베젤을 가능하게 하는 구조(예: 검사배선의 일원화된 연결 구조, 검사패드 다중 열 구조 등)에 따라, 패널 검사를 위한 검사패드 및 검사배선의 전체 또는 일부가 내부에 형성된 표시패널 및 표시장치를 제공하는 효과가 있다.
또한, 본 발명에 의하면, 패널 제조 효율성과 수율을 향상시킬 수 있도록, 패널 검사를 위한 검사패드 및 검사배선의 전체 또는 일부가 내부에 형성된 표시패널 및 표시장치를 제공하는 효과가 있다.
도 1은 실시예들에 따른 표시장치를 간략하게 나타낸 도면이다.
도 2는 실시예들에 따른 표시패널을 간략하게 나타낸 도면이다.
도 3 및 도 4는 일 실시예에 따른 표시패널을 나타낸 도면이다.
도 5 및 도 6은 다른 실시예에 따른 표시패널을 나타낸 도면이다.
도 7 및 도 8은 또 다른 실시예에 따른 표시패널을 나타낸 도면이다.
도 9는 실시예들에 따른 표시패널의 화소 구조의 예시도이다.
도 10은 표시패널 검사와 관련하여 표시패널의 제조 방법을 설명하기 위한 도면이다.
이하, 본 발명의 일부 실시예들을 예시적인 도면을 참조하여 상세하게 설명한다. 각 도면의 구성요소들에 참조부호를 부가함에 있어서, 동일한 구성요소들에 대해서는 비록 다른 도면상에 표시되더라도 가능한 한 동일한 부호를 가질 수 있다. 또한, 본 발명을 설명함에 있어, 관련된 공지 구성 또는 기능에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명은 생략할 수 있다.
또한, 본 발명의 구성 요소를 설명하는 데 있어서, 제 1, 제 2, A, B, (a), (b) 등의 용어를 사용할 수 있다. 이러한 용어는 그 구성 요소를 다른 구성 요소와 구별하기 위한 것일 뿐, 그 용어에 의해 해당 구성 요소의 본질, 차례, 순서 또는 개수 등이 한정되지 않는다. 어떤 구성 요소가 다른 구성요소에 "연결", "결합" 또는 "접속"된다고 기재된 경우, 그 구성 요소는 그 다른 구성요소에 직접적으로 연결되거나 또는 접속될 수 있지만, 각 구성 요소 사이에 다른 구성 요소가 "개재"되거나, 각 구성 요소가 다른 구성 요소를 통해 "연결", "결합" 또는 "접속"될 수도 있다고 이해되어야 할 것이다.
도 1은 실시예들에 따른 표시장치(100)를 간략하게 나타낸 도면이다.
도 1을 참조하면, 실시예들에 따른 표시장치(100)는, 제1방향(예: 수직방향)으로 다수의 제1라인(VL1~VLm)이 형성되고, 제2방향(예: 수평방향)으로 다수의 제2라인(HL1~HLn)이 형성되는 표시패널(110)과, 다수의 제1라인(VL1~VLm)으로 제1신호를 공급하는 제1구동부(120)와, 다수의 제2라인(HL1~HLn)으로 제2신호를 공급하는 제2구동부(130)와, 제1구동부(120) 및 제2구동부(130)를 제어하는 타이밍 컨트롤러(140) 등을 포함한다.
표시패널(110)에는, 제1방향(예: 수직방향)으로 형성된 다수의 제1라인(VL1~VLm)과 제2방향(예: 수평방향)으로 형성된 다수의 제2라인(HL1~HLn)의 교차에 따라 다수의 화소(P: Pixel)가 정의된다.
전술한 제1구동부(120) 및 제2구동부(130) 각각은, 영상 표시를 위한 신호를 출력하는 적어도 하나의 구동 집적회로(Driver IC)를 포함할 수 있다.
표시패널(110)에 제1방향으로 형성된 다수의 제1라인(VL1~VLm)은, 일 예로, 수직방향(제1방향)으로 형성되어 수직방향의 화소 열로 데이터 전압(제1신호)을 전달하기 위한 데이터 라인일 수 있으며, 제1구동부(120)는 데이터 라인으로 데이터 전압을 공급하는 데이터 구동부일 수 있다.
또한, 표시패널(110)에 제2방향으로 형성된 다수의 제2라인(HL1~HLn)은 수평방향(제2방향)으로 형성되어 수평방향의 화소 열로 스캔 신호(제1신호)를 전달하기 위한 게이트 라인일 수 있으며, 제2구동부(130)는 게이트 라인으로 스캔 신호를 공급하는 게이트 구동부일 수 있다.
한편, 표시패널(110)의 제조 공정과 관련하여, 대형 기판에서 다수의 표시패널(110)을 동시에 제조하는데, 이러한 패널 제조 공정 단계에서, 다수의 표시패널(110)에 대한 검사를 거치게 된다. 따라서, 표시장치(100)에 포함된 표시패널(110)은, 표시패널 제조 공정 단계에서 몇 차례 검사를 거친 이후 표시패널 단위 별로 절단되어 제조된 것이다.
여기서, 검사는 표시패널(110)의 상태를 확인하기 위한 과정으로서, 일 예로, 고품질의 표시패널(110)을 제조하기 위하여, 표시패널(110) 내 화소들에 에이징 신호를 인가하여, 표시패널(110) 내 화소들을 구성하는 소자들, 표시패널(110)에 형성된 제1라인들(VL1~VLm)과 제2라인들(HL1~HLn) 등에 대한 특성 변화, 상태 등을 확인하는 에이징(Aging) 검사일 수 있다.
이러한 검사를 위해, 표시패널 제조 공정 단계에서는, 최종적으로 완성된 표시패널(110)의 구동을 위해서는 필요가 없지만, 검사에 필요한 검사패드 및 검사배선 등이 대형 기판상에 함께 형성된다.
표시패널 제조 공정 단계에서 이루어지는 검사를 위해서 형성된 검사패드 및 검사배선 등은, 표시패널(110)의 수율을 높이거나 표시패널(110)의 베젤(Bezel)을 줄이는데 방해요인이 된다.
따라서, 본 실시예들에서는, 표시패널(110)의 수율을 높이고 베젤 사이즈를 줄일 수 있도록 하는 검사패드 및 검사배선 구조를 제안하고, 이렇게 제안된 검사패드 및 검사배선 구조에 따라 검사가 이루어진 이후 제조가 된 표시패널(110) 및 이를 포함하는 표시장치(100)를 개시한다.
아래에서는, 먼저, 표시패널 제조 공정을 통해 검사를 거친 이후 제조가 완료된 표시패널(110)의 몇 가지 실시예를 설명한다. 이어서, 이러한 표시패널(110)을 제조하는 공정 시 이루어지는 검사 과정과 이를 위한 검사 구조(검사패드 및 검사배선의 구조)에 대해서 설명한다.
도 2는 실시예들에 따른 표시패널(110)을 간략하게 나타낸 도면이다. 단, 도 2는 실시예들에 따른 표시패널(110)의 일부분(왼쪽 상단 부분)을 나타낸 도면이다.
도 2를 참조하면, 실시예들에 따른 표시패널(110)에는, 제1방향으로 제1라인들(VL1~VLm)이 형성되고, 제2방향으로 제2라인들(HL1~HLn)이 형성되며, 제1방향으로 형성된 제1라인들(VL1~VLm)로 신호를 출력하는 각 구동 집적회로(Driver IC)가 연결된 영역(DR1, DR2, ...)의 주변 영역(pa1, pa1', pa2, pa2', ...)에 적어도 하나의 검사패드 및 적어도 하나의 검사배선이 형성되어 있다.
여기서, 각 구동 집적회로(Driver IC)가 연결된 영역(DR1, DR2, ...)의 주변 영역(pa1, pa1', pa2, pa2', ...)에 형성된 적어도 하나의 검사패드와 적어도 하나의 검사배선은, 패널 제조 공정 시 패널 검사를 위해 기판에 최초로 형성되어 사용됐던 검사패드들과 검사배선들 중에서 전체 또는 일부가 표시패널(110)의 제조 공정 단계(스크라이브 과정 포함)가 완료된 이후 남아 있게 된 것이다.
도 2를 참조하면, 표시패널(110)은, 표시영역에 해당하는 액티브 영역(AA: Active Area)과, 액티브 영역(AA)의 바깥영역에 해당하는 비 액티브 영역(비 표시영역)으로 이루어지는데, 적어도 하나의 검사패드 및 적어도 하나의 검사배선은 비 액티브 영역에 형성된다.
도 2를 참조하면, 표시패널(110)에서, 각 구동 집적회로가 연결된 영역(DR1, DR2)의 일 측과 타 측 각각에 적어도 하나의 검사패드 및 적어도 하나의 검사배선이 대응되어 형성될 수 있다.
더욱 상세하게 설명하면, 도 2를 참조하면, 첫 번째 구동 집적회로가 연결된 영역(DR1)의 일 측 영역(pa1)에 적어도 하나의 검사패드 및 적어도 하나의 검사배선이 형성되고, 첫 번째 구동 집적회로가 연결된 영역(DR1)의 타 측 영역(pa1')에 적어도 하나의 검사패드 및 적어도 하나의 검사배선이 형성될 수 있다.
또한, 두 번째 구동 집적회로가 연결된 영역(DR2)의 일 측 영역(pa2)에 적어도 하나의 검사패드 및 적어도 하나의 검사배선이 형성되고, 두 번째 구동 집적회로가 연결된 영역(DR2)의 타 측 영역(pa2')에 적어도 하나의 검사패드 및 적어도 하나의 검사배선이 형성될 수 있다.
각 구동 집적회로가 연결된 영역(DR1, DR2, ...)의 주변 영역에 형성된 적어도 하나의 검사배선은, 양 단이 각기 다른 검사패드에 연결되는 제1검사배선을 포함한다.
여기서, 양 단이 각기 다른 검사패드에 연결되는 제1검사배선은, 각기 다른 구동 집적회로가 연결된 영역의 주변 영역에 형성된 두 개의 검사패드 간을 연결해주는 쇼팅 바(Shorting Bar) 역할을 하는 배선이다.
양 단이 각기 다른 검사패드에 연결되는 제1검사배선으로 인해, 종래의 패널 검사 구조에서 반드시 있었던 쇼팅 바가 없어질 수 있으며, 또한, 통합 검사를 위한 통합 검사배선(도 11에서, LA, LB, LC, LD, LE, LF)과 개별 검사를 위한 검사배선(도 11에서, la1, lb1, lc1, ld1, le1, lf1, la2, lb2, lc2, ld2, le2, lf2)이 일원화될 수 있다. 이로 인해, 개별/통합 검사배선들이 형성되는 공간도 그만큼 줄어들 수 있다.
또한, 양 단이 각기 다른 검사패드에 연결되는 제1검사배선은, 양단에 연결된 각기 다른 검사패드가 형성된 위치를 기준으로 아래 방향에 형성될 수 있다. 즉, 제1검사배선은 각기 다른 검사패드가 형성된 위치와 표시패널(110)의 액티브 영역(AA)의 테두리 위치 사이에 형성될 수 있다.
또한, 각 구동 집적회로가 연결된 영역(DR1, DR2, ...)의 주변 영역에 형성된 적어도 하나의 검사배선은, 일 단만이 검사패드에 연결된 제2검사배선을 더 포함할 수 있다.
여기서, 일 단만이 검사패드에 연결된 제2검사배선은, 연결된 검사패드가 형성된 위치를 기준으로 위 방향으로 형성될 수 있다. 즉, 제2검사배선은 연결된 검사패드가 형성된 위치와 표시패널(110)의 모서리 위치 사이에 형성될 수 있다.
이러한 제2검사배선의 일 단은 한 개의 검사패드에 연결되되, 타 단은 표시패널(110)의 모서리에서 끊어져 있을 수 있다.
각 구동 집적회로가 연결된 영역(DR1, DR2)의 일 측과 타 측에 형성된 제2검사배선 또는 검사패드 사이에 다수의 링크 라인이 형성되어 있다.
한편, 각 구동 집적회로가 연결된 영역(DR1, DR2)의 주변 영역에 형성된 적어도 하나의 검사패드 각각은, 검사배선이 연결된 검사패드일 수 있으며, 경우에 따라서는, 검사배선이 미연결된 검사패드일 수도 있다.
즉, 표시패널(110)에 형성된 모든 검사패드는, 검사배선이 연결된 검사패드일 수도 있고, 경우에 따라서는, 검사배선이 연결된 검사패드와 검사배선이 연결되지 않은 검사패드가 혼합되어 있을 수도 있다. 이러한 점은 표시패널(110)의 제조 공정 시, 스크라이브(Scribe) 위치에 따라 달라질 수 있으며 뒤에서 상세하게 설명한다.
한편, 각 구동 집적회로가 연결된 영역(DR1, DR2)의 주변 영역에 복수 개의 검사패드가 형성된 경우, 각 구동 집적회로가 연결된 영역(DR1, DR2)의 주변 영역에 형성된 복수 개의 검사패드는, 일렬(Single Row)로 정렬되어 배치되거나, 다중 열(Multi Row)로 정렬되어 배치될 수 있다.
도 2를 참조하면, 첫 번째 구동 집적회로는 링크 라인(Link Line)을 통해 6개의 제1라인(VL1~VL6) 각각으로 해당 신호를 출력하고, 두 번째 구동 집적회로는 링크 라인(Link Line)을 6개의 제1라인(VL1~VL6) 각각으로 해당 신호를 출력한다.
이러한 구동 집적회로는, 일 예로, 데이터 구동 집적회로일 수 있다.
이 경우, 각 구동 집적회로가 연결된 영역(DR1, DR2)의 주변 영역에 형성된 적어도 하나의 검사패드는, 적어도 하나의 데이터 라인 검사패드와 적어도 하나의 전원 라인 검사패드 중 적어도 하나를 포함할 수 있다.
위에서 언급한 데이터 라인 검사패드는, 표시패널(110)의 화소들이 적색(R)/녹색(G)/청색(B) 화소로 구현되느냐, 적색(R)/녹색(G)/청색(B)/흰색(W) 화소로 구현되느냐에 따라 달라질 수 있다.
따라서, 적어도 하나의 데이터 라인 검사패드는, 일 예로, 다수의 색상 각각에 대응되는 데이터 라인을 통한 데이터 전압의 공급을 검사하기 위한 다수의 데이터 라인 검사패드 중 적어도 하나를 포함할 수 있다.
예를 들어, 적어도 하나의 데이터 라인 검사패드는, 적색(R) 화소로 데이터 전압을 공급하는 데이터 라인의 데이터 전압 공급을 검사하는 검사패드, 녹색(G) 화소로 데이터 전압을 공급하는 데이터 라인의 데이터 전압 공급을 검사하는 검사패드, 청색(B) 화소로 데이터 전압을 공급하는 데이터 라인의 데이터 전압 공급을 검사하는 검사패드, 흰색(W) 화소로 데이터 전압을 공급하는 데이터 라인의 데이터 전압 공급을 검사하는 검사패드 중 하나 이상을 포함할 수 있다.
위에서 언급한 전원 라인 검사패드는, 표시패널(110)의 각 화소 구조에 따라 달라질 수 있다. 즉, 전원 라인 검사패드는 각 화소 구동을 위해 어떠한 종류의 전원이 필요하느냐에 따라 달라질 수 있다.
따라서, 적어도 하나의 전원 라인 검사패드는, 일 예로, 둘 이상의 전원 종류 각각에 대응된 전원 라인을 통한 전원의 공급을 검사하기 위한 둘 이상의 전원 라인 검사패드 중 적어도 하나를 포함할 수 있다.
예를 들어, 구동전압(VDD) 및 기준전압(Vref)이 공급되어야 하는 화소 구조(도 9 참조)를 갖는 경우, 적어도 하나의 전원 라인 검사패드는, 구동전압(VDD)을 공급하는 전원라인, 기준전압(Vref)을 공급하는 전원라인 중 하나 이상을 포함할 수 있다.
각 구동 집적회로가 연결된 영역의 주변 영역에 적어도 하나의 검사패드 및 적어도 하나의 검사배선은, 일 예로, 에이징(Aging) 검사를 위한 검사패드 및 검사배선일 수 있다.
아래에서는, 이상에서 설명한 표시패널(110)의 구조(검사패드 및 검사배선 등의 구조)에 대한 3가지 실시예를 설명한다.
도 3은 일 실시예에 따른 표시패널(110)을 나타낸 도면이고, 도 4는 도 3의 일 부분을 확대하여 상세하게 나타낸 도면이다. 단, 도 3에서는 설명의 편의를 위해, 제2라인(HL1, HL2, ...)을 표시하지 않고, 제1방향으로 형성된 제1라인(VL1, VL2, ...)만을 표시한다.
도 3을 참조하면, 일 실시예에 따른 표시패널(110)에는, 제1방향으로 형성된 제1라인들(VL1~VLm)로 신호를 출력하는 각 구동 집적회로(Driver IC)가 연결된 영역(DR1, DR2)의 주변 영역(pa1, pa1', pa2, pa2')에 6개의 검사패드가 형성되어 있다.
이러한 표시패널(110)에 검사패드들과 관련하여 검사배선들이 형성될 수 있는데, 검사배선들 각각은, 두 개의 검사패드 간에 연결되는 양단이 각기 다른 검사패드에 연결되는 제1검사배선(검사배선의 첫 번째 유형)일 수도 있고, 한 개의 검사패드에만 연결되는 즉 일 단만이 검사패드에 연결된 제2검사배선(검사배선의 두 번째 유형)일 수도 있다.
아래에서는, 도 4를 참조하여 검사패드 및 검사배선 형성과 관련하여 더욱 상세하게 설명한다.
먼저, 검사패드 형성과 관련하여 더욱 상세하게 설명한다.
도 4를 참조하면, 첫 번째 구동 집적회로가 연결된 영역(DR1)의 일 측(pa1)에 6개의 검사패드(a1, b1, c1, d1, e1, f1)가 형성되고, 첫 번째 구동 집적회로가 연결된 영역(DR1)의 타 측(pa1')에 6개의 검사패드(a1', b1', c1', d1', e1', f1')가 형성된다.
또한, 도 4를 참조하면, 두 번째 구동 집적회로가 연결된 영역(DR2)의 일 측(pa2)에 6개의 검사패드(a2, b2, c2, d2, e2, f2)가 형성되고, 두 번째 구동 집적회로가 연결된 영역(DR2)의 일 측(pa2')에 6개의 검사패드(a2', b2', c2', d2', e2', f2')가 형성된다.
도 3 및 도 4를 참조하면, 각 구동 집적회로가 연결된 영역(DR1, DR2)의 주변 영역에 형성된 6개의 검사패드는, 일렬로 모두 정렬될 수도 있지만, 형성 공간으로 고려하여, 2개씩 제1방향(수직방향)으로 이격되면서 형성될 수도 있다.
각 구동 집적회로가 연결된 영역(DR1, DR2)의 주변 영역에 형성된 6개의 검사패드는, 일렬(Single Row)로 정렬되어 배치될 수도 있으나, 도 3 및 도 4에 도시된 바와 같이, 다중 열(Multi Row)로 정렬되어 배치될 수 있다.
예를 들어, 도 4를 참조하면, 첫 번째 구동 집적회로가 연결된 영역(DR1)의 일 측(pa)에 형성된 6개의 검사패드(a1, b1, c1, d1, e1, f1)에서, a1 검사패드와 b1 검사패드는 제1열로 정렬되어 배치되고, c1 검사패드와 d1 검사패드는 제1열과 이격된 제2열로 정렬되어 배치되며, e1 검사패드와 f1 검사패드는 제2열과 이격된 제3열로 정렬되어 배치된다.
검사배선 형성과 관련하여 더욱 상세하게 설명하면, 도 4를 참조하면, 표시패널(110)에 형성된 검사배선들 각각은, 각기 다른 구동 집적회로가 연결된 영역(DR1, DR2)의 주변 영역에 형성된 두 개의 검사패드 간에 연결된 제1검사배선일 수도 있고, 일 단만이 검사패드에 연결된 제2검사배선일 수도 있다.
다음으로, 검사배선 형성과 관련하여 더욱 상세하게 설명한다.
표시패널(110)에 형성되는 각 검사배선은, 양 단이 각기 다른 검사패드에 연결된 제1검사배선과, 일 단만이 검사패드에 연결된 제2검사배선을 포함하는 2가지 유형 중 하나일 수 있다.
먼저, 양 단이 각기 다른 검사패드에 연결된 제1검사배선의 형성과 관련하여 더욱 설명한다.
도 4를 참조하면, 첫 번째 구동 집적회로가 연결된 영역(DR1)의 타 측(pa1')에 형성된 6개의 검사패드(a1', b1', c1', d1', e1', f1')와, 두 번째 구동 집적회로가 연결된 영역(DR2)의 일 측(pa2)에 형성된 6개의 검사패드(a2, b2, c2, d2, e2, f2)를 대응시켜 연결해주는 6개의 제1검사배선(la12, lb12, lc12, ld12, le12, lf12)이 형성된다.
또한, 도 4를 참조하면, 두 번째 구동 집적회로가 연결된 영역(DR2)의 타 측(pa2')에 형성된 6개의 검사패드(a2', b2', c2', d2', e2', f2')와, 도 4에는 미도시되어 있는 세 번째 구동 집적회로가 연결된 영역(DR3)의 일 측(pa3)에 형성된 6개의 검사패드(a3, b3, c3, d3, e3, f3)를 대응시켜 연결해주는 6개의 제1검사배선(la23, lb23, lc23, ld23, le23, lf23)이 형성된다.
위에서 설명한 제1검사배선은, 양 단에 연결된 각기 다른 검사패드가 형성된 위치를 기준으로 아래 방향에 형성되어 있다.
일 단만이 검사패드에 연결된 제2검사배선의 형성과 관련하여 더욱 설명한다.
도 4를 참조하면, 첫 번째 구동 집적회로가 연결된 영역(DR1)의 일 측(pa1)에 형성된 6개의 검사패드(a1, b1, c1, d1, e1, f1) 중 4개의 검사패드(c1, d1, e1, f1)에 연결된 4개의 제2검사배선(lc1, ld1, le1, lf1)이 형성된다.
또한, 도 4를 참조하면, 첫 번째 구동 집적회로가 연결된 영역(DR1)의 타 측(pa1')에 형성된 6개의 검사패드(a1', b1', c1', d1', e1', f1') 중 4개의 검사패드(c1', d1', e1', f1')에 연결된 4개의 제2검사배선(lc1', ld1', le1', lf1')이 형성된다.
또한, 두 번째 구동 집적회로가 연결된 영역(DR2)의 일 측(pa2)에 형성된 6개의 검사패드(a2, b2, c2, d2, e2, f2) 중 4개의 검사패드(c2, d2, e2, f2)에 연결된 4개의 제2검사배선(lc2, ld2, le2, lf2)이 형성된다.
또한, 두 번째 구동 집적회로가 연결된 영역(DR2)의 타 측(pa2')에 형성된 6개의 검사패드(a2', b2', c2', d2', e2', f2') 중 4개의 검사패드(c2', d2', e2', f2')에 연결된 4개의 제2검사배선(lc2', ld2', le2', lf2')이 형성된다.
또한, 위에서 설명한 제2검사배선은, 해당 검사패드가 형성된 위치를 기준으로 위 방향으로 향하여 형성되고 표시패널(110)의 모서리에서 끊어져 있다.
각 구동 집적회로가 연결된 영역(DR1, DR2)의 일 측과 타 측에 형성된 제2검사배선 사이에 다수의 링크 라인이 형성되어 있다.
즉, 첫 번째 구동 집적회로가 연결된 영역(DR1)의 일 측(pa1)에 형성된 4개의 제2검사배선(lc1, ld1, le1, lf1)과, 첫 번째 구동 집적회로가 연결된 영역(DR1)의 타 측(pa1')에 형성된 4개의 제2검사배선(lc1', ld1', le1', lf1') 사이에 6개의 링크 라인(da1, db1, dc1, dd1, de1, df1)이 형성된다.
이러한 6개의 링크 라인(da1, db1, dc1, dd1, de1, df1)은, 6개의 제1라인(VL1, VL2, VL3, VL4, VL5, VL6)과 대응되어 연결되어, 첫 번째 구동 집적회로에서 출력한 신호를 6개의 제1라인(VL1, VL2, VL3, VL4, VL5, VL6)으로 공급해준다.
마찬가지로, 두 번째 구동 집적회로가 연결된 영역(DR2)의 일 측(pa2)에 형성된 4개의 제2검사배선(lc2, ld2, le2, lf2)과, 두 번째 구동 집적회로가 연결된 영역(DR1)의 타 측(pa2')에 형성된 4개의 제2검사배선(lc2', ld2', le2', lf2') 사이에 6개의 링크 라인(da2, db2, dc2, dd2, de2, df2)이 형성된다.
이러한 6개의 링크 라인(da2, db2, dc2, dd2, de2, df2)은, 6개의 제1라인(VL7, VL8, VL9, VL10, VL11, VL12)과 대응되어 연결되어, 첫 번째 구동 집적회로에서 출력한 신호를 6개의 제1라인(VL7, VL8, VL9, VL10, VL11, VL12)으로 공급해준다.
각 구동 집적회로(Driver IC)가 연결된 영역(DR1, DR2, ...)의 주변 영역(pa1, pa1', pa2, pa2', ...)에 형성된 6개의 검사패드와 검사배선들은, 영상 표시를 위해 실제로 사용되는 구성은 아니고, 표시패널(110)의 제조 공정 시 패널 검사를 위해 사용되었던 구성의 일부가 표시패널(110)의 제조 공정 단계(스크라이브 과정 포함)가 완료된 이후 남아 있게 된 것이다. 이와 관련하에서는, 도 10 및 도 11을 참조하여 더욱 상세하게 설명한다.
이상에서는, 각 구동 집적회로가 연결된 영역(DR1, DR2)의 주변 영역(pa1, pa1', pa2, pa2')에 6개의 검사패드가 형성된 경우를 일 실시예로 설명하였다. 아래에서는, 각 구동 집적회로가 연결된 영역(DR1, DR2)의 주변 영역(pa1, pa1', pa2, pa2')에 4개의 검사패드가 형성된 경우를 다른 실시예로 설명한다.
도 5는 다른 실시예에 따른 표시패널(110)을 나타낸 도면이고, 도 6은 도 5의 일 부분을 확대하여 상세하게 나타낸 도면이다. 단, 도 5에서는 설명의 편의를 위해, 제2라인(HL1, HL2, ...)을 표시하지 않고, 제1방향으로 형성된 제1라인(VL1, VL2, ...)만을 표시한다.
도 5를 참조하면, 다른 실시예에 따른 표시패널(110)에는, 제1방향으로 형성된 제1라인들(VL1~VLm)로 신호를 출력하는 각 구동 집적회로(Driver IC)가 연결된 영역(DR1, DR2)의 주변 영역(pa1, pa1', pa2, pa2')에 4개의 검사패드가 형성되어 있다.
이러한 표시패널(110)에 검사패드들과 관련하여 검사배선들이 형성될 수 있는데, 검사배선들 각각은, 두 개의 검사패드 간에 연결되는 양단이 각기 다른 검사패드에 연결되는 제1검사배선(검사배선의 첫 번째 유형)일 수도 있고, 한 개의 검사패드에만 연결되는 즉 일 단만이 검사패드에 연결된 제2검사배선(검사배선의 두 번째 유형)일 수도 있다.
아래에서는, 도 6을 참조하여 검사패드 및 검사배선 형성과 관련하여 더욱 상세하게 설명한다.
먼저, 검사패드 형성과 관련하여 더욱 상세하게 설명한다.
도 6을 참조하면, 첫 번째 구동 집적회로가 연결된 영역(DR1)의 일 측(pa1)에 4개의 검사패드(c1, d1, e1, f1)가 형성되고, 첫 번째 구동 집적회로가 연결된 영역(DR1)의 타 측(pa1')에 4개의 검사패드(c1', d1', e1', f1')가 형성된다.
또한, 도 6을 참조하면, 두 번째 구동 집적회로가 연결된 영역(DR2)의 일 측(pa2)에 4개의 검사패드(c2, d2, e2, f2)가 형성되고, 두 번째 구동 집적회로가 연결된 영역(DR2)의 일 측(pa2')에 4개의 검사패드(c2', d2', e2', f2')가 형성된다.
각 구동 집적회로가 연결된 영역(DR1, DR2)의 주변 영역에 형성된 4개의 검사패드는, 일렬(Single Row)로 정렬되어 배치될 수도 있으나, 도 5 및 도 6에 도시된 바와 같이, 다중 열(Multi Row)로 정렬되어 배치될 수 있다.
예를 들어, 도 6을 참조하면, 첫 번째 구동 집적회로가 연결된 영역(DR1)의 일 측(pa)에 형성된 4개의 검사패드(c1, d1, e1, f1)에서, c1 검사패드와 d1 검사패드는 제1열과 이격된 제1열로 정렬되어 배치되며, e1 검사패드와 f1 검사패드는 제1열과 이격된 제2열로 정렬되어 배치된다.
다음으로, 검사배선 형성과 관련하여 더욱 상세하게 설명한다.
표시패널(110)에 형성되는 각 검사배선은, 양 단이 각기 다른 검사패드에 연결된 제1검사배선과, 일 단만이 검사패드에 연결된 제2검사배선을 포함하는 2가지 유형 중 하나일 수 있다.
먼저, 양 단이 각기 다른 검사패드에 연결된 제1검사배선의 형성과 관련하여 더욱 설명한다.
도 6을 참조하면, 첫 번째 구동 집적회로가 연결된 영역(DR1)의 타 측(pa1')에 형성된 4개의 검사패드(c1', d1', e1', f1')와, 두 번째 구동 집적회로가 연결된 영역(DR2)의 일 측(pa2)에 형성된 4개의 검사패드(c2, d2, e2, f2)를 대응시켜 연결해주는 4개의 제1검사배선(lc12, ld12, le12, lf12)이 형성된다.
또한, 도 6을 참조하면, 두 번째 구동 집적회로가 연결된 영역(DR2)의 타 측(pa2')에 형성된 4개의 검사패드(c2', d2', e2', f2')와, 도 6에는 미도시되어 있는 세 번째 구동 집적회로가 연결된 영역(DR3)의 일 측(pa3)에 형성된 4개의 검사패드(c3, d3, e3, f3)를 대응시켜 연결해주는 4개의 제1검사배선(lc23, ld23, le23, lf23)이 형성된다.
위에서 설명한 제1검사배선은, 양 단에 연결된 각기 다른 검사패드가 형성된 위치를 기준으로 아래 방향에 형성되어 있다.
일 단만이 검사패드에 연결된 제2검사배선의 형성과 관련하여 더욱 설명한다.
도 6을 참조하면, 첫 번째 구동 집적회로가 연결된 영역(DR1)의 일 측(pa1)에 형성된 4개의 검사패드(c1, d1, e1, f1) 중 2개의 검사패드(e1, f1)에 연결된 2개의 제2검사배선(le1, lf1)이 형성된다.
또한, 도 6을 참조하면, 첫 번째 구동 집적회로가 연결된 영역(DR1)의 타 측(pa1')에 형성된 4개의 검사패드(c1', d1', e1', f1') 중 2개의 검사패드(e1', f1')에 연결된 2개의 제2검사배선(le1', lf1')이 형성된다.
또한, 두 번째 구동 집적회로가 연결된 영역(DR2)의 일 측(pa2)에 형성된 4개의 검사패드(c2, d2, e2, f2) 중 2개의 검사패드(e2, f2)에 연결된 2개의 제2검사배선(le2, lf2)이 형성된다.
또한, 두 번째 구동 집적회로가 연결된 영역(DR2)의 타 측(pa2')에 형성된 4개의 검사패드(c2', d2', e2', f2') 중 2개의 검사패드( e2', f2')에 연결된 2개의 제2검사배선(le2', lf2')이 형성된다.
또한, 위에서 설명한 제2검사배선은, 해당 검사패드가 형성된 위치를 기준으로 위 방향으로 향하여 형성되고 표시패널(110)의 모서리에서 끊어져 있다.
각 구동 집적회로가 연결된 영역(DR1, DR2)의 일 측과 타 측에 형성된 제2검사배선 사이에 다수의 링크 라인이 형성되어 있다.
즉, 첫 번째 구동 집적회로가 연결된 영역(DR1)의 일 측(pa1)에 형성된 2개의 제2검사배선(le1, lf1)과, 첫 번째 구동 집적회로가 연결된 영역(DR1)의 타 측(pa1')에 형성된 2개의 제2검사배선(le1', lf1') 사이에 6개의 링크 라인(da1, db1, dc1, dd1, de1, df1)이 형성된다.
이러한 6개의 링크 라인(da1, db1, dc1, dd1, de1, df1)은, 6개의 제1라인(VL1, VL2, VL3, VL4, VL5, VL6)과 대응되어 연결되어, 첫 번째 구동 집적회로에서 출력한 신호를 6개의 제1라인(VL1, VL2, VL3, VL4, VL5, VL6)으로 공급해준다.
마찬가지로, 두 번째 구동 집적회로가 연결된 영역(DR2)의 일 측(pa2)에 형성된 2개의 제2검사배선(le2, lf2)과, 두 번째 구동 집적회로가 연결된 영역(DR1)의 타 측(pa2')에 형성된 2개의 제2검사배선(le2', lf2') 사이에 6개의 링크 라인(da2, db2, dc2, dd2, de2, df2)이 형성된다.
이러한 6개의 링크 라인(da2, db2, dc2, dd2, de2, df2)은, 6개의 제1라인(VL7, VL8, VL9, VL10, VL11, VL12)과 대응되어 연결되어, 첫 번째 구동 집적회로에서 출력한 신호를 6개의 제1라인(VL7, VL8, VL9, VL10, VL11, VL12)으로 공급해준다.
각 구동 집적회로(Driver IC)가 연결된 영역(DR1, DR2, ...)의 주변 영역(pa1, pa1', pa2, pa2', ...)에 형성된 4개의 검사패드와 검사배선들은, 영상 표시를 위해 실제로 사용되는 구성은 아니고, 표시패널(110)의 제조 공정 시 패널 검사를 위해 사용되었던 구성의 일부가 표시패널(110)의 제조 공정 단계(스크라이브 과정 포함)가 완료된 이후 남아 있게 된 것이다. 이와 관련하에서는, 도 10 및 도 11을 참조하여 더욱 상세하게 설명한다.
이상에서는, 각 구동 집적회로가 연결된 영역(DR1, DR2)의 주변 영역(pa1, pa1', pa2, pa2')에 4개의 검사패드가 형성된 경우를 다른 실시예로 설명하였다. 아래에서는, 각 구동 집적회로가 연결된 영역(DR1, DR2)의 주변 영역(pa1, pa1', pa2, pa2')에 2개의 검사패드가 형성된 경우를 또 다른 실시예로 설명한다.
도 7 및 도 8은 또 다른 실시예에 따른 표시패널을 나타낸 도면이다.
도 7은 또 다른 실시예에 따른 표시패널(110)을 나타낸 도면이고, 도 6은 도 5의 일 부분을 확대하여 상세하게 나타낸 도면이다. 단, 도 5에서는 설명의 편의를 위해, 제2라인(HL1, HL2, ...)을 표시하지 않고, 제1방향으로 형성된 제1라인(VL1, VL2, ...)만을 표시한다.
도 7을 참조하면, 또 다른 실시예에 따른 표시패널(110)에는, 제1방향으로 형성된 제1라인들(VL1~VLm)로 신호를 출력하는 각 구동 집적회로(Driver IC)가 연결된 영역(DR1, DR2)의 주변 영역(pa1, pa1', pa2, pa2')에 2개의 검사패드가 형성되어 있다.
이러한 표시패널(110)에 검사패드들과 관련하여 검사배선들이 형성될 수 있는데, 검사배선들 각각은, 두 개의 검사패드 간에 연결되는 양단이 각기 다른 검사패드에 연결되는 제1검사배선(검사배선의 첫 번째 유형)일 수도 있고, 한 개의 검사패드에만 연결되는 즉 일 단만이 검사패드에 연결된 제2검사배선(검사배선의 두 번째 유형)일 수도 있다.
아래에서는, 도 8을 참조하여 검사패드 및 검사배선 형성과 관련하여 더욱 상세하게 설명한다.
먼저, 검사패드 형성과 관련하여 더욱 상세하게 설명한다.
도 8을 참조하면, 첫 번째 구동 집적회로가 연결된 영역(DR1)의 일 측(pa1)에 2개의 검사패드(e1, f1)가 형성되고, 첫 번째 구동 집적회로가 연결된 영역(DR1)의 타 측(pa1')에 2개의 검사패드(e1', f1')가 형성된다.
또한, 도 6을 참조하면, 두 번째 구동 집적회로가 연결된 영역(DR2)의 일 측(pa2)에 2개의 검사패드(e2, f2)가 형성되고, 두 번째 구동 집적회로가 연결된 영역(DR2)의 일 측(pa2')에 2개의 검사패드(e2', f2')가 형성된다.
각 구동 집적회로가 연결된 영역(DR1, DR2)의 주변 영역에 형성된 2개의 검사패드는, 일렬(Single Row)로 정렬되어 배치될 수도 있다.
예를 들어, 도 8을 참조하면, 첫 번째 구동 집적회로가 연결된 영역(DR1)의 일 측(pa)에 형성된 2개의 검사패드(e1, f1)는 일렬 정렬되어 배치된다.
다음으로, 검사배선 형성과 관련하여 더욱 상세하게 설명한다.
표시패널(110)에 형성되는 각 검사배선은, 양 단이 각기 다른 검사패드에 연결된 제1검사배선과, 일 단만이 검사패드에 연결된 제2검사배선을 포함하는 2가지 유형 중 하나일 수 있다.
단, 표시패널(110)의 제조 공정 시 스크라이브 과정에서, 도 8에 도시된 검사패드들(e1, f1, ... )과 위로 연결된 제2검사라인들(le1, lf1, ...)이 표시패널(110)에 남아있지 않도록 기판이 전달된 경우를 가정하여 도 8을 예시적으로 도시하였기 때문에, 일 단만이 검사패드에 연결된 제2검사배선의 유형은 도 8의 표시패널(110)에는 나타나지 않는다.
먼저, 양 단이 각기 다른 검사패드에 연결된 제1검사배선의 형성과 관련하여 더욱 설명한다.
도 8을 참조하면, 첫 번째 구동 집적회로가 연결된 영역(DR1)의 타 측(pa1')에 형성된 2개의 검사패드(e1', f1')와, 두 번째 구동 집적회로가 연결된 영역(DR2)의 일 측(pa2)에 형성된 2개의 검사패드(e2, f2)를 대응시켜 연결해주는 2개의 제1검사배선(le12, lf12)이 형성된다.
또한, 도 8을 참조하면, 두 번째 구동 집적회로가 연결된 영역(DR2)의 타 측(pa2')에 형성된 2개의 검사패드(e2', f2')와, 도 8에는 미도시되어 있는 세 번째 구동 집적회로가 연결된 영역(DR3)의 일 측(pa3)에 형성된 2개의 검사패드(e3, f3)를 대응시켜 연결해주는 2개의 제1검사배선(le23, lf23)이 형성된다.
위에서 설명한 제1검사배선은, 양 단에 연결된 각기 다른 검사패드가 형성된 위치를 기준으로 아래 방향에 형성되어 있다.
전술한 바와 같이, 표시패널(110)의 제조 공정 시 스크라이브 과정에서, 도 8에 도시된 검사패드들(e1, f1, ... )과 위로 연결된 제2검사라인들(le1, lf1, ...)이 표시패널(110)에 남아있지 않도록 기판이 전달된 경우를 가정하여 도 8을 예시적으로 도시하였기 때문에, 일 단만이 검사패드에 연결된 제2검사배선의 유형은 도 8의 표시패널(110)에는 나타나지 않는다.
각 구동 집적회로가 연결된 영역(DR1, DR2)의 일 측과 타 측에 형성된 검사패드 사이에 다수의 링크 라인이 형성되어 있다.
즉, 첫 번째 구동 집적회로가 연결된 영역(DR1)의 일 측(pa1)에 형성된 2개의 검사패드(e1, f1)과, 첫 번째 구동 집적회로가 연결된 영역(DR1)의 타 측(pa1')에 형성된 2개의 검사패드(e1', f1') 사이에 6개의 링크 라인(da1, db1, dc1, dd1, de1, df1)이 형성된다.
이러한 6개의 링크 라인(da1, db1, dc1, dd1, de1, df1)은, 6개의 제1라인(VL1, VL2, VL3, VL4, VL5, VL6)과 대응되어 연결되어, 첫 번째 구동 집적회로에서 출력한 신호를 6개의 제1라인(VL1, VL2, VL3, VL4, VL5, VL6)으로 공급해준다.
마찬가지로, 두 번째 구동 집적회로가 연결된 영역(DR2)의 일 측(pa2)에 형성된 2개의 검사패드(e2, f2)과, 두 번째 구동 집적회로가 연결된 영역(DR1)의 타 측(pa2')에 형성된 2개의 검사패드(e2', f2') 사이에 6개의 링크 라인(da2, db2, dc2, dd2, de2, df2)이 형성된다.
이러한 6개의 링크 라인(da2, db2, dc2, dd2, de2, df2)은, 6개의 제1라인(VL7, VL8, VL9, VL10, VL11, VL12)과 대응되어 연결되어, 첫 번째 구동 집적회로에서 출력한 신호를 6개의 제1라인(VL7, VL8, VL9, VL10, VL11, VL12)으로 공급해준다.
각 구동 집적회로(Driver IC)가 연결된 영역(DR1, DR2, ...)의 주변 영역(pa1, pa1', pa2, pa2', ...)에 형성된 2개의 검사패드와 검사배선들은, 영상 표시를 위해 실제로 사용되는 구성은 아니고, 표시패널(110)의 제조 공정 시 패널 검사를 위해 사용되었던 구성의 일부가 표시패널(110)의 제조 공정 단계(스크라이브 과정 포함)가 완료된 이후 남아 있게 된 것이다. 이와 관련하에서는, 도 10 및 도 11을 참조하여 더욱 상세하게 설명한다.
이상에서는, 각 구동 집적회로가 연결된 영역(DR1, DR2)의 주변 영역(pa1, pa1', pa2, pa2')에 4개의 검사패드가 형성된 경우를 또 다른 실시예로 설명하였다.
이상에서 설명한 3가지 실시예에서, 검사패드들 및 검사배선들이 형성되는 위치는, 구동 집적회로가 연결되는 영역의 주변 영역이고, 이 주변영역은 검사패드들 및 검사배선들이 형성되지 않더라도, 다른 구성이 형성되지 않는 잔여 공간일 수 있다. 따라서, 패널 검사를 위한 검사패드들 및 검사배선들이 표시패널(110)의 내부에 형성되더라도, 내로우 베젤(Narrow Bezel)을 구현하는데 장애가 되지 않는다.
전술한 바와 같이, 표시패널(110)에 형성된 검사패드들과 검사배선들은, 패널 제조 공정 시 패널 검사를 위해 기판에 최초로 형성되어 사용됐던 검사패드들과 검사배선들 중에서 전체 또는 일부가 표시패널(110)의 제조 공정 단계(스크라이브 과정 포함)가 완료된 이후 남아 있게 된 것이다.
이러한 점에서, 패널 제조 공정 시 패널 검사를 위해 기판에 최초로 형성되어 사용됐던 검사패드들과 검사배선들은, 표시패널(110)의 화소 구조에 따라, 그들의 개수 및 구조가 달라질 수 있다.
이에, 표시장치(100)가 유기발광표시장치(OLED 디스플레이)인 경우를 예를 들어, 도 9를 참조하여, 표시패널(110)의 화소 구조를 예시적으로 설명한다.
도 9는 실시예들에 따른 표시패널(110)의 화소 구조의 2가지 예시도이다.
도 9의 (a)를 참조하면, 각 화소는, 유기발광다이오드(OLED)로 전류를 공급하기 위한 구동 트랜지스터(DT)와, 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드(N1)와 기준전압(Vref: Reference Voltage)의 공급을 위한 기준전압 라인(RVL: Reference Voltage Line) 사이에 연결되는 제1트랜지스터(T1)와, 구동 트랜지스터(DT)의 제2노드(N2)와 제1라인(VL; "데이터 라인(DL: Data Line)"에 해당함) 사이에 연결되는 제2트랜지스터(T2)와, 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드(N1)와 제2노드(N2) 사이에 연결되어 한 프레임 동안의 전압을 유지해주는 역할을 하는 스토리지 캐패시터(Cstg) 등을 포함하는 3T1C 화소 구조를 가질 수 있다.
제1트랜지스터(T1)는, 제2라인(HL'; "제1게이트 라인(GL')"이라고도 함)을 통해 공급된 스캔신호(SCAN)에 의해 제어되어 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드(N1)에 기준전압(Vref)을 인가해주는 역할을 한다. 이러한 제1트랜지스터(T1)는, 화소 보상을 위해 해당 화소가 센싱 모드로 동작할 때 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드(N1)의 전압을 센싱하기 위해 이용될 수도 있다. 이러한 의미에서, 제1트랜지스터(T1)을 센싱 트랜지스터(Sensing Transistor)라고도 한다.
제2트랜지스터(T2)는, 제1트랜지스터(T1)에 공급된 스캔신호(SCAN)에 의해 공통으로 제어되어 제1라인(VL)을 통해 공급된 신호인 데이터 전압(Vdata)을 구동 트랜지스터(DT)의 제2노드(N2)에 인가해주는 역할을 한다. 구동 트랜지스터(DT)의 제2노드(N2)에 인가된 데이터 전압에 의해 구동 트랜지스터(DT)의 턴 온 또는 턴 오프가 결정되어 유기발광다이오드(OLED)로 전류가 공급되는 것을 제어할 수 있다. 이러한 의미에서, 제2트랜지스터(T2)는 스위칭 트랜지스터(Switching Transistor)라고도 한다.
다시 말해, 도 3의 (a)의 화소 구조에서는, 2개의 게이트 라인(GL, GL')이 필요하며, 제1트랜지스터(T1) 및 제2트랜지스터(T2)는 동일한 게이트 라인(GL)을 통해 동일한 게이트신호(SCAN)에 의해 제어된다. 이러한 의미에서, 도 3의 (a)의 화소 구조를 "1 스캔 기반의 화소 구조"라고 한다.
한편, 도 9의 (b)를 참조하면, 각 화소는, 유기발광다이오드(OLED)로 전류를 공급하기 위한 구동 트랜지스터(DT)와, 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드(N1)와 기준전압(Vref: Reference Voltage)의 공급을 위한 기준전압 라인(RVL: Reference Voltage Line) 사이에 연결되는 제1트랜지스터(T1)와, 구동 트랜지스터(DT)의 제2노드(N2)와 제1라인(VL; "데이터 라인(DL: Data Line)"에 해당함) 사이에 연결되는 제2트랜지스터(T2)와, 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드(N1)와 제2노드(N2) 사이에 연결되어 한 프레임 동안의 전압을 유지해주는 역할을 하는 스토리지 캐패시터(Cstg) 등을 포함하는 3T1C 화소 구조를 가질 수 있다.
제1트랜지스터(T1)는, 제2라인(HL'; "제1게이트 라인(GL')"이라고도 함)을 통해 공급된 제1스캔신호(SENSE)에 의해 제어되어 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드(N1)에 기준전압(Vref)을 인가해주는 역할을 한다. 이러한 제1트랜지스터(T1)는, 화소 보상을 위해 해당 화소가 센싱 모드로 동작할 때 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드(N1)의 전압을 센싱하기 위해 이용될 수도 있다. 이러한 의미에서, 제1트랜지스터(T1)을 센싱 트랜지스터(Sensing Transistor)라고도 한다.
제2트랜지스터(T2)는, 다른 제2라인(HL; "제2게이트 라인(GL)"이라고도 함)을 통해 공급된 제2스캔신호(SCAN)에 의해 제어되어 제1라인(VL)을 통해 공급된 신호인 데이터 전압(Vdata)을 구동 트랜지스터(DT)의 제2노드(N2)에 인가해주는 역할을 한다. 구동 트랜지스터(DT)의 제2노드(N2)에 인가된 데이터 전압에 의해 구동 트랜지스터(DT)의 턴 온 또는 턴 오프가 결정되어 유기발광다이오드(OLED)로 전류가 공급되는 것을 제어할 수 있다. 이러한 의미에서, 제2트랜지스터(T2)는 스위칭 트랜지스터(Switching Transistor)라고도 한다.
다시 말해, 도 3의 (b)의 화소 구조에서는, 2개의 게이트 라인(GL, GL')이 필요하며, 제1트랜지스터(T1) 및 제2트랜지스터(T2)는 각기 다른 게이트 라인(GL, GL')을 통해 각기 다른 게이트신호(SENSE, SCAN)에 의해 제어된다. 이러한 의미에서, 도 3의 (b)의 화소 구조를 "2 스캔 기반의 화소 구조"라고 한다.
이와 같이, 각 화소가 2 스캔 기반의 화소 구조를 갖는 경우, 도 1에서 도시된 제2구동부(130)는, 스캔신호를 출력하는 게이트 구동부와 센싱신호를 출력하는 게이트 구동부로 분리되어 구현될 수 있으며, n개의 제2라인(HL1~HLn)은 스캔신호를 공급하기 위한 게이트 라인(HL1~HLn)과 센싱신호를 공급하기 위한 게이트 라인(HL1'~HLn')으로 분리되어 형성될 수 있다.
아래에서는, 도 9의 (a) 또는 도 9의 (b)의 화소 구조로 표시패널(110)을 제조하는 공정과 이때 이루어지는 패널 검사와, 이를 위한 패널 검사 구조에 대하여, 도 10 및 도 11을 참조하여 설명한다.
설명에 앞서, 검사패드의 종류 및 개수에 대하여 먼저 설명한다.
도 9의 (a) 및 (b)에 도시된 화소 구조를 갖는 화소는, 제1방향(수직방향)만을 고려하면, 제1라인(VL)을 통해 신호(데이터 전압)를 공급받고, 기준전압 라인을 통해 기준전압(Vref)을 공급받으며, 구동전압 라인을 통해 구동전압(VDD)을 공급받는다.
따라서, 패널 제조 공정 시, 제1라인을 통한 신호(데이터 전압)의 공급과, 기준전압(Vref) 및 구동전압(VDD) 등의 전원의 공급, 그리고 이에 따른 화소 구동 상태 등을 검사하는 것이 필요하다.
또한, 도 9의 (a) 및 (b)에 도시된 화소 구조를 갖는 화소가 적색 화소, 녹색 화소, 청색 화소 및 흰색 화소 중 하나인 경우, 즉, 표시장치(100)가 RGBW 화소 구조를 갖는 경우, 각 색상별 신호의 공급과 이에 따른 화소 구동 상태 등을 검사하는 것이 필요하다.
따라서, 제1방향(수직방향)으로는, 4가지의 색상(R, G, B, W) 화소 각각에 대한 데이터 전압의 공급 및 그에 따른 화소 구동 상태를 검사하기 위한 "4개의 데이터 라인 검사패드"와, 2가지의 전원(Vref, VDD) 각각에 대한 전원의 공급 및 그에 따른 화소 구동 상태를 검사하기 위한 "2개의 전원 라인 검사 패드"가 필요할 수 있다.
도 10은 패널 검사와 관련하여 표시패널(110)의 제조 방법을 설명하기 위한 도면이다. 도 11은 도 10의 상단을 확대하여 상세하게 나타낸 도면이다.
도 10 및 도 11을 참조하면, 여러 개의 표시패널(110)을 동시에 제조할 수 있는 한 개의 큰 기판을 준비한다.
이러한 한 개의 기판에서 표시패널 단위별로, 제1방향(수직방향)으로 형성된 제1라인(VL)과 관련된 통합 검사를 위한 6개의 통합 검사패드(vPAD={A, B, C, D, E, F})를 형성한다. 이때, 제2방향(수평방향)으로 형성된 제2라인(HL)과 관련된 통합 검사를 위한 1개의 통합 검사패드(hPAD)를 함께 형성할 수 있다.
이후, 한 개의 기판에서 표시패널 단위별로, 둘 이상의 데이터 구동 집적회로 각각이 연결될 영역의 일 측과 타 측 각각에, 제1방향(수직방향)으로 형성된 제1라인(VL)과 관련된 개별 검사를 데이터 구동 집적회로 별로 수행하기 위한 6개의 검사패드를 한다.
더욱 상세하게 설명하면, 도 10 및 도 11을 참조하면, 1번째 데이터 구동 집적회로가 연결될 영역(DR1)의 일 측에 6개의 검사패드(vPAD1={a1, b1, c1, d1, e1, f1})를 형성하고, 1번째 데이터 구동 집적회로가 연결될 영역(DR2)의 타 측에 6개의 검사패드(vPAD1'={a1', b1', c1', d1', e1', f1'})를 형성한다.
이와 마찬가지로, 2번째 데이터 구동 집적회로가 연결될 영역(DR1)의 일 측에 6개의 검사패드(vPAD2={a2, b2, c2, d2, e2, f2})를 형성하고, 2번째 데이터 구동 집적회로가 연결될 영역(DR2)의 타 측에 6개의 검사패드(vPAD2'={a2', b2', c2', d2', e2', f2'})를 형성한다.
이때, 제2방향(가로방향)으로 형성된 제2라인(HL)에 개별 검사를 위한 2개 이상의 검사패드(hPAD1, hPAD2)도 함께 형성할 수 있다.
한 개의 기판에서 표시패널 단위별로, 둘 이상의 데이터 구동 집적회로 각각이 연결될 영역(DR1, DR2)의 일 측과 타 측 각각에 형성된 6개의 검사패드를 대응시켜 연결하며, 제1라인과 연결된 링크 라인과 중간에서 접촉하는 둘 이상의 제2검사배선을 형성한다.
도 10 및 도 11을 참조하면, 1번째 데이터 구동 집적회로가 연결될 영역(DR1)의 일 측에 6개의 검사패드(vPAD1={a1, b1, c1, d1, e1, f1})와, 1번째 데이터 구동 집적회로가 연결될 영역(DR2)의 타 측에 6개의 검사패드(vPAD1'={a1', b1', c1', d1', e1', f1'})를 서로 대응시켜 연결해주는 6개의 제2검사배선(la1, lb1, lc1, ld1, le1, lf1)을 형성한다.
이러한 6개의 제2검사배선(la1, lb1, lc1, ld1, le1, lf1) 각각은, 중간 지점에서, 6개의 데이터 라인(DL)에 해당하는 6개의 제1라인(VL1, VL2, VL3, VL4, VL5, VL6)과 1번째의 데이터 구동 집적회로를 연결해주기 위한 링크 라인(da1, db1, dc1, dd1, de1, df1)과 접촉한다.
이와 마찬가지로, 2번째 데이터 구동 집적회로가 연결될 영역(DR1)의 일 측에 6개의 검사패드(vPAD2={a2, b2, c2, d2, e2, f2})와, 2번째 데이터 구동 집적회로가 연결될 영역(DR2)의 타 측에 6개의 검사패드(vPAD2'={a2', b2', c2', d2', e2', f2'})를 서로 대응시켜 연결해주는 6개의 제2검사배선(la2, lb2, lc2, ld2, le2, lf2)을 형성한다.
이러한 6개의 제2검사배선(la2, lb2, lc2, ld2, le2, lf2) 각각은, 중간 지점에서, 6개의 데이터 라인(DL)에 해당하는 6개의 제1라인(VL7, VL8, VL9, VL10, VL11, VL12)과 2번째의 데이터 구동 집적회로를 연결해주기 위한 링크 라인(da2, db2, dc2, dd2, de2, df2)과 접촉한다.
한 개의 기판에서 표시패널 단위별로, 둘 이상의 데이터 구동 집적회로 중 하나가 연결될 영역의 타 측에 형성된 둘 이상의 검사패드와, 둘 이상의 데이터 구동 집적회로 중 다른 하나가 연결될 영역의 일 측에 형성된 둘 이상의 검사패드를 대응시켜 연결하는 둘 이상의 제1검사배선을 형성한다.
도 10 및 도 11을 참조하면, 1번째 데이터 구동 집적회로가 연결될 영역(DR1)의 타 측에 6개의 검사패드(vPAD1'={a1', b1', c1', d1', e1', f1'})과 2번째 데이터 구동 집적회로가 연결될 영역(DR2)의 일 측에 6개의 검사패드(vPAD2={a2, b2, c2, d2, e2, f2})를 서로 대응시켜 연결해주는 6개의 제1검사배선(la12, lb12, lc12, ld12, le12, lf12)을 형성한다.
이와 마찬가지로, 2번째 데이터 구동 집적회로가 연결될 영역(DR2)의 타 측에 6개의 검사패드(vPAD2'={a2', b2', c2', d2', e2', f2'})과 3번째 데이터 구동 집적회로가 연결될 영역(DR3)의 일 측에 6개의 검사패드(vPAD3={a3, b3, c3, d3, e3, f3})를 서로 대응시켜 연결해주는 6개의 제1검사배선(la23, lb23, lc23, ld23, le23, lf23)을 형성한다.
한 개의 기판에서 표시패널 단위별로, 둘 이상의 데이터 구동 집적회로 중 최외각에 연결될 데이터 구동 집적회로가 연결될 영역(DR1)의 일 측과 타 측 각각에 형성된 6개의 검사패드(a1/b1/c1/d1/e1/f1-a2/b2/c2/d2/e2/f2)를 연결하는 둘 이상의 제2검사배선(la1, lb1, lc1, ld1, le1, lf1)과 6개의 통합 검사패드(vPAD={A, B, C, D, E, F})를 대응시켜 연결하는 6개의 통합 검사배선(LA, LB, LC, LD, LE, LF)을 형성한다.
전술한 바에 따라, 검사패드들과 검사배선들이 표시패널 단위별로 모두 형성된 시점에는, 액티브 영역(A/A)에 박막 트랜지스터(TFT: Thin Film Transistor)도 모두 형성되어 있다.
이와 같이, 검사 구조(검사패드, 검사배선)가 모두 형성되고 박막 트랜지스터가 모두 형성된 이후, 6개의 통합 검사패드(vPAD={A, B, C, D, E, F}) 각각을 통해 통합 검사신호를 인가하여 통합 검사를 수행한다.
이때, 통합 검사는, 표시패널 단위별로 수행될 수도 있고, 통합 검사배선(LA, LB, LC, LD, LE, LF)이 표시패널 간에 모두 쇼팅(Shorting) 되어 기판 전체에서 함께 수행될 수도 있다.
이러한 통합 검사 후, 문제가 없으면, 스크라이브(Scribe) 장비를 이용하여, 제1절단선(1st CL)을 따라 기판을 절단하여 준비패널(표시패널 완성 전 단계)을 준비한다. 이때, 6개의 통합 검사패드(vPAD={A, B, C, D, E, F})와, 6개의 통합 검사배선(LA, LB, LC, LD, LE, LF)의 일부가 떨어져 나간다.
이렇게 만들어진 준비패널 각각에 대하여, 둘 이상의 데이터 구동 집적회로 각각이 연결될 영역(DR1, DR2)의 일 측과 타 측 각각에 형성된 6개의 검사패드 각각으로 개별 검사신호를 인가하여 개별 검사를 수행한다.
이러한 개별 검사는, 액정표시장치(LCD) 또는 유기발광표시장치(OLED Display)의 셀(Cell) 완성 후, 수행될 수 있다.
이러한 개별 검사 후, 문제가 없으면, 스크라이브 장비를 이용하여, 제2절단선(2nd CL)을 따라 준비패널을 절단하여 표시장치(100)에 들어갈 사이즈의 패널을 만들어낸다. 이렇게 만들어진 패널에 의해 도 1 내지 도 8의 참조하여 설명한 표시패널(110)이 만들어지는 것이다.
이때, 제2전달선(2nd CL)의 위치에 따라, 도 3 및 도 4의 일 실시예에 따른 표시패널(110), 도 5 및 도 6의 일 실시예에 따른 표시패널(110), 도 7 및 도 8의 일 실시예에 따른 표시패널(110) 등 중에서 하나가 제조될 수 있다.
물론, 도 3 및 도 4의 일 실시예에 따른 표시패널(110), 도 5 및 도 6의 일 실시예에 따른 표시패널(110), 도 7 및 도 8의 일 실시예에 따른 표시패널(110) 등 이외에도, 제2전달선(2nd CL)의 위치를 조정하여 여러 가지 다른 형태의 표시패널(110)을 제조할 수 있다.
한편, 검사패드들 및 검사배선들이 형성되는 위치는, 구동 집적회로가 연결되는 영역의 주변 영역이고, 이 주변영역은 검사패드들 및 검사배선들이 형성되지 않더라도, 다른 구성이 형성되지 않는 잔여 공간일 수 있다.
따라서, 패널 검사를 위한 검사패드들 및 검사배선들이 표시패널(110)의 내부에 형성되더라도, 내로우 베젤(Narrow Bezel)을 구현하는데 장애가 되지 않는다. 그 대신, 기판상에서 표시패널 단위 간의 간격을 좁게 하여 많은 표시패널을 제조하는 데 도움을 줄 수 있다.
이상에서 설명한 바와 같이 본 발명에 의하면, 패널 검사를 위한 검사패드 및 검사배선의 전체 또는 일부가 내부에 형성된 표시패널(110) 및 표시장치(100)를 제공하는 효과가 있다.
또한, 본 발명에 의하면, 내로우 베젤을 가능하게 하는 구조(검사배선의 일원화된 연결 구조, 검사패드 다중 열 구조 등)에 따라, 패널 검사를 위한 검사패드 및 검사배선의 전체 또는 일부가 내부에 형성된 표시패널(110) 및 표시장치(100)를 제공하는 효과가 있다.
또한, 본 발명에 의하면, 패널 제조 효율성과 수율을 향상시킬 수 있도록, 패널 검사를 위한 검사패드 및 검사배선의 전체 또는 일부가 내부에 형성된 표시패널(110) 및 표시장치(100)를 제공하는 효과가 있다.
이상에서의 설명 및 첨부된 도면은 본 발명의 기술 사상을 예시적으로 나타낸 것에 불과한 것으로서, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 본 발명의 본질적인 특성에서 벗어나지 않는 범위에서 구성의 결합, 분리, 치환 및 변경 등의 다양한 수정 및 변형이 가능할 것이다. 따라서, 본 발명에 개시된 실시예들은 본 발명의 기술 사상을 한정하기 위한 것이 아니라 설명하기 위한 것이고, 이러한 실시예에 의하여 본 발명의 기술 사상의 범위가 한정되는 것은 아니다. 본 발명의 보호 범위는 아래의 청구범위에 의하여 해석되어야 하며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 기술 사상은 본 발명의 권리범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.
100: 표시장치 110: 표시패널
120: 제1구동부 130: 제2구동부
140: 타이밍 컨트롤러

Claims (10)

  1. 영상 표시를 위한 신호를 출력하며 인접하게 나란히 배치되는 제1 구동 집적회로 및 제2 구동 집적회로; 및
    액티브 영역에 제1 방향으로 다수의 데이터 라인이 배치되고, 상기 액티브 영역에 제2 방향으로 다수의 게이트 라인이 배치되고, 상기 액티브 영역의 바깥영역에 해당하는 비 액티브 영역 내 제1 영역 및 제2 영역에는 상기 제1 구동 집적회로 및 상기 제2 구동 집적회로가 각각 연결되고, 상기 비 액티브 영역에서 상기 제1 구동 집적회로가 연결된 상기 제1 영역의 주변 영역과 상기 제2 구동 집적회로가 연결된 상기 제2 영역의 주변 영역에 둘 이상의 검사패드와 적어도 하나의 검사배선이 형성된 표시패널을 포함하되,
    상기 둘 이상의 검사패드는 상기 제1 구동 집적회로가 연결된 상기 제1 영역과 상기 제2 구동 집적회로가 연결된 상기 제2 영역 사이에 배치되는 제1 검사패드와 제2 검사패드를 포함하고,
    상기 제1 구동 집적회로가 연결된 상기 제1 영역의 주변 영역과 상기 제2 구동 집적회로가 연결된 상기 제2 영역의 주변 영역에 배치된 적어도 하나의 검사배선은, 양 단이 상기 제1 검사패드 및 상기 제2 검사패드에 각각 연결되고 상기 액티브 영역에 배치된 상기 게이트 라인의 길이보다 짧은 길이를 갖는 제1검사배선을 포함하고,
    상기 제1 검사배선은 상기 제1 구동 집적회로가 연결된 상기 제1 영역과 상기 제2 구동 집적회로가 연결된 상기 제2 영역 사이에 배치되고,
    상기 제1 구동 집적회로 및 상기 제2 구동 집적회로와 상기 표시패널의 일직선의 제1 모서리 사이에는 검사패드 및 검사배선이 미 배치되고,
    상기 제1 구동 집적회로가 연결된 상기 제1 영역과 상기 제2 구동 집적회로가 연결된 상기 제2 영역 각각에 다수의 링크 라인이 배치되고, 상기 다수의 링크 라인은 상기 표시패널의 제1 모서리에서 끊어진 상태인 표시장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 제1검사배선은,
    상기 제1 검사패드 및 상기 제2 검사패드가 형성된 위치와, 상기 표시패널의 액티브 영역의 테두리 위치 사이에 형성된 것을 특징으로 하는 표시장치.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 제1 구동 집적회로가 연결된 상기 제1 영역의 주변 영역 및 상기 제2 구동 집적회로가 연결된 상기 제2 영역의 주변 영역에 형성된 적어도 하나의 검사배선은,
    일 단만이 검사패드에 연결되고 타 단이 상기 표시패널의 상기 제1 모서리에서 끊어진 제2검사배선을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 표시장치.
  4. 제3항에 있어서,
    상기 제2검사배선은,
    상기 연결된 검사패드가 형성된 위치와, 상기 표시패널의 상기 제1 모서리 위치 사이에 형성된 것을 특징으로 하는 표시장치.
  5. 삭제
  6. 제1항에 있어서,
    상기 제1 구동 집적회로가 연결된 상기 제1 영역 및 상기 제2 구동 집적회로가 연결된 상기 제2 영역 각각에 다수의 링크 라인이 형성된 것을 특징으로 하는 표시장치.
  7. 제1항에 있어서,
    상기 제1 구동 집적회로가 연결된 상기 제1 영역의 주변 영역 및 상기 제2 구동 집적회로가 연결된 상기 제2 영역의 주변 영역에 형성된 적어도 하나의 검사패드는,
    상기 검사배선이 미연결되고 상기 제1 구동 집적회로의 측면과 상기 표시패널의 상기 제1 모서리와 직각인 제2 모서리 사이에 배치된 검사패드를 포함하는 것을 특징으로 하는 표시장치.
  8. 제1항에 있어서,
    상기 제1 구동 집적회로가 연결된 상기 제1 영역의 주변 영역 및 상기 제2 구동 집적회로가 연결된 상기 제2 영역의 주변 영역에 복수 개의 검사패드가 형성된 경우, 상기 복수 개의 검사패드는,
    일렬(Single Row)로 정렬되어 배치되거나, 다중 열(Multi Row)로 정렬되어 배치되는 것을 특징으로 하는 표시장치.
  9. 표시패널에 있어서,
    인접한 제1 구동 집적회로 및 제2 구동 집적회로가 각각 연결되는 제1 영역과 제2 영역;
    제1방향으로 형성된 다수의 제1라인;
    제2방향으로 형성된 다수의 제2라인;
    상기 다수의 제1 라인이 연결되고, 상기 제1 영역과 상기 제2 영역에 배치되는 다수의 링크 라인; 및
    상기 제1 영역과 상기 제2 영역의 주변 영역에 형성된 둘 이상의 검사패드 및 적어도 하나의 검사배선을 포함하고,
    상기 둘 이상의 검사패드는 상기 제1 구동 집적회로가 연결된 상기 제1 영역과 상기 제2 구동 집적회로가 연결된 상기 제2 영역 사이에 배치되는 제1 검사패드와 제2 검사패드를 포함하고,
    상기 적어도 하나의 검사배선은, 일 단이 상기 제1 검사패드와 연결되고 타 단이 상기 제2 검사패드와 연결되며 상기 제1 구동 집적회로가 연결된 상기 제1 영역과 상기 제2 구동 집적회로가 연결된 상기 제2 영역 사이에 배치되는 제1검사배선을 포함하고,
    상기 제1 구동 집적회로 및 상기 제2 구동 집적회로와 상기 표시패널의 일직선의 제1 모서리 사이에는 검사패드 및 검사배선이 미 배치되고,
    상기 제1 구동 집적회로가 연결된 상기 제1 영역과 상기 제2 구동 집적회로가 연결된 상기 제2 영역 각각에 다수의 링크 라인이 배치되고, 상기 다수의 링크 라인은 상기 표시패널의 제1 모서리에서 끊어진 상태인 표시패널.
  10. 삭제
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