CN207925107U - 测试装置 - Google Patents

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Abstract

本公开提供了一种测试装置。测试装置包括第一电路、第二电路和第三电路，第一电路根据第一开关信号和第二开关信号的控制，利用第一组测试信号驱动第一像素发光，第二电路根据第一开关信号和第二开关信号的控制，利用第一组测试信号驱动第二像素发光，第三电路根据第一开关信号或第二开关信号的控制，利用第二组测试信号驱动第三像素发光，其中，第一像素、第二像素和第三像素各不相同。本公开通过共用第一开关信号线和第二开关信号线，从而有效减少了开关信号线的数量，降低测试电路所占的空间，有利于设计窄边框产品。

Description

测试装置
技术领域
本公开涉及测试领域，特别涉及一种测试装置。
背景技术
显示面板在绑定芯片、柔性电路之前，需要进行电学测试。通过测试不同颜色的显示画面，以检查显示画面是否存在亮点、暗点、亮线等缺陷。由此可避免针对缺陷产品进行后续的模组制作工艺，避免模组资材的浪费，从而能够及时止损。然而，相关技术中的测试电路较为复杂，使用的开关信号线较多。
发明内容
本公开的实施例解决的一个技术问题是：测试电路中使用的开关信号线较多，导致测试电路占用的边框较大。
根据本公开实施例的第一方面，提供一种测试装置，包括：第一电路，与第一开关信号线、第二开关信号线和第一组测试信号线电连接，被配置为根据第一开关信号和第二开关信号的控制，利用第一组测试信号驱动第一像素发光；第二电路，与第一开关信号线、第二开关信号线和第一组测试信号线电连接，被配置为根据第一开关信号和第二开关信号的控制，利用第一组测试信号驱动第二像素发光；第三电路，与第一开关信号线或第二开关信号线电连接，并与第二组测试信号线电连接，被配置为根据第一开关信号或第二开关信号的控制，利用第二组测试信号驱动第三像素发光，其中，第一像素、第二像素和第三像素各不相同。
可选地，第一组测试信号线包括第一测试信号线和第二测试信号线。
可选地，第一电路包括：第一开关，与第一开关信号线和第一测试信号线电连接，被配置为在第一开关信号的控制下，利用第一测试信号驱动第一像素发光；第二开关，与第二开关信号线和第二测试信号线电连接，被配置为在第二开关信号的控制下，利用第二测试信号驱动第一像素发光。
可选地，第一开关和第二开关为开关晶体管。
可选地，第一开关的栅极与第一开关信号线电连接，第一开关的源极与第一测试信号线电连接，第一开关的漏极与第一像素电连接；第二开关的栅极与第二开关信号线电连接，第二开关的源极与第二测试信号线电连接，第二开关的漏极与第一像素电连接。
可选地，第二电路包括：第三开关，与第一开关信号线和第二测试信号线电连接，被配置为在第一开关信号的控制下，利用第二测试信号驱动第二像素发光；第四开关，与第二开关信号线和第一测试信号线电连接，被配置为在第二开关信号的控制下，利用第一测试信号驱动第二像素发光。
可选地，第三开关和第四开关为开关晶体管。
可选地，第三开关的栅极与第一开关信号线电连接，第三开关的源极与第二测试信号线电连接，第三开关的漏极与第二像素电连接；第四开关的栅极与第二开关信号线电连接，第四开关的源极与第一测试信号线电连接，第四开关的漏极与第二像素电连接。
可选地，第三像素包括第一子像素和第二子像素。
可选地，第三电路包括：第五开关，与第一开关信号线或第二开关信号线电连接，并与第二组测试信号线电连接，被配置为在第一开关信号或第二开关信号的控制下，利用第二组测试信号驱动第一子像素发光；第六开关，与和第五开关电连接的第一开关信号线或第二开关信号线电连接，并与第二组测试信号线电连接，被配置为在第一开关信号或第二开关信号的控制下，利用第二组测试信号驱动第二子像素发光。
可选地，第五开关和第六开关为开关晶体管。
可选地，第五开关的栅极与第一开关信号线或第二开关信号线电连接，第五开关的源极与第二组测试信号线电连接，第五开关的漏极与第一子像素电连接；第六开关的栅极与第五开关的栅极电连接，第六开关的源极与第二组测试信号线电连接，第六开关的漏极与第二子像素电连接。
可选地，第二组测试信号线包括第三测试信号线。
可选地，第一像素为蓝色像素，第二像素为红色像素，第三像素为绿色像素。
通过以下参照附图对本公开的示例性实施例的详细描述，本公开的其它特征及其优点将会变得清楚。
附图说明
构成说明书的一部分的附图描述了本公开的实施例，并且连同说明书一起用于解释本公开的原理。
参照附图，根据下面的详细描述，可以更加清楚地理解本公开，其中：
图1是示意性地示出根据本公开一些实施例的测试装置的结构示意图；
图2是示意性地示出根据本公开另一些实施例的测试装置的结构示意图；
图3是示意性地示出根据本公开又一些实施例的测试装置的结构示意图；
图4是示意性地示出根据本公开又一些实施例的测试装置的结构示意图；
图5是示意性地示出根据本公开又一些实施例的测试装置的结构示意图；
图6是示意性地示出根据本公开又一些实施例的测试装置的结构示意图；
图7是示意性地示出根据本公开又一些实施例的测试装置的结构示意图；
图8是示意性地示出根据本公开一些实施例的测试方法的流程示意图；
图9是示意性地示出根据本公开一些实施例的测试装置信号时序图；
图10是示意性地示出根据本公开又一些实施例的测试装置的结构示意图；
图11是示意性地示出根据本公开另一些实施例的测试装置信号时序图。
应当明白，附图中所示出的各个部分的尺寸并不是按照实际的比例关系绘制的。此外，相同或类似的参考标号表示相同或类似的构件。
具体实施方式
现在将参照附图来详细描述本公开的各种示例性实施例。对示例性实施例的描述仅仅是说明性的，决不作为对本公开及其应用或使用的任何限制。本公开可以以许多不同的形式实现，不限于这里所述的实施例。提供这些实施例是为了使本公开透彻且完整，并且向本领域技术人员充分表达本公开的范围。应注意到：除非另外具体说明，否则在这些实施例中阐述的部件和步骤的相对布置、材料的组分、数字表达式和数值应被解释为仅仅是示例性的，而不是作为限制。
本公开中使用的“第一”、“第二”以及类似的词语并不表示任何顺序、数量或者重要性，而只是用来区分不同的部分。“包括”或者“包含”等类似的词语意指在该词前的要素涵盖在该词后列举的要素，并不排除也涵盖其他要素的可能。“上”、“下”、“左”、“右”等仅用于表示相对位置关系，当被描述对象的绝对位置改变后，则该相对位置关系也可能相应地改变。
在本公开中，当描述到特定器件位于第一器件和第二器件之间时，在该特定器件与第一器件或第二器件之间可以存在居间器件，也可以不存在居间器件。当描述到特定器件连接其它器件时，该特定器件可以与所述其它器件直接连接而不具有居间器件，也可以不与所述其它器件直接连接而具有居间器件。
本公开使用的所有术语(包括技术术语或者科学术语)与本公开所属领域的普通技术人员理解的含义相同，除非另外特别定义。还应当理解，在诸如通用字典中定义的术语应当被解释为具有与它们在相关技术的上下文中的含义相一致的含义，而不应用理想化或极度形式化的意义来解释，除非这里明确地这样定义。
对于相关领域普通技术人员已知的技术、方法和设备可能不作详细讨论，但在适当情况下，所述技术、方法和设备应当被视为说明书的一部分。
图1是示意性地示出根据本公开一些实施例的测试装置的结构示意图。
如图1所示，测试电路包括第一电路1、第二电路2、第三电路3、第一开关信号线SW1、第二开关信号线SW2、第一组测试信号线G-ETD1和第二组测试信号线G-ETD2。
第一电路1与第一开关信号线SW1、第二开关信号线SW2和第一组测试信号线G-ETD1电连接，被配置为根据第一开关信号和第二开关信号的控制，利用第一组测试信号驱动第一像素P1发光。
第二电路2与第一开关信号线SW1、第二开关信号线SW2和第一组测试信号线G-ETD1电连接，被配置为根据第一开关信号和第二开关信号的控制，利用第一组测试信号驱动第二像素P2发光。
第三电路3与第一开关信号线SW1电连接，并与第二组测试信号线G-ETD2电连接，被配置为根据第一开关信号的控制，利用第二组测试信号G-ETD2驱动第三像素P3发光。
需要说明的是，第一像素P1、第二像素P2和第三像素P3各不相同。在一些实施例中，第一像素P1为蓝色像素，第二像素为红色像素，第三像素为绿色像素。当然，也可根据所采用的色度空间，将第一像素P1、第二像素P2和第三像素P3分别设置为该色度空间中不同的原色。
在本公开上述实施例提供的测试装置中，通过将第一开关信号线和第二开关信号线进行共用，从而有效减少了开关信号线的数量，有效降低了测试电路所占的空间，有利于设计窄边框产品。
图2是示意性地示出根据本公开另一些实施例的测试装置的结构示意图。图2与图1的不同之处在于，在图1所示实施例中，第三电路3与第一开关信号线SW1电连接。在图2所示实施例中，第三电路3与第二开关信号线SW2电连接。
如图2所示，第三电路3与第二开关信号线SW2电连接，并与第二组测试信号线G-ETD2电连接。由此，第三电路3根据第二开关信号的控制，利用第二组测试信号驱动第三像素P3发光。
图3是示意性地示出根据本公开又一些实施例的测试装置的结构示意图。图3与图1的不同之处在于，在图3所示实施例中，第一组测试信号线G-ETD1包括第一测试信号线ETD1和第二测试信号线ETD2。第二组测试信号线G-ETD2包括第三测试信号线ETD3。第一测试信号线ETD1和第二测试信号线ETD2与第一电路1和第二电路2电连接，第三测试信号线ETD3与第三电路3电连接。
如图3所示，第一电路1和第二电路2分别与第一开关信号线SW1、第二开关信号线SW2、第一测试信号线ETD1和第二测试信号线ETD2电连接。从而通过利用第一开关信号线SW1、第二开关信号线SW2、第一测试信号线ETD1和第二测试信号线ETD2的不同状态组合，分别对第一电路1和第二电路2进行相应控制，进而分别对第一像素P1和第二像素P2是否发光进行控制。第三电路3与第一开关信号线SW1和第三测试信号线ETD3电连接。从而根据第一开关信号线SW1和第三测试信号线ETD3的不同状态组合，对第三电路3进行相应控制，进而对第三像素P3是否发光进行控制。
图4是示意性地示出根据本公开又一些实施例的测试装置的结构示意图。图4与图3的不同之处在于，在图3所示实施例中，第三电路3与第一开关信号线SW1电连接。在图4所示实施例中，第三电路3与第二开关信号线SW2电连接。
如图4所示，第三电路3与第二开关信号线SW2和第三测试信号线ETD3电连接。从而，根据第二开关信号线SW2和第三测试信号线ETD3的不同状态组合，对第三电路3进行相应控制，进而对第三像素P3是否发光进行控制。
图5是示意性地示出根据本公开又一些实施例的测试装置的结构示意图。
如图5所示，第三像素P3包括第一子像素P31和第二子像素P32。第一子像素P31和第二子像素P32的颜色相同。
此外，在图5所示实施例中，第一电路1包括第一开关11和第二开关12。
第一开关11与第一开关信号线SW1和第一测试信号线ETD1电连接，被配置为在第一开关信号的控制下，利用第一测试信号驱动第一像素P1发光。
第二开关12与第二开关信号线SW2和第二测试信号线ETD2电连接，被配置为在第二开关信号的控制下，利用第二测试信号驱动第一像素发光。
可选地，如图5所示，第二电路2包括第三开关21和第四开关22。
第三开关21与第一开关信号线SW1和第二测试信号线ETD2电连接，被配置为在第一开关信号的控制下，利用第二测试信号驱动第二像素P2发光。
第四开关22与第二开关信号线SW2和第一测试信号线ETD1电连接，被配置为在第二开关信号的控制下，利用第一测试信号驱动第二像素P2发光。
可选地，如图5所示，第三电路3包括第五开关31和第六开关32。
第五开关31与第一开关信号线SW1和第三测试信号线ETD3电连接，被配置为在第一开关信号的控制下，利用第三测试信号驱动第一子像素P31发光。
第六开关32与第一开关信号线SW1和第三测试信号线ETD3电连接，被配置为在第一开关信号的控制下，利用第三测试信号驱动第二子像素P32发光。
在一些实施例中，第一开关11、第二开关12、第三开关21、第四开关22、第五开关31、第六开关32为开关晶体管，或者其它能够根据开关信号进行开关操作的电路或器件。
图6是示意性地示出根据本公开又一些实施例的测试装置的结构示意图。图6与图5的不同之处在于，在图5中，第五开关31和第六开关32与第一开关信号线SW1电连接。在图6中，第五开关31和第六开关32与第二开关信号线SW2电连接。
如图6所示，第五开关31与第二开关信号线SW2和第三测试信号线ETD3电连接，被配置为在第二开关信号的控制下，利用第三测试信号驱动第一子像素P31发光。第六开关32与第二开关信号线SW2和第三测试信号线ETD3电连接，被配置为在第二开关信号的控制下，利用第三测试信号驱动第二子像素P32发光。
图7是示意性地示出根据本公开又一些实施例的测试装置的结构示意图。图7与图5的不同之处在于，在图7所示实施例中，第一开关11为PMOS晶体管TFT1，第二开关12为PMOS晶体管TFT2，第三开关21为PMOS晶体管TFT3，第四开关22为PMOS晶体管TFT4，第五开关31为PMOS晶体管TFT5，第六开关32为PMOS晶体管TFT6。
如图7所示，晶体管TFT1的栅极与第一开关信号线SW1电连接，晶体管TFT1的源极与第一测试信号线ETD1电连接，晶体管TFT1的漏极与第一像素P1电连接。晶体管TFT2的栅极与第二开关信号线SW2电连接，晶体管TFT2的源极与第二测试信号线ETD2电连接，晶体管TFT2的漏极与第一像素P1电连接。
晶体管TFT3的栅极与第一开关信号线SW1电连接，晶体管TFT3的源极与第二测试信号线ETD2电连接，晶体管TFT3的漏极与第二像素P2电连接。晶体管TFT4的栅极与第二开关信号线SW2电连接，晶体管TFT4的源极与第一测试信号线ETD1电连接，晶体管TFT4的漏极与第二像素P2电连接。
晶体管TFT5的栅极与第一开关信号线SW1电连接，晶体管TFT5的源极与第三测试信号线ETD3电连接，晶体管TFT5的漏极与第一子像素P31电连接。
晶体管TFT6的栅极与第一开关信号线SW1电连接，即与晶体管TFT5的栅极电连接，晶体管TFT6的源极与第三测试信号线ETD3电连接，晶体管TFT6的漏极与第二子像素P32电连接。
在一些实施例中，第一像素P1为蓝色，第二像素P2为红色，第三像素P3包括的第一子像素P31和第二子像素P32均为绿色。
需要说明的是，第一像素P1代表着整个显示面板上的蓝色像素，第二像素P2代表着整个显示面板上的红色像素，第三像素P3代表着整个显示面板上的绿色像素。
如图7所示，在第一开关信号线SW1所提供的第一开关信号为低电平、第二开关信号线SW2所提供的第二开关信号为高电平的情况下，晶体管TFT1、晶体管TFT3、晶体管TFT5和晶体管TFT6导通，晶体管TFT2和晶体管TFT4截止。此时，晶体管TFT1根据第一测试信号线ETD1提供的第一测试信号对第一像素P1进行驱动。晶体管TFT3根据第二测试信号线ETD2提供的第二测试信号对第二像素P2进行驱动。晶体管TFT5根据第三测试信号线ETD3提供的第三测试信号对第一子像素P31进行驱动。晶体管TFT6根据第三测试信号对第二子像素P32进行驱动。
在第一开关信号为高电平、第二开关信号为低电平的情况下，晶体管TFT1、晶体管TFT3、晶体管TFT5和晶体管TFT6截止，晶体管TFT2和晶体管TFT4导通。此时，晶体管TFT2根据第二测试信号对第一像素P1进行驱动，晶体管TFT4根据第一测试信号对第二像素P2进行驱动。
图8是示意性地示出根据本公开一些实施例的测试方法的流程示意图。
在步骤801，通过控制第一开关信号线和第二开关信号线的电平状态，以控制第一电路、第二电路和第三电路的导通状态。
在步骤802，通过控制第一组测试信号线和第二组测试信号线的电平状态，以便第一电路在处于导通状态下利用第一组测试信号驱动第一像素发光，第二电路在处于导通状态下利用第一组测试信号驱动第二像素发光，第三电路在处于导通状态下利用第二组测试信号驱动第三像素发光。
图9是示意性地示出根据本公开一些实施例的测试装置信号时序图。这里设第一像素P1为蓝色(B)像素，第二像素P2为红色(R)像素，第一子像素P31和第二子像素P32为绿色(G)像素。
如图9所示，在第一时段T1，第一开关信号为低电平，第二开关信号为高电平。根据图7所示的测试装置可知，此时晶体管TFT1、晶体管TFT3、晶体管TFT5和晶体管TFT6导通，晶体管TFT2和晶体管TFT4截止。在T1中，第一测试信号、第三测试信号均为第一高电平，第二测试信号为低电平。由于第一测试信号为第一高电平，因此晶体管TFT1用第一高电平驱动第一像素P1，从而蓝色像素被点亮。由于第三测试信号也为第一高电平，因此晶体管TFT5用第一高电平驱动第一子像素P31，晶体管TFT6用第一高电平驱动第二子像素P32，从而绿色像素也被点亮。这时测试画面显示青色。
在第二时段T2，第一开关信号仍为低电平，第二开关信号仍为高电平，因此晶体管TFT1、晶体管TFT3、晶体管TFT5和晶体管TFT6仍处于导通状态。在T2中，第一测试信号为低电平，第二测试信号和第三测试信号均为第一高电平。由于第二测试信号为第一高电平，因此晶体管TFT3用第一高电平驱动第二像素P2，从而红色像素被点亮。由于第三测试信号为第一高电平，因此晶体管TFT5用第一高电平驱动第一子像素P31，晶体管TFT6用第一高电平驱动第二子像素P32，从而绿色像素也被点亮。这时测试画面显示黄色。
在第三时段T3，第一开关信号仍为低电平，第二开关信号仍为高电平，因此晶体管TFT1、晶体管TFT3、晶体管TFT5和晶体管TFT6仍处于导通状态。在T3中，第一测试信号和第二测试信号为低电平，第三测试信号为第一高电平。由于第三测试信号为第一高电平，因此晶体管TFT5用第一高电平驱动第一子像素P31，晶体管TFT6用第一高电平驱动第二子像素P32，从而绿色像素也被点亮。这时测试画面显示绿色。
在第四时段T4，第一开关信号变为高电平，第二开关信号变为低电平。根据图7所示的测试装置可知，此时晶体管TFT1、晶体管TFT3、晶体管TFT5和晶体管TFT6截止，晶体管TFT2和晶体管TFT4导通。在T4中，第一测试信号为第二高电平，第二测试信号和第三测试信号为低电平。由于第一测试信号为第二高电平，因此晶体管TFT4用第二高电平驱动第二像素P2，从而红色像素被点亮。这时测试画面显示红色。
需要说明的是，由于第一高电平与第二高电平的电平值不同，因此像素在被点亮时所呈现的亮度会有所不同。
在第五时段T5，第一开关信号仍为高电平，第二开关信号仍为低电平，因此晶体管TFT2和晶体管TFT4仍处于导通状态。在T5中，第一测试信号和第三测试信号为低电平，第二测试信号为第二高电平。由于第二测试信号为第二高电平，因此晶体管TFT2用第二高电平驱动第一像素P1，从而蓝色像素被点亮。这时测试画面显示蓝色。
在第六时段T6，第一开关信号变为低电平，第二开关信号变为高电平。根据图7所示的测试装置可知，此时晶体管TFT1、晶体管TFT3、晶体管TFT5和晶体管TFT6导通，晶体管TFT2和晶体管TFT4截止。在T6中，第一测试信号和第二测试信号为低电平，第三测试信号为第二高电平。由于第三测试信号为第二高电平，晶体管TFT5用第二高电平驱动第一子像素P31，晶体管TFT6用第二高电平驱动第二子像素P32，从而绿色像素被点亮。这时测试画面显示绿色。
在第七时段T7，第一开关信号仍保持低电平，第二开关信号仍保持高电平，因此晶体管TFT1、晶体管TFT3、晶体管TFT5和晶体管TFT6仍处于导通状态。在T7中，第一测试信号、第二测试信号和第三测试信号均为第二高电平。由于第一测试信号为第二高电平，晶体管TFT1用第二高电平驱动第一像素P1，从而蓝色像素被点亮。由于第二测试信号为第二高电平，晶体管TFT3用第二高电平驱动第二像素P2，从而红色像素被点亮。由于第三测试信号为第二高电平，晶体管TFT5用第二高电平驱动第一子像素P31，晶体管TFT6用第二高电平驱动第二子像素P32，从而绿色像素被点亮。这时测试画面显示白色。
由此，通过控制第一开关信号、第二开关信号、第一测试信号、第二测试信号和第三测试信号的电平值，可使测试画面显示出不同的颜色。
需要说明的是，在图9所示实施例中，各时段没有先后顺序。可根据需要为第一开关信号、第二开关信号、第一测试信号、第二测试信号和第三测试信号设置相应的电平值。
图10是示意性地示出根据本公开又一些实施例的测试装置的结构示意图。图10与图6的不同之处在于，在图10所示实施例中，第一开关11为PMOS晶体管TFT1，第二开关12为PMOS晶体管TFT2，第三开关21为PMOS晶体管TFT3，第四开关22为PMOS晶体管TFT4，第五开关31为PMOS晶体管TFT5，第六开关32为PMOS晶体管TFT6。可选地，第一像素P1为蓝色，第二像素P2为红色，第三像素P3包括的第一子像素P31和第二子像素P32均为绿色。
如图10所示，晶体管TFT1的栅极与第一开关信号线SW1电连接，晶体管TFT1的源极与第一测试信号线ETD1电连接，晶体管TFT1的漏极与第一像素P1电连接。晶体管TFT2的栅极与第二开关信号线SW2电连接，晶体管TFT2的源极与第二测试信号线ETD2电连接，晶体管TFT2的漏极与第一像素P1电连接。
晶体管TFT3的栅极与第一开关信号线SW1电连接，晶体管TFT3的源极与第二测试信号线ETD2电连接，晶体管TFT3的漏极与第二像素P2电连接。晶体管TFT4的栅极与第二开关信号线SW2电连接，晶体管TFT4的源极与第一测试信号线ETD1电连接，晶体管TFT4的漏极与第二像素P2电连接。
晶体管TFT5的栅极与第二开关信号线SW2电连接，晶体管TFT5的源极与第三测试信号线ETD3电连接，晶体管TFT5的漏极与第一子像素P31电连接。
晶体管TFT6的栅极与第二开关信号线SW2电连接，即与晶体管TFT5的栅极电连接，晶体管TFT6的源极与第三测试信号线ETD3电连接，晶体管TFT6的漏极与第二子像素P32电连接。
图11是示意性地示出根据本公开另一些实施例的测试装置信号时序图。这里设第一像素P1为蓝色(B)像素，第二像素P2为红色(R)像素，第一子像素P31和第二子像素P32为绿色(G)像素。
如图11所示，在第一时段T1，第一开关信号为低电平，第二开关信号为高电平。根据图9所示的测试装置可知，此时晶体管TFT1和晶体管TFT3导通，晶体管TFT2、晶体管TFT4、晶体管TFT5和晶体管TFT6截止。在T1中，第一测试信号为第一高电平，第二测试信号和第三测试信号均为低电平。由于第一测试信号为第一高电平，因此晶体管TFT1用第一高电平驱动第一像素P1，从而蓝色像素被点亮。这时测试画面显示蓝色。
在第二时段T2，第一开关信号仍为低电平，第二开关信号仍为高电平，因此晶体管TFT1和晶体管TFT3仍处于导通状态。在T2中，第一测试信号和第三测试信号均为低电平，第二测试信号为第一高电平。由于第二测试信号为第一高电平，因此晶体管TFT3用第一高电平驱动第二像素P2，从而红色像素被点亮。这时测试画面显示红色。
在第三时段T3，第一开关信号仍为低电平，第二开关信号仍为高电平，因此晶体管TFT1和晶体管TFT3仍处于导通状态。在T3中，第一测试信号和第二测试信号均为第一高电平，第三测试信号为低电平。由于第一测试信号为第一高电平，因此晶体管TFT1用第一高电平驱动第一像素P1，从而蓝色像素被点亮。由于第二测试信号为第一高电平，因此晶体管TFT3用第一高电平驱动第二像素P2，从而红色像素被点亮。这时测试画面显示紫色。
在第四时段T4，第一开关信号变为高电平，第二开关信号变为低电平。根据图7所示的测试装置可知，此时晶体管TFT1和晶体管TFT3截止，晶体管TFT2、晶体管TFT4、晶体管TFT5和晶体管TFT6导通。在T4中，第一测试信号为第二高电平，第二测试信号和第三测试信号为低电平。由于第一测试信号为第二高电平，因此晶体管TFT4用第二高电平驱动第二像素P2，从而红色像素被点亮。这时测试画面显示红色。
在第五时段T5，第一开关信号仍为高电平，第二开关信号仍为低电平，因此晶体管TFT2、晶体管TFT4、晶体管TFT5和晶体管TFT6仍处于导通状态。在T5中，第一测试信号和第三测试信号为低电平，第二测试信号为第二高电平。由于第二测试信号为第二高电平，因此晶体管TFT2用第二高电平驱动第一像素P1，从而蓝色像素被点亮。这时测试画面显示蓝色。
在第六时段T6，第一开关信号仍为高电平，第二开关信号仍为低电平，因此晶体管TFT2、晶体管TFT4、晶体管TFT5和晶体管TFT6仍处于导通状态。在T6中，第一测试信号和第二测试信号为低电平，第三测试信号为第二高电平。由于第三测试信号为第二高电平，晶体管TFT5用第二高电平驱动第一子像素P31，晶体管TFT6用第二高电平驱动第二子像素P32，从而绿色像素被点亮。这时测试画面显示绿色。
在第七时段T7，第一开关信号变为低电平，第二开关信号变为高电平，根据图7所示的测试装置可知，此时晶体管TFT1和晶体管TFT3导通，晶体管TFT2、晶体管TFT4、晶体管TFT5和晶体管TFT6截止。在T7中，第一测试信号和第二测试信号均为第二高电平，第三测试信号为低电平。由于第一测试信号为第二高电平，晶体管TFT1用第二高电平驱动第一像素P1，从而蓝色像素被点亮。由于第二测试信号为第二高电平，晶体管TFT3用第二高电平驱动第二像素P2，从而红色像素被点亮。这时测试画面显示紫色。
在第八时段T8，第一开关信号仍为低电平，第二开关信号变为低电平，根据图7所示的测试装置可知，此时晶体管TFT1、晶体管TFT2、晶体管TFT3、晶体管TFT4、晶体管TFT5和晶体管TFT6均导通。在T8中，第一测试信号、第二测试信号和第三测试信号均为第二高电平。由于第一测试信号为第二高电平，晶体管TFT1用第二高电平驱动第一像素P1，从而蓝色像素被点亮，晶体管TFT4用第二高电平驱动第二像素P2，从而红色像素被点亮。由于第二测试信号为第二高电平，晶体管TFT2也用第二高电平驱动第一像素P1，晶体管TFT3也用第二高电平驱动第二像素P2。由于第三测试信号为第二高电平，晶体管TFT5用第二高电平驱动第一子像素P31，晶体管TFT6用第二高电平驱动第二子像素P32，从而绿色像素被点亮。这时测试画面显示白色。
在第九时段T9，第一开关信号变为高电平，第二开关信号仍为低电平。根据图7所示的测试装置可知，此时晶体管TFT1和晶体管TFT3截止，晶体管TFT2、晶体管TFT4、晶体管TFT5和晶体管TFT6导通。在T9中，第一测试信号和第三测试信号为第二高电平，第二测试信号为低电平。由于第一测试信号为第二高电平，因此晶体管TFT4用第二高电平驱动第二像素P2，从而红色像素被点亮。由于第三测试信号为第二高电平，晶体管TFT5用第二高电平驱动第一子像素P31，晶体管TFT6用第二高电平驱动第二子像素P32，从而绿色像素被点亮。这时测试画面显示黄色。
在第十时段T10，第一开关信号仍为高电平，第二开关信号仍为低电平，因此晶体管TFT2、晶体管TFT4、晶体管TFT5和晶体管TFT6仍处于导通状态。在T10中，第一测试信号为低电平，第二测试信号和第三测试信号为第二高电平。由于第二测试信号为第二高电平，晶体管TFT2用第二高电平驱动第一像素P1，从而蓝色像素被点亮。由于第三测试信号为第二高电平，晶体管TFT5用第二高电平驱动第一子像素P31，晶体管TFT6用第二高电平驱动第二子像素P32，从而绿色像素被点亮。这时测试画面显示青色。
由此，通过控制第一开关信号、第二开关信号、第一测试信号、第二测试信号和第三测试信号的电平值，可使测试画面显示出不同的颜色。
需要说明的是，在图11所示实施例中，各时段没有先后顺序。可根据需要为第一开关信号、第二开关信号、第一测试信号、第二测试信号和第三测试信号设置相应的电平值。
至此，已经详细描述了本公开的实施例。为了避免遮蔽本公开的构思，没有描述本领域所公知的一些细节。本领域技术人员根据上面的描述，完全可以明白如何实施这里公开的技术方案。
虽然已经通过示例对本公开的一些特定实施例进行了详细说明，但是本领域的技术人员应该理解，以上示例仅是为了进行说明，而不是为了限制本公开的范围。本领域的技术人员应该理解，可在不脱离本公开的范围和精神的情况下，对以上实施例进行修改或者对部分技术特征进行等同替换。本公开的范围由所附权利要求来限定。

Claims (14)

1.一种测试装置，其特征在于，包括：
第一电路，与第一开关信号线、第二开关信号线和第一组测试信号线电连接，被配置为根据第一开关信号和第二开关信号的控制，利用第一组测试信号驱动第一像素发光；
第二电路，与第一开关信号线、第二开关信号线和第一组测试信号线电连接，被配置为根据第一开关信号和第二开关信号的控制，利用第一组测试信号驱动第二像素发光；
第三电路，与第一开关信号线或第二开关信号线电连接，并与第二组测试信号线电连接，被配置为根据第一开关信号或第二开关信号的控制，利用第二组测试信号驱动第三像素发光，其中，第一像素、第二像素和第三像素各不相同。
2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，
第一组测试信号线包括第一测试信号线和第二测试信号线。
3.根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于，所述第一电路包括：
第一开关，与第一开关信号线和第一测试信号线电连接，被配置为在所述第一开关信号的控制下，利用第一测试信号驱动所述第一像素发光；
第二开关，与第二开关信号线和第二测试信号线电连接，被配置为在所述第二开关信号的控制下，利用第二测试信号驱动所述第一像素发光。
4.根据权利要求3所述的测试装置，其特征在于，
所述第一开关和所述第二开关为开关晶体管。
5.根据权利要求4所述的测试装置，其特征在于，
所述第一开关的栅极与所述第一开关信号线电连接，所述第一开关的源极与所述第一测试信号线电连接，所述第一开关的漏极与所述第一像素电连接；
所述第二开关的栅极与所述第二开关信号线电连接，所述第二开关的源极与所述第二测试信号线电连接，所述第二开关的漏极与所述第一像素电连接。
6.根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于，所述第二电路包括：
第三开关，与所述第一开关信号线和第二测试信号线电连接，被配置为在所述第一开关信号的控制下，利用第二测试信号驱动所述第二像素发光；
第四开关，与所述第二开关信号线和第一测试信号线电连接，被配置为在所述第二开关信号的控制下，利用第一测试信号驱动所述第二像素发光。
7.根据权利要求6所述的测试装置，其特征在于，
所述第三开关和所述第四开关为开关晶体管。
8.根据权利要求7所述的测试装置，其特征在于，
所述第三开关的栅极与所述第一开关信号线电连接，所述第三开关的源极与所述第二测试信号线电连接，所述第三开关的漏极与所述第二像素电连接；
所述第四开关的栅极与所述第二开关信号线电连接，所述第四开关的源极与所述第一测试信号线电连接，所述第四开关的漏极与所述第二像素电连接。
9.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，
所述第三像素包括第一子像素和第二子像素。
10.根据权利要求9所述的测试装置，其特征在于，所述第三电路包括：
第五开关，与所述第一开关信号线或第二开关信号线电连接，并与所述第二组测试信号线电连接，被配置为在所述第一开关信号或第二开关信号的控制下，利用所述第二组测试信号驱动第一子像素发光；
第六开关，与和所述第五开关电连接的第一开关信号线或第二开关信号线电连接，并与所述第二组测试信号线电连接，被配置为在所述第一开关信号或第二开关信号的控制下，利用所述第二组测试信号驱动第二子像素发光。
11.根据权利要求10所述的测试装置，其特征在于，
所述第五开关和所述第六开关为开关晶体管。
12.根据权利要求11所述的测试装置，其特征在于，
所述第五开关的栅极与所述第一开关信号线或第二开关信号线电连接，所述第五开关的源极与所述第二组测试信号线电连接，所述第五开关的漏极与所述第一子像素电连接；
所述第六开关的栅极与所述第五开关的栅极电连接，所述第六开关的源极与所述第二组测试信号线电连接，所述第六开关的漏极与所述第二子像素电连接。
13.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，
第二组测试信号线包括第三测试信号线。
14.根据权利要求1-13中任一项所述的测试装置，其特征在于，
第一像素为蓝色像素；
第二像素为红色像素；
第三像素为绿色像素。
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