CN112885845A - 裂纹检测方法、显示基板及显示装置 - Google Patents

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CN112885845A CN202110055900.6A CN202110055900A CN112885845A CN 112885845 A CN112885845 A CN 112885845A CN 202110055900 A CN202110055900 A CN 202110055900A CN 112885845 A CN112885845 A CN 112885845A
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黄元麒
肖立
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Abstract

本申请公开了一种裂纹检测方法、显示基板及显示装置，属于显示技术领域。显示基板具有裂纹检测电路，可以实现裂纹检测功能。而且，该显示基板的裂纹检测电路具有两种不同的线路，因此可以支持两种裂纹检测方案。该显示基板用于显示装置。

Description

裂纹检测方法、显示基板及显示装置
技术领域
本申请涉及显示技术领域，特别涉及一种裂纹检测方法、显示基板及显示装置。
背景技术
随着显示技术的不断发展，显示面板已经得到了广泛的应用。
显示面板中的显示基板可以包括像素单元和驱动电路，由驱动电路驱动像素单元进行显示。
但是，显示基板容易出现裂纹，导致显示基板上的驱动电路受损，从而影响显示面板的显示效果。
发明内容
本申请提供了一种裂纹检测方法、显示基板及显示装置，可以对显示基板中的裂纹进行检测。所述技术方案如下：
第一方面，提供了一种显示基板，所述显示基板包括：衬底基板，以及位于所述衬底基板上的多条数据线和裂纹检测电路，所述衬底基板包括显示区域和围绕所述显示区域的周边区域，所述数据线至少部分位于所述显示区域；
所述裂纹检测电路具有第一线路和第二线路，其中，所述第一线路的两端均与控制器连接，所述第二线路的一端与所述控制器连接，另一端与所述多条数据线中的至少一条数据线连接。
可选地，所述裂纹检测电路包括：第一走线、第二走线和第三走线，所述第一走线的两端和所述第二走线的两端均与所述控制器连接，所述第一走线和所述第二走线通过所述第三走线连接；
所述至少一条数据线包括：至少一条第一数据线和至少一条第二数据线，所述第一走线与所述至少一条第一数据线连接，所述第二走线与所述至少一条第二数据线连接；
其中，所述第一走线与所述第三走线的第一连接处靠近所述第一走线的一端，所述第一走线与所述至少一条第一数据线的第二连接处靠近所述第一走线的另一端；所述第二走线与所述第三走线的第三连接处靠近所述第二走线的一端，所述第二走线与所述至少一条第二数据线的第四连接处靠近所述第二走线的另一端；
所述第一线路依次经过：所述第一走线的另一端、所述第一连接处、所述第三走线、所述第三连接处以及所述第二走线的另一端；
所述裂纹检测电路具有两条所述第二线路，一条所述第二线路依次经过：所述第一走线的一端、所述第一连接处以及所述第二连接处，另一条所述第二线路依次经过：所述第二走线的一端、所述第三连接处以及所述第四连接处。
可选地，所述显示基板还包括：所述控制器，所述控制器位于所述衬底基板上的所述周边区域，所述至少一条数据线从所述显示区域延伸至所述周边区域，并与所述控制器连接；
所述控制器被配置为以下至少一种：
在第一检测阶段，检测所述第一线路上的电阻，以及根据所述电阻确定所述显示基板中所述第一线路所经过的位置是否存在裂纹；
在第二检测阶段，通过所述第二线路向所述至少一条数据线提供数据信号。
可选地，所述显示基板还包括：所述控制器，所述控制器位于所述衬底基板上的所述周边区域，所述至少一条数据线从所述显示区域延伸至所述周边区域，并与所述控制器连接；所述控制器被配置为：
在第一检测阶段，控制所述第一走线的一端和所述第二走线的一端均处于高阻态，以及从所述第一走线的另一端和所述第二走线的另一端检测所述第一线路上的电阻，以及根据所述电阻确定所述显示基板中所述第一线路所经过的位置是否存在裂纹。
可选地，所述显示基板还包括：所述控制器，所述控制器位于所述衬底基板上的所述周边区域，所述至少一条数据线从所述显示区域延伸至所述周边区域，并与所述控制器连接；所述控制器被配置为：
在第二检测阶段，控制所述第一走线的另一端和所述第二走线的另一端均处于所述高阻态，以及向所述第一走线的一端和所述第二走线的一端提供所述数据信号。
可选地，所述第一走线经过所述显示区域的第一侧和第二侧，所述第二走线经过所述显示区域的所述第二侧和所述第三侧，所述第三走线位于所述显示区域的第四侧；其中，所述第一侧和所述第三侧相对，所述第二侧与所述第四侧相对。
可选地，所述第一走线和所述第二走线在参考平面上的正投影存在重叠，所述参考平面与所述第二侧到第四侧的方向交叉。
可选地，所述显示基板还包括：控制线，所述第一数据线对应的第一开关组件，以及所述第二数据线对应的第二开关组件；
所述控制线、所述第一开关组件和所述第二开关组件均位于所述衬底基板上；所述第一数据线通过对应的第一开关组件与所述第一走线连接，所述第二数据线通过对应的第二开关组件与所述第二走线连接，所述控制线与所述第一开关组件以及所述第二开关组件均连接，所述控制线的两端与所述控制器连接；
所述控制器被配置为：
在所述第一检测阶段，向所述控制线提供第一信号，所述第一信号用于使所述控制线连接的开关组件处于关闭状态；
在所述第二检测阶段，向所述控制线提供第二信号，所述第二信号用于使所述控制线连接的开关组件均处于开启状态。
可选地，所述多条数据线还包括：除所述至少一条数据线之外的至少一条第三数据线，所述第三数据线至少部分位于所述显示区域，所述显示基板还包括：所述第三数据线对应的第三开关组件；
所述第三开关组件位于所述衬底基板上，且所述第三数据线通过对应的第三开关组件与所述第三走线连接，所述控制线还与所述第三开关组件连接。
可选地，所述第一开关组件、所述第二开关组件和所述第三开关组件均为薄膜晶体管。
可选地，所述控制器为驱动集成电路IC。
第二方面，提供了一种显示基板的制造方法，用于制造上述第一方面所述的显示基板，所述方法包括：
提供衬底基板；
在所述衬底基板上形成多条数据线和裂纹检测电路；
其中，所述衬底基板包括显示区域和围绕所述显示区域的周边区域，所述数据线至少部分位于所述显示区域；所述裂纹检测电路具有第一线路和第二线路，所述第一线路的两端均与控制器连接，所述第二线路的一端与所述控制器连接，另一端与所述多条数据线中的至少一条数据线连接。
可选地，在所述提供衬底基板之后，所述方法还包括：
在所述衬底基板上设置所述控制器。
可选地，所述裂纹检测电路包括：第一走线、第二走线和第三走线，所述第一走线的两端和所述第二走线的两端均与所述控制器连接，所述第一走线和所述第二走线通过所述第三走线连接；
所述至少一条数据线包括：至少一条第一数据线和至少一条第二数据线，所述第一走线与所述至少一条第一数据线连接，所述第二走线与所述至少一条第二数据线连接；
其中，所述第一走线与所述第三走线的第一连接处靠近所述第一走线的一端，所述第一走线与所述至少一条第一数据线的第二连接处靠近所述第一走线的另一端；所述第二走线与所述第三走线的第三连接处靠近所述第二走线的一端，所述第二走线与所述至少一条第二数据线的第四连接处靠近所述第二走线的另一端；
所述第一线路依次经过：所述第一走线的另一端、所述第一连接处、所述第三走线、所述第三连接处以及所述第二走线的另一端；
所述裂纹检测电路具有两条所述第二线路，一条所述第二线路依次经过：所述第一走线的一端、所述第一连接处以及所述第二连接处，另一条所述第二线路依次经过：所述第二走线的一端、所述第三连接处以及所述第四连接处；
在所述提供衬底基板之后，所述方法还包括：
在所述衬底基板上形成控制线，所述第一数据线对应的第一开关组件，以及所述第二数据线对应的第二开关组件；
其中，所述第一数据线通过对应的第一开关组件与所述第一走线连接，所述第二数据线通过对应的第二开关组件与所述第二走线连接，所述控制线与所述第一开关组件以及所述第二开关组件均连接，所述控制线的两端与所述控制器连接。
可选地，所述多条数据线还包括：除所述至少一条数据线之外的至少一条第三数据线，在所述提供衬底基板之后，所述方法还包括：
在所述衬底基板上形成所述第三数据线对应的第三开关组件；
其中，所述第三数据线通过对应的第三开关组件与所述第三走线连接，所述控制线还与所述第三开关组件连接。
第三方面，提供了一种裂纹检测方法，所述方法用于上述第一方面所述的显示基板中裂纹检测电路连接的控制器，所述方法包括：
第一检测阶段和第二检测阶段中至少一个阶段的检测方法；
其中，所述第一检测阶段的检测方法包括：检测所述第一线路上的电阻，以及根据所述电阻确定所述显示基板中所述第一线路所经过的位置是否存在裂纹；
所述在第二检测阶段的检测方法包括：通过所述第二线路向所述至少一条数据线提供数据信号。
可选地，所述裂纹检测电路包括：第一走线、第二走线和第三走线；
所述第一检测阶段的检测方法还包括：控制所述第一走线的一端和所述第二走线的一端均处于高阻态；
所述第二检测阶段的检测方法还包括：控制所述第一走线的另一端和所述第二走线的另一端均处于所述高阻态；
检测所述第一线路上的电阻，包括：从所述第一走线的另一端和所述第二走线的另一端检测所述第一线路上的电阻；
通过所述第二线路向所述至少一条数据线提供数据信号，包括：向所述第一走线的一端和所述第二走线的一端提供所述数据信号。
可选地，所述的显示基板包括：控制线，至少一个第一开关组件，以及至少一个第二开关组件；
所述第一检测阶段的检测方法还包括：向所述控制线提供第一信号，所述第一信号用于使所述控制线连接的开关组件处于关闭状态；
所述第二检测阶段的检测方法还包括：向所述控制线提供第二信号，用于使所述控制线连接的开关组件处于开启状态。
第四方面，提供了一种裂纹检测装置，用于上述第一方面所述的显示基板中裂纹检测电路连接的控制器，所述裂纹检测装置包括：检测模块和第一信号提供模块中的至少一个模块；
所述检测模块，用于在第一检测阶段，检测所述第一线路上的电阻，以及根据所述电阻确定所述显示基板中所述第一线路所经过的位置是否存在裂纹；
所述第一信号提供模块，用于在第二检测阶段，通过所述第二线路向所述至少部分数据线提供数据信号。
可选地，当所述裂纹检测装置包括：所述检测模块时，所述裂纹检测装置还包括：第一控制模块，用于在所述第一检测阶段，控制所述第一走线的一端和所述第二走线的一端均处于高阻态；所述检测模块，用于从所述第一走线的另一端和所述第二走线的另一端检测所述第一线路上的电阻。
当所述裂纹检测装置包括：所述第一信号提供模块时，所述裂纹检测装置还包括：第二控制模块，用于在所述第二检测阶段，控制所述第一走线的另一端和所述第二走线的另一端均处于所述高阻态；所述第一信号提供模块，用于向所述第一走线的一端和所述第二走线的一端提供所述数据信号。
可选地，当所述裂纹检测装置包括：所述检测模块时，所述裂纹检测装置还包括：第二信号提供模块，用于在所述第一检测阶段，向所述控制线提供第一信号，所述第一信号用于使所述控制线连接的开关组件处于关闭状态。
当所述裂纹检测装置包括：所述第一信号提供模块时，所述裂纹检测装置还包括：第三信号提供模块，用于在所述第二检测阶段，向所述控制线提供第二信号，所述第二信号用于使所述控制线连接的开关组件均处于开启状态。
第五方面，提供了一种芯片，所述芯片用于控制器，所述芯片包括可编程逻辑电路和/或程序指令，当所述芯片运行时用于实现如上述第二方面所述的裂纹检测方法。
第六方面，本申请实施例提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质中存储有指令，当所述计算机可读存储介质在处理组件上运行时，使得所述处理组件执行上述实施例中由控制器实现的步骤，或者由所述芯片实现的步骤。
第七方面，提供了一种包含指令的计算机程序产品，当所述计算机程序产品在计算机上运行时，使得计算机执行第二方面提供的任一裂纹检测方法。
第八方面，提供了一种显示装置，所述显示装置包括上述第一方面所述的显示基板。
本申请提供的技术方案带来的有益效果至少可以包括：
本申请实施例提供了一种显示基板，该显示基板具有裂纹检测电路，可以实现裂纹检测功能。而且，该显示基板的裂纹检测电路具有两种不同的线路，因此可以支持两种裂纹检测方案。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本申请实施例提供的一种显示基板的结构示意图；
图2是本申请实施例提供的另一种显示基板的结构示意图；
图3是本申请实施例提供的又一种显示基板的结构示意图；
图4是本申请实施例提供的一种裂纹检测电路的结构示意图；
图5是本申请实施例提供的另一种裂纹检测电路的结构示意图；
图6是本申请实施例提供的再一种显示基板的结构示意图；
图7是本申请实施例提供的再一种显示基板的结构示意图；
图8是本申请实施例提供的一种显示基板的制造方法的流程图；
图9是本申请实施例提供的另一种显示基板的制造方法的流程图；
图10是本申请实施例提供的一种裂纹检测方法的流程图；
图11是本申请实施例提供的另一种裂纹检测方法的流程图；
图12是本申请实施例提供的一种裂纹检测装置的结构示意图。
具体实施方式
为使本申请的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本申请实施方式作进一步地详细描述。
图1为本申请实施例提供的一种显示基板的结构示意图，参见图1，该显示基板可以包括：衬底基板01，以及位于衬底基板01上的多条数据线02和裂纹检测电路，衬底基板包括显示区域F和围绕显示区域的周边区域N，数据线至少部分位于显示区域F。
裂纹检测电路具有第一线路x和第二线路y，其中，第一线路x的两端均可以与控制器连接，第二线路y的一端可以与控制器连接，另一端可以与多条数据线02中的至少一条数据线02连接。
示例地，如图1所示，衬底基板01的中间区域为显示区域F，显示区域F外围的区域为周边区域N。本申请实施例对裂纹检测电路在衬底基板01上的位置不作限定，图1中以裂纹检测电路中的第一线路x和第二线路y均位于衬底基板01的周边区域N为例。可选地，该第一线路x和第二线路y也可以位于衬底基板01的显示区域F，或者，该第一线路x和第二线路y也可以一部分位于衬底基板01的显示区域F，另一部分位于衬底基板01的周边区域N。图1中示出了三条数据线，数据线的一部分位于显示区域F内，另一部分延伸至周边区域N。第一线路x的两端以及第二线路y的一端与控制器连接，第二线路y的另一端与该三条数据线延伸至周边区域与N的一端连接。
应理解的是，图1中仅示出了与第二线路y连接的三条数据线，该显示基板中的多条数据线还可以包括除这三条数据线之外的其他数据线，图1中未示出该其他数据线。显示基板中与第二线路y连接的数据线的条数也可以不等于三，比如，该条数还可以为二、四、七或十等，本申请实施例对此不作限定。
需要说明的是，图1中并未示出裂纹检测电路的具体走线，第一线路x和第二线路y仅为裂纹检测电路中的两条通路。第一线路x和第二线路y可以为裂纹检测电路中两条相互独立的走线，或者，第一线路x和第二线路y也可以共用部分走线，本申请对此不做限定。
还需说明的是，裂纹检测电路中可以包括至少一条第一线路x和至少一条第二线路y，对于第一线路x和第二线路y的个数，本申请对此不做限定。
上述实施例中以显示基板不包括控制器为例，可选地，显示基板也可以包括该控制器。示例地，图2为本申请实施例提供的另一种显示基板的结构示意图，如图2所示，该显示基板还可以包括：控制器03，该控制器03可以位于衬底基板01上。
控制器03可以被配置为具有第一检测阶段和第二检测阶段中至少一个检测阶段的功能。
一方面，控制器在第一检测阶段的功能包括：检测第一线路x上的电阻(比如检测第一线路x的两端之间的电阻)，以及根据电阻确定显示基板中第一线路x所经过的位置是否存在裂纹。
由于在显示基板中第一线路x所经过的位置不存在裂纹时，第一线路x导通，第一线路x上的电阻会小于电阻阈值；而显示基板中第一线路x所经过的位置的裂纹会导致第一线路x断路，第一线路x上的电阻就会超过该电阻阈值。因此，若控制器03检测出的第一线路x上的电阻大于电阻阈值，则可以确定显示基板中第一线路x经过的位置存在裂纹；若控制器03检测出的电阻小于等于电阻阈值，则可以确定显示基板中第一线路x经过的位置不存在裂纹。
另一方面，控制器在第二检测阶段的功能包括：通过第二线路y向该第二线路y连接的上述至少一条数据线02提供数据信号。
示例地，假设与数据线连接的像素单元在接收到高电压的数据信号时不发光，在未接收到高电压的数据信号时发光。那么在第二检测阶段，控制器03可以向第二线路y中与控制器03连接的一端提供高电压的数据信号(比如电压为7V的数据信号)。如果显示基板中第二线路y所经过的位置不存在裂纹，则高电压信号能够通过该第二线路y传输至该第二线路y连接的数据线，进而使得该数据线连接的像素单元列不发光，该像素单元列表现为暗线。如果显示基板中第二线路y所经过的位置存在裂纹，则高电压信号无法通过该第二线路y传输至该第二线路y连接的数据线，从而该数据线连接的像素单元列可以发光，该像素单元列表现为亮线。因此，用户可以通过观察显示区域中第二线路y连接的数据线所连接的像素单元列是否表现为亮线，来判断第二线路y所经过的位置是否存在裂纹。
需要说明的是，与数据线连接的像素单元在接收到高电压的数据信号时是否发光，这与像素单元的结构相关。与数据线连接的像素单元在接收到高电压的数据信号时也可以发光，而在未接收到高电压的数据信号时可以不发光，本申请实施例对此不做限定。假设与数据线连接的像素单元在接收到高电压的数据信号时也可以发光，而在未接收到高电压的数据信号时可以不发光。如果显示基板中第二线路y所经过的位置不存在裂纹，则数据线连接的像素单元列表现为亮线；如果显示基板中第二线路y所经过的位置存在裂纹，则数据线连接的像素单元列表现为暗线。该场景下，用户可以通过观察显示区域中第二线路y连接的数据线所连接的像素单元列是否表现为暗线，来判断第二线路y所经过的位置是否存在裂纹。
上述裂纹检测电路可以有多种实现方式，以下将以其中的一种实现方式为例进行讲解。
可选地，图3为本申请实施例提供的又一种显示基板的结构示意图，如图3所示，在图2所示的显示基板的基础上，显示基板中的裂纹检测电路可以包括：第一走线04、第二走线05和第三走线06，第一走线04的两端和第二走线05的两端均与控制器03连接，第一走线04和第二走线05通过第三走线06连接。
第二线路y连接的上述至少一条数据线02可以包括：至少一条第一数据线021和至少一条第二数据线022，第一走线04与至少一条第一数据线021连接，第二走线05与至少一条第二数据线022连接。
其中，第一走线04与第三走线06的第一连接处e靠近第一走线04的一端a，第一走线04与至少一条第一数据线021的第二连接处靠近第一走线04的另一端b。第二走线05与第三走线06的第三连接处f靠近第二走线05的一端c，第二走线05与至少一条第二数据线022的第四连接处靠近第二走线05的另一端d。
示例地，图3中示出了三条第一数据线021和三条第二数据线022，三条第一数据线021与第一走线04的第二连接处包括：连接处g1、连接处g2和连接处g3，g1、g2和g3均靠近第一走线04的另一端b；三条第二数据线022与第二走线05的第四连接处包括：连接处h1、连接处h2和连接处h3，h1、h2和h3均靠近第二走线04的另一端d。
裂纹检测电路可以具有第一线路x，图4为该裂纹检测电路中第一线路x的示意图。如图4所示，第一线路x依次经过：第一走线的另一端b、第一连接处e、第三走线06、第三连接处f以及第二走线的另一端d。
裂纹检测电路还可以具有两条第二线路，图5为该裂纹检测电路中第二线路y的示意图。如图5所示，一条第二线路y1依次经过：第一走线的一端a、第一连接处e以及第二连接处(包括：g1、g2和g3)，另一条第二线路y2依次经过：第二走线的一端c、第三连接处f以及第四连接处(包括：h1、h2和h3)。
图3所示的裂纹检测电路的走线设置方式，使得裂纹检测电路可以同时具有第一线路和第二线路两种线路。并且，第一线路和第二线路共用部分走线，优化了裂纹检测电路的走线布局，减少了布线长度。
此外，请参考图5，裂纹检测电路中的两条第二线路y1和y2经过显示基板中的不同位置，而且第一数据线021与第一线路y1连接，第二数据线022与第二线路y2连接。因此，控制器可以在上述第二检测阶段，通过第二线路y1向该第二线路y1连接的第一数据线021提供数据信号，以检测显示基板中第一数据线021所经过的位置是否存在裂纹。控制器还可以在第二检测阶段，通过第二线路y2向该第二线路y2连接的第二数据线022提供数据信号，以检测显示基板中第二数据线022所经过的位置是否存在裂纹。这样一来，便可以实现检测显示基板中的多个位置是否存在裂纹，从而能够定位裂纹在显示基板上的位置。
示例地，假设与数据线连接的像素单元在接收到高电压的数据信号时不发光，在未接收到高电压的数据信号时发光。控制器在第二检测阶段，通过第二线路y1向第一数据线021提供数据信号，以及通过第二线路y2向第二数据线022提供数据信号。此时，若第一数据线021连接的像素单元列发光，且第二数据线022连接的像素单元列不发光，则表明显示基板中第一数据线021连接的第二线路y1所经过的位置存在裂纹，显示基板中第二数据线022连接的第二线路y2所经过的位置不存在裂纹。
在裂纹检测电路如图3所示时，控制器03可以被配置为：在第一检测阶段，控制第一走线04的一端a和第二走线05的一端c均处于高阻态，以及从第一走线04的另一端b和第二走线05的另一端d检测第一线路x上的电阻，以及根据所述电阻确定所述显示基板中所述第一线路所经过的位置是否存在裂纹。高阻态指的是电路的一种输出状态，处于高阻态的端子对连接的电路无任何影响，也就是说高阻态可以认为是断路状态。
示例地，控制器03可以在第一检测阶段，向第一走线04的一端a和第二走线05的一端c提供方波信号，该方波信号具有高阻抗，使得第一走线04的一端a和第二走线05的一端c处于高阻态。进一步的，控制器03可以检测第一走线04的另一端b和第二走线05的另一端d之间的电阻，该电阻即为第一线路x上的电阻。当第一走线04的一端a和第二走线05的一端c处于高阻态时，第一走线04的一端a与第一连接处e之间断路，第二走线05的一端c与第三连接处f断路。可以参考图4，此时，裂纹检测电路中仅第一线路x导通，从而可以通过第一线路x进行裂纹检测。
在裂纹检测电路如图3所示时，控制器03可以被配置为：在第二检测阶段，控制第一走线04的另一端b和第二走线05的另一端d均处于高阻态，以及向第一走线04的一端a和第二走线05的一端c提供数据信号。
示例地，控制器03可以在第二检测阶段，向第一走线04的另一端b和第二走线05的另一端d提供方波信号，使得第一走线04的另一端b和第二走线05的另一端d处于高阻态，并可以向第一走线04的一端a和第二走线05的一端c提供数据信号，使得该数据信号沿着第二线路传输至第一数据线021和第二数据线022。当第一走线04的另一端b和第二走线05的另一端d处于高阻态时，第一走线04的另一端b和第二连接处之间断路，第二走线05的另一端d和第四连接处断路。可以参考图5，此时，裂纹检测电路中仅第二线路导通，从而可以通过第二线路进行裂纹检测。
可选地，第一走线04经过显示区域F的第一侧和第二侧，第二走线05经过显示区域F的第二侧和第三侧，第三走线06位于显示区域F的第四侧。其中，第一侧和第三侧相对，第二侧与第四侧相对。
示例地，如图3所示，控制器03位于显示区域F的下侧(即第四侧)，第三走线06也位于显示区域F的下侧，并处在显示区域F和控制器03之间。第一走线04的两端a和b连接在控制器03的左半部分，第一走线04包围显示区域F左侧(即第一侧)的全部区域，以及显示区域F上侧(第二侧)的部分区域。第二走线05的两端c和d连接在控制器03的右半部分，第二走线05包围显示区域F右侧(即第三侧)的全部区域，以及显示区域F上侧(第二侧)的部分区域。
可选地，第一走线04和第二走线05在参考平面上的正投影存在重叠，该参考平面与第二侧到第四侧的方向交叉(如垂直)。
示例地，如图3所示，衬底基板01的上方具有参考平面G，该参考平面垂直于衬底基板01，且垂直于第二侧到第四侧的方向。第一走线04在参考平面G上具有第一投影，第二走线05在参考平面G上具有第二投影，该第一投影和该第二投影存在重叠。可以看出，第一走线04和第二走线05共同包围了显示区域F上侧的全部区域，从而可以确保对显示区域F上侧实现完整的裂纹检测。
可选地，图6是本申请实施例提供的再一种显示基板的结构示意图，参考图6，在图3的基础上，显示基板还可以包括：控制线07，第一数据线021对应的第一开关组件081，以及第二数据线022对应的第二开关组件082。
控制线07、第一开关组件081和第二开关组件082均位于衬底基板01上；第一数据线04通过对应的第一开关组件081与第一走线04连接，第二数据线022通过对应的第二开关组件082与第二走线05连接，控制线07与第一开关组件081以及第二开关组件082均连接，控制线07的两端与控制器03连接。
示例地，如图6所示，显示基板具有三条第一数据线021，以及与该三条第一数据线021一一对应的三个第一开关组件081，每条第一数据线021均通过对应的第一开关组件081和第一走线04连接。显示基板还具有三条第二数据线022和与该三条第二数据线022一一对应的三个第二开关组件082，每条第二数据线022均通过对应的第二开关组件082和第二走线05连接。第一开关组件081和第二开关组件082位于显示区域F和第三走线06之间。
控制器03被配置为：在第一检测阶段，向控制线07提供第一信号，第一信号用于使控制线07连接的开关组件(包括第一开关组件081和第二开关组件082)处于关闭状态；在第二检测阶段，向控制线07提供第二信号，第二信号用于使控制线07连接的开关组件均处于开启状态。在第一检测阶段关闭开关组件，可以避免数据线对第一线路上电阻的影响；在第二检测阶段开启开关组件，可以使得第二线路导通，实现通过第二线路进行裂纹检测。
可选地，多条数据线02还可以包括：除了与第二线路y连接的至少一条数据线之外的至少一条第三数据线023，显示基板还包括：与至少一条第三数据线023一一对应的至少一个第三开关组件083。第三开关组件083位于衬底基板上01，且每条第三数据线023通过对应的第三开关组件083与第三走线06连接，控制线07还与每个第三开关组件083连接。
由于第三数据线023与第三走线06连接，而第三走线06的一端连接在靠近第一走线04一端a的第一连接处e，第三走线06的另一端连接在靠近第二走线05一端c的第三连接处f。从而，在第二检测阶段，控制器03提供给第一走线04一端a的数据信号，可以在第一连接处e沿着第三走线06传输至第三数据线023，控制器03提供给第二走线05一端c的数据信号，可以在第三连接处f沿着第三走线06传输至第三数据线023。可以看出，无论第一走线04包围的显示区域的第一侧和第二侧，以及第二走线05包围的显示区域的第二侧和第三侧是否存在裂纹导致走线断路，控制器03提供的数据信号均可以传输至第三数据线023。
假设与数据线连接的像素单元在接收到高电压的数据信号时不发光，在未接收到高电压的数据信号时发光，并且，在第二检测阶段，控制器03提供给第一走线04一端a的数据信号为高压信号(比如电压为7V的数据信号)。在显示区域的第一侧、第二侧或第三侧存在裂纹时，与第三数据线023连接的像素单元能够接收到控制器03提供的高压信号而不发光，第三数据线023连接的像素单元列呈暗线；而与第一数据线021或者第二数据线022连接的像素单元无法接收到控制器03提供的高压信号，因此会发光，第一数据线021或者第二数据线022连接的像素单元列呈亮线。从而，在显示区域的第一侧、第二侧或第三侧存在裂纹时，显示区域中会形成亮线和暗线的显示差异，整个显示区域显示亮暗条纹。在显示区域中并不存在裂纹时，显示区域中每个像素单元列均呈暗线，此时整个显示区域呈暗态。所以，用户可以通过观察显示区域是否显示亮暗条纹，来判断显示基板中是否存在裂纹。
示例地，如图6所示，显示区域除了三条第一数据线021和三条第二数据线022之外，还示出了九条第三数据线023。并且，显示区域的第一数据线021、第二数据线022和第三数据线023均匀间隔排布，从左到右依次为：三条第三数据线023、三条第一数据线021、三条第三数据线023、三条第二数据线022和三条第三数据线023。由此，若显示区域的第一侧、第二侧或第三侧存在裂纹时，九条第三数据线023连接的像素单元均不发光，则该九条第三数据线023连接的像素单元列呈暗线。而三条第一数据线021或者三条第二数据线022连接的像素单元会发光，三条第一数据线021或者三条第二数据线022连接的像素单元列呈亮线。从而三条第一数据线021或者三条第二数据线022连接的像素单元列，会与第三数据线023连接的像素单元列，形成明显的亮暗差异，使得显示异常更容易被观察到。
可选地，参考图7，第一开关组件081、第二开关组件082和第三开关组件083均可以为薄膜晶体管。使用薄膜晶体管来作为开关组件，使得开关组件可以与像素单元中的薄膜晶体管同时制成，简化制造工艺。
示例地，以第一开关组件081、第二开关组件082和第三开关组件083均为P型薄膜晶体管为例。P型薄膜晶体管可以在高电压信号作用下关闭，在低电压信号下导通，该高电压信号的电压高于该低电压信号的电压。从而，在第一检测阶段，控制器03向控制线07的两端提供的第一信号可以为高电压信号，使得每个开关组件均断开；在第二检测阶段，控制器03向控制线07的两端提供的第二信号可以为低电压信号，使得每个开关组件均导通。需要说明的是，开关组件也可为N型薄膜晶体管，N型薄膜晶体管可以在高电压信号作用下导通，在低电压信号下关闭，实施过程此处不再赘述。
可选地，控制器03为驱动IC。由于驱动IC上具有很多空闲的端口，因此采用驱动IC作为控制器03可以简化工艺。当然，控制器也可以不是驱动IC，本申请实施例对此不做限定。
需要说明的是，驱动IC可以与衬底基板上的至少部分数据线连接，比如驱动IC与每条数据线均连接(附图中未示出)；或者，驱动IC可以与上述第一数据线081、第二数据线082和第三数据线083连接，与除第一数据线081、第二数据线082和第三数据线083之外的数据线(比如虚拟数据(dummy data)线)不连接(附图中未示出)。其中，驱动IC与数据线可以直接连接，也可以通过其他电路(如数据选择器(multiplexer，MUX))连接，本申请对此不做限定。从而，在上述第一检测阶段和第二检测阶段，驱动IC需要控制驱动IC中与数据线的连接处均处于高阻态，以使驱动IC与其连接的数据线断路。
综上所述，本申请实施例提供了一种显示基板，该显示基板具有裂纹检测电路，可以实现裂纹检测功能。而且，该显示基板的裂纹检测电路具有两种不同的线路，因此可以支持两种裂纹检测方案。
并且，两种不同的线路共用裂纹检测电路中的部分走线，使得一套走线可以同时具有两种不同的线路，从而该同一套走线可以支持两种裂纹检测方案。
此外，裂纹检测电路可以具有两条位置不同的第二线路，从而可以根据不同第二线路连接的不同数据线，来判断裂纹的位置。
本申请实施例提供了一种显示基板的制造方法，用于制造上述实施例提供的显示基板，图8为该显示基板的制造方法的流程图，如图8所示，该方法可以包括：
步骤101、提供衬底基板。
衬底基板包括显示区域和围绕显示区域的周边区域。
步骤102、在衬底基板上形成多条数据线和裂纹检测电路。
数据线的至少部分位于显示区域内。裂纹检测电路具有第一线路和第二线路，其中，第一线路的两端均与控制器连接，第二线路的一端与控制器连接，另一端与多条数据线中的至少一条数据线连接。
综上所述，本申请实施例提供了一种显示基板的制造方法，通过该方法制造出的显示基板具有裂纹检测电路，可以对显示基板进行裂纹检测。并且裂纹检测电路具有不同的线路，可以支持不同的裂纹检测方案。
本申请实施例提供了另一种显示基板的制造方法，用于制造上述实施例提供的显示基板，图9为该显示基板的制造方法的流程图，如图9所示，该方法可以包括：
步骤201、提供衬底基板。
衬底基板包括显示区域和围绕显示区域的周边区域。
步骤202、在衬底基板上设置控制器。
步骤203、在衬底基板上形成多条数据线和裂纹检测电路。
该多条数据线至少部分位于所述显示区域。裂纹检测电路包括：第一走线、第二走线和第三走线，第一走线的两端和第二走线的两端均与控制器连接，第一走线和第二走线通过第三走线连接。
至少一条数据线包括：至少一条第一数据线和至少一条第二数据线，第一走线与至少一条第一数据线连接，第二走线与至少一条第二数据线连接。
其中，第一走线与第三走线的第一连接处靠近第一走线的一端，第一走线与至少一条第一数据线的第二连接处靠近第一走线的另一端。第二走线与第三走线的第三连接处靠近第二走线的一端，第二走线与至少一条第二数据线的第四连接处靠近第二走线的另一端。
需要说明的是，第一走线、第二走线和第三走线可以位于同一层，也可以不在同一层；第一走线、第二走线和第三走线可以与数据线位于同一层，也可不在同一层；第一走线、第二走线和第三走线可以与栅线位于同一层，也可不在同一层，本申请对此均不作限定。
可选地，多条数据线还包括：除至少一条数据线之外的至少一条第三数据线。
步骤204、在衬底基板上形成控制线，第一数据线对应的第一开关组件，以及第二数据线对应的第二开关组件。
其中，第一数据线通过对应的第一开关组件与第一走线连接，第二数据线通过对应的第二开关组件与第二走线连接，控制线与第一开关组件以及第二开关组件均连接，控制线的两端与控制器连接。
需要说明的是，控制线可以与第一走线、第二走线和第三走线位于同一层，也可以不在同一层；控制线可以与数据线位于同一层，也可不在同一层；控制线可以与栅线位于同一层，也可不在同一层，本申请对此均不作限定。
步骤205、在衬底基板上形成第三数据线对应的第三开关组件。
其中，第三数据线通过对应的第三开关组件与第三走线连接，控制线还与第三开关组件连接。
需要说明的是，第三开关组件也可以与第二开关组件和第一开关组件同时形成。
还需要说明的是，开关组件为薄膜晶体管时，开关组件(如上述第一开关组件、第二开关组件和/或第三开关组件)可以与像素单元中的薄膜晶体管同层形成。
综上所述，本申请实施例提供了一种显示基板的制造方法，通过该方法制造出的显示基板具有裂纹检测电路，可以对显示基板进行裂纹检测。并且裂纹检测电路具有不同的线路，可以支持不同的裂纹检测方案。
本申请实施例提供了一种裂纹检测方法，该方法可以应用于上述实施例提供的显示基板中的控制器，图10为本申请实施例提供的一种裂纹检测方法的流程图，参考图10，该方法可以包括：
步骤301、在第一检测阶段，检测第一线路上的电阻，以及根据电阻确定显示基板中第一线路所经过的位置是否存在裂纹。
步骤302、在第二检测阶段，通过第二线路向至少一条数据线提供数据信号。
步骤301的内容可以参考上述实施例中控制器03在第一检测阶段执行的功能的相关描述，步骤302的内容可以参考上述实施例中控制器03在第二检测阶段执行的功能的相关描述。
上文以该裂纹检测方法包括步骤301和步骤302为例，需要说明的是，本申请实施例提供的一种裂纹检测方法也可以仅包括上述步骤301和步骤302中的一种。
综上所述，本申请实施例提供了一种裂纹检测方法，该方法应用于显示基板中的控制器。一方面，可以通过检测第一线路上的电阻，并根据电阻来判断显示基板中第一线路所经过的位置是否存在裂纹。另一方面，可以向至少一条数据线提供数据信号，此时，用户可以通过观察该至少一条数据线连接的像素单元是否正常显示来判断第二线路所经过的位置是否存在裂纹。由此可知，该方法实现了对显示基板的裂纹检测。
并且，可以在不同的检测阶段执行不同的裂纹检测方法，使得显示基板可以同时支持两种裂纹检测方案。
本申请实施例提供了另一种裂纹检测方法，该方法可以用于上述实施例提供的显示基板中的控制器。图11是本申请实施例提供的另一种裂纹检测方法的流程图，参考图11，该方法可以包括：
步骤401、在第一检测阶段，控制第一走线的一端和第二走线的一端均处于高阻态。
步骤402、在第一检测阶段，向控制线提供第一信号，第一信号用于使控制线连接的开关组件处于关闭状态。
步骤403、在第一检测阶段，从第一走线的另一端和第二走线的另一端检测第一线路上的电阻，并根据电阻确定显示基板中第一线路所经过的位置是否存在裂纹。
步骤404、在第二检测阶段，控制第一走线的另一端和第二走线的另一端均处于高阻态。
步骤405、在第二检测阶段，向控制线提供第二信号，用于使控制线连接的开关组件处于开启状态。
步骤406、在第二检测阶段，向第一走线的一端和第二走线的一端提供数据信号。
步骤401至403的内容可以参考上述实施例中控制器03在第一检测阶段执行的功能的相关描述，步骤404至406的内容可以参考上述实施例中控制器03在第二检测阶段执行的功能的相关描述。
上文以该裂纹检测方法包括步骤401至步骤406为例，需要说明的是，该裂纹检测方法也可以仅包括在第一检测阶段的检测方法(如步骤401至403)，或者仅包括在第二检测阶段的检测方法(如步骤404至406)。
综上所述，本申请实施例提供了一种裂纹检测方法，该方法应用于显示基板中的控制器。一方面，可以通过检测第一线路上的电阻，并根据电阻来判断显示基板中第一线路所经过的位置是否存在裂纹。另一方面，可以向至少一条数据线提供数据信号，通过观察该至少一条数据线对应的像素单元是否正常显示来判断第二线路所经过的位置是否存在裂纹。由此可知，该方法实现了对显示基板的裂纹检测。
并且，可以在不同的检测阶段执行不同的裂纹检测方法，使得显示基板可以同时支持两种裂纹检测方案。
还需要说明的是，本申请实施例提供的裂纹检测方法的步骤的先后顺序可以进行适当调整，比如，上述步骤401和步骤402的顺序可以调换。步骤也可以根据情况进行相应增减，比如，步骤402也可以删除，也即是在第一检测阶段，开关组件也可以开启，不影响对第一线路上电阻的检测。任何熟悉本技术领域的技术人员在本申请揭露的技术范围内，可轻易想到变化的方法，都应涵盖在本申请的保护范围之内，因此不再赘述。
本申请实施例提供了一种裂纹检测装置，用于上述实施例提供的任一的显示基板中的控制器，图12为裂纹检测装置的结构示意图，如图12所示，该裂纹检测装置可以包括：检测模块501和第一信号提供模块502中的至少一个模块。图12中以裂纹检测装置包括检测模块501和第一信号提供模块502为例。
检测模块501，用于在第一检测阶段，检测第一线路上的电阻，以及根据电阻确定显示基板中第一线路所经过的位置是否存在裂纹。
第一信号提供模块502，用于在第二检测阶段，通过第二线路向至少一条数据线提供数据信号。
可选地，当裂纹检测装置包括检测模块时，裂纹检测装置还包括：第一控制模块(图12中未示出)，用于在第一检测阶段，控制第一走线的一端和第二走线的一端均处于高阻态。检测模块501，用于从第一走线的另一端和第二走线的另一端检测第一线路上的电阻。
当裂纹检测装置包括第一信号提供模块时，裂纹检测装置还包括：第二控制模块(图12中未示出)，用于在第二检测阶段，控制第一走线的另一端和第二走线的另一端均处于高阻态。上述第一信号提供模块用于向第一走线的一端和第二走线的一端提供数据信号。
可选地，当裂纹检测装置包括检测模块时，裂纹检测装置还包括：第二信号提供模块(图12中未示出)，用于在第一检测阶段，向控制线提供第一信号，第一信号用于使控制线连接的开关组件处于关闭状态。
当裂纹检测装置包括第一信号提供模块时，裂纹检测装置还包括：第三信号提供模块(图12中未示出)，用于在第二检测阶段，向控制线提供第二信号，第二信号用于使控制线连接的开关组件均处于开启状态。
所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为描述的方便和简洁，上述描述的装置和模块的具体工作过程，可以参考前述方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。
本申请实施例提供了一种芯片，该芯片用于控制器，该芯片可以包括可编程逻辑电路和/或程序指令，当芯片运行时用于实现如上述实施例提供的任一裂纹检测方法。
本申请实施例提供了一种计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质中存储有指令，当该可读存储介质在处理组件上运行时，使得处理组件执行上述实施例中由控制器实现的步骤，或者由该芯片实现的步骤。
本申请实施例还提供了一种包含指令的计算机程序产品，当该计算机程序产品在计算机上运行时，使得计算机执行上述方法实施例提供的裂纹检测方法。
本申请实施例提供了一种显示装置，该显示装置可以包括上述实施例提供的任一显示基板。
可选地，该显示装置可以为：显示面板、液晶显示装置(liquid crystal display，LCD)、有机发光二极管(organic light-emitting diode，OLED)显示装置、微型发光二极管(micro light emitting diode，Micro LED)显示装置和量子点发光二极管(quantum dotlight emitting diode，QLED)显示装置、电子纸、手机、平板电脑、电视机、显示器、笔记本电脑、数码相框或导航仪等任何具有显示功能的产品或部件。
在本申请中，术语“第一”和“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。术语“至少一条”的含义是指一条或多条，术语“多条”指两条或两条以上，除非另有明确的限定。
应当理解的是，在本文中提及的“和/或”，表示可以存在三种关系，例如，A和/或B，可以表示：单独存在A，同时存在A和B，单独存在B这三种情况。字符“/”一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。
以上所述仅为本申请的示例性实施例，并不用以限制本申请，凡在本申请的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本申请的保护范围之内。

Claims (15)

1.一种显示基板，其特征在于，所述显示基板包括：衬底基板，以及位于所述衬底基板上的多条数据线和裂纹检测电路，所述衬底基板包括显示区域和围绕所述显示区域的周边区域，所述数据线至少部分位于所述显示区域；
所述裂纹检测电路具有第一线路和第二线路，其中，所述第一线路的两端均与控制器连接，所述第二线路的一端与所述控制器连接，另一端与所述多条数据线中的至少一条数据线连接。
2.根据权利要求1所述的显示基板，其特征在于，所述裂纹检测电路包括：第一走线、第二走线和第三走线，所述第一走线的两端和所述第二走线的两端均与所述控制器连接，所述第一走线和所述第二走线通过所述第三走线连接；
所述至少一条数据线包括：至少一条第一数据线和至少一条第二数据线，所述第一走线与所述至少一条第一数据线连接，所述第二走线与所述至少一条第二数据线连接；
其中，所述第一走线与所述第三走线的第一连接处靠近所述第一走线的一端，所述第一走线与所述至少一条第一数据线的第二连接处靠近所述第一走线的另一端；所述第二走线与所述第三走线的第三连接处靠近所述第二走线的一端，所述第二走线与所述至少一条第二数据线的第四连接处靠近所述第二走线的另一端；
所述第一线路依次经过：所述第一走线的另一端、所述第一连接处、所述第三走线、所述第三连接处以及所述第二走线的另一端；
所述裂纹检测电路具有两条所述第二线路，一条所述第二线路依次经过：所述第一走线的一端、所述第一连接处以及所述第二连接处，另一条所述第二线路依次经过：所述第二走线的一端、所述第三连接处以及所述第四连接处。
3.根据权利要求1或2所述的显示基板，其特征在于，所述显示基板还包括：所述控制器，所述控制器位于所述衬底基板上的所述周边区域，所述至少一条数据线从所述显示区域延伸至所述周边区域，并与所述控制器连接；
所述控制器被配置为以下至少一种：
在第一检测阶段，检测所述第一线路上的电阻，以及根据所述电阻确定所述显示基板中所述第一线路所经过的位置是否存在裂纹；
在第二检测阶段，通过所述第二线路向所述至少一条数据线提供数据信号。
4.根据权利要求2所述的显示基板，其特征在于，所述显示基板还包括：所述控制器，所述控制器位于所述衬底基板上的所述周边区域，所述至少一条数据线从所述显示区域延伸至所述周边区域，并与所述控制器连接；所述控制器被配置为：
在第一检测阶段，控制所述第一走线的一端和所述第二走线的一端均处于高阻态，以及从所述第一走线的另一端和所述第二走线的另一端检测所述第一线路上的电阻，以及根据所述电阻确定所述显示基板中所述第一线路所经过的位置是否存在裂纹。
5.根据权利要求2或4所述的显示基板，其特征在于，所述显示基板还包括：所述控制器，所述控制器位于所述衬底基板上的所述周边区域，所述至少一条数据线从所述显示区域延伸至所述周边区域，并与所述控制器连接；所述控制器被配置为：
在第二检测阶段，控制所述第一走线的另一端和所述第二走线的另一端均处于高阻态，以及向所述第一走线的一端和所述第二走线的一端提供数据信号。
6.根据权利要求2或4所述的显示基板，其特征在于，所述第一走线经过所述显示区域的第一侧和第二侧，所述第二走线经过所述显示区域的所述第二侧和所述第三侧，所述第三走线位于所述显示区域的第四侧；其中，所述第一侧和所述第三侧相对，所述第二侧与所述第四侧相对。
7.根据权利要求6所述的显示基板，其特征在于，所述第一走线和所述第二走线在参考平面上的正投影存在重叠，所述参考平面与所述第二侧到第四侧的方向交叉。
8.根据权利要求2或4所述的显示基板，其特征在于，
所述显示基板还包括：控制线，所述第一数据线对应的第一开关组件，以及所述第二数据线对应第二开关组件；
所述控制线、所述第一开关组件和所述第二开关组件均位于所述衬底基板上；所述第一数据线通过对应的第一开关组件与所述第一走线连接，所述第二数据线通过对应的第二开关组件与所述第二走线连接，所述控制线与所述第一开关组件以及所述第二开关组件均连接，所述控制线的两端与所述控制器连接；
所述控制器被配置为：
在所述第一检测阶段，向所述控制线提供第一信号，所述第一信号用于使所述控制线连接的开关组件处于关闭状态；
在所述第二检测阶段，向所述控制线提供第二信号，所述第二信号用于使所述控制线连接的开关组件均处于开启状态。
9.根据权利要求8所述的显示基板，其特征在于，所述多条数据线还包括：除所述至少一条数据线之外的至少一条第三数据线，所述第三数据线至少部分位于所述显示区域，所述显示基板还包括：所述第三数据线对应的第三开关组件；
所述第三开关组件位于所述衬底基板上，且所述第三数据线通过对应的第三开关组件与所述第三走线连接，所述控制线还与所述第三开关组件连接。
10.根据权利要求9所述的显示基板，其特征在于，所述第一开关组件、所述第二开关组件和所述第三开关组件均为薄膜晶体管。
11.根据权利要求1或2所述的显示基板，其特征在于，所述控制器为驱动集成电路IC。
12.一种裂纹检测方法，其特征在于，所述方法用于权利要求1至11任一所述的显示基板中裂纹检测电路连接的控制器，所述方法包括：
第一检测阶段和第二检测阶段中至少一个阶段的检测方法；
其中，所述第一检测阶段的检测方法包括：检测所述第一线路上的电阻，以及根据所述电阻确定所述显示基板中所述第一线路所经过的位置是否存在裂纹；
所述第二检测阶段的检测方法包括：通过所述第二线路向所述至少一条数据线提供数据信号。
13.根据权利要求12所述的方法，其特征在于，所述裂纹检测电路包括：第一走线、第二走线和第三走线；
所述第一检测阶段的检测方法还包括：控制所述第一走线的一端和所述第二走线的一端均处于高阻态；
所述第二检测阶段的检测方法还包括：控制所述第一走线的另一端和所述第二走线的另一端均处于所述高阻态；
检测所述第一线路上的电阻，包括：从所述第一走线的另一端和所述第二走线的另一端检测所述第一线路上的电阻；
通过所述第二线路向所述至少一条数据线提供数据信号，包括：向所述第一走线的一端和所述第二走线的一端提供所述数据信号。
14.根据权利要求13所述的方法，其特征在于，所述的显示基板包括：控制线，至少一个第一开关组件，以及至少一个第二开关组件；
所述第一检测阶段的检测方法还包括：向所述控制线提供第一信号，所述第一信号用于使所述控制线连接的开关组件处于关闭状态；
所述第二检测阶段的检测方法还包括：向所述控制线提供第二信号，所述第二信号用于使所述控制线连接的开关组件处于开启状态。
15.一种显示装置，其特征在于，所述显示装置包括：权利要求1至11任一所述的显示基板。
CN202110055900.6A 2021-01-15 2021-01-15 裂纹检测方法、显示基板及显示装置 Pending CN112885845A (zh)

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