CN111564130A - 一种显示面板及其裂纹检测方法、显示装置 - Google Patents

Abstract

一种显示面板及其裂纹检测方法、显示装置，所述显示面板包括显示区和围绕所述显示区的周边区，所述显示区设置有至少一条第一数据线和至少一条第二数据线，所述周边区设置有第一裂纹检测线、第二裂纹检测线、第一检测开关电路和第二检测开关电路，所述第一裂纹检测线和所述第二裂纹检测线设置于不同功能层中，所述第一裂纹检测线的第一端配置为电连接第一测试端，第二端电连接所述第一检测开关电路，所述第二裂纹检测线的第一端电连接所述第一裂纹检测线的第三节点，所述第三节点不同于所述所述第一裂纹检测线的第一端和第二端，所述第二裂纹检测线的第二端电连接所述第二检测开关电路。本实施例提供的方案，可以检测不同层的裂纹情况。

Description

一种显示面板及其裂纹检测方法、显示装置

技术领域

本申请实施例涉及但不限于显示技术，尤指一种显示面板及其裂纹检测方法、显示装置。

背景技术

随着有源矩阵发光二极管(Active Matrix Organic Light-Emitting Diode，AMOLED)在显示领域的迅猛发展，良率的提升迫在眉睫。由于AMOLED衬底是柔韧性较好的材料，在柔性面板的边缘容易发生微小的裂纹，我们知道，柔性显示使用的是有机发光二极管技术，水和氧对于有机发光二极管会发生具有破坏性的化学反应，而裂纹的存在给水氧提供了途径，最终导致发光区域出现暗点，甚至材料的失效和寿命降低等一系列的问题。

柔性多层一体化集成触控(Flexible Multi-Layer On Cell，FMLOC)技术将屏幕与触控集成为一体，使得显示装置的集成度大幅提高，FMLOC技术已经成为显示行业的发展趋势。使用FMLOC技术时，不仅基板可能存在裂纹，FMLOC也可能存在裂纹。

发明内容

本申请实施例提供了一种显示面板及其裂纹检测方法、显示装置。

一方面，本申请实施例提供了一种显示面板，所述显示面板包括显示区和围绕所述显示区的周边区，所述显示区设置有至少一条第一数据线和至少一条第二数据线，所述周边区设置有裂纹检测电路结构，所述裂纹检测电路结构包括第一裂纹检测线、第二裂纹检测线、与所述第一数据线一一对应的第一检测开关电路和与所述第二数据线一一对应的第二检测开关电路，在垂直于所述显示面板的平面上，所示显示面板包括依次设置的多个功能层，所述第一裂纹检测线和所述第二裂纹检测线设置于不同功能层中，其中：

所述第一裂纹检测线的第一端配置为电连接第一测试端，所述第一裂纹检测线的第二端电连接所述第一检测开关电路的输入端，所述第一检测开关电路的输出端电连接对应的所述第一数据线；

所述第二裂纹检测线的第一端电连接所述第一裂纹检测线的第三节点，所述第三节点不同于所述所述第一裂纹检测线的第一端和第二端，所述第二裂纹检测线的第二端电连接所述第二检测开关电路的输入端，所述第二检测开关电路的输出端电连接对应的所述第二数据线；

所述第一检测开关电路的控制端和第二检测开关电路的控制端配置为电连接第二测试端。

在一示例性实施例中，所述周边区包括设置有绑定区的第一区域、与所述第一区域相对设置的第二区域，以及连接所述第一区域和所述第二区域且相对设置的第三区域和第四区域；

所述第一裂纹检测线的第一端和第二端位于所述第一区域；所述第一裂纹检测线位于所述第一区域、第二区域和第三区域；

所述第二裂纹检测线的第一端位于所述第二区域，第二端位于所述第一区域，所述第一裂纹检测线位于所述第一区域、第二区域和第三区域。

在一示例性实施例中，在平行于所述显示面板的平面上，所述第一裂纹检测线的正投影包含所述第二裂纹检测线的正投影。

在一示例性实施例中，所述显示区还设置有至少一条第三数据线和至少一条第四数据线，所述裂纹检测电路结构还包括第三裂纹检测线、第四裂纹检测线、与所述第三数据线一一对应的第三检测开关电路和与所述第四数据线一一对应的第四检测开关电路，所述第三裂纹检测线和所述第四裂纹检测线设置在所述显示面板的不同功能层中，其中：

所述第三裂纹检测线的第一端电连接第三测试端，所述第三裂纹检测线的第二端电连接所述第三检测开关电路的输入端，所述第三检测开关电路的输出端电连接所述第三数据线；

所述第四裂纹检测线的第一端电连接所述第三裂纹检测线的第四节点，所述第四节点不同于所述第三裂纹检测线的第一端和第二端，所述第四裂纹检测线的第二端电连接所述第四检测开关电路的输入端，所述第四检测开关电路的输出端电连接所述第四数据线；

所述第三检测开关电路的控制端和第四检测开关电路的控制端电连接第四测试端；

所述第三裂纹检测线的第一端和第二端位于所述第一区域；所述第三裂纹检测线位于所述第一区域、第二区域和第四区域；

所述第四裂纹检测线的第一端位于所述第二区域，第二端位于所述第一区域，所述第四裂纹检测线位于所述第一区域、第二区域和第四区域。

所述第一裂纹检测线和所述第二裂纹检测线位于所述显示面板的中轴线的一侧，所述第三裂纹检测线和所述第四裂纹检测线位于所述显示面板的中轴线的另一侧，其中，所述中轴线为所述第三区域和所述第四区域之间的中轴线。

在一示例性实施例中，在平行于所述显示面板的平面上，所述第三裂纹检测线的正投影包含所述第四裂纹检测线的正投影。

在一示例性实施例中，所述第三裂纹检测线与所述第一裂纹检测线同层设置，所述第四裂纹检测线与所述第二裂纹检测线同层设置。

在一示例性实施例中，在垂直于所述显示面板的平面上，所述显示面板包括依次设置的显示基板和触控结构层，所述第一裂纹检测线和所述第二裂纹检测线其中之一设置在所述显示基板的周边区，另一设置在所述触控结构层的周边区。

在一示例性实施例中，所述第一裂纹检测线设置在所述触控结构层的周边区，所述第二裂纹检测线设置在所述显示基板的周边区。

在一示例性实施例中，所述显示基板包括驱动结构层，所述驱动结构层包括有源层、第一栅绝缘层、第一栅金属层、第二栅绝缘层、第二栅金属层、层间绝缘层和源漏金属层，所述第二裂纹检测线与所述源漏金属层同层设置；

或者，

所述显示基板包括驱动结构层，所述驱动结构层包括有源层、第一栅绝缘层、第一栅金属层、第二栅绝缘层、第二栅金属层、层间绝缘层和源漏金属层，所述第二裂纹检测线与所述第二栅金属层同层设置。

在一示例性实施例中，所述触控结构层包括依次设置的转接金属层、触控绝缘层和触控电极层，所述第一裂纹检测线与所述触控电极层同层设置，或者，所述第一裂纹检测线与所述转接金属层同层设置。

又一方面，本申请实施例提供一种显示装置，包括上述实施例所述的显示面板。

再一方面，本申请实施例提供一种显示面板的裂纹检测方法，所述显示面板上述任一实施例所述的显示面板，所述裂纹检测方法包括：

接收从所述第二测试端输入的导通信号并导通所述第一检测开关电路和第二检测开关电路，接收从所述第一测试端输入的测试信号，所述测试信号满足：当所述测试信号加载到所述数据线时，所述数据线所连接的子像素呈现第一发光状态；

根据所述显示面板的子像素的发光状态确定所述显示面板的裂纹状态信息。

在一示例性实施例中，所述根据所述显示面板的子像素的发光状态确定所述显示面板的裂纹状态信息包括：

当所述第一数据线所连接的子像素呈现第二发光状态，且所述第二数据线所连接的子像素呈现第二发光状态时，所述第一裂纹检测线的第一端和第三节点之间存在裂纹；

当所述第一数据线所连接的子像素呈现第二发光状态，所述第二数据线所连接的子像素呈现第一发光状态时，所述第一裂纹检测线的第一端和第三节点之间无裂纹，所述第三节点和第二端之间存在裂纹，所述第二裂纹检测线的第一端至第二端之间无裂纹；

当所述第一数据线所连接的子像素呈现第一发光状态，所述第二数据线所连接的子像素呈现第二发光状态时，所述第二裂纹检测线第一端和第二端之间存在裂纹，所述第一裂纹检测线的第一端和第二端之间无裂纹；

其中，所述第一发光状态和所述第二发光状态其中之一为亮态，另一为暗态。

本申请实施例的显示面板包括显示区和围绕所述显示区的周边区，所述显示区设置有至少一条第一数据线和至少一条第二数据线，所述周边区设置有裂纹检测电路结构，所述裂纹检测电路结构包括第一裂纹检测线、第二裂纹检测线、与所述第一数据线一一对应的第一检测开关电路和与所述第二数据线一一对应的第二检测开关电路，在垂直于所述显示面板的平面上，所示显示面板包括依次设置的多个功能层，所述第一裂纹检测线和所述第二裂纹检测线设置于不同功能层中，其中：所述第一裂纹检测线的第一端配置为电连接第一测试端，所述第一裂纹检测线的第二端电连接所述第一检测开关电路的输入端，所述第一检测开关电路的输出端电连接对应的所述第一数据线；所述第二裂纹检测线的第一端电连接所述第一裂纹检测线的第三节点，所述第三节点不同于所述所述第一裂纹检测线的第一端和第二端，所述第二裂纹检测线的第二端电连接所述第二检测开关电路的输入端，所述第二检测开关电路的输出端电连接对应的所述第二数据线；所述第一检测开关电路的控制端和第二检测开关电路的控制端配置为电连接第二测试端。本实施例提供的显示基板，第一裂纹检测线和第二裂纹检测线设置于不同层中，在第一测试端施加测试信号后，可以根据第一数据线所连接的子像素的发光状态和第二数据线所连接的子像素的发光状态确定裂纹所在位置，实现了第一裂纹检测线所在位置和第二裂纹检测线所在位置的裂纹的单独检测，从而可以检测出裂纹产生的具体位置，有利于在对产品生产和相关不良解析过程中对裂纹的准确定位，提升良率，提高了产能和产品性能。

本发明的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本发明而了解。本发明的目的和其他优点可通过在说明书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。

附图说明

附图用来提供对本发明技术方案的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本申请的实施例一起用于解释本发明的技术方案，并不构成对本发明技术方案的限制。

图1为一技术方案提供的显示面板示意图；

图2为本申请实施例提供的显示面板示意图；

图3为一实施例提供的显示面板示意图；

图4为另一实施提供的显示面板示意图；

图5为又一实施例提供的显示面板的剖面示意图；

图6为再一实施例提供的显示面板的示意图；

图7为另一实施例提供的显示面板的示意图；

图8为本申请实施例提供的显示面板的裂纹检测方法示意图。

具体实施方式

下文中将结合附图对本申请实施例进行详细说明。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请实施例及实施例中的特征可以相互任意组合。

在附图的流程图示出的步骤可以在诸如一组计算机可执行指令的计算机系统中执行。并且，虽然在流程图中示出了逻辑顺序，但是在某些情况下，可以以不同于此处的顺序执行所示出或描述的步骤。

除非另外定义，本公开使用的技术术语或者科学术语应当为本发明所属领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本公开中使用的“第一”、“第二”以及类似的词语并不表示任何顺序、数量或者重要性，而只是用来区分不同的组成部分。“包括”或者“包含”等类似的词语意指出现该词前面的元件或者物件涵盖出现在该词后面列举的元件或者物件及其等同，而不排除其他元件或者物件。“连接”或者“相连”等类似的词语并非限定于物理的或者机械的连接，而是可以包括电性的连接，不管是直接的还是间接的。“上”、“下”、“左”、“右”等仅用于表示相对位置关系，当被描述对象的绝对位置改变后，则该相对位置关系也可能相应地改变。

在本说明书中，晶体管是指至少包括栅电极、漏电极以及源电极这三个端子的元件。晶体管在漏电极(漏电极端子、漏区域或漏电极)与源电极(源电极端子、源区域或源电极)之间具有沟道区域，并且电流能够流过漏电极、沟道区域以及源电极。在本说明书中，沟道区域是指电流主要流过的区域。

在本说明书中，可以是第一极为漏电极、第二极为源电极，或者可以是第一极为源电极、第二极为漏电极。在使用极性相反的晶体管的情况或电路工作中的电流方向变化的情况等下，“源电极”及“漏电极”的功能有时互相调换。因此，在本说明书中，“源电极”和“漏电极”可以互相调换。

在本说明书中，“A的正投影包含B的正投影”是指，B的正投影落入A的正投影范围内，或者A的正投影覆盖B的正投影。

在本说明书中，“平行”是指两条直线形成的角度为-10°以上且10°以下的状态，因此，也包括该角度为-5°以上且5°以下的状态。另外，“垂直”是指两条直线形成的角度为80°以上且100°以下的状态，因此，也包括85°以上且95°以下的角度的状态。

图1为一种显示面板的平面结构示意图，该显示面板为采用FMLOC技术的显示面板。所述显示面板可以包括显示基板和位于显示基板上的触控结构层。显示基板可以包括依次设置的基底、驱动结构层、发光结构层和封装层。触控结构层位于封装层背离基底的一侧。驱动结构层可以包括依次设置的有源层、第一栅绝缘层、第一栅电极层、第二栅绝缘层、第二栅电极层、层间绝缘层和源漏电极层。触控结构层可以包括依次设置的转接金属层、触控绝缘层和触控电极层。如图1所示，显示面板包括显示区100和位于显示区100外围的周边区200，周边区200围绕显示区100。显示区100又称有效显示区域(Active Area，AA)。所述显示面板还包括第一裂纹检测线，第一裂纹检测线位于周边区200且围绕显示区100设置。第一裂纹检测线可以包括第一引线段11、第二引线段12和第五引线段13。第一裂纹检测线可以与源漏电极层或第二栅电极层同层设置。所述显示面板还包括第二裂纹检测线，第二裂纹检测线位于周边区200且围绕显示区100设置。第二裂纹检测线可以包括第三引线段21、第四引线段22。第二裂纹检测线可以与触控电极层同层设置。第一引线段11通过过孔电连接到所述第三引线段21，第二引线段21通过过孔电连接到所述第四引线段22。

本实施例中，在电性测试阶段，测试信号从电性检测(Electrical Test，ET)单元或者覆晶薄膜(Chip On Film，COF)单元出发，沿着显示面板周边走线(从第三引线段21至第一引线段11，从第四引线线22至第二引线段12)，进入面板的盒测试(Cell Test，CT)单元，经由CT单元中的若干薄膜晶体管(Thin Film Transistor，TFT)接入显示区100的数据线，CT单元的TFT栅极由CTSW信号控制。在进行ET(电性测试)时，当显示区100出现亮线时，判断显示面板产生裂纹。由于第一引线段11和第三引线段21串联为一个整体，第二引线段12和第三引线段22串联为一个整体，因此，虽然可以判断出显示面板的左侧、右侧是否产生裂纹，但无法判断出裂纹具体产生在显示基板还是触控结构层。

在模组测试阶段，从一侧面板裂纹检测(Panel Crack Detection，PCD)焊盘输入测试信号，检测另一侧PCD焊盘的输出信号，根据输出信号判断是否存在裂纹，此时，测试信号从一侧PCD焊盘依次经过第三引线段21、第一引线段11、第五引线段13、第二引线段12和第四引线段22到达另一侧PCD焊盘得到输出信号，根据输出信号的状态可以判断显示面板是否产生裂纹。当判断出显示面板的周边区200产生裂纹时，由于第二裂纹检测线和第一裂纹检测线串联为一个整体回路，无法判断出裂纹具体产生在第一裂纹检测线所在的位置(显示基板)还是第二裂纹检测线所在的位置(触控结构层)。因此，采用图1所示的显示面板，由于面板周边的触控结构层和显示基板的裂纹检测走线串连在一起，因此无法检测裂纹的位置，给改善修复带来很大不便。

图2为本申请实施例提供一种显示面板的平面结构示意图。如图2所示，本申请实施例提供一种显示面板，包括显示区100和围绕所述显示区100的周边区200，所述显示区100设置有至少一条第一数据线101和至少一条第二数据线102，所述周边区200设置有裂纹检测电路结构，所述裂纹检测电路结构包括第一裂纹检测线、第二裂纹检测线、与所述第一数据线101一一对应的第一检测开关电路51和与所述第二数据线102一一对应的第二检测开关电路52，在垂直于所述显示面板的平面上，所示显示面板包括依次设置的多个功能层，所述第一裂纹检测线和所述第二裂纹检测线设置于不同功能层中，其中：

所述第一裂纹检测线的第一端A配置为电连接第一测试端，所述第一裂纹检测线的第二端C电连接所述第一检测开关电路51的输入端，所述第一检测开关电路51的输出端电连接对应的所述第一数据线101；所述第一裂纹检测线的第一端和第二端分别为第一裂纹检测线的首端和末端；

所述第二裂纹检测线的第一端B1电连接所述第一裂纹检测线的第三节点B(通过过孔连接)，所述第三节点B不同于所述所述第一裂纹检测线的第一端A和第二端C，所述第二裂纹检测线的第二端A1电连接所述第二检测开关电路52的输入端，所述第二检测开关电路52的输出端电连接对应的所述第二数据线102；所述第二裂纹检测线的第一端和第二端分别为第二裂纹检测线的首端和末端；第三节点B为第一裂纹检测线的中间节点；

所述第一检测开关电路51的控制端和第二检测开关电路52的控制端配置为电连接第二测试端。

本实施例提供的显示基板，第一裂纹检测线和第二裂纹检测线设置于不同层中，在第一测试端施加测试信号后，可以根据第一数据线所连接的子像素的发光状态和第二数据线所连接的子像素的发光状态确定裂纹所在位置，实现了第一裂纹检测线所在位置和第二裂纹检测线所在位置的裂纹的单独检测，从而可以检测出裂纹产生的具体位置，有利于在对产品生产和相关不良解析过程中对裂纹的准确定位，检测效率高，提升良率，提高了产能和产品性能。

图2中所示的节点位置仅为示例，本申请实施例不限于此。

图2中仅示出了一条第一数据线101和一个与第一数据线101对应的检测开关电路51，以及，一条第二数据线102和一个与第二数据线102对应的检测开关电路52，但本申请实施例不限于此，可以有多条第一数据线101以及对应的多个检测开关电路51，可以有多条第二数据线102以及对应的多个检测开关电路52。每条数据线连接一列子像素，控制子像素的发光状态。

在一示例性实施例中，如图2所示，所述周边区200包括设置有绑定区(用于绑定驱动集成电路)的第一区域201、与所述第一区域201相对设置的第二区域202，以及连接所述第一区域201和所述第二区域202且相对设置的第三区域203和第四区域204；

所述第一裂纹检测线的第一端A和第二端C可以位于所述第一区域；所述第一裂纹检测线可以位于所述第一区域201、第二区域202和第三区域203；

所述第二裂纹检测线的第一端B1可以位于所述第二区域202，第二端A1位于所述第一区域201，所述第二裂纹检测线位于所述第一区域201、第二区域202和第三区域203。

在一示例性实施例中，所述第一裂纹检测线和所述第二裂纹检测线位于所述显示面板位于第三区域203和第四区域204之间的中轴线300靠近所述第三区域203一侧。所述端点B1/B尽量接近中轴线300，使得裂纹检测范围尽可能大。本申请实施例不限于此，第一裂纹检测线和第二裂纹检测线可以分布在周边区200的所有区域。

在一示例性实施例中，在平行于所述显示面板的平面上，所述第一裂纹检测线的正投影包含所述第二裂纹检测线的正投影。如图2所示，第二裂纹检测线的第一端B1的正投影和第一裂纹检测线的第三节点B的正投影重合，第二裂纹检测线的第二端A1的正投影落入第一裂纹检测线的正投影，且端点B1到A1的延伸方向与B至A的延伸方向相同。本实施中，当第二裂纹检测线的线宽大于第一裂纹检测线的线宽时，只要端点A1的正投影落入第一裂纹检测线的正投影，且端点B1到A1的延伸方向与B至A的延伸方向相同，也认为第二裂纹检测线的正投影落入第一裂纹检测线的正投影，即第一裂纹检测线和第二裂纹检测线的线宽可以不同，但二者的端点的正投影重合，延伸方向一致时认为第一裂纹检测线的正投影包含第二裂纹检测线的正投影。本方案相比图1所示方案，减少了裂纹检测走线所占面积，从而可以缩减边框。

在另一实施例中，所述第二裂纹检测线的正投影可以位于第一裂纹检测线的正投影之外。比如，可以位于第一裂纹检测线远离所述显示区100一侧，或者，可以位于第一裂纹检测线靠近所述显示区100一侧。

图2所示方案中，第一裂纹检测线包括A到B的引线段和B到C的引线段，第二裂纹检测线包括B1到A1的引线段，其中，B到C的引线段位于A到B的引线段靠近显示区100一侧，A到B引线段的正投影覆盖端点A1的正投影。但本申请实施例不限于此。如图3所示，第一裂纹检测线包括A到B的引线段、B到B’的引线段，以及，B’到C的引线段，其中，B到C的引线段位于A到B的引线段靠近显示区100一侧，第二裂纹检测线包括端点B2到A2的引线段，其中，端点A、端点C、端点A2位于第一区域201，端点B、端点B’和端点B2位于第二区域202，端点B2的正投影和端点B’的正投影重合，端点B到端点C的引线段的正投影包含端点A2的正投影。端点A2电连接到第二检测开关电路52的输入端。

在另一实施例中，如图4所示，显示100还包括第五数据线105，所述裂纹检测电路结构可以包括第一裂纹检测线、第二裂纹检测线和第五裂纹检测线、第一检测开关电路511、第二检测开关电路52以及第五检测开关电路55，其中，第一裂纹检测线包括端点A到端点B的引线段，端点B到端点B’的引线段和端点B’到端点C的引线段，所述第二裂纹检测线包括端点B1到端点A1的引线段，第三裂纹检测线包括端点B2到端点A2的引线段，端点B1通过过孔电连接到端点B，端点B2通过过孔电连接到端点B’，第一裂纹检测线的端点C电连接到第一检测开关电路51的输入端，第一检测开关电路51的输出端电连接到第一数据线101，第二裂纹检测线的端点A1电连接到第二检测开关电路52的输入端，第二检测开关电路52的输出端电连接到第二数据线102，第五裂纹检测线的端点A2电连接到第五检测开关电路55的输入端，第五检测开关电路55的输出端电连接到第五数据线105。

在一示例性实施例中，所述第一裂纹检测线和第二裂纹检测线包括蛇形结构(比如S形，W形，Z形走线等等)。

在一示例性实施例中，如图5所示，在垂直于所述显示面板的平面上，所述显示面板包括依次设置的显示基板和触控结构层34，显示基板包括依次设置的基底20、驱动结构层31、发光结构层32和封装层33，所述触控结构层34包括依次设置的转接金属层341、触控绝缘层342和触控电极层343。所述第一裂纹检测线和所述第二裂纹检测线其中之一设置在所述显示基板的周边区，另一设置在所述触控结构层34的周边区。比如，所述第一裂纹检测线设置在所述触控结构层34的周边区，所述第二裂纹检测线设置在所述显示基板的周边区；或者，所述第二裂纹检测线设置在所述触控结构层34的周边区，所述第一裂纹检测线设置在所述显示基板的周边区。本申请不限于此，如果显示面板存在更多功能层且需定位功能层中是否存在裂纹，第一裂纹检线和第二裂纹检测线可以设置在相应的功能层中，另外，也不限于第一裂纹检测线和第二裂纹检测线，可以设置更多裂纹检测线检测相应的功能层。

在一示例性实施例中，所述第一测试端可以包括ET测试焊盘P1，所述第二测试端可以包括ET测试焊盘P2，或者，所述第一测试端可以包括模组测试焊盘P3，所述第二测试端可以包括模组测试焊盘P4，或者，所述第一测试端可以包括ET测试焊盘P1和模组测试焊盘P3，所述第二测试端可以包括ET测试焊盘P2和模组测试焊盘P4。ET测试焊盘P1和ET测试焊盘P2可以电连接检测探针，分别提供测试信号至第一裂纹检测线(由第一裂纹检测线传输到第二裂纹检测线)和提供控制信号至第一检测开关电路51和第二检测开关电路52以导通检测开关电路。模组测试焊盘P3和模组测试焊盘P4可以电连接驱动集成电路，分别分别提供测试信号至第一裂纹检测线(由第一裂纹检测线传输到第二裂纹检测线)和提供控制信号至第一检测开关电路51和第二检测开关电路52以导通检测开关电路。

在一示例性实施例中，所述第一裂纹检测线设置在所述触控结构层34的周边区，所述第二裂纹检测线设置在所述显示基板的周边区，且裂纹检测线如图2所示时，裂纹检测过程包括：

在ET测试阶段作PCD时，控制信号通过第二测试端即ET测试焊盘P2加载到第一检测开关电路51和第二检测开关电路52以导通所述第一检测开关电路51和第二检测开关电路52，测试信号通过第一测试端即ET测试焊盘P1加载到第一裂纹检测线的端点A，如果无裂纹，测试信号通过第一裂检测线加载到第一检测开关电路51所连接的第一数据线101，使得第一数据线101连接的子像素呈现第一发光状态，以及，测试信号通过端点A到达端点B，从端点B到达第二裂纹检测线的端点B1，通过第二裂纹检测线加载到第二检测开关电路52所连接的第二数据线102，使得第二数据线102连接的子像素呈现第一发光状态；显示面板中不用于裂纹检测的数据线所连接的子像素呈现第一发光状态；

当触控结构层34的端点A至端点B之间存在裂纹，在端点A产生开路，则测试信号无法传输到端点B和端点C，也无法传输到端点B1和端点A1，从而第一裂纹检测线连接的第一数据线101处于悬空状态，第一数据线101连接的子像素呈现第二发光状态，第二裂纹检测线连接的第二数据线102处于悬空状态，第二数据线102连接的子像素呈现第二发光状态；

当触控结构层34的端点A至端点B之间无裂纹，端点B至端点C之间存在裂纹，则测试信号无法传输到端点C，端点C连接的第一数据线101处于悬空状态，第一数据线101连接的子像素呈现第二发光状态，而测试信号可以通过端点A传输到端点B，通过端点B传输到端点B1，然后传输到端点A1，端点A1连接的第二数据线102连接的子像素呈现第一发光状态；

当显示基板的端点B1至端点A1之间存在裂纹，触控结构层34的端点A至端点C之间无裂纹，则测试信号通过端点A传输到端点C，通过端点C传输到端点C连接的第一数据线101，第一数据线101连接的子像素呈现第一发光状态；测试信号无法传输到端点A1，端点A1连接的第二数据线102处于悬空状态，第二数据线102连接的子像素呈现第二发光状态；

即，

当第一数据线101连接的子像素呈现第二发光状态，第二数据线102连接的子像素呈现第二发光状态时，触控结构层34的端点A至端点B之间存在裂纹；

当第一数据线101连接的子像素呈现第二发光状态，第二数据线102连接的子像素呈现第一发光状态时，判断触控结构层34的端点A至端点B之间无裂纹，端点B至端点C之间存在裂纹，显示基板端点B1至端点A1之间无裂纹；

当第一数据线101连接的子像素呈现第一发光状态，第二数据线102连接的子像素呈现第二发光状态时，判断显示基板端点B1至端点A1存在裂纹，触控结构层34端点A至端点C之间无裂纹。

在一示例性实施例中，所述第一发光状态比如为暗态，所述第二发光状态比如为亮态；或者，所述第一发光状态比如为亮态，所述第二发光状态比如为暗态。

以第一发光状态为暗态，第二发光状态为亮态为例，当第一数据线101连接的子像素呈现亮态(一列子像素呈现亮态，从而显示面板上出现亮线)，第二数据线102连接的子像素呈现亮态(显示面板上出现亮线)时，触控结构层34的端点A至端点B之间存在裂纹；

当第一数据线101连接的子像素呈现亮态(显示面板上出现亮线)，第二数据线102连接的子像素呈现暗态时，判断触控结构层34的端点A至端点B之间无裂纹，端点B至端点C之间存在裂纹，显示基板端点B1至端点A1之间无裂纹；

当第一数据线101连接的子像素呈现暗态，第二数据线102连接的子像素呈现亮态(显示面板上出现亮线)时，判断显示基板端点B1至端点A1存在裂纹，触控结构层34的端点A至端点C无裂纹。

在一示例性实施例中，可以将第一数据线101设置在第二数据线102靠近第三区域203一侧，从而可以通过亮线的数量及位置直观判断裂纹出现的位置。

在一示例性实施例中，第一数据线101和第二数据线102可以连接不同颜色的子像素，则通过亮线的数量及颜色直观判断裂纹出现的位置。本申请实施例不限于此，第一数据线101所连接的子像素的发光颜色和第二数据线102所连接的子像素的发光颜色可以相同。

在一示例性实施例中，所述第二裂纹检测线设置在所述触控结构层34的周边区，所述第一裂纹检测线设置在所述显示基板的周边区，且裂纹检测线如图2所示时，裂纹检测过程包括：

在ET测试阶段作PCD时，控制信号通过ET测试焊盘P2加载到第一检测开关电路51和第二检测开关电路52以导通所述第一检测开关电路51和第二检测开关电路52，测试信号通过ET测试焊盘P1加载到第一裂纹检测线的端点A，如果无裂纹，测试信号通过第一裂检测线加载到第一检测开关电路51所连接的第一数据线101，使得第一数据线101连接的子像素呈现第一发光状态，以及，测试信号通过端点A到达端点B，从端点B到达第二裂纹检测线的端点B1，通过第二裂纹检测线加载到第二检测开关电路52所连接的第二数据线102，使得第二数据线102连接的子像素呈现第一发光状态；显示面板中不用于裂纹检测的数据线所连接的子像素呈现第一发光状态；

当显示基板的端点A至端点B之间存在裂纹，在端点A产生开路，则测试信号无法传输到端点B和端点C，也无法传输到端点B1和端点A1，从而第一裂纹检测线连接的第一数据线101处于悬空状态，第一数据线101连接的子像素呈现第二发光状态，第二裂纹检测线连接的第二数据线102处于悬空状态，第二数据线102连接的子像素呈现第二发光状态；

当显示基板的端点A至端点B之间无裂纹，端点B至端点C之间存在裂纹，则测试信号无法传输到端点C，端点C连接的第一数据线101处于悬空状态，第一数据线101连接的子像素呈现第二发光状态，而测试信号可以通过端点A传输到端点B，通过端点B传输到端点B1，然后传输到端点A1，端点A1连接的第二数据线102连接的子像素呈现第一发光状态；

当触控结构层34的端点B1至端点A1之间存在裂纹，显示基板端点A至端点C无裂纹，则测试信号通过端点A传输到端点C，通过端点C传输到第一数据线101，第一数据线101连接的子像素呈现第一发光状态；测试信号无法传输到端点A1，端点A1连接的第二数据线102处于悬空状态，第二数据线102连接的子像素呈现第二发光状态。

制成模组后，COF绑定驱动集成电路(Integrate Circuit，IC)，驱动IC与面板贴合，测试信号和控制信号从驱动IC输入。在模组测试阶段的裂纹检测与ET测试阶段的裂纹检测类似，控制信号通过模组测试焊盘P4加载到第一检测开关电路51和第二检测开关电路52以导通所述第一检测开关电路51和第二检测开关电路52，测试信号通过模组测试焊盘P3加载到第一裂纹检测线的端点A，其余与ET测试阶段的裂纹检测类似，不再赘述。

在一示例性实施例中，所述驱动结构层31包括有源层311、第一栅绝缘层312、第一栅金属层313、第二栅绝缘层314、第二栅金属层315、层间绝缘层316和源漏金属层317，设置在显示基板的裂纹检测线可以与源漏金属层317同层设置，比如，第二裂纹检测线设置在显示基板时，所述第二裂纹检测线与所述源漏金属层317同层设置。如图5所示，第二裂纹检测线112与所述源漏金属层317同层设置。

在一示例性实施例中，设置在显示基板的裂纹检测线可以与第二栅金属层315同层设置，比如，第二裂纹检测线设置在显示基板时，所述第二裂纹检测线与所述第二栅金属315层同层设置。

在一示例性实施例中，设置在显示基板的裂纹检测线一部分可以与源漏金属层317同层设置，一部分与第二栅金属层315同层设置。比如，第二裂纹检测线设置在显示基板时，所述第二裂纹检测线一部分可以与源漏金属层317同层设置，一部分与第二栅金属层315同层设置。

在一示例性实施例中，设置在所述触控结构层34的裂纹检测线可以与所述触控电极层343同层设置，或者，与所述转接金属层341同层设置。比如，所述第一裂纹检测线设置在触控结构层34时，所述第一裂纹检测线可以与所述触控电极层343同层设置，或者，所述第一裂纹检测线可以与所述转接金属层341同层设置。如图5所示，所述第一裂纹检测线与所述触控电极层343同层设置。第一裂纹检测线包括内外两个引线段211(端点C到端点B的引线段)和212(端点B到端点A的引线段)与触控电极层343同层设置。

图6为另一实施例提供的显示面板平面示意图。如图6所示，将中轴线300靠近第三区域203的一侧称为第一侧，靠近第四区域204的一侧称为第二侧。本实施例提供的显示面板，中轴线300的两侧均设置有裂纹检测线，其中，所述裂纹检测电路结构可以包括设置在所述中轴线300第一侧的第一裂纹检测线、第二裂纹检测线、第一检测开关电路51和第二检测开关电路52，其连接关系参考前述实施例，此处不再赘述。所述显示面板还包括至少一条第三数据线103和至少一条第四数据线104、所述裂纹检测电路结构还包括设置在所述中轴线300第二侧的第三裂纹检测线、第四裂纹检测线，以及，还包括与所述第三数据线103一一对应的第三检测开关电路53、与所述第四数据线104一一对应的第四检测开关电路54，所述第三裂纹检测线和所述第四裂纹检测线设置在所述显示面板的不同层中，其中：

所述第三裂纹检测线的第一端D电连接第三测试端，所述第三裂纹检测线的第二端F电连接所述第三检测开关电路53的输入端，所述第三检测开关电路53的输出端电连接所述第三数据线103；

所述第四裂纹检测线的第一端E1电连接所述第三裂纹检测线的第四节点E，所述第四裂纹检测线的第二端D1电连接所述第四检测开关电路54的输入端，所述第四检测开关电路54的输出端电连接所述第四数据线104；

所述第三检测开关电路53的控制端和第四检测开关电路54的控制端电连接第四测试端；

所述第三裂纹检测线的第一端D和第二端F可以位于所述第一区域201；所述第三裂纹检测线位于所述第一区域201、第二区域202和第四区域204；

所述第四裂纹检测线的第一端E1可以位于所述第二区域202，第二端D1可以位于所述第一区域201，所述第四裂纹检测线位于所述第一区域201、第二区域202和第四区域204。

本实施例中，第一裂纹检测线和第三裂纹检测线相互之间不交叉，第二裂纹检测线和第四裂纹检测线相互之间不交叉。本实施例提供的方案，可以实现分别对中轴线300两侧的裂纹进行检测，即可以定位裂纹是在显示面板的左侧还是右侧，以及，哪个裂纹检测线所在的层出现裂纹，本实施例把面板分成多个区域，多个区域与子像素列对应，通过不同子像素列的发光状态判断裂纹位置，对于面板周边微裂纹的判断非常直观准确，给修复带来便利，提高良率。

在其他实施例中，第一裂纹检测线、第二裂纹检测线与第三裂纹检测线、第四裂纹检测可以不是位于中轴线300两侧，第三区域203和第四区域204之间的一分隔线，第一裂纹检测线和第二裂纹检测线位于分隔线一侧，第三裂纹检测线和第四裂纹检测线位于分隔线另一侧，等等。在另一实施例中，第一裂纹检测线和第三裂纹检测线相互之间可以交叉，第二裂纹检测线和第四裂纹检测线相互之间可以交叉。

在一示例性实施例中，当第一裂纹检测线和第三裂纹检测线同层设置，第二裂纹检测线和第四裂纹检测线同层设置时，端点B和端点E可以无限接近但彼此电气绝缘，端点B1和端点E1可以无限接近但彼此电气绝缘，从而，裂纹检测线可以尽可能布满周边区，保证裂纹检测更加全面。

在一示例性实施例中，所述第三测试端包括ET测试焊盘P5，所述第二测试端可以包括ET测试焊盘P6，或者，所述第一测试端可以包括模组测试焊盘P7，所述第二测试端可以包括模组测试焊盘P8，或者，所述第一测试端可以包括ET测试焊盘P5和模组测试焊盘P7，所述第二测试端可以包括ET测试焊盘P6和模组测试焊盘P8。ET测试焊盘P5和ET测试焊盘P6可以电连接检测探针，分别提供测试信号至第三裂纹检测线和提供控制信号至第三检测开关电路53和第四检测开关电路54以导通检测开关电路。模组测试焊盘P7和模组测试焊盘P8可以电连接驱动集成电路，分别分别提供测试信号至第三裂纹检测线和提供控制信号至第三检测开关电路53和第四检测开关电路54以导通检测开关电路。

所述第三裂纹检测线和第四裂纹检测线的实现类似第一裂纹检测线和第二裂纹检测线，因此，前述多个实施例中第一裂纹检测线和第二裂纹检测线的实现方式可以应用到第三裂纹检测线和第三裂纹检测线，此处不再赘述，裂纹检测方法同样类似于使用第一裂纹检测线和第二裂纹检测线时的检测方式。

在一示例性实施例中，第三裂纹检测线和第四裂纹检测线比如为蛇形结构(比如S形，W形，Z形走线等等)。

在一示例性实施例中，所述第三裂纹检测线和所述第一裂纹检测线相对中轴线300对称设置，所述第四裂纹检测线和所述第二裂纹检测线相对中轴线300对称设置。但本申请实施例不限于此，中轴线300两侧的裂纹检测线可以是不对称的。所述第一数据线101和所述第二数据线102可以和第一裂纹检测线和第二裂纹检测线位于所述中轴线300的同侧，或者，位于所述中轴线300的不同侧。所述第三数据线103和所述第四数据线104可以和第三裂纹检测线和第四裂纹检测线位于所述中轴线300的同侧，或者，位于位于所述中轴线300的不同侧。

在一示例性实施例中，在平行于所述显示面板的平面上，所述第三裂纹检测线的正投影包含所述第四裂纹检测线的正投影。如图6所示，第四裂纹检测线的第一端E1的正投影和第三裂纹检测线的第四节点E的正投影重合，第四裂纹检测线的第二端D1的正投影落入第三裂纹检测线的正投影，且端点E1到D1的延伸方向与E至D的延伸方向相同。第三裂纹检测线和第四裂纹检测线的线宽可以不同，但当二者的端点的正投影重合，延伸方向一致时认为第三裂纹检测线的正投影包含第四裂纹检测线的正投影。本方案减少了裂纹检测走线所占面积，可以缩减边框。在另一实施例中，所述第四裂纹检测线的正投影可以至少部分位于所述第三裂纹检测线的正投影之外。

在一示例性实施例中，所述第三裂纹检测线与所述第一裂纹检测线可以同层设置，所述第四裂纹检测线与所述第二裂纹检测线可以同层设置。如图5所示，第四裂纹检测线121和第二裂纹检测线112同层设置，所述第三裂纹检测线(第三裂纹检测线的两个引线段221、222)与所述第一裂纹检测线(第一裂纹检测线的两个引线段211、212)同层设置。本申请实施例不限于此，在其他实施例中，所述第三裂纹检测线与所述第一裂纹检测线可以不同层设置，所述第四裂纹检测线与所述第二裂纹检测线可以不同层设置。即中轴线300两侧的裂纹检测线的设置方式可以不相关，比如，第一裂纹检测线设置在显示基板，第三裂纹检测线设置在触控结构层，第二裂纹检测线设置在触控结构层，第四裂纹检测线设置在显示基板，等等。

在一示例性实施例中，如图7所示，所述述检测开关电路(第一检测开关电路51至第四检测开关电路54)包括至少一个薄膜晶体管，所述薄膜晶体管的控制极为所述检测开关电路的控制端，所述薄膜晶体管的第一极为所述检测开关电路的输入端，所述薄膜晶体管的第二极为所述检测开关电路的输出端。以薄膜晶体管为P沟道金属氧化物半导体场效应晶体管(PMOS)为例，在ET测试阶段，第二测试端P2上施加低电平，从而控制第一检测开关电路51导通和第二检测开关电路52导通。本申请实施例不限于此，在另一实施例中，所述薄膜晶体管比如为N沟道金属氧化物半导体场效应晶体管(NMOS)。此时，在ET测试阶段，第二测试端P2上施加高电平，从而控制第一检测开关电路51导通和第二检测开关电路52导通。本实施提供的检测开关电路仅为示例，可以是其他类型的开关电路，比如检测开关电路可以包括多个薄膜晶体管。

图8为本申请实施例提供的显示面板的裂纹检测方法流程图。如图8所示，本实施例提供一种显示面板的裂纹检测方法，所述显示面板为上述多个实施例所述的显示面板，所述裂纹检测方法包括：

步骤801，接收从所述第二测试端输入的导通信号并导通所述第一检测开关电路和第二检测开关电路，接收从所述第一测试端输入的测试信号，所述测试信号满足：当所述测试信号加载到所述数据线时，所述数据线所连接的子像素呈现第一发光状态；

步骤802，根据所述显示面板的子像素的发光状态确定所述显示面板的裂纹状态信息。所述裂纹状态信息包括所述显示面板是否存在裂纹，以及裂纹位置等。

在一示例性实施例中，所述根据所述显示面板的子像素的发光状态确定所述显示面板的裂纹状态信息包括：

当所述第一数据线所连接的子像素呈现第二发光状态，且所述第二数据线所连接的子像素呈现第二发光状态时，所述第一裂纹检测线的第一端和第三节点之间存在裂纹；

当所述第一数据线所连接的子像素呈现第二发光状态，所述第二数据线所连接的子像素呈现第一发光状态时，所述第一裂纹检测线的第一端和第三节点之间无裂纹，所述第三节点和第二端之间存在裂纹，所述第二裂纹检测线的第一端至第二端之间无裂纹；

当所述第一数据线所连接的子像素呈现第一发光状态，所述第二数据线所连接的子像素呈现第二发光状态时，所述第二裂纹检测线第一端和第二端之间存在裂纹，所述第一裂纹检测线的第一端和第二端之间无裂纹；

其中，所述第一发光状态和所述第二发光状态其中之一为亮态，另一为暗态。

在一示例性实施例中，显示面板的子像素均呈现第一发光状态时，所述显示面板无裂纹。比如，第一发光状态为暗态时，如果显示面板的子像素均为暗态(黑色画面)，则显示面板无裂纹；如果存在亮线，则根据前述实施例中亮线位置或者颜色或者二者结合确定裂纹所在区域。

本申请实施例提供的显示面板的裂纹检测方法，可以根据不同子像素的发光状态确定裂纹所在的功能层，定位更为准确，便于修复，提高了良率。

基于本申请实施例的技术构思，本申请实施例还提供了一种显示装置，包括前述实施例的显示面板。本实施例提供的显示装置，可以对不同功能层的裂纹进行检测，便于修复，提高了良率。所述显示装置可以是OLED显示装置，或者，其他显示装置。所述显示装置可以为：智能手环，手机、平板电脑、电视机、显示器、笔记本电脑、数码相框、导航仪等任何具有显示功能的产品或部件。

有以下几点需要说明：

(1)本申请实施例附图只涉及到与本申请实施例涉及到的结构，其他结构可参考通常设计。

(2)为了清晰起见，在用于描述本本申请实施例的附图中，层或区域的厚度被放大或缩小，即这些附图并非按照实际的比例绘制。可以理解，当诸如层、膜、区域或基板之类的元件被称作位于另一元件“上”或“下”时，该元件可以“直接”位于另一元件“上”或“下”，或者可以存在中间元件。

(3)在不冲突的情况下，本申请实施例及实施例中的特征可以相互组合以得到新的实施例。

虽然本公开所揭露的实施方式如上，但所述的内容仅为便于理解本公开而采用的实施方式，并非用以限定本公开。任何本公开所属领域内的技术人员，在不脱离本公开所揭露的精神和范围的前提下，可以在实施的形式及细节上进行任何的修改与变化，但本公开的专利保护范围，仍须以所附的权利要求书所界定的范围为准。

Claims (13)

1.一种显示面板，其特征在于，所述显示面板包括显示区和围绕所述显示区的周边区，所述显示区设置有至少一条第一数据线和至少一条第二数据线，所述周边区设置有裂纹检测电路结构，所述裂纹检测电路结构包括第一裂纹检测线、第二裂纹检测线、与所述第一数据线一一对应的第一检测开关电路和与所述第二数据线一一对应的第二检测开关电路，在垂直于所述显示面板的平面上，所示显示面板包括依次设置的多个功能层，所述第一裂纹检测线和所述第二裂纹检测线设置于不同功能层中，其中：

所述第一裂纹检测线的第一端配置为电连接第一测试端，所述第一裂纹检测线的第二端电连接所述第一检测开关电路的输入端，所述第一检测开关电路的输出端电连接对应的所述第一数据线；

所述第二裂纹检测线的第一端电连接所述第一裂纹检测线的第三节点，所述第三节点不同于所述所述第一裂纹检测线的第一端和第二端，所述第二裂纹检测线的第二端电连接所述第二检测开关电路的输入端，所述第二检测开关电路的输出端电连接对应的所述第二数据线；

所述第一检测开关电路的控制端和第二检测开关电路的控制端配置为电连接第二测试端。

2.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述周边区包括设置有绑定区的第一区域、与所述第一区域相对设置的第二区域，以及连接所述第一区域和所述第二区域且相对设置的第三区域和第四区域；

所述第一裂纹检测线的第一端和第二端位于所述第一区域；所述第一裂纹检测线位于所述第一区域、第二区域和第三区域；

所述第二裂纹检测线的第一端位于所述第二区域，第二端位于所述第一区域，所述第一裂纹检测线位于所述第一区域、第二区域和第三区域。

3.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，在平行于所述显示面板的平面上，所述第一裂纹检测线的正投影包含所述第二裂纹检测线的正投影。

4.根据权利要求2所述的显示面板，其特征在于，

所述显示区还设置有至少一条第三数据线和至少一条第四数据线，所述裂纹检测电路结构还包括第三裂纹检测线、第四裂纹检测线、与所述第三数据线一一对应的第三检测开关电路和与所述第四数据线一一对应的第四检测开关电路，所述第三裂纹检测线和所述第四裂纹检测线设置在所述显示面板的不同功能层中，其中：

所述第三裂纹检测线的第一端电连接第三测试端，所述第三裂纹检测线的第二端电连接所述第三检测开关电路的输入端，所述第三检测开关电路的输出端电连接所述第三数据线；

所述第四裂纹检测线的第一端电连接所述第三裂纹检测线的第四节点，所述第四节点不同于所述第三裂纹检测线的第一端和第二端，所述第四裂纹检测线的第二端电连接所述第四检测开关电路的输入端，所述第四检测开关电路的输出端电连接所述第四数据线；

所述第三检测开关电路的控制端和第四检测开关电路的控制端电连接第四测试端；

所述第三裂纹检测线的第一端和第二端位于所述第一区域；所述第三裂纹检测线位于所述第一区域、第二区域和第四区域；

所述第四裂纹检测线的第一端位于所述第二区域，第二端位于所述第一区域，所述第四裂纹检测线位于所述第一区域、第二区域和第四区域；

所述第一裂纹检测线和所述第二裂纹检测线位于所述显示面板的中轴线的一侧，所述第三裂纹检测线和所述第四裂纹检测线位于所述显示面板的中轴线的另一侧，其中，所述中轴线为所述第三区域和所述第四区域之间的中轴线。

5.根据权利要求4所述的显示面板，其特征在于，在平行于所述显示面板的平面上，所述第三裂纹检测线的正投影包含所述第四裂纹检测线的正投影。

6.根据权利要求4所述的显示面板，其特征在于，所述第三裂纹检测线与所述第一裂纹检测线同层设置，所述第四裂纹检测线与所述第二裂纹检测线同层设置。

7.根据权利要求1至5任一所述的显示面板，其特征在于，在垂直于所述显示面板的平面上，所述显示面板包括依次设置的显示基板和触控结构层，所述第一裂纹检测线和所述第二裂纹检测线其中之一设置在所述显示基板的周边区，另一设置在所述触控结构层的周边区。

8.根据权利要求7所述的显示基板，其特征在于，所述第一裂纹检测线设置在所述触控结构层的周边区，所述第二裂纹检测线设置在所述显示基板的周边区。

9.根据权利要求7所述的显示面板，其特征在于，

所述显示基板包括驱动结构层，所述驱动结构层包括有源层、第一栅绝缘层、第一栅金属层、第二栅绝缘层、第二栅金属层、层间绝缘层和源漏金属层，所述第二裂纹检测线与所述源漏金属层同层设置；

或者，

所述显示基板包括驱动结构层，所述驱动结构层包括有源层、第一栅绝缘层、第一栅金属层、第二栅绝缘层、第二栅金属层、层间绝缘层和源漏金属层，所述第二裂纹检测线与所述第二栅金属层同层设置。

10.根据权利要求7所述的显示面板，其特征在于，所述触控结构层包括依次设置的转接金属层、触控绝缘层和触控电极层，所述第一裂纹检测线与所述触控电极层同层设置，或者，所述第一裂纹检测线与所述转接金属层同层设置。

11.一种显示装置，其特征在于，包括如权利要求1至10任一所述的显示面板。

12.一种显示面板的裂纹检测方法，所述显示面板为权利要求1至10任一所述的显示面板，所述裂纹检测方法包括：

接收从所述第二测试端输入的导通信号并导通所述第一检测开关电路和第二检测开关电路，接收从所述第一测试端输入的测试信号，所述测试信号满足：当所述测试信号加载到所述数据线时，所述数据线所连接的子像素呈现第一发光状态；

根据所述显示面板的子像素的发光状态确定所述显示面板的裂纹状态信息。

13.根据权利要求12所述的显示面板的裂纹检测方法，其特征在于，所述根据所述显示面板的子像素的发光状态确定所述显示面板的裂纹状态信息包括：

当所述第一数据线所连接的子像素呈现第二发光状态，且所述第二数据线所连接的子像素呈现第二发光状态时，所述第一裂纹检测线的第一端和第三节点之间存在裂纹；

当所述第一数据线所连接的子像素呈现第二发光状态，所述第二数据线所连接的子像素呈现第一发光状态时，所述第一裂纹检测线的第一端和第三节点之间无裂纹，所述第三节点和第二端之间存在裂纹，所述第二裂纹检测线的第一端至第二端之间无裂纹；

当所述第一数据线所连接的子像素呈现第一发光状态，所述第二数据线所连接的子像素呈现第二发光状态时，所述第二裂纹检测线第一端和第二端之间存在裂纹，所述第一裂纹检测线的第一端和第二端之间无裂纹；

其中，所述第一发光状态和所述第二发光状态其中之一为亮态，另一为暗态。

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