CN111540294B - 一种显示面板及其裂纹检测方法、显示装置 - Google Patents

Abstract

一种显示面板及其裂纹检测方法、显示装置。所述显示面板包括：显示区和围绕所述显示区的外围区，所述显示区包括多条数据线，所述外围区设置有裂纹检测电路结构，其中，所述裂纹检测电路结构包括第一检测走线、第二检测走线和第三检测走线，以及，与所述数据线一一对应的多个检测开关电路，所述检测开关电路的控制端电连接到所述第三检测走线，所述检测开关电路的输出端电连接到对应的数据线，一部分所述检测开关电路的输入端电连接到所述第一检测走线，其余所述检测开关电路的输入端电连接到所述第二检测走线，所述第一检测走线和所述第二检测走线电连接到位于所述外围区的第一测试端，所述第三检测走线电连接到位于所述外围区的第二测试端。

Description

一种显示面板及其裂纹检测方法、显示装置

技术领域

本申请实施例涉及但不限于一种显示面板及其裂纹检测方法、显示装置。

背景技术

近年柔性显示技术发展迅猛，有机发光二极管(Organic Light-Emitting Diode，OLED)手环具有尺寸小、易携带、显示效果好等诸多优点，受到很多年轻用户的青睐。手环由于尺寸小，设计空间有限，尤其是ET(Electrical Test，电性检测)区域，焊盘(Pad)数量多，Pad尺寸大，还有诸多标记(Mark)，凡此种种给版图(Layout)走线设计造成极大困难。

柔性显示一般使用有机发光二极管技术，对封装工艺的要求极高，一旦封装边界出现裂纹，哪怕是微小的裂纹，水汽都很容易沿着裂纹渗透进入面板内腐蚀发光材料，造成显示不良和寿命减少。因此，显示面板的ET检测必不可少。

发明内容

本申请实施例提供了一种显示面板及其裂纹检测方法，显示装置。

一方面，本申请实施例提供了一种显示面板，包括：显示区和围绕所述显示区的外围区，所述显示区包括多条数据线，所述外围区设置有裂纹检测电路结构，其中，所述裂纹检测电路结构包括第一检测走线、第二检测走线和第三检测走线，以及，与所述数据线一一对应的多个检测开关电路，所述检测开关电路的控制端电连接到所述第三检测走线，所述检测开关电路的输出端电连接到对应的数据线，一部分所述检测开关电路的输入端电连接到所述第一检测走线，其余所述检测开关电路的输入端电连接到所述第二检测走线，所述第一检测走线和所述第二检测走线电连接到位于所述外围区的第一测试端，所述第三检测走线电连接到位于所述外围区的第二测试端。

在一示例性实施例中，所述第一检测走线围绕所述显示区设置。

在一示例性实施例中，所述第二检测走线包括围绕所述显示区的封闭走线。

在一示例性实施例中，所述第三检测走线包括围绕所述显示区的封闭走线。

在一示例性实施例中，所述第二检测走线位于所述第一检测走线靠近所述显示区一侧，所述第三检测走线位于所述第二检测走线靠近所述显示区一侧。

在一示例性实施例中，所述第一测试端和所述第二测试端为电性测试焊盘，所述第一测试端被配置为与检测探针接触，为所述第一检测走线和所述第二检测走线提供测试电压，所述第二测试端被配置为与检测探针接触，为所述第三检测走线提供开关信号以控制所述检测开关电路的导通或截止。

在一示例性实施例中，所述第一检测走线包括第一端和第二端，所述第一端电连接到位于所述外围区的第一模组测试焊盘，所述第二端电连接到位于所述外围区的第二模组测试焊盘，所述第三检测走线电连接位于所述外围区的第三模组测试焊盘，所述第一模组测试焊盘、所述第二模组测试焊盘和所述第三模组测试焊盘被配置为与驱动电路板电连接。

在一示例性实施例中，所述述检测开关电路包括至少一个薄膜晶体管，所述薄膜晶体管的控制极为所述检测开关电路的控制端，所述薄膜晶体管的第一极为所述检测开关电路的输入端，所述薄膜晶体管的第二极为所述检测开关电路的输出端。

另一方面，本申请实施例提供一种显示装置，包括上述显示面板。

再一方面，本申请实施提供一种显示面板的裂纹检测方法，所述显示面板上述显示面板，所述裂纹检测方法包括：

接收从所述第二测试端输入的导通信号并导通所述检测开关电路，接收从所述第一测试端输入的测试电压，所述测试电压满足：当所述测试电压加载到所述数据线时，所述数据线所连接的子像素呈现第一发光状态；

根据所述显示面板的子像素的发光状态确定所述显示面板是否存在裂纹。

在一示例性实施例中，所述根据所述显示面板的子像素的发光状态确定所述显示面板是否存在裂纹包括：

当所述显示面板上存在至少一条数据线所连接的子像素呈现第二发光状态时，判断所述显示面板存在裂纹，所述第一发光状态和所述第二发光状态其中之一为亮态，另一为暗态。

本申请实施例包括一种显示面板及其裂纹检测方法，显示装置。所述显示面板包括该显示面板包括：显示区和围绕所述显示区的外围区，所述显示区包括多条数据线，所述外围区设置有裂纹检测电路结构，其中，所述裂纹检测电路结构包括第一检测走线、第二检测走线和第三检测走线，以及，与所述数据线一一对应的多个检测开关电路，所述检测开关电路的控制端电连接到所述第三检测走线，所述检测开关电路的输出端电连接到对应的数据线，一部分所述检测开关电路的输入端电连接到所述第一检测走线，其余所述检测开关电路的输入端电连接到所述第二检测走线，所述第一检测走线和所述第二检测走线电连接到位于所述外围区的第一测试端，所述第三检测走线电连接到位于所述外围区的第二测试端。本申请实施例提供的显示面板，只需要设置两个测试端即可实现裂纹检测，占用面积小，既能有效地检测边缘裂纹的情况，又能节省面板空间，便于版图走线设计，可以适应小尺寸显示面板。

本发明的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本发明而了解。本发明的目的和其他优点可通过在说明书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。

附图说明

附图用来提供对本发明技术方案的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本申请的实施例一起用于解释本发明的技术方案，并不构成对本发明技术方案的限制。

图1a为一技术方案中提供的显示面板示意图；

图1b为图1a所示显示面板走线连接示意图；

图2a为本申请实施例提供的显示面板示意图；

图2b为图2a所示显示面板走线连接示意图；

图3为一实施例提供的显示面板示意图；

图4为本申请实施例提供的显示面板的裂纹检测方法流程图；

图5为另一实施例提供的显示面板的裂纹检测方法流程图。

具体实施方式

下文中将结合附图对本发明的实施例进行详细说明。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互任意组合。

在附图的流程图示出的步骤可以在诸如一组计算机可执行指令的计算机系统中执行。并且，虽然在流程图中示出了逻辑顺序，但是在某些情况下，可以以不同于此处的顺序执行所示出或描述的步骤。

除非另外定义，本公开使用的技术术语或者科学术语应当为本发明所属领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本公开中使用的“第一”、“第二”以及类似的词语并不表示任何顺序、数量或者重要性，而只是用来区分不同的组成部分。“包括”或者“包含”等类似的词语意指出现该词前面的元件或者物件涵盖出现在该词后面列举的元件或者物件及其等同，而不排除其他元件或者物件。“连接”或者“相连”等类似的词语并非限定于物理的或者机械的连接，而是可以包括电性的连接，不管是直接的还是间接的。“上”、“下”、“左”、“右”等仅用于表示相对位置关系，当被描述对象的绝对位置改变后，则该相对位置关系也可能相应地改变。

在本申请实施例中，为区分晶体管除栅极之外的两极，将其中一个电极称为第一极，另一电极称为第二极，第一极可以为源极或者漏极，第二极可以为漏极或源极，另外，将晶体管的栅极称为控制极。

OLED显示面板进行边缘裂纹检测，一种设计如图1a和图1b所示，在进行ET测试时，ET测试区域左右各有四个Pad信号分别为D1、D2、面板裂纹检测(Panel Crack Detection，简称PCD)和SWD(图1b中仅示出了3个Pad，未示出D1)，这四个信号组成一组CT(Cell Test，盒测试，本实施例中一组CT包括2D1S)。在EAC进行亮线检测时，在SWD pad输入低电平，薄膜晶体管打开(导通)，D2 Pad和PCD Pad均输入高电平，高电平信号给到有效显示区域(AtiveArea，简称AA)，这样使得显示面板处于黑态。如果显示面板的边缘出现裂纹，PCD信号断开，显示面板在黑态下会出现6条亮线，如果显示面板的边缘没有断裂，显示面板在黑态下则不会出现亮线。模组段集成电路(Integrate Circuit，IC)检测，由D2或单独一根PCD信号左右拉通，一侧扇出型封装(Fan-out-Packaging，FOP)PCD管脚(Pin)接入测试信号，另一侧的FOP PCD管脚接收(图1b中仅示出了一个FOP PCD管脚)，不区分左右，裂纹检测绕线为2～5圈Gate2绕线，通过电压差别来判断边缘是否出现裂纹。该方案中，Pad比较多，占用面积较多，不适合于小尺寸显示面板。

本申请实施例提供一种显示面板及其裂纹检测方法，显示装置。该显示面板包括：显示区和围绕所述显示区的外围区，所述显示区包括多条数据线，所述外围区设置有裂纹检测电路结构，其中，所述裂纹检测电路结构包括第一检测走线、第二检测走线和第三检测走线，以及，与所述数据线一一对应的多个检测开关电路，所述检测开关电路的控制端电连接到所述第三检测走线，所述检测开关电路的输出端电连接到对应的数据线，一部分所述检测开关电路的输入端电连接到所述第一检测走线，其余所述检测开关电路的输入端电连接到所述第二检测走线，所述第一检测走线和所述第二检测走线电连接到位于所述外围区的第一测试端，所述第三检测走线电连接到位于所述外围区的第二测试端。

本申请实施例提供的显示面板，只需要设置两个测试端即可实现裂纹检测，相比图1a所示方案中占用8个pad(左右各4个)，本实施例只需两个pad，占用面积小，既能有效地检测边缘裂纹的情况，又能节省面板空间，便于版图走线设计，可以适应小尺寸显示面板。

图2a和2b所示为本申请实施例提供的显示面板示意图。如图2a所示，本申请实施例提供一种显示面板，包括：显示区100和围绕所述显示区的外围区200，所述显示区100包括多条数据线101，所述外围区200设置有裂纹检测电路结构，其中，所述裂纹检测电路结构包括第一检测走线1、第二检测走线2和第三检测走线3，以及，与所述数据线101一一对应的多个检测开关电路4，所述检测开关电路4的控制端电连接到所述第三检测走线3，所述检测开关电路4的输出端电连接到对应的数据线101，一部分所述检测开关电路4的输入端电连接到所述第一检测走线1(比如检测开关电路42的输入端42b连接到第一检测走线1)，其余所述检测开关电路4的输入端电连接到所述第二检测走线2(比如检测开关电路41的输入端41b连接到第二检测走线2)，所述第一检测走线1和所述第二检测走线2电连接到位于所述外围区的第一试端51，所述第三检测走线3电连接到位于所述外围区的第二测试端52。

显示区100还包括子像素阵列(图2a中未示出)，该多条数据线101为显示区100的子像素阵列提供数据信号。数据线101沿与第一方向平行的方向延伸，例如，每条数据线对应于一列子像素。不同颜色的子像素组合能够形成像素单元，比如一个红色子像素、一个绿色子像素和一个蓝色子像素组合起来形成一个像素单元。与同一数据线101连接的子像素为显示相同颜色的子像素。

本实施例提供的显示面板，只需要使用两个测试端即可实现裂纹检测，占用面积小，既满足了显示面板边缘裂纹检测的目的，又节省了显示面板的空间，给版图设计带来极大的方便，可以较好的适应小尺寸显示面板针对于小尺寸产品，实现了更多设计可能。但本申请实施例不限于应用于小尺寸显示面板，可以应用于大尺寸显示面板。

在一示例性实施例中，所述第一测试端51和所述第二测试端52为电性测试焊盘，所述第一测试端51和被配置为与检测探针接触，为所述第一检测走线1和所述第二检测走线2提供测试电压，所述第二测试端52被配置为与检测探针接触，为所述第三检测走线3提供开关信号以控制所述检测开关电路4的导通或截止。开关信号可以是导通信号，使得检测开关电路4导通，也可以是截止信号，使得所述检测开关电路4截止。

此时，裂纹检测在显示面板的电性测试阶段进行。检测探针可以连接到位于显示面板外部的检测装置等，从而为第一测试端51和第二测试端52施加电压，进而向所连接的检测走线施加电压。其中，第一测试端51配置为输入测试电压至所述第一检测走线1和第二检测走线2，第二测试端52配置为输入开关信号至开关检测电路4以控制开关检测电路4的导通或断开。在另一实施例中，第一测试端51和第二测试端52可以连接到驱动电路板，在模组测试阶段进行裂纹检测。

在一示例性实施例中，如图2a所示，所述显示面板包括沿第一方向延伸的中心线300，所述第一测试端51和所述第二测试端52可以位于所述中心线300两侧，比如，位于显示面板绑定区(用于绑定驱动电路板的区域)的两侧。在另一实施例中，所述第一测试端51和所述第二测试端52可以位于所述中心线300同侧。

在一示例性实施例中，连接到第一检测走线1的多条数据线所连接的多列子像素的颜色可以相同，比如为绿色子像素，或者，多列子像素的颜色可以不同。连接到第一检测走线1的多条数据线可以沿所述显示面板的中心线300对称分布，或者，在所述显示面板上均匀分布，等等。比如，连接到第一检测走线1的数据线包括6条，均匀分布在显示面板上。

在一示例性实施例中，所述第一检测走线1可以围绕所述显示区100设置，或者，至少部分围绕所述显示区100设置。例如，第一检测走线1可以包括沿第一方向延伸的部分和沿第二方向延伸的部分，其中，第一方向为与数据线延伸方向平行的方向，第二方向垂直于第一方向。

在一示例性实施例中，第一检测走线1位于中心线300两侧对称分布。

在一示例性实施例中，第一检测走线2包括左右2～5圈的Gate2绕线，此处仅为示例，可以根据需要设计第一检测走线1的形状。如图2a所示，第一检测走线1为2圈的绕线，第一检测走线1包括第一端11到节点13的引线段，从节点13到节点14的引线段，从节点14到节点15的引线段，从节点15到节点16的引线段，以及，从节点16到第二端12的引线段，其中，第一端11、节点13、节点14位于中心线300一侧，节点12、节点15和节点16位于中心线300另一侧，第一端11和第二端12在中心线300两侧对称分布；节点13和节点16在中心线300两侧对称分布；节点14和节点15在中心线300两侧对称分布；第一端11和第二端12位于显示面板靠近绑定区一侧，节点13、节点14、节点15和节点16位于显示面板远离绑定区一侧。本实施例中第一检测走线1的布线仅为示例，可以根据需要使用其他布线方式。

在一示例性实施例中，第一检测走线1尽量经过围绕显示区100的全部区域，以增大检测范围。比如，所述第一检测走线1可以包括蛇形结构(比如S形走线，Z形走线，W形走线等)，从而可以提高对外围区200的覆盖率，更好的检测检测显示面板的外围区是否出现裂纹。

在一示例性实施例中，所述第二检测走线2可以包括围绕所述显示区的封闭走线。在其他实施例中，第二检测走线2可以不封闭，比如，包括一条位于所述显示面板靠近绑定区(用于绑定驱动电路板的区域)一侧的直线。封闭走线是指完全包围显示区100的闭合走线。

在一示例性实施例中，所述第三检测走线3可以包括围绕所述显示区的封闭走线。在其他实施例中，第二检测走线3可以不封闭，比如，包括一条位于所述显示面板靠近绑定区(用于绑定驱动电路板的区域)一侧的直线。

在一示例性实施例中，所述第二检测走线2位于所述第一检测走线1靠近所述显示区100一侧，所述第三检测走线3位于所述第二检测走线2靠近所述显示区100一侧。本申请实施例不限于此，第二检测走线3可以位于所述第二检测走线2远离所述显示区一侧，第二检测走线2可以位于第一检测走线1远离所述显示区100一侧，第三检测走线3可以位于第二检测走线2远离所述显示区100一侧。第二检测走线2远离显示面板的边缘以免第二检测走线2被裂纹影响而断开，更有利于检测外围区的裂纹。

在一示例性实施例中，所述第一检测走线1包括第一端11和第二端12，所述第一端11比如为所述第一检测走线1的起端，所述第二端12比如为所述第一检测走线1的末端，所述第一端11电连接到位于所述外围区200的第一模组测试焊盘53，所述第二端12电连接到位于所述外围区200的第二模组测试焊盘54，所述第三检测走线3电连接位于所述外围区200的第三模组测试焊盘55，所述第一模组测试焊盘53、所述第二模组测试焊盘54和所述第三模组测试焊盘55被配置为与驱动电路板电连接。该驱动电路板可以设置于显示面板内部，或者，设置于显示面板外部，并通过例如柔性电路板(FPC)等方式安装到显示面板上。该驱动电路板为所述第一模组测试焊盘53或所述第二模组测试焊盘54提供测试电压以进行裂纹检测，该测试电压可以不同于施加到第一测试端51的测试电压。所述驱动电路板为所述第三模组测试焊盘55提供开关信号，以控制所述检测开关电路4的导通或截止，进行模组测试时，所述第三模组测试焊盘55输入使得检测开关电路4断开的开关信号(比如为高电平信号)控制所述检测开关电路4断开，所述第一模组测试焊盘53和所述第二模组测试焊盘54其中之一输入测试信号，在另一侧接收信号，通过接收信号与预设阈值或预设阈值范围的电压差别来判断边缘是否出现裂纹，当第一检测走线1存在裂纹时，电阻升高，接收信号会超出预设阈值或预设阈值范围，因此，当接收信号超出预设阈值或预设阈值范围时，判断存在裂纹。预设阈值或预设阈值范围可以通过仿真方式或测试方式获得，本实施例对此不作限定。本实施例提供的方案，可以满足模组段IC检测裂纹的需求。另外，在显示面板进行正常工作时，可以向所述第三模组测试焊盘55加载能够使得检测开关电路截止的开关信号，进而避免第一检测走线1上加载的各类电压信号加载至数据线101，保证了显示面板的正常显示。如图3所示，所述第一模组测试焊盘53、所述第二模组测试焊盘54和所述第三模组测试焊盘55比如为覆晶薄膜(Chip On Flex，或，Chip On Film，简称COF)管脚。

如图3所示，在一示例性实施例中，所述述检测开关电路4包括至少一个薄膜晶体管，所述薄膜晶体管的控制极为所述检测开关电路4的控制端，所述薄膜晶体管的第一极为所述检测开关电路4的输入端，所述薄膜晶体管的第二极为所述检测开关电路4的输出端。以薄膜晶体管为P沟道金属氧化物半导体场效应晶体管(PMOS)为例，在电性测试阶段，第二测试端52上施加低电平，从而控制检测开关电路4导通，第一测试端51上施加测试电压(比如高电平信号)，该测试电压加载到第一检测走线1和第二检测走线2，则该测试电压施加到与第二检测走线2相连的数据线上，相应的子像素呈现第一发光状态，如果第一检测走线1无裂纹，则该测试电压施加到与第一检测走线1相连的数据线，相应的子像素呈现第一发光状态，如果第一检测走线1存在裂纹使得第一检测走线1断开，则该测试电压未施加到与第一检测走线1相连的数据线，相应的子像素呈现第二发光状态。因此，检测开关电路4导通，且第一测试端51上施加测试电压后，当显示面板上存在子像素呈现第二发光状态时，说明存在裂纹，当显示面板上的子像素均呈现第一发光状态时，说明不存在裂纹。第一发光状态比如为暗态(或称黑态，此时显示面板呈黑色画面)，第二发光状态比如为亮态；或者，第一发光状态比如为亮态，第二发光状态比如为暗态。本申请实施例不限于此，在另一实施例中，所述薄膜晶体管比如为N沟道金属氧化物半导体场效应晶体管(NMOS)。此时，在电性测试阶段，第二测试端52上施加高电平，从而控制检测开关电路4导通，第一测试端51上施加测试电压后，该测试电压加载到第一检测走线1和第二检测走线2，当显示面板上存在子像素呈现第二发光状态时，说明外围区存在裂纹，当显示面板上子像素均呈现第一发光状态时，说明外围区不存在裂纹。本实施提供的检测开关电路仅为示例，可以是其他类型的开关电路，比如检测开关电路4可以包括多个薄膜晶体管。图3中仅示出了部分检测开关电路4，在一实施例中，检测开关电路4可以环绕所述显示区100，等等，可以根据需要布置检测开关电路4。

在一示例性实施例中，连接到第一检测走线1的数据线相连的子像素比如为绿色子像素，且第一发光状态为暗态，第二发光状态为亮态时，在检测开关电路4导通，且在第一测试端51上施加测试电压后，如果显示面板上存在绿色的亮线，则说明外围区存在裂纹。

图4为一实施例提供的显示面板的裂纹检测方法流程图。本实施例中，所述显示面板为上述任一实施例所述的显示面板。如图4所示，所述裂纹检测方法包括：

步骤401，接收从所述第二测试端输入的导通信号并导通所述检测开关电路；

当检测开关电路为PMOS时，导通信号比如为低电平信号。

步骤402，接收从所述第一测试端51输入的测试电压，所述测试电压满足：当所述测试电压加载到所述数据线时，所述数据线所连接的子像素呈现第一发光状态；

即检测开关电路导通时，第一检测走线1无裂纹，测试电压加载到数据线101时，数据线101所连接的子像素呈现第一发光状态；第一检测走线1存在裂纹，测试电压无法加载到数据线101时，数据线101所连接的子像素呈现第二发光状态；

步骤403，根据所述显示面板的子像素的发光状态确定所述显示面板是否存在裂纹。

在一实施例中，所述根据所述显示面板的子像素的发光状态确定所述显示面板是否存在裂纹包括：

当所述显示面板上存在至少一条数据线所连接的子像素呈现第二发光状态时，判断所述显示面板存在裂纹，所述第一发光状态和所述第二发光状态其中之一为亮态，另一为暗态。

在一实施例中，第一发光状态为暗态，第二发光状态为亮态，则步骤402中，当所述显示面板上存在子像素呈现亮态(比如出现亮线)，判断所述显示面板存在裂纹。

在一实施例中，第一发光状态为亮态，第二发光状态为暗态，则步骤402中，当所述显示面板上存在子像素呈现暗态(比如出现暗线)，判断所述显示面板存在裂纹。

本实施提供的裂纹检测方法，在面板进行ET检测时同样可以直观判断边缘是否断裂，实现裂纹检测，且Pad数量少，可节省面板空间，便于版图走线设计。

图5为另一实施例提供的显示面板的裂纹检测方法流程图。如图5所示，包括：

步骤501，接收从第三模组测试焊盘55加载的截止信号，使得检测开关电路4截止；

所述截止信号比如为高电平信号；

步骤502，向第一模组测试焊盘53加载测试信号；

步骤503，检测第二模组测试焊盘54输出的检测信号；

步骤504，根据所述检测信号判断所述显示面板是否存在裂纹。

比如，判断检测信号是否在预设阈值范围内，当接收的检测信号在预设阈值范围外时，判断显示面板存在裂纹。

本申请实施例提供的裂纹检测方法，可以在模组测试阶段进行裂纹检测，且Pad数量少，可节省面板空间，便于版图走线设计。

基于本申请实施例的技术构思，本申请实施例还提供了一种显示装置，包括前述实施例的显示面板。本实施例提供的显示装置，既可以实现裂纹检测，又可以减少所使用的Pad，节省了显示面板的空间，给版图设计带来极大的方便。所述显示装置可以是OLED显示装置，或者液晶显示装置。所述显示装置可以为：智能手环，手机、平板电脑、电视机、显示器、笔记本电脑、数码相框、导航仪等任何具有显示功能的产品或部件。

有以下几点需要说明：

(1)本发明实施例附图只涉及到与本发明实施例涉及到的结构，其他结构可参考通常设计。

(2)为了清晰起见，在用于描述本发明的实施例的附图中，层或区域的厚度被放大或缩小，即这些附图并非按照实际的比例绘制。可以理解，当诸如层、膜、区域或基板之类的元件被称作位于另一元件“上”或“下”时，该元件可以“直接”位于另一元件“上”或“下”，或者可以存在中间元件。

(3)在不冲突的情况下，本发明的实施例及实施例中的特征可以相互组合以得到新的实施例。

虽然本发明所揭露的实施方式如上，但所述的内容仅为便于理解本发明而采用的实施方式，并非用以限定本发明。任何本发明所属领域内的技术人员，在不脱离本发明所揭露的精神和范围的前提下，可以在实施的形式及细节上进行任何的修改与变化，但本发明的专利保护范围，仍须以所附的权利要求书所界定的范围为准。

Claims (9)

1.一种显示面板，包括：显示区和围绕所述显示区的外围区，所述显示区包括多条数据线，所述外围区设置有裂纹检测电路结构，其中，所述裂纹检测电路结构包括第一检测走线、第二检测走线和第三检测走线，以及，与所述数据线一一对应的多个检测开关电路，所述检测开关电路的控制端电连接到所述第三检测走线，所述检测开关电路的输出端电连接到对应的数据线，一部分所述检测开关电路的输入端电连接到所述第一检测走线，其余所述检测开关电路的输入端电连接到所述第二检测走线，所述第一检测走线和所述第二检测走线电连接到位于所述外围区的第一测试端，所述第三检测走线电连接到位于所述外围区的第二测试端；

所述第一检测走线围绕所述显示区设置，所述第二检测走线包括围绕所述显示区的封闭走线；所述第二检测走线位于所述第一检测走线靠近所述显示区一侧。

2.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述第三检测走线包括围绕所述显示区的封闭走线。

3.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述第三检测走线位于所述第二检测走线靠近所述显示区一侧。

4.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述第一测试端和所述第二测试端为电性测试焊盘，所述第一测试端被配置为与检测探针接触，为所述第一检测走线和所述第二检测走线提供测试电压，所述第二测试端被配置为与检测探针接触，为所述第三检测走线提供开关信号以控制所述检测开关电路的导通或截止。

5.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述第一检测走线包括第一端和第二端，所述第一端电连接到位于所述外围区的第一模组测试焊盘，所述第二端电连接到位于所述外围区的第二模组测试焊盘，所述第三检测走线电连接位于所述外围区的第三模组测试焊盘，所述第一模组测试焊盘、所述第二模组测试焊盘和所述第三模组测试焊盘被配置为与驱动电路板电连接。

6.根据权利要求1至5任一所述的显示面板，其特征在于，所述述检测开关电路包括至少一个薄膜晶体管，所述薄膜晶体管的控制极为所述检测开关电路的控制端，所述薄膜晶体管的第一极为所述检测开关电路的输入端，所述薄膜晶体管的第二极为所述检测开关电路的输出端。

7.一种显示装置，其特征在于，包括如权利要求1至6任一所述的显示面板。

8.一种显示面板的裂纹检测方法，所述显示面板为权利要求1至6任一所述的显示面板，所述裂纹检测方法包括：

接收从所述第二测试端输入的导通信号并导通所述检测开关电路，接收从所述第一测试端输入的测试电压，所述测试电压满足：当所述测试电压加载到所述数据线时，所述数据线所连接的子像素呈现第一发光状态；

根据所述显示面板的子像素的发光状态确定所述显示面板是否存在裂纹。

9.根据权利要求8所述的显示面板的裂纹检测方法，其特征在于，所述根据所述显示面板的子像素的发光状态确定所述显示面板是否存在裂纹包括：

当所述显示面板上存在至少一条数据线所连接的子像素呈现第二发光状态时，判断所述显示面板存在裂纹，所述第一发光状态和所述第二发光状态其中之一为亮态，另一为暗态。