CN113834992A - 测试电路和显示面板 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及显示技术领域，公开了一种测试电路和显示面板，该显示面板包括该测试电路，该测试电路包括测试控制线和多条测试线，以及多个以列排布的开关单元，该开关单元连接多条测试线与数据线，并在测试阶段将所述多条测试线上的测试信号提供至对应的数据线，以实现所述显示面板的点亮测试，以及在显示阶段，所述多个开关单元导通对应数据线至所述测试线的电通路，并经由所述多条测试线将所述数据线上的静电电荷释放至公共电极线上。本发明提供的测试电路和显示面板将静电防护和显示面板的点亮测试的功能电路整合为一体，有效降低了静电防护电路对显示面板的边框空间的额外占用，为显示面板的窄边框设计提供了便利。

Description

测试电路和显示面板
技术领域
本发明涉及显示技术领域，具体地，涉及测试电路和显示面板。
背景技术
液晶显示器(Liquid Crystal Display，LCD)因具有轻、薄、功耗低、亮度高以及画质高等优点，在平板显示领域占据了重要的地位。其中，LCD的液晶显示面板中的阵列基板包括像素单元和数据线，数据线与像素单元连接，通过数据线控制像素单元工作。在显示面板正常工作时，还会存在静电放电(Electro-Static discharge，简称ESD)现象，静电放电是造成大多数电子组件或电子系统收到过度电性应力破坏的主要因素，容易导致半导体器件永久性的损坏，从而导致集成电路功能的失效，对于显示面板，静电放电会造成阵列基板的像素单元的微电子结构的损坏，进而导致显示异常，因此需通过防静电线路对数据线上的电荷进行释放。
现有的静电防护电路包括放电晶体管和开关信号线，放电晶体管的栅极与开关信号线连接，其源极和漏极中的一者与数据线连接，另一者与阵列基板上的公共电极连接通过晶体管连接(通过公共电极线连接公共电极)，通过开关信号线控制放电晶体管将数据线上的电荷释放到公共电极上。图1示出了根据现有技术的显示面板的部分结构示意图，参照图1，在现有技术的显示面板100中，其一端设置有开口101，用于放置摄像头，在开口101附近，像素单元111阶梯式排布，对应非显示区的布线121为斜向排布，即设置开口的位置无放置静电防护电路的空间，静电防护电路10需要设置在另一端，而静电防护电路10一般需要占用下边框200至300微米的宽度空间，不利于窄边框的设计。
发明内容
鉴于上述问题，本发明的目的在于提供一种测试电路和显示面板，从而降低静电防护电路对边框的占用，为窄边框的设计提供便利。
根据本发明的一方面，提供一种具有静电防护功能的测试电路，设置在显示面板上，所述测试电路包括：
测试控制线；
多条测试线；
多个以列排布的开关单元，多个所述开关单元的第一端与所述显示面板上的多条数据线一一对应连接，各所述开关单元的控制端与所述测试控制线连接，各所述开关单元的第二端与所述多条测试线连接，
其中，各所述开关单元适于在测试阶段将所述多条测试线上的测试信号提供至所述多条数据线中对应的数据线，以实现所述显示面板的点亮测试，以及在显示阶段，各所述开关单元导通对应数据线至所述测试线的电通路，并经由所述多条测试线将所述数据线上的静电电荷释放至公共电极线上。
可选地，还包括：
至少一个静电释放单元，所述至少一个静电释放单元的第一端与所述公共电极线连接，第二端与所述测试线连接，适于在所述显示阶段提供所述多条测试线至所述公共电极线的电通路。
可选地，所述开关单元包括第三晶体管和第四晶体管，所述第三晶体管和所述第四晶体管中的每一个的漏极均连接至另一个的源极，
所述第四晶体管的栅极与对应数据线连接，所述第四晶体管的栅极与漏极连接，
所述第三晶体管的栅极连接至所述测试控制线，且所述第二晶体管的漏极连接至所述多条测试线中对应的测试线。
可选地，所述静电释放单元的包括第一晶体管和第二晶体管，所述第一晶体管和所述第二晶体管的每一个的源极连接至另一个的漏极，
所述第一晶体管的漏极与栅极连接，所述第一晶体管的栅极连接至所述多条测试线，
所述第二晶体管的漏极与栅极连接，所述第二晶体管的栅极连接至所述公共电极线。
可选地，还包括：
调控晶体管，所述调控晶体管串联在所述多条测试线至所述测试控制线之间，在所述调控晶体管导通时连通所述多条测试线至所述测试控制线。
可选地，所述调控晶体管的栅极连接至所述多条测试线。
可选地，所述测试电路还包括辅助控制线，所述辅助控制线连接至所述调控晶体管的栅极，
在所述测试阶段，所述辅助控制线提供低电平，以关断所述调控晶体管，以及
在所述显示阶段，所述辅助控制线提供高电平，以导通所述调控晶体管。
可选地，在所述测试阶段，所述测试控制线提供高电平，以导通各所述开关单元，以及
在所述显示阶段，所述测试控制线以及所述多条测试线均悬空。
可选地，所述测试电路设置在数据线尾端、数据线进入侧、IC内部空白位置中的至少一处。
根据本发明的另一方面，提供一种显示面板，包括：
根据本发明提供的的测试电路。
本发明提供的测试电路包括测试控制线和多条测试线，以及多个以列排布的开关单元，该开关单元连接多条测试线与数据线，并在测试阶段将所述多条测试线上的测试信号提供至对应的数据线，以实现所述显示面板的点亮测试，以及在显示阶段，所述多个开关单元导通对应数据线至所述测试线的电通路，并经由所述多条测试线将所述数据线上的静电电荷释放至公共电极线上，将多条测试线分时用于测试时的数据输入和静电防护时的静电电荷释放路径，将静电防护和显示面板的点亮测试的功能电路整合为一体，有效降低了静电防护电路对显示面板的边框空间的额外占用，为显示面板的窄边框设计提供了便利。
本发明提供的显示面板包括本发明提供的测试电路，将测试电路与显示面板的点灯测试电路整合为一体，有效降低了测静电防护电路对显示面板的边框空间的额外占用，为窄边框设计提供了便利。
附图说明
通过以下参照附图对本发明实施例的描述，本发明的上述以及其他目的、特征和优点将更为清楚，在附图中：
图1示出了根据现有技术的显示面板的部分结构示意图；
图2示出了根据现有技术的静电防护电路的结构示意图；图3示出了根据本发明一实施例的测试电路的结构示意图；
图4示出了根据本发明一实施例的测试电路的结构示意图。
具体实施方式
以下将参照附图更详细地描述本发明的各种实施例。在各个附图中，相同的元件采用相同或类似的附图标记来表示。为了清楚起见，附图中的各个部分没有按比例绘制。
下面结合附图和实施例，对本发明的具体实施方式作进一步详细描述。
图2示出了根据现有技术的静电防护电路的结构示意图，如图2所示，现有技术的静电防护电路10包括多个开关单元，各开关单元均包括晶体管T11和晶体管T12，晶体管T11的栅极G1和漏极D1连接，晶体管T12的栅极G2与漏极D2连接，晶体管T11的漏极D1与晶体管T12的源极S2连接，晶体管T12的漏极D2与晶体管T11的源极S1连接，多个开关单元中的晶体管T11的栅极均连接开关信号线11，多个开关单元中的一部分与数据线(S1、S2至S5760、S5761)一一对应，且其中的晶体管T11的源极与对应的数据线连接，多个开关单元中的另一部分中的晶体管T12的栅极G2连接至公共电极Vcom，在任意数据线上出现静电的大电荷时，对应的开关单元的晶体管T12导通，通过D2、S2、D1、G1至开关信号线11的路径将静电电荷传递至开关信号线11，并开启多个开关单元中的另一部分的晶体管T11，再通过G1、D1、S1、D2、G2至公共电极Vcom的路径将静电电荷释放至公共电极，实现数据线上的静电释放。
图3示出了根据本发明一实施例的测试电路的结构示意图，参照图3，在本实施例的测试电路中，主要包括静电释放单元21、开关单元22、第五晶体管T5(调控晶体管)、第六晶体管T6(调控晶体管，在本实施例中为两个，但本发明对调控晶体管的数量不作特别限定)、测试控制线ADD、第一测试线D1、第二测试线D2。其中，静电释放单元21与开关单元22并排设置，可避免额外的宽度空间的占用。
其中，在本实施例中，各晶体管均为N型晶体管。
静电释放单元21包括第一晶体管T1和第二晶体管T2，第一晶体管T1的漏极D1与第二晶体管T2的源极S2连接，第一晶体管T1的源极S1与第二晶体管T2的漏极D2连接，第一晶体管T1的漏极D1和栅极G1连接，第二晶体管T2的漏极D2与栅极G2连接，第一晶体管T1的栅极连接至第一测试线D1，第二晶体管T2的栅极连接至公共电极Vcom，在第一测试线D1上出现静电大电荷时，第一晶体管T1导通，静电电荷由第一晶体管T1的漏极D1传输至源极S1，再经过第二晶体管T2的漏极D2至栅极G2的外接线传递至公共电极Vcom，提供静电电荷的释放路径。
在本实施例中，静电释放单元21设置两个，其第一晶体管T1的栅极分别与第一测试线D1和第二测试线D2连接，分别提供第一测试线D1和第二测试线D2的静电电荷释放路径。在可选实施例中，静电释放单元21设置多个，可提高静电电荷释放速度。
开关单元22包括第三晶体管T3和第四晶体管T4，第三晶体管T3和第四晶体管T4的源极均连接至另一个的漏极，第四晶体管T4的漏极和栅极连接，第三晶体管T3的栅极连接至测试控制线ADD，第三晶体管T3的漏极连接至第一测试线D1或第二测试线D2(在本实施例中，测试线为两条，各开关单元22中第三晶体管T3的漏极连接至两条测试线中的一条，且交替连接至不同的测试线)，第四晶体管T4的栅极连接至数据线(S1至S5761)，在数据线上出现静电大电流时，第四晶体管T4导通，静电电荷通过传递至第四晶体管T4的源极，然后传递至第一测试线D1或第二测试线D2，在开启连接至第一测试线D1或第二测试线D2的静电释放单元21的电荷释放路径，将静电电荷释放至公共电极Vcom，实现对数据线上的静电电荷的释放。
其中，本实施例的测试电路在其测试控制线ADD、第一测试线D1和第二测试线D2无其它信号输入时，用于静电防护。
在测试阶段，在测试控制线ADD施加开关控制信号(高电平有效)，第一测试线D1和第二测试线D2施加测试信号(用于像素单元的点亮驱动)，用于显示面板的像素单元的点亮测试。在显示面板的像素单元的点亮测试完成后，在显示阶段，测试控制线ADD、第一测试线D1和第二测试线D2无外部信号的输入，用于静电防护。
其中，测试控制线ADD施加开关控制信号，驱动各开关单元22的第三晶体管T3导通，从而导通第三晶体管T3的漏极至第四晶体管T4的栅极的电通路，在第一测试线D1和第二测试线D2上施加测试信号，可向数据线提供驱动信号，测试显示面板的各像素单元的有效性。
在本实施例中，第五晶体管T5的漏极连接至第一测试线D1，源极连接至测试控制线ADD，栅极连接至漏极，第六晶体管T6的漏极连接至第二测试线D2，源极连接至测试控制线ADD，栅极连接至漏极，在数据线上的静电电荷传递至第一测试线D1和第二测试线D2时，还开启第五晶体管T5和第六晶体管T6，使第一测试线D1和第二测试线D2的电位还同步至测试控制线ADD，开启开关单元22的第三晶体管T3，使得开关单元的第三晶体管T3的漏极至第四晶体管T4的栅极的电通路导通，使第一测试线D1和第二测试线D2的电位维持第四晶体管T4的导通，进一步保障静电放电时的开关单元22的导通，维持数据线的静电释放路径的有效开启，提高静电释放的可靠性，提高静电防护能力。
本发明实施例的测试电路可同时实现显示面板的点灯测试电路与静电防护电路的功能，将点灯测试电路和静电防护电路对显示面板的非显示区域的空间占用整合为一，降低了点灯测试和静电防护的功能实现电路对非显示区域的空间的占用，为显示面板的窄边框设计提供了便利。
在本实施例中，测试电路设置在显示面板100的下边框位置，即设置在数据线尾端(与行扫描顺序匹配)，在可选实施例中，该测试电路还可设置在数据线进入侧(数据信号输入侧)，或控制芯片(IC)内部空白位置，均可有效降低点灯测试和静电防护的功能实现电路对非显示区域的空间的总占用。
图4示出了根据本发明一实施例的测试电路的结构示意图。本实施例的测试电路与图3所示的测试电路的主要结构相同，在此对其相同部分不再详述。
参照图4，本实施例额外设置辅助控制线F，第五晶体管T5和第六晶体管T6的开启和关断控制通过辅助控制线F的输入信号控制，其它部分与图3所示实施例相同，在此不再详述。
其在显示面板的像素单元的点灯测试时提供低电平，控制第五晶体管T5和第六晶体管T6关断，在显示面板正常工作时，辅助控制线F提供高电平，控制第五晶体管T5和第六晶体管T6导通，提高静电防护效果。
本发明提供的测试电路包括测试控制线和多条测试线，以及多个以列排布的开关单元，该开关单元连接多条测试线与数据线，并在测试阶段将所述多条测试线上的测试信号提供至对应的数据线，以实现所述显示面板的点亮测试，以及在显示阶段，所述多个开关单元导通对应数据线至所述测试线的电通路，并经由所述多条测试线将所述数据线上的静电电荷释放至公共电极线上，将多条测试线分时用于测试时的数据输入和静电防护时的静电电荷释放路径，将静电防护和显示面板的点亮测试的功能电路整合为一体，有效降低了静电防护电路对显示面板的边框空间的额外占用，为显示面板的窄边框设计提供了便利。
本发明提供的显示面板包括本发明提供的测试电路，将静电防护电路与显示面板的点灯测试电路整合为一体，有效降低了静电防护电路对显示面板的边框空间的额外占用，为窄边框设计提供了便利。
依照本发明的实施例如上文所述，这些实施例并没有详尽叙述所有的细节，也不限制该发明仅为所述的具体实施例。显然，根据以上描述，可作很多的修改和变化。本说明书选取并具体描述这些实施例，是为了更好地解释本发明的原理和实际应用，从而使所属技术领域技术人员能很好地利用本发明以及在本发明基础上的修改使用。本发明仅受权利要求书及其全部范围和等效物的限制。

Claims (10)

1.一种具有静电防护功能的测试电路，设置在显示面板上，其特征在于，所述测试电路包括：
测试控制线；
多条测试线；
多个以列排布的开关单元，多个所述开关单元的第一端与所述显示面板上的多条数据线一一对应连接，各所述开关单元的控制端与所述测试控制线连接，各所述开关单元的第二端与所述多条测试线连接，
其中，各所述开关单元适于在测试阶段将所述多条测试线上的测试信号提供至所述多条数据线中对应的数据线，以实现所述显示面板的点亮测试，以及在显示阶段，各所述开关单元导通对应数据线至所述测试线的电通路，并经由所述多条测试线将所述数据线上的静电电荷释放至公共电极线上。
2.根据权利要求1所述的测试电路，其特征在于，还包括：
至少一个静电释放单元，所述至少一个静电释放单元的第一端与所述公共电极线连接，第二端与所述测试线连接，适于在所述显示阶段提供所述多条测试线至所述公共电极线的电通路。
3.根据权利要求1所述的测试电路，其特征在于，
所述开关单元包括第三晶体管和第四晶体管，所述第三晶体管和所述第四晶体管中的每一个的漏极均连接至另一个的源极，
所述第四晶体管的栅极与对应数据线连接，所述第四晶体管的栅极与漏极连接，
所述第三晶体管的栅极连接至所述测试控制线，且所述第二晶体管的漏极连接至所述多条测试线中对应的测试线。
4.根据权利要求2所述的测试电路，其特征在于，
所述静电释放单元的包括第一晶体管和第二晶体管，所述第一晶体管和所述第二晶体管的每一个的源极连接至另一个的漏极，
所述第一晶体管的漏极与栅极连接，所述第一晶体管的栅极连接至所述多条测试线，
所述第二晶体管的漏极与栅极连接，所述第二晶体管的栅极连接至所述公共电极线。
5.根据权利要求1所述的测试电路，其特征在于，还包括：
调控晶体管，所述调控晶体管串联在所述多条测试线至所述测试控制线之间，在所述调控晶体管导通时连通所述多条测试线至所述测试控制线。
6.根据权利要求5所述的测试电路，其特征在于，所述调控晶体管的栅极连接至所述多条测试线。
7.根据权利要求5所述的测试电路，其特征在于，所述测试电路还包括辅助控制线，所述辅助控制线连接至所述调控晶体管的栅极，
在所述测试阶段，所述辅助控制线提供低电平，以关断所述调控晶体管，以及
在所述显示阶段，所述辅助控制线提供高电平，以导通所述调控晶体管。
8.根据权利要求1所述的测试电路，其特征在于，在所述测试阶段，所述测试控制线提供高电平，以导通各所述开关单元，以及
在所述显示阶段，所述测试控制线以及所述多条测试线均悬空。
9.根据权利要求1所述的测试电路，其特征在于，
所述测试电路设置在数据线尾端、数据线进入侧、IC内部空白位置中的至少一处。
10.一种显示面板，其特征在于，包括：
根据权利要求1至9任一项所述的测试电路。
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