CN114296263B - 点灯测试线路、显示面板以及显示装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种点灯测试线路、显示面板以及显示装置，点灯测试线路包括开关信号线；至少两条测试信号线，用于提供测试信号；多个薄膜晶体管，多个薄膜晶体管的控制端与开关信号线相连，第一导通端交替连接至至少两条测试信号线其中之一，第二导通端与显示面板上的多条数据线一一对应；多个第一绑定端子，分别与测试信号线相连，多个第一绑定端子在点灯测试阶段相互独立；金手指，用于在显示阶段覆盖多个第一绑定端子使其相互导通。本发明提供的点灯测试线路、显示面板和显示装置，不仅可以在点灯测试阶段进行点灯测试，还可以在显示阶段的两帧的间隔时间进行电荷中和，达到部分预充电和节约能源，降低功耗的目的。

Description

点灯测试线路、显示面板以及显示装置

技术领域

本发明涉及显示技术领域，特别涉及一种点灯测试线路、显示面板以及显示装置。

背景技术

LCD(Liquid Crystal Display)由于其轻薄化和低功耗等优点，是目前市场中的主流显示装置，显示面板的制备过程通常包括阵列基板工序、彩膜基板工序以及阵列基板与彩膜基板的成盒(cell)工序，在进行cell工序时，需要对显示面板进行点灯测试，以及早发现不良产品，避免流入后续工艺，能够降低生产成本。

如图1所示，显示面板10包括显示区域110、焊盘测试区120和柔性电路板140，印刷电路板130通过柔性电路板140连接到显示面板10上。焊盘测试区120设置有线极驱动芯片150和测试垫片160。通常在引线区将所有的扫描线和数据线进行分组连接，并将分组后的走线引出至测试垫片160对显示面板10进行点灯测试。

图2是现有的点灯测试线路，包括开关信号线线ADD、第一测试信号线D1、第二测试信号线D2、多个薄膜晶体管(T1-TN)，多个薄膜晶体管的控制端连接至开关信号线ADD，第一导通端交替连接至第一测试信号线D1和第二测试信号线D2，第二导通端与显示面板上的多条数据线(S1-SN)一一对应连接，供电端161与开关信号线ADD、驱动芯片IC150或者柔性电路板相连。在点灯测试阶段多个薄膜晶体管将两条测试线上的测试信号提供至多条数据线中对应的数据线，以完成显示面板的点亮测试。

在显示阶段，点灯测试线路不会再被用到，需要将开关信号线ADD置于悬浮态或者由供电端161提供低电平的电压信号AVDD以关闭薄膜晶体管，防止出现短路，这样在显示阶段对点灯测试线路来说是一种浪费。因此，有必要提供一种新的点灯测试线路，可以在显示阶段对点灯测试线路进行再利用。

发明内容

鉴于上述问题，本发明的目的在于提供一种点灯测试线路、显示面板以及显示装置，从而在显示阶段可以对点灯测试线路进行再利用。

根据本发明的一方面，提供一种点灯测试线路，设置在显示面板上，所述点灯测试线路包括：开关信号线，用于接收电压信号，并根据所述电压信号提供开关信号；至少两条测试信号线，用于提供测试信号；多个薄膜晶体管，多个所述薄膜晶体管的控制端与所述开关信号线相连，第一导通端交替连接至所述至少两条测试信号线其中之一，第二导通端与所述显示面板上的多条数据线一一对应连接；多个第一绑定端子，分别与所述测试信号线相连，所述多个第一绑定端子在点灯测试阶段相互独立；金手指，所述金手指用于在显示阶段覆盖所述多个第一绑定端子，使所述多个第一绑定端子相互导通。

可选地，所述点灯测试线路还包括：第一测试垫片，用于将所述至少两条测试信号线分别与所述多个第一绑定端子相连；第二测试垫片，设有供电端，与所述开关信号线相连，用于提供电压信号至所述开关信号线。

可选地，所述点灯测试线路还包括：第二绑定端子，与公共电压相连，在点灯测试阶段，所述第二绑定端子与所述多个第一绑定端子相互独立，在显示阶段，所述第二绑定端子与所述多个第一绑定端子由同一金手指覆盖，相互导通。

可选地，所述多个薄膜晶体管用于在所述显示阶段的两帧的间隔时间导通，以将所述多条数据线上的电荷中和到所述第二绑定端子上的公共电压上。

可选地，所述多个第一绑定端子和所述第二绑定端子由柔性电路板横向切割形成。

可选地，所述多个第一绑定端子和所述第二绑定端子由柔性电路板纵向切割形成。

可选地，所述开关信号线在所述电压信号为高电平的状态下控制所述多个薄膜晶体管开启，在所述电压信号为低电平的状态下控制所述多个薄膜晶体管关闭。

可选地，所述多个薄膜晶体管用于在所述显示阶段的两帧的间隔时间导通，以平衡所述多条数据线上的电荷。

根据本发明的另一方面，提供一种显示面板，包括如上述所述的点灯测试线路。

根据本发明的另一方面，提供一种显示装置，包括如上述所述的显示面板，以及用于驱动所述显示面板的栅极驱动电路和源极驱动电路。

本发明提供的点灯测试线路、显示面板以及显示装置，将柔性电路板切割为多个第一绑定端子，并将多个第一绑定端子分别与第一测试信号线、第二测试信号线相连，在点灯测试阶段多个第一绑定端子互不干扰，在显示阶段，用金手指将多个第一绑定端子覆盖绑定，使其相互导通，这样在点灯测试完成后，点灯测试线路在显示阶段的两帧的间隔时间还可以平衡多条数据线上的电荷，从而达到部分预充电和节约能源，降低功耗的目的。

在优选的实施例中，点灯测试电路还包括与公共电压相连的第二绑定端子，在点灯测试阶段第二绑定端子与多个第一绑定端子相互独立，在显示阶段，第二绑定端子与多个第一绑定端子由同一金手指覆盖绑定，相互导通，这样在点灯测试完成后，点灯测试线路在显示阶段的两帧的间隔时间还可以将数据线上的电荷中和到第二绑定端子上的公共电压上，从而达到部分预充电和节约能源，降低功耗的目的。

附图说明

通过以下参照附图对本发明实施例的描述，本发明的上述以及其他目的、特征和优点将更为清楚，在附图中：

图1示出了根据现有技术的显示面板的结构示意图。

图2示出了根据现有技术的点灯测试线路的电路示意图。

图3示出了根据本发明第一实施例的点灯测试线路的电路示意图。

图4示出了根据本发明实施例的显示阶段供电端电压输出的时序图。

图5示出了根据本发明第二实施例的点灯测试线路的电路示意图。

图6示出了根据本发明第三实施例的点灯测试线路的电路示意图。

具体实施方式

以下将参照附图更详细地描述本发明的各种实施例。在各个附图中，相同的元件或者模块采用相同或类似的附图标记来表示。为了清楚起见，附图中的各个部分没有按比例绘制。

应当理解，在以下的描述中，“电路”可包括单个或多个组合的硬件电路、可编程电路、状态机电路和/或能存储由可编程电路执行的指令的元件。当称元件或电路“连接到”另一元件或称元件或电路“连接在”两个节点之间时，它可以直接耦合或连接到另一元件或者可以存在中间元件，元件之间的连接可以是物理上的、逻辑上的，或者其结合。相反，当称元件“直接耦合到”或“直接连接到”另一元件时，意味着两者不存在中间元件。

同时，在本专利说明书及权利要求当中使用了某些词汇来指称特定的组件。本领域普通技术人员应当可理解，硬件制造商可能会用不同的名词来称呼同一个组件。本专利说明书及权利要求并不以名称的差异来作为区分组件的方式，而是以组件在功能上的差异来作为区分的准则。

此外，还需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或者操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其它变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

图3示出了根据本发明第一实施例的点灯测试线路的电路示意图。如图3所示，本发明提供的点灯测试线路200设置在显示面板上，包括开关信号线ADD、第一测试信号线D1、第二测试信号线D2、多个薄膜晶体管T1～TN、多个第一绑定端子211。

多个薄膜晶体管T1～TN的控制端连接至开关信号线ADD，第一导通端交替连接至第一测试信号线D1和第二测试信号线D2，第二导通端分别与显示面板上的多条数据线S1～SN一一对应。

开关信号线ADD用于接收电压信号AVDD，并根据接收到的电压信号AVDD的电平状态提供开关信号以控制多个薄膜晶体管的开启或关闭。当开关信号线ADD接收到高电平信号VGH时，将多个薄膜晶体管打开，当开关信号线ADD接收到低电平信号VGL时，将多个薄膜晶体管关闭。

多个第一绑定端子211分别与第一测试信号线D1和第二测试信号线D2相连。

在点灯测试阶段，多个第一绑定端子211相互独立，使得测试信号互不干扰，开关信号线ADD接收高电平信号VGH，将多个薄膜晶体管打开，多个薄膜晶体管将第一测试信号线D1和第二测试信号线D2提供的测试信号提供至对应的数据线，以实现显示面板的点亮测试。

在显示阶段，多个第一绑定端子211由同一金手指覆盖绑定(bonding)，实现多个第一绑定端子211之间的信号导通。点灯测试线路在显示阶段的工作方式如下，在像素的充电阶段，由供电端2621提供低电平信号VGL到开关信号线ADD，关闭点灯测试线路，在两帧的间隔时间(blank区域)，由供电端2621提供高电平信号VGH到开关信号线ADD，打开点灯测试线路，以平衡多条数据线上的电荷，从而对像素进行部分预充电，减少了后续对像素预充电的时间，节省能源。

优选地，点灯测试线路还包括第一测试垫片261以及第二测试垫片262，第二测试垫片262上设有供电端2621，与开关信号线ADD相连，用于提供电压信号AVDD至开关信号线ADD；第一测试垫片261，用于将第一测试信号线D1和第二测试信号线D2分别与第一绑定端子211相连。

优选地，多个第一绑定端子211由柔性电路板210切割形成。

优选地，供电端2621还与驱动芯片IC 250或者柔性电路板相连，用于向驱动芯片IC250或者柔性电路板提供电压信号AVDD。

需要说明的是，本发明实施例中的测试信号线的数量可以大于等于2，多个第一绑定端子211与测试信号线一一对应连接。本实施例以两条为例进行说明，但并不以此为限，本领域技术人员可以根据实际情况进行设计。

图4示出了根据本发明实施例的显示阶段供电端电压输出的时序图。如图4所示，在显示阶段的像素充电阶段，供电端2621一直提供低电平信号VGL，在两帧的间隔时间，供电端2621提供高电平信号VGH。

本发明提供的点灯测试线路200，将柔性电路板210切割为多个第一绑定端子211，并将多个第一绑定端子211分别与第一测试信号线D1、第二测试信号线D2相连，在点灯测试阶段多个第一绑定端子211相互独立，使得测试信号互不干扰，在显示阶段，对多个第一绑定端子211进行绑定，使其由同一金手指覆盖，这样在显示阶段，点灯测试线路200在两帧的间隔时间还可以平衡多条数据线上的电荷，从而达到部分预充电和节约能源，降低功耗的目的。

图5示出了根据本发明第二实施例的点灯测试线路的电路示意图。

根据本发明第二实施例的点灯测试线路300与根据本发明第一实施例的点灯测试线路200的结构基本相同，以下仅说明二者之间的区别。

点灯测试线路300包括多个第一绑定端子311和第二绑定端子312，多个第一绑定端子311分别与第一测试信号线D1和第一测试信号线D2相连，第二绑定端子312与公共电压Vcom相连。

在点灯测试阶段，第一绑定端子311和第二绑定端子312相互独立，使得测试信号与公共电压信号互不干扰，开关信号线ADD接收高电平信号VGH，将多个薄膜晶体管打开，多个薄膜晶体管将第一测试信号线D1和第二测试信号线D2提供的测试信号提供至对应的数据线，以实现显示面板的点亮测试。

在显示阶段，多个第一绑定端子311和第二绑定端子312由同一金手指覆盖绑定，以实现多个第一绑定端子311和第二绑定端子312的信号导通。点灯测试电路300在显示阶段的工作方式如下，在像素的充电阶段，由供电端3621提供低电平信号VGL到开关信号线ADD，关闭点灯测试线路，在两帧的间隔时间，由供电端3621提供高电平信号VGH到开关信号线ADD，打开点灯测试线路，使得数据线上的电荷中和到公共电压上，从而对像素进行部分预充电，减少了后续对像素进行预充电的时间，节省能源。

优选地，多个第一绑定端311和第二绑定端子312由柔性电路板310横向切割形成。

本发明提供的点灯测试线路300，将柔性电路板310横向切割为多个第一绑定端子311和第二绑定端子312，并将多个第一绑定端子311分别与第一测试信号线D1、第二测试信号线D2相连，第二绑定端子312与公共电压相连，使其可以在点灯测试阶段相互独立，在显示阶段，将多个第一绑定端子311和第二绑定端子312进行绑定，使其由同一金手指覆盖，这样在点灯测试完成后，点灯测试线路300在显示阶段的两帧的间隔时间还可以将数据线上的电荷中和到第二绑定端子312上的公共电压上，从而达到部分预充电和节约能源，降低功耗的目的。

图6示出了根据本发明第三实施例的点灯测试线路的电路示意图。

根据本发明第三实施例的点灯测试线路400与根据本发明第二实施例的点灯测试线路300的结构基本相同，以下仅说明二者之间的区别。

点灯测试线路400中的多个第一绑定端子411和第二绑定端子412由柔性电路板410纵向切割形成。实际应用中，第一绑定端子411和第二绑定端子412的数量及切割方向可以根据实际情况选择，本发明并不做具体限定。

本发明提供了一种显示面板，包括上述所述的点灯测试线路。

本发明提供了一种显示装置，包括上述所述的显示面板以及用于驱动所述显示面板的栅极驱动电路和源级驱动电路。

本发明提供的显示面板和显示装置，包括上述所述点灯测试电路，该点灯测试电路不仅可以在点灯测试阶段进行点灯测试，还可以在显示阶段的两帧的间隔时间进行电荷中和，实现了点灯测试电路的再利用，同时达到部分预充电和节约能源，降低功耗的目的。

应当说明，本领域普通技术人员可以理解，本文中使用的与电路运行相关的词语“期间”、“当”和“当……时”不是表示在启动动作开始时立即发生的动作的严格术语，而是在其与启动动作所发起的反应动作(reaction)之间可能存在一些小的但是合理的一个或多个延迟，例如各种传输延迟等。本文中使用词语“大约”或者“基本上”意指要素值(element)具有预期接近所声明的值或位置的参数。然而，如本领域所周知的，总是存在微小的偏差使得该值或位置难以严格为所声明的值。本领域已恰当的确定了，至少百分之十(10％)(对于半导体掺杂浓度，至少百分之二十(20％))的偏差是偏离所描述的准确的理想目标的合理偏差。当结合信号状态使用时，信号的实际电压值或逻辑状态(例如“1”或“0”)取决于使用正逻辑还是负逻辑。

依照本发明的实施例如上文，这些实施例并没有详尽叙述所有的细节，也不限制该发明仅为的具体实施例。显然，根据以上描述，可作很多的修改和变化。本说明书选取并具体描述这些实施例，是为了更好地解释本发明的原理和实际应用，从而使所属技术领域技术人员能很好地利用本发明以及在本发明基础上的修改使用。本发明的保护范围应当以本发明权利要求及其等效物所界定的范围为准。

Claims (9)

1.一种点灯测试线路，设置在显示面板上，其特征在于，所述点灯测试线路包括：

开关信号线，用于接收电压信号，并根据所述电压信号提供开关信号；

至少两条测试信号线，用于提供测试信号；

多个薄膜晶体管，多个所述薄膜晶体管的控制端与所述开关信号线相连，第一导通端交替连接至所述至少两条测试信号线其中之一，第二导通端与所述显示面板上的多条数据线一一对应连接；

多个第一绑定端子，分别与所述测试信号线相连，所述多个第一绑定端子在点灯测试阶段相互独立；

金手指，所述金手指用于在显示阶段覆盖所述多个第一绑定端子，使所述多个第一绑定端子相互导通；

第二绑定端子，与公共电压相连，在点灯测试阶段，所述第二绑定端子与所述多个第一绑定端子相互独立，在显示阶段，所述第二绑定端子与所述多个第一绑定端子由同一金手指覆盖，相互导通。

2.根据权利要求1所述的点灯测试线路，其特征在于，所述点灯测试线路还包括：

第一测试垫片，用于将所述至少两条测试信号线分别与所述第一绑定端子相连；

第二测试垫片，设有供电端，与所述开关信号线相连，用于提供电压信号至所述开关信号线。

3.根据权利要求1所述的点灯测试线路，其特征在于，

所述多个薄膜晶体管用于在所述显示阶段的两帧的间隔时间导通，以将所述多条数据线上的电荷中和到所述第二绑定端子上的公共电压上。

4.根据权利要求1所述的点灯测试线路，其特征在于，

所述多个第一绑定端子和所述第二绑定端子由柔性电路板横向切割形成。

5.根据权利要求1所述的点灯测试线路，其特征在于，

所述多个第一绑定端子和所述第二绑定端子由柔性电路板纵向切割形成。

6.根据权利要求1所述的点灯测试线路，其特征在于，

所述开关信号线在所述电压信号为高电平的状态下控制所述多个薄膜晶体管开启，在所述电压信号为低电平的状态下控制所述多个薄膜晶体管关闭。

7.根据权利要求1所述的点灯测试线路，其特征在于，

所述多个薄膜晶体管用于在所述显示阶段的两帧的间隔时间导通，以平衡所述多条数据线上的电荷。

8.一种显示面板，其特征在于，所述显示面板包括如权利要求1至7任一项所述的点灯测试线路。

9.一种显示装置，其特征在于，所述显示装置包括如权利要求8所述的显示面板，以及用于驱动所述显示面板的栅极驱动电路和源极驱动电路。