CN208722547U - 显示面板测试电路和显示面板测试装置 - Google Patents

Abstract

本申请公开一种显示面板测试电路及显示面板测试装置，其中，显示面板测试电路包括至少一个扫描线衬垫、至少一个数据线衬垫、M个第一开关电路、N个第二开关电路、测试设备和信号发生器，M个第一开关电路一对一设置在M条数据线上，N个第二开关电路一对一设置在N条扫描线上；控制衬垫包括第一金属层、绝缘层及第二金属层，测试设备，设置为经第一金属层输出第一控制信号以控制多个开关电路导通，并输出测试信号至扫描线衬垫及数据线衬垫；信号发生器，设置为在第一金属层和所述第二金属层短接时，控制M个第一开关电路及N个第二开关电路关断，进而控制显示面板的数据线、扫描线与短路环断开，节省激光切割的生产工序，降低生产成本。

Description

显示面板测试电路和显示面板测试装置

技术领域

本申请涉及显示面板技术领域，特别涉及一种显示面板测试电路和显示面板测试装置。

背景技术

面板测试是指在大基板上将单个面板切出来之后，通过设置在面板上的一些走线，进行简单的画面测试，以检测面板的一些不良问题，方便后续的修补等工作。通常为了提高检出率，扫描线和数据线会分成奇偶相连的设计，分别通过短路环与测试设备连接，测试设备通过探针接触衬垫，将测试信号输入面板中，完成对面板的测试，除了分奇偶数行外，还可以将扫描线或者数据线分成123/456/789……即以3行为单位，或者1234/5678……即4行为单位。

在面板测试完毕后，衬垫与面板之间的连接线需要进行一道工序-激光切割，将所有数据线及扫描线与短路环断开，这样，在面板生产过程中就会增加一道生产工序，增加了生产成本。

申请内容

本申请的主要目的是提供一种显示面板测试电路，旨在解决在面板生产过程中增加一道激光切割的生产工序，增加生产成本的问题。

为实现上述目的，本申请提出一种显示面板测试电路，所述显示面板包括N条扫描线以及M条数据线，所述显示面板测试电路包括：

至少一个扫描线衬垫，设置为通过短路环对应连接所述显示面板的N条扫描线；

至少一个数据线衬垫，设置为通过短路环对应连接所述显示面板的M条数据线；

M个第一开关电路，所述M个第一开关电路一对一设置在N条所述数据线上；

N个第二开关电路，所述N个第二开关电路一对一设置在N条所述扫描线上；

控制衬垫，所述控制衬垫包括第一金属层、绝缘层及第二金属层，所述第一金属层、所述绝缘层及所述第二金属层依次叠设，M个所述第一开关电路的受控端及N个所述第二开关电路的受控端均与所述第一金属层连接；

测试设备，设置为经所述第一金属层输出第一控制信号至M个所述第一开关电路的受控端及N个所述第二开关电路的受控端，以控制M个所述第一开关电路及N个所述第二开关电路导通，并输出测试所述显示面板的测试信号至所述扫描线衬垫及所述数据线衬垫，以对所述显示面板进行测试；

信号发生器，设置为输出第二控制信号至所述第二金属层，以在所述第一金属层和所述第二金属层短接时，所述第二控制信号能够传输至所述第一金属层，控制M个所述第一开关电路及N个所述第二开关电路关断，且M>0，N>0。

可选地，所述第一开关电路及所述第二开关电路为薄膜晶体管。

可选地，所述第一控制信号为高电平，所述第二控制信号为低电平。

可选地，所述控制衬垫还包括玻璃层，所述玻璃层设于所述第二金属层背对所述绝缘层的一侧。

可选地，所述控制衬垫还包括导电防护层，所述导电防护层设于所述第一金属层背对所述绝缘层的一侧。

可选地，所述导电防护层为氧化铟锡薄膜。

可选地，所述信号发生器通过金属线与所述第二金属层电性连接。

可选地，所述第二金属层的第一端与所述金属线连接，所述第二金属层的第二端悬空。

本申请还提出一种显示面板测试电路，所述显示面板包括N条扫描线以及M条数据线，所述显示面板测试电路包括：

至少一个扫描线衬垫，设置为通过短路环对应连接所述显示面板的N条扫描线；

至少一个数据线衬垫，设置为通过短路环对应连接所述显示面板的M条数据线；

M个第一开关电路，所述M个第一开关电路一对一设置在N条所述数据线上；

N个第二开关电路，所述N个第二开关电路一对一设置在N条所述扫描线上；

控制衬垫，所述控制衬垫包括第一金属层、绝缘层及第二金属层，所述第一金属层、所述绝缘层及所述第二金属层依次叠设，M个所述第一开关电路的受控端及N个所述第二开关电路的受控端均与所述第一金属层连接；

测试设备，设置为经所述第一金属层输出第一控制信号至M个所述第一开关电路的受控端及N个所述第二开关电路的受控端，以控制M个所述第一开关电路及N个所述第二开关电路导通，并输出测试所述显示面板的测试信号至所述扫描线衬垫及数据线衬垫，以对所述显示面板进行测试；

信号发生器，设置为输出第二控制信号至所述第二金属层；

激光器，设置为在所述显示面板测试完毕后发射激光信号，并将所述第一金属层和所述第二金属层熔合短接，以使所述第二控制信号能够传输至所述第一金属层，控制M个所述第一开关电路及N个所述第二开关电路关断，且M>0，N>0。

本申请还提出一种显示面板测试装置，包括如上所述的显示面板测试电路。

本申请技术方案通过采用至少一个扫描线衬垫、至少一个数据线衬垫、M个第一开关电路、N个第二开关电路、控制衬垫、测试设备及信号发生器构成了显示面板测试电路，显示面板的M条数据线经M个第一开关电路连接至数据线衬垫，显示面板的N条扫描线经N个第二开关电路连接至扫描线衬垫，M个第一开关电路的受控端及N个第二开关电路的受控端通过短路环与控制衬垫连接，控制衬垫包括与测试设备连接的第一金属层、绝缘层以及与信号发生器连接的第二金属层，测试设备经第一金属层输出第一控制信号至M个第一开关电路的受控端及N个第二开关电路的受控端以控制其导通，并通过扫描线衬垫及数据线衬垫输出测试信号至显示面板以对显示面板进行测试，在测试完毕后，控制第一金属层与第二金属层短接，信号发生器输出的第二控制信号经第一金属层输出至M个第一开关电路的受控端及N个第二开关电路的受控端以控制其关断，以控制显示面板的数据线、扫描线与短路环断开，从而解决了在面板生产过程中增加一道激光切割的生产工序，增加生产成本的问题。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。

图1为本申请显示面板测试电路一实施例的功能模块示意图；

图2为图1中控制衬垫一实施例的剖面示意图；

图3为中控制衬垫50另一实施例的剖面示意图。

本申请目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

需要说明，在本申请中涉及“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，全文中出现的“和/或”的含义为：包括三个并列的方案，以“A/B”为例，包括A方案，或B方案，或A和B同时满足的方案，另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本申请要求的保护范围之内。

本申请提出一种显示面板测试电路100。

如图1所示，图1为本申请显示面板测试电路100一实施例的功能模块示意图，本申请提出一种显示面板测试电路100，所述显示面板200包括N条扫描线以及M条数据线，所述显示面板测试电路100包括：

至少一个扫描线衬垫20，设置为通过短路环B1对应连接所述显示面板200的N条扫描线；

至少一个数据线衬垫10，设置为通过短路环B1对应连接所述显示面板200的M条数据线；

M个第一开关电路30，所述M个第一开关电路30一对一设置在N条所述数据线上；

N个第二开关电路40，所述N个第二开关电路40一对一设置在N条所述扫描线上；

控制衬垫50，所述控制衬垫50包括第一金属层M1、绝缘层P1及第二金属层M2，所述第一金属层M1、所述绝缘层P1及所述第二金属层M2依次叠设，M个所述第一开关电路30的受控端及N个所述第二开关电路40的受控端均与所述第一金属层M1连接；

测试设备60，设置为经所述第一金属层M1输出第一控制信号至M个所述第一开关电路30的受控端及N个所述第二开关电路40的受控端，以控制M个所述第一开关电路30及N个所述第二开关电路40导通，并输出测试所述显示面板200的测试信号至所述扫描线衬垫20及所述数据线衬垫10，以对所述显示面板200进行测试；

信号发生器70，设置为输出第二控制信号至所述第二金属层M2，以在所述第一金属层M1和所述第二金属层M2短接时，所述第二控制信号能够传输至所述第一金属层M1，控制M个所述第一开关电路30及N个所述第二开关电路40关断，且M>0，N>0。

本实施例中，所述显示面板200包括但不限于液晶显示面板、有机发光二极管显示面板、场发射显示面板、等离子显示面板、曲面型面板，所述液晶面板包括薄膜晶体管液晶显示面板、TN面板、VA类面板、IPS面板等。

需要说明的是，数据线和扫描线的数量可根据显示面板的尺寸、形状或者型号对应设置，M可以大于、小于或者等于N，且M>0，N>0，具体根据实际需求进行设定，在此不做具体限制。

为了实现对显示面板200上的所有像素统一充电检测，显示面板200的各个数据线通过短路环B1与数据线衬垫10连接，同理，扫描线同样通过短路环B1与扫描线衬垫20连接，然后测试设备60通过探针施加测试信号至扫描线衬垫20以及数据线衬垫10实现充电，显示面板200的扫描线和数据线可以分成奇偶相连的设计，即将显示面板200的数据线或者扫描线奇数行或者奇数列采用同一短路环B1连接，偶数行或者偶数列采用同一短路环B1连接，扫描线衬垫20以及数据线衬垫10可以对应设置，当显示面板200的数据线以及扫描线均采用奇偶相连时，扫描线衬垫20为扫描线奇数衬垫和扫描线偶数衬垫，数据线衬垫10为数据线奇数衬垫和数据线偶数衬垫，显示面板200的数据线和数据线除了分奇偶数行外，还可以将扫描线或者数据线分成123/456/789……即以3行为单位，或者1234/5678……即4行为单位，扫描线衬垫20和数据线衬垫10根据数据线和扫描线的设计对应设置，可以分别设置三个、四个或者更多，在此不作具体限制。

需要说明的是，短路环B1用于在显示面板200测试过程中屏蔽外部信号干扰，避免外部信号对内部电路连接的影响。

本实施例中，第一开关电路30和第二开关电路40可采用具有通断功能的开关元器件或者电路，第一开关电路30及第二开关电路40分别对应设置在显示面板200的数据线上和扫描线上，M个第一开关电路30的信号输入端通过短路环B1连接至数据线衬垫10，N个第二开关电路40的信号输入端通过短路环B1连接至扫描线衬垫20，第一开关电路30的受控端和第二开关电路40的受控端均与控制衬垫50连接。

控制衬垫50设计成多层，分别包括第一金属层M1、绝缘层P1以及第二金属层M2，第一金属层M1、绝缘层P1以及第二金属层M2叠设在一起，绝缘层P1起到绝缘作用，防止第一金属层M1与第二金属层M2在测试设备60输入测试信号时发生短接，造成第二控制信号输入至第一开关电路30及第二开关电路40，进而引起误操作。

第一控制信号用于控制第一开关电路30和第二开关电路40导通，第二控制信号用于控制第一开关电路30和第二开关电路40关断，第一控制信号由测试设备60输出，测试设备60具有第一信号端、第二信号端和第三信号端，第一信号端用于输出模拟灰阶电压信号至数据线衬垫10，第二信号端用于输出行扫描控制信号至扫描线衬垫20，从而实现显示面板200上的像素统一充电，完成显示面板200的测试，第三信号端用于输出第一控制信号至控制衬垫50的第一金属层M1，进而将第一控制信号输出至第一开关电路30和第二开关电路40，测试设备60可包括用于输出模拟灰阶电压电压的数据驱动集成电路、用于输出行扫描控制信号的扫描驱动集成电路以及输出第一控制信号的信号输出模块，数据驱动集成电路、驱动集成电路和信号输出模块集成在同一电路板上，并分别通过探针与衬垫连接，测试设备60还可设置为单一控制芯片，分别输出测试信号和第一控制信号，测试设备60可根据制程以及测试方式对应设置，在此不做具体要求。

信号发生器70用于输出第二控制信号，可设置为单一控制芯片或者元器件组成的具体电路等，在此不做具体要求。

本实施例中，显示面板测试电路100工作过程为：

测试前，显示面板200流入面板测试工序，显示面板200的M条数据线分别一对一通过M个第一开关电路30连接至数据线衬垫10，显示面板200的N条扫描线分别一对一通过N个第二开关电路40连接至扫描线衬垫20，第一开关电路30的受控端和第二开关电路40的受控端连接至控制衬垫50，控制衬垫50分别与测试设备60和信号发生器70连接，信号发生器70持续输出第二控制信号；

测试时，测试设备60输出第一控制信号至控制衬垫50的第一金属层M1，M个第一开关电路30和N个第二开关电路40均导通，测试设备60分别通过数据线衬垫10和扫描线衬垫20输出测试信号至显示面板200的像素进行统一充电，进而完成面板测试；

显示面板200测试完毕后，将第一金属层M1和第二金属层M2短接，短接方式可通过激光焊接，金属短接等其他方式，当采用激光焊接时，第一金属层M1与第二金属层M2熔合短接，绝缘层P1被高温击穿，信号发生器70输出的第二控制信号经第一金属层M1输出至第一开关电路30和第二开关电路40，第一开关电路30和第二开关电路40关断，显示面板200的数据线和扫描线分别与短路环B1分开，显示面板200的数据线和扫描线可正常工作，无需进行激光切割工作，提高了面板生产效率，从而解决了在面板生产过程中增加一道激光切割的生产工序，增加生产成本的问题。

本申请技术方案通过采用至少一个扫描线衬垫20、至少一个数据线衬垫10、M个第一开关电路30、N个第二开关电路40、控制衬垫50、测试设备60及信号发生器70构成了显示面板测试电路100，显示面板200的M条数据线经M个第一开关电路30连接至数据线衬垫10，显示面板200的N条扫描线经N个第二开关电路40连接至扫描线衬垫20，M个第一开关电路30的受控端及N个第二开关电路40的受控端通过短路环B1与控制衬垫50连接，控制衬垫50包括与测试设备60连接的第一金属层M1、绝缘层P1以及与信号发生器70连接的第二金属层M2，测试设备60经第一金属层M1输出第一控制信号至M个第一开关电路30的受控端及N个第二开关电路40的受控端以控制其导通，并通过扫描线衬垫20及数据线衬垫10输出测试信号至显示面板200以对显示面板200进行测试，在测试完毕后，控制第一金属层M1与第二金属层M2短接，信号发生器70输出的第二控制信号经第一金属层M1输出至M个第一开关电路30的受控端及N个第二开关电路40的受控端以控制其关断，以控制显示面板200的数据线、扫描线与短路环B1断开，从而解决了在面板生产过程中增加一道激光切割的生产工序，增加生产成本的问题。

在一可选实施例中，所述第一开关电路30及所述第二开关电路40为薄膜晶体管。

需要说明的是，薄膜晶体管的结构和工作原理与场效应管类似，主要包括栅极、源极和漏极，可分为N型和P型，假设薄膜晶体管为N型晶体管，以设置在数据线上的薄膜晶体管为例，各薄膜晶体管的漏极对应与数据线衬垫10连接，各薄膜晶体管的源极与显示面板200连接，各薄膜晶体管的栅极与控制衬垫50的第一金属层M1连接，薄膜晶体管的栅极在接收测试设备60输出的高电平即第一控制信号导通，测试信号经薄膜晶体管输入至显示面板200进行充电测试，在测试完毕后，薄膜晶体管的栅极在接收信号发生器70输出的低电平即第二控制信号关断，从而使短路环B1与数据线分离，显示面板200可正常进行工作。

在一可选实施例中，所述第一控制信号为高电平，所述第二控制信号为低电平。

本实施例中，第一开关电路30和第二开关电路40均在高电平时导通，低电平关断，高电平电压值一般为10V～40V的正电压，低电平电压值一般为-5V～5V，根据第一开关电路30和第二开关电路40选择的开关类型或者开启电压不同高低电平电压值可以变化，在此不做具体限制。

如图2所示，图2为图1中控制衬垫50一实施例的剖面示意图，在一可选实施例中，所述控制衬垫50还包括玻璃层G1，所述玻璃层G1设于所述第二金属层M2背对所述绝缘层P1的一侧。

本实施例中，在第二金属层M2下方还设置有玻璃层G1，第二金属层M2夹在绝缘层P1与玻璃层G1之间，玻璃层G1可对第二金属层M2进行电气防护以及防氧化作用，以及避免外部信号输入第二金属层M2造成信号串扰，信号发生器70通过连接线与第二金属层M2电性连接。

在一可选实施例中，所述控制衬垫50还包括D1，所述D1设于所述第一金属层M1背对所述绝缘层P1的一侧。

本实施例中，在第一金属层M1上端面还设置有D1，测试设备60通过探针与D1连接，并间接与第二金属层M2电性连接，测试设备60输出的第一控制信号经D1以及第一金属层M1输出至各个开关电路，D1可有效对第一金属层M1进行防氧化、防变形等保护。

在一可选实施例中，所述D1为氧化铟锡薄膜。

需要说明的是，氧化铟锡薄膜ITO(英文Indium Tin Oxides.ITO)是一种n型半导体材料，具有高的导电率、高的可见光透过率、高的机械硬度和良好的化学稳定性，氧化铟锡薄膜ITO可有效对第一金属层M1进行静电保护，并通过探针与测试设备60连接以接收测试设备60输出的第一控制信号。

进一步地，在第一金属层M1上端面一端还设置有绝缘层P2，上端绝缘层P2与下端绝缘层P1将第一金属层M1包裹，只有一端或者一点用于经短路环B1与各个开关电路的受控端连接，避免第一金属层M1的第二端与外部设备连接造成信号的串扰。

在一可选实施例中，所述信号发生器70通过金属线与所述第二金属层M2电性连接。

本实施例中，金属线接收信号发生器70输出的第二控制信号，金属线与可焊接在第二金属层M2上或者通过过孔转接的的方式与第二金属层M2电性连接，如图3所示，图3为中控制衬垫50另一实施例的剖面示意图，金属线通过过孔的方式与第二金属层M2，信号发生器70通过金属线与第二金属层M2电性连接，金属线的材质可采用铝线、铜线或者其他材质的金属线，金属线具有耐高温、电阻小、导电性佳、耐腐蚀等优点，可有效减小信号衰减。

在一可选实施例中，所述第二金属层M2的第一端与所述金属线连接，所述第二金属层M2的第二端悬空。

需要说明的是，第二金属层M2被绝缘层P1以及玻璃层G1包裹，只有一端或者一点用于经金属线与信号发生器70连接，第二金属层M2的第二端处于悬空状态，避免第二金属层M2的第二端与外部设备连接造成信号的串扰。

本申请还提出一种显示面板测试电路100，所述显示面板200包括N条扫描线以及M条数据线，所述显示面板测试电路100包括：

至少一个扫描线衬垫20，设置为通过短路环B1对应连接所述显示面板200的N条扫描线；

至少一个数据线衬垫10，设置为通过短路环B1对应连接所述显示面板200的M条数据线；

M个第一开关电路30，所述M个第一开关电路30一对一设置在N条所述数据线上；

N个第二开关电路40，所述N个第二开关电路40一对一设置在N条所述扫描线上；

控制衬垫50，所述控制衬垫50包括第一金属层M1、绝缘层P1及第二金属层M2，所述第一金属层M1、所述绝缘层P1及所述第二金属层M2依次叠设，M个所述第一开关电路30的受控端及N个所述第二开关电路40的受控端均与所述第一金属层M1连接；

测试设备60，设置为经所述第一金属层M1输出第一控制信号至M个所述第一开关电路30的受控端及N个所述第二开关电路40的受控端，以控制M个所述第一开关电路30及N个所述第二开关电路40导通，并输出测试所述显示面板200的测试信号至所述扫描线衬垫20及所述数据线衬垫10，以对所述显示面板200进行测试；

信号发生器70，设置为输出第二控制信号至所述第二金属层M2；

激光器，设置为在所述显示面板200测试完毕后发射激光信号，并将所述第一金属层M1和所述第二金属层M2熔合短接，以使所述第二控制信号能够传输至所述第一金属层M1，控制M个所述第一开关电路30及N个所述第二开关电路40关断。

本实施例中，显示面板200的M条数据线经M个第一开关电路30连接至数据线衬垫10，显示面板200的N条扫描线经N个第二开关电路40连接至扫描线衬垫20，M个第一开关电路30的受控端及N个第二开关电路40的受控端通过短路环B1与控制衬垫50连接，控制衬垫50包括与测试设备60连接的第一金属层M1、绝缘层P1以及与信号发生器70连接的第二金属层M2，测试设备60经控制第一金属层M1输出第一控制信号至M个第一开关电路30的受控端及N个第二开关电路40的受控端以控制其导通，并通过扫描线衬垫20及数据线衬垫10输出测试信号至显示面板200以对显示面板200进行测试，在测试完毕后，通过激光器焊接第一金属层M1与第二金属层M2并击穿绝缘层P1，第一金属层M1与第二金属层M2短接，信号发生器70输出的第二控制信号经第一金属层M1输出至M个第一开关电路30的受控端及N个第二开关电路40的受控端以控制其关断，以控制显示面板200的数据线、扫描线与短路环B1断开，从而解决了在面板生产过程中增加一道激光切割的生产工序，增加生产成本的问题。

本申请还提出一种显示面板测试装置(图未示出)，该显示面板测试装置包括显示面板测试电路100，该显示面板测试电路100的具体结构参照上述实施例，由于显示面板测试装置采用了上述所有实施例的全部技术方案，因此至少具有上述实施例的技术方案所带来的所有有益效果，在此不再一一赘述。

以上所述仅为本申请的优选实施例，并非因此限制本申请的专利范围，凡是在本申请的发明构思下，利用本申请说明书及附图内容所作的等效结构变换，或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本申请的专利保护范围内。

Claims (10)

1.一种显示面板测试电路，所述显示面板包括N条扫描线以及M条数据线，其特征在于，所述显示面板测试电路包括：

至少一个扫描线衬垫，设置为通过短路环对应连接所述显示面板的N条扫描线；

至少一个数据线衬垫，设置为通过短路环对应连接所述显示面板的M条数据线；

M个第一开关电路，所述M个第一开关电路一对一设置在N条所述数据线上；

N个第二开关电路，所述N个第二开关电路一对一设置在N条所述扫描线上；

控制衬垫，所述控制衬垫包括第一金属层、绝缘层及第二金属层，所述第一金属层、所述绝缘层及所述第二金属层依次叠设，M个所述第一开关电路的受控端及N个所述第二开关电路的受控端与所述第一金属层连接；

测试设备，设置为经所述第一金属层输出第一控制信号至M个所述第一开关电路的受控端及N个所述第二开关电路的受控端，以控制M个所述第一开关电路及N个所述第二开关电路导通，并输出测试所述显示面板的测试信号至所述扫描线衬垫及所述数据线衬垫，以对所述显示面板进行测试；

信号发生器，设置为输出第二控制信号至所述第二金属层，以在所述第一金属层和所述第二金属层短接时，所述第二控制信号能够传输至所述第一金属层，控制M个所述第一开关电路及N个所述第二开关电路关断，且M>0，N>0。

2.如权利要求1所述的显示面板测试电路，其特征在于，所述第一开关电路及所述第二开关电路为薄膜晶体管。

3.如权利要求2所述的显示面板测试电路，其特征在于，所述第一控制信号为高电平，所述第二控制信号为低电平。

4.如权利要求1所述的显示面板测试电路，其特征在于，所述控制衬垫还包括玻璃层，所述玻璃层设于所述第二金属层背对所述绝缘层的一侧。

5.如权利要求1所述的显示面板测试电路，其特征在于，所述控制衬垫还包括导电防护层，所述导电防护层设于所述第一金属层背对所述绝缘层的一侧。

6.如权利要求5所述的显示面板测试电路，其特征在于，所述导电防护层为氧化铟锡薄膜。

7.如权利要求4所述的显示面板测试电路，其特征在于，所述信号发生器通过金属线与所述第二金属层电性连接。

8.如权利要求7所述的显示面板测试电路，其特征在于，所述第二金属层的第一端与所述金属线连接，所述第二金属层的第二端悬空。

9.一种显示面板测试电路，所述显示面板包括N条扫描线以及M条数据线，其特征在于，所述显示面板测试电路包括：

至少一个扫描线衬垫，设置为通过短路环对应连接所述显示面板的N条扫描线；

至少一个数据线衬垫，设置为通过短路环对应连接所述显示面板的M条数据线；

M个第一开关电路，所述M个第一开关电路一对一设置在N条所述数据线上；

N个第二开关电路，所述N个第二开关电路一对一设置在N条所述扫描线上；

控制衬垫，所述控制衬垫包括第一金属层、绝缘层及第二金属层，所述第一金属层、所述绝缘层及所述第二金属层依次叠设，M个所述第一开关电路的受控端及N个所述第二开关电路的受控端均与所述第一金属层连接；

测试设备，设置为经所述第一金属层输出第一控制信号至M个所述第一开关电路的受控端及N个所述第二开关电路的受控端，以控制M个所述第一开关电路及N个所述第二开关电路导通，并输出测试所述显示面板的测试信号至所述扫描线衬垫及数据线衬垫，以对所述显示面板进行测试；

信号发生器，设置为输出第二控制信号至所述第二金属层；

激光器，设置为在所述显示面板测试完毕后发射激光信号，并将所述第一金属层和所述第二金属层熔合短接，以使所述第二控制信号能够传输至所述第一金属层，控制M个所述第一开关电路及N个所述第二开关电路关断，且M>0，N>0。

10.一种显示面板测试装置，其特征在于，包括如权利要求1-8或9任意一项所述的显示面板测试电路。