KR20060128446A

KR20060128446A - 표시 패널의 검사 장치

Info

Publication number: KR20060128446A
Application number: KR1020050049907A
Authority: KR
Inventors: 추홍식
Original assignee: 삼성전자주식회사
Priority date: 2005-06-10
Filing date: 2005-06-10
Publication date: 2006-12-14

Abstract

검사 효율성을 향상시키기 위한 표시 패널의 검사 장치가 개시된다. 표시 패널의 검사 장치는 인쇄회로기판과, 연성인쇄회로기판과, 프로브 블록과, 가이드 부재 및 핀 블록을 포함한다. 인쇄회로기판은 제1 검사신호를 제공하는 회로부가 실장된다. 연성인쇄회로기판은 인쇄회로기판과 전기적으로 연결되고, 제1 검사신호를 제2 검사신호로 변환하는 구동칩이 실장된다. 프로브 블록은 연성인쇄회로기판과 전기적으로 연결되고, 관통부와 삽입부가 각각 형성된다. 가이드 부재는 관통부에 배치되고, 프로브 블록의 위치 이동을 가이드한다. 핀 블록은 상기 삽입부에 삽탈가능하고, 제2 검사신호를 표시 패널의 배선들에 인가하는 복수의 핀들이 형성된다. 이에 따라, 다양한 표시 패널에 적응적으로 변경 가능하게 구현함으로써 표시 패널의 검사를 용이하게 할 수 있다. 또한, 각각의 유형별로 검사 장치를 설계하지 않아도 됨에 따라서 표시 패널의 검사 비용을 줄일 수 있다.

프로브 유닛, 가이드 부재, 핀 블록, 프로브 블록

Description

표시 패널의 검사 장치{APPARATUS FOR TESTING DISPLAY PANEL}

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 표시 패널의 검사 장치에 대한 개략적인 사시도이다.

도 2는 도 1에 도시된 프로브 유닛의 다른 실시예에 대한 사시도이다.

도 3은 도 2에 도시된 프로브 블록 및 핀 블록에 대한 사시도이다.

도 4는 본 발명의 다른 실시예에 따른 검사 장치에 대한 개략적인 사시도이다.

<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명>

210 : 인쇄회로기판 220, 320 : 연성인쇄회로기판

221, 321 : 구동 칩 223, 323 : 조절 부재

230 : 더미 기판 240 : 프로브 블록

250 : 가이드 부재 260 : 핀 블록

본 발명은 표시 패널의 검사 장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는 검사 효율성을 향상시키기 위한 표시 패널의 검사 장치에 관한 것이다.

액정표시장치(LCD)는 액정의 광 투과율을 이용하여 영상을 표시하는 액정표시패널(liquid crystal display panel) 및 상기 액정표시패널을 구동하는 구동장치를 포함한다.

상기 액정표시패널은 스위칭 소자인 박막 트랜지스터(Thin Film Transistor, TFT)가 형성된 제1 기판과, 상기 제1 기판과 마주보며 배치되고 컬러필터가 형성된 제2 기판과, 상기 제1 및 제2 기판의 사이에 개재된 액정층을 포함한다. 상기 제1 기판 상에는 상기 박막 트랜지스터(TFT)와 전기적으로 연결된 배선들이 형성된다.

상기 구동장치는 인쇄회로기판에 실장된 회로부와, 상기 액정표시패널에 구동신호를 전달하는 구동 칩들을 포함한다. 상기 구동 칩들과 상기 액정표시패널간의 전기적인 연결방식에 따라서 COF(Chip On Film) 방식 및 COG(Chip On Glass) 방식으로 구분된다.

상기 COF 방식은 상기 구동칩들이 연성인쇄회로기판(FPCB; Flexible Printed Circuit Board) 상에 배치되고, 상기 연상인쇄회로기판을 통해 인쇄회로기판과 액정표시패널을 전기적으로 연결된다. 상기 COG 방식은 상기 제1 기판 상에 형성된 패드들에 직접 구동칩들이 실장되는 방식이다. 상기 COG 방식은 상기 COF 방식에 비해 배선들간의 간격이 좁다.

상기 COF 방식 및 COG 방식이 채용된 액정표시패널은 구동 상태를 검사하기 위한 검사 공정을 갖는다. 상기 액정표시패널을 검사하는 검사 장치는 상기 액정표시패널 상에 형성된 배선들을 검침하는 프로브 유닛 및 상기 프로브 유닛과 전기적으로 연결되어 상기 프로브 유닛에 검사 신호를 제공하는 제어 유닛으로 이루어진 다.

상기 검사 장치는 액정표시패널의 모델별, 사이즈별 및 해상도별로 다르게 형성된 배선들간의 피치 및 패드들간의 피치 등을 고려하여 설계된다. 이처럼 새롭게 리버젼(revision)된 액정표시패널이 나올 때마다, 상기 리버젼 액정표시패널을 검사하기 위한 검사 장치 또한, 새롭게 개발되어야 한다. 따라서, 액정표시패널의 검사 효율성이 저하되며, 또한, 검사 비용이 증가하는 문제점을 갖는다.

이에 본 발명의 기술적 과제는 이러한 종래의 문제점을 해결하기 위한 것으로, 본 발명의 목적은 검사 효율성 및 검사 비용을 절감하기 위한 표시 패널의 검사 장치를 제공하는 것이다.

상기한 본 발명의 목적을 실현하기 위한 실시예에 따른 표시 패널의 검사 장치는 인쇄회로기판과, 연성인쇄회로기판과, 프로브 블록과, 가이드 부재 및 핀 블록을 포함한다. 상기 인쇄회로기판은 제1 검사신호를 제공하는 회로부가 실장된다. 상기 연성인쇄회로기판은 상기 인쇄회로기판과 전기적으로 연결되고, 상기 제1 검사신호를 제2 검사신호로 변환하는 구동칩이 실장된다. 상기 프로브 블록은 상기 연성인쇄회로기판과 전기적으로 연결되고, 관통부와 삽입부가 각각 형성된다. 상기 가이드 부재는 상기 관통부에 배치되고, 상기 프로브 블록의 위치 이동을 가이드한다. 상기 핀 블록은 상기 삽입부에 삽탈가능하고, 상기 제2 검사신호를 상기 표시 패널의 배선들에 인가하는 복수의 핀들이 형성된다.

상기 연성인쇄회로기판은 상기 프로브 블록의 위치 이동에 따라 충분히 적응적인 길이를 갖는다.

상기 연성인쇄회로기판의 소정 영역은 상기 프로브 블록의 위치 이동에 따라 길이 조절이 가능한 조절부재가 형성된다. 상기 조절부재는 상기 연성인쇄회로기판이 지그재그로 형상으로 형성된다.

바람직하게 상기 표시 패널의 검사 장치는 상기 연성인쇄회로기판의 일단부와 상기 프로브 블록을 전기적으로 연결시키는 더미 기판을 더 포함한다.

이러한 표시 패널의 검사 장치에 의하면, 다양한 유형의 표시 패널에 대해 검사를 용이하게 함으로써 검사 효율성을 향상시키고, 더불어 검사 비용을 절감할 수 있다.

이하, 첨부한 도면을 참조하여, 본 발명을 보다 상세하게 설명하고자 한다.

도 1을 참조하면, 상기 검사 장치는 콘트롤 유닛(100)과 프로브 유닛(200)을 포함한다.

상기 콘트롤 유닛(100)은 상기 프로브 유닛(200)에 제어 신호 및 검사 신호를 제공한다.

상기 프로브 유닛(200)은 인쇄회로기판(210), 연성인쇄회로기판(220), 더미 기판(230), 프로브 블록(240), 가이드 부재(250) 및 핀 블록(260)을 포함한다.

상기 인쇄회로기판(210)에는 상기 콘트롤 유닛(100)으로부터 제공된 제어 신 호에 기초하여 상기 검사 신호를 소스 채널 단위로 그룹핑하는 회로부가 실장된다.

상기 연성인쇄회로기판(220)은 상기 인쇄회로기판(210)과 상기 더미 기판(230)을 전기적으로 연결한다. 상기 연성인쇄회로기판(220)은 소스 구동칩(221)이 실장되고, 소정 영역은 길이 조절이 가능하도록 처리된 조절 부재(223)를 갖는다.

상기 소스 구동칩(221)은 상기 소스 채널 단위로 그룹핑된 검사 신호를 아날로그 형태의 검사 전압으로 변환하여 출력한다. 상기 조절 부재(223)에 의해 상기 연성인쇄회로기판(220)의 길이는 자유롭게 조절 가능하다.

상기 더미 기판(230)은 상기 연성인쇄회로기판(220)의 출력단자들과 전기적으로 연결되어, 상기 소스 구동칩(221)으로부터 출력된 검사 전압을 상기 더미 기판(230)과 전기적으로 연결된 프로브 블록(240)에 전달한다. 즉, 상기 더미 기판(230)에는 신호 배선들이 형성되어, 상기 연성인쇄회로기판(220)과 후술되는 프로브 블록(240)을 전기적으로 연결시킨다.

상기 프로브 블록(240)은 상기 더미 기판(230)과 전기적으로 연결되고, 상기 핀 블록(250)과 전기적으로 연결된다. 즉, 상기 더미 기판(230)을 통해 전달된 검사 전압을 상기 핀 블록(260)에 전달한다.

상기 가이드 부재(250)는 상기 프로브 블록(240)을 관통하도록 설치되며, 상기 프로브 블록(240)의 위치 조절을 가이드한다.

상기 핀 블록(260)은 상기 프로브 블록(240)에 삽입 및 탈착 가능한 결합 구조를 갖는다. 상기 핀 블록(250)은 표시 패널(500)에 형성된 상기 채널 단위로 그룹핑된 복수의 패드들(이하 패드부)(510)과 전기적으로 접촉되는 복수의 핀들을 갖 는다.

상기 핀 블록(260)은 상기 표시 패널(500)에 형성된 패드부(510)에 대응하는 핀 수를 갖는 핀 블록을 선택적으로 사용할 수 있다. 예를 들어, 채널수가 384, 420, 642 을 갖는 표시 패널에 각각에 대해서 해당하는 핀 수를 갖는 핀 블록을 채용하여 상기 프로브 블록에 결합하여 사용한다.

또한, 표시 패널의 소스 배선들간의 피치는 동일하나 사이즈가 다를 경우, 예를 들어, XGA급 표시 패널은 해상도가 1024 ×768 ×3으로 384 개의 채널수를 갖는 소스 구동칩이 8 개 필요하며, WXGA급 표시 패널은 해상도가 1280 ×768 ×3으로 384 개의 채널수를 갖는 소스 구동칩이 10개 필요하다. 결과적으로 XGA급 표시 패널과 WXGA급 표시 패널은 소스 구동칩이 실장되는 패드부의 위치가 서로 상이하다. 이와 같은 경우, 상기 가이드 부재(250)에 의해 상기 프로브 블록(240)의 위치를 원하는 위치로 용이하게 이동할 수 있다.

따라서, 삽탈 가능한 핀 블록(260)에 의해 다양한 채널수를 갖는 표시 패널의 검사를 용이하게 할 수 있고, 또한, 가이드 부재(250)를 통해 위치 조절이 가능한 프로브 블록(240)에 다양한 모델의 표시 패널에 대한 검사를 용이하게 할 수 있다.

도 2는 도 1에 도시된 프로브 유닛의 다른 실시예에 대한 확대도이다. 동일한 구성요소에 대해서는 동일한 도면 부호를 부여한다.

도 2를 참조하면, 상기 프로브 유닛은 인쇄회로기판(210)과, 상기 인쇄회로기판(210)과 전기적으로 연결된 연성인쇄회로기판(320)과, 상기 연성인쇄회로기판 (320)과 전기적으로 연결된 프로브 블록(240)과, 상기 프로브 블록(240)의 위치 이동을 가이드하는 가이드 부재(250) 및 상기 프로브 블록(240)과 전기적으로 연결된 핀 블록(260)을 포함한다.

상기 연성인쇄회로기판(320)은 소스 구동칩(321)이 실장되고, 상기 연성인쇄회로기판(320)의 길이를 조절가능 하도록 처리된 조절 부재(323)를 포함한다. 상기 조절 부재(323)는 지그재그형상으로 상기 연성인쇄회로기판(320)의 길이를 충분히 연장 가능하도록 형성된다. 즉, 상기 연성인쇄회로기판(320)에 부착된 상기 프로브 블록(340)이 상기 가이드 부재(250)를 따라 자유롭게 위치 조절 가능하도록 충분한 길이를 갖도록 형성된다. 여기서는 지그재그 형상의 조절 부재를 예로 하였으나, 상기 연성인쇄회로기판(320)의 길이를 상기 가이드 부재(250)를 따라 충분이 이동가능한 길이로 형성할 수도 있다.

상기 프로브 블록(240)은 상기 연성인쇄회로기판(320)의 일단에 전기적 및 물리적으로 연결된다.

도 3을 참조하면, 상기 프로브 블록(240)은 관통홀(241)과 삽입홈(243)을 포함한다. 상기 관통홀(241)에는 상기 가이드 부재(250)가 관통하여 배치되며, 상기 가이드 부재(250)에 의해 상기 프로브 블록(240)은 X축 방향으로 자유롭게 위치 이동이 가능하다.

상기 삽입홈(243)은 상기 핀 블록(260)이 삽입되는 홈으로, 상기 핀 블록(260)이 Y축 방향으로 삽입 및 탈착되어 교체를 용이하게 한다. 도 3에 도시된 바 와 같이, 상기 삽입홈(243)에는 복수의 제1 배선들(242)이 형성된다. 상기 제1 배선들(242)은 상기 소스 구동칩(321)의 출력단자와 전기적으로 연결되어 검사 전압이 인가된다. 상기 삽입홈(243)에 삽입된 핀 블록(260)은 상기 제1 배선들(242)을 통해 검사 전압을 전달받는다.

상기 핀 블록(260)은 상기 표시 패널(500)의 패드부와 전기적 및 물리적으로 접촉되는 핀들(261)이 형성되고, 상기 삽입홈(243)의 제1 배선들(242)과 전기적으로 연결되는 제2 배선들(262)이 형성된다.

결과적으로, 상기 핀 블록(260)이 상기 프로브 블록(240)에 삽입되면, 상기 제1 배선들(242)과 제2 배선들(262)들이 전기적으로 연결되어 상기 프로브 블록(240)에 전달된 검사 전압을 핀 블록(260)에 전달한다. 상기 핀 블록(260)에 전달된 검사 전압은 상기 핀들(261)을 통해 상기 표시 패널(500)의 패드부(510)에 인가된다.

도 4를 참조하면, 상기 검사 장치는 콘트롤 유닛(100)과 제1 프로브 유닛(200)과 제2 프로브 유닛(400)을 포함한다. 상기 콘트롤 유닛(100)은 상기 제1 및 제2 프로브 유닛(200)에 제어 신호 및 검사 신호를 제공한다.

상기 제1 프로브 유닛(200)은 인쇄회로기판(210), 제1 연성인쇄회로기판(220), 제1 더미 기판(230), 제1 프로브 블록(240), 제1 가이드 부재(250) 및 제1 핀 블록(260)을 포함한다. 상기 제1 프로브 유닛(200)에 대한 상세한 설명은 도 2 내지 도 3에서 설명된 바와 동일하므로 상세한 설명은 생략한다.

상기 제2 프로브 유닛(400)은 인쇄회로기판(210), 제2 연성인쇄회로기판(420), 제2 더미 기판(430), 제2 프로브 블록(440), 제2 가이드 부재(450) 및 제2 핀 블록(460)을 포함한다.

상기 제2 연성인쇄회로기판(420)은 상기 인쇄회로기판(210)과 상기 제2 더미 기판(430)을 전기적으로 연결한다. 상기 제2 연성인쇄회로기판(420)은 게이트 구동칩(421)이 실장되고, 소정 영역은 길이 조절이 가능하도록 처리된 제2 조절 부재(423)를 갖는다. 상기 게이트 구동칩(421)은 소정개의 게이트 검사신호를 생성하여 출력한다. 상기 제2 조절 부재(423)에 의해 상기 제2 연성인쇄회로기판(420)은 신축성을 갖는다.

상기 제2 더미 기판(430)은 상기 연성인쇄회로기판(420)의 출력단자들과 전기적으로 연결되어, 상기 게이트 구동칩(421)으로부터 출력된 게이트 검사신호를 상기 제2 더미 기판(430)과 전기적으로 연결된 제2 프로브 블록(440)에 전달한다.

상기 제2 프로브 블록(440)은 상기 제2 더미 기판(430)과 전기적으로 연결되고, 상기 제2 핀 블록(450)과 전기적으로 연결된다. 즉, 상기 제2 더미 기판(430)을 통해 전달된 게이트 검사신호를 상기 제2 핀 블록(460)에 전달한다.

상기 제2 가이드 부재(450)는 상기 제2 프로브 블록(440)을 관통하도록 설치되며, 상기 제2 프로브 블록(440)의 위치 이동을 가이드한다.

상기 제2 핀 블록(460)은 상기 제2 프로브 블록(440)에 삽입 및 탈착 가능한 결합 구조를 갖는다. 상기 제2 핀 블록(450)은 표시 패널(500)에 형성된 상기 복수 의 패드들(이하 게이트 패드부)(520)과 전기적으로 접촉되는 복수의 핀들을 갖는다.

상기 제2 핀 블록(460)은 상기 표시 패널(500)에 형성된 게이트 패드부(520)에 대응하는 핀 수를 갖는 핀 블록을 선택적으로 사용할 수 있다. 또한, 상기 게이트 패드부(520)들간의 피치가 다를 경우, 상기 제2 가이드 부재(450)를 이용하여 상기 제2 프로브 블록(440)의 위치를 이동시킴으로써 상기 게이트 패드부(520)들간의 피치가 다른 표시 패널의 검사를 용이하게 할 수 있다.

이상에서 설명한 바와 같이, 본 발명에 따르면 프로브 유닛을 다양한 표시 패널에 적응적으로 변경 가능하게 구현함으로써 표시 패널의 검사를 용이하게 할 수 있다. 또한, 각각의 유형별로 검사 장치를 설계하지 않아도 됨에 따라서 표시 패널의 검사 비용을 줄일 수 있다.

이상에서는 실시예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야의 숙련된 당업자는 하기의 특허 청구의 범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.

Claims

제1 검사신호를 제공하는 회로부가 실장된 인쇄회로기판;

상기 인쇄회로기판과 전기적으로 연결되고, 상기 제1 검사신호를 제2 검사신호로 변환하는 구동칩이 실장된 연성인쇄회로기판;

상기 연성인쇄회로기판과 전기적으로 연결되고, 관통부와 삽입부가 각각 형성된 프로브 블록;

상기 관통부에 배치되고, 상기 프로브 블록의 위치 이동을 가이드하는 가이드 부재; 및

상기 삽입부에 삽탈가능하고, 상기 제2 검사신호를 표시 패널의 배선들에 인가하는 복수의 핀들이 형성된 핀 블록을 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 패널의 검사 장치.
제1항에 있어서, 상기 연성인쇄회로기판의 소정 영역은 상기 프로브 블록의 위치 이동에 따라 길이 조절이 가능한 조절부재가 형성된 것을 특징으로 하는 표시 패널의 검사 장치.
제1항에 있어서, 상기 연성인쇄회로기판은 상기 프로브 블록의 위치 이동에 따라 충분한 길이를 갖는 것을 특징으로 하는 표시 패널의 검사 장치.
제3항에 있어서, 상기 조절부재는 상기 연성인쇄회로기판이 지그재그로 형상으로 형성된 것을 특징으로 하는 표시 패널의 검사 장치.
제1항에 있어서, 상기 핀 블록의 복수의 핀들은 상기 표시 패널의 소스 패드들과 전기적으로 접촉되는 것을 특징으로 하는 표시 패널의 검사 장치.
제1항에 있어서, 상기 연성인쇄회로기판의 일단부와 상기 프로브 블록을 전기적으로 연결시키는 더미 기판을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 패널의 검사 장치.