KR100913805B1 - 액정 표시 장치용 점등검사장치 및 그의 검사 방법 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 기계적인 변경없이 외부 전압을 이용하여 액정 표시 패널의 점등 검사를 할 수 있는 액정 표시 장치용 점등검사장치 및 그의 검사 방법에 관한 것이다.
본 발명에 따른 액정 표시 장치용 점등검사장치는 화상을 표시하는 액정 표시 패널과, 상기 액정 표시 패널의 데이터 라인들을 구동하기 위한 데이터 드라이버를 실장한 데이터 연성 회로 필름과, 상기 액정 표시 패널에 형성된 각각의 화소의 점등을 검사하기 위한 프로브 장치와, 상기 프로브 장치를 제어하는 다채널 아날로그 스위치 기판과, 상기 데이터 드라이버 및 상기 다채널 아날로그 스위치 기판을 제어하는 타이밍 제어부 및 전원부가 실장된 제어 인쇄 회로 기판를 포함하는 것을 특징으로 한다.
프로브 장치, 다채널 아날로그 스위치 기판, 외부 전압

Description

액정 표시 장치용 점등검사장치 및 그의 검사 방법{APPARATUS OF PROBING LIGHTING FOR LIQUID CRYSTALDISPLAY AND TESTING METHOD THEREOF}
본 발명은 기계적인 변경없이 외부 전압을 이용하여 액정 표시 패널의 점등 검사를 할 수 있는 액정 표시 장치용 점등검사장치 및 그의 검사 방법에 관한 것이다.
일반적으로, 액정 표시 장치(Liquid Crystal Display; LCD)는 액정 표시 패널에 매트릭스 형태로 배열된 액정셀들 각각이 비디오 신호에 따라 광투과율을 조절하게 함으로써 화상을 표시하게 된다. 액정 표시 패널은 액정을 사이에 두고 합착제에 의해 합착되는 박막 트랜지스터 기판 및 컬러 필터 기판을 구비한다.
이러한 액정 표시 패널을 제조하기 위한 제조 공정은 박막트랜지스터 어레이 각각과 컬러필터 어레이 각각이 형성되는 패터닝 공정, 박막트랜지스터 기판과 칼라필터 기판이 액정을 사이에 두고 합착되는 합착 공정, 불량 액정 표시 패널을 검출하는 검사 공정 등으로 나뉘어진다.
이 중 검사 공정은 액정 표시 패널에 구동 집적 회로를 부착하기 전의 상태에서 액정 표시 패널의 불량 유무를 검사하게 된다. 구체적으로, 검사 공정은 백 라이트 유닛 및 구동 집적 회로들이 조립된 완제품의 액정 표시 모듈과 동일한 환경으로 조성된 검사 장치로 액정 표시 패널을 이동시킨다. 검사 장치로 이동된 액정 표시 패널에는 액정 표시 모듈을 구동시킬 때와 동일한 구동 신호인 검사 신호가 인가되어 화상이 구현된다. 이 때, 액정 표시 패널의 신호라인에 불량이 발생되는 경우 그 신호 라인과 접속된 화소는 정상 신호 라인과 접속된 화소와 다른 화상을 구현하게 되므로 액정 표시 패널의 불량 상태를 쉽게 확인할 수 있다.
액정 표시 패널의 점등 검사는 구동 드라이버를 본딩하지 않고 프로브로 접촉하여 드라이버와 액정 표시 패널의 패드부와 연결하여 검사하게 된다. 즉, 일반적인 액정 표시 패널의 점등검사는 제품에 사용되는 구동 드라이버를 이용하여 점등 검사를 하였다. 하지만, 최근 액정 표시 패널의 크기가 대형화가 되고 복잡해짐에 따라 정확한 점등 검사를 위해 구동 드라이버의 구동 전압를 이용하지 않고, 구동 전압보다 높은 전압을 인가하여 점등 검사를 하는 방법을 이용하고 있다.
이와 같이, 외부 전압을 인가하기 위해서 구동 드라이버와 연결된 프로브를 분리하고 외부 전압이 공급되는 외부 전압 공급원과 프로브 장치를 연결해야 한다. 이에 따라, 프로브 장치를 분리하고 교체하는 시간이 많이 걸리고 작업성이 떨어지며, 수십 마이크로 간격과 수백 개가 넘는 채널을 릴레이로 제어하려면 부피가 커지게 되고 수십 마이크로 간격의 배선 연결이 불가능한 문제점이 발생된다.
상기와 같은 문제점을 해결하기 위하여, 본 발명은 기계적인 변경없이 외부 전압을 이용하여 액정 표시 패널의 점등 검사를 할 수 있는 액정 표시 장치용 점등검사장치 및 그의 검사 방법을 제공하는 것이다.
상기 기술적 과제를 달성하기 위하여, 본 발명에 따른 액정 표시 장치용 점등검사장치는 화상을 표시하는 액정 표시 패널과, 상기 액정 표시 패널의 데이터 라인들을 구동하기 위한 데이터 드라이버를 실장한 데이터 연성 회로 필름과, 상기 액정 표시 패널에 형성된 각각의 화소의 점등을 검사하기 위한 프로브 장치와, 상기 프로브 장치를 제어하는 다채널 아날로그 스위치 기판과, 상기 데이터 드라이버 및 상기 다채널 아날로그 스위치 기판을 제어하는 타이밍 제어부 및 전원부가 실장된 제어 인쇄 회로 기판를 포함하는 것을 특징으로 한다.
여기서, 상기 다채널 아날로그 스위치 기판은 상기 데이터 드라이버의 출력 전압 또는 적어도 하나의 외부 아날로그 전압을 이용하여 상기 액정 표시 패널의 점등 검사를 하기 위해 프로브 장치에 공급하는 것을 특징으로 한다.
그리고, 상기 다채널 아날로그 스위치 기판은 상기 데이터 드라이버의 출력 전압을 이용하여 상기 액정 표시 패널의 점등 검사를 하는 제1 트랜지스터군과, 상기 외부 아날로그 전압을 이용하여 상기 액정 표시 패널의 점등 검사를 하는 제2 트랜지스터군과, 상기 데이터 드라이버의 출력 전압을 상기 다채널 아날로그 스위 치 기판으로 공급하는 검사 입력 패드부와, 상기 적어도 하나의 외부 아날로그 전압을 상기 제2 트랜지스터군으로 공급하는 다수의 외부 전압 입력 라인과, 상기 다채널 아날로그 스위치 기판의 출력 전압을 출력하는 검사 출력 패드부를 포함하는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 제1 및 제2 트랜지스터군 각각은 다수의 트랜지스터를 포함하는 것을 특징으로 한다.
그리고, 상기 제1 트랜지스터군의 다수의 트랜지스터는 상기 제1 트랜지스터군의 다수의 트랜지스터를 제어하는 제1 선택 제어 신호를 공급하는 제1 선택 제어 라인과 접속된 게이트 단자와, 상기 데이트 드라이버의 출력 전압을 공급받는 상기 다채널 아날로그 스위치 기판의 입력 패드부와 접속된 소스 단자와, 상기 다채널 아날로그 스위치 기판의 출력 전압을 출력하는 검사 출력 패드부와 접속된 드레인 단자를 포함하는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 제2 트랜지스터군의 다수의 트랜지스터는 상기 제1 트랜지스터군의 다수의 트랜지스터를 제어하는 제1 선택 제어 신호를 공급하는 제1 선택 제어 라인과 접속된 게이트 단자와, 상기 데이트 드라이버의 출력 전압을 공급받는 상기 다채널 아날로그 스위치 기판의 입력 패드부와 접속된 소스 단자와, 상기 다채널 아날로그 스위치 기판의 출력 전압을 출력하는 검사 출력 패드부와 접속된 드레인 단자를 포함하는 것을 특징으로 한다.
여기서, 상기 다수의 트랜지스터는 비정질 실리콘 박막 트랜지스터, 다결정 실리콘 박막 트랜지스터, 비정질 실리콘 및 다결정 실리콘이 혼합된 박막 트랜지스 터 중 어느 하나로 형성되는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 다수의 트랜지스터는 N형 트랜지스터 또는 P형 트랜지스터로 형성되는 것을 특징으로 한다.
그리고, 상기 다수의 트랜지스터는 절연 기판 또는 플렉서블한 특성을 가지는 기판 상에 형성되는 것을 특징으로 한다.
한편, 상기 다채널 아날로그 스위치 기판은 상기 제1 트랜지스터군 또는 상기 제2 트랜지스터군 중 어느 하나의 다수의 트랜지스터의 게이트 단자와 접속되는 디코더부를 더 포함하는 것을 특징으로 한다.
그리고, 상기 디코더부에 포함된 다수의 트랜지스터는 비정질 실리콘 박막 트랜지스터, 다결정 실리콘 박막 트랜지스터, 비정질 실리콘 및 다결정 실리콘이 혼합된 박막 트랜지스터 중 어느 하나로 형성되는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 디코더부에 포함된 다수의 트랜지스터는 N형 트랜지스터 또는 P형 트랜지스터로 형성되는 것을 특징으로 하는 액정 표시 장치.
상기 기술적 과제를 달성하기 위하여, 본 발명에 따른 액정 표시 장치용 점등검사장치의 검사 방법은 제어 인쇄 회로 기판으로부터 선택 제어 신호를 다채널 아날로그 스위치 기판에 공급하는 단계와, 상기 선택 제어 신호에 따라 제1 또는 제2 트랜지스터군을 제어하는 단계와, 상기 제1 또는 제2 트랜지스터군을 통해 데이터 드라이버 출력 전압 또는 적어도 하나의 외부 아날로그 전압을 이용하여 액정 표시 패널의 점등 검사를 하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.
그리고, 상기 선택 제어 신호에 따라 제1 또는 제2 트랜지스터군을 제어하는 단계는 상기 제1 트랜지스터군에 제1 선택 제어 라인을 통해 제1 선택 제어 신호를 공급하여 상기 제1 트랜지스터군을 제어하며, 상기 제2 트랜지스터군에 제2 선택 제어 라인을 통해 제2 선택 제어 신호를 공급하여 상기 제2 트랜지스터군을 제어하는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 제1 또는 제2 트랜지스터군을 통해 데이터 드라이버 출력 전압 또는 적어도 하나의 외부 아날로그 전압을 이용하여 액정 표시 패널의 점등 검사를 하는 단계는 상기 제어 인쇄 회로 기판으로부터 턴-온된 제1 선택 제어 신호가 제1 선택 제어 라인을 통해 제1 트랜지스터군으로 공급됨과 동시에 턴-오프된 제2 선택 제어 신호가 제2 선택 제어 라인을 통해 제2 트랜지스터군에 공급되는 단계와, 상기 제1 트랜지스터군이 턴-온되어 상기 데이터 드라이버의 출력 전압을 상기 프로브 장치를 통해 상기 액정 표시 패널로 공급하여 점등 검사를 하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.
그리고, 상기 제1 또는 제2 트랜지스터군을 통해 데이터 드라이버 출력 전압 또는 적어도 하나의 외부 아날로그 전압을 이용하여 액정 표시 패널의 점등 검사를 하는 단계는 상기 제어 인쇄 회로 기판으로부터 턴-오프된 제1 선택 제어 신호가 제1 선택 제어 라인을 통해 제1 트랜지스터군으로 공급됨과 동시에 턴-온된 제2 선택 제어 신호가 제2 선택 제어 라인을 통해 제2 트랜지스터군에 공급되는 단계와, 상기 제2 트랜지스터군이 턴-온되어 상기 적어도 하나의 외부 아날로그 전압을 상기 프로브 장치를 통해 상기 액정 표시 패널로 공급하여 점등 검사를 하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.
본 발명에 따른 액정 표시 장치용 점등검사장치 및 그의 검사 방법은 기계적인 변경없이 다채널 아날로그 스위치 기판을 통해 데이터 드라이버의 출력 전압 또는 외부 아날로그 전압을 이용하여 액정 표시 패널의 점등 검사를 한다. 다시 말하여, 외부 아날로그 전압을 이용하여 액정 표시 패널의 점등 검사를 하는 경우에 프로브 장치를 분리하고, 외부 전압 공급원과 연결하는 방법과 같이 분리 및 교체 작업을 하지 않아도 됨으로써 시간을 줄일 수 있다. 또한, 프로브 장치 및 외부 전압을 인가하는 장치를 분리 및 교체하는 검사 공정 중에 발생할 수 있는 접촉 불량을 해결할 수 있다.
이하, 도 1 내지 도 3를 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예에 대하여 설명하기로 한다.
도 1은 본 발명에 따른 액정 표시 장치용 점등검사장치를 나타낸 평면도이고, 도 2는 도 1에 도시된 다채널 아날로그 스위치 기판에 대한 회로도이다.
도 1을 참조하면, 본 발명에 따른 액정 표시 장치는 화상을 표시하는 액정 표시 패널(100)과, 액정 표시 패널(100)의 데이터 라인들(DL)을 구동하기 위한 데이터 드라이버(142)를 실장한 데이터 회로 필름(144)과, 데이터 드라이버(142) 및 다채널 아날로그 스위치 기판(130)을 제어하는 타이밍 제어부 및 전원부가 실장된 제어 인쇄 회로 기판(140)과, 액정 표시 패널(100)에 형성된 각각의 화소의 점등을 검사하기 위한 프로브 장치(110)와, 프로브 장치(110)를 제어하는 다채널 아날로그 스위치 기판(130)을 포함한다.
액정 표시 패널(100)은 박막 트랜지스터 기판과, 칼러 필터 기판이 액정을 사이에 두고 접합되어 형성된다. 이러한 액정 표시 패널(100)은 게이트 라인들(GL)과 데이터 라인들(DL)의 교차로 정의되는 영역마다 박막 트랜지스터(TFT)에 의해 독립적으로 구동되는 액정셀(Clc)들이 마련된다. 박막 트랜지스터(TFT)는 게이트 라인(GL)으로부터의 스캔 신호에 응답하여 데이터 라인(DL)으로부터의 화소 신호를 액정셀(Clc)에 공급한다.
데이터 드라이버(132)들은 데이터 전송 회로 필름(144) 상에 실장되며, 화소 데이터를 아날로그 화소 신호로 변환하여 데이터 라인들(DL)에 공급한다. 여기서, 데이터 드라이버(132)가 실장된 데이터 전송 회로 필름(144)의 일측단은 제어 인쇄 회로 기판(140)과 접속되며, 데이터 전송 회로 필름(144)의 타측단은 다채널 아날로그 스위치 기판(130)과 접속된다.
제어 인쇄 회로 기판(Printed Circuit Board; PCB)(140)은 데이터 드라이버(142)가 실장된 데이터 전송 회로 필름(142)과, 연결 기판(134)이 접속된다. 이에 따라, 제어 인쇄 회로 기판(140)에 실장된 타이밍 제어부 및 전원부 등으로부터의 데이터 제어 신호, 전원 신호 및 화소 데이터 등을 데이터 전송 회로 필름(144)을 경유하여 데이터 드라이버(142)에 공급한다. 또한, 제어 인쇄 회로 기판(140)에 실장된 타이밍 제어부로부터 다채널 아날로그 스위치 기판(130)을 제어하는 제1 선택 제어 신호(SS1) 또는 제2 선택 제어 신호(SS2)와, 전원부로부터 외부 아날로그 전압을 다채널 아날로그 스위치 기판(130)에 공급한다.
다채널 아날로그 스위치 기판(130)은 액정 표시 장치의 제조 공정 후 점등 검사하는 프로브 장치(110)를 제어한다. 다시 말하여, 다채널 아날로그 스위치 기판(130)은 데이터 드라이버(142)의 출력 전압 또는 적어도 하나의 외부 아날로그 전압을 이용하여 액정 표시 패널(100)의 점등 검사를 하기 위해 프로브 장치(110)에 공급한다.
이를 위해, 다채널 아날로그 스위치 기판(130)의 상측부에는 데이터 드라이버(142)를 실장한 데이터 연성 회로 필름(144)과 접속되며, 다채널 아날로그 스위치 기판(130)의 하측부는 프로브 장치(110)와 프로브 연성 회로 필름(120)을 통해 접속되며, 다채널 아날로그 스위치 기판(130)의 좌측부 및 우측부에는 연결 기판(134,136)이 접속된다.
구체적으로, 다채널 아날로그 스위치 기판(130)은 데이터 드라이버(142)의 출력 전압을 이용하여 액정 표시 패널의 점등 검사를 하는 제1 트랜지스터군(134)과, 외부 아날로그 전압을 이용하여 액정 표시 장치의 점등 검사를 하는 제2 트랜지스터군(238)과, 데이터 드라이버(142)의 출력 전압을 다채널 아날로그 스위치 기판(130)으로 공급하는 검사 입력 패드부(232)와, 다수의 아날로그 전압을 제2 트랜지스터군(238)으로 공급하는 다수의 외부 전압 입력 라인(236)과, 다채널 아날로그 스위치 기판(130)의 출력 전압을 출력하는 검사 출력 패드(240)를 포함한다.
제1 트랜지스터군(234)은 데이터 드라이버(142)와 접속된 다수의 스위칭 트랜지스터로 형성된다. 제1 트랜지스터군(234)의 다수의 스위칭 트랜지스터는 제1 선택 제어 라인(160)과 접속된 게이트 단자와, 데이터 드라이버(142)로부터 출력 전압을 공급받는 다채널 아날로그 스위치 기판(130)의 검사 입력 패드부(232)와 접속된 소스 단자와, 다채널 아날로그 스위치 기판(130)의 출력 전압을 출력하는 검사 출력 패드부(238)와 접속된 드레인 단자를 구비한다.
이에 따라, 제1 트랜지스터군(234)의 다수의 스위칭 트랜지스터 각각은 제1 선택 제어 라인(160)으로부터 공급되는 제1 선택 제어 신호(SS1)에 응답하여 검사 입력 패드부(232)로부터 공급되는 데이터 출력 전압을 검사 출력 패드(240)에 공급한다.
제2 트랜지스터군(238)은 연결 기판(134)을 통해 외부 아날로그 전압을 공급받는 다수의 외부 전압 입력 라인(236)과 접속된 다수의 스위칭 트랜지스터로 형성된다. 제2 트랜지스터군(238)의 다수의 스위칭 트랜지스터는 제2 선택 제어 라인(162)과 접속된 소스 단자와, 외부 전압 입력 라인(236)과 접속된 소스 단자와, 다채널 아날로그 스위치 기판(130)의 출력 전압을 출력하는 검사 출력 패드(240)와 접속된 드레인 단자를 구비한다.
이에 따라, 제2 트랜지스터군(238)의 다수의 스위칭 트랜지스터 각각은 제2 선택 제어 라인(162)으로부터 공급되는 제2 선택 제어 신호(SS2)에 응답하여 외부 전압 입력 라인(236)으로부터 공급되는 외부 전압을 검사 출력 패드(240)에 공급한다. 이때, 외부 전압 입력 라인(236)을 통해 공급되는 외부 전압은 액정 표시 장치의 정확한 점등 검사를 하기 위해 실제 데이터 드라이버(142) 구동 전압보다 높은 전압을 이용할 수 있다.
또한, 제1 및 제2 트랜지스터군(234,238)에 포함된 다수의 트랜지스터는 비 정질 실리콘 박막 트랜지스터, 다결정 실리콘 박막 트랜지스터, 비정질 실리콘 및 다결정 실리콘이 혼합된 박막 트랜지스터 중 어느 하나로 형성된다. 그리고, 다수의 트랜지스터는 절연 기판 또는 플렉서블한 특성을 가지는 기판 상에 형성되며, N형 또는 P형 트랜지스터로 형성될 수 있다.
외부 전압 입력 라인(236)은 외부로부터 전압을 공급받도록 다수의 라인으로 형성되며, 제2 트랜지스터군(238)의 다수의 스위칭 트랜지스터 각각과 접속된다. 외부 전압 입력 라인(236)은 다수의 입력 라인으로 형성되며, 도 2에 도시된 바와 같이 예로 들어 제1 내지 제6 외부 전압 입력 라인(1 내지 6)으로 형성되어 제2 트랜지스터군(238)의 스위칭 트랜지스터 각각과 접속될 수 있다.
연결 기판은 다채널 아날로그 스위치 기판(130)과 제어 인쇄 회로 기판(140)과 접속시키는 제1 연결 기판(134)과, 인접한 다채널 아날로그 스위치 기판(130)을 서로 접속시키는 제2 연결 기판(136)을 포함한다.
제1 연결 기판(134)은 제어 인쇄 회로 기판(140)으로부터 외부 전압을 다채널 아날로그 스위치 기판(130)으로 공급하고, 제어 인쇄 회로 기판(140)으로부터 제1 또는 제2 선택 제어 신호(SS1,SS2)를 공급할 수 있도록 제어 인쇄 회로 기판(140)과 다채널 아날로그 스위치 기판(130)을 접속시킨다. 이에 따라, 제어 인쇄 회로 기판(140)으로부터 생성된 외부 아날로그 전압, 제1 또는 제2 선택 제어 신호(SS1, SS2)를 제1 연결 기판(134)을 통해 다채널 아날로그 스위치 기판(130)의 외부 전압 입력 라인(236)으로 공급된다.
제2 연결 기판(136)은 서로 인접한 다채널 아날로그 스위치 기판(130)을 접 속시켜 제1 연결 기판(134)을 통해 공급된 외부 아날로그 전압, 제1 또는 제2 선택 제어 신호(SS1, SS2)를 서로 인접한 다채널 아날로그 스위치 기판(130)에 공급한다.
프로브 장치(110)는 다채널 아날로그 스위치 기판(130)으로부터 공급된 데이터 드라이버(142)의 출력 전압 또는 외부 아날로그 전압를 이용하여 액정 표시 패널(100)에 형성된 각각의 화소들이 제대로 동작하는지를 검사하는 점등 검사를 한다.
이를 위해, 프로브 장치(110)의 일측부는 다채널 아날로그 스위치 기판(130)과 프로브 연성 회로 필름(120)을 통해 접속되며, 프로브 장치(110)의 타측부는 액정 표시 패널(100)의 패드부(102)와 접속된다.
한편, 본 발명에 따른 다채널 아날로그 스위치 기판(130)에는 도 3에 도시된 바와 같이 다수의 트랜지스터 각각의 게이트 단자들을 하나의 선택 신호 라인에 연결되지 않고, 디코더부(250)에 연결될 수 있으며, 디코더부(250)의 디지털 주소 신호에 따라 해당되는 채널을 온/오프하여 원하는 위치를 점등시켜서 불량 라인의 위치를 찾을 수 있다. 이러한, 디코더부(250)는 예로 들어 8비트(bit) ~ 24비트(bit)의 디지털 주소 신호를 가질 수 있으며, 바람직하게는 10비트의 디지털 주소 신호를 가질 수 있다.
또한, 디코더부(250)에 포함된 다수의 트랜지스터는 비정질 실리콘 박막 트랜지스터, 다결정 실리콘 박막 트랜지스터, 비정질 실리콘 및 다결정 실리콘이 혼합된 박막 트랜지스터 중 어느 하나로 형성된다. 그리고, 디코더부(250)의 다수의 트랜지스터는 절연 기판 또는 플렉서블한 특성을 가지는 기판 상에 형성되며, N형 또는 P형 트랜지스터로 형성될 수 있다.
이와 같이, 본 발명에 따른 액정 표시 장치는 기계적인 변경없이 다채널 아날로그 스위치 기판(130)을 통해 데이터 드라이버(142)의 출력 전압 또는 외부 아날로그 전압을 이용하여 액정 표시 패널(100)의 점등 검사를 한다. 다시 말하여, 외부 아날로그 전압을 이용하여 액정 표시 패널(100)의 점등 검사를 하는 경우에 프로브 장치(110)를 분리하고, 외부 전압 공급원과 연결하는 방법과 같이 분리 및 교체 작업을 하지 않아도 됨으로써 시간을 줄일 수 있다. 또한, 프로브 장치(110) 및 외부 전압을 인가하는 장치를 분리 및 교체하는 검사 공정 중에 발생할 수 있는 접촉 불량을 해결할 수 있다.
본 발명에 따른 다채널 아날로그 스위치 기판을 이용한 검사 공정에 대하여 도 2를 결부하여 설명하기로 한다.
본 발명에 따른 검사 공정은 다채널 아날로그 스위치 기판(130)을 통해 데이터 드라이버(142)의 출력 전압 또는 외부 아날로그 전압을 이용하여 액정 표시 패널(100)의 점등 검사를 한다.
먼저, 데이터 드라이버(142)의 출력 전압을 이용하여 액정 표시 패널(100)의 점등 검사를 하는 경우를 설명하기로 한다. 제어 인쇄 회로 기판(140)으로부터 턴-온된 제1 선택 제어 신호(SS1)가 제1 선택 제어 라인(160)을 통해 공급되면, 제1 트랜지스터군(234)의 다수의 트랜지스터가 순차적으로 턴-온된다. 이와 동시에, 제어 인쇄 회로 기판(140)으로부터 턴-오프된 제2 선택 제어 신호(SS2)가 제2 선택 제어 라인(162)을 통해 공급되면, 제2 트랜지스터군(238)의 다수의 트랜지스터가 순차적으로 턴-오프된다.
턴-온된 제1 트랜지스터군(234)의 다수의 트랜지스터는 검사 입력 패드부(232)에 공급된 데이터 드라이버(142)의 출력 전압을 프로브 장치(110)를 통해 액정 표시 패널(100)에 공급하여 화소의 점등 검사를 한다.
또한, 외부 아날로그 전압을 이용하여 액정 표시 패널(100)의 점등 검사를 하는 경우를 설명하기로 한다. 제어 인쇄 회로 기판(140)으로부터 턴-온된 제2 선택 제어 신호(SS2)가 제2 선택 제어 라인(162)을 통해 공급되면, 제2 트랜지스터군(238)의 다수의 트랜지스터가 순차적으로 턴-온된다. 이와 동시에, 제어 인쇄 회로 기판(140)으로부터 턴-오프된 제1 선택 제어 신호(SS1)가 제1 선택 제어 라인(160)을 통해 공급되면, 제1 트랜지스터군(234)의 다수의 트랜지스터가 순차적으로 턴-오프된다.
턴-온된 제2 트랜지스터군(238)의 다수의 트랜지스터는 외부 전압 입력 라인(236)으로부터 공급된 외부 아날로그 전압을 프로브 장치(110)를 통해 액정 표시 패널(100)에 공급하여 화소의 점등 검사를 한다.
이상 설명한 내용을 통해 당업자라면 본 발명의 기술사상을 일탈하지 아니하는 범위에서 다양한 변경 및 수정이 가능함을 알 수 있을 것이다. 따라서, 본 발명의 기술적 범위는 명세서의 상세한 설명에 기재된 내용으로 한정되는 것이 아니라 특허 청구의 범위에 의해 정하여져야만 할 것이다.
도 1은 본 발명에 따른 액정 표시 장치용 점등검사장치를 나타낸 평면도이다.
도 2는 도 1에 도시된 다채널 아날로그 스위치 기판에 대한 회로도이다.
도 3은 도 1에 도시된 다채널 아날로그 스위치 기판에 대한 다른 실시 예를 나타낸 회로도이다.
<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명>
100 : 액정 표시 패널 110 : 프로브 장치
120 : 프로브 연성 회로 필름 130 : 다채널 아날로그 스위치 기판
134, 136 : 연결 기판 140 : 제어 인쇄 회로 기판
142 : 데이터 드라이버 144 : 데이터 연성 회로 필름
160 : 제1 제어 신호 라인 162 : 제2 제어 신호 라인
232 : 검사 입력 패드부 234 : 제1 트랜지스터군
236 : 외부 전압 입력 라인 238 : 제2 트랜지스터군
240 : 검사 출력 패드부

Claims (16)

  1. 화상을 표시하는 액정 표시 패널과;
    상기 액정 표시 패널의 데이터 라인들을 구동하기 위한 데이터 드라이버를 실장한 데이터 연성 회로 필름과;
    상기 액정 표시 패널에 형성된 각각의 화소의 점등을 검사하기 위한 프로브 장치와;
    상기 프로브 장치를 제어하는 다채널 아날로그 스위치 기판과;
    상기 데이터 드라이버 및 상기 다채널 아날로그 스위치 기판을 제어하는 타이밍 제어부 및 전원부가 실장된 제어 인쇄 회로 기판를 포함하는 것을 특징으로 하는 액정 표시 장치용 점등검사장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 다채널 아날로그 스위치 기판은
    상기 데이터 드라이버의 출력 전압 또는 적어도 하나의 외부 아날로그 전압을 이용하여 상기 액정 표시 패널의 점등 검사를 하기 위해 프로브 장치에 공급하는 것을 특징으로 하는 액정 표시 장치용 점등검사장치.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 다채널 아날로그 스위치 기판은
    상기 데이터 드라이버의 출력 전압을 이용하여 상기 액정 표시 패널의 점등 검사를 하는 제1 트랜지스터군과;
    상기 외부 아날로그 전압을 이용하여 상기 액정 표시 패널의 점등 검사를 하는 제2 트랜지스터군과;
    상기 데이터 드라이버의 출력 전압을 상기 다채널 아날로그 스위치 기판으로 공급하는 검사 입력 패드부와;
    상기 적어도 하나의 외부 아날로그 전압을 상기 제2 트랜지스터군으로 공급하는 다수의 외부 전압 입력 라인과;
    상기 다채널 아날로그 스위치 기판의 출력 전압을 출력하는 검사 출력 패드부를 포함하는 것을 특징으로 하는 액정 표시 장치용 점등검사장치.
  4. 제3항에 있어서,
    상기 제1 및 제2 트랜지스터군 각각은 다수의 트랜지스터를 포함하는 것을 특징으로 하는 액정 표시 장치용 점등검사장치.
  5. 제4항에 있어서,
    상기 제1 트랜지스터군의 다수의 트랜지스터 각각은
    상기 제1 트랜지스터군의 다수의 트랜지스터를 제어하는 제1 선택 제어 신호를 공급하는 제1 선택 제어 라인과 접속된 게이트 단자와;
    상기 데이트 드라이버의 출력 전압을 공급받는 상기 다채널 아날로그 스위치 기판의 입력 패드부와 접속된 소스 단자와;
    상기 다채널 아날로그 스위치 기판의 출력 전압을 출력하는 검사 출력 패드부와 접속된 드레인 단자를 포함하는 것을 특징으로 하는 액정 표시 장치용 점등검사장치.
  6. 제4항에 있어서,
    상기 제2 트랜지스터군의 다수의 트랜지스터 각각은
    상기 제1 트랜지스터군의 다수의 트랜지스터를 제어하는 제1 선택 제어 신호를 공급하는 제1 선택 제어 라인과 접속된 게이트 단자와;
    상기 데이트 드라이버의 출력 전압을 공급받는 상기 다채널 아날로그 스위치 기판의 입력 패드부와 접속된 소스 단자와;
    상기 다채널 아날로그 스위치 기판의 출력 전압을 출력하는 검사 출력 패드부와 접속된 드레인 단자를 포함하는 것을 특징으로 하는 액정 표시 장치용 점등검사장치.
  7. 제4항에 있어서,
    상기 다수의 트랜지스터는 비정질 실리콘 박막 트랜지스터, 다결정 실리콘 박막 트랜지스터, 비정질 실리콘 및 다결정 실리콘이 혼합된 박막 트랜지스터 중 어느 하나로 형성되는 것을 특징으로 하는 액정 표시 장치용 점등검사장치.
  8. 제4항에 있어서,
    상기 다수의 트랜지스터는 N형 트랜지스터 또는 P형 트랜지스터로 형성되는 것을 특징으로 하는 액정 표시 장치용 점등검사장치.
  9. 제4항에 있어서,
    상기 다수의 트랜지스터는 절연 기판 또는 플렉서블한 특성을 가지는 기판 상에 형성되는 것을 특징으로 하는 액정 표시 장치용 점등검사장치.
  10. 제4항에 있어서,
    상기 다채널 아날로그 스위치 기판은 상기 제1 트랜지스터군 또는 상기 제2 트랜지스터군 중 어느 하나의 다수의 트랜지스터의 게이트 단자와 접속되는 디코더부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 액정 표시 장치용 점등검사장치.
  11. 제10항에 있어서,
    상기 디코더부에 포함된 다수의 트랜지스터는 비정질 실리콘 박막 트랜지스터, 다결정 실리콘 박막 트랜지스터, 비정질 실리콘 및 다결정 실리콘이 혼합된 박막 트랜지스터 중 어느 하나로 형성되는 것을 특징으로 하는 액정 표시 장치용 점등검사장치.
  12. 제10항에 있어서,
    상기 디코더부에 포함된 다수의 트랜지스터는 N형 트랜지스터 또는 P형 트랜지스터로 형성되는 것을 특징으로 하는 액정 표시 장치용 점등검사장치.
  13. 제어 인쇄 회로 기판으로부터 선택 제어 신호를 다채널 아날로그 스위치 기판에 공급하는 단계와;
    상기 선택 제어 신호에 따라 제1 또는 제2 트랜지스터군을 제어하는 단계와;
    상기 제1 또는 제2 트랜지스터군을 통해 데이터 드라이버 출력 전압 또는 적어도 하나의 외부 아날로그 전압을 이용하여 액정 표시 패널의 점등 검사를 하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 액정 표시 장치용 점등검사장치의 검사 방법.
  14. 제13항에 있어서,
    상기 선택 제어 신호에 따라 제1 또는 제2 트랜지스터군을 제어하는 단계는
    상기 제1 트랜지스터군에 제1 선택 제어 라인을 통해 제1 선택 제어 신호를 공급하여 제어하며,
    상기 제2 트랜지스터군에 제2 선택 제어 라인을 통해 제2 선택 제어 신호를 공급하여 제어하는 것을 특징으로 하는 액정 표시 장치용 점등검사장치의 검사 방법.
  15. 제14항에 있어서,
    상기 제1 또는 제2 트랜지스터군을 통해 데이터 드라이버 출력 전압 또는 적 어도 하나의 외부 아날로그 전압을 이용하여 액정 표시 패널의 점등 검사를 하는 단계는
    상기 제어 인쇄 회로 기판으로부터 턴-온된 제1 선택 제어 신호가 제1 선택 제어 라인을 통해 제1 트랜지스터군으로 공급됨과 동시에 턴-오프된 제2 선택 제어 신호가 제2 선택 제어 라인을 통해 제2 트랜지스터군에 공급되는 단계와;
    상기 제1 트랜지스터군이 턴-온되어 상기 데이터 드라이버의 출력 전압을 상기 프로브 장치를 통해 상기 액정 표시 패널로 공급하여 점등 검사를 하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 액정 표시 장치용 점등검사장치의 검사 방법.
  16. 제14항에 있어서,
    상기 제1 또는 제2 트랜지스터군을 통해 데이터 드라이버 출력 전압 또는 적어도 하나의 외부 아날로그 전압을 이용하여 액정 표시 패널의 점등 검사를 하는 단계는
    상기 제어 인쇄 회로 기판으로부터 턴-오프된 제1 선택 제어 신호가 제1 선택 제어 라인을 통해 제1 트랜지스터군으로 공급됨과 동시에 턴-온된 제2 선택 제어 신호가 제2 선택 제어 라인을 통해 제2 트랜지스터군에 공급되는 단계와;
    상기 제2 트랜지스터군이 턴-온되어 상기 적어도 하나의 외부 아날로그 전압을 상기 프로브 장치를 통해 상기 액정 표시 패널로 공급하여 점등 검사를 하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 액정 표시 장치용 점등검사장치의 검사 방법.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20060000605A (ko) * 2004-06-29 2006-01-06 엘지.필립스 엘시디 주식회사 액정패널 검사장치 및 검사방법

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20060000605A (ko) * 2004-06-29 2006-01-06 엘지.필립스 엘시디 주식회사 액정패널 검사장치 및 검사방법

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103913863A (zh) * 2014-03-18 2014-07-09 京东方科技集团股份有限公司 显示面板检测结构、显示面板及显示装置
CN103913863B (zh) * 2014-03-18 2016-08-17 京东方科技集团股份有限公司 显示面板检测结构、显示面板及显示装置

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