KR20080008462A

KR20080008462A - 신호 검사 장치

Info

Publication number: KR20080008462A
Application number: KR1020060067736A
Authority: KR
Inventors: 이태경; 이동환; 지안호; 김태헌; 이철환; 강수명; 김영만
Original assignee: 삼성전자주식회사
Priority date: 2006-07-20
Filing date: 2006-07-20
Publication date: 2008-01-24

Abstract

신호 단자들과 검사핀들의 전기적인 연결을 용이하게 할 수 있는 신호 검사 장치가 개시되어 있다. 신호 검사 장치는 고정판, 검사핀들, 보호판, 탄성 부재, 가이드핀 및 신호 검사부를 포함한다. 검사핀들은 고정판 상에 고정되며, 전자 장치의 단자 소켓에 포함된 신호 단자들과 전기적으로 연결되는 다수개로 이루어진다. 보호판은 검사핀의 길이 방향과 수직하게 배치되며, 보호판에는 검사핀들을 관통시키는 제1 개구부들이 형성된다. 탄성 부재는 보호판과 고정판 사이에 배치되어 보호판에 검사핀의 길이 방향을 따라 탄성을 인가한다. 가이드핀은 검사핀들 사이에서 신호 단자들을 가이드한다. 신호 검사부는 검사핀들과 연결되며, 검사핀들에 구동 신호를 인가하여 전자 장치를 검사한다. 따라서, 신호 단자들을 가이드핀에 의해 가이드하여 검사핀들과 연결시킴으로써, 검사 작업을 용이하게 할 수 있다.

Description

신호 검사 장치{SIGNAL INSPECTION APPARATUS}

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 신호 검사 장치와 전자 장치를 분해한 정면도이다.

도 2는 도 1에 도시된 신호 검사 장치와 전자 장치를 결합한 정면도이다.

도 3은 도 1의 Ⅰ-Ⅰ'선을 따라 절단한 단면도이다.

도 4는 도 2의 A부분의 확대도이다.

도 5는 도 1에 도시된 가이드핀의 다른 실시예를 나타낸 정면도이다.

<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명>

100 : 신호 검사 장치 110 : 검사핀

120 : 보호판 122 : 제1 개구부

124 : 가압 돌기 126 : 제2 개구부

130 : 고정판 132 : 신호 인가홀

140 : 탄성 부재 150, 155 : 가이드핀

160 : 신호 검사부 162 : 신호 인가선

200 : 전자 장치 210 : 단자 소켓

212 : 신호 단자

본 발명은 신호 검사 장치에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 신호 단자들과 검사핀들의 전기적인 연결을 용이하게 할 수 있는 신호 검사 장치에 관한 것이다.

액정표시장치는 일반적으로, 광을 공급하는 백라이트 어셈블리, 상기 광을 이용하여 영상을 표시하는 액정표시패널 및 액정표시패널에 연결되어 액정표시패널을 제어하는 다수의 구동 소자들이 실장된 연성회로기판을 포함한다.

또한, 연성회로기판에는 외부의 컨트롤 기판과 전기적으로 연결되기 위한 다수의 신호 단자들을 갖는 연결 소켓이 형성된다. 즉, 액정표시장치는 컨트롤 기판으로부터 발생된 구동 신호를 신호 단자들에 의해 인가 받음으로써, 백라이트 어셈블리에서는 광이 발생되고, 액정표시패널에서는 상기 광을 통해 다양한 영상이 표시된다.

최근에는 이와 같은 신호 단자들에 컨트롤 기판의 구동 신호를 직접적으로 인가하지 않고, 검사핀(pogo pin)을 연결하여 액정표시장치가 작동 여부만 검사하는 방식을 주로 사용되고 있다.

그러나, 신호 단자는 약 0.2㎜ 이하의 매우 작은 직경을 가지므로, 이에 따라 검사핀도 직경이 매우 작으므로, 신호 단자들과 검사핀의 얼라인이 정확하게 맞지 않을 경우, 검사핀이 파손될 수 있는 문제점이 있다.

따라서, 본 발명은 이와 같은 문제점을 감안한 것으로써, 신호 단자들과 검 사핀을 보다 정확하게 얼라인시켜 검사핀의 파손을 방지할 수 있는 신호 검사 장치를 제공한다.

상술한 본 발명의 일 특징에 따른 신호 검사 장치는 고정판, 검사핀들, 보호판, 탄성 부재, 가이드핀 및 신호 검사부를 포함한다. 상기 검사핀들은 상기 고정판 상에 고정되며, 전자 장치의 단자 소켓에 포함된 신호 단자들과 전기적으로 연결되는 다수개로 이루어진다. 상기 보호판은 상기 검사핀의 길이 방향과 수직하게 배치되며, 상기 보호판에는 상기 검사핀들을 관통시키는 제1 개구부들이 형성된다. 상기 탄성 부재는 상기 보호판과 상기 고정판 사이에 배치되어 상기 보호판에 상기 검사핀의 길이 방향을 따라 탄성을 인가한다. 상기 가이드핀은 상기 검사핀들 사이에서 상기 신호 단자들을 가이드한다. 상기 신호 검사부는 상기 검사핀들과 연결되며, 상기 검사핀들에 구동 신호를 인가하여 상기 전자 장치를 검사한다.

상기 가이드핀들은 상기 고정판에 고정되며, 상기 보호판에는 상기 가이드핀을 관통시키는 제2 개구부들이 형성된다. 이와 달리, 상기 가이드핀은 상기 보호판에 직접적으로 고정될 수도 있다. 또한, 상기 가이드핀은 상단이 라운드지게 형성된 것을 특징으로 한다. 이와 달리, 상기 가이드핀은 상단이 중앙으로 뾰족한 형상을 가질 수 있다. 또한, 상기 가이드핀은 절연성 재질로 이루어진다. 상기 가이드핀은 0.2㎜ 내지 0.4㎜의 직경을 갖는다. 또한, 상기 검사핀은 0.1㎜ 내지 0.4㎜의 직경을 갖는다.

한편, 상기 보호판에는 상기 단자 소켓의 양 단부를 가압하는 가압 돌기들이 형성된다. 이와 달리, 상기 단자 소켓에는 상기 보호판의 양 단부를 가압하는 가압 돌기들이 형성될 수 있다. 또한, 상기 전자 장치는 액정을 이용하여 영상을 표시하는 액정표시장치일 수 있다.

이러한 신호 검사 장치에 따르면, 전자 장치의 신호 단자들을 검사핀들에 전기적으로 연결시킬 때, 신호 단자들을 가이드핀에 의해 가이드함으로써, 작업을 보다 안정적이면서 용이하게 할 수 있다.

이하, 첨부한 도면을 참조하여, 본 발명의 바람직한 실시예들을 상세하게 설명하고자 한다.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 신호 검사 장치와 전자 장치를 분해한 정면도이고, 도 2는 도 1에 도시된 신호 검사 장치와 전자 장치를 결합한 정면도이며, 도 3은 도 1의 Ⅰ-Ⅰ'선을 따라 절단한 단면도이다.

도 1 내지 도 3을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 신호 검사 장치(100)는 검사핀(110)들, 보호판(120), 고정판(130), 탄성 부재(140), 가이드핀(150) 및 신호 검사부(160)를 포함한다.

검사핀(110)들은 전자 장치(200)의 단자 소켓(210)에 포함된 신호 단자(212)들과 전기적으로 연결되며, 다수개로 이루어진다. 구체적으로, 검사핀(110)들은 신호 단자(212)들에 일대일로 대응하여 연결된다.

여기서, 전자 장치(200)는 일 예로, 액정을 이용하여 영상을 표시하는 액정표시장치일 수 있다. 이에 따라, 단자 소켓(210)은 액정표시장치의 핵심 부분인 광을 공급하는 백라이트 어셈블리와 영상을 표시하는 액정표시패널을 제어하는 구 동 신호가 인가되는 연성회로기판에 형성될 수 있다. 즉, 단자 소켓(210)에 포함된 신호 단자(212)들은 상기의 백라이트 어셈블리와 액정표시패널을 실질적으로 제어하는 외부의 컨트롤 기판과 전기적으로 연결된다. 여기서, 신호 단자(212)들은 작은 공간에 다수개가 형성되어야 하기 때문에, 매우 작은 직경을 갖는다.

검사핀(110)들은 신호 단자(212)들의 직경에 따라 매우 작은 크기의 직경(D1)을 갖는다. 예를 들어, 검사핀(110)의 직경(D1)은 0.1㎜ 내지 0.4㎜이며, 실질적으로는 약 0.2㎜ 정도의 직경(D1)을 갖는다. 여기서, 검사핀(110)은 전체가 동일한 직경(D1)을 갖는다. 이와 달리, 검사핀(110)은 신호 단자(212)들과의 접촉 면적을 최대로 하기 위하여 상부가 하부보다 상대적으로 큰 직경(D1)을 가질 수 있다.

검사핀(110)은 전기 전도성이 매우 우수한 금속 재질로 이루어진다. 예를 들어, 검사핀(110)은 고가의 백금(Pt), 금(Au) 또는 은(Ag) 등의 금속으로 이루어질 수 있다. 또한, 검사핀(110)은 신호 단자(212)와의 연결을 정확하게 하기 위하여 상단이 뾰족한 형상을 가질 수도 있다. 이러한 검사핀(110)은 외부의 작은 충격에 대해서도 파손될 우려가 있으므로, 보호판(120)을 통해 감싸여져서 보호된다.

구체적으로, 보호판(120)은 검사핀(110)의 길이 방향인 제1 방향(x)과 수직한 제2 방향(y)을 따라 검사핀(110)들을 감싸는 구조를 갖는다. 즉, 보호판(120)에는 검사핀(110)을 통과시키는 제1 개구부(122)가 형성된다. 제1 개구부(122)는 검사핀(110)의 직경(D1)보다 소정의 차이인 약 0.02㎜만큼 큰 내경을 가질 수 있다.

보호판(120)은 검사핀(110)들을 전기적으로 보호하기 위하여 전기 절연성 재질로 이루어진다. 예를 들어, 보호판(120)은 전기 절연성이 우수하면서 기계적인 강도도 우수한 아세탈 수지 또는 엠씨 나일론 수지로 이루어질 수 있다.

고정판(130)은 검사핀(110)들의 하부를 고정한다. 일 예로, 검사핀(110)들은 하부에 소정의 길이만큼 수나사산이 가공되고, 고정판(130)에는 상기 수나사산에 대응되는 암나사산이 형성된 결합홀이 가공되어 서로 나사 결합함으로써, 검사핀(110)을 고정판(130)에 고정시킬 수 있다. 이와 달리, 검사핀(110)은 고정판(130)의 일측으로부터 형성된 고정홈에 슬라이딩 결합됨으로써, 고정판(130)에 고정될 수도 있다. 또한, 검사핀(110)들의 하부와 고정판(130)을 별도의 접착 부재를 통해 접착하여 고정시킬 수 있다.

고정판(130)에는 검사핀(110)들에 신호 검사부(160)로부터 구동 신호가 인가될 수 있도록 신호 인가홀(132)이 형성될 수 있다. 신호 인가홀(132)은 검사핀(110)의 직경(D1)보다 소정의 차이인 약 0.02㎜만큼 작은 내경을 가질 수 있다.

탄성 부재(140)는 보호판(120)과 고정판(130) 사이에 배치된다. 탄성 부재(140)는 보호판(120)에 제1 방향(x)을 따라 탄성을 인가한다. 즉, 탄성 부재(140)는 일단과 타단이 각각 보호판(120)과 고정판(130)에 결합되어 보호판(120)이 제1 방향(x)을 따라 탄성적으로 이동되도록 한다.

이로써, 검사핀(110)들이 신호 단자(212)들과 연결되지 않을 경우에는 보호판(120)이 검사핀(110)들을 완전히 감싸서 보호하도록 하고, 이와 반대로, 검사핀(110)들이 신호 단자(212)들과 연결될 경우에는 보호판(120)을 제1 방향(x)을 따 라 하부로 이동시켜 검사핀(110)들의 일부가 노출되도록 할 수 있다. 이때, 신호 검사 장치(100)에는 보호판(120)이 검사핀(110)을 완전히 감쌀 때, 오버되지 않도록 별도의 스톱퍼가 형성될 수 있다.

또한, 보호판(120)에는 탄성 부재(140)의 탄성력에 의해 제1 방향(x)을 따라 이동하기 위해서 가압 돌기(124)들이 형성된다. 구체적으로, 가압 돌기(124)들은 보호판(120)의 양 단부에 대응하여 형성된다. 가압 돌기(124)는 단자 소켓(210)의 양 단부를 가압하여 보호판(120)이 이동되도록 하는 역할을 한다.

예를 들어, 전자 장치(200)가 제1 방향(x)을 따라 신호 검사 장치(100)로 진입하게 되면, 먼저, 가압 돌기(124)가 단자 소켓(210)에 접촉하게 되어 보호판(120)이 제1 방향(x)을 따라 하부로 이동되도록 한다. 이로써, 검사핀(110)들이 상부로 노출된다.

이와 반대로, 전자 장치(200)가 제1 방향(x)을 따라 상부로 이탈하게 되면, 탄성 부재(140)의 탄성력에 의해 보호판(120)이 다시 검사핀(110)들을 감싸게 된다. 이러한 구조와 달리, 가압 돌기(124)는 단자 소켓(210)의 양 단부에 형성되어 보호판(120)을 가압할 수도 있다.

탄성 부재(140)는 일반적으로, 사용되는 압축 스프링(compression spring)일 수 있다. 압축 스프링은 압축하였을 때, 압축된 방향과 반대 방향으로 탄성력이 작용하는 스프링이다. 이와 달리, 탄성 부재(140)는 판형상으로 이루어진 판 스프링(flat spring)으로 이루어질 수 있다.

탄성 부재(140)는 검사핀(110)들을 사이에 개재하여 일정한 간격으로 배치된 다. 이는, 고정판(130)의 전체에 대하여 일정한 탄성력이 인가되도록 하기 위해서이다. 이와 달리, 탄성 부재(140)는 보호판(120)의 양 단에 대응해서만 배치될 수 있다.

가이드핀(150)은 검사핀(110)들 사이에서 신호 단자(212)들을 가이드하는 역할을 한다. 즉, 가이드핀(150)은 신호 단자(212)들이 검사핀(110)들에 일대일로 정확하게 얼라인되도록 한다. 가이드핀(150)은 보호판(120)에 감싸여지면서 고정판(130)에 고정된다. 이와 달리, 가이드핀(150)은 보호판(120)에 직접적으로, 고정될 수도 있다.

또한, 탄성 부재(140)가 압축 스프링으로 이루어질 경우, 가이드핀(150)은 압축 스프링의 중심을 관통하여 형성된다. 이에 따라, 검사핀(110)은 하부가 탄성 부재(140)에 의해 간섭 받아 상부보다 상대적으로 작은 직경(D1)을 가질 수도 있다.

보호판(120)에는 가이드핀(150)을 통과시키는 제2 개구부(126)가 형성된다. 제2 개구부(126)는 가이드핀(150)의 직경(D2)보다 소정의 차이인 약 0.02㎜만큼 큰 내경을 가질 수 있다. 여기서, 가이드핀(150)은 0.2㎜ 내지 0.6㎜의 직경(D2)을 가지며, 실질적으로는 약 0.3㎜의 직경(D2)을 가질 수 있다. 또한, 가이드핀(150)은 검사핀(110)들이 고정판(130)에 고정되는 방식과 동일하게 고정판(130)에 고정될 수 있다.

가이드핀(150)은 검사핀(110)들 사이의 전기적인 간섭을 방지하기 위하여 전기 절연성이 우수한 재질로 이루어진다. 예를 들어, 가이드핀(150)은 수지 재질로 이루어진다. 또한, 가이드핀(150)은 금속 재질의 신호 단자(212)들을 가이드하기 위하여 강도가 우수한 재질로 이루어진다. 예를 들어, 가이드핀(150)은 수지 재질 중 상대적으로 전단 응력이 우수한 아세탈 수지로 이루어질 수 있다. 이와 달리, 가이드핀(150)은 기본적으로, 외부 충격에 대한 파손을 방지하기 위하여 고무 재질로 이루어질 수도 있다.

따라서, 신호 단자(212)들은 가이드핀(150)에 의해 가이드되어 검사핀(110)들에 정확하게 얼라인됨으로써, 신호 단자(212)들과 검사핀(110)들의 연결 작업을 용이하게 할 수 있다. 이로써, 종래와 같이 얼라인이 정확하지 못하여 발생되던 검사핀(110)들의 파손을 방지할 수 있다.

또한, 검사핀(110)들이 고가이므로, 유지 보수 비용도 큰 폭으로 절감시킬 수 있다. 또한, 검사 작업 시간도 신호 단자(212)들과 검사핀(110)들의 얼라인을 신속하게 할 수 있으므로, 단축시킬 수 있다.

신호 검사부(160)는 신호 단자(212)들과 신호 인가선(162)에 의해 전기적으로 연결된다. 즉, 신호 인가선(162)은 신호 검사부(160)로부터 연장되어 고정판(130)에 형성된 신호 인가홀(132)을 통해 검사핀(110)과 연결된다.

신호 검사부(160)는 검사핀(110)들에 구동 신호를 인가한 후, 신호 단자(212)들을 통해 전자 장치(200)가 구동되도록 하여 신호 단자(212)로부터 구동 신호가 제대로 인가되는지 여부를 검사한다. 이때, 구동 신호는 전자 장치(200)의 간단한 동작만을 확인하면 되므로, 상대적으로 단순한 신호를 인가한다.

일 예로, 전자 장치(200)가 액정표시장치일 경우, 구동 신호는 백라이트 어 셈블리에 포함된 광원의 발광 여부와 액정표시패널의 어레이 기판에 형성된 박막 트랜지스터의 작동 여부만을 검사하는 신호를 인가한다. 결과적으로, 구동 신호가 제대로 인가되면, 액정표시장치는 전체적으로 균일한 백색 영상이 표시된다.

이와 같은 신호 검사부(160)는 객관적인 데이터를 확보하기 위하여 프로그램화된 컴퓨터를 포함할 수 있다. 이와 달리, 신호 검사부(160)는 단순히 구동 신호를 발생하는 인쇄회로기판을 포함하여, 액정표시패널에 표시된 영상을 육안으로 검사할 수도 있다.

도 4는 도 2의 A부분의 확대도이다.

도 2 및 도 4를 참조하면, 가이드핀(150)은 상단이 라운드지게 형성된다.

이는, 가이드핀(150)이 신호 단자(212)들을 효율적으로 가이드시키기 위해서이다. 이를 구체적으로 설명하면, 신호 단자(212)들은 가이드핀(150)의 라운드진 형상에 의해 인접한 검사핀(110)들로 슬라이딩하여 연결된다.

즉, 신호 단자(212)가 검사핀(110)들이 형성된 제1 영역(PA1)과 제1 영역(PA1)의 양 단에 대응하여 배치된 제2 영역(PA2)과 제3 영역(PA3) 중 어느 위치에 배치되는지 상관없이, 신호 단자(212)는 가이드핀(150)에 의해 슬라이딩되어 검사핀(110)에 연결된다.

이와 같이, 가이드핀(150)은 검사핀(110)에 정확하게 정열되지 않은 신호 단자(212)를 가이드하여 내부적인 저항이 없이 부드럽게 검사핀(110)에 연결시킬 수 있다.

본 실시예에서, 가이드핀의 구조를 제외하고는 도 1 내지 도 4의 구조와 동일하므로, 동일한 참조 번호를 사용하며, 그 중복되는 상세한 설명은 생략하기로 한다.

도 1 및 도 5를 참조하면, 가이드핀(155)은 상단이 중앙으로 뾰족한 형상을 갖는다.

이는, 신호 단자(212)들이 대응되는 검사핀(110)들과 실질적으로, 그다지 많이 벗어나지 않게 배치되어 있기 때문이다. 구체적으로, 전자 장치(200)를 신호 검사 장치(100)에 진입 시, 실질적으로 전자 장치(200)에 대응되는 지그를 사용하여 진입하게되므로, 그 오차가 심하지 않는 것을 의미한다.

이로써, 신호 단자(212)들이 가이드핀(155)에 의해 보다 용이하게 슬라이딩되도록 하여 검사핀(110)들과 보다 자연스럽게 연결되도록 할 수 있다. 또한, 가이드핀(155)의 상단이 일정한 기울기를 갖도록 형성되어 전자 장치(200)가 신호 검사 장치(100)에 진입되는 속도에 탄력적으로 대응할 수 있다.

이와 같은 신호 검사 장치에 따르면, 전자 장치의 신호 단자들이 검사핀들이 연결될 때, 가이드핀에 의해 정확하게 얼라인됨으로써, 신호 단자들과 검사핀들의 연결 작업을 포함한 검사 작업을 용이하게 할 수 있다. 이로써, 종래와 같이 얼라인이 정확하지 못하여 발생되던 검사핀들의 파손을 방지할 수 있다.

또한, 검사핀들이 고가이므로, 유지 보수 비용도 큰 폭으로 절감시킬 수 있다. 또한, 검사 작업 시간도 신호 단자들과 검사핀들의 얼라인을 신속하게 할 수 있으므로, 단축시킬 수 있다.

앞서 설명한 본 발명의 상세한 설명에서는 본 발명의 바람직한 실시예들을 참조하여 설명하였지만, 해당 기술분야의 숙련된 당업자 또는 해당 기술분야에 통상의 지식을 갖는 자라면 후술될 특허청구범위에 기재된 본 발명의 사상 및 기술 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.

Claims

고정판;

상기 고정판 상에 고정되며, 전자 장치의 단자 소켓에 포함된 신호 단자들과 전기적으로 연결되는 다수의 검사핀들;

상기 검사핀의 길이 방향과 수직하게 배치되며, 상기 검사핀들을 관통시키는 제1 개구부들이 형성된 보호판;

상기 보호판과 상기 고정판 사이에 배치되어 상기 보호판에 상기 검사핀의 길이 방향을 따라 탄성을 인가하는 탄성 부재;

상기 검사핀들 사이에서 상기 신호 단자들을 가이드하는 가이드핀; 및

상기 검사핀들과 연결되며, 상기 검사핀들에 구동 신호를 인가하여 상기 전자 장치를 검사하는 신호 검사부를 포함하는 것을 특징으로 하는 신호 검사 장치.
제1항에 있어서, 상기 가이드핀들은 상기 고정판에 고정되며, 상기 보호판에는 상기 가이드핀을 관통시키는 제2 개구부들이 형성된 것을 특징으로 하는 신호 검사 장치.
제2항에 있어서, 상기 가이드핀은 상단이 라운드지게 형성된 것을 특징으로 하는 신호 검사 장치.
제3항에 있어서, 상기 가이드핀은 절연성 재질로 이루어진 것을 특징으로 하는 신호 검사 장치.
제4항에 있어서, 상기 가이드핀은 0.2㎜ 내지 0.6㎜의 직경을 갖는 것을 특징으로 하는 신호 검사 장치.
제5항에 있어서, 상기 검사핀은 0.1㎜ 내지 0.4㎜의 직경을 갖는 것을 특징으로 하는 신호 검사 장치.
제6항에 있어서, 상기 보호판에는 상기 단자 소켓의 양 단부를 가압하는 가압 돌기들이 형성되는 것을 특징으로 하는 신호 검사 장치.
제1항에 있어서, 상기 가이드핀은 상기 보호판에 고정되는 것을 특징으로 하는 신호 검사 장치.
제1항에 있어서, 상기 가이드핀은 상단이 중앙으로 뾰족한 형상을 갖는 것을 특징으로 하는 신호 검사 장치.
제1항에 있어서, 상기 전자 장치는 액정을 이용하여 영상을 표시하는 액정표시장치인 것을 특징으로 하는 신호 검사 장치.